KR20150009589A - Alkali-developable thermosetting resin composition, and printed wiring board - Google Patents
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Abstract
본 발명은 무기 충전제를 고충전한 경우에도, 현상에 의한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공하는 데 있다. 또한 본 발명의 목적은, 냉열 사이클 특성이 우수한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공한다. 알칼리 현상성 수지, 열반응성 화합물, 무기 충전제, 및 광 염기 발생제를 포함하고, 선택적인 광 조사로 상기 알칼리 현상성 수지와 상기 열반응성 화합물이 부가 반응함으로써, 알칼리 현상에 의한 네가티브형의 패턴 형성이 가능하게 되는 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물이다.An object of the present invention is to provide an alkali development type thermosetting resin composition and a printed wiring board capable of forming a pattern layer by development even when the inorganic filler is fully charged. It is also an object of the present invention to provide an alkali developing type thermosetting resin composition and a printed wiring board capable of forming a pattern layer having excellent cooling / heating cycle characteristics. The positive photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the positive photosensitive resin composition comprises an alkali developable resin, a thermally reactive compound, an inorganic filler, and a photobase generator, Which is an alkali developing type thermosetting resin composition.
Description
본 발명은 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판에 관한 것이다.The present invention relates to an alkali developing type thermosetting resin composition and a printed wiring board.
최근 들어, 프린트 배선판이나 플렉시블 프린트 배선판용의 솔더 레지스트의 재료로서, 환경 문제에 대한 배려로, 현상액으로서 알칼리 수용액을 사용하는 알칼리 현상형의 광경화성 수지 조성물이 주류가 되고 있다. 이러한 알칼리 현상형의 광경화성 수지 조성물로서, 특허문헌 1, 2에 기술된 바와 같이, 에폭시 수지의 변성에 의해 유도된 에폭시아크릴레이트 변성 수지(이하, 에폭시아크릴레이트라고 약기하는 경우가 있음)를 포함하는 수지 조성물이 일반적으로 사용되고 있다.In recent years, as a material for solder resists for printed wiring boards and flexible printed wiring boards, an alkali developing type photocurable resin composition using an alkaline aqueous solution as a developer has become mainstream in consideration of environmental problems. As such an alkali developing type photocurable resin composition, an epoxy acrylate modified resin (hereinafter abbreviated as epoxy acrylate) derived by the modification of an epoxy resin is included as described in Patent Documents 1 and 2 Is generally used.
이러한 광경화성 수지 조성물을 사용하는 솔더 레지스트의 형성 방법으로서는, 기재에 광경화성 수지 조성물을 도포 및 건조하여 수지층을 형성하고, 그 수지층에 대하여 패턴 형상으로 광 조사한 후, 알칼리 현상액으로 현상함으로써, 소정의 패턴을 형성하는 방법이 있다.As a method of forming a solder resist using such a photo-curable resin composition, a photo-curable resin composition is applied to a base material and dried to form a resin layer, the photo-cured resin layer is irradiated with light in a pattern and then developed with an alkaline developer, There is a method of forming a predetermined pattern.
또한, 프린트 배선판이나 플렉시블 프린트 배선판은, 여러가지 기기에 실장되어 사용된다. 그 때문에, 온도 등 환경의 급격한 변화에 대해서도 내성을 가질 것이 요구된다. 따라서, 솔더 레지스트에 대해서도 높은 온도 변화 내성이 요구되나, 열경화성 수지와, 기재나 구리, 언더필 등의 기재 형성 재료와의 선팽창 계수(CTE)의 차가 큰 경우, TCT(서멀 사이클 시험)에 있어서 레지스트에 크랙이 발생한다는 문제가 있다.Further, the printed wiring board and the flexible printed wiring board are used by being mounted on various apparatuses. Therefore, it is required to have resistance against abrupt changes in the environment such as temperature. However, when the difference in coefficient of linear expansion (CTE) between the thermosetting resin and a substrate forming material such as a substrate, copper, underfill, etc. is large, There is a problem that a crack occurs.
이것에 대하여, 열경화성 수지의 CTE를 주변 부재 재료의 CTE와 맞추는 것이 최근에 널리 행해지고 있다. 예를 들어, 열경화성 수지에 무기 충전제를 고충전함으로써, CTE를 저하시켜 경화 수축을 억제하는 것이 일반적이다.On the other hand, recently, it has been widely practiced to match the CTE of the thermosetting resin with the CTE of the peripheral member material. For example, it is general that CTE is lowered by suppressing the hardening shrinkage by charging the thermosetting resin with an inorganic filler.
그러나, 열경화성 수지 조성물에 무기 충전제를 고충전한 경우, 광이 심부까지 투과하는 것을 저해하게 된다. 그 경우, 해상성이 얻어지지 않아 패턴층을 형성하는 것이 곤란해진다는 문제가 있었다.However, when the inorganic filler is highly charged in the thermosetting resin composition, the light is prevented from penetrating to the deep portion. In this case, there is a problem that resolution is not obtained and it is difficult to form a pattern layer.
따라서 본 발명의 목적은, 무기 충전제를 고충전한 경우에도, 현상에 의한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공하는 데 있다. 또한 본 발명의 목적은, 냉열 사이클 특성이 우수한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공하는 데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an alkaline developing type thermosetting resin composition and a printed wiring board capable of forming a pattern layer by development even when an inorganic filler is fully charged. It is also an object of the present invention to provide an alkali development type thermosetting resin composition and a printed wiring board capable of forming a pattern layer having excellent cooling / heating cycle characteristics.
본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, 이하의 구성으로 함으로써 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.Means for Solving the Problems As a result of intensive studies for solving the above problems, the present inventors have found that the above problems can be solved by the following constitution, and have completed the present invention.
즉, 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 알칼리 현상성 수지, 열반응성 화합물, 무기 충전제, 및 광 염기 발생제를 포함하고, 선택적인 광 조사로 상기 알칼리 현상성 수지와 상기 열반응성 화합물이 부가 반응함으로써, 알칼리 현상에 의한 네가티브형의 패턴 형성이 가능하게 되는 것을 특징으로 하는 것이다.That is, the alkali developing type thermosetting resin composition of the present invention comprises an alkali developing resin, a heat reactive compound, an inorganic filler, and a photo base generating agent, wherein the alkali developing resin and the heat reactive compound This additional reaction enables formation of a negative pattern by alkali development.
본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 상기 무기 충전제의 평균 입경이 1㎛ 이하인 것이 바람직하다.In the alkali-developing type thermosetting resin composition of the present invention, it is preferable that the inorganic filler has an average particle diameter of 1 탆 or less.
또한, 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 상기 무기 충전제와 수지의 굴절률차가 0.3 이하인 것이 바람직하다.In the alkali developing type thermosetting resin composition of the present invention, the difference in refractive index between the inorganic filler and the resin is preferably 0.3 or less.
또한, 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 상기 무기 충전제의 굴절률이 1.45 이상 1.65 이하인 것이 바람직하다.In the alkali developing type thermosetting resin composition of the present invention, it is preferable that the inorganic filler has a refractive index of 1.45 or more and 1.65 or less.
또한, 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 광 조사에 의해 DSC 측정에 있어서 발열 피크를 발생하거나, 또는 광 조사한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 개시 온도가 미조사의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 개시 온도보다도 낮은, 또는 광 조사한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 피크 온도가 미조사의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 피크 온도보다도 낮은 것임이 바람직하다.Further, the alkali-developing type thermosetting resin composition of the present invention is characterized in that an exothermic peak is generated in DSC measurement by light irradiation or a heat generation starting temperature in DSC measurement of an alkali developing type thermosetting resin composition Of alkali-developing type thermosetting resin composition which is lower than the heat generation initiation temperature in DSC measurement of alkali-developable thermosetting resin composition of alkali developing type or in which the exothermic peak temperature in DSC measurement of alkali- Is preferably lower than the exothermic peak temperature in the DSC measurement.
본 발명에 의해, 현상에 의한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공할 수 있다. 또한 본 발명에 의해, 경화성 및 냉열 사이클 특성이 우수한 패턴층의 형성이 가능한 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물, 프린트 배선판을 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide an alkaline developing type thermosetting resin composition and a printed wiring board capable of forming a pattern layer by development. Further, according to the present invention, it is possible to provide an alkaline developing type thermosetting resin composition and a printed wiring board which can form a pattern layer having excellent curability and cold / heat cycle characteristics.
도 1은 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물을 사용한 패턴 형성 방법의 일례를 도시하는 모식도이다.
도 2는 본 발명의 실시예 1의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물을 포함하는 수지층에 관한 DSC 차트를 도시하는 도면이다.
도 3은 스루홀 상의 오목부 평가를 설명하기 위한 양면 프린트 배선 기재의 단면도이다.1 is a schematic diagram showing an example of a pattern forming method using the alkali developing type thermosetting resin composition of the present invention.
2 is a diagram showing a DSC chart of a resin layer containing an alkali developing type thermosetting resin composition of Example 1 of the present invention.
3 is a cross-sectional view of a double-sided printed wiring board for explaining evaluation of concave portions on a through hole.
본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물(이하, 「열경화성 수지 조성물」이라고 약기하는 경우가 있음)은, 알칼리 현상성 수지, 열반응성 화합물, 무기 충전제, 및 광 염기 발생제를 포함하고, 선택적인 광 조사로 알칼리 현상성 수지와 열반응성 화합물이 부가 반응함으로써, 알칼리 현상에 의한 네가티브형의 패턴 형성이 가능하게 되는 것을 특징으로 하는 것이다. 여기서, 패턴 형성이란, 패턴 형상의 경화물, 즉 패턴층을 형성하는 것을 말한다.The alkali-developing type thermosetting resin composition of the present invention (hereinafter occasionally referred to as " thermosetting resin composition ") comprises an alkali developing resin, a thermoreactive compound, an inorganic filler, The alkali developable resin and the thermally reactive compound are subjected to an addition reaction by light irradiation, whereby a negative pattern can be formed by the alkali development. Here, pattern formation means formation of a patterned cured product, that is, a pattern layer.
열경화성 수지 조성물을 포함하는 수지층에서는, 광 조사에 의해 표면에서 염기가 발생한다. 그리고, 발생한 염기에 의해 광 염기 발생제가 불안정화되어, 더욱 염기가 심부까지 화학적으로 증식한다고 생각된다. 여기서, 염기가, 알칼리 현상성 수지와 열반응성 화합물이 부가 반응할 때의 촉매로서 작용하면서, 심부까지 부가 반응이 진행하기 때문에, 광 조사부에서는 심부까지 수지층이 경화한다.In the resin layer containing the thermosetting resin composition, a base is generated on the surface by light irradiation. It is considered that the base of the photobase is destabilized by the generated base, and the base further chemically proliferates to the deep part. Here, the base functions as a catalyst when the alkali developable resin and the heat-reactive compound undergo addition reaction, and the addition reaction proceeds to the core portion, so the resin layer hardens to the core portion in the light irradiation portion.
따라서, 무기 충전제를 고충전한 경우에도, 열경화성 수지 조성물을 패턴 형상으로 광 조사한 후, 알칼리 현상함으로써 미조사부를 제거하여, 패턴층을 용이하게 형성할 수 있다.Therefore, even when the inorganic filler is filled in a high concentration, it is possible to easily form the pattern layer by irradiating the thermosetting resin composition in a pattern shape and then alkali developing to remove the unexposed portion.
또한, 본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 알칼리 현상성 수지와 열반응성 화합물이 부가 반응에 의해 경화하기 때문에, 광경화성 수지 조성물보다도 변형이나 경화 수축이 적은 패턴층을 얻을 수 있다.Further, in the thermosetting resin composition of the present invention, since the alkali developable resin and the heat-reactive compound are cured by the addition reaction, a pattern layer having less deformation and less shrinkage than the photo-curable resin composition can be obtained.
열경화성 수지 조성물은, 미조사의 상태에서는 가열해도 경화하지 않고, 광 조사해야 비로서 열에 의한 경화가 가능하게 되는 조성물이어도 된다.The thermosetting resin composition may be a composition which does not cure even when heated in a state of not irradiated, and can be cured by heat in comparison with light irradiation.
본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 광 조사에 의해 DSC 측정에 있어서 발열 피크를 발생하거나, 또는 광 조사한 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 개시 온도가 미조사의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 개시 온도보다도 낮은, 또는 광 조사한 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 피크 온도가 미조사의 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 발열 피크 온도보다도 낮은 것임이 바람직하다.The thermosetting resin composition of the present invention is a thermosetting resin composition which exhibits an exothermic peak in the DSC measurement by light irradiation or an exothermic peak in the DSC measurement of the thermosetting resin composition in which the exothermic onset temperature in the DSC measurement of the irradiated thermosetting resin composition is not irradiated It is preferable that the exothermic peak temperature in the DSC measurement of the thermosetting resin composition which is lower than the exothermic onset temperature or that is irradiated with light is lower than the exothermic peak temperature in the DSC measurement of the thermosetting resin composition not to be irradiated.
또한, 본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 광 조사한 열경화성 수지 조성물과 미조사의 열경화성 수지 조성물과의, DSC 측정에 있어서의 발열 개시 온도의 온도차(ΔT start라고도 칭함) 또는 발열 피크 온도의 온도차(ΔT peak라고도 칭함)가 10℃ 이상인 것이 바람직하고, 20℃ 이상인 것이 보다 바람직하고, 30℃ 이상인 것이 더욱 바람직하다.Further, the thermosetting resin composition of the present invention is a thermosetting resin composition of the present invention, wherein the temperature difference (referred to as? T start) of the exothermic onset temperature in the DSC measurement or the temperature difference (? T peak ) Is preferably 10 占 폚 or higher, more preferably 20 占 폚 or higher, and still more preferably 30 占 폚 or higher.
여기서, ΔT start란, 동일한 조성의 열경화성 수지 조성물을 준비하고, 한쪽은 광 조사한 후에, 다른 한쪽은 광 조사하지 않고 그대로, DSC(시차 주사 열량 측정, Differential scanning calorimetry) 측정을 각각 행하고, 광 조사한 수지 조성물의 경화 반응의 개시를 나타내는 발열 개시 온도와, 미조사의 수지 조성물 발열 개시 온도의 온도차를 가리킨다. ΔT peak는, 마찬가지로 DSC 측정을 행한 때의, 광 조사, 미조사의 수지 조성물 발열 피크 온도의 온도차를 말한다.Here, the? T start is a method of preparing a thermosetting resin composition having the same composition, measuring the DSC (differential scanning calorimetry) without irradiating the other side after light irradiation, Refers to the temperature difference between the exothermic onset temperature that indicates the initiation of the curing reaction of the composition and the exothermic onset temperature of the resin composition that is not irradiated. ? T peak refers to the temperature difference of the exothermic peak temperature of the resin composition for light irradiation and non-irradiation at the time of DSC measurement.
또한, 광 조사한 열경화성 수지 조성물의 DSC 측정에 있어서의 조사량은, 조사량을 높여 가서, 열경화성 수지 조성물의 광 조사에 의한 발열 피크 온도의 시프트가 일어나지 않게 되는(새츄레이션) 조사량이다.Further, the irradiated amount in the DSC measurement of the irradiated thermosetting resin composition is an irradiation amount (saturation) in which the exothermic peak temperature shift due to light irradiation of the thermosetting resin composition does not occur while increasing the irradiation amount.
ΔT start 또는 ΔT peak가 10℃ 이상인 것에 의해, 미조사부가 알칼리 현상에 의해 잔존하게 되는 소위 덮어 쓰기나, 광 조사부가 알칼리 현상에 의해 제거되어버리는 소위 침식의 발생을 억제할 수 있다. 또한, ΔT start 또는 ΔT peak가 10℃ 이상인 것에 의해, 후술하는 가열 공정 (B1)에 있어서 취할 수 있는 가열 온도의 범위를 넓게 취하는 것이 가능하게 된다.It is possible to suppress the occurrence of so-called overwriting, in which the unexposed portion remains due to the alkali development, or the so-called erosion, in which the light irradiated portion is removed by the alkali development due to ΔT start or ΔT peak of 10 ° C. or higher. Further, since the temperature difference ΔT start or ΔT peak is 10 ° C. or higher, it is possible to obtain a wider range of the heating temperature that can be obtained in the heating step (B1) described later.
이하, 열경화성 수지 조성물의 각 성분에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, each component of the thermosetting resin composition will be described in detail.
[알칼리 현상성 수지][Alkali developing resin]
알칼리 현상성 수지는, 페놀성 수산기, 티올기 및 카르복실기 중 1종 이상의 관능기를 함유하고, 알칼리 용액으로 현상 가능한 수지이며, 바람직하게는 페놀성 수산기를 2개 이상 갖는 화합물, 카르복실기 함유 수지, 페놀성 수산기 및 카르복실기를 갖는 화합물, 티올기를 2개 이상 갖는 화합물을 들 수 있다.The alkali developable resin is a resin containing at least one functional group selected from the group consisting of a phenolic hydroxyl group, a thiol group and a carboxyl group and capable of being developed into an alkali solution, preferably a compound having two or more phenolic hydroxyl groups, a carboxyl group- A compound having a hydroxyl group and a carboxyl group, and a compound having two or more thiol groups.
페놀성 수산기를 2개 이상 갖는 화합물로서는, 페놀노볼락 수지, 알킬페놀노볼락수지, 비스페놀 A 노볼락 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 자일록(Xylok)형 페놀 수지, 테르펜 변성 페놀 수지, 폴리비닐페놀류, 비스페놀 F, 비스페놀 S형 페놀 수지, 폴리-p-히드록시스티렌, 나프톨과 알데히드류의 축합물, 디히드록시나프탈렌과 알데히드류의 축합물 등 공지 관용의 페놀 수지를 들 수 있다.Examples of the compound having two or more phenolic hydroxyl groups include phenol novolac resins, alkylphenol novolak resins, bisphenol A novolak resins, dicyclopentadiene type phenol resins, xylok type phenol resins, terpene modified phenol resins, Phenol resins such as polyvinyl phenols, bisphenol F, bisphenol S type phenol resins, poly-p-hydroxystyrene, condensates of naphthol and aldehydes, condensation products of dihydroxynaphthalene and aldehydes, and the like.
또한, 페놀 수지로서, 비페닐 골격 또는 페닐렌 골격, 또는 그 양쪽의 골격을 갖는 화합물과, 페놀성 수산기 함유 화합물로서 페놀, 오르토크레졸, 파라크레졸, 메타크레졸, 2,3-크실레놀, 2,4-크실레놀, 2,5-크실레놀, 2,6-크실레놀, 3,4-크실레놀, 3,5-크실레놀, 카테콜, 레조르시놀, 히드로퀴논, 메틸히드로퀴논, 2,6-디메틸히드로퀴논, 트리메틸히드로퀴논, 피로갈롤, 플로로글루시놀 등을 사용하여 합성한, 여러가지 골격을 갖는 페놀 수지를 사용할 수도 있다.As the phenol resin, a compound having a biphenyl skeleton or a phenylene skeleton or both skeletons thereof and a compound having a phenolic hydroxyl group-containing compound such as phenol, orthocresol, paracresol, methacresol, 2,3-xylenol, 2 4-xylenol, 3,5-xylenol, catechol, resorcinol, hydroquinone, methylhydroquinone , 2,6-dimethylhydroquinone, trimethylhydroquinone, pyrogallol, fluoroglucinol, or the like may be used.
이들은, 1종 단독으로 사용할 수도 있고, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다.These may be used alone, or two or more of them may be used in combination.
카르복실기 함유 수지로서는, 공지된 카르복실기를 포함하는 수지를 사용할 수 있다. 카르복실기의 존재에 의해, 수지 조성물을 알칼리 현상성으로 할 수 있다. 또한, 카르복실기 외에, 분자 내에 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 화합물을 사용할 수도 있지만, 본 발명에 있어서는, 카르복실기 함유 수지로서, 예를 들어 하기 (1)과 같은, 에틸렌성 불포화 이중 결합을 갖지 않은 카르복실기 함유 수지만을 사용하는 것이 바람직하다.As the carboxyl group-containing resin, a resin containing a known carboxyl group can be used. By the presence of a carboxyl group, the resin composition can be rendered alkali-developable. In addition to the carboxyl group, a compound having an ethylenically unsaturated bond in the molecule can be used. In the present invention, a carboxyl group-containing resin such as a carboxyl group-containing resin having no ethylenically unsaturated double bond But it is preferable to use.
본 발명에 사용할 수 있는 카르복실기 함유 수지의 구체예로서는, 이하에 열거하는 것과 같은 화합물(올리고머 및 중합체 중의 어느 것이어도 됨)을 들 수 있다.Specific examples of the carboxyl group-containing resin that can be used in the present invention include the following compounds (any of oligomers and polymers) listed below.
(1) (메트)아크릴산 등의 불포화 카르복실산과, 스티렌, α-메틸스티렌, 저급 알킬(메트)아크릴레이트, 이소부틸렌 등의 불포화기 함유 화합물과의 공중합에 의해 얻어지는 카르복실기 함유 수지. 또한, 저급 알킬이란, 탄소 원자수 1 내지 5의 알킬기를 가리킨다.(1) A carboxyl group-containing resin obtained by copolymerization of an unsaturated carboxylic acid such as (meth) acrylic acid with an unsaturated group-containing compound such as styrene,? -Methylstyrene, lower alkyl (meth) acrylate or isobutylene. Further, lower alkyl refers to an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
(2) 지방족 디이소시아네이트, 분지 지방족 디이소시아네이트, 지환식 디이소시아네이트, 방향족 디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트와, 디메틸올프로피온산, 디메틸올부탄산 등의 카르복실기 함유 디알코올 화합물 및 폴리카르보네이트계 폴리올, 폴리에테르계 폴리올, 폴리에스테르계 폴리올, 폴리올레핀계 폴리올, 아크릴계 폴리올, 비스페놀 A계 알킬렌옥시드 부가체 디올, 페놀성 히드록실기 및 알코올성 히드록실기를 갖는 화합물 등의 디올 화합물의 중부가 반응에 의한 카르복실기 함유 우레탄 수지.(2) Diisocyanates such as aliphatic diisocyanates, branched aliphatic diisocyanates, alicyclic diisocyanates and aromatic diisocyanates, carboxyl-containing dialcohol compounds such as dimethylolpropionic acid and dimethylolbutanoic acid, and polycarbonate-based polyols, polyether Containing carboxyl groups in a diol compound such as polyol, polyol, polyester polyol, polyolefin polyol, acrylic polyol, bisphenol A alkylene oxide adduct diol, phenolic hydroxyl group and alcoholic hydroxyl group. Urethane resin.
(3) 지방족 디이소시아네이트, 분지 지방족 디이소시아네이트, 지환식 디이소시아네이트, 방향족 디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트 화합물과, 폴리카르보네이트계 폴리올, 폴리에테르계 폴리올, 폴리에스테르계 폴리올, 폴리올레핀계 폴리올, 아크릴계 폴리올, 비스페놀 A계 알킬렌옥시드 부가체 디올, 페놀성 히드록실기 및 알코올성 히드록실기를 갖는 화합물 등의 디올 화합물의 중부가 반응에 의한 우레탄 수지의 말단에 산 무수물을 반응시켜 이루어지는 말단 카르복실기 함유 우레탄 수지.(3) A process for producing a polyisocyanate compound, which comprises reacting a diisocyanate compound such as an aliphatic diisocyanate, a branched aliphatic diisocyanate, an alicyclic diisocyanate or an aromatic diisocyanate with a polycarbonate-based polyol, a polyether- , A terminal carboxyl group-containing urethane resin obtained by reacting an acid anhydride at the terminal of a urethane resin by a heavy-chain reaction of a diol compound such as a bisphenol A-based alkylene oxide adduct diol, a phenolic hydroxyl group and a compound having an alcoholic hydroxyl group .
(4) 디이소시아네이트와, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 수소 첨가 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비페놀형 에폭시 수지 등의 2관능 에폭시 수지의 (메트)아크릴레이트 또는 그의 부분 산 무수물 변성물, 카르복실기 함유 디알코올 화합물 및 디올 화합물의 중부가 반응에 의한 카르복실기 함유 우레탄 수지.(4) a bifunctional epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin, a hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a bisphenol S type epoxy resin, a beccylenol type epoxy resin and a biphenol type epoxy resin (Meth) acrylate or a partial acid anhydride thereof, a carboxyl group-containing dialcohol compound and a diol compound.
(5) 상기 (2) 또는 (4)의 수지의 합성 중에, 히드록시알킬(메트)아크릴레이트 등의 분자 중에 1개의 수산기와 1개 이상의 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물을 첨가하여 말단 (메트)아크릴화한 카르복실기 함유 우레탄 수지.(5) In the synthesis of the resin of the above (2) or (4), a compound having one hydroxyl group and at least one (meth) acryloyl group in the molecule such as hydroxyalkyl (meth) Meth) acrylated carboxyl group-containing urethane resin.
(6) 상기 (2) 또는 (4)의 수지의 합성 중에, 이소포론디이소시아네이트와 펜타에리트리톨트리아크릴레이트의 등몰 반응물 등, 분자 중에 1개의 이소시아네이트기와 1개 이상의 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물을 첨가하여 말단 (메트)아크릴화한 카르복실기 함유 우레탄 수지.(6) In the synthesis of the resin of the above (2) or (4), it is preferable to use a mixture of isophorone diisocyanate and pentaerythritol triacrylate, such as equimolar reactants, having one isocyanate group and at least one (meth) acryloyl group in the molecule (Meth) acrylate obtained by adding a compound to a carboxyl group-containing urethane resin.
(7) 전술하는 바와 같은 다관능 (고형) 에폭시 수지에 (메트)아크릴산 등의 불포화 모노카르복실산을 반응시켜, 측쇄에 존재하는 수산기에 무수 프탈산, 테트라히드로 무수 프탈산, 헥사히드로 무수 프탈산 등의 2 염기 산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 수지.(7) A method of reacting an unsaturated monocarboxylic acid such as (meth) acrylic acid with a polyfunctional (solid) epoxy resin as described above to react the hydroxyl groups present in the side chain with phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, A carboxyl group-containing resin to which a dibasic acid anhydride is added.
(8) 전술하는 바와 같은 다관능 (고형) 에폭시 수지에 포화 모노카르복실산을 반응시켜, 측쇄에 존재하는 수산기에 무수 프탈산, 테트라히드로 무수 프탈산, 헥사히드로 무수 프탈산 등의 2 염기 산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 수지.(8) A method in which a saturated monocarboxylic acid is reacted with a polyfunctional (solid) epoxy resin as described above, and a dibasic acid anhydride such as phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, or hexahydrophthalic anhydride is added to the hydroxyl group present in the side chain Containing resin.
(9) 2관능 (고형) 에폭시 수지의 수산기를 또한 에피클로로히드린으로 에폭시화한 다관능 에폭시 수지에 (메트)아크릴산을 반응시키고, 발생한 수산기에 2 염기 산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 수지.(9) A carboxyl group-containing resin obtained by reacting a polyfunctional epoxy resin obtained by epoxidizing a hydroxyl group of a bifunctional (solid) epoxy resin with epichlorohydrin, with (meth) acrylic acid and adding a dibasic acid anhydride to the hydroxyl group generated.
(10) 후술하는 바와 같은 다관능 옥세탄 수지에 디카르복실산을 반응시키고, 발생한 1급의 수산기에 2 염기 산 무수물을 부가시킨 카르복실기 함유 폴리에스테르 수지.(10) A carboxyl group-containing polyester resin in which a dicarboxylic acid is reacted with a polyfunctional oxetane resin as described below, and dibasic acid anhydride is added to the resulting primary hydroxyl group.
(11) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌옥시드, 프로필렌옥시드 등의 알킬렌옥시드를 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(11) A carboxyl group-containing resin obtained by reacting a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with an alkylene oxide such as ethylene oxide or propylene oxide with a polybasic acid anhydride.
(12) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌옥시드, 프로필렌옥시드 등의 알킬렌옥시드를 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 포화 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(12) A method in which a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with an alkylene oxide such as ethylene oxide or propylene oxide is reacted with a saturated monocarboxylic acid, and a polybasic acid anhydride A carboxyl group-containing resin.
(13) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌옥시드, 프로필렌옥시드 등의 알킬렌옥시드를 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(13) A process for producing a polyoxyalkylene compound, which comprises reacting a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with an alkylene oxide such as ethylene oxide or propylene oxide with a monocarboxylic acid containing an unsaturated group, A carboxylic group-containing resin obtained by reacting an anhydride.
(14) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌카르보네이트, 프로필렌카르보네이트 등의 환상 카르보네이트 화합물을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 포화 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(14) A method in which a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with a cyclic carbonate compound such as ethylene carbonate or propylene carbonate is reacted with a saturated monocarboxylic acid, Is reacted with a polybasic acid anhydride.
(15) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌카르보네이트, 프로필렌카르보네이트 등의 환상 카르보네이트 화합물을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(15) A carboxyl group-containing resin obtained by reacting a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with a cyclic carbonate compound such as ethylene carbonate or propylene carbonate, with a polybasic acid anhydride.
(16) 1 분자 중에 복수의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과 에틸렌카르보네이트, 프로필렌카르보네이트 등의 환상 카르보네이트 화합물을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물에 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어지는 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(16) reacting a reaction product obtained by reacting a compound having a plurality of phenolic hydroxyl groups in a molecule with a cyclic carbonate compound such as ethylene carbonate or propylene carbonate to react with an unsaturated group-containing monocarboxylic acid, A carboxyl group-containing resin obtained by reacting a reaction product with a polybasic acid anhydride.
(17) 1 분자 중에 복수의 에폭시기를 갖는 에폭시 화합물에, p-히드록시페네틸알코올 등의 1 분자 중에 적어도 1개의 알코올성 수산기와 1개의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과, 포화 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어진 반응 생성물의 알코올성 수산기에 대하여 무수 말레산, 테트라히드로 무수 프탈산, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 아디프산 등의 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(17) A process for producing an epoxy compound having a plurality of epoxy groups in one molecule by reacting a compound having at least one alcoholic hydroxyl group and one phenolic hydroxyl group in one molecule such as p-hydroxyphenethyl alcohol with a saturated monocarboxylic acid Containing carboxylic acid anhydride such as maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride and adipic acid to the alcoholic hydroxyl group of the obtained reaction product.
(18) 1 분자 중에 복수의 에폭시기를 갖는 에폭시 화합물에, p-히드록시페네틸알코올 등의 1 분자 중에 적어도 1개의 알코올성 수산기와 1개의 페놀성 수산기를 갖는 화합물을 반응시키고, 얻어진 반응 생성물의 알코올성 수산기에 대하여 무수 말레산, 테트라히드로 무수 프탈산, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 아디프산 등의 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(18) A process for producing an epoxy compound having a plurality of epoxy groups in one molecule by reacting a compound having at least one alcoholic hydroxyl group and one phenolic hydroxyl group in a molecule such as p-hydroxyphenethyl alcohol with an alcoholic Containing resin obtained by reacting a hydroxyl group with a polybasic acid anhydride such as maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic acid anhydride or adipic acid.
(19) 1 분자 중에 복수의 에폭시기를 갖는 에폭시 화합물에, p-히드록시페네틸알코올 등의 1 분자 중에 적어도 1개의 알코올성 수산기와 1개의 페놀성 수산기를 갖는 화합물과, (메트)아크릴산 등의 불포화기 함유 모노카르복실산을 반응시키고, 얻어진 반응 생성물의 알코올성 수산기에 대하여 무수 말레산, 테트라히드로 무수 프탈산, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 아디프산 등의 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 카르복실기 함유 수지.(19) A process for producing an epoxy compound having a plurality of epoxy groups in one molecule, a compound having at least one alcoholic hydroxyl group and one phenolic hydroxyl group in one molecule such as p-hydroxyphenethyl alcohol, Containing monocarboxylic acid and reacting the alcoholic hydroxyl group of the obtained reaction product with a polybasic acid anhydride such as maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, trimellitic acid anhydride, pyromellitic acid anhydride or adipic acid, Suzy.
(20) 상기 (1) 내지 (19) 중 어느 하나의 수지에 글리시딜(메트)아크릴레이트, α-메틸글리시딜(메트)아크릴레이트 등의 분자 중에 1개의 에폭시기와 1개 이상의 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물을 더 부가하여 이루어지는 카르복실기 함유 수지.(20) The resin composition according to any one of the above items (1) to (19), which contains one epoxy group in the molecule such as glycidyl (meth) acrylate and? -Methyl glycidyl (meth) ) A carboxyl group-containing resin obtained by further adding a compound having an acryloyl group.
상기와 같은 알칼리 현상성 수지는, 백본·중합체의 측쇄에 다수의 카르복실기나 히드록시기 등을 갖기 때문에, 알칼리 수용액에 의한 현상이 가능해진다.Since the alkali developable resin has a large number of carboxyl groups and hydroxyl groups in the side chain of the backbone polymer, development with an aqueous alkaline solution becomes possible.
또한, 상기 카르복실기 함유 수지의 히드록실기 당량 또는 카르복실기 당량은 80 내지 900g/eq.인 것이 바람직하고, 더욱 바람직하게는 100 내지 700g/eq.이다. 히드록실기 당량 또는 카르복실기 당량이 900g/eq.을 초과한 경우, 패턴층의 밀착성이 얻어지지 않거나, 알칼리 현상이 곤란해지는 경우가 있다. 한편, 히드록실기 당량 또는 카르복실기 당량이 80g/eq. 미만인 경우에는, 현상액에 의한 광 조사부의 용해가 진행되기 때문에, 필요 이상으로 라인이 가늘어지거나, 경우에 따라서는 광 조사부와 미조사부의 구별없이 현상액으로 용해 박리되어버려, 정상적인 레지스트 패턴의 묘화가 곤란해지는 경우가 있으므로 바람직하지 않다. 또한, 카르복실기 당량이나 페놀기 당량이 큰 경우, 알칼리 현상성 수지의 함유량이 적은 경우에도, 현상이 가능하게 되기 때문에 바람직하다.The hydroxyl group equivalent or carboxyl group equivalent of the carboxyl group-containing resin is preferably 80 to 900 g / eq., More preferably 100 to 700 g / eq. When the equivalent of the hydroxyl group or the equivalent of the carboxyl group is more than 900 g / eq., Adhesion of the pattern layer may not be obtained or alkaline development may become difficult. On the other hand, when the hydroxyl group equivalent or the carboxyl group equivalent is 80 g / eq. , Dissolution of the light irradiation part by the developer proceeds, so that the line is thinned more than necessary, and in some cases, it is dissolved and peeled off as a developing solution without distinction between the light irradiation part and the non-irradiation part, It is not preferable because there is a case that When the carboxyl group equivalent or the phenol group equivalent is large, development is possible even when the content of the alkali developable resin is small, which is preferable.
또한, 본 발명에서 사용하는 알칼리 현상성 수지의 중량 평균 분자량은, 수지 골격에 따라 상이한데, 2,000 내지 150,000, 나아가 5,000 내지 100,000의 범위가 바람직하다. 중량 평균 분자량이 2,000 미만이면 무점착 성능이 떨어지는 경우가 있고, 광 조사 후의 수지층의 내습성이 나쁘고, 현상 시에 막감소가 발생하고, 해상도가 크게 떨어지는 경우가 있다. 한편, 중량 평균 분자량이 150,000을 초과하면, 현상성이 현저하게 나빠지는 경우가 있고, 저장 안정성이 떨어지는 경우가 있다.The weight average molecular weight of the alkali developable resin used in the present invention varies depending on the resin skeleton, and is preferably from 2,000 to 150,000, more preferably from 5,000 to 100,000. If the weight average molecular weight is less than 2,000, the tack free performance may deteriorate, the moisture resistance of the resin layer after the light irradiation may be poor, the film may be reduced during development, and the resolution may be significantly lowered. On the other hand, if the weight average molecular weight exceeds 150,000, the developability may be markedly deteriorated and the storage stability may be deteriorated.
본 명세서에 있어서, (메트)아크릴레이트란, 아크릴레이트, 메타크릴레이트 및 그들의 혼합물을 총칭하는 용어이며, 다른 유사한 표현에 대해서도 마찬가지이다.In the present specification, (meth) acrylate is a generic term for acrylate, methacrylate, and mixtures thereof, and the same applies to other similar expressions.
티올기를 갖는 화합물로서는, 예를 들어 트리메틸올프로판트리스티오프로피오네이트, 펜타에리트리톨테트라키스티오프로피오네이트, 에틸렌글리콜비스티오글리콜레이트, 1,4-부탄디올비스티오글리콜레이트, 트리메틸올프로판트리스티오글리콜레이트, 펜타에리트리톨테트라키스티오글리콜레이트, 디(2-머캅토에틸)에테르, 1,4-부탄디티올, 1,3,5-트리머캅토메틸벤젠, 1,3,5-트리머캅토메틸-2,4,6-트리메틸벤젠, 말단 티올기 함유 폴리에테르, 말단 티올기 함유 폴리티오에테르, 에폭시 화합물과 황화수소와의 반응에 의해 얻어지는 티올 화합물, 폴리티올 화합물과 에폭시 화합물과의 반응에 의해 얻어지는 말단 티올기를 갖는 티올 화합물 등을 들 수 있다.As the compound having a thiol group, for example, trimethylolpropane tristyropionate, pentaerythritol tetrakisthiopropionate, ethylene glycol bisthioglycolate, 1,4-butanediol bisthioglycolate, trimethylolpropane tristhio Glycolate, pentaerythritol tetrakisthioglycolate, di (2-mercaptoethyl) ether, 1,4-butanedithiol, 1,3,5-trimercaptomethylbenzene, 1,3,5-trimercaptomethyl -2,4,6-trimethylbenzene, a terminal thiol group-containing polyether, a terminal thiol group-containing polythioether, a thiol compound obtained by the reaction of an epoxy compound with hydrogen sulfide, a thiol compound obtained by reacting a polythiol compound with an epoxy compound A thiol compound having a terminal thiol group, and the like.
알칼리 현상성 수지는, 카르복실기 함유 수지나 페놀성 수산기를 갖는 화합물인 것이 바람직하다. 또한, 알칼리 현상성 수지는, 에폭시아크릴레이트 등의 광경화성 구조를 갖지 않은 비감광성인 것이 바람직하다. 이러한 비감광성 알칼리 현상성 수지는, 에폭시아크릴레이트에서 유래되는 에스테르 결합을 갖지 않으므로, 디스미어액에 대한 내성이 높다. 따라서, 경화 특성이 우수한 패턴층을 형성할 수 있다. 또한, 광경화성 구조를 갖지 않기 때문에, 경화 수축을 억제할 수 있다.The alkali developable resin is preferably a compound having a carboxyl group-containing resin or a phenolic hydroxyl group. The alkali developable resin is preferably non-photosensitive, such as epoxy acrylate, having no photocurable structure. Such a non-photosensitive alkali developable resin has no ester bond derived from an epoxy acrylate and therefore has high resistance to a disperse liquid. Therefore, a pattern layer having excellent curing characteristics can be formed. Further, since it does not have a photo-curable structure, curing shrinkage can be suppressed.
알칼리 현상성 수지가 카르복실기 함유 수지인 경우, 페놀성 수지의 경우와 비교하여 약알칼리성 수용액으로 현상할 수 있다. 약알칼리성 수용액으로서는, 탄산나트륨 등이 용해된 것을 들 수 있다. 약알칼리성 수용액으로 현상함으로써, 광 조사부가 현상되어버리는 것을 억제할 수 있다. 또한, 공정 (B)에 있어서의 광 조사 시간이나 공정 (B1)에 있어서의 가열 시간을 단축할 수 있다.When the alkali developable resin is a carboxyl group-containing resin, it can be developed into a weakly alkaline aqueous solution as compared with the case of the phenolic resin. Examples of the slightly alkaline aqueous solution include those in which sodium carbonate and the like are dissolved. By developing with a slightly alkaline aqueous solution, it is possible to suppress the development of the irradiated portion. Further, the light irradiation time in the step (B) and the heating time in the step (B1) can be shortened.
[열반응성 화합물][Thermoreactive compound]
열반응성 화합물은, 열에 의한 경화 반응이 가능한 관능기를 갖는 수지이다. 에폭시 수지, 다관능 옥세탄 화합물 등을 들 수 있다.The thermally reactive compound is a resin having a functional group capable of a curing reaction by heat. Epoxy resins, and polyfunctional oxetane compounds.
상기 에폭시 수지는 에폭시기를 갖는 수지이며, 공지된 것을 모두 사용할 수 있다. 분자 중에 에폭시기를 2개 갖는 2관능성 에폭시 수지, 분자 중에 에폭시기를 다수 갖는 다관능 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 또한, 수소 첨가된 2관능 에폭시 화합물이어도 된다.The epoxy resin is a resin having an epoxy group, and any known epoxy resin can be used. A bifunctional epoxy resin having two epoxy groups in the molecule, and a polyfunctional epoxy resin having a large number of epoxy groups in the molecule. Further, it may be a hydrogenated bifunctional epoxy compound.
다관능 에폭시 화합물로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 브롬화 에폭시 수지, 노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 수소 첨가 비스페놀 A형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 히단토인형 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 트리히드록시페닐메탄형 에폭시 수지, 비크실레놀형 또는 비페놀형 에폭시 수지 또는 그들의 혼합물, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 A 노볼락형 에폭시 수지, 테트라페닐올에탄형 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 디글리시딜프탈레이트 수지, 테트라글리시딜크실레노일에탄 수지, 나프탈렌기 함유 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔 골격을 갖는 에폭시 수지, 글리시딜메타크릴레이트 공중합계 에폭시 수지, 시클로헥실말레이미드와 글리시딜메타크릴레이트의 공중합 에폭시 수지, CTBN 변성 에폭시 수지 등을 들 수 있다.Examples of the polyfunctional epoxy compound include bisphenol A epoxy resin, brominated epoxy resin, novolak epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, hydrogenated bisphenol A epoxy resin, glycidylamine epoxy resin, hydantoin epoxy resin, Alicyclic epoxy resin, trihydroxyphenylmethane type epoxy resin, biquileneol type or biphenol type epoxy resin or a mixture thereof, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol A novolak type epoxy resin, tetraphenylol ethane type epoxy resin, Cyclic epoxy resins, cyclic epoxy resins, diglycidyl phthalate resins, tetraglycidyl silyloyl ethane resins, naphthalene group-containing epoxy resins, epoxy resins having dicyclopentadiene skeleton, glycidyl methacrylate copolymer epoxy resins, A copolymerized epoxy resin of mid and glycidyl methacrylate, a CTBN-modified epoxy resin And the like.
