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KR20090017847A - Measuring system for optical lens and method for measuring characteristic of lens using the same - Google Patents

Measuring system for optical lens and method for measuring characteristic of lens using the same Download PDF

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KR20090017847A
KR20090017847A KR1020070082334A KR20070082334A KR20090017847A KR 20090017847 A KR20090017847 A KR 20090017847A KR 1020070082334 A KR1020070082334 A KR 1020070082334A KR 20070082334 A KR20070082334 A KR 20070082334A KR 20090017847 A KR20090017847 A KR 20090017847A
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KR
South Korea
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holder
lens
collimator
mount unit
optical
Prior art date
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Korean (ko)
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Inventor
정극원
Original Assignee
주식회사 코렌
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Publication date
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Abstract

A measurement system for an optical lens is provided to respectively adjust slopes of first and second holders and correct optical axes of a lens and a mirror or optical axes of the lens and an image sensor with accuracy to reduce measurement error of the system. A measurement system for an optical lens includes a first mount unit(M1), a second mount unit(M2) and a collimator(300). The first mount unit includes a first holder(100) and a first means(110). The first holder holds an optical element. The first means adjusts the slope of the first holder. The second mount unit is arranged above the first holder and includes a second holder(200) and a second means(210). The second holder holds an optical element. The second means adjusts the slope of the second holder. The collimator is located above the second holder.

Description

광학 렌즈용 계측 시스템 및 그를 이용한 렌즈의 특성 평가 방법{Measuring system for optical lens and method for measuring characteristic of lens using the same}Measuring system for optical lens and measuring method of lens using the same {Measuring system for optical lens and method for measuring characteristic of lens using the same}

본 발명은 계측 시스템 및 그의 사용 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광학 렌즈용 계측 시스템 및 그를 이용한 렌즈의 특성 평가 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a measuring system and a method of using the same, and more particularly, to a measuring system for an optical lens and a method for evaluating the characteristics of a lens using the same.

광학 렌즈의 신뢰성 평가란, 렌즈를 고온, 고습 또는 저온 분위기 등에 방치한 후, 이런 분위기에서 렌즈의 특성이 얼마나 열화되었는지를 평가하는 것이다. 상기한 분위기 하에서 렌즈의 두께 및 굴절률 등이 변화되어, 결과적으로 렌즈의 초점거리와 같은 특성이 달라질 수 있다. 신뢰성 평가를 위해서는 렌즈의 특성을 정밀하게 측정할 수 있는 계측 장비가 요구된다. The reliability evaluation of an optical lens is to evaluate how deteriorated the characteristics of the lens in such an atmosphere after leaving the lens in a high temperature, high humidity or low temperature atmosphere. Under the above-described atmosphere, the thickness and refractive index of the lens may be changed, and as a result, characteristics such as the focal length of the lens may vary. In order to evaluate reliability, measurement equipment that can accurately measure the characteristics of the lens is required.

상기한 계측 장비는 렌즈의 품질 관리를 위해서도 사용될 수 있다. 예를 들어, 소정의 계측 장비를 이용해서, 출고 전 렌즈의 해상도를 측정함으로써, 그 렌즈의 양·불량을 판단할 수 있다. The metrology equipment described above may also be used for quality control of the lens. For example, by measuring the resolution of the lens before shipment using a predetermined measurement equipment, it is possible to determine the quantity and defect of the lens.

최근, 광학 렌즈의 고화소화 및 소형화(즉, 전장의 축소)가 급속하게 진행됨에 따라, 렌즈의 특성 평가 및 품질 관리가 어려워졌다. 이는 기존의 계측 장비는 가공 정밀도에만 의존하는 부품을 다수 포함하여, 장비 자체가 갖는 오차가 크기 때문이다. 따라서, 기존의 계측 장비로는 정확하고 정밀한 신뢰성 평가 및 품질 관리가 어렵다. 또한 불량의 원인 분석도 용이하지 않다. In recent years, as the high pixel size and miniaturization (i.e., the reduction of the overall length) of the optical lens proceeds rapidly, it becomes difficult to evaluate the characteristics of the lens and to control the quality. This is because the existing measurement equipment includes a large number of parts that depend only on processing precision, and thus the error of the equipment itself is large. Therefore, it is difficult to accurately and precisely evaluate reliability and control quality with existing measurement equipment. In addition, it is not easy to analyze the cause of the defect.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 상술한 종래의 문제점을 개선하기 위한 것으로서, 광학 렌즈의 특성을 보다 정확하고 정밀하게 측정할 수 있는 광학 렌즈용 계측 시스템을 제공하는데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in an effort to improve the above-described conventional problems, and to provide a measurement system for an optical lens that can more accurately and accurately measure the characteristics of an optical lens.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 상기 광학 렌즈용 계측 시스템을 이용한 렌즈의 특성 평가 방법을 제공하는데 있다. Another object of the present invention is to provide a method for evaluating the characteristics of a lens using the optical system.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 광학 요소가 탑재되는 제1 홀더 및 상기 제1 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제1 수단을 포함하는 제1 마운트 유닛; 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더 및 상기 제2 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제2 수단을 포함하는 제2 마운트 유닛; 및 상기 제2 홀더의 위쪽에 배치되는 시준기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템을 제공한다. In order to achieve the above technical problem, the present invention includes a first mount unit including a first holder on which an optical element is mounted and a first means for adjusting the inclination of the first holder; A second mount unit disposed above the first holder and including a second holder on which the optical element is mounted and second means for adjusting the inclination of the second holder; And a collimator disposed above the second holder.

상기 제1 마운트 유닛은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함할 수 있다. The first mounting unit may further include a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder.

상기 제1 마운트 유닛은 상기 이동 장치, 상기 제1 수단 및 상기 제1 홀더가 차례로 적층된 구조일 수 있다. The first mount unit may have a structure in which the moving device, the first means, and the first holder are sequentially stacked.

