KR20170007755A - Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for forming resist pattern, and process for producing printed wiring board - Google Patents
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Abstract
(A)성분: 바인더 폴리머와, (B)성분: 광중합성 화합물과, (C)성분: 광중합 개시제와, (D)성분: 〔-(C4H8O)n-: n은 2 이상의 수〕를 구조단위로서 가지고, (A)성분, (B)성분 및 (C)성분으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 일부 또는 전부에 상당해도 되는 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물을 함유하고, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가가 120mgKOH/g 미만인, 감광성 수지 조성물.(C 4 H 8 O) n -: n is a number of not less than 2, and the number of the repeating units is not less than 2, As a structural unit, and a polytetramethylene oxide compound which may be a part or all of at least one selected from the group consisting of the component (A), the component (B) and the component (C), and the photosensitive resin composition Is less than 120 mgKOH / g.
Description
본 발명은, 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element, a method for forming a resist pattern, and a method for producing a printed wiring board.
종래, 프린트 배선판의 제조 분야에 있어서, 에칭 처리 또는 도금처리 등에 사용되는 레지스트 재료로서 감광성 수지 조성물, 및 감광성 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 감광성 수지층과 지지체와 보호층을 가지는 감광성 엘리먼트가 널리 사용되고 있다. Background Art [0002] Conventionally, in the field of production of printed wiring boards, photosensitive resin compositions, photosensitive resin layers obtained by using photosensitive resin compositions, and photosensitive elements having a support and a protective layer have been widely used as resist materials used for etching treatment or plating treatment.
프린트 배선판은, 상기 감광성 엘리먼트를 회로 형성용 기판 위에 라미네이트 하고, 상기 감광성 수지층을 패턴 형상으로 노광한 후, 미노광부를 현상액으로 제거하여 레지스트 패턴을 형성하고, 에칭 처리 또는 도금처리를 실시하여 기판 위에 회로를 형성한 후, 노광부인 경화 부분을 기판 위로부터 박리하여 제거하는 방법에 의해 제조되고 있다.The printed wiring board is formed by laminating the photosensitive element on a circuit formation substrate, exposing the photosensitive resin layer in a pattern shape, removing the unexposed portion with a developer to form a resist pattern, and performing an etching treatment or a plating treatment, And then removing the cured portion, which is an exposed portion, from the substrate and removing it.
상기 현상액으로서는, 환경성 및 안전성의 관점에서, 탄산나트륨 수용액, 탄산수소나트륨 수용액 등의 알칼리 현상액이 주류가 되어 있다. 감광성 수지층의 미노광 부분은, 이들 현상액에 의한 현상 및 수세(水洗)의 스프레이 압력에 의해, 기판에서 제거된다. 따라서, 감광성 수지 조성물에는, 노광 후, 현상 및 수세의 스프레이 압력에 의하여 파손되지 않는, 뛰어난 텐트 신뢰성(텐팅성)을 가지는 경화막(레지스트 패턴)을 형성 가능할 것이 요구된다.As the developer, an alkaline developer such as an aqueous solution of sodium carbonate and an aqueous solution of sodium hydrogencarbonate is the mainstream from the viewpoint of environmental safety and safety. The unexposed portions of the photosensitive resin layer are removed from the substrate by development with these developers and spray pressure of water washing. Therefore, it is required that the photosensitive resin composition is capable of forming a cured film (resist pattern) having excellent tent reliability (tentability), which is not broken by the spray pressure after development, development and washing.
뛰어난 텐트 신뢰성을 가지기 위해서는 감광성 수지 조성물로부터 형성되는 경화막의 유연성을 높이는 것이 효과적이다. 그러나, 종래의 친수성이 높은 재료를 사용하여, 경화막의 유연성을 높이면, 경화막의 내알칼리성 저하에 의한 해상성 저하, 에칭 내성 저하에 의한 에칭 접힘이 발생하는 문제가 있었다. 예를 들면, 일본국 특허공개공보 소61-228007호 및 일본국 특허공개공보 제2013-83785호에 기재된 감광성 수지 조성물을 사용한 경우에도 감광성 수지 조성물의 산가가 적정하지 않은 점, 광중합성 화합물의 분자량이 적정하지 않은 점 등의 이유로, 해상성, 에칭 내성 및 텐트 신뢰성에 개선의 여지가 있었다.In order to have excellent tent reliability, it is effective to enhance the flexibility of the cured film formed from the photosensitive resin composition. However, when the flexibility of the cured film is increased by using a conventional material having high hydrophilicity, there has been a problem that degradation in resolution due to decrease in alkali resistance of the cured film and etching collapse due to deterioration in etching resistance have occurred. For example, even when the photosensitive resin composition described in JP-A-61-228007 and JP-A-2013-83785 is used, the acid value of the photosensitive resin composition is not appropriate, the molecular weight of the photopolymerizable compound There has been room for improvement in the resolution, etching resistance, and tent reliability for reasons such as not being appropriate.
또한, 최근에는 마스크를 필요로 하지 않고, CAD(Computer-aided design)로 제작한 패턴을 레이저광에 의해 직접 묘화하는 방법으로서, LDI(Laser Direct Imaging) 방식에 대한 대응이 강하게 요구되고 있다. 그러나, 스루풋의 관점에서, 보다 적은 노광량에서의 사용이 요구되는 LDI 방식에 사용되는 레지스트 재료에는, 저노광량 및 저경화도에서의 내알칼리성·에칭 내성이 요구되기 때문에 강직한 골격의 재료가 사용된다. 이 때문에, 경화막의 유연성이 필요한 텐트 신뢰성에는 불리하며, LDI 방식으로 사용되는 레지스트로서 고(高)스루풋, 고해상성, 에칭 내성, 및 고텐트 신뢰성을 겸비하는 레지스트는 지금까지 개발되지 않았다. 예를 들면, 일본국 특허공개공보 제2006-234995호, 일본국 특허공개공보 제2007-122028호, 국제공개 제2008/078483호, 일본국 특허공개공보 제2009-69465호 및 국제공개 제2010/103918호에 기재된 감광성 수지 조성물을 사용한 경우에도, 얻어지는 레지스트의 해상성, 텐트 신뢰성 및 에칭 내성 중 어느 하나에 개선의 여지가 있었다.In recent years, there has been a strong demand for a laser direct imaging (LDI) method as a method of directly drawing a pattern made by CAD (Computer-aided design) with laser light without requiring a mask. However, from the viewpoint of throughput, since a resist material used for the LDI method which requires use at a lower exposure dose requires an alkali resistance and an etching resistance at a low exposure dose and a low curing degree, a material having a rigid skeleton is used. For this reason, a resist which is disadvantageous to tent reliability which requires the flexibility of a cured film, and which has high throughput, high resolution, etching resistance, and high tent reliability as a resist used in the LDI system has not been developed so far. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-234995, Japanese Laid-Open Patent Application No. 2007-122028, International Publication No. 2008/078483, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2009-69465, 103918, there was room for improvement in either of the resolution of the obtained resist, the reliability of the tent, and the etching resistance.
그래서 본 발명은, 저노광량에서도 레지스트 패턴을 형성하는 것이 가능하고, 형성되는 경화막의 텐트 신뢰성 및 에칭 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다. 또한, 상기 감광성 수지 조성물을 사용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is therefore an object of the present invention to provide a photosensitive resin composition which is capable of forming a resist pattern even at a low exposure dose and is excellent in tent reliability and etching resistance of a cured film to be formed. It is another object of the present invention to provide a photosensitive element using the photosensitive resin composition, a method of forming a resist pattern, and a method of manufacturing a printed wiring board.
상기 과제를 해결하기 위한 구체적 수단에는, 이하의 실시형태가 포함된다. Specific means for solving the above-mentioned problems include the following embodiments.
<1>(A)성분: 바인더 폴리머와, (B)성분: 광중합성 화합물과, (C)성분: 광중합 개시제와, (D)성분: 〔-(C4H8O)n-: n은 2 이상의 수〕를 구조단위로서 가지고, (A)성분, (B)성분 및 (C)성분으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 일부 또는 전부에 상당해도 되는 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물을 함유하고, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가가 120mgKOH/g 미만인, 감광성 수지 조성물.A photopolymerization initiator and a component (D): [- (C 4 H 8 O) n -: n) ( 1 ) 2 or more] as a structural unit and a polytetramethylene oxide compound which may be equivalent to at least one kind of at least one member selected from the group consisting of the component (A), the component (B) and the component (C) And the acid value of the nonvolatile fraction of the photosensitive resin composition is less than 120 mgKOH / g.
<2>상기 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 중량 평균 분자량이 1000 이상인, <1>에 기재된 감광성 수지 조성물.≪ 2 > The photosensitive resin composition according to < 1 >, wherein the polytetramethylene oxide compound has a weight average molecular weight of 1000 or more.
<3>상기 (B)성분의 일부 또는 전부가 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물인, <1> 또는 <2>에 기재된 감광성 수지 조성물.<3> The photosensitive resin composition according to <1> or <2>, wherein a part or the whole of the component (B) is a polytetramethylene oxide compound.
<4>상기 (B)성분의 총량 중의 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 함유율이 20질량%∼50질량%인, <3>에 기재된 감광성 수지 조성물.<4> The photosensitive resin composition according to <3>, wherein the content of the polytetramethylene oxide compound in the total amount of the component (B) is 20% by mass to 50% by mass.
<5>상기 (B)성분의 일부 또는 전부인 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트인, <3> 또는 <4>에 기재된 감광성 수지 조성물.<5> The photosensitive resin composition according to <3> or <4>, wherein the polytetramethylene oxide compound which is part or all of the component (B) is polytetramethylene glycol di (meth) acrylate.
<6>상기 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트가 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트인, <5>에 기재된 감광성 수지 조성물.<6> The photosensitive resin composition according to <5>, wherein the polytetramethylene glycol di (meth) acrylate is polytetramethylene glycol dimethacrylate.
<7>지지체와, <1>∼<6> 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물을 사용하여 상기 지지체 위에 형성되는 감광성 수지층,A photosensitive resin layer formed on the support using the photosensitive resin composition according to any one of <1> to <6>
을 가지는 감광성 엘리먼트..
<8><1>∼<6> 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물 또는 <7>에 기재된 감광성 엘리먼트를 사용하여, 감광성 수지층을 기판 위에 형성하는 감광성 수지층 형성 공정과, 상기 감광성 수지층의 적어도 일부의 영역에 활성 광선을 조사하여, 상기 영역을 경화시키는 노광 공정과, 상기 감광성 수지층의 상기 영역 이외의 미노광 부분을 상기 기판으로부터 제거하는 현상 공정을 가지는 레지스트 패턴의 형성 방법.≪ 8 > A photosensitive resin composition comprising the steps of: forming a photosensitive resin layer on a substrate using the photosensitive resin composition described in any one of < 1 > to < 6 & An exposure step of irradiating at least a part of the region of the photosensitive resin layer with an actinic ray to cure the region and a developing step of removing an unexposed portion other than the region of the photosensitive resin layer from the substrate.
<9><8>에 기재된 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판을 에칭 또는 도금하는 공정을 포함하는, 프린트 배선판의 제조 방법.<9> A method for manufacturing a printed wiring board, comprising a step of etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method described in <8>.
본 발명에 의하면, 저노광량에서도 레지스트 패턴을 형성할 수 있어, 형성되는 경화막의 텐트 신뢰성 및 에칭 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물을 제공하는 것이 가능해진다. 또한, 상기 감광성 수지 조성물을 사용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것이 가능해진다.According to the present invention, a resist pattern can be formed even at a low exposure dose, and it is possible to provide a photosensitive resin composition excellent in tent reliability and etching resistance of a cured film to be formed. It is also possible to provide a photosensitive element using the photosensitive resin composition, a method of forming a resist pattern, and a method of manufacturing a printed wiring board.
[도 1] 본 발명의 감광성 엘리먼트의 일실시 형태를 나타내는 단면도이다.
[도 2] 본 발명의 감광성 엘리먼트를 사용하는 다층 프린트 배선 기판의 제조 방법의 일례를 나타내는 공정도이다.
[도 3] 텐트 신뢰성의 평가에 사용하는 구멍 파괴수 측정용 기판의 상면도이다1 is a cross-sectional view showing an embodiment of a photosensitive element of the present invention.
2 is a process diagram showing an example of a method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the photosensitive element of the present invention.
3 is a top view of a substrate for measuring the number of hole breakages used for evaluating tent reliability
이하, 필요에 따라서 도면을 참조하면서, 본 발명을 실시하기 위한 형태에 관하여 상세하게 설명한다. 단, 본 발명은 이하의 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 도면 중, 동일 요소에는 동일 부호를 부여하는 것으로 하며, 중복되는 설명은 생략한다. 또한, 도면의 치수 비율은 도시의 비율에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings as necessary. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. In addition, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the ratios of the cities.
본 명세서에 있어서의 "(메타)아크릴산"이란 "아크릴산" 및 "메타크릴산"의 적어도 한쪽을 의미하고, "(메타)아크릴레이트"란 "아크릴레이트" 및 그것에 대응하는 "메타크릴레이트"의 적어도 한쪽을 의미하고, "(메타)아크릴로일기"란 "아크릴로일기" 및 "메타크릴로일기"의 적어도 한쪽을 의미한다. "폴리테트라메틸렌옥사이드"란,〔-(C4H8O)n-: n은 2 이상의 수〕로 표시되는 구조단위를 의미한다. 구조단위수는, 대응하는 구조단위가, 분자 중에 어느 정도 부가되어 있는지를 나타내는 것이다. 따라서, 단일의 분자에 관해서는 정수값을 나타내지만, 복수종의 분자의 중합체로서는 평균값인 유리수를 나타낸다. "불휘발분"이란, 수분, 후술하는 유기용제 등의 휘발하는 물질 이외의 조성물 중의 성분을 의미한다. 여기서, 휘발하는 물질이란, 비점이 대기압하에서 155℃ 이하인 물질인 것을 의미한다. "(A)성분의 총량" 및 "(B)성분의 총량"은, 불휘발분만의 총량을 의미한다.Refers to at least one of "acrylic acid" and "methacrylic acid", and "(meth) acrylate" means "acrylate" and the corresponding "methacrylate" (Meth) acryloyl group "means at least one of" acryloyl group "and" methacryloyl group ". "Poly (tetramethylene oxide)" means a structural unit represented by [- (C 4 H 8 O) n -: n is 2 or more). The number of the structural unit indicates the degree to which the corresponding structural unit is added to the molecule. Therefore, although a single molecule is represented by an integer value, it represents a rational number which is an average value for a polymer of a plurality of kinds of molecules. The term "nonvolatile matter" means a component in a composition other than a volatile substance such as moisture and an organic solvent to be described later. Here, the volatile substance means a substance having a boiling point of 155 DEG C or lower at atmospheric pressure. The "total amount of components (A)" and "the total amount of components (B)" refer to the total amount of non-volatile components.
본 명세서에 있어서 "공정"이라는 용어는, 독립된 공정뿐만 아니라, 다른 공정과 명확하게 구별할 수 없는 경우여도 그 공정의 소기의 목적이 달성되면, 본 용어에 포함된다. 또는 "∼"를 사용해서 나타낸 수치 범위는, "∼"의 전후에 기재되는 수치를 각각 최소값 및 최대값으로서 포함하는 범위를 나타낸다. 또한 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 조성물 중에 각 성분에 해당하는 물질이 복수 존재하는 경우, 특별히 미리 언급하지 않는 한, 조성물 중에 존재하는 해당 복수 물질의 합계량을 의미한다. 또한, 본 명세서 중에 단계적으로 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 어느 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 다른 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값으로 치환하여도 된다. 또한, 본 명세서 중에 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 그 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 실시예에 나타나 있는 값으로 치환하여도 된다. "층"이라는 용어는, 평면도로서 관찰했을 때에, 전면에 형성되어 있는 형상의 구성에 더하여, 일부에 형성되어 있는 형상의 구성도 포함 된다. "적층"이라는 용어는, 층을 겹쳐 쌓는 것을 나타내며, 2 이상의 층이 결합되어 있어도 되고, 2 이상의 층이 착탈 가능해도 된다.In this specification, the term " process "is included in this term, not only in the independent process but also in the case where the desired purpose of the process is achieved even if it can not be clearly distinguished from other processes. Or "~" indicates a range including numerical values before and after "~ " as a minimum value and a maximum value, respectively. The content of each component in the composition means the total amount of the plural substances present in the composition unless a plurality of substances corresponding to each component are present in the composition. In the numerical range described stepwise in this specification, the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of any step may be replaced with the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of another step. In the numerical range described in this specification, the upper limit value or the lower limit value of the numerical range may be replaced with the value shown in the embodiment. The term "layer" includes the configuration of a part formed in a part in addition to the configuration of a shape formed on the whole surface when viewed as a plan view. The term "laminate" refers to stacking layers, wherein two or more layers may be bonded, or two or more layers may be removable.
<감광성 수지 조성물><Photosensitive resin composition>
본 실시 형태의 감광성 수지 조성물은, (A)성분: 바인더 폴리머와, (B)성분: 광중합성 화합물과, (C)성분: 광중합 개시제와, (D)성분: 폴리테트라메틸렌옥사이드〔-(C4H8O)n-: n은 2 이상의 수〕를 구조단위로서 가지고, (A)성분, (B)성분 및 (C)성분으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 일부 또는 전부에 상당해도 되는 화합물을 함유하고, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가가 120mgKOH/g 미만이다. 상기 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라 그 밖의 성분을 더 포함해도 된다.The photosensitive resin composition of the present embodiment is a photosensitive resin composition comprising a component (A): a binder polymer, a component (B): a photopolymerizable compound, a component (C): a photopolymerization initiator, and a component (D) 4 H 8 O) n -: n is a number of at least 2] as a structural unit, and may be a part or all of at least one member selected from the group consisting of the component (A), the component (B) , And the acid value of the nonvolatile fraction of the photosensitive resin composition is less than 120 mgKOH / g. The photosensitive resin composition may further contain other components as necessary.
