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KR20170080298A - Display device - Google Patents

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Publication number
KR20170080298A
KR20170080298A KR1020150191674A KR20150191674A KR20170080298A KR 20170080298 A KR20170080298 A KR 20170080298A KR 1020150191674 A KR1020150191674 A KR 1020150191674A KR 20150191674 A KR20150191674 A KR 20150191674A KR 20170080298 A KR20170080298 A KR 20170080298A
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KR
South Korea
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lines
layer
lead
gate
panel
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Application number
KR1020150191674A
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Korean (ko)
Other versions
KR102463349B1 (en
Inventor
이설희
이현행
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Priority to KR1020150191674A priority Critical patent/KR102463349B1/en
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Publication of KR102463349B1 publication Critical patent/KR102463349B1/en

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    • H01L51/56
    • H01L27/3276
    • H01L51/5203
    • H01L51/5237
    • H01L51/5253
    • H01L51/5281
    • H01L2227/32

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명의 실시예는 데이터 라인의 불량여부 테스트를 위해 마련된 리드 라인들의 유실을 방지하고, 라인결함을 방지할 수 있는 표시장치를 제공한다. 본 발명의 실시예에 따른 표시장치는 패널 패드들, 상기 패널 패드들의 일 측에 연결된 데이터 라인들, 및 상기 패널 패드들의 타 측에 연결된 제1 및 제2 리드 라인들을 구비한다. 상기 제1 및 제2 리드 라인들은 교번하여 배치되며, 상기 제1 리드 라인들은 상기 제2 리드 라인들과 서로 다른 층에 배치된다.An embodiment of the present invention provides a display device capable of preventing loss of lead lines provided for testing whether a data line is defective and preventing line defects. A display device according to an embodiment of the present invention includes panel pads, data lines connected to one side of the panel pads, and first and second lead lines connected to the other side of the panel pads. The first and second lead lines are alternately arranged, and the first lead lines are disposed on different layers from the second lead lines.

Description

표시장치{DISPLAY DEVICE}Display device {DISPLAY DEVICE}

본 발명의 실시예는 리드 라인들을 포함하는 표시장치에 관한 것이다.An embodiment of the present invention relates to a display device including lead lines.

정보화 사회로 시대가 발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판 표시장치(FPD: Flat Panel Display Device)의 중요성이 증대되고 있다. 평판 표시장치에는, 액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(PDP: Plasma Display Panel Device), 유기발광 표시장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기영동 표시장치(EPD: Electrophoretic Display Device)도 널리 이용되고 있다.Background of the Invention As the age of the information society develops, the importance of flat panel display devices (FPDs) having excellent characteristics such as thinning, lightening, and low power consumption is increasing. Examples of the flat panel display include a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting display (OLED). Recently, Electrophoretic display devices (EPD) are also widely used.

이 중, 박막 트랜지스터를 포함하는 액정표시장치 및 유기발광 표시장치는 해상도, 컬러 표시, 화질 등에서 우수하여 텔레비전, 노트북, 테블릿 컴퓨터, 또는 데스크 탑 컴퓨터의 표시장치로 널리 상용화되고 있다.Among them, liquid crystal display devices and organic light emitting display devices including thin film transistors are excellent in resolution, color display, image quality, and are widely commercialized as display devices for televisions, notebooks, tablet computers, or desktop computers.

종래의 표시장치를 구성하는 표시패널은 영상이 표시되는 표시영역과 영상이 표시되지 않는 비표시영역을 포함한다. 표시영역에는 게이트 라인과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 화소들이 형성되어 있다. 비표시영역은 표시영역의 적어도 일측에 배치된다. 비표시영역은 패드영역을 포함한다. 패드영역에는 패널 패드들이 마련된다. 표시패널의 불량 여부를 검사하기 위해 표시패널의 바깥쪽 일 측에는 검사영역이 마련될 수 있다. 검사영역에는 데이터 라인들의 불량여부 검사하기 위한 검사 패드들 및 검사 패드들과 패널 패드들을 연결하는 리드 라인들이 마련된다. 이러한, 패널 패드들은 게이트 패드 또는 데이터 패드일 수 있다.A display panel constituting a conventional display device includes a display area in which an image is displayed and a non-display area in which no image is displayed. In the display region, pixels are formed in the regions where the gate lines and the data lines cross each other. The non-display area is disposed on at least one side of the display area. The non-display area includes a pad area. The pad areas are provided with panel pads. An inspection area may be provided on the outer side of the display panel to check whether the display panel is defective or not. In the inspection area, inspection pads for inspecting whether the data lines are defective or lead lines for connecting inspection pads and panel pads are provided. These panel pads may be gate pads or data pads.

종래의 표시장치에서는 별도의 마스크를 이용하여, 패널 패드들이 노출되도록 패시베이션층 및 평탄화층을 구비한다. 그러나 이 경우 공정 비용이 상승하는 문제가 있다. 이를 해결하기 위하여, 종래의 표시장치에서는 베이스 기판 전면에 패시베이션층을 형성 한 후, 레이저를 이용하여 패드영역에 마련된 패시베이션층 일부를 제거함으로써 패널 패드들을 노출시키는 방법이 고안되었다. In a conventional display device, a passivation layer and a planarization layer are provided to expose the panel pads using a separate mask. In this case, however, there is a problem that the process cost is increased. In order to solve this problem, in a conventional display device, a passivation layer is formed on the entire surface of a base substrate, and then a part of a passivation layer provided on the pad region is removed using a laser to expose the panel pads.

그러나 리드 라인들 상에 별도의 보호막이 구비되지 않기 마련되기 때문에, 패시베이션층의 일부를 제거하는 공정에서 레이저에 의해 패시베이션층의 일부와 함께 리드 라인들 중 일부가 유실될 수 있다. 리드 라인들 중 일부가 유실되는 경우 검사 패드들과 패널 패드들 사이의 연결이 끊어지므로, 표시장치의 불량을 검사하기 어려운 문제가 있다. 또한, 리드 라인들 중 일부에는 별도의 보호막이 구비되지 않기 때문에, 이물에 의해 표시패널에 라인결함이 발생될 수 있다.However, since a separate protective film is not provided on the lead lines, some of the lead lines may be lost together with a part of the passivation layer by the laser in the process of removing a part of the passivation layer. The connection between the test pads and the panel pads is cut off when some of the lead lines are lost, which makes it difficult to inspect the display device for defects. In addition, since some of the lead lines are not provided with a separate protective film, line defects may be generated in the display panel due to foreign matter.

본 발명의 실시예는 데이터 라인의 불량여부 테스트를 위해 마련된 리드 라인들의 유실을 방지하고, 라인결함을 방지할 수 있는 표시장치를 제공한다.An embodiment of the present invention provides a display device capable of preventing loss of lead lines provided for testing whether a data line is defective and preventing line defects.

본 발명의 실시예에 따른 표시장치는 패널 패드들, 상기 패널 패드들의 일 측에 연결된 데이터 라인들, 및 상기 패널 패드들의 타 측에 연결된 제1 및 제2 리드 라인들을 구비한다. 상기 제1 및 제2 리드 라인들은 교번하여 배치되며, 상기 제1 리드 라인들은 상기 제2 리드 라인들과 서로 다른 층에 배치된다.A display device according to an embodiment of the present invention includes panel pads, data lines connected to one side of the panel pads, and first and second lead lines connected to the other side of the panel pads. The first and second lead lines are alternately arranged, and the first lead lines are disposed on different layers from the second lead lines.

본 발명의 실시예는 제1 및 제2 리드 라인들이 서로 교번하여 배치된다. 또한, 제1 리드 라인이 광차단층과 동일한 층에 구비되며, 제2 리드 라인이 게이트 라인과 동일한 층에 구비된다. 이에 따라, 제1 및 제2 리드 라인들 상에는 제1 및 제2 리드 라인들을 보호하는 패시베이션층 및 평탄화층이 마련될 수 있다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 패널 패드들을 노출 시키기 위해 패시베이션층 및 평탄화층에 레이저를 조사하는 과정에서 레이저에 의해 제1 및 제2 리드라인들이 유실되는 것이 방지될 수 있다.The embodiment of the present invention is such that the first and second lead lines are arranged alternately to each other. Further, the first lead line is provided in the same layer as the light blocking layer, and the second lead line is provided in the same layer as the gate line. Accordingly, a passivation layer and a planarization layer for protecting the first and second lead lines may be provided on the first and second lead lines. As a result, the embodiments of the present invention can prevent the first and second lead lines from being lost by the laser in the process of irradiating the passivation layer and the planarization layer with the laser to expose the panel pads.

또한, 본 발명의 실시예는 패시베이션층 및 평탄화층이 제1 및 제2 리드 라인들을 보호하기 때문에, 어레이 모기판에 마련된 표시 패널들 각각을 절단하는 공정에서 발생되는 이물에 의한 라인결함을 방지할 수 있다.In addition, since the passivation layer and the planarization layer protect the first and second lead lines, the embodiment of the present invention can prevent line defects due to foreign objects generated in the process of cutting each of the display panels provided on the array mother substrate .

위에서 언급된 본 발명의 효과 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.In addition to the effects of the present invention mentioned above, other features and advantages of the present invention will be described below, or may be apparent to those skilled in the art from the description and the description.

도 1은 복수의 표시패널들을 포함하는 어레이 모기판을 보여주는 일 예시도면.
도 2는 도 1의 서로 인접한 표시패널들을 상세히 보여주는 일 예시도면.
도 3은 도 2의 표시영역의 일측 단면을 설명하기 위한 단면도.
도 4는 도 2의 A 영역을 상세히 보여주는 평면도.
도 5는 도 4의 Ⅰ-Ⅰ'의 단면도.
도 6은 도 4의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도.
도 7은 도 4의 Ⅲ-Ⅲ'의 단면도.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 개략적으로 보여주는 평면도.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Figure 1 is an exemplary view showing an array motherboard including a plurality of display panels.
FIG. 2 is an exemplary view showing the adjacent display panels of FIG. 1 in detail; FIG.
3 is a cross-sectional view illustrating one side section of the display region of FIG. 2;
4 is a plan view showing the area A of FIG. 2 in detail;
5 is a cross-sectional view taken along line I-I 'of Fig. 4;
6 is a sectional view of II-II 'of FIG. 4;
7 is a sectional view of III-III 'of FIG. 4;
8 is a plan view schematically showing a display device according to an embodiment of the present invention.

본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.The meaning of the terms described herein should be understood as follows.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. "적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다. "상에"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성의 바로 상면에 형성되는 경우뿐만 아니라 이들 구성들 사이에 제3의 구성이 개재되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.The word " first, "" second," and the like, used to distinguish one element from another, are to be understood to include plural representations unless the context clearly dictates otherwise. The scope of the right should not be limited by these terms. It should be understood that the terms "comprises" or "having" does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof. It should be understood that the term "at least one" includes all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of "at least one of the first item, the second item and the third item" means not only the first item, the second item or the third item, but also the second item and the second item among the first item, Means any combination of items that can be presented from more than one. The term "on" means not only when a configuration is formed directly on top of another configuration, but also when a third configuration is interposed between these configurations.

이하에서는 본 발명에 따른 표시장치의 바람직한 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, preferred embodiments of the display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements throughout the drawings, even if they are shown on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

도 1은 복수의 표시 패널들을 포함하는 어레이 모기판을 보여주는 일 예시도면이다. 도 1을 참조하면, 표시장치의 제조비용을 절감하기 위해, 어레이 모기판(10)에 복수의 표시패널(100)들이 형성될 수 있다.1 is an exemplary view showing an array mother board including a plurality of display panels. Referring to FIG. 1, a plurality of display panels 100 may be formed on the array mother substrate 10 to reduce the manufacturing cost of the display device.

어레이 모기판(10)에 형성되는 복수의 표시패널(100)들의 개수가 많을수록 표시장치의 제조비용을 더 절감할 수 있다. 어레이 모기판(10)에 형성되는 표시패널(100)들의 개수를 늘리기 위해, 표시패널(100)들의 각각은 도 1과 같이 제1 방향(y축 방향)으로 그에 인접한 표시패널(100)들에 맞닿도록 형성될 수 있다. 즉, 어느 한 표시패널(100)의 상측 및 하측은 또 다른 표시패널(100)들에 맞닿을 수 있다. 구체적으로, 어느 한 표시패널(100)의 상측은 제1 방향(y축 방향)으로 인접한 또 다른 표시패널(100)의 하측과 맞닿으며, 표시패널(100)의 하측은 제1 방향(y축 방향)으로 인접한 또 다른 표시패널(100)의 상측과 맞닿을 수 있다.As the number of the plurality of display panels 100 formed on the array mother substrate 10 increases, the manufacturing cost of the display device can be further reduced. In order to increase the number of display panels 100 formed on the array mother substrate 10, each of the display panels 100 may be divided into display panels 100 adjacent thereto in a first direction (y axis direction) As shown in FIG. That is, the upper side and the lower side of one display panel 100 can be brought into contact with another display panel 100. Specifically, the upper side of one display panel 100 is in contact with the lower side of another display panel 100 adjacent in the first direction (y axis direction), and the lower side of the display panel 100 is in the first direction The upper side of the adjacent display panel 100 can be abutted.

표시패널(100)들 각각은 도 1과 같이 제2 방향(x축 방향)으로 그에 인접한 표시패널(100)들과 소정의 간격(s)만큼 떨어지도록 형성될 수 있다. 제2 방향(x축 방향)은 제1 방향(y축 방향)과 교차하는 방향일 수 있다. 즉, 어느 한 표시패널(100)의 좌측 및 우측은 또 다른 표시패널(100)들과 소정의 간격(s)만큼 떨어지도록 형성될 수 있다. 이 경우, 소정의 간격(s)에는 표시패널(100)들 각각에 마련된 박막 트랜지스터들과 화소들의 불량을 검사하기 위한 검사 패드들이 마련될 수 있다.Each of the display panels 100 may be formed to be spaced apart from the display panels 100 adjacent thereto in a second direction (x-axis direction) by a predetermined distance s as shown in Fig. The second direction (x-axis direction) may be a direction intersecting the first direction (y-axis direction). That is, the left and right sides of one display panel 100 may be spaced apart from the other display panels 100 by a predetermined distance s. In this case, the thin film transistors provided in each of the display panels 100 and the test pads for inspecting the defects of the pixels may be provided at a predetermined interval s.

한편, 복수의 표시패널(100)들 각각이 도 1과 같이 제1 방향으로 그에 인접한 표시패널(100)들에 맞닿도록 형성되는 경우, 표시패널(100)에는 검사 패드들과 연결되는 패널 패드들이 마련될 수 있다. 검사 패드들과 패널 패드들은 리드 라인들 및 검사 라인들을 통해 서로 연결될 수 있다. 이러한 표시패널(100)의 패널 패드들, 리드 라인들, 및 검사 라인들에 대해서는 하기의 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.When the plurality of display panels 100 are formed to be in contact with the display panels 100 adjacent to the display panels 100 in the first direction as shown in FIG. 1, panel pads connected to the test pads . The test pads and panel pads may be connected to each other through lead lines and test lines. The panel pads, the lead lines, and the inspection lines of the display panel 100 will be described in detail with reference to the following drawings.

도 2는 도 1의 서로 인접한 표시 패널들을 상세히 보여주는 일 예시도면이다. 도 3은 도 2의 표시영역의 일측 단면을 설명하기 위한 단면도이다. 도 2에서는 설명의 편의를 위해 제1 방향(y축 방향)으로 인접한 3 개의 표시패널들(100a, 100b, 100c)만을 도시하였다. 구체적으로, 도 2에서는 제1 표시패널(100a)의 상측에 맞닿은 표시패널을 제2 표시패널(100b)으로 예시하였으며, 제1 표시패널(100a)의 하측에 맞닿은 표시패널을 제3 표시패널(100c)로 예시하였다.FIG. 2 is an exemplary view showing the adjacent display panels of FIG. 1 in detail. 3 is a cross-sectional view for explaining one side section of the display region of Fig. In FIG. 2, only three display panels 100a, 100b, and 100c adjacent to each other in the first direction (y-axis direction) are shown for convenience of explanation. 2, the display panel abutting on the upper side of the first display panel 100a is illustrated as the second display panel 100b, and the display panel abutted on the lower side of the first display panel 100a is referred to as a third display panel 100b 100c).

도 2 및 도 3을 참조하면, 표시패널들(100a, 100b, 100c) 각각은 표시영역(DA), 및 비표시영역(NDA)을 포함한다. 표시영역(DA)에는 게이트 라인들(GL)과 데이터 라인들(DL)이 형성되며, 게이트 라인(GL)들과 데이터 라인(DL)들의 교차 영역들에는 화소(P)들이 형성될 수 있다. 도 2에서는 하나의 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차 영역에 마련되는 하나의 화소(P)를 도시하였으나, 상기 표시영역(DA)에는 복수 개의 게이트 라인들(GL) 및 복수 개의 데이터 라인들(DL)이 형성되어 있다. 또한, 복수 개의 게이트 라인들(GL)과 복수 개의 데이터 라인들(DL)의 교차 영역들에 복수 개의 화소(P)들이 마련될 수 있다. 이 경우, 화소(P)들 각각은 광을 출력하는 유기발광소자 및 상기 유기발광소자를 구동하기 위한 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다.2 and 3, each of the display panels 100a, 100b, and 100c includes a display area DA and a non-display area NDA. Gate lines GL and data lines DL are formed in the display region DA and pixels P may be formed in the intersecting regions of the gate lines GL and the data lines DL. Although FIG. 2 shows one pixel P provided in a crossing region of one gate line GL and one data line DL, the display region DA may include a plurality of gate lines GL and a plurality of Data lines DL are formed. In addition, a plurality of pixels P may be provided in the intersecting regions of the plurality of gate lines GL and the plurality of data lines DL. In this case, each of the pixels P may include an organic light emitting element for outputting light and a thin film transistor for driving the organic light emitting element.

구체적으로, 구체적으로, 표시패널(100)은 베이스 기판(110), 버퍼층(130), 광차단층(125), 박막 트랜지스터(T), 패시베이션층(PAS), 평탄화층(PAC), 유기발광소자(OLED), 봉지층(180), 및 상부 기판(190)을 포함한다.More specifically, the display panel 100 includes a base substrate 110, a buffer layer 130, a light blocking layer 125, a thin film transistor T, a passivation layer PAS, a planarization layer PAC, (OLED), an encapsulation layer 180, and an upper substrate 190.

베이스 기판(110)은 유리기판 또는 플랙서블한 플라스틱 필름(plastic film)일 수 있다. 예를 들어, 베이스 기판(110)은 TAC(triacetyl cellulose) 또는 DAC(diacetyl cellulose) 등과 같은 셀룰로오스 수지, 노르보르넨 유도체(Norbornene derivatives) 등의 COP(cyclo olefin polymer), COC(cyclo olefin copolymer), PMMA(poly(methylmethacrylate) 등의 아크릴 수지, PC(polycarbonate), PE(polyethylene) 또는 PP(polypropylene) 등의 폴리올레핀(polyolefin), PVA(polyvinyl alcohol), PES(poly ether sulfone), PEEK(polyetheretherketone), PEI(polyetherimide), PEN(polyethylenenaphthalate), PET(polyethyleneterephthalate) 등의 폴리에스테르(polyester), PI(polyimide), PSF(polysulfone), 또는 불소 수지(fluoride resin) 등을 포함하는 시트 또는 필름일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.The base substrate 110 may be a glass substrate or a flexible plastic film. For example, the base substrate 110 may include a cellulose resin such as triacetyl cellulose (TAC) or diacetyl cellulose (DAC), a cycloolefin polymer (COP) such as Norbornene derivatives, a cycloolefin copolymer (COC) Polyolefin, polyvinyl alcohol (PVA), polyether sulfone (PES), polyetheretherketone (PEEK), polyetheretherketone (PEEK) such as acrylic resin such as poly (methylmethacrylate), polycarbonate, polyethylene (PE) (Polyimide), a polysulfone (PSF), a fluoride resin, or the like, such as polyethylene terephthalate (PET), polyetherimide (PEI), polyethylenenaphthalate (PEN) But is not limited thereto.

버퍼층(130)은 베이스 기판(110) 상에 마련된다. 버퍼층(130)은 제1 버퍼층(131) 및 제2 버퍼층(133)을 포함한다. 제1 버퍼층(131)은 베이스 기판(110) 전면에 마련된다. 제1 버퍼층(131)은 투습에 취약한 베이스 기판(110)으로부터 표시패널(100) 내부로 수분이 침투하는 것을 방지하는 기능을 한다. 예를 들어 제1 버퍼층(131)은 SiO2(silicon dioxide), 또는 SiON(silicon oxynitride)일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.The buffer layer 130 is provided on the base substrate 110. The buffer layer 130 includes a first buffer layer 131 and a second buffer layer 133. The first buffer layer 131 is formed on the front surface of the base substrate 110. The first buffer layer 131 functions to prevent water from penetrating into the display panel 100 from the base substrate 110, which is vulnerable to moisture permeation. For example, the first buffer layer 131 may be silicon dioxide (SiON) or silicon oxynitride (SiON). However, the present invention is not limited thereto.

제2 버퍼층(133)은 제1 버퍼층(131)상에 마련된다. 제2 버퍼층(133)은 베이스 기판(110)으로부터 금속 이온 등의 불순물이 확산되어 액티브층(ACT)에 침투하는 것을 방지한다. 또한, 제2 버퍼층(133)은 표시패널(100) 내부로 수분이 침투하여, 박막 트랜지스터들(T)의 특성을 저하시키는 것을 방지한다. 예를 들어, SiO2(silicon dioxide), SiNx(silicon nitride), SiON(silicon oxynitride) 또는 이들의 다중층일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.The second buffer layer 133 is provided on the first buffer layer 131. The second buffer layer 133 prevents impurities such as metal ions from being diffused from the base substrate 110 and penetrating the active layer ACT. In addition, the second buffer layer 133 prevents moisture from penetrating into the display panel 100 to deteriorate characteristics of the thin film transistors T. For example, silicon dioxide (SiNx), silicon nitride (SiNx), silicon oxynitride (SiON), or multilayers thereof, but is not limited thereto.

광차단층(125)은 제1 버퍼층(131) 및 제2 버퍼층(133) 사이에 마련된다. 광차단층(125)은 액티브층(ACT) 아래에 마련된다. 광차단층(125)은 레이저 또는 외부로 유입되는 빛으로부터 액티브층(ACT)을 보호한다. 이러한, 광차단층(125)은 도 2에 도시된 리드 라인들(141, 142)들 중 제1 리드 라인(141)과 동일한 공정을 이용하여 동시에 마련될 수 있다. 광차단층(125)과 제1 리드 라인(141)은 동일한 층에 마련될 수 있다. 광차단층(125)과 제1 리드 라인(141)은 동일한 물질일 수 있다. 예를 들어, 광차단층(125)은 ITO와 같은 투명한 도전물질로 이루어질 수 있으나, 반드시 그에 한정되는 것은 아니며, 도전성 금속물질로 이루어질 수도 있다.The light blocking layer 125 is provided between the first buffer layer 131 and the second buffer layer 133. A light blocking layer 125 is provided under the active layer ACT. The light blocking layer 125 protects the active layer (ACT) from laser or light that is externally directed. The light blocking layer 125 may be formed at the same time using the same process as that of the first lead line 141 among the lead lines 141 and 142 shown in FIG. The light blocking layer 125 and the first lead line 141 may be provided on the same layer. The light blocking layer 125 and the first lead line 141 may be the same material. For example, the light blocking layer 125 may be formed of a transparent conductive material such as ITO, but is not limited thereto, and may be formed of a conductive metal material.

박막 트랜지스터(T)는 베이스 기판(110)의 상에 마련된다. 박막 트랜지스터(T)는 액티브층(ACT), 게이트 절연막(GI), 게이트 전극(GE), 층간 절연막(ILD), 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)을 포함한다.The thin film transistor T is provided on the base substrate 110. The thin film transistor T includes an active layer ACT, a gate insulating film GI, a gate electrode GE, an interlayer insulating film ILD, a source electrode SE and a drain electrode DE.

액티브층(ACT)은 제2 버퍼층(133) 상에 마련된다. 액티브층(ACT)은 소스 전극(SE) 측에 위치한 일단 영역(A1), 드레인 전극(DE) 측에 위치한 타단 영역(A2), 및 일단 영역(A1)과 타단 영역(A2) 사이에 위치한 중심 영역(A3)을 포함할 수 있다. 중심 영역(A3)은 도펀트가 도핑되지 않은 반도체 물질로 이루어지고, 일단 영역(A1)과 타단 영역(A2)은 도펀트가 도핑된 반도체 물질로 이루어질 수 있다. The active layer (ACT) is provided on the second buffer layer 133. The active layer ACT has a first end region A1 located on the side of the source electrode SE and a second end region A2 located on the side of the drain electrode DE and a second end region A2 located between the first end region A1 and the second end region A2. And a region A3. The central region A3 is made of a semiconductor material not doped with a dopant, and the one-end region A1 and the other-end region A2 may be made of a semiconductor material doped with a dopant.

게이트 절연막(GI)은 액티브층(ACT) 상에 마련된다. 게이트 절연막(GI)은 액티브층(ACT)과 게이트 전극(GE)을 절연시키는 기능을 한다. 게이트 절연막(GI)은 액티브층(ACT)을 덮으며, 표시 영역(DA) 전면에 형성된다. 게이트 절연막(GI)은 무기막 예를 들어, SiO2(silicon dioxide), SiNx(silicon nitride), SiON(silicon oxynitride) 또는 이들의 다중층으로 이루어 질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.A gate insulating film GI is provided on the active layer ACT. The gate insulating film GI functions to insulate the active layer ACT from the gate electrode GE. The gate insulating film GI covers the active layer ACT and is formed on the entire surface of the display area DA. The gate insulating film GI may be formed of an inorganic film, for example, silicon dioxide (SiNx), silicon nitride (SiNx), silicon oxynitride (SiON), or a multilayer thereof.

게이트 전극(GE)은 게이트 절연막(GI) 상에 마련된다. 게이트 전극(GE)은 게이트 절연막(GI)을 사이에 두고, 액티브층(ACT)의 중심 영역(A3)과 중첩된다. 이러한 게이트 전극(GE)은 게이트 라인(GL)과 연결된다. 게이트 전극(GE)과 게이트 라인(GL)은 동일한 공정을 이용하여 동시에 마련될 수 있다. 게이트 전극(GE)과 게이트 라인(GL)은 동일한 층에 배치될 수 있다. 게이트 전극(GE)과 게이트 라인(GL)은 동일한 물질로 형성될 수 있다. 이 경우, 게이트 전극(GE) 및 게이트 라인(GL)은 도 2에 도시된 리드 라인들(141, 142) 중, 제2 리드 라인(142)과 동일한 공정을 이용하여 동시에 마련될 수 있다. 게이트 전극(GE), 게이트 라인(GL), 및 제2 리드 라인(142)은 동일한 층에 배치될 수 있다. 게이트 전극(GE), 게이트 라인(GL), 및 제2 리드 라인(142)은 동일한 물질일 수 있다. 게이트 전극(GE)은 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.The gate electrode GE is provided on the gate insulating film GI. The gate electrode GE overlaps the central region A3 of the active layer ACT with the gate insulating film GI therebetween. The gate electrode GE is connected to the gate line GL. The gate electrode GE and the gate line GL can be formed simultaneously using the same process. The gate electrode GE and the gate line GL can be disposed in the same layer. The gate electrode GE and the gate line GL may be formed of the same material. In this case, the gate electrode GE and the gate line GL may be formed simultaneously using the same process as the second lead line 142 among the lead lines 141 and 142 shown in FIG. The gate electrode GE, the gate line GL, and the second lead line 142 may be disposed in the same layer. The gate electrode GE, the gate line GL, and the second lead line 142 may be the same material. The gate electrode GE may be formed of a metal such as molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd) But is not limited to, a single layer or a multi-layer made of any one or an alloy thereof.

층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(GE) 상에 마련된다. 층간 절연막(ILD)은 게이트 전극(GE)을 덮으며, 베이스 필름(110) 전면에 마련될 수 있다. 층간 절연막(ILD)은 게이트 절연막(GI)과 동일한 무기막 예를 들어, SiO2(silicon dioxide), SiNx(silicon nitride), SiON(silicon oxynitride) 또는 이들의 다중층으로 이루어 질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. An interlayer insulating film ILD is provided on the gate electrode GE. The interlayer insulating film ILD covers the gate electrode GE and may be provided on the entire surface of the base film 110. The interlayer insulating film ILD may be formed of the same inorganic film as the gate insulating film GI, for example, silicon dioxide (SiO2), silicon nitride (SiNx), silicon oxynitride (SiON) Do not.

소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 층간 절연막(ILD)상에서 서로 이격되어 배치된다. 전술한 게이트 절연막(GI)과 층간 절연막(ILD)에는 액티브층(ACT)의 일단 영역(A1) 일부를 노출시키는 제1 콘택홀(CNT1) 및 액티브층(ACT)의 타단 영역(A2) 일부를 노출시키는 제2 콘택홀(CNT2)이 구비된다. 소스 전극(SE)은 제1 콘택홀(CNT1)을 통해서 액티브층(ACT)의 일단 영역(A1)과 연결되고, 드레인 전극(DE)은 제2 콘택홀(CNT2)을 통해서 액티브층(ACT)의 타단 영역(A2)에 연결된다.The source electrode SE and the drain electrode DE are disposed apart from each other on the interlayer insulating film ILD. The first contact hole CNT1 for exposing a part of the one end region A1 of the active layer ACT and the part of the other end region A2 of the active layer ACT are formed in the gate insulating film GI and the interlayer insulating film ILD, And a second contact hole CNT2 for exposing the second contact hole. The source electrode SE is connected to the first end region A1 of the active layer ACT via the first contact hole CNT1 and the drain electrode DE is connected to the active layer ACT through the second contact hole CNT2. And the other end area A2.

소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 데이터 라인(DL)과 연결된다. 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 데이터 라인(DL)은 동일한 공정을 이용하여 동시에 마련될 수 있다. 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 데이터 라인(DL)은 동일한 층에 배치될 수 있다. 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)과 데이터 라인(DL)은 동일한 물질로 형성될 수 있다. 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 예를 들어, 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 이러한 박막 트랜지스터(T)의 구성은 앞서 설명한 예에 한정되지 않고, 당업자가 용이하게 실시할 수 있는 공지된 구성으로 다양하게 변형 가능하다.The source electrode SE and the drain electrode DE are connected to the data line DL. The source electrode SE and the drain electrode DE and the data line DL may be provided simultaneously using the same process. The source electrode SE and the drain electrode DE and the data line DL may be arranged in the same layer. The source electrode SE and the drain electrode DE and the data line DL may be formed of the same material. The source electrode SE and the drain electrode DE may be formed of a metal such as Mo, Al, Cr, Au, Ti, Ni, And copper (Cu), or an alloy thereof. However, the present invention is not limited thereto. The configuration of the thin film transistor T is not limited to the example described above, and can be variously modified to a known configuration that can be easily practiced by those skilled in the art.

패시베이션층(PAS)은 베이스 기판(110) 상부 전면에 마련된다. 패시베이션층(PAS)은 박막 트랜지스터(T) 상에 마련된다. 패시베이션층(PAS)은 박막 트랜지스터(T)를 보호하는 기능을 한다. 이 경우, 패시베이션층(PAS)은 비표시 영역(NDA)의 리드 라인들(141, 142) 상에도 마련될 수 있다. 패시베이션층(PAS)은 무기막 예를 들어, SiO2(silicon dioxide), SiNx(silicon nitride), SiON(silicon oxynitride) 또는 이들의 다중층으로 이루어 질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.The passivation layer PAS is provided on the entire upper surface of the base substrate 110. A passivation layer (PAS) is provided on the thin film transistor (T). The passivation layer (PAS) functions to protect the thin film transistor (T). In this case, the passivation layer PAS may also be provided on the lead lines 141 and 142 of the non-display area NDA. The passivation layer (PAS) may be formed of an inorganic film, for example, silicon dioxide (SiNx), silicon nitride (SiNx), silicon oxynitride (SiON), or a multilayer thereof.

평탄화층(PAC)은 베이스 기판(110) 상부 전면에 마련된다. 평탄화층(PAC)은 패시베이션층(PAS) 상에 마련된다. 평탄화층(PAC)은 박막 트랜지스터(T)가 마련되어 있는 베이스 기판(110)의 상부를 평탄하게 해주는 역할을 한다. 이 경우, 패시베이션층(PAS)은 비표시 영역(NDA)의 리드 라인들(141, 142) 상에도 마련될 수 있다. 평탄화층(PAC)은 예를 들어, 아크릴계 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin)등으로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 표시 영역(DA)에 위치한 패시베이션층(PAS)과 평탄화층(PAC)에는 박막 트랜지스터(T)의 드레인 전극(DE)을 노출시키는 제3 콘택홀(CNT3)이 구비되어 있다. 제3 콘택홀(CNT3)을 통하여 드레인 전극(DE)과 애노드 전극(AND)이 연결된다.The planarization layer (PAC) is provided on the entire upper surface of the base substrate 110. A planarizing layer (PAC) is provided on the passivation layer (PAS). The planarization layer (PAC) serves to flatten the upper portion of the base substrate 110 on which the thin film transistor T is provided. In this case, the passivation layer PAS may also be provided on the lead lines 141 and 142 of the non-display area NDA. The planarization layer (PAC) may be formed of, for example, an acrylic resin, an epoxy resin, a phenolic resin, a polyamide resin, a polyimide resin, or the like. But is not limited thereto. A third contact hole CNT3 is formed in the passivation layer PAS and the planarization layer PAC located in the display area DA to expose the drain electrode DE of the thin film transistor T. [ And the drain electrode DE and the anode electrode AND are connected through the third contact hole CNT3.

유기발광소자(OLED)는 박막 트랜지스터(T) 상에 마련된다. 유기발광소자(OLED)는 애노드 전극(AND), 유기층(EL), 및 캐소드 전극(CAT)을 포함한다. 애노드 전극(AND)은 패시베이션층(PAS)과 평탄화층(PAC)에 마련된 제3 콘택홀(CNT3)을 통해 박막 트랜지스터(T)의 드레인 전극(DE)에 접속된다. 서로 인접한 애노드 전극(AND)들 사이에는 뱅크(B)가 마련되며, 이로 인해 서로 인접한 애노드 전극(AND)들은 전기적으로 절연될 수 있다. 뱅크(B)는 예를 들어, 폴리이미드계 수지(polyimides resin), 아크릴계 수지(acryl resin), 벤조사이클로뷰텐(BCB) 등과 같은 유기막으로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.The organic light emitting element OLED is provided on the thin film transistor T. [ The organic light emitting device OLED includes an anode electrode (AND), an organic layer (EL), and a cathode electrode (CAT). The anode electrode AND is connected to the drain electrode DE of the thin film transistor T through the third contact hole CNT3 provided in the passivation layer PAS and the planarization layer PAC. A bank B is provided between the adjacent anode electrodes (AND), so that the adjacent anode electrodes (AND) can be electrically isolated. The bank B may be formed of, for example, an organic film such as a polyimide resin, an acryl resin, a benzocyclobutene (BCB), or the like, but is not limited thereto.

유기층(EL)은 애노드 전극(AND)상에 마련된다. 유기층(EL)은 정공 수송층(hole transporting layer), 유기발광층(organic light emitting layer), 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다. 나아가, 유기층(EL)에는 발광층의 발광 효율 및/또는 수명 등을 향상시키기 위한 적어도 하나 이상의 기능층이 더 포함될 수도 있다.The organic layer EL is provided on the anode electrode AND. The organic layer EL may include a hole transporting layer, an organic light emitting layer, and an electron transporting layer. Further, the organic layer (EL) may further include at least one functional layer for improving the luminous efficiency and / or lifetime of the light emitting layer.

캐소드 전극(CAT)은 유기층(EL)과 뱅크(B) 상에 마련된다. 애노드 전극(AND)과 캐소드 전극(CAT)에 전압이 인가되면 정공과 전자가 각각 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기발광층으로 이동되며, 유기발광층에서 서로 결합하여 발광하게 된다.The cathode electrode (CAT) is provided on the organic layer (EL) and the bank (B). When a voltage is applied to the anode electrode (AND) and the cathode electrode (CAT), holes and electrons move to the organic light emitting layer through the hole transporting layer and the electron transporting layer, respectively.

도 3에서는 표시패널(100)이 전면(前面) 발광(top emission) 방식으로 구현된 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않으며, 배면(背面) 발광(bottom emission) 방식으로 구현될 수도 있다. 전면 발광 방식에서는 애노드 전극(AND)이 알루미늄, 알루미늄과 ITO의 적층 구조와 같은 반사율이 높은 금속물질로 형성되고, 캐소드 전극(CAT)이 ITO, IZO와 같은 투명한 금속물질로 형성되는 것이 바람직하다.3, the display panel 100 is implemented by a top emission method. However, the present invention is not limited to this, and the display panel 100 may be implemented by a bottom emission method. In the front emission type, it is preferable that the anode electrode (AND) is formed of a metal material having a high reflectivity such as aluminum, a laminate structure of aluminum and ITO, and the cathode electrode (CAT) is formed of a transparent metal material such as ITO or IZO.

봉지층(180)은 박막 트랜지스터(T) 및 유기발광소자(OLED) 상에 마련된다. 봉지층(180)은 외부의 충격으로부터 박막 트랜지스터(T) 및 유기발광소자(OLED)를 보호하고, 표시패널(100)의 내부로 수분의 침투하는 것을 방지하는 기능을 한다.The sealing layer 180 is provided on the thin film transistor T and the organic light emitting element OLED. The sealing layer 180 protects the thin film transistor T and the organic light emitting diode OLED from external impact and prevents moisture from penetrating into the display panel 100.

상부기판(190)은 봉지층(180)상에 마련된다. 상부기판(190)은 표시패널(100)이 하부 발광(bottom emission) 방식으로 구현되는 경우 보호 필름(protection film)일 수 있으며, 상부 발광(top emission) 방식으로 구현되는 경우 폴리이미드(polyimide)와 같이 유연성이 있는 플라스틱 필름일 수 있다. 그러나 이에 한정되는 것은 아니며 상부기판(190)은 외부의 충격으로부터 박막 트랜지스터(T), 및 유기발광소자(OLED)를 보호하고, 수분의 침투를 방지하기 위한 금속층 일 수도 있다.The upper substrate 190 is provided on the sealing layer 180. The upper substrate 190 may be a protection film when the display panel 100 is implemented in a bottom emission manner and may be a polyimide It may be a plastic film that is flexible as well. However, the present invention is not limited thereto, and the upper substrate 190 may be a metal layer for protecting the thin film transistor T and the organic light emitting diode OLED from external impact and preventing moisture from penetrating.

표시 패널(100)의 비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)의 가장자리에 배치된다. 비표시영역(NDA)에는 게이트 구동부(120), 게이트 패드(GP)들, 패널 패드(DP)들, 검사 라인들(151~153), 및 리드 라인들(141, 142)들이 마련된다.The non-display area NDA of the display panel 100 is disposed at the edge of the display area DA. The gate driver 120, the gate pads GP, the panel pads DP, the test lines 151 to 153, and the lead lines 141 and 142 are provided in the non-display area NDA.

게이트 구동부(120)는 표시 영역(DA)의 일측 바깥쪽에 GIP(gate driver in panel) 방식으로 형성될 수 있다. 그러나 이에 한정되지 않으며, 게이트 구동부(120)는 표시 영역(DA)의 양측 바깥쪽에 GIP 방식으로 형성될 수도 있고, 또는 구동 칩으로 제작되어 연성필름에 실장되고 TAB(tape automated bonding) 방식으로 표시 패널(100)의 일 측면에 부착될 수도 있다. The gate driver 120 may be formed in a gate driver in panel (GIP) manner on one side of the display area DA. However, the present invention is not limited thereto. The gate driver 120 may be formed on both sides of the display area DA by a GIP method. Alternatively, the gate driver 120 may be formed as a driving chip, mounted on a flexible film, (Not shown).

게이트 패드(GP)들은 표시패널들(100a, 100b, 100c) 각각의 제1 측 가장자리에 마련될 수 있다. 여기서, 제1 측은 표시패널들(100a) 각각의 하측일 수 있다. 게이트 패드(GP)들은 게이트 제어 신호라인(GCL)들에 접속된다. 게이트 제어신호라인(GCL)들은 게이트 패드(GP)들과 게이트 구동부(120)를 연결한다.The gate pads GP may be provided on the first side edge of each of the display panels 100a, 100b, and 100c. Here, the first side may be the lower side of each of the display panels 100a. The gate pads GP are connected to the gate control signal lines GCL. Gate control signal lines (GCL) connect the gate pads (GP) and the gate driver 120.

패널 패드(DP)들은 게이트 패드(GP)들과 마찬가지로 표시패널들(100a, 100b, 100c) 각각의 제1 측 가장자리에 마련될 수 있다. 이 경우, 패널 패드(DP)들의 일측은 데이터 라인(DL)들에 접속되고, 패널 패드들(DP)의 타측은 리드 라인들(141, 142)에 접속될 수 있다. 이러한, 패널 패드(DP)들은 데이터 패드들일 수 있다.The panel pads DP may be provided on the first side edge of each of the display panels 100a, 100b, and 100c, like the gate pads GP. In this case, one side of the panel pads DP may be connected to the data lines DL, and the other side of the panel pads DP may be connected to the lead lines 141, 142. The panel pads DP may be data pads.

리드 라인들(141, 142)은 패널 패드들(DP)과 검사 라인들(151~153)을 연결한다. 리드 라인들(141, 142)은 표시패널(100)의 패널 패드(DP)들과 검사 라인들(151~153) 중 적어도 어느 하나의 검사 라인(151) 사이에 마련될 수 있다. 리드 라인들(141, 142)은 2개의 표시패널들을 가로지르며 형성될 수 있다. 즉, 리드 라인들(141, 142)은 표시패널들 중 어느 하나의 표시패널의 제1 측으로부터 연장되어 상기 어느 하나의 표시패널에 인접한 또 다른 표시패널의 제2 측에 형성될 수 있다. 예를 들어, 리드 라인들(141, 142)은 제1 표시패널(100a)의 제1 측에 마련된 패널 패드(DP)들과 접속된다. 리드 라인들(141, 142)은 제1 표시패널(100a)의 제1 측과 인접한 제3 표시패널(100a)의 제2 측에 마련된 검사 라인들(151~153)과 접속된다. 이에 따라, 리드 라인들(141, 142)은 서로 인접한 제1 표시패널(100a)의 제1 측으로부터 연장되어 제3 표시패널(100c)의 제2 측에 형성될 수 있다. 즉, 리드 라인들(141, 142)은 서로 인접한 제1 표시패널(100a)의 제1 측 및 제3 표시패널(100c)의 제2 측을 가로지르며 형성될 수 있다.The lead lines 141 and 142 connect the panel pads DP and the test lines 151 to 153, respectively. The lead lines 141 and 142 may be provided between the panel pads DP of the display panel 100 and at least one of the inspection lines 151 to 153. The lead lines 141 and 142 may be formed across two display panels. That is, the lead lines 141 and 142 may be formed on the second side of another display panel extending from the first side of one of the display panels and adjacent to the one of the display panels. For example, the lead lines 141 and 142 are connected to the panel pads DP provided on the first side of the first display panel 100a. The lead lines 141 and 142 are connected to the test lines 151 to 153 provided on the second side of the third display panel 100a adjacent to the first side of the first display panel 100a. Accordingly, the lead lines 141 and 142 may extend from the first side of the first display panel 100a adjacent to each other and be formed on the second side of the third display panel 100c. That is, the lead lines 141 and 142 may be formed across the first side of the first display panel 100a and the second side of the third display panel 100c which are adjacent to each other.

리드 라인들(141, 142)은 제1 및 제2 리드 라인(141, 142)을 포함한다. 제1 및 제2 리드 라인(141, 142)은 서로 교번하여 배치된다. 예를 들어, 리드 라인들(141, 142)은 제1 리드 라인(141), 제2 리드 라인(142), 제1 리드 라인(141) 순으로 교번하여 배치될 수 있다. 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142) 각각의 일측은 패널 패드(DP)들 각각과 접속된다. 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142) 각각의 타측은 적어도 하나의 검사 라인(151)과 연결된다.The lead lines 141 and 142 include first and second lead lines 141 and 142, respectively. The first and second lead lines 141 and 142 are alternately arranged. For example, the lead lines 141 and 142 may be alternately arranged in the order of the first lead line 141, the second lead line 142, and the first lead line 141. One side of each of the first and second lead lines 141 and 142 is connected to each of the panel pads DP. The other side of each of the first and second lead lines 141 and 142 is connected to at least one test line 151.

제1 리드 라인(141)은 표시영역(DA)의 박막 트랜지스터(T) 아래에 구비된 광차단층(125)과 동일한 층에 마련될 수 있다. 광차단층(125)은 게이트 전극(GE) 아래에 배치되며, 적어도 하나의 버퍼층(133)에 의해 게이트 전극(GE)과 절연된다. 제2 리드 라인(142)은 게이트 라인(GL)들과 동일한 층에 배치된다. 게이트 라인(GL)들은 데이터 라인(DL)들 아래에 배치된다. 게이트 라인(GL)들은 데이터 라인(DL)들과 교차되며, 게이트 절연막(GI)에 의해 상기 데이터 라인(DL)들과 절연된다. 이 경우, 제2 리드 라인(142)은 게이트 라인(GL)들과 동일한 층에 배치될 수 있다. 이러한, 제1 및 제2 리드라인들(141, 142) 상에는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층이 마련될 수 있다.The first lead line 141 may be provided in the same layer as the light blocking layer 125 provided below the thin film transistor T in the display area DA. The light blocking layer 125 is disposed under the gate electrode GE and is insulated from the gate electrode GE by at least one buffer layer 133. And the second lead line 142 is disposed in the same layer as the gate lines GL. The gate lines GL are disposed under the data lines DL. The gate lines GL intersect the data lines DL and are insulated from the data lines DL by a gate insulating film GI. In this case, the second lead line 142 may be disposed in the same layer as the gate lines GL. On the first and second lead lines 141 and 142, a passivation layer (PAS) and a planarization layer may be provided.

본 발명의 실시예는 패널 패드(DP)들과 연결된 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142)이 서로 교번하여 배치되며, 제1 및 제2 리드 라인(141, 142)이 서로 다른 층에 배치된다. 또한, 제1 및 제2 리드라인들(141, 142) 상에는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 마련된다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 제1 및 제2 리드라인들(141, 142) 보호하기 때문에, 패널 패드(DP)들을 노출 시키기 위하여, 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)의 일부를 제거하는 공정에서 레이저에 의해 제1 및 제2 리드라인들(141, 142)이 유실되는 것을 방지할 수 있다.The first and second lead lines 141 and 142 connected to the panel pads DP are alternately arranged and the first and second lead lines 141 and 142 are formed on different layers . Also, a passivation layer (PAS) and a planarization layer (PAC) are provided on the first and second lead lines 141 and 142. As a result, in the embodiment of the present invention, since the passivation layer PAS and the planarization layer PAC protect the first and second lead lines 141 and 142, in order to expose the panel pads DP, It is possible to prevent the first and second lead lines 141 and 142 from being lost by the laser in the process of removing a part of the planarization layer (PAS) and the planarization layer (PAC).

또한, 본 발명의 실시예는 제1 및 제2 리드라인들(141, 142) 상에 구비된 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 보호막 역할을 하기 때문에, 어레이 모기판(10)에 마련된 표시 패널들 각각을 스크라이빙하는 과정에서 발생되는 이물에 의한 라인결함을 줄일 수 있다. 이러한 리드 라인들은 도 4 내지 도 7를 결부하여 후술하기로 한다. In the embodiment of the present invention, since the passivation layer PAS and the planarization layer PAC provided on the first and second lead lines 141 and 142 serve as a protective film, It is possible to reduce line defects due to foreign substances generated in the process of scribing each of the display panels provided. These lead lines will be described later in conjunction with FIG. 4 to FIG.

검사 라인들(151~153)은 표시패널들(100a, 100b, 100c) 각각의 제1 측과 마주보는 제2 측 가장자리에 마련될 수 있다. 여기서, 제2 측은 표시패널들(100a) 각각의 상측일 수 있다. 검사 라인들(151~153)은 검사 패드(IP)들과 검사 라인들(151~153)에 인접한 표시패널(100)의 패널 패드(DP)들, 및 게이트 패드(GP)들을 연결한다. 예를 들어, 제1 표시패널(100a)의 제1 측에 마련된 패널 패드(DP)들 및 게이트 패드(GP)들은 제3 표시패널(100c)의 제2 측에 마련된 검사 라인들(151~153)과 연결될 수 있다. 또한, 제2 표시패널(100b)의 제1 측에 마련된 패널 패드(DP)들 및 게이트 패드(GP)들은 제1 표시패널(100a)의 제2 측에 마련된 검사 라인들(151~153)과 연결될 수 있다. 검사 패드(IP)들은 도 1과 같이 표시패널들(100a, 100b, 100c) 각각과 제2 방향으로 인접한 표시패널들 사이의 소정의 간격(s)에 마련될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 도 2에서는 설명의 편의를 위해 3개의 검사 라인들(151~153)만을 예시하였으나, 검사 라인들의 개수는 이에 한정되지 않는다.The inspection lines 151 to 153 may be provided on the second side edge facing the first side of each of the display panels 100a, 100b, and 100c. Here, the second side may be the upper side of each of the display panels 100a. The test lines 151 to 153 connect the test pads IP and the panel pads DP of the display panel 100 adjacent to the test lines 151 to 153 and the gate pads GP. For example, the panel pads DP and the gate pads GP provided on the first side of the first display panel 100a are electrically connected to the inspection lines 151 to 153 provided on the second side of the third display panel 100c Lt; / RTI > The panel pads DP and the gate pads GP provided on the first side of the second display panel 100b are connected to the inspection lines 151 to 153 provided on the second side of the first display panel 100a, Can be connected. The test pads IP may be provided at predetermined intervals s between the display panels 100a, 100b, and 100c and the adjacent display panels in the second direction as shown in FIG. 1, but the present invention is not limited thereto . Although only three test lines 151 to 153 are illustrated in FIG. 2 for convenience of description, the number of test lines is not limited thereto.

본 발명의 설명에서는 패널 패드들이 데이터 패드인 경우를 일예로 하여 본 발명이 설명되었으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 게이트 구동부(120)가 구동 칩으로 제작되어 연성필름에 실장되고 TAB(tape automated bonding) 방식으로 표시 패널(100)의 일 측면에 부착되는 경우에도 본 발명의 실시예가 적용될 수 있다. 이 경우, 본 발명의 실시에 따른 패널 패드들은 게이트 패드들일 수 있으며, 패널 패드들의 일 측은 게이트 라인들과 연결될 수 있다.Although the present invention has been described with reference to the case where the panel pads are data pads in the description of the present invention, the present invention is not limited thereto. For example, the embodiment of the present invention can be applied to the case where the gate driver 120 is manufactured as a driving chip, mounted on a flexible film, and attached to one side of the display panel 100 by a tape automated bonding (TAB) method. In this case, the panel pads according to embodiments of the present invention may be gate pads, and one side of the panel pads may be connected to the gate lines.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 2의 A 영역을 상세히 보여주는 평면도이다. 도 5는 도 4의 Ⅰ-Ⅰ'의 단면도이다. 도 6은 도 4의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도이다. 도 7은 도 4의 Ⅲ-Ⅲ'의 단면도이다. 따라서, 따라서, 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 부여하였고, 각각의 구성의 재료 및 구조 등에 있어서 반복되는 부분에 대한 중복 설명은 생략된다.FIG. 4 is a detailed plan view of region A of FIG. 2 according to an embodiment of the present invention. 5 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'of FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'in FIG. 7 is a sectional view of III-III 'of FIG. Therefore, the same reference numerals are assigned to the same components, and repetitive descriptions of repetitive portions in the materials, structures and the like of the respective components are omitted.

도 4 내지 도 7을 참조하면, 패널 패드(DP)들의 일측은 데이터 라인(DL)들에 접속되고, 패널 패드들(DP)의 타측은 리드 라인들(141, 142)에 접속될 수 있다. 이러한 패널 패드(DP)들과 리드 라인들(141, 142)은 표시패널(100)의 비표시영역(NDA)에 마련될 수 있다.4 to 7, one side of the panel pads DP may be connected to the data lines DL, and the other side of the panel pads DP may be connected to the lead lines 141 and 142. The panel pads DP and the lead lines 141 and 142 may be provided in the non-display area NDA of the display panel 100.

비표시 영역(NDA)에는 배치된 베이스 기판(110) 상에는 도 5와 같이 제1 버퍼층(131)이 마련된다. 제1 버퍼층(131) 상에는 제1 리드 라인(141)이 마련된다. 이 경우, 제1 리드 라인(141)은 도 3에 도시된 광차단층과 동일한 층에 마련될 수 있으며, 동일한 물질일 수 있다. 제1 리드 라인(141) 상에는 제2 버퍼층(133) 및 게이트 절연막(GI)이 순차적으로 마련된다. 게이트 절연막(GI) 상에는 제2 리드 라인(141)이 마련된다. 이 경우, 제2 리드 라인(141)은 도 2에 도시된 게이트 라인과 동일한 층에 마련될 수 있으며, 동일한 물질일 수 있다. 이러한, 제1 및 제2 리드라인(141, 142)들은 상기 제2 버퍼층(133)에 의해 절연될 수 있다.A first buffer layer 131 is provided on the base substrate 110 disposed in the non-display area NDA, as shown in FIG. A first lead line 141 is provided on the first buffer layer 131. In this case, the first lead line 141 may be provided in the same layer as the light blocking layer shown in FIG. 3, and may be the same material. A second buffer layer 133 and a gate insulating film GI are sequentially formed on the first read line 141. [ A second lead line 141 is provided on the gate insulating film GI. In this case, the second lead line 141 may be provided in the same layer as the gate line shown in FIG. 2, and may be the same material. The first and second lead lines 141 and 142 may be insulated by the second buffer layer 133.

상술한 바와 같이, 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142) 각각은 서로 다른 층에 구비될 수 있으며, 교번하여 배치될 수 있다. 이러한, 제1 및 제2 리드 라인(141, 142) 상에는 층간 절연막(ILD), 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 순차적으로 마련될 수 있다. 이러한, 제1 및 제2 리드 라인(141, 142) 상에는 층간 절연막(ILD), 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 순차적으로 마련될 수 있다.As described above, each of the first and second lead lines 141 and 142 may be provided in different layers and may be alternately arranged. An interlayer insulating layer (ILD), a passivation layer (PAS), and a planarization layer (PAC) may be sequentially formed on the first and second lead lines 141 and 142. An interlayer insulating layer (ILD), a passivation layer (PAS), and a planarization layer (PAC) may be sequentially formed on the first and second lead lines 141 and 142.

패널 패드(DP)들은 표시패널(100)의 비표시영역(NDA)에 마련될 수 있다. 패널 패드(DP)들은 도 6과 같이, 베이스 기판(110) 상에 마련된다. 베이스 기판(110) 상에는 버퍼층(130), 및 게이트 절연막(GI)이 순차적으로 마련된다. 이 경우, 제2 리드 라인(142)는 패널 패드(DP)의 타측에 연결될 수 있다. 예를 들어, 패널 패드(DP)들 각각은 제1 및 제2 패널 패드(DP1, DP2)들을 포함할 수 있다. 이 경우, 제1 패널 패드(DP1)는 게이트 라인과 동일한 층에 배치되며, 제2 리드 라인(142)과 연결될 수 있다. 제2 패널 패드(DP2)는 데이터 라인(DL)과 동일한 층에 배치되며, 데이터 라인(DL)과 연결될 수 있다.The panel pads DP may be provided in the non-display area NDA of the display panel 100. [ The panel pads DP are provided on the base substrate 110 as shown in Fig. On the base substrate 110, a buffer layer 130 and a gate insulating film GI are sequentially provided. In this case, the second lead line 142 may be connected to the other side of the panel pad DP. For example, each of the panel pads DP may include first and second panel pads DP1 and DP2. In this case, the first panel pad DP1 may be disposed on the same layer as the gate line, and may be connected to the second lead line 142. [ The second panel pad DP2 is disposed on the same layer as the data line DL and can be connected to the data line DL.

제1 및 제2 패널 패드들(DP1, DP2)은 패드부 콘택홀(PCNT)을 통하여 접속될 수 있다. 이 경우, 제2 패널 패드(DP2)와 연결된 데이터 라인(DL)과 제1 패널 패드(DP1)와 연결된 제2 리드 라인(142)이 전기적으로 연결될 수 있다. 보호 전극(150)은 패널 패드(DP) 상에 마련될 수 있다. 보호 전극(150)은 패널 패드(DP)를 보호하는 기능을 한다. 본 발명의 실시예에서는 두 개의 층으로 구성된 패널 패드(DP)를 도시하였으나, 상기 패널 패드(DP)의 구성은 다양하게 변경 가능하다.The first and second panel pads DP1 and DP2 may be connected through the pad portion contact hole PCNT. In this case, the data line DL connected to the second panel pad DP2 and the second lead line 142 connected to the first panel pad DP1 may be electrically connected. The protective electrode 150 may be provided on the panel pad DP. The protective electrode 150 functions to protect the panel pad DP. In the embodiment of the present invention, a panel pad DP composed of two layers is shown, but the configuration of the panel pad DP can be variously changed.

제1 리드 라인(141)은 도 4 및 도 7과 같이 패널 패드(DP)들의 타측에 연결될 수 있다. 이 경우, 베이스 기판(110) 상에 마련된 제1 리드 라인(141) 일부에는 패널 패드(DP)의 타측이 연결될 수 있다. 이 경우, 제1 리드 라인(141) 상에 마련된 제2 버퍼층(133), 게이트 절연막(GI), 및 층간 절연막(ILD)에는 제1 리드 라인(141)의 일부를 노출시키는 리드부 콘택홀(LCNT)이 마련된다. 패널 패드(DP)의 타측은 리드부 콘택홀(LCNT)을 통하여, 제1 리드 라인(141)과 전기적으로 연결된다.The first lead line 141 may be connected to the other side of the panel pads DP as shown in Figs. In this case, the other side of the panel pad DP may be connected to a part of the first lead line 141 provided on the base substrate 110. In this case, the second buffer layer 133, the gate insulating film GI, and the interlayer insulating film ILD provided on the first lead line 141 are provided with a lead portion contact hole (not shown) for exposing a part of the first lead line 141 LCNT). The other side of the panel pad DP is electrically connected to the first lead line 141 through the lead portion contact hole LCNT.

본 발명의 실시예는 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142)이 서로 교번하여 배치된다. 또한, 제1 리드 라인(141)이 광차단층(125)과 동일한 층에 구비되며, 제2 리드 라인(142)이 게이트 라인과 동일한 층에 구비된다. 이에 따라, 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142) 상에는 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142)을 보호하는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 마련될 수 있다. 그 결과, 본 발명의 실시예는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142)을 보호하기 때문에, 패널 패드(DP)들을 노출 시키기 위해 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)에 레이저를 조사하는 과정에서 레이저에 의해 제1 및 제2 리드라인들(141, 142)이 유실되는 것이 방지될 수 있다.In the embodiment of the present invention, the first and second lead lines 141 and 142 are arranged alternately with each other. Also, the first lead line 141 is provided in the same layer as the light blocking layer 125, and the second lead line 142 is provided in the same layer as the gate line. The passivation layer PAS and the planarization layer PAC that protect the first and second lead lines 141 and 142 may be provided on the first and second lead lines 141 and 142. [ As a result, in the embodiment of the present invention, since the passivation layer (PAS) and the planarization layer (PAC) protect the first and second lead lines 141 and 142, It is possible to prevent the first and second lead lines 141 and 142 from being lost by the laser in the process of irradiating the laser on the planarization layer (PAS) and the planarization layer (PAC).

또한, 본 발명의 실시예는 패시베이션층(PAS) 및 평탄화층(PAC)이 제1 및 제2 리드 라인들(141, 142)을 보호하기 때문에, 어레이 모기판(10)에 마련된 표시 패널들 각각을 절단하는 공정에서 발생되는 이물에 의한 라인결함을 줄일 수 있다.In addition, since the passivation layer (PAS) and the planarization layer (PAC) protect the first and second lead lines 141 and 142, the embodiment of the present invention can prevent the display panels It is possible to reduce line defects due to foreign matter generated in the step of cutting the substrate.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시장치를 개략적으로 보여주는 평면도이다. 도 8에서 X축은 게이트 라인과 나란한 방향을 나타내고, Y축은 데이터 라인과 나란한 방향을 나타내며, Z축은 유기 발광 표시 장치의 높이 방향을 나타낸다.8 is a plan view schematically showing a display device according to an embodiment of the present invention. 8, the X axis represents the direction parallel to the gate lines, the Y axis represents the direction parallel to the data lines, and the Z axis represents the height direction of the OLED display.

도 8을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치는 표시 패널(100), 소스 드라이브 집적회로(integrated circuit, 이하 "IC"라 칭함)(310), 연성필름(330), 회로보드(350), 타이밍 제어부(400)를 포함한다.8, a display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel 100, a source drive integrated circuit (IC) 310, a flexible film 330, a circuit board (not shown) 350, and a timing controller 400.

표시패널(100)은 표시영역(DA), 및 비표시영역(NDA)을 포함한다. 표시영역(DA)에는 게이트 라인들과 데이터 라인들이 형성되며, 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차 영역들에는 화소들이 형성될 수 있다. 비표시영역(NDA)에는 게이트 구동부(120), 게이트 패드들, 패널 패드들, 검사 라인들, 및 리드 라인들들이 마련된다. 이러한, 표시 패널(100)은 도 1 내지 도 7를 참조하여 설명되었다.The display panel 100 includes a display area DA, and a non-display area NDA. Gate lines and data lines are formed in the display region DA, and pixels may be formed in the intersecting regions of the gate lines and the data lines. The non-display area NDA is provided with a gate driver 120, gate pads, panel pads, test lines, and lead lines. Such a display panel 100 has been described with reference to Figs.

소스 드라이브 IC(310)는 타이밍 제어부(400)로부터 디지털 비디오 데이터와 소스 제어신호를 입력받는다. 소스 드라이브 IC(310)는 소스 제어신호에 따라 디지털 비디오 데이터를 아날로그 데이터전압들로 변환하여 데이터 라인들에 공급한다. 소스 드라이브 IC(310)가 구동 칩으로 제작되는 경우, COF(chip on film) 또는 COP(chip on plastic) 방식으로 연성필름(330)에 실장될 수 있다.The source drive IC 310 receives the digital video data and the source control signal from the timing controller 400. The source driver IC 310 converts the digital video data into analog data voltages according to the source control signal and supplies the analog data voltages to the data lines. When the source drive IC 310 is manufactured as a driving chip, the source drive IC 310 may be mounted on the flexible film 330 using a chip on film (COF) method or a chip on plastic (COP) method.

표시패널(100)의 비표시영역(NDA)에는 데이터 패드들과 같은 패널 패드들이 마련된다. 연성필름(330)에는 패널 패드들과 소스 드라이브 IC(310)를 연결하는 배선들, 패널 패드들과 회로보드(350)의 배선들을 연결하는 배선들이 형성될 수 있다. 연성필름(330)은 이방성 도전 필름(antisotropic conducting film)을 이용하여 패널 패드들 상에 부착되며, 이로 인해 패널 패드들과 연성필름(330)의 배선들이 연결될 수 있다.In the non-display area NDA of the display panel 100, panel pads such as data pads are provided. Wires connecting the panel pads and the source drive IC 310 and wirings connecting the panel pads and the wirings of the circuit board 350 may be formed on the flexible film 330. The flexible film 330 is attached on the panel pads using an anisotropic conducting film, whereby the wiring of the flexible film 330 can be connected to the panel pads.

회로보드(350)는 연성필름(330)들에 부착될 수 있다. 회로보드(350)는 구동 칩들로 구현된 다수의 회로들이 실장될 수 있다. 예를 들어, 회로보드(350)에는 타이밍 제어부(400)가 실장될 수 있다. 회로보드(350)는 인쇄회로보드(printed circuit board) 또는 연성 인쇄회로보드(flexible printed circuit board)일 수 있다.The circuit board 350 may be attached to the flexible films 330. The circuit board 350 may be implemented with a plurality of circuits implemented with driving chips. For example, the timing controller 400 may be mounted on the circuit board 350. The circuit board 350 may be a printed circuit board or a flexible printed circuit board.

타이밍 제어부(400)는 외부의 시스템 보드(미도시)로부터 디지털 비디오 데이터와 타이밍 신호를 입력받는다. 타이밍 제어부(400)는 타이밍 신호에 기초하여 게이트 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호와 소스 드라이브 IC(330)들을 제어하기 위한 소스 제어신호를 발생한다. 타이밍 제어부(400)는 게이트 제어신호를 게이트 구동부(120)에 공급하고, 소스 제어신호를 소스 드라이브 IC(310)들에 공급한다.The timing controller 400 receives digital video data and timing signals from an external system board (not shown). The timing control unit 400 generates a gate control signal for controlling the operation timing of the gate driving unit 120 and a source control signal for controlling the source drive ICs 330 based on the timing signal. The timing controller 400 supplies a gate control signal to the gate driver 120 and a source control signal to the source driver ICs 310. [

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims and their equivalents. Will be clear to those who have knowledge of. Therefore, the scope of the present invention is defined by the appended claims, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

100: 표시패널 110: 베이스 기판
120: 게이트 구동부 125: 광차단층
130: 버퍼층 141: 제1 리드 라인
142: 제2 리드 라인 150: 보호 전극
180: 봉지층 190: 상부기판
310: 소스 드라이브 IC 330: 연성필름
350: 회로보드 400: 타이밍 제어부
T: 박막 트랜지스터 OLED: 유기발광 다이오드
DL: 데이터 라인 DP: 패널 패드
GL: 게이트 라인 P: 화소
100: display panel 110: base substrate
120: gate driver 125: light blocking layer
130: buffer layer 141: first lead line
142: second lead line 150: protective electrode
180: sealing layer 190: upper substrate
310: Source drive IC 330: Flexible film
350: circuit board 400: timing control unit
T: thin film transistor OLED: organic light emitting diode
DL: Data line DP: Panel pad
GL: gate line P: pixel

Claims (7)

패널 패드들;
상기 패널 패드들의 일 측에 연결된 데이터 라인들; 및
상기 패널 패드들의 타 측에 연결된 제1 및 제2 리드 라인들을 구비하고,
상기 제1 및 제2 리드 라인들은 교번하여 배치되며,
상기 제1 리드 라인들은 상기 제2 리드 라인들과 서로 다른 층에 배치되는 표시장치.
Panel pads;
Data lines connected to one side of the panel pads; And
And first and second lead lines connected to the other side of the panel pads,
The first and second lead lines are arranged alternately,
Wherein the first lead lines are disposed on different layers from the second lead lines.
제 1 항에 있어서,
상기 데이터 라인들 아래에 배치되고, 상기 데이터 라인들과 교차되며 게이트 절연막에 의해 상기 데이터 라인들과 절연되는 게이트 라인들; 및
상기 게이트 라인들 아래에 배치되며 적어도 하나의 버퍼층에 의해 상기 게이트 라인들과 절연되는 광차단층을 더 구비하며,
상기 제1 리드 라인들은 상기 광차단층과 동일한 층에 배치되는 표시장치.
The method according to claim 1,
Gate lines disposed below the data lines, intersecting the data lines and insulated from the data lines by a gate insulating film; And
Further comprising a light blocking layer disposed below the gate lines and insulated from the gate lines by at least one buffer layer,
Wherein the first lead lines are disposed in the same layer as the light blocking layer.
제 2 항에 있어서,
상기 제2 리드 라인들은 상기 게이트 라인들과 동일한 층에 배치되는 표시장치.
3. The method of claim 2,
And the second lead lines are disposed in the same layer as the gate lines.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 및 제2 리드 라인들 상에는 상기 제1 및 제2 리드 라인들을 보호하는 패시베이션층 및 평탄화층이 더 구비된 표시장치.
The method according to claim 1,
And a passivation layer and a planarization layer for protecting the first and second lead lines on the first and second lead lines.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 및 제2 리드 라인들은 상기 적어도 하나의 버퍼층에 의해 서로 절연된 표시장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the first and second lead lines are insulated from each other by the at least one buffer layer.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 리드 라인은 리드부 콘택홀을 통해서 상기 패널 패드들 중 어느 하나의 패널 패드와 접속된 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the first lead line is connected to one of the panel pads through a lead portion contact hole.
제 1 항에 있어서,
상기 패널 패드들 상에 마련된 보호 전극을 더 구비하는 표시장치.
The method according to claim 1,
And a protective electrode provided on the panel pads.
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