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KR20200011835A - Pulse-echo nonlinear nondestructive inspection device using array type ultrasonic transducers - Google Patents

Pulse-echo nonlinear nondestructive inspection device using array type ultrasonic transducers Download PDF

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KR20200011835A
KR20200011835A KR1020180086801A KR20180086801A KR20200011835A KR 20200011835 A KR20200011835 A KR 20200011835A KR 1020180086801 A KR1020180086801 A KR 1020180086801A KR 20180086801 A KR20180086801 A KR 20180086801A KR 20200011835 A KR20200011835 A KR 20200011835A
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South Korea
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signal
receiver
ultrasound
ultrasonic
nonlinear
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Inventor
정현조
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원광대학교산학협력단
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Publication date
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Abstract

An inspection apparatus of the present invention comprises: a first irradiation unit for applying a first ultrasonic wave to a first surface of a subject; a second irradiation unit for applying a second ultrasonic wave to the first surface; a reception unit configured to receive a reflection signal which has passed through the subject; and a processing unit analyzing the reflection signal to analyze defects or properties of the subject. The first irradiation unit and the second irradiation unit may generate the first ultrasonic wave and the second ultrasonic wave having different phases.

Description

배열형 초음파 센서를 이용한 펄스 에코형 비선형 검사 장치{PULSE-ECHO NONLINEAR NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE USING ARRAY TYPE ULTRASONIC TRANSDUCERS}Pulse echo type nonlinear inspection device using array ultrasonic sensor {PULSE-ECHO NONLINEAR NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE USING ARRAY TYPE ULTRASONIC TRANSDUCERS}

본 발명은 초음파를 이용하여 피검사체의 결함을 검사하는 초음파 비파괴 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an ultrasonic non-destructive inspection device for inspecting defects of a subject under examination using ultrasonic waves.

비파괴 검사 기법 중에서 산업 설비의 결함을 검출하고 신뢰성을 평가하기 위한 대표적인 기법이 초음파 탐상 시험이다. 초음파 탐상 시험시, 균열과 같은 비선형 결함은 가장 검사하기 어려운 결함이다. 미세 균열에 대하여는 균열 선단부의 회절파나 균열면의 반사파를 식별하여 결함 검사를 하는 것이 일반적인 방법이다.Among non-destructive inspection techniques, ultrasonic inspection test is a representative technique for detecting defects and evaluating reliability of industrial equipment. In ultrasonic testing, nonlinear defects such as cracks are the most difficult to inspect. In the case of fine cracks, it is common practice to identify defects by identifying the diffraction wave at the tip of the crack or the reflected wave at the crack face.

그러나, 닫힌 균열 또는 부분적으로 닫힌 균열의 경우 균열 선단부의 회절 신호가 아주 미약하거나 균열면의 반사 신호가 나타나지 않기 때문에 결함의 검출이 매우 어렵다.However, in the case of closed cracks or partially closed cracks, detection of defects is very difficult because the diffraction signal of the crack tip is very weak or the reflection signal of the crack surface does not appear.

결함에 빔을 집속하고 이에 따라 검출 신호를 강화하는 위상배열 초음파 검사가 개발되고 있지만 비선형 결함인 균열의 검출에는 개선 효과를 기대하기 힘들다.Phased array ultrasound has been developed that focuses beams on defects and thus enhances detection signals. However, it is difficult to expect an improvement in the detection of cracks, which are nonlinear defects.

또한, 강력한 입사파를 방사하고 상기 입사파에 의하여 균열면이 개폐될 때 발생하는 비선형 성분을 검출하는 방식을 생각해 볼 수 있지만, 닫힌 균열의 경우 강력한 입사파에 불구하고 균열면의 개폐에 의한 비선형 성분 출력이 워낙 미약하여 성공적인 검사가 수행되기 어렵다.In addition, a method of radiating a strong incident wave and detecting a nonlinear component generated when the crack plane is opened and closed by the incident wave may be considered. The component output is so weak that successful testing is difficult.

한국등록특허공보 제1414520호에는 서로 다른 주파수의 신호들을 인가하여 구조물을 진동시켜서 구조물의 소상 유무를 판별하는 기술이 개시되고 있다.Korean Patent Publication No. 1414520 discloses a technique of determining whether a structure is present by vibrating the structure by applying signals of different frequencies.

한국등록특허공보 제1414520호Korean Patent Publication No. 1414520

본 발명은 피검사체의 종류, 수신부의 위치를 불문하고 비파괴 검사를 정상적으로 수행할 수 있는 초음파 비파괴 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide an ultrasonic nondestructive testing apparatus capable of performing nondestructive testing normally regardless of the type of test subject and the position of a receiver.

본 발명의 검사 장치는 피검사체의 제1 면에 제1 초음파를 인가하는 제1 조사부; 상기 제1 면에 제2 초음파를 인가하는 제2 조사부; 상기 피검사체를 통과한 반사 신호를 수신하는 수신부; 상기 반사 신호를 분석해서 상기 피검사체의 결함 또는 성질을 분석하는 처리부;를 포함하고, 상기 제1 조사부 및 상기 제2 조사부는 서로 다른 위상을 갖는 상기 제1 초음파 및 상기 제2 초음파를 생성할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention includes a first irradiation unit for applying a first ultrasonic wave to the first surface of the inspected object; A second irradiator for applying a second ultrasonic wave to the first surface; A receiver configured to receive a reflected signal passing through the test object; And a processor configured to analyze the reflected signal to analyze defects or properties of the object under test, wherein the first irradiator and the second irradiator may generate the first and second ultrasound waves having different phases. have.

본 발명에 따르면, 펄스 에코법의 적용을 통해 피검사체의 한 면만 이용해서 비파괴 검사가 가능하다. 따라서, 현장 적용성이 매우 높고, 주어진 피검사체의 재료와 형상에 따라 항상 최적화된 제2 고조파 성분의 생성이 가능하다.According to the present invention, the non-destructive inspection is possible by using only one surface of the object under application of the pulse echo method. Therefore, the field applicability is very high, and it is possible to generate the second harmonic component which is always optimized according to the material and shape of a given object under test.

제2 고조파 성분에 기초한 배열 탐촉자를 적용하면, 수신부의 교정, 회절 및 감쇠 보정이 정확하게 실시되므로 피검사체의 절대 비선형 파라미터 값이 측정될 수 있다.Applying the array probe based on the second harmonic component, the receiver's calibration, diffraction and attenuation correction can be performed accurately, so that the absolute nonlinear parameter value of the object under test can be measured.

최대 3-4개의 채널의 배열 탐촉자를 이용한 비선형 초음파 진단 장치를 구성함으로써 가격적인 면에서 저렴한 장점이 있다.It is inexpensive in terms of cost by constructing a nonlinear ultrasonic diagnostic apparatus using an array transducer of up to 3-4 channels.

도 1은 본 발명의 초음파 검사 장치를 나타낸 개략도이다.
도 2는 비교 실시예의 초음파 진단 수단을 나타낸 개략도이다.
도 3은 비교 실시예의 수신파 스펙트럼을 나타낸 그래프이다.
도 4는 본 발명의 검사 장치를 나타낸 블록도이다.
도 5는 본 발명의 다른 조사부를 나타낸 개략도이다.
도 6은 본 발명의 시간 역전 처리에 의한 초음파 빔 집속 과정을 설명하는 모식도이다.
도 7은 본 발명의 초음파 진단 방법을 나타낸 개략도이다.
1 is a schematic view showing an ultrasonic inspection apparatus of the present invention.
2 is a schematic view showing an ultrasonic diagnostic means of a comparative example.
3 is a graph showing a received wave spectrum of a comparative example.
4 is a block diagram showing an inspection device of the present invention.
5 is a schematic view showing another irradiation part of the present invention.
6 is a schematic diagram illustrating an ultrasonic beam focusing process by the time reversal treatment of the present invention.
Figure 7 is a schematic diagram showing the ultrasonic diagnostic method of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this process, the size or shape of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description. In addition, terms that are specifically defined in consideration of the configuration and operation of the present invention may vary depending on the intention or custom of the user or operator. Definitions of these terms should be made based on the contents throughout the specification.

