KR20140081838A - 광학 가변 개체 인증 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
시야각이 변함에 따라 색 변이를 나타내는 광학 가변 개체를 인증하는 장치가 개시되며, 본 장치는 광 굴절 재료의 플레이트를 구비하고, 상기 플레이트는, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록 상기 장치 내에 배치되고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에서의 광 굴절로부터 발생된다. 또한, 광학 가변 개체를 인증하기 위하여, 2개의 평행 표면들, 및 상기 표면 들 중 적어도 하나 상의 포지티브 또는 네가티브 광 굴절 돌출부들 또는 리세스들의 어레이를 갖는 플레이트의 사용은 물론, 광학 가변 개체를 인증하는 방법이 또한 개시된다.
Description
본 발명은, 보안 문서 인증 분야에 관한 것이다. 특히, 시야각(viewing-angle)이 변할 때 색 변이(color shift)를 나타내는 광학 가변 개체를 인증하는 간단한 장치 및 방법에 관한 것이다.
2개의 상이한 시야각들에서 광학 가변 개체의 상이한 색들을 동시에 확인하는 간단한 뷰잉(viewing) 장치 및 방법은, US 5,596,402 A(마칸트(Markantes) 외)에 개시되어 있다. 본 장치는 본질적으로, 제1 시야각에서의 광학 가변 개체의 직접 보기(direct viewing), 및 제2 시야각에서의 미러를 통한 상기 광학적 가변 개체의 간접 보기(indirect viewing)을 동시에 허용하기 위하여 미러를 사용한다. 광학 가변 개체의 인증은, 인지된 2개의 색들을 2개의 참조색들에 비교함으로써 수행된다.
종래 기술의 이 장치는, 2개의 상이한 시각에서의 광학 가변 개체의 색들의 비교를 요한다는, 즉 비교되는 2개의 화상들이 한 방향을 따라 동일하지 않는 크기를 갖다는 문제점을 갖는다.
이 장치의 다른 단점은, 전술된 직접 및 간접 보기에 관한 광로를 수용하기 위하여 장치가 상당히 큰 체적 요건을 갖는다는 것이다.
종래 기술의 이 장치의 또다른 단점은, 사람의 사용에 한정되어 있고, 용이한 기계 인증에 이 장치가 적합하지 않다는 것이다.
종래 기술과 연관된 전술한 문제점들은, 첨부된 대응하는 독립 청구항에 따라, 광학 가변 개체를 인증하기 위한 장치, 대응하는 방법, 및 상기 장치의 사용을 제공하는 본 발명에 의하여 극복된다.
특히, 변하는 시야각에 따라 색 변이를 나타내는 광학 가변 개체의 인증을 위한 장치는, 광 굴절 재료의 플레이트를 구비하며, 상기 플레이트는, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록 상기 장치 내에 배치되고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에의 광 굴절로부터 발생된다.
따라서, 광학 가변 개체를 인증하기 위하여, 그 색들은, 적어도 2개의 상이한 시야각들, 바람직하게는 개체의 표면에 대략 수직인 제1 시야각, 및 상기 표면에 경사각인 제2 시야각에 대하여 평가되어야 한다. 상기 시야각 모두에서 동시에 광학 가변 개체를 보기 위하여, 광학 가변 개체로부터의 광의 일부는 상기 경사각으로부터 상기 수직각으로 편향되어야 한다. 종래 기술에 따르면, 상기 편향은, 미러에 의하여 또는 프리즘에 의하여 발생될 수 있으며, 대응하는 길이의 광로를 요한다. 본 발명에서, 경사각에서 수직각으로의 상기 편향을 생성하기 위하여, 광 굴절 재료의 플레이트에서의 돌출부 또는 리세스의 편평한 어레이가 사용된다.