상기 제2 마운트 유닛은 지지기둥 및 이에 수직한 방향으로 확장된 지지판을 포함할 수 있고, 상기 제2 홀더는 상기 지지판 상에 구비될 수 있다. The second mount unit may include a support pillar and a support plate extended in a direction perpendicular thereto, and the second holder may be provided on the support plate.

상기 제2 수단은 상기 지지기둥과 상기 지지판 사이에 구비될 수 있다. The second means may be provided between the support pillar and the support plate.

상기 제2 수단은 상기 제1 수단과 동일한 구조를 가질 수 있다. The second means may have the same structure as the first means.

상기 제2 마운트 유닛은 상기 제2 홀더를 지지하는 지지판을 포함하고, 상기 제2 수단은 상기 제2 홀더에 구비된 다수의 볼트이며, 상기 볼트들에 의해 상기 지지판에 대해서 상기 제2 홀더의 기울기가 조절될 수 있다. The second mount unit includes a support plate for supporting the second holder, and the second means is a plurality of bolts provided in the second holder, the inclination of the second holder with respect to the support plate by the bolts. Can be adjusted.

상기 제1 및 제2 마운트 유닛은 동일 베이스 상에 구비될 수 있다. The first and second mount units may be provided on the same base.

상기 베이스는 다른 베이스 상에 구비될 수 있다. The base may be provided on another base.

상기 다른 베이스 상에 상기 시준기를 지지하는 구조물이 구비될 수 있다. A structure for supporting the collimator on the other base may be provided.

또한 상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 베이스; 상기 베이스 상에 구비된 것으로서, 광학 요소가 탑재되는 제1 홀더를 포함하는 제1 마운트 유닛; 및 상기 베이스 상에 구비된 것으로서, 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더를 포함하는 제2 마운트 유닛;을 구비하고, 상기 제1 및 제2 홀더는 수평한 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템을 제공한다. In order to achieve the above technical problem, the present invention is a base; A first mount unit provided on the base, the first mount unit including a first holder on which an optical element is mounted; And a second mounting unit provided on the base and including a second holder disposed above the first holder and mounted with an optical element, wherein the first and second holders are horizontal. It provides a measurement system for an optical lens.

상기 제1 마운트 유닛은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함할 수 있다. The first mounting unit may further include a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder.

상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 광학 요소가 탑재되는 제1 홀더 및 상기 제1 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제1 수단을 포함하는 제1 마운트 유닛, 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더 및 상기 제2 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제2 수단을 포함하는 제2 마운트 유닛, 및 상기 제2 홀더의 위쪽에 배치되는 시준기를 포함하는 광학 렌즈용 계측 시스템을 이용한 렌즈의 특성 평가 방법에 있어서, 상기 제1 및 제2 홀더의 수평을 각각 맞추는 단계; 및 상기 제1 및 제2 홀더에 각각 미러 및 렌즈를 탑재한 상태에서, 상기 시준기를 이용해서 상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법을 제공한다. In order to achieve the above another technical problem, the present invention is a first mounting unit comprising a first holder on which an optical element is mounted and a first means for adjusting the inclination of the first holder, disposed above the first holder and A second mounting unit comprising a second holder on which the optical element is mounted and a second means for adjusting the inclination of the second holder, and a metrology system for an optical lens comprising a collimator disposed above the second holder. A method for evaluating characteristics of a lens, comprising: leveling the first and second holders respectively; And evaluating characteristics of the lens using the collimator in a state in which mirrors and lenses are mounted on the first and second holders, respectively.

상기 제1 홀더의 수평을 맞추는 단계는, 상기 제1 홀더에 제1 미러를 탑재하는 단계; 및 상기 시준기의 슬릿(slit)을 통과한 빛이 상기 시준기에 내재된 광선 분할기(beam splitter)에서 반사되어 나타나는 제1상과, 상기 빛이 상기 광선 분할기를 통과하여 상기 제1 미러에서 반사된 후 상기 광선 분할기에서 반사되어 나타나는 제2상의 중심이 일치되도록 상기 제1 수단을 조정하는 단계;를 포함할 수 있다. Leveling the first holder may include mounting a first mirror on the first holder; And a first phase in which light passing through a slit of the collimator is reflected by a beam splitter inherent to the collimator, and after the light is reflected through the beam splitter and reflected in the first mirror. And adjusting the first means to coincide with the center of the second phase reflected by the ray splitter.

상기 제2 홀더의 수평을 맞추는 단계는, 상기 제2 홀더에 제2 미러를 탑재하는 단계; 및 상기 시준기의 슬릿(slit)을 통과한 빛이 상기 시준기에 내재된 광선 분할기(beam splitter)에서 반사되어 나타나는 제1상과, 상기 빛이 상기 광선 분할기를 통과하여 상기 제2 미러에서 반사된 후 상기 광선 분할기에서 반사되어 나타나는 제2상의 중심이 일치되도록 상기 제2 수단을 조정하는 단계;를 포함할 수 있다. Leveling the second holder may include mounting a second mirror on the second holder; And a first phase in which light passing through a slit of the collimator is reflected by a beam splitter embedded in the collimator, and after the light is reflected through the beam splitter and reflected in the second mirror. And adjusting the second means to coincide with the center of the second phase reflected by the ray splitter.

상기 광학 렌즈용 계측 시스템은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함할 수 있다. The metrology system for the optical lens may further comprise a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder.

상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계는, 신뢰성 테스트 전의 렌즈의 특성을 평가하는 단계; 상기 렌즈에 대한 신뢰성 테스트를 수행하는 단계; 상기 신뢰성 테스 트를 거친 상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계; 및 상기 신뢰성 테스트 전과 후에 평가된 상기 렌즈의 특성을 비교하는 단계;를 포함할 수 있다. Evaluating characteristics of the lens may include evaluating characteristics of the lens before the reliability test; Performing a reliability test on the lens; Evaluating characteristics of the lens that have passed the reliability test; And comparing the characteristics of the lens evaluated before and after the reliability test.

