KR20110009027A - Heating device, substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor device - Google Patents
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 261
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 80
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 73
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 112
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 75
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 68
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 25
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 abstract description 9
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 23
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 23
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 15
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 13
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910002060 Fe-Cr-Al alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- 229910016006 MoSi Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 2
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 2
- -1 MOSi 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 1
- 229910000953 kanthal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/6719—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
Description
본 발명은 가열 장치, 기판을 처리하는 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것이다. TECHNICAL FIELD This invention relates to a heating apparatus, the substrate processing apparatus which processes a board | substrate, and the manufacturing method of a semiconductor device.
DRAM 등의 반도체 장치의 제조 방법의 일 공정으로서, 실리콘 웨이퍼 등의 기판을 가열하여 처리하는 기판 처리 공정이 실시되고 있다. 이러한 공정은, 기판을 수용하여 처리하는 처리실과, 상기 처리실 내를 가열하는 가열 장치를 구비한 기판 처리 장치에 의해 실시되고 있다. 가열 장치는, 처리실의 외주(外周)를 둘러싸는 환(環) 형상의 발열체와, 발열체의 외주에 설치된 환 형상의 단열체를 구비하고 있었다. 발열체는, 상하단의 각각에 산형부(山部)와 골짜기부(谷部)[절결부(切缺部)]가 교대로 복수 연결됨으로써, 사행(蛇行) 형상으로 형성되어 있었다(예컨대 하기 특허 문헌 1참조).As one process of the manufacturing method of semiconductor devices, such as DRAM, the substrate processing process which heats and processes board | substrates, such as a silicon wafer, is performed. This process is performed by the substrate processing apparatus provided with the process chamber which accommodates and processes a board | substrate, and the heating apparatus which heats the inside of the said process chamber. The heating apparatus was provided with the annular heat generating body surrounding the outer periphery of a process chamber, and the annular heat insulating body provided in the outer periphery of a heat generating body. The heating element was formed in a meandering shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valleys (cutout parts) to each of the upper and lower ends (for example, the following patent document). 1).
또한, 가열 장치는, 처리실의 외주를 둘러싸는 환 형상의 발열체와, 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치된 발열체와, 발열체를 단열체의 내벽에 고정하는 보지(保持) 부재(部材)를 구비하고 있다(예컨대 특허 문헌 2 참조).The heating apparatus further includes an annular heating element surrounding the outer circumference of the processing chamber, a heating element provided to surround the outer circumference of the heating element, and a retaining member for fixing the heating element to the inner wall of the heat insulator ( See, eg, patent document 2).
상술(上述)한 발열체는, 환 형상의 발열체의 양단(兩端)이 단열체의 측벽을 관통하여 고정됨과 동시에, 발열체의 각 골짜기부가 단열체의 내주(內周) 측벽에 각각 고정됨으로써, 단열체의 내주 측에 보지되어 있었다. 발열체의 각 골짜기부를 단열체의 내주 측벽에 고정하기 위해서는, 예컨대 브릿지(bridge)형의 핀으로서 구성된 보지체(保持體)가 이용되어 왔다. 즉, 보지체의 양단을 인접하는 각 골짜기부의 말단부[곡저부(谷底部)]에 각각 삽입하여 단열체의 내주 측벽에 고정함으로써, 발열체가 어긋나는 것을 억제하고 있었다.The above-described heating element is insulated from each other by fixing both ends of the annular heating element through the side wall of the insulator and fixing each valley portion of the heating element to the inner circumferential side wall of the insulator. It was seen on the inner peripheral side of the sieve. In order to fix each valley part of a heat generating body to the inner peripheral side wall of a heat insulation body, the retaining body comprised as a bridge-type fin, for example has been used. That is, it was suppressed that a heat generating body shifted | deviated by inserting the both ends of a holding body in the terminal part (curve part) of each adjacent valley part, respectively, and fixing to the inner peripheral side wall of a heat insulating body.
또한, 상술한 가열 장치에 있어서는, 승온(昇溫)에 수반하여 발열체가 열팽창하면, 발열체와 단열체가 접촉하게 되어, 이들 부재가 손상을 받게 되는 경우가 있었다. 특히, 발열체의 변위량(變位量)은 보지 부재로부터 멀어짐에 따라 누적되며 커지는 것으로부터, 보지 부재로부터 떨어진 장소에서 발열체와 단열체와의 접촉이 생기기 쉬웠다. Moreover, in the above-mentioned heating apparatus, when a heat generating body thermally expands with temperature rising, a heat generating body and a heat insulating body may come into contact, and these members may be damaged. In particular, since the displacement amount of the heating element accumulates and increases as it moves away from the holding member, contact between the heating element and the heat insulator is likely to occur at a place away from the holding member.
그러나, 상술한 구성에서는, 승온에 수반하여 발열체가 열변형을 일으키면, 골짜기부의 극간(隙間)이 좁아져 보지구(保持具)가 전단(剪斷)되어버리는 경우가 있었다. However, in the above-described configuration, when the heating element causes thermal deformation with the increase in temperature, the gap between the valleys is narrowed, and the retaining tool may be sheared.
그래서 본 발명은, 발열체의 편차를 억제함과 동시에, 발열체의 열변형에 의한 보지구의 전단을 억제하고, 발열체가 열팽창했을 때에 있어서의 발열체와 단열체와의 접촉, 혹은 발열체와 핀 부재와의 간섭을 억제하고, 가열 장치의 구성 부재의 손상을 저감할 수 있는 가열 장치, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present invention suppresses the deviation of the heating element, and also suppresses the shearing of the holding tool caused by thermal deformation of the heating element, and makes contact with the heating element and the heat insulator when the heating element is thermally expanded, or interferes with the heating element and the fin member. It is an object of the present invention to provide a heating device, a substrate processing device, and a method for manufacturing a semiconductor device, which can suppress the damage and damage to the structural members of the heating device.
본 발명의 일 형태에 의하면,According to one embodiment of the present invention,
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행(蛇行) 형상으로 형성되고, 양단이 고정되는 발열체와,A heating element which is formed in a meandering shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valley parts, and fixed at both ends thereof,
상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부와,A holding member support portion provided at each end of the valley portion and formed as a cutout portion having a width greater than the width of the valley portion;
상기 발열체의 외주에 설치되는 단열체와,An insulator installed on an outer circumference of the heating element,
상기 보지체 지지부 내에 배치되어 상기 단열체에 고정되는 보지체를 구비하는 가열 장치가 제공된다.A heating apparatus is provided which is provided in the holding member support and has a holding member fixed to the heat insulating member.
본 발명의 다른 형태에 의하면,According to another aspect of the present invention,
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성되고, 양단이 고정되는 발열체와, 상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부와, 상기 발열체의 외주에 설치되는 단열체와, 상기 보지체 지지부 내에 배치되고, 상기 단열체에 고정되는 보지체를 구비하는 가열 장치와,A support body formed as a meandering shape by alternately connecting a plurality of ridges and valleys, which are fixed to both ends, and are respectively provided at the ends of the valleys and formed as cutouts having a width greater than the width of the valleys; A heating device including a heat insulator provided on an outer circumference of the heat generating element, a holding body disposed in the holding body support portion and fixed to the heat insulator;
상기 가열 장치의 내부에 설치되고, 기판을 처리하는 처리실A processing chamber installed inside the heating device and processing the substrate.
을 포함하는 기판 처리 장치가 제공된다.Provided is a substrate processing apparatus comprising a.
본 발명의 또 다른 형태에 의하면,According to still another aspect of the present invention,
가열 장치의 내부에 설치되는 처리실 내에 기판을 반입하는 공정과,Bringing in a substrate into a processing chamber provided inside the heating apparatus,
상기 가열 장치에 구비되고 산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성된 발열체의 양단을, 상기 발열체의 외주에 설치된 단열체에 고정함과 동시에, 상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부 내에 보지체를 배치하여 상기 단열체에 고정함으로써 상기 발열체의 위치를 보지하면서, 상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열 처리하는 공정The both ends of the heating element provided in the heating device and formed in a meandering shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valley parts are respectively installed at the ends of the valley part while being fixed to a heat insulator provided on the outer periphery of the heating element. Arranging the holding member in the holding member supporting portion formed as a cutout having a width greater than the width of the negative portion and fixing the holding member to the heat insulating member, thereby holding the position of the heating element and heating the substrate in the processing chamber while maintaining the position of the heating element.
을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법이 제공된다.There is provided a method of manufacturing a semiconductor device comprising a.
또한, 본 발명의 다른 형태에 의하면, 환 형상으로 형성된 발열체와, 상기 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체와, 상기 발열체를 상기 단열체의 내벽에 고정하는 고정부를 갖춘 가열 장치로서, 적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽과의 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정되어 있는 가열 장치가 제공된다. According to another aspect of the present invention, there is provided a heating apparatus including a heat generator formed in an annular shape, a heat insulator provided to surround an outer circumference of the heat generator, and a fixing part for fixing the heat generator to an inner wall of the heat insulator. When the heating element is in a room temperature state, a heating device is provided in which the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulator is set to increase as the distance from the fixing part increases.
본 발명의 다른 형태에 의하면, 환 형상으로 형성된 발열체와, 상기 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체와, 상기 발열체를 상기 단열체의 내벽에 고정하는 고정부를 갖춘 가열 장치의 상기 발열체의 내측(內側)에 설치된 처리실 내에 기판을 반입하는 공정과, 상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열하여 처리하는 공정을 포함하고, 적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽과의 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정하는 반도체 장치의 제조 방법이 제공된다. According to another aspect of the present invention, an inner side of the heating element of the heating apparatus is provided with an annular heating element, a heat insulator provided to surround the outer circumference of the heating element, and a fixing part for fixing the heating element to the inner wall of the heat insulator. A step of bringing a substrate into a processing chamber provided in (iii), and a step of heating the substrate in the processing chamber by heating the heating element, and at least when the heating element is at room temperature, an inner wall of the heating element and the heat insulator. The manufacturing method of the semiconductor device which sets so that the distance between and will become large as it moves away from the said fixed part is provided.
본 발명에 따른 가열 장치, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법에 의하면, 발열체가 어긋나는 것을 억제함과 동시에, 발열체의 열변형에 의한 보지구의 전단을 억제하는 것이 가능하게 됨과 동시에 발열체가 열팽창했을 때에 있어서의 발열체와 단열체와의 접촉을 억제할 수 있어, 가열 장치의 구성 부재의 손상을 저감할 수 있다.According to the heating device, the substrate processing apparatus, and the semiconductor device manufacturing method according to the present invention, it is possible to suppress the heating element from being displaced, to suppress the shearing of the holding tool caused by the thermal deformation of the heating element, and the heating element is thermally expanded. Contact between the heating element and the heat insulator in the body can be suppressed, and damage to the structural members of the heating apparatus can be reduced.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 기판 처리 장치의 수직 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 히터 유닛의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 히터 유닛의 부분 확대도이다.
도 4의 (a)는 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부(環狀部)를 구성하는 선(線) 형상 재료를 예시하는 개략도이고, 도 4의 (b)는 상기 환상부를 구성하는 판(板) 형상 재료를 예시하는 개략도이다.
도 5의 (a)는 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 5의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 승온 전의 히터 유닛의 수평 단면도이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 승온 후의 히터 유닛의 수평 단면도이다.
도 8은 환상부의 팽창 방향을 도시하는 개략도이다.
도 9는 환상부의 열팽창에 관한 측정 결과를 도시하는 개략도이다.
도 10의 (a)는 본 발명의 제2 실시예에 따른 더미 단자 주변의 부분 확대도이고, 도 10의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 11의 (a)는 본 발명에 따른 고정부의 변형예로서의 핀 부재 주변의 부분 확대도이고, 도 11의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 12는 본 발명의 제3 실시예에 따른 승온 전의 히터 유닛의 수평 단면도이다.
도 13은 본 발명의 제3 실시예에 따른 승온 후의 히터 유닛의 수평 단면도이다.
도 14는 본 발명의 제3 실시예에 따른 발열체의 팽창 방향을 도시하는 개략도이다.
도 15는 본 발명의 제3 실시예에 따른 발열체의 열팽창에 관한 측정 결과를 예시하는 개략도이다.
도 16은 승온 상태에 있어서 발열체와 단열체가 동심원 형상이 되도록 한 경우의 발열체의 열변형 모습을 도시하는 개략도이고, 도 16의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 16의 (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다.
도 17은 보지체 지지부를 구비하지 않은 환상부의 열변형의 모습을 도시하는 부분 확대도이고, 도 17의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 17의 (b)는 승온 후의 모습을, 도 17의 (c)는 열변형에 의해 보지체의 전단, 환상부의 균열, 환상부의 단락(短絡)이 생긴 모습을, 도 17의 (d)는 열변형에 의해 보지체의 누락이 발생하는 모습을 각각 도시하고 있다.
도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 발열체의 열변형의 모습을 도시하는 개략도이고, 도 18의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 18의 (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다.
도 19의 (a)는 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 19의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 20은 보지체 지지부를 구비하고 있지 않은 환상부 내에 있어서의 전류 경로를 예시하는 개략도이다.
도 21은 본 발명의 제1 실시예에 따른 발열체 내에 있어서의 전류 경로를 예시하는 개략도이다.
도 22의 (a)는 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 22의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 23의 (a)는 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따른 히터 유닛의 부분 확대도이고, 도 23의 (b)는 부호 A1로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이고, 도 23의 (c)는 부호 A2로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이다.
도 24의 (a)는 본 발명의 제1의 실시예의 변형예에 따른 히터 유닛의 부분 확대도이고, 도 24의 (b)는 부호 A3로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이며, 도 24의 (c)는 부호 A4로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이고, 도 24의 (d)는 부호 A5로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이다.
도 25는 본 발명의 제2 실시예에 따른 기판 처리 장치의 수직 단면도이다.
도 26은 본 발명의 제2 실시예에 따른 발열체의 사시도이다.
도 27의 (a)는 본 발명의 제2 실시예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 27의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.
도 28은 본 발명의 제2 실시예에 따른 환상부를 보지한 단열체의 부분 확대도이고, 도 28의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 28의 (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다.
도 29는 본 발명의 제2 실시예에 따른 수납부의 변형예를 도시하는 개략도이고, 도 29의 (a)는 환상부를 수용한 수납부의 부분 확대도이고, 도 29의 (b)는 확대 부분의 측면도이다. 1 is a vertical cross-sectional view of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.
2 is a perspective view of a heater unit according to a first embodiment of the present invention.
3 is a partially enlarged view of a heater unit according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 4A is a schematic diagram illustrating a line-like material constituting an annular portion according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a portion constituting the annular portion. It is a schematic diagram which illustrates a plate-shaped material.
FIG. 5A is a partially enlarged view of the annular portion according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 5B is a side view of the enlarged portion.
6 is a horizontal cross-sectional view of the heater unit before the temperature increase according to the first embodiment of the present invention.
7 is a horizontal sectional view of the heater unit after the temperature increase according to the first embodiment of the present invention.
8 is a schematic view showing the expansion direction of the annular portion.
9 is a schematic diagram showing a measurement result regarding thermal expansion of the annular portion.
FIG. 10A is a partially enlarged view of the vicinity of the dummy terminal according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 10B is a side view of the enlarged portion.
Fig. 11A is a partially enlarged view of the periphery of the pin member as a modification of the fixing part according to the present invention, and Fig. 11B is a side view of the enlarged part.
12 is a horizontal cross-sectional view of the heater unit before the temperature increase according to the third embodiment of the present invention.
13 is a horizontal sectional view of the heater unit after the temperature increase according to the third embodiment of the present invention.
14 is a schematic diagram showing the expansion direction of the heating element according to the third embodiment of the present invention.
15 is a schematic diagram illustrating a measurement result regarding thermal expansion of a heating element according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 16 is a schematic diagram showing the heat deformation of the heating element in the case where the heating element and the heat insulator are concentric in the temperature rising state, FIG. 16 (a) shows the state before the temperature increase, and FIG. Each figure is shown.
17 is a partially enlarged view showing the state of thermal deformation of the annular portion without the retainer support, FIG. 17A shows the state before the temperature increase, and FIG. 17B shows the state after the temperature increase. (C) shows the state where the front end of the retainer body, the crack of the annular part, and the short circuit part of the annular part occurred due to thermal deformation, and (d) of FIG. It is shown.
18 is a schematic view showing a state of thermal deformation of the heating element according to the first embodiment of the present invention, Figure 18 (a) shows the state before the temperature rise, Figure 18 (b) shows the state after the temperature rise respectively have.
19A is a partially enlarged view of the annular portion according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 19B is a side view of the enlarged portion.
20 is a schematic diagram illustrating a current path in an annular portion that is not provided with a retainer support portion.
Fig. 21 is a schematic diagram illustrating a current path in the heating element according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 22A is a partially enlarged view of an annular portion according to a modification of the first embodiment of the present invention, and FIG. 22B is a side view of the enlarged portion.
FIG. 23A is a partially enlarged view of a heater unit according to a modification of the first embodiment of the present invention, and FIG. 23B is a partially enlarged view of an annular portion in the region indicated by reference numeral A1. 23 (c) is a partially enlarged view of the annular portion in the region shown by the symbol A2.
FIG. 24A is a partially enlarged view of a heater unit according to a modification of the first embodiment of the present invention, and FIG. 24B is a partially enlarged view of an annular portion in the region indicated by symbol A3. FIG. 24C is a partially enlarged view of the annular portion in the region indicated by the reference A4, and FIG. 24D is a partially enlarged view of the annular portion in the region indicated by the reference A5.
25 is a vertical sectional view of the substrate processing apparatus according to the second embodiment of the present invention.
26 is a perspective view of a heating element according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 27A is a partially enlarged view of the annular portion according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 27B is a side view of the enlarged portion.
FIG. 28 is a partially enlarged view of the heat insulating body holding the annular portion according to the second embodiment of the present invention, FIG. 28 (a) shows the state before the temperature increase, and FIG. 28 (b) shows the state after the temperature increase. have.
FIG. 29 is a schematic view showing a modification of the housing section according to the second embodiment of the present invention, FIG. 29A is a partial enlarged view of the housing section accommodating the annular section, and FIG. 29B is an enlargement diagram. Side view of the part.