실용적인 이유로, 플레이트는 바람직하게는, 2개의 육안으로 평행한 표면들을 갖는 평면의 플레이트이다. 상기 플레이트의 표면 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스 각각은, 수직 방향으로부터 떨어진 수직 입사광의 편향을 획득하도록 작용한다. 이러한 돌출부 또는 리세스의 예들은, 마이크로 프리즘 또는 1차원 또는 2차원 렌즈 어레이의 1차원 또는 2차원 어레이이다. 마이크로 프리즘은, 그 표면에서의 수직 입사광을 수직이 아닌 결정된 별개의 방향으로 굴절시키는 반면, 렌즈는 수직 입사광을 수직이 아닌 연속 방향(continum of direction)으로 굴절시킨다. 실시예들 양쪽 모두는, 본 발명의 내용에서 광학 가변 개체로의 특정 "시야각(angular view)", 또는 평균화된 "시야각"의 일부 형태를 획득하는 데 유용하다.
본 발명의 다른 실시예 및 이점은 독립 청구항에 의하여 제공된다.
도 1은 굴절의 스넬의 법칙(Snellius' law)을 예시화한 것이다.
도 2는 본 발명의 작동 원리를 개략적으로 도시한다.
도 3은 광학 가변 개체의 시각 인증을 위한 본 발명에 따른 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
도 4는 기계에 의하여 광학 가변 개체를 인증하기 위한 본 발명에 따른 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
도 5의 a 및 도 5의 b는 본 발명의 실시예에 따른 1차원 엠보싱 플레이트를 도시하며, 도 5의 a는 대칭적인 "지붕(roof) 구조"를 도시하고, 도 5의 b는 비대칭적인 "지붕 구조"를 도시한다.
도 6의 a 및 도 6의 b는 본 발명의 실시예에 따른 2차원 엠보싱 플레이트를 도시하고, 도 6의 a는 정사각 프리즘의 어레이를 도시하고, 도 6의 b는 삼각 프리즘의 어레이를 도시한다.
도 7의 a 및 도 7의 b는 본 발명의 실시예에 따른 렌즈 어레이 플레이트를 도시하고, 도 7의 a는 1차원 렌즈 어레이를 도시하고, 도 7의 b는 2차원 렌즈 어레이를 도시한다.
도 8은 각도 편향을 증가시키기 위한 2개의 쌓인 어레이 플레이트의 사용을 개략적으로 도시한다.
도 9는 광학 가변 개체의 시각 인증을 위한 본 발명에 따른 대안적인 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
도 2는 본 발명의 작동 원리를 개략적으로 도시한다.
도 3은 광학 가변 개체의 시각 인증을 위한 본 발명에 따른 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
도 4는 기계에 의하여 광학 가변 개체를 인증하기 위한 본 발명에 따른 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
도 5의 a 및 도 5의 b는 본 발명의 실시예에 따른 1차원 엠보싱 플레이트를 도시하며, 도 5의 a는 대칭적인 "지붕(roof) 구조"를 도시하고, 도 5의 b는 비대칭적인 "지붕 구조"를 도시한다.
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도 7의 a 및 도 7의 b는 본 발명의 실시예에 따른 렌즈 어레이 플레이트를 도시하고, 도 7의 a는 1차원 렌즈 어레이를 도시하고, 도 7의 b는 2차원 렌즈 어레이를 도시한다.
도 8은 각도 편향을 증가시키기 위한 2개의 쌓인 어레이 플레이트의 사용을 개략적으로 도시한다.
도 9는 광학 가변 개체의 시각 인증을 위한 본 발명에 따른 대안적인 인증 장치를 개략적으로 도시한다.
본 발명은 광 굴절의 원리에 기초한다. 도 1을 참조하면, 제1 굴절률(n1)을 갖는 제1 매체와, 제2 굴절률(n2)을 갖는 제2 매체 간의 경계면을 가로지르는 광 빔은, 굴절의 스넬의 법칙: n1*sin(α1) = n2*sin(α2)(α1, α2 는 상기 경계면으로의 수직 방향에 대하여 측정된, 각각 제1 및 제2 매체에서의 광 빔의 각)에 따라 그 전파 방향을 변화시킨다.