감광성 수지 조성물이 (D)성분으로서 폴리테트라메틸렌옥사이드를 구조단위로서 가지는 화합물(이하, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이라고도 한다)을 함유하고, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가가 120mgKOH/g 미만임으로써, 저노광량에서도 레지스트 패턴을 형성하는 것이 가능하고, 형성되는 경화막의 텐트 신뢰성 및 에칭 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물로 할 수 있다. 그 이유에 관해서, 본 발명자들은 이하와 같이 추측한다.The photosensitive resin composition contains a compound having polytetramethylene oxide as a structural unit (hereinafter also referred to as a polytetramethylene oxide compound) as the component (D), and the acid value of the nonvolatile content of the photosensitive resin composition is less than 120 mgKOH / g, A resist pattern can be formed even at a low exposure dose and a photosensitive resin composition having excellent tent reliability and etching resistance of the cured film to be formed can be obtained. Regarding the reason, the present inventors speculate as follows.
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은, 유연성이 높은 폴리테트라메틸렌옥사이드를 구조단위로서 가지고 있다. 그 때문에, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물을 사용함으로써, 형성되는 레지스트 패턴에 적당한 유연성이 부여된다. 이 때문에, 레지스트 패턴 내부에 응력 집중이 일어나기 어렵고, 텐트 신뢰성이 향상된다고 생각된다. 또한, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 가지고 있는 폴리테트라메틸렌옥사이드의 구조단위는, 소수성이 높다고 할 수 있다. 그 때문에, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물을 사용함으로써, 형성되는 레지스트 패턴의 내산성이 향상되고, 에칭 내성이 뛰어난 것이 된다고 생각된다.The polytetramethylene oxide compound has polytetramethylene oxide having high flexibility as a structural unit. Therefore, by using a photosensitive resin composition containing a polytetramethylene oxide compound, a suitable flexibility is imparted to the resist pattern to be formed. Therefore, it is considered that stress concentration hardly occurs in the resist pattern and tent reliability is improved. In addition, the structural unit of the polytetramethylene oxide contained in the polytetramethylene oxide compound may be said to have a high hydrophobicity. Therefore, by using a photosensitive resin composition containing a polytetramethylene oxide compound, it is considered that the resist pattern to be formed is improved in acid resistance and excellent in etching resistance.
또한, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가가 120mgKOH/g 미만임으로써, 현상액 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물이 되고, 형성되는 경화막의 텐트 신뢰성 및 에칭 내성이 뛰어난 것이 된다고 생각된다. 또한, 해상도 및 밀착성에도 뛰어난 레지스트 패턴을 형성할 수 있는 경향이 있다.Further, it is considered that the photosensitive resin composition is excellent in developer resistance because the acid value of the non-volatile component of the photosensitive resin composition is less than 120 mgKOH / g, and the tent reliability and etching resistance of the cured film to be formed are excellent. In addition, there is a tendency to form a resist pattern excellent in resolution and adhesion.
감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가는, 이하의 방법에 의해 측정할 수 있다. 우선, 감광성 수지 조성물 1g를 정밀히 칭량한 후, 그 감광성 수지 조성물에 아세톤을 30g 첨가하여, 감광성 수지 조성물을 균일하게 용해한다. 이어서, 지시약인 페놀프탈레인을 그 감광성 수지 조성물의 용액에 적당량 첨가하고, 0.1N의 KOH 수용액을 사용하여 적정(適定)한다. 그리고, 적정 결과로부터 하기 식(1)에 의해 산가를 산출한다(식 중, Vf는 페놀프탈레인의 적정량(mL)을 나타내고, Wp는 (A)성분으로서의 감광성 수지 조성물의 용액의 중량(g)을 나타내고, I는 (A)성분으로서의 감광성 수지 조성물의 용액의 불휘발분의 비율(질량%)을 나타낸다.).The acid value of the nonvolatile content of the photosensitive resin composition can be measured by the following method. First, 1 g of the photosensitive resin composition is precisely weighed, and 30 g of acetone is added to the photosensitive resin composition to uniformly dissolve the photosensitive resin composition. Then, an appropriate amount of phenolphthalein as an indicator is added to the solution of the photosensitive resin composition, and the resultant is appropriately adjusted with a 0.1N KOH aqueous solution. From the titration result, the acid value is calculated by the following formula (1): Vf represents the appropriate amount (mL) of phenolphthalein, Wp represents the weight (g) of the solution of the photosensitive resin composition as the component , And I represents the ratio (mass%) of the nonvolatile content of the solution of the photosensitive resin composition as the component (A)).
산가(mgKOH/g)=10×Vf×56.1/(Wp×1) (1)Acid value (mgKOH / g) = 10 x Vf x 56.1 / (Wp x 1) (1)
레지스트 패턴의 텐트 신뢰성 및 에칭 내성을 보다 향상시키는 관점에서, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 산가는 110mgKOH/g 이하인 것이 바람직하고, 100mgKOH/g 이하로 하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 레지스트 패턴의 현상성의 관점에서는 40mgKOH/g 이상인 것이 바람직하다. 또한, 박리 시간의 관점에서는 80mgKOH/g 이상인 것이 보다 바람직하고, 90mgKOH/g 이상인 것이 더욱 바람직하다.From the viewpoint of further improving the tent reliability and etching resistance of the resist pattern, the acid value of the nonvolatile content of the photosensitive resin composition is preferably 110 mgKOH / g or less, more preferably 100 mgKOH / g or less. From the viewpoint of developability of the resist pattern, it is preferably 40 mgKOH / g or more. From the viewpoint of the peeling time, it is more preferably 80 mgKOH / g or more, and still more preferably 90 mgKOH / g or more.
이하에서는, 각 성분에 관하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, each component will be described in detail.
〔(A)성분: 바인더 폴리머〕[Component (A): binder polymer]
감광성 수지 조성물은, (A)성분으로서 바인더 폴리머 중 적어도 1종을 함유한다. 상기 바인더 폴리머의 구조는 특히 제한되지 않고, 통상 사용되는 것으로부터 선택할 수 있다. 바인더 폴리머는, 1종을 단독으로 사용해도, 2종 이상을 조합하여도 된다. 바인더 폴리머로서는, 예를 들면, 하기의 구조단위(A1), 구조단위(A2), 구조단위(A3) 등을 포함하는 바인더 폴리머를 들 수 있다.The photosensitive resin composition contains at least one binder polymer as the component (A). The structure of the binder polymer is not particularly limited and can be selected from commonly used ones. The binder polymer may be used singly or in combination of two or more kinds. Examples of the binder polymer include a binder polymer including the following structural unit (A1), structural unit (A2), structural unit (A3), and the like.
·구조단위(A1)Structural unit (A1)
바인더 폴리머 중 적어도 1종은, 스티렌, 스티렌 유도체, 벤질(메타)아크릴레이트 및 벤질(메타)아크릴레이트 유도체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종에서 유래하는 구조단위(A1)를 포함하는 것이 바람직하다. 이에 의해, (A)바인더 폴리머의 유연성을 유지하면서, 경화물로 했을 때의 밀착성을 향상시킬 수 있다.It is preferable that at least one kind of the binder polymer includes a structural unit (A1) derived from at least one kind selected from the group consisting of styrene, styrene derivatives, benzyl (meth) acrylate and benzyl (meth) . This makes it possible to improve the adhesion of the binder polymer to the cured product while maintaining the flexibility of the binder polymer (A).
경화막의 밀착성 및 박리 특성의 쌍방을 양호하게 하는 관점에서는, 바인더 폴리머에 있어서의 구조단위(A1)의 함유율은, (A)성분의 총량 중, 10질량%∼60질량%인 것이 바람직하고, 13질량%∼40질량%인 것이 보다 바람직하고, 15질량%∼25질량%인 것이 더욱 바람직하다. 구조단위(A1)의 함유율이 10질량% 이상이면, 경화막의 밀착성이 향상되는 경향이 있고, 60질량% 이하이면, 박리편이 커지는 것을 억제하고, 박리 시간이 길어지는 것을 억제할 수 있어, 텐트 신뢰성이 향상되는 경향이 있다.The content of the structural unit (A1) in the binder polymer is preferably 10% by mass to 60% by mass in the total amount of the component (A), more preferably in the range of 13% by mass More preferably 40% by mass to 40% by mass, and still more preferably 15% by mass to 25% by mass. When the content of the structural unit (A1) is 10 mass% or more, the adhesion of the cured film tends to be improved. When the content of the structural unit (A1) is 60 mass% or less, it is possible to suppress the increase of the peeling- Is likely to be improved.
스티렌 유도체의 구체적인 예로서는, α-메틸스티렌, 비닐톨루엔, p-클로로스티렌 등의 α-위(位) 또는 방향족환에 있어서 치환되어 있는 중합 가능한 스티렌 유도체를 들 수 있다.Specific examples of the styrene derivatives include polymerizable styrene derivatives substituted in the? -Position or aromatic ring such as? -Methylstyrene, vinyltoluene, p-chlorostyrene and the like.
벤질(메타)아크릴레이트 유도체의 구체적인 예로서는, 4-메틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-에틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-tert-부틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-메톡시벤질(메타)아크릴레이트, 4-에톡시벤질(메타)아크릴레이트, 4-히드록시벤질(메타)아크릴레이트, 4-클로로벤질(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Specific examples of benzyl (meth) acrylate derivatives include 4-methylbenzyl (meth) acrylate, 4-ethylbenzyl (meth) acrylate, 4-tert- butylbenzyl (meth) acrylate, 4-methoxybenzyl Acrylate, 4-ethoxybenzyl (meth) acrylate, 4-hydroxybenzyl (meth) acrylate and 4-chlorobenzyl (meth) acrylate.
·구조단위(A2)Structural unit (A2)
바인더 폴리머 중 적어도 1종은, 경화막의 텐트 신뢰성의 관점에서, (메타)아크릴산알킬에서 유래하는 구조단위(A2)를 포함하는 것이 바람직하다. (메타)아크릴산알킬에 있어서의 알킬기는, 직쇄상 또는 분기상 중 어느 하나이어도 되고, 무치환이어도, 치환기를 가지고 있어도 된다. 알킬기의 탄소수는 1∼20인 것이 바람직하고, 탄소수 5∼20인 것이 보다 바람직하고, 탄소수가 8∼14인 것이 더욱 바람직하다. (메타)아크릴산알킬로서는, 하기 일반식(I)로 표시되는 화합물을 들 수 있다.At least one of the binder polymers preferably contains a structural unit (A2) derived from alkyl (meth) acrylate from the viewpoint of tent reliability of the cured film. The alkyl group in the alkyl (meth) acrylate may be either straight-chain or branched, and may be unsubstituted or may have a substituent. The alkyl group preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 5 to 20 carbon atoms, and more preferably 8 to 14 carbon atoms. Examples of the alkyl (meth) acrylate include a compound represented by the following general formula (I).
CH2=C(R3)-COOR4 (I)CH 2 = C (R 3 ) -COOR 4 (I)
일반식(I) 중, R3은 수소원자 또는 메틸기를 나타내고, R4는 탄소수 1∼20의 알킬기를 나타낸다.In the general formula (I), R 3 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 4 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms.
일반식(I) 중의 R4로 나타나는 탄소수 1∼20의 알킬기로서는, 예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 도데실기 및 이들의 구조 이성체를 들 수 있다. R4로 나타나는 탄소수 1∼20의 알킬기는, 무치환이어도, 치환기를 가지고 있어도 된다. 상기 치환기로서는, 수산기, 에폭시기, 할로겐기 등을 들 수 있다. R4로 나타나는 탄소수 1∼20의 알킬기가 치환기를 가지는 경우, 치환기의 수 및 치환 위치는 특히 제한되지 않는다.Examples of the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms represented by R 4 in the general formula (I) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, An undecyl group, a dodecyl group, and a structural isomer thereof. The alkyl group having 1 to 20 carbon atoms represented by R 4 may be unsubstituted or may have a substituent. Examples of the substituent include a hydroxyl group, an epoxy group, and a halogen group. When the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms represented by R 4 has a substituent, the number of substituents and the substitution position are not particularly limited.
경화막의 텐트 신뢰성을 보다 향상시키는 관점에서, 일반식(I) 중의 R4로 나타나는 알킬기는 탄소수 5∼20인 것이 보다 바람직하고, 탄소수가 8∼14인 것이 더욱 바람직하다.From the viewpoint of further improving the tent reliability of the cured film, the alkyl group represented by R 4 in the general formula (I) is more preferably 5 to 20 carbon atoms, and more preferably 8 to 14 carbon atoms.
일반식(I)로 표시되는 화합물로서는, (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산n-프로필, (메타)아크릴산이소프로필, (메타)아크릴산n-부틸, (메타)아크릴산tert-부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산옥틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실, (메타)아크릴산노닐, (메타)아크릴산데실, (메타)아크릴산운데실, (메타)아크릴산도데실 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the compound represented by the general formula (I) include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n- butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (Meth) acrylate, undecyl (meth) acrylate, and dodecyl (meth) acrylate. These may be used alone or in combination of two or more.
바인더 폴리머가 구조단위(A2)를 포함하는 경우, (A)성분의 총량 중에 있어서의 구조단위(A2)의 함유율은, 밀착성, 해상성 및 현상성의 관점에서, 1질량%∼70질량%인 것이 바람직하고, 30질량%∼65질량%인 것이 보다 바람직하고, 45질량%∼60질량%인 것이 더욱 바람직하다. 구조단위(A2)의 함유율을 1질량% 이상으로 함으로써 경화막의 텐트 신뢰성이 보다 향상되고, 80질량% 이하로 함으로써 경화막의 해상성 및 밀착성이 더욱 향상된다.When the binder polymer contains the structural unit (A2), the content of the structural unit (A2) in the total amount of the component (A) is preferably from 1% by mass to 70% by mass from the viewpoint of adhesion, More preferably 30% by mass to 65% by mass, and still more preferably 45% by mass to 60% by mass. When the content of the structural unit (A2) is 1 mass% or more, the tent reliability of the cured film is further improved. When the content is 80 mass% or less, the resolution and adhesion of the cured film are further improved.
·구조단위(A3)Structural unit (A3)
바인더 폴리머 중 적어도 1종은, 알칼리 현상성의 관점에서, 카복시기를 가지는 중합성 단량체에서 유래하는 구조단위(A3)를 포함하는 것이 바람직하다. 구조단위(A3)를 포함하는 바인더 폴리머는, 예를 들면, 카복시기를 가지는 중합성 단량체와, 그 밖의 중합성 단량체를 라디칼 중합시킴으로써 제조할 수 있다.At least one of the binder polymers preferably contains a structural unit (A3) derived from a polymerizable monomer having a carboxy group from the viewpoint of alkali developability. The binder polymer containing the structural unit (A3) can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer having a carboxy group and other polymerizable monomers.
카복시기를 가지는 중합성 단량체로서는, (메타)아크릴산; α-브로모아크릴산, α-크롤아크릴산, β-푸릴(메타)아크릴산, β-스티릴(메타)아크릴산 등의 (메타)아크릴산 유도체; 말레산; 말레산모노메틸, 말레산모노에틸, 말레산모노이소프로필 등의 말레산 유도체; 푸말산, 계피산, α-시아노계피산, 이타콘산, 크로톤산, 프로피올산 등을 들 수 있다. 감도 향상의 관점에서는, (메타)아크릴산이 바람직하고, 메타크릴산이 보다 바람직하다.Examples of the polymerizable monomer having a carboxy group include (meth) acrylic acid; (meth) acrylic acid derivatives such as? -bromoacrylic acid,? -croton acrylic acid,? -furyl (meth) acrylic acid and? -styryl (meth) acrylic acid; Maleic acid; Maleic acid derivatives such as monomethyl maleate, monoethyl maleate, and monoisopropyl maleate; Fumaric acid, cinnamic acid,? -Cyano cinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, and propiolic acid. From the viewpoint of improving the sensitivity, (meth) acrylic acid is preferable, and methacrylic acid is more preferable.
바인더 폴리머가 구조단위(A3)를 포함하는 경우, 알칼리 현상성과 현상액 내성의 밸런스의 관점에서, (A)성분의 총량 중에 있어서의 구조단위(A3)의 함유율은 12질량%∼50질량%인 것이 바람직하고, 알칼리 현상성이 보다 뛰어난 점에서, 15질량%∼35질량%인 것이 보다 바람직하고, 15질량%∼30질량%인 것이 더욱 바람직하다.When the binder polymer contains the structural unit (A3), the content ratio of the structural unit (A3) in the total amount of the component (A) is preferably from 12% by mass to 50% by mass from the viewpoint of balance between alkali development and developer resistance More preferably 15% by mass to 35% by mass, and still more preferably 15% by mass to 30% by mass from the viewpoint of better alkali developability.
·그 밖의 구조단위· Other structural units
바인더 폴리머는, 구조단위(A1)∼(A3) 이외 그 밖의 구조단위를 포함하고 있어도 된다. 그 밖의 구조단위를 구성하는 중합성 단량체로서는, 예를 들면, 디아세톤아크릴아미드 등의 아크릴아미드; 아크릴로니트릴; 비닐-n-부틸에테르 등의 비닐알코올의 에테르류; 말레산 무수물 등의 유기산 유도체를 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The binder polymer may contain other structural units besides the structural units (A1) to (A3). As the polymerizable monomer constituting the other structural unit, for example, acrylamide such as diacetone acrylamide; Acrylonitrile; Ethers of vinyl alcohol such as vinyl-n-butyl ether; And organic acid derivatives such as maleic anhydride. These may be used alone or in combination of two or more.
(A)성분의 총량 중에 있어서의 그 밖의 구조단위의 함유율은, 경화막의 밀착성, 해상성 및 현상성의 관점에서, 10질량% 이하인 것이 바람직하고, 5질량% 이하인 것이 보다 바람직하고, 실질적으로 함유하지 않는(예를 들면, 0.5질량% 이하인) 것이 더욱 바람직하다. 즉, (A)성분의 총량 중에 있어서의 구조단위(A1), (A2) 및 (A3)의 합계의 함유율은, 90질량% 이상인 것이 바람직하고, 95질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 실질적으로 100질량%인(예를 들면, 99.5질량% 이상인) 것이 더욱 바람직하다.The content of other structural units in the total amount of the component (A) is preferably 10% by mass or less, more preferably 5% by mass or less, and still more preferably 5% by mass or less from the viewpoints of adhesiveness, (For example, not more than 0.5% by mass). That is, the total content of the structural units (A1), (A2) and (A3) in the total amount of the component (A) is preferably 90 mass% or more, more preferably 95 mass% or more, (For example, 99.5 mass% or more) is more preferable.
