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KR20170069178A - Multiple optics vision inspection system - Google Patents

Multiple optics vision inspection system Download PDF

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KR20170069178A
KR20170069178A KR1020170059647A KR20170059647A KR20170069178A KR 20170069178 A KR20170069178 A KR 20170069178A KR 1020170059647 A KR1020170059647 A KR 1020170059647A KR 20170059647 A KR20170059647 A KR 20170059647A KR 20170069178 A KR20170069178 A KR 20170069178A
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vision
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Abstract

본 발명은 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템에 관한 것으로, 반도체 소재 및 디스플레이 소재 분야의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플 제품에 대하여 진동 저감을 위한 Air Cylinder 구조의 방진 설비와 스테이지 유닛 이송 모듈과 기구부를 포함하는 검사 장비에서, 광학 조명과 비전 검사 시스템을 사용하여 검사 대상 제품의 표면 결함(이물, 스크래치, 패턴 오류 등)을 검출하고 양불 여부를 판단하여 생산 공정에서 제품 불량을 줄이는 효과가 있다. The present invention relates to a multi-optic module vision inspection system, and more particularly, to a multi-optical module vision inspection system, which includes a dustproof device having an air cylinder structure for vibration reduction and a stage unit transfer module and a mechanical part for sample products having various shapes and sizes in the field of semiconductor materials and display materials In the inspection equipment, there is an effect of detecting surface defects (foreign objects, scratches, pattern errors, etc.) of the inspection target product by using optical illumination and vision inspection system and judging whether or not the product is defective, thereby reducing defective products in the production process.

Description

멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템{Multiple optics vision inspection system}{Multiple optics vision inspection system}

본 발명은 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반도체 소재 및 디스플레이 소재 분야의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플 제품에 대하여 진동 저감을 위한 Air Cylinder 구조의 방진 설비와 스테이지 유닛 이송 모듈과 기구부를 포함하는 검사 장비에서 광학 조명과 비전 검사 시스템을 사용하여 검사 대상 제품에 대해 표면 결함(이물, 스크래치, 패턴 오류 등)을 검출하고 양불 여부를 판단하여 생산 공정에서 제품 불량을 줄이기 위한, 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-optic module vision inspection system, and more particularly, to a multi-optical module vision inspection system, which is equipped with an air cylinder-type vibration damping device for vibration reduction and a stage unit transfer module In order to detect surface defects (foreign objects, scratches, pattern errors, etc.) on the inspection target products by using the optical illumination and vision inspection system in the inspection equipment including the mechanical part, And an optical module vision inspection system.

글로벌 머신 비전 검사 시스템 및 부품의 전체 시장은 각 부문 중 광학 조명(LED 또는 할로겐 조명), 멀티 카메라를 갖는 고해상도 Line Scan 카메라 또는 Area Scan 카메라, 프레임 그래버(frame grabber), 산업용 PC에서 I/O와 모션 제어(motion control)를 담당하는 비전 보드(하드웨어), 산업용 PC의 비전 영상 처리 소프트웨어, 비전 검사 시스템, 스텝 모터(step motor)와 스텝 모터 드라이버(step motor driver), 센서 관련 부품으로 이루어진 시장이 5년간 CAGR 10%로 이와 관련된 머신 비전 산업 분야의 시장이 급성장할 것으로 예상된다. The entire market for global machine vision inspection systems and components is divided into three categories: optical lighting (LED or halogen lighting), high-resolution line scan cameras with multi-cameras, area scanners, frame grabbers, The market consists of vision board (hardware) for motion control, vision image processing software for industrial PC, vision inspection system, step motor and step motor driver, and sensor related parts. The five-year CAGR of 10% is expected to lead to rapid growth in the machine vision industry.

한국의 반도체와 LCD, PDP 디스플레이 산업은 세계 1위의 한국경제를 지탱하는 주요 산업 전략 수출품목의 하나로써, LCD, PDP 평판 디스플레이 분야에서 삼성 디스프레이와 LG 디스플레이 전 세계 LCD 시장의 47%를 차지하고 있으며, LCD 검사 장비와 비전 시스템의 국산화가 필요하다. Korea's semiconductors, LCD and PDP display industries account for 47% of the global LCD market of Samsung Display and LG Display in LCD and PDP flat panel displays as one of the major industrial strategy export items that support the Korean economy. , Localization of LCD inspection equipment and vision system is required.

미국, 캐나다, 일본 등의 선진국의 주요 기업의 LCD, PDP 디스플레이 검사 장비와 검사(inspection)와 측정(measurement)을 위한 비전 시스템을 사용하고 있으며, 국내 기업은 기존 디스플레이 검사장비의 신뢰성이 LCD 업체에서 요구하는 기준에 못미치는 실정이다.LCD and PDP display inspection equipment and vision system for inspection and measurement are used by major corporations in advanced countries such as USA, Canada, and Japan. In Korea, It does not meet the required standards.

LCD, PDP 디스플레이 패널의 대량 생산시에 대면적 디스플레이 검사는 매뉴얼에 의존하여 검사가 마이크로 단위 정밀 측정이 요구되므로 공장 자동화 공정에서 사람이 직접 눈으로 결함을 일일이 검사하던 분야를 산업용 카메라 등을 활용해 검사함으로써 자동화 공정 육안 검사의 어려움으로 인해 로봇과 기계 소프트웨어 기술이 융합된 머신 비전과 컴퓨터 비전 시스템을 사용한 제품 표면의 결함 검출 및 패턴 검사 장비 및 비전 검사 시스템 소프트웨어가 구비된 대면적 디스플레이 검사장비와 비전 검사 시스템의 개발이 중요한 과제로 부각되고 있다. In large-scale production of LCD and PDP display panels, large-area display inspection depends on the manual, and micro-precision measurement is required. Therefore, in the factory automation process, Inspection by automation process Due to the difficulty of visual inspection Machine vision combined with robot software and machine software technology and large-area display equipped with computer vision system Detection and pattern inspection equipment and vision inspection system on the surface Inspection equipment and vision Development of inspection system is becoming an important task.

국내의 경우, 머신비전(machine vision) 도입 자체가 미국이나 일본 등의 선진국에 비해 늦었지만, 최근 몇 년 동안 산업현장에서 머신비전의 적용이 급속히 증가하고 있으며 정밀 측정이 가능한 고품질 머신 비전 제품의 기술확보가 필요하다. In Korea, the introduction of machine vision is slower than advanced countries such as the United States and Japan. However, in recent years, the application of machine vision has been rapidly increasing in the industrial field and the technology of high-quality machine vision products .

머신 비전(MV, machine vision)은 로봇, 기계, 비전 시스템의 소프트웨어 기술이 융합된 기술로써 산업체의 공장 자동화(FA, Factory Automation) 공정에서 디스플레이나 반도체 복합 소재 분야까지 여러 분야에서 제품 표면 결함 검사, PCB 검사, LED chip package, 기타 제품의 불량을 걸러내는 검사 장비와 비전 검사 시스템으로 사용되며, 대량 생산되는 제품 표면의 결함을 검사 및 측정하여 제품의 불량을 줄이는데 사용된다.Machine vision (MV) is a fusion of software technology of robot, machine and vision system. It is used for inspection of product surface defects in various fields from factory automation (FA, factory automation) It is used as inspection equipment and vision inspection system to filter PCB inspection, LED chip package, and other product defects. It is used to inspect and measure defects on the surface of mass-produced products to reduce defective products.

대면적 LCD 디스플레이 검사는 대면적 LCD 디스플레이 화면의 일부분 샘플링 검사가 아닌 LCD Panel 전면 검사를 해야 하며 수십 마이크로 미터 수준의 해상도가 요구되고, 특히 대량 생산 공정에서 많은 양의 정보를 고속으로 처리해야 되며, 영상처리 할 경우 대량의 데이터를 실시간으로 처리하는 고속의 영상처리 시스템이 요구되며, 영상 자체의 데이터가 크고 실제 사용하는 영상 특징(image feature)을 추출하려면 여러 연산을 수행해야 하므로 고속 영상처리(image processing) 및 결함 검출 알고리즘을 연구하여 제품 불량을 줄이는 검사 장비와 비전 검사 시스템이 필요하다. Large-area LCD display inspection requires inspection of front panel of LCD panel rather than partial sampling of large-area LCD display screen. Resolution of several tens of micrometers is required, especially in mass production process, A high-speed image processing system that processes a large amount of data in real time is required when image processing is performed. Since a large amount of data of the image itself is required and various operations must be performed in order to extract an image feature to be used, processing and defect detection algorithms to reduce product defects and vision inspection systems.

제조업체에서 대량 생산되는 반도체 소재, 패키지, 디스플레이 등의 제품의 표면 결함을 검출하는 검사 장비와 비전 검사 시스템을 구비하는 대면적 디스플레이 패널용 20㎛급 초정밀 비전 검사 시스템 개발 필요하다. It is necessary to develop a 20 μm high-precision vision inspection system for a large-area display panel equipped with an inspection equipment for detecting surface defects of products such as semiconductor materials, packages, and displays, which are mass-produced by a manufacturer, and a vision inspection system.

비전 검사 시스템은 대부분 규모가 크고, 고가의 부속 모듈이 사용되기 때문에 초기 제작뿐만 아니라 완성 후 검사 환경을 수정하는 데에도 또한 많은 비용이 소요된다.Vision inspection systems are mostly large in scale and costly to modify the inspection environment after completion as well as in the initial production because expensive module is used.

그러나, LCD 검사 장비 등의 비전 검사 시스템은 수요처 납품 전 많은 테스트를 진행하고 분석하여 시스템을 구축한다고 하도 수요처의 요구사항 변동 등 많은 변수로 인해 검사 환경 수정이 불가피하게 필요한 경우가 많이 발생한다. However, the vision inspection system such as the LCD inspection equipment is required to revise the inspection environment inevitably due to many variables such as changes in the requirements of the customer, even if the system is constructed before proceeding to the test.

이러한 경우를 대비하여 처음부터 유동적으로 검사 환경을 조정할 수 있는 시스템을 제작한다면 추후 기구 수정에 소요될 고비용의 손실을 막을 수 있다는 점에 착안하여 비전 검사 장비를 제작해야 한다. In order to cope with this case, it is necessary to produce a vision inspection equipment considering the fact that a system capable of adjusting the inspection environment from the beginning can be adjusted to prevent a high cost loss to be required for a subsequent apparatus modification.

기존 비전 검사 시스템은 한 가지 검사 대상의 특성에 따라 조명 및 광학카메라의 광학 검사 환경이 고정적으로 제작되어 특성이 다른 소재에 대해서는 검사가 어렵고, 검사 환경을 변경하더라도 좁은 범위 내에서 가능했던 단점이 존재하며, 검사 대상 제품의 규모가 크게 변하면 검사가 불가능하기도 했던 문제점이 있었다. Conventional vision inspection system has a disadvantage that it is difficult to inspect materials with different properties and it is possible to make it within a narrow range even if the inspection environment is changed according to the characteristics of one inspection object. And there is a problem that inspection can not be performed if the size of the product to be inspected varies greatly.

종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 반도체 소재 및 디스플레이 소재 분야의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플 제품에 대하여 진동 저감을 위한 Air Cylinder 구조의 방진 설비와 스테이지 유닛 이송 모듈과 기구부를 포함하는 검사 장비에서 광학 조명과 비전 검사 시스템을 사용하여 검사 대상 제품에 대해 표면 결함(이물 스크래치, 패턴 오류 등)을 검출하고 양불 여부를 판단하여 생산 공정에서 제품 불량을 줄이기 위한, 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템을 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to solve the problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a vibration damping device of an air cylinder structure for vibration reduction and a stage unit transfer module and a mechanical part for a sample product having various shapes and sizes in the field of semiconductor materials and display materials A multi-optic module vision inspection system to detect surface defects (foreign scratches, pattern errors, etc.) on the inspection target products by using optical illumination and vision inspection system in the inspection equipment and reduce defective products in the production process .

