KR20110018426A

KR20110018426A - Electronic component testing method, insert, tray, and electronic component testing apparatus

Info

Publication number: KR20110018426A
Application number: KR1020117000631A
Authority: KR
Inventors: 아키히로 오사카베
Original assignee: 가부시키가이샤 아드반테스트
Priority date: 2008-07-08
Filing date: 2009-06-18
Publication date: 2011-02-23
Also published as: CN102084260A; TWI394960B; TW201013197A; JP5282093B2; JPWO2010004844A1; WO2010004844A1; KR101156962B1

Abstract

인서트(710)의 디바이스 캐리어(760)의 바닥판(760a)은 IC디바이스의 본체(901)로부터 도출되는 땜납볼(HB)의 높이(A)와, 테스트시의 소켓(50)의 하우징(52)으로부터의 콘택트핀(51)의 제1 돌출량(C_op)의 합계와 실질적으로 동일한 두께(B)를 갖고 있고, 바닥판(760a)을 본체(901)와 하우징(52)의 사이에 끼워 넣은 상태에서, IC디바이스를 소켓(50)에 밀착시켜, IC디바이스의 땜납볼(HB)을 소켓(50)의 콘택트핀(51)에 전기적으로 접촉시켜서, IC디바이스의 테스트를 수행한다. The bottom plate 760a of the device carrier 760 of the insert 710 is the height A of the solder ball HB derived from the main body 901 of the IC device, and the housing 52 of the socket 50 during the test. Has a thickness B substantially equal to the sum of the first protrusion amounts C _op of the contact pins 51), and the bottom plate 760a is sandwiched between the main body 901 and the housing 52. In the inserted state, the IC device is brought into close contact with the socket 50, the solder ball HB of the IC device is brought into electrical contact with the contact pin 51 of the socket 50, and the IC device is tested.

Description

ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD, INSERT, TRAY, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS

본 발명은 반도체 집적회로소자 등의 각종 전자부품(이하, 대표적으로 IC디바이스라 한다.)을 테스트하는 전자부품 시험방법, 및 IC디바이스를 수용 가능한 인서트, 이것을 구비한 트레이 및 전자부품 시험장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component test method for testing various electronic components (hereinafter, referred to as IC devices) such as semiconductor integrated circuit devices, an insert that can accommodate an IC device, a tray provided with the same, and an electronic component test apparatus. will be.

IC디바이스의 제조과정에서는 IC디바이스의 성능이나 기능을 시험하기 위하여 전자부품 시험장치가 사용되고 있다. 이러한 전자부품 시험장치에서는 핸들러(Handler)에 의해 IC디바이스를 테스트 헤드의 소켓에 밀착시켜, IC디바이스의 단자를 소켓의 콘택트핀에 전기적으로 접촉시킨 상태에서, 테스트 헤드를 통하여 테스터가 IC디바이스의 테스트를 실행한다. In the manufacturing process of an IC device, an electronic component test apparatus is used to test the performance or function of an IC device. In such an electronic component test apparatus, the tester tests the IC device through the test head while the IC device is brought into close contact with the socket of the test head by a handler, and the terminal of the IC device is electrically contacted with the contact pin of the socket. Run

소켓의 콘택트핀에는 테스트시에 전기적인 도통을 확보하기 위한 최적의 스트로크량이 설정되어 있다. IC디바이스는 품종에 따라 그 두께가 다르므로, IC디바이스를 밀착시키는 푸셔 등의 두께를 변화시킴으로써, 밀착시의 스트로크의 최적화를 도모하는 것이 알려져 있다. The contact pin of the socket is set with an optimal stroke amount for ensuring electrical conduction during the test. Since the thickness of IC devices varies depending on the variety, it is known to optimize the stroke at the time of close contact by changing the thickness of the pusher or the like that closely adheres the IC device.

그렇지만, IC디바이스의 두께가 변할 때마다 푸셔 등을 교환해야만 하기 때문에 전자부품 시험장치의 가동량이 저하되는 문제가 있었다. However, since the pusher or the like must be replaced every time the thickness of the IC device changes, there is a problem that the operation amount of the electronic component test apparatus is lowered.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 가동량의 향상을 도모하는 것이 가능한 전자부품 시험방법, 인서트, 트레이 및 전자부품 시험장치를 제공하는 것이다. The problem to be solved by the present invention is to provide an electronic component test method, an insert, a tray, and an electronic component test apparatus capable of improving the operation amount.

(1) 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 피시험 전자부품을 소켓에 밀착시켜서, 상기 피시험 전자부품의 단자를 상기 소켓의 콘택트핀에 전기적으로 접촉시켜서, 상기 피시험 전자부품의 테스트를 수행하는 전자부품 시험방법으로서, 상기 피시험 전자부품의 본체로부터 도출되는 상기 단자의 높이와, 테스트시 상기 소켓의 하우징으로부터의 상기 콘택트핀의 제1 돌출량의 합계와 실질적으로 동일한 두께를 갖는 스페이서를, 상기 본체와 상기 하우징의 사이에 끼워 넣은 상태에서, 상기 피시험 전자부품을 상기 소켓에 밀착시키는 전자부품 시험방법이 제공된다(청구항 1 참조). (1) In order to achieve the above object, according to the present invention, the electronic component under test is brought into close contact with a socket, and the terminal of the electronic component under test is brought into electrical contact with a contact pin of the socket, thereby An electronic component test method for performing a test, comprising: a thickness substantially equal to a sum of a height of the terminal derived from a main body of the electronic component under test and a first protrusion amount of the contact pin from the housing of the socket during the test; An electronic component test method is provided in which the electronic component under test is brought into close contact with the socket while a spacer having the spacer is sandwiched between the main body and the housing (see claim 1).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 제1 돌출량은 무부하 상태에서의 상기 콘택트핀의 상기 하우징으로부터의 제2 돌출량보다도 짧고, 또한 상기 콘택트핀이 가장 많이 수축한 상태에서의 상기 콘택트핀의 상기 하우징으로부터의 제3 돌출량보다도 긴 것이 바람직하다(청구항 2 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, The said 1st protrusion amount is shorter than the 2nd protrusion amount of the said contact pin from the said housing in a no-load state, and the said contact pin in the state which the said contact pin contracted most. It is preferred to be longer than the third protrusion amount from the housing (see claim 2).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 스페이서는 상기 피시험 전자부품을 수용하는 인서트의 바닥판인 것이 바람직하다(청구항 3 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, It is preferable that the said spacer is a bottom plate of the insert which accommodates the said electronic component under test (refer Claim 3).

(2) 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 피시험 전자부품을 소켓에 밀착시켜서, 상기 피시험 전자부품의 단자를 상기 소켓의 콘택트핀에 전기적으로 접촉시켜서, 상기 피시험 전자부품의 테스트를 수행하는 전자부품 시험장치내에서 반송되는 트레이에 설치되고, 상기 피시험 전자부품을 수용 가능한 인서트로서, 상기 피시험 전자부품을 홀드하는 홀드부를 구비하고 있고, 상기 홀드부는 상기 피시험 전자부품의 본체로부터 도출되는 상기 단자의 높이와, 테스트시의 상기 소켓 하우징으로부터의 상기 콘택트핀의 제1 돌출량의 합계와 실질적으로 동일한 두께의 바닥판을 갖는 인서트가 제공된다(청구항 4 참조). (2) In order to achieve the above object, according to the present invention, the electronic component under test is brought into close contact with a socket, and the terminal of the electronic component under test is brought into electrical contact with a contact pin of the socket, whereby An insert which is installed in a tray conveyed in an electronic component test apparatus for performing a test, and which can accommodate the electronic component under test, having a hold portion for holding the electronic component under test, wherein the hold portion has the electronic component under test An insert is provided having a bottom plate having a thickness substantially equal to the sum of the height of the terminal derived from the main body of the body and the first protrusion amount of the contact pin from the socket housing under test (see claim 4).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 바닥판은 상기 피시험 전자부품을 상기 소켓에 밀착시킬 때에, 상기 본체와 상기 하우징의 사이에 끼워 넣어지는 것이 바람직하다(청구항 5 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, It is preferable that the said bottom plate is sandwiched between the said main body and the said housing | casing when the said electronic component under test comes in close contact with the said socket (refer Claim 5).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 제1 돌출량은 무부하 상태에서의 상기 콘택트핀의 상기 하우징으로부터의 제2 돌출량보다도 짧고, 또한 상기 콘택트핀이 가장 많이 수축한 상태에서의 상기 콘택트핀의 상기 하우징으로부터의 제3 돌출량보다도 긴 것이 바람직하다(청구항 6 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, The said 1st protrusion amount is shorter than the 2nd protrusion amount of the said contact pin from the said housing in a no-load state, and the said contact pin in the state which the said contact pin contracted most. It is preferred to be longer than the third protrusion amount from the housing (see claim 6).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 바닥판은 상기 피시험 전자부품의 상기 단자가 끼워 맞춤 가능한 관통공을 갖는 것이 바람직하다(청구항 7 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, It is preferable that the said bottom plate has the through-hole with which the said terminal of the said electronic component under test can be fitted (refer Claim 7).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 인서트는, 상기 피시험 전자부품을 수용하는 수용공을 갖는 인서트 본체를 구비하고 있고, 상기 홀드부는 상기 수용공에 수용된 상기 피시험 전자부품을 홀드하는 것이 바람직하다(청구항 8 참조). Although not specifically limited in the said invention, It is preferable that the said insert is equipped with the insert main body which has the accommodation hole which accommodates the said electronic component under test, The said hold part hold | maintains the said electronic component under test contained in the said accommodation hole. (See claim 8).

상기 발명에서는 특별히 한정되지 않지만, 상기 인서트에 대하여 상기 홀드부를 착탈 가능하게 홀드하는 착탈 수단을 더 구비한 것이 바람직하다(청구항 9 참조). Although it does not specifically limit in the said invention, It is preferable to further provide the detachable means which detachably holds the said hold part with respect to the said insert (refer Claim 9).

(3) 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 상기 인서트와, 상기 인서트를 미동 가능하게 홀드하는 프레임 부재를 구비한 트레이가 제공된다(청구항 10 참조). (3) In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided a tray having the insert and a frame member for holding the insert in an unstable manner (see claim 10).

(4) 상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따르면, 피시험 전자부품을 소켓에 밀착시켜서, 상기 피시험 전자부품의 단자를 상기 소켓의 콘택트핀에 전기적으로 접촉시켜서, 상기 트레이에 수용한 상태에서, 상기 피시험 전자부품을 상기 소켓에 밀착시키는 테스트부와, 시험전의 상기 피시험 전자부품을 수용한 상기 트레이를 상기 테스트부에 반입하는 로더부와, 시험 종료된 상기 피시험 전자부품을 수용한 상기 트레이를 상기 테스트부로부터 반출하는 언로더부를 구비하고 있고, 상기 트레이는 상기 로더부, 상기 테스트부 및 상기 언로더부에서 순환 반송되는 전자부품 시험장치가 제공된다(청구항 11 참조). (4) In order to achieve the above object, according to the present invention, the electronic component under test is brought into close contact with a socket, the terminal of the electronic component under test is brought into electrical contact with a contact pin of the socket, and is accommodated in the tray. And a test section for bringing the electronic component under test into close contact with the socket, a loader section for bringing the tray containing the electronic component under test before the test into the test section, and the electronic component under test completed. An unloader section for carrying out the tray from the test section is provided, and the tray is provided with an electronic component test apparatus which is cyclically conveyed from the loader section, the test section, and the unloader section (see claim 11).