도 2는, 수직 시야 위치로부터, 기판(S) 상에 배치된 광학 가변 개체(O)로의 시야각을 획득하기 위해, 본 발명의 예시적인 실시예에서 굴절의 스넬의 법칙이 어떻게 사용되는 지를 도시한다. 프리즘 플레이트(P)는, 90°보다 작은 입사각(θ)으로 광학 가변 개체(O)로 낙하하도록, 광학 가변 개체(O)의 표면에 대하여 90°의 수직 각도로 P에서 입사한 광선(1)을 굴절시킨다. 마찬가지로, 90°보다 작은 광학 가변 개체(O)의 표면에 대한 각도(θ)에서 상기 광학 가변 개체(O)로부터 반사된 광선(2)은, 광학 가변 개체의 표면에 수직인 방향으로 상기 프리즘 플레이트(P)에 의하여 재배향된다.
도 3은, 2개의 부분들(O1 및 O2)를 갖고 기판(S) 상에 배치되어 있는 광학 가변 개체(O)의, 다른 관점에서, 육안으로의 시각 인증을 위한 본 발명에 따른 인증 장치의 제1 주요 실시예를 도시한다. 본 인증 장치는, 상기 광학 가변 개체(O)에 관하여 그 상대적 움직임을 허용하도록 하는 그러한 방식으로, 그 표면 상에 마이크로 프리즘의 어레이를 갖고, 광학 가변 개체(O) 위에 가깝게 배치된 플레이트(P)를 구비한다. 이제, 관찰자, 즉 인증자는 대략 수직인 시야에서 광학 가변 개체를 보아 판정할 수 있고, 필요시, 기준 색에, 수직 시야에서 보아, 즉 상기 플레이트(P) 없이 그 부분(O1)에서 그리고 기판의 표면에 대하여 90°각도에서 볼 때의 광학 가변 개체(O)의 제1 색, 및 90°볼 때의 작은 상기 시야각(θ)에서 그 부분(O2)에서 상기 플레이트(P)를 통해 볼 때의 광학 가변 개체(O)의 제2 색을 비교할 수 있다.
바람직한 실시예에서, 표면 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖는 플레이트는, 각각 양각 엠보싱(돌출부에 대한), 음각 엠보싱(리세스에 대한) 폴리카보네이트(polycarbonate, PC) 플라스틱 플레이트로서 구현될 수 있다. 폴리카보네이트는 1.58 내지 1.60의 범위 내에 굴절률(n)을 갖는다. 각종 아크릴 폴리머는 물론, 특히 폴리에테르에테르케톤(PEEK), 폴리술폰(PSU), 폴리에틸렌나프탈레이트 폴리에스테르(PEN), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리스티렌(PS), 폴리비닐클로라이드(PVC), 폴리아미드(PA), 폴리에틸렌(PE), 폴리우레탄(PUR), 폴리프로필렌(PP)인, 1.50 내지 1.80의 범위 내의 굴절률을 갖는 다른 열가소성 폴리머 또한, 이들이 400nm 내지 700nm의 가시 스펙트럼 범위 내에서 투명하다면, 사용될 수 있다. 열가소성 폴리머는 또한, 개별 입자에서 광 산란 효과를 방지하기 위하여, 2.0 이상의 굴절률을 갖고 50 나노미터보다 작은 입자 크기를 갖는, 나노결정 TiO2와 같은, 굴절률 증가하는 무기 나노입자 재료와 함께, 상기 유기 폴리머 중 하나 또는 그 혼합물을 포함하는 복합 재료일 수 있다.