<제1 실시예><First Example>
이하, 본 발명의 제1 실시예에 대해, 도면을 참조하면서 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, 1st Example of this invention is described, referring drawings.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 기판 처리 장치의 수직 단면도이다. 도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 히터 유닛의 사시도이다. 도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 히터 유닛의 부분 확대도이다. 도 4의 (a)는 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부(環狀部)를 구성하는 선(線) 형상 재료를 예시하는 개략도이고, 도 4의 (b)는 상기 환상부를 구성하는 판(板) 형상 재료를 예시하는 개략도이다. 도 19의 (a)는 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 19의 (b)는 확대 부분의 측면도이다.1 is a vertical cross-sectional view of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 2 is a perspective view of a heater unit according to a first embodiment of the present invention. 3 is a partially enlarged view of a heater unit according to a first embodiment of the present invention. FIG. 4A is a schematic diagram illustrating a line-like material constituting an annular portion according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a portion constituting the annular portion. It is a schematic diagram which illustrates a plate-shaped material. 19A is a partially enlarged view of the annular portion according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 19B is a side view of the enlarged portion.
(1) 기판 처리 장치의 구성(1) Structure of Substrate Processing Apparatus
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치의 구성에 대해 설명한다. 본 실시예에 따른 기판 처리 장치는, 도 1에서 예시하는 바와 같이 뱃치(batch)식 종형 핫 월(Hot Wall)형 감압 CVD(Chemical Vapor Deposition) 장치로서 구성되어 있다.Hereinafter, the configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described. As illustrated in FIG. 1, the substrate processing apparatus according to the present embodiment is configured as a batch type hot wall type vacuum CVD (Chemical Vapor Deposition) device.
본 실시예에 따른 기판 처리 장치는, 수직으로 지지된 종형의 프로세스 튜브(11)를 구비하고 있다. 프로세스 튜브(11)는 아우터 튜브(outer tube, 12)와 이너 튜브(inner tube, 13)를 구비하고 있다. 아우터 튜브(12) 및 이너 튜브(13)는, 예컨대 석영(SiO2)이나 탄화규소(SiC) 등의 내열성이 높은 재료에 의해 각각 일체적으로 형성되어 있다. 아우터 튜브(12)는, 상단이 폐색(閉塞)하고 하단이 개구(開口)한 원통 형상으로 형성되어 있다. 이너 튜브(13)는, 상하 양단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 아우터 튜브(12)의 내경(內徑)은, 이너 튜브(13)의 외경(外徑)보다 크게 구성되어 있다. 아우터 튜브(12)는 이너 튜브(13)의 외측을 둘러싸도록, 이너 튜브(13)에 대해 동심원 형상으로 설치되어 있다. 이너 튜브(13) 내에는, 기판 보지구(保持具)로서의 보트(22)에 의해 수평 자세에서 다단으로 적층된 웨이퍼(1)를 수납하여 처리하는 처리실(14)이 형성되어 있다. 이너 튜브(13)의 하단 개구는, 보트(22)를 출납하기 위한 노구(爐口, 15)를 구성하고 있다.The substrate processing apparatus according to the present embodiment includes a
아우터 튜브(12)와 이너 튜브(13)와의 사이의 하단부는, 원형 링 형상으로 형성된 매니폴드(16)에 의해 각각 기밀(氣密)하게 봉지(封止)되어 있다.The lower end part between the
매니폴드(16)는, 예컨대 스테인리스강(SUS)에 의해 형성된다.The manifold 16 is formed of stainless steel (SUS), for example.
매니폴드(16)는, 이너 튜브(13) 및 아우터 튜브(12)에 대한 교환 등을 위해서, 이너 튜브(13) 및 아우터 튜브(12)에 각각 착탈(着脫)이 자유자재로 가능하도록 장착되어 있다. 매니폴드(16)가 히터 베이스(19)에 의해 수평 자세에서 지지됨으로써, 프로세스 튜브(11)는 수직으로 고정된 상태로 되어 있다. The manifold 16 is attached to the
매니폴드(16)의 측벽에는, 배기관(17)의 상류단이 접속되어 있다.The upstream end of the
배기관(17) 내부는, 이너 튜브(13)와 아우터 튜브(12)와의 사이에 원통 형상의 중공체(中空體)(극간)로서 형성된 배기로(排氣路, 18) 내에 연통하고 있다. 배기로(18)의 횡단면 형상은, 예컨대 일정폭의 원형 링 형상으로 되어 있다. 배기관(17)은, 원통 형상의 중공체인 배기로(18)의 최하단부에 접속된 상태로 되어 있다. 배기관(17)에는, 상류부터 차례로, 압력 센서(17a), 압력 조정 밸브로서의 APC(Auto Pressure Controller) 밸브(17b), 진공 배기 장치(17c)가 설치되어 있다. 진공 배기 장치(17c)를 작동시키면서, 압력 센서(17a)에 의해 검출된 압력에 근거하여 APC 밸브(17b)의 개도(開度)를 제어함으로써, 처리실(14) 내의 압력이 소정의 압력(진공도)으로 하는 것이 가능하도록 구성되어 있다. 주로 배기관(17), 압력 센서(17a), APC 밸브(17b), 진공 배기 장치(17c)에 의해 처리실(14) 내의 분위기를 배기하는 배기 라인이 구성되어 있다. 압력 센서(17a), APC 밸브(17b), 진공 배기 장치(17c)는, 제어부로서의 컨트롤러(280)에 접속되어 있다. 컨트롤러(280)는 압력 센서(17a)에 의해 검출된 압력 정보에 근거하여, APC 밸브(17b)의 밸브 개도를 제어함으로써, 처리실(14) 내의 압력을 소정의 처리 압력으로 하는 것이 가능하도록 구성되어 있다.The inside of the
매니폴드(16)에는, 매니폴드(16)의 하단 개구를 폐색하는 원반 형상의 씰 캡(seal cap, 20)이, 수직 방향 하측으로부터 당접(當接)되도록 되어 있다. 씰 캡(20)의 외경은, 아우터 튜브(12), 매니폴드(16)의 외경과 실질적으로 동일하게 구성되어 있다. 씰 캡(20)은, 프로세스 튜브(11)의 외부에 설비된 보트 엘리베이터(21)(일부만이 도시되어 있음)에 의해 수직 방향으로 승강되도록 구성되어 있다. 씰 캡(20)의 하방에는 회전 기구(25)가 설치되어 있다. 회전 기구(25)의 회전축은 씰 캡(20)을 수직으로 관통하고 있다. 회전 기구(25)의 회전축 상에는, 상술한 보트(22)가 수직으로 입각(立脚)되고 지지되어 있다. 상술한 바와 같이, 보트(22)는 복수 매의 웨이퍼(1)를 수평 자세이면서 서로 중심을 맞춘 상태에서 다단으로 적층시켜 보지하도록 구성되어 있다. In the manifold 16, a disk-shaped
회전 기구(25)를 작동시킴으로써, 처리실(14) 내에서 보트(22)를 회전시키는 것이 가능하도록 구성되어 있다.By operating the
씰 캡(20)에는, 가스 도입관(23)이 수직 방향으로 접속되어 있다. 가스 도입관(23)의 상류측단(하단)에는, 원료 가스 공급 장치(23a) 및 캐리어 가스 공급 장치(23b)가 각각 접속되어 있다. 가스 도입관(23)의 하류측단(상단)은, 처리실(14) 내부를 향해 가스를 공급(분출)하도록 구성되어 있다. 가스 도입관(23)으로부터 처리실(14) 내[이너 튜브(13) 내]에 공급된 가스는, 처리실(14) 내부에 보지된 각 웨이퍼(1)의 표면을 유통한 후, 이너 튜브(13)의 상단 개구로부터 배기로(18) 내에 유출하여 배기관(17)으로부터 배기된다. 주로, 가스 도입관(23), 원료 가스 공급 장치(23a), 캐리어 가스 공급 장치(23b)에 의해, 처리실(14) 내에 가스를 공급하는 가스 공급 라인이 구성되어 있다. 원료 가스 공급 장치(23a), 캐리어 가스 공급 장치(23b)는, 컨트롤러(280)에 접속되어 있다. 컨트롤러(280)는, 원료 가스 공급 장치(23a) 및 캐리어 가스 공급 장치(23b)를 제어함으로써, 처리실(14) 내에 소정의 타이밍으로 소정 유량의 원료 가스 및 캐리어 가스를 공급하는 것이 가능하도록 구성되어 있다.The
또한, 아우터 튜브(12)와 이너 튜브(13)와의 사이의 극간에는, 온도 센서(24)가 연직 방향으로 배설(配設)되어 있다. 온도 센서(24)는 컨트롤러(280)에 접속되어 있다.Further, the
컨트롤러(280)는 온도 센서(24)에 의해 검출된 온도 정보에 근거하여, 후술하는 히터 유닛(30)이 구비하는 각 발열체(42)로의 통전(通電) 상태[한 쌍의 급전부(給電部)(45, 46)에 의한 전력 공급]를 제어함으로써, 처리실(14) 내에 보지되어 있는 웨이퍼(1)의 표면 온도를 소정의 처리 온도로 하는 것이 가능하도록 구성되어 있다.Based on the temperature information detected by the
(2) 히터 유닛의 구성예 1(2) Configuration example 1 of the heater unit
아우터 튜브(12)의 외부에는, 프로세스 튜브(11)의 내부를 가열하는 가열 장치로서의 히터 유닛(30)이, 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록 설치되어 있다. 히터 유닛(30)은, 발열체(42)와, 단열체(33)와, 보지체(41)와, 케이스(31)를 구비하고 있다.Outside the
발열체(42)는, 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록, 연직 방향으로 적어도 1개 이상 설치되어 있다. 도 2, 도 3에 도시된 바와 같이, 발열체(42)는 환상부(42R)와 한 쌍의 급전부(45, 46)를 각각 구비하고 있다. 환상부(42R)는, 아우터 튜브(12)의 외주를 둘러싸듯이 환 형상으로 구성되어 있다. 환상부(42R)의 양단부는, 접촉하지 않고 근접하여 고정되어 있고, 전기적으로는 비접촉 상태로 되어 있다. 즉, 환상부(42R)는, 전기적으로는 완전한 원형은 아니고, 예컨대 C자 형태의 링 형상으로 구성되어 있다. 환상부(42R)를 구성하는 재료로서는, 예컨대 Fe-Cr-Al합금, MOSi2, SiC 등의 저항 발열 재료를 이용할 수 있고, 그 형상은, 도 4의 (a)에 도시된 바와 같은 선 형상 재료여도 좋으며, 도 4의 (b)에 도시된 바와 같은 판 형상 재료여도 좋다. 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 후술하는 단열체(33)[측벽부(35)]를 관통하여 단열체(33)에 고정됨과 동시에, 그 단부(端部)는 환상부(42R)의 양단부에 각각 접속되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 금속 등의 도전성(導電性) 재료에 의해 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재하여 환상부(42R)의 일단(一端)으로부터 타단(他端)을 향해 전류를 흘림으로써, 환상부(42R)가 가열되어 프로세스 튜브(11) 내부가 승온되도록 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)는 컨트롤러(280)에 접속되어 있다.At least one
단열체(33)는 환상부(42R)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다.The
단열체(33)는 상하단이 개구한 원통형의 측벽부(35)와, 측벽부(35)의 상부 개구를 덮는 천정벽부(34)를 구비하고 있고, 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 단열체(33)는, 아우터 튜브(12) 및 환상부(42R)에 대해서 각각 동심원 형상으로 설치되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 예컨대, 섬유 형상 또는 구(球) 형상의 알루미나(Al2O3)나 실리카(SiO2) 등의 단열(斷熱) 재료에 의해 형성되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 각각 예컨대 진공 폼(vacuum form)법 등에 의해 일체적으로 성형되어 있다. 한편, 측벽부(35)는, 일체적으로 성형되어 있는 경우에 한정되지 않고, 복수의 원형의 단열재가 복수 쌓아올려지는 것으로 구성되어 있어도 좋다. 이와 같이 구성함으로써, 측벽부(35)에 응력(應力)이 가해졌을 때의 측벽부(35)의 파손을 억제하거나 메인터넌스(maintenance)성을 향상시키는 것이 가능하게 된다. The
도 19의 (a)에, 환상부(42R)의 중심측에서 본[프로세스 튜브(11)측에서 본] 환상부(42R)의 부분 확대도(평면도)를 나타낸다. 환상부(42R)의 상하단에는, 산형부(돌출부)(42a)와 골짜기부(절결부)(42b)가 각각 교대로 복수 연결되어 있다. 즉, 환상부(42R)는 사행 형상[파(波) 형상]으로 형성되어 있다. 환상부(42R)의 상하단에 설치된 각 골짜기부(42b)의 말단[곡저부]에는, 예컨대 타원 형상의 절결부로서 형성된 보지체 지지부(42R)가 설치되어 있다. 보지체 지지부(42R)의 폭[환상부(42R)의 주방향(周方向)을 따른 폭이며, 이하 제2폭(b)라고도 함]은, 골짜기부(42b)의 폭[환상부(42R)의 주방향을 따른 폭이며, 이하 제1폭(a)라고도 함]보다 넓게 구성되어 있다.FIG. 19A shows a partial enlarged view (plan view) of the
환상부(42R)는, 한 쌍의 급전부(45, 46)가 단열체(33)[측벽부(35)]를 관통하여 고정됨과 동시에, 도 19에 나타내는 바와 같이 복수 개의 보지체(41)에 의해 각 골짜기부(42b)가 단열체(33)[측벽부(35)]의 내주면에 각각 고정됨으로써, 단열체(33)의 내주 측에 보지되어 있다. 각 보지체(41)는 보지체 지지부(42c) 내에 배치되어 단열체(33)에 고정되도록 구성되어 있다. 보지체(41)는 브릿지형(꺾쇠 형상)의 핀으로서 구성되어 있다. 브릿지형의 핀으로서 구성된 보지체(41)의 양단은, 환상부(42R)의 중심측으로부터 외측[측벽부(35)측]을 향해, 인접하는 보지체 지지부(42c) 내에 각각 삽입되고, 단열체(33)[측벽부(35)]의 내주면에 꽂히도록 고정된다. 환상부(42R)의 외주면과 측벽부(35)의 내주면은, 접촉하지 않고 소정의 간격[환상부(42R)의 반경 방향을 따른 폭이며, 이하 제 3폭(c)이라고도 함]을 보지하여 고정되도록 구성되어 있다. 한편, 보지체(41)는 상술한 브릿지형으로 한정되지 않고, 그 일단부가 단열체(33)[측벽부(35)]의 내주면에 삽입되어 고정되는 L자형의 핀으로서 구성되어 있어도 좋고, 그 중앙부가 단열체(33)[측벽부(35)]의 내주면에 삽입되어 고정되는 T자형의 핀으로서 구성되어 있어도 좋다. As for the
이상과 같이 구성된 결과, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이, 종래보다 크게 확보된다. 즉, 환상부(42R)는, 환상부(42R)의 주방향을 따라 최대로 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)] 분에 상당하는 동작값이 확보되면서 고정된다. 또한, 환상부(42R)의 반경 방향을 따라 소정의 크기의 동작값이 확보된다. 즉, 환상부(42R)의 반경 방향을 따라 최대로 제3폭(c)에 상당하는 동작값이 확보되면서 고정된다.As a result of the above configuration, the operation value along the main direction of the
사행 형상의 환상부(42R)는, 가열되면 열팽창에 의해 주방향이나 반경 방향으로 신장(伸長)되는 특성이 있다. 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 주방향으로 신장되었다고 하더라도, 이러한 신장량이 상술한 동작값[최대로 제2폭(b)] 미만이면, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)해버리는 것이 억제된다. 그 결과, 보지체(41)의 누락 등이 억제된다. 또한, 환상부(42R)에 가해지는 압축 응력이 저감되어 환상부(42R)의 변형, 균열 혹은 단락 등이 억제된다.The meandering
한편, 환상부(42R)의 신장량(伸長量)이 일정량을 넘고, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이 없어지면, 환상부(42R)의 각 부에 소성(塑性) 응력이 가해지고, 환상부(42R)가 변형하는 경우가 있다. 예컨대, 환상부(42R)는, 골짜기부(42b)의 폭[제2폭(b)]이 좁아지도록 변형하는 경우가 있다. 본 실시예에 의하면, 보지체(41)가 배치되는 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]을, 골짜기부(42b)의 폭[제2폭(b)]보다 넓게 구성하고 있다. 그 때문에, 환상부(42R)가 변형하여 골짜기부(42b)의 폭[제2폭(b)]이 좁아졌다고 하더라도, 보지체(41)와 환상부(42R)는 간섭(접촉)하기 어렵게 구성되어 있고, 보지체(41)의 전단이 억제된다.On the other hand, when the amount of elongation of the
또한, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 반경 방향으로 신장되었다고 하더라도, 이러한 신장량이 상술한 동작값[최대로 제3폭(c)] 미만이면, 환상부(42R)와 단열체(33)의 내주벽과의 접촉이 억제된다. 그리고, 환상부(42R)의 국소적인 온도 상승[이상(異常) 온도 상승]이나 환상부(42R)의 용단(溶斷)을 억제할 수 있고, 환상부(42R)나 단열체(33)의 수명을 늘리는 것이 가능하게 된다. 또한, 처리실(14) 내의 온도 분포를 균일화시키는 것이 가능하게 된다. Even if the
케이스(31)는, 단열체(33)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 상단이 폐색하고 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 스테인리스강(SUS)으로 형성되어 있다. 단열체(33)의 외주면과 케이스(31)의 내주면과의 사이의 극간(32)은, 공냉(空冷)을 위한 공간으로서 기능한다. 한편, 천정벽부(34) 및 케이스(31)의 천정벽을 관통하는 배기구를 설치하고, 단열체(33)와 아우터 튜브(12)와의 사이의 분위기를 강제 공냉시키도록 구성해도 무방하다. The
(2) 히터 유닛의 구성예 2 (2) Configuration example 2 of the heater unit
아우터 튜브(12)의 외부에는, 프로세스 튜브(11)의 내부를 가열하는 가열 장치로서의 히터 유닛(30)이 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록 설치되어 있다. 히터 유닛(30)은, 환 형상으로 형성된 발열체(42)와, 발열체(42)의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체(33)와, 발열체(42)의 양단에 각각 접속되는 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)와, 단열체(33)의 외측을 둘러싸는 케이스(31)를 구비하고 있다. Outside the
발열체(42)는, 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록, 연직(鉛直) 방향에 적어도 1개 이상 설치되어 있다. 도 2, 도 3에 도시된 바와 같이, 발열체(42)는, 아우터 튜브(12)의 외주를 둘러싸도록 환 형상으로 구성되어 있다. 발열체(42)의 양단부는, 접촉하지 않고 근접하여 고정되어 있고, 전기적으로는 비접촉의 상태로 되어 있다. 즉, 발열체(42)는, 전기적으로는 완전한 원형이 아닌, 예컨대 C자 모양의 링 형상으로 구성되어 있다. 발열체(42)를 구성하는 재료로서는, 예컨대 Fe-Cr-Al합금, MoSi2, SiC 등의 저항 발열 재료를 이용할 수 있고, 그 형상은, 도 4의 (a)에 도시된 바와 같은 선 형상 재료이어도 좋고, 도 4의 (b)에 도시된 바와 같은 판 형상 재료이어도 좋다. 한편, 도 2, 도 3, 도 5에서 예시하는 것처럼, 발열체(42) 상하단에는, 산형부(돌출부)(42a)와 골짜기부(절결부)(42b)가 각각 교대로 복수 연결되어 있다. 즉, 발열체(42)는 사행 형상(파 형상)으로 형성되어 있다. At least one
상술한 발열체(42)의 양단부에는, 한 쌍의 급전부(45, 46)의 단부가 각각 접속되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 후술하는 단열체(33)(측벽부(35))를 관통하여 단열체(33)에 고정되어 있다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 발열체(42)를 단열체(33)의 내벽에 고정하는 고정부로서 기능한다. 도 5의 (a)에, 발열체(42)의 중심측에서 본[프로세스 튜브(11) 측에서 본] 급전부(45, 46) 주변의 부분 확대도(평면도)를 도시한다. 이처럼 발열체(42)는, 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)에 의해, 1개소[발열체(42)의 단부]만으로 고정되어 있다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46) 이외에서는, 핀 등의 보지체를 이용한 고정을 수행하지 않도록 하고 있다. End portions of the pair of
한 쌍의 급전부(45, 46)는, 금속 등의 전도성 재료에 의해 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재하여 발열체(42)의 일단에서 타단을 향해 전류를 흘리는 것으로, 발열체(42)가 가열되어 프로세스 튜브(11) 안이 승온되도록 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재한 발열체(42)로의 급전은, 컨트롤러(280)에 의해 제어된다. The pair of