본 발명의 목적을 달성하기 위해, 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템은 외면 케이스가 하우징되는 기구부, 상기 기구부의 정면에는 2대의 컴퓨터와 모니터, 하단에 키보드 마우스를 구비하며, 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 고해상도 멀티 카메라가 구비된 카메라부와, 카메라부 하단에 설치된 광학 조명부와, 카메라부와 광학조명부 하단에 위치되며 피검사체가 XY-스테이지에 놓이는 검사 스테이지와, 상기 검사 스테이지가 놓이는 베이스와, 비전 검사 장비 좌우를 지지하는 프레임, XYZ 위치 이동을 제어하는 스테이지 유닛 이송 모듈을 포함하며,In order to achieve the object of the present invention, a multi-optical module vision inspection system is provided with a mechanism part in which an outer case is housed, two computers and a monitor on the front side of the mechanism part, and a keyboard mouse on the lower part, An optical illumination unit disposed at a lower end of the camera unit; an inspection stage positioned at the lower end of the camera unit and the optical illumination unit and on which the subject is placed on the XY-stage; A frame for supporting the left and right sides of the vision inspection equipment, and a stage unit transfer module for controlling the XYZ position movement,

상기 카메라부는 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라가 카메라 인터페이스를 통해 각각 하나의 카메라가 각각 하나의 PC에 연결되고, 각각의 PC는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 메인 서버 컴퓨터에 연결되며, 상기 메인 서버 컴퓨터는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 엔코더/분배기와 연결되며, 상기 엔코더/분배기는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라에 연결되고, The camera unit is connected to a single PC via a camera interface, and each PC is connected to a LAN via a network hub and a TCP / IP And the main server computer is connected to an encoder / distributor through a LAN and TCP / IP through a network hub, and the encoder / distributor is connected to a multi-camera constituting a line scan camera or an area scan camera Connected,

상기 카메라부는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라들을 구비하며, 각각의 카메라는 제품 표면 결함의 정밀 측정을 위해 일반 CCD 카메라보다 100배 정도 향상된 고해상도 10~100㎛(pixel size)의 정밀 측정이 가능한 TDI 카메라를 사용하며, The camera unit includes multi-cameras constituting a line scan camera or an area scan camera. Each camera has a high-resolution 10 to 100 μm pixel size It uses the TDI camera which can measure,

상기 기구부는 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓는 피검사체 이송 로봇을 더 포함하며, 상기 기구부는 공장 자동화 공정에서 생산 라인의 컨베이어 벨트로 이송된 피검사체, 또는 피검사체 이송 로봇의 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓인 제품의 ID를 제품에 부착된 DPM 코드, 또는 1D 또는 2D 코드를 판독하여 컴퓨터로 검출된 제품ID를 전송하는 ID 리더기를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. Wherein the mechanical part further comprises a subject transfer robot for placing an inspection stage (XY stage) by a loader, wherein the mechanical part is an object to be inspected transferred to a conveyor belt of a production line in a factory automation process, And an ID reader that reads the DPM code attached to the product or the ID of the product placed on the inspection stage (XY stage) by the loader or the ID reader that reads the 1D or 2D code and transmits the product ID detected by the computer .

본 발명에 따른 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템은 반도체 소재 및 디스플레이 소재 분야의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플 제품에 대하여 진동 저감을 위한 Air Cylinder 구조의 방진 설비와 스테이지 유닛 이송 모듈과 기구부를 포함하는 검사 장비에서 광학 조명과 비전 검사 시스템을 사용하여 검사 대상 제품에 대해 표면 결함(이물, 스크래치, 패턴 오류 등)을 검출하고 양불 여부를 판단하여 생산 공정에서 제품 불량을 줄이는 효과가 있다.The multi-optical module vision inspection system according to the present invention is applicable to a sample product having various shapes and sizes in the field of semiconductor materials and display materials, an anti-vibration device of an air cylinder structure for vibration reduction, an inspection unit (Such as foreign objects, scratches, pattern errors, etc.) to the object to be inspected by using optical illumination and vision inspection system, and it is judged whether the object is clean or not, thereby reducing the defective product in the production process.

본 제품은 디스플레이 대기업에서 대량 생산되는 LCD, AMOLED, 디스플레이용 필름, 차세대 디스플레이에 대하여 대면적 디스플레이 소재 분야에서 고해상도 카메라를 사용하여 10~100㎛ 이하의 패턴의 이물, 스크래치, 패턴 오류, 결함 발생 위치 정밀 측정 등의 제품의 표면 결함을 검출하는 검사 장비와 비전 검사 시스템을 구비하는 대면적 디스플레이 패널용 20㎛급 초정밀 비전 검사 시스템으로 사용이 가능하다. This product is used for LCD, AMOLED, display film and next generation display which are mass produced in large display companies. It is used in large area display material field by using high resolution camera to detect foreign objects, scratches, Precision type vision inspection system for a large-area display panel equipped with an inspection apparatus for detecting surface defects of a product such as a precision measurement and a vision inspection system.

멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템은 디스플레이 패널 검사 10~20㎛급 초정밀 비전 검사 시스템으로 상용화하여, 국내 디스플레이 대기업의 공장 자동화 공정에서 생산 라인의 제품 표면 결함 검사 장비로 사용이 가능하며, 삼성디스플레이, LG디스플레이, 대만 AUO, 중국 BOE의 협력사와 협력하여 비전 검사 장비 개발후 있으며, 품질인증, 특허등록, 해외수출 시장 확보를 위한 해외 마케팅 전략과 국내 디스플레이 대기업 공급을 위한 시장개척 방안과 적용기업 및 수요기관과의 협력 체계를 구축하여, 실용적인 네트워크 구축을 통한 마케팅 4P와 STP 전략에 따라 제품 포지셔닝 및 서비스 포지셔닝에 의해 마케팅을 통해 국내외 시장을 개척하여 매출을 증대시키는 효과가 있다. The multi-optic module vision inspection system can be used as a surface defect inspection device on the product line in the factory automation process of large display companies in Korea by commercializing it as a 10 ~ 20㎛ ultra-precision vision inspection system for display panel inspection, , Taiwan AUO, and BOE in China, and has developed the vision inspection equipment. We have developed overseas marketing strategy to secure quality certification, patent registration, overseas export market, , Establishing a cooperative system of marketing, and establishing a practical network. In accordance with marketing 4P and STP strategy, it has the effect of pioneering the domestic and overseas market by marketing by product positioning and service positioning.

또한, 로봇과 기계와 소프트웨어 기술이 융합된 머신 비전과 비전 시스템 기술을 조기에 확보하고, 광학조명과 고해상도 멀티 카메라를 구비하는 Line scan 카메라 또는 Area scan 카메라와 연동된 비전 검사 시스템으로써 대면적 디스플레이 소재 분야에서 제조 공정에서 발생하는 10~100㎛ 이하의 패턴의 이물, 스크래치, 패턴 오류, 결함 발생 위치 정밀 측정, 정상 이미지와 검사 이미지를 비교 분석하여 제품 표면 결함을 검출하는 2D 비전, 스테레오 비전, 3D 비전 검사 시스템과 영상처리 소프트웨어 기술의 국산화와 R&D 연구 인력 양성, 지적재산권 확보와 국내 기술 경쟁력 확보하여 향후 스마트 카메라를 사용한 임베디드 비전의 신규 산업을 창출하며 스마트 팩토리(smart factory) 구축을 위한 기초 기술로 사용된다. It is a vision inspection system that is integrated with a line scan camera or an area scan camera equipped with an optical illumination and a high resolution multi camera. It is equipped with a large area display material Stereo Vision, 3D Vision, which detects product surface defects by comparing and analyzing foreign objects, scratches, pattern errors, defective position precise measurement, normal images and inspection images in patterns of 10 ~ It is a basic technology for establishing a smart factory by creating new industries of embedded vision using smart camera in the future by fostering localization of vision inspection system and image processing software technology, fostering R & D manpower, securing intellectual property rights and securing domestic technology competitiveness. Is used.

도 1은 제품 정보, 검사 정보, 결함 정보를 설정하고 로더(Loader)에 의해 제품을 로딩하고 기계적인 정열, 비전 정렬, 제품 비전 인식, 라인 스캔 카메라/에어리어 스캔 카메라를 구성하는 고해상도 멀티 카메라로부터 이미지 획득, 이미지 프로세싱, 결과 데이터 보고, 결함 검출, 로더에 의해 제품을 언로딩하는 과정을 나타낸 제품의 표면 결함, 이물, 스크래치, 패턴 오류 검출 과정을 나타낸 순서도이다.
도 2는 Wafer/chip/package 반도체 소재, 디스플레이 소재 분야의 TSP 생산, Cover Glass 생산 과정의 글래스/판넬 등의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플, 또는 PCB를 나타낸 사진이다.
도 3은 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 외관 설계시의 정면도(front view)와 측면도(side view)이다.
도 4a는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 외형 구조의 사시도(ISO View), 배면도(back view), 정면도(front view), 및 측면도(side view)이다.
도 4b는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구 매트릭스, 도 4c는 사시도, 도 4d는 정면도, 도 4e는 좌측면도, 도 4f는 우측면도, 도 4g는 배면도, 도 4h는 저면도이다.
도 5a는 본 발명에 따른 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 세부 설계 시의 기구 내부 구조의 사시도(ISO View), 배면도(back view), 정면도(front view), 및 측면도(side view)이다.
도 5b는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구 내부 구조의 사시도(ISO View)를 확대한 도면이다.
도 6은 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 세부 설계 시의 기구 내부 구조의 레이아웃을 나타낸 도면이다.
도 7은 기구 내부 구조의 사시도(perspective view)이다.
도 8은 리니어 서보 모터, 로봇(X), 로봇(Z1, Z2, Z3), 모션 제어기(Motion Controller)의 하드웨어 사양을 나타낸 도면이다.
도 9는 라인 스캔 카메라에 사용되는 멀티 카메라들에 대하여 일 실시예로 사용된 CMOS 이미지 센서와 렌즈의 제품 사양을 나타낸 도면이다.
도 10은 비전 검사 시스템의 광학 조명으로 사용되는 동축 조명 및 경사 조명과 LED 광원의 제품 사양을 나타낸 도면이다.
도 11은 에어리어 스캔 카메라와 렌즈의 제품 사양을 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템 구성도이다.
도 13은 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템의 LED 광학 조명과 라인 스캔 카메라를 사용하는 경우 비전 검사 시스템 구성도이다.
도 14는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템에서 라인 스캔 카메라 멀티 카메라로부터 제품 표면의 영상을 획득하여 이물, 스크래치, 패턴 오류 등의 제품 표면의 결함을 검사하는 비전 검사 시스템의 이미지 프로세싱 과정을 나타낸 도면이다.
도 15는 카메라로 촬영된 영상 평면 상의 (x,y) 한점과 영상 배열(Image Array)를 비교한 도면이다.
도 16은 본 발명의 일 실실예로 LCD 결함 검출 자동 검색(auto search) 알고리즘을 나타낸 순서도이다.
도 17은 디스플레이 패널 패턴 결함을 나타낸 도면이다.
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a system for setting product information, inspection information and defect information, loading a product by a loader, and displaying images from a high resolution multi-camera constituting a mechanical alignment, a vision alignment, FIG. 5 is a flow chart showing processes of acquiring, image processing, reporting result data, detecting defects, unloading a product by a loader, detecting surface defects, foreign objects, scratches, and pattern errors of a product.
FIG. 2 is a photograph showing a sample or PCB having various shapes and sizes such as a wafer / chip / package semiconductor material, a TSP production in a display material field, and a glass / panel in a cover glass production process.
Fig. 3 is a front view and a side view of the appearance of the multi-optical module vision inspection equipment.
4A is a perspective view (ISO View), a back view, a front view, and a side view of the external structure of the multi-optical module vision inspection device.
4C is a front view, FIG. 4E is a left side view, FIG. 4F is a right side view, FIG. 4G is a rear view, and FIG. 4H is a bottom view.
5A is a perspective view (ISO View), a back view, a front view, and a side view of the internal structure of the apparatus in the detailed design of the multi-optical module vision inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 5B is an enlarged view of an internal view of the mechanism of the multi-optical module vision inspection apparatus (ISO View).
6 is a view showing the layout of the internal structure of the mechanism in the detailed design of the multi-optical module vision inspection equipment.
7 is a perspective view of the internal structure of the apparatus.
8 is a diagram showing the hardware specifications of the linear servo motor, the robot X, the robots Z1, Z2 and Z3, and the motion controller.
9 is a diagram showing product specifications of a CMOS image sensor and a lens used as an embodiment of the multi-cameras used in a line scan camera.
Fig. 10 is a diagram showing product specifications of coaxial illumination and oblique illumination and LED light source used as optical illumination of the vision inspection system. Fig.
11 is a diagram showing product specifications of an area scan camera and a lens.
12 is a block diagram of a multi-optical module vision inspection system according to an embodiment of the present invention.
13 is a vision inspection system configuration diagram when the LED optical illumination and the line scan camera of the multi-optical module vision inspection system are used.
14 is a view showing an image processing process of a vision inspection system for acquiring an image of a surface of a product from a line scan camera multi-camera in a multi-optical module vision inspection system and inspecting defects on the product surface such as foreign objects, scratches and pattern errors.
FIG. 15 is a diagram comparing (x, y) points on an image plane photographed by a camera with image arrays.
FIG. 16 is a flowchart illustrating an LCD defect detection auto search algorithm according to an embodiment of the present invention.
17 is a view showing a display panel pattern defect.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 발명의 구성을 상세하게 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 제품 정보, 검사 정보, 결함 정보를 설정하고 로더(Loader)에 의해 제품을 로딩하고 기계적인 정열, 비전 정렬, 제품 비전 인식, 라인 스캔 카메라/에어리어 스캔 카메라를 구성하는 고해상도 멀티 카메라로부터 이미지 획득, 이미지 프로세싱, 결과 데이터 보고, 결함 검출, 로더에 의해 제품을 언로딩하는 과정을 나타낸 제품의 표면 결함, 이물, 스크래치, 패턴 오류 검출 과정을 나타낸 순서도이다. FIG. 1 is a block diagram showing an example of a system for setting product information, inspection information and defect information, loading a product by a loader, and displaying images from a high resolution multi-camera constituting a mechanical alignment, a vision alignment, FIG. 5 is a flow chart showing processes of acquiring, image processing, reporting result data, detecting defects, unloading a product by a loader, detecting surface defects, foreign objects, scratches, and pattern errors of a product.