열가소성 폴리머는 그 유리 전이 온도보다 높은 온도에서 형성, 즉 엠보싱될 수 있다. 유리 전이 온도(Tg)는 당업자에게, 열가소성 폴리머가 의사 고체(단단한) 상태로부터 의사 액체(성형 가능한) 상태로 변하는 온도보다 높은 온도로서 알려져 있다. 따라서, 마이크로 프리즘의 어레이와 같은, 돌출부 또는 리세스의 요구되는 표면 텍스쳐가, 예컨대 그 표면 상에 마스터 텍스쳐를 갖는 핫 롤러(hot roller)의 도움으로 열가소성 플레이트로 형성, 즉 엠보싱될 수 있다. 엠보싱을 위한 유용한 유리 전이 온도는 일반적으로 60℃ 초과, 바람직하게는 80℃ 초과한다. 폴리카보네이트(PC, "Lexan", "Macrolon")는 150℃의 유리 전이 온도(Tg)를 갖고, PET는 약 70℃의 Tg를 갖고, PVC는 약 80℃의 Tg를 갖는다.
본 실시예의 대안적인 다른 변형은 도 9에 도시된 바와 같다. 본 실시예에 따른, 기판(S) 상의 광학 가변 개체(O)의 시각 인증을 위한 인증 장치는, 그 표면 상에 마이크로 프리즘의 어레이를 갖는 플레이트(P)를 구비하고, 상기 플레이트는 광학 가변 개체(O)에 관하여 입사각(Φ)으로 배치되어 있다. 이제 관찰자, 즉 인증자는, 대략 수직 시야에서 광학 가변 개체를 보아 판정할 수 있고, 필요시, 기준 색에, 수직 시야에서(즉, 광학 가변 개체(O)의 부분(O1)에서 그리고 기판(S)의 표면에 대하여 90°각도에서) 상기 플레이트(P) 없이 시점(2)에서 볼 때의 광학 가변 개체의 제1 색, 및 90°보다 작은 상기 시야각(θ)에서 광학 가변 개체(O)의 부분(O2)에서 상기 플레이트(P)를 통하여 시점(1)에서 볼 때의 광학 가변 개체의 제2 색을 비교할 수 있다. 플레이트(P)와 기판(S)의 표면 간의 경사각(Φ)에 대한 가장 유용한 값은 0°과 60°사이의 범위 내에 있다. 경사진 플레이트(P)를 갖는 "개방형(open)" 실시예는, 플레이트를 통해서 뿐만 아니라, 또한 스펙트럼 조건 하에서 광학 가변 개체에 도달하여 이것을 조명하기 전에 플레이트를 우선 통과해야 하는 조명광없이 측면으로부터의 광학 가변 개체(O)의 조명을 허용한다. 이는, 인증 장치의 사용자에 의하여, 광학 가변 개체의 인증이 의존하는 광학 효과의 인지를 향상시키는, 광학 가변 개체 상에 직접 입사되는 조명광의 최대 강도를 갖는다는 이점을 제공하며, 따라서 사용자가 보다 많은 최적 조명 상태를 우선 적용할 필요성없이, 훨씬 더 신뢰성 있고 보다 신속한 인증을 보증한다. 따라서, 예컨대 인증은, 열악한 조명을 갖는 장소에서도 행해질 수 있다.
도 4를 참조하여, 본 발명에 따른 인증 장치의 제2 주요 실시예가 개시된다. 이 인증 장치는, 기판(S) 상의 광학 가변 개체(O)의, 예컨대 자동 지폐 인식기(automated currency acceptor)에서 기계 인증용으로 사용될 수 있다. 본 실시예에 따른 인증 장치는, 표면 상에 마이크로 프리즘의 어레이를 갖고, 광학 가변 개체(O) 위에 가깝께 배치되어 있는 플레이트(P)를 통하여 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)를 조명하도록 배치된 제1 광원(L); 상기 플레이트(P)를 통한 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)로부터 광을 수광하도록 배치된 제1 광 검출기(D); 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)를 직접 조명하도록 배치된 제2 광원(L'); 대략 약 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)로부터 광을 직접 수광하도록 배치된 제2 광 검출기(D')를 구비한다. 광원들(L, L') 및 광 검출기들(D, D')은, 메모리와 하나 이상의 프로그램으로 인에이블되는 프로세서(μP)에 연결되어, 인증 동작을 수행한다.