또한, 상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 베이스, 상기 베이스 상에 구비된 것으로서 광학 요소가 탑재되는 제1 홀더를 포함하는 제1 마운트 유닛, 및 상기 베이스 상에 구비된 것으로서 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더를 포함하는 제2 마운트 유닛을 구비하고, 상기 제1 및 제2 홀더는 수평한 광학 렌즈용 계측 시스템을 이용한 렌즈의 특성 평가 방법에 있어서, 상기 제1 홀더의 중심과 상기 제2 홀더의 중심을 동일 수직선 상에 배치하기 위한 센터링(centering) 단계; 상기 제1 및 제2 홀더에 각각 이미지센서 및 렌즈를 탑재하고, 상기 제2 홀더 위쪽에 피사체를 배치하는 단계; 상기 피사체의 이미지를 얻는 단계; 및 상기 이미지를 분석하여 상기 렌즈의 해상도를 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법을 제공한다. In addition, in order to achieve the above another technical problem, the present invention provides a base, a first mount unit including a first holder on which the optical element is mounted as provided on the base, and the first as provided on the base A second mounting unit comprising a second holder disposed above a holder and mounted with an optical element, wherein the first and second holders are characterized in that the lens has a characteristic evaluation method using a measurement system for an optical lens. Centering the center of the first holder and the center of the second holder on a same vertical line; Mounting an image sensor and a lens on the first and second holders, respectively, and placing a subject above the second holder; Obtaining an image of the subject; And analyzing the image to evaluate the resolution of the lens.

상기 렌즈용 계측 시스템은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함할 수 있다. The metrology system for the lens may further comprise a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder.

상기 센터링은 상기 이동 장치 및 공구현미경을 이용하여 수행할 수 있다. The centering may be performed using the moving device and the tool microscope.

상기 센터링 단계 전, 상기 제1 및 제2 홀더의 수평을 각각 맞추는 단계를 더 포함할 수 있다. Before the centering step, it may further comprise the step of leveling the first and second holder, respectively.

본 발명의 계측 시스템에서는 제1 및 제2 홀더의 기울기가 각각 조절될 수 있고, 렌즈와 미러 또는 렌즈와 이미지센서의 광축이 정밀하게 보정될 수 있기 때 문에, 장비의 측정 오차를 줄일 수 있다. 따라서 본 발명의 계측 시스템을 이용하면, 렌즈의 초점거리 및 해상도와 같은 광학적 특성을 정밀하고 정확하게 측정할 수 있다. In the measurement system of the present invention, since the inclination of the first and second holders can be adjusted, and the optical axis of the lens and the mirror or the lens and the image sensor can be precisely corrected, the measurement error of the equipment can be reduced. . Thus, using the metrology system of the present invention, optical properties such as focal length and resolution of the lens can be measured accurately and accurately.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 렌즈용 계측 시스템 및 그를 이용한 렌즈의 특성 평가 방법을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 첨부된 도면에 도시된 층이나 요소들의 폭 및 두께는 명세서의 명확성을 위해 다소 과장되게 도시된 것이다. 도면들에서 동일한 도면 번호는 동일한 구성 요소를 나타낸다. Hereinafter, a measurement system for an optical lens and a method for evaluating characteristics of a lens using the same according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The width and thickness of the layers or elements shown in the accompanying drawings are somewhat exaggerated for clarity of specification. Like reference numbers in the drawings indicate like elements.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광학 렌즈용 측정 시스템을 보여준다. 1 shows a measuring system for an optical lens according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 베이스(50) 상에 제1 및 제2 마운트 유닛(M1, M2)이 구비되어 있다. 제1 마운트 유닛(M1)은 베이스(50) 상에 차례로 구비된 이동 장치(120), 제1 수단(110) 및 제1 홀더(100)를 포함할 수 있다. 제1 홀더(100)의 탑재부(11)에는 미러 또는 이미지센서와 같은 광학 요소가 탑재된다. 제1 수단(110)은 제1 홀더(100)의 기울기를 조절하기 위한 수단이다. 제1 수단(110)에 대해서는 추후에 보다 자세히 설명한다. 이동 장치(120)는 제1 홀더(100)를 수평 및 수직 방향으로 이동시키기 위한 장치이다. 이동 장치(120)는 제1 홀더(100)를 X, Y 및 Z축 방향으로의 이동시키기 위한 X축, Y축 및 Z축 이동 유닛(120a, 120b, 120c)을 포함할 수 있다. X축, Y축 및 Z축 이동 유닛(120a, 120b, 120c)은 각각 X축, Y축 및 Z축 이동 핸들(10a, 10b, 10c)을 포함할 수 있다. X축, Y축 및 Z축 이동 핸들(10a, 10b, 10c)은 회전 요소이고, 이들을 돌려줌으로써 제1 홀더(100)를 X, Y 및 Z축 방향으로 이동시킬 수 있다. 도시하지는 않았지만, X축, Y축 및 Z축 이동 유닛(120a, 120b, 120c) 각각은 마이크로미터(micrometer)와 같은 정밀 길이 측정기를 포함할 수 있다. 이동 장치(120) 및 제1 수단(110)에 의해, 제1 홀더(100)의 위치 및 기울기는 임의로 조절될 수 있다. Referring to FIG. 1, first and second mounting units M1 and M2 are provided on a base 50. The first mounting unit M1 may include a moving device 120, a first means 110, and a first holder 100 that are sequentially provided on the base 50. The mounting portion 11 of the first holder 100 is mounted with an optical element such as a mirror or an image sensor. The first means 110 is a means for adjusting the inclination of the first holder 100. The first means 110 will be described later in more detail. The moving device 120 is a device for moving the first holder 100 in the horizontal and vertical directions. The moving device 120 may include X, Y, and Z axis moving units 120a, 120b, and 120c for moving the first holder 100 in the X, Y, and Z axis directions. X-, Y-, and Z-axis movement units 120a, 120b, and 120c may include X-, Y-, and Z-axis movement handles 10a, 10b, and 10c, respectively. The X-axis, Y-axis and Z-axis movement handles 10a, 10b and 10c are rotation elements, and by turning them, the first holder 100 can be moved in the X, Y and Z axis directions. Although not shown, each of the X-axis, Y-axis, and Z-axis moving units 120a, 120b, and 120c may include a precision length meter such as a micrometer. By means of the moving device 120 and the first means 110, the position and inclination of the first holder 100 can be arbitrarily adjusted.

제2 마운트 유닛(M2)은 제1 홀더(100) 위쪽에 배치되는 제2 홀더(200) 및 제2 홀더(200)의 기울기를 조절하기 위한 제2 수단(210)을 포함한다. 제2 마운트 유닛(M2)은 베이스(50)에 설치된 지지기둥(230)과 이에 수직한 방향으로 확장된 지지판(220)을 더 포함할 수 있다. 지지판(220)과 지지기둥(230)은 측면에서 보았을 때 'ㄱ'자 형태인 지지구조물을 구성할 수 있다. 제2 홀더(200)는 지지판(220) 상에 구비되고, 제2 수단(210)은 지지판(220)과 지지기둥(230) 사이에 구비될 수 있다. The second mounting unit M2 includes a second holder 200 disposed above the first holder 100 and second means 210 for adjusting the inclination of the second holder 200. The second mount unit M2 may further include a support pillar 230 installed in the base 50 and a support plate 220 extended in a direction perpendicular thereto. The support plate 220 and the support column 230 may constitute a support structure having a 'a' shape when viewed from the side. The second holder 200 may be provided on the support plate 220, and the second means 210 may be provided between the support plate 220 and the support pillar 230.

제2 홀더(200)는 사각형 또는 원형의 판일 수 있고, 그 중앙부에 소정의 개구부(21)를 갖는다. 개구부(21)는 렌즈 또는 미러와 같은 광학 요소가 탑재될 수 있도록 설계된다. 지지판(220)의 소정 영역에 다른 개구부(이하, 제2 개구부)가 구비될 수 있다. 상기 제2 개구부의 중심과 개구부(21)의 중심은 동일축 상에 존재하는 것이 바람직하다. 제2 수단(210)은 제1 수단(110)과 동일한 구성을 갖는 소정의 틸팅기(tilting device)일 수 있다. 도시하지는 않았지만, 제2 마운트 유닛(M2)은 제2 홀더(200)를 수평 및 수직 방향으로 이동시키기 위한 이동 장치를 더 포함할 수도 있다. The second holder 200 may be a rectangular or circular plate and has a predetermined opening 21 in the center thereof. The opening 21 is designed such that an optical element such as a lens or a mirror can be mounted. Another opening (hereinafter, referred to as a second opening) may be provided in a predetermined region of the support plate 220. It is preferable that the center of the second opening portion and the center of the opening portion 21 exist on the same axis. The second means 210 may be a predetermined tilting device having the same configuration as the first means 110. Although not shown, the second mounting unit M2 may further include a moving device for moving the second holder 200 in the horizontal and vertical directions.

제2 홀더(200)의 위쪽에 시준기(collimator)(300)가 존재한다. 시준기(300) 는 소정의 슬릿(slit)을 갖는 슬릿 플레이트(31)와 슬릿 플레이트(31) 아래의 광선 분할기(beam splitter)(32)를 포함한다. 시준기(300)의 측면에는 광선 분할기(32)에서 반사된 빛을 관측하기 위한 접안부(33)가 존재한다. 상기 슬릿(slit)은 다수의 눈금선 형태일 수 있다. A collimator 300 is present above the second holder 200. The collimator 300 includes a slit plate 31 having a predetermined slit and a beam splitter 32 below the slit plate 31. On the side of the collimator 300 there is an eyepiece 33 for observing the light reflected from the beam splitter 32. The slit may be in the form of a plurality of grid lines.

시준기(300)를 지지하는 구조물(350)은 측면에서 보았을 때, 'ㄷ'자와 유사한 형태일 수 있다. 구조물(350)은 다른 베이스(이하, 제2 베이스)(310)와 다른 지지기둥(이하, 제2 지지기둥)(320) 및 다른 지지판(이하, 제2 지지판)(330)을 포함할 수 있다. 제2 지지기둥(320)이 제2 베이스(310) 상에 구비되고, 제2 지지기둥(320) 상에 제2 지지판(330)이 구비되며, 제2 지지판(330)에 시준기(300)가 장착될 수 있다. 시준기(300) 및 그를 지지하는 구조물(350) 중 적어도 어느 하나는 시준기(300)의 기울기를 조절하기 위한 틸팅 수단(미도시)을 더 포함할 수도 있다. The structure 350 supporting the collimator 300 may have a shape similar to the letter 'c' when viewed from the side. The structure 350 may include another base (hereinafter, the second base) 310 and another support column (hereinafter, the second support column) 320 and another support plate (hereinafter, the second support plate) 330. . The second support pillar 320 is provided on the second base 310, the second support plate 330 is provided on the second support pillar 320, and the collimator 300 is disposed on the second support plate 330. Can be mounted. At least one of the collimator 300 and the structure 350 supporting the collimator 300 may further include tilting means (not shown) for adjusting the tilt of the collimator 300.

제1 및 제2 마운트 유닛(M1, M2)이 구비된 베이스(50)는 제2 베이스(310) 상에 놓여져 고정될 수 있고, 제2 베이스(310)로부터 분리될 수도 있다. The base 50 provided with the first and second mounting units M1 and M2 may be placed and fixed on the second base 310 and may be separated from the second base 310.

이하에서는, 제1 및 제2 수단(110, 210)에 대해 보다 자세하게 설명한다. Hereinafter, the first and second means 110 and 210 will be described in more detail.

도 2는 도 1의 제1 수단(110)을 자세히 보여준다. FIG. 2 shows the first means 110 of FIG. 1 in detail.

도 2를 참조하면, 제1 수단(110)은 하판(20a)과 상판(20b)을 포함할 수 있다. 하판(20a)과 상판(20b) 사이에는 지지 스프링(30)과 적어도 두 개의 수평조절나사(40)가 구비될 수 있다. 지지 스프링(30)은 하판(20a)의 중앙부 상에 하판(20a)과 수직하게 구비될 수 있고, 수평조절나사들(40)은 제1 수단(110)의 가장자리에 존재할 수 있다. 수평조절나사들(40)은 회전하는 요소이고, 이들을 돌려줌 으로써 도 1의 제1 홀더(100)의 기울기를 임의로 조절할 수 있다. Referring to FIG. 2, the first means 110 may include a lower plate 20a and an upper plate 20b. A support spring 30 and at least two horizontal adjustment screws 40 may be provided between the lower plate 20a and the upper plate 20b. The support spring 30 may be provided perpendicular to the lower plate 20a on the central portion of the lower plate 20a, and the horizontal adjustment screws 40 may be present at the edge of the first means 110. Horizontal adjustment screws 40 are a rotating element, by turning them can be arbitrarily adjusted the inclination of the first holder 100 of FIG.

도 1의 제2 수단(210)은 도 2에 도시된 제1 수단(110)과 동일한 구조를 가질 수 있다. 그러나 제2 수단(210)의 구조 및 위치는 달라질 수 있다. 예컨대, 제2 수단(210)은 제2 홀더(200)에 구비된 다수의 볼트일 수 있다. 상기 볼트들은 적어도 세 개인 것이 바람직하고, 제2 홀더(200)를 관통하여 지지판(200)과 연결 또는 접촉되도록 구비될 수 있다. 이 경우, 상기 볼트들을 돌려줌으로써 지지판(220)에 대해서 제2 홀더(200)의 기울기를 조절할 수 있다. The second means 210 of FIG. 1 may have the same structure as the first means 110 shown in FIG. 2. However, the structure and position of the second means 210 may vary. For example, the second means 210 may be a plurality of bolts provided in the second holder 200. Preferably, the bolts are at least three, and the bolts may be provided to be connected or contacted with the support plate 200 through the second holder 200. In this case, the inclination of the second holder 200 with respect to the support plate 220 can be adjusted by turning the bolts.

도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈의 특성 평가 방법을 보여준다. 도 3a 및 도 3b의 확대도는 접안부(33)를 통해 검사자에게 보여지는 이미지이다. 본 실시예에서는 도 1의 계측 시스템이 사용된다.3A to 3C show a characteristic evaluation method of a lens according to an embodiment of the present invention. 3A and 3B are enlarged views of the image shown to the examiner through the eyepiece 33. In this embodiment, the measurement system of FIG. 1 is used.

도 3a를 참조하면, 제1 홀더(100)에 제1 미러(1)를 탑재(loading)한 상태에서, 검사자는 접안부(33)를 통해 보여지는 상을 확인한다. 이때, 접안부(33)를 통해 검사자에게 보여지는 상은 두 가지일 수 있다. 그들 중 하나는 시준기(300)의 슬릿 플레이트(31)의 슬릿을 통과한 입사광이 광선 분할기(32)에서 반사되어 나타나는 제1 십자눈금(c1)이고, 다른 하나는 상기 슬릿을 통과한 입사광이 광선 분할기(32)를 통과하여 제1 미러(1)에서 반사된 후 광선 분할기(32)에서 반사되어 나타나는 제2 십자눈금(c2)이다. 제1 및 제2 십자눈금(c1, c2)의 모양은 같지만, 제2 십자눈금(c2)이 제1 십자눈금(c1)보다 작고, 제2 십자눈금(c2)의 중심이 제1 십자눈금(c1)의 중심에서 벗어나 있을 수 있다. 제2 십자눈금(c2)의 중심이 제1 십자눈금(c1)의 중심에서 벗어나 있다는 것은 제1 홀더(100)와 시준기(300)가 평행하지 않다는 것을 의미한다. 검사자는 제1 수단(110)을 이용해서 제1 홀더(100)의 기울기를 조절함으로써, 제2 십자눈금(c2)의 중심과 제1 십자눈금(c1)의 중심을 일치시킨다. 이렇게 해서, 제1 홀더(100)의 수평을 맞출 수 있다. 도 3a의 확대도에서 화살표는 제2 십자눈금(c2)의 이동 방향을 나타낸다. Referring to FIG. 3A, in a state in which the first mirror 1 is loaded on the first holder 100, the inspector checks an image viewed through the eyepiece 33. At this time, the image shown to the examiner through the eyepiece 33 may be two kinds. One of them is the first crosshair c1 which appears when the incident light passing through the slit of the slit plate 31 of the collimator 300 is reflected by the beam splitter 32, and the other is the incident light passing through the slit. It is a second cross scale c2 which appears through the splitter 32 and is reflected by the first mirror 1 and then reflected by the light splitter 32. The first and second crosshairs c1 and c2 have the same shape, but the second crosshair c2 is smaller than the first crosshair c1, and the center of the second crosshair c2 is the first crosshair ( may be out of the center of c1). When the center of the second crosshair c2 is out of the center of the first crosshair c1 means that the first holder 100 and the collimator 300 are not parallel to each other. The examiner uses the first means 110 to adjust the inclination of the first holder 100 so that the center of the second crosshair c2 coincides with the center of the first crosshair c1. In this way, the first holder 100 can be leveled. In the enlarged view of FIG. 3A, the arrow indicates the moving direction of the second cross scale c2.

도 3b를 참조하면, 제2 홀더(200)에 제2 미러(2)를 탑재한 상태에서, 검사자는 접안부(33)를 통해 보여지는 상을 확인한다. 이때에도, 접안부(33)를 통해 검사자에게 보여지는 상은 두 가지일 수 있다. 그들 중 하나는 시준기(300)의 슬릿 플레이트(31)의 슬릿을 통과한 입사광이 광선 분할기(32)에서 반사되어 나타나는 제1 십자눈금(c1)이고, 다른 하나는 상기 슬릿을 통과한 입사광이 광선 분할기(32)를 통과하여 제2 미러(2)에서 반사된 후 광선 분할기(32)에서 반사되어 나타나는 제3 십자눈금(c3)이다. 제1 및 제3 십자눈금(c1, c3)의 모양은 같지만, 제3 십자눈금(c3)이 제1 십자눈금(c1)보다 작고, 제3 십자눈금(c3)의 중심이 제1 십자눈금(c1)의 중심에서 벗어나 있을 수 있다. 제3 십자눈금(c3)의 중심이 제1 십자눈금(c1)의 중심에서 벗어나 있다는 것은 제2 홀더(200)와 시준기(300)가 평행하지 않다는 것을 의미한다. 검사자는 제2 수단(210)을 이용해서 제2 홀더(200)의 기울기를 조절함으로써, 제3 십자눈금(c3)의 중심과 제1 십자눈금(c1)의 중심을 일치시킨다. 이렇게 해서, 제2 홀더(200)의 수평을 맞출 수 있다. 도 3b의 확대도에서 화살표는 제3 십자눈금(c3)의 이동 방향을 나타낸다. 도 3a 단계와 도 3b 단계의 실시 순서는 바뀔 수 있다. 즉, 도 3b 단계가 도 3a 단계보다 앞설 수 있다. Referring to FIG. 3B, in a state in which the second mirror 2 is mounted on the second holder 200, the inspector checks the image seen through the eyepiece 33. In this case, the image shown to the examiner through the eyepiece 33 may be two kinds. One of them is the first crosshair c1 which appears when the incident light passing through the slit of the slit plate 31 of the collimator 300 is reflected by the beam splitter 32, and the other is the incident light passing through the slit. It is a third cross scale c3 which appears through the splitter 32 and is reflected by the second mirror 2 and then reflected by the light splitter 32. The first and third crosshairs c1 and c3 have the same shape, but the third crosshair c3 is smaller than the first crosshair c1, and the center of the third crosshair c3 is the first crosshair ( may be out of the center of c1). The center of the third crosshair c3 is out of the center of the first crosshair c1 means that the second holder 200 and the collimator 300 are not parallel to each other. The examiner uses the second means 210 to adjust the inclination of the second holder 200 so that the center of the third crosshair c3 coincides with the center of the first crosshair c1. In this way, the second holder 200 can be leveled. In the enlarged view of FIG. 3B, the arrow indicates the moving direction of the third cross scale c3. The order of implementation of steps 3A and 3B may be reversed. That is, step 3b may precede the step 3a.

도 3a 및 도 3b에서와 같이, 제1 홀더(100) 및 제2 홀더(200)의 수평을 각각 맞춰줌으로써, 제1 홀더(100), 제2 홀더(200) 및 시준기(300)를 서로 평행하게 만들 수 있다. As shown in FIGS. 3A and 3B, the first holder 100, the second holder 200, and the collimator 300 are parallel to each other by leveling the first holder 100 and the second holder 200, respectively. You can make it.

도 3c를 참조하면, 제1 홀더(100) 및 제2 홀더(200)에 각각 제1 미러(1) 및 검사하고자 하는 렌즈(3)가 탑재된 상태에서, 상기 렌즈(3)의 특성, 예컨대, 렌즈(3)의 초점거리를 측정한다. 이를 위해, 검사자는 Z축 이동 유닛(120c)를 이용해서 제1 미러(1)의 높이를 조절할 수 있다. 제1 미러(1)의 높이를 조절하면서, 제1 미러(1)에서 반사되어 나타나는 십자눈금의 선명도를 평가함으로써 렌즈(3)의 초점거리를 측정할 수 있다. 이때, 상기 십자눈금의 선명도는 검사자의 육안으로 평가할 수도 있지만, 접안부(33)에 연결된 소정의 분석기를 이용해서 평가할 수도 있다. 검사자는 신뢰성 테스트 전후의 렌즈(3)의 초점거리를 측정ㆍ비교함으로써, 신뢰성 테스트를 거치면서 렌즈(3)의 특성이 얼마나 변화되었는지를 평가할 수 있다. Referring to FIG. 3C, the first mirror 1 and the second holder 200 are mounted with the first mirror 1 and the lens 3 to be inspected, respectively. The focal length of the lens 3 is measured. To this end, the inspector may adjust the height of the first mirror 1 by using the Z-axis moving unit 120c. While adjusting the height of the first mirror 1, the focal length of the lens 3 can be measured by evaluating the sharpness of the cross scale reflected by the first mirror 1. In this case, the sharpness of the cross scale may be evaluated by the naked eye of the examiner, but may be evaluated by using a predetermined analyzer connected to the eyepiece 33. The inspector can evaluate how much the characteristics of the lens 3 have changed during the reliability test by measuring and comparing the focal length of the lens 3 before and after the reliability test.

본 발명과 달리, 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 기울기가 각각 조절될 수 없는 계측 장치를 사용할 경우, 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 수평이 정밀하게 맞춰지지 않은 상태에서 렌즈의 특성 평가가 이루어지기 때문에, 렌즈의 특성을 정확하게 평가하기 어렵다. Unlike the present invention, when using a measuring device in which the inclination of the first and second holders 100 and 200 cannot be adjusted, the horizontality of the first and second holders 100 and 200 is not precisely aligned. Since the evaluation of the characteristics of the lens is made in, it is difficult to accurately evaluate the characteristics of the lens.

한편, 도 3b 단계와 도 3c 단계 사이에 제1 홀더(100)의 중앙과 제2 홀더(200)의 중앙을 동일 수직선 상에 놓기 위한 정밀 센터링(centering) 단계를 더 수행할 수 있다. 상기 정밀 센터링 단계는 공구현미경 및 이동 장치(120)를 사용해서 수행할 수 있다. 보다 자세히 설명하면, 제1 및 제2 마운트 유닛(M1, M2)이 구비된 베이스(50)를 제2 베이스(310)에서 분리한 후, 공구현미경을 통해 제2 홀 더(200)의 개구부(21)와 그 아래의 제1 홀더(100)의 탑재부(11)를 내려보면서, 이동 장치(120)를 이용해서 제1 홀더(100)의 위치를 조정한다. 제2 홀더(200)의 개구부(21)는 원형일 수 있고, 제1 홀더(100)의 탑재부(11)는 사각형일 수 있는데, 개구부(21)의 중심과 탑재부(11)의 중심이 일치되도록 이동 장치(120)를 조절함으로써 상기 정밀 센터링을 수행할 수 있다. Meanwhile, a precision centering step for placing the center of the first holder 100 and the center of the second holder 200 on the same vertical line may be further performed between steps 3b and 3c. The precision centering step may be performed using the tool microscope and the moving device 120. In more detail, after the base 50 provided with the first and second mounting units M1 and M2 is separated from the second base 310, the opening of the second holder 200 through the tool microscope ( The position of the first holder 100 is adjusted using the moving device 120 while looking down the mounting portion 11 of the first holder 100 and the lower portion 21). The opening 21 of the second holder 200 may be circular, and the mounting portion 11 of the first holder 100 may be a quadrangular shape, such that the center of the opening 21 and the center of the mounting portion 11 are coincident with each other. The precision centering may be performed by adjusting the moving device 120.

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 렌즈의 특성 평가 방법을 보여준다. 본 실시예는 도 3a 내지 도 3c를 참조하여 설명한 방법에서 변형된 것으로, 본 실시예의 초기 두 단계는 도 3a 및 도 3b와 동일하다. 그러므로, 상기 초기 두 단계에 대한 자세한 설명은 생략한다. 4A to 4C illustrate a method for evaluating characteristics of a lens according to another exemplary embodiment of the present invention. This embodiment is a modification of the method described with reference to Figs. 3a to 3c, the initial two steps of this embodiment are the same as Figs. 3a and 3b. Therefore, detailed description of the first two steps will be omitted.

도 3a 및 도 3b에서와 같이 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 수평을 각각 맞춰준 후, 제1 및 제2 마운트 유닛(M1, M2)이 구비된 베이스(50)를 제2 베이스(310)에서 분리한다. 분리된 베이스(50) 및 그 위에 구비된 제1 및 제2 마운트 유닛(M1, M2)이 도 4a에 도시되어 있다. 도 4a의 구조는 본 발명의 실시예에 따른 해상도 측정 시스템일 수 있다. After leveling the first and second holders 100 and 200, respectively, as shown in FIGS. 3A and 3B, the base 50 provided with the first and second mounting units M1 and M2 is disposed in the second base. Separate at 310. The separated base 50 and the first and second mounting units M1 and M2 provided thereon are shown in FIG. The structure of FIG. 4A may be a resolution measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 4b를 참조하면, 도 4a의 해상도 측정 시스템을 공구현미경(400)이 구비된 관찰장비(500) 내에 위치시킨다. 그런 다음, 공구현미경(400)을 이용해서 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 위치를 확인하면서, 이동 장치(120)를 이용해서 제1 홀더(100)의 위치를 조정한다. 이것은 제1 홀더(100)의 중앙과 제2 홀더(200)의 중앙을 동일 수직선 상에 놓기 위한 정밀 센터링(centering) 공정으로서, 앞서 설명한 정밀 센터링 공정과 동일할 수 있다. Referring to FIG. 4B, the resolution measuring system of FIG. 4A is positioned in the observation device 500 equipped with the tool microscope 400. Then, while checking the positions of the first and second holders 100 and 200 using the tool microscope 400, the position of the first holder 100 is adjusted using the moving device 120. This is a precision centering process for placing the center of the first holder 100 and the center of the second holder 200 on the same vertical line, and may be the same as the precision centering process described above.

도 4c를 참조하면, 상기 해상도 측정 시스템을 관찰장비(500) 외부로 꺼낸 후, 제1 및 제2 홀더(100, 200)에 각각 이미지센서(image sensor)(4) 및 검사하고자 하는 렌즈(5)를 탑재하고, 상기 제2 홀더(200) 위쪽에 소정의 피사체를 위치시킨다. 상기 피사체는 시트지(6) 및 시트지(6)가 부착된 판넬(7)을 포함할 수 있다. 시트지(6)에는 다양한 크기의 문양들이 도시되어 있을 수 있다. 시트지(6)에 도시된 상기 문양들은 렌즈(5) 및 이미지센서(4)를 거쳐 이미지센서(4)와 연결된 표시장치(미도시)에서 영상화된다. 상기 표시장치에 나타나는 영상을 분석함으로써 렌즈(5)의 해상도를 평가할 수 있다. 상기 영상의 분석은 다양한 방법으로 수행할 수 있는데, 상기 표시장치에 내장된 분석 툴(analyzing tool)을 이용해서 수행하는 것이 바람직하다. Referring to FIG. 4C, after the resolution measuring system is taken out of the observation apparatus 500, an image sensor 4 and a lens 5 to be inspected are respectively attached to the first and second holders 100 and 200. ), And a predetermined subject is positioned above the second holder 200. The subject may include a sheet 6 and a panel 7 to which the sheet 6 is attached. The sheet 6 may have various sizes of patterns. The patterns shown on the sheet 6 are imaged on a display device (not shown) connected to the image sensor 4 via the lens 5 and the image sensor 4. The resolution of the lens 5 may be evaluated by analyzing the image displayed on the display device. The analysis of the image may be performed in various ways, preferably using an analysis tool built in the display device.

만약 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 수평을 정밀하게 맞출 수 없거나, 렌즈(5)와 이미지센서(4)의 광축을 정밀하게 센터링(centering)할 수 없다면, 해상도 평가의 신뢰성이 떨어질 것이다. 이것은 렌즈의 양ㆍ불량 판명이 어렵고, 불량의 원인 분석도 용이하지 않다는 것을 의미한다.If the horizontality of the first and second holders 100 and 200 cannot be precisely aligned, or if the optical axes of the lens 5 and the image sensor 4 cannot be precisely centered, the reliability of the resolution evaluation will be deteriorated. will be. This means that it is difficult to determine whether the lens is good or bad and that the cause of failure is not easy to analyze.

본 발명의 방법을 이용하면, 제1 및 제2 홀더(100, 200)의 수평을 맞출 수 있고, 렌즈(5)와 이미지센서(4)의 광축을 정밀하게 센터링(centering)할 수 있기 때문에, 렌즈(5)의 해상도를 정밀하고 정확하게 평가할 수 있다. By using the method of the present invention, since the first and second holders 100 and 200 can be leveled and the optical axes of the lens 5 and the image sensor 4 can be precisely centered, The resolution of the lens 5 can be evaluated accurately and accurately.

상기한 설명에서 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나, 그들은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다, 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 때문에 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의하여 정하여 질 것이 아니고 특허 청구 범위에 기재된 기술적 사상에 의해 정하여져야 한다.While many details are set forth in the foregoing description, they should be construed as illustrative of preferred embodiments, rather than to limit the scope of the invention. Therefore, the scope of the present invention should not be defined by the described embodiments, but should be determined by the technical spirit described in the claims.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 광학 렌즈용 계측 시스템을 보여주는 단면도이다. 1 is a cross-sectional view showing a measurement system for an optical lens according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 광학 렌즈용 계측 시스템에 구비되는 홀더의 틸팅(tiling) 수단을 보여주는 단면도이다. 2 is a cross-sectional view showing a tilting means of the holder provided in the measurement system for an optical lens according to an embodiment of the present invention.

도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈의 특성 평가 방법을 보여주는 단면도이다. 3A to 3C are cross-sectional views illustrating a characteristic evaluation method of a lens according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 렌즈의 특성 평가 방법을 보여주는 단면도이다. 4A to 4C are cross-sectional views illustrating a characteristic evaluation method of a lens according to another exemplary embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

1 : 제1 미러 2 : 제2 미러1: first mirror 2: second mirror

3, 5 : 렌즈 4 : 이미지센서3, 5: lens 4: image sensor

10a : X축 이동 핸들 10b : Y축 이동 핸들10a: X axis movement handle 10b: Y axis movement handle

10c : Z축 이동 핸들 11 : 탑재부10c: Z axis moving handle 11: Mounting part

20a : 하판 20b : 상판20a: lower plate 20b: upper plate

21 : 개구부 30 : 스프링21: opening 30: spring

31 : 슬릿 플레이트 32 : 광선 분할기31: slit plate 32: light splitter

33 : 접안부 40 : 수평조절나사 33: eyepiece 40: horizontal adjustment screw

50 : 베이스 100 : 제1 홀더50: base 100: first holder

110 : 제1 수단 120 : 이동 장치110: first means 120: mobile device

120a : X축 이동 유닛 120b : Y축 이동 유닛120a: X-axis moving unit 120b: Y-axis moving unit

120c : Z축 이동 유닛 200 : 제2 홀더120c: Z-axis moving unit 200: second holder

210 : 제2 수단 220 : 지지판210: second means 220: support plate

230 : 지지기둥 300 : 시준기230: support pillar 300: collimator

310 : 제2 베이스 320 : 제2 지지기둥310: second base 320: second support pillar

330 : 제2 지지판 350 : 구조물330: second support plate 350: structure

c1 : 제1 십자눈금 c2 : 제2 십자눈금c1: first crosshair c2: second crosshair

c3 : 제3 십자눈금 M1 : 제1 마운트 유닛c3: third crosshair M1: first mount unit

M2 : 제2 마운트 유닛M2: second mount unit

Claims (21)

광학 요소가 탑재되는 제1 홀더 및 상기 제1 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제1 수단을 포함하는 제1 마운트 유닛; A first mounting unit comprising a first holder on which an optical element is mounted and first means for adjusting the inclination of the first holder; 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더 및 상기 제2 홀더의 기울기를 조절하기 위한 제2 수단을 포함하는 제2 마운트 유닛; 및 A second mount unit disposed above the first holder and including a second holder on which the optical element is mounted and second means for adjusting the inclination of the second holder; And 상기 제2 홀더의 위쪽에 배치되는 시준기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. And a collimator disposed above the second holder. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 마운트 유닛은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The measurement system of claim 1, wherein the first mount unit further comprises a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder. 제 2 항에 있어서, 상기 제1 마운트 유닛은 상기 이동 장치, 상기 제1 수단 및 상기 제1 홀더가 차례로 적층된 구조인 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The measurement system for an optical lens according to claim 2, wherein the first mount unit has a structure in which the moving device, the first means, and the first holder are sequentially stacked. 제 1 항에 있어서, 상기 제2 마운트 유닛은 지지기둥 및 이에 수직한 방향으로 확장된 지지판을 포함하고, 상기 제2 홀더는 상기 지지판 상에 구비된 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The measurement system of claim 1, wherein the second mount unit includes a support pillar and a support plate extending in a direction perpendicular to the support pillar, and the second holder is provided on the support plate. 제 4 항에 있어서, 상기 제2 수단은 상기 지지기둥과 상기 지지판 사이에 구비된 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The optical system of claim 4, wherein the second means is provided between the support column and the support plate. 제 1 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 제2 수단은 상기 제1 수단과 동일한 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. 6. A measurement system for an optical lens according to claim 1 or 5, wherein said second means has the same structure as said first means. 제 1 항에 있어서, 상기 제2 마운트 유닛은 상기 제2