본 발명에서는 피시험 전자부품을 소켓에 밀착시킬 때에, 피시험 전자부품의 본체와 소켓의 하우징의 사이에 스페이서를 개재시켜서, 본체와 하우징의 사이의 간격을, 단자 높이와 콘택트핀의 제1 돌출량의 합계에 실질적으로 동일하게 한다. 이에 따라, 푸셔 등을 교환하지 않고, 피시험 전자부품을 소켓에 밀착시키는 것만으로, 콘택트핀의 최적의 스트로크량을 자동적으로 확보할 수가 있어, 전자부품 시험장치의 가동량을 향상시킬 수가 있다. In the present invention, when the electronic component under test comes into close contact with the socket, the spacer is interposed between the main body of the electronic component under test and the housing of the socket, so that the distance between the main body and the housing is increased by the terminal height and the first protrusion of the contact pin. It is made substantially equal to the sum of quantity. As a result, the optimum stroke amount of the contact pin can be automatically secured only by bringing the electronic component under test into close contact with the socket without replacing the pusher or the like, and the operation amount of the electronic component test apparatus can be improved.

도 1은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치를 도시한 개략 단면도.
도 2는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치를 도시한 사시도.
도 3은 본 발명의 실시형태에서의 트레이의 처리를 도시한 개념도.
도 4는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 IC스토커를 도시한 분해 사시도.
도 5는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 커스터머 트레이를 도시한 사시도.
도 6은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 테스트 트레이를 도시한 분해 사시도.
도 7은 도 6에 도시한 테스트 트레이에 사용되는 인서트를 도시한 분해 사시도.
도 8A는 본 발명의 실시형태에서의 인서트의 평면도로서, 래치부재가 폐쇄위치에 있는 상태를 도시한 도면.
도 8B는 본 발명의 실시형태에서의 인서트의 평면도로서, 래치부재가 개방위치에 있는 상태를 도시한 도면.
도 9A는 도 8A의 IXA-IXA선에 따른 단면도.
도 9B는 도 8B의 IXB-IXB선에 따른 단면도.
도 10A는 도 8A의 XA-XA선에 따른 단면도.
도 10B는 도 8B의 XB-XB선에 따른 단면도.
도 11은 본 발명의 실시형태에서 인서트에 사용되는 후크부재의 사시도.
도 12는 본 발명의 실시형태에서 디바이스 캐리어가 인서트 본체에 장착되어 있는 상태를 도시한 단면도.
도 13은 본 발명의 실시형태에서 압압시에 IC디바이스와 함께 디바이스 캐리어가 미동하고 있는 상태를 도시한 단면도.
도 14A는 본 발명의 실시형태에서의 디바이스 캐리어의 바닥판을 도시한 단면도로서, 바닥판을 개재하여 얇은 IC디바이스를 소켓에 밀착시킨 상태를 도시한 도면.
도 14B는 본 발명의 실시형태에서의 디바이스 캐리어의 바닥판을 도시한 단면도로서, 바닥판을 개재하여 두꺼운 IC디바이스를 소켓에 밀착시킨 상태를 도시한 도면.
도 15는 본 발명의 실시형태에서 디바이스 캐리어를 인서트 본체에 착탈하기 위한 지그를 도시한 측면도.
도 16은 본 발명의 실시형태에서 지그를 사용하여 디바이스 캐리어를 인서트 본체로부터 분리하고 있는 상태를 도시한 단면도.
도 17은 본 발명의 실시형태에서의 푸셔, 인서트, 소켓 가이드 및 소켓을 도시한 단면도.
도 18은 본 발명의 실시형태에서의 소켓을 도시한 단면도. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The schematic sectional drawing which shows the electronic component test apparatus in embodiment of this invention.
2 is a perspective view showing an electronic component testing apparatus in an embodiment of the present invention.
3 is a conceptual diagram illustrating the processing of a tray in an embodiment of the present invention.
4 is an exploded perspective view showing an IC stocker used in the electronic component testing apparatus according to the embodiment of the present invention.
Fig. 5 is a perspective view showing a customer tray used in the electronic component testing apparatus in the embodiment of the present invention.
Fig. 6 is an exploded perspective view showing a test tray used for an electronic component testing apparatus in an embodiment of the present invention.
7 is an exploded perspective view showing the insert used in the test tray shown in FIG.
Fig. 8A is a plan view of the insert in the embodiment of the present invention, showing a state in which the latch member is in the closed position.
Fig. 8B is a plan view of the insert in the embodiment of the present invention, showing a state in which the latch member is in the open position.
9A is a cross-sectional view taken along the line IXA-IXA in FIG. 8A.
9B is a sectional view taken along the line IXB-IXB in FIG. 8B.
10A is a cross-sectional view taken along the line XA-XA in FIG. 8A.
10B is a cross-sectional view taken along the line XB-XB in FIG. 8B.
11 is a perspective view of a hook member used for an insert in an embodiment of the present invention.
12 is a cross-sectional view showing a state in which a device carrier is attached to an insert body in the embodiment of the present invention.
Fig. 13 is a sectional view showing a state in which the device carrier is finely moved together with the IC device at the time of pressing in the embodiment of the present invention.
Fig. 14A is a sectional view showing a bottom plate of a device carrier in an embodiment of the present invention, showing a state in which a thin IC device is in close contact with a socket through a bottom plate.
Fig. 14B is a sectional view showing a bottom plate of the device carrier in the embodiment of the present invention, showing a state in which a thick IC device is brought into close contact with a socket through the bottom plate.
Fig. 15 is a side view showing a jig for attaching and detaching a device carrier to an insert body in an embodiment of the present invention.
FIG. 16 is a cross-sectional view showing a state in which a device carrier is separated from an insert body using a jig in an embodiment of the present invention. FIG.
17 is a cross-sectional view illustrating the pusher, insert, socket guide and socket in the embodiment of the present invention.
18 is a cross-sectional view illustrating a socket in an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시 형태를 도면에 기초하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described based on drawing.

도 1은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치를 도시한 개략 단면도, 도 2는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치를 도시한 사시도, 도 3은 본 발명의 실시형태에서의 트레이의 처리를 도시한 개념도이다. 1 is a schematic cross-sectional view showing an electronic component testing apparatus in an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing an electronic component testing apparatus in an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a tray in an embodiment of the present invention. It is a conceptual diagram showing the processing of.

한편, 도 3은 전자부품 시험장치내에서의 트레이의 처리방법을 이해하기 위한 도면으로서, 실제로는 상하방향으로 나란하게 배치되어 있는 부재를 평면적으로 도시한 부분도 있다. 따라서, 그 기계적(3차원적) 구조는 도 2를 참조하여 설명한다. On the other hand, Figure 3 is a view for understanding the processing method of the tray in the electronic component test apparatus, there is also a part showing a planar view of the members arranged side by side in the up and down direction. Therefore, the mechanical (three-dimensional) structure will be described with reference to FIG.

본 실시형태에서의 전자부품 시험장치는 IC디바이스에 고온 또는 저온의 열스트레스를 인가한 상태에서, 테스트 헤드(5) 및 테스터(6)를 사용하여, IC디바이스가 적절히 동작하는지의 여부를 시험(검사)하고, 그 시험결과에 기초하여 IC디바이스를 분류하는 장치이다. 상기 전자부품 시험장치에 따른 IC디바이스의 테스트는 시험대상이 되는 IC디바이스가 다수 탑재된 커스터머 트레이(KST)(도 5 참조)로부터, 핸들러(1)내에서 순환 반송되는 테스트 트레이(TST)(도 6 참조)에 IC디바이스를 옮겨 적재하여 실시된다. 한편, IC디바이스는 도면 내에서 부호 IC로 표시되어 있다. The electronic component test apparatus according to the present embodiment tests whether the IC device operates properly by using the test head 5 and the tester 6 in a state where a high or low temperature thermal stress is applied to the IC device. Inspection) and classify IC devices based on the test results. The test of the IC device according to the electronic component test apparatus includes a test tray TST circulated and conveyed in the handler 1 from a customer tray KST (see FIG. 5) in which a large number of IC devices to be tested are mounted (FIG. 5). This is done by moving the IC device into the stacker (see 6). On the other hand, IC devices are denoted by code ICs in the drawings.

도 1에 도시한 바와 같이, 핸들러(1)의 하부에는 공간(8)이 설치되어 있고, 상기 공간(8)에 테스트 헤드(5)가 교환 가능하게 배치되어 있다. 테스트 헤드(5)상에는 소켓(50)이 설치되어 있고, 케이블(7)을 통하여 테스터(6)에 접속되어 있다. 그리고, 핸들러(1)에 형성된 개구부를 통하여, IC디바이스와 테스트 헤드(5)상의 소켓(50)을 전기적으로 접촉시켜, 테스터(6)로부터의 전기신호에 의해 IC디바이스의 테스트를 수행하는 것이 가능하게 되어 있다. 한편, IC디바이스의 품종교환의 때에는 그 품종의 IC디바이스의 형상이나 핀수에 적합한 소켓으로 교환된다. As shown in FIG. 1, the space 8 is provided in the lower part of the handler 1, and the test head 5 is arrange | positioned in the said space 8 so that replacement is possible. The socket 50 is provided on the test head 5 and is connected to the tester 6 via the cable 7. Then, the IC device is electrically contacted with the socket 50 on the test head 5 through the opening formed in the handler 1, so that the IC device can be tested by the electric signal from the tester 6. It is supposed to be done. On the other hand, when the IC device is replaced with a variety of varieties, the socket is suitable for the shape and number of pins of the IC device.

본 실시형태에서의 핸들러(1)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 시험전이나 시험 종료된 IC디바이스를 저장하는 저장부(200)와, 저장부(200)로부터 보내지는 IC디바이스를 테스트부(100)로 이송하는 로더부(300)와, 테스트 헤드(5)의 소켓(50)이 내부를 향하고 있는 테스트부(100)와, 테스트부(100)에서 시험이 수행된 시험종료된 IC디바이스를 분류하는 언로더부(400)로 구성되어 있다. As shown in FIG. 2 and FIG. 3, the handler 1 in the present embodiment includes a storage unit 200 for storing the IC device before or after the test and an IC device sent from the storage unit 200. The test part 100 to which the loader part 300 to be transferred to the test part 100, the test part 100 having the socket 50 of the test head 5 facing inward, and the test part 100 are tested It consists of an unloader part 400 which classifies IC devices.

이하에, 핸들러(1)의 각 부에 대하여 설명한다. Below, each part of the handler 1 is demonstrated.

<저장부(200)><Storage unit 200>

도 4는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 IC스토커를 도시한 분해 사시도, 도 5는 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 커스터머 트레이를 도시한 사시도이다. 4 is an exploded perspective view showing an IC stocker used in the electronic component test apparatus in the embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a perspective view showing a customer tray used in the electronic component test apparatus in the embodiment of the present invention.

저장부(200)는 시험전의 IC디바이스를 수용한 커스터머 트레이(KST)를 저장하는 시험전 스토커(201)와, 시험결과에 따라 분류된 IC디바이스를 수용한 커스터머 트레이(KST)를 저장하는 시험종료 스토커(202)를 구비하고 있다. The storage unit 200 stores the pre-test stocker 201 storing the customer tray KST containing the IC devices before the test, and the test end storing the customer tray KST containing the IC devices classified according to the test results. The stocker 202 is provided.

