KR20190131301A - 방사선 시편 검사 장치 - Google Patents
방사선 시편 검사 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 부분 확대도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 높이 조절부를 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 시편 각도 조절부의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치를 구성하는 회전 플레이트의 저면도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 방사선 시편 검사 장치의 평면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 방사선 시편 검사 장치의 측면도이다.
20: 방사선 검사용 필름 100: 방사선 시편 검사 장치
110: 테이블 110a: 테이블 지지대
112: 제1 테이블 114: 제2 테이블
120: 이동휠 130: 시편 지지대
131: 스토퍼 132: 밀착부재
133: 핸들 134: 스크류축
135: 고정부재 140: 방사선원
141: 피드라인 142: 수직 지지대
144: 지지판 146: 절첩부재
150: 필름 지지대 160: 필름 밀착부
161: 지지프레임 162: 작동축
163: 작동핸들 164: 가이드바
170: 높이 조절부 171: 승강 작동부
172: 핸들부 173: 높이 조절대
180: 레이저 지시기 190: 시편 각도 조절부
191: 고정 플레이트 192: 볼 플런저
193: 회전 플레이트 194: 홈부
Claims (8)
- 원형의 테이블;
상기 테이블의 둘레를 따라 배열되는 복수개의 시편 지지대;
상기 테이블의 중심에 배치되고, 상기 복수개의 시편 지지대에 지지된 복수개의 시편에 방사선을 조사하는 방사선원;
상기 테이블 상에 설치되고, 상기 방사선원을 기준으로 상기 복수개의 시편의 후방에 배치되고, 방사선 검사용 필름을 지지하는 필름 지지대; 및
상기 테이블 상에 설치되고, 상기 복수개의 시편 지지대의 높이를 조절하는 높이 조절부;를 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 방사선원의 방사선 조사 위치를 나타내는 레이저를 상기 시편 상에 조사하는 레이저 지시기;를 더 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 테이블 상에 설치되고, 상기 시편 지지대 상의 상기 시편을 소정 간격으로 회전시키는 시편 각도 조절부;를 더 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제3항에 있어서,
상기 시편 각도 조절부는,
상기 테이블 상에 고정되는 고정 플레이트;
상기 고정 플레이트의 상면 둘레를 따라 상기 소정 간격으로 장착되는 복수개의 볼 플런저; 및
상기 고정 플레이트의 상부에 회전 가능하게 결합되고, 하면에 상기 복수개의 볼 플런저에 계합되는 복수개의 홈부가 상기 소정 간격으로 형성되는 회전 플레이트;를 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 테이블은 반원 형태의 제1 테이블과 제2 테이블로 분리된 구조로 제공되고,
상기 제1 테이블과 상기 제2 테이블을 이동시키도록 결합되는 이동휠;을 더 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제5항에 있어서,
상기 테이블을 지지하는 테이블 지지대에 수직으로 설치되고, 상기 방사선원을 지지하는 수직 지지대;를 더 포함하고,
상기 수직 지지대는 상기 제1 테이블 및 상기 제2 테이블 중 어느 하나에 접을 수 있게 제공되는 방사선 시편 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 테이블 상에 설치되고, 상기 방사선 검사용 필름이 상기 시편의 후면에 밀착되도록, 상기 필름 지지대를 상기 시편을 향하여 이동시키는 필름 밀착부;를 더 포함하는 방사선 시편 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 시편 지지대는, 상기 시편의 위치를 제한하기 위한 스토퍼와, 상기 시편을 상기 스토퍼에 밀착시키도록 상기 시편의 후면을 가압하는 고정 바이스를 포함하는 방사선 시편 검사 장치.
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---|---|---|---|---|
KR20230076492A (ko) * | 2021-11-24 | 2023-05-31 | 한국원자력연구원 | 방사선 내성 시험 장치 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003279502A (ja) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Toshiba It & Control Systems Corp | X線透視検査装置 |
JP2013137287A (ja) * | 2011-12-27 | 2013-07-11 | Toshiba It & Control Systems Corp | 断層撮影装置 |
KR20140006110U (ko) * | 2013-05-27 | 2014-12-05 | 현대중공업 주식회사 | 용접 시편의 비파괴검사용 장치 |
KR20160083503A (ko) * | 2014-12-31 | 2016-07-12 | 성균관대학교산학협력단 | 열구배 피로 시험장치 |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003279502A (ja) * | 2002-03-25 | 2003-10-02 | Toshiba It & Control Systems Corp | X線透視検査装置 |
JP2013137287A (ja) * | 2011-12-27 | 2013-07-11 | Toshiba It & Control Systems Corp | 断層撮影装置 |
KR20140006110U (ko) * | 2013-05-27 | 2014-12-05 | 현대중공업 주식회사 | 용접 시편의 비파괴검사용 장치 |
KR20160083503A (ko) * | 2014-12-31 | 2016-07-12 | 성균관대학교산학협력단 | 열구배 피로 시험장치 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230076492A (ko) * | 2021-11-24 | 2023-05-31 | 한국원자력연구원 | 방사선 내성 시험 장치 |
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