[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR20100083046A - Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same - Google Patents

Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same Download PDF

Info

Publication number
KR20100083046A
KR20100083046A KR1020090002404A KR20090002404A KR20100083046A KR 20100083046 A KR20100083046 A KR 20100083046A KR 1020090002404 A KR1020090002404 A KR 1020090002404A KR 20090002404 A KR20090002404 A KR 20090002404A KR 20100083046 A KR20100083046 A KR 20100083046A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
gas
susceptors
susceptor
driving
Prior art date
Application number
KR1020090002404A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이호철
장호성
Original Assignee
주성엔지니어링(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주성엔지니어링(주) filed Critical 주성엔지니어링(주)
Priority to KR1020090002404A priority Critical patent/KR20100083046A/en
Publication of KR20100083046A publication Critical patent/KR20100083046A/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68785Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by the mechanical construction of the susceptor, stage or support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE: A substrate supporting unit and a substrate processing device are provided to prevent a susceptor from being separated from a rotation path by installing a matching unit including an insertion unit on the lower side of the susceptor. CONSTITUTION: A disc(130) comprises a plurality of insertion areas. A heater(120) is positioned on the lower side of the disc. A plurality of susceptors is installed in a plurality of insertion areas. An exhausting unit(126) exhausts the process gas inside a chamber(114). A gas supply device supplies driving gas to apply a driving force to a driving force transmitting unit. A substrate settling unit(118) aligns the susceptor in the insertion area.

Description

기판안치수단 및 이를 포함하는 기판처리장치{Subtrate supporting member and Appratus for treatmenting substrate including the same}Substrate supporting member and Appratus for treatmenting substrate including the same}

본 발명은 기판처리장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 기판의 공전과 자전이 동시에 이루어지는 기판안치수단과 이를 포함한 기판처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus, and more particularly, to a substrate setter means and a substrate processing apparatus including the same and the rotation and rotation of the substrate at the same time.

일반적으로 기판 상에 박막을 증착시키기 위하여 주요한 방법으로 화학적 기상 증착(Chemical Vapor Phase Deposition: CVD)을 사용한다. CVD 방법은 다른 박막증착방법과 비교하여 성막되는 박막의 품질은 양호하지만, 성장속도가 느린 단점이 있어, 이를 보완하기 위하여, 하나의 기판안치수단에 여러 장의 기판을 동시에 안치시켜 성막공정을 진행한다. 그러나, 하나의 기판안치수단에 여러 장의 기판을 안치키고 성막공정을 진행하는 경우, 각각의 기판 상에 성막되는 박막에 대하여 동일한 품질을 확보하기 위하여, 여러가지 방법을 채택하여 사용하였다.In general, chemical vapor deposition (CVD) is used as a main method for depositing a thin film on a substrate. Compared with other thin film deposition methods, the CVD method has a good quality of thin film, but has a disadvantage of slow growth rate. To compensate for this, the film deposition process is carried out by placing several substrates at the same time on one substrate settling means. . However, in the case of carrying out the film forming process with several substrates placed in one substrate placing means, various methods have been adopted in order to ensure the same quality for the thin films deposited on each substrate.

도 1은 종래기술에 따른 기판안치수단의 평면도이다. 종래기술에 따른 기판처리장치(도시하지 않음)에는 반응공간을 제공하는 공정챔버(도시하지 않음)의 내부에 다수의 기판(10)이 안치되는 기판안치수단(12)가 설치된다. 기판안치수단(12)는 하부에 연결되는 지지대(도시하지 않음)와 지지대를 구동시키는 구동장치(도시하지 않음)에 의해 제 1 방향으로 회전한다. 기판안치수단(12)의 내주연에는 다수의 제 1 톱니가 형성되고, 기판안치수단(12)의 내주연을 따라 제 2 방향으로 회전하고 다수의 제 2 톱니를 가지는 다수의 유성기어(14)가 형성된다. 다수의 유성기어(14) 상에는 각각 다수의 서셉터(16)이 설치되고, 각각의 서셉터(16) 상에 다수의 기판(10)이 안착된다. 공정챔버의 반응공간으로 공정가스를 공급하기 위한 가스공급장치(도시하지 않음)가 설치된다. 1 is a plan view of a substrate mounting means according to the prior art. In the substrate treating apparatus (not shown) according to the related art, a substrate placing means 12 is provided in which a plurality of substrates 10 are placed inside a process chamber (not shown) that provides a reaction space. The substrate mounting means 12 is rotated in the first direction by a support (not shown) connected to the lower portion and a driving device (not shown) for driving the support. A plurality of first teeth are formed on the inner circumference of the substrate placing means 12, and a plurality of planetary gears 14 having a plurality of second teeth are rotated in a second direction along the inner circumference of the substrate placing means 12. Is formed. A plurality of susceptors 16 are respectively provided on the plurality of planetary gears 14, and a plurality of substrates 10 are mounted on each susceptor 16. A gas supply device (not shown) for supplying a process gas to the reaction space of the process chamber is installed.

구동장치에 의해 기판안치수단(12)가 회전하는 경우, 기판안치수단(12)는 제 1 방향으로 공전하고, 동시에 다수의 유성기어(14)는 기판안치수단(12)의 내주연을 따라 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 자전한다. 따라서, 기판안치수단(12)가 제 1 방향으로 회전하는 공전과 각각의 서셉터(16)가 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 회전하는 자전에 의해 기판(10) 상에 균일한 박막을 성막할 수 있다. 그러나, 도 1과 같이, 기판안치수단(12)와 다수의 서셉터(16)를 공정 및 자전시키는 경우, 기판안치수단(12)의 내주연과 유성기어(14)의 마찰에 의해 이물질(particle)이 발생하고, 부품의 손상이 발생하기 쉽다. When the substrate mounting means 12 is rotated by the driving device, the substrate mounting means 12 revolves in the first direction, and at the same time, the plurality of planetary gears 14 are formed along the inner circumference of the substrate mounting means 12. The motor rotates in the second direction opposite to the one direction. Accordingly, a uniform thin film is formed on the substrate 10 by the rotation of the substrate setter 12 rotating in the first direction and the rotation of each susceptor 16 rotating in the second direction opposite to the first direction. Can be formed. However, as shown in FIG. 1, when the substrate setter 12 and the plurality of susceptors 16 are processed and rotated, foreign matter (particles) are caused by friction between the inner circumference of the substrate setter 12 and the planetary gear 14. ), And damage to parts is likely to occur.

상기와 같은 종래기술의 문제를 해결하기 위하여, 본 발명은 기판안치수단에서, 제 1 방향으로 기판안치수단를 공전시키고, 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 서셉터를 자전시키는 것에 의해, 디스크와 서셉터의 마찰에 의한 이물질의 발생을 최소화시키면서 기판 상에 균일한 박막을 증착하는 기판안치수단 및 이를 포함한 기판처리장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention relates to a disk and the disk by means of revolving the substrate holding means in the first direction and rotating the susceptor in the second direction opposite to the first direction. An object of the present invention is to provide a substrate placing means for depositing a uniform thin film on a substrate while minimizing generation of foreign matters due to friction of the susceptor, and a substrate processing apparatus including the same.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판안치수단은, 다수의 삽입영역을 가지는 디스크; 상기 다수의 삽입영역의 각각에 설치되고, 기판이 안착되는 다수의 서셉터; 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되는 구동력 전달수단; 상기 구동력 전달수단에 구동력을 인가하기 위한 구동가스를 공급하는 가스공급장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.Substrate mounting means according to the present invention for achieving the above object, the disk having a plurality of insertion areas; A plurality of susceptors installed in each of the plurality of insertion regions and in which a substrate is mounted; Drive force transmission means installed on each side of the plurality of susceptors; And a gas supply device for supplying a driving gas for applying the driving force to the driving force transmission means.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 디스크를 제 1 방향으로 회전하고, 상기 다수의 서셉터의 각각은 상기 제 1 방향과 반대되는 제 2 방향으로 회전하는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, the disk is rotated in a first direction, and each of the plurality of susceptors is characterized in that it rotates in a second direction opposite to the first direction.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 구동력 전달수단은 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되는 다수의 날개인 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, the driving force transmission means is characterized in that a plurality of wings installed on each side of the plurality of susceptors.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 다수의 날개는 동일한 간격으로 배치되고, 상기 다수의 날개의 각각은 0 내지 45도의 범위로 경사배치되는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, the plurality of wings are arranged at equal intervals, each of the plurality of wings is characterized in that inclined arrangement in the range of 0 to 45 degrees.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 가스공급장치는, 상기 디스크의 중심에 설치되고 상기 구동가스를 수용하는 버퍼공간; 상기 버퍼공간과 연결되고 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면과 대응되는 다수의 가스주입관; 상기 버퍼공간과 연결되고 상기 구동가스를 공급하기 위한 가스도입관; 상기 가스도입관과 연결되는 구동가스공급부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, the gas supply device, the buffer space is installed in the center of the disk for receiving the drive gas; A plurality of gas injection pipes connected to the buffer space and corresponding to respective side surfaces of the plurality of susceptors; A gas introduction pipe connected to the buffer space and supplying the driving gas; And a driving gas supply unit connected to the gas introduction pipe.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 각각의 상기 다수의 삽입영역과 상기 다수의 서셉터의 사이에 상기 구동가스가 유동하는 유동공간이 설정되는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, a flow space in which the driving gas flows is set between each of the plurality of insertion regions and the plurality of susceptors.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 다수의 서셉터의 각각을 상기 다수의 삽입영역에 정렬시키는 정렬장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, it characterized in that it comprises an alignment device for aligning each of the plurality of susceptors to the plurality of insertion areas.

상기와 같은 기판안치수단에 있어서, 상기 정렬장치는, 상기 다수의 삽입영역의 중앙부에 설치되는 돌출부와, 상기 다수의 디스크의 각각의 하부 중심부에 설치되고 상기 돌출부가 삽입되는 삽입부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the substrate mounting means as described above, the alignment device includes a projection provided in the central portion of the plurality of insertion regions, and the insertion portion is installed in the lower central portion of each of the plurality of disks and the projection is inserted. It is done.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기판처리장치는, 반응공간을 제공하는 챔버; 상기 반응공간에 공정가스를 공급하는 제 1 가스공급장치; 다수의 삽입영역을 가지는 디스크, 상기 다수의 삽입영역의 각각에 설치되고, 기판이 안착되는 다수의 서셉터, 및 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되고 구동력 전달수단을 포함하는 기판안치수단; 상기 구동력 전달수단에 구동력을 인가하기 위한 구동가스를 공급하는 제 2 가스공급장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.Substrate processing apparatus for achieving the above object, the chamber providing a reaction space; A first gas supply device for supplying a process gas to the reaction space; A substrate mounting means including a disk having a plurality of insertion regions, a plurality of susceptors provided on each of the plurality of insertion regions, and a substrate on which the substrate is seated, and a driving force transmission means installed on each side of the plurality of susceptors; ; And a second gas supply device for supplying a driving gas for applying the driving force to the driving force transmission means.

본 발명의 기판안치수단 및 이를 포함한 기판처리장치는 다음과 같은 효과가 있다.Substrate mounting means and a substrate processing apparatus including the same of the present invention has the following effects.

다수의 삽입영역을 가지는 디스크와 다수의 삽입영역의 각각에 설치되고 다수의 기판이 각각 안치되는 다수의 서셉터를 포함한 기판안치수단에 있어서, 디스크는 샤프트에 의해 제 1 방향으로 공전하고, 서셉터의 측면에는 구동력 전달수단으로써 다수의 날개를 설치하고, 다수의 날개에 구동가스가 공급되어 서셉터를 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 자전시키는 것에 의해, 기판 상에 균일한 박막의 증착이 가능하다. 서셉터가 삽입영역에서 구동가스에 의해 부양되어 회전하므로 디스크와 서셉터의 마찰에 의한 이물질의 발생을 최소화하여 성막되는 박막의 특성에 영향을 주지 않는다. 삽입영역의 중심에 설치되는 돌출부와 돌출부와 대응되어 서셉터의 하부에 설치되는 삽입부를 포함하는 정합수단을 설치하여, 서셉터가 회전할 때, 회전경로의 이탈을 방지할 수 있다.In a substrate placing means comprising a disk having a plurality of insertion regions and a plurality of susceptors provided in each of the plurality of insertion regions and in which a plurality of substrates are respectively placed, the disk revolves in a first direction by a shaft, and the susceptor A plurality of blades are provided on the side of the driving force, and driving gases are supplied to the plurality of blades to rotate the susceptor in a second direction opposite to the first direction, thereby depositing a uniform thin film on the substrate. It is possible. Since the susceptor is supported by the driving gas in the insertion region and rotates, the susceptor minimizes the generation of foreign substances due to the friction between the disk and the susceptor and does not affect the characteristics of the thin film. It is possible to prevent the deviation of the rotation path when the susceptor rotates by installing a matching means including a protrusion provided in the center of the insertion region and an insertion portion installed in the lower portion of the susceptor corresponding to the protrusion.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기판처리장치의 개략도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 평면도이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 단면도이고, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 분해사시도이고, 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 서셉터의 상세도이다.2 is a schematic view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a plan view of a substrate mounting means according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a sectional view of a substrate mounting means according to an embodiment of the present invention. 6 is an exploded perspective view of the substrate mounting means according to an embodiment of the present invention, Figure 7 is a detailed view of the susceptor according to an embodiment of the present invention.

도 2와 같이, 기판처리장치(112)는 반응공간을 제공하는 챔버(114), 챔버(114)의 내부에 배치되어, 다수의 기판(116)이 안치되는 기판안치수단(118), 기판안치수단(118)과 대향하여 챔버(114)의 내부에 공정가스를 공급하는 제 1 가스공급장치(122), 기판안치수단(118)을 승하강 및 회전시키는 샤프트(124), 챔버(114) 내부의 공정가스를 배기시키는 배기수단(126)을 포함한다. 챔버(114)의 하부에 설치되는 배기수단(126)은 배기구(142) 및 배기구(142)로부터 분출되는 가스를 배출시키기 위한 배기펌프(144)를 포함한다.As shown in FIG. 2, the substrate processing apparatus 112 is disposed inside the chamber 114 and the chamber 114 that provides a reaction space, and the substrate placing means 118 and the substrate settled on which the plurality of substrates 116 are placed. The first gas supply device 122 for supplying the process gas into the chamber 114 facing the means 118, the shaft 124 for raising and lowering and rotating the substrate setter 118, the chamber 114 inside And exhaust means 126 for exhausting the process gas. The exhaust means 126 installed in the lower portion of the chamber 114 includes an exhaust port 142 and an exhaust pump 144 for discharging the gas ejected from the exhaust port 142.

도 2 내지 도 6과 같이, 기판안치수단(118)은, 샤프트(124)에 의해 제 1 방향으로 회전하는 디스크(130), 디스크(130)에 의해 지지되어 다수의 기판(116)이 안치되고, 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 회전하는 다수의 서셉터(128), 디스크(130)에 설치되고 다수의 서셉터(128)의 각각이 삽입되는 다수의 삽입영역(150), 및 다수의 삽입영역(150)의 내주연을 따라 다수의 서셉터(128)의 각각이 거치될 수 있는 다수의 걸림부(152)를 포함한다. 그리고, 다수의 서셉터(128)와 대응되는 디스크(130)의 하부에 위치하는 가열수단(120)이 설치된다. 가열수단(120) 은 램프히터 또는 인덕션 히터를 사용한다. 기판안치수단(118)은 삽입영역(150)에 서셉터(128)를 정렬시키고, 서셉터(128)가 회전할 때 회전축으로 기능하는 정렬수단(174)을 포함한다.2 to 6, the substrate mounting means 118 is supported by the disk 130 and the disk 130 rotating in the first direction by the shaft 124, and the plurality of substrates 116 are placed therein. , A plurality of susceptors 128 rotating in a second direction opposite to the first direction, a plurality of insertion regions 150 installed in the disc 130 and into which each of the plurality of susceptors 128 is inserted, and a plurality of A plurality of engaging portions 152 that can be mounted to each of the plurality of susceptors 128 along the inner circumference of the insertion region 150 of the. In addition, the heating means 120 positioned below the disk 130 corresponding to the plurality of susceptors 128 is installed. The heating means 120 uses a lamp heater or an induction heater. The substrate setter 118 includes an alignment means 174 that aligns the susceptor 128 with the insertion region 150 and functions as a rotation axis when the susceptor 128 rotates.

상기와 같은, 기판안치수단(118)은 제 1 방향으로 공전하는 디스크(130)와 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 자전하는 서셉터(128)에 의해서, 기판(116) 상에 균일한 박막의 증착이 가능하다. 정렬수단(174)은 삽입영역(150)의 저면 중앙부에는 설치되는 돌출부(170)와, 돌출부(170)와 대응되는 서셉터(128)의 하부 중앙부에 설치되는 삽입부(172)를 포함한다. 돌출부(170)와 삽입부(172)의 사이에는 서셉터(128)가 회전할 수 있을 정도의 유격이 형성된다. 정렬수단(174)은 삽입영역(150)의 돌출부(170)가 서셉터(128)의 삽입부(172)에 삽입되어, 서셉터(128)가 회전할 때, 서셉터(128)가 안정적으로 회전할 수 있도록 이탈을 방지하는 기능을 한다. As described above, the substrate mounting means 118 is uniform on the substrate 116 by the disk 130 revolving in the first direction and the susceptor 128 rotating in the second direction opposite to the first direction. Thin film deposition is possible. The alignment means 174 includes a protrusion 170 installed at the center of the bottom surface of the insertion region 150, and an insertion portion 172 installed at the lower center portion of the susceptor 128 corresponding to the protrusion 170. A gap enough to rotate the susceptor 128 is formed between the protrusion 170 and the insertion part 172. The alignment means 174 is a projection 170 of the insertion region 150 is inserted into the insertion portion 172 of the susceptor 128, when the susceptor 128 is rotated, the susceptor 128 is stably It prevents the departure from being able to rotate.

도 6과 같이, 서셉터(128)에는 기판(116)을 안치하거나 분리할 수 있도록 다수의 리프트 핀(도시하지 않음)이 승하강할 수 있는 다수의 리프트 핀 홀(154)이 설치된다. 다수의 서셉터(128)는 디스크(130)보다 얇게 제작한다. 샤프트(124)의 중심에는 도 2 및 도 4와 같이, 외부로부터 인입되고 다수의 서셉터(128)를 회전시키기 위한 구동력을 제공하기 위한 제 2 가스분사수단(180)이 설치된다. 제 2 가스분사수단(180)은 기판안치수단(118)의 중심부에 내장되어 구동가스를 수용하는 원 형의 버퍼공간(180a), 다수의 삽입영역(150)과 버퍼공간(180a)을 연통시키고, 서셉터(128)의 회전을 위한 구동가스를 제공하는 다수의 가스주입관(180b), 버퍼공간(180a)에 구동가스를 공급하기 위해, 샤프트(124)의 중심영역에 수직으로 설치되는 가스도입관(180c), 및 구동가스 공급부(도시하지 않음)로 구성된다. 버퍼공간(180a)은 디스크(130)의 중심에 내장되어 있으나, 도 6에서 내부를 보여주기 위하여 편의상 상부면을 절단한 상태로 도시한다. 버퍼공간(180a)은 하부에 가스도인입관(180c)과 연결되고, 측면에는 다수의 가스주입관(180b)과 연결된다.As shown in FIG. 6, the susceptor 128 is provided with a plurality of lift pin holes 154 to which a plurality of lift pins (not shown) may be lifted and lowered so as to settle or separate the substrate 116. The plurality of susceptors 128 are made thinner than the disk 130. 2 and 4, the second gas injection means 180 is provided at the center of the shaft 124 to provide a driving force for drawing from the outside and rotating the plurality of susceptors 128. The second gas injection means 180 communicates with the circular buffer space 180a, the plurality of insertion regions 150, and the buffer space 180a, which are embedded in the center of the substrate setter 118 and accommodate the driving gas. In order to supply the driving gas to the plurality of gas injection pipes 180b and the buffer space 180a for providing the driving gas for the rotation of the susceptor 128, the gas is installed perpendicular to the center region of the shaft 124. It consists of an introduction pipe 180c, and a drive gas supply part (not shown). The buffer space 180a is built in the center of the disk 130, but is shown in a state of cutting the upper surface for convenience of illustration in FIG. The buffer space 180a is connected to the gas inlet pipe 180c at the lower side thereof, and is connected to the plurality of gas injection pipes 180b at the side surface thereof.

제 2 가스분사수단(180)에서는 반응공간의 공정가스에 영향을 주지 않는 불활성가스 또는 비반응성가스를 공급한다. 비반응성가스로는 질소가스를 사용한다. 서셉터(128)의 측면에는 서셉터(128)를 회전시키기 위해, 가스주입관(180b)으로부터 분사되는 구동가스의 구동력을 전달하기 위한 구동력 전달수단으로써 다수의 날개(182)가 설치된다. 다수의 날개(182)와 삽입영역(150)의 내주연 사이에는 구동가스가 충분히 유동할 수 있는 유동공간(184)이 형성된다. 그리고, 삽입영역(150)의 내주연을 따라 서셉터(128)의 각각이 거치되는 걸림부(152)의 상부에서, 삽입영역(150)과 서셉터(128)의 사이는 회전이 가능할 정도의 회전공간(186)이 설정되고, 회전공간(186)을 통하여, 구동가스가 반응공간으로 배출된다. 따라서, 유동공간(184)에서 구동가스가 다수의 날개(182)에 분사되면서 서셉터(128)가 회전할 수 있다. 다수의 날개(180)의 각각은 0 내지 45도의 범위의 각도를 가지고, 동일 간격으로 배치된다.The second gas injection means 180 supplies an inert gas or a non-reactive gas that does not affect the process gas in the reaction space. Nitrogen gas is used as the non-reactive gas. In order to rotate the susceptor 128 on the side of the susceptor 128, a plurality of wings 182 are installed as a driving force transmission means for transmitting a driving force of the driving gas injected from the gas injection pipe 180b. A flow space 184 is formed between the plurality of wings 182 and the inner circumference of the insertion region 150 to allow the driving gas to sufficiently flow. In addition, in the upper portion of the engaging portion 152 in which each of the susceptors 128 is mounted along the inner circumference of the insertion region 150, the insertion region 150 and the susceptor 128 may be rotatable. The rotating space 186 is set, and the driving gas is discharged to the reaction space through the rotating space 186. Accordingly, the susceptor 128 may rotate while the driving gas is injected into the plurality of wings 182 in the flow space 184. Each of the plurality of vanes 180 has an angle in the range of 0 to 45 degrees and is arranged at equal intervals.

서셉터(128)의 하부에는 기판(116)을 가열하기 위한 가열수단(120)으로 인해, 서셉터(128)를 회전시키기 위한 구동력 전달수단을 서셉터(128)의 하부에 설치하기 어렵다. 구동력 전달수단을 서셉터(128)의 하부에 설치하기 위해, 추가적인 부품이 서셉터(128)의 하부에 장착되거나, 서셉터(128)의 기계적 가공이 필요하다. 그러나, 이러한 부품의 추가 및 및 기계적인 가공은 서셉터(128)의 온도분포가 불균일해지는 문제를 야기시킬 수 있다. 그리고, 구동력 전달수단이 설치되는 위치와 대응되는 서셉터(128)를 가열수단(120)이 커버하지 못하는 경우가 발생할 수 있다. 이러한 경우에도, 동일하게 서셉터(128)의 온도분포가 불균일해지는 문제를 야기한다. 따라서, 본 발명의 실시예에서는, 서셉터(128)의 온도분포를 균일하게 유지하고, 최소의 가공으로 서셉터(128)를 회전시킬 수 있는 구동력 전달수단으로써 다수의 날개(182)를 서셉터(128)의 측면에 부착한다. Due to the heating means 120 for heating the substrate 116 in the lower portion of the susceptor 128, it is difficult to install a driving force transmission means for rotating the susceptor 128 in the lower portion of the susceptor 128. In order to install the driving force transmission means in the lower part of the susceptor 128, additional parts are mounted in the lower part of the susceptor 128, or mechanical processing of the susceptor 128 is required. However, the addition and mechanical processing of such components can cause the problem of uneven temperature distribution of susceptor 128. In addition, the heating means 120 may not cover the susceptor 128 corresponding to the position where the driving force transmitting means is installed. Even in this case, the same causes a problem that the temperature distribution of the susceptor 128 is uneven. Therefore, in the embodiment of the present invention, the plurality of wings 182 susceptor as a driving force transmission means capable of maintaining the temperature distribution of the susceptor 128 uniformly and rotating the susceptor 128 with minimal processing. Attach to the side of 128.

가스주입관(180b)은, 실질적으로 다수의 날개(182)의 각각의 수직 중심부와 대응되도록 삽입영역(150)의 내측면에 설치된다. 디스크(130)의 중심으로부터 다수의 가스주입관(180b)의 거리는 동일하고, 다수의 가스주입관(180b)의 각각이 이루는 각도는 동일하다. 가스주입관(180b)과 서셉터(128)의 개수는 동일하지만, 서셉터(128)의 외주연에 설치되어 있는 다수의 날개(182)에 버퍼공간(180a)과 동시에 연결되는 2 개 이상의 가스주입관(180b)에 의해 구동가스가 공급될 수 있다. 그러나, 하나의 서셉터(128)에 2 개 이상의 가스주입관(180b)에 의해 구동가스가 공급 될 때는, 반드시 동일한 방향으로 구동가스가 분사되어야 한다. 다른 방향으로 분사된다면, 서셉터(128)의 정상적인 회전에 문제가 발생될 수 있다. The gas injection pipe 180b is installed on the inner side surface of the insertion region 150 to substantially correspond to the vertical center of each of the plurality of wings 182. The distance of the plurality of gas injection pipes 180b from the center of the disk 130 is the same, and the angle formed by each of the plurality of gas injection pipes 180b is the same. The number of gas injection pipes 180b and the susceptor 128 is the same, but two or more gases simultaneously connected to the buffer space 180a to the plurality of wings 182 installed at the outer circumference of the susceptor 128. The driving gas may be supplied by the injection tube 180b. However, when the driving gas is supplied to the susceptor 128 by two or more gas injection pipes 180b, the driving gas must be injected in the same direction. If sprayed in the other direction, a problem may occur in the normal rotation of the susceptor 128.

제 2 가스분사수단(180)의 다수의 가스주입관(180b)을 통하여 구동가스가 공급하면, 구동가스는 유동공간(182)에 공급되고, 다수의 날개(180)에 구동가스에 의한 구동력이 전달된다. 구동가스가 유동공간(182)을 공급되면, 다수의 삽입영역(150)의 압력은 반응공간보다 높아지고 서셉터(118)가 다수의 삽입영역(150)의 저면으로부터 부양되는 현상이 일어나고, 구동가스는 서셉터(118)과 걸림부(152) 사이의 공간으로 배출되어, 구동가스가 공급되는 상태에서 삽입영역(150)의 압력은 동일하게 유지된다. 구동가스에 의해 서셉터(118)가 부양되고, 구동가스가 다수의 날개(184)에 공급되어 서셉터(118)가 돌출부(170)를 회전축으로 회전한다.When the driving gas is supplied through the plurality of gas injection pipes 180b of the second gas injection means 180, the driving gas is supplied to the flow space 182, and the driving force by the driving gas is applied to the plurality of vanes 180. Delivered. When the driving gas is supplied to the flow space 182, the pressure of the plurality of insertion regions 150 is higher than the reaction space and the susceptor 118 is lifted from the bottom of the plurality of insertion regions 150. Is discharged into the space between the susceptor 118 and the locking portion 152, the pressure of the insertion region 150 is maintained the same while the driving gas is supplied. The susceptor 118 is supported by the driving gas, and the driving gas is supplied to the plurality of wings 184 so that the susceptor 118 rotates the protrusion 170 on the rotation axis.

기판안치수단(118)은 샤프트(124)에 의해 제 1 방향으로 공전하는 디스크(130)와 구동가스에 의해 제 1 방향과 역방향인 제 2 방향으로 자전하는 서셉터(128)에 의해서, 기판(116) 상에 균일한 박막의 증착이 가능하다. 가스주입관(180b)을 통하여 서셉터(128)를 회전시키기 위하여 구동가스를 공급할 때, 처음부터 서셉터(128)를 구동시키는 유량으로 구동가스를 공급하지 않고, 가스유량을 서서히 증가시켜 정상적인 가스유량에 도달시키는 램핑 타임(ramping time)이 필요하다. 처음부터 서셉터(128)를 구동시키기 위한 가스유량을 서셉터(128)에 인가하면, 급격한 유량의 증가로 인해 서셉터(128)가 일방향으로 기울어지고, 삽입영 역(150)의 저면과 마찰하면서 회전하는 현상이 발생할 수 있다. 따라서, 램핑 타입 동안 구동가스의 유량을 서서히 증가시켜 서셉터(128)와 디스크(130)의 마찰을 방지할 수 있다. The substrate placing means 118 is formed by a disk 130 rotating in a first direction by a shaft 124 and a susceptor 128 rotating in a second direction opposite to the first direction by a driving gas. A uniform thin film deposition on 116 is possible. When the driving gas is supplied to rotate the susceptor 128 through the gas injection pipe 180b, the gas flow rate is gradually increased without supplying the driving gas at the flow rate for driving the susceptor 128 from the beginning, and thus the normal gas is supplied. There is a need for a ramping time to reach the flow rate. When the gas flow rate for driving the susceptor 128 is applied to the susceptor 128 from the beginning, the susceptor 128 is inclined in one direction due to a sudden increase in flow rate, and friction with the bottom surface of the insertion region 150 is caused. Rotating phenomenon may occur. Therefore, it is possible to prevent the friction between the susceptor 128 and the disk 130 by gradually increasing the flow rate of the driving gas during the ramping type.

또한, 램프 타임을 거쳐 정상적인 유량을 가지는 구동가스를 공급하여 서셉터(128)를 회전시키는 과정에서, 서셉터(128)를 정상상태보다 빠르게 회전시키는 경우에는, 일시적으로 구동가스의 유량을 증가시키기 않고, 구동가스의 유량을 서서히 증가시키는 중간 램핑 타임이 필요하다. 중간 램핑 타임으로 인해 서셉터(128)가 회전 경로를 이탈하지 않고 정상적으로 회전할 수 있다. 삽입영역(150)의 저면에 위치한 돌출부(170)와 돌출부(170)가 삽입되는 디스크(130)의 삽입부(172)는 디스크(130)가 회전할 때, 중심에서 벗어나지 않게 하기 위한 회전축으로 기능하여, 안정성을 확보할 수 있다.In addition, when the susceptor 128 is rotated faster than the normal state in the process of supplying the driving gas having a normal flow rate through the ramp time to rotate the susceptor 128, the flow rate of the driving gas is temporarily increased. Instead, an intermediate ramping time is needed to slowly increase the flow rate of the drive gas. The intermediate ramping time allows the susceptor 128 to rotate normally without departing from the rotation path. The protrusion 170 located at the bottom of the insertion region 150 and the insertion portion 172 of the disc 130 into which the protrusion 170 is inserted function as a rotation axis for preventing the disc 130 from moving out of the center thereof. This ensures stability.

도 1은 종래기술에 따른 기판안치수단의 평면도1 is a plan view of a substrate mounting means according to the prior art

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기판처리장치의 개략도2 is a schematic view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 평면도3 is a plan view of the substrate mounting means according to an embodiment of the present invention

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 단면도Figure 4 is a cross-sectional view of the substrate mounting means according to an embodiment of the present invention

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 기판안치수단의 분해사시도6 is an exploded perspective view of the substrate settlement means according to an embodiment of the present invention;

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 서셉터의 상세도이다.7 is a detailed view of a susceptor according to an embodiment of the present invention.

Claims (9)

다수의 삽입영역을 가지는 디스크;A disk having a plurality of insertion regions; 상기 다수의 삽입영역의 각각에 설치되고, 기판이 안착되는 다수의 서셉터;A plurality of susceptors installed in each of the plurality of insertion regions and in which a substrate is mounted; 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되는 구동력 전달수단;Drive force transmission means installed on each side of the plurality of susceptors; 상기 구동력 전달수단에 구동력을 인가하기 위한 구동가스를 공급하는 가스공급장치;A gas supply device for supplying a driving gas for applying a driving force to the driving force transmitting means; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.Substrate settlement means comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 디스크를 제 1 방향으로 회전하고, 상기 다수의 서셉터의 각각은 상기 제 1 방향과 반대되는 제 2 방향으로 회전하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.And the disk is rotated in a first direction, and each of the plurality of susceptors is rotated in a second direction opposite to the first direction. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 구동력 전달수단은 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되는 다수의 날개인 것을 특징으로 하는 기판안치수단.The driving force transmitting means is a substrate settlement means, characterized in that a plurality of wings installed on each side of the plurality of susceptors. 제 3 항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 다수의 날개는 동일한 간격으로 배치되고, 상기 다수의 날개의 각각은 0 내지 45도의 범위로 경사배치되는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.The plurality of blades are arranged at equal intervals, each of the plurality of blades substrate placement means characterized in that inclined arrangement in the range of 0 to 45 degrees. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 가스공급장치는, The gas supply device, 상기 디스크의 중심에 설치되고 상기 구동가스를 수용하는 버퍼공간;A buffer space installed at the center of the disk to receive the driving gas; 상기 버퍼공간과 연결되고 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면과 대응되는 다수의 가스주입관;A plurality of gas injection pipes connected to the buffer space and corresponding to respective side surfaces of the plurality of susceptors; 상기 버퍼공간과 연결되고 상기 구동가스를 공급하기 위한 가스도입관;A gas introduction pipe connected to the buffer space and supplying the driving gas; 상기 가스도입관과 연결되는 구동가스공급부;A driving gas supply unit connected to the gas introduction pipe; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.Substrate settlement means comprising a. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 각각의 상기 다수의 삽입영역과 상기 다수의 서셉터의 사이에 상기 구동가스가 유동하는 유동공간이 설정되는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.And a flow space in which the driving gas flows is set between each of the plurality of insertion regions and the plurality of susceptors. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 다수의 서셉터의 각각을 상기 다수의 삽입영역에 정렬시키는 정렬장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.Substrate alignment means for aligning each of the plurality of susceptors with the plurality of insertion regions. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 정렬장치는, 상기 다수의 삽입영역의 중앙부에 설치되는 돌출부와, 상기 다수의 디스크의 각각의 하부 중심부에 설치되고 상기 돌출부가 삽입되는 삽입부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단.The alignment device includes a protrusion provided in a central portion of the plurality of insertion regions, and an insertion portion provided in the lower central portion of each of the plurality of disks and the protrusion inserted therein. 반응공간을 제공하는 챔버;A chamber providing a reaction space; 상기 반응공간에 공정가스를 공급하는 제 1 가스공급장치;A first gas supply device for supplying a process gas to the reaction space; 다수의 삽입영역을 가지는 디스크, 상기 다수의 삽입영역의 각각에 설치되고, 기판이 안착되는 다수의 서셉터, 및 상기 다수의 서셉터의 각각의 측면에 설치되고 구동력 전달수단을 포함하는 기판안치수단;A substrate mounting means including a disk having a plurality of insertion regions, a plurality of susceptors provided on each of the plurality of insertion regions, and a substrate on which the substrate is seated, and a driving force transmission means installed on each side of the plurality of susceptors; ; 상기 구동력 전달수단에 구동력을 인가하기 위한 구동가스를 공급하는 제 2 가스공급장치;A second gas supply device for supplying a driving gas for applying a driving force to the driving force transmitting means; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판안치수단를 포함하는 기판처리장치.Substrate processing apparatus comprising a substrate mounting means comprising a.
KR1020090002404A 2009-01-12 2009-01-12 Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same KR20100083046A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090002404A KR20100083046A (en) 2009-01-12 2009-01-12 Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090002404A KR20100083046A (en) 2009-01-12 2009-01-12 Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20100083046A true KR20100083046A (en) 2010-07-21

Family

ID=42642920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090002404A KR20100083046A (en) 2009-01-12 2009-01-12 Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20100083046A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130137328A (en) * 2012-06-07 2013-12-17 주성엔지니어링(주) Apparatus and method of processing substrate
KR20180007262A (en) * 2016-07-12 2018-01-22 주성엔지니어링(주) Substrate treatment apparatus
KR20180010712A (en) * 2016-07-22 2018-01-31 주성엔지니어링(주) Substrate treatment apparatus
KR102238016B1 (en) * 2019-11-07 2021-04-08 주식회사 한화 Apparatus for processing substrate

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130137328A (en) * 2012-06-07 2013-12-17 주성엔지니어링(주) Apparatus and method of processing substrate
KR20180007262A (en) * 2016-07-12 2018-01-22 주성엔지니어링(주) Substrate treatment apparatus
KR20180010712A (en) * 2016-07-22 2018-01-31 주성엔지니어링(주) Substrate treatment apparatus
KR102238016B1 (en) * 2019-11-07 2021-04-08 주식회사 한화 Apparatus for processing substrate

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5544669B2 (en) Gas injection unit and thin film deposition apparatus and method using the same
TWI500811B (en) Substrate susceptor and deposition apparatus including the same
US6040011A (en) Substrate support member with a purge gas channel and pumping system
US8845857B2 (en) Substrate processing apparatus
EP2913844B1 (en) Epitaxial growth apparatus
TWI712704B (en) Atomic layer deposition apparatus
KR20190074481A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method using the same
KR20100083046A (en) Subtrate supporting member and appratus for treatmenting substrate including the same
TWI697364B (en) One-piece injector assembly, lower liner, and apparatus for substrate processing including the same
KR101548347B1 (en) Atomic layer depositon mathod used in manufacturing semiconductor device
KR100703214B1 (en) Mocvd of planetary type
KR20110117417A (en) Susceptor for chemical vapor deposition apparatus and chemical vapor deposition apparatus having the same
WO1989001054A1 (en) Surface deposition or surface treatment reactor
TWI770258B (en) Substrate supporting device and substrate processing apparatus
KR100490013B1 (en) Vapor deposition apparatus and vapor deposition method
KR101123828B1 (en) Atomic layer depositon apparatus used in manufacturing semiconductor device
KR101464202B1 (en) Apparatus for processing substrate
KR101135083B1 (en) Apparatus and method for depositing thin layer
KR20210079781A (en) Apparatus for processing substrate
KR20040102600A (en) Deposition apparatus for manufacturing semiconductor devices
KR102417426B1 (en) A substrate processing apparatus including a protection portion
KR101374300B1 (en) Exhaust member, apparatus and method for processing substrate
KR20230084363A (en) Method for processing substrate and substrate processing apparatus therefor
KR20240139506A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR20060126265A (en) Chemical vapor deposition apparatus for multiple substrates

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application