이들 스토커(201),(202)는 도 4에 도시한 바와 같이, 틀상의 트레이 지지틀(203)과, 상기 트레이 지지틀(203)의 하부로부터 진입하여 상부를 향하여 승강하는 엘리베이터(204)를 구비하고 있다. 트레이 지지틀(203)에는 커스터머 트레이(KST)가 복수 적층되어 있고, 상기 적층된 커스터머 트레이(KST)만이 엘리베이터(204)에 의해 상하로 이동하도록 되어 있다. 한편, 본 실시형태에서의 커스터머 트레이(KST)는 도 5에 도시한 바와 같이, IC디바이스를 수용하는 오목상의 수용부가 예컨대 14행 13열로 배열되어 있다. These stockers 201, 202, as shown in Figure 4, the tray support frame 203 of the frame and the elevator 204 entering and descending from the lower portion of the tray support frame 203 to the upper portion Equipped. A plurality of customer trays KST are stacked on the tray support frame 203, and only the stacked customer trays KST are moved up and down by the elevator 204. On the other hand, in the customer tray KST according to the present embodiment, as shown in Fig. 5, the recessed accommodating portions accommodating the IC devices are arranged in, for example, 14 rows and 13 columns.

시험전 스토커(201)와 시험종료 스토커(202)는 동일 구조로 되어 있으므로, 시험전 스토커(201)와 시험종료 스토커(202)의 각각의 수를 필요에 따라 적절한 수로 설정할 수 있다. Since the tester stocker 201 and the test stop stocker 202 have the same structure, the number of each of the tester stocker 201 and the tester stocker 202 can be set to an appropriate number as necessary.

본 실시형태에서는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 시험전 스토커(201)에 2개의 스토커(STK-B)가 설치되고, 그 이웃에 빈 트레이 스토커(STK-E)가 2개 설치되어 있다. 각각의 빈 트레이 스토커(STK-E)는 언로더부(400)로 보내지는 빈 커스터머 트레이(KST)가 적층되어 있다. In this embodiment, as shown in FIG. 2 and FIG. 3, two stockers STK-B are provided in the stocker 201 before the test, and two empty tray stockers STK-E are provided in the neighborhood. have. Each empty tray stocker STK-E is stacked with an empty customer tray KST sent to the unloader unit 400.

빈 트레이 스토커(STK-E)의 이웃에는 시험종료 스토커(202)에 8개의 스토커(STK-1, STK-2, …, STK-8)가 설치되어 있고, 시험결과에 따라 최대 8개로 분류하여 저장할 수 있도록 구성되어 있다. 결국, 양품과 불량품의 구별 이외에, 양품 중에서도 동작속도가 고속인 것, 중속인 것, 저속인 것, 혹은 불량품 중에서도 재시험이 필요한 것 등으로 분류하는 가능하게 되어 있다. In the neighborhood of the empty tray stocker (STK-E), eight stockers (STK-1, STK-2, ..., STK-8) are installed in the test stocker 202 and classified into a maximum of eight according to the test results. It is configured to be stored. As a result, in addition to the distinction between good and defective products, it is possible to classify among good products as high speed, medium speed, low speed, or bad items requiring retesting.

<로더부(300)><Loader part 300>

상술한 커스터머 트레이(KST)는 저장부(200)와 장치기대(101)의 사이에 설치된 트레이 이송아암(205)에 의해 로더부(300)의 2개소의 창부(370)에, 장치기대(101)의 하측으로부터 운반되어 들어온다. 그리고, 상기 로더부(300)에서 커스터머 트레이(KST)로 적재되어 들어온 IC디바이스를 디바이스 반송장치(310)가 프리사이서(preciser)(360)로 일단 이송하고, 여기에서 IC디바이스의 상호 위치관계를 수정한다. 그 후, 상기 프리사이서(360)로 이송된 IC디바이스를, 디바이스 반송장치(310)가 재차 이동시켜, 로더부(300)에 정지하고 있는 테스트 트레이(TST)로 옮겨 적재한다. The above-mentioned customer tray KST is installed on the two window portions 370 of the loader 300 by the tray transfer arm 205 provided between the storage 200 and the device base 101. It is carried in from the lower side. The device transfer device 310 once transfers the IC device loaded from the loader 300 to the customer tray KST to the preciser 360, where the mutual positional relationship between the IC devices is obtained. Modify Thereafter, the device transfer device 310 moves the IC device transferred to the preserizer 360 again and transfers it to the test tray TST stopped by the loader 300.

로더부(300)는 상술한 바와 같이, 커스터머 트레이(KST)로부터 테스트 트레이(TST)로 IC디바이스를 옮겨 적재하는 디바이스 반송장치(310)를 구비하고 있다. 상기 디바이스 반송장치(310)는 도 2에 도시한 바와 같이, 장치기대(101)상에 가설된 2개의 레일(311)과, 이들 레일(311)을 따라 테스트 트레이(TST)와 커스터머 트레이(KST)의 사이를 왕복 이동하는(이 방향을 Y방향으로 한다.) 것이 가능한 가동아암(312)과, 상기 가동아암(312)에 의해 지지되어, X방향으로 이동 가능한 가동헤드(320)를 구비하고 있다. As described above, the loader 300 includes a device conveying apparatus 310 for moving and loading the IC device from the customer tray KST to the test tray TST. As shown in FIG. 2, the device conveying apparatus 310 includes two rails 311 arranged on the apparatus base 101 and a test tray TST and a customer tray KST along these rails 311. ) Is provided with a movable arm 312 capable of reciprocating between () and a movable head 320 supported by the movable arm 312 and movable in the X direction. have.

상기 디바이스 반송장치(310)의 가동헤드(320)에는 흡착패드(미도시)가 아래방향으로 장착되어 있고, 상기 흡착패드가 흡인하면서 이동함으로써, 커스터머 트레이(KST)로부터 IC디바이스를 홀드하여, 그 IC디바이스를 테스트 트레이(TST)에 옮겨 적재한다. 이러한 흡착패드는 하나의 가동헤드(320)에 예컨대 8개 정도 설치되어 있고, 한번에 8개의 IC디바이스를 테스트 트레이(TST)에 옮겨 적재할 수 있도록 되어 있다. An adsorption pad (not shown) is attached to the movable head 320 of the device conveying apparatus 310 in a downward direction, and the suction pad moves while being sucked, thereby holding the IC device from the customer tray KST, Transfer the IC device to the test tray (TST) and load it. For example, about eight suction pads are provided in one movable head 320, and eight IC devices can be transferred to a test tray TST at one time for loading.

<테스트부(100)><Test section 100>

상술한 테스트 트레이(TST)는 로더부(300)에서 IC디바이스가 적재되어 들어온 후, 테스트부(100)로 이송되고, IC디바이스를 테스트 트레이(TST)에 탑재한 그 상태로 각 IC디바이스의 테스트가 실행된다. The test tray TST described above is transferred to the test unit 100 after the IC device is loaded in the loader unit 300, and the IC tray is mounted on the test tray TST to test each IC device. Is executed.

테스트부(100)는 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 테스트 트레이(TST)에 탑재된 IC디바이스에, 목적으로 하는 고온 또는 저온의 열스트레스를 인가하는 소크 챔버(110)와, 상기 소크 챔버(110)에서 열스트레스가 인가된 상태에 있는 IC디바이스를 테스트 헤드(5)에 밀착시키는 테스트 챔버(120)와, 테스트 챔버(120)에서 시험된 IC디바이스로부터 열스트레스를 제거하는 언소크 챔버(130)로 구성되어 있다. As shown in FIGS. 2 and 3, the test unit 100 includes a soak chamber 110 that applies a high temperature or low temperature heat stress to an IC device mounted on a test tray TST, and the soak. The test chamber 120 which closely adheres the IC device in the state where the thermal stress is applied in the chamber 110 to the test head 5, and the unsoak chamber which removes the heat stress from the IC device tested in the test chamber 120. It consists of 130.

소크 챔버(110)에서 IC디바이스에 고온을 인가한 경우에는 언소크 챔버(130)에서 IC디바이스를 송풍에 의해 냉각하여 실온까지 되돌린다. 한편, 소크 챔버(110)에서 IC디바이스에 저온을 인가한 경우에는 언소크 챔버(130)에서 IC디바이스를 온풍 또는 히터 등으로 가열하여 결로가 발생되지 않을 정도의 온도까지 되돌린다. When high temperature is applied to the IC device in the soak chamber 110, the IC device is cooled by blowing in the unsoak chamber 130 and returned to room temperature. On the other hand, when the low temperature is applied to the IC device in the soak chamber 110, the IC device is heated in the unsoak chamber 130 with warm air or a heater to return to a temperature such that condensation does not occur.

도 2에 도시한 바와 같이, 테스트부(100)의 소크 챔버(110) 및 언소크 챔버(130)는 테스트 챔버(120)보다도 위쪽으로 돌출되어 있다. 또한, 소크 챔버(110)에는 도 3에 개념적으로 도시한 바와 같이, 수직반송장치가 설치되어 있고, 테스트 챔버(120)가 빌때까지 사이, 복수장의 테스트 트레이(TST)가 상기 수직반송장치에 지지되면서 대기한다. 주로, 그 대기중에 IC디바이스에 고온 또는 저온의 열스트레스가 인가된다. As shown in FIG. 2, the soak chamber 110 and the unsoak chamber 130 of the test unit 100 protrude upward from the test chamber 120. In addition, as shown conceptually in FIG. 3, the soak chamber 110 is provided with a vertical conveying apparatus, and a plurality of test trays TST are supported by the vertical conveying apparatus until the test chamber 120 is empty. Wait. Mainly, high or low temperature heat stress is applied to the IC device in the atmosphere.

테스트 챔버(120)에는 그 중앙에 테스트 헤드(5)가 배치되어, 테스트 헤드(5)상에 테스트 트레이(TST)가 운반되어, IC디바이스의 땜납볼(단자)(HB)(도 14A 참조)을 테스트 헤드(5)의 소켓(50)의 콘택트핀(52)(도 14A 참조)에 전기적으로 접촉시킴으로써 테스트가 수행된다. 한편, 시험이 종료된 테스트 트레이(TST)는 언소크 챔버(130)에서 제열되어, IC디바이스의 온도를 실온으로 되돌린 후, 언로더부(400)로 반출된다. In the test chamber 120, a test head 5 is disposed at the center thereof, a test tray TST is transported on the test head 5, and a solder ball (terminal) HB of an IC device (see FIG. 14A). Test is performed by electrically contacting the contact pin 52 (see FIG. 14A) of the socket 50 of the test head 5. On the other hand, the test tray TST in which the test is completed is de-heated in the unsoaking chamber 130, and is returned to the unloader unit 400 after the temperature of the IC device is returned to room temperature.

소크 챔버(110)의 상부에는 장치기대(101)로부터 테스트 트레이(TST)를 반입하기 위한 입구가 형성되어 있다. 마찬가지로, 언소크 챔버(130)의 상부에도 장치기대(101)에 테스트 트레이(TST)를 반출하기 위한 출구가 형성되어 있다. 그리고, 도 2에 도시한 바와 같이, 장치기대(101)에는 이들 입구나 출구를 통하여 테스트부(100)로부터 테스트 트레이(TST)를 출입하기 위한 트레이 반송장치(102)가 설치되어 있다. 상기 트레이 반송장치(102)는 예컨대 회전 롤러 등으로 구성되어 있다. The inlet for carrying in the test tray TST from the apparatus base 101 is formed in the upper part of the soak chamber 110. FIG. Similarly, an outlet for carrying out the test tray TST is formed in the apparatus base 101 at the upper portion of the unsoak chamber 130. As shown in FIG. 2, the apparatus base 101 is provided with a tray conveying apparatus 102 for entering and exiting the test tray TST from the test section 100 through these inlets and outlets. The tray conveying apparatus 102 is comprised, for example with a rotating roller.

상기 트레이 반송장치(102)에 의해, 언소크 챔버(130)로부터 반출된 테스트 트레이(TST)는 탑재되어 있는 모든 IC디바이스가 디바이스 반송장치(410)(후술)에 의해 옮겨 적재된 후에, 언로더부(400) 및 로더부(300)를 통하여 소크 챔버(110)로 반송되도록 되어 있다. The test tray TST taken out from the unsoak chamber 130 by the tray conveying apparatus 102 is unloaded after all the IC devices mounted thereon are transferred by the device conveying apparatus 410 (described later). It is conveyed to the soak chamber 110 through the part 400 and the loader part 300. As shown in FIG.

도 6은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치에 사용되는 테스트 트레이를 도시한 분해 사사도이다. FIG. 6 is an exploded perspective view showing a test tray used in the electronic component testing apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG.

테스트 트레이(TST)는 도 6에 도시한 바와 같이, 사각형의 프레임 부재(701)와, 프레임 부재(701)에 평행 또한 등간격으로 설치된 선반(702)과, 선반(702) 혹은 프레임 부재(701)의 변(701a)으로부터 등간격으로 돌출되어 있는 복수의 설치편(703)을 갖고 있다. 그리고, 선반(702)이나 변(701a)과 설치편(703)에 의해 인서트 수용부(704)가 구성되어 있다. As illustrated in FIG. 6, the test tray TST includes a rectangular frame member 701, a shelf 702 provided parallel to the frame member 701 and at equal intervals, and a shelf 702 or a frame member 701. It has a some installation piece 703 which protrudes at equal intervals from the side 701a of (). And the insert accommodation part 704 is comprised by the shelf 702, the side 701a, and the installation piece 703. As shown in FIG.

각 인서트 수용부(704)에는 각각 1개의 인서트(710)가 수용되도록 되어 있다. 인서트(710)의 양단에는 상기 인서트(710)를 설치편(703)에 설치하기 위한 설치공(706)이 각각 형성되어 있고, 인서트(710)는 파스너(705)를 사용하여 2개의 설치편(703)에 플로팅 상태(3차원적으로 미동 가능한 상태)로 설치되어 있다. 이러한 인서트(710)는 도 6에 도시한 바와 같이, 1장의 테스트 트레이(TST)에 4행 16열의 배열로 64개 설치되어 있고, 인서트(710)에 IC디바이스가 수용됨으로써, 테스트 트레이(TST)에 IC디바이스가 적재되어 들어오게 된다.One insert 710 is accommodated in each insert container 704, respectively. Both ends of the insert 710 are provided with mounting holes 706 for installing the insert 710 to the mounting piece 703, and the insert 710 is provided with two mounting pieces using a fastener 705 ( 703 is provided in a floating state (a three-dimensional fine moving state). As shown in FIG. 6, 64 such inserts 710 are provided in an array of 4 rows and 16 columns in one test tray TST, and an IC device is accommodated in the insert 710, thereby providing a test tray TST. The IC device is loaded in.

도 7은 도 6에 도시한 테스트 트레이에 사용되는 인서트를 도시한 분해 사시도, 도 8A 및 도 8B는 본 발명의 실시형태에서의 인서트의 평면도, 도 9A ~ 도 10B는 도 8A 및 도 8B의 단면도, 도 11은 본 발명의 실시형태에서 인서트에 사용되는 후크부재의 사시도, 도 12는 본 발명의 실시형태에서 디바이스 캐리어가 인서트 본체에 장착되어 있는 상태를 도시한 단면도, 도 13은 본 발명의 실시형태에서 압압시에 IC디바이스와 함께 디바이스 캐리어가 미동하고 있는 상태를 도시한 단면도, 도 14A 및 14B는 본 발명의 실시형태에서의 디바이스 캐리어의 바닥판을 도시한 단면도, 도 15는 본 발명의 실시형태에서 디바이스 캐리어를 인서트 본체에 착탈하기 위한 지그의 측면도, 도 16은 본 발명의 실시형태에서 지그를 사용하여 디바이스 캐리어를 인서트 본체로부터 분리하고 있는 상태를 도시한 단면도이다.7 is an exploded perspective view showing the insert used in the test tray shown in FIG. 6, FIGS. 8A and 8B are plan views of the insert in the embodiment of the present invention, and FIGS. 9A-10B are cross-sectional views of FIGS. 8A and 8B. 11 is a perspective view of a hook member used for an insert in an embodiment of the present invention, FIG. 12 is a sectional view showing a state in which a device carrier is mounted to an insert body in an embodiment of the present invention, and FIG. 13 is an embodiment of the present invention. Fig. 14A and Fig. 14B are cross-sectional views showing the bottom plate of the device carrier in the embodiment of the present invention, and Fig. 15 shows the embodiment of the present invention. Side view of a jig for attaching and detaching the device carrier to the insert body in a configuration, FIG. 16 shows a device carrier being removed from the insert body using a jig in an embodiment of the present invention. And a cross-sectional view showing a state in which.

본 실시형태에서의 인서트(710)는 도 7에 도시한 바와 같이, 인서트 본체(720), 레버 플레이트(750) 및 디바이스 캐리어(홀드부)(760)를 구비하고 있다. The insert 710 in this embodiment is equipped with the insert main body 720, the lever plate 750, and the device carrier (hold part) 760, as shown in FIG.

인서트 본체(720)의 대략 중앙에는 도 7에 도시한 바와 같이, IC디바이스를 수용하기 위한 디바이스 수용공(721)이 설치되어 있다. 디바이스 수용공(721)은 도 9A~도 10B에 도시한 바와 같이, IC디바이스가 진입하는 진입구(721a)를 상부에 갖는 동시에, 디바이스 캐리어(740)가 장착되는 장착구(721b)를 하부에 갖고 있다. 진입구(721a)와 장착구(721b)는 연통되어 있고, 진입구(721a)로부터 디바이스 수용공(721)내에 진입한 IC디바이스는 장착구(721b)에 장착된 디바이스 캐리어(760)로 안내되도록 되어 있다. In the center of the insert main body 720, as shown in Fig. 7, a device accommodating hole 721 for accommodating the IC device is provided. As shown in Figs. 9A to 10B, the device accommodating hole 721 has an entrance port 721a through which the IC device enters, and a mounting hole 721b on which the device carrier 740 is mounted. have. The entrance port 721a and the mounting port 721b communicate with each other, and the IC device entering the device accommodation hole 721 from the entrance port 721a is guided to the device carrier 760 mounted to the mounting port 721b. .

또한, 인서트 본체(720)의 양단에는 후술하는 푸셔(121)의 가이드핀(122b) 및 소켓 가이드(55)의 가이드 부쉬(56)가 상하로부터 각각 삽입되는 가이드공(726)이 형성되어 있다. Further, guide holes 726 are formed at both ends of the insert main body 720 so that the guide pins 122b of the pusher 121 and the guide bushes 56 of the socket guide 55 are inserted from the top and bottom, respectively.

한편, 본 실시형태에서는 하나의 인서트(710)에 하나의 IC디바이스를 수용하도록 설명하였지만, 본 발명에서는 특별히 이에 한정되지 않는다. 하나의 인서트 본체(720)에 복수의 디바이스 수용공(721)을 형성하여, 동일한 인서트(710)에 복수의 IC디바이스를 수용하도록 하여도 좋다. In the present embodiment, one IC device is accommodated in one insert 710, but the present invention is not particularly limited thereto. A plurality of device accommodation holes 721 may be formed in one insert body 720 to accommodate a plurality of IC devices in the same insert 710.

인서트 본체(720)는 도 7에 도시한 바와 같이, 래치부재(731), 토션 스프링(732), 샤프트(733), 레버(734) 및 코일 스프링(735)으로 구성되는 래치기구를 갖고 있다. The insert body 720 has a latch mechanism composed of a latch member 731, a torsion spring 732, a shaft 733, a lever 734, and a coil spring 735, as shown in FIG. 7.

래치부재(731)는 도 9A 및 도 9B에 도시한 바와 같이, 디바이스 수용공(721)에 수용된 IC디바이스의 상면에 대하여 접근 또는 이반하는 선단(731a)과, 레버(734)에 의해 압압되는 후단(731c)을 갖고 있다. 또한, 상기 래치부재(731)에서 선단(731a)과 후단(731c)의 사이에는 회전중심(731b)이 되는 통공이 형성되어 있고, 상기 통공에 샤프트(733)가 삽입됨으로써, 래치부재(731)가 인서트 본체(720)에 회전 가능하게 지지된다. As shown in FIGS. 9A and 9B, the latch member 731 has a front end 731a approaching or separating from the upper surface of the IC device accommodated in the device accommodation hole 721 and a rear end pressed by the lever 734. Has 731c. In the latch member 731, a through hole is formed between the front end 731a and the rear end 731c, and serves as a rotation center 731b. The shaft 733 is inserted into the through hole, thereby latching the latch member 731. Is rotatably supported by the insert body 720.

래치부재(731)는 샤프트(733)를 중심으로 하여 회전함으로써, 디바이스 수용부(721)에 수용된 IC디바이스의 상면에 접근하여, IC디바이스가 튀어나오는 것을 방지하는 위치(도 8A, 도 9A 및 도 10A에 도시한 상태이고, 이하, 간단히 폐쇄위치라 칭한다.)와, 디바이스 수용공(721)에 수용된 IC디바이스의 상면으로부터 진퇴하여, IC디바이스의 출입을 가능하게 하는 위치(도 8B, 도 9B 및 도 10B에 도시한 상태이고, 이하 간단히 개방위치라 칭한다,)의 사이를 래치부재(731)의 선단(731a)이 이동할 수 있도록 되어 있다. The latch member 731 rotates about the shaft 733 to approach the upper surface of the IC device accommodated in the device accommodating portion 721 to prevent the IC device from popping out (FIGS. 8A, 9A and FIG. In the state shown in 10A, hereinafter referred to simply as the closed position), and a position where the IC device can enter and exit from the upper surface of the IC device accommodated in the device accommodation hole 721 (Figs. 8B, 9B and In the state shown in FIG. 10B, the front end 731a of the latch member 731 can be moved between hereinafter.

본 실시형태에서는 도 8A 및 도 8B에 도시한 인서트(710)의 평면에서 바라볼때, 래치부재(731)의 선단(731a)을 회전 동작시킴으로써, 선단(731a)의 큰 이동량을 확보할 수가 있다. 특히, 본 실시형태의 인서트(710)에서는 래치부재(731)의 선단(731a)이 디바이스 수용공(721)의 중앙 근방까지 이동할 수가 있음으로써, 도 8A, 도 9A 및 도 10A에서 부호 IC로 표시한 비교적 작은 IC디바이스를 수용할 수도 있고, 동 도면에서 부호 IC_B로 표시한 비교적 사이즈가 큰 IC디바이스를 수용할 수도 있고, IC디바이스의 사이즈에 대한 범용성이 높게 되어 있다. In the present embodiment, when viewed from the plane of the insert 710 shown in Figs. 8A and 8B, a large amount of movement of the tip 731a can be secured by rotating the tip 731a of the latch member 731. In particular, in the insert 710 of the present embodiment, the front end 731a of the latch member 731 can move to the vicinity of the center of the device receiving hole 721, which is indicated by the symbol IC in FIGS. 8A, 9A and 10A. A relatively small IC device can be accommodated, a relatively large IC device indicated by code IC _B in the figure can be accommodated, and the versatility to the size of the IC device is high.

토션 스프링(732)은 도 7, 도 10A 및 도 10B에 도시한 바와 같이, 샤프트(733)를 회전 중심으로 하여, 래치부재(731)와 인서트 본체(720)의 사이에 개재되어 있고, 그 탄성력에 의해 래치부재(731)를 폐쇄위치로 가압하고 있다. 따라서, 토션 스프링(732)의 탄성력에 대항하여 래치부재(731)의 후단(731c)이 압압되어 있는 경우에는, 래치부재(731)의 선단(731a)은 개방위치로 이동한다. 이에 대해, 래치부재(731)의 후단(731c)으로의 압압이 해제되면, 토션 스프링(732)의 탄성력에 의해, 래치부재(731)의 선단(731a)이 폐쇄위치로 돌아가도록 되어 있다. As shown in Figs. 7, 10A and 10B, the torsion spring 732 is interposed between the latch member 731 and the insert body 720 with the shaft 733 as the rotation center, and the elastic force thereof. The latch member 731 is urged to the closed position by this. Therefore, when the rear end 731c of the latch member 731 is pressed against the elastic force of the torsion spring 732, the front end 731a of the latch member 731 moves to an open position. On the contrary, when the pressing force to the rear end 731c of the latch member 731 is released, the front end 731a of the latch member 731 is returned to the closed position by the elastic force of the torsion spring 732.

또한, 본 실시형태에서는 도 10A 및 도 10B에 도시한 바와 같이, 인서트(710)로의 IC디바이스의 수용방향(통상은 연직방향)에 대하여 샤프트(733)가 IC디바이스측에 α도(예컨대 45°정도) 경사진 상태로, 샤프트(733)가 인서트 본체(720)에 삽입되어 있다. 그러므로, 샤프트 부재(733)의 선단(731a)이 인서트 본체(720)의 주면에 대하여 경사진 가상 평면(PL)상에서, 샤프트(733)를 중심으로 하여 회전 동작하도록 되어 있다. 그러므로, 래치부재(731)의 회전 동작에 따라 래치부재(731)의 선단(731a)의 높이가 가변됨으로써, 품종교환에 따른 IC디바이스의 두께의 변경에도 대응하는 것이 가능하게 되어 있다. In addition, in this embodiment, as shown in FIGS. 10A and 10B, the shaft 733 is α degrees (for example, 45 °) to the IC device side with respect to the receiving direction (usually vertical direction) of the IC device to the insert 710. In a tilted state, the shaft 733 is inserted into the insert main body 720. Therefore, the tip 731a of the shaft member 733 rotates about the shaft 733 on the virtual plane PL inclined with respect to the main surface of the insert main body 720. Therefore, by changing the height of the tip 731a of the latch member 731 in accordance with the rotational operation of the latch member 731, it is possible to cope with a change in the thickness of the IC device due to the varieties exchange.

도 9A~도 10B에 도시한 바와 같이, 인서트 본체(720)의 디바이스 수용공(721)의 내벽면에서, 상기 인서트 본체(720)의 길이방향에 따른 면에, 래치부재(731)를 수용하기 위한 수용 오목부(722)가 형성되어 있다. 본 실시형태에서는 도 8B, 도 9B 및 도 10B에 도시한 바와 같이, 개방위치에서, 래치부재(731)가 수용 오목부(722)내에 완전하게 수용되도록 되어 있고, 디바이스 수용공(721)의 개구치수를 IC디바이스의 사이즈를 위하여 최대한 활용할 수 있도록 되어 있다. 또한, 본 실시형태에서는 래치부재(731)가 개방위치에서 인서트 본체(720)의 길이방향에 따라 수용됨으로써, 래치부재(731)에서 회전 중심(731b)으로부터 선단(731a)까지의 거리를 길게 할 수가 있어, 선단(731a)의 회전 이동량을 많게 할 수가 있다. As shown in FIGS. 9A to 10B, the latch member 731 is accommodated on an inner wall surface of the device receiving hole 721 of the insert main body 720 along the longitudinal direction of the insert main body 720. Receiving recesses 722 are formed. In the present embodiment, as shown in Figs. 8B, 9B, and 10B, in the open position, the latch member 731 is completely accommodated in the accommodation recess 722, and the opening of the device accommodation hole 721 is opened. The dimension can be utilized to the maximum size for the size of the IC device. In the present embodiment, the latch member 731 is accommodated along the longitudinal direction of the insert main body 720 in the open position, so that the distance from the rotation center 731b to the tip 731a in the latch member 731 can be increased. The number of rotational movements of the tip 731a can be increased.

레버(734)는 도 7에 도시한 바와 같이, 인서트 본체(720)에 형성된 레버 삽입공(723)에, 코일 스프링(735)을 통하여 삽입되어 있다. 도 7, 도 9A 및 도 9B에 도시한 바와 같이, 레버(734)의 하부에는 단차부(734a)가 형성되어 있는 동시에, 레버 삽입공(723)이 수용 오목부(722)에 연통되어 있고, 단차부(734a)가 래치부재(731)의 후단(731c)과 밀착 가능하게 되어 있다. As shown in FIG. 7, the lever 734 is inserted into the lever insertion hole 723 formed in the insert body 720 through the coil spring 735. 7, 9A, and 9B, a stepped portion 734a is formed in the lower portion of the lever 734, and the lever insertion hole 723 communicates with the accommodation recess 722. The stepped portion 734a is in close contact with the rear end 731c of the latch member 731.

레버(734)를 누르지 않은 상태에서는 래치부재(731)의 선단(731a)은 폐쇄위치에 위치하고 있지만, 레버(734)가 눌러지면 레버(734)를 통하여 래치부재(731)의 후단(731c)이 압압되고, 래치부재(731)의 선단(731a)이 개방위치로 회전 이동하도록 되어 있다. 한편, 레버(734)는 래치부재(731)의 후단(731c)을 밀어 내리는 동시에 인서트 본체(720)의 내측을 향하여 밀어 내기 때문에, 도 7에 도시한 바와 같이, 단차부(734a)의 접촉면은 평탄하지 않게 경사져 있다. In the state that the lever 734 is not pressed, the front end 731a of the latch member 731 is located in the closed position. However, when the lever 734 is pressed, the rear end 731c of the latch member 731 is pushed through the lever 734. It is pressed, and the front-end | tip 731a of the latch member 731 is made to rotate to open position. On the other hand, since the lever 734 pushes down the rear end 731c of the latch member 731 and pushes it toward the inside of the insert body 720, the contact surface of the stepped portion 734a is shown in FIG. It is inclined unevenly.

코일 스프링(735)은 레버(734)를 위쪽(인서트 본체(720)로부터 이반하는 방향)으로 가압하고 있다. 그러므로, 아래쪽(인서트 본체(720)에 접근하는 방향)으로의 압압력을 받으면, 코일 스프링(735)의 탄성력에 대항하여 레버(734)가 아래쪽 으로 이동한다. 한편, 레버(734)에 대한 압압이 해제되면, 코일 스프링(735)의 탄성력에 의해 레버(734)가 위쪽으로 돌아가도록 되어 있다.The coil spring 735 pushes the lever 734 upward (direction away from the insert main body 720). Therefore, upon receiving a pressing force downward (in the direction approaching the insert body 720), the lever 734 moves downward against the elastic force of the coil spring 735. On the other hand, when the pressing force against the lever 734 is released, the lever 734 is turned upward by the elastic force of the coil spring 735.

도 7, 도 9A 및 도 9B에 도시한 바와 같이, 레버(734)의 하부에 장공(734b)이 형성되어 있고, 핀(736)이 인서트 본체(720)의 외측으로부터 그 장공(734b)에 삽입되어 있다. 이에 따라, 레버(734)가 위쪽으로 이동하는 것이 제한되어 있다. 7, 9A and 9B, a long hole 734b is formed in the lower part of the lever 734, and the pin 736 is inserted into the long hole 734b from the outside of the insert body 720. It is. As a result, the lever 734 is limited to move upward.

나아가서, 인서트 본체(720)는 도 7에 도시한 바와 같이, 후크부재(741), 코일 스프링(742) 및 샤프트(743)로 구성되는 클램프 기구(장착기구)를 갖고 있다. Furthermore, as shown in FIG. 7, the insert main body 720 has a clamp mechanism (mounting mechanism) composed of a hook member 741, a coil spring 742, and a shaft 743.

후크부재(741)는 도 11에 도시한 바와 같이, 디바이스 캐리어(760)의 결합공(761)에 결합하는 후크(741a)를 선단에 갖고 있다. 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 후크부재(741)는 인서트 본체(720)의 클램프 수용부(724)에 수용되어 있고, 인서트 본체(720)의 외측으로부터 삽입되어 있는 샤프트(743)에 의해 회전 가능하게 지지되어 있다. 본 실시형태에서는 도 11에 도시한 바와 같이, 후크부재(741)에는 샤프트(743)가 삽입되는 장공(741b)이 형성되어 있다. 상기 장공(741b)은 코일 스프링(742)이 후크부재(741)를 가압하고 있는 상태(도 12의 상태)에서, 테스트시에 IC디바이스가 압압되는 압압방향을 따른 장축을 지지한 단면 형상을 갖고 있다. 상기 장공(741b)에 의해, 샤프트(743)에 지지되어 있는 후크부재(741)는 상하방향으로의 미소한 이동이 허용되어 있다. 한편, 본 실시형태에서는 압압방향은 연직방향과 실질적으로 일치하고 있다. As shown in FIG. 11, the hook member 741 has the hook 741a which engages with the engagement hole 761 of the device carrier 760 at the front-end | tip. As shown in FIG. 7, the hook member 741 is accommodated in the clamp receiving portion 724 of the insert body 720 and rotated by a shaft 743 inserted from the outside of the insert body 720. Possibly supported. In this embodiment, as shown in FIG. 11, the long hole 741b into which the shaft 743 is inserted is formed in the hook member 741. The long hole 741b has a cross-sectional shape that supports the long axis along the pressing direction in which the IC device is pressed during the test in the state where the coil spring 742 presses the hook member 741 (state of FIG. 12). have. The long hole 741b allows the microscopic movement in the vertical direction of the hook member 741 supported by the shaft 743. In the present embodiment, the pressing direction substantially coincides with the vertical direction.

코일 스프링(742)은 도 7 및 도 12에 도시한 바와 같이, 후크부재(741)와 함께 클램프 수용부(724)에 수용되어 있고, 후크부재(741)의 돌기부(741c)는 코일 스프링(742)의 내공에 삽입되어 있다. 상기 코일 스프링(742)은 후크부재(741)를 샤프트(743)를 중심으로 하여 한쪽의 회전방향(도 12에서 시계 반대 방향)으로 가압하고 있다. 또한, 상기 코일 스프링(742)은 도 12에 도시한 바와 같이, 무부하(비압압)시에 후크부재(741)를 항상 위쪽으로 밀어 올리고 있고, 후크부재(741)의 장공(741b)에서 샤프트(743)가 상대적으로 아래쪽으로 이동하고 있다. As shown in FIGS. 7 and 12, the coil spring 742 is accommodated in the clamp accommodating portion 724 together with the hook member 741, and the protrusion 741c of the hook member 741 is the coil spring 742. It is inserted in the hole of the inside. The coil spring 742 presses the hook member 741 in one rotational direction (counterclockwise in FIG. 12) around the shaft 743. In addition, as shown in FIG. 12, the coil spring 742 always pushes the hook member 741 upward at no load (non-pressurization), and the shaft () is formed at the long hole 741b of the hook member 741. 743 is moving relatively downwards.

한편, 도 13에 도시한 바와 같이, 테스트시에 IC디바이스가 테스트 헤드(5)를 향하여 압압되면, 그 압압력이 코일 스프링(742)의 탄성력에 대항하여 후크부재(741)의 장공(741b)에서 샤프트(743)가 상대적으로 위쪽으로 이동하고, 후크부재(741)가 IC디바이스와 함께 인서트 본체(720)에 대하여 상대적으로 하강하는 것이 가능하게 되어 있다. On the other hand, as shown in FIG. 13, when the IC device is pressed toward the test head 5 during the test, the pressing force is the long hole 741b of the hook member 741 against the elastic force of the coil spring 742. The shaft 743 moves relatively upward, and the hook member 741 can be lowered relative to the insert body 720 together with the IC device.

본 실시형태에서는 후크부재(741)를 한쪽의 회전방향으로 가압하는 수단과, 후크부재(741)를 위쪽으로 가압하는 수단을, 동일한 코일 스프링(742)으로 겸용하고 있으므로, 인서트(710)를 구성하는 부품 점수의 저감이 도모되어 있다. 한편, 본 발명에서는 상기의 2개의 수단을 별도의 스프링 등으로 구성하여도 좋다. 또한, 코일 스프링(742)의 대신에, 고무나 스폰지 등의 다른 탄성체를 사용하여도 좋다. In the present embodiment, since the means for pressing the hook member 741 in one rotational direction and the means for pressing the hook member 741 upwards are used as the same coil spring 742, the insert 710 is constituted. It is possible to reduce the number of parts. In the present invention, the above two means may be constituted by separate springs or the like. In place of the coil spring 742, another elastic body such as rubber or sponge may be used.

인서트 본체(720)에는 이러한 클램프 기구가 2개 설치되어 있고, 디바이스 캐리어(760)를 착탈 가능하게 홀드하는 것이 가능하게 되어 있다. 한편, 본 발명에서는 클램프 기구의 수는 복수라면 특별히 한정되지 않고, 예컨대 하나의 인서트 본체(720)에 4개의 클램프 기구를 설치하여도 좋다. The insert body 720 is provided with two such clamp mechanisms, and the device carrier 760 can be detachably held. In the present invention, the number of clamp mechanisms is not particularly limited as long as the number thereof is plural. For example, four clamp mechanisms may be provided in one insert body 720.

인서트 본체(720)의 상측에는 도 7에 도시한 바와 같이, 코일 스프링(754)을 통하여 레버 플레이트(750)가 설치되어 있다. 상기 코일 스프링(754)은 레버 플레이트(750)를 위쪽(인서트 본체(720)로부터 이반하는 방향)으로 가압하고 있다. 그러므로, 아래쪽(인서트 본체(720)에 접근하는 방향)으로의 압압력을 받으면, 코일 스프링(754)의 탄성력에 대항하여 레버 플레이트(750)가 아래쪽으로 이동하고, 그 압압이 해제되면 코일 스프링(754)의 탄성력에 의해 레버 플레이트(750)가 위쪽으로 되돌아오도록 되어 있다. 한편, 도 7, 도 10A 및 도 10B에 도시한 바와 같이, 레버 플레이트(750)의 장변(751)이 인서트 본체(720)의 측면에 형성된 홈(725)에 결합함으로써 레버 플레이트(750)의 위쪽으로의 이동이 제한되어 있다. On the upper side of the insert main body 720, a lever plate 750 is provided through a coil spring 754, as shown in FIG. The coil spring 754 presses the lever plate 750 upward (direction away from the insert main body 720). Therefore, upon receiving the pressing force downward (the direction approaching the insert body 720), the lever plate 750 moves downward against the elastic force of the coil spring 754, and when the pressing force is released, the coil spring ( The lever plate 750 is returned upward by the elastic force of 754. On the other hand, as shown in Figs. 7, 10A and 10B, the long side 751 of the lever plate 750 is coupled to the groove 725 formed on the side of the insert body 720, the upper side of the lever plate 750 Movement to is limited.

레버 플레이트(750)의 대략 중앙에는 도 7에 도시한 바와 같이, 인서트 본체(720)의 디바이스 수용공(721)이 노출하도록 개구(752)가 설치되어 있다. 상기 개구(752)는 진입구(721a)를 통한 디바이스 수용공(721)으로의 IC디바이스의 출입을 방해하지 않도록 진입구(721a)보다도 약간 크게 형성되어 있다. As shown in FIG. 7, the opening 752 is provided in the substantially center of the lever plate 750 so that the device accommodation hole 721 of the insert main body 720 may be exposed. The opening 752 is formed slightly larger than the entry port 721a so as not to prevent entry of the IC device into the device accommodation hole 721 through the entrance port 721a.

또한, 레버 플레이트(750)에는 도 7에 도시한 바와 같이, 인서트 본체(720)의 클램프 수용부(724)에 대응하는 위치에, 관통공(753)이 설치되어 있다. 상기 관통공(753)은 디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)로부터 착탈할 때에 사용된다. In addition, as shown in FIG. 7, a through hole 753 is provided in the lever plate 750 at a position corresponding to the clamp accommodating portion 724 of the insert body 720. The through hole 753 is used to attach and detach the device carrier 760 from the insert body 720.

인서트 본체(720)의 하측에는 도 7에 도시한 바와 같이, 디바이스 캐리어(760)가 장착되어 있다. 디바이스 캐리어(760)의 바닥판(760a)을 관통하고 있는 다수의 가이드공(762)이 설치되어 있다. 본 실시형태에서는 IC디바이스의 땜납볼(HB)(도 9A~도 10B 및 도 14A 참조)을 이들 가이드공(762)에 결합함으로써, IC디바이스를 디바이스 캐리어(760)에 대하여 위치 결정한다. 그러므로, IC디바이스의 품종교환에 의해 IC디바이스의 외형이 변한 경우에도 단자(HB)의 크기나 피치가 동일하면, 디바이스 캐리어(760)의 교환이 불필요하게 되는 경우가 있어, 디바이스 캐리어(760)의 범용성이 높아지게 된다. 한편, 본 실시형태에서는 하나의 땜납볼(HB)에 대하여 하나의 가이드공(762)을 대응시켰지만, 본 발명에서는 특별히 이에 한정하지 않고, 하나의 가이드공(762)을 복수의 땜납볼(HB)에 대응시켜도 좋다. The device carrier 760 is attached to the lower side of the insert main body 720 as shown in FIG. A plurality of guide holes 762 penetrating the bottom plate 760a of the device carrier 760 are provided. In this embodiment, the IC device is positioned with respect to the device carrier 760 by coupling the solder balls HB (see FIGS. 9A to 10B and 14A) of the IC device to these guide holes 762. Therefore, even when the appearance of the IC device is changed due to the varieties of IC devices, if the size and pitch of the terminal HB are the same, the replacement of the device carrier 760 may be unnecessary. Versatility becomes high. On the other hand, in the present embodiment, one guide ball 762 is made to correspond to one solder ball HB. However, the present invention is not particularly limited thereto, and one guide ball 762 is formed of a plurality of solder balls HB. It may correspond to.

상기 디바이스 캐리어(760)의 바닥판(760a)은 도 14A에 도시한 바와 같이, IC디바이스의 본체(90)로부터 아래쪽으로 도출하는 땜납볼(HB)의 높이(A)와, 테스트시의 소켓(50) 하우징(52)으로부터의 콘택트핀(51)의 최적의 제1 돌출량(C_OP)의 합계와 실질적으로 동일한 두께(B)(=A+C_OP)를 갖고 있다. 그러므로, IC디바이스를 소켓(50)에 밀착시키는 것만으로 콘택트핀(51)의 최적의 스로크량을 자동적으로 확보할 수가 있다. As shown in FIG. 14A, the bottom plate 760a of the device carrier 760 has a height A of the solder ball HB drawn downward from the main body 90 of the IC device, and a socket at the test ( 50) It has a thickness B (= A + C _OP ) that is substantially equal to the sum of the optimal first protrusion amount C _OP of the contact pins 51 from the housing 52. Therefore, the optimum lock amount of the contact pin 51 can be secured automatically only by bringing the IC device into close contact with the socket 50.

일반적으로, IC디바이스의 용량을 증가시키는 경우, 내부의 적층수를 증가할 필요가 있으므로, 도 14A 및 도 14B에 도시한 바와 같이, IC디바이스의 본체(901)가 두께 T₁로부터 T₂로 두꺼워진다. 이에 대하여, IC디바이스의 용량을 증가시킨 경우더라도 땜납볼(HB)의 높이(A)는 변경할 필요가 없는 경우가 많다. 그러므로, 본 실시형태에서는 동일한 디바이스 캐리어(760)에 의해, 도 14A 및 도 14B에 도시한 양쪽의 IC디바이스에 대응하는 것이 가능하게 되어 있다. In general, when the capacity of the IC device is increased, the number of internal stacks needs to be increased, and as shown in FIGS. 14A and 14B, the main body 901 of the IC device is thickened from the thickness T ₁ to T ₂ . Lose. In contrast, even when the capacity of the IC device is increased, the height A of the solder ball HB does not need to be changed in many cases. Therefore, in this embodiment, it is possible to correspond to both IC devices shown in FIGS. 14A and 14B by the same device carrier 760.

도 7에 도시한 바와 같이, 디바이스 캐리어(760)에서 바닥면(760a)을 둘러싸는 플랜지(760b)에는 동일 대각선상의 2개소에 결합공(761)이 설치되어 있다. 각각의 결합공(761)은 클램프 기구의 후크부재(741)의 후크(741a)가 결합하도록 직선 모양으로 형성되어 있다. 예컨대, IC디바이스의 품종교환에 의해 땜납볼(HB)의 크기나 피치가 변경된 경우에, 디바이스 캐리어(760)를 교환한다.As shown in FIG. 7, the coupling hole 761 is provided in the flange 760b which surrounds the bottom surface 760a in the device carrier 760 in two places on the same diagonal. Each coupling hole 761 is formed in a straight line shape so that the hook 741a of the hook member 741 of the clamp mechanism engages. For example, when the size or pitch of the solder ball HB is changed by the type change of the IC device, the device carrier 760 is replaced.

디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)로부터 착탈하는 경우에는 도 15에 도시한 바와 같은 전용 지그(800)를 사용한다. When detaching the device carrier 760 from the insert main body 720, a dedicated jig 800 as shown in FIG. 15 is used.

예컨대, 디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)로부터 분리하는 경우에는 우선 지그(800)의 핀(801)을, 레버 플레이트(750)의 관통공(753)을 통하여, 클램프 수용부(724)에 위쪽으로부터 삽입한다. 상기 핀(801)의 삽입에 의해, 도 16에 도시한 바와 같이, 코일 스프링(742)의 탄성력에 대항하여 후크부재(741)가 직립하여, 후크(741a)가 내측을 향하여(도 16에서 시계 방향으로) 회전한다. 이에 따라, 후크(741a)와 결합공(761)의 결합이 해제되므로, 디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)로부터 분리할 수가 있다. For example, when the device carrier 760 is separated from the insert body 720, first, the pin 801 of the jig 800 is clamped through the through hole 753 of the lever plate 750. Insert from above. By inserting the pin 801, as shown in Fig. 16, the hook member 741 stands up against the elastic force of the coil spring 742, so that the hook 741a faces inward (the clock in Fig. 16). Direction). As a result, the coupling between the hook 741a and the coupling hole 761 is released, so that the device carrier 760 can be separated from the insert body 720.

한편, 디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)에 장착하는 경우에는 지그(800)의 핀(801)을, 클램프 수용부(724)에 삽입하여, 후크부재(731)를 직립시킨다. 이 상태에서, 디바이스 캐리어(760)를 인서트 본체(720)의 아래쪽으로 세팅하고, 지그(800)의 핀(801)을 클램프 수용부(724)로부터 빼냄으로써 디바이스 캐리어(760)가 인서트 본체(720)에 홀드된다. On the other hand, when attaching the device carrier 760 to the insert main body 720, the pin 801 of the jig 800 is inserted in the clamp accommodating part 724, and the hook member 731 is made upright. In this state, the device carrier 760 is set below the insert body 720 and the pin 801 of the jig 800 is pulled out of the clamp receiving portion 724 so that the device carrier 760 is inserted into the insert body 720. Hold).

도 17은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치의 푸셔, 인서트, 소켓 가이드 및 소켓을 도시한 단면도, 도 18은 본 발명의 실시형태에서의 전자부품 시험장치의 소켓을 도시한 단면도이다. 17 is a sectional view showing a pusher, an insert, a socket guide, and a socket of the electronic component test apparatus in the embodiment of the present invention, and FIG. 18 is a sectional view showing a socket of the electronic component test apparatus in the embodiment of the present invention.

도 17에 도시한 바와 같이, 푸셔(121)는 테스트 챔버(120)에서 테스트 헤드(5)의 위쪽에 설치되어 있다. 상기 푸셔(121)는 베이스(122), 푸셔블록(123), 헤드(124) 및 코일 스프링(125)으로 구성되어 있다. As shown in FIG. 17, the pusher 121 is installed above the test head 5 in the test chamber 120. The pusher 121 includes a base 122, a pusher block 123, a head 124, and a coil spring 125.

베이스(122)의 대략 중앙에는 푸셔블록(123)이 삽입되는 개구(122a)가 형성되어 있다. 또한, 베이스(122)의 하면 양단에서는 인서트(710)의 가이드공(726) 및 소켓 가이드(55)의 가이드 부쉬(56)에 삽입되는 가이드핀(122b)이 돌출되어 있다. An opening 122a through which the pusher block 123 is inserted is formed at approximately the center of the base 122. Further, guide pins 122b inserted into the guide holes 726 of the insert 710 and the guide bushes 56 of the socket guide 55 protrude from both ends of the lower surface of the base 122.

푸셔블록(123)은 베이스(122)의 개구(122a)보다도 작은 외경을 갖는 소경부(123a)와, 상기 개구(122a)보다도 큰 외경을 갖는 대경부(123b)를 갖고 있다. 푸셔블록(123)의 소경부(123a)는 베이스(122)의 위쪽으로부터 개구(122a)에 삽입되어 있다. 한편, 푸셔블록(123)의 대경부(123b)는 베이스(122)의 상면에 결합되어 있다. The pusher block 123 has a small diameter portion 123a having an outer diameter smaller than the opening 122a of the base 122 and a large diameter portion 123b having an outer diameter larger than the opening 122a. The small diameter portion 123a of the pusher block 123 is inserted into the opening 122a from the upper side of the base 122. On the other hand, the large diameter portion 123b of the pusher block 123 is coupled to the upper surface of the base 122.

베이스(122)의 상부에는 헤드(124)가 볼트 등에 의해 고정되어 있다. 상기 헤드(124)와 푸셔블록(123)의 대경부(123b)의 사이에는 푸셔블록(123)을 아래쪽으로 가압하는 코일 스프링(125)이 설치되어 있다. 한편, 코일 스프링(125)을 대신하여, 판스프링 등의 기계식 스프링, 고무나 엘라스토머 등의 탄성체를 사용하여도 좋다. 푸셔(121)는 동시에 테스트되는 IC디바이스에 대응하도록, 예컨대 4행 16열로 매치 플레이트(미도시)에 홀드되어 있고, 상기 매치 플레이트는 Z축 구동장치(128)와 함께 상하 이동 가능하게 테스트 헤드(5)의 위쪽에 설치되어 있다. The head 124 is fixed to the upper portion of the base 122 by a bolt or the like. A coil spring 125 for pressing the pusher block 123 downward is provided between the head 124 and the large diameter portion 123b of the pusher block 123. In place of the coil spring 125, a mechanical spring such as a leaf spring or an elastic body such as rubber or elastomer may be used. The pusher 121 is held in a match plate (not shown), for example, 4 rows and 16 columns so as to correspond to the IC devices being tested at the same time. It is installed above 5).

상기 푸셔(121)의 위쪽에는 예컨대 유체압 실린더를 갖는 Z축 구동장치(128)가 설치되어 있고, 상기 Z축 구동장치(128)는 압압판(129)을 Z축방향(압압방향)으로 상하 이동시키는 것이 가능하게 되어 있다. 푸셔(121)는 상기 압압판(129)에 의해 아래쪽으로 압압되도록 되어 있다. On the upper side of the pusher 121, for example, a Z-axis drive unit 128 having a fluid pressure cylinder is installed, and the Z-axis drive unit 128 vertically moves the press plate 129 in the Z-axis direction (pressing direction). It is possible to move. The pusher 121 is pressed downward by the pressing plate 129.

한편, 테스트 헤드(5)에 설치된 소켓(50)은 도 18에 도시한 바와 같이, IC디바이스의 땜납볼(HB)에 전기적으로 접촉하는 복수의 콘택트핀(51)과, 상기 콘택트핀(51)을 홀드하고 있는 하우징(52)을 구비하고 있다. 상기 콘택트핀(51)은 이른바 포고핀으로 구성되어 있고, 내부에 수용되어 있는 코일 스프링(미도시)에 의해 선단이 상하 이동 가능하게 되어 있다. Meanwhile, as illustrated in FIG. 18, the socket 50 provided in the test head 5 includes a plurality of contact pins 51 electrically contacting the solder balls HB of the IC device, and the contact pins 51. The housing 52 which hold | maintains is provided. The said contact pin 51 is comprised from what is called a pogo pin, and the tip is movable up and down by the coil spring (not shown) accommodated in the inside.

본 실시형태에서는, 도 18에 도시한 바와 같이, 코일 스프링에 부하가 걸려 있지 않은 상태(즉 압압되어 있지 않은 상태)에서, 하우징(52)의 상면(52a)으로부터 콘택트핀(51)의 선단이 제2 돌출량(C_max)만큼 돌출되어 있다. 한편, 코일 스프링을 가장 많이 수축시키면, 하우징(52)의 상면(52a)으로부터 콘택트핀(51)의 선단이 제3 돌출량(C_min)만큼 돌출되도록 되어 있다. In this embodiment, as shown in FIG. 18, the tip of the contact pin 51 is removed from the upper surface 52a of the housing 52 in a state in which the load is not applied to the coil spring (that is, it is not pressed). It protrudes by the 2nd protrusion amount _Cmax . On the other hand, when the coil spring is contracted the most, the tip of the contact pin 51 protrudes from the upper surface 52a of the housing 52 by the third protrusion amount C _min .

상술한 제1 돌출량(C_op)은 테스트시에 땜납볼(HB)과 콘택트핀(51)의 사이에서 전기적인 도통을 확보하기 위한 콘택트핀(51)의 최적의 스트로크량이고, 제2 돌출량(C_max)보다도 짧고, 또한 제3 돌출량(C_min)보다도 길게 되어 있다(C_min< C_op< C_max).The first protrusion amount C _op described above is an optimal stroke amount of the contact pin 51 for ensuring electrical conduction between the solder ball HB and the contact pin 51 during the test, and the second protrusion amount C _op . It is shorter than the amount C _max and is longer than the third protrusion amount C _min (C _min <C _op <C _max ).

도 17에 도시한 바와 같이, 상기 소켓(50)의 주위에는 소켓 가이드(55)가 고정되어 있다. 상기 소켓 가이드(55)의 양단에는 푸셔(121)의 가이드핀(122b)이 삽입되는 가이드 부쉬(56)가 설치되어 있다. As shown in FIG. 17, the socket guide 55 is fixed around the socket 50. Both ends of the socket guide 55 are provided with guide bushes 56 into which the guide pins 122b of the pushers 121 are inserted.

IC디바이스의 테스트시에, Z축 구동장치(128)가 압압판(129)을 하강시키면, 푸셔(121)의 가이드핀(122b)이 인서트(710)의 가이드공(726)에 위쪽으로부터 삽입되고, 다음에 소켓 가이드(55)의 가이드 부쉬(56)가 인서트(710)의 가이드공(726)에 아래쪽으로부터 삽입되는 동시에, 푸셔(121)의 가이드핀(122b)이 가이드 부쉬(56)내에 삽입됨으로써, 푸셔(121), 인서트(710) 및 소켓(50)이 상호 위치 결정된다. When testing the IC device, if the Z-axis drive unit 128 lowers the pressure plate 129, the guide pin 122b of the pusher 121 is inserted into the guide hole 726 of the insert 710 from above. Next, the guide bush 56 of the socket guide 55 is inserted into the guide hole 726 of the insert 710 from below, and the guide pin 122b of the pusher 121 is inserted into the guide bush 56. As a result, the pusher 121, the insert 710 and the socket 50 are mutually positioned.

본 실시형태에서는 Z축 구동장치(128)에 의해 IC디바이스를 소켓(50)에 밀착시키면, 도 14A나 도 14B에 도시한 바와 같이, 인서트(710)의 디바이스 캐리어(760)의 바닥판(760a)이 IC디바이스의 본체(901)와 소켓(50)의 하우징(52)의 사이에 끼워 넣어진다. 그러므로, 본체(901)와 하우징(52) 사이의 거리가 바닥판(760a)에 의해 규정되어, 콘택트핀(51)의 최적의 스트로크량이 자동적으로 확보된다. In this embodiment, when the IC device is brought into close contact with the socket 50 by the Z-axis drive unit 128, as shown in FIG. 14A or 14B, the bottom plate 760a of the device carrier 760 of the insert 710. ) Is sandwiched between the main body 901 of the IC device and the housing 52 of the socket 50. Therefore, the distance between the main body 901 and the housing 52 is defined by the bottom plate 760a, so that the optimum stroke amount of the contact pin 51 is automatically ensured.

IC디바이스의 시험은 IC디바이스의 땜납볼(HB)과 소켓(50)의 콘택트핀(51)을 전기적으로 접촉시킨 상태에서 테스터(6)에 의해 실행된다. 그 IC디바이스의 시험결과는 예컨대 테스트 트레이(TST)에 부여된 식별번호와, 테스트 트레이(TST)내에 할당된 IC디바이스의 번호로 결정되는 어드레스에 기억된다. The test of the IC device is performed by the tester 6 with the solder ball HB of the IC device and the contact pin 51 of the socket 50 electrically contacted. The test results of the IC device are stored in an address determined, for example, by an identification number assigned to the test tray TST and the number of the IC device assigned in the test tray TST.

한편, 테스트시에, Z축 구동장치(128)는 그 전자부품 시험장치가 대응해야 하는 IC디바이스의 전품종 중에서 밀착 하중이 최대인 품종을 밀착시킬 때의 밀착 하중으로, 모든 품종의 IC디바이스를 압압하고, 여분의 하중은 푸셔(121)의 코일 스프링(125)에 의해 흡수된다. 그러므로, 본 실시형태에서는 IC디바이스 1개당 땜납볼(HB)의 수가 증감하더라도 콘택트핀(51)의 최적의 스트로크량을 자동적으로 확보할 수가 있다. 게다가, Z축 구동장치(128)에 요구되는 밀착 하중은 콘택트핀 1개당 필요로 하는 밀착 하중과, IC디바이스에서의 콘택트핀(51)의 갯수와, 동시에 압압하는 IC디바이스의 수에 기초하여 산출된다. On the other hand, during the test, the Z-axis drive unit 128 is a close load for bringing the maximum contact load varieties among all kinds of IC devices to which the electronic component test device must respond, and thus, the IC devices of all varieties are used. Pressing, the excess load is absorbed by the coil spring 125 of the pusher 121. Therefore, in this embodiment, even if the number of solder balls HB per IC device is increased or decreased, the optimum stroke amount of the contact pin 51 can be automatically ensured. In addition, the contact load required for the Z-axis drive unit 128 is calculated based on the contact load required per contact pin, the number of contact pins 51 in the IC device, and the number of IC devices pressed simultaneously. do.

또한, IC디바이스의 본체(901)의 두께 차이도 코일 스프링(125)에 의해 흡수되므로, 본 실시형태에서는 IC디바이스의 본체 두께가 변하더라도 콘택트핀(51)의 최적의 스트로크량을 자동적으로 확보할 수가 있다. 한편, Z축 구동장치(128)에 의한 여분의 하중이나, IC디바이스의 본체(901)의 두께 차이를 흡수하는 흡수수단의 설치위치는 푸셔(121)에 한정되지 않는다. 예컨대, 흡수수단을 압압판(129)이나 Z축 구동장치(128) 자체에 설치하여도 좋다. In addition, since the thickness difference of the main body 901 of the IC device is also absorbed by the coil spring 125, in this embodiment, even if the main body thickness of the IC device changes, the optimum stroke amount of the contact pin 51 can be automatically secured. There is a number. On the other hand, the installation position of the absorbing means for absorbing the extra load by the Z-axis drive device 128 and the thickness difference of the main body 901 of the IC device is not limited to the pusher 121. For example, the absorbing means may be provided in the pressing plate 129 or the Z-axis driving device 128 itself.

<언로더부(400)><Unloader unit 400>

도 2로 돌아가서, 언로더부(400)에도 로더부(300)에 설치된 디바이스 반송장치(310)와 동일 구조의 디바이스 반송장치(410)가 2대 설치되어 있고, 이들 디바이스 반송장치(410)에 의해, 언로더부(400)로 운반되어 나온 테스트 트레이(TST)로부터 시험 종료된 IC디바이스가 시험결과에 따른 커스터머 트레이(KST)에 옮겨 적재된다. Returning to FIG. 2, two device conveyance apparatuses 410 having the same structure as the device conveyance apparatus 310 provided in the loader portion 300 are also provided in the unloader portion 400, and these device conveyance apparatuses 410 are provided. By this, the IC device which has been tested from the test tray TST carried to the unloader 400 is transferred to the customer tray KST according to the test result and loaded.

도 2에 도시한 바와 같이, 언로더부(400)에서의 장치기대(101)에는 저장부(200)로부터 언로더부(400)로 운반되어 들어온 커스터머 트레이(KST)가 장치기대(101)의 상면을 향하도록 배치되는 한쌍의 창부(470)가 2조 형성되어 있다. As shown in FIG. 2, in the device base 101 of the unloader unit 400, a customer tray KST conveyed from the storage unit 200 to the unloader unit 400 is placed in the device base 101 of the device base 101. Two pairs of window portions 470 are arranged to face the upper surface.

또한, 도시는 생략하지만, 각각의 창부(370),(470)의 하측에는 커스터머 트레이(KST)를 승강시키기 위한 승강 테이블이 설치되어 있다. 언로더부(400)에서는 시험 종료된 IC디바이스로 가득찬 커스터머 트레이(KST)를 승강 테이블이 하강시켜, 상기 가득찬 트레이를 트레이 이송아암(205)으로 인도한다. Although not shown, an elevation table for elevating the customer tray KST is provided below each of the window portions 370 and 470. In the unloader unit 400, the lifting table lowers the customer tray KST filled with the tested IC device, and guides the full tray to the tray transfer arm 205.

예컨대, 디바이스 반송장치(410)를 사용하여 테스트 트레이(TST)에 수용된 IC디바이스를 취출하는 경우에는, 도 8A, 도 9A 및 도 10A에 도시한 상태(래치부재(731)의 선단(731a)이 폐쇄위치의 상태)에서 디바이스 반송장치(410)의 흡착헤드가 각 인서트(710)에 접근하면, 그 흡착헤드의 일부로 레버 플레이트(750)를 밀어 내린다. 이에 따라, 레버(734)에 의해 래치부재(731)의 후단(731c)이 밀어 내려지면, 래치부재(731)는 샤프트(733)를 중심으로 하여 회전하여, 래치부재(731)의 선단(731a)이 개방위치의 상태로 천이한다. For example, when taking out the IC device accommodated in the test tray TST using the device conveyance apparatus 410, the state shown in FIGS. 8A, 9A, and 10A (the front end 731a of the latch member 731 is When the suction head of the device conveying apparatus 410 approaches each insert 710 in the closed position, the lever plate 750 is pushed down by a part of the suction head. Accordingly, when the rear end 731c of the latch member 731 is pushed down by the lever 734, the latch member 731 is rotated about the shaft 733 so that the front end 731a of the latch member 731 is rotated. ) Transition to the open position.

그 상태를 도 8B, 도 9B 및 도 10B에 도시하지만, 래치부재(731)는 IC디바이스의 상면으로부터 퇴피하여, 인서트 본체(720)의 수용 오목부(722)내에 완전히 수용되어 있어, 흡착헤드는 IC디바이스를 홀드할 수가 있다. 8B, 9B and 10B, the latch member 731 is retracted from the upper surface of the IC device, and is completely accommodated in the receiving recess 722 of the insert body 720. The IC device can be held.

이상과 같이, 본 실시형태에서는 IC디바이스를 소켓(50)에 밀착시킬 때에, IC디바이스의 본체(901)와 소켓(50)의 하우징(52)의 사이에 디바이스 캐리어(760)의 바닥판(760a)을 개재시켜서, 본체(901)과 하우징(52)의 사이의 간격(B)을, 땜납볼(HB)의 높이(A)와 콘택트핀(51)의 제1 돌출량(C_OP)의 합계에 실질적으로 동일하게 한다. 이에 따라, 푸셔(121) 등을 교환하지 않고, IC디바이스를 소켓(50)에 밀착시키는 것만으로, 콘택트핀(52)의 최적의 스트로크량을 자동적으로 확보할 수가 있으므로, 전자부품 시험장치의 가동량을 향상시킬 수가 있다. As described above, in the present embodiment, when the IC device is brought into close contact with the socket 50, the bottom plate 760a of the device carrier 760 between the main body 901 of the IC device and the housing 52 of the socket 50. ), The distance B between the main body 901 and the housing 52 is the sum of the height A of the solder ball HB and the first protrusion amount C _OP of the contact pin 51. To be substantially the same. As a result, the optimum stroke amount of the contact pin 52 can be automatically secured only by bringing the IC device into close contact with the socket 50 without replacing the pusher 121 and the like. The amount can be improved.

한편, 이상 설명한 실시 형태는 본 발명의 이해를 용이하게 하기 위해 기재된 것으로서, 본 발명을 한정하기 위해 기재된 것은 아니다. 따라서, 상기 실시 형태에 개시된 각 요소는 본 발명의 기술적 범위에 속하는 모든 설계 변경이나 균등물을 포함하는 취지이다. In addition, embodiment described above was described in order to make understanding of this invention easy, and was not described in order to limit this invention. Therefore, each element disclosed in the said embodiment is intended to include all the design changes and equivalents which belong to the technical scope of this invention.

인서트에서 IC디바이스를 누르는 후크기구는 상술한 실시형태에 한정되지 않는다. 예컨대, IC디바이스의 인서트로의 삽입방향에 대하여 직교하는 축을 중심으로 하여 회전하는 후크기구를 채용하여도 좋다. The hook mechanism for pressing the IC device in the insert is not limited to the above-described embodiment. For example, a hook mechanism that rotates around an axis orthogonal to the insertion direction of the IC device into the insert may be employed.

1…핸들러
100…테스트부
200…저장부
300…로더부
400…언로더부
5…테스트 헤드
50…소켓
51…콘택트핀
52…하우징
6…테스터
TST…테스트 트레이
701…프레임 부재
710…인서트
720…인서트 본체
760…디바이스 캐리어
760a…바닥면
762…가이드공
IC…IC디바이스
901…IC디바이스의 본체
HB…땜납볼One… Handler
100... Test
200 ... Storage
300 ... Loader
400 ... Unloader section
5... Test head
50... socket
51 ... Contact pin
52 ... housing
6... Tester
TST… Test tray
701... Frame members
710... insert
720... Insert body
760... Device carrier
760a... Bottom
762... Guide ball
IC… IC device
901... The body of the IC device
HB… Solder ball

Claims

An electronic component test method in which an electronic component under test is brought into close contact with a socket, and a terminal of the electronic component under test is brought into electrical contact with a contact pin of the socket to test the electronic component under test.
A spacer having a thickness substantially equal to the sum of the height of the terminal derived from the main body of the electronic component under test and a first protrusion amount of the contact pin from the housing of the socket during the test; An electronic component test method, wherein the electronic component under test is brought into close contact with the socket in a sandwiched state.

The method according to claim 1,
The first protrusion amount is shorter than the second protrusion amount of the contact pin from the housing in the no-load state, and more than the third protrusion amount of the contact pin from the housing in the state where the contact pin contracts the most. Electronic component test method characterized in that long.

The method according to claim 1 or 2,
And the spacer is a bottom plate of an insert containing the electronic component under test.

The electronic component under test is brought into close contact with a socket, and the terminal of the electronic component under test is brought into electrical contact with a contact pin of the socket, so that the electronic component under test is installed in a tray conveyed in an electronic component test apparatus for testing the electronic component under test. As an insert which can accommodate the said electronic component under test,
And a holding portion for holding the electronic component under test,
And said hold portion has a bottom plate having a thickness substantially equal to a sum of a height of the terminal derived from the main body of the electronic component under test and a first protrusion amount of the contact pin from the socket housing under test. Insert.

The method according to claim 4,
The bottom plate is inserted between the main body and the housing when the electronic component under test is in close contact with the socket.

The method according to claim 4 or 5,
The first protrusion amount is shorter than the second protrusion amount of the contact pin from the housing in the no-load state, and more than the third protrusion amount of the contact pin from the housing in the state where the contact pin contracts the most. Insert characterized by long.

The method according to any one of claims 4 to 6,
And the bottom plate has a through hole into which the terminal of the electronic component under test can be fitted.

The method according to any one of claims 4 to 7,
The insert is
An insert body having a receiving hole for accommodating the electronic component under test,
And said holding portion holds said electronic component under test contained in said receiving hole.

The method according to any one of claims 4 to 8,
And inserting and detaching means for detachably holding the holding portion with respect to the insert.

The insert according to any one of claims 4 to 9,
And a frame member for finely holding the insert.

An electronic component test apparatus which performs a test of an electronic component under test by bringing an electronic component under test into close contact with a socket, and electrically contacting a terminal of the electronic component under test with a contact pin of the socket.
A test section for bringing the electronic component under test into close contact with the socket in a state where the electronic component under test is accommodated in the tray according to claim 10;
A loader section for carrying the tray containing the electronic component under test before the test into the test section;
And an unloader section for carrying out the tray from the test section to accommodate the electronic component under test.
And said tray is cyclically conveyed from said loader part, said test part and said unloader part.