도 1은 본 발명의 초음파 검사 장치를 나타낸 개략도이고, 도 2는 비교 실시예의 초음파 진단 수단을 나타낸 개략도이다. 도 3은 비교 실시예의 수신파 스펙트럼을 나타낸 그래프이다.1 is a schematic diagram showing an ultrasonic examination apparatus of the present invention, Figure 2 is a schematic diagram showing the ultrasonic diagnostic means of a comparative example. 3 is a graph showing a received wave spectrum of a comparative example.

강력한 세기의 단일 주파수 초음파가 피검사체(10) 내부를 전파할 때, 피검사체 재료의 비선형성 또는 피검사체의 손상에 의한 고조파가 추가로 발생된다. 추가 발생된 고조파의 변화를 관찰하여 재료 성질 또는 손상을 탐지, 검사하는 비파괴 검사법을 비선형 초음파법이라고 한다.When a single frequency ultrasonic wave of intense intensity propagates inside the object 10, harmonics due to nonlinearity of the material of the object or damage to the object are further generated. Nondestructive testing, which detects and examines material properties or damage by observing additionally generated harmonic changes, is called nonlinear ultrasound.

기본적으로 종파, 표면파, 램파 등을 이용하여 제2 고조파를 관찰하는 비선형 초음파법이 사용되고 있으며, 종파의 경우 피검사체의 양면을 모두 필요로 하는 투과법이 전적으로 이용되고 있다. 그러나, 종파에 의한 투과법은 실제 적용에 있어 많은 제약을 초래하고 있다.Basically, the nonlinear ultrasonic wave method for observing the second harmonic wave by using the longitudinal wave, the surface wave, the lamb wave, and the like is used. In the case of the longitudinal wave, a transmission method requiring both sides of the subject is used. However, the longitudinal transmission method introduces many limitations in practical applications.

기존 비선형 초음파법에서는 도 2와 같이 소성 변형, 피로, 크리프 등을 갖는 손상 재료(이하, 피검사체(10))에 강력한 세기의 단일 주파수 ω1의 초음파 vi를 입사하는 진동자(91)가 이용된다.In the conventional nonlinear ultrasonic method, as shown in Fig. 2, a vibrator 91 for injecting ultrasonic vi of a single intensity ω1 of strong intensity into a damaged material having a plastic deformation, fatigue, creep, or the like (hereinafter, the object under test 10) is used.

일 예로, 피검사체(10)의 제1 면(11) 및 제2 면(12)이 마련될 수 있다. 제2 면(12)은 제1 면(11)의 반대면일 수 있다. 제1 면(11)에 진동자(91)가 배치된 경우, 초음파 vi는 제2 면(12)을 향해 전파되며, 초음파 vi의 전파 과정 중 제2 고조파 v2가 발생된다. 펄스 에코형 비선형 초음파 시험에서 최초 발생된 제2 고조파 v2는 응력 자유 경계면에서 반사될 수 있다. 이때, 응력 자유 경계면은 제2 면(12)에 해당할 수 있다. 응력 자유 경계면은 매질이 급변하는 면으로, 다른 물체(대기 포함)와 만나는 피검사체의 단부면에 해당할 수 있다.For example, the first surface 11 and the second surface 12 of the object 10 may be provided. The second side 12 may be the opposite side of the first side 11. When the vibrator 91 is disposed on the first surface 11, the ultrasonic wave vi propagates toward the second surface 12, and a second harmonic v2 is generated during the propagation process of the ultrasonic vi. The second harmonic v2, originally generated in the pulse echo nonlinear ultrasonic test, can be reflected at the stress free interface. In this case, the stress free interface may correspond to the second surface 12. The stress free interface is a surface in which the medium changes rapidly, and may correspond to the end face of the object under test with another object (including the atmosphere).

제2 고조파 v2가 응력 자유 경계면에서 반사된 후 제2 반사 고조파 r2가 새롭게 생성될 수 있다. 이때, 제2 고조파 v2와 제2 반사 고조파 r2는 응력 자유 경계면에서 상쇄 간섭되고, 제1 면(11)의 수신자(93)에서는 거의 0이 된다. 따라서, 초음파 검사시 수신자(93)가 진동자(91)의 반대편에 배치되는 투과법이 이용되고 있다. 그러나, 진동자(91)와 수신자(93)가 피검사체(10)의 반대면에 각각 배치되는 투과법은 실제 적용에 있어 많은 제약을 초래한다.After the second harmonic v2 is reflected at the stress free interface, the second reflected harmonic r2 may be newly generated. At this time, the second harmonic v2 and the second reflected harmonic r2 cancel each other at the stress free interface, and become almost zero at the receiver 93 of the first face 11. Therefore, a transmission method in which the receiver 93 is arranged on the opposite side of the vibrator 91 during the ultrasonic inspection is used. However, the permeation method in which the vibrator 91 and the receiver 93 are respectively disposed on opposite surfaces of the inspected object 10 causes many limitations in practical application.

투과법에 의한 제약을 없애고, 비선형 초음파 검사의 현장 적용성을 획기적으로 개선하기 위하여 펄스 에코법의 개발이 필요하다. 그러나, 펄스 에코형 비선형 초음파의 경우 응력 자유 경계면이 포함되고, 이로부터 반사되는 제2 고조파의 상쇄 간섭으로 인하여 제2 고조파와 관련된 수신 신호의 진폭이 도 3과 같이 매우 미약하다.It is necessary to develop a pulse echo method in order to remove the limitation by the transmission method and to significantly improve the field applicability of nonlinear ultrasonic inspection. However, in the case of the pulse echo type nonlinear ultrasound, a stress free interface is included, and the amplitude of the received signal related to the second harmonic is very weak as shown in FIG. 3 due to the destructive interference of the second harmonic reflected therefrom.

도 3을 살펴보면, 제2 고조파 v2 및 제2 반사 고조파 r2 간의 상쇄 간섭이 이루어지는 비교 실시예의 경우, 제2 고조파 성분(Spectrum of 2nd harmonics)의 크기(magnitude)는 기본 성분(Spectrum of fundamental frequency)을 기준으로 거의 0에 수렴하는 값을 가질 수 있다. 따라서, 노이즈가 존재하는 실제 현장에서는 피검사체(10) 내부의 결함(20)을 대상으로 하는 비선형 파라미터값의 산출이 현실적으로 불가능하다.Referring to FIG. 3, in the case of a comparative embodiment in which the destructive interference between the second harmonic v2 and the second reflected harmonic r2 is performed, the magnitude of the second harmonic component (Spectrum of 2nd harmonics) is set to the spectrum of fundamental frequency. It can have a value that converges to almost zero as a reference. Therefore, it is practically impossible to calculate the nonlinear parameter value for the defect 20 inside the inspected object 10 at the actual site where the noise exists.

따라서, 제2 고조파 성분의 발생을 증가시켜 비선형 초음파 검사법을 용이하게 적용할 수 있는 방안이 요구된다.Accordingly, there is a need for a method of increasing the generation of the second harmonic component and easily applying the nonlinear ultrasonic inspection method.

본 발명의 검사 장치는 배열형 초음파 센서(Array sensor), 위상차(phase shift), 파동 합성(wave mixing)의 원리를 적용하여 펄스 에코형 비선형 초음파 검사에서 제2 고조파의 크기(진폭)를 증가시킬 수 있다. 본 발명의 검사 장치는 크기가 증가된 제2 고조파를 이용해서 다양한 피검사체의 성질과 손상도를 정확하게 검사할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention applies the principles of array sensor, phase shift, and wave mixing to increase the magnitude (amplitude) of the second harmonic in pulse echo nonlinear ultrasonic inspection. Can be. The inspection apparatus of the present invention can accurately inspect the properties and degree of damage of various inspected objects by using the second harmonic of increased size.

본 발명의 검사 장치는 제1 조사부(111), 제2 조사부(112), 수신부(130), 처리부(150)를 포함할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention may include a first irradiator 111, a second irradiator 112, a receiver 130, and a processor 150.

제1 조사부(111)는 피검사체의 제1 면에 제1 초음파 vi1을 인가할 수 있다.The first irradiation unit 111 may apply the first ultrasound vi1 to the first surface of the object under test.

피검사체 내부에는 제1 초음파 vi1에 의해 제2 고조파 성분 v21이 생성될 수 있다.The second harmonic component v21 may be generated by the first ultrasound vi1 inside the object.

제2 조사부(112)는 피검사체의 제1 면에 제2 초음파 vi2를 인가할 수 있다.The second irradiator 112 may apply the second ultrasound vi2 to the first surface of the object.

피검사체 내부에는 제2 초음파 vi2에 의해 제2 고조파 성분 v22가 생성될 수 있다.The second harmonic component v22 may be generated inside the test object by the second ultrasound vi2.

제1 초음파 vi1으로 인해 생성된 제2 고조파 성분 v21과 제2 초음파 vi2로 인해 생성된 제2 고조파 성분 v22이 응력 자유 경계면으로부터 반사될 때 서로 보강 간섭되도록, 제1 초음파 및 제2 초음파는 설정 위상차를 갖고, 피검사체의 제1 면에 동시에 제1 초음파 및 제2 초음파를 인가할 수 있다.The first and second ultrasounds have a set phase difference such that the second harmonic component v21 generated due to the first ultrasound vi1 and the second harmonic component v22 generated due to the second ultrasound vi2 are constructively interfered with each other when reflected from the stress free interface. The first ultrasound and the second ultrasound can be applied simultaneously to the first surface of the object under test.

피검사체의 제1 면에 서로 다른 위상을 갖는 제1 초음파와 제2 초음파가 동시에 인가되면, 제1 초음파로 인해 생성된 제2 고조파 성분 v21과 제2 초음파로 인해 생성된 제2 고조파 성분 v22는 응력 자유 경계면에서 상쇄 간섭 대신 보강 간섭될 수 있다. 보강 간섭된 2개의 제2 고조파 성분 v21 및 v22로 인해, 수신부로 수신되는 제2 고조파의 크기가 획기적으로 증가될 수 있다.When the first ultrasound and the second ultrasound having different phases are simultaneously applied to the first surface of the object under test, the second harmonic component v21 generated by the first ultrasound and the second harmonic component v22 generated by the second ultrasound are Constructive interference instead of destructive interference at the stress free interface. Due to the two second harmonic components v21 and v22 that are constructively interfered, the magnitude of the second harmonic received by the receiver can be significantly increased.

만약, 제1 초음파 및 제2 초음파를 기준으로, 설정 위상차를 갖는 제3 초음파 vi3를 생성하는 제3 조사부(113)이 추가된다면, 수신부에 수신되는 제2 고조파에는 제3 초음파 vi3에 의해 생성된 제2 고조파 성분 v23가 추가로 보강 간섭된 상태일 수 있다. 따라서, 제3 조사부(113), 제4 조사부,...등이 추가될수록 수신부에 수신되는 제2 고조파의 크기(진폭)가 증가될 수 있다. 제3 조사부(113) 등도 제1 조사부 및 제2 조사부와 마찬가지로 피검사체의 제1 면에 초음파를 동시에 인가할 수 있다. 제1 초음파, 제2 초음파, 제3 초음파 간의 위상차는 도 1의 (b)와 같이

Figure pat00001
일 수 있다. 본 실시예에 따르면, 도 1의 (c)의 수신파 스펙트럼과 같이 각 초음파의 기본 진동수 ω1, 제2 고조파의 진동수 2ω1 모두 보강 간섭으로 인해 크기(진폭)가 획기적으로 증가할 수 있다.If the third irradiator 113 for generating the third ultrasound vi3 having the set phase difference is added based on the first ultrasound and the second ultrasound, the second harmonic received by the receiver is generated by the third ultrasound vi3. The second harmonic component v23 may further be constructively interfered. Therefore, as the third irradiator 113, the fourth irradiator, ..., etc. are added, the magnitude (amplitude) of the second harmonic received by the receiver may increase. Like the first irradiating unit and the second irradiating unit, the third irradiating unit 113 and the like may simultaneously apply ultrasonic waves to the first surface of the object under test. The phase difference between the first ultrasonic wave, the second ultrasonic wave, and the third ultrasonic wave is as shown in FIG.
Figure pat00001
Can be. According to the present exemplary embodiment, the magnitude (amplitude) of both the fundamental frequency ω1 of each ultrasonic wave and the frequency 2ω1 of the second harmonic, as shown in FIG.

제1 조사부 및 제2 조사부가 피검사체의 제1 면에 각 초음파 vi1, vi2를 인가할 때, 수신부(130)는 제1 면에서 제2 고조파를 수신할 수 있다.When the first irradiator and the second irradiator apply the ultrasonic waves vi1 and vi2 to the first surface of the object under test, the receiver 130 may receive the second harmonic on the first surface.

수신부(130)는 제1 조사부 및 제2 조사부의 가운데에 배치될 수 있다. 일 예로, 제1 조사부는 제1 면의 제1 지점에 제1 초음파 vi1을 인가할 수 있다. 제2 조사부는 제1 조사부를 둘러싸는 제2 지점에 제2 초음파 vi2를 인가할 수 있다. 제3 조사부는 제2 조사부를 둘러싸는 제3 지점에 제3 초음파 vi3를 인가할 수 있다. 이때, 수신부(130)는 제1 지점에 설치될 수 있다. 이 경우, 수신부는 제1 조사부와 일체로 형성될 수 있다.The receiver 130 may be disposed in the middle of the first irradiator and the second irradiator. For example, the first irradiator may apply the first ultrasound vi1 to the first point of the first surface. The second irradiator may apply the second ultrasound vi2 to a second point surrounding the first irradiator. The third irradiator may apply the third ultrasound vi3 to a third point surrounding the second irradiator. In this case, the receiver 130 may be installed at the first point. In this case, the receiver may be integrally formed with the first irradiation unit.

또는 수신부(130)는 제1 면에 복수로 배치될 수 있다. 이때, 각 수신부는 각 조사부와 일체로 형성될 수 있다.Alternatively, the receiver 130 may be disposed in plural on the first surface. In this case, each receiver may be integrally formed with each irradiator.

각 조사부는 높은 전압에 견딜 수 있어야 하며, 각 수신부는 기본파(제1 초음파, 제2 초음파,... 등)와 제2 고조파 성분(v21, v22,... 등)을 모두 수신할 수 있는 광대역의 주파수 밴드폭을 가질 수 있다.Each radiator must be able to withstand high voltages, and each receiver can receive both fundamental waves (first ultrasound, second ultrasound, ..., etc.) and second harmonic components (v21, v22, ..., etc.). It can have a wide bandwidth frequency bandwidth.

본 발명에 따르면, 일반적으로 수십개의 진동자 및 수신자를 사용하는 선형 초음파용 위상배열 탐촉자(phased array trasducer)와는 달리, 비선형 초음파용으로 단지 서너 개의 요소만을 이용하고, 각 요소들 간에 서로 다른 위상차를 적용하여 펄스-에코 모드에서 제2 고조파의 생성을 최적화할 수 있다.According to the present invention, unlike phased array trasducers for linear ultrasonic waves, which generally use dozens of vibrators and receivers, only three or four elements are used for nonlinear ultrasonic waves, and different phase differences are applied between the elements. To optimize the generation of the second harmonic in pulse-echo mode.

본 발명에 따르면, 펄스-에코 비선형 초음파용 배열 센서와 관련하여 센서용 압전 재료를 다양화할 수 있다. 또한, 이론 해석에 기초하여 주어진 피검사체의 두께, 형상에 따라 제2 고조파의 생성과 비선형 파라미터의 측정을 최적화하기 위하여 센서의 재료, 요소 수, 기하학적 형상, 주파수, 적용 위상차, 수신 방법 등을 최적화할 수 있는 장점이 있다. 또한, 평면형 피검사체뿐만 아니라, 곡면을 갖는 튜브형의 피검사체에도 비파괴 검사를 적용할 수 있다.According to the present invention, piezoelectric materials for sensors can be diversified in connection with array sensors for pulse-eco nonlinear ultrasonic waves. In addition, the material, number of elements, geometrical shape, frequency, applied phase difference, and reception method of the sensor are optimized to optimize the generation of the second harmonic and the measurement of the nonlinear parameter according to the thickness and shape of the object under test based on the theoretical analysis. There is an advantage to this. In addition, the non-destructive inspection can be applied not only to the planar subject but also to a tubular subject having a curved surface.

제2 고조파 성분의 크기를 개선하기 위해, 제1 조사부, 제2 조사부, 수신부의 초기 세팅이 매우 중요하다.In order to improve the magnitude of the second harmonic component, the initial setting of the first irradiator, the second irradiator, and the receiver is very important.

비선형 초음파 발생 및 수신을 위한 배열형 초음파 센서용으로 적합한 압전 재료의 선정 및 배열형 초음파 센서 제작 기술이 요구된다. 압전 재료는 압전 세라믹과 압전 고분자를 모두 포함할 수 있다.There is a need for the selection of piezoelectric materials suitable for array ultrasonic sensors for the generation and reception of nonlinear ultrasonic waves, and the fabrication of array ultrasonic sensors. The piezoelectric material may include both a piezoelectric ceramic and a piezoelectric polymer.

제1 조사부 및 제2 조사부의 펄스 에코 모드를 측정하고, 특성을 평가할 수 있는 기술이 요구된다.The technique which can measure the pulse echo mode of a 1st irradiation part and a 2nd irradiation part, and evaluates a characteristic is calculated | required.

펄스 에코 모드의 응력 자유 경계면에서 제2 고조파의 최적 생성을 위한 상대적 위상차 적용에 있어서, 최적의 입력 신호 특성을 결정하는 기술이 요구된다. 신호의 모양, 사이클 수, 주파수 등을 측정하고 최적값을 결정할 수 있는 기술이 요구된다.In the application of the relative phase difference for optimal generation of the second harmonic at the stress free interface of the pulse echo mode, a technique for determining the optimal input signal characteristics is required. There is a need for a technique that can measure the shape of the signal, the number of cycles, the frequency, etc. and determine the optimal value.

펄스-에코용 비선형 초음파 배열형 센서의 최적화 기술이 요구된다. 예를 들어, 요소(조사부, 수신부)의 개수, 크기, 기하학적 형상, 주파수, 단일 요소 수신 또는 일부 요소 수신 또는 전체 요소 수신, 제작 및 평가 방법이 요구된다.There is a need for optimization techniques for non-linear ultrasonic array sensors for pulse echo. For example, a number, size, geometric shape, frequency, single element reception or partial element reception or all element reception, fabrication and evaluation methods are required.

각 요소에 필요한 최적 송신 위상차의 결정과 해당 위상차의 적용 기술이 요구된다. 또한, 각 요소에 입력 파동의 인가 기술이 요구된다.The determination of the optimum transmission phase difference required for each element and the application technique of the phase difference are required. In addition, a technique of applying an input wave to each element is required.

위상차가 적용된 펄스-에코 모드에서 배열형 초음파 센서의 다양한 가진에 의해 발생/수신되는 선형 및 비선형 파동의 음장 해석 기술이 요구되며, 이는 본 발명의 처리부(150)에 의해 처리될 수 있다.Sound field analysis technology of linear and nonlinear waves generated / received by various excitations of the arrayed ultrasonic sensors in the pulse-echo mode to which the phase difference is applied is required, which can be processed by the processing unit 150 of the present invention.

처리부(150)는 수신부를 통해 수신된 수신파를 신호 처리하고, 다양한 주파수 성분을 추출하며 분석할 수 있다.The processor 150 may signal-process the received wave received through the receiver, extract and analyze various frequency components.

처리부(150)는 피검사체의 감쇠로 인한 보정과 배열형 센서의 회절 효과를 고려하여 비선형 파리미터를 측정하고 평가할 수 있다.The processor 150 may measure and evaluate the nonlinear parameters in consideration of correction due to attenuation of the inspected object and diffraction effects of the array type sensor.

조사부는 피검사체에 대한 접촉식 또는 비접촉식 방법으로 초음파를 가진(excitation)할 수 있다.The irradiator may excite the ultrasound in a contact or non-contact manner with respect to the subject.

실제 현장에서 피검사체의 손상 위치를 파악하는 등의 진단을 수행하기 위해서는, 피검사체를 통과한 신호를 수신하는 수신부의 교정을 통한 절대적 비선형 파리미터값의 측정이 요구된다. 수신부의 교정 작업은 해당 신호에 포함된 제2 고조파 성분을 이용해서 이루어진다 그러나, 이미 알려진 비선형 초음파 검사법의 경우 측정되는 제2 고조파 성분이 거의 0이 되는 치명적인 한계를 갖는다. 따라서, 기존의 비선형 초음파 검사법은 제2 고조파의 검출을 어렵게 하는 각종 노이즈가 산재하는 실제 현장에서는 사용되지 못하고, 노이즈의 배제가 가능한 실험실에서만 적용되고 있다.In order to carry out a diagnosis such as identifying a damage location of a test subject in an actual site, measurement of an absolute nonlinear parameter value through calibration of a receiver that receives a signal passing through the test subject is required. The calibration operation of the receiver is performed using the second harmonic component included in the signal, but in the case of the known nonlinear ultrasound method, the second harmonic component measured is almost zero. Therefore, the existing nonlinear ultrasonic inspection method is not used in the actual field where various kinds of noises that make it difficult to detect the second harmonics are applied, and is applied only in a laboratory where noise can be excluded.

도 4는 본 발명의 검사 장치를 나타낸 블록도이다. 도 5는 본 발명의 다른 조사부를 나타낸 개략도이다. 도 6은 본 발명의 시간 역전 처리에 의한 초음파 빔 집속 과정을 설명하는 모식도이다. 도 7은 본 발명의 초음파 진단 방법을 나타낸 개략도이다.4 is a block diagram showing an inspection device of the present invention. 5 is a schematic view showing another irradiation part of the present invention. 6 is a schematic diagram illustrating an ultrasonic beam focusing process by the time reversal treatment of the present invention. Figure 7 is a schematic diagram showing the ultrasonic diagnostic method of the present invention.

노이즈에 강건한, 다시 말해 강한 세기를 갖는 제2 고조파를 생성하기 위해 본 발명의 검사 장치는 제1 조사부(111), 제2 조사부(112), 수신부(130), 처리부(150)를 포함할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention may include a first irradiator 111, a second irradiator 112, a receiver 130, and a processor 150 to generate a second harmonic that is robust to noise, that is, has a strong intensity. have.

제1 조사부(111)는 피검사체(10)의 제1 면(11)으로부터 제2 면(저면)(12)까지 전파되는 제1 초음파를 생성할 수 있다. 제1 면(11)과 제2 면(12)은 서로 다른 면일 수 있으며, 일 예로 제1 면(11)은 피검사체(10)의 윗면이고, 제2 면(12)은 피검사체(10)의 아랫면일 수 있다.The first irradiator 111 may generate first ultrasonic waves propagating from the first surface 11 to the second surface (bottom surface) 12 of the inspected object 10. The first surface 11 and the second surface 12 may be different surfaces, for example, the first surface 11 is an upper surface of the object 10, and the second surface 12 is an object 10. It may be the bottom of.