도 2는 Wafer/chip/package 반도체 소재, 디스플레이 소재 분야의 TSP 생산, Cover Glass 생산 과정의 글래스/판넬 등의 다양한 형태와 사이즈를 가진 샘플, 또는 PCB를 나타낸 사진이다. FIG. 2 is a photograph showing a sample or PCB having various shapes and sizes such as a wafer / chip / package semiconductor material, a TSP production in a display material field, and a glass / panel in a cover glass production process.

□ 기능 □ Function

1) 디스플레이 패널 및 반도체 샘플/제품 정밀 촬영(비전 검사)1) Precise shooting of display panel and semiconductor samples / products (vision inspection)

2) 결함 검출 및 양불 판정 Review2) Defect detection and judgment

3) 광학 카메라 및 조명 제어3) Optical camera and lighting control

4) 검사 스테이지 유닛 이송 제어4) Inspection stage unit feed control

5) 비상 상황 시 알람 발생 기능5) Alarm function in case of emergency

□ 특징□ Features

- 다양한 제품에 대한 테스트가 가능- Can be tested on various products

- Line Scan 및 Area scan 카메라 대응 가능- Compatible with line scan and area scan cameras

- 리니어 모터의 최대 400 mm/s의 이송속도에 대한 테스트 가능- Testable for linear motor feed rates up to 400 mm / s

- Linear Motor를 채용하여 Line Scan 검사 시 속도 오차에 의한 영상 오류를 최소화- Linear motor minimizes image errors due to speed error during line scan inspection

- 동축 조명 및 경사, 투과 조명에 대응 가능한 시스템으로 제작- Produced as a system that can cope with coaxial illumination, tilt, and transmission illumination

- Sample Size는 최대폭 400 mm까지 가능- Sample size can be up to 400 mm.

도 3은 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 외관 설계시의 정면도(front view)와 측면도(side view)이다. Fig. 3 is a front view and a side view of the appearance of the multi-optical module vision inspection equipment.

도 4a는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 외형 구조의 사시도(ISO View), 배면도(back view), 정면도(front view), 및 측면도(side view)이다. 4A is a perspective view (ISO View), a back view, a front view, and a side view of the external structure of the multi-optical module vision inspection device.

도 4b는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구 매트릭스, 도 4c는 사시도, 도 4d는 정면도, 도 4e는 좌측면도, 도 4f는 우측면도, 도 4g는 배면도, 도 4h는 저면도이다. 4C is a front view, FIG. 4E is a left side view, FIG. 4F is a right side view, FIG. 4G is a rear view, and FIG. 4H is a bottom view.

1. 외관 설계1. Exterior design

- 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구 규모(mm) : 2663 x 1756 x 2000- Instrument scale of multi-optic module vision inspection equipment (mm): 2663 x 1756 x 2000

기구부 구성 : 광학 조명 모듈, 이송 모듈, 서버/클라이언트 PC(영상처리 및 Review), 제어전장부Mechanics Configuration: Optical Illumination Module, Feed Module, Server / Client PC (Image Processing and Review)

도 5a는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 세부 설계 시의 기구 내부 구조의 사시도(ISO View), 배면도(back view), 정면도(front view), 및 측면도(side view)이다. 도 5b는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구 내부 구조의 사시도(ISO View)를 확대한 도면이다. 5A is a perspective view (ISO View), a back view, a front view, and a side view of the internal structure of the apparatus in the detailed design of the multi-optical module vision inspection apparatus. FIG. 5B is an enlarged view of an internal view of the mechanism of the multi-optical module vision inspection apparatus (ISO View).

멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 기구부의 외형 전장부를 구비하며, 정면에는 2대의 컴퓨터와 모니터, 그 하단에 키보드 마우스를 구비한다. 일 실시예에서는 케이블 덕트(cable duct)에 구비된 4대의 카메라는 지지대에 고정하고, 리니어 모터에 의해 검사 스테이지의 LCD 패널을 이동시키며, 두 프레임이 절곡되는 카메라의 구조를 가지며 다른 실시예에서는, 필요에 따라 카메라가 X,Y,Z 상하좌우 이동이 가능하게 유동적으로 설계될 수 있다. It has two external computers and a monitor on the front, and a keyboard mouse on the bottom. In one embodiment, the four cameras provided in the cable duct are fixed to a support, the LCD panel of the inspection stage is moved by a linear motor, and the structure of the camera is such that two frames are bent. In another embodiment, If necessary, the camera can be designed to be movable in X, Y, Z so that it can be moved up and down and left and right.

도 6은 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 세부 설계 시의 기구 내부 구조의 레이아웃, 도 7은 기구 내부 구조의 사시도(perspective view)이다. FIG. 6 is a layout of the internal structure of the apparatus in the detailed design of the multi-optical module vision inspection apparatus, and FIG. 7 is a perspective view of the internal structure of the apparatus.

멀티 광학 모듈 비전 검사 장비에서 광학 조명 모듈, 이송 모듈, 전장부는 개폐식 도어를 통해 외관 프레임이 감싸고 있으며, 기구 후면에 설치되는 PC의 입출력장치를 통해 기구 내부 모듈을 제어하고 제품 표면 영상의 결함 검사 결과를 확인한다. In the multi-optical module vision inspection equipment, the exterior frame is enclosed through the optical illumination module, the conveying module, and the electric part of the retractable door, and the internal module of the PC is controlled through the PC input / .

멀티 광학 모듈 비전 검사 장비는 외면 케이스가 하우징되는 기구부, 상기 기구부의 정면에는 2대의 컴퓨터와 모니터, 하단에 키보드 마우스를 구비하며, 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 고해상도 멀티 카메라가 구비된 카메라부와, 카메라부 하단에 설치된 광학 조명부와, 카메라부와 광학조명부 하단에 위치되며 피검사체가 XY-스테이지에 놓이는 검사 스테이지와, 상기 검사 스테이지가 놓이는 베이스와, 베이스 밑에 진동 저감 Air Cylinder 구조의 방진 설비, 비전 검사 장비 좌우를 지지하는 프레임, XYZ 위치 이동을 제어하는 스테이지 유닛 이송 모듈을 포함하며,A multi-optical module vision inspection device includes a mechanism portion in which an outer case is housed, two computers and a monitor on the front side of the mechanism portion, and a keyboard mouse on the bottom portion, and a line scan camera or an area scan camera An optical illumination unit disposed at a lower end of the camera unit; an inspection stage positioned at the lower end of the camera unit and the optical illumination unit, the inspection stage being placed on the XY-stage; a base on which the inspection stage is placed; A frame supporting the left and right sides of the vision inspection equipment, and a stage unit transfer module controlling the XYZ position movement,

상기 카메라부는 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라가 카메라 인터페이스를 통해 각각 하나의 카메라가 각각 하나의 PC에 연결되고, 각각의 PC는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 메인 서버 컴퓨터에 연결되며, 상기 메인 서버 컴퓨터는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 엔코더/분배기와 연결되며, 상기 엔코더/분배기는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라에 연결되는 것을 특징으로 한다. The camera unit is connected to a single PC via a camera interface, and each PC is connected to a LAN via a network hub and a TCP / IP And the main server computer is connected to an encoder / distributor through a LAN and TCP / IP through a network hub, and the encoder / distributor is connected to a multi-camera constituting a line scan camera or an area scan camera Respectively.

상기 라인 스캔 카메라는 프레임 그래버를 사용하는 경우 카메라 링크를 사용하며, 상기 에어리어 스캔 카메라는 기가비트 이더넷(GigE)을 많이 사용한다.The line scan camera uses a camera link when a frame grabber is used, and the area scan camera uses a large amount of Gigabit Ethernet (GigE).

상기 기구부는 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓는 피검사체 이송 로봇을 더 포함할 수 있다. The mechanism portion may further include a subject transfer robot for placing the inspection stage (XY stage) by a loader.

상기 기구부는 공장 자동화 공정에서 생산 라인의 컨베이어 벨트로 이송된 피검사체, 또는 피검사체 이송 로봇의 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓인 제품의 ID를 제품에 부착된 DPM 코드, 또는 1D 또는 2D 코드를 판독하여 컴퓨터로 검출된 제품ID를 전송하는 ID 리더기를 더 포함할 수 있다. The mechanical unit may be configured such that an ID of a product placed on a test stage (XY stage) is detected by a DPM code attached to the product, or a DPM code attached to the product, And an ID reader for reading the 1D or 2D code and transmitting the product ID detected by the computer.

도 7을 참조하면, 스테이지 유닛 이송 모듈은 X, Y, Z1, Z2, Z3 축의 리니어 모터를 사용하여 Line Scan 비전 검사 시 속도 오차에 의한 영상 오류를 최소화하며, Y축은 유효 스트로크 길이가 1400mm이며, 검사 대상체를 광학 카메라가 촬영할 수 있게 검사부로 이송하는 로더(loader)를 구비하는 리니어 로봇을 구비하고, 리니어 모터의 최대 400 mm/s의 이송 속도로 검사하며, 온도 등 외부 환경 요인에 따른 변형을 줄이기 위해 이송부 프레임을 스틸 소재가 아닌 석재로 사용하여 구축하였다. Referring to FIG. 7, the stage unit transfer module uses a linear motor of X, Y, Z1, Z2, and Z3 axes to minimize image errors due to velocity errors during line scan vision inspection. The effective stroke length on the Y axis is 1400 mm, And a linear robot equipped with a loader for transferring the object to be inspected to an inspection unit so that the object can be photographed by the optical camera. The linear motor is inspected at a feed rate of up to 400 mm / s, The transport frame was constructed using stone as a stone rather than as a steel material.

상기 스테이지 유닛 이송 모듈은 리니어 모터에 의해 X축 방향으로 라인 스캔 카메라가 이동하고, 리니어 모터에 의해 Y축 방향으로 검사 스테이지의 위치 이동, Z1, Z2, Z3축 상하 방향으로 카메라부가 이동되는 것을 특징으로 한다. The stage unit transfer module is characterized in that the line scan camera moves in the X-axis direction by the linear motor, the position of the inspection stage moves in the Y-axis direction by the linear motor, and the camera moves in the vertical direction of the Z1, Z2 and Z3 axes .

상기 리니어 모터는 제어 컴퓨터에 연동된 모터 구동부에 의해 작동되며, 모터의 속도와 이동 위치를 제어하기 위해 PID 제어를 사용하는 것을 특징으로 한다. The linear motor is operated by a motor driving unit interlocked with a control computer, and uses a PID control to control the speed and moving position of the motor.

상기 방진 설비는 10~100㎛ pixel size의 정밀 측정을 위한 Line Scan 또는 Area scan 카메라를 사용한 비전 검사 시스템의 정밀 측정시 진동을 저감시키기 위해 상기 베이스 밑에 격자보 하단의 Air Cylinder 구조를 이용한 방진 시스템을 사용하였으며, 즉, 석정반과 Isolator를 설치하여 외부 진동에 대한 차단 및 내부 진동을 방지하는 것을 특징으로 한다. The vibration damping system is a vibration damping system using an air cylinder structure at the bottom of the grid below the base to reduce vibrations in precision measurement of a vision inspection system using a line scan or area scan camera for precise measurement of 10 to 100 μm pixel size That is, a stone quartz panel and an isolator are provided to prevent external vibration and prevent internal vibration.

2. 세부 설계2. Detailed design

▷ 검사 대상체의 특성에 따라 검사 조건을 유동적으로 변경할 수 있는 광학 모듈 구조를 나타낸다. ▷ It shows the optical module structure which can change the inspection conditions flexibly according to the characteristics of the object to be inspected.

- 최대 9대까지 필요한 대수만큼 종류별(Line Scan/Area) 카메라를 장착할 수 있음- Up to 9 units can be equipped with line scan / area cameras as many as required

- 카메라 상하좌우 이동 가능- Moving camera up / down / left / right

- 검사 대상체의 크기는 최대 폭 400 mm 까지 가능하도록 설계- The size of test object is designed to be up to 400 mm maximum width.

▷ 영상 오류 최소화를 위한 스테이지 유닛 이송 모듈▷ Stage unit feed module for minimizing image error

- X, Y, Z1, Z2, Z3 축의 리니어 모터를 채용하여 Line Scan 검사 시 속도 오차에 의한 영상 오류를 최소화. - By adopting linear motors of X, Y, Z1, Z2, Z3 axis, it minimizes image error due to speed error during line scan inspection.

- Y축 : 유효 스트로크 길이가 1400mm이며, 검사 대상체를 광학 카메라가 촬영할 수 있게 검사부로 이송하는 로더(loader)를 구비하는 리니어 로봇- Y axis: a linear robot having an effective stroke length of 1400 mm and having a loader for transferring an inspection object to an inspection section so that the inspection object can be photographed by an optical camera

- 리니어 모터의 최대 400 mm/s의 이송 속도로 검사 - Inspection of the linear motor at a feed rate of up to 400 mm / s

- 온도 등 외부 환경 요인에 따른 변형을 줄이기 위해 이송부 프레임을 스틸 소재가 아닌 석재로 이용하여 구축- In order to reduce the deformation due to external environmental factors such as temperature, the conveyance frame is constructed using stone rather than steel material.

▷ 검사 대상체의 특성에 따른 타입별 조명 장착 가능한 시스템 구조▷ System structure capable of lighting by type according to characteristics of test object

- 동축/경사/투과 조명에 대응 가능한 시스템으로 설계- Designed as a system that can cope with coaxial / oblique / transmissive lighting

- 광학 조명 형태별 Jig를 제작하여 장착 가능- Jig can be manufactured by optical illumination type.

도 8은 리니어 서보 모터, 로봇(X), 로봇(Z1, Z2, Z3), 모션 제어기(Motion Controller)의 하드웨어 사양을 나타낸 도면이다. 8 is a diagram showing the hardware specifications of the linear servo motor, the robot X, the robots Z1, Z2 and Z3, and the motion controller.

라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라는 멀티 카메라를 구비하며, 각 카메라 1대당 제어 클라이언트 카메라 인터페이스(frame grabber, GigE, )를 통해 연결되는 PC 1대가 필요하며, 영상 통합 처리 및 제어를 위한 1대의 서버 PC로 구성된다. The line scan camera or the area scan camera is equipped with a multi camera, and one PC connected to each camera through a control client camera interface (frame grabber, GigE) is required. One server PC .

○ 영상데이터 동기화/정합화 기술○ Video data synchronization / matching technology

- 비전 장치 검사 동기화 프로그램: 일정한 검사영역 내에서 카메라를 통해서 얻어진 정보는 카메라 각각에 연결된 PC를 통해 영상데이터를 취득하고, 네트워크 허브를 통해 메인 서버컴퓨터로 전송되어 한 장의 영상정보로 변환된 두 정상 이미지 데이터와 오류 이미지 데이터를 비교하는 과정을 통해 제품 표면의 결함을 검출한다. - Vision device inspection synchronization program: The information obtained through the camera in a certain inspection area acquires the image data through the PC connected to each camera, and transmitted to the main server computer through the network hub, The defect of the surface of the product is detected by comparing the image data with the error image data.

- 네트워크 통신 프로그램 개발 : 이 과정에서 네트워크 허브를 통하여 LAN과 TCP/IP 네트워크 통신 프로그램(TCP/IP sokcet program)을 개발하고, 영상데이터 최종 저장을 위한 데이터베이스 처리 프로그램을 개발하였다. - Development of network communication program: In this process, we developed LAN and TCP / IP network communication program (TCP / IP sokcet program) through network hub and developed a database processing program for final image data storage.

- 비전 검사 정합화 프로그램 개발 : 이 과정에서 일정 영역내의 영상 소프트웨어의 위치 정보와 하드웨어의 위치 이동에 따른 영상 정보의 실제 위치에 대한 정확한 정보 입력이 중요하며, 이를 근거로 제품 표면 이미지의 오류패턴의 위치, 스크래치의 위치, 퍼짐 위치 등에 위치 정보를 최종적으로 비전 영상 처리(image processing)를 통해 제품 결함을 검출한다. In this process, it is important to input accurate information about the location of the image software and the actual position of the image information according to the location of the hardware in the process. Based on this, the error pattern of the product surface image Position, scratch position, spreading position, etc. Finally, the product defect is detected through image processing.

도 9는 라인 스캔 카메라에 사용되는 멀티 카메라들에 대하여 일 실시예로 사용된 CMOS 이미지 센서와 렌즈의 제품 사양을 나타낸 도면이다. 9 is a diagram showing product specifications of a CMOS image sensor and a lens used as an embodiment of the multi-cameras used in a line scan camera.

도 10은 비전 검사 시스템의 광학 조명으로 사용되는 동축 조명 및 경사 조명과 LED 광원의 제품 사양을 나타낸 도면이다. Fig. 10 is a diagram showing product specifications of coaxial illumination and oblique illumination and LED light source used as optical illumination of the vision inspection system. Fig.

도 11은 에어리어 스캔 카메라와 렌즈의 제품 사양을 나타낸 도면이다. 11 is a diagram showing product specifications of an area scan camera and a lens.

Figure pat00001
Figure pat00001

표 1은 검사 스테이지 상의 글래스(Glass) 상에 상부에서 동축 조명과 글래스 하부에서 투과 조명을 사용하여 인쇄, Crack, Chipping, Pinhole, 이물, LOGO, ICON, IR, Camere hole을 검사하는 Vision1(상부 검사1), 상부에서 반사 조명을 사용하여 스크래치, 찍힘, 이물을 검사하는 Vision2(상부 검사2), 하부에서 반사 조명을 사용하여 스크래치, 찍힘, 이물을 검사하는 Vision3(배면 검사), 글래스 상부에서 투과 조명과 하부의 동축 조명을 사용하여 인쇄, 크랙, Chipping을 검사하는 Vision4(배면 검사)의 검사 환경을 나타낸다. Table 1 shows the results of Vision1 (Top Inspection) for inspecting print, crack, chipping, pinhole, foreign body, LOGO, ICON, IR and Camere hole using coaxial illumination at the upper part and glass 1), Vision2 (upper inspection 2) for inspection of scratches, impacts and foreign objects using reflective illumination at the top, Vision3 (back inspection) for scratching, It shows the inspection environment of Vision4 (backside inspection) which checks printing, cracking, and chipping by using illumination and coaxial illumination at the bottom.

검사 샘플의 특성을 고려하여 카메라, 조명의 배치와 조사 방식을 다양하게 적용한 환경을 구축하고 시험 테스트를 진행함으로써 아래와 같은 조건 사항을 선택하고 보다 안정적이고 정확한 영상을 얻을 수 있는 최적의 검사 솔루션 도하였다.Considering the characteristics of the inspection sample, we constructed an environment in which various arrangements of cameras and lighting were applied, and conducted test tests, so that the following conditions were selected and an optimal inspection solution was obtained to obtain more stable and accurate images .

- 카메라와 렌즈의 다양한 해상도, 배율 및 촬영 각도 조정- Adjust various resolutions, magnification and angle of camera and lens

- 카메라와 샘플 간의 거리, 각도 또는 조명의 조도 조정- Adjust the distance, angle, or illumination between camera and sample

- 동축, 투과, 반사 등의 광학계 적용- Coaxial, transmission and reflection optical systems

- Line Scan 카메라 / Area scan 카메라 선택- Line scan camera / Area scan camera selection

광학 조명은 타 광원이 차단된 암실에서 1대의 에어리어 카메라를 사용하여 고정되어 있는 샘플을 대상으로 두 종류의 조명을 조사하여 테스트하는 과정으로 테스트 결과로 제품 표면의 영상을 확인하여 제품 표면 결함을 검사한다.  Optical illumination is a process of testing two types of illumination for a sample fixed in a darkroom where one light source is blocked by using one area camera, and checking the image of the surface of the product as a result of the test. do.

멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템은 검사 환경의 유연성을 제공하여 기존 비전 검사 시스템과 차별되는 점은 검사 환경을 유동적으로 변경하여 검사 대상의 소재가 달라져도 검사가 가능하며, 특히 비전 검사 시스템에서 중요한 광학 카메라와 조명 조건의 설정 폭이 넓어 쉽게 조정할 수 있다. Multi-optic module vision inspection system provides flexibility of inspection environment, which is different from the conventional vision inspection system. It is possible to change the inspection environment flexibly, The setting range of lighting conditions is wide and can be easily adjusted.

- 광학 카메라의 종류 및 대수 변경 가능- Can change the type and number of optical cameras

- 광학 카메라의 상하좌우 이동 : WD(Working Distance, 피사체와의 거리), FOV(Field of View, 카메라 시야 폭) 조정- Moving up / down / left / right of the optical camera: WD (Working Distance), FOV (Field of View)

- 조명의 제품 및 위치 변경 가능- Can change the position and location of lighting

- 광원의 조사각, 조사 방식(동축/투과/반사), 조도 조정 가능- Irradiation angle of light source, irradiation method (coax / transmission / reflection), illumination adjustment

도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템 구성도이다. 도 13은 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템의 LED 광학 조명과 라인 스캔 카메라를 사용하는 경우 비전 검사 시스템 구성도이다. 12 is a block diagram of a multi-optical module vision inspection system according to an embodiment of the present invention. 13 is a vision inspection system configuration diagram when the LED optical illumination and the line scan camera of the multi-optical module vision inspection system are used.

대면적 디스플레이 패널용 20급 초정밀 비전 검사 시스템은 10 ~ 100㎛ 범위의 디스플레이 패널의 결함을 빠른 디스플레이 제조 공정시간 내에 정밀 측정과 비전 검사 시스템을 사용하여 조명 및 비전 검사 광학 모듈, 결함 검출 알고리즘11 광학 카메라를 이용하여 취득한 제품의 이미지 상에서 결함을 찾아내는 알고리즘과 자동검사 기능을 갖는 통합 제어 시스템의 개발하며 최종적으로 디스플레이의 표면의 20㎛ 이내의 Defect 검출(이물, 스크래치, 패턴 오류 등)하고 결함 위치를 측정하여 제품의 불량을 줄이는 비전 검사 시스템을 개발하였다. For 20-level for the display panel area high precision vision inspection system 10 to fast display the manufacturing process time and the non-precision measurement by using the inspection system light and vision inspection optical module, fault detection algorithm in the defects in the display panel in the range 11 100㎛ We developed an integrated control system with an automatic checking function and an algorithm for detecting defects on the images of products obtained by using an optical camera. Finally, a defect detection (foreign object, scratch, pattern error, etc.) And a vision inspection system was developed to reduce the defects of products.

대면적 디스플레이 패널용 20㎛급 초정밀 비전 검사 시스템은 LCD, PDP, 차세대 디스플레이 검사 장비 이외에 다른 머신 비전 검사 장비에 적용되도록 진동 저감을 위한 방진 구조를 갖는 외관 케이스를 갖는 대면적 디스플레이 패널용 초정밀 검사용 Vision Inspection System 기구를 설계 제작하고, 격자보 하단의 진동 저감 방진 구조로 제작하며, 초정밀 구동을 위한 기구부 및 모터 구동/제어부 개발하여 멀티카메라 검사부, 모터 구동 장치부 그리고 외관 케이스 및 유공압 장치부로 구성되며, 이를 제어하기 위한 제어부를 포함하는 구조이며, 정밀 측정이 가능한 고해상도 멀티 카메라를 구비하는 Line scan 카메라 또는 Area Scan 카메라의 멀티 카메라 정밀 구동을 위한 X-Y 위치 구동부를 포함하는 구조로 제작하며, 멀티카메라 영상정보를 하드웨어와 연동하여 처리하기 위한 동기화/정합/영상처리/결함 검출 알고리즘을 가진 영상처리(image processing)와 결함 검출 알고리즘을 가진 소프트웨어 설계 및 개발하였다. Ultra-high precision vision inspection system for large-area display panels is designed for ultra-precise inspection for large-area display panels with external case having anti-vibration structure for vibration reduction to be applied to other machine vision inspection equipment besides LCD, PDP, Vision Inspection System It is designed and manufactured by the mechanism, and it is manufactured by vibration reduction vibration prevention structure at the lower part of the grid beam, and developed the mechanism part and the motor drive / control part for ultra precision drive and consists of the multi camera inspection part, motor drive part, exterior case, And a controller for controlling the camera. The line scan camera or the area scan camera includes a high-resolution multi-camera capable of precise measurement, and an XY position driver for precise driving of the multi-camera. By linking the information with the hardware Synchronization / matching / video image processing with the processing / fault detection algorithm (image processing) and software with fault detection algorithm has been designed and developed to Lee.

멀티 카메라 구동부는 전체적으로 리니어 모터 및 서보 모터를 사용하여 베이스 패널과 멀티카메라 부분이 별도로 움직이도록 하는 기구적 특성을 갖도록 해 영상 검사 시간을 최소한의 검사시간으로 측정이 가능하도록 X-Y 위치 이송기구와 감속기 그리고 모터 제어보드로 구성된다. The multi-camera driving unit has a mechanical characteristic that the base panel and the multi-camera part are moved separately by using the linear motor and the servo motor as a whole, so that the XY position transfer mechanism, the reducer, Motor control board.

멀티 광학 모듈 비전 검사 장비 내에서 검사 스테이지 상에 설치된 광학 조명(LED 또는 할로겐 조명)과 일반 CCD 카메라 보다 감도가 100배 향상된 고해상도 멀티 카메라(TDI 카메라)를 구비하는 일련의 Progressive Line Scan Camera 또는 Area Scan Camera를 포함하는 비전 검사 시스템을 사용하여 산업용 PC에 장착된 비전 보드(제어 보드)의 I/O 및 모션 제어(motion control)를 통해 스텝 모터 드라이버와 모터를 구동하여 정밀 측정을 위해 피드백 제어에 의해 모터의 속도와 위치를 조정하여 멀티 카메라로 촬영된 머신 비전(machine vision) 기술과 비전 검사 시스템(vision inspection system)의 카메라 동기화/영상 정합/영상 처리(Image Processing) 및 결함 검출 알고리즘 기술에 의해 멀티 카메라의 이미지들을 정합하고, 정상 이미지와 측정된 검사 이미지의 특징을 추출(Feature Extraction)하여 정상 이미지와 검사 이미지의 특징값을 비교하여 디스플레이의 표면의 비전 인식에서 10~100㎛ 이하의 패턴의 이물, 결함 발생 위치 정밀 측정하여 이물질, 스크래치, 패턴 오류 등의 결함을 검출하고 결함 위치를 측정하여 제품 불량 여부를 판단한다.A series of progressive line scan cameras or area scanners with optical illumination (LED or halogen illumination) installed on the inspection stage and a high resolution multi-camera (TDI camera) that is 100 times more sensitive than conventional CCD cameras in multi- By using a vision inspection system that includes a camera, I / O and motion control of a vision board (control board) mounted on an industrial PC drives the stepper motor driver and motor, By adjusting the speed and position of the motor, machine vision, camera synchronization, image matching, image processing and defect detection algorithms of vision inspection system, Match the images of the camera and extract the features of the normal image and the measured test image (Feature Extraction) By comparing the feature values of the normal image and the inspection image, it is possible to detect defects such as foreign matter, scratches, and pattern errors by precisely measuring foreign objects and defects at a pattern of 10 to 100 μm or less in vision recognition on the surface of the display, Thereby determining whether or not the product is defective.

PC 기반의 머신 비전 검사 시스템은 광학 조명, 카메라, 카메라 인터페이스(Frame Grabber, Gigabit Ethernet(GigE), IEEE1394, 카메라 링크, USB 3.0), 컴퓨터에 탑재되는 비전 영상처리를 위한 비전 보드가 구비된 비전 검사 시스템, 비전 검사 영상처리 소프트웨어에 의한 획득된 이미지의 검사(inspection)를 위한 이미지 프로세싱(image processing)를 통해 제품 표면의 이물, 스크래치, 패턴 오류를 검출한다. The PC-based machine vision inspection system is equipped with an optical vision, a camera, a camera interface (Frame Grabber, Gigabit Ethernet (GigE), IEEE1394, Camera Link, USB 3.0), a vision check equipped with a vision board The system detects image, scratch, and pattern errors on the surface of the product through image processing for inspection of acquired images by vision inspection image processing software.

비전 검사 영상 처리 소프트웨어는 이미지 획득(frame grabbing)/이미지 처리(imgae processing)/특징 추출(feature extraction)/결함 검출과 제어 기능을 제공하며, 멀티 카메라를 구비하는 Line scan camera 또는 Area scan camera과 연동된 컴퓨터의 비전 검사 시스템을 사용하여 제품 표면 결함을 검사하여 영상 처리(image processing)와 결함 검출 알고리즘을 가진 소프트웨어에 의해 정상 이미지와 검사 이미지의 특징값을 비교하여 이물질, 스크래치, 패턴 오류, 찍힘성 결함을 검출하고 결함 위치를 측정하여 제품 불량을 검출한다.  Vision inspection image processing software provides frame grabbing, imgae processing, feature extraction / defect detection and control functions and interlocks with line scan camera or area scan camera equipped with multi camera The computer vision inspection system is used to check the surface defects of the product and compare the feature values of the normal image and the inspection image by the software with image processing and defect detection algorithm to detect foreign objects, The defect is detected and the defective position is measured to detect the product defect.

Line Scan 카메라를 사용하여 획득된 영상이 카메라 인터페이스를 통해 산업용 PC에서 획득된 TFT-LCD의 이미지는 대용량이기 때문에 생산 공정에서 적용하기 위해 빠른 영상 처리 시간이 요구된다. TFT-LCD 영상은 반복되는 패턴을 갖고 있기 인접 패턴과의 영상차를 이용하여 쉽게 LCD 불량 영역이 검출된다. Since the image obtained by using the line scan camera is large in the TFT-LCD image obtained from the industrial PC through the camera interface, a fast image processing time is required for the application in the production process. The TFT LCD image has a repetitive pattern. The LCD defect region is easily detected using the image difference from the adjacent pattern.

비전 검사 시스템은 마이크로 단위 정밀 측정을 위해 고해상도, 고속화를 대용량 데이터를 고속으로 처리하기 위한 GigE, CoaXpres 등의 인터페이스가 시장에서 증가하고 있으며. 특히 기가비트 이더넷(GigE)을 통해 프레임 그래버44 TV, 비디오, 카메라 등 기존 영상 매체에서 획득한 영상신호를 컴퓨터에서 처리 가능한 디지털 신호로 변환 또는 저장해서 기본적인 영상처리를 가능하게 해주는 장치를 사용하지 않고 시스템을 구성하는 추세이며, 이를 통해 시스템 구축비용을 낮추고 성능을 높이고 있다. 표 2는 멀티 광학 모듈 비전 검사 장비의 정량적 목표 항목이다. The Vision Inspection System has been increasing in the market for interfaces such as GigE and CoaXpres for processing high-resolution, high-speed, high-volume data at high speed for micro-precision measurement. Especially, Gigabit Ethernet (GigE) frame grabber 4 4 Video signal obtained from existing video media such as TV, video camera, etc. can be converted into a digital signal that can be processed by a computer, System, which lowers system construction costs and improves performance. Table 2 is a quantitative target item for multi-optic module vision inspection equipment.

- 정량적 목표 항목 - Quantitative goal items 평가 항목Evaluation items
(주요성능(Key performance
SpecSpec 1One )) ))
단위unit 전체 항목All items
에서 차지하는Occupying
비중importance 22 ))
(%)(%)
세계최고 수준(보유국/World-class (owned /
보유기업)Holding company)
연구개발 전 국내수준Domestic level before R & D 개발 목표치Development target 평가 evaluation 방법Way 33 ))
성능수준Performance level 성능수준Performance level 1차Primary
년도year
2차Secondary
년도year
3차Third
년도year
1. 검출Defect크기1. Detection Defect Size 3030 일본/휴브레인
/30㎛
Japan / Hugh Brain
/ 30㎛
3030 3030 2525 1010 자체 평가Self-assessment
2. 결함 검출률2. Defect detection rate %% 2020 이스라엘/
Orbotech/
85%
Israel/
Orbotech /
85%
8080 8080 9090 9595 자체 평가Self-assessment
3. 로봇위치정밀도3. Robot position accuracy 1010 이스라엘/
Orbotech/1㎛
Israel/
Orbotech / 1㎛
55 55 33 1One 자체 평가Self-assessment
4. 시스템 진동율4. System Vibration Rate HzHz 55 미국/August
/10Hz
USA / August
/ 10Hz
1515 1515 1010 1010 자체 평가Self-assessment
5. 2D 광학계 분해능5. 2D Optical System Resolution 55 독일/바슬러
10㎛
Germany / Basler
10 탆
1010 1010 55 3.53.5 자체평가Self-assessment
6. 2D 과검률6. 2D and check rate %% 1010 이스라엘/
Orbotech/5%
Israel/
Orbotech / 5%
1010 1010 55 55 자체평가Self-assessment
7. 검사속도(2D)7. Inspection speed (2D) mm/smm / s 55 이스라엘/
Orbotech/50mm/s
Israel/
Orbotech / 50mm / s
5050 5050 6060 8080 자체평가Self-assessment
8. Stage 평탄도8. Stage Flatness 55 일본/테크노스/20㎛Japan / Technos / 20㎛ 2020 3030 2020 2020 자체평가Self-assessment 9. 3D 광학계 수직분해능9. 3D Optical System Vertical Resolution 1010 일본/니콘/
0.001㎛
Japan / Nikon /
0.001 탆
0.10.1 0.10.1 0.010.01 0.0050.005 자체평가Self-assessment

o 대면적 디스플레이 패널용 20급 초정밀 비전 검사 시스템의 요소 기술(예) o Element technology of 20th grade high-precision vision inspection system for large-area display panel (Example)

- 비전 인식에서 10~100㎛ 이하의 패턴의 이물, 결함 발생 위치 정밀 측정 - Accurate measurement of foreign objects and defects in patterns of 10 to 100 μm or less in vision recognition

- 광학 조명과 고해상도 광학 카메라를 사용한 기구부와 대면적 디스플레이 패널용 20㎛급 초정밀 비전 검사 시스템 구축한다. - Establishment of 20 μm high-precision vision inspection system for mechanical parts and large-area display panels using optical illumination and high-resolution optical camera.

예를들면, 대면적 디스플레이의 표면의 검사 스테이지(X-Y 스테이지)에 놓인 피검사체의 특성에 따라 광학 조명과 고해상도 카메라와 광원의 배치 및 기구부를 설계 제작하고 최적 검사 환경을 구축한다. For example, according to the characteristics of an object placed on an inspection stage (X-Y stage) on the surface of a large-area display, an arrangement of optical illumination, a high-resolution camera and a light source and a mechanism are designed and fabricated to establish an optimum inspection environment.

- 2D 검사 광학 모듈 개발 : 대면적 디스플레이 패널용 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템은 광학 조명과 정밀 측정을 위한 고해상도 멀티 카메라(TDI 카메라)를 구비하는 일련의 Progressive Line Scan Camera 또는 Area Scan Camera를 포함하는 비전 검사 시스템의 모션 제어 프로그램을 사용하여 산업용 PC에 장착된 비전 보드(제어 보드)의 I/O 및 모션 제어(motion control)를 통해 스텝 모터 드라이버와 모터를 구동하여 XY 위치를 이송 제어하여 카메라 구동부를 이동하며 촬영하는 머신 비전(machine vision) 기술과 비전 검사 시스템의 카메라 동기화, 영상 정합 및 영상 처리(image processing) 기술과 결함 검출 알고리즘을 사용한 SW 기술 융합에 의해 다양한 형태와 사이즈를 가진 디스플레이의 표면의 10~100㎛ 이하의 패턴의 이물, 스크래치, 패턴 오류를 검출하고 결함 발생 위치 정밀 측정하여 제품 양불 판정한다. - Development of 2D inspection optical module: Multi-optical module vision inspection system for large area display panel is equipped with a series of Progressive Line Scan Camera or Area Scan Camera with high resolution multi camera (TDI camera) for optical illumination and precise measurement. By using the motion control program of the inspection system, I / O and motion control of the vision board (control board) mounted on the industrial PC drives the step motor driver and the motor to feed and control the XY position, By combining camera vision, image synchronization and vision detection technology with SW technology using machine vision and defect detection algorithms, the surface of a display with various shapes and sizes Foreign matter, scratches, and pattern errors of a pattern of 10 to 100 μm or less are detected, Wheat measured to determine product yangbul.

- 진동 저감을 위한 지자기 로봇 이송 기구부 개발 : 초정밀 고해상도 카메라의 비전 인식 오류 최소화를 위한 진동 저감 방진 기구와 이송 지자기 로봇 설계 및 제작- Development of Geomagnetic Robot Transfer Mechanism for Vibration Reduction: Design and manufacture of vibration reduction vibration mechanism and transfer geomagnetic robot for minimizing vision recognition error of ultra-high resolution camera

- 대면적 초정밀 검사용 Vision System 기구 및 모터 구동/제어부 개발 : 멀멀티 카메라를 정밀하게 구동하기 위한 초정밀 모터 구동 장치 및 제어 프로그램 설계 및 제작- Development of Vision System Mechanism and Motor Drive / Control Unit for Large-Area Ultra Precision Inspection: Design and manufacture of ultra-precision motor drive device and control program for precise driving of multi-camera

- 멀티 영상정보 처리용 정합/동기화 프로그램 개발 : 멀티카메라 영상정보를 하드웨어와 연동하여 처리하기 위한 동기화/정합/영상처리/결함 검출 알고리즘을 가진 영상처리(image processing)와 결함 검출 알고리즘을 가진 소프트웨어 설계 및 개발- Development of registration / synchronization program for multi-image information processing: Software design with image processing and defect detection algorithm with synchronization / matching / image processing / defect detection algorithm for multi-camera image information interworking with hardware And development

- 실시간 측정 결과, 라인효율 분석(수율 분석) 모니터링 GUI 기능 구현 : 비전 검사 중 실시간 측정 영상 모니터링 기능 및 수율, 가동률 등 공정능력 모니터링 기능 구현- real-time measurement result, line efficiency analysis (yield analysis) monitoring GUI function implementation: vision Real-time measurement monitoring function during inspection and process capability monitoring function such as yield rate and utilization rate

1) ID 리더기(제품에 부착된 DPM 코드, 또는 1D 또는 2D 코드 판독): 공장 자동화 공정에서 생산 라인의 컨베이어 벨트로 이송된 피검사체, 또는 이송 로봇의 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓인 제품의 ID를 판독하여 컴퓨터로 검출된 제품ID를 전송한다. 1) ID reader (DPM code attached to the product, or 1D or 2D code reading): Inspection stage (XY stage) by the inspected object transferred to the conveyor belt of the production line in the factory automation process, or by the loader of the transfer robot ) And transmits the product ID detected by the computer.

2) 광학 조명(illumination): 비전 검사 시스템에서 광학 조명은 흰색 또는 적색 LED 조명, 또는 광섬유 가이드를 가지는 할로겐 조명 사용하며, 본 발명의 실시예에서는 LED를 사용하였다. 2) Optical illumination: In vision inspection systems, optical illumination uses white or red LED illumination, or halogen illumination with fiber optic guides, and LEDs are used in embodiments of the present invention.

LED 조명을 사용하는 경우, 일렬로 배열된 white LED와 조명 콘트롤러, 또는 카메라 렌즈 주위를 둘러싼 많은 LED들로 구성된 링 LED와 조명 콘트롤러 사용한다. When using LED lighting, use a ring LED and lighting controller consisting of a series of white LEDs and a lighting controller, or many LEDs surrounding the camera lens.

머신 비전을 위한 정밀 조명을 비추기 위해 Line 또는 Area 마이크로 스캔 시에 사용되도록 어레이 조명 타입, Line Scan 카메라를 위한 바 라이트(bar light), Area Scan 카메라를 위한 링 라이트(ring light), 검사 스테이지 하단과 둘레의 백라이트(back light) 타입-검사 스테이지의 바닥 후방 조명, 피검사체의 둘레 조명-이 있음. 카메라의 정밀 조명을 비추기 위해 고품질의 LED 조명은 DC 전원을 사용하므로 깜빡임 현상이 없고 백색광에 비해 렌즈에서 단일색 수차가 훨씬 작으므로 정확한 측정이 가능하다. To illuminate the precise illumination for machine vision, we use array light type for line or area micro scan, bar light for line scan camera, ring light for area scan camera, Back light type of the periphery - bottom rear illumination of the inspection stage, peripheral illumination of the subject. High-quality LED lighting uses DC power to illuminate the camera's precise illumination, so there is no blinking and the single-color aberration in the lens is much smaller than white light, so accurate measurement is possible.

또한, 광학조명은 LED 조명을 사용하는 대신에 광섬유 가이드 할로겐 조명을 사용할 수 있다. 참고로, 할로겐 조명은 광원으로부터 광섬유를 통해 균일한 밝기의 빛을 라인 형태로 구조화 된 조명으로 제작된다. Optical illumination can also use fiber optic guide halogen illumination instead of LED illumination. For reference, halogen lighting is fabricated from structured light in the form of a line of uniformly bright light from a light source through an optical fiber.

광학 조명은 조명 자체의 밝기로 고해상도 멀티 카메라로 촬영된 영상의 밝기를 잘 보이도록 조절 가능하다. The optical illumination is adjustable so that the brightness of the image captured by the high-resolution multi-camera can be seen clearly by the brightness of the illumination itself.

비전 검사를 위한 고속 스캔 마이크로 단위 정밀 조명시에, 광학조명으로 진동이 있거나 또는 LED의 밝기가 너무 약하면 고해상도 카메라(10~100㎛의 정밀 측정이 가능한 TDI camera)는 획득된 영상이 흐려짐 비전 검사 영상처리 소프트웨어 에러가 발생한다. High-speed scanning for vision inspection High-resolution camera (TDI camera capable of precise measurement of 10 ~ 100μm) when the light is oscillated by optical illumination or the brightness of the LED is too weak in micro-unit precision illumination Obtained image is blurred Vision inspection image Processing software error occurs.

3) 카메라: 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라는 멀티 카메라들을 구비하며, 각각의 카메라는 제품 표면 결함의 정밀 측정을 위해 일반 CCD 카메라보다 100배 정도 향상된 고해상도 10~100㎛(pixel size)의 정밀 측정이 가능한 TDI camera를 사용한다. 3) Camera: Line scan camera or area scan camera is equipped with multiple cameras, each of which has a high-resolution 10 to 100 μm (pixel size) precision measurement Use a possible TDI camera.

정밀 측정이 요구되지 않는 경우, TDI 카메라 보다 해상도가 낮은 일반 CCD 카메라, 또는 CMOS 이미지 센서(CIS, CMOS Image Sensor)를 사용할 수 있다. If precise measurement is not required, a general CCD camera or CMOS image sensor (CIS, CMOS Image Sensor) with lower resolution than TDI camera can be used.

최근 CMOS 이미지 센서는 pixel size가 10~100㎛ 이하의 정밀 측정이 가능한 TDI 카메라 급이 출시되고 있므로 검사 장비의 요구 조건에 따라 이를 사용할 수 있다. In recent years, CMOS image sensors have been available with TDI camera class capable of precise measurement with pixel size of 10 ~ 100㎛ or less, so they can be used according to the requirements of inspection equipment.

카메라는 반도체 소재, LCD, AMOLED, 디스플레이용 필름, LED 패키지 등에 대하여 pixel size가 10~100㎛ 이하의 정밀 측정 촬영을 하여, 카메라 인터페이스를 통해 각각의 PC에 연결되어 이미지 프로세싱(image processing)을 통해 10~100㎛ 이하(pixel size)의 패턴의 이물, 스크래치, 패턴 오류, 결함 발생 위치를 검출한다. The camera performs precise measurement shooting with a pixel size of 10 to 100 μm or less for semiconductor materials, LCD, AMOLED, display film, and LED package, and is connected to each PC through a camera interface and performs image processing Scratches, pattern errors, and defect occurrence positions of patterns of 10 to 100 μm or less (pixel size).

Line scan 카메라 또는 Area scan 카메라(카메라 구동부): 산업체의 공장 자동화 공정에서 제조업체의 생산 라인에서 서버모터에 의해 작동되는 컨베이어 벨트 시스템에 적합한 고해상도 고분해능 및 고속 CCD 카메라(TDI camera)를 사용한다. 비전 카메라의 사양, 구조 및 배치는 멀티 카메라 구조를 갖도록 설계하며, 멀티 고속 Line Scan 카메라가 카메라 인터페이스를 통해 컴퓨터와 연동되어 있고, 2D 비전 검사의 정밀 측정을 위해 일반 CCD 카메라 보다 감도가 100배 향상된 10~20㎛ 단위(pixel size)까지 정밀 측정이 가능한 고해상도의 TDI 카메라를 사용하여 고품질의 검사 영상을 정밀 촬영한다.Line scan camera or Area scan camera: Uses a high-resolution, high-resolution, high-speed CCD camera (TDI camera) suitable for a conveyor belt system operated by a server motor in a manufacturer's production line in industrial factory automation processes. The specifications, structure and arrangement of the vision camera are designed to have a multi-camera structure. The multi-speed line scan camera is interlocked with the computer through the camera interface. The precision of the 2D vision inspection is 100 times Precise shooting of high-quality inspection images using high-resolution TDI cameras capable of precise measurement up to 10 ~ 20μm pixel size.

Line scan 카메라 또는 Area scan 카메라를 구성하는 카메라는 일반 CCD 카메라 보다 감도가 100배 향상된 10~20㎛ 단위까지 정밀 측정이 가능한 고해상도의 TDI 카메라를 사용한다.The line scan camera or area scan camera uses a high resolution TDI camera capable of precise measurement up to 10 ~ 20μm unit, which is 100 times more sensitive than general CCD camera.

카메라와 PC를 연결하는 카메라 인터페이스는 프레임 그래버, Gigabit Ethernet(GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, 카메라 링크, USB 3.0를 사용한다. The camera interface that connects the camera to the PC uses a frame grabber, Gigabit Ethernet (GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, camera link, and USB 3.0.

표 3은 머신 비전 카메라 인터페이스를 나타낸다. Table 3 shows the machine vision camera interface.

구분division Gigabit Ethernet(GigE)Gigabit Ethernet (GigE) IEEE 1394a    IEEE 1394a IEEE 1394b    IEEE 1394b 카메라 링크  Camera Link 케이블 길이Cable length 100m100m 4.5m(리피터를 사용하는 경우 72m까지 가능)4.5m (up to 72m when repeater is used) 4.5m(리피터를 사용하는 경우 72m까지 가능)4.5m (up to 72m when repeater is used) 최대 15mUp to 15m 밴드위스Bandwith 100 Mb/s100 Mbps 32 Mbytes/s32 Mbytes / s 64 Mbytes/s64 Mbytes / s 255Mbytes/s(base configuration)
680Mbytes/s(full
configuration)
255Mbytes / s (base configuration)
680 Mbytes / s (full
configuration)
Bit rateBit rate 1000 Mb/s1000 Mbps 400 Mb/s400 Mbps 800 Mb/s800 Mbps > 2000 Mb/s> 2000 Mbps 표준Standard GigE Vision StandardGigE Vision Standard IEEE 1394 Trade
Association DCAM
Standard
IEEE 1394 Trade
Association DCAM
Standard
IEEE 1394 Trade
Association DCAM
Standard
IEEE 1394 Trade
Association DCAM
Standard
AIA 카메라 링크 표준AIA Camera Link Standard
인터페이스 보드Interface board 기가비트 이더넷 보드Gigabit Ethernet board IEEE 1394a 보드IEEE 1394a board 특별한 프레임 그래버Special frame grabber 카메라 최대수Maximum number of cameras 제한 없음No limit 16대 (DCAM)16 (DCAM) 16대 (DCAM)16 (DCAM) 프레임 그래버당
2대
Per frame grabber
2 units
Plug & Play abilityPlug & Play ability YesYes YesYes YesYes NoNo 케이블 cable Industrial and consumerIndustrial and consumer Industrial and consumerIndustrial and consumer Industrial and consumerIndustrial and consumer Industrial Industrial

구비하는 Line Scan 카메라 또는 Area Scan 카메라는 고정된 지지대에 컨베이어 벨트 상에 이동되는 제품의 이미지를 검사(실시예1), 이와 달리 공장 자동화 상황에 따라 검사 스테이지(X-Y 스테이지) 위에 검사 제품이 고정적으로 놓이고 Line Scan 카메라가 이동되는 경우가 존재한다(실시예 2). The line scan camera or the area scan camera provided in the present invention inspects an image of a product moved on a conveyor belt on a fixed support (Example 1). On the other hand, the inspection product is fixed And the line scan camera is moved (Example 2).

4) 프레임 그래버(Frame Grabber): Line Scan 카메라 또는 Area Scan 카메라의 각각의 고해상도 카메라(TDI 카메라)로부터 획득된 디지털 영상을 PCIe 카드(디지털 I/O)가 내장된 컴퓨터로 전송하여 컴퓨터의 메모리에 저장하고, 비전 검사 시스템의 영상처리 소프트웨어에 의해 비전 검사를 위한 이미지 프로세싱(image processing)을 통해 디스플레이 표면의 결함을 검출한다. 4) Frame Grabber: The digital image obtained from each high resolution camera (TDI camera) of line scan camera or area scan camera is transferred to the computer with PCIe card (digital I / O) And detects defects on the display surface through image processing for vision inspection by image processing software of the vision inspection system.

각각의 카메라는 각각의 프레임 그래버와 연결되고, 각각의 프레임 그래버는 각각의 컴퓨터와 연결된다.Each camera is connected to a respective frame grabber, and each frame grabber is connected to a respective computer.

하나의 프레임 그래버(Frame Grabber)는 제품의 종류에 따라 1대의 컴퓨터를 연결하거나 또는 2대의 컴퓨터가 연결될 수도 있다. One frame grabber can be connected to one computer or two computers depending on the type of product.

프레임 그래버를 사용하지 않고 카메라와 컴퓨터 인터페이스의 경우, 예를 들면, 프레임 그래버를 사용하지 않고 기가비트 이더넷(GigE)을 사용하는 경우, Line scan 카메라 또는 Area scan 카메라에서 각각의 고해상도 카메라는 촬영된 영상을 각각 고속으로 전송하는 기가비트 이더넷(GigE)을 통해 기가비트 이더넷 보드(Gigabit Ethernet board)가 탑재된 컴퓨터와 연결된다. 이 경우, 별도의 비전 영상 처리 소프트웨어에 프레임 그래버 기능이 포함된다. For example, if you are using Gigabit Ethernet (GigE) instead of a frame grabber for camera and computer interfaces without using a frame grabber, each high-resolution camera in a line scan camera or area scan camera will capture the captured image Each connected to a computer equipped with a Gigabit Ethernet board via Gigabit Ethernet (GigE), which transmits at high speed. In this case, the separate vision image processing software includes a frame grabber function.

최근, 카메라 인터페이스로 프레임 그래버(frame grabber)를 사용하는 대신에 고속 전송을 위해 기기비트 이더넷(GigE)을 대부분 사용하는 추세이다. Recently, instead of using a frame grabber as a camera interface, it is a tendency to use most of the device bit Ethernet (GigE) for high-speed transmission.

5) 엔코더(Encoder)5) Encoder

산업체의 공장 자동화 공정에서 컴퓨터와 연결된 스텝 모터 드라이버(Step Motor Driver)와 스텝 모터(Step Motor, 서보 모터)의 구동에 의해 동작되는 컨베이어 벨트 시스템 위에서 지지대에 고정된 상태에서 광학 조명과 고해상도 멀티 카메라를 구비하는 Line scan 카메라 또는 Area scan 카메라가 설치된 상황에서, In the factory automation process of the industry, the optical lighting and the high resolution multi camera are fixed on the support on the conveyor belt system operated by the step motor driver and the step motor driven by the computer. In a situation where a line scan camera or an area scan camera is installed,

엔코더(Encoder)는 공장의 생산 라인에서 컨베이어 벨트(conveyor belt)를 동작시키는 경우, 서보 모터의 정확한 이송량을 측정한다. The encoder measures the exact feed amount of the servo motor when operating the conveyor belt in the factory production line.

실시예1에서는 산업체의 컨베이버 벨트로 생산 라인을 구동하는 공장 자동화 공정에서 엔코더(Encoder)의 회전당 펄스수가 x ppr, 엔코더가 1회전하는데 가는 거리가 실제 1펄스 신호당 이동 거리이며, 컨베이어 벨트의 최대 이송 속도 400mm/s, 라인 레이트는 18kHz, 컨베이어 벨트 시스템의 라인 레이트는 카메라의 최대 라인 레이트를 벗어나지 않는다. In the first embodiment, in the factory automation process of driving the production line with the conveyor belt of the industry, the number of pulses per revolution of the encoder is x ppr, the distance that the encoder makes one revolution is the moving distance per actual pulse signal, , The line rate is 18 kHz, and the line rate of the conveyor belt system does not exceed the maximum line rate of the camera.

* 비전 검사 시스템의 피검사체의 제품 불량 판정(컨베이어 벨트 사용시)* Poor inspection of the product of the vision inspection system (when the conveyor belt is used)

진동에 대한 차단 및 내부 진동을 방지하였다. 10~100㎛ pixel size의 정밀 측정을 위한 Line Scan Camera를 사용한 고속 검사 시스템에 적합한 진동 저감을 위해 격자보 하단에 Air Cylinder 구조를 이용한 방진 시스템을 사용하였다.Preventing vibration and preventing internal vibration. Line Scan Camera for Precise Measurement of 10 ~ 100μm Pixel Size A vibration control system using an air cylinder structure was used at the lower end of the grating for vibration reduction suitable for a high speed inspection system using a camera.

도 14는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템에서 라인 스캔 카메라 멀티 카메라로부터 제품 표면의 영상을 획득하여 이물, 스크래치, 패턴 오류 등의 제품 표면의 결함을 검사하는 비전 검사 시스템의 이미지 프로세싱 과정을 나타낸 도면이다. 14 is a view showing an image processing process of a vision inspection system for acquiring an image of a surface of a product from a line scan camera multi-camera in a multi-optical module vision inspection system and inspecting defects on the product surface such as foreign objects, scratches and pattern errors.

멀티비전 패턴 검사 모듈 구성 : 비전 카메라 사양, 구조 및 배치는 그림과 같이 멀티카메라 구조를 갖도록 설계하며, 멀티카메라가 연동되어 있고, 각 1대의 카메라에 1대의 PC를 연결하여 컴퓨터가 동시에 영상 정보를 받아들이도록 함으로 전체 공정시간을 최소한으로 작업을 수행하도록 설계함Multivision pattern inspection module configuration: Vision camera specifications, structure and layout are designed to have a multi camera structure as shown in the figure. Multi camera is interlocked and one PC is connected to each camera. Designed to perform the task with a minimum of total process time by accepting

멀티카메라 영상측정 방법 - 실제 위치 및 영상 정보의 정합성 일치 : 멀티 카메라의 각각의 카메라가 동기화 되어 동시에 영상정보를 취득하고, 취득된 영상 정보를 각각의 영상을 담당하는 컴퓨터로 전송한 후, 이를 메인 컴퓨터로 다시 영상을 보내 저장하고 패널 한 장당 한 개의 영상정보로 최종 취합한 후, 정상 이미지와 측정 이미지를 비교하여 비전 검사 결과를 출력하며 다음의 측정 위치로 이동하는 장치의 특성을 가지고 있다. Multicamera image measurement method - Matching of actual position and image information: Each camera of the multi-camera is synchronized to obtain image information at the same time, and the obtained image information is transmitted to a computer responsible for each image, After the image is sent back to the computer, the image is collected as one piece of image information per one panel, and then the normal image and the measured image are compared with each other, and the result of the vision check is output and the device moves to the next measurement position.

따라서, 카메라 영상정보와 정밀 모터 구동 시스템과의 위치 정합성이 중요한 설계 요소이며, 이를 통해 제품 표면의 스크래치, 퍼짐, 패턴의 오류를 사전에 입력된 정보와 비교하여 분석하는 과정을 거쳐 최종 불량의 위치를 판단한다.  Therefore, the positional alignment between the camera image information and the precision motor drive system is an important design factor. Through this process, the scratch, spread, and pattern errors of the product surface are compared with the previously inputted information, .

머신 비전은 로봇, 기계, 비전 검사 시스템의 비전 영상처리 소프트웨어가 융합된 기술로써, 산업체의 공장 자동화 공정에서 온라인/인 프로세스(in-process) 또는 온라인/포스트 프로세스(post-process)로 자동화 검사가 진행되며, 광학 조명하에서 ID 검출기에 의해 부품을 식별(part identification)하여 Line Scan 카메라 또는 Area scan 카메라에 구비된 멀티카메라에서 동기화되어 촬영된 영상 데이터를 컴퓨터의 비전 검사 시스템에 의해 영상 처리(image processing)[(1) 영상 획득, (2) 영상 이진화, (3) 영상 처리, (4) 영상 분석, (5)영상 해석]를 통해 제품 표면의 디스플레이의 이물, 스크래치, 패턴 오류 등의 결함의 위치와 부품상의 구멍의 위치, 구멍 수, 빠진 구멍 유무 등의 결함을 분석하여 제품의 불량을 검출한다.Machine vision is a fusion technology of vision, image processing software of robot, machine and vision inspection system. It is a technology that automation inspection is performed in online / in-process or online / post-process in industrial factory automation process. The part is identified by ID detector under optical illumination, and image data synchronized in a multi-camera equipped with a line scan camera or an area scan camera is imaged by a vision inspection system of a computer (2) image binarization, (3) image processing, (4) image analysis, and (5) image interpretation, the position of defects such as foreign objects, scratches, And defects such as the positions of the holes on the parts, the number of holes, and the presence or absence of holes are analyzed to detect defective products.

또한, 머신 비전 시스템에 로봇 자동화 시스템이 적용되며, 부품의 방향에 대한 정보는 주로 특정한 방법으로 말단장치가 부품을 집어올릴 때 사용된다. 비전 시스템은 집어서 제품의 위치와 방향을 정확하게 옮기기(pick and place) 작업을 위해 그리퍼를 구동하여 적절하게 파지하기 위한 정보와 데이터를 제공할 수 있다. 검사 대상 부품의 위치는 x, y 좌표상에 무작위로 놓여 있는 물체의 위치를 파악하기 위해 사용된다. 비전 시스템은 x, y 거리를 계측하고 카메라의 중심이 무작위로 놓여진 부품의 중심과 일치해야 된다.In addition, a robot automation system is applied to the machine vision system, and information about the orientation of the part is mainly used when the end device picks up the part in a particular way. The vision system can provide information and data to properly grip and drive the gripper to pick and place the position and orientation of the product. The position of the part to be inspected is used to locate the object randomly placed on the x, y coordinates. The vision system should measure x and y distances and match the center of the camera with the center of the randomly placed components.

라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라는 마이크로 단위 정밀 측정 시에 디스플레이 제품 표면의 영상 획득시에 진동이 없어야 된다. 진동 시에 Line Scan 카메라 또는 Area Scan 카메라를 구성하는 마이크로 단위 정밀 측정이 요구되는 멀티 카메라의 흔들림에 의해 마이크로 단위 검사 스테이지(X-Y 스테이지) 위에 제품 표면의 검사 이미지가 왜곡되어 흐릿해지고 마이크로 단위 이물, 스크래치, 패턴 오류가 흔들림에 의해 크기가 확대되며 결함 위치의 정확한 측정 오류가 발생되며 정상이 제품이 오류로 판정된다. The multi-camera constituting the line scan camera or the area scan camera must be free of vibration when acquiring images of the surface of the display product in the micro-precision measurement. Due to the shaking of the multi-camera, which requires precise micro-scale measurement, which constitutes the line scan camera or area scan camera at the time of vibration, the inspection image of the product surface is distorted and blurred on the micro-unit inspection stage (XY stage) , The pattern error is enlarged due to shaking, an accurate measurement error of the defect position occurs, and the product is judged as an error by the normal state.

머신 비전은 기구부와 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라와 연동된 카메라 인터페이스(Frame Grabber, Gigabit Ethernet(GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, 카메라 링크, USB 3.0)를 통해 연결된 컴퓨터의 비전 검사용 영상처리 알고리즘이 영상 처리(image processing)[(1) 영상 획득, (2) 영상 이진화, (3) 영상 처리, (4) 영상 분석, (5)영상 해석]를 통해 제품 표면의 디스플레이의 이물, 스크래치, 패턴 오류, 도 15에 도시된 바와 같이 결함의 위치 측정 등의 결함을 분석하여 제품의 불량을 걸러낸다.Machine vision is a visual processing algorithm for vision inspection of connected computers through a camera interface (Frame Grabber, Gigabit Ethernet (GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, Camera Link, USB 3.0) Scratches and patterns on the surface of the product through image processing [(1) Image acquisition, (2) Image binarization, (3) Image processing, (4) Image analysis, Error, and defects such as positional measurement of defects as shown in Fig. 15 are analyzed to filter defective products.

도 16은 본 발명의 일 실실예로 LCD 결함 검출 자동 검색(auto search) 알고리즘을 나타낸 순서도이다. FIG. 16 is a flowchart illustrating an LCD defect detection auto search algorithm according to an embodiment of the present invention.

도 17은 디스플레이 패널 패턴 결함을 나타낸 도면이다. 17 is a view showing a display panel pattern defect.

예를들면, 실제 TFT-LCD 제조공정에서, LCD 디스플레이 표면의 결함 위치와 크기를 자동으로 추출하여 결함을 검출하는 TFT-LCD 결함 검출 알고리즘(Defect Cell Extraction for TFT-LCD System)은 영상의 에지부분에서 존재할 수 있는 샘플링에러(sampling error) 보정을 위해 명암 형태학적 처리(gray-scale morphological processing)를 사용하여 Rmax와 Rmin 영상을 생성한다. For example, in a TFT-LCD manufacturing process, a TFT-LCD defect detection algorithm (Defect Cell Extraction for TFT-LCD System) that automatically detects a defect position and size on the surface of an LCD display and detects a defect, Rmax and Rmin images are generated using gray-scale morphological processing to correct for sampling errors that may exist in the image.

정상 이미지(기준 영상)와 측정 이미지(검사 영상)가 흑백영상이면 D(x,y)도 흑백영상이고, 기준영상과 검사영상이 칼라영상이면 D(x,y)도 칼라 영상이다. 이러한 D(x,y) 영상에서 결함이 있는 부분은 비교적 큰 값을 가지게 되고, 결함이 없는 부분은 0에 가까운 값을 가지게 된다.If the normal image (reference image) and the measured image (test image) are monochrome images, D (x, y) is also a monochrome image. If the reference image and the test image are color images, D (x, y) is also a color image. In this D (x, y) image, the defective portion has a relatively large value, and the defective portion has a value close to zero.

- 영상 특징 패턴을 이용한 기준점 찾기 - Find reference point using image feature pattern

블록 정합 알고리즘(block matching algorithm)은 검사할 영상이 주어졌을 때 미리 등록된 LCD 디바이스의 특징 템플리트(template) 영상(검사할 영상 내에서 찾고자 하는 특징점을 포함한 블록패턴)을 이용하여 검사할 영상 내부에 있는 유사한 영상패턴을 찾아낼 수 있다. 블록정합 기준 함수 중에서 대표적인 블록정합 기준치 함수로는 MAD(Mean Absolute Difference), MSE(Mean Square Error) 등이 있다. MAD와 MSE를 사용하지 않고 이진영상에 사용할 수 있는 강인한 외곽선 정합 기준치(robust shape matching criterion, AND 연산)를 사용할 수 있다. MAD와 MSE는 그레이 영상에 적용되는 비교 기준치이지만, AND 기준치를 적용하기 위해 먼저 모든 영상을 이진화(binarization)하여 결함을 검출한다.A block matching algorithm is a method that uses a feature template image (a block pattern including a feature point to be searched in an image to be inspected), which is registered in advance, when the image to be inspected is given, Similar image patterns can be found. Among the block matching reference functions, typical block matching reference value functions include Mean Absolute Difference (MAD) and Mean Square Error (MSE). Robust shape matching criterion (AND operation) can be used for binary images without using MAD and MSE. MAD and MSE are comparative reference values applied to gray images, but in order to apply the AND reference value, all images are binarized to detect defects.

에지검출을 위해 각각 Laplacian 에지검출기와 Sobel 에지검출기에 대한 실험결과 영상에서 Sobel 연산자가 Laplacian 에지검출기 보다는 에지강도와 상관없이 노이즈가 적음을 알 수 있다.Experimental results for Laplacian edge detector and Sobel edge detector for edge detection, respectively, show that the Sobel operator has less noise than the Laplacian edge detector, regardless of the edge strength.

비전 검사 시스템은 영상처리 알고리즘은 기본적으로 Gray 영상을 가지고 처리하나, 최근 Color 영상에서 지폐 감별 또는 유리조각 색상 선 별과 같은 정밀한 영상 감별에 HSV 모델을 응용한 다양한 알고리즘이 연구되고 있다. 일 실시예에서는 Gray, RGB 영상의 각 Plane(R, G, B)뿐 아니라 HSV 영상의 각 Plane(H, S, V, HS)을 선택할 수 있다. 비전 검사의 정확도를 높이기 위해 Otsu의 임계값 결정법[(그레이 변환, 필터링, 히스토그램, 히스토그램 평활화, 임계치 적용 클러스터링/이진화, 모폴로지 연산, 레이블링, 자동정렬, 특징 투출, 매칭 검사)을 응용한 Gray Scale Auto Selection 기능은 영상처리시에 Gray 영상에서 디스플레이 표면 결함을 검출한다. In the vision inspection system, image processing algorithm basically processes with gray image. Recently, various algorithms applying HSV model to fine image discrimination such as banknote discrimination or glass piece color line star are studied. In one embodiment, each Plane (H, S, V, HS) of an HSV image as well as each Plane (R, G, B) of an RGB image can be selected. In order to increase the accuracy of the vision check, Gray Scale Auto, which applies Otsu's threshold determination method [(gray conversion, filtering, histogram, histogram smoothing, threshold applied clustering / binarization, morphology operation, labeling, automatic sorting, feature output, Selection function detects display surface defects in gray image during image processing.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진자가 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 또는 변형하여 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood that various modifications and changes may be made without departing from the scope of the present invention.

Claims (7)

외면 케이스가 하우징되는 기구부, 상기 기구부의 정면에는 2대의 컴퓨터와 모니터, 하단에 키보드 마우스를 구비하며, 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 고해상도 멀티 카메라가 구비된 카메라부와, 카메라부 하단에 설치된 광학 조명부와, 카메라부와 광학조명부 하단에 위치되며 피검사체가 XY-스테이지에 놓이는 검사 스테이지와, 상기 검사 스테이지가 놓이는 베이스와, 비전 검사 장비 좌우를 지지하는 프레임, XYZ 위치 이동을 제어하는 스테이지 유닛 이송 모듈을 포함하며,
상기 카메라부는 고정된 지지대에 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라가 카메라 인터페이스를 통해 각각 하나의 카메라가 각각 하나의 PC에 연결되고, 각각의 PC는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 메인 서버 컴퓨터에 연결되며, 상기 메인 서버 컴퓨터는 네트워크 허브를 통해 LAN과 TCP/IP를 통해 엔코더/분배기와 연결되며, 상기 엔코더/분배기는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라에 연결되며,
상기 카메라부는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라들을 구비하며, 각각의 카메라는 제품 표면 결함의 정밀 측정을 위해 일반 CCD 카메라보다 100배 정도 향상된 고해상도 10~100㎛(pixel size)의 정밀 측정이 가능한 TDI 카메라를 사용하며,
상기 기구부는 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓는 피검사체 이송 로봇을 더 포함하며, 상기 기구부는 공장 자동화 공정에서 생산 라인의 컨베이어 벨트로 이송된 피검사체, 또는 피검사체 이송 로봇의 로더(loader)에 의해 검사 스테이지(XY 스테이지)의 놓인 제품의 ID를 제품에 부착된 DPM 코드, 또는 1D 또는 2D 코드를 판독하여 컴퓨터로 검출된 제품ID를 전송하는 ID 리더기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
A camera unit having a high-resolution multi-camera having a line scan camera or an area scan camera on a fixed support base, a camera unit having a display unit, An optical illumination unit provided at the lower end of the camera unit; a test stage positioned at the lower end of the camera unit and the optical illumination unit and placed on the XY-stage; a base supporting the inspection stage; A stage unit transfer module for controlling the stage unit transfer module,
The camera unit is connected to a single PC via a camera interface, and each PC is connected to a LAN via a network hub and a TCP / IP And the main server computer is connected to an encoder / distributor through a LAN and TCP / IP through a network hub, and the encoder / distributor is connected to a multi-camera constituting a line scan camera or an area scan camera Connected,
The camera unit includes multi-cameras constituting a line scan camera or an area scan camera. Each camera has a high-resolution 10 to 100 μm pixel size It uses the TDI camera which can measure,
Wherein the mechanical part further comprises a subject transfer robot for placing an inspection stage (XY stage) by a loader, wherein the mechanical part is an object to be inspected transferred to a conveyor belt of a production line in a factory automation process, And an ID reader that reads the DPM code attached to the product or the ID of the product placed on the inspection stage (XY stage) by the loader or the ID reader that reads the 1D or 2D code and transmits the product ID detected by the computer Multi-optic module vision inspection system.
제1항에 있어서,
상기 라인 스캔 카메라와 상기 에어리어 스캔 카메라와 PC를 연결하는 카메라 인터페이스는 기가비트 이더넷(GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, 카메라 링크, USB 3.0를 사용하는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
The method according to claim 1,
Wherein the camera interface for connecting the line scan camera and the area scan camera to the PC uses Gigabit Ethernet (GigE), IEEE 1394a, IEEE 1394b, Camera Link, and USB 3.0.
제1항에 있어서,
상기 카메라부는 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 구성하는 멀티 카메라들을 구비하며, 각각의 카메라는 정밀 측정이 요구되지 않는 경우, 상기 TDI 카메라 보다 해상도가 낮은 일반 CCD 카메라, 또는 CMOS 이미지 센서(CIS, CMOS Image Sensor)를 사용되는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The camera unit may include a multi-camera constituting a line scan camera or an area scan camera, and each camera may be a general CCD camera with a lower resolution than the TDI camera or a CMOS image sensor (CIS, CMOS An image sensor) is used for the vision inspection system.
제1항에 있어서,
상기 스테이지 유닛 이송 모듈은
X, Y, Z1, Z2, Z3 축의 리니어 모터를 사용하여 Line Scan 비전 검사 시 속도 오차에 의한 영상 오류를 최소화하며, Y축은 유효 스트로크 길이가 1400mm이며, 검사 대상체를 광학 카메라가 촬영할 수 있게 검사부로 이송하는 로더(loader)를 구비하는 리니어 로봇을 구비하고, 리니어 모터의 최대 400 mm/s의 이송 속도로 검사하며, 온도 등 외부 환경 요인에 따른 변형을 줄이기 위해 이송부 프레임을 스틸 소재가 아닌 석재를 사용하는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The stage unit transfer module
It minimizes image errors due to velocity error during line scan vision inspection using linear motors of X, Y, Z1, Z2 and Z3 axes. Effective stroke length of Y axis is 1400mm. And a loader. The linear motor is inspected at a conveying speed of up to 400 mm / s. In order to reduce deformation due to external environmental factors such as temperature, the conveyance frame is made of a non-steel stone Wherein the multi-optical module vision inspection system comprises:
제4항에 있어서,
상기 스테이지 유닛 이송 모듈은
리니어 모터에 의해 X축 방향으로 라인 스캔 카메라가 이동하고, 리니어 모터에 의해 Y축 방향으로 검사 스테이지의 위치 이동, Z1, Z2, Z3축 상하 방향으로 카메라부가 이동되는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
5. The method of claim 4,
The stage unit transfer module
The line scan camera is moved in the X-axis direction by the linear motor, the position of the inspection stage is moved in the Y-axis direction by the linear motor, and the camera section is moved in the vertical direction of the Z1, Z2 and Z3 axes. Inspection system.
제5항에 있어서,
상기 리니어 모터는 제어 컴퓨터에 연동된 모터 구동부에 의해 작동되며, 모터의 속도와 이동 위치를 제어하기 위해 PID 제어를 사용하는 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
6. The method of claim 5,
Wherein the linear motor is operated by a motor driver interlocked with a control computer and uses PID control to control the speed and movement position of the motor.
제1항에 있어서,
상기 기구부는 검사 대상체의 특성에 따라 검사 조건을 유동적으로 변경할 수 있는 광학 모듈을 구비하며, 최대 9대까지 필요한 대수만큼 종류별 라인 스캔 카메라 또는 에어리어 스캔 카메라를 장착할 수 있으며, 카메라 상하좌우 이동이 가능하고, 검사 대상체의 크기는 최대 폭 400 mm까지 가능하도록 설계된 것을 특징으로 하는 멀티 광학 모듈 비전 검사 시스템.
The method according to claim 1,
The mechanical unit is provided with an optical module capable of flexibly changing the inspection conditions according to the characteristics of the object to be inspected. It can mount a line scan camera or an area scan camera as many as necessary up to a maximum of nine units, and can move the camera up and down and left and right And the size of the object to be inspected is designed to be up to a maximum width of 400 mm.
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