단열체(33)는, 발열체(42)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다. 단열체(33)는, 상하단이 개구한 원통 형상의 측벽부(35)와, 측벽부(35)의 상부 개구를 덮는 천정벽부(34)를 구비하고 있고, 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 단열체(33)는, 아우터 튜브(12)에 대하여 동심원 형상으로 설치되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 예컨대, 섬유 형상 또는 구 형상의 알루미나(Al2O3)나 실리카(SiO2) 등의 단열 재료에 의해 형성되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 예컨대 각각 진공 폼 법 등에 의해 일체적으로 성형되어 있다. 한편, 측벽부(35)는, 일체적으로 성형되어 있는 경우에 한정되지 않고, 복수의 원형 단열재가 복수 쌓아 올려지는 것으로 구성되어 있어도 좋다. 이렇게 구성함으로써, 측벽부(35)에 응력이 가해졌을 때의 측벽부(35)의 파손을 억제하거나, 메인터넌스 성을 향상시키는 것이 가능해진다. The
케이스(31)는, 단열체(33)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 상단이 폐색하고 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 스테인리스강(SUS)으로부터 형성되어 있다. 단열체(33)의 외주면과 케이스(31)의 내주면 사이의 극간(32)은, 공냉을 위한 공간으로서 기능한다. 한편, 천정벽부(34) 및 케이스(31)의 천정벽을 관통하는 배기구를 설치하고, 단열체(33)와 아우터 튜브(12) 사이의 분위기를 강제 공냉시키도록 구성해도 좋다. The
발열체(42)는, 가열되면 열팽창에 의해 주방향이나 반경 방향으로 신장되는 특성이 있다. 그 결과, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽이 접촉·간섭되는 일이 있다. 특히, 본 실시예와 같이 발열체(42)가 사행 형상으로 형성되어 있으면, 신장량이 커져, 접촉이 생기기 쉬워진다. 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽이 접촉·간섭하면, 발열체(42)의 국소적인 온도 상승[이상 온도 상승(異常溫度上昇)]이 발생하여, 발열체(42)가 용단(溶斷)되어 버리는 일이 있다. 또한, 발열체(42)나 단열체(33)에 응력이 가해져, 이들 부재의 손상이 생겨 버릴 우려가 있다. 또한, 발열체(42)의 반경 방향으로의 신장에 의해서, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 불균일하게 되면, 발열체(42)의 온도 분포의 균일성이 주방향에 걸쳐 저하하고, 기판 처리의 품질이 저하되는 경우가 있다. 즉, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 거리가 가까운 개소(箇所)에서 발열체(42)의 온도가 이상 상승하거나, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 거리가 먼 개소에서 발열체(42)의 온도가 저하하는 일이 있다. The
따라서 본 실시예에서는, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 고정부로서의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커지도록 함으로써, 상술의 과제를 해결하고 있다. 도 6은, 본 실시예에 따른 승온 전의 (실온 상태의) 히터 유닛(30)의 수평 단면도이다. 도6에 도시하는 것과 같이, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에는, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 서서히 커지고, 도면에서는 A <B <C로 되어 있다. Therefore, in the present embodiment, at least when the
이 상태로, 발열체(42)를 예컨대 기판 처리 시의 온도로까지 승온하면, 발열체(42)의 각 부는, 열팽창에 의해 도 8에 도시된 방향으로 신장한다. 도 8은, 발열체(42)의 각 부의 변위 방향 및 변위량을 화살표 방향 및 길이로 각각 도시하고 있다. 발열체(42)가 한 쌍의 급전부(45, 46)에 의해 1개소로 고정되어 있기 때문에, 발열체(42)의 각 부는, 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역(부호 A1로 나타내는 영역)을 기점으로 하여, 외측으로 부풀어 오르도록[한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어지도록] 변위한다. 한편, 발열체(42)의 변위량은, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커진다. In this state, when the
그 결과, 적어도 발열체(42)가 기판 처리 시의 온도 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 된다. 도 7은, 본 실시예에 따른 승온 후의(기판 처리 시의 온도 상태의) 히터 유닛(30)의 수평 단면도다. As a result, at least when the
도 7에 도시된 것처럼, 적어도 발열체(42)가 기판 처리 시의 온도 상태 시에는, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 열팽창에 의해 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 되고, 도면에서는 A≒B≒C로 되어 있다.As shown in FIG. 7, at least when the
(3) 기판 처리 공정(3) substrate treatment process
다음으로, 상술한 기판 처리 장치에 의해 실시되는 기판 처리 공정의 일례로서의 성막 공정을 간단히 설명한다. 이하의 설명에 있어서, 기판 처리 장치의 각 부의 동작은 컨트롤러(280)에 의해서 제어된다.Next, the film-forming process as an example of the substrate processing process performed by the above-mentioned substrate processing apparatus is demonstrated briefly. In the following description, the operation of each part of the substrate processing apparatus is controlled by the
도 1에 도시되는 바와 같이, 복수 매의 웨이퍼(1)를 장전(wafer charge)한 보트(22)를, 보트 엘리베이터(21)에 의해 들어올려 처리실(14) 내에 반입(boat loading)한다. 이 상태에서, 씰 캡(20)은 매니폴드(16)의 하단 개구를 씰한 상태가 된다.As shown in FIG. 1, the
프로세스 튜브(11)의 내부가 소정의 압력(진공도)이 되도록 배기관(17)을 개재하여 진공 배기한다. 또한, 프로세스 튜브(11)의 내부가 소정의 온도가 되도록 히터 유닛(30)에 의해 가열한다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재하여 환상부(42R)의 일단으로부터 타단을 향해 전류를 흘림으로써, 사행 형상의 환상부(42R)를 가열하여 프로세스 튜브(11) 내를 승온한다. 이 때, 처리실(14) 내가 소정의 온도 분포가 되도록, 온도 센서(24)가 검출한 온도 정보에 근거하여 히터 유닛(30)의 발열체(42)로의 통전 상태를 피드백 제어한다. 계속해서, 보트(22)를 회전 기구(25)에 의해 회전시켜 웨이퍼(1)를 회전시킨다.The vacuum is exhausted through the
사행 형상의 환상부(42R)는, 가열되면 열팽창에 의해 주방향이나 반경 방향으로 신장된다. 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)의 주방향 및 반경 방향을 따른 동작값이, 종래보다 크게 확보되어 있다. 그리고, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 주방향으로 신장되었다고 하더라도, 이러한 신장량이 상술한 동작값[최대로 제2폭(b)] 미만이면, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)해버리는 것이 억제된다. 그 결과, 보지체(41)의 누락 등이 억제된다. 또한, 환상부(42R)에 가해지는 압축 응력이 저감되고, 환상부(42R)의 변형, 균열 혹은 단락 등이 억제된다.The meandering
다음에, 소정의 유량으로 제어된 원료 가스를, 처리실(14) 내로 가스 도입관(23)을 통해서 도입한다. 도입한 원료 가스는, 처리실(14) 내를 유통한 후, 이너 튜브(13)의 상단 개구로부터 배기로(18) 내에 유출하여 배기관(17)으로부터 배기된다. 원료 가스는 처리실(14) 내를 통과할 때 웨이퍼(1)의 표면과 접촉하고, 이 때, 웨이퍼(1)가 처리되고, 예컨대 열 CVD 반응에 의해 웨이퍼(1)의 표면 상에 박막이 퇴적(deposition)된다.Next, the source gas controlled at the predetermined flow rate is introduced into the
미리 설정된 처리 시간이 경과하면, 불활성 가스 공급원(도시하지 않음)으로부터 불활성 가스를 공급하고, 처리실(14) 내를 불활성 가스로 치환함과 동시에, 처리실(14) 내의 압력을 상압(常壓)으로 복귀시킨다. 또한, 회전 기구(25)의 동작을 정지시킨다.When a predetermined processing time elapses, an inert gas is supplied from an inert gas supply source (not shown), the
그 후, 보트 엘리베이터(21)에 의해 씰 캡(20)을 하강하여, 매니폴드(16)의 하단을 개구함과 동시에, 처리 완료된 웨이퍼(1)를 보지한 보트(22)를, 매니폴드(16)의 하단으로부터 프로세스 튜브(11)의 외부에 반출(boat unloading)한다. 그 후, 처리 완료된 웨이퍼(1)를 보트(22)로부터 꺼낸다(wafer discharge).Thereafter, the
(4) 본 실시예에 따른 효과(4) effects according to the present embodiment
본 실시예에 의하면, 이하에 나타내는 (a)~(e)중 하나 또는 복수의 효과를 발휘한다. According to this embodiment, one or a plurality of effects of the following (a) to (e) are exhibited.
(a) 본 실시예에 따른 환상부(42R)의 상하단에 설치된 각 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)에는, 절결부로서 형성된 보지체 지지부(42c)가 설치되어 있다. 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]은, 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]보다 넓게 구성되어 있다. 환상부(42R)는, 한 쌍의 급전부(45, 46)가 단열체(33)의 측벽을 관통하여 고정됨과 동시에, 보지체(41)에 의해 각 골짜기부(42b)가 단열체(33)의 내주 측벽에 각각 고정됨으로써, 단열체(33)의 내주 측에 보지되어 있다. 보지체(41)는, 각 보지체 지지부(42c) 내에 배치되어 단열체(33)에 고정되도록 구성되어 있다.(a) At the end (curve) of each
사행 형상의 환상부(42R)는, 열팽창에 의해 주방향으로 신장되는 특성이 있다. 그리고 환상부(42R)의 주방향의 신장량이 일정량을 넘어 동작값이 없어지면, 환상부(42R)의 각 부에 소성 응력(塑性應力)이 가해져, 환상부(42R)가 변형하는 경우가 있다. 예컨대, 환상부(42R)는, 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]이 좁아지도록 변형하는 경우가 있다. 본 실시예에 의하면, 보지체(41)가 배치되는 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]을, 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]보다 넓게 구성하고 있다. 그 때문에, 환상부(42R)가 변형하여 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]이 좁아졌다고 하더라도, 보지체(41)와 환상부(42R)는 간섭(접촉)하기 어렵게 구성되어 있고, 보지체(41)의 전단이 억제된다.The meandering
한편, 만일 각 골짜기부(42b)의 말단에 보지체 지지부(42c)가 설치되지 않고, 각 골짜기부(42b) 내에 보지체(41)가 직접 배치되는 것으로 하면, 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]이 좁아짐으로써 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)하여 어느 한 쪽이 손상을 받거나, 보지체(41)가 골짜기부(42b) 사이에 놓여 전단되어 버리는 경우가 있다.On the other hand, if the
(b) 또한, 상술한 바와 같이 구성된 결과, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이, 종래보다 크게 확보된다. 즉, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이, 최대로 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]에 상당하는 크기까지 확보된다. 그 결과, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 주방향으로 신장되었다고 하더라도, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)해버리는 것이 억제되고, 보지체(41)의 누락 등이 억제된다. 또한, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)하기 어렵기 때문에, 환상부(42R)에 가해지는 압축 응력이 저감되고, 환상부(42R)의 변형, 균열 혹은 단락 등이 억제된다.(b) In addition, as a result of the above-described configuration, the operation value along the main direction of the
도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 발열체의 열변형의 모습을 나타내는 개략도이고, (a)는 승온 전의 모습을, (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다. 도 18에 의하면, 영역 A10에 나타내는 바와 같이, 폭이 넓은 절결부로서 구성된 보지체 지지부(42c)를 설치함으로써, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이 크게 확보되고, 환상부(42R)와 보지체(41)와의 간섭(접촉)이 억제되며, 보지체(41)의 누락 등이 억제된다. 또한, 환상부(42R)에 가해지는 압축 응력이 저감되고, 환상부(42R)의 변형, 균열 혹은 단락 등이 억제된다. 한편, 상술한 바와 같이, 만일 환상부(42R)가 변형했다고 하더라도, 보지체(41)를 보지체 지지부(42c)에 배치함으로써 보지체(41)는 골짜기부(42b) 사이에 놓이기 어렵게 구성되어 있고, 보지체(41)의 파손이나 전단은 억제된다.18 is a schematic view showing a state of thermal deformation of the heating element according to the first embodiment of the present invention, (a) shows the state before the temperature rise, and (b) shows the state after the temperature rise. According to FIG. 18, as shown to the area | region A10, by providing the holding
참고로, 보지체 지지부(42c)를 구비하지 않은 발열체의 열변형의 모습을, 도 17을 이용하여 설명한다.For reference, the state of the thermal deformation of the heating element without the
도 17의 (a)는, 보지체 지지부(42c)를 구비하지 않은 환상부(42R')의 승온 전의 모습을 도시하고 있다. 환상부(42R')의 상하단에는, 산형부(42a')와 골짜기부(42b')가 각각 교대로 복수 연결되어 있고, 환상부(42R')는 사행 형상(파 형상)으로 형성되어 있다. 환상부(42R')는, 보지체(41')에 의해 각 골짜기부(42b')가 단열체의 내주 측벽에 각각 고정됨으로써, 단열체(도시하지 않음)의 내주 측에 보지되어 있다. 한편, 보지체(41')는 골짜기부(42b') 내에 직접 배치되어 있다. 도 17의 (b)는, 환상부(42R')의 승온 후의 모습을 도시하고 있다. 상술한 바와 같이, 사행 형상의 환상부(42R')는 열팽창에 의해 주방향으로 신장되게 된다. 도 17의 (b)는, 환상부(42R')의 주방향의 신장량이 일정량을 넘고, 환상부(42R')의 주방향을 따른 동작값이 없어진 모습[보지체(41')와 환상부(42R')가 간섭하고 있는 모습]을 도시하고 있다.FIG. 17 (a) shows a state before the temperature increase of the
환상부(42R')가 더 신장되면 도 17의 (c)에 도시되는 상태가 된다. 도 17의 (c)는 열변형에 의해 보지체(41')의 전단, 환상부(42R')의 분열, 환상부(42R')의 단락이 발생한 모습을 도시하고 있다. 상술한 바와 같이, 주방향의 신장량이 일정량을 넘으면, 보지체(41')가 환상부(42R')에 간섭하고, 환상부(42R')에 소성 응력이 가해지며, 환상부(42R')가 변형하게 된다. 부호 A6로 도시되는 영역에는, 보지체(41')가 골짜기부(42b')에 의해 양측으로부터 사이에 놓여 전단되는 모습을, 부호 A7에 도시되는 영역에는, 환상부(42R')에 균열이 발생한 모습을, 부호 A8로 도시되는 영역에는, 환상부(42R')에 단락이 발생한 모습을 각각 도시하고 있다. 도 16의 (d)는, 도 17의 (c)에 도시되는 환상부(42R')의 측면도이고, 열변형에 의해 보지체(41')의 누락이 생기는 모습을 도시하고 있다. 부호 A9로 도시되는 영역에는, 환상부(42R')의 변형에 의해 보지체(41')가 단열체로부터 들어올려지고, 뽑히려는 모습을 도시하고 있다.If the
(c) 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)의 외주면과 측벽부(35)의 내주면은, 도 19의 (b)에 도시되는 바와 같이, 접촉하지 않고 소정의 간격[제3폭(c)]을 비우고 고정되도록 구성되어 있다.(c) According to the present embodiment, the outer circumferential surface of the
이와 같이 구성된 결과, 환상부(42R)의 반경 방향을 따라 소정의 크기의 동작값이 확보되게 된다. 즉, 환상부(42R)는, 환상부(42R)의 반경 방향을 따라 최대로 제3폭(c)에 상당하는 동작값이 확보되면서 고정되게 된다. 그 결과, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 반경 방향으로 신장되었다고 하더라도, 이러한 신장량이 상술한 동작값[최대로 제3폭(c)] 미만이면, 환상부(42R)와 단열체(33)의 내주벽과의 접촉이 억제된다. 그리고, 환상부(42R)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)이나 환상부(42R)의 용단을 억제할 수 있고, 환상부(42R)나 단열체(33)의 수명을 길게 하는 것이 가능하게 된다. 또한, 처리실(14) 내의 온도 분포를 균일화시키는 것이 가능하게 된다. As a result of this configuration, an operation value of a predetermined size is secured along the radial direction of the
(d) 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)의 상하단에 설치된 각 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)의 폭을 넓혀서 보지체 지지부(42c)를 설치함으로써, 상술한 효과 중 적어도 하나 이상의 효과를 얻는 것이 가능하게 된다. 즉, 환상부(42R)의 표면적(발열 면적)을 크게 줄이는 일 없이[히터 유닛(30)의 가열 성능을 저하시키지 않고], 상술한 효과 중 적어도 하나 이상의 효과를 얻는 것이 가능하게 된다. (d) According to the present embodiment, at least one of the effects described above is provided by increasing the width of the distal end (curve) of each
(e) 본 실시예에 의하면, 각 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)의 폭을 넓혀서 보지체 지지부(42c)를 설치함으로써, 각 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)에 있어서의 전류 밀도의 분산을 꾀할 수 있고, 환상부(42R)의 수명을 길게 하는 것이 가능하게 된다. 또한, 환상부(42R) 내에 있어서의 온도차를 작게 할 수 있고, 기판 처리 시의 기판의 온도 균일성을 향상시키는 것이 가능하게 된다. (e) According to the present embodiment, the width of the ends (corners) of the
도 20는 보지체 지지부를 구비하지 않은 환상부(42R') 내에 있어서의 전류 경로 C를 예시하는 개략도이고, 도 21은 본 발명의 제1 실시예에 따른 환상부(42R) 내에 있어서의 전류 경로 C를 예시하는 개략도이다.20 is a schematic diagram illustrating a current path C in the
도 20에 의하면, 골짜기부(42b')의 말단(곡저부)에 있어서 전류는 급커브를 그리도록 흐르는 것을 알 수 있다. 즉, 골짜기부(42b')의 말단(곡저부)에서는 전류 밀도가 높아지고, 말단 이외의 부분과 비교하여 발열량이 커져, 국소적으로 온도가 상승하기 쉽게 되는 것을 알 수 있다. 환상부(42R') 내에 있어서의 온도차가 커지면, 열팽창량의 차이에 의해 환상부(42R')에 소성 응력이 가해지고, 환상부(42R')가 변형하여 파손될 가능성이 있다. According to FIG. 20, it turns out that an electric current flows in the end (curve part) of
도 21에 의하면, 골짜기부(42b)의 말단[곡저부]에 있어서 직경이 큰 보지체 지지부(42c)가 설치되어 있고, 골짜기부(42b)의 말단에 있어서 전류는 비교적 완만한 커브를 그리도록 흐르는 것을 알 수 있다. 즉, 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)에서는 도 20의 경우와 비교하여 전류 밀도를 낮게 할 수 있고, 다른 부분의 발열량과의 차이를 작게 하며, 국소적인 온도 상승을 억제할 수 있는 것을 알 수 있다. 환상부(42R) 내에 있어서의 온도차가 작아지면, 열팽창량의 차이에 의해 환상부(42R)에 가해지는 소성 응력이 작아지고, 환상부(42R)의 변형이나 파손이 억제된다. 또한, 환상부(42R) 내에 있어서의 온도차를 작게 할 수 있고, 기판 처리 시의 기판의 온도 균일성을 향상시키는 것이 가능하게 된다. According to FIG. 21, the
한편, 바람직하게는, 보지체 지지부(42c)의 형상을 타원형으로 하면 좋다. 이와 같이 구성함으로써, 전기 밀도를 더욱 분산시킬 수 있다. 또한, 보지체 지지부(42c) 주변의 강도를 증대시킬 수 있다. 또한, 발열체(42)의 면적을 증대시키는 것이 가능하다.On the other hand, Preferably, the shape of the holding
(6) 변형예(6) Modification
이하에, 본 실시예의 변형예에 대해 설명한다.Below, the modification of this embodiment is demonstrated.
(변형예)(Variation)
본 발명에 따른 보지체 지지부(42c)는, 상술한 실시예와 같이 타원 형상인 경우에 한정되지 않고, 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]보다 큰 직경[제2폭(b)과 동일한 크기의 직경]을 갖는 원형이 절결부로서 형성되어 있어도 좋다. 도 22의 (a)는 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따른 환상부(42R)의 부분 확대도이고, (b)는 확대 부분의 측면도이다.The holding
본 변형예에 의하면, 환상부(42R)의 상하 방향을 따른 동작값이, 종래보다 크게 확보된다. 즉, 환상부(42R)의 상하 방향을 따른 동작값을, 최대로 보지체 지지부(42c)의 직경[제2폭(b)]에 상당하는 크기로 하는 것이 가능하게 된다. 그 결과, 환상부(42R)가 열팽창에 의해 상하 방향으로 편차가 있다고 하더라도, 이러한 편차량이 상술한 동작값[최대로 제1폭(c)] 미만이면, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)해버리는 것이 억제된다. 그 결과, 보지체(41)의 누락 등이 억제된다. 또한, 환상부(42R)에 가해지는 압축 응력이 저감되고, 환상부(42R)의 변형, 균열 혹은 단락 등이 억제된다.According to this modification, the operation value along the up-down direction of the
또한, 본 변형예에 의하면, 보지체 지지부(42c)가 골짜기부(42b)의 폭[제1폭(a)]보다 큰 직경[제2폭(b)과 동일한 크기의 직경]을 갖는 원형의 절결부로서 형성됨으로써, 각 골짜기부(42b)의 말단(곡저부)에 있어서의 전류 밀도의 분산을 더욱 꾀할 수 있다. 즉, 각 골짜기부(42b)의 말단에 있어서 전류는 더욱 완만한 커브를 그리도록 흐르게 되고, 환상부(42R)의 변형이나 파손이 더욱 억제되고, 기판에 전도(傳導)하는 온도를 균일하게 할 수 있으며, 기판 처리의 온도 균일성이 더욱 향상된다. Further, according to this modification, the
(다른 변형예)(Another modification)
발명자 등의 검토에 의하면, 한 쌍의 급전부(45, 46)가 단열체(33)에 고정되어 있는 경우, 열팽창에 의한 환상부(42R)의 각 부의 위치 편차량은, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 누적되어 커진다. 이러한 경우, 환상부(42R)의 동작값은, 환상부(42R)의 전주(全周)에 걸쳐 균등할 필요는 없고, 위치 편차량이나 위치 편차 방향에 따라 적절히 조정하면 된다. 본 변형예에서는, 보지체 지지부(42c)의 폭(혹은 직경)을, 환상부(42R)의 전주에 걸쳐 균등한 크기로 하지 않고, 위치 편차량이나 위치 편차 방향에 따라 국소적으로 변동시키고 있다. 예컨대, 보지체 지지부(42c)의 폭을, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정하고 있다.According to the inventor's examination, when the pair of
도 23의 (a)는 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따른 히터 유닛(30)의 부분 확대도이고, 도 23의 (b)는 부호 A1로 도시되는 영역에 있어서의 환상부(42R)의 부분 확대도이고, 도 23의 (c)는 부호 A2로 도시되는 영역에 있어서의 환상부(42R)의 부분 확대도이다. 도 23에 의하면, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 먼 영역(예컨대 부호 A2로 도시되는 영역)에 있어서의 보지체 지지부(42c)의 폭[제1폭(a2)]은, 한 쌍의 급전부(45, 46)에 가까운 영역(예컨대 부호 A1로 도시되는 영역)에 있어서의 보지체 지지부(42c)의 폭[제1폭(a1)]보다 크게 설정되어 있다.FIG. 23A is a partially enlarged view of the
본 변형예에 의하면, 환상부(42R)의 각 부에 있어서 필요한 동작값을 각각 확보하고, 환상부(42R)와 보지체(41)와의 간섭(접촉)을 억제하면서, 환상부(42R)의 각 부에 있어서 불필요한 동작값을 각각 줄이고, 환상부(42R)의 보지의 안정성을 높이는 것이 가능하게 된다. 한편, 만일 도 23에 있어서, 보지체 지지부(42c)의 폭을 환상부(42R)의 전체에 걸쳐 균등하게 제1폭(a2)으로 하면, 한 쌍의 급전부(45, 46) 근방의 환상부(42R)의 신장값이 너무 커지고, 환상부(42R)의 보지가 불안정하게 되어버린다. 또한, 보지체 지지부(42c)의 폭을 환상부(42R)의 전체에 걸쳐 균등하게 제1폭(a1)으로 하면, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어진 환상부(42R)의 신장값이 너무 작아지고, 환상부(42R)와 보지체(41)가 간섭(접촉)하기 쉬워지며, 환상부(42R)에 소성 응력이 가해지기 쉽게 되어버린다.According to the present modification, the necessary operating values in the respective portions of the
또한, 본 변형예에 의하면, 각 보지체 지지부(42c)의 크기를 각각 필요최소한으로 함으로써, 환상부(42R)의 표면적(발열 면적)을 불필요하게 줄이는 경우가 없어지고, 히터 유닛(30)의 가열 성능의 저하를 억제할 수 있다.In addition, according to the present modification, the size of each holding
참고로, 환상부(42R)의 열변형의 모습을 도 8, 도 9를 참조하면서 설명한다.For reference, the state of thermal deformation of the
도 8은, 환상부(42R)의 팽창 방향을 도시되는 개략도이다. 도 8에 도시되는 바와 같이, 한 쌍의 급전부(45, 46)가 단열체(33)에 고정되어 있기 때문에, 환상부(42R)의 각 부는, 동심원 형상으로 팽창하는 것이 아니라, 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역(부호 A1으로 도시되는 영역)을 기점으로 도면에서 화살표로 도시되는 각 방향으로 각각 팽창하게 된다. 이 때문에, 환상부(42R)의 각 부의 위치 편차량은, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 누적되어 커진다. 8 is a schematic view showing the expansion direction of the
도 9는 환상부(42R)의 열팽창에 관한 측정 결과를 도시되는 개략도이다. 도 9에 도시되는 측정에서는, 20℃~1220℃의 온도 영역에서 선팽창 계수가 15×10-6인 칸탈 APM(KANTHAL APM)(등록상표)에 의해 환상부(42R)를 작성했다. 한편, 20℃일 때의 환상부(42R)의 직경은 481mm로 했다. 그리고 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역을 고정하면서, 환상부(42R)를 20℃에서 1220℃까지 승온했다. 승온에 의한 직경의 신장량=[환상부(42R)의 길이]×(1220-20)×15×10-6mm이며, 1220℃일 때의 환상부(42R)의 직경은 490.2mm였다. 환상부(42R)의 각 부의 위치 편차량은, 도시하는 바와 같이, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 서서히 커지고(부호 A1으로 도시되는 영역을 기점으로 3.8mm, 6.5mm, 8.6mm), 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 멀어진 개소에서 최대(9.2mm)로 되었다. 한편, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 멀어진 개소에서는, 주방향으로는 거의 위치 편차가 없고, 반경 방향으로만 위치 편차가 있게 된다. 그 때문에, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 멀어진 개소에서는, 보지체 지지부(42c)의 폭을 도 23의 (c)에서 도시되는 정도로는 확대하지 않아도 된다. 9 is a schematic view showing a measurement result regarding thermal expansion of the
(다른 변형예)(Another modification)
본 변형예에 있어서는, 보지체 지지부(42c)와 보지체(41)와의 상대 위치를, 환상부(42R)에 있어서의 전주 각 부 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정하고 있다. 즉, 보지체 지지부(42c)의 폭을 국소적으로 변동시키는 것이 아니라, 보지체 지지부(42c)에 배치하는 보지체(41)의 위치를 조정함으로써, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값을 국소적으로 변동시키고 있다.In this modification, the relative position of the holding
도 24의 (a)는 본 발명의 제1 실시예의 변형예에 따른 히터 유닛(30)의 부분 확대도이고, 도 24의 (b)는 부호 A3으로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이고, 도 24의 (c)는 부호 A4로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이고, 도 24의 (d)는 부호 A5로 도시되는 영역에 있어서의 환상부의 부분 확대도이다.FIG. 24A is a partially enlarged view of the
도 24의 (b)에 도시되는 바와 같이, 부호 A3으로 도시되는 영역[한 쌍의 급전부(45, 46) 부근]에서는, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값은 최소이면 되기 때문에, 보지체 지지부(42c)의 중심으로 보지체(41)의 단부를 배치하는 것으로 하고 있다. 이러한 경우, 부호 A3으로 도시되는 영역에 있어서의 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값은, 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]의 반절 정도가 된다.As shown in Fig. 24B, in the region indicated by reference numeral A3 (near the pair of
또한, 도 24의 (c)에 도시되는 바와 같이, 부호 A4에 도시되는 영역[한 쌍의 급전부(45, 46) 부근으로부터 멀어진 개소]에서는, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값이 필요하게 되기 때문에, 보지체 지지부(42c)의 중심이 아니라, 위치 편차 방향을 따라서 치우친 위치에 보지체(41)의 단부를 배치하는 것으로 하고 있다. 보지체(41)의 단부를 보지체 지지부(42c)의 가장자리부까지 치우치게 함으로써, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값을 최대로 제2폭(b)을 확보하는 것이 가능하게 된다.In addition, as shown in Fig. 24C, in the region indicated by reference numeral A4 (a position away from the vicinity of the pair of
또한, 도 24의 (d)에 도시되는 바와 같이, 부호 A5로 도시되는 영역에서는, 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값은 최소이면 되기 때문에, 보지체 지지부(42c)의 중심에 보지체(41)의 단부를 배치하는 것으로 하고 있다. 상술한 바와 같이, 부호 A5로 도시되는 영역[한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 멀어진 개소]에서는, 주방향으로는 실질적으로 위치 편차가 없고, 반경 방향으로만 크게 위치 편차가 있기 때문이다. 이러한 경우, 부호 A5로 도시되는 영역에 있어서의 환상부(42R)의 주방향을 따른 동작값은, 도 24의 (b)의 경우와 마찬가지로 보지체 지지부(42c)의 폭[제2폭(b)]의 반절 정도가 된다.In addition, as shown in Fig. 24D, in the region indicated by reference numeral A5, since the operation value along the main direction of the
본 변형예에 의하면, 환상부(42R)의 각 부에 있어서 필요한 동작값을 각각 확보하여 환상부(42R)와 보지체(41)와의 간섭(접촉)을 억제하고, 환상부(42R)에 가해지는 소성 응력을 저감할 수 있다. 또한, 환상부(42R)의 각 부에 있어서 불필요한 동작값을 각각 줄이고, 환상부(42R)의 보지의 안정성을 높이는 것이 가능하게 된다. 또한, 보지체 지지부(42c)의 크기를 환상부(42R)의 전주에 걸쳐 일정하게 하면 되기 때문에, 환상부(42R)의 제조 비용을 저감시키는 것이 가능하게 된다. According to this modification, the necessary operating values are secured in each part of the
<제2 실시예><2nd Example>
이하, 본 발명의 제2 실시예에 대해 도면을 참조하면서 설명한다.Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
도 25는 본 발명의 제2 실시예에 따른 기판 처리 장치의 수직 단면도이다. 도 26은 본 발명의 제2 실시예에 따른 발열체의 사시도이다. 도 27의 (a)는 본 발명의 제2 실시예에 따른 환상부의 부분 확대도이고, 도 27의 (b)는 확대 부분의 측면도이다. 도 28는 본 발명의 제2 실시예에 따른 환상부를 보지한 단열체의 부분 확대도이고, 도 28의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 28의 (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다.25 is a vertical sectional view of the substrate processing apparatus according to the second embodiment of the present invention. 26 is a perspective view of a heating element according to a second embodiment of the present invention. FIG. 27A is a partially enlarged view of the annular portion according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 27B is a side view of the enlarged portion. FIG. 28 is a partially enlarged view of the heat insulating body holding the annular portion according to the second embodiment of the present invention, FIG. 28 (a) shows the state before the temperature increase, and FIG. 28 (b) shows the state after the temperature increase, respectively. have.
(1) 발열체 및 단열체의 구성(1) Composition of heating element and heat insulator
본 실시예에 따른 기판 처리 장치는, 발열체(42) 및 단열체(33)의 구성이 상술한 실시예와 다르다. 기타의 구성은 상술한 실시예와 같다.In the substrate processing apparatus according to the present embodiment, the configurations of the
본 실시예에 따른 발열체(42)는, 상술한 실시예와 마찬가지로, 산형부(42a)와 골짜기부(42b)가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부(42R)와, 단열체(33)를 관통하여 단열체(33)에 고정되고 환상부(42R)의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부(45, 46)를 포함하고 있다. 본 실시예에 따른 환상부(42R)가 상술한 실시예와 다른 점은, 도 26, 도 27에 도시되는 바와 같이, 환상부(42R) 중 산형부(42a)의 선단(先端)(42d)이, 환상부(42R)의 중심을 향하도록, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)에 대해서 둔각(鈍角)으로 각각 경사(傾斜)하고 있는 점이다.The
본 실시예에 따른 단열체(33)는, 상술한 실시예와 마찬가지로, 환상부(42R)의 외주면을 둘러싸도록 통(筒) 형상으로 형성되어 있다. 본 실시예에 따른 단열체(33)가 상술한 실시예와 다른 점은, 도 5, 도 28에 도시되는 바와 같이, 환상부(42R)를 수용하는 홈(溝) 형상의 수납부(40)가 단열체(33)의 내주면에 설치되어 있는 점이다. 홈 형상의 수납부(40)는, 각 환상부(42R)에 각각 대응하도록, 수직 방향으로 복수 설치되어 있다.The
수납부(40)의 저면(底面, 40e)의 내경(수평방향의 직경)은, 환상부(42R)의 외형(수평방향의 직경)보다 크게 구성되어 있다. 수납부(40)의 개구부의 상하 방향의 폭은, 산형부(42a)를 포함하는 환상부(42R)의 상하 방향의 폭보다 크게 구성되어 있다. 수납부(40)의 저면(40e)의 상하 방향의 폭은, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)의 상하 방향의 폭보다 작게 구성되어 있다. 수납부(40)의 양 측벽(상하의 한 쌍의 측벽, 40d)은, 홈 형상의 수납부(40)의 저면(40e)에 대해서 둔각으로 각각 경사하고 있다. 즉, 수납부(40)는 그 상하 방향의 폭이 원통 형상의 단열체(33)의 외경 방향(원통의 중심과 반대 방향)으로 나아감에 따라서[저면(40e)에 가까워짐에 따라서] 점차 좁아지도록 형성되어 있다. 바꾸어 말하면, 수납부(40)의 양 측벽(40d)은 테이퍼면으로서 형성되어 있고, 양 측벽(40d)간의 거리는 저면(40e)에 가까워질수록 작아지고 있다.The inner diameter (horizontal direction diameter) of the
단열체(33)의 측벽부(35)는, 예컨대 도우넛 형상의 단열 블록(36)이 수직 방향으로 복수 적층됨으로써 구성되어 있다. 단열 블록(36)은, 예컨대 섬유 형상 또는 구(球) 형상의 알루미나(Al2O3)나 실리카(SiO2) 등의 단열 재료에 의해 형성되어 있다. 단열 블록(36)은, 예컨대 진공 폼 법 등에 의해 일체적으로 성형되어 있다. 이와 같이, 단열체(33)의 측벽부(35)가 복수의 단열 블록(36)에 의해 구성됨으로써, 홈 형상의 수납부(40)의 형성이나 히터 유닛(30)의 조립이 용이하게 됨과 동시에, 측벽부(35)에 응력이 가해졌을 때의 측벽부(35)[단열 블록(36)]의 파손을 억제하는 것이 가능하게 된다. 또한, 다단으로 적층된 단열 블록(36)이나 발열체(42)의 일부를 부분적으로 꺼내 교환하거나 메인터넌스하는 것도 용이하게 된다. 단, 측벽부(35)는 이러한 구성에 한정되지 않고, 일체적으로 성형되어 있어도 좋다. 또한, 단열 블록(36)은 일체적으로 성형되는 경우로 한정하지 않고, 복수의 도우넛 형상의 단열재에 의해 구성되어 있어도 좋다. The
환상부(42R) 중 산형부(42a)의 선단(42d)의 경사 각도와, 수납부(40)의 양 측벽(40d)의 경사 각도는, 동등한 각도가 되도록 설정되어 있다. 즉, 산형부(42a)의 선단(42d)과 수납부(40)의 양 측벽(40d)과는 실질적으로 평행이 되도록 구성되어 있다. 또한, 도 28의 (a)에 도시되는 바와 같이, 환상부(42R)가 승온 전의 상태(적어도 실온 상태)에 있어서, 산형부(42a)의 선단(42d)과 수납부(40)의 양 측벽(40d)과는 소정의 간격(d1)을 유지하여 접촉하지 않도록 구성되어 있다. 그리고, 도 28의 (b)에 도시되는 바와 같이, 환상부(42R)가 승온되어 반경 방향으로 신장되었을 때, 산형부(42a)의 선단(42d)과 수납부(40)의 양 측벽(40d)이 각각 면에서 접촉하도록 구성되어 있다. 이 때, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)와, 수납부(40)의 저면(40e)은, 소정의 간격(d2)을 유지하여 접촉하지 않도록 구성되어 있다.In the
(2) 본 실시예에 따른 효과(2) effects according to the present embodiment
본 실시예에 의하면, 이하에 도시되는 효과 중 하나 또는 복수의 효과를 발휘한다.According to this embodiment, one or more of the effects shown below are exhibited.
(a) 본 실시예에 의하면, 환상부(42R) 중 산형부(42a)의 선단(42d)의 경사 각도와, 수납부(40)의 양 측벽(40d)의 경사 각도는, 동등한 각도가 되도록 설정되어 있다. 즉, 산형부(42a)의 선단(42d)과 수납부(40)의 양 측벽(40d)은 실질적으로 평행이 되도록 구성되어 있다. 그리고, 환상부(42R)가 승온되어 반경 방향으로 신장되었을 때, 산형부(42a)의 선단(42d)과 수납부(40)의 양 측벽(40d)이 각각 면에서 접촉하도록 구성되어 있다. 그 결과, 환상부(42R)에 압축 응력이 가해지기 어렵게 되고, 환상부(42R)의 변형이 억제된다.(a) According to this embodiment, the inclination angle of the
(b) 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)가 승온되어 반경 방향으로 신장되었을 때, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)와, 수납부(40)의 저면(40e)은, 소정의 간격(d2)을 유지하여 접촉하지 않도록 구성되어 있다. 그리고, 환상부(42R)가 단열체(33)에 접촉하는 것에 의한 환상부(42R)의 국소적인 온도 상승[이상 온도 상승]이나 환상부(42R)의 용단을 회피할 수 있고, 환상부(42R)나 단열체(33)의 수명을 길게 하는 것이 가능하게 된다. 또한, 처리실(14) 내의 온도 분포를 균일화시키는 것이 가능하게 된다.(b) According to the present embodiment, when the
(3) 변형예(3) Modification
상술한 실시예에서는, 수납부(40)의 저면(40e)의 상하 방향의 폭은, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)의 상하 방향의 폭보다 작게 구성되어 있었는데, 본 발명은 이러한 형태에 한정되지 않는다. 예컨대, 수납부(40)에 있어서의 저면(40e)의 상하 방향의 폭이, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)의 상하 방향의 폭보다 크게 형성되고, 수납부(40)에 있어서의 저면(40e)에, 중앙부(42e)의 상하 방향의 폭보다 작은 폭으로 형성된 단차부(段差部)를 설치하는 것으로 해도 무방하다.In the above-described embodiment, the width in the vertical direction of the
도 29는 본 발명의 제2 실시예에 따른 수납부의 변형예를 도시하는 개략도이고, 도 29의 (a)는 환상부를 수용한 수납부의 부분 확대도이고, 도 29의 (b)는 확대 부분의 측면도이다. 도 29에 의하면, 수납부(40)에 있어서의 저면(40e)의 상하 방향의 폭(E2)은, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)의 상하 방향의 폭(E1)보다 크게 설정되어 있다. 또한, 수납부(40)에 있어서의 저면(40e)에는, 중앙부(42e)의 폭(E1)보다 작은 폭으로 형성된 단차부(40f)가 설치되어 있다.FIG. 29 is a schematic view showing a modification of the housing section according to the second embodiment of the present invention, FIG. 29A is a partial enlarged view of the housing section accommodating the annular section, and FIG. 29B is an enlargement diagram. Side view of the part. According to FIG. 29, the width E2 in the vertical direction of the
본 변형예에 의하면, 환상부(42R)가 승온되어 반경 방향으로 신장되고, 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)와, 수납부(40)의 저면(40e)과의 거리(d2)가 제로(zero)가 되었다고 하더라도, 중앙부(42e)는 단차부(40f)에만 접촉하게 되고, 중앙부(42e)와 저면(40e)과의 접촉 면적을 작게 할 수 있다. 그 결과, 중앙부(42e)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)이나 용해(溶解)를 회피하는 것이 가능하게 된다. 특히, 단차부(40f)를, 중앙부(42e)에 있어서의 전류 밀도가 낮은 영역에 접촉시키도록 설치하는 것으로 하면, 중앙부(42e)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)을 보다 효과적으로 회피하는 것이 가능하게 된다.According to this modification, the
<제3 실시예><Third Example>
이하, 본 발명의 제3 실시예에 대해 도면을 참조하면서 설명한다.A third embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
도 6은 본 발명의 제3 실시예에 따른 승온 전의 히터 유닛(30)의 수평 단면도이다. 도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 승온 후의 히터 유닛(30)의 수평 단면도이다.6 is a horizontal sectional view of the
본 실시예에 따른 기판 처리 장치에서는, 도 6에 도시되는 바와 같이, 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 사이의 거리가, 적어도 환상부(42R)가 실온 상태일 때, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정되어 있다(즉, 실온 상태일 때 도면에서 A<B<C가 되도록 설정되어 있다). 또한, 도 7에 도시되는 바와 같이, 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 사이의 거리가, 적어도 환상부(42R)가 기판 처리 시의 온도 상태일 때, 열팽창에 의해 수납부(40) 및 환상부(42R)에 있어서의 전주 각 부가 동등한 거리가 되도록 설정되어 있다(즉, 기판 처리 시의 온도 상태일 때 도면에서 A≒B≒C가 되도록 설정되어 있다).In the substrate processing apparatus according to the present embodiment, as shown in FIG. 6, when the distance between the
발열체(42)의 환상부(42R)는, 온도 상승에 의해 열팽창하거나 반경 방향 및 주방향으로 신장(伸長)한다. 그리고, 환상부(42R)의 반경 방향으로의 신장에 의해, 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 사이의 거리가 환상부(42R)의 전체에 걸쳐 불균일하게 되면, 환상부(42R)의 온도 분포의 균일성이 주방향에 걸쳐 저하해버리는 경우가 있다. 즉, 저면(40e)과 중앙부(42e)가 가까운 개소에서 환상부(42R)의 온도가 이상(異常) 상승하거나, 저면(40e)과 중앙부(42e)가 가까운 개소에서 환상부(42R)의 온도가 저하하는 경우가 있다. 이에 대해서 본 실시예에 의하면, 환상부(42R)가 기판 처리 시의 온도 상태일 때, 열팽창에 의해 수납부(40) 및 환상부(42R)에 있어서의 전체 각 부가 동등한 거리가 되는 것으로부터, 환상부(42R)의 주방향에 걸쳐 균일한 가열을 실현하는 것이 가능하게 된다. The
참고로 환상부(42R)의 열변형의 모습을, 도 16을 참조하면서 설명한다.For reference, a state of thermal deformation of the
도 16은 실온 상태에 있어서 수납부(40)와 환상부(42R)가 동심원 형상이 되도록 했을 경우의 환상부(42R)의 열변형의 모습을 도시되는 개략도이고, 도 16의 (a)는 승온 전의 모습을, 도 16의 (b)는 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다. 도 16의 (a)에 의하면, 승온 전에 있어서 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 사이의 거리가 환상부(42R)의 전주에 걸쳐 균일하다. 그러나 도 16의 (b)에 도시되는 바와 같이, 환상부(42R)를 기판 처리 시의 온도까지 승온시키면, 환상부(42R)는 직경 방향으로 신장하고, 수납부(40)에 있어서의 저면(40e)과, 저면(40e)에 인접하는 환상부(42R) 중 산형부(42a) 선단을 제외한 중앙부(42e)와의 사이의 거리가 환상부(42R)의 전체에 걸쳐 불균일하게 된다(도면에서 A>B>C가 된다). 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46)는 단열체(33)에 고정되어 있기 때문에, 환상부(42R)의 각 부는, 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역(부호 A11에서 도시되는 영역)을 기점으로 팽창한다. 그리고, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라서 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 거리가 서서히 짧아지고, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 멀어진 영역(부호 A12에서 도시되는 영역)에서는 저면(40e)과 중앙부(42e)와의 거리가 최소(본 사례에서는 제로)가 된다. 그 결과, 환상부(42R)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)이 발생하고, 환상부(42R)가 용단해버린다. 또한, 환상부(42R)의 온도 분포의 균일성이 주방향에 걸쳐 저하해버린다.FIG. 16 is a schematic view showing the thermal deformation of the
<본 발명의 다른 실시예><Other Embodiments of the Present Invention>
본 발명의 제3 실시예는, 상술한 실시예와 같이, 골짜기부(42b)의 말단에 절결부로서 형성된 보지체 지지부(42c)가 설치되어 있는 경우로 한정되지 않는다. 즉, 도 20에 예시하는 바와 같이, 산형부(42a')와 골짜기부(42b')가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부(42R')와, 단열체(33)를 관통하여 단열체(33)에 고정되고 환상부(42R')의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부(45, 46)를 포함하는 발열체를 구비한 가열 장치이면, 보지체 지지부(42c)가 설치되지 않은 경우라 하더라도, 본 발명은 적합하게 적용 가능하다. 또한, 산형부(42a')와 골짜기부(42b')가 교대로 복수 연결되지 않은 형태의 환상부, 예컨대 코일 형상의 환상부와, 단열체를 관통하여 단열체에 고정되고 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 구비한 가열 장치라 하더라도, 본 발명은 적합하게 적용 가능하다.The third embodiment of the present invention is not limited to the case where the
<제4 실시예><Fourth Embodiment>
이하에, 본 발명의 제4 실시예의 히터 유닛의 구성에 대해서 도면을 참조하면서 설명한다. Below, the structure of the heater unit of 4th Example of this invention is demonstrated, referring drawings.
(2) 히터 유닛의 구성(2) Configuration of the heater unit
아우터 튜브(12)의 외부에는, 프로세스 튜브(11)의 내부를 가열하는 가열 장치로서의 히터 유닛(30)이 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록 설치되어 있다. 히터 유닛(30)은, 환 형상으로 형성된 발열체(42)와, 발열체(42)의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체(33)와, 발열체(42)의 양단에 각각 접속되는 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)와, 단열체(33)의 외측을 둘러싸는 케이스(31)를 구비하고 있다. Outside the
발열체(42)는, 아우터 튜브(12)의 주위를 둘러싸도록, 연직 방향에 적어도 1개 이상 설치되어 있다. 도 2, 도 3에서 도시하는 바와 같이, 발열체(42)는, 아우터 튜브(12)의 외주를 둘러싸도록 환 형상으로 구성되어 있다. 발열체(42)의 양단부는, 접촉하지 않고 근접하여 고정되어 있어, 전기적으로는 비접촉의 상태로 되어 있다. 즉, 발열체(42)는, 전기적으로는 완전한 원형이 아닌, 예컨대 C자 모양의 링 형상으로 구성되어 있다. 발열체(42)를 구성하는 재료로서는, 예컨대 Fe-Cr-Al합금, MoSi2, SiC 등의 저항 발열 재료를 이용할 수 있고, 그 형상은, 도 4의 (a)에서 도시하는 바와 같이 선 형상 재료이어도 좋고, 도 4의 (b)에서 도시하는 바와 같이 판 형상 재료이어도 좋다. 한편, 도 2, 도 3, 도 5에서 도시하는 바와 같이, 발열체(42)의 상하단에는, 산형부(돌출부)(42a)와 골짜기부(절결부)(42b)가 각각 교대로 복수 연결되어 있다. 즉, 발열체(42)는 사행 형상(파 형상)으로 형성되어 있다. At least one
상술한 발열체(42)의 양단부에는, 한 쌍의 급전부(45, 46)의 단부가 각각 접속되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 후술하는 단열체(33)[측벽부(35)]를 관통하여 단열체(33)에 고정되어 있다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46)는, 발열체(42)를 단열체(33)의 내벽에 고정하는 고정부로서 기능한다. 도 5의 (a)에, 발열체(42)의 중심측에서 본[프로세스 튜브(11)측에서 본] 급전부(45, 46) 주변의 부분 확대도(평면도)를 도시한다. 이처럼, 발열체(42)는, 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)에 의해, 1개소[발열체(42)의 단부] 만으로 고정되어 있다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46) 이외에서는, 핀 등의 보지체를 이용한 고정을 수행하지 않도록 하고 있다. End portions of the pair of
한 쌍의 급전부(45, 46)는, 금속 등의 전도성 재료에 의해 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재하여 발열체(42)의 일단에서 타단을 향해 전류를 흘리는 것으로, 발열체(42)가 가열되어서 프로세스 튜브(11) 안이 승온되도록 구성되어 있다. 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재한 발열체(42)로의 급전은, 컨트롤러(280)에 의해 제어된다. The pair of
단열체(33)는, 발열체(42)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다. 단열체(33)는, 상하단이 개구한 원통 형상의 측벽부(35)와, 측벽부(35)의 상부 개구를 덮는 천정벽부(34)를 구비하고 있고, 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 단열체(33)는, 아우터 튜브(12)에 대하여 동심원 형상으로 설치되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 예컨대, 섬유 형상 또는 구 형상의 알루미나(Al2O3)나 실리카(SiO2) 등의 단열 재료에 의해 형성되어 있다. 측벽부(35)와 천정벽부(34)는, 예컨대 진공 폼 법 등에 의해 일체적으로 성형되어 있다. 한편, 측벽부(35)는, 일체적으로 성형되어 있을 경우에 한정되지 않고, 복수의 원형의 단열재가 복수 쌓아 올려지는 것으로 구성되어 있어도 좋다. 이렇게 구성함으로써, 측벽부(35)에 응력이 가해졌을 때의 측벽부(35)의 파손을 억제하거나, 메인터넌스 성을 향상시키는 것이 가능해진다. The
케이스(31)는, 단열체(33)의 외주를 둘러싸도록 설치되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 상단이 폐색하고 하단이 개구한 원통 형상으로 형성되어 있다. 케이스(31)는, 예컨대 스테인리스강(SUS)으로부터 형성되어 있다. 단열체(33)의 외주면과 케이스(31)의 내주면 사이의 극간(32)은, 공냉을 위한 공간으로서 기능한다. 한편, 천정벽부(34) 및 케이스(31)의 천정벽을 관통하는 배기구를 설치하여, 단열체(33)와 아우터 튜브(12) 사이의 분위기를 강제 공냉시키도록 구성해도 좋다. The
발열체(42)는, 가열되면 열팽창에 의해 주방향이나 반경 방향으로 신장되는 특성이 있다. 그 결과, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽이 접촉·간섭되는 일이 있다. 특히, 본 실시예와 같이 발열체(42)가 사행 형상으로 형성되어 있으면, 신장량이 커지고, 접촉이 생기기 쉬워진다. 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽이 접촉·간섭하면, 발열체(42)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)이 발생하여, 발열체(42)가 용단 되어 버리는 일이 있다. 또한, 발열체(42)나 단열체(33)에 응력이 가해져, 이들 부재의 손상이 생기게 될 우려가 있다. 또한, 발열체(42)의 반경 방향에의 신장에 의해서, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 불균일하게 되면, 발열체(42)의 온도 분포의 균일성이 주방향에 걸쳐 저하하고, 기판 처리의 품질이 저하될 경우가 있다. 즉, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 거리가 가까운 개소에서 발열체(42)의 온도가 이상 상승하거나, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 거리가 먼 개소에서 발열체(42)의 온도가 저하되는 일이 있다. The
그래서 본 실시예에서는, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 고정부로서의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커지도록 함으로써, 상술의 과제를 해결하고 있다. 도 6은, 본 실시예에 따른 승온 전의(실온 상태의) 히터 유닛(30)의 수평 단면도이다. 도 6에서 도시하는 바와 같이, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에는, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 서서히 커지고, 도면에서는 A <B <C로 되어 있다. Thus, in the present embodiment, at least when the
이 상태로, 발열체(42)를 예컨대 기판 처리시의 온도로까지 승온하면, 발열체(42)의 각 부는, 열팽창에 의해 도 8에 도시된 방향으로 신장한다. 도 8은, 발열체(42)의 각 부의 변위 방향 및 변위량을, 화살표의 방향 및 길이로 각각 도시하고 있다. 발열체(42)가 한 쌍의 급전부(45, 46)에 의해 1개소로 고정되어 있기 때문에, 발열체(42)의 각 부는, 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역(부호 A1로 나타낸 영역)을 기점으로 하여, 외측으로 부풀어 오르도록(한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어지도록) 변위한다. 한편, 발열체(42)의 변위량은, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커진다. In this state, when the
그 결과, 적어도 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 된다. 도 7은, 본 실시예에 따른 승온 후의(기판 처리시의 온도 상태의) 히터 유닛(30)의 수평 단면도다. 도 7에서 도시하는 바와 같이, 적어도 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에는, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 열팽창에 의해 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 되고, 도면에서는 A≒B≒C로 되어 있다. As a result, at least when the
(3) 기판 처리 공정에 대해서는, 실시예 1과 동일하다.(3) About a substrate processing process, it is the same as that of Example 1.
(4) 본 실시예에 따른 효과 (4) effects according to the present embodiment
본 실시예에 의하면, 이하에 도시된 (a)∼ (c) 가운데 하나 또는 복수의 효과를 발휘한다. According to this embodiment, one or more of the effects (a) to (c) shown below are exhibited.
(a) 본 실시예에 의하면, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 고정부로서의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 커지도록 하고 있다. 그 결과, 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 사이의 거리가, 열팽창에 의해 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 된다. 이로 인해, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽과의 불필요한 접촉·간섭을 방지할 수 있다. 그리고 히터 유닛(30)의 구성 부재의 손상을 억제할 수 있다. 예컨대, 발열체(42)의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)의 발생을 방지할 수 있고, 발열체(42)의 용단을 회피할 수 있다. 또한 예컨대, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽이 접촉하지 않게 됨으로써, 이들 부재에 가해지는 응력을 저감할 수 있다. (a) According to the present embodiment, at least when the
(b) 본 실시예에 의하면, 적어도 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 열팽창에 의해 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 된다. 그 결과, 웨이퍼(1)에 대하여, 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 균일하게 가열할 수 있다. 그 결과, 기판 처리의 면내(面內) 균일성을 향상시킬 수 있다. (b) According to the present embodiment, at least when the
(c) 본 실시예에 의하면, 발열체(42)를, 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)에 의해 1개소(단부)만으로 고정하고 있다. 즉, 한 쌍의 급전부(45, 46) 이외에서는, 핀 등의 보지체를 이용한 고정을 수행하지 않도록 하고 있다. 그 결과, 열팽창에 의한 발열체(42)의 손상이나 단락 등을 억제할 수 있다. 즉, 본 실시예에 따른 발열체(42)는, 급전부(45, 46)와의 접속 개소 이외의 부위에서는 구속되어 있지 않아 열팽창이 방해되지 않기 때문에, 발열체(42)나 보지 부재에 가해지는 응력을 저감할 수 있고, 그 결과, 발열체(42)의 변형, 손상, 단락 등을 억제할 수 있다. (c) According to the present embodiment, the
참고로, 실온 상태에 있어서 발열체(42')와 단열체(33')의 내벽이 동심원 형상이 되도록 했을 경우의 발열체(42')의 열변형의 모습을, 도 16을 이용하여 설명한다. For reference, the state of heat deformation of the heat generating element 42 'when the inner wall of the heat generating element 42' and the heat insulating body 33 'becomes concentric in a room temperature state is demonstrated using FIG.
도 16의 (a)는 발열체(42')의 승온 전의 모습을, 도 16의 (b)는 발열체(42')의 승온 후의 모습을 각각 도시하고 있다. 도 16의 (a)에 의하면, 승온 전에 있어서는 발열체(42')와 단열체(33')의 내벽과의 사이의 거리는 발열체(42')의 전주에 걸쳐 균일하다. 그러나, 도 16의 (b)에 도시된 바와 같이, 발열체(42')를 예컨대 기판 처리시의 온도로까지 승온하면, 발열체(42')는 경(徑)방향으로 신장하고, 발열체(42')와 단열체(33')의 내벽 사이의 거리는 발열체(42')의 주방향에 걸쳐 불균일하게 된다 (도면에서는 A>B>C가 된다). 즉, 한 쌍의 급전부(45', 46')는 단열체(33')에 고정되어 있기 때문에, 발열체(42')의 각 부는, 한 쌍의 급전부(45', 46') 부근의 영역을 기점으로 팽창한다. 그리고 한 쌍의 급전부(45', 46')로부터 멀어짐에 따라 발열체(42')와 단열체(33')의 내벽 사이의 거리가 서서히 짧아지고, 한 쌍의 급전부(45', 46')로부터 가장 떨어진 영역에서 발열체(42')와 단열체(33')가 접촉되어 버리는 일이 있다. 그 결과, 발열체(42')의 국소적인 온도 상승(이상 온도 상승)이 발생하고, 발열체(42')가 용단되어 버리는 일이 있다. 또한, 발열체(42') 등에 가해지는 응력이 증가하고, 이들 부재가 손상되는 일이 있다. 또한, 발열체(42')의 온도 분포의 균일성이 저하되는 경우가 있다. FIG. 16 (a) shows the state before the heating of the heating element 42 ', and FIG. 16 (b) shows the state after the heating of the heating element 42'. According to FIG. 16A, before the temperature is raised, the distance between the heating element 42 'and the inner wall of the heat insulator 33' is uniform over the entire circumference of the heating element 42 '. However, as shown in Fig. 16B, when the heating element 42 'is raised to a temperature at the time of substrate processing, for example, the heating element 42' extends in the radial direction, and the heating element 42 ' ) And the inner wall of the heat insulating body 33 'become nonuniform over the circumferential direction of the heat generating body 42' (it becomes A> B> C in drawing). That is, since the pair of feed parts 45 'and 46' are fixed to the heat insulator 33 ', each part of the heat generating element 42' is located near the pair of feed parts 45 'and 46'. Expand the area to its starting point. As the distance from the pair of feeders 45 'and 46' is increased, the distance between the heating element 42 'and the inner wall of the heat insulator 33' is gradually shortened, and the pair of feeders 45 'and 46' is shortened. ), The heat generating element 42 'and the heat insulator 33' may come into contact with each other in the region farthest away from the? As a result, a local temperature rise (abnormal temperature rise) of the heat generating element 42 'may occur, and the heat generating element 42' may be melted. In addition, the stress applied to the heating element 42 'or the like increases, and these members may be damaged. Moreover, the uniformity of the temperature distribution of the heat generating body 42 'may fall.
또한, 참고로, 복수의 보지체(41')에 의해 각 단열체의 내벽에 고정되어, 열팽창에 의한 각 부의 변위가 규제된 발열체(42')의 모습을, 도 17을 이용하여 설명한다. In addition, the state of the heat generating body 42 'which is fixed to the inner wall of each heat insulating body by the some holding body 41', and the displacement of each part by thermal expansion is regulated is demonstrated using FIG.
도 17의 (a)은, 발열체 (42')의 승온 전의 모습을 도시하고 있다. 발열체(42') 상하단에는, 산형부(42a')와 골짜기부(42b')가 각각 교대로 복수 연결되어 있고, 발열체(42')는 사행 형상(파 형상)으로 형성되어 있다. 발열체(42')는, 보지체(41')에 의해 각 골짜기부(42b')가 단열체(도시하지 않음)의 내주 측벽에 각각 고정됨으로써, 단열체의 내주 측에 보지되어 있다. 한편, 보지체(41')는 골짜기부(42b') 내에 직접 배치되어 있다. 도 17의 (b)는, 발열체(42')의 승온 후의 모습을 도시하고 있다. 상술한 것 같이, 사행 형상의 발열체(42')는 열팽창에 의해 주방향으로 신장하게 된다. 도 17의 (b)는 발열체(42')의 주방향의 신장량이 일정량을 넘고, 발열체(42')의 주방향을 따른 동작값이 없어진 모습[보지체(41')와 발열체(42')가 간섭하고 있는 모습]을 도시하고 있다. 발열체(42')가 더욱 신장하면 도 17의(c)에서 도시하는 상태가 된다. 도 17의 (c)는, 열변형에 의해 보지체(41')의 전단, 발열체(42')의 균열, 발열체(42')의 단락이 생긴 모습을 도시하고 있다. 상술한 바와 같이, 주방향의 신장량이 일정량을 넘으면, 보지체(41')가 발열체(42')에 간섭하고, 발열체(42')에 소성 응력이 가해져, 발열체(42')가 변형하게 된다. 부호 A6에 나타난 영역에는, 보지체(41')가 골짜기부(42b')에 의해 양측으로부터 끼어 전단되는 모습을, 부호 A7에 나타난 영역에는, 발열체(42')에 균열이 발생한 모습을, 부호 A8에 나타난 영역에는, 발열체(42')에 단락이 발생한 모습을 각각 도시하고 있다. 도 17의 (d)는, 도 17의 (c)에 도시되는 발열체(42')의 측면도이고, 열변형에 의해 보지체(41')의 누락이 발생하는 모양을 도시하고 있다. 부호 A9에 나타난 영역에는, 발열체(42')의 변형에 의해 보지체(41')가 단열체로부터 들어올려지고, 뽑히려는 모습을 도시하고 있다. FIG. 17A illustrates a state before the heating element 42 'is heated. A plurality of
<제5 실시예><Fifth Embodiment>
이하에, 본 발명의 제5 실시예에 대해 도면을 참조하면서 설명한다. The fifth embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
본 실시예에서는, 고정부가 1개가 아닌 복수 설치되어 있다. 즉, 발열체(42)는, 고정부로서의 한 쌍의 급전부(45, 46)와 다른 고정부로서의 더미 단자(45d, 46d)를 이용하여, 복수 개소(본 실시예에서는 2개소)로 고정되어 있다. 한편, 한 쌍의 급전부(45, 46) 및 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)는, 발열체(42)를 주방향에 걸쳐 실질적으로 이등분하도록 배치되어 있다. In this embodiment, a plurality of fixing portions are provided instead of one. That is, the
도 10의 (a)는, 본 실시예에 따른 고정부로서의 더미 단자(45d, 46d) 주변의 부분 확대도이고, 도10의 (b)는 확대 부분의 측면도다. 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)는, 발열체(42)에 있어서의 일단부[급전부(45, 46)와의 접속 개소의 반대 측]에 접속됨과 동시에, 단열체(33)[측벽부(35)]를 관통하여 단열체(33)에 고정되어 있다. 즉, 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)는 한 쌍의 급전부(45, 46)와 동일하게 발열체(42)를 단열체(33)의 내벽에 고정하는 고정부로서 기능한다. 한편, 더미 단자(45d, 46d)는, 급전부(45, 46)와 동일하게 금속 등의 도전성 재료에 의해 구성되어 있다. 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)를 개재하여, 발열체(42)의 일단으로부터 타단을 향해 전류를 흘림으로써 발열체(42)가 가열되어서 프로세스 튜브(11) 내부가 승온되도록 구성되어 있다. 한편, 한 쌍의 급전부(45, 46)를 개재한 발열체(42)로의 급전은, 컨트롤러(280)에 의해 제어된다. 한편, 더미 단자(45d, 46d)는, 전력은 공급되지 않도록 구성되어 있어도 좋다. 이 경우, 더미 단자(45d, 46d)는 반드시 도전성 재료로 구성되어 있을 필요는 없고, 내열성의 절연재료로 구성되어 있어도 좋다. FIG. 10A is a partially enlarged view of the vicinity of the
또한, 본 실시예에서는, 적어도 발열체(42)가 실온 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 인접하는 고정부 간의 중앙 위치에서 최대가 되고, 관련 중앙 위치로부터 고정부[한 쌍의 급전부(45, 46) 또는 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)]에 근접함에 따라 작아지도록 설정되어 있다. In the present embodiment, at least when the
도 12는, 본 실시예에 따른 승온 전의 히터 유닛(30)의 수평 단면도이다. 도12에 의하면, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리(도면에서 B)는, 한 쌍의 급전부(45, 46)와 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와의 사이의 중앙 위치에서 각각 최대가 되도록 구성되어 있다. 그리고 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리는, 관련 중앙 위치로부터 급전부(45, 46) 또는 더미 단자(45d, 46d)에 근접함에 따라 서서히 작아지도록 구성되어 있다. 즉, 도면에서는 B>A이고 B>C로 되어 있다. 12 is a horizontal sectional view of the
이 상태로 발열체(42)를 예컨대 기판 처리시의 온도로까지 승온하면, 발열체(42)의 각 부는, 열팽창에 의해 도 14에 도시된 방향으로 신장한다. 도 14는, 발열체(42)의 각 부의 변위 방향 및 변위량을 화살표의 방향 및 길이로 각각 도시하고 있다. 발열체(42)가, 한 쌍의 급전부(45, 46)와, 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)에 의해 2개소로 고정되어 있기 때문에, 발열체(42)의 각 부는, 한 쌍의 급전부(45, 46) 부근의 영역(부호 A2a로 도시된 영역) 및 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d) 부근의 영역(부호 A2b로 도시된 영역)의 각각을 기점으로 하여, 외측으로 부풀어 오르도록(즉 도면에서 상하로 신장하도록) 변위한다. 한편, 발열체(42)의 변위량은, 한 쌍의 급전부(45, 46)와 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와의 사이의 중앙 위치(도면에서 상하단)에 근접함에 따라 커지고, 관련 중간 위치에서 최대가 된다. When the
그 결과, 적어도 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등한 거리가 된다. 도 13은, 본 실시예에 따른 승온 후의(기판 처리시의 온도 상태의) 히터 유닛(30)의 수평 단면도다. 도 13에 나타난 것처럼, 적어도 발열체(42)가 기판 처리시의 온도 상태 시에는, 발열체(42)와 단열체(33)의 내벽 사이의 거리가, 열팽창에 의해 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 동등하게 되고, 도면에서는 A≒B≒C로 되어 있다. As a result, at least when the
본 실시예에 의하면, 제 4의 실시예로 도시된 효과에 더하여, 이하(a)∼(c) 가운데 하나 또는 복수의 효과를 발휘한다. According to this embodiment, in addition to the effects shown in the fourth embodiment, one or more of the following (a) to (c) are exhibited.
(a) 본 실시예에 의하면, 발열체(42)의 최대 변위량을 작게 할 수 있다. 그 결과, 발열체(42)와 단열체(33)와의 접촉을 보다 확실하게 방지할 수 있다. (a) According to this embodiment, the maximum displacement amount of the
도 9는, 제4 실시예에 따른 발열체의 열팽창에 관한 측정 결과를 예시하는 개략도이고, 도 15는, 제5 실시예에 따른 발열체(42)의 열팽창에 관한 측정 결과를 예시하는 개략도이다. 도 9 및 도 15에서 도시된 평가에서는, 모두 실온(20℃)으로 직경φ가 481mm인 환상의 발열체(42)를, 기판 처리 온도인 1220℃로 각각 승온시켜, 발열체(42)의 각 부의 변위량을 측정하였다. 한편, 발열체(42)는, 20℃∼1220℃의 온도 영역에서 선팽창계수가 15×10-6인 캔탈 APM(등록 상표)에 의해, 사행 형상으로 형성했다. 한편, 승온에 의한 발열체(42) 외주의 신장량은, [발열체(42)의 길이]× (1220-20)×15×10-6mm이 된다. 9 is a schematic diagram illustrating a measurement result regarding the thermal expansion of the heating element according to the fourth embodiment, and FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a measurement result regarding the thermal expansion of the
그 결과, 제4 실시예에 있어서의 발열체(42)에서는, 직경 φ가 481mm로부터 490.2mm로 증가했다. 또한, 발열체(42)의 각 부의 편차량은, 도시하는 바와 같이, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 멀어짐에 따라 서서히 커져(부호 A1으로 도시되는 영역을 기점으로 3.8mm, 6.5mm, 8.6mm), 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 떨어진 개소에서 최대인 9.2mm가 되었다. 한편, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 가장 떨어진 개소에서는, 주방향(접선방향)에는 대부분 편차가 나지 않고, 반경 방향으로만 편차가 나게 되었다. As a result, in the
이에 대하여, 제5 실시예에 있어서의 발열체(42)에서는, 고정부[한 쌍의 급전부(45, 46) 또는 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)]로부터 멀어짐에 따라 서서히 커지고, 인접하는 고정부 간의 중앙 위치[한 쌍의 급전부(45, 46)와 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와의 사이의 중앙 위치]에서 최대인 7.5mm가 되었다. 즉, 본 실시예에 의하면, 제4 실시예에 비해, 발열체(42)의 최대 변위량을 20%정도 작게 할 수 있었다. 한편, 변위량이 최대가 되는 중앙 위치에서는, 주방향(접선 방향)에는 편차가 나지 않고, 반경 방향으로의 편차가 주체가 되었다. In contrast, in the
(b) 본 실시예에 의하면, 한 쌍의 급전부(45, 46)와의 접속 개소를 고정함과 동시에, 그 반대 측을 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)로 더욱 고정하고 있다. 그 때문에, 발열체(42)의 각 부의 변위 방향을, 도 14에 도시된 것처럼 발열체(42)의 반경 방향[단열체(33)의 내벽에 수직한 방향]과 거의 일치시킬 수 있다. 특히, 변위량이 최대가 되는 중앙 위치[한 쌍의 급전부(45, 46)와 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와의 사이의 중앙위치]에서는, 주방향(접선방향)에는 위치 편차 시키지 않고, 반경 방향에만 위치 편차시킬 수 있다. 그 결과, 관련 중앙 위치에, 고정부로서 브릿지형이나 T자형의 핀 부재를 추가로 설치한 경우라도, 열팽창에 의한 발열체(42)와 핀 부재와의 접촉·간섭을 억제할 수 있다. 즉, 본 실시예에 의하면, 발열체(42)의 변형, 손상, 단락 등을 방지하면서, 발열체(42)의 보지 강도를 더욱 향상시키는 것이 가능해진다. (b) According to the present embodiment, the connection points with the pair of
한편, 급전부(45, 46)와의 접속 개소의 반대측을 고정하지 않는 제4 실시예에서는, 도 8에 예시한 것 같이, 예컨대 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 90° 벗어난 위치[제2 실시예에 있어서의 한 쌍의 급전부(45, 46)와 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와의 사이의 중앙 위치에 상당]에 있어서의 발열체(42)의 변위 방향이, 발열체(42)의 반경 방향과 일치하지 않고, 접선 방향에 다소 가까워진다. 그 때문에, 만일 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)로 고정하는 것 없이, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 90°벗어난 위치에 상술한 핀 부재를 추가로 설치하는 것으로 하면, 열팽창에 의해 발열체(42)와 핀 부재와의 접촉·간섭이 발생하여, 발열체(42)의 변형, 손상, 단락 등을 불러온다. On the other hand, in the fourth embodiment in which the opposite side of the connection point with the
(c) 본 실시예에 의하면, 발열체(42)의 각 부의 변위 방향과 발열체(42)의 반경 방향이 거의 일치하기 때문에, 예컨대 브릿지형이나 T자형의 보지 부재를 고정부로서 추가로 설치한 경우라도, 발열체(42)와 보지 부재와의 접촉·간섭을 회피하기 위한 절결(신장률 구멍)을, 발열체(42) 측에 설치할 필요가 없다. 그 때문에, 발열체(42)의 강도 저하나 발열량 저하를 회피할 수 있다. 한편, 만일 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)로 고정하는 일 없이, 한 쌍의 급전부(45, 46)로부터 90° 벗어난 위치에 상술한 핀 부재를 설치하는 것으로 하면, 발열체(42)와 보지 부재와의 접촉·간섭을 회피하기 위해서 절결을 설치할 필요가 생겨, 발열체(42)의 강도 저하나 발열량 저하를 불러올 우려가 있다. (c) According to this embodiment, since the displacement direction of each part of the
<다른 실시예><Other Embodiments>
이상, 본 발명의 실시예를 구체적으로 설명했지만, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되는 것이 아니고, 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 종종 변경 가능하다. As mentioned above, although the Example of this invention was described concretely, this invention is not limited to the Example mentioned above, A change is possible in a range which does not deviate from the summary frequently.
예컨대, 상술한 실시예에서는, 단열체(33)의 내벽에 발열체(42)를 고정하는 고정부로서, 한 쌍의 급전부(45, 46)나 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)를 예로 들어 설명했지만, 본 발명은 관련 형태로 한정되지 않는다. 즉, 이들 부재는 반드시 쌍을 이루지 않아도 좋다. 또한 예컨대, 단열체(33)의 내벽에 고정되는 핀 부재를 고정부로서 이용해도 좋다. 도 11의 (a)는 고정부의 변형예로서의 브릿지형의 핀 부재(45b) 주변의 부분 확대도이고, 도 11의 (b)는 확대 부분의 측면도다. 또한, 도시하지 않지만 T자형의 핀 부재나, L자형의 핀 부재를, 고정부로서 이용하는 것도 가능하다. For example, in the above-described embodiment, as a fixing portion for fixing the
또한 예컨대, 상술한 실시예에서는, 고정부에 의해 발열체(42)를 고정하는 장소를 1개소 혹은 2개소로 했지만, 본 발명은 관련 경우에 한정되지 않고, 예컨대 3개소 이상으로 고정하도록 해도 좋다. 이 경우에 있어서도, 적어도 발열체가 실온 상태시에, 발열체와 단열체의 내벽 사이의 거리가, 인접하는 고정부 간의 중앙 위치에서 최대가 되고, 관련 중앙 위치로부터 고정부에 근접함에 따라 작아지도록 한다. 고정 개소를 늘리는 만큼, 최대 변위량을 줄이는 것이 가능해지고, 또한, 발열체(42)의 보지 강도를 향상시키는 것이 가능해진다. 한편, 복수의 고정부는, 발열체(42)의 주방향에 걸쳐 균등한 간격으로 배치하면 좋다.For example, in the above-mentioned embodiment, although the place which fixes the
또한, 상술의 경우, 복수의 고정부는, 한 쌍의 급전부(45, 46)나 한 쌍의 더미 단자(45d, 46d)와 같은 관통 부재로 통일해도 좋고, 브릿지형의 핀 부재(45b)와 같은 핀 부재로 통일해도 좋고, 혹은 이들을 혼재시켜도 좋다. In the above-described case, the plurality of fixing portions may be unified with a penetrating member such as a pair of
또한 예컨대, 본 발명은, 발열체(42) 상하단에 산형부(돌출부)(42a)와 골짜기부(절결부)(42b)가 설치되어 있는 경우에 한정되지 않는다. 즉, 발열체(42)는, 사행 형상(파 형상)으로 형성되어 있을 경우에 한정되지 않고, 장척(長尺) 형상으로 형성되어 있어도 좋다. For example, this invention is not limited to the case where the top part (protrusion part) 42a and the valley part (cutout part) 42b are provided in the upper-lower end of the
또한, 본 발명은 반도체 제조 장치에 한정되지 않고, LCD 장치와 같은 유리 기판을 처리하는 장치에도 바람직하게 적용될 수 있다. 또한, 처리실(Process chamber)의 구성도 상술한 실시예에 한정되지 않는다. 즉, 기판 처리의 구체적 내용은 묻지 않으며, 성막 처리뿐만 아니라, 어닐링 처리, 산화 처리, 질화 처리, 확산 처리 등의 처리여도 좋다. 또한, 성막 처리는, 예컨대 CVD, PVD, 산화막, 질화막을 형성하는 처리, 금속을 포함하는 막을 형성하는 처리여도 좋다. 게다가, 포토리소그래피(photolithography)로 실시되는 노광(露光) 처리나, 레지스트 액이나 에칭액의 도포(塗布) 처리여도 좋다. Moreover, this invention is not limited to a semiconductor manufacturing apparatus, It can apply suitably also to the apparatus which processes a glass substrate, such as an LCD apparatus. In addition, the structure of a process chamber is not limited to the above-mentioned embodiment. That is, the specific content of the substrate treatment is not required, and may be not only a film formation treatment but also an annealing treatment, an oxidation treatment, a nitriding treatment and a diffusion treatment. The film forming process may be, for example, a process of forming a CVD, PVD, an oxide film, a nitride film, or a process of forming a film containing a metal. Furthermore, the exposure process performed by photolithography and the coating process of a resist liquid and an etching liquid may be sufficient.
본 발명은 반도체 제조 장치에 한정되지 않고, LCD 장치와 같은 유리 기판을 처리하는 장치에도 바람직하게 적용될 수 있다. 또한, 처리실(Process chamber)의 구성도 상술한 실시예에 한정되지 않는다. 즉, 기판 처리의 구체적 내용은 묻지 않으며, 성막 처리뿐만 아니라, 어닐링 처리, 산화 처리, 질화 처리, 확산 처리 등의 처리여도 좋다. 또한, 성막 처리는, 예컨대 CVD, PVD, 산화막, 질화막을 형성하는 처리, 금속을 포함하는 막을 형성하는 처리여도 좋다. 게다가, 포토리소그래피(photolithography)로 실시되는 노광 처리나, 레지스트 액이나 에칭액의 도포 처리여도 좋다. The present invention is not limited to the semiconductor manufacturing apparatus, but can also be preferably applied to an apparatus for processing a glass substrate such as an LCD apparatus. In addition, the structure of a process chamber is not limited to the above-mentioned embodiment. That is, the specific content of the substrate treatment is not required, and may be not only a film formation treatment but also an annealing treatment, an oxidation treatment, a nitriding treatment and a diffusion treatment. The film forming process may be, for example, a process of forming a CVD, PVD, an oxide film, a nitride film, or a process of forming a film containing a metal. Moreover, the exposure process performed by photolithography, or the coating process of a resist liquid or an etching liquid may be sufficient.
이상 본 발명의 실시예를 구체적으로 설명했는데, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되는 것은 아니고, 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 여러 가지 변경 가능하다.As mentioned above, although the Example of this invention was described concretely, this invention is not limited to the Example mentioned above, A various change is possible in the range which does not deviate from the summary.
<본 발명의 바람직한 형태><Preferred form of the present invention>
이하에, 본 발명의 바람직한 형태에 대해 부기한다.Below, it adds about the preferable aspect of this invention.
본 발명의 제1 형태는The first aspect of the present invention
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성되고, 양단이 고정되는 발열체와,A heating element formed in a meander shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valley parts, and having both ends fixed thereto;
상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부와,A holding member support portion provided at each end of the valley portion and formed as a cutout portion having a width greater than the width of the valley portion;
상기 발열체의 외주에 설치되는 단열체와,An insulator installed on an outer circumference of the heating element,
상기 보지체 지지부 내에 배치되어 상기 단열체에 고정되는 보지체를 구비하는 가열 장치이다.It is a heating apparatus provided with the holding body arrange | positioned in the said holding body support part, and fixed to the said heat insulating body.
바람직하게는,Preferably,
상기 보지체 지지부는, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 직경을 갖는 원형이 절결부로서 형성되어 있다.The said support body support part is formed as the cut | disconnected part which has a diameter larger than the width | variety of the said valley part.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체는,The heating element,
상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와,An annular portion formed at a point where the mountain portion and the valley portion are alternately connected to each other;
상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, A pair of feed parts fixed to the heat insulating body through the heat insulating body and connected to both ends of the annular portion,
상기 보지체 지지부의 폭은, 상기 한 쌍의 급전부로부터 멀어짐에 따라 크게 설정되어 있다.The width | variety of the said support body support part is set large as it moves away from the said pair of power supply parts.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체는,The heating element,
상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와,An annular portion formed at a point where the mountain portion and the valley portion are alternately connected to each other;
상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, A pair of feed parts fixed to the heat insulating body through the heat insulating body and connected to both ends of the annular portion,
상기 보지체 지지부와 상기 보지체와의 상대 위치는, 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있다.The relative position of the said holding body support part and the said holding body is set to differ in at least one part of each part of the whole in the said annular part.
본 발명의 제2 형태는,According to a second aspect of the present invention,
상기 발열체는, 상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, The heating element includes an annular portion formed at a location in which the mountain portion and the valley portion are alternately connected to each other, and a pair of feeders fixed to the heat insulating body through the heat insulator and connected to both ends of the annular portion, respectively. Including,
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 가지며, The heat insulator is formed in a tubular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and has a groove-shaped accommodating portion in the inner circumferential surface of the heat insulator, which accommodates the annular portion,
상기 환상부 중 상기 산형부의 선단이, 상기 환상부의 중심을 향하도록, 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부에 대해 둔각으로 각각 경사하고,The tip of the ridge portion of the annular portion is inclined at an obtuse angle with respect to the center portion except for the tip of the ridge portion of the annular portion, so as to face the center of the annular portion,
상기 수납부의 양 측벽이, 상기 수납부의 저면에 대해서 둔각으로 각각 경사하고,Both side walls of the storage portion are inclined at an obtuse angle with respect to a bottom surface of the storage portion,
상기 산형부 선단의 경사 각도와, 상기 수납부의 양 측벽의 경사 각도는, 동등한 각도로 설정되어 있는 제1 형태에 기재한 가열 장치이다.The inclination angle of the tip of the mountain portion and the inclination angle of both side walls of the storage portion are the heating device according to the first aspect, which is set at the same angle.
바람직하게는,Preferably,
상기 수납부에 있어서의 상기 저면의 폭이, 상기 중앙부의 폭보다 크게 형성되고, 상기 수납부에 있어서의 상기 저면에는, 상기 중앙부보다 작은 폭으로 형성된 단차부(段差部)를 갖는다. The width | variety of the said bottom face in the said accommodating part is formed larger than the width | variety of the said center part, and the said bottom face in the said accommodating part has a step part formed in width smaller than the said center part.
본 발명의 제3 형태는,According to a third aspect of the present invention,
상기 발열체는 상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와,The heating element includes an annular portion formed at a position where a plurality of the mountain portion and the valley portion are alternately connected;
상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, A pair of feeders fixed to the insulator through the insulator and connected to both ends of the annular portion,
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 가지며, The heat insulator is formed in a tubular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and has a groove-shaped accommodating portion in the inner circumferential surface of the heat insulator, which accommodates the annular portion,
상기 수납부에 있어서의 저면과 상기 저면에 인접하는 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부와의 사이의 거리는, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있는 제1 형태에 기재한 가열 장치이다.The distance between the bottom face in the said accommodating part and the center part except the tip of the said mountain part among the said annular parts adjacent to the said bottom part differs in at least one part of each part in the said accommodating part and the whole annular part. It is a heating apparatus as described in the 1st aspect set.
바람직하게는,Preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 실온 상태일 때, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있다.The distance is set differently in at least a part of each part of the entirety of the housing portion and the annular portion when the annular portion is at room temperature.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 기판 처리 시의 온도 상태일 때, 열팽창에 의해 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분이 동등한 거리가 되도록 설정되어 있다.The said distance is set so that each part of the whole part in the said accommodating part and the said annular part may be equal distance by thermal expansion at least when the said annular part is in the temperature state at the time of a substrate process.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 상기 한 쌍의 급전부로부터 멀어짐에 따라 크게 설정되어 있다.The distance is set large as it moves away from the pair of power supply units.
본 발명의 제4 형태는,According to a fourth aspect of the present invention,
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성되고, 양단이 고정되는 발열체와, 상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부와, 상기 발열체의 외주에 설치되는 단열체와, 상기 보지체 지지부 내에 배치되고, 상기 단열체에 고정되는 보지체를 구비하는 가열 장치와,A support body formed as a meandering shape by alternately connecting a plurality of ridges and valleys, which are fixed to both ends, and are respectively provided at the ends of the valleys and formed as cutouts having a width greater than the width of the valleys; A heating device including a heat insulator provided on an outer circumference of the heat generating element, a holding body disposed in the holding body support portion and fixed to the heat insulator;
상기 가열 장치의 내부에 설치되고 기판을 처리하는 처리실을 포함하는 기판 처리 장치이다.It is a substrate processing apparatus provided in the inside of the said heating apparatus, and including the process chamber which processes a board | substrate.
바람직하게는,Preferably,
상기 보지체 지지부는, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 직경을 갖는 원형의 절결부로서 형성되어 있다.The said holding body support part is formed as a circular notch part which has a diameter larger than the width | variety of the said valley part.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체는,The heating element,
상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와,An annular portion formed at a point where the mountain portion and the valley portion are alternately connected to each other;
상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고,A pair of feed parts fixed to the heat insulating body through the heat insulating body and connected to both ends of the annular portion,
상기 보지체 지지부의 폭은, 상기 한 쌍의 급전부로부터 멀어짐에 따라 크게 설정되어 있다.The width | variety of the said support body support part is set large as it moves away from the said pair of power supply parts.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체는, 상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와,The heating element includes an annular portion formed at a position where a plurality of the mountain portion and the valley portion are alternately connected;
상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, A pair of feeders fixed to the insulator through the insulator and connected to both ends of the annular portion,
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 가지며,The heat insulator is formed in a tubular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and has a groove-shaped accommodating portion in the inner circumferential surface of the heat insulator, which accommodates the annular portion,
상기 환상부 중 상기 산형부의 선단이, 상기 환상부의 중심을 향하도록, 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부에 대해서 둔각으로 각각 경사하고,The tip of the ridge portion of the annular portion is inclined at an obtuse angle with respect to the center except for the tip of the ridge portion of the annular portion, so as to face the center of the annular portion,
상기 수납부의 양 측벽이, 상기 수납부의 저면에 대해서 둔각으로 각각 경사하며,Both side walls of the storage portion are inclined at an obtuse angle with respect to a bottom surface of the storage portion,
상기 산형부 선단의 경사 각도와 상기 수납부의 양 측벽의 경사 각도는, 동등한 각도로 설정되어 있다.The inclination angle of the tip of the mountain portion and the inclination angle of both side walls of the storage portion are set at the same angle.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 수납부에 있어서의 상기 저면의 폭이, 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부의 폭보다 크게 형성되고,The width | variety of the said bottom face in the said accommodating part is formed larger than the width | variety of the center part except the tip of the said mountain part among the said annular parts,
상기 수납부에 있어서의 상기 저면에는 상기 중앙부보다 작은 폭으로 형성된 단차부를 갖는다. The bottom face of the housing portion has a step portion formed to have a width smaller than that of the center portion.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체는, 상기 산형부와 상기 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부와, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, The heating element includes an annular portion formed at a location in which the mountain portion and the valley portion are alternately connected to each other, and a pair of feeders fixed to the heat insulating body through the heat insulator and connected to both ends of the annular portion, respectively. Including,
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 가지며, The heat insulator is formed in a tubular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and has a groove-shaped accommodating portion in the inner circumferential surface of the heat insulator, which accommodates the annular portion,
상기 수납부에 있어서의 저면과 상기 저면에 인접하는 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부와의 사이의 거리는, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있다.The distance between the bottom face in the said accommodating part and the center part except the tip of the said mountain part among the said annular parts adjacent to the said bottom part differs in at least one part of each part in the said accommodating part and the whole annular part. It is set.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 실온 상태일 때, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있다. The distance is set differently in at least a part of each part of the entirety of the housing portion and the annular portion when the annular portion is at room temperature.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 기판 처리 시의 온도 상태일 때, 열팽창에 의해 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분이 동등한 거리가 되도록 설정되어 있다.The said distance is set so that each part of the whole part in the said accommodating part and the said annular part may be equal distance by thermal expansion at least when the said annular part is in the temperature state at the time of a substrate process.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 상기 한 쌍의 급전부로부터 멀어짐에 따라 크게 설정되어 있다.The distance is set large as it moves away from the pair of power supply units.
본 발명의 제5 형태는,According to a fifth aspect of the present invention,
가열 장치의 내부에 설치되는 처리실 내에 기판을 반입하는 공정과,Bringing in a substrate into a processing chamber provided inside the heating apparatus,
상기 가열 장치에 구비되고 산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성된 발열체의 양단을, 상기 발열체의 외주에 설치된 단열체로 고정함과 동시에, 상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부 내에 보지체를 배치하여 상기 단열체에 고정함으로써 상기 발열체의 위치를 보지하면서, 상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열 처리하는 공정The both ends of the heating element provided in the heating device and formed in a meandering shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valley parts are respectively provided at the ends of the valley part while being fixed with an insulator provided on the outer periphery of the heating element. Arranging the holding member in the holding member supporting portion formed as a cutout having a width larger than the width and fixing the holding member to the heat insulating member, thereby heating the substrate in the processing chamber by raising the heating element while holding the position of the heating member.
을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법이다.It is a manufacturing method of a semiconductor device including a.
본 발명의 다른 형태는,Another embodiment of the present invention,
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부를 갖는 발열체와,A heating element having an annular portion formed at a position in which a plurality of peaks and valleys are alternately connected;
상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 갖는 단열체를 구비하고, A heat insulating member formed in a cylindrical shape so as to surround an outer circumferential surface of the annular portion, and having a groove-shaped accommodating portion accommodating the annular portion on the inner circumferential surface of the heat insulator,
상기 발열체는, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고, The heat generating element includes a pair of feed parts fixed to the heat insulating body through the heat insulating body and connected to both ends of the annular portion,
상기 환상부 중 상기 산형부의 선단이, 상기 환상부의 중심을 향하도록, 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부에 대해서 둔각으로 각각 경사하고 있고,The tip of the ridge portion of the annular portion is inclined at an obtuse angle with respect to the center portion except for the tip of the ridge portion of the annular portion, so as to face the center of the annular portion,
상기 수납부의 양 측벽이, 상기 수납부의 저면에 대해서 둔각으로 각각 경사하며,Both side walls of the storage portion are inclined at an obtuse angle with respect to a bottom surface of the storage portion,
상기 산형부 선단의 경사 각도와 상기 수납부의 양 측벽의 경사 각도는, 동등한 각도로 설정되어 있는 가열 장치이다.The inclination angle of the tip of the mountain portion and the inclination angle of both side walls of the storage portion are heating devices set at the same angle.
바람직하게는,Preferably,
상기 수납부에 있어서의 상기 저면의 폭이, 상기 중앙부의 폭보다 크게 형성되고,The width | variety of the said bottom face in the said accommodating part is formed larger than the width | variety of the said center part,
상기 수납부에 있어서의 상기 저면에는, 상기 중앙부보다 작은 폭으로 형성된 단차부를 갖는다.The bottom face of the housing portion has a stepped portion formed with a width smaller than that of the center portion.
본 발명의 또 다른 형태는,Another embodiment of the present invention,
산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결되는 개소에서 형성되는 환상부를 갖는 발열체와,A heating element having an annular portion formed at a position in which a plurality of peaks and valleys are alternately connected;
상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 통 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 갖는 단열체를 구비하고, A heat insulating member formed in a cylindrical shape so as to surround an outer circumferential surface of the annular portion, and having a groove-shaped accommodating portion accommodating the annular portion on the inner circumferential surface of the heat insulator,
상기 발열체는, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 환상부의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부를 포함하고,The heat generating element includes a pair of feed parts fixed to the heat insulating body through the heat insulating body and connected to both ends of the annular portion,
상기 수납부에 있어서의 저면과 상기 저면에 인접하는 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부와의 사이의 거리는, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있는 가열 장치이다.The distance between the bottom face in the said accommodating part and the center part except the tip of the said mountain part among the said annular parts adjacent to the said bottom part differs in at least one part of each part in the said accommodating part and the whole annular part. The heating device is set.
바람직하게는,Preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 실온 상태일 때, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있다. The distance is set differently in at least a part of each part of the entirety of the housing portion and the annular portion when the annular portion is at room temperature.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 거리는, 적어도 상기 환상부가 기판 처리 시의 온도 상태일 때, 열팽창에 의해 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전체의 각 부분이 동등한 거리가 되도록 설정되어 있다.The said distance is set so that each part of the whole part in the said accommodating part and the said annular part may be equal distance by thermal expansion at least when the said annular part is in the temperature state at the time of a substrate process.
<본 발명의 바람직한 형태>Preferred Embodiments of the Invention
이하에, 본 발명의 바람직한 형태에 대해 부기한다.Below, it adds about the preferable aspect of this invention.
본 발명의 제6 형태는,According to a sixth aspect of the present invention,
환 형상으로 형성된 발열체와,A heating element formed in an annular shape,
상기 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체와,An insulator installed to surround an outer circumference of the heating element;
상기 발멸체를 상기 단열체의 내벽에 고정하는 고정부를 갖추는 가열장치이며,It is a heating device having a fixing part for fixing the light emitting body to the inner wall of the heat insulator,
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정되어 있는 가열 장치가 제공된다.At least when the heating element is in a room temperature state, there is provided a heating device in which the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulator is set to increase as the distance from the fixing part increases.
바람직하게는,Preferably,
상기 고정부가 상기 발열체의 주방향을 따라 복수 설치되고,The fixing part is provided in plurality along the main direction of the heating element,
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 인접하는 상기 고정부 간의 중앙 위치로부터 상기 고정부에 근접함에 따라 작아지도록 설정되어 있다.At least when the heating element is in a room temperature state, the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulator is set to be smaller as it approaches the fixing part from a center position between adjacent fixing parts.
또한 바람직하게는,Also preferably,
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가 인접하는 상기 고정부 간의 중앙 위치에서 최대가 되도록 설정되어 있다.At least when the heating element is in the room temperature state, the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulator is set to be the maximum at the central position between the adjacent fixing parts.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 적어도 상기 발열체가 가열 처리시의 온도 상태 시에, 상기 발열체의 주방향에 걸쳐 동등하게 되도록 설정되어 있다.The distance between the heat generator and the inner wall of the heat insulator is set to be equal over the main direction of the heat generator, at least when the heat generator is in a temperature state at the time of heat treatment.
또한 바람직하게는,Also preferably,
복수의 상기 고정부는, 상기 발열체의 주방향에 걸쳐 균등한 간격으로 배치되어 있다.The plurality of fixing portions are arranged at equal intervals over the main direction of the heating element.
또한 바람직하게는,Also preferably,
상기 고정부 중 적어도 하나는, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되고, 상기 발열체의 양단에 각각 접속되는 한 쌍의 급전부로서 구성되어 있다.At least one of the said fixing | fixed part is comprised as a pair of power supply part which penetrates the said heat insulating body, is fixed to the said heat insulating body, and is connected to both ends of the said heat generating body, respectively.
또한 바람직하게는,Also preferably,
복수의 상기 고정부 중 적어도 하나의 상기 고정부는, 상기 단열체를 관통하여 상기 단열체에 고정되는 관통 부재로서 구성되어 있다.At least one of the fixing portions of the plurality of fixing portions is configured as a penetrating member that penetrates the heat insulating body and is fixed to the heat insulating body.
복수의 상기 고정부 중 적어도 하나의 상기 고정부는, 상기 단열체를 내벽에 고정하는 핀 부재로서 구성되어 있다.At least one fixing part of the plurality of fixing parts is configured as a fin member that fixes the heat insulating body to an inner wall.
본 발명의 다른 형태에 의하면,According to another aspect of the present invention,
환 형상으로 형성된 발열체와, 상기 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치된 단열체와, 상기 발열체를 상기 단열체의 내벽에 고정하는 고정부를 갖춘 가열장치의 상기 발열체의 내측에 설치된 처리실 내에 기판을 반입하는 공정과,A step of bringing a substrate into a processing chamber provided inside the heating element of a heating apparatus having an annular heating element, a heat insulator provided to surround an outer circumference of the heating element, and a fixing part for fixing the heating element to an inner wall of the heat insulator and,
상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열하여 처리하는 공정을 포함하고,Heating the substrate in the processing chamber by heating the heating element;
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정하는 반도체 장치의 제조 방법이 제공된다.There is provided a method of manufacturing a semiconductor device, wherein the distance between the heat generating body and the inner wall of the heat insulating body is set to increase as the distance from the fixing part increases, at least when the heat generating body is in a room temperature state.
1 : 웨이퍼(기판) 14 : 처리실
30 : 히터 유닛(가열 장치) 33 : 단열체
40 : 수납부 40d : 수납부의 양 측벽
40e : 수납부의 저면 41 : 보지체
42 : 발열체 42R : 환상부
42a : 산형부 42b : 골짜기부
42c : 보지체 지지부 45, 46 : 급전부1 wafer (substrate) 14 processing chamber
30: heater unit (heating device) 33: heat insulator
40: storing
40e: Bottom of storage part 41: Holding body
42:
42a:
42c:
Claims (8)
상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부(切缺部)로서 형성된 보지체 지지부와,
상기 발열체의 외주(外周)에 설치되는 단열체와,
상기 보지체 지지부 내에 배치되어 상기 단열체에 고정되는 보지체를 구비하는 가열 장치.A heating element formed in a meandering shape by connecting a plurality of mountain parts and valley parts alternately, and fixed at both ends thereof,
A holding member support portion provided at each end of the valley portion and formed as a cutout portion having a width greater than the width of the valley portion;
An insulator installed on an outer periphery of the heating element,
And a holding body disposed in the holding body support portion and fixed to the heat insulating body.
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 환 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 구비하고,
상기 환상부 중 상기 산형부의 선단(先端)이, 상기 환상부의 중심을 향하도록, 상기 환상부 중 상기 산형부 선단을 제외한 중앙부에 대해서 둔각(鈍角)으로 각각 경사(傾斜)지고,
상기 수납부의 양 측벽이, 상기 수납부의 저면에 대해서 둔각으로 각각 경사지며,
상기 산형부 선단의 경사 각도와 상기 수납부의 양 측벽의 경사 각도는, 동등한 각도로 설정되어 있는 가열 장치.The said heat generating body is a ring part formed in the place where the said mountain part and the said valley part are alternately connected, and the said heat generating body is fixed to the said heat insulating body through the said heat insulating body, A pair of feed sections connected to both ends of the annular section,
The heat insulator is formed in an annular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and includes a groove-shaped accommodating portion for accommodating the annular portion on the inner circumferential surface of the heat insulator,
The tip of the ridge portion of the annular portion is inclined at an obtuse angle with respect to the center except for the tip of the ridge portion of the annular portion, so as to face the center of the annular portion,
Both side walls of the storage portion are inclined at an obtuse angle with respect to a bottom surface of the storage portion,
The inclination angle of the tip of the mountain-shaped part and the inclination angle of both side walls of the storage part are set to the same angle.
상기 단열체는, 상기 환상부의 외주면을 둘러싸도록 환 형상으로 형성되고, 상기 환상부를 수용하는 홈 형상의 수납부를 상기 단열체의 내주면에 구비하며,
상기 수납부에 있어서의 저면과 상기 저면에 인접하는 상기 환상부와의 사이의 거리는, 상기 수납부 및 상기 환상부에 있어서의 전주(全周)의 각 부분 중 적어도 일부에서 다르게 하여 설정되어 있는 가열 장치.The said heat generating body is an annular part formed in the place where the said mountain part and the said valley part are alternately connected, and are fixed to the said heat insulating body through the said heat insulating body, respectively, and are respectively connected to the both ends of the said annular part. Including a pair of feeders,
The heat insulator is formed in an annular shape so as to surround the outer circumferential surface of the annular portion, and includes a groove-shaped accommodating portion for accommodating the annular portion on the inner circumferential surface of the heat insulator,
The distance between the bottom face in the said accommodating part, and the said annular part adjacent to the said bottom face is set to differ in at least one part of each part of the electric pole in the said accommodating part and the said annular part. Device.
상기 가열 장치의 내부에 설치되어 기판을 처리하는 처리실을 포함하는 기판 처리 장치.The ridges and valleys are alternately connected to each other to form a meandering shape, a heating element having both ends fixed thereto, and retainers formed as cutouts provided at ends of the valleys and having a width greater than that of the valleys. A heating device including a support, a heat insulator provided on an outer circumference of the heating element, and a retaining body disposed in the holding body support and fixed to the heat insulator;
And a processing chamber installed inside the heating apparatus to process the substrate.
상기 가열 장치에 구비되고 산형부와 골짜기부가 교대로 복수 연결됨으로써 사행 형상으로 형성된 발열체의 양단을, 상기 발열체의 외주에 설치된 단열체에 고정함과 동시에, 상기 골짜기부의 말단에 각각 설치되고, 상기 골짜기부의 폭보다 큰 폭을 갖는 절결부로서 형성된 보지체 지지부 내에 보지체를 배치하여 상기 단열체에 고정함으로써 상기 발열체의 위치를 보지하면서, 상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열 처리하는 공정
을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법.Bringing in a substrate into a processing chamber provided inside the heating apparatus,
The both ends of the heating element provided in the heating device and formed in a meandering shape by alternately connecting a plurality of mountain parts and valley parts are respectively installed at the ends of the valley part while being fixed to a heat insulator provided on the outer periphery of the heating element. Arranging the holding member in the holding member supporting portion formed as a cutout having a width greater than the width of the negative portion and fixing the holding member to the heat insulating member, thereby holding the position of the heating element and heating the substrate in the processing chamber while maintaining the position of the heating element.
Method for manufacturing a semiconductor device comprising a.
상기 발열체의 외주를 둘러싸도록 설치되는 단열체와,
상기 발열체를 상기 단열체의 내벽에 고정하는 고정부를 구비하는 가열 장치로서,
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정되어 있음을 특징으로 하는 가열 장치.A heating element formed in an annular shape,
An insulator installed to surround an outer circumference of the heating element;
A heating device having a fixing portion for fixing the heating element to the inner wall of the heat insulator,
And at least the heating element is set at a room temperature so that the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulating member is set to increase as the distance from the fixing part increases.
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 인접하는 상기 고정부 간의 중앙 위치로부터 상기 고정부에 근접함에 따라 작아지도록 설정되어 있음을 특징으로 하는 가열 장치.The method of claim 6, wherein the fixing portion is provided in plurality along the main direction of the heating element,
And at least the heating element is set so that the distance between the heating element and the inner wall of the heat insulating body becomes smaller as the heating element approaches the fixing portion from a central position between adjacent fixing portions.
상기 발열체를 승온시켜 상기 처리실 내의 기판을 가열하여 처리하는 공정을 포함하고,
적어도 상기 발열체가 실온 상태 시에, 상기 발열체와 상기 단열체의 내벽 사이의 거리가, 상기 고정부로부터 멀어짐에 따라 커지도록 설정하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법.Carrying a substrate into a processing chamber provided inside the heating element of a heating apparatus including a heating element formed in an annular shape, a heat insulator provided to surround an outer circumference of the heating element, and a fixing part for fixing the heating element to an inner wall of the heat insulator. Process to do,
Heating the substrate in the processing chamber by heating the heating element;
And at least when the heat generator is at room temperature, the distance between the heat generator and the inner wall of the heat insulator is set to increase as the distance from the fixing part increases.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2009-169938 | 2009-07-21 | ||
JP2009169938A JP5544121B2 (en) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | Heating apparatus, substrate processing apparatus, and semiconductor device manufacturing method |
JP2010145457A JP5529646B2 (en) | 2010-06-25 | 2010-06-25 | Heating apparatus, substrate processing apparatus, substrate processing method, and semiconductor device manufacturing method |
JPJP-P-2010-145457 | 2010-06-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110009027A true KR20110009027A (en) | 2011-01-27 |
KR101096602B1 KR101096602B1 (en) | 2011-12-20 |
Family
ID=43517141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100069368A KR101096602B1 (en) | 2009-07-21 | 2010-07-19 | Heating device, substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101096602B1 (en) |
CN (2) | CN102709213B (en) |
TW (1) | TWI423339B (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5980551B2 (en) * | 2011-07-13 | 2016-08-31 | 株式会社日立国際電気 | Temperature detector, substrate processing apparatus, and semiconductor device manufacturing method |
TWI779227B (en) * | 2019-08-02 | 2022-10-01 | 日商信和發瑞斯股份有限公司 | A coil-type heating structure |
CN112652532A (en) * | 2020-12-22 | 2021-04-13 | 长江存储科技有限责任公司 | Method for forming semiconductor structure |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61134271A (en) * | 1984-12-05 | 1986-06-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | Thermal head |
JPH079036Y2 (en) * | 1990-11-13 | 1995-03-06 | 東京エレクトロン東北株式会社 | Vertical heat treatment furnace |
SE9603965D0 (en) * | 1996-10-30 | 1996-10-30 | Kanthal Ab | Electric furnace assembly |
US5911825A (en) * | 1997-09-30 | 1999-06-15 | Seh America, Inc. | Low oxygen heater |
JP3648513B2 (en) * | 1999-10-29 | 2005-05-18 | タクミ・エー・エル株式会社 | High-speed response heater unit, plate heater, and plate heater manufacturing method |
CN1317741C (en) * | 2002-11-25 | 2007-05-23 | 光洋热系统株式会社 | Electroheater for semiconductor treater |
JP4885438B2 (en) * | 2003-10-21 | 2012-02-29 | 株式会社日立国際電気 | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS ELECTRIC HEATER, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS PROVIDED WITH THE SAME, HOLDER STRUCTURE HOLDING STRUCTURE AND SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS |
JP4907937B2 (en) * | 2005-09-26 | 2012-04-04 | 株式会社日立国際電気 | Thermal insulation wall, heating element holding structure, heating device and substrate processing apparatus |
JP5248826B2 (en) * | 2006-09-22 | 2013-07-31 | 東京エレクトロン株式会社 | Heat treatment furnace and manufacturing method thereof |
JP4331768B2 (en) * | 2007-02-28 | 2009-09-16 | 東京エレクトロン株式会社 | Heat treatment furnace and vertical heat treatment equipment |
JP5248874B2 (en) * | 2007-03-20 | 2013-07-31 | 東京エレクトロン株式会社 | Heat treatment furnace and vertical heat treatment equipment |
JP4445519B2 (en) * | 2007-06-01 | 2010-04-07 | 東京エレクトロン株式会社 | Heat treatment furnace and manufacturing method thereof |
JP5544121B2 (en) * | 2009-07-21 | 2014-07-09 | 株式会社日立国際電気 | Heating apparatus, substrate processing apparatus, and semiconductor device manufacturing method |
-
2010
- 2010-07-19 KR KR1020100069368A patent/KR101096602B1/en active IP Right Grant
- 2010-07-20 TW TW099123773A patent/TWI423339B/en active
- 2010-07-21 CN CN201210129802.3A patent/CN102709213B/en active Active
- 2010-07-21 CN CN2010102361453A patent/CN101964303B/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101964303B (en) | 2013-10-02 |
CN102709213A (en) | 2012-10-03 |
CN101964303A (en) | 2011-02-02 |
KR101096602B1 (en) | 2011-12-20 |
TWI423339B (en) | 2014-01-11 |
TW201117300A (en) | 2011-05-16 |
CN102709213B (en) | 2016-02-24 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
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|
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|
FPAY | Annual fee payment |
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|
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