제2 조사부(111)는 피검사체의 제1 면(11)으로부터 제2 면(12)까지 전파되는 제2 초음파를 생성할 수 있다. 이때, 제2 초음파는 제1 초음파를 기준으로

Figure pat00002
위상차를 가질 수 있다.The second irradiator 111 may generate second ultrasonic waves propagating from the first surface 11 to the second surface 12 of the object under test. In this case, the second ultrasound is based on the first ultrasound.
Figure pat00002
It may have a phase difference.

수신부(130)는 피검사체(10)의 제1 면(11)에 장착되고 제1 반사 신호 및 제2 반사 신호를 수신할 수 있다.The receiver 130 may be mounted on the first surface 11 of the inspected object 10 and receive the first reflection signal and the second reflection signal.

수신부는 하나 또는 복수로 마련될 수 있다. 수신부는 각 조사부와 일체로 형성될 수도 있다.있다.One or more receivers may be provided. The receiver may be integrally formed with each irradiation unit.

다른 예로, 도 5와 같이 제1 조사부(111) 및 제2 조사부(112)는 피검사체(10)로부터 이격된 위치에서 제1 면(11)을 향해 레이저를 조사하는 레이저 조사기를 포함할 수 있다. 제1 면(11)에 조사된 레이저의 가진(excitation)에 의해 피검사체(10)를 통과하는 제1 초음파 및 제2 초음파가 생성되거나, 제1 초음파와 제2 초음파의 합성 파형이 생성될 수 있다.As another example, as illustrated in FIG. 5, the first irradiator 111 and the second irradiator 112 may include a laser irradiator for irradiating a laser toward the first surface 11 at a position spaced apart from the object 10. . Excitation of the laser irradiated to the first surface 11 may generate the first ultrasound and the second ultrasound passing through the inspected object 10, or a composite waveform of the first ultrasound and the second ultrasound may be generated. have.

제1 반사 신호는 제1 면(11)으로부터 피검사체(10)의 제2 면(저면)(12)까지 전파된 초음파가 반사된 신호일 수 있다.The first reflection signal may be a signal in which ultrasound waves propagated from the first surface 11 to the second surface (bottom surface) 12 of the object 10 are reflected.

제2 반사 신호는 제1 면(11)으로부터 제2 면(12)까지 전파된 시간 역전 신호가 반사된 신호일 수 있다. 이때, 시간 역전 신호는 제1 반사 신호를 이용해서 생성된 것일 수 있다.The second reflection signal may be a signal in which a time reversal signal propagated from the first surface 11 to the second surface 12 is reflected. In this case, the time reversal signal may be generated using the first reflection signal.

제1 면에 접촉되거나 제1 면으로부터 이격된 조사부는 초음파를 생성해서 제2 면(12)을 향해 방사할 수 있다. 공간 분해능의 개선을 위해 복수의 수신부(130)는 초음파가 투입되는 피검사체 지점을 기준으로 점대칭되는 위치에 배치될 수 있다.The irradiating portion in contact with or spaced from the first surface may generate ultrasonic waves and radiate toward the second surface 12. In order to improve spatial resolution, the plurality of receivers 130 may be disposed at point symmetrical positions based on the point of the object to which the ultrasound is input.

제1 면(11)에 배치된 복수의 수신부(130)는 초음파가 제2 면(12)에서 반사된 제1 반사 신호를 수신할 수 있다.The plurality of receivers 130 disposed on the first surface 11 may receive the first reflection signal reflected by the ultrasonic wave on the second surface 12.

복수의 수신부(130)는 시간 역전 신호를 다시 방사할 수 있다. 시간 역전 신호는 제1 면(11)으로부터 제2 면(12)을 향해 전파되고, 제2 반사 신호는 복수의 수신부에 수신될 수 있다.The plurality of receivers 130 may emit the time reversal signal again. The time reversal signal propagates from the first face 11 toward the second face 12, and the second reflected signal may be received in the plurality of receivers.

제1 반사 신호가 제2 면(12) 상의 특정 위치 P로부터 반사된 것일 때, 복수의 수신부(130)로부터 방사된 시간 역전 신호는 특정 위치 P에 집속될 수 있다. 특정 위치 P에 복수의 수신부(130)로부터 방사된 복수의 빔이 집속되므로, 특정 위치 P에서 반사된 빔에 해당하는 제2 반사 신호의 분해능이 개선될 수 있다.When the first reflection signal is reflected from a specific position P on the second surface 12, the time reversal signal radiated from the plurality of receivers 130 may be focused at the specific position P. FIG. Since a plurality of beams emitted from the plurality of receivers 130 are focused at a specific position P, the resolution of the second reflected signal corresponding to the beam reflected at the specific position P may be improved.

수신부(130)는 제1 반사 신호의 시간 역전 신호가 제2 면(12)에서 반사된 제2 반사 신호를 수신할 수 있다.The receiver 130 may receive the second reflection signal in which the time reversal signal of the first reflection signal is reflected from the second surface 12.

처리부(150)는 제2 반사 신호를 이용해서 피검사체(10)의 비선형 파라미터값을 산출할 수 있다.The processor 150 may calculate the non-linear parameter value of the object 10 by using the second reflected signal.

초음파는 피검사체(10)의 제2 면(12) 상의 P 위치에서 반사될 수 있다. 제2 면(12)은 공기, 지지판 등의 다른 매질과 경계가 되는 부분이므로, 제2 면(12)에 반사된 제1 반사 신호 또는 제2 반사 신호에는 피검사체(10) 내부의 미세한 균열에 반사된 신호와 비교하여 매우 큰 크기(magnitude)를 갖는 제2 고조파 성분이 포함될 수 있다. 제2 면(12)에 반사된 신호에 포함된 제2 고조파 성분은 노이즈와 구분될 수 있으므로, 노이즈가 혼재하는 실제 현장에서도 용이하게 파악될 수 있다.Ultrasound may be reflected at the P position on the second surface 12 of the object 10. Since the second surface 12 is a portion which is bordered with other media such as air and a support plate, the first reflection signal or the second reflection signal reflected by the second surface 12 is subjected to minute cracks inside the test object 10. A second harmonic component having a very large magnitude compared to the reflected signal may be included. Since the second harmonic component included in the signal reflected on the second surface 12 may be distinguished from noise, it may be easily recognized even in a real field where noise is mixed.

보다 더 노이즈에 강건한 제2 고조파 성분을 얻기 위해 피검사체(10)의 제1 면(11)에 배치된 복수의 수신부(130)는 P 위치에 집속되는 집속 빔을 생성할 수 있다.In order to obtain a second harmonic component that is more robust to noise, the plurality of receivers 130 disposed on the first surface 11 of the object 10 may generate a focused beam focused at a P position.

확실한 빔 집속을 위해 3채널 이상의 배열형 수신부(130)가 피검사체(10)의 제1 면(11)에 밀착될 수 있으며, 빔 집속을 위해 시간 역전법이 적용될 수 있다. 시간 역전법이 적용된 시간 역전 신호는 제2 면(12)의 P 위치에 정확하게 집속될 수 있다.In order to ensure the beam focusing, the array receiving unit 130 of three channels or more may be in close contact with the first surface 11 of the object 10, and a time reversal method may be applied for beam focusing. The time reversal signal to which the time reversal method is applied may be accurately focused at the P position of the second surface 12.

각 수신부(130)로부터 피검사체(10)에 방사되는 신호는 시간 역전 처리된 것이므로 피검사체(10)의 특성을 포함한 사전 정보를 몰라도 비선형 결함이 존재하는 P 위치에 정확하게 초음파 빔이 집속될 수 있다.Since the signal emitted from each receiver 130 to the object 10 is time-reversed, the ultrasonic beam can be accurately focused at the P position where the nonlinear defect exists even without prior information including the characteristics of the object 10. .

수신부(130) 또는 처리부(150)는 경계면, Lamb파의 다중 모드 등으로 야기된 비선형 성분 신호나, 평판 형상의 피검사체(10)에서 다양한 모드의 반사파로 야기되는 비선형 성분 신호 중에서 관심을 두는 특정 모드의 신호를 추출하고 이를 시간 역전 처리한다.The receiving unit 130 or the processing unit 150 is a particular element of interest among the nonlinear component signals caused by the interface, the multiple modes of the Lamb wave, or the nonlinear component signals caused by the reflected waves of various modes in the flat object 10. Extract the mode signal and time-reverse it.