본 실시예의 변형에서, 상기 플레이트(P)를 통한 조명 및 광학 가변 개체(O)의 직접 조명 모두를 위한 조명원으로서 단일 광원(L)이 사용될 수도 있다.
마찬가지로, 본 실시예의 또다른 변형에서, 상기 플레이트(P)를 통하여 상기 광학 가변 개체(O)로부터 반사된 광을 수광하고, 상기 광학 가변 개체(O)로부터 직접 반사된 광을 수광하기 위하여 단일 광 검출기(D)가 사용될 수도 있다.
본 실시예의 또다른 변형에 따르면, 예컨대 상기 플레이트(P)를 앞뒤로 이동시킴으로써, 단일 광원(L)과 단일 광 검출기(D)를 이용하여, 상기 플레이트(P)를 통하여 반사된 광과 직접 반사된 광의 순차적 평가를 실현할 수 있다.
바람직하게는, 하나 이상의 광원들(L, L') 중 적어도 하나는, 백열 광원 또는 백색 LED와 같은 광대역 이미터이다.
또한, 하나 이상의 광 검출기(D, D') 중 바람직하게는 적어도 하나는 RGB(red-green-blue) 컬러 센서이며, 사람의 지각의 CIE 1976(CIELAB) 색 공간의 색을 평가하는 데 사용된다.
대안적으로, 하나 이상의 광 검출기들(D, D') 중 적어도 하나는, 인간의 지각(400 nm 내지 700 nm)의 파장 영역에서 복수의 파장/강도 값들을 전달하는, 예컨대 마이크로 스펙트로미터에 의하여 구현되는, 더욱 확장된 스펙트럼 센서일 수 있다. 본 실시예의 변형에서, 상기 하나 이상의 광 센서들은, 200nm 내지 2,500nm의 확장된 광학 파장 영역에서의 복수의 파장/강도 값들을 전달한다.
본 실시예의 또다른 변형에서, 상기 하나 이상의 광 검출기들(D, D') 중 적어도 하나는 광대역 광 강도 검출기이고, 상기 하나 이상의 광원들(L, L') 중 적어도 하나는 스펙트럼 가변 광원이다. 본 변형의 제1 하위 변형에서, 하나 이상의 광원들 중 적어도 하나는, 순차적으로 온 및 오프 전환되는 적색, 녹색 및 청색 LED이고, 이 적어도 하나의 광원에 대응하는 하나 이상의 광 검출기들은 광대역 실리콘 광전지이다. 이러한 방식으로, 인간 지각의 CIE 1976(CIELAB) 색 공간에 필적하는 색은, 적색, 녹색 및 청색 조명 하에 반사광 강도를 측정함으로써 평가될 수 있다. 이 변형의 제2 하위 변형에서, 하나 이상의 광원들 중 적어도 하나는, 200nm 내지 2,500nm의 광학 파장 영역에서 UV 및/또는 IR 스펙트럼 범위에서, 가시 스펙트럼 외부를 포함하는, RGB에 대응하는 파장과는 다른 파장에서 발광하는 LED를 구비하고, 대응하는 하나 이상의 광 검출기들은, 상기 LED에 의하여 발광된 광에 민감하도록 선택되어, 이들 각각에 대하여 상대 반사광 강도를 측정한다.