·바인더 폴리머의 모든 특성· All properties of the binder polymer
바인더 폴리머는, 바인더 폴리머를 구성하는 각각의 구조단위에 대응하는 단량체를 중합시킴으로써 얻을 수 있다. 중합 방법으로서는, 라디칼 중합을 들 수 있다. 바인더 폴리머가 2종 이상의 단량체를 중합하여 얻어지는 공중합체인 경우, 공중합체에 있어서의 각 구조단위는, 이른바 랜덤 공중합체와 같이 공중합체내에 랜덤으로 포함되어 있어도 되고, 블록 공중합체와 같이 동일한 종류의 단량체가 연속하여 형성되는 구조단위를 포함하는 공중합체이어도 된다. 그리고, 각각의 구조단위는, 단일종이어도 복수종이어도 된다.The binder polymer can be obtained by polymerizing a monomer corresponding to each structural unit constituting the binder polymer. As the polymerization method, radical polymerization can be exemplified. When the binder polymer is a copolymer obtained by polymerizing two or more kinds of monomers, the respective structural units in the copolymer may be randomly contained in the copolymer as in the so-called random copolymer, May be a copolymer containing a structural unit formed continuously. Each structure unit may be a single species or plural species.
바인더 폴리머의 중량 평균 분자량은, 내현상액성 및 알칼리 현상성의 밸런스의 관점에서, 20,000∼300,000인 것이 바람직하고, 30,000∼200,000인 것이 보다 바람직하고, 40,000∼100,000인 것이 더욱 바람직하다. 본 명세서에 있어서의 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션크로마토그래피법에 의해, 실시예에 기재한 것과 동일한 측정 조건에서 측정하고, 표준 폴리스티렌을 사용하여 작성한 검량선에 의해 환산한 값이다.The weight average molecular weight of the binder polymer is preferably from 20,000 to 300,000, more preferably from 30,000 to 200,000, and even more preferably from 40,000 to 100,000 from the viewpoint of balance between developing resistance and alkali developability. The weight average molecular weight in the present specification is a value measured by the gel permeation chromatography method under the same measurement conditions as those described in the examples and converted by a calibration curve prepared using standard polystyrene.
바인더 폴리머의 산가는, 60mgKOH/g∼300mgKOH/g인 것이 바람직하고, 120mgKOH/g∼200mgKOH/g인 것이 보다 바람직하고, 150mgKOH/g∼170mgKOH/g인 것이 더욱 바람직하다.The acid value of the binder polymer is preferably 60 mgKOH / g to 300 mgKOH / g, more preferably 120 mgKOH / g to 200 mgKOH / g, and even more preferably 150 mgKOH / g to 170 mgKOH / g.
(A)성분에 포함되는 바인더 폴리머는 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 2종류 이상의 바인더 폴리머의 조합의 예로서는, 공중합 성분의 종류, 비율 등이 상이한 2종류 이상의 바인더 폴리머, 중량 평균 분자량이 상이한 2종류 이상의 바인더 폴리머, 분산도가 상이한 2종류 이상의 바인더 폴리머의 조합 등을 들 수 있다. 또한, 바인더 폴리머의 분산도란, 중량 평균 분자량(Mw)을 수 평균 분자량(Mn)으로 나누어 얻어지는 값이다.The binder polymer contained in component (A) may be used singly or in combination of two or more. Examples of combinations of two or more kinds of binder polymers include two or more kinds of binder polymers different in kind and ratio of copolymerization components, two or more kinds of binder polymers having different weight average molecular weights, and combinations of two or more kinds of binder polymers having different degrees of dispersion. . The dispersion degree of the binder polymer is a value obtained by dividing the weight average molecular weight (Mw) by the number average molecular weight (Mn).
(A)성분은, 구조단위(A1), (A2) 또는 (A3) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 바인더 폴리머와, 구조단위(A1), (A2) 또는 (A3) 중 어느 하나도 포함하지 않는 다른 바인더 폴리머와의 조합이어도 된다. 다른 바인더 폴리머로서는, 알칼리 수용액에 가용이며 피막 형성 가능한 것이면 특히 제한은 없다. 예를 들면, 아크릴계 수지(단, 구조단위(A1)(A2)(A3)를 포함하지 않는 것), 에폭시계 수지, 아미드계 수지, 아미드에폭시계 수지, 알키드계 수지, 및 페놀계 수지를 들 수 있다. 그 중에서도, 알칼리 현상성의 관점에서, 아크릴계 수지가 바람직하다. 이들은 1종 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The component (A) preferably contains a binder polymer containing at least any one of the structural units (A1), (A2) and (A3) and a binder polymer containing at least one of the structural units (A1), Or a combination with a binder polymer. The other binder polymer is not particularly limited as long as it is soluble in an aqueous alkali solution and can form a film. For example, an epoxy resin, an amide resin, an amide epoxy resin, an alkyd resin, and a phenol resin may be used in combination with an acrylic resin (excluding the structural unit (A1) (A2) . Among them, an acrylic resin is preferable from the viewpoint of alkali developability. These may be used alone or in combination of two or more.
(A)성분이 구조단위(A1), (A2) 또는 (A3) 중 어느 하나도 포함하지 않는 다른 바인더 폴리머를 포함하는 경우, (A)성분의 총량에 있어서의 구조단위(A1)의 함유율이 10질량%∼60질량%인 것이 바람직하고, 13질량%∼40질량%인 것이 보다 바람직하고, 15질량%∼25질량%인 것이 더욱 바람직하다. (A)성분이 다른 바인더 폴리머를 포함하는 경우, (A)성분의 총량에 있어서의 다른 바인더 폴리머의 함유율은 10질량% 이하인 것이 바람직하고, 5질량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 다른 바인더 폴리머는 실질적으로 포함되지 않는(예를 들면, 0.5질량% 이하인) 것이 더욱 바람직하고, 다른 바인더 폴리머는 전혀 포함되지 않는 것이 특히 바람직하다.When the component (A) contains another binder polymer not containing any one of the structural units (A1), (A2) or (A3), the content of the structural unit (A1) in the total amount of the component (A) By mass to 60% by mass, more preferably from 13% by mass to 40% by mass, still more preferably from 15% by mass to 25% by mass. When the component (A) contains another binder polymer, the content of the other binder polymer in the total amount of the component (A) is preferably 10 mass% or less, and more preferably 5 mass% or less. It is more preferable that the other binder polymer is substantially not contained (for example, 0.5 mass% or less), and it is particularly preferable that no other binder polymer is contained at all.
감광성 수지 조성물 중의 (A)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부 중에 30질량부∼70질량부로 하는 것이 바람직하고, 40질량부∼65질량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 50질량부∼60질량부로 하는 것이 더욱 바람직하다. (A)성분의 함유량이 이 범위이면, 감광성 수지 조성물의 도막성 및 경화막의 강도가 보다 양호해지는 경향이 있다.The content of the component (A) in the photosensitive resin composition is preferably 30 parts by mass to 70 parts by mass, more preferably 40 parts by mass to 65 parts by mass, in 100 parts by mass of the total of the components (A) and (B) , More preferably from 50 parts by mass to 60 parts by mass. When the content of the component (A) is within this range, the film properties of the photosensitive resin composition and the strength of the cured film tend to be better.
〔(B)성분: 광중합성 화합물〕[Component (B): photopolymerizable compound]
상기 감광성 수지 조성물은, (B)성분으로서 광중합성 화합물의 적어도 1종을 포함한다. (B)성분인 광중합성 화합물은, 특히 제한되지 않고, 통상 사용되는 광중합성 화합물로부터 적절히 선택하여 사용할 수 있다. 광중합성 화합물로서는, 광중합 가능한 불포화 이중 결합을 가지는 화합물을 들 수 있다. 광중합 가능한 불포화 이중 결합으로서는, (메타)아크릴로일기에 포함되는 이중 결합을 들 수 있다.The photosensitive resin composition contains at least one kind of photopolymerizable compound as the component (B). The photopolymerizable compound as the component (B) is not particularly limited, and can be appropriately selected from commonly used photopolymerizable compounds. As the photopolymerizable compound, a compound having a photopolymerizable unsaturated double bond can be mentioned. Examples of the photopolymerizable unsaturated double bond include a double bond contained in the (meth) acryloyl group.
구체적으로, 광중합성 화합물로서는, 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리에틸렌폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트 등의 폴리알킬렌글리콜디(메타)아크릴레이트; 트리메틸올프로판 트리(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트 등의 다관능 (메타)아크릴레이트; 2,2-비스(4-((메타) 아크릴옥시폴리에틸렌옥시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에틸렌옥시폴리프로필렌옥시)페닐)프로판 등의 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물; γ-클로로-β-하이드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸렌-o-프탈레이트, β-하이드록시에틸-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸렌-o-프탈레이트, β-하이드록시프로필-β'-(메타)아크릴로일옥시에틸렌-o-프탈레이트 등의 프탈산 유도체; (메타)아크릴산 알킬; 등을 들 수 있다.Specific examples of the photopolymerizable compound include polyalkylene glycol di (meth) acrylates such as polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate and polyethylene polypropylene glycol di (meth) acrylate; Polyfunctional (meth) acrylates such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate and dipentaerythritol hexa (meth) acrylate; Bisphenol A based (meth) acrylates such as 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxypolyethyleneoxy) phenyl) propane and 2,2- Methacrylate compounds; (meth) acryloyloxyethylene-o-phthalate,? -hydroxyethyl-? '- (meth) acryloyloxyethylene-o- Phthalic acid derivatives such as hydroxypropyl -? '- (meth) acryloyloxyethylene-o-phthalate; Alkyl (meth) acrylates; And the like.
이들 중에서도, 밀착성 및 해상성의 관점에서, 광중합성 화합물로서는, 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물 및 폴리알킬렌글리콜폴리(메타)아크릴레이트로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하고, 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물의 적어도 1종 및 폴리알킬렌글리콜폴리(메타)아크릴레이트의 적어도 1종을 병용하는 것이 보다 바람직하고, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에틸렌옥시)페닐)프로판 중 적어도 1종 및 폴리에틸렌글리콜폴리(메타)아크릴레이트 중 적어도 1종을 병용하는 것이 더욱 바람직하다.Among them, from the viewpoint of adhesion and resolution, the photopolymerizable compound preferably includes at least one member selected from the group consisting of a bisphenol A (meth) acrylate compound and a polyalkylene glycol poly (meth) acrylate (Meth) acrylate, at least one of bisphenol A-based (meth) acrylate compounds and at least one of polyalkylene glycol poly (meth) acrylate, (Oxypropyleneoxy) phenyl) propane and at least one of polyethylene glycol poly (meth) acrylate are preferably used in combination.
2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리에틸렌옥시)페닐)프로판으로서는, 예를 들면, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시디에틸렌옥시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시펜타에틸렌옥시)페닐)프로판, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시펜타데카에틸렌옥시)페닐)프로판 등을 들 수 있다.Examples of the 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxypolyethyleneoxy) phenyl) propane include 2,2-bis (4- (meth) acryloxydiethyleneoxy) Bis (4 - ((meth) acryloxypentaethyleneoxy) phenyl) propane, and 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxypentadecaethyleneoxy) phenyl) propane.
2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에틸렌옥시)페닐)프로판은, BPE-500(신나카무라가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명)으로서 상업적으로 입수 가능하고, 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타데카에틸렌옥시)페닐) 프로판은, BPE-1300(신나카무라가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명)으로서 상업적으로 입수 가능하다. 이들은 1종을 단독으로 또는 2종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethyleneoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-500 (manufactured by Shin Nakamura Kagaku Kogyo K.K.), and 2,2-bis (4- (methacryloxypentadecethyleneoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-1300 (product name of Shin-Nakamura Kagaku Kogyo K.K.). These may be used singly or in combination of two or more.
(B)성분인 광중합성 화합물을 복수 조합하여 사용하는 경우, (B)성분의 총량 중에 있어서의 광중합 가능한 불포화 이중 결합을 1분자 중에 2개 이상 가지는 화합물의 함유율이 75질량% 이상인 것이 바람직하다. (B)성분의 총량 중에 있어서의 광중합 가능한 불포화 이중 결합을 1분자 중에 2개 이상 가지는 화합물의 함유율이 75질량% 이상임으로써, 경화막의 텐트 신뢰성, 해상성 및 밀착성이 보다 향상되는 경향이 있다.When a plurality of photopolymerizable compounds as the component (B) are used in combination, the content of the compound having two or more photopolymerizable unsaturated double bonds in the total amount of the component (B) is preferably 75% by mass or more. And the content of the compound having two or more photopolymerizable unsaturated double bonds in the total amount of the component (B) in the molecule is 75 mass% or more, the tent reliability, resolution and adhesion of the cured film tend to be further improved.
상기 감광성 수지 조성물에 있어서의 (B)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부 중에 20질량부∼70질량부로 하는 것이 바람직하다. 경화막의 텐트 신뢰성 및 해상성을 보다 향상시키는 관점에서, (B)성분의 함유량은 (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부 중에, 20질량부 이상인 것이 바람직하고, 25질량부 이상인 것이 보다 바람직하고, 30질량부 이상인 것이 더욱 바람직하다. 감광성 수지 조성물에 양호한 필름성을 부여하는 점 및 경화 후의 레지스트의 형상을 양호하게 하는 관점에서, (B)성분의 함유량은, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부 중에 70질량부 이하인 것이 바람직하고, 60질량부 이하인 것이 보다 바람직하고, 55질량부 이하인 것이 더욱 바람직하고, 50질량부 이하인 것이 특히 바람직하다.The content of the component (B) in the photosensitive resin composition is preferably 20 parts by mass to 70 parts by mass in 100 parts by mass of the total of the components (A) and (B). The content of the component (B) is preferably 20 parts by mass or more, more preferably 25 parts by mass or more in 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B) from the viewpoint of further improving the tent reliability and resolution of the cured film More preferably 30 parts by mass or more. The content of the component (B) is preferably 70 parts by mass or less, more preferably 70 parts by mass or less, in 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B), from the viewpoint of imparting good film properties to the photosensitive resin composition and improving the shape of the resist after curing. More preferably 60 parts by mass or less, even more preferably 55 parts by mass or less, particularly preferably 50 parts by mass or less.
〔(C)성분: 광중합 개시제〕[Component (C): photopolymerization initiator]
상기 감광성 수지 조성물은, (C)성분으로서 광중합 개시제 중 적어도 1종을 포함한다. 광중합 개시제로서는 특히 제한 없이, 통상 사용되는 광중합 개시제로부터 적절히 선택하여 사용할 수 있다. 그 중에서도 (C)성분은 1분자 중에 아크리디닐기를 1개 또는 2개 가지는 아크리딘 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 즉, (C)성분은, 아크리디닐기를 2개 가지는 아크리딘 화합물(이하, "(C1)화합물"이라고도 한다) 및 아크리디닐기를 1개 가지는 아크리딘 화합물(이하, "(C2)화합물"이라고도 한다)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 화합물 중 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하다.The photosensitive resin composition contains at least one photopolymerization initiator as the component (C). The photopolymerization initiator is not particularly limited and can be appropriately selected from photopolymerization initiators usually used. Among them, the component (C) preferably contains an acridine compound having one or two acridinyl groups in one molecule. That is, the component (C) is an acridine compound having two acridinyl groups (hereinafter also referred to as "(C1) compound") and an acridine compound having one acridinyl group (hereinafter referred to as " Quot; compound "). The term " compound "
(C1)화합물로서는, 예를 들면, 하기 일반식(II)으로 표시되는 아크리딘 화합물을 들 수 있다.As the compound (C1), for example, an acridine compound represented by the following general formula (II) can be mentioned.
식(II) 중, R3는 탄소수 2∼20의 알킬렌기, 탄소수 2∼20의 옥사디알킬렌기 또는 탄소수 2∼20의 티오디알킬렌기를 나타낸다. 감광성 수지 조성물이 나타내는 효과를 보다 확실히 얻는 관점에서, R3는 탄소수 2∼20의 알킬렌기인 것이 바람직하고, 탄소수 4∼14의 알킬렌기인 것이 보다 바람직하다.In the formula (II), R 3 represents an alkylene group having 2 to 20 carbon atoms, an oxydialkylene group having 2 to 20 carbon atoms, or a thioalkylene group having 2 to 20 carbon atoms. From the viewpoint of more surely obtaining the effect of the photosensitive resin composition, R 3 is preferably an alkylene group having 2 to 20 carbon atoms, more preferably an alkylene group having 4 to 14 carbon atoms.
상기 일반식(II)으로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 1,2-디(9-아크리디닐)에탄, 1,3-디(9-아크리디닐)프로판, 1,4-디(9-아크리디닐)부탄, 1,5-디(9-아크리디닐)펜탄, 1,6-디(9-아크리디닐)헥산, 1,7-디(9-아크리디닐)헵탄, 1,8-디(9-아크리디닐)옥탄, 1,9-디(9-아크리디닐)노난, 1,10-디(9-아크리디닐)데칸, 1,11-디(9-아크리디닐)운데칸, 1,12-디(9-아크리디닐)도데칸, 1,14-디(9-아크리디닐)테트라데칸, 1,16-디(9-아크리디닐)헥사데칸, 1,18-디(9-아크리디닐)옥타데칸, 1,20-디(9-아크리디닐)에이코산 등의 디(9-아크리디닐)알칸; 1,3-디(9-아크리디닐)-2-옥사프로판; 1,5-디(9-아크리디닐)-3-옥사펜탄 등의 디(9-아크리디닐)옥사알칸; 1,3-디(9-아크리디닐)-2-티아프로판; 1,5-디(9-아크리디닐)-3-티아펜탄 등의 디(9-아크리디닐)티오알칸; 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 또는 2종류 이상을 조합하여 사용된다.Examples of the compound represented by the general formula (II) include 1,2-di (9-acridinyl) ethane, 1,3-di (9-acridinyl) propane, (9-acridinyl) pentane, 1,6-di (9-acridinyl) hexane, 1,7-di (9-acridinyl) octane, 1,9-di (9-acridinyl) decane, 1,10- Dodecane, 1,14-di (9-acridinyl) tetradecane, 1,16-di (9-acridinyl) hexa Di (9-acridinyl) alkanes such as decane, 1,18-di (9-acridinyl) octadecane, and 1,20-di (9-acridinyl) eicosane; 1,3-di (9-acridinyl) -2-oxapropane; Di (9-acridinyl) oxaalkane such as 1,5-di (9-acridinyl) -3-oxapentane; 1,3-di (9-acridinyl) -2-thiopropane; Di (9-acridinyl) thioalkanes such as 1,5-di (9-acridinyl) -3-thiapentane; And the like. These may be used alone or in combination of two or more.