도면에서는 N개의 수신부(130)가 배열된 어레이 트랜스듀서에 대한 시간 역전법을 도시하고 있지만, 본 발명의 실시예는 어레이 트랜스듀서에 한정되지 않고 낱개로 설치되는 수신부(130)에 의하여도 얼마든지 구현할 수 있다.In the drawings, a time reversal method for an array transducer in which N receivers 130 are arranged is shown. However, the embodiment of the present invention is not limited to the array transducer, but may be provided by the receivers 130 that are individually installed. Can be implemented.

도 6의 첫째 그림을 참조하면 어레이 트랜스듀서에 마련되는 N개의 수신부(130) 중에서 하나를 가진시킨다. 가진된 입사파는 피검사체(10)에 전파된다.Referring to the first picture of FIG. 6, one of the N receivers 130 provided in the array transducer is excited. The excited incident wave propagates to the inspected object 10.

도 6의 두번째 그림을 참조하면 피검사체(10)의 경계면에 해당하는 제2 면(12)의 P 위치에 반사되는 산란 신호(제1 반사 신호)는 각 수신부(130)에 수신된다. 피검사체(10)의 매질 특성, 피검사체(10)의 표면 지오메트리, 제1 면(11)에 배치된 각 수신부(130)로부터 제2 면(12)까지의 거리 차이는 각 수신부(130)별 에코 신호의 시간 지연량 차이나 각 수신부(130)의 파형 차이와 같은 물리량으로 표현된다.Referring to the second picture of FIG. 6, the scattering signal (first reflection signal) reflected at the P position of the second surface 12 corresponding to the boundary surface of the object 10 is received by each receiver 130. The difference in the media properties of the inspected object 10, the surface geometry of the inspected object 10, and the distance from each receiver 130 disposed on the first face 11 to the second face 12 is different for each receiver 130. It is expressed as a physical quantity such as a time delay amount difference of an echo signal or a waveform difference of each receiver 130.

본 발명의 시간 역전법에 따르면 시간 지연량 차이나 파형 차이에 관한 데이터를 요구할 뿐 사전 정보에 대한 지식은 전혀 필요로 하지 않는다.According to the time reversal method of the present invention, it requires data on time delay difference or waveform difference, but does not require any knowledge of prior information.

P 위치까지의 거리를 초음파의 속도로 나눈 것이 전파 시간이므로, 각 수신부(130)별 시간 지연량 차이나 파형 차이에는 피검사체(10)의 표면 지오메트리나, 각 수신부(130)로부터 P 위치까지의 거리 차이 등의 사전 정보가 이미 포함되어 있다. 따라서, 수신부(130)에서 방사 및 입수되는 신호로부터 시간 지연량을 계산하고 시간 역전 처리를 이용하면 표면 지오메트리나 매질 특성과 같은 사전 정보를 몰라도 P 위치의 검출이 가능해진다.Since the distance to the P position divided by the speed of the ultrasonic wave is the propagation time, the difference between the time delay amount and the waveform difference for each receiver 130 is determined by the surface geometry of the object 10 or the distance from the receiver 130 to the P position. Dictionary information such as differences is already included. Therefore, by calculating the time delay amount from the signal emitted and received by the receiver 130 and using the time reversal process, it is possible to detect the P position without knowing advance information such as surface geometry and medium characteristics.

어레이 트랜스듀서나 피검사체(10)에 대한 사전 정보를 전혀 몰라도, 피검사체(10)의 내부를 전파하여 되돌아온 신호를 이용하기 때문에 피검사체(10)의 기하학적 형상과 물성에 관한 사전 정보가 되돌아온 신호에 그대로 반영되어 있다. 시간 역전법은, 어레이 트랜스듀서나 피검사체(10)에 대한 사전 정보가 전혀 입력되지 않아도 초음파의 전파 시간은 해당 어레이 트랜스듀서나 피검사체(10)에 대하여 불변인 특성에 기반을 두고 있다. 더욱이 본 발명에 따르면, 제1 초음파와 제2 초음파로 인해 제2 고조파의 크기가 대폭 증가될 수 있다.Even if you do not know any prior information about the array transducer or the object under test 10, the signal returned by propagating the inside of the object 10 is returned so that the information on the geometrical shape and physical properties of the object 10 is returned. It is reflected in. In the time reversal method, the propagation time of the ultrasonic wave is based on an invariant characteristic of the array transducer or the inspected object 10 even if no prior information on the array transducer or the inspected object 10 is input. Furthermore, according to the present invention, the size of the second harmonic can be greatly increased due to the first ultrasound and the second ultrasound.

도 6의 세번째 그림을 참조하면, 사전 정보를 획득할 필요없이, N개의 수신부(130)에 입수된 파형(제1 반사 신호)을 각 수신부(130)별 시간 지연량 차이를 근거로 해서 시간 역전 처리한다. 각 수신부(130)는 시간 역전 처리된 새로운 파형(시간 역전 신호)을 피검사체(10)에 입사시킨다. 시간 역전 처리된 초음파 빔(시간 역전 신호)은 P 위치에 정확하게 집속된다.Referring to the third picture of FIG. 6, the time reversal is performed based on the difference in the time delay amount of each receiver 130 obtained by the N receivers 130 without having to acquire prior information. Process. Each receiver 130 injects a new waveform (time reversal signal) subjected to time reversal processing into the test subject 10. The time-reversed ultrasonic beam (time reversal signal) is correctly focused at the P position.

수신 신호의 시간 역전 처리에서 수신된 원래의 신호를 그대로 사용하거나, 관심을 두는 특정 모드의 비선형 신호를 선별적으로 추출하고 이를 시간 역전 처리하며, P 위치의 정확한 분석이 가능하다.In the time reversal processing of the received signal, the received original signal may be used as it is, or a nonlinear signal of a specific mode of interest may be selectively extracted and time reversal processed, and an accurate analysis of the P position may be performed.

도 6의 네번째 그림을 참조하면, P 위치에 집중된 초음파 빔(시간 역전 신호)은 각 수신부(130)에 다시 입수(제2 반사 신호)된다. 입수된 파형은 신호대 잡음비가 개선된 파형으로서, P 위치에 대한 정확한 정보(좌표, 크기 포함)를 담고 있다.Referring to the fourth picture of FIG. 6, the ultrasonic beam (time reversal signal) concentrated at the P position is obtained again (second reflection signal) by each receiver 130. The obtained waveform is an improved signal-to-noise ratio and contains accurate information (including coordinates and magnitude) about the P position.

즉, 시간 역전법에 의하여 산출된 시간 지연량을 반영하여 시간 역전 처리한 상태에서 각 수신부(130)를 가진시키면, 가진된 초음파는 P 위치에 집속되게 전파된다. P 위치에 초음파가 집속되면 신호대 잡음비가 개선되므로 깨끗한 결함 영상을 얻을 수 있다.That is, when each receiver 130 is excited in the state of time reversal processing reflecting the amount of time delay calculated by the time reversal method, the excited ultrasonic waves are focused on the P position. Focusing the ultrasound at the P position improves the signal-to-noise ratio, resulting in clear defect images.

비선형 결함의 검사 정확도 향상을 위하여 수신부(130)의 신호 수신 시간은 신호 송신 시간보다 더 긴 것이 바람직하다. 제1 반사 신호의 수신 시간이 길어질수록 고조파 성분의 피크 진폭이 증가되므로 노이즈 없이 순수한 고조파 성분이 추출될 수 있다.In order to improve inspection accuracy of nonlinear defects, the signal reception time of the receiver 130 is preferably longer than the signal transmission time. As the reception time of the first reflection signal is longer, the peak amplitude of the harmonic component is increased, so that pure harmonic components can be extracted without noise.

제1 반사 신호는 처리부(150)에 입력될 수 있다. 처리부(150)는 수신된 시간 영역의 제1 반사 신호를 푸리에 변환하여 주파수 스펙트럼이 구해지면 주파수 영역에서 윈도우 함수를 이용하여 고조파 스펙트럼을 추출할 수 있다. 처리부(150)는 추출된 고조파 스펙트럼을 시간 역전 처리한 후 시간 영역으로 변환해서 시간 역전 신호를 생성할 수 있다. 처리부(150)는 시간 역전 신호를 증폭한 다음 수신부(130)로 제공할 수 있다.The first reflection signal may be input to the processor 150. When the frequency spectrum is obtained by Fourier transforming the first reflection signal of the received time domain, the processor 150 may extract a harmonic spectrum using a window function in the frequency domain. The processor 150 may generate a time reversal signal by converting the extracted harmonic spectrum into a time domain after time reversal processing. The processor 150 may amplify the time reversal signal and then provide the received signal to the receiver 130.

수신부(130)는 처리부(150)로부터 제공된 시간 역전 신호를 피검사체(10)를 향하여 재방사할 수 있다. The receiver 130 may re-radiate the time reversal signal provided from the processor 150 toward the object 10.

제1 반사 신호는 경계면과 같은 비선형 결함에 대한 정보를 담고 있다. 따라서, 제1 반사 신호를 시간 역전 처리한 시간 역전 신호는 사전 정보를 전혀 몰라도 시간 역전 처리에 따라 비선형 특성을 갖는 P 위치에 정확하게 집속될 수 있다. P 위치까지 전파된 시간 역전 신호는 다시 P 위치에서 반사되어 각 수신부(130)로 입수될 수 있다.The first reflected signal contains information about nonlinear defects such as the interface. Therefore, the time reversal signal obtained by time reversal processing of the first reflection signal can be accurately focused at the P position having the nonlinear characteristic according to the time reversal processing without any prior information. The time reversal signal propagated to the P position may be reflected back to the P position and obtained by each receiver 130.

처리부(150)는 각 수신부(130)로 입수된 제1 반사 신호 또는 제2 반사 신호를 처리할 수 있다. 처리부(150)는 제2 반사 신호를 분석해서 기본 주파수 성분과 제2 고조파 성분을 추출하고, 제2 고조파 성분을 이용해서 상기 비선형 파라미터값을 산출할 수 있다. 이때의 제2 고조파 성분은 초기 단계에서 제1 조사부 및 제2 조사부에 의해 제공된 제1 초음파 및 제2 초음파에 의해 크기가 획기적으로 증가된 상태일 수 있다.The processor 150 may process the first reflected signal or the second reflected signal received by each receiver 130. The processor 150 may extract the fundamental frequency component and the second harmonic component by analyzing the second reflected signal, and calculate the nonlinear parameter value using the second harmonic component. In this case, the second harmonic component may be in a state in which the size of the second harmonic component is dramatically increased by the first ultrasound and the second ultrasound provided by the first and second radiators.

처리부(150)는 기본 주파수 성분 또는 제2 고조파 성분에 수신부(130)의 전달함수를 곱하여 절대 변위로 변환할 수 있다. 처리부(150)는 수신부(130)에 시간 지연을 적용해서 제2 반사 신호를 합성하여 비선형 파라미터값을 산출할 수 있다. 처리부(150)는 제2 반사 신호의 회전 또는 감쇠를 보정해서 비선형 파라미터값을 산출할 수 있다.The processor 150 may convert the fundamental frequency component or the second harmonic component to the absolute displacement by multiplying the transfer function of the receiver 130. The processor 150 may apply a time delay to the receiver 130 to synthesize the second reflected signal to calculate a nonlinear parameter value. The processor 150 may calculate the nonlinear parameter value by correcting the rotation or attenuation of the second reflected signal.

처리부(150)에는 오실로스코프(151), 처리 모듈(153), 멀티 채널 펑션 제너레이터(155)(multi channel function generator), 멀티 채널 증폭기(157)(multi channel amplifier), 임피던스 매칭기(159)(impedance matching)가 마련될 수 있다.The processor 150 includes an oscilloscope 151, a processing module 153, a multi channel function generator 155, a multi channel amplifier 157, and an impedance matcher 159. matching may be provided.

오실로스코프(151)는 수신부(130)로부터 수신된 제1 반사 신호 또는 제2 반사 신호를 모니터링하고, 처리 모듈(153)에 제공할 수 있다.The oscilloscope 151 may monitor the first reflection signal or the second reflection signal received from the receiver 130 and provide the processing module 153.

처리 모듈(153)은 제1 반사 신호를 처리해서 멀티 채널 평션 제너레이터로 제공하거나, 제2 반사 신호를 이용해서 피검사체(10)의 비선형 파라미터값을 산출할 수 있다.The processing module 153 may process the first reflection signal and provide it to the multi-channel function generator, or calculate the nonlinear parameter value of the object under test 10 using the second reflection signal.

처리 모듈(153)에는 수신부 교정 모듈, 시간 역전 신호 처리 모듈, 수신 신호 처리 모듈, 절대 변위 계산 모듈, 비선형 파라미터값 계산 모듈, 회절 및 감쇠 보정 모듈이 마련될 수 있다.The processing module 153 may be provided with a receiver calibration module, a time reversal signal processing module, a reception signal processing module, an absolute displacement calculation module, a nonlinear parameter value calculation module, a diffraction and attenuation correction module.

수신부 교정 모듈은 제2 고조파 성분의 절대 변위를 파악하기 위해 수신부(130)의 수신 주파수 등을 교정할 수 있다.The receiver calibration module may calibrate the reception frequency of the receiver 130 to determine the absolute displacement of the second harmonic component.

시간 역전 신호 처리 모듈은 각 수신부(130)에서 수신한 제1 반사 신호에 시간 역전법을 적용할 수 있다.The time reversal signal processing module may apply the time reversal method to the first reflection signals received by each receiver 130.

수신 신호 처리 모듈은 제1 반사 신호 또는 제2 반사 신호를 처리할 수 있다. 일 예로, 수신 신호 처리 모듈은 복수의 수신부(130)로부터 획득된 복수의 제2 반사 신호에 시간 지연을 적용한 후 합성할 수 있다.The received signal processing module may process the first reflected signal or the second reflected signal. For example, the reception signal processing module may apply a time delay to the plurality of second reflection signals obtained from the plurality of receivers 130 and then synthesize the received signals.

절대 변위 계산 모듈은 기본 주파수 성분 또는 제2 고조파 성분에 수신부(130)의 전달함수를 곱하여 제2 고조파 성분 등의 절대 변위를 계산할 수 있다.The absolute displacement calculation module may calculate an absolute displacement of the second harmonic component or the like by multiplying the fundamental frequency component or the second harmonic component by the transfer function of the receiver 130.

비선형 파라미터값 계산 모듈은 계산된 절대 변위를 이용해서 수학식 1과 같은 비선형 파라미터값 β를 산출할 수 있다.The nonlinear parameter value calculation module may calculate the nonlinear parameter value β as shown in Equation 1 using the calculated absolute displacement.

Figure pat00003
Figure pat00003

회절 및 감쇠 보정 모듈은 제2 반사 신호 등에 포함된 회절 요소 및 감쇠 요소를 보정할 수 있다.The diffraction and attenuation correction module may correct the diffraction element and the attenuation element included in the second reflected signal or the like.

수신부 교정 모듈, 수신 신호 처리 모듈, 절대 변위 계산 모듈, 비선형 파라미터값 계산 모듈, 회절 및 감쇠 보정 모듈의 세부 동작 및 수학 모델은 논문 'Review of Second Harmonic Generation Measurement Techniques for Material State Determination in Metals'(J Nondestruct Eval DOI 10.1007/s10921-014-0273-5)에 나타나 있다.The detailed behavior and mathematical models of the receiver calibration module, the received signal processing module, the absolute displacement calculation module, the nonlinear parameter value calculation module, the diffraction and attenuation correction module are described in the article 'Review of Second Harmonic Generation Measurement Techniques for Material State Determination in Metals' (J Nondestruct Eval DOI 10.1007 / s10921-014-0273-5).

멀티 채널 평션 제너레이터는 제1 반사 신호가 처리된 결과를 이용해서 제1 면(11)에 설치된 복수의 수신부(130)에 할당되는 각 시간 역전 신호를 생성할 수 있다.The multi-channel function generator may generate each time reversal signal allocated to the plurality of receivers 130 installed on the first surface 11 by using the result of processing the first reflection signal.

멀티 채널 증폭기는 각 수신부(130)에 할당된 시간 역전 신호를 증폭할 수 있다.The multi-channel amplifier may amplify the time reversal signal allocated to each receiver 130.

임피던스 매칭기는 시간 역전 신호가 제1 면(11)에서 반사되어 처리부(150)로 되돌아오는 것을 방지하는 것이다.The impedance matcher prevents the time reversal signal from being reflected from the first surface 11 and returned to the processor 150.

본 발명의 초음파 진단 방법은 다음과 같다.The ultrasound diagnostic method of the present invention is as follows.

먼저, 제1 조사부(111) 및 제2 조사부(112)의 가진에 의해 피검사체(10)의 제1 면(11)에 초음파가 방사될 수 있다. 이때의 제1 초음파 및 제2 초음파는 서로 다른 위상을 가질 수 있다.First, ultrasonic waves may be radiated onto the first surface 11 of the object 10 by the excitation of the first irradiating unit 111 and the second irradiating unit 112. In this case, the first ultrasound and the second ultrasound may have different phases.

피검사체(10)의 내부를 통과한 제1 초음파 및 제2 초음파는 제2 면(12)에서 반사되어(제1 반사 신호) 제1 면(11)에 배치된 복수의 수신부(130)에 수신될 수 있다. 제1 반사 신호가 수신되는 탐촉자에는 초음파를 생성한 탐촉자도 포함될 수 있다.The first and second ultrasound waves passing through the inside of the object 10 are reflected by the second surface 12 (first reflection signal) and received by the plurality of receivers 130 disposed on the first surface 11. Can be. The transducer from which the first reflected signal is received may also include a transducer that generates ultrasonic waves.

각 수신부(130)에서 수신한 제1 반사 신호를 시간 역전시킨 후 재송신하면 제2 면(12)의 반사 위치 P에 빔(시간 역전 신호)이 집속될 수 있다.When the first reflection signal received by each receiver 130 is reversed and retransmitted, a beam (time reversal signal) may be focused at the reflection position P of the second surface 12.

시간 역전 신호가 위치 P에서 반사된 제2 반사 신호를 각 수신부(130)에서 수신하고, 신호 처리한 후 기본 주파수 성분과 제2 고조파 성분을 구할 수 있다.Each of the receivers 130 receives the second reflected signal reflected by the time reversal signal at the position P, and after processing the signal, obtains a fundamental frequency component and a second harmonic component.

각 수신부(130)의 전달함수를 곱하여 절대 변위로 변환하고, 수신부(130)에 시간 지연을 적용해서 수신파를 합성할 수 있다.Multiply the transfer function of each receiver 130 to convert it to absolute displacement, and apply a time delay to the receiver 130 to synthesize the received wave.

회절/감쇠 보정전의 비선형 파라미터 값을 구하고, 회절 및 감쇠를 보정하여 최종적인 비선형 파라미터값을 구할 수 있다.The nonlinear parameter value before diffraction / damping correction can be obtained, and the final nonlinear parameter value can be obtained by correcting the diffraction and attenuation.

본 발명의 초음파 진단 장치는 제1 초음파 및 제2 초음파를 이용하고, 비접촉식 가진과 반사법의 적용을 통해 피검사체(10)의 일면만 이용하므로 현장 적용성이 매우 높다. 빔 집속을 위해 피검사체(10)의 내부를 전파하여 되돌아온 신호를 이용하기 때문에 배열 수신부(130)의 제원이나 피검사체(10)의 기하학적 형상, 물성을 사전에 알 필요가 없다. 수신부(130)의 교정을 통해 피검사체(10)의 절대 비선형 파라미터값을 측정하며, 회절 및 감쇠 보정을 적용해서 보다 정확한 비선형 파라미터값을 제공할 수 있다. 최소 3채널의 배열 수신부(130)를 이용해서 비선형 초음파 진단 장치가 구성되므로, 생산성이 높은 장점이 있다.The ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention uses the first ultrasonic wave and the second ultrasonic wave, and uses only one surface of the inspected object 10 through the application of a non-contact excitation and reflection method, so that the field applicability is very high. Since the signal propagated inside the object under test 10 is used for beam focusing, it is not necessary to know the specifications of the array receiver 130 and the geometric shape and physical properties of the object under test 10 in advance. The calibration of the receiver 130 may measure an absolute nonlinear parameter value of the object 10 and may provide a more accurate nonlinear parameter value by applying diffraction and attenuation correction. Since the nonlinear ultrasound diagnostic apparatus is configured by using the array receiver 130 of at least three channels, there is an advantage of high productivity.

이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.Although embodiments according to the present invention have been described above, these are merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent embodiments of the present invention are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the following claims.

10...피검사체 11...제1 면
12...제2 면 20...결함
111...제1 조사부 112...제2 조사부
130...수신부
150...처리부 151...오실로스코프
153...처리 모듈 155...멀티 채널 펑션 제너레이터
157...멀티 채널 증폭기 159...임피던스 매칭기
10 Test Subject 11 ... First Page
12 ... 2nd side 20 ... defect
111 ... First Irradiation Unit 112 ... Second Irradiation Unit
130 ... receiver
150 ... Processor 151 ... Oscilloscope
153 Processing Modules 155 Multi-Channel Function Generators
157 ... multi-channel amplifier 159 ... impedance matcher

Claims (4)

피검사체의 제1 면에 제1 초음파를 인가하는 제1 조사부;
상기 제1 면에 제2 초음파를 인가하는 제2 조사부;
상기 피검사체를 통과한 반사 신호를 수신하는 수신부;
상기 반사 신호를 분석해서 상기 피검사체의 결함 또는 성질을 분석하는 처리부;를 포함하고,
상기 제1 조사부 및 상기 제2 조사부는 서로 다른 위상을 갖는 상기 제1 초음파 및 상기 제2 초음파를 생성하는 검사 장치.
A first irradiation unit configured to apply first ultrasonic waves to the first surface of the test object;
A second irradiator for applying a second ultrasonic wave to the first surface;
A receiver configured to receive a reflected signal passing through the test object;
And a processor configured to analyze the reflected signal to analyze defects or properties of the object under test.
And the first irradiator and the second irradiator generate the first and second ultrasound waves having different phases.
제1항에 있어서,
상기 제1 조사부 및 상기 제2 조사부는 상기 제1 면에 상기 제1 초음파 및 상기 제2 초음파를 동시에 인가하는 검사 장치.
The method of claim 1,
And the first irradiating unit and the second irradiating unit simultaneously apply the first ultrasonic wave and the second ultrasonic wave to the first surface.
제1항에 있어서,
상기 수신부는 상기 제1 면에 배치되고,
상기 피검사체의 응력 자유 경계면으로부터 반사된 상기 반사 신호를 상기 제1 면에서 수신하는 검사 장치.
The method of claim 1,
The receiver is disposed on the first surface,
And the first signal receiving the reflected signal reflected from the stress free interface of the object under test.
제1항에 있어서,
상기 제1 조사부 및 상기 제2 조사부는
Figure pat00004
의 위상차를 갖도록 상기 제1 초음파와 상기 제2 초음파를 생성하는 검사 장치.
The method of claim 1,
The first irradiation unit and the second irradiation unit
Figure pat00004
The inspection apparatus for generating the first ultrasound and the second ultrasound so as to have a phase difference of.
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