표면(S) 상의 상기 광학 가변 개체(O)는, 그 기판(S) 상의 상기 광학 가변 개체(O)를 인증 장치가 주사하게 하도록, 플레이트(P), 하나 이상의 광원들(L, L'), 하나 이상의 광 검출기들(D, D'), 및 프로세서(μP)를 구비하는 인증 장치에 관하여 이동 가능하게 배치될 수도 있다. 이러한 주사는, 인증 장치를 통하여 광학 가변 개체를 묘화(draw)함으로써 수동으로, 혹은 전기 컨베이어의 도움으로 수행될 수 있으며, 이 전기 컨베이어의 옵션은 자동 화폐 인식기의 경우에서 바람직한 것이다.
광 굴절 재료의 상기 플레이트는 그 표면들 중 적어도 하나 상에 양각 또는 음각 광 굴절 엠보싱을 갖는다. 상기 엠보싱은, 도 5의 a에 도시된 바와 같이 1차원 대칭인 "지붕" 구조, 또는 도 5의 b에 도시된 바와 같이 1차원 비대칭인 "지붕" 구조의 형태를 취할 수도 있다.
대안적으로, 플레이트는, 도 6의 a에 도시된 정사각 프리즘의 어레이, 또는 도 6의 b에 도시된 삼각 프리즘의 어레이와 같은 2차원 텍스쳐를 갖는다. 플레이트의 1차원 광 굴절 구조는 플레이트에 대한 수직 입사로부터 또는 수직 입사로 일 방향으로 광을 편향시키고, 2차원 텍스쳐는 플레이트에 대한 수직 입사로부터 또는 수직 입사로 하나보다 많은 방향으로 광을 편향시킨다. 두 특징들 모두가 특정 실시예에서 유리하게 이용될 수 있다. 특히, 1차원 텍스쳐는 도 9의 실시예에 대해서 바람직하고, 2차원 텍스쳐는 도 2 및 도 8의 실시예에서 향상된 스펙트럼 조명을 제공한다.
그러나, 본 발명은, 편평한 표면들을 갖는 기하학적인 도형을 갖는 엠보싱에 한정되지 않는다. 본 발명을 실행하는 데 요구되는 광 굴절 재료의 플레이트를 구현하기 위하여, 예컨대 도 7의 a에 도시된 바와 같은, 예컨대 1차원 렌즈 어레이, 또는 예컨대 도 7의 b에 도시된 바와 같은 2차원 렌즈 어레이와 같은, 비평면 표면을 갖는 다른 적합한 구조도 적합하다.
또한, 본 발명은, 광 굴절 재료의 단일 플레이트의 사용에 한정되지 않는다. 도 8을 참조하여, 2개 이상의 그러한 플레이트들(P1, P2)이 조합, 즉 서로의 위에 쌓일 수 있어, 수직 입사광 빔의 보다 강한 편향을 획득하고, 따라서 보다 낮은 시야각에서 그 기판(S) 상의 광학 가변 개체(O)의 색을 조사할(probe) 수 있다.
본 발명의 다른 태양에서, 시야각이 가변함에 따라 색 변이를 나타내는 광학 가변 개체를 인증하는 방법이 개시되며, 상기 방법은, 광학 가변 개체 상에 광 굴절 재료의 플레이트를 배치하는 단계를 포함하며, 상기 플레이트는, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에서의 광 굴절로부터 발생된다.
광학 가변 개체는 바람직하게는, 직접 보기의 그리고 상기 플레이트를 통한 각도 편향된 보기의 색들을, 대응하는 기준 색과 비교함으로써 인증된다.
본 방법의 다른 실시예에서, 직접 보기의 그리고 각도 편향된 보기의 광학 가변 개체의 색은, 광원들(L, L'), 광 검출기들(D, D'), 및 인증 동작을 실행하기 위하여 메모리와 하나 이상의 프로그램으로 인에이블되는 프로세서(μP)를 구비하는 자동 장치에 의하여 평가된다. 재차, 본 발명에 따른 인증 장치의 제2 주요 실시예 관하여 전술된 바와 같이, 단일 광원 및/또는 단일 광 검출기 또한 사용될 수도 있다.