광감도 및 해상성을 보다 양호하게 하는 관점에서, (C1)화합물로서, 식(II) 중의 R3가 헵틸렌기인 아크리딘 화합물(예를 들면, 가부시키가이샤ADEKA제, 제품명 "N-1717")을 포함하는 것이 바람직하다.N-1717 "(trade name, product of ADEKA, manufactured by Kabushiki Kaisha) as a compound (C1) wherein R 3 in the formula (II) is a heptylene group, from the viewpoint of improving the photosensitivity and resolution, ).
감광성 수지 조성물이, 광중합 개시제로서 (C1)화합물을 포함하는 경우, (C1)화합물의 함유량은, 감도, 해상성 및 밀착성의 관점에서, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부에 대해서, 예를 들면, 0.1질량부∼10질량부, 0.5질량부∼5질량부, 또는, 1질량부∼3질량부이어도 되고, 0.1질량부∼1.4질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.3질량부∼1.2질량부인 것이 더욱 바람직하고, 0.4질량부∼0.7질량부인 것이 특히 바람직하고, 0.5질량부∼0.6질량부인 것이 특히 바람직하다. (C1)화합물의 함유량이 0.1질량부 이상이면 보다 양호한 감도, 해상성 또는 밀착성이 얻어지는 경향이 있다. 1.4질량부 이하이면 보다 양호한 레지스트 형상이 얻어지는 경향이 있다.When the photosensitive resin composition contains the (C1) compound as the photopolymerization initiator, the content of the compound (C1) is preferably from 100 parts by mass to 100 parts by mass in total of the component (A) and the component (B) from the viewpoints of sensitivity, More preferably 0.1 part by mass to 1.4 parts by mass, and most preferably 0.3 part by mass to 1.4 parts by mass, for example, 0.1 part by mass to 10 parts by mass, 0.5 part by mass to 5 parts by mass, or 1 part by mass to 3 parts by mass, More preferably from 0.4 part by mass to 0.7 part by mass, particularly preferably from 0.5 part by mass to 0.6 part by mass. When the content of the compound (C1) is at least 0.1 part by mass, better sensitivity, resolution or adhesion tends to be obtained. When the amount is 1.4 parts by mass or less, a better resist shape tends to be obtained.
(C2)화합물로서는, 예를 들면, 하기 일반식(III)으로 표시되는 아크리딘 화합물을 들 수 있다.As the compound (C2), for example, an acridine compound represented by the following general formula (III) can be mentioned.
식(III) 중, R4는 할로겐 원자, 아미노기, 카복실기, 탄소수 1∼6의 알킬기, 탄소수 1∼6의 알콕시기 또는 탄소수 1∼6의 알킬아미노기를 나타낸다. m은 0∼5의 정수를 나타낸다. m이 2 이상인 경우, 복수의 R4는 동일해도 상이해도 된다.In formula (III), R 4 represents a halogen atom, an amino group, a carboxyl group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or an alkylamino group having 1 to 6 carbon atoms. m represents an integer of 0 to 5; When m is 2 or more, a plurality of R 4 may be the same or different.
상기 일반식(III)으로 표시되는 아크리딘 화합물로서는, 예를 들면, 9-페닐아크리딘, 9-(p-메틸페닐)아크리딘, 9-(m-메틸페닐)아크리딘, 9-(p-클로로페닐)아크리딘, 9-(m-클로로페닐)아크리딘, 9-아미노아크리딘, 9-디메틸아미노아크리딘, 9-디에틸아미노아크리딘 및 9-펜틸아미노아크리딘을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 또는 2종류 이상을 조합하여 사용된다.Examples of the acridine compound represented by the general formula (III) include 9-phenylacridine, 9- (p-methylphenyl) acridine, 9- (m-chlorophenyl) acridine, 9-aminoacridine, 9-dimethylaminoacridine, Noacridine. These may be used alone or in combination of two or more.
상기 감광성 수지 조성물이, 광중합 개시제로서 (C2)화합물을 포함하는 경우, (C2)화합물의 함유량은, 감도, 해상성 및 밀착성의 관점에서, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부에 대해서, 예를 들면, 0.1질량부∼10질량부, 0.5질량부∼5질량부, 또는, 1질량부∼3질량부이어도 되고, 0.1질량부∼1.4질량부인 것이 바람직하고, 0.3질량부∼1.2질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.4질량부∼0.7질량부인 것이 더욱 바람직하고, 0.5질량부∼0.6질량부인 것이 특히 바람직하다. (C2)화합물의 함유량이 0.1질량부 이상이면 보다 양호한 감도, 해상성 또는 밀착성이 얻어지는 경향이 있다. 1.4질량부 이하이면 보다 양호한 레지스트 형상이 얻어지는 경향이 있다.When the photosensitive resin composition contains a (C2) compound as a photopolymerization initiator, the content of the (C2) compound is preferably 100 parts by mass or less per 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B) from the viewpoints of sensitivity, 0.1 mass part to 10 mass part, 0.5 mass part to 5 mass part, or 1 mass part to 3 mass part, preferably 0.1 mass part to 1.4 mass part, and preferably 0.3 mass part to 1.4 mass part, More preferably 0.4 part by mass to 0.7 part by mass, and particularly preferably 0.5 part by mass to 0.6 part by mass. When the content of the compound (C2) is at least 0.1 part by mass, better sensitivity, resolution or adhesiveness tends to be obtained. When the amount is 1.4 parts by mass or less, a better resist shape tends to be obtained.
상기 감광성 수지 조성물은, (C)성분으로서 상기 (C1)화합물 및 (C2)화합물 이외의 광중합 개시제를 포함하고 있어도 된다.The photosensitive resin composition may contain a photopolymerization initiator other than the (C1) compound and the (C2) compound as the component (C).
(C1)화합물 및 (C2)화합물 이외의 광중합 개시제로서는, 벤조페논, N,N'-테트라메틸-4,4'-디아미노벤조페논(미히라케톤), N,N'-테트라에틸-4,4'-디아미노벤조페논, 4-메톡시-4'-디메틸아미노벤조페논, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-몰포리노페닐)-부타논-1,2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-몰포리노프로파논-1 등의 방향족 케톤 화합물; 2-에틸안트라퀴논, 페난트렌퀴논, 2-tert-부틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-벤즈안트라퀴논, 2-페닐안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논, 2-메틸안트라퀴논, 1,4-나프토퀴논, 9,10-페난트라퀴논, 2-메틸1,4-나프토퀴논, 2,3-디메틸안트라퀴논 등의 퀴논 화합물; 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르 및 벤조인페닐에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 메틸벤조인, 에틸벤조인 등의 벤조인 화합물; 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸이량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디(메톡시페닐)이미다졸이량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸이량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸이량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸이량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸이량체; 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체; 9,10-디메톡시안트라센, 9,10-디에톡시안트라센, 9,10-디프로폭시안트라센, 9,10-디부톡시안트라센, 9,10-디펜톡시안트라센 등의 치환 안트라센 화합물; 쿠마린 화합물; 옥사졸 화합물; 피라졸린 화합물; 트리아릴아민 화합물; 등을 들 수 있다.Examples of the photopolymerization initiators other than the compounds (C1) and (C2) include benzophenone, N, N'-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Mihira ketone), N, , 4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) Aromatic ketone compounds such as 1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone-1; Diethylanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-di 2-methyl anthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenanthraquinone, 2-methyl 1,4-naphthoquinone, 2,3-dimethyl anthraquinone Quinone compounds; Benzoin ether compounds such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin phenyl ether, benzoin compounds such as benzoin, methyl benzoin and ethyl benzoin; 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o- (O-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- , 2,4,5-triarylimidazole dimer such as 5-diphenylimidazole dimer; Benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; Substituted anthracene compounds such as 9,10-dimethoxy anthracene, 9,10-diethoxy anthracene, 9,10-dipropoxyanthracene, 9,10-dibutoxyanthracene and 9,10-diphenoxy anthracene; Coumarin compounds; Oxazole compounds; Pyrazoline compounds; Triarylamine compounds; And the like.
이들 광중합 개시제는, 1종 단독으로 또는 2종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 또한, 디에틸티옥산톤과 디메틸아미노벤조산의 조합과 같이, 티옥산톤계 화합물과 3급 아민 화합물을 조합하여 광중합 개시제로 하여도 된다.These photopolymerization initiators may be used singly or in combination of two or more. Further, a thioxanthone compound and a tertiary amine compound may be combined to form a photopolymerization initiator, such as a combination of diethylthioxanthone and dimethylaminobenzoic acid.
또한, 상기 2,4,5-트리아릴이미다졸이량체는, 이량체를 구성하는 2개의 2,4,5-트리아릴이미다졸의 아릴기의 치환기가, 동일하고 대칭인 화합물이어도 되고, 서로 상이하여 비대칭인 화합물이어도 된다.The 2,4,5-triarylimidazole dimer may be a compound wherein the substituents of the aryl groups of the two 2,4,5-triarylimidazole constituting the dimer are the same and are symmetrical , Or they may be different from each other and asymmetric.
감광성 수지 조성물이, (C)성분으로서 (C1)화합물 및 (C2)화합물 이외의 광중합 개시제를 포함하는 경우, 그 함유량은, 감도 및 내부의 광경화성의 관점에서, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부에 대해서 0.01질량부∼10질량부인 것이 바람직하고, 0.1질량부∼7질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.2질량부∼5질량부인 것이 더욱 바람직하다.When the photosensitive resin composition contains a photopolymerization initiator other than the (C1) compound and the (C2) compound as the component (C), the content of the component (A) and the component (B), in terms of sensitivity and internal photocurability, Is preferably 0.01 part by mass to 10 parts by mass, more preferably 0.1 part by mass to 7 parts by mass, and most preferably 0.2 part by mass to 5 parts by mass, relative to 100 parts by mass of the total amount of the components.
(C)성분의 함유량은, 감도, 밀착성 및 내부의 광경화성의 관점에서, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부에 대해서 0.01질량부∼20질량부인 것이 바람직하고, 0.05질량부∼10질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.1질량부∼5질량부인 것이 더욱 바람직하다.The content of the component (C) is preferably 0.01 part by mass to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B) from the viewpoints of sensitivity, More preferably 10 parts by mass to 10 parts by mass, and still more preferably 0.1 parts by mass to 5 parts by mass.
상기 감광성 수지 조성물은, 감도, 밀착성 및 내부의 광경화성의 관점에서, (C)성분으로서 (C1)화합물 및 (C2)화합물로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하고, 그 함유량이 (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부에 대해서 0.1질량부∼10질량부인 것이 바람직하고, 0.5질량부∼5질량부인 것이 보다 바람직하다.The photosensitive resin composition preferably contains at least one member selected from the group consisting of a (C1) compound and a (C2) compound as the component (C) from the viewpoints of sensitivity, ) And (B) is preferably 0.1 part by mass to 10 parts by mass, more preferably 0.5 parts by mass to 5 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B).
〔(D)성분: 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물〕[Component (D): polytetramethylene oxide compound]
상기 감광성 수지 조성물은, (D)성분으로서 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물 중 적어도 1종을 포함한다. 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은, 상기 (A)성분, (B)성분 및 (C)성분으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 일부 또는 전부에 상당하고 있어도 된다. 감광성 수지 조성물에 포함되는 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은 1종뿐이어도, 구조가 상이한(예를 들면, -(C4H8O)n-에 있어서의 n이 다른 구조단위를 각각 가지는) 2종 이상의 조합이어도 된다.The photosensitive resin composition contains at least one of polytetramethylene oxide compounds as the component (D). The polytetramethylene oxide compounds may be used singly or in combination of two or more. The polytetramethylene oxide compound may correspond to a part or all of at least one kind selected from the group consisting of the component (A), the component (B) and the component (C). The polytetramethylene oxide compound contained in the photosensitive resin composition may be a single kind or a combination of two or more kinds having different structures (for example, n in the structure of - (C 4 H 8 O) n - .
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물에 있어서의 폴리테트라메틸렌옥사이드의 구조는 직쇄상인 것이 바람직하고, 하기 일반식(IV)으로 표시되는 구조단위인 것이 보다 바람직하다. 이러한 구조단위를 가짐으로써, 레지스트 패턴의 유연성이 보다 향상되고, 텐트 신뢰성이 보다 향상되는 경향이 있다.The structure of the polytetramethylene oxide in the polytetramethylene oxide compound is preferably a straight-chain structure, more preferably a structural unit represented by the following general formula (IV). By having such a structural unit, the flexibility of the resist pattern is further improved, and the tent reliability tends to be further improved.
상기 식(IV) 중, n은 2 이상의 수이다. 텐트 신뢰성 및 박리 시간이 보다 뛰어난 경화막을 얻는 관점에서는, n은 6 이상의 수인 것이 바람직하고, 10 이상의 수인 것이 보다 바람직하고, 15 이상의 수인 것이 더욱 바람직하다. n의 상한값은 특히 제한되지 않지만, 현상성, 해상성 및 밀착성이 보다 뛰어난 경화막을 얻는 관점에서는 70 이하의 수인 것이 바람직하고, 50 이하의 수인 것이 보다 바람직하고, 40 이하의 수인 것이 더욱 바람직하다.In the formula (IV), n is a number of 2 or more. From the viewpoint of obtaining a cured film having more excellent tent reliability and peeling time, n is preferably 6 or more, more preferably 10 or more, and still more preferably 15 or more. The upper limit value of n is not particularly limited, but from the viewpoint of obtaining a cured film having more excellent developability, resolution and adhesion, the number is preferably 70 or less, more preferably 50 or less, and even more preferably 40 or less.
텐트 신뢰성 및 박리 시간이 보다 뛰어난 관점에서는, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 중량 평균 분자량은 1000 이상인 것이 바람직하고, 1500 이상인 것이 보다 바람직하고, 2000 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 중량 평균 분자량은 10000 이하인 것이 바람직하고, 9000 이하인 것이 보다 바람직하고, 8000 이하인 것이 더욱 바람직하다.From the viewpoint of more excellent tent reliability and peeling time, the weight average molecular weight of the polytetramethylene oxide compound is preferably 1,000 or more, more preferably 1,500 or more, and still more preferably 2,000 or more. The weight average molecular weight of the polytetramethylene oxide compound is preferably 10,000 or less, more preferably 9000 or less, and even more preferably 8000 or less.
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 (A)성분인 바인더 폴리머에 상당하는 경우, (A)성분인 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 구체적인 예로서는, 폴리테트라메틸렌옥사이드모노(메타)아크릴레이트 또는 그 유도체에서 유래하는 구조단위를 포함하는 폴리머, 폴리테트라메틸렌옥사이드글리시딜에테르 또는 그 유도체에서 유래하는 구조단위를 포함하는 폴리머 등을 들 수 있다.When the polytetramethylene oxide compound corresponds to the binder polymer as the component (A), specific examples of the polytetramethylene oxide compound as the component (A) include a structural unit derived from polytetramethylene oxide mono (meth) acrylate or a derivative thereof A polymer containing a structural unit derived from polytetramethylene oxide glycidyl ether or a derivative thereof, and the like.
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 (B)성분인 광중합성 화합물에 상당하는 경우, (B)성분인 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 구체적인 예로서는, 2,2-비스(4-((메타)아크릴옥시폴리테트라메틸렌옥시)페닐)프로판, 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리테트라메틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 하이드록시에틸(메타)아크릴레이트와 폴리테트라메틸렌글리콜과 디이소시아네이트 화합물 또는 트리이소시아네이트 화합물의 우레탄 반응물 등을 들 수 있다.When the polytetramethylene oxide compound corresponds to the photopolymerizable compound as the component (B), specific examples of the polytetramethylene oxide compound as the component (B) include 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxypolytetramethylene (Meth) acrylate, poly (tetramethylene glycol) mono (meth) acrylate, polytetramethylene glycol di (meth) acrylate, polytetramethylene glycol mono (meth) acrylate, polytetramethylene glycol and diisocyanate compound or triisocyanate compound Urethane reactant and the like.
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 (A)성분, (B)성분 또는 (C)성분 중 어느 하나에도 상당히 하지 않는 경우, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 구체적인 예로서는 폴리테트라메틸렌글리콜, 폴리테트라메틸렌글리콜의 에스테르화물, 에테르화물 및 우레탄화물, 및 폴리테트라메틸렌글리콜의 에스테르화물, 에테르화물 및 우레탄화물의 유도체를 들 수 있다.When the polytetramethylene oxide compound is not significantly affected by any of the component (A), the component (B), and the component (C), specific examples of the polytetramethylene oxide compound include polytetramethylene glycol, esterified product of polytetramethylene glycol, Ethers and urethanes, and derivatives of esters, ethers and urethanes of polytetramethylene glycol.
폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은, 1분자 중, 폴리테트라메틸렌옥사이드 구조단위가 차지하는 비율이 50질량% 이상인 것이 바람직하고, 80%질량 이상인 것이 보다 바람직하고, 90%질량 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은 폴리에틸렌옥사이드, 폴리프로필렌옥사이드 등의 폴리테트라메틸렌옥사이드 이외의 폴리알킬렌옥사이드를 구조단위로서 가지고 있어도 된다.The proportion of the polytetramethylene oxide structural units in one molecule of the polytetramethylene oxide compound is preferably 50% by mass or more, more preferably 80% by mass or more, and even more preferably 90% by mass or more. The polytetramethylene oxide compound may also have a polyalkylene oxide other than polytetramethylene oxide such as polyethylene oxide and polypropylene oxide as a structural unit.
경화막의 해상성, 텐트 신뢰성 및 에칭 내성을 보다 향상시키는 관점에서는, (B)성분의 일부 또는 전부가 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물인 것이 바람직하다.From the viewpoint of further improving the resolution of the cured film, tent reliability and etching resistance, it is preferable that part or all of the component (B) is a polytetramethylene oxide compound.
(B)성분에 해당하는 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물로서는, 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 하이드록시에틸(메타)아크릴레이트와 폴리테트라메틸렌글리콜과 디이소시아네이트 화합물의 우레탄 반응물 등이 바람직하다.As the polytetramethylene oxide compound corresponding to component (B), polytetramethylene glycol di (meth) acrylate, urethane reaction product of hydroxyethyl (meth) acrylate, polytetramethylene glycol and diisocyanate compound, and the like are preferable.
(B)성분의 총량 중의 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 함유율은, 20질량%∼50질량%인 것이 바람직하고, 25질량%∼45질량%인 것이 보다 바람직하고, 30질량%∼40질량%인 것이 더욱 바람직하다. 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 함유율이 50질량% 이하임으로써, 경화막의 박리 시간, 해상도 및 밀착성이 보다 뛰어난 경향이 있다. 또한, 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 함유율이 20질량% 이상임으로써, 텐트 신뢰성 및 에칭 내성이 보다 뛰어난 경향이 있다.The content of the polytetramethylene oxide compound in the total amount of the component (B) is preferably from 20 mass% to 50 mass%, more preferably from 25 mass% to 45 mass%, and from 30 mass% to 40 mass% More preferable. When the content of the polytetramethylene oxide compound is 50 mass% or less, the peeling time, resolution, and adhesion of the cured film tend to be more excellent. Further, when the content of the polytetramethylene oxide compound is 20 mass% or more, tent reliability and etching resistance tend to be more excellent.
텐트 신뢰성이 보다 뛰어난 것이 되는 관점에서는, (B)성분에 해당하는 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물은 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트인 것이 바람직하고, 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트인 것이 보다 바람직하고, 중량 평균 분자량이 1000∼5000인 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트인 것 더욱 바람직하고, 중량 평균 분자량이 1800∼4000인 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트 화합물인 것이 보다 더 바람직하다.From the viewpoint that tent reliability is more excellent, the polytetramethylene oxide compound corresponding to component (B) is preferably polytetramethylene glycol di (meth) acrylate, more preferably polytetramethylene glycol dimethacrylate More preferably polytetramethylene glycol dimethacrylate having a weight average molecular weight of 1000 to 5000, and still more preferably a polytetramethylene glycol dimethacrylate compound having a weight average molecular weight of 1800 to 4000.
감광성 수지 조성물의 불휘발분의 총량에 대한, 상기 폴리테트라메틸렌옥사이드의 구조단위의 함유율은, 텐트 신뢰성 및 에칭 내성의 향상의 관점에서 4질량% 이상인 것이 바람직하고, 6질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 10질량% 이상인 것이 더욱 바람직하고, 14질량% 이상인 것이 특히 바람직하다. 또한, 해상성 향상의 관점에서는, 감광성 수지 조성물의 불휘발분의 총량에 대한, 상기 폴리테트라메틸렌옥사이드의 구조단위의 함유율은, 40질량% 이하인 것이 바람직하고, 30질량% 이하인 것이 보다 바람직하고, 20질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다.The content ratio of the structural unit of the polytetramethylene oxide with respect to the total amount of non-volatile components in the photosensitive resin composition is preferably 4% by mass or more, more preferably 6% by mass or more from the viewpoints of improvement in tent reliability and etching resistance, More preferably 10% by mass or more, and particularly preferably 14% by mass or more. From the viewpoint of improving the resolution, the content ratio of the structural unit of the polytetramethylene oxide to the total amount of the non-volatile components in the photosensitive resin composition is preferably 40% by mass or less, more preferably 30% by mass or less, By mass or less.
〔그 밖의 성분〕[Other components]
상기 감광성 수지 조성물은, 필요에 따라, 마라카이트 그린, 빅토리아퓨어 블루, 브릴리언트 그린, 메틸 바이올렛 등의 염료; 로이코크리스탈 바이오렛, 디페닐아민, 벤질아민, 트리페닐아민, 디에틸아닐린, o-클로로아닐린 등의 광발색제; 발열 색 방지제; p-톨루엔술폰아미드 등의 가소제; 안료; 충전제; 소포제; 난연제; 밀착성 부여제; 레벨링제; 박리 촉진제; 산화 방지제; 중합 금지제; 향료; 이미징제; 열가교제 등의 그 밖의 첨가제를 더 포함하고 있어도 된다.The photosensitive resin composition may contain, if necessary, dyes such as maracal green, Victoria pure blue, brilliant green, and methyl violet; Photochromic agents such as leuco crystal biotite, diphenylamine, benzylamine, triphenylamine, diethylaniline, and o-chloroaniline; Heat inhibitor; a plasticizer such as p-toluenesulfonamide; Pigments; Fillers; Defoamer; Flame retardant; An adhesion imparting agent; Leveling agents; Release promoter; Antioxidants; A polymerization inhibitor; Spices; An imaging agent; And other additives such as heat crosslinking agents.
상기 감광성 수지 조성물이 그 밖의 첨가제를 포함하는 경우, 그 함유량은 목적 등에 따라 적절히 선택할 수 있다. 예를 들면, (A)성분 및 (B)성분의 총량 100질량부 중에 대하여 각각 0.01질량부∼20질량부 정도 함유할 수 있다. 이들 첨가제는, 1종 단독으로 또는 2종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.When the photosensitive resin composition contains other additives, the content thereof may be appropriately selected depending on the purpose and the like. For example, about 0.01 to 20 parts by mass based on 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B). These additives may be used singly or in combination of two or more kinds.
상기 감광성 수지 조성물은, 유기용제의 적어도 1종을 더 포함하고 있어도 된다. 유기용제로서는, 메타놀, 에탄올 등의 알코올 용제; 아세톤, 메틸에틸케톤 등의 케톤 용제; 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 프로필렌글리콜모노메틸에테르 등의 글리콜에테르 용제; 톨루엔 등의 방향족 탄화수소 용제; N,N-디메틸포름아미드 등의 비플로톤성 극성 용제; 등을 들 수 있다. 이들 유기용제는 1종 단독으로도, 2종 이상을 병용해도 된다.The photosensitive resin composition may further include at least one organic solvent. Examples of the organic solvent include alcohol solvents such as methanol and ethanol; Ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone; Glycol ether solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve and propylene glycol monomethyl ether; Aromatic hydrocarbon solvents such as toluene; Non-protic polar solvents such as N, N-dimethylformamide; And the like. These organic solvents may be used alone or in combination of two or more.
상기 감광성 수지 조성물에 포함되는 유기용제의 함유량은 목적 등에 따라 적절히 선택할 수 있다. 예를 들면, 불휘발분이 30질량%∼60질량% 정도가 되는 용액(이하, 유기용제를 포함하는 감광성 수지 조성물을 "도포액"이라고도 한다)으로서 사용할 수 있다.The content of the organic solvent contained in the photosensitive resin composition may be appropriately selected depending on the purpose and the like. For example, a solution in which the nonvolatile content is about 30% by mass to 60% by mass (hereinafter, a photosensitive resin composition containing an organic solvent is also referred to as a "coating liquid").
상기 감광성 수지 조성물은, 후술하는 감광성 엘리먼트의 감광성 수지층의 형성에 사용할 수 있다. 즉 본 발명의 다른 실시 형태는, 상기 감광성 수지 조성물의 감광성 엘리먼트에 대한 사용이다. 또한, 상기 감광성 수지 조성물은, 후술하는 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 사용할 수 있다.The above photosensitive resin composition can be used for forming a photosensitive resin layer of a photosensitive element described later. That is, another embodiment of the present invention is the use of the photosensitive resin composition for the photosensitive element. The above-mentioned photosensitive resin composition can be used in a method of forming a resist pattern and a method of manufacturing a printed wiring board, which will be described later.
<감광성 엘리먼트><Photosensitive element>
본 발명의 감광성 엘리먼트는, 지지체와, 상기 감광성 수지 조성물을 사용하여 상기 지지체 위에 형성되는 감광성 수지층을 가진다. 상기 감광성 엘리먼트는, 필요에 따라 보호층 등의 그 밖의 층을 가지고 있어도 된다.The photosensitive element of the present invention has a support and a photosensitive resin layer formed on the support using the photosensitive resin composition. The photosensitive element may have other layers such as a protective layer, if necessary.
도 1에, 본 발명의 감광성 엘리먼트의 일실시 형태를 나타낸다. 도 1에 나타내는 감광성 엘리먼트(10)에서는, 지지체(2), 상기 감광성 수지 조성물을 사용하여 형성되는 감광성 수지층(4), 보호층(6)이 이 순서로 적층되어 있다. 감광성 엘리먼트(10)는, 예를 들면, 이하와 같이하여 얻을 수 있다. 지지체(2) 위에, 유기용제를 포함하는 상기 감광성 수지 조성물인 도포액을 도포하여 도포층을 형성하고, 이를 건조함으로써 감광성 수지층(4)을 형성한다. 이어서, 감광성 수지층(4)의 지지체(2)와는 반대측의 표면을 보호층(6)으로 피복함으로써, 지지체(2)와 지지체(2) 위에 형성된 감광성 수지층(4)과, 감광성 수지층(4) 위에 적층된 보호층(6)을 구비하는, 본 실시 형태의 감광성 엘리먼트(10)를 얻을 수 있다. 감광성 엘리먼트(10)는, 보호층(6)을 가지지 않아도 된다.Fig. 1 shows an embodiment of the photosensitive element of the present invention. In the
지지체(2)로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌 등의 내열성 및 내용제성을 가지는 중합체 필름을 사용할 수 있다.As the
지지체(2)(중합체 필름)의 두께는, 1μm∼100μm인 것이 바람직하고, 1μm∼50μm인 것이 보다 바람직하고, 1μm∼30μm인 것이 더욱 바람직하다. 지지체(2)의 두께가 1μm 이상임으로써, 지지체(2)를 감광성 수지층(4)에서 박리할 때에 지지체(2)가 파손되는 것을 억제할 수 있다. 또는 100μm 이하임으로써 해상성의 저하가 억제된다.The thickness of the support 2 (polymer film) is preferably 1 m to 100 m, more preferably 1 m to 50 m, and even more preferably 1 m to 30 m. When the thickness of the
보호층(6)으로서는, 감광성 수지층(4)에 대한 접착력이, 지지체(2)의 감광성 수지층(4)에 대한 접착력보다 작은 것이 바람직하다. 또한 저(低)피시아이 필름이 바람직하다. 여기서, "피시아이"란, 재료를 열용융하고, 혼련, 압출, 2축 연신, 캐스팅법 등에 의해 필름을 제조할 때에, 재료에 포함되는 이물(異物), 미용해물, 산화 열화물 등이 필름 중에 취입된 것을 의미한다. 즉, "저피시아이"란, 필름 중의 상기 이물 등이 적은 것을 의미한다.As the protective layer 6, it is preferable that the adhesive force to the photosensitive resin layer 4 is smaller than the adhesive force of the
구체적으로, 보호층(6)으로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌 등의 내열성 및 내용제성을 가지는 중합체 필름을 사용할 수 있다. 시판의 것으로서는, 오지제지가부시키가이샤제의 아르판 MA-410, E-200C, 신에츠필름가부시키가이샤제의 폴리프로필렌 필름, 데이진가부시키가이샤제의 PS-25 등의 PS 시리즈 등의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 등을 들 수 있다. 또한, 보호층(6)은 지지체(2)와 동일한 것이어도 된다.Specifically, as the protective layer 6, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyester such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene can be used. Examples of commercially available PS series include ARPAN MA-410, E-200C, a polypropylene film manufactured by Shin-Etsu Film Co., Ltd., and PS series such as PS-25 manufactured by Daikin Industries, Polyethylene terephthalate film, and the like. The protective layer 6 may be the same as the
보호층(6)의 두께는 1μm∼100μm인 것이 바람직하고, 1μm∼50μm인 것이 보다 바람직하고, 1μm∼30μm인 것이 더욱 바람직하다. 보호층(6)의 두께가 1μm 이상이면, 보호층(6)을 박리하면서, 감광성 수지층(4) 및 지지체(2)를 기판 위에 라미네이트 할 때, 보호층(6)이 파손되는 것을 억제할 수 있는 경향이 있다. 100μm 이하이면, 취급성과 염가성이 뛰어난 경향이 있다.The thickness of the protective layer 6 is preferably 1 m to 100 m, more preferably 1 m to 50 m, and even more preferably 1 m to 30 m. When the thickness of the protective layer 6 is 1 탆 or more, breakage of the protective layer 6 is prevented when the photosensitive resin layer 4 and the
본 실시 형태의 감광성 엘리먼트는, 구체적으로는, 예를 들면, 이하와 같이하여 제조할 수 있다. 적어도, (A)성분: 바인더 폴리머, (B)성분: 광중합성 화합물, 및 (C) 광중합 개시제를 상기 유기용제에 용해한 도포액을 준비하는 공정과, 상기 도포액을 지지체(2) 위에 도포하여 도포층을 형성하는 공정과, 상기 도포층을 건조하여 감광성 수지층을 형성하는 공정을 포함하는 제조 방법으로 제조할 수 있다.Specifically, the photosensitive element of the present embodiment can be manufactured, for example, as follows. Preparing a coating liquid comprising at least a component (A): a binder polymer, (B) a component: a photopolymerizable compound, and (C) a photopolymerization initiator dissolved in the organic solvent, and applying the coating liquid onto the support (2) A step of forming a coating layer, and a step of drying the coating layer to form a photosensitive resin layer.
상기 도포액의 지지체(2) 위로의 도포는, 롤코터, 컴마코터, 그라비아코터, 에어나이프코터, 다이코터, 바코터 등을 사용하는 공지의 방법에 의해 실시할 수 있다.The application of the coating liquid onto the
상기 도포층의 건조는, 도포층으로부터 유기용제의 적어도 일부를 제거할 수 있으면 특히 제한은 없다. 예를 들면, 70℃∼150℃에서, 5분 ∼30분간 실시하는 것이 바람직하다. 건조 후, 얻어진 감광성 수지층 중의 잔존 유기용제량은, 후의 공정에서의 유기용제의 확산을 방지하는 관점에서, 2질량% 이하로 하는 것이 바람직하다.The drying of the coating layer is not particularly limited as long as at least a part of the organic solvent can be removed from the coating layer. For example, it is preferably carried out at 70 ° C to 150 ° C for 5 minutes to 30 minutes. After drying, the amount of the residual organic solvent in the obtained photosensitive resin layer is preferably 2% by mass or less from the viewpoint of preventing the diffusion of the organic solvent in the subsequent step.
감광성 엘리먼트(10)에 있어서의 감광성 수지층(4)의 두께는, 용도에 의해 적절히 선택할 수 있고, 건조 후의 두께로 1μm∼200μm인 것이 바람직하고, 5μm∼100μm인 것이 보다 바람직하고, 10μm∼50μm인 것이 더욱 바람직하다. 건조 후의 두께가 1μm 이상임으로써, 공업적인 도공이 용이하게 되고, 200μm 이하인 경우에는, 감도 및 레지스트 저부의 광경화성을 충분히 얻을 수 있는 경향이 있다.The thickness of the photosensitive resin layer 4 in the
감광성 엘리먼트(10)는, 쿠션층, 접착층, 광흡수층, 가스 배리어층 등의 중간층 등을 더 가지고 있어도 된다. 이러한 중간층으로서는, 일본국 특허공개공보 제2006-098982호 등에 기재된 중간층을 본 발명에 있어서도 적용할 수 있다.The
얻어진 감광성 엘리먼트(10)의 형태는 특히 제한되지 않는다. 예를 들면, 시트 형상이어도 되고, 또는 권심에 롤 형상으로 권취한 형상이어도 된다. 롤 형상으로 권취하는 경우, 지지체(2)가 외측이 되도록 권취하는 것이 바람직하다. 권심의 재질로서는, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 폴리스티렌 수지, 폴리염화비닐 수지, ABS 수지(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체) 등의 플라스틱 등을 들 수 있다. 이와 같이하여 얻어진 롤 형상의 감광성 엘리먼트 롤의 단면(端面)에는, 단면 보호의 관점에서 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하고, 내(耐)엣지퓨전의 관점에서 방습 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하다. 곤포(梱包) 방법으로서는, 투습성이 작은 블랙 시트에 싸서 포장하는 것이 바람직하다.The shape of the obtained
감광성 엘리먼트(10)는, 예를 들면, 후술하는 레지스트 패턴의 형성 방법에 적합하게 사용할 수 있다.The
<레지스트 패턴의 형성 방법>≪ Method of forming resist pattern >
상기 감광성 수지 조성물을 사용하여, 기판 위에 레지스트 패턴을 형성할 수 있다. 본 실시 형태의 레지스트 패턴의 형성 방법은, (i)상기 감광성 수지 조성물을 사용하여 감광성 수지층을 기판 위에 형성하는 감광성 수지층 형성 공정과, (ii)상기 감광성 수지층의 적어도 일부의 영역에, 활성 광선을 조사하고, 상기 영역을 경화시키는 노광 공정과, (iii) 감광성 수지층의 상기 영역 이외의 미노광 부분을 기판으로부터 제거하는 현상 공정을 가진다. 상기 레지스트 패턴의 형성 방법은, 필요에 따라서 그 밖의 공정을 더 가지고 있어도 된다.Using the photosensitive resin composition, a resist pattern can be formed on a substrate. The method for forming a resist pattern according to the present embodiment includes the steps of: (i) forming a photosensitive resin layer on a substrate using the photosensitive resin composition; (ii) forming a resist pattern on at least a part of the region of the photosensitive resin layer; (Iii) a developing step of removing the unexposed portions of the photosensitive resin layer other than the above region from the substrate. The method of forming the resist pattern may further include other steps as required.
(i)감광성 수지층 형성 공정(i) Photosensitive resin layer forming step
우선, 감광성 수지 조성물을 사용하여 감광성 수지층을 기판 위에 형성한다. 기판으로서는, 절연층과 그 절연층 위에 형성된 도체층을 구비한 기판(회로 형성용 기판)을 사용할 수 있다.First, a photosensitive resin layer is formed on a substrate using a photosensitive resin composition. As the substrate, a substrate (substrate for circuit formation) having an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer can be used.
감광성 수지층의 기판 위에 대한 형성은, 예를 들면, 감광성 엘리먼트(10)가 보호층(6)을 가지고 있는 경우에는, 보호층(6)을 제거한 후, 감광성 엘리먼트(10)의 감광성 수지층(4)이 기판에 접하도록 배치하고, 가열하면서 감광성 엘리먼트(10)를 기판에 압착(라미네이트)함으로써 실시한다. 이에 의해, 기판과 감광성 수지층(4)과 지지체(2)를 이 순서로 구비하는 적층체를 얻을 수 있다.The formation of the photosensitive resin layer on the substrate can be performed by forming the
라미네이트 작업은, 감광성 엘리먼트(10)의 밀착성 및 추종성의 관점에서, 감압하에서 실시하는 것이 바람직하다. 압착시의 가열은, 감광성 수지층(4) 및 기판의 온도가 70℃∼130℃가 되도록 실시하는 것이 바람직하다. 또는 압착은, 0.1MPa∼1.0MPa(1kgf/cm2∼10kgf/cm2)의 압력에서 실시하는 것이 바람직하다. 이들 조건은, 필요에 따라서 적절히 선택된다. 또한, 감광성 수지층(4)을 70℃∼130℃로 가열하면, 미리 기판을 예열 처리하는 것은 필요하지 않지만, 기판의 예열 처리를 실시함으로써 감광성 엘리먼트(10)의 밀착성 및 추종성을 더 향상시킬 수 있다.The lamination is preferably performed under reduced pressure from the viewpoint of adhesion and followability of the
(ii)노광 공정(ii) exposure step
노광 공정에서는, 상기와 같이하여 기판 위에 형성된 감광성 수지층(4)의 적어도 일부의 영역에 활성 광선을 조사함으로써, 활성 광선이 조사된 노광부가 광경화하여, 잠상이 형성된다. 활성 광선의 조사 방법으로서는, 예를 들면, 네가티브형 또는 포지티브형의 마스크 패턴을 통하여 화상 형상으로 활성 광선을 조사하는 방법을 들 수 있다. 이때, 감광성 수지층(4) 위에 존재하는 지지체(2)가 활성 광선에 대해서 투과성인 경우에는, 지지체(2)를 통하여 활성 광선을 조사할 수 있다. 지지체(2)가 활성 광선에 대해서 비투과성인 경우에는, 지지체(2)를 제거한 후에 감광성 수지층(4)에 활성 광선을 조사한다.In the exposure step, by irradiating actinic light to at least a part of the area of the photosensitive resin layer 4 formed on the substrate as described above, the exposed part irradiated with the actinic ray is photo-cured to form a latent image. As a method of irradiating an actinic ray, for example, there is a method of irradiating an actinic ray in an image form through a negative or positive mask pattern. At this time, when the
활성 광선의 광원으로서는 특히 제한되지 않고, 종래 공지의 광원, 예를 들면, 카본 아크등(燈), 수은증기 아크등, 초고압 수은등, 고압 수은등, 크세논 램프, 아르곤 레이저 등의 가스 레이저, YAG 레이저 등의 고체 레이저, 반도체 레이저 및 질화갈륨계 청자색 레이저 등의 자외선, 가시광선 등을 유효하게 방사하는 것을 사용할 수 있다. 또한 레이저 직접 묘화 노광법을 사용해도 된다.The light source of the active light ray is not particularly limited and may be a conventional known light source such as a carbon arc lamp, a mercury vapor arc, a gas laser such as an ultra high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a xenon lamp or an argon laser, a YAG laser Such as a solid laser, a semiconductor laser, and a gallium nitride blue-violet laser, can be used. The laser direct imaging exposure method may also be used.
본 실시 형태의 감광성 수지 조성물은, 직접 묘화 노광 방법에 적합하게 사용할 수 있다. 즉, 본 발명의 적합한 실시 형태의 하나는, 상기 감광성 수지 조성물의 직접 묘화 노광법으로의 응용이다.The photosensitive resin composition of this embodiment can be suitably used in a direct imaging exposure method. That is, one of the preferred embodiments of the present invention is the application of the photosensitive resin composition to the direct imaging exposure method.
(iii) 현상 공정(iii) development process
현상 공정에 있어서는, 감광성 수지층(4)의 노광되어 있지 않은 미경화 부분이 기판으로부터 현상에 의해 제거된다. 이에 의해, 감광성 수지층(4)이 광경화한 경화물인 레지스트 패턴이 기판 위에 형성된다. 노광 후의 감광성 수지층(4) 위에 지지체(2)가 존재하고 있는 경우에는, 지지체(2)를 제거하고 나서, 미경화 부분의 제거(현상)를 실시한다. 현상 방법에는, 웨트 현상과 드라이 현상이 있고, 웨트 현상이 널리 사용되고 있다.In the developing step, the uncured portions of the photosensitive resin layer 4 that are not exposed are removed from the substrate by development. Thus, a resist pattern as a cured product of the photosensitive resin layer 4 is formed on the substrate. When the
웨트 현상에 의한 경우, 감광성 수지 조성물에 대응한 현상액을 사용하여, 공지의 현상 방법에 의해 현상한다. 현상 방법으로서는, 딥 방식, 패들 방식, 스프레이 방식, 브러싱, 슬래핑, 스크러빙, 슬라이딩 침지 등을 사용한 방법을 들 수 있고, 해상성 향상의 관점에서는, 고압 스프레이 방식이 가장 적합하다. 이들 방법의 2종 이상을 조합하여 현상을 실시해도 된다.In the case of the wet phenomenon, development is carried out by a known developing method using a developer corresponding to the photosensitive resin composition. Examples of the developing method include a dipping method, a paddle method, a spraying method, a brushing method, a slapping method, a scrubbing method, and a method using a sliding dipping method. From the viewpoint of resolution improvement, a high pressure spraying method is most suitable. Two or more of these methods may be combined for development.
현상액의 구성은 상기 감광성 수지 조성물의 구성에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 알칼리성 수용액, 유기용제 현상액 등을 들 수 있다.The constitution of the developer is appropriately selected depending on the constitution of the photosensitive resin composition. Examples thereof include an alkaline aqueous solution and an organic solvent developer.
알칼리성 수용액은, 현상액으로서 사용되는 경우, 안전하고 안정하며, 조작성이 양호하다. 알칼리성 수용액의 염기로서는, 리튬, 나트륨 또는 칼륨의 수산화물 등의 수산화 알칼리, 리튬, 나트륨, 칼륨 또는 암모늄의 탄산염, 중탄산염 등의 탄산 알칼리, 인산칼륨, 인산나트륨 등의 알칼리 금속 인산염, 피로인산나트륨, 피로인산칼륨 등의 알칼리 금속 피로인산염, 붕사(사붕산나트륨), 메타규산나트리움, 수산화테트라메틸암모늄, 에탄올아민, 에틸렌디아민, 디에틸렌트리아민, 2-아미노-2-하이드록시메틸-1,3-프로판디올, 1,3-디아미노-2-프로파놀, 몰포린 등이 사용된다.The alkaline aqueous solution, when used as a developer, is safe and stable, and has good operability. Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkaline hydroxides such as hydroxides of lithium, sodium or potassium, carbonates of lithium, sodium, potassium or ammonium, alkali carbonates such as bicarbonate, alkali metal phosphates such as potassium phosphate, sodium phosphate, sodium pyrophosphate, Alkali metal pyrophosphate such as potassium phosphate, sodium borate (sodium tetraborate), metasilicate sodium, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl-1,3 -Propanediol, 1,3-diamino-2-propanol, and morpholine.
현상에 사용하는 알칼리성 수용액으로서는, 0.1질량%∼5질량% 탄산나트륨의 희박용액, 0.1질량%∼5질량% 탄산칼륨의 희박용액, 0.1질량%∼5질량% 수산화나트륨의 희박용액, 0.1질량%∼5질량% 사붕산나트륨의 희박용액 등이 바람직하다. 알칼리성 수용액의 pH는 9∼11의 범위로 하는 것이 바람직하다. 또한 그 온도는, 감광성 수지 조성물층의 알칼리 현상성에 맞추어 조절된다.The alkaline aqueous solution to be used for the development is preferably a lean solution of 0.1 mass% to 5 mass% sodium carbonate, a lean solution of 0.1 mass% to 5 mass% potassium carbonate, a lean solution of 0.1 mass% to 5 mass% sodium hydroxide, A dilute solution of 5% by mass sodium sodium borate and the like are preferable. The pH of the alkaline aqueous solution is preferably in the range of 9 to 11. The temperature is controlled in accordance with the alkali developability of the photosensitive resin composition layer.
현상에 사용하는 알칼리성 수용액 중에는, 표면 활성제, 소포제, 현상을 촉진시키기 위한 유기용제 등을 소량 첨가해도 된다. 알칼리성 수용액에 첨가하는 유기용제로서는, 아세톤, 아세트산에틸, 탄소 원자수 1∼4의 알콕시기를 가지는 알콕시에탄올, 에틸알코올, 이소프로필알코올, 부틸알코올, 디에틸렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 등을 들 수 있다. 이들 유기용제는, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용된다. 알칼리성 수용액이 유기용제를 포함하는 경우, 유기용제의 함유율은, 알칼리성 수용액의 전량 중에 2질량%∼90질량%로 하는 것이 바람직하다. 또한, 그 온도는, 알칼리 현상성에 맞추어 조정할 수 있다.In the alkaline aqueous solution used for the development, a small amount of a surface active agent, a defoaming agent, and an organic solvent for promoting development may be added. Examples of the organic solvent to be added to the alkaline aqueous solution include acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group of 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether , Diethylene glycol monobutyl ether, and the like. These organic solvents may be used singly or in combination of two or more. When the alkaline aqueous solution contains an organic solvent, the content of the organic solvent is preferably 2% by mass to 90% by mass in the total amount of the alkaline aqueous solution. Further, the temperature can be adjusted in accordance with the alkali developability.
유기용제 현상액에 사용되는 유기용제로서는, 1,1,1-트리클로로에탄, N-메틸피롤리돈, N,N-디메틸포름아미드, 시클로헥사논, 메틸이소부틸케톤, γ-부틸로락톤 등을 들 수 있다. 이들 유기용제에, 인화 방지를 위해, 1질량%∼20질량%의 범위로 물을 첨가하여 유기용제 현상액으로 하는 것이 바람직하다.Examples of the organic solvent used in the organic solvent developer include organic solvents such as 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methylisobutylketone, . It is preferable that water is added to these organic solvents in an amount of 1% by mass to 20% by mass for prevention of flammability to form an organic solvent developer.
본 실시 형태의 레지스트 패턴의 형성 방법에서는, 상기 현상 공정에 있어서 미경화 부분을 제거한 후, 필요에 따라서 60℃∼250℃의 가열 또는 0.2J/cm2∼10 J/cm2의 노광을 실시함으로써, 레지스트 패턴을 더 경화하는 공정을 더 포함해도 된다.The forming method of this embodiment of the resist pattern, after removing the uncured part of the development process, by carrying out the 60 ℃ heating or exposure of 0.2J / cm 2 ~10 J / cm 2 of ~250 ℃ necessary , And further curing the resist pattern.
<프린트 배선판의 제조 방법>≪ Manufacturing method of printed wiring board >
본 발명의 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 레지스트 패턴의 형성 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판을 에칭 또는 도금하는 공정을 포함한다. 이에 의해, 도체 패턴이 형성된다. 프린트 배선판의 제조 방법은, 필요에 따라서 레지스트 제거 공정 등의 그 밖의 공정을 포함하고 있어도 된다. 기판의 에칭 처리 또는 도금처리는, 형성된 레지스트 패턴을 마스크로 하여, 기판의 도체층 등에 대하여 실시된다.The method for manufacturing a printed wiring board of the present invention includes a step of etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the above-described method of forming a resist pattern. Thus, a conductor pattern is formed. The manufacturing method of the printed wiring board may include other steps such as a resist removing step if necessary. The etching treatment or the plating treatment of the substrate is carried out with respect to the conductor layer or the like of the substrate, using the formed resist pattern as a mask.
에칭 처리에서는, 기판 위에 형성된 레지스트 패턴을 마스크로 하여, 레지스트에 의해서 피복되어 있지 않은 영역의 도체층을 에칭에 의해 제거하여, 도체 패턴을 형성한다. 에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 에칭액으로서는, 염화제이구리 용액, 염화제이철 용액, 알칼리 에칭 용액, 과산화 수소 에칭액 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 에치 팩터가 양호한 점에서 염화제이철 용액을 사용하는 것이 바람직하다.In the etching treatment, the conductor layer in the region not covered with the resist is removed by etching using the resist pattern formed on the substrate as a mask to form a conductor pattern. The method of the etching treatment is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. Examples of the etching solution include a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkali etching solution, and a hydrogen peroxide etching solution. Of these, it is preferable to use a ferric chloride solution in that the etch factor is favorable.
한편, 도금 처리에서는, 기판 위에 형성된 레지스트 패턴을 마스크로 하여, 레지스트에 의해서 피복되어 있지 않은 영역의 도체층 위에, 구리, 땜납 등을 도금 한다. 도금 처리 후, 레지스트를 제거하고, 레지스트에 의해서 피복되어 있던 영역의 도체층을 더 에칭하여, 도체 패턴을 형성한다. 도금 처리의 방법은, 전해 도금 처리이어도, 무전해 도금 처리이어도 된다. 도금 처리로서는, 예를 들면, 황산구리 도금, 피로인산구리 도금 등의 구리 도금, 하이슬로우 땜납 도금 등의 땜납 도금, 와트 욕(浴)(황산니켈-염화니켈) 도금, 설파민산니켈 등의 니켈 도금, 하드 금 도금, 소프트 금 도금 등의 금 도금 등을 들 수 있다.On the other hand, in the plating process, using a resist pattern formed on a substrate as a mask, copper, solder or the like is plated on a conductor layer in a region not covered with a resist. After the plating treatment, the resist is removed, and the conductor layer in the region covered by the resist is further etched to form a conductor pattern. The plating treatment may be an electrolytic plating treatment or an electroless plating treatment. Examples of the plating treatment include copper plating such as copper sulfate plating, copper pyrophosphate plating, solder plating such as high-speed solder plating, plating with a watt bath (nickel sulfate-nickel chloride plating), nickel plating with nickel sulfamate , Hard gold plating, soft gold plating, and the like.
상기 에칭 처리 및 도금 처리 후, 기판 위의 레지스트 패턴은 제거된다. 레지스트 패턴의 제거는, 예를 들면, 상기 현상 공정에 사용한 알칼리성 수용액보다 더 강알칼리성인 수용액을 사용하여 실시할 수 있다. 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1질량%∼10질량% 수산화나트륨 수용액, 1질량%∼10질량% 수산화칼륨 수용액 등을 사용할 수 있다. 그 중에서도, 1질량%∼10질량% 수산화나트륨 수용액 또는 수산화칼륨 수용액을 사용하는 것이 바람직하고, 1질량%∼5질량% 수산화나트륨 수용액 또는 수산화칼륨 수용액을 사용하는 것이 보다 바람직하다.After the etching treatment and the plating treatment, the resist pattern on the substrate is removed. The removal of the resist pattern can be carried out, for example, by using an aqueous solution more strongly alkaline than the alkaline aqueous solution used in the above-described development step. As the strongly alkaline aqueous solution, for example, 1 mass% to 10 mass% aqueous sodium hydroxide solution and 1 mass% to 10 mass% potassium hydroxide aqueous solution can be used. Among them, 1 mass% to 10 mass% aqueous sodium hydroxide solution or potassium hydroxide aqueous solution is preferably used, and more preferably 1 mass% to 5 mass% aqueous sodium hydroxide solution or potassium hydroxide aqueous solution is used.
도금 처리를 실시하고 나서 레지스트 패턴을 제거한 경우, 에칭 처리에 의해서 레지스트로 피복되어 있던 영역의 도체층을 더 에칭하고, 도체 패턴을 형성함으로써 원하는 프린트 배선판을 제조할 수 있다. 에칭 처리의 방법은, 제거해야 할 도체층에 따라 적절히 선택된다. 예를 들면, 상술의 에칭액을 적용할 수 있다.In the case where the resist pattern is removed after the plating process, a desired printed wiring board can be manufactured by further etching the conductor layer in the region covered with the resist by etching and forming the conductor pattern. The method of the etching treatment is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. For example, the above-described etching solution can be applied.
본 발명의 프린트 배선판의 제조 방법은, 단층 프린트 배선판뿐만 아니라 다층 프린트 배선판의 제조에도 적용 가능하고, 또한 소경(小經) 스루홀을 가지는 프린트 배선판 등의 제조에도 적용 가능하다.The method for producing a printed wiring board of the present invention can be applied not only to a single-layer printed wiring board but also to a multilayer printed wiring board, and also to a printed wiring board having a small-diameter through hole.
도 2는, 본 실시 형태의 감광성 엘리먼트를 사용하는 다층 프린트 배선 기판의 제조 방법의 일례를 나타내는 도이다. 도 2(f)에 나타내는 다층 프린트 배선 기판(100A)은 표면 및 내부에 배선 패턴을 가진다. 다층 프린트 배선 기판(100A)은, 동장적층체(銅張積層體), 층간 절연재 및 금속박 등을 적층하며, 그리고 에칭법, 세미 애디티브법 등에 의해서 배선 패턴을 적절히 형성함으로써 얻을 수 있다.2 is a diagram showing an example of a method for manufacturing a multilayer printed wiring board using the photosensitive element of the present embodiment. The multilayer printed
우선, 표면에 배선 패턴(102)을 가지는 동장적층체(101)의 양면에 층간 절연층(103)을 형성한다(도 2(a) 참조). 층간 절연층(103)은, 열강화성 조성물을 스크린 인쇄기 또는 롤코터를 사용하여 인쇄하여 형성해도, 열강화성 조성물로 이루어지는 필름을 미리 준비하고, 라미네이터를 사용하여, 이 필름을 프린트 배선 기판의 표면에 첩부하여 형성해도 된다. 이어서, 외부와 전기적으로 접속하는 것이 필요한 개소(個所)에, YAG 레이저 또는 탄산 가스 레이저를 사용하여 개구(開口)(104)를 형성하고, 개구(104) 주변의 스미어(잔사(殘渣))를 디스미어 처리에 의해 제거한다(도 2(b) 참조). 이어서, 무전해 도금법에 의해 시드층(105)을 형성한다(도 2(c) 참조). 시드층(105) 위에 본 실시 형태의 감광성 엘리먼트를 라미네이트 하여 감광성 수지층을 형성하고, 소정의 개소를 노광 및 현상하여 레지스트 패턴(106)을 형성한다(도 2(d) 참조). 이어서, 전해 도금법에 의해 배선 패턴(107)을 형성하고, 박리액에 의해 레지스트 패턴(106)을 제거한다. 그 후, 시드층(105)을 에칭에 의해 제거한다(도 2(e) 참조). 이상의 공정을 반복하여, 최표면에 솔더레지스트(108)를 형성함으로써 다층 프린트 배선 기판(100A)을 제작할 수 있다(도 2(f) 참조).First, an
본 실시 형태의 감광성 수지 조성물은, 프린트 배선판의 제조에 적합하게 사용할 수 있다. 즉, 본 발명의 적합한 실시 형태의 하나는, 상기 감광성 수지 조성물의 프린트 배선판의 제조로의 응용이다.The photosensitive resin composition of the present embodiment can be suitably used for the production of a printed wiring board. That is, one of the preferred embodiments of the present invention is the application of the photosensitive resin composition to the production of a printed wiring board.
실시예Example
이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이러한 실시예로 한정되는 것은 아니다. 또한, 특히 미리 언급하지 않는 한, "부" 및 "%"는 질량 기준이다.Hereinafter, the present invention will be described concretely with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples. Also, unless otherwise noted, "parts" and "%" are on a mass basis.
[(A)성분: 바인더 폴리머][바인더 폴리머(P-1)의 합성 방법](용액 a-1의 조제)[Component (A): binder polymer] [Synthesis method of binder polymer (P-1)] (Preparation of solution a-1)
표 1에 나타내는 중합성 단량체(공중합 단량체, 모노머)의 혼합액에, 라디칼 반응 개시제인 아조비스이소부티로니트릴 2.0g를 용해하여, "용액 a-1"을 조제했다.2.0 g of azobisisobutyronitrile as a radical reaction initiator was dissolved in a mixture of the polymerizable monomers (copolymerizable monomers and monomers) shown in Table 1 to prepare "Solution a-1 ".
(라디칼 중합 반응)(Radical polymerization reaction)
환류 냉각기, 온도계, 적하 로트 및 질소 가스 도입관을 구비한 플라스크에, 유기용제인 메틸셀로솔브 240g 및 톨루엔 160g의 혼합액(질량비 3:2) 400g을 투입했다. 플라스크 내에 질소 가스를 취입하면서, 상기 혼합액을 교반하면서 가열하여 80℃까지 승온시켰다.A flask equipped with a reflux condenser, a thermometer, a dropping funnel and a nitrogen gas introducing tube was charged with 400 g of a mixed solution (weight ratio 3: 2) of 240 g of methyl cellosolve as an organic solvent and 160 g of toluene. While the nitrogen gas was blown into the flask, the mixed solution was heated with stirring to raise the temperature to 80 캜.
플라스크 내의 상기 혼합액에, "용액 a-1"을 4시간에 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 2시간 교반했다. 이어서, 플라스크 내의 용액에, "용액 a-1" 100g에 아조비스이소부티로니트릴 1g를 더 용해한 용액을 10분간에 걸쳐 적하 속도를 일정하게 하여 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 3시간 교반했다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분간에 걸쳐 90℃까지 승온시키고, 90℃에서 2시간 보온한 후, 냉각함으로써, 바인더 폴리머(P-1)의 용액을 얻었다."Solution a-1" was added dropwise to the mixed solution in the flask over a period of 4 hours with constant dropping rate, and then the solution in the flask was stirred at 80 캜 for 2 hours. Subsequently, a solution obtained by further dissolving 1 g of azobisisobutyronitrile in 100 g of "solution a-1" was added dropwise to the solution in the flask over a period of 10 minutes with constant dropping rate, Lt; / RTI > The solution in the flask was heated to 90 DEG C over 30 minutes, kept at 90 DEG C for 2 hours and cooled to obtain a solution of the binder polymer (P-1).
바인더 폴리머(P-1)의 용액에 아세톤을 첨가하여, 불휘발 성분(불휘발분)이 50질량%가 되도록 조제했다. 바인더 폴리머(P-1)의 중량 평균 분자량은 55,000이었다. 또한, 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션크로마토그래피법(GPC)에 따라 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 환산함으로써 도출했다. GPC의 조건은, 이하에 나타내는 바와 같다.Acetone was added to the solution of the binder polymer (P-1) to prepare a non-volatile component (non-volatile component) of 50% by mass. The weight average molecular weight of the binder polymer (P-1) was 55,000. The weight average molecular weight was determined by gel permeation chromatography (GPC) and calculated by using a standard polystyrene calibration curve. The conditions of the GPC are as follows.
-GPC 조건--GPC condition-
펌프: 히타치 L-6000형(가부시키가이샤히타치세이사쿠쇼제)Pump: Hitachi L-6000 type (manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.)
컬럼: 이하의 합계 3개Column: 3 total less
Gelpack GL-R420Gelpack GL-R420
Gelpack GL-R430Gelpack GL-R430
Gelpack GL-R440Gelpack GL-R440
(이상, 히타치가세이가부시키가이샤제, 상품명) (All trade names, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)
용리액: 테트라하이드로퓨란Eluent: Tetrahydrofuran
측정 온도: 25℃Measuring temperature: 25 ° C
유량: 2.05mL/분Flow rate: 2.05 mL / min
검출기: 히타치 L-3300형 RI(가부시키가이샤히타치세이사쿠쇼제)Detector: Hitachi L-3300 type RI (Hitachi SEISAKUSHO Co., Ltd.)
[바인더 폴리머(P-2)의 합성 방법](용액 a-2의 조제)[Synthesis method of binder polymer (P-2)] (Preparation of solution a-2)
표 1에 나타내는 중합성 단량체(공중합 단량체, 모노머)의 혼합액에, 라디칼 반응 개시제인 아조비스이소부티로니트릴 1.0g을 용해하여, "용액 a-2"를 조제했다. 그 후, 바인더 폴리머(P-1)와 동일하게 라디칼 중합 반응을 실시하여, 바인더 폴리머(P-2)의 용액을 얻었다. 바인더 폴리머(P-2)의 중량 평균 분자량은 100,000이었다.1.0 g of azobisisobutyronitrile as a radical reaction initiator was dissolved in a mixture of the polymerizable monomers (copolymerizable monomers and monomers) shown in Table 1 to prepare "Solution a-2 ". Thereafter, a radical polymerization reaction was carried out in the same manner as in the case of the binder polymer (P-1) to obtain a solution of the binder polymer (P-2). The weight average molecular weight of the binder polymer (P-2) was 100,000.
[바인더 폴리머(P-3)의 합성 방법](용액 a-3의 조제)[Synthesis method of binder polymer (P-3)] (Preparation of solution a-3)
표 1에 나타내는 중합성 단량체(공중합 단량체, 모노머)의 혼합액에, 라디칼 반응 개시제인 아조비스이소부티로니트릴 2.0g를 용해하여, "용액 a-3"을 조제했다. 그 후, 바인더 폴리머(P-1)와 동일하게 라디칼 중합 반응을 실시하여, 바인더 폴리머(P-3)의 용액을 얻었다. 바인더 폴리머(P-3)의 중량 평균 분자량은 55,000이었다.2.0 g of azobisisobutyronitrile as a radical reaction initiator was dissolved in a mixture of the polymerizable monomers (copolymerizable monomers and monomers) shown in Table 1 to prepare "Solution a-3 ". Thereafter, a radical polymerization reaction was carried out in the same manner as in the case of the binder polymer (P-1) to obtain a solution of the binder polymer (P-3). The weight average molecular weight of the binder polymer (P-3) was 55,000.
[감광성 수지 조성물의 조제][Preparation of Photosensitive Resin Composition]
상기에서 얻어진 바인더 폴리머의 용액에, (B)성분, (C)성분, (D)성분 및 그 밖의 성분과 아세톤 8g, 톨루엔 8g 및 메타놀 8g을 하기 표 2에 나타내는 배합량(g)으로 배합함으로써, 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6의 감광성 수지 조성물의 용액을 각각 조제했다. 또한, 표 2에 나타내는 바인더 폴리머의 배합량은, 불휘발 성분의 질량(불휘발분량)이다.By blending 8 g of acetone, 8 g of toluene and 8 g of methanol with the components (B), (C), (D) and other components in the binder polymer solution obtained above in the blend amount (g) shown in the following Table 2, Solutions of the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 were prepared. The compounding amount of the binder polymer shown in Table 2 is the mass (nonvolatilization amount) of the nonvolatile component.
표 2에 나타내는 재료의 상세는 이하와 같다.Details of the materials shown in Table 2 are as follows.
<(A)성분: 바인더 폴리머>≪ Component (A): Binder polymer >
·P-1: 상기에서 조제한 바인더 폴리머:메타크릴산/메타크릴산 벤질(24/76(질량비))의 공중합체, 중량 평균 분자량 55,000, 산가 157mgKOH/g, 불휘발분 50질량%의 메틸셀로솔브/톨루엔=6/4(질량비) 용액. P-1: Copolymer of the above-prepared binder polymer: methacrylic acid / benzyl methacrylate (24/76 by mass), methylcellulose having a weight average molecular weight of 55,000, an acid value of 157 mgKOH / g and a nonvolatile content of 50% Solvent / toluene = 6/4 (by weight) solution.
·P-2: 상기에서 조제한 바인더 폴리머:메타크릴산/메타크릴산 메틸/아크릴산2-에틸헥실(25/50/25(질량비))의 공중합체, 중량 평균 분자량 100,000, 산가 163mgKOH/g, 불휘발분 50질량%의 메틸셀로솔브/톨루엔=6/4(질량비) 용액.P-2: Copolymer of the above-prepared binder polymer: methacrylic acid / methyl methacrylate / 2-ethylhexyl acrylate (25/50/25 by mass ratio), weight average molecular weight of 100,000, acid value of 163 mgKOH / Methylcellosolve / toluene = 6/4 (mass ratio) solution having a volatile content of 50 mass%.
·P-3: 메타크릴산/메타크릴산벤질(31/69(질량비))의 공중합체, 중량 평균 분자량 55,000, 산가 202mgKOH/g, 불휘발분 50질량%의 메틸셀로솔브/톨루엔=6/4(질량비) 용액.P-3: Copolymer of methacrylic acid / benzyl methacrylate (31/69 (mass ratio)), methylcellosolve / toluene 6/5 weight average molecular weight of 55,000, acid value of 202 mg KOH / g and nonvolatile content of 50% 4 (by weight) solution.
<(B)성분: 광중합성 화합물>≪ Component (B): photopolymerizable compound >
·FA-321M: 비스페놀A 폴리옥시에틸렌디메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 804.FA-321M: bisphenol A polyoxyethylene dimethacrylate (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight 804;
·FA-2200M: 폴리에틸렌글리콜디메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 2116.FA-2200M: polyethylene glycol dimethacrylate (product name, product of Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight 2116;
·FA-P2200M: 폴리프로필렌글리콜디메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 2137.FA-P2200M: polypropylene glycol dimethacrylate (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight 2137;
·UA-HCY-19: 헥사메틸렌디이소시아네이트트라이머와 폴리에틸렌옥사이드메타크릴레이트의 우레탄 반응물(신나카무라가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 2522.UA-HCY-19: urethane reaction product of hexamethylene diisocyanate trimer and polyethylene oxide methacrylate (product name of Shin Nakamura Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha), molecular weight 2522.
·FA-137M: 트리메틸올프로판폴리에틸렌옥사이드트리메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 1259.FA-137M: trimethylolpropane polyethylene oxide trimethacrylate (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight: 1259.
<(C)성분: 광중합 개시제>≪ Component (C): photopolymerization initiator >
·N-1717: 1,7-디(9-아크리디닐)헵탄(가부시키가이샤ADEKA제, 제품명).N-1717: 1,7-di (9-acridinyl) heptane (product of ADEKA, product name).
·EAB: 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논(호도가야가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명).EAB: 4,4'-bis (diethylamino) benzophenone (product name, manufactured by Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd.).
·B-CIM: 2-(2-클로로페닐)-1-[2-(2-클로로페닐)-4,5-디페닐-2H-이미다졸-2-일]-4,5-디페닐-1H-이미다졸(호도가야가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명).B-CIM: 2- (2-Chlorophenyl) -1- [2- (2-chlorophenyl) -4,5-diphenyl-2H- 1H-imidazole (product name, manufactured by Hodogaya Chemical Industry Co., Ltd.).
<(D)성분: 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물>≪ Component (D): polytetramethylene oxide compound >
·FA-PTG28M: 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 2170, (B)성분에 해당.FA-PTG28M: Corresponds to polytetramethylene glycol dimethacrylate (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight 2170, and component (B).
·FA-PTG9M: 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트(히타치가세이가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 802, (B)성분에 해당.FA-PTG9M: corresponds to polytetramethylene glycol dimethacrylate (product name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), molecular weight 802, and component (B).
·A-PTMG650: 폴리테트라메틸렌글리콜디아크릴레이트(신나카무라가가쿠가부시키가이샤제, 제품명). 분자량 774, (B)성분에 해당.A-PTMG650: Polytetramethylene glycol diacrylate (product of Shin-Nakamura Kagaku Co., Ltd.). Molecular weight 774 corresponds to component (B).
·PTMG-2000: 폴리테트라메틸렌글리콜(미츠비시가가쿠가부시키가이샤제, 제품명), 분자량 2034.PTMG-2000: Polytetramethylene glycol (product name, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), molecular weight 2034;
<그 밖의 성분>≪ Other components >
·LCV: 로이코크리스탈 바이올렛(야마다가가쿠가부시키가이샤제, 제품명)LCV: Loico crystal violet (product name, made by Yamada Kakuga)
·MKG: 마라카이트 그린(오사카유키가가쿠고교가부시키가이샤제, 제품명)MKG: Maracal green (product name, manufactured by Osaka Yuki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha)
〔감광성 엘리먼트의 제작〕[Production of photosensitive element]
실시예 1∼10 및 비교예 1∼6의 감광성 수지 조성물을, 각각 두께 16μm의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(데이진가부시키가이샤제, 상품명 "G2-16")(지지체) 위에 두께가 균일하게 되도록 도포하고, 100℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조하여, 건조 후의 막 두께가 30μm인 감광성 수지층을 형성했다. 이 감광성 수지층 위에 폴리에틸렌 필름(타마폴리가부시키가이샤제, 상품명 "NF-13")(보호층)을 롤 가압으로 적층함으로써, 지지체와 감광성 수지층과 보호층이 이 순서로 적층된 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6에 관련된 감광성 엘리먼트를 각각 얻었다.The photosensitive resin compositions of Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 were coated on a polyethylene terephthalate film (trade name: "G2-16") (trade name, available from Daikin Industries, Ltd.) And dried in a hot air convection type dryer at 100 ° C for 10 minutes to form a photosensitive resin layer having a thickness of 30 μm after drying. In this Example where a support, a photosensitive resin layer, and a protective layer were laminated in this order by laminating a polyethylene film (trade name "NF-13" 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6, respectively.
〔평가용 적층 기판의 제작〕[Preparation of laminated substrate for evaluation]
이어서, 유리 에폭시재와, 그 양면에 형성된 동박(銅箔)(두께 35μm)으로 이루어지는 1.6mm 두께의 동장적층판(히타치가세이가부시키가이샤제, 상품명 "MCL-E-67")의 구리 표면을, #600 상당의 브러시를 가지는 연마기(산케가부시키가이샤제)를 사용하여 연마하고, 수세 후, 공기류(空氣流)로 건조시켰다. 이 동장적층판(이하, "기판"이라고 한다.)을 가열하여 80℃로 승온시킨 후, 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6에 관련된 감광성 엘리먼트를 기판의 양측의 구리 표면에 라미네이트(적층)하여, 평가용 적층 기판을 각각 제작했다. 라미네이트는, 110℃의 히트 롤을 사용하여, 보호층을 제거하면서, 각 감광성 엘리먼트의 감광성 수지층이 기판의 각 구리 표면에 밀착하도록 하여, 1.5m/분의 속도로 실시했다. 또한, 라미네이트시의 히트 롤 압력을 0.4Mpa로 하였다.Subsequently, the copper surface of a 1.6 mm thick copper clad laminate (trade name: MCL-E-67, manufactured by Hitachi Kasei K.K.) comprising a glass epoxy material and copper foils (35 μm in thickness) Was polished using a polishing machine having a brush equivalent to # 600 (manufactured by Sankei Kikai Co., Ltd.), washed with water, and then dried with air flow. After the copper clad laminate (hereinafter referred to as "substrate") was heated and heated to 80 ° C, the photosensitive elements related to Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 were laminated (laminated) To prepare evaluation laminate boards. The laminate was heated at a rate of 1.5 m / min by using a heat roll at 110 캜 so that the photosensitive resin layer of each photosensitive element adhered to each copper surface of the substrate while removing the protective layer. The heat roll pressure at the time of laminating was 0.4 MPa.
〔감도의 평가〕[Evaluation of Sensitivity]
얻어진 평가용 적층 기판을 23℃까지 방랭했다. 이어서, 평가용 적층 기판의 표면의 지지체에, 스텝 타블렛을 가지는 포토툴을 밀착시켰다. 스텝 타블렛으로서는, 농도 영역이 0.00∼2.00, 농도 스텝이 0.05, 타블렛의 크기가 20mm×187mm, 각 스텝의 크기가 3mm×12mm인 41단 스텝 타블렛을 사용했다. 이러한 스텝 타블렛을 가지는 포토 툴 및 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 통하여, 감광성 수지층을 노광했다. 노광은, 반도체 여기(勵起) 고체 레이저를 광원으로 하는 노광기(니혼올보텍가부시키가이샤제, 상품명 "Paragon-9000m")를 사용하여, 17mJ/cm2의 노광량으로 실시했다.The resultant laminated substrate for evaluation was allowed to cool to 23 占 폚. Subsequently, a phototool having a step tablet was closely attached to a support on the surface of the evaluation laminated substrate. As the step tablet, a 41 step tablet having a concentration range of 0.00 to 2.00, a concentration step of 0.05, a tablet size of 20 mm x 187 mm, and each step size of 3 mm x 12 mm was used. The photosensitive resin layer was exposed through a phototool having a step tablet and a polyethylene terephthalate film. The exposure was carried out at an exposure amount of 17 mJ / cm 2 using an exposure machine (trade name: "Paragon-9000m", manufactured by Nihon Olbotech Co., Ltd.) using a semiconductor excitation solid laser as a light source.
노광 후, 평가용 적층 기판으로부터 지지체를 박리하고, 감광성 수지층을 노출시켰다. 노출된 감광성 수지층에 대해, 30℃의 1.0질량% 탄산나트륨 수용액을 50초간 스프레이(현상 처리) 함으로써, 미노광 부분을 제거했다. 이와 같이 하여, 평가용 적층 기판의 구리 표면에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 경화막을 형성했다. 얻어진 경화막의 스텝 타블렛의 단수를 측정함으로써, 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6의 감광성 수지 조성물 및 그로부터 얻어진 감광성 엘리먼트의 감도(광감도)를 평가했다. 이 스텝 타블렛의 단수가 높을수록, 감도가 높은 것을 의미한다. 결과를 표 2에 나타낸다.After exposure, the support was peeled off from the evaluation laminate substrate to expose the photosensitive resin layer. The unexposed portion was removed by spraying (developing) a 1.0 mass% sodium carbonate aqueous solution at 30 캜 for 50 seconds on the exposed photosensitive resin layer. Thus, a cured film of a cured product of the photosensitive resin composition was formed on the copper surface of the evaluation laminated substrate. The sensitivity (photosensitivity) of the photosensitive resin compositions of Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 and the photosensitive element obtained therefrom was evaluated by measuring the number of stages of the step tablet of the obtained cured film. The higher the number of stages of the step tablet, the higher the sensitivity. The results are shown in Table 2.
〔밀착성 및 해상성의 평가〕[Evaluation of adhesion and resolution]
상기 평가용 적층 기판 위에 밀착성 평가용으로서, 라인 폭/스페이스 폭이 n/400(단위: μm, n=5μm∼200μm로 2.5μm 간격)의 평가용 패턴과, 해상성 평가용으로서, 라인 폭/스페이스 폭이 400/n(단위: μm, n=5μm∼200μm로 2.5μm 간격)의 평가용 패턴을 가지는 포토 툴 데이터를 각각 사용했다. 노광은, 반도체 여기 고체 레이저를 광원으로 하는 노광기(니혼올보텍가부시키가이샤제, 상품명 "Paragon-9000m")를 사용하여, 17mJ/cm2의 노광량으로 실시했다. 이어서, 상기 광감도의 평가와 동일한 조건에서 현상 처리를 실시하여, 미노광부를 제거했다. 밀착성은 현상 처리에 의해서 경화막이 잔존하고 있는 라인 영역의 폭의 최소값(단위: μm)에 의해 평가했다. 해상성은, 현상 처리에 의해서 광경화되어 있지 않은 부분을 깔끔하게 제거할 수 있는 라인 영역간의 스페이스의 폭의 최소값(단위: μm)에 의해 평가했다. 밀착성 및 해상성의 평가는 모두 수치가 작을수록 양호한 값이다. 결과를 표 2에 나타낸다.An evaluation pattern having a line width / space width of n / 400 (unit: μm, n = 5 μm to 200 μm at intervals of 2.5 μm) was formed on the evaluation laminated substrate for evaluation of adhesion, And phototool data having an evaluation pattern of a space width of 400 / n (unit: μm, n = 5 μm to 200 μm and spacing of 2.5 μm) were respectively used. The exposure was carried out at an exposure amount of 17 mJ / cm 2 using an exposure machine (trade name: "Paragon-9000m", manufactured by Nihon Olbotech Co., Ltd.) using a semiconductor excitation solid laser as a light source. Subsequently, development processing was carried out under the same conditions as the evaluation of the photosensitivity to remove the unexposed portion. The adhesion was evaluated by the minimum value (unit: mu m) of the width of the line area where the cured film remained by the developing treatment. The resolution was evaluated by the minimum value (unit: μm) of the width of the space between the line regions in which portions not photocured by the developing process can be removed neatly. The evaluation of adhesion and resolution are all good values as the numerical value is small. The results are shown in Table 2.
〔박리성 평가〕[Evaluation of peelability]
상기 평가용 적층 기판 위에, 박리성 평가용으로서 45mm×65mm의 직사각형의 경화막을 형성하는 포토 툴 데이터를 사용하여 노광했다. 노광은, 반도체 여기 고체 레이저를 광원으로 하는 노광기(니혼올보텍가부시키가이샤제, 상품명 "Paragon-9000m")를 사용하여, 17mJ/cm2의 노광량으로 실시했다. 이어서, 상기 광감도의 평가와 동일한 조건으로 현상 처리하여, 미노광부를 제거했다.The evaluation laminate substrate was exposed using phototool data for forming a rectangular cured film of 45 mm x 65 mm for evaluation of peelability. The exposure was carried out at an exposure amount of 17 mJ / cm 2 using an exposure machine (trade name: "Paragon-9000m", manufactured by Nihon Olbotech Co., Ltd.) using a semiconductor excitation solid laser as a light source. Subsequently, development processing was performed under the same conditions as those for evaluating the photosensitivity to remove the unexposed portions.
그 후, 용량 400ml의 비커에 50℃, 3.0질량% NaOH 수용액(박리액) 300ml를 준비했다. 박리액을 길이 30mm의 교반자를 사용하여 200rpm으로 교반하면서, 현상 후의 기판을 박리액에 침지하고, 경화막이 기판에서 떨어지기까지의 시간(단위: 초)을 계측했다. 또한, 경화막이 기판에서 떨어지기까지의 시간이 빠를수록, 박리 시간이 짧고 박리성이 양호하다고 평가한다. 결과를 표 2에 나타낸다.Thereafter, 300 ml of a 3.0 wt% NaOH aqueous solution (exfoliation solution) at 50 캜 was prepared in a 400-ml beaker. The substrate after development was immersed in the peeling liquid while agitating the peeling liquid at 200 rpm using an agitator having a length of 30 mm, and the time (unit: second) from when the cured film was released from the substrate was measured. Further, it is evaluated that the longer the time taken for the cured film to fall off the substrate, the shorter the peeling time and the better the peelability. The results are shown in Table 2.
〔에칭 내성〕[Etching Resistance]
유리 에폭시재와, 그 양면에 형성된 동박(두께 100μm)으로 이루어지는 1.6mm 두께의 동장적층판(히타치가세이가부시키가이샤제, 상품명 "MCL-E-67")의 구리 표면을, #600 상당의 브러시를 가지는 연마기(산케가부시키가이샤제)를 사용하여 연마하고, 수세 후, 공기류로 건조시켰다. 이 동장적층판(이하, "기판"이라고 한다.)을 가열하여 80℃로 승온시킨 후, 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6에 관련된 감광성 엘리먼트를 기판 양측의 구리 표면에 라미네이트(적층)하여, 평가용 적층 기판을 각각 제작했다. 그 후, 상기 밀착성 및 해상성의 평가용 기판의 작성 방법과 동일하게하여, 현상 처리까지의 공정을 실시했다.The copper surface of a 1.6 mm thick copper-clad laminate (made by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name "MCL-E-67") consisting of a glass epoxy material and a copper foil (thickness 100 μm) And polished using a polishing machine having a brush (manufactured by Sankei Co., Ltd.), washed with water, and then dried with an air flow. After the copper clad laminate (hereinafter referred to as "substrate") was heated and heated to 80 ° C, the photosensitive elements related to Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 were laminated (laminated) , And evaluation laminated boards were produced. Thereafter, the steps up to the developing treatment were carried out in the same manner as the above-mentioned method of preparing the substrate for evaluation of adhesion and resolution.
다음으로, 최단 에칭 시간의 2배의 시간으로 에칭했다. 50℃의 3.0질량% NaOH 수용액에 침지하여, 레지스트를 박리한 후에 구리 패턴을 관찰했다. 박리 전의 레지스트 패턴에 따라서 직선적으로 에칭되어 있는 경우를 "○"로 하고, 박리 전의 레지스트 패턴과 얻어진 구리 패턴의 윤곽과의 차가 기판의 상면에서 관찰했을 때에 5μm 이상인 라인 결함(라인 영역의 소실) 또는 라인 거침(라인 영역의 폭의 변화)을 볼 수 있는 경우를 "×"로 했다. 라인 거침이 발생했지만, 5μm 미만인 경우는 "△"으로 했다. 또한, "최단 에칭 시간"이란, 이하와 같이 측정하여 얻어진 값으로 했다. 우선, 상기 동장적층판을 30mm×30mm의 사이즈로 커트하여, 시험편으로 했다. 시험편에, 50℃의 5mol/L 염화 구리용액을 사용하여, 0.15MPa의 압력으로 스프레이하고, 동장적층판의 구리층이 제거된 것을 목시(目視)로 확인할 수 있는 최단의 시간을, 최단 에칭 시간으로 했다.Next, etching was performed at twice the shortest etching time. And then immersed in a 3.0 wt% aqueous solution of NaOH at 50 DEG C, and the copper pattern was observed after peeling off the resist. (A disappearance of a line region) of 5 占 퐉 or more when a difference between a resist pattern before peeling and an outline of the obtained copper pattern is observed on the upper surface of the substrate, and a case where the line is etched linearly according to the resist pattern before peeling &Quot; x "was used when the line-roughness (change in the width of the line area) was visible. When line roughness occurred but less than 5 占 퐉, it was determined to be?. The "shortest etching time" is a value obtained by measurement as follows. First, the above-mentioned copper clad laminate was cut into a size of 30 mm x 30 mm to obtain a test piece. The test piece was sprayed at a pressure of 0.15 MPa using a 5 mol / L copper chloride solution at 50 占 폚 and the shortest time to visually confirm that the copper layer of the copper clad laminate had been removed was defined as the shortest etching time did.
〔텐트 신뢰성〕[Tent Reliability]
텐트 신뢰성은, 도 3에 나타내는 구멍 파괴수 측정용 기판(40)을 이하와 같이하여 제작하고, 이것을 사용하여 평가했다. 동장적층판(히타치가세이가부시키가이샤제, 상품명 "MCL-E-67")에, 직경 4mm∼6mm의 구멍 지름으로, 각각 3개의 독립된 원형 구멍(41) 및 3개의 원형 구멍이 연결되고, 또한 원형 구멍의 간격이 서서히 짧아지는 3연속 구멍(42)을 천공기로 각각 제작했다. 원형 구멍(41) 및 3연속 구멍(42)을 제작할 때에 발생한 바리를 #600 상당의 브러시를 가지는 연마기(산케가부시키가이샤제)를 사용하여 제거하고, 이를 구멍 파괴수 측정용 기판(40)으로 했다.The tent reliability was evaluated by making the substrate 40 for measuring the number of hole breakages shown in Fig. 3 as follows. Three independent circular holes 41 and three circular holes are connected to the copper laminated plate (product name "MCL-E-67", manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) with a hole diameter of 4 mm to 6 mm, Further, three continuous holes (42) in which the intervals of the circular holes are gradually shortened are produced by a perforator. The circular holes 41 and the three continuous holes 42 were removed by using a polishing machine having a brush having a brush equivalent to # 600 (made by Sanke Kikai Co., Ltd.) .
얻어진 구멍 파괴수 측정용 기판을 80℃로 가온하고, 실시예 1∼10 및 비교예 1∼6에 관련된 감광성 엘리먼트로부터 보호층을 박리하여, 감광성 수지층이 구멍 파괴수 측정용 기판(40)의 구리 표면에 대향하도록 배치하고, 120℃, 0.4MPa의 조건에서, 각각 라미네이트 하여, 텐트 신뢰성 평가용 적층 기판을 각각 제작했다.The resulting substrate for hole breakage number measurement was heated to 80 DEG C and the protective layer was peeled off from the photosensitive element related to Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 6 so that the photosensitive resin layer was peeled off from the hole- And the laminate was laminated under the conditions of 120 DEG C and 0.4 MPa, respectively, to produce laminate substrates for tent reliability evaluation.
라미네이트 후, 텐트 신뢰성 평가용 적층 기판을 23℃까지 방랭했다. 이어서, 감광성 엘리먼트의 지지체 위로부터, 반도체 여기 고체 레이저를 광원으로 하는 노광기(니혼올보텍가부시키가이샤제, 상품명 "Paragon-9000m")를 사용하여, 17mJ/cm2의 노광량으로 노광했다.After laminating, the laminate substrate for tent reliability evaluation was cooled to 23 deg. Subsequently, an exposure device (trade name: "Paragon-9000m ", trade name, manufactured by Nihon Olvotech Co., Ltd.) having a semiconductor excitation solid laser as a light source was used to expose the photosensitive element from the support to an exposure amount of 17 mJ / cm 2 .
노광 후, 실온에서 15분간 방치하고, 계속하여 텐트 신뢰성 평가용 적층 기판으로부터 지지체를 박리하고, 30℃의 1질량% 탄산나트륨 수용액을 50초간 스프레이 함으로써 현상했다. 현상 후, 3연속 구멍의 구멍 파괴수를 측정하고, 전체 3연속 구멍수에 대한 구멍 파괴수로서 이형 텐트 파괴율을 산출하여, 텐트 신뢰성(%)을 평가했다. 이 수치가 높을수록, 텐트 신뢰성이 높은 것을 의미한다. 결과를 표 2에 나타낸다.After the exposure, the substrate was left for 15 minutes at room temperature. Subsequently, the support was peeled from the tent reliability evaluation laminate substrate and developed by spraying a 1 mass% sodium carbonate aqueous solution at 30 占 폚 for 50 seconds. After development, the number of hole breaks in three consecutive holes was measured, and the release tent destruction rate was calculated as the number of hole breaks with respect to the total number of three consecutive holes to evaluate the tent reliability (%). The higher this number, the higher the reliability of the tent. The results are shown in Table 2.
이상의 평가 결과에 나타내듯이, 본 발명의 감광성 수지 조성물을 사용한 실시예 1∼10에 관련된 감광성 엘리먼트를 사용한 경우는, 어느 것에 있어서도 비교예 1∼6에 관련된 감광성 엘리먼트를 사용한 경우와 비교하여, 양호한 밀착성, 해상성, 에칭 내성, 박리성 및 뛰어난 텐트 신뢰성을 나타냈다. 비교예에 관련된 감광성 엘리먼트에 관해서는, 광감도는 실시예에 관련된 감광성 엘리먼트와 동등했지만, 에칭 내성에 뒤떨어졌다. 또한, 비교예 1, 3 및 6은 텐트 신뢰성이 뒤떨어졌고, 비교예 5는 박리성이 뒤떨어졌다.As shown in the above evaluation results, in the case of using the photosensitive element related to Examples 1 to 10 using the photosensitive resin composition of the present invention, as compared with the case where the photosensitive element related to Comparative Examples 1 to 6 was used, , Resolution, etching resistance, peelability and excellent tent reliability. With respect to the photosensitive element related to the comparative example, the photosensitivity was the same as that of the photosensitive element related to the embodiment, but was inferior to the etching resistance. In Comparative Examples 1, 3 and 6, tent reliability was poor, and Comparative Example 5 was inferior in peelability.
일본 특허출원 제2014-099630호의 개시는 그 전체가 참조에 의해 본 명세서에 원용된다. 본 명세서에 기재된 모든 문헌, 특허출원, 및 기술 규격은, 개개의 문헌, 특허출원, 및 기술 규격이 참조에 의해 원용됨이 구체적이며 또한 개개에 기재된 경우와 동일한 정도로, 본 명세서에 참조에 의해 원용된다.The disclosure of Japanese Patent Application No. 2014-099630 is hereby incorporated by reference in its entirety. All publications, patent applications, and technical specifications described in this specification are herein incorporated by reference to the same extent as if each individual publication, patent application, and technical specification were specifically and individually indicated to be incorporated by reference. do.
Claims (9)
상기 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 중량 평균 분자량이 1000 이상인, 감광성 수지 조성물.The method according to claim 1,
Wherein the polytetramethylene oxide compound has a weight average molecular weight of 1000 or more.
상기 (B)성분의 일부 또는 전부가 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물인, 감광성 수지 조성물. The method according to claim 1 or 2,
Wherein part or all of the component (B) is a polytetramethylene oxide compound.
상기 (B)성분의 총량 중의 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물의 함유율이 20질량%∼50질량%인, 감광성 수지 조성물. The method of claim 3,
Wherein the content of the polytetramethylene oxide compound in the total amount of the component (B) is 20% by mass to 50% by mass.
상기 (B)성분의 일부 또는 전부인 폴리테트라메틸렌옥사이드 화합물이 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트인, 감광성 수지 조성물. The method according to claim 3 or 4,
Wherein the polytetramethylene oxide compound which is part or all of the component (B) is polytetramethylene glycol di (meth) acrylate.
상기 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트가 폴리테트라메틸렌글리콜디메타크릴레이트인, 감광성 수지 조성물. The method of claim 5,
Wherein the polytetramethylene glycol di (meth) acrylate is polytetramethylene glycol dimethacrylate.
상기 감광성 수지층의 적어도 일부의 영역에 활성 광선을 조사하여, 상기 영역을 경화시키는 노광 공정과,
상기 감광성 수지층의 상기 영역 이외의 미노광 부분을 상기 기판으로부터 제거하는 현상 공정을 가지는 레지스트 패턴의 형성 방법. A photosensitive resin layer forming step of forming a photosensitive resin layer on a substrate using the photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 6 or the photosensitive element according to claim 7;
An exposure step of irradiating at least a part of the area of the photosensitive resin layer with an actinic ray to cure the area,
And a developing step of removing unexposed portions other than the region of the photosensitive resin layer from the substrate.
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