기타의 액상 2관능성 에폭시 수지로서는, 비닐시클로헥센디에폭시드, (3',4'-에폭시시클로헥실메틸)-3,4-에폭시시클로헥산카르복실레이트, (3',4'-에폭시-6'-메틸시클로헥실메틸)-3,4-에폭시-6-메틸시클로헥산카르복실레이트 등의 지환족 에폭시 수지를 들 수 있다. 나프탈렌기 함유 에폭시 수지는, 경화물의 열팽창을 억제할 수 있기 때문에 바람직하다.Examples of other liquid bifunctional epoxy resins include vinylcyclohexene diepoxide, (3 ', 4'-epoxycyclohexylmethyl) -3,4-epoxycyclohexanecarboxylate, (3', 4'- 6'-methylcyclohexylmethyl) -3,4-epoxy-6-methylcyclohexanecarboxylate, and the like. The naphthalene group-containing epoxy resin is preferable because thermal expansion of the cured product can be suppressed.
상기의 에폭시 수지는, 1종을 단독으로 사용할 수도 있고, 2종 이상을 병용할 수도 있다.The above-mentioned epoxy resins may be used singly or in combination of two or more.
상기 다관능 옥세탄 화합물로서는, 비스[(3-메틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]에테르, 비스[(3-에틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]에테르, 1,4-비스[(3-메틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]벤젠, 1,4-비스[(3-에틸-3-옥세타닐메톡시)메틸]벤젠, (3-메틸-3-옥세타닐)메틸아크릴레이트, (3-에틸-3-옥세타닐)메틸아크릴레이트, (3-메틸-3-옥세타닐)메틸메타크릴레이트, (3-에틸-3-옥세타닐)메틸메타크릴레이트나 그것들의 올리고머 또는 공중합체 등의 다관능 옥세탄류 외에, 옥세탄 알코올과 노볼락 수지, 폴리(p-히드록시스티렌), 카르도형 비스페놀류, 칼릭스아렌류, 칼릭스레조르신아렌류, 또는 실세스퀴옥산 등의 수산기를 갖는 수지와의 에테르화물 등을 들 수 있다. 기타, 옥세탄환을 갖는 불포화 단량체와 알킬(메트)아크릴레이트의 공중합체 등도 들 수 있다.Examples of the polyfunctional oxetane compound include bis [(3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, bis [ (3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,4-bis [ (3-ethyl-3-oxetanyl) methyl acrylate, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate, In addition to polyfunctional oxetanes such as oligomers and copolymers thereof, oxetane alcohol and novolak resins, poly (p-hydroxystyrene), cardo type bisphenols, calixarene, calix resorcinarene or And ether compounds with a resin having a hydroxyl group such as silsesquioxane. Other examples include copolymers of an unsaturated monomer having an oxetane ring and an alkyl (meth) acrylate.
여기서, 열반응성 화합물이 벤젠 골격을 갖는 경우, 내열성이 향상되므로, 바람직하다. 또한, 열경화성 수지 조성물이 백색 안료를 함유하는 경우, 열반응성 화합물은 지환식 골격인 것이 바람직하다. 이에 의해, 광반응성을 향상시킬 수 있다.Here, when the thermally reactive compound has a benzene skeleton, heat resistance is improved, which is preferable. When the thermosetting resin composition contains a white pigment, the thermally reactive compound is preferably an alicyclic skeleton. Thereby, the photoreactivity can be improved.
상기 열반응성 화합물의 배합량으로서는, 알칼리 현상성 수지와의 당량비(열반응성기:알칼리 현상성기)가 1:0.1 내지 1:10인 것이 바람직하고, 1:0.2 내지 1:5인 것이 보다 바람직하다. 이러한 배합비의 범위 내인 경우, 현상이 양호해진다.The amount of the thermally reactive compound to be used is preferably 1: 0.1 to 1:10, more preferably 1: 0.2 to 1: 5 in terms of the equivalent ratio (thermal reactive group: alkali developing group) to the alkali developable resin. When the mixing ratio is within the range, the phenomenon is improved.
[광 염기 발생제][Photobase generator]
광 염기 발생제는, 자외선이나 가시광 등의 광 조사에 의해 분자 구조가 변화하거나, 또는 분자가 개열함으로써 상기의 열반응성 화합물의 부가 반응의 촉매로서 기능할 수 있는 1종 이상의 염기성 물질을 생성하는 화합물이다. 염기성 물질로서, 예를 들어 2급 아민, 3급 아민을 들 수 있다.The photobase generator is a compound capable of generating at least one basic substance capable of functioning as a catalyst for addition reaction of the above-mentioned thermoreactive compound by changing the molecular structure by irradiation of light such as ultraviolet rays or visible light, to be. As the basic substance, for example, secondary amine and tertiary amine can be mentioned.
광 염기 발생제로서, 예를 들어 α-아미노아세토페논 화합물, 옥심에스테르 화합물이나, 아실옥시이미노기, N-포르밀화 방향족 아미노기, N-아실화 방향족 아미노기, 니트로벤질카르바메이트기, 알콕시벤질카르바메이트기 등의 치환기를 갖는 화합물 등을 들 수 있다.As the photobase generator, for example, an? -Amino acetophenone compound, an oxime ester compound, an acyloxyimino group, an N-formylated aromatic amino group, a N-acylated aromatic amino group, a nitrobenzylcarbamate group, And a compound having a substituent such as a carboxylate group and a carboxylate group.
α-아미노아세토페논 화합물은 분자 중에 벤조인에테르 결합을 갖고, 광 조사를 받으면 분자 내에서 개열이 일어나서, 경화 촉매 작용을 발휘하는 염기성 물질(아민)이 생성된다. α-아미노아세토페논 화합물의 구체예로서는, (4-모르폴리노벤조일)-1-벤질-1-디메틸아미노프로판(이르가큐어369, 상품명, BASF 재팬사 제조)이나 4-(메틸티오벤조일)-1-메틸-1-모르폴리노에탄(이르가큐어907, 상품명, BASF 재팬사 제조), 2-(디메틸아미노)-2-[(4-메틸페닐)메틸]-1-[4-(4-모르폴리닐)페닐]-1-부타논(이르가큐어379, 상품명, BASF 재팬사 제조) 등의 시판되는 화합물 또는 그의 용액을 사용할 수 있다.The? -aminoacetophenone compound has a benzoin ether bond in its molecule, and when exposed to light, cleavage takes place in the molecule to generate a basic substance (amine) which exerts a curing catalytic action. Specific examples of the? -amino acetophenone compound include 4- (methylthiobenzoyl) -1-benzyl-1-dimethylaminopropane (Irgacure 369, trade name, Methyl-1-morpholinoethane (Irgacure 907, trade name, manufactured by BASF Japan) and 2- (dimethylamino) -2 - [(4- methylphenyl) methyl] (Morpholinyl) phenyl] -1-butanone (IRGACURE 379, trade name, manufactured by BASF Japan), or a solution thereof can be used.
옥심에스테르 화합물로서는, 광 조사에 의해 염기성 물질을 생성하는 화합물을 모두 사용할 수 있다. 옥심에스테르 화합물로서는, 시판품으로서, BASF 재팬사 제조의 CGI-325, 이르가큐어―OXE01, 이르가큐어―OXE02, 아데카사 제조의 N-1919, NCI-831 등을 들 수 있다. 또한, 분자 내에 2개의 옥심에스테르기를 갖는 화합물도 적절하게 사용할 수 있고, 구체적으로는 하기 화학식으로 표시되는 카르바졸 구조를 갖는 옥심에스테르 화합물을 들 수 있다.As the oxime ester compound, any compound capable of generating a basic substance by light irradiation can be used. Examples of oxime ester compounds include CGI-325, Irgacure-OXE01, Irgacure-OXE02, and N-1919 and NCI-831 manufactured by BASF Japan. Also, a compound having two oxime ester groups in the molecule can be suitably used, and specific examples thereof include oxime ester compounds having a carbazole structure represented by the following formula.
(식 중 X는 수소 원자, 탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 페닐기, 페닐기(탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1 내지 8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 나프틸기(탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1 내지 8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음)를 나타내고, Y, Z는 각각 수소 원자, 탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 할로겐기, 페닐기, 페닐기(탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1 내지 8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 나프틸기(탄소수 1 내지 17의 알킬기, 탄소수 1 내지 8의 알콕시기, 아미노기, 탄소수 1 내지 8의 알킬기를 갖는 알킬아미노기 또는 디알킬아미노기에 의해 치환되어 있음), 안트릴기, 피리딜기, 벤조푸릴기, 벤조티에닐기를 나타내고, Ar은 결합이나, 탄소수 1 내지 10의 알킬렌, 비닐렌, 페닐렌, 비페닐렌, 피리딜렌, 나프틸렌, 티오펜, 안트릴렌, 티에닐렌, 푸릴렌, 2,5-피롤-디일, 4,4'-스틸벤-디일, 4,2'-스티렌-디일로 나타내고, n은 0이나 1의 정수임)(Wherein X represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, a phenyl group, a phenyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, an amino group, (Having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, an amino group, an alkylamino group having 1 to 8 carbon atoms or a dialkylamino group having 1 to 8 carbon atoms), a naphthyl group Y and Z each represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 8 carbon atoms, a halogen group, a phenyl group, a phenyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms An alkoxy group, an amino group, an alkylamino group having an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms or a dialkylamino group), a naphthyl group (an alkyl group having 1 to 17 carbon atoms, an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms An alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, or an alkylamino group having 1 to 8 carbon atoms or a dialkylamino group), an anthryl group, a pyridyl group, a benzofuryl group or a benzothienyl group, Ar represents a bond, To 10 carbon atoms, such as alkylene, vinylene, phenylene, biphenylene, pyridylene, naphthylene, thiophene, anthrylene, thienylene, furylene, 2,5- -Diyl, 4,2'-styrene-diyl, and n is an integer of 0 or 1)
특히, 상기 화학식 중, X, Y가 각각 메틸기 또는 에틸기이며, Z는 메틸 또는 페닐이며, n은 0이며, Ar은 결합이나, 페닐렌, 나프틸렌, 티오펜 또는 티에닐렌인 것이 바람직하다.Particularly, in the above formula, X and Y are each methyl or ethyl, Z is methyl or phenyl, n is 0, and Ar is a bond or phenylene, naphthylene, thiophene or thienylene.
또한, 바람직한 카르바졸옥심에스테르 화합물로서, 하기 화학식으로 표시할 수 있는 화합물을 들 수도 있다.As preferable carbazole oxime ester compounds, there may be mentioned compounds which can be represented by the following formulas.
(식 중 R1은 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬기, 또는 니트로기, 할로겐 원자 또는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬기로 치환되어 있을 수도 있는 페닐기를 나타내며, R2는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬기, 탄소 원자수 1 내지 4의 알콕시기, 또는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬기 또는 알콕시기로 치환되어 있을 수도 있는 페닐기를 나타내며, R3은 산소 원자 또는 황 원자로 연결되어 있을 수도 있고, 페닐기로 치환되어 있을 수도 있는 탄소 원자수 1 내지 20의 알킬기, 탄소 원자수 1 내지 4의 알콕시기로 치환되어 있을 수도 있는 벤질기를 나타내며, R4는 니트로기, 또는 X-C(=O)-로 표시되는 아실기를 나타내고, X는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬기로 치환되어 있을 수도 있는 아릴기, 티에닐기, 모르폴리노기, 티오페닐기, 또는 하기 식으로 표시되는 구조를 나타냄)(Wherein R 1 represents an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms or a phenyl group which may be substituted with a nitro group, a halogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, R 2 represents an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms An alkyl group, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, or a phenyl group which may be substituted with an alkyl group or an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, R 3 may be connected by an oxygen atom or a sulfur atom, An alkyl group of 1 to 20 carbon atoms which may be substituted or a benzyl group which may be substituted by an alkoxy group of 1 to 4 carbon atoms, R 4 represents an acyl group represented by a nitro group or XC (= O) - , X represents an aryl group which may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a thienyl group, a morpholino group, a thiophenyl group, or a structure represented by the following formula:
기타, 일본 특허 공개 제2004-359639호 공보, 일본 특허 공개 제2005-097141호 공보, 일본 특허 공개 제2005-220097호 공보, 일본 특허 공개 제2006-160634호 공보, 일본 특허 공개 제2008-094770호 공보, 일본 특허 공표 제2008-509967호 공보, 일본 특허 공표 제2009-040762호 공보, 일본 특허 공개 제2011-80036호 공보 기재의 카르바졸옥심에스테르 화합물 등을 들 수 있다.Other examples include Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2004-359639, 2005-097141, 2005-220097, 2006-160634, 2008-094770 A carbazole oxime ester compound described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-509967, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2009-040762, and Japanese Patent Laid-Open No. 2011-80036.
아실옥시이미노기를 갖는 화합물의 구체예로서는, O,O'-숙신산디아세토페논옥심, O,O'-숙신산디나프토페논옥심, 벤조페논옥심아크릴레이트스티렌 공중합체 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound having an acyloxyimino group include O, O'-diacetophenone oxime of succinic acid, O, O'-dinaphthophenone oxime of succinic acid, and benzophenone oxime acrylate styrene copolymer.
N-포르밀화 방향족 아미노기, N-아실화 방향족 아미노기를 갖는 화합물의 구체예로서는, 예를 들어 디-N-(p-포르밀아미노)디페닐메탄, 디-N(p-아세틸아미노)디페닐멜란, 디-N-(p-벤조아미드)디페닐메탄, 4-포르밀아미노톨루일렌, 4-아세틸아미노톨루일렌, 2,4-디포르밀아미노톨루일렌, 1-포르밀아미노나프탈렌, 1-아세틸아미노나프탈렌, 1,5-디포르밀아미노나프탈렌, 1-포르밀아미노안트라센, 1,4-디포르밀아미노안트라센, 1-아세틸아미노안트라센, 1,4-디포르밀아미노안트라키논, 1,5-디포르밀아미노안트라키논, 3,3'-디메틸-4,4'-디포르밀아미노비페닐, 4,4'-디포르밀아미노벤조페논 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound having an N-formylated aromatic amino group and an N-acylated aromatic amino group include di-N- (p-formylamino) diphenylmethane, di- , Di-N- (p-benzoamido) diphenylmethane, 4-formylaminotoluylenes, 4-acetylaminotoluylene, 2,4-diformylaminotoluylenes, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 carbon atoms, such as acetylaminonaphthalene, 5,3'-dimethyl-4,4'-diformylaminobiphenyl, 4,4'-diformylaminobenzophenone, and the like.
니트로벤질카르바메이트기, 알콕시벤질카르바메이트기를 갖는 화합물의 구체예로서는, 예를 들어 비스{{(2-니트로벤질)옥시}카르보닐}디아미노디페닐메탄, 2,4-디{{(2-니트로벤질)옥시}톨루일렌, 비스{{(2-니트로벤질옥시)카르보닐}헥산-1,6-디아민, m-크실리딘{{(2-니트로-4-클로로벤질)옥시}아미드} 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound having a nitrobenzylcarbamate group and an alkoxybenzylcarbamate group include, for example, bis {{(2-nitrobenzyl) oxy} carbonyl} diaminodiphenylmethane, 2,4- Nitrobenzyl) oxy} toluene, bis {{(2-nitrobenzyloxy) carbonyl} hexane-1,6-diamine, m- Amide} and the like.
광 염기 발생제로서는, 옥심에스테르 화합물, α-아미노아세토페논 화합물이 바람직하다. α-아미노아세토페논 화합물로서는, 특히 2개 이상의 질소 원자를 갖는 것이 바람직하다.As the photobase generator, oxime ester compounds and? -Amino acetophenone compounds are preferable. As the? -amino acetophenone compound, those having at least two nitrogen atoms are particularly preferred.
기타의 광 염기 발생제로서,As other photobase generators,
WPBG-018(상품명: 9-안트릴메틸 N,N'-디에틸카르바메이트), WPBG-027(상품명: (E)-1-[3-(2-히드록시페닐)-2-프로페노일]피페리딘), WPBG-082(상품명: 구아니디늄2-(3-벤조일페닐)프로피오네이트), WPBG-140(상품명: 1-(안트라퀴논-2-일)에틸 이미다졸카르복실레이트) 등을 사용할 수도 있다.(E) -1- [3- (2-hydroxyphenyl) -2-propylphenol (trade name: WPBG-018 (trade name: 9-anthrylmethyl N, N'- diethylcarbamate) (Anthraquinon-2-yl) ethyl imidazolecarboxylate (trade name: WPBG-081), WPBG-082 (trade name: guanidinium 2- (3- benzoylphenyl) propionate) Rate) may be used.
또한, 일본 특허 공개 평11-71450호 공보, 국제 공개 2002/051905호, 국제 공개 2008/072651호, 일본 특허 공개 제2003-20339호 공보, 일본 특허 공개 제2003-212856호 공보, 일본 특허 공개 제2003-344992호 공보, 일본 특허 공개 제2007-86763호 공보, 일본 특허 공개 제2007-231235호 공보, 일본 특허 공개 제2008-3581호 공보, 일본 특허 공개 제2008-3582호 공보, 일본 특허 공개 제2009-280785, 일본 특허 공개 제2009-080452, 일본 특허 공개 제2010-95686호 공보, 일본 특허 공개 제2010-126662호 공보, 일본 특허 공개 제2010-185010호 공보, 일본 특허 공개 제2010-185036호 공보, 일본 특허 공개 제2010-186054호 공보, 일본 특허 공개 제2010-186056호 공보, 일본 특허 공개 제2010-275388호 공보, 일본 특허 공개 제2010-222586, 일본 특허 공개 제2010-084144, 일본 특허 공개 제2011-107199호 공보, 일본 특허 공개 제2011-236416, 일본 특허 공개 제2011-080032 등의 문헌에 기재된 광 염기 발생제를 사용할 수도 있다.Japanese Laid-Open Patent Publication No. 11-71450, International Publication No. 2002/051905, International Publication No. 2008/072651, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2003-20339, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2003-212856, 2003-344992, 2007-86763, 2007-231235, 2008-3581, 2008-3582, and Japanese Patent Application Laid-Open 2009-280785, JP-A-2009-080452, JP-A-2010-95686, JP-A-2010-126662, JP-A-2010-185010, JP-A-2010-185036 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-186054, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-186056, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-275388, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-222586, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-084144, Japanese Patent Open No. 2011-107199, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-236416, The photobase generating agent described in the literature, such as Patent Publication No. 2011-080032 may be used.
상기 광 염기 발생제는, 1종을 단독으로 사용할 수도 있고, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다. 열경화성 수지 조성물 중의 광 염기 발생제의 배합량은, 바람직하게는 열반응성 화합물 100질량부에 대하여 1 내지 50질량부이며, 더욱 바람직하게는 1 내지 40질량부이다. 1질량부 미만의 경우, 현상이 곤란해지는 경우가 있기 때문에 바람직하지 않다.The photobase generator may be used alone or in combination of two or more. The blending amount of the photo-base generator in the thermosetting resin composition is preferably 1 to 50 parts by mass, more preferably 1 to 40 parts by mass, per 100 parts by mass of the heat-reactive compound. If the amount is less than 1 part by mass, development may be difficult, which is not preferable.
[말레이미드 화합물][Maleimide compound]
본 발명의 열경화성 수지 조성물은 말레이미드 화합물을 포함할 수도 있다.The thermosetting resin composition of the present invention may contain a maleimide compound.
말레이미드 화합물로서는, 다관능 지방족/지환족 말레이미드, 다관능 방향족 말레이미드를 들 수 있다. 2관능 이상의 말레이미드 화합물(다관능 말레이미드 화합물)이 바람직하다. 다관능 지방족/지환족 말레이미드로서는, 예를 들어 N,N'-메틸렌비스말레이미드, N,N'-에틸렌비스말레이미드, 트리스(히드록시에틸)이소시아누레이트와 지방족/지환족 말레이미드카르복실산을 탈수 에스테르화하여 얻어지는 이소시아누레이트 골격의 말레이미드에스테르 화합물; 트리스(카르바메이트헥실)이소시아누레이트와 지방족/지환족 말레이미드 알코올을 우레탄화하여 얻어지는 이소시아누레이트 골격의 말레이미드 우레탄 화합물 등의 이소시아누르 골격 폴리말레이미드류; 이소포론비스우레탄비스(N-에틸말레이미드), 트리에틸렌글리콜비스(말레이미드에틸카르보네이트), 지방족/지환족 말레이미드카르복실산과 각종 지방족/지환족 폴리올을 탈수 에스테르화, 또는 지방족/지환족 말레이미드카르복실산에스테르와 각종 지방족/지환족 폴리올을 에스테르 교환 반응하여 얻어지는 지방족/지환족 폴리말레이미드에스테르 화합물류; 지방족/지환족 말레이미드카르복실산과 각종 지방족/지환족 폴리에폭시드를 에테르 개환 반응하여 얻어지는 지방족/지환족 폴리말레이미드에스테르 화합물류; 지방족/지환족 말레이미드 알코올과 각종 지방족/지환족 폴리이소시아네이트를 우레탄화 반응하여 얻어지는 지방족/지환족 폴리말레이미드우레탄 화합물류 등이 있다.Examples of the maleimide compound include polyfunctional aliphatic / alicyclic maleimide and polyfunctional aromatic maleimide. A bifunctional or higher maleimide compound (polyfunctional maleimide compound) is preferable. Examples of the polyfunctional aliphatic / alicyclic maleimide include N, N'-methylenebismaleimide, N, N'-ethylenebismaleimide, tris (hydroxyethyl) isocyanurate and aliphatic / alicyclic maleimide A maleimide ester compound of an isocyanurate skeleton obtained by dehydrating esterification of a carboxylic acid; Isocyanurate skeleton polyamides such as maleimide urethane compounds of isocyanurate skeleton obtained by urethanating tris (carbamate hexyl) isocyanurate and aliphatic / alicyclic maleimide alcohol; (Maleimide ethyl carbonate), aliphatic / alicyclic maleimidic carboxylic acid and various aliphatic / cycloaliphatic polyols are dehydrated and esterified, or aliphatic / alicyclic polyhydric alcohols Aliphatic / alicyclic poly (maleimide) ester compounds obtained by transesterifying maleimide carboxylic acid esters with various aliphatic / cycloaliphatic polyols; Aliphatic / alicyclic poly (maleimide) ester compounds obtained by ether ring-opening reaction of aliphatic / alicyclic maleimide carboxylic acid and various aliphatic / cycloaliphatic polyepoxides; Aliphatic / alicyclic poly (maleimide) urethane compounds obtained by urethanizing aliphatic / alicyclic maleimide alcohols with various aliphatic / alicyclic polyisocyanates, and the like.
다관능 방향족 말레이미드로서는, 말레이미드카르복실산과 각종 방향족 폴리올을 탈수 에스테르화, 또는 말레이미드카르복실산에스테르와 각종 방향족 폴리올을 에스테르 교환 반응하여 얻어지는 방향족 폴리말레이미드에스테르 화합물류; 말레이미드카르복실산과 각종 방향족 폴리에폭시드를 에테르 개환 반응하여 얻어지는 방향족 폴리말레이미드에스테르 화합물류; 말레이미드 알코올과 각종 방향족 폴리이소시아네이트를 우레탄화 반응하여 얻어지는 방향족 폴리말레이미드우레탄 화합물류 등의 방향족 다관능 말레이미드류 등이 있다.Examples of the polyfunctional aromatic maleimide include aromatic polyimale ester compounds obtained by dehydrating esterification of maleimide carboxylic acid and various aromatic polyols, or transesterifying maleimide carboxylic acid esters with various aromatic polyols; Aromatic polymaleimide ester compounds obtained by ether ring-opening reaction of maleimide carboxylic acid with various aromatic polyepoxides; And aromatic polyfunctional maleimides such as aromatic poly (maleimide) urethane compounds obtained by urethanizing a maleimide alcohol with various aromatic polyisocyanates.
다관능 방향족 말레이미드의 구체예로서는, 예를 들어 N,N'-(4,4'-디페닐메탄)비스말레이미드, N,N'-2,4-톨릴렌비스말레이미드, N,N'-2,6-톨릴렌비스말레이미드, 1-메틸-2,4-비스말레이미드벤젠, N,N'-m-페닐렌비스말레이미드, N,N'-p-페닐렌비스말레이미드, N,N'-m-톨루일렌비스말레이미드, N,N'-4,4'-비페닐렌비스말레이미드, N,N'-4,4'-〔3,3'-디메틸-비페닐렌〕비스말레이미드, N,N'-4,4'-〔3,3'-디메틸디페닐메탄〕비스말레이미드, N,N'-4,4'-〔3,3'-디에틸디페닐메탄〕비스말레이미드, N,N'-4,4'-디페닐메탄비스말레이미드, N,N'-4,4'-디페닐프로판비스말레이미드, N,N'-4,4'-디페닐에테르비스말레이미드, N,N'-3,3'-디페닐술폰비스말레이미드, N,N'-4,4'-디페닐술폰비스말레이미드, 2,2-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 2,2-비스〔3-t-부틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 2,2-비스〔3-s-부틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 1,1-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕데칸, 1,1-비스〔2-메틸-4-(4-말레이미드페녹시)-5-t-부틸페닐〕-2-메틸프로판, 4,4'-시클로헥실리덴-비스〔1-(4-말레이미드페녹시)-2-(1,1-디메틸에틸)벤젠〕, 4,4'-메틸렌-비스〔1-(4-말레이미드페녹시)-2,6-비스(1,1-디메틸에틸)벤젠〕, 4,4'-메틸렌-비스〔1-(4-말레이미드페녹시)-2,6-디-s-부틸벤젠〕, 4,4'-시클로헥실리덴-비스〔1-(4-말레이미드페녹시)-2-시클로헥실벤젠, 4,4'-메틸렌비스〔1-(말레이미드페녹시)-2-노닐벤젠〕, 4,4'-(1-메틸에틸리덴)-비스〔1-(말레이미드페녹시)-2,6-비스(1,1-디메틸에틸)벤젠〕, 4,4'-(2-에틸헥실리덴)-비스〔1-(말레이미드페녹시)-벤젠〕, 4,4'-(1-메틸헵틸리덴)-비스〔1-(말레이미드페녹시)-벤젠〕, 4,4'-시클로헥실리덴-비스〔1-(말레이미드페녹시)-3-메틸벤젠〕, 2,2-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕헥사플루오로프로판, 2,2-비스〔3-메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 2,2-비스〔3-메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕헥사플루오로프로판, 2,2-비스〔3,5-디메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 2,2-비스〔3,5-디메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕헥사플루오로프로판, 2,2-비스〔3-에틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕프로판, 2,2-비스〔3-에틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕헥사플루오로프로판, 비스〔3-메틸-(4-말레이미드페녹시)페닐〕메탄, 비스〔3,5-디메틸-(4-말레이미드페녹시)페닐〕메탄, 비스〔3-에틸-(4-말레이미드페녹시)페닐〕메탄, 3,8-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕-트리시클로〔5.2.1.02,6〕데칸, 4,8-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕-트리시클로〔5.2.1.02,6〕데칸, 3,9-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕-트리시클로〔5.2.1.02,6〕데칸, 4,9-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕-트리시클로〔5.2.1.02,6〕데칸, 1,8-비스〔4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕멘탄, 1,8-비스〔3-메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕멘탄, 1,8-비스〔3,5-디메틸-4-(4-말레이미드페녹시)페닐〕멘탄 등을 들 수 있다.Specific examples of the polyfunctional aromatic maleimide include N, N '- (4,4'-diphenylmethane) bismaleimide, N, N'-2,4-tolylene bismaleimide, N, N' Methylene-2,4-bismaleimide benzene, N, N'-m-phenylene bismaleimide, N, N'-p-phenylene bismaleimide, N, N'-m-toluylene bismaleimide, N, N'-4,4'-biphenylene bismaleimide, N, N'- N, N'-4,4 '- [3,3'-dimethyldiphenylmethane] bismaleimide, N, N'- Phenylmethane] bismaleimide, N, N'-4,4'-diphenylmethane bismaleimide, N, N'-4,4'-diphenylpropanebismaleimide, N, N'- Diphenyl ether bismaleimide, N, N'-3,3'-diphenylsulfone bismaleimide, N, N'-4,4'-diphenylsulfone bismaleimide, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [3-t-butyl- Bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] decane, 1,1-bis [2 Methylphenyl) -2-methylpropane, 4,4'-cyclohexylidene-bis [1- (4-maleimidophenoxy) (1,1-dimethylethyl) benzene], 4,4'-methylene-bis [1- (4-maleimidophenoxy) , 4'-methylene-bis [1- (4-maleimidophenoxy) -2,6-di-s-butylbenzene], 4,4'- cyclohexylidene- 2-cyclohexylbenzene, 4,4'-methylenebis [1- (maleimidophenoxy) -2-nonylbenzene], 4,4 '- (1-methylethylidene) -bis [ - (maleimidophenoxy) -2,6-bis (1,1-dimethylethyl) benzene], 4,4 ' , 4,4'- (1-methylheptylidene) -bis [1- (maleimidophenoxy) -benzene], 4,4'-cyclohexylidene-bis [1- (maleimidophenoxy) -3- Benzene], 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2,2-bis [ Bis [3,5-dimethyl-4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2,2- Propane, 2,2-bis [3,5-dimethyl-4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2,2- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane, bis [3-methyl- (4-maleimidophenoxy) phenyl] methane , Bis [3,5-dimethyl- (4-maleimidophenoxy) phenyl] methane, bis [3-ethyl- (4-maleimidophenoxy) phenyl] methane, Phenyl] -tricyclo [5.2.1.0 2,6] decane, 4,8-bis [4- (4-maleimidophenoxy) , 9-bis [4- (4-maleimide Phenoxy) phenyl] -tricyclo [5.2.1.02,6] decane, 4,9-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] -tricyclo [5.2.1.0 2,6] decane, 1,8 Bis [3-methyl-4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] mentane, 1,8-bis [3,5 -Dimethyl-4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] mentane.
말레이미드 화합물의 배합량으로서는, 알칼리 현상성 수지와의 당량비(말레이미드기:알칼리 현상성기)가 1:0.1 내지 1:10인 것이 바람직하고, 1:0.2 내지 1:5인 것이 보다 바람직하다. 이러한 배합비로 함으로써 현상이 용이해진다.The compounding amount of the maleimide compound is preferably 1: 0.1 to 1:10, and more preferably 1: 0.2 to 1: 5 in terms of the equivalent ratio (maleimide group: alkali developing group) to the alkali developable resin. Such blending ratio facilitates development.
[고분자 수지][Polymer resin]
본 발명의 열경화성 수지 조성물에는, 얻어지는 경화물의 가요성, 지촉 건조성의 향상을 목적으로 관용 공지된 고분자 수지를 배합할 수 있다. The thermosetting resin composition of the present invention can be blended with a publicly known polymer resin for the purpose of improving the flexibility and tackiness of the resulting cured product.
고분자 수지로서는 셀룰로오스계, 폴리에스테르계, 페녹시 수지계, 폴리비닐아세탈계, 폴리비닐부티랄계, 폴리아미드계, 폴리아미드이미드계 결합제 중합체, 블록 공중합체, 엘라스토머, 고무 입자 등을 들 수 있다. 결합제 중합체는 1종류를 단독으로 사용할 수도 있고, 2종류 이상을 병용할 수도 있다.Examples of the polymer resin include cellulose type, polyester type, phenoxy resin type, polyvinyl acetal type, polyvinyl butyral type, polyamide type, polyamideimide type binder polymer, block copolymer, elastomer, rubber particle and the like. The binder polymer may be used alone or in combination of two or more.
고분자 수지를 배합함으로써, 열경화성 수지 조성물의 용융 점도가 상승하여, 노광 후 가열 시에 있어서, 스루홀 부분의 수지 유동성을 억제할 수 있다. 그 결과, 스루홀 상에 오목부가 보이지 않는 평탄한 기판을 제작할 수 있다.By blending the polymer resin, the melt viscosity of the thermosetting resin composition is increased, and the resin fluidity of the through hole portion can be suppressed at the time of post-exposure heating. As a result, it is possible to manufacture a flat substrate on which the concave portion is not seen on the through hole.
상기 고분자 수지의 첨가량은, 상기 열반응성 화합물 100질량부에 대하여 바람직하게는 50질량부 이하, 보다 바람직하게는 1 내지 30질량부, 특히 바람직하게는 5 내지 30질량부이다. 고분자 수지의 배합량이 50질량부를 초과한 경우, 열경화성 수지 조성물의 디스미어 내성의 악화가 염려되기 때문에 바람직하지 않다.The addition amount of the polymer resin is preferably 50 parts by mass or less, more preferably 1 to 30 parts by mass, particularly preferably 5 to 30 parts by mass, based on 100 parts by mass of the heat-reactive compound. When the blending amount of the polymer resin exceeds 50 parts by mass, deterioration resistance of the thermosetting resin composition is undesirably deteriorated.
(블록 공중합체)(Block copolymer)
블록 공중합체란, 성질이 상이한 2종류 이상의 중합체가 공유 결합으로 연결되어 긴 연쇄가 된 분자 구조의 공중합체이다.A block copolymer is a copolymer having a molecular structure in which two or more kinds of polymers having different properties are linked by a covalent bond to form a long chain.
본 발명에서 사용하는 블록 공중합체로서는 A-B-A 또는 A-B-A'형 블록 공중합체가 바람직하다. A-B-A 또는 A-B-A'형 블록 공중합체 중, 중앙의 B가 소프트 블록이며 유리 전이점 Tg가 낮아, 바람직하게는 0℃ 미만이고, 그 양 외측 A 또는 A'가 하드 블록이며 Tg가 높아, 바람직하게는 0℃ 이상의 중합체 단위에 의해 구성되어 있는 것이 바람직하다. 유리 전이점 Tg는 시차 주사 열량 측정(DSC)에 의해 측정된다.As the block copolymer used in the present invention, an A-B-A or A-B-A 'type block copolymer is preferable. Among ABA or AB-A 'type block copolymers, it is preferable that B in the center is a soft block and the glass transition point Tg is low, preferably less than 0 ° C, and both A or A' are hard blocks and Tg is high , It is preferable that it is constituted by polymer units of 0 占 폚 or more. The glass transition point Tg is measured by differential scanning calorimetry (DSC).
또한, A-B-A 또는 A-B-A'형 블록 공중합체 중, A 또는 A'가 Tg가 50℃ 이상인 중합체 단위를 포함하고, B가 Tg가 -20℃ 이하인 중합체 단위를 포함하는 블록 공중합체가 더욱 바람직하다.Further, among the ABA or AB-A 'type block copolymers, a block copolymer comprising a polymer unit in which A or A' contains a polymer unit having a Tg of 50 ° C or higher and B has a Tg of -20 ° C or lower is more preferable .
또한, A-B-A 또는 A-B-A'형 블록 공중합체 중, A 또는 A'가 상기 열반응성 화합물과의 상용성이 높은 것이 바람직하고, B가 상기 열반응성 화합물과의 상용성이 낮은 것이 바람직하다. 이와 같이, 양단의 블록이 매트릭스에 상용이며, 중앙의 블록이 매트릭스에 비상용인 블록 공중합체로 함으로써, 매트릭스 중에 있어서 특이적인 구조를 나타내기 쉬워진다고 생각된다.It is preferable that A or A 'in the A-B-A or A-B-A' type block copolymer has high compatibility with the heat-reactive compound, and B has low compatibility with the heat-reactive compound. Thus, it is considered that a specific structure is easily exhibited in the matrix when the block at both ends is commonly used in a matrix and the central block is a block copolymer which is used as an emergency in a matrix.
A 또는 A'로서, 폴리메틸(메트)아크릴레이트(PMMA), 폴리스티렌(PS) 등을 포함하는 것이 바람직하고, B로서 폴리n-부틸아크릴레이트(PBA), 폴리부타디엔(PB) 등을 포함하는 것이 바람직하다. 또한, A 또는 A' 성분의 일부에 스티렌 유닛, 수산기 함유 유닛, 카르복실기 함유 유닛, 에폭시 함유 유닛, N 치환 아크릴아미드 유닛 등으로 대표되는 전술에 기재한 매트릭스와 상용성이 우수한 친수성 유닛을 도입하여, 더욱 상용성을 향상시키는 것이 가능하게 된다.A and A 'preferably include polymethyl (meth) acrylate (PMMA), polystyrene (PS), and the like as B and include poly n-butyl acrylate (PBA), polybutadiene . Further, a hydrophilic unit having excellent compatibility with the above-mentioned matrix represented by a styrene unit, a hydroxyl group-containing unit, a carboxyl group-containing unit, an epoxy-containing unit, an N-substituted acrylamide unit, It becomes possible to further improve the compatibility.
또한 본 발명에 사용하는 블록 공중합체로서는 3원 이상의 블록 공중합체가 바람직하고, 리빙 중합법에 의해 합성된 분자 구조가 정밀하게 컨트롤된 블록 공중합체가 본 발명의 효과를 얻는데 있어서 보다 바람직하다. 이것은, 리빙 중합법에 의해 합성된 블록 공중합체는 분자량 분포가 좁고, 각각의 유닛의 특징이 명확해졌기 때문이라고 생각된다. 사용하는 블록 공중합체의 분자량 분포(Mw/Mn)는 3 이하가 바람직하고, 2.5 이하가 보다 바람직하고, 더욱 바람직하게는 2.0 이하이다.As the block copolymer to be used in the present invention, a block copolymer of three or more atoms is preferable, and a block copolymer in which the molecular structure synthesized by the living polymerization method is precisely controlled is more preferable for obtaining the effect of the present invention. This is presumably because the molecular weight distribution of the block copolymer synthesized by the living polymerization method was narrow and the characteristics of each unit became clear. The molecular weight distribution (Mw / Mn) of the block copolymer to be used is preferably 3 or less, more preferably 2.5 or less, and furthermore preferably 2.0 or less.
상기와 같은 (메트)아크릴레이트 중합체 블록을 포함하는 블록 공중합체는, 예를 들어 일본 특허 공개 제2007-516326호, 일본 특허 공개 제2005-515281호 명세서 기재된 방법, 특히 하기 화학식 (1) 내지 (4) 중 어느 하나로 표시되는 알콕시 아민 화합물을 개시제로 하여 Y 단위를 중합한 후에, X 단위를 중합함으로써 적절하게 얻을 수 있다.The block copolymer comprising such a (meth) acrylate polymer block can be obtained, for example, by the method described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2007-516326 or Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-515281, 4) as an initiator and then polymerizing the Y unit and then polymerizing the X unit.
(식 중, n은 2를 나타내고, Z는 2가의 유기기를 나타내고, 바람직하게는 1,2-에탄디옥시, 1,3-프로판디옥시, 1,4-부탄디옥시, 1,6-헥산디옥시, 1,3,5-트리스(2-에톡시)시아누르산, 폴리아미노아민, 예를 들어 폴리에틸렌아민, 1,3,5-트리스(2-에틸아미노)시아누르산, 폴리티옥시, 포스포네이트 또는 폴리포스포네이트 중에서 선택되는 것이고, Ar은 2가의 아릴기를 나타냄)(Wherein n represents 2, Z represents a divalent organic group, and preferably 1,2-ethanedioxy, 1,3-propanedioxy, 1,4-butane dioxy, (2-ethoxy) cyanuric acid, polyaminoamines such as polyethyleneamine, 1,3,5-tris (2-ethylamino) cyanuric acid, polythioxy , Phosphonate or polyphosphonate, and Ar represents a divalent aryl group)
블록 공중합체의 중량 평균 분자량은 바람직하게는 20,000 내지 400,000, 보다 바람직하게는 50,000 내지 300,000의 범위이다. 중량 평균 분자량이 20,000 미만이면 목적으로 하는 강인성, 유연성의 효과가 얻어지지 않고, 열경화성 수지 조성물을 드라이 필름화했을 때나 기재에 도포하고 가건조했을 때의 점착성도 떨어진다. 한편, 중량 평균 분자량이 400,000을 초과하면, 열경화성 수지 조성물의 점도가 높아져서, 인쇄성, 가공성이 현저하게 나빠지는 경우가 있다. 중량 평균 분자량이 50,000 이상이면 외부로부터의 충격에 대한 완화성에 있어서 우수한 효과가 얻어진다.The weight average molecular weight of the block copolymer is preferably in the range of 20,000 to 400,000, more preferably 50,000 to 300,000. When the weight-average molecular weight is less than 20,000, the desired toughness and flexibility are not obtained, and the adhesiveness of the thermosetting resin composition when the thermosetting resin composition is made into a dry film or when it is applied to a substrate and dried is also lowered. On the other hand, if the weight average molecular weight exceeds 400,000, the viscosity of the thermosetting resin composition becomes high, and the printability and processability may be significantly deteriorated. When the weight-average molecular weight is 50,000 or more, an excellent effect is obtained in terms of relaxation against impact from the outside.
고분자 수지로서, 블록 공중합체는, 냉열 사이클 시의 크랙 내성이 우수하여, 경화 후의 휨을 억제할 수 있기 때문에 바람직하다. 블록 공중합체는, 스루홀 상의 오목부를 억제하여, 표면이 평탄한 기재를 제작할 수 있기 때문에 특히 바람직하다. 또한, 무기 충전제를 조합함으로써, 또한 냉열 사이클 시의 크랙 내성이 우수하다.As the polymer resin, a block copolymer is preferable because it is excellent in crack resistance at the time of a cooling / heating cycle and can suppress warpage after curing. The block copolymer is particularly preferable because the recesses on the through holes can be suppressed and a substrate having a flat surface can be produced. Further, by combining the inorganic filler, crack resistance during a cooling / heating cycle is excellent.
(엘라스토머)(Elastomer)
본 발명의 열경화성 수지 조성물에는, 관능기를 갖는 엘라스토머를 첨가할 수 있다. 관능기를 갖는 엘라스토머를 가함으로써, 코팅성이 향상되고, 도막의 강도도 향상되는 것을 기대할 수 있다. 또한, 폴리에스테르계 엘라스토머, 폴리우레탄계 엘라스토머, 폴리에스테르우레탄계 엘라스토머, 폴리아미드계 엘라스토머, 폴리에스테르아미드계 엘라스토머, 아크릴계 엘라스토머, 올레핀계 엘라스토머 등을 사용할 수 있다. 또한, 다양한 골격을 갖는 에폭시 수지의 일부 또는 전부의 에폭시기를 양쪽 말단 카르복실산 변성형 부타디엔-아크릴로니트릴 고무로 변성한 수지 등도 사용할 수 있다. 나아가, 에폭시 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 아크릴 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 수산기 함유 폴리부타디엔계 엘라스토머, 수산기 함유 이소프렌계 엘라스토머 등도 사용할 수 있다. 또한, 이 엘라스토머는 1종을 단독으로 사용할 수도 있고, 2종류 이상을 병용할 수도 있다.To the thermosetting resin composition of the present invention, an elastomer having a functional group may be added. By adding an elastomer having a functional group, it is expected that the coating property is improved and the strength of the coating film is also improved. Further, polyester elastomer, polyurethane elastomer, polyester urethane elastomer, polyamide elastomer, polyester amide elastomer, acrylic elastomer, olefin elastomer and the like can be used. Further, a resin obtained by modifying an epoxy group of part or all of the epoxy resin having various skeletons with both terminal carboxylic acid modified butadiene-acrylonitrile rubbers can also be used. Further, an epoxy-containing polybutadiene elastomer, an acrylic-containing polybutadiene elastomer, a hydroxyl group-containing polybutadiene elastomer, and a hydroxyl group-containing isoprene elastomer may be used. The elastomer may be used singly or in combination of two or more kinds.
(고무 입자)(Rubber particles)
고무 입자는, 가교 구조를 갖는 고분자 등의 유기물로부터 형성된 입자상의 것이라면 어떤 것이어도 되지만, 예를 들어 아크릴로니트릴부타디엔의 공중합물로서, 아크릴로니트릴과 부타디엔을 공중합한 가교 NBR 입자; 아크릴로니트릴과 부타디엔과 아크릴산 등의 카르복실산을 공중합한 것; 가교 폴리부타디엔, 가교 실리콘 고무, 또는 NBR을 코어층으로 하고, 가교 아크릴 수지를 쉘층으로 한, 소위 코어 쉘 구조의 가교 고무 입자(「코어-쉘 고무 입자」라고도 함)를 들 수 있다.The rubber particles may be any particles as long as they are particles formed from organic materials such as polymers having a crosslinked structure. For example, crosslinked NBR particles obtained by copolymerizing acrylonitrile and butadiene as acrylonitrile butadiene copolymers; A copolymer of acrylonitrile, butadiene and a carboxylic acid such as acrylic acid; Crosslinked rubber particles (also referred to as " core-shell rubber particles ") having a so-called core shell structure comprising a crosslinked polybutadiene, a crosslinked silicone rubber, or NBR as a core layer and a crosslinked acrylic resin as a shell layer.
그 중에서도, 분산성의 제어, 입자 사이즈의 안정성의 관점에서, 코어 쉘 구조의 가교 고무 입자가 바람직하고, 가교 아크릴 수지를 쉘층으로 하고, 가교 폴리부타디엔 또는 가교 실리콘 고무를 코어층으로 한 코어 쉘 구조의 가교 고무 입자가 보다 바람직하다.Among them, crosslinked rubber particles of a core-shell structure are preferable from the viewpoints of control of dispersibility and stability of particle size, and a core-shell structure in which a crosslinked acrylic resin is used as a shell layer and a crosslinked polybutadiene or a crosslinked silicone rubber is used as a core layer Crosslinked rubber particles are more preferable.
가교 NBR 입자란, 아크릴로니트릴, 부타디엔을 공중합시키고, 또한 공중합하는 단계에서 부분적으로 가교시켜 입자상으로 한 것이다. 또한 아크릴산, 메타크릴산 등의 카르복실산을 아울러 공중합함으로써, 카르복실산 변성 가교 NBR 입자를 얻는 것도 가능하다.The crosslinked NBR particles are partially crosslinked in the step of copolymerizing acrylonitrile and butadiene and then copolymerized to form granules. It is also possible to obtain carboxylic acid-modified crosslinked NBR particles by copolymerizing a carboxylic acid such as acrylic acid or methacrylic acid.
가교 부타디엔 고무-가교 아크릴 수지의 코어-쉘 고무 입자는, 유화 중합으로 부타디엔 입자를 중합시키고, 계속하여 아크릴산에스테르, 아크릴산 등의 단량체를 첨가하여 중합을 계속하는 2단계의 중합 방법으로 얻을 수 있다.The core-shell rubber particles of the crosslinked butadiene rubber-crosslinked acrylic resin can be obtained by a two-stage polymerization method of polymerizing the butadiene particles by emulsion polymerization and then continuing the polymerization by adding monomers such as acrylic acid ester and acrylic acid.
가교 실리콘 고무-가교 아크릴 수지의 코어-쉘 고무 입자는, 유화 중합으로 실리콘 입자를 중합시키고, 계속하여 아크릴산에스테르, 아크릴산 등의 단량체를 첨가하여 중합을 계속하는 2단계의 중합 방법으로 얻을 수 있다.The core-shell rubber particles of the crosslinked silicone rubber-crosslinked acrylic resin can be obtained by a two-stage polymerization method in which the silicone particles are polymerized by emulsion polymerization and then the monomers such as acrylic acid ester and acrylic acid are added to continue the polymerization.
고무 입자의 크기는, 1차 평균 입자 직경으로 1㎛ 이하이고, 50nm 내지 1㎛로 하는 것이 바람직하다. 1차 평균 입자 직경으로 1㎛를 초과하면, 접착력의 저하나, 미세 배선에서의 절연 신뢰성을 손상시키게 된다. 여기에서 말하는 「1차 평균 입자 직경」이란, 응집한 입자 직경, 즉 2차 입자 직경이 아니고, 응집하고 있지 않은 단체에서의 입자 직경을 말한다.The size of the rubber particles is preferably 1 mu m or less in terms of the primary average particle diameter, and is preferably 50 nm to 1 mu m. If the primary average particle diameter exceeds 1 탆, the adhesive strength is lowered, but insulation reliability in the fine wiring is impaired. The term " primary average particle diameter " as used herein refers to the particle diameter in the aggregated particle diameter, that is, the particle diameter not in the secondary particle diameter but in the non-aggregated particle.
또한, 그 1차 평균 입자 직경은, 예를 들어 레이저 회절식 입도 분포계에 의해 측정하여 구할 수 있다.The primary average particle diameter can be measured by, for example, a laser diffraction particle size distribution meter.
상기와 같은 고무 입자는, 단독으로나, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다.The rubber particles may be used alone or in combination of two or more.
고무 입자의 함유량은, 수지 조성물 중 50질량% 이하인 것이 바람직하고, 1 내지 30질량%인 것이 보다 바람직하다.The content of the rubber particles in the resin composition is preferably 50 mass% or less, and more preferably 1 to 30 mass%.
예를 들어, 카르복실산 변성 아크릴로니트릴부타디엔 고무 입자의 시판품으로서는 니혼 고세이 고무 가부시끼가이샤 제조의 XER-91을 들 수 있다. 부타디엔 고무-아크릴 수지의 코어 쉘 입자는 롬 앤드 하스 가부시끼가이샤 제조의 파랄로이드 EXL2655나 간쯔 가세이 고교 가부시끼가이샤의 AC-3832를 들 수 있다. 가교 실리콘 고무-아크릴 수지의 코어-쉘 고무 입자는, 아사히가세이 바커 실리콘(주) 제조의 GENIOPERLP52를 들 수 있다.For example, as a commercially available product of carboxylic acid-modified acrylonitrile butadiene rubber particles, XER-91 manufactured by Nippon Gosei Rubber Co., Ltd. can be mentioned. The core shell particle of the butadiene rubber-acrylic resin is Paraloid EXL2655 manufactured by Rohm and Haas Co., Ltd. and AC-3832 manufactured by Gansu Kasei Kogyo Co., The core-shell rubber particle of the crosslinked silicone rubber-acrylic resin is GENIOPERLP52 manufactured by Asahi Chemical Industry Co., Ltd.
고무 입자를 사용함으로써, 냉열 사이클 시의 크랙 내성을 향상시킬 수 있다.By using the rubber particles, the crack resistance during the cooling / heating cycle can be improved.
[무기 충전제][Inorganic filler]
상기 열경화성 수지 조성물은 무기 충전제를 함유한다. 무기 충전제는, 열경화성 수지 조성물의 경화물 경화 수축을 억제하여, 밀착성, 경도 등의 특성을 향상시키기 위하여 사용된다. 무기 충전제로서는, 예를 들어 황산바륨, 무정형 실리카, 용융 실리카, 구상 실리카, 탈크, 클레이, 탄산마그네슘, 탄산칼슘, 산화알루미늄, 수산화알루미늄, 질화규소, 질화알루미늄, 질화붕소, 노이부르그 실리셔스 어스 등을 들 수 있다.The thermosetting resin composition contains an inorganic filler. The inorganic filler is used for suppressing curing hardening shrinkage of the thermosetting resin composition and improving properties such as adhesion and hardness. Examples of inorganic fillers include inorganic fillers such as barium sulfate, amorphous silica, fused silica, spherical silica, talc, clay, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, silicon nitride, aluminum nitride, boron nitride, .
무기 충전제의 평균 입경(D50)은 1㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.7㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.5㎛인 것이 더욱 바람직하다. 평균 입경이 1㎛를 초과하는 경우, 패턴층이 백탁될 우려가 있기 때문에 바람직하지 않다. 무기 충전제의 평균 입경(D50)의 하한값은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 0.01㎛ 이상이다. 여기서, 평균 입경(D50)이란 평균 1차 입경을 의미한다.The average particle diameter (D50) of the inorganic filler is preferably 1 mu m or less, more preferably 0.7 mu m or less, and even more preferably 0.5 mu m. If the average particle diameter exceeds 1 탆, the pattern layer may become cloudy, which is not preferable. The lower limit value of the average particle diameter (D50) of the inorganic filler is not particularly limited, but is, for example, 0.01 m or more. Here, the average particle diameter (D50) means an average primary particle diameter.
평균 입경(D50)은 레이저 회절/산란법에 의해 측정할 수 있다. 평균 입경이 상기 범위에 있는 것에 의해, 굴절률이 수지 성분과 가까워져서, 투과성이 향상되어, 광 조사에 의한 광 염기 발생제로부터의 염기의 발생 효율이 상승한다. The average particle diameter (D50) can be measured by a laser diffraction / scattering method. When the average particle diameter is within the above range, the refractive index is made closer to the resin component, and the permeability is improved, so that the efficiency of base generation from the photo-base generating agent by light irradiation is increased.
무기 충전제와, 알칼리 현상성 수지의 굴절률차는 0.3 이하인 것이 바람직하다. 굴절률차를 0.3 이하로 함으로써, 광의 산란을 억제하여, 양호한 심부 경화 특성을 얻을 수 있다. 여기서, 무기 충전제의 굴절률은 1.4 이상 1.8 이하인 것이 바람직하다. 또한, 무기 충전제의 굴절률은 JIS K 7105에 준거하여 측정할 수 있다.The difference in refractive index between the inorganic filler and the alkali developable resin is preferably 0.3 or less. By setting the refractive index difference to 0.3 or less, scattering of light can be suppressed and favorable deep curing characteristics can be obtained. Here, the refractive index of the inorganic filler is preferably 1.4 or more and 1.8 or less. The refractive index of the inorganic filler can be measured in accordance with JIS K7105.
무기 충전제의 배합 비율은, 상기 열경화성 수지 조성물의 전체 고형분을 기준으로 하여 20질량% 이상 80질량% 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 30질량% 이상 80질량% 이하이다. 무기 충전제의 배합 비율이 80질량%를 초과하면, 조성물의 점도가 높아져서, 도포성이 저하되거나, 열경화성 수지 조성물의 경화물이 취성이 되는 경우가 있다.The mixing ratio of the inorganic filler is preferably 20 mass% or more and 80 mass% or less, more preferably 30 mass% or more and 80 mass% or less, based on the total solid content of the thermosetting resin composition. When the compounding ratio of the inorganic filler exceeds 80 mass%, the viscosity of the composition becomes high, and the coating property may be lowered, or the cured product of the thermosetting resin composition may become brittle.
라디칼 반응에 의해 경화가 진행되는 조성물에서는, 무기 충전제의 함유량이 증가한 경우 해상성이 저하되지만, 본 발명에서는, 발생한 염기에 의한 경화 반응이기 때문에, 무기 충전제의 함유량이 증가한 경우에도 양호한 해상성을 유지할 수 있다.In the composition in which the curing is progressed by the radical reaction, the resolution is lowered when the content of the inorganic filler is increased. However, in the present invention, since the reaction is a curing reaction with the base generated, good resolution can be maintained even when the content of the inorganic filler is increased .
또한, 무기 충전제의 비중은 3 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 2.8 이하이고, 더욱 보다 바람직하게는 2.5 이하이다. 무기 충전제의 비중이 3 이하인 것에 의해, 열팽창을 억제할 수 있다. 3 이하의 무기 충전제로서는, 예를 들어 실리카와 수산화알루미늄을 들 수 있고, 실리카가 특히 바람직하다.The specific gravity of the inorganic filler is preferably 3 or less, more preferably 2.8 or less, still more preferably 2.5 or less. When the specific gravity of the inorganic filler is 3 or less, thermal expansion can be suppressed. Examples of the inorganic filler of 3 or less include, for example, silica and aluminum hydroxide, and silica is particularly preferable.
무기 충전제의 형상으로서는, 부정형, 바늘 형상, 원반 형상, 비늘 조각, 구상, 중공 형상 등을 들 수 있다. 여기서, 조성물 중에 높은 비율로 배합 가능한 점으로부터, 구상이 바람직하다. 그리고, 무기 충전제는 내습성을 향상시키기 위해서, 실란 커플링제 등의 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 더욱 바람직하다.Examples of the shape of the inorganic filler include indefinite shape, needle shape, disc shape, scaly shape, spherical shape, and hollow shape. Here, from the viewpoint that the composition can be blended at a high ratio, spherical shape is preferable. It is more preferable that the inorganic filler is treated with a surface treating agent such as a silane coupling agent in order to improve moisture resistance.
또한, 무기 충전제를 함유함으로써, 냉열 사이클 시의 크랙 내성을 향상시킬 수 있다. 무기 충전제를 다량으로 함유함으로써, 경화 후의 휨을 억제할 수도 있다.Further, by containing an inorganic filler, crack resistance during a cooling / heating cycle can be improved. By containing a large amount of an inorganic filler, warping after curing can be suppressed.
본 발명에서는, 경화물의 열팽창 계수(CTE)가 40ppm 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 30ppm 이하이고, 보다 더욱 바람직하게는 20ppm 이하이다.In the present invention, the coefficient of thermal expansion (CTE) of the cured product is preferably 40 ppm or less, more preferably 30 ppm or less, still more preferably 20 ppm or less.
[유기 용제][Organic solvents]
본 발명의 열경화성 수지 조성물에는, 수지 조성물의 제조를 위해서나 기재나 캐리어 필름에 도포하기 위한 점도 조정을 위해서 유기 용제를 사용할 수 있다.In the thermosetting resin composition of the present invention, an organic solvent may be used for the production of a resin composition or for viscosity adjustment for application to a substrate or a carrier film.
이러한 유기 용제로서는, 케톤류, 방향족 탄화수소류, 글리콜에테르류, 글리콜에테르아세테이트류, 에스테르류, 알코올류, 지방족 탄화수소, 석유계 용제 등을 들 수 있다. 이러한 유기 용제는, 1종을 단독으로 사용할 수도 있고, 2종 이상의 혼합물로서 사용할 수도 있다.Examples of such organic solvents include ketones, aromatic hydrocarbons, glycol ethers, glycol ether acetates, esters, alcohols, aliphatic hydrocarbons, petroleum solvents and the like. These organic solvents may be used singly or as a mixture of two or more kinds.
[광중합성 단량체][Photopolymerizable monomer]
본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 광중합성 단량체를 포함하고 있을 수도 있다.The thermosetting resin composition of the present invention may contain a photopolymerizable monomer within a range that does not impair the effect of the present invention.
광중합성 단량체로서는, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트 등의 알킬(메트)아크릴레이트류; 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트 등의 히드록시알킬(메트)아크릴레이트류; 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 디프로필렌글리콜 등의 알킬렌옥시드 유도체의 모노 또는 디(메트)아크릴레이트류; 헥산디올, 트리메틸올프로판, 펜타에리트리톨, 디트리메틸올프로판, 디펜타에리트리톨, 트리스히드록시에틸이소시아누레이트 등의 다가 알코올 또는 이 에틸렌옥시드 또는 프로필렌옥시드 부가물의 다가 (메트)아크릴레이트류; 페녹시에틸(메트)아크릴레이트, 비스페놀 A의 폴리에톡시디(메트)아크릴레이트 등의 페놀류의 에틸렌옥시드 또는 프로필렌옥시드 부가물의 (메트)아크릴레이트류; 글리세린디글리시딜에테르, 트리메틸올프로판트리글리시딜에테르, 트리글리시딜이소시아누레이트 등의 글리시딜에테르의 (메트)아크릴레이트류; 및 멜라민(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the photopolymerizable monomer include alkyl (meth) acrylates such as 2-ethylhexyl (meth) acrylate and cyclohexyl (meth) acrylate; Hydroxyalkyl (meth) acrylates such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate and 2-hydroxypropyl (meth) acrylate; Mono or di (meth) acrylates of alkylene oxide derivatives such as ethylene glycol, propylene glycol, diethylene glycol and dipropylene glycol; Polyhydric alcohols such as hexanediol, trimethylol propane, pentaerythritol, ditrimethylol propane, dipentaerythritol, and trishydroxy ethylisocyanurate, or polyvalent (meth) acrylates of the ethylene oxide or propylene oxide adduct Ryu; (Meth) acrylates of ethylene oxide or propylene oxide adduct of phenols such as phenoxyethyl (meth) acrylate and polyethoxydi (meth) acrylate of bisphenol A; (Meth) acrylates of glycidyl ethers such as glycerin diglycidyl ether, trimethylol propane triglycidyl ether and triglycidyl isocyanurate; And melamine (meth) acrylate.
광중합성 단량체의 배합량은, 열경화성 수지 조성물의 용제를 제외한 고형분을 기준으로 하여, 50질량% 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 30질량% 이하이고, 더욱 보다 바람직하게는 15질량% 이하이다. 광중합성 단량체의 배합량이 50질량%를 초과하는 경우, 경화 수축이 커지기 때문에, 휨이 커질 가능성이 있다. 또한, 광중합성 단량체가 (메트)아크릴레이트 유래인 경우, 에스테르 결합을 포함한다. 이 경우, 디스미어 처리에 의해, 에스테르 결합의 가수분해가 일어나기 때문에, 전기 특성이 저하될 가능성이 있다.The blending amount of the photopolymerizable monomer is preferably 50 mass% or less, more preferably 30 mass% or less, still more preferably 15 mass% or less, based on the solid content excluding the solvent of the thermosetting resin composition. When the blending amount of the photopolymerizable monomer is more than 50% by mass, the shrinkage of the curing increases, and therefore the warpage may be increased. When the photopolymerizable monomer is derived from (meth) acrylate, it includes an ester bond. In this case, hydrolysis of the ester bond occurs due to the desmear treatment, so that there is a possibility that the electrical characteristics are lowered.
(기타의 임의 성분)(Any other component)
본 발명의 열경화성 수지 조성물에는, 필요에 따라 추가로 머캅토 화합물, 밀착 촉진제, 착색제, 산화 방지제, 자외선 흡수제 등의 성분을 배합할 수 있다.In the thermosetting resin composition of the present invention, components such as a mercapto compound, an adhesion promoter, a colorant, an antioxidant, and an ultraviolet absorber may be further added, if necessary.
특히, 본 발명에서는, 착색제의 함유량을 증가시킨 경우에 있어서도, 언더컷을 억제하여, 양호한 비아홀과 라인을 형성할 수 있다.Particularly, in the present invention, even when the content of the coloring agent is increased, the undercut can be suppressed and good via holes and lines can be formed.
이들은, 전자 재료의 분야에 있어서 공지의 것을 사용할 수 있다. 또한, 상기의 열경화성 수지 조성물에는, 미분 실리카, 히드로탈사이트, 유기 벤토나이트, 몬모릴로나이트 등의 공지 관용의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계 등의 소포제 및/또는 레벨링제, 실란 커플링제, 방청제 등과 같은 공지 관용의 첨가제류를 배합할 수 있다.These materials may be those known in the field of electronic materials. The thermosetting resin composition may further contain a known thickener such as finely divided silica, hydrotalcite, organic bentonite or montmorillonite, a defoaming agent such as silicon, fluorine or high molecular weight and / or a leveling agent, a silane coupling agent, Additive additives can be blended.
또한, 열경화성 성분으로서, 블록 이소시아네이트 화합물, 아미노 수지, 벤조옥사진 수지, 카르보디이미드 수지, 시클로카르보네이트 화합물, 에피술피드 수지 등의 공지 관용의 열경화성 수지 등을 배합해도 된다.As the thermosetting component, a known thermosetting resin such as a block isocyanate compound, an amino resin, a benzoxazine resin, a carbodiimide resin, a cyclocarbonate compound or an episulfide resin may be added.
또한, 알칼리 현상성 수지로서 페놀 수지를 함유하고, 열반응성 화합물로서 에폭시 수지를 함유함으로써, Tg를 높게 할 수 있어, 원료의 연화점에 의존하지 않고 HAST 내성이 우수한 경화물이 얻어지는 수지 조성물로 할 수 있다. 또한, 광중합성 단량체(분자 내에 에틸렌성 불포화기를 함유하고, 카르복실기 함유 수지를 주성분으로 하는 광경화성 수지 조성물에 있어서, 광경화를 촉진하기 위하여 배합되는 저분자 화합물)을 배합하지 않는 조성으로 한 경우, 태크성이 우수한 수지 조성물로 할 수 있다.In addition, a resin composition containing a phenol resin as an alkali developable resin and containing an epoxy resin as a heat-reactive compound can be used to obtain a cured product having a high Tg and excellent HAST resistance without depending on the softening point of the raw material have. When the photopolymerizable monomer (a low-molecular compound containing an ethylenic unsaturated group in its molecule and containing a carboxyl group-containing resin as a main component and being blended for promoting photo-curing) is not blended, It is possible to obtain a resin composition having excellent properties.
종래의 광경화성 수지 조성물에서는, 광경화 반응을 실온 하에서 일으키기 때문에, 경화 시에 수지 조성물의 Tg가 상승하는 결과, 경화 반응이 정지하게 되는 경우가 있어, 수지 조성물의 Tg를 낮게 설계할 필요가 있었다. 그것에 비하여 본 발명의 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물은, 경화 반응 전의 Tg에 제한은 없고, 높은 Tg로 하는 것을 기대할 수 있다. 또한, 본 발명의 알칼리 현상형 열경화성 수지 조성물은, 산소 저해를 받지 않고 경화하는 것을 기대할 수 있다.In the conventional photo-curable resin composition, since the photo-curing reaction is caused at room temperature, the Tg of the resin composition during curing is increased and the curing reaction is sometimes stopped, and it is necessary to design the resin composition to have a low Tg . In contrast, the alkali-developing type thermosetting resin composition of the present invention is not limited in Tg before the curing reaction, and can be expected to have a high Tg. The alkali-developable thermosetting resin composition of the present invention can be expected to be cured without being subjected to oxygen inhibition.
본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 프린트 배선판의 패턴층의 형성에 유용하고, 그 중에서도 솔더 레지스트나 층간 절연층의 재료로서 유용하다.The thermosetting resin composition of the present invention is useful for forming a pattern layer of a printed wiring board and is particularly useful as a material for a solder resist or an interlayer insulating layer.
[패턴 형성 방법][Pattern formation method]
본 발명의 열경화성 수지 조성물을 적절하게 사용할 수 있는 패턴 형성 방법은, 기재에 열경화성 수지 조성물을 포함하는 수지층을 형성하는 공정 (A), 네가티브형의 패턴 형상으로 광 조사하여 열경화성 수지 조성물에 포함되는 광 염기 발생제를 활성화하여 광 조사부를 경화하는 공정 (B), 알칼리 현상에 의해 미조사부를 제거함으로써 네가티브형의 패턴층을 형성하는 공정 (C)를 포함한다.A pattern forming method capable of suitably using the thermosetting resin composition of the present invention includes a step (A) of forming a resin layer containing a thermosetting resin composition on a substrate, a step of irradiating light in a negative pattern shape, (B) a step of activating the photo-base generator to cure the light-irradiated portion, and (C) a step of forming a negative-type pattern layer by removing the non-irradiated portion by alkali development.
패턴 형상의 광 조사에 의해 열경화성 수지 조성물의 광 조사부 내에 염기를 발생시킴으로써, 광 조사부를 경화할 수 있다. 그 후, 알칼리 수용액으로 현상함으로써, 미조사부를 제거하여, 네가티브형의 패턴층을 형성할 수 있다.By irradiating light in a pattern shape to generate a base in the light irradiation portion of the thermosetting resin composition, the light irradiation portion can be cured. Thereafter, by developing with an aqueous alkali solution, the unexposed portions can be removed to form a negative pattern layer.
여기서, 본 발명에서는, 공정 (B) 후, 수지층을 가열하는 공정 (B1)을 갖는 것이 바람직하다. 이에 의해, 수지층을 충분히 경화하여, 더욱 경화 특성이 우수한 패턴층을 얻을 수 있다.Here, in the present invention, it is preferable to have the step (B1) of heating the resin layer after the step (B). Thereby, the resin layer is sufficiently cured, and a pattern layer having further excellent curing characteristics can be obtained.
[공정 (A)][Step (A)]
도 1을 참조하면서 패턴 형성 방법을 설명한다. 공정 (A)는 기재에 열경화성 수지 조성물을 포함하는 수지층을 형성하는 공정이다. 수지층을 형성하는 방법은, 액상의 열경화성 수지 조성물을 기재 상에 도포, 건조하는 방법이나, 열경화성 수지 조성물을 드라이 필름으로 한 것을 기재 상에 라미네이트하는 방법에 의할 수 있다.The pattern forming method will be described with reference to Fig. Step (A) is a step of forming a resin layer containing a thermosetting resin composition on a substrate. The resin layer can be formed by applying and drying a liquid thermosetting resin composition on a substrate or by laminating a thermosetting resin composition with a dry film on a substrate.
열경화성 수지 조성물의 기재에의 도포 방법은, 블레이드 코터, 립 코터, 콤마 코터, 필름 코터 등의 공지된 방법을 적절히 채용할 수 있다. 또한, 건조 방법은, 열풍 순환식 건조로, IR로, 핫 플레이트, 컨백션 오븐 등, 증기에 의한 가열 방식의 열원을 구비한 것을 사용하여, 건조기 내의 열풍을 향류 접촉시키는 방법, 및 노즐로부터 지지체에 분사하는 방법 등, 공지된 방법을 적용할 수 있다.As a method of applying the thermosetting resin composition to the substrate, known methods such as a blade coater, a lip coater, a comma coater, and a film coater can be suitably employed. The drying method includes a method in which warm air in a dryer is countercurrently contacted by using a hot air circulation type drying furnace, IR, a hot plate, a convection oven, or the like, And a method of spraying the solution onto the substrate.
기재로서는, 미리 회로 형성된 프린트 배선 기재나 플렉시블 프린트 배선 기재 외에, 종이-페놀 수지, 종이-에폭시 수지, 유리 천-에폭시 수지, 유리-폴리이미드, 유리 천/부직포-에폭시 수지, 유리 천/종이-에폭시 수지, 합성 섬유-에폭시 수지, 불소 수지·폴리에틸렌·PPO·시아네이트 에스테르 등의 복합재를 사용한 모든 그레이드(FR-4 등)의 동장 적층판, 폴리이미드 필름, PET 필름, 유리 기재, 세라믹 기재, 웨이퍼 기재 등을 사용할 수 있다.As the base material, a base material such as a paper-phenol resin, a paper-epoxy resin, a glass cloth-epoxy resin, a glass-polyimide, a glass cloth / nonwoven- A polyimide film, a PET film, a glass substrate, a ceramic substrate, a wafer, and the like, of all grades (FR-4 and the like) using a composite material such as epoxy resin, synthetic fiber-epoxy resin, fluororesin, polyethylene, PPO, cyanate ester, And the like can be used.
[공정 (B)][Process (B)]
공정 (B)는 네가티브형의 패턴 형상으로 광 조사하여 열경화성 수지 조성물에 포함되는 광 염기 발생제를 활성화하여 광 조사부를 경화하는 공정이다. 공정 (B)는 광 조사부에서 발생한 염기에 의해 광 염기 발생제가 불안정화하여, 더욱 염기가 발생한다고 생각된다. 이렇게 염기가 화학적으로 증식함으로써, 광 조사부의 심부까지 충분히 경화할 수 있다.Step (B) is a step of irradiating light in a negative pattern shape to activate the photo-base generating agent contained in the thermosetting resin composition to cure the light irradiated portion. In the step (B), it is considered that the base of the photobase generator is destabilized by the base generated in the light irradiating part, and more base is generated. By chemically propagating the base in this manner, it is possible to sufficiently cure the deep portion of the light irradiation portion.
광 조사에 사용되는 광 조사기로서는, 예를 들어 레이저광, 램프광, LED광을 조사 가능한 직접 묘화 장치를 사용할 수 있다. 패턴 형상의 광 조사용의 마스크는, 네가티브형의 마스크를 사용할 수 있다.As the light irradiator used for light irradiation, for example, a direct drawing apparatus capable of irradiating laser light, lamp light, or LED light can be used. As the mask for photo-shaping of the pattern shape, a negative type mask can be used.
활성 에너지선으로서는, 최대 파장이 350 내지 410nm의 범위에 있는 레이저광 또는 산란광을 사용하는 것이 바람직하다. 최대 파장을 이 범위로 함으로써, 효율적으로 열경화성 수지 조성물의 열반응성을 향상시킬 수 있다. 이 범위의 레이저광을 사용하고 있다면 가스 레이저, 고체 레이저 중의 어느 것이어도 된다. 또한, 그 조사량은 막 두께 등에 따라 상이한데, 일반적으로는 100 내지 1500mJ/㎠, 바람직하게는 300 내지 1500mJ/㎠의 범위 내로 할 수 있다.As the active energy ray, it is preferable to use laser light or scattered light having a maximum wavelength in the range of 350 to 410 nm. By setting the maximum wavelength in this range, it is possible to efficiently improve the thermal reactivity of the thermosetting resin composition. If a laser beam of this range is used, either gas laser or solid laser may be used. Further, the irradiation dose differs depending on the film thickness and the like, and it is generally within the range of 100 to 1500 mJ / cm 2, preferably 300 to 1500 mJ / cm 2.
직접 묘화 장치로서는, 예를 들어 닛본 오르보테크사 제조, 팬탁스사 제조 등의 것을 사용할 수 있고, 최대 파장이 350 내지 410nm인 레이저광을 발진하는 장치라면 어느 장치를 사용해도 된다.As the direct writing apparatus, for example, those manufactured by Nippon Orbotech Co., Ltd. and manufactured by FANUC Corporation may be used, and any apparatus may be used as long as it is an apparatus for emitting laser light having a maximum wavelength of 350 to 410 nm.
[공정 (B1)][Step (B1)]
공정 (B1)은 가열에 의해 광 조사부를 경화한다. 공정 (B1)은 공정 (B)에서 발생한 염기에 의해 심부까지 경화할 수 있다.Step (B1) cures the irradiated portion by heating. Step (B1) can be cured to the core by the base generated in step (B).
가열 온도는, 열경화성 수지 조성물 중 광 조사부는 열경화하지만, 미조사부는 열경화하지 않는 온도인 것이 바람직하다.It is preferable that the heating temperature is a temperature at which the light-irradiated portion of the thermosetting resin composition is thermally cured, but the non-irradiated portion is not thermally cured.
예를 들어, 공정 (B1)은 미조사의 열경화성 수지 조성물의 발열 개시 온도 또는 발열 피크 온도보다도 낮으며, 광 조사한 열경화성 수지 조성물의 발열 개시 온도 또는 발열 피크 온도보다도 높은 온도에서 가열하는 것이 바람직하다. 이렇게 가열함으로써, 광 조사부만을 선택적으로 경화할 수 있다.For example, it is preferable that the step (B1) is lower than the heat generation starting temperature or the exothermic peak temperature of the uncured thermosetting resin composition and is heated at a temperature higher than the heat generation initiation temperature or exothermic peak temperature of the light irradiated thermosetting resin composition. By heating in this way, only the irradiated portion can be selectively cured.
여기서, 가열 온도는, 예를 들어 80 내지 140℃이다. 가열 온도를 80℃ 이상으로 함으로써, 광 조사부를 충분히 경화할 수 있다. 한편, 가열 온도를 140℃ 이하로 함으로써, 광 조사부만을 선택적으로 경화할 수 있다. 가열 시간은, 예를 들어 10 내지 100분이다. 가열 방법은 상기 건조 방법과 동일하다.Here, the heating temperature is, for example, 80 to 140 占 폚. By setting the heating temperature at 80 占 폚 or higher, the irradiated portion can be sufficiently cured. On the other hand, by setting the heating temperature at 140 占 폚 or lower, only the irradiated portion can be selectively cured. The heating time is, for example, 10 to 100 minutes. The heating method is the same as the above-mentioned drying method.
또한, 미조사부에서는, 광 염기 발생제로부터 염기가 발생하지 않기 때문에, 열경화가 억제된다.In the non-irradiated portion, since no base is generated from the photobase generator, thermal curing is suppressed.
[공정 (C)][Step (C)]
공정 (C)는 현상에 의해 미조사부를 제거함으로써 네가티브형의 패턴층을 형성하는 공정이다. 현상 방법으로서는, 디핑법, 샤워법, 스프레이법, 브러시법 등 공지된 방법에 의할 수 있다. 또한, 현상액으로서는, 수산화칼륨, 수산화나트륨, 탄산나트륨, 탄산칼륨, 인산나트륨, 규산나트륨, 암모니아, 에탄올아민 등의 아민류, 수산화테트라메틸암모늄 수용액(TMAH) 등의 알칼리 수용액 또는 이들의 혼합액을 사용할 수 있다.Step (C) is a step of forming a negative pattern layer by removing the unexposed portion by development. As the developing method, a known method such as a dipping method, a shower method, a spray method, and a brush method can be used. As the developer, an aqueous solution of an alkali such as an aqueous solution of potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, ammonia or ethanolamine or aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH) .
[공정 (D)][Process (D)]
상기 패턴 형성 방법은, 공정 (C) 후에, 자외선 조사 공정 (D)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 공정 (C) 후에 추가로 자외선 조사를 행함으로써, 광 조사 시에 활성화하지 않고 남은 광 염기 발생제를 활성화시킬 수 있다. 공정 (C) 후의 자외선 조사 공정 (D)에 있어서의 자외선의 파장 및 조사량(조사량)은 공정 (B)와 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있다. 적합한 조사량(조사량)은 150 내지 2000mJ/㎠이다.It is preferable that the pattern forming method further includes an ultraviolet irradiation step (D) after the step (C). By further performing ultraviolet irradiation after the step (C), the remaining photobase generator can be activated without being activated at the time of light irradiation. The wavelength of the ultraviolet rays and the irradiation amount (irradiation amount) in the ultraviolet irradiation step (D) after the step (C) may be the same as or different from the step (B). A suitable dose (irradiation dose) is 150 to 2000 mJ / cm 2.
[공정 (E)][Step (E)]
상기 패턴 형성 방법은, 공정 (C) 후에, 열경화(후경화) 공정 (E)를 더 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the pattern forming method further includes a thermosetting (postcuring) step (E) after the step (C).
공정 (C) 후에 공정 (D)와 공정 (E)를 모두 행하는 경우, 공정 (E)는 공정 (D) 후에 행하는 것이 바람직하다.When both step (D) and step (E) are performed after step (C), step (E) is preferably performed after step (D).
공정 (E)는 공정 (B), 또는 공정 (B) 및 공정 (D)에 의해 광 염기 발생제로부터 발생한 염기에 의해 패턴층을 충분히 열경화시킨다. 공정 (E)의 시점에서는, 미조사부를 이미 제거하고 있기 때문에, 공정 (E)는 미조사의 열경화성 수지 조성물의 경화 반응 개시 온도 이상의 온도에서 행할 수 있다. 이에 의해, 패턴층을 충분히 열경화시킬 수 있다. 가열 온도는, 예를 들어 160℃ 이상이다.Step (E) sufficiently thermally cures the pattern layer by the step (B), or the base generated from the photo-base generator by steps (B) and (D). At the time of the step (E), since the non-irradiated portion has already been removed, the step (E) can be performed at a temperature not lower than the curing reaction initiation temperature of the uncured thermosetting resin composition. Thereby, the pattern layer can be sufficiently thermally cured. The heating temperature is, for example, 160 DEG C or more.
[공정 (F)][Step (F)]
상기 패턴 형성 방법은, 레이저 가공 공정 (F)를 더 포함할 수도 있다. 레이저 가공에 의해 미세한 개구부를 형성할 수 있다. 레이저는, YAG 레이저, CO2 레이저, 엑시머 레이저 등 공지된 레이저를 사용할 수 있다.The pattern forming method may further include a laser processing step (F). A fine opening can be formed by laser machining. As the laser, a known laser such as a YAG laser, a CO 2 laser, or an excimer laser can be used.
공정 (F)는 공정 (C) 후, 또는 공정 (D), (E)를 포함하는 경우에는, 공정 (D), (E) 후에 행하는 것이 바람직하다.It is preferable that the step (F) is performed after the step (C), or after the step (D) or (E) when the step (D) or (E) is included.
[공정 (G)][Process (G)]
본 발명의 패턴 형성 방법은, 공정 (F) 후, 디스미어 공정 (G)를 더 포함할 수도 있다.The pattern forming method of the present invention may further include a desmearing step (G) after the step (F).
공정 (G)는 스미어를 팽윤시켜서 제거되기 쉽게 하기 위한 스미어 팽윤 공정, 스미어를 제거하는 제거 공정, 및 제거 공정에서 사용된 디스미어액으로부터 발생하는 슬러지를 중화하는 중화 공정을 포함한다.Step (G) includes a smear swelling process to make the smear swell and to be easily removed, a removal process to remove smear, and a neutralization process to neutralize the sludge generated from the distillate liquid used in the removal process.
팽윤 공정은, 수산화나트륨 등의 알칼리 약액을 사용하여 행하는 것으로서, 디스미어 약액에 의한 스미어 제거를 용이하게 하는 것이다.The swelling process is performed using an alkaline chemical solution such as sodium hydroxide, and facilitates the removal of smear by the chemical liquid.
제거 공정은, 중크롬산이나 과망간산 등의 산화제를 포함하는 산성약액을 사용하여 스미어를 제거한다.In the removing step, the acidic chemical liquid containing an oxidizing agent such as dichromic acid or permanganic acid is used to remove the smear.
중화 공정은, 수산화나트륨 등의 알칼리 약액을 사용하여, 제거 공정에서 사용한 산화제를 환원, 제거한다.In the neutralization step, an alkali chemical such as sodium hydroxide is used to reduce and remove the oxidizing agent used in the removing step.
실시예Example
이하, 실시예, 비교예에 의해 본 발명을 더욱 상세하게 설명하는데, 본 발명은 이들 실시예, 비교예에 의해 제한되는 것이 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited by these examples and comparative examples.
(실시예 1 내지 19, 비교예 1 내지 4)(Examples 1 to 19 and Comparative Examples 1 to 4)
<알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물의 제조>≪ Preparation of alkali developing type thermosetting resin composition >
하기 표 1 내지 3에 기재된 배합에 따라, 실시예/비교예에 기재된 재료를 각각 배합하고, 교반기로 예비 혼합한 후, 3개 롤밀로 혼련하여 열경화성 수지 조성물을 제조하였다. 표 중의 값은, 특별히 언급이 없는 한, 질량부이다.According to the formulations described in Tables 1 to 3, the materials described in Examples / Comparative Examples were each compounded, preliminarily mixed with an agitator, and kneaded with a three roll mill to prepare a thermosetting resin composition. The values in the tables are parts by mass unless otherwise specified.
<드라이 필름의 제작>≪ Preparation of dry film &
캐리어 필름으로서 38㎛의 두께의 PET 필름 상에 열경화성 수지 조성물을 어플리케이터를 사용하여 도포하고, 그 후 90℃/30분 건조하여 드라이 필름을 제작하였다. 열경화성 수지 조성물의 두께는 건조 후, 약 20㎛로 되도록 도포량을 조정하였다. 그 후, 얻어진 드라이 필름을 소정의 사이즈로 슬릿 가공을 행하였다.A thermosetting resin composition was applied onto a PET film having a thickness of 38 mu m as a carrier film using an applicator, and then dried at 90 DEG C for 30 minutes to produce a dry film. The thickness of the thermosetting resin composition was adjusted so that the thickness of the thermosetting resin composition became about 20 占 퐉 after drying. Thereafter, the obtained dry film was slit-processed to a predetermined size.
<라미네이트><Laminate>
구리 두께 15㎛로 회로가 형성되어 있는 양면 프린트 배선 기재를 준비하고, 맥크사의 CZ-8100을 사용하여 전처리를 행한 기재에, 메이끼사의 진공 라미네이터 MVLP-500을 사용하여 프린트 배선 기재 상에 드라이 필름을 라미네이트하였다. 라미네이트 조건은 온도 80℃, 압력 5kg/㎠/60초에서 행하였다.A double-sided printed wiring board having a circuit with a copper thickness of 15 mu m was prepared and a substrate prepared by using CZ-8100 manufactured by Mack Co., Ltd. was pretreated with a vacuum laminator MVLP-500, Lt; / RTI > Lamination was carried out at a temperature of 80 캜 and a pressure of 5 kg / cm 2/60 seconds.
<B 스테이지 상태의 평가(기재에의 형성 시의 핸들링)>≪ Evaluation of B-stage state (handling at the time of formation on substrate) >
실시예 1 내지 19에 대해서, 드라이 필름의 B 스테이지 상태(반경화 상태)의 평가를 행하였다. 얻어진 열경화성 수지 조성물이 형성되어 있는 드라이 필름의 소정의 사이즈로 슬릿 가공을 행하고, 드라이 필름의 상태를 이하의 방법으로 확인하였다.For Examples 1 to 19, the B-stage state (semi-cured state) of the dry film was evaluated. The slit processing was performed to a predetermined size of the dry film on which the obtained thermosetting resin composition was formed, and the state of the dry film was confirmed by the following method.
(평가 방법)(Assessment Methods)
○: 슬릿 가공 후, 수지층의 깨짐과 수지의 분말 낙하가 확인되었다○: After slit processing, breakage of the resin layer and powder falling of the resin were confirmed
△: 슬릿 가공 후, 수지층의 깨짐이나 수지의 분말 낙하가 확인되었다?: After the slit processing, breakage of the resin layer and powder falling of the resin were confirmed
<스루홀 상의 오목부 평가>≪ Evaluation of concave portion on through hole &
도 3에 도시한 바와 같이, 직경이 300㎛, 피치가 1mm의 간격으로 구리 도금 스루홀이 형성되어 있는 두께 0.3mm의 양면 프린트 배선 기재를 준비하고, 맥크사의 CZ-8100을 사용하여 전처리를 행하였다. 그 후, 드라이 필름의 제작 단락에 기술한 방법으로 제작한 두께 50㎛의 드라이 필름을, 메이끼사의 진공 라미네이터 MVLP-500을 사용하여, 스루홀이 형성된 프린트 배선 기재 상에 양면 동시에 드라이 필름을 라미네이트하였다. 라미네이트 조건은 온도 80℃, 압력 5kg/㎠/60초에서 행하였다. 그 후, 열경화성 수지층을 구비하는 기재에 대하여 ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 표리 모두 전체면 솔리드 노광으로 광 조사하였다. 광 조사량에 대해서는, DSC에 의한 발열 피크 온도를 참고로 표 1 내지 3에 기재된 바와 같이 설정하였다. 계속하여 표 1 내지 3에 기재된 온도 조건에서 60 내지 80분간, 기판을 세로로 걸기 하여 가열 처리를 행하였다. 또한 ORC사의 자외선 조사 장치로 1J/㎠의 에너지량으로 자외선 조사를 행하고, 계속하여 열풍 순환식 건조로에서 170℃/60분 세로 걸기 경화시켜, 완전 경화시켰다. 그 후, 표면 조도 측정기 SE-700(고사까 겡뀨쇼 제조)을 사용하여, 스루홀 상의 오목부량의 확인을 행하였다.As shown in Fig. 3, a double-sided printed wiring board having a thickness of 0.3 mm and copper-plated-through holes formed at intervals of 300 mu m in diameter and 1 mm in pitch was prepared and preprocessed using CZ- Respectively. Thereafter, a dry film having a thickness of 50 占 퐉 produced by the method described in the production section of the dry film was laminated on a printed wiring board on which a through hole was formed using a vacuum laminator MVLP-500 made by Meiki Co., Respectively. Lamination was carried out at a temperature of 80 캜 and a pressure of 5 kg / cm 2/60 seconds. Subsequently, the base material provided with the thermosetting resin layer was irradiated with light by full-surface solid exposure using HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) of ORC Co., both front and back. With regard to the light irradiation amount, the exothermic peak temperature by DSC was set as described in Tables 1 to 3 with reference to the reference. Subsequently, the substrate was heated vertically by heating for 60 to 80 minutes at the temperature conditions shown in Tables 1 to 3. Further, ultraviolet ray irradiation was performed at an energy amount of 1 J / cm 2 with an ultraviolet ray irradiation apparatus of ORC Co., and subsequently, the resultant was longitudinally cured at 170 ° C for 60 minutes in a hot air circulation type drying furnace to be completely cured. Thereafter, the surface roughness meter SE-700 (manufactured by Kosaka Kagaku Co., Ltd.) was used to check the amount of recesses on the through holes.
(평가 방법)(Assessment Methods)
○: 스루홀 상의 최대 오목부 부분이 5㎛ 이하?: The maximum concave portion on the through hole is 5 占 퐉 or less
△: 스루홀 상의 최대 오목부 부분이 5㎛ 초과DELTA: maximum concave portion on the through hole exceeds 5 mu m
<개구 패턴의 형성 평가><Formation evaluation of opening pattern>
상기에서 얻어진 수지층을 구비하는 기판에 대하여 ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 개구 설계 사이즈 100㎛의 네가티브형의 패턴 형상으로 광 조사하였다. 광 조사량에 대해서는, DSC에 의한 발열 피크 온도를 참고로 하기 표 1 내지 3에 기재된 바와 같이 설정하였다. 계속하여 표 1 내지 3에 기재된 온도 조건에서 60 내지 80분간 가열 처리를 행하였다. 그 후, 35℃의, 3wt% TMAH/5wt% 에탄올아민 혼합 수용액 중에 기판을 침지하여 3분간 현상을 행하고, 현상성 및 패터닝의 평가를 하기 기준에 따라 행하였다. 얻어진 결과를 표 1 내지 3에 나타내었다.The substrate having the resin layer obtained above was irradiated with light in a negative pattern shape having an opening design size of 100 mu m with HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) of ORC Co., Ltd. With respect to the light irradiation amount, the exothermic peak temperature by DSC was set as described in Tables 1 to 3 below. Subsequently, heat treatment was performed for 60 to 80 minutes under the temperature conditions shown in Tables 1 to 3. Subsequently, the substrate was immersed in a mixed aqueous solution of 3 wt% TMAH / 5 wt% ethanolamine at 35 캜 for 3 minutes to evaluate developability and patterning according to the following criteria. The obtained results are shown in Tables 1 to 3.
(평가 방법)(Assessment Methods)
◎: TMAH/5wt% 에탄올아민 혼합 수용액 대신에 탄산나트륨 수용액이어도 현상이 가능. 광 조사부 표면에 현상액에 의한 데미지가 없고, 또한 미조사부에 현상 잔사가 보이지 않는 상태◎: It is possible to develop even an aqueous solution of sodium carbonate instead of TMAH / 5 wt% ethanolamine mixed aqueous solution. A state in which there is no damage due to the developing solution on the surface of the light irradiation portion and no development residue is visible on the non-
○: 광 조사부 표면에 현상액에 의한 데미지가 없고, 또한 미조사부에 현상 잔사가 보이지 않는 상태?: No damage due to the developing solution on the surface of the light irradiation part, and no development residue on the non-irradiation part
×: 미조사부에 현상 잔사가 확인됨. 또는, 미조사부의 현상을 할 수 없었던 상태X: No residue was confirmed on the non-irradiated area. Or a state in which the phenomenon of the non-irradiation part can not be performed
××: 광 조사부 및 미조사부 모두 완전히 용해한 상태XX: Both the light-irradiated portion and the non-irradiated portion are completely dissolved
×××: 개구부의 심부에 언더컷이 보임×××: Undercut is seen in the deep part of the opening
<라인 패턴 형성>≪ Line pattern formation &
상기에서 얻어진 수지층을 구비하는 기판에 대하여 ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 라인/스페이스=100/100㎛의 설계값의 네가티브형의 패턴 형상으로 광 조사하였다. 광 조사량에 대해서는, DSC에 의한 발열 피크 온도를 참고로 하기 표 1 내지 3에 기재된 바와 같이 설정하였다. 계속하여 표 1 내지 3에 기재된 온도 조건에서 60 내지 80분간 가열 처리를 행하였다. 그 후, 35℃의, 3wt% TMAH/5wt% 에탄올아민 혼합 수용액 중에 기판을 침지하여 3분간 현상을 행하고, 얻어진 설계값 100㎛의 라인 형상의 패턴에 대하여 평가를 하기 기준에 따라 행하였다. 얻어진 결과를 표 1 내지 3에 나타내었다.The substrate having the resin layer thus obtained was light-irradiated with a negative pattern of a design value of line / space = 100/100 占 퐉 with HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) from ORC. With respect to the light irradiation amount, the exothermic peak temperature by DSC was set as described in Tables 1 to 3 below. Subsequently, heat treatment was performed for 60 to 80 minutes under the temperature conditions shown in Tables 1 to 3. Subsequently, the substrate was immersed in a mixed aqueous solution of 3 wt% TMAH / 5 wt% ethanolamine at 35 ° C for 3 minutes to perform development, and the obtained line-shaped pattern having the designed value of 100 μm was evaluated according to the following criteria. The obtained results are shown in Tables 1 to 3.
(평가 방법)(Assessment Methods)
○: 라인의 톱 길이 100㎛, 보텀 길이 100㎛가 되어 설계값 대로의 패턴이 얻어졌다.?: The top length of the line was 100 占 퐉 and the bottom length was 100 占 퐉, and a pattern according to the designed value was obtained.
△: 라인의 톱 길이 100㎛, 보텀 길이가 60㎛ 이상 100㎛ 미만이 되어 조금 언더컷이 보였다.DELTA: The top length of the line was 100 mu m and the bottom length was 60 mu m or more and less than 100 mu m, and a slight undercut was observed.
×: 라인의 톱 길이 100㎛, 보텀 길이가 60㎛ 미만이 되어, 보텀에 크게 언더컷이 보였다.X: The top length of the line was 100 占 퐉 and the bottom length was less than 60 占 퐉, and undercuts were found in the bottoms.
(디스미어 내성)(Resistant to desmear)
개구 패턴의 형성을 평가한 기재와 동일한 방법으로 제작한 기재에 대해서, 추가로 ORC사의 자외선 조사 장치로 1J/㎠의 에너지량으로 자외선 조사를 행하고, 계속하여 열풍 순환식 건조로에서 표 1 내지 3에 기재된 후경화 온도로 60분간 경화시켰다(후경화). 그 후, 광 조사면에 레이저 가공을 행하였다. 광원은 CO2 레이저(히타치 비아 메카닉스사, 광원 10.6㎛)로 가공하였다. 하기 기준에 따라서 평가하였다. 가공성의 우열을 가리기 위해서, 모두 동일한 조건에서 레이저 가공을 행하였다.The base material prepared in the same manner as in the evaluation of the formation of the opening pattern was further irradiated with ultraviolet rays at an energy amount of 1 J / cm 2 with an ultraviolet ray irradiation apparatus of ORC Co., And cured at the post-curing temperature described (post-curing) for 60 minutes. Thereafter, the light irradiation surface was subjected to laser processing. The light source was processed with CO 2 laser (Hitachi Biomechanics, light source 10.6 탆). And evaluated according to the following criteria. Laser processing was carried out under the same conditions in order to determine the superiority of the workability.
가공 직경 목표는 톱 직경 65㎛/보텀 50㎛이다.The working diameter target is a top diameter of 65 占 퐉 / bottom 50 占 퐉.
조건: 애퍼처(aperture; 마스크 직경): 3.1mm/펄스폭 20μ초/출력 2W/주파수 5kHz/샷수: 버스트 3샷Condition: Aperture (mask diameter): 3.1 mm / pulse width 20 μs / output 2 W / frequency 5 kHz / number of shots: burst 3 shots
이 레이저 가공을 행한 기재에 대해서, 추가로 과망간산 디스미어 수용액(습식법)에 의해 디스미어 처리를 행하였다. 디스미어 내성의 평가로서, 기재 표면의 표면 조도의 확인 및 레이저 개구부 주변의 상태를 하기 기준에 따라서 평가를 행하였다. 표면 조도의 확인은, 레이저 현미경 VK-8500(키엔스사, 측정 배율 2000배, Z축 방향 측정 피치 10nm)에 의해, 각각의 표면 조도 Ra를 측정하였다. 레이저 개구부의 관찰은 광학 현미경에 의해 행하였다.The base material subjected to this laser processing was further subjected to a desmear treatment by an aqueous solution of permanganic acid dismear (wet method). As evaluation of the demister resistance, confirmation of the surface roughness of the substrate surface and the state around the laser aperture were evaluated according to the following criteria. The surface roughness of each sample was measured with a laser microscope VK-8500 (a measurement magnification of 2000 times by KEENS Co., and a measurement pitch of 10 nm in the Z-axis direction). The observation of the laser aperture was performed by an optical microscope.
약액에 대하여(롬 & 하스사)About chemical solution (Rohm & Haas)
팽윤 MLB-211 온도 80℃/시간 10분Swelling MLB-211 Temperature 80 캜 / hour 10 min
과망간산 MLB-213 온도 80℃/시간 15분Permanganate MLB-213 Temperature 80 캜 / hour 15 min
환원 MLB-216 온도 50℃/시간 5분Reduction MLB-216 Temperature 50 캜 / hour 5 min
평가 방법에 대해서About evaluation method
◎: 과망간산 디스미어 후의 표면 조도 Ra가 0.1㎛ 미만이며 레이저 가공 후의 가공 직경과의 차가 2㎛ 이하?: The surface roughness Ra after the permanganate dissemme is less than 0.1 占 퐉 and the difference from the processing diameter after laser processing is 2 占 퐉 or less
○: 과망간산 디스미어 후의 표면 조도 Ra가 0.1 내지 0.3㎛ 이하이며 레이저 가공 후의 가공 직경과의 차가 2 내지 5㎛?: The difference in surface roughness Ra after permanganate dissemination from 0.1 to 0.3 占 퐉 or less and the working diameter after laser processing was 2 to 5 占 퐉
×: 과망간산 디스미어 후의 표면 조도 Ra가 0.3㎛를 초과하며 레이저 가공 후의 가공 직경과의 차가 5㎛ 이상X: The surface roughness Ra after permanganate desmear exceeds 0.3 占 퐉 and the difference from the working diameter after laser processing is 5 占 퐉 or more
<경화 후 휨 평가>≪ Evaluation of flexural strength after curing &
드라이 필름의 제작 단락에 기술한 방법으로 제작한 두께 20㎛의 드라이 필름을, 메이끼사의 진공 라미네이터 MVLP-500을 사용하여, 50mm×50mm 사이즈의 정사각형으로 잘라낸 18㎛ 구리박의 광택면의 편면에 라미네이트하였다. 라미네이트 조건은 온도 80℃, 압력 5kg/㎠/60초에서 행하였다. 그 후, 열경화성 수지층을 구비하는 구리박에 대하여 ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 전체면 솔리드 노광으로 광 조사하였다. 광 조사량에 대해서는, DSC에 의한 발열 피크 온도를 참고로 표 1 내지 3에 기재된 바와 같이 설정하였다. 계속하여 표 1 내지 3에 기재된 온도 조건에서 60 내지 80분간, 기판을 가열 처리하였다. 또한 ORC사의 자외선 조사 장치로 1J/㎠의 에너지량으로 자외선 조사를 행하고, 계속하여 열풍 순환식 건조로에서 170℃/60분 경화시켜, 열경화성 수지 조성물을 편면에 구비하는 구리박을 얻었다. 그 후, 얻어진 경화물의 휨 상태 평가로서, 노기스로 단부 4군데의 휨량을 계측하였다.A dry film having a thickness of 20 占 퐉 produced by the method described in the production section of the dry film was applied to one side of a glossy surface of an 18 占 퐉 copper foil cut into a square of 50 mm 占 50 mm using a vacuum laminator MVLP- Lt; / RTI > Lamination was carried out at a temperature of 80 캜 and a pressure of 5 kg / cm 2/60 seconds. Thereafter, the copper foil having the thermosetting resin layer was irradiated with light by full surface solid exposure with HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) manufactured by ORC. With regard to the light irradiation amount, the exothermic peak temperature by DSC was set as described in Tables 1 to 3 with reference to the reference. Subsequently, the substrate was heat-treated for 60 to 80 minutes under the temperature conditions shown in Tables 1 to 3. Further, ultraviolet rays were irradiated with an energy amount of 1 J / cm 2 by ORC's ultraviolet ray irradiation apparatus, and then cured at 170 ° C for 60 minutes in a hot air circulation type drying furnace to obtain a copper foil having a thermosetting resin composition on one side. Thereafter, as the evaluation of the warpage state of the obtained cured product, the amount of warpage at the four end portions was measured with a nogris.
(평가 방법)(Assessment Methods)
◎: 휨이 거의 보이지 않는다. 4군데의 단부 중 최대 휨 부분의 휨량이 5mm 미만?: Almost no warpage is observed. The warpage of the maximum bending portion among the four ends is less than 5 mm
○: 조금 휨이 보였다. 4군데의 단부 중 최대 휨 부분의 휨량이 5mm 이상 20mm 미만○: A slight warpage was observed. The warpage of the maximum bending portion among the four ends is 5 mm or more and less than 20 mm
△: 4군데의 단부 중 최대 휨 부분의 휨량이 20mm 이상?: The warpage of the maximum bending portion among the four ends is not less than 20 mm
×: 경화물이 통 형상으로 수축하였다. 노기스로 단부의 휨량을 계측할 수 없었다X: The cured product shrank in a cylindrical shape. The amount of deflection of the end portion could not be measured by the nog- gis
<CTE 측정><CTE measurement>
드라이 필름의 제작 항목에 기재된 방법에 따라, 각각의 두께 40㎛의 드라이 필름을 제작하였다. 그 후, 18㎛의 구리박의 광택면측에, 메이끼사의 진공 라미네이터 MVLP-500을 사용하여 드라이 필름을 라미네이트하였다. 라미네이트 조건은 온도 80℃, 압력 5kg/㎠/60초에서 행하였다. 그 후, ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 전체면 솔리드 노광을 행하였다. 광 조사량에 대해서는, DSC에 의한 발열 피크 온도를 참고로 하기 표 1 내지 3에 기재된 바와 같이 설정하였다. 계속하여 표 1 내지 3에 기재된 온도 조건에서 60 내지 80분간 가열 처리를 행하였다. 그 후, ORC사의 자외선 조사 장치로 1J/㎠의 에너지량으로 자외선 조사를 행하고, 계속하여 열풍 순환식 건조로에서 170℃/60분에서 완전 경화시켰다. 그 후, 구리박으로부터 박리하여, 실시예·비교예에 기재된 수지 조성물을 얻었다. 그 후, 얻어진 수지 조성물을 3mm폭, 길이 10mm의 직사각형으로 잘라내기를 행하고, JIS-C-6481에 기재된 TMA법(인장법)으로 CTE 측정(열팽창 계수)의 평가를 행하였다. 승온 속도는 5℃/분, Tg 이하의 열팽창 계수의 평가를 행하였다. 열팽창 계수는, 온도 범위 25℃부터 100℃의 평균 열팽창 계수, 단위는 ppm으로 하였다.A dry film having a thickness of 40 占 퐉 was prepared according to the method described in the production items of the dry film. Thereafter, a dry film was laminated using a vacuum laminator MVLP-500 made by Meikyu Co., Ltd. on the glossy surface side of a copper foil of 18 mu m. Lamination was carried out at a temperature of 80 캜 and a pressure of 5 kg / cm 2/60 seconds. Thereafter, full surface solid exposure was performed with HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) manufactured by ORC. With respect to the light irradiation amount, the exothermic peak temperature by DSC was set as described in Tables 1 to 3 below. Subsequently, heat treatment was performed for 60 to 80 minutes under the temperature conditions shown in Tables 1 to 3. Thereafter, ultraviolet ray irradiation was performed at an energy amount of 1 J / cm 2 by an ultraviolet ray irradiation apparatus of ORC Co., and then completely cured at 170 ° C for 60 minutes in a hot air circulation type drying furnace. Thereafter, the copper foil was peeled off to obtain a resin composition described in Examples and Comparative Examples. Thereafter, the obtained resin composition was cut into a rectangle having a width of 3 mm and a length of 10 mm, and CTE measurement (thermal expansion coefficient) was evaluated by the TMA method (tensile method) described in JIS-C-6481. The rate of temperature rise was 5 占 폚 / min and the coefficient of thermal expansion was evaluated to be Tg or less. The coefficient of thermal expansion is an average coefficient of thermal expansion in the temperature range of 25 ° C to 100 ° C, in units of ppm.
각각 얻어진 CTE의 수치를 표 1 내지 3 중에 나타내었다.The obtained CTE values are shown in Tables 1 to 3.
<냉열 사이클 특성의 평가>≪ Evaluation of cooling /
상기와 같이 과망간산 디스미어 처리를 행한 프린트 배선판에 대하여, 추가로 시판품의 무전해 니켈 도금욕 및 무전해 금 도금욕을 사용하여, 니켈 0.5㎛, 금 도금 0.03㎛의 조건에서 도금을 행하여, 패턴층에 금 도금 처리를 실시하였다. 얻어진 프린트 배선판에 대해서 냉열 사이클 특성 평가를 행하였다. 처리 조건은, -65℃에서 30분, 150℃에서 30분을 1사이클로 하고, 열 이력을 가하여 2000 사이클 경과 후에, 패턴층의 표면 및 주변부의 상태를 광학 현미경으로 관찰하고, 하기 기준에 따라서 크랙의 평가를 행하였다. 관찰 패턴수는 100 구멍이었다. 얻어진 결과를 하기 표 1 내지 3에 나타내었다.The printed wiring board subjected to the permanganate desmear treatment as described above was further plated using a commercially available electroless nickel plating bath and electroless gold plating bath under the conditions of nickel 0.5 탆 and gold plating 0.03 탆, Was subjected to a gold plating treatment. The obtained printed wiring board was evaluated for its cooling / heating cycle characteristics. The conditions of the treatment were set to -65 占 폚 for 30 minutes and 150 占 폚 for 30 minutes to 1 cycle. After 2000 cycles after applying a thermal history, the state of the surface and periphery of the pattern layer was observed with an optical microscope, Were evaluated. The number of observation patterns was 100 holes. The obtained results are shown in Tables 1 to 3 below.
(평가 방법)(Assessment Methods)
◎○: 패턴층의 표면 및 주변부에 크랙 발생 없음?: No cracks on the surface and peripheral portion of the pattern layer
◎: 패턴층의 주변부의 크랙 발생률 10% 미만?: Percentage of cracks in the periphery of the pattern layer less than 10%
○: 패턴층의 주변부의 크랙 발생률 10% 이상 30% 미만?: Percentage of cracks in the periphery of the pattern layer 10% or more and less than 30%
△: 패턴층의 주변부의 크랙 발생률 30% 이상DELTA: Crack generation rate at the periphery of the pattern layer: 30% or more
<열반응성 화합물, 말레이미드 화합물, 및 알칼리 현상성 수지의 굴절률 측정 방법><Method of Measuring the Refractive Index of Thermally Reactive Compound, Maleimide Compound, and Alkali Developable Resin>
측정 장치: 아베 굴절률계Measuring device: Abbe refractometer
측정 조건: 파장 589.3nm, 온도 25℃Measurement conditions: a wavelength of 589.3 nm, a temperature of 25 DEG C
(열경화성 화합물+알칼리 현상성 수지+광 염기 발생제+충전제)(Thermosetting compound + alkali developable resin + photo-base generator + filler)
(+고분자 수지)(+ Polymer resin)
(비교예)(Comparative Example)
표 1 내지 3에 있어서의 각 성분은, 다음과 같다.The components in Tables 1 to 3 are as follows.
(열반응성 화합물)(Thermoreactive compound)
※828: Bis-A형 액상 에폭시(당량 190g/eq), 미쯔비시 가가꾸사※ 828: Bis-A type liquid epoxy (equivalent 190 g / eq), Mitsubishi Chemical
※HP-4032: 나프톨형 에폭시(당량 150g/eq), DIC사※ HP-4032: naphthol type epoxy (equivalent 150g / eq), DIC company
※HP-7200 H60: 디시클로펜타디엔형 에폭시(당량 265g/eq), DIC사를 시클로헥사논으로 용해. 고형분 60%※ HP-7200 H60: Dicyclopentadiene epoxy (equivalent 265 g / eq), DIC is dissolved in cyclohexanone. Solid content 60%
(말레이미드 화합물)(Maleimide compound)
※UVT-302: 말레이미드기를 측쇄에 갖는 아크릴 중합체(당량 320g/eq), 도아 고세이사※ UVT-302: Acrylic polymer (equivalent 320 g / eq) having a maleimide group on its side chain,
(알칼리 현상성 수지)(Alkali developable resin)
※HF-1M H60: 페놀노볼락(수산기 당량 105g/eq), 메이와 가세이사를 시클로헥사논으로 용해. 고형분 60%※ HF-1M H60: Phenol novolac (hydroxyl equivalent 105g / eq), Meiwa Kasei Co., Ltd. dissolved in cyclohexanone. Solid content 60%
MEH-7851M H60: 비페닐/페놀노볼락(수산기 당량 210g/eq), 메이와 가세이사를 시클로헥사논으로 용해. 고형분 60%.MEH-7851M H60: Biphenyl / phenol novolac (hydroxyl equivalent: 210 g / eq), dissolved in MeOHwagassei with cyclohexanone. Solids 60%.
※죤크릴 586 H60: 스티렌아크릴산 공중합 수지, Mw=3100, 고형분 산가=108mgKOH/g, 죤슨 폴리머사를 시클로헥사논으로 용해. 고형분 60%* John Krill 586 H60: styrene acrylic acid copolymer resin, Mw = 3100, solid acid value = 108 mgKOH / g, and Johnson Polymer Co. dissolved in cyclohexanone. Solid content 60%
※죤크릴 68 H60: 스티렌아크릴산 공중합 수지, Mw=10000, 산가 195mgKOH/g, 죤슨 폴리머사※ John Krill 68 H60: Styrene acrylic acid copolymer resin, Mw = 10000, acid value 195 mgKOH / g,
(광 염기 발생제)(Photobase generator)
※Irg369: 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1, BASF 재팬사* Irg369: 2-Benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,
※WPBG-140: 1-(안트라퀴논-2-일)에틸이미다졸카르복실레이트, 와꼬 쥰야꾸사* WPBG-140: 1- (Anthraquinon-2-yl) ethylimidazole carboxylate, Wako Pure Chemical Industries, Ltd.
(고분자 수지)(Polymer resin)
※YX8100 BH30: 페녹시 수지. 미쯔비시 가가꾸사. 고형분 30%※ YX8100 BH30: Phenoxy resin. Mitsubishi Corporation Solid content 30%
(무기 충전제)(Inorganic filler)
※SO-C2: 구상 실리카 D50=0.5㎛, 굴절률=1.4 내지 1.5, 애드마텍스사, 비중: 2.2g/㎤* SO-C2: spherical silica D50 = 0.5 占 퐉, refractive index = 1.4 to 1.5, Admatech Co., specific gravity: 2.2 g / cm3
※AO-502: 구상 알루미나 D50=0.7㎛, 굴절률=1.76, 애드마텍스사, 비중: 3.9g/㎤* AO-502: spherical alumina D50 = 0.7 탆, refractive index = 1.76, Admatex, specific gravity: 3.9 g / ㎤
※히길리트 H-42M: 수산화알루미늄 D50=1.0㎛, 굴절률=1.65, 쇼와 덴꼬사, 비중: 2.4g/㎤※ Higilite H-42M: aluminum hydroxide D50 = 1.0 탆, refractive index = 1.65, Showa Denko K., specific gravity: 2.4 g / ㎤
※B-30: 황산바륨, D50=0.3㎛, 굴절률=1.64, 사까이 가가꾸사, 비중: 4.3g/㎤* B-30: barium sulfate, D50 = 0.3 탆, refractive index = 1.64, Sakaikagaku, specific gravity: 4.3 g / ㎤
(기타)(Etc)
※R-2000: 크레졸노볼락, 아크릴산, THPA 변성 수지(고형분 61%, 고형분 산가 87mgKOH/g, DIC사)※ R-2000: cresol novolak, acrylic acid, THPA modified resin (solid content 61%, solid acid value 87 mgKOH / g, DIC)
※DPHA: 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트_닛본 가야꾸사※ DPHA: dipentaerythritol hexaacrylate _ Nippon Kayakaji
※IRG-184: 1-히드록시시클로헥실-페닐케톤_시바 재팬사* IRG-184: 1-hydroxycyclohexyl-phenyl ketone
표 1 내지 3에 나타낸 바와 같이, 실시예 1 내지 19에서는, 알칼리 현상에 의한 패턴 형성이 가능하고, 얻어진 패턴은 경화 특성 및 냉열 사이클 특성이 우수한 것을 확인할 수 있었다.As shown in Tables 1 to 3, in Examples 1 to 19, it was possible to form a pattern by alkali development, and it was confirmed that the obtained pattern was excellent in curing characteristics and cold / heat cycle characteristics.
또한, 실시예 15, 16 등에 있어서, 고분자 수지를 배합함으로써, 열경화성 수지 조성물의 용융 점도가 상승하여, 노광 후의 가열 시에 있어서, 스루홀 부분의 수지 유동성을 억제할 수 있다. 그 결과, 스루홀 상에 오목부가 보이지 않는 평탄한 기판을 제작할 수 있다.Further, in Examples 15 and 16, by blending the polymer resin, the melt viscosity of the thermosetting resin composition is increased, and the resin fluidity of the through hole portion can be suppressed during heating after exposure. As a result, it is possible to manufacture a flat substrate on which the concave portion is not seen on the through hole.
그리고, 실시예 18, 19에서는, 무기 충전제의 함유량이 상당히 많은 경우에도, 냉열 사이클 시에 양호한 경화성이 얻어졌다.In Examples 18 and 19, even when the content of the inorganic filler was considerably large, good curability was obtained during the cooling / heating cycle.
한편, 비교예 4의 광 라디칼성 조성물에서는, 알칼리 현상에 의한 패턴 형성이 곤란해졌다. 또한, 라인 형상도 불량하였다. 또한, 경화 후의 휨도 크고, 냉열 사이클 시의 경화성도 떨어져 있었다.On the other hand, in the photo-radical composition of Comparative Example 4, pattern formation due to alkali development became difficult. The line shape was also poor. Further, the degree of warpage after curing was high and the curability during the cooling / heating cycle was also deteriorated.
<광 조사 직후의 DSC 측정>≪ Measurement of DSC immediately after light irradiation >
실시예 1에서 얻어진 수지층을 구비하는 기재에 대하여 ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로 네가티브 패턴으로 광 조사하였다. 각각의 기재에 대해서, 조사량을 1000mJ/㎠로서 패턴의 광 조사를 행하였다. 광 조사 후, 기재 상으로부터 수지층을 깎아내고, 즉시 세이코 인스트루먼츠사의 DSC-6200에 있어서, 승온 속도 5℃/분으로 30 내지 300℃까지 승온하고, 광 조사부와 미조사부 각각에 대하여 DSC 측정을 행하였다. 또한, 자외선 조사 직후, 후경화 전의 열경화성 수지 조성물을 포함하는 경화층에 대하여 마찬가지로 DSC 측정을 행하였다.The substrate having the resin layer obtained in Example 1 was irradiated with light in a negative pattern with HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) manufactured by ORC. Each substrate was subjected to light irradiation with a pattern at a dose of 1000 mJ / cm 2. After the light irradiation, the resin layer was cut off from the substrate and immediately heated to 30 to 300 DEG C at a temperature raising rate of 5 DEG C / min in a DSC-6200 manufactured by Seiko Instruments Inc., DSC measurement was performed on each of the light irradiated portion and non- Respectively. DSC measurement was similarly performed on the cured layer including the thermosetting resin composition immediately after the ultraviolet ray irradiation and before the post-curing.
도 2는, 미조사부, 조사량 1000mJ/㎠의 광 조사부, 조사량 1000mJ/㎠로 광 조사한 후 또한 1000mJ/㎠로 UV 조사한 광 조사부의 DSC 차트도이다. 실시예 1의 광 조사부에서는, 광 조사에 의해 피크가 저온측으로 시프트하였다.2 is a DSC chart of a non-irradiated portion, a light irradiated portion with an irradiation dose of 1000 mJ / cm 2, and a light irradiated portion irradiated with light with an irradiation dose of 1000 mJ / cm 2 and further with 1000 mJ / cm 2. In the light irradiation portion of Example 1, the peak shifted to the low temperature side by light irradiation.
(비교예 5)(Comparative Example 5)
구리 두께 15㎛로 회로가 형성되어 있는 판 두께 0.4mm의 양면 프린트 배선 기재를 준비하고, 맥크사의 CZ-8100을 사용하여 전처리를 행하였다. 그 후, 상품명 PSR-4000G23K(다이요 잉키 세이조(주)사, 에폭시아크릴레이트 구조를 갖는 알칼리 현상성 수지를 포함하는 광경화성 수지 조성물)를 스크린 인쇄로, 건조 후에 20㎛로 되도록 도포를 행하였다. 계속해서, 열풍 순환식 건조로에서 80℃/30분에서 건조 후, ORC사의 HMW680GW(메탈 할라이드 램프, 산란광)로, 조사량 300mJ/㎠로 네가티브형의 패턴 형상으로 광 조사하였다. 그 후, 1wt% 탄산나트륨 수용액으로 60초간 현상하고, 계속하여 열풍 순환식 건조로를 사용하여 150℃/60분간 열처리를 행하여 패턴 형상의 경화 도막을 얻었다.A double-sided printed wiring board having a thickness of 0.4 mm and a circuit formed of copper having a thickness of 15 mu m was prepared and subjected to a pre-treatment using CZ-8100 manufactured by Mack. Thereafter, a PSR-4000G23K (trade name, a photo-curable resin composition containing an alkali developable resin having an epoxy acrylate structure) was applied by screen printing to a thickness of 20 mu m after drying . Subsequently, the resultant was dried in a hot air circulating type drying furnace at 80 DEG C for 30 minutes, and then irradiated with light of a negative pattern at an irradiation dose of 300 mJ / cm2 using HMW680GW (metal halide lamp, scattered light) manufactured by ORC. Thereafter, the resist film was developed with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution for 60 seconds, and then heat-treated at 150 DEG C for 60 minutes using a hot-air circulation type drying furnace to obtain a patterned cured coating film.
그 후, 상기 실시예 2와 마찬가지로 디스미어 내성의 평가를 행하였다. 그 결과, 디스미어 내성은 「×」였다.Thereafter, as in the case of the second embodiment, evaluation of the dummies resistance was carried out. As a result, the desmear resistance was "x".
Claims (4)
열반응성 화합물,
무기 충전제, 및
광 염기 발생제를 포함하고,
선택적인 광 조사로 상기 알칼리 현상성 수지와 상기 열반응성 화합물이 부가 반응함으로써, 알칼리 현상에 의한 네가티브형의 패턴 형성이 가능하게 되는 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형의 열경화성 수지 조성물.Alkali developable resin,
Thermally reactive compounds,
Inorganic filler, and
A photoacid generator,
Wherein the alkali developable resin and the thermally reactive compound are subjected to an addition reaction by selective light irradiation so that a negative pattern can be formed by an alkali development.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018030694A1 (en) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 주식회사 엘지화학 | Insulating layer manufacturing method and multilayered printed circuit board manufacturing method |
KR20180018333A (en) * | 2016-08-09 | 2018-02-21 | 주식회사 엘지화학 | Method for manufacturing insulating film and multilayered printed circuit board |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6078535B2 (en) * | 2012-05-17 | 2017-02-08 | 太陽インキ製造株式会社 | Alkali development type thermosetting resin composition, printed wiring board |
JP2015229763A (en) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Resin composition, prepreg, metal-clad laminate, printed wiring board |
KR101786351B1 (en) | 2016-05-27 | 2017-10-17 | 조혁상 | Device for identifying the warpage level of blade |
JP2019178304A (en) * | 2018-03-30 | 2019-10-17 | 太陽インキ製造株式会社 | Curable resin composition, dry film, cured product and printed wiring board |
KR102741612B1 (en) * | 2018-03-30 | 2024-12-13 | 다이요 홀딩스 가부시키가이샤 | Alkali development type photosensitive resin composition, dry film, cured product and printed wiring board |
JP2019194292A (en) * | 2018-05-02 | 2019-11-07 | 学校法人東京理科大学 | Photocrosslinkable resin composition and its crosslinked object, and method for producing crosslinked object |
JP7281263B2 (en) * | 2018-09-27 | 2023-05-25 | 味の素株式会社 | Resin composition, photosensitive film, photosensitive film with support, printed wiring board and semiconductor device |
JP7322988B2 (en) * | 2018-09-27 | 2023-08-08 | 味の素株式会社 | Resin composition, photosensitive film, photosensitive film with support, printed wiring board and semiconductor device |
KR102742635B1 (en) * | 2022-03-30 | 2024-12-17 | 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 | Composition for thermally conductive film-type adhesive and thermally conductive film-type adhesive, and semiconductor package using thermally conductive film-type adhesive and method for manufacturing the same |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61243869A (en) | 1985-04-19 | 1986-10-30 | Taiyo Ink Seizo Kk | Resist ink composition |
JPH03250012A (en) | 1990-02-28 | 1991-11-07 | Sanei Kagaku Kk | Solder resist ink composition and cured product thereof |
KR20080013968A (en) * | 2005-05-31 | 2008-02-13 | 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 | Photocurable thermosetting resin composition and its hardened | cured material, and the printed wiring board obtained using it |
KR20080036920A (en) * | 2006-10-24 | 2008-04-29 | 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 | Photocurable thermosetting resin composition and printed wiring board using the same |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69324942T2 (en) * | 1992-02-14 | 1999-10-07 | Shipley Co., Inc. | Radiation sensitive compositions and methods |
JP4191956B2 (en) * | 2002-05-24 | 2008-12-03 | サンノプコ株式会社 | Photosensitive resin composition |
CN101189550A (en) * | 2005-05-31 | 2008-05-28 | 太阳油墨制造株式会社 | Photocuring/thermosetting resin composition, curing/setting product thereof and printed wiring board obtained using the same |
JP4538484B2 (en) * | 2006-10-24 | 2010-09-08 | 太陽インキ製造株式会社 | Photocurable thermosetting resin composition and printed wiring board using the same |
WO2008123110A1 (en) * | 2007-04-04 | 2008-10-16 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Photosensitive adhesive composition, film-like adhesive, adhesive sheet, adhesive pattern, semiconductor wafer with adhesive layer, semiconductor device and semiconductor device manufacturing method |
JP5464314B2 (en) * | 2007-10-01 | 2014-04-09 | 山栄化学株式会社 | Inorganic filler and organic filler-containing curable resin composition, resist film-coated printed wiring board, and method for producing the same |
JP5449688B2 (en) * | 2008-03-26 | 2014-03-19 | 太陽ホールディングス株式会社 | Photo-curable thermosetting resin composition, dry film and cured product thereof, and printed wiring board using them |
JP2010014767A (en) * | 2008-07-01 | 2010-01-21 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Alkali developable photocurable/heat curable solder resist composition and metal base circuit board using the same |
JP5403545B2 (en) * | 2009-09-14 | 2014-01-29 | 太陽ホールディングス株式会社 | Solder resist composition, dry film and cured product thereof, and printed wiring board using them |
JP5619443B2 (en) * | 2010-03-18 | 2014-11-05 | 太陽ホールディングス株式会社 | Photo-curable thermosetting resin composition, dry film and cured product thereof, and printed wiring board using them |
JP5608413B2 (en) * | 2010-04-30 | 2014-10-15 | 太陽ホールディングス株式会社 | Curable resin composition |
-
2013
- 2013-05-16 CN CN201380025696.7A patent/CN104334604A/en active Pending
- 2013-05-16 WO PCT/JP2013/063726 patent/WO2013172433A1/en active Application Filing
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- 2013-05-16 JP JP2014515678A patent/JP6082733B2/en active Active
- 2013-05-17 TW TW102117522A patent/TWI620019B/en active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61243869A (en) | 1985-04-19 | 1986-10-30 | Taiyo Ink Seizo Kk | Resist ink composition |
JPH03250012A (en) | 1990-02-28 | 1991-11-07 | Sanei Kagaku Kk | Solder resist ink composition and cured product thereof |
KR20080013968A (en) * | 2005-05-31 | 2008-02-13 | 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 | Photocurable thermosetting resin composition and its hardened | cured material, and the printed wiring board obtained using it |
KR20080036920A (en) * | 2006-10-24 | 2008-04-29 | 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 | Photocurable thermosetting resin composition and printed wiring board using the same |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018030694A1 (en) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 주식회사 엘지화학 | Insulating layer manufacturing method and multilayered printed circuit board manufacturing method |
KR20180018333A (en) * | 2016-08-09 | 2018-02-21 | 주식회사 엘지화학 | Method for manufacturing insulating film and multilayered printed circuit board |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI620019B (en) | 2018-04-01 |
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CN104334604A (en) | 2015-02-04 |
KR102114104B1 (en) | 2020-05-25 |
WO2013172433A1 (en) | 2013-11-21 |
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JPWO2013172433A1 (en) | 2016-01-12 |
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