마지막으로, 본 발명의 다른 태양에서, 광학 가변 개체를 인증하기 위한 광 굴절 재료의 플레이트의 사용이 개시되며, 상기 플레이트는, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에서의 광 굴절로부터 발생된다.
예
다음에서, 본 발명은, 인증 장치에 대한 2개의 선택된 예들을 이용하여 더 설명한다. 그러나, 이들 예는 본 발명을 더욱 설명하기 위한 유일한 목적으로 사용되며, 이들 예에 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 의미하는 것은 절대 아니다.
예 1: 보안 문서 상의 광학 가변 인쇄 특징부의 시각 인증을 위한, 도 3에 따른 장치가 다음과 같이 구성되었다: "루미닛 방향 조정막(Luminit Direction Tuning Film) 20°"의 2장의 시트, 캐나다, 토런스, 루미닛 엘엘씨로부터 입수 가능한, 도 5의 b에 도시된 구조를 갖는 플라스틱막이 도 8에 따라 함께 조립되어, 광 굴절 플레이트를 획득하여, 수직 입사로부터 40°의 총 편향을 발생시킨다. 이렇게 획득된 플레이트는, 이것을 단단하고 똑바르게 유지하고 상기 광학 가변 특징부를 갖는 지폐 위로 그 슬라이딩을 허용하도록, 지지 구조 상에 탑재되었다. 지폐 위로 이 플레이트를 슬라이딩시킴으로써, 수직 입사의 그리고 40°의 입사의 광학 가변 특징부의 색이 시각적으로 비교될 수 있다.
예 1의 대안적인 실시예에서, 도 9에 개략적으로 도시된 바와 같이, "루미닛 방향 조정막 20°"의 2장의 시트가 도 8에 따라 함께 조립되어, 광 굴절 플레이트를 획득하여 수직 입사로부터 40°의 총 편향을 발생시킨다. 플레이트는, 측면으로부터의 주변광(ambient light)으로, 즉 상기 광학 가변 개체에 도달하여, 이것을 조명하기 전에 우선 통과할 필요가 없는 광에 의하여, 광학 가변 개체의 자유 조명을 허용하도록, 45°의 경사각(Φ)으로 장착되었다.
상기 광학 가변 인쇄 특징부는, 예컨대 EP-A-0227423, US 5,279,657, WO 95/29140 또는 WO 2007/131833에 따라 잉크를 인쇄함으로써 획득될 수 있다. 상기 잉크는, US 4,705,300, US 4,705,356, US 4,721,217, 및 여기서 관련된 개시에 따라 플래이크(flake) 형상 박막 광학 간섭 색소를 포함한다.
예 2: 보안 문서 상의 광학 가변 특징부의 기계 인증을 위한, 도 4에 따른 장치는, 광원(L)으로서 백색 LED(로이드너 레이저 테크닉(Roithner Laser Technik), 비엔나 B5-430-JD), 광 검출기(D)로서 RGB 컬러 센서(하마마츠(Hamamatsu) S9702), 및 처리 유닛(μP)으로서 인증 동작을 수행하기 위한 메모리 및 프로그램으로 인에이블되는 마이크로프로세서(아날로그 디바이시스(Analog Devices) ADuC812)를 추가함으로써 예 1의 장치로부터 획득되었다.
Claims (15)
- 기판(S) 상의 광학 가변 개체(optical variable entity)(O)의 기계 인증을 위한 장치로서,
표면 상에 마이크로 프리즘의 어레이를 갖는 광 굴절 재료의 플레이트(P);
직접 및/또는 상기 플레이트(P)를 통하여 상기 광학 가변 개체(O)를 조명할 수 있는 적어도 하나의 광원(L); 및
직접 및/또는 상기 플레이트(P)를 통하여 상기 광학 가변 개체(O)로부터 반사된 광을 수광할 수 있는 적어도 하나의 광 검출기(D)
를 구비하는 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치. - 제 1 항에 있어서, 상기 제1 광원(L)은, 상기 플레이트(P)를 통해 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)를 조명하도록 배치되고, 상기 기계 인증 장치는, 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)를 직접 조명하도록 배치된 제2 광원(L')을 더 구비하는 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제1 광 검출기(D)은, 상기 플레이트(P)를 통해 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)로부터 광을 수광하도록 배치되고, 상기 장치는, 대략 수직 입사로 상기 광학 가변 개체(O)로부터 광을 직접 수광하도록 배치된 제2 광 검출기(D')를 더 구비하는 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원들(L, L') 중 적어도 하나는, 백열 광원 또는 백색 LED와 같은 광대역 이미터인 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 검출기들(D, D') 중 적어도 하나는 적-녹-청 컬러 센서인 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 검출기들(D, D') 중 적어도 하나는, 200 nm 내지 2,500 nm의 파장 영역에서 복수의 파장/강도 값들을 전달하는 확장된 스펙트럼 센서인 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 검출기들(D, D') 중 적어도 하나는 광대역 광 강도 검출기이고, 상기 광원들(L, L') 중 적어도 하나는 스펙트럼 가변 광원인 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 스펙트럼 가변 광원은, 순차적으로 온 및 오프 전환될 수 있는 적색, 녹색, 및 청색 LED를 구비하고, 상기 광대역 광 강도 검출기는 광대역 실리콘 광전지인 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 스펙트럼 가변 광원은, 200 nm 내지 2,500 nm의 파장 영역에서, 적색, 녹색, 및 청색에 대응하는 파장들 이외의 파장에서 발광하는 LED들을 구비하는 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 광 굴절 재료의 상기 플레이트(P)는, 1차원 구조의 형태의 또는 2차원 텍스쳐의 형태의 양각 또는 음각 광 굴절 엠보싱을 갖는 것인 광학 가변 개체(O)의 기계 인증 장치.
- 시야각이 변함에 따라 색 변이(color shift)를 나타내는 광학 가변 개체를 인증하는 방법으로서, 상기 방법은, 광학 가변 개체 상에 광 굴절 재료의 플레이트를 배치하는 단계를 포함하며, 상기 플레이트는, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에서의 광 굴절로부터 발생되는 것인 광학 가변 개체의 인증 방법.
- 제 11 항에 있어서, 상기 플레이트는, 상기 광학 가변 개체에 관하여 경사각으로 배치된 것인 광학 가변 개체의 인증 방법.
- 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서, 직접 보기의 그리고 각도 편향된 보기의 광학 가변 개체의 색들은, 광원들(L), 광 검출기들(D), 및 인증 동작을 수행하기 위한 메모리 및 프로그램으로 인에이블되는 프로세서(μP)를 구비하는 자동 장치에 의하여 평가되는 것인 광학 가변 개체의 인증 방법.
- 제 13 항에 있어서, 상기 광학 가변 개체는, 전기 컨베이어의 도움으로 상기 자동 장치를 통하여 묘화(draw)되는 것인 광학 가변 개체의 인증 방법.
- 광학 가변 개체를 인증하기 위한 광 굴절 재료의 플레이트의 사용으로서, 상기 플레이트는, 직접 보기 및 상기 플레이트를 통한 보기를 상기 광학 가변 개체의 적어도 일부들에 서로 떨어져 제공하도록, 2개의 표면들과, 상기 표면들 중 적어도 하나 상의 광 굴절 돌출부 또는 리세스의 어레이를 갖고, 상기 플레이트를 통한 상기 보기는 각도 편향된 보기이며, 상기 돌출부 또는 리세스에서의 광 굴절로부터 발생되는 것인 광 굴절 재료의 플레이트의 사용.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PA0105 | International application |
Patent event date: 20140424 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
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PG1501 | Laying open of application | ||
PC1203 | Withdrawal of no request for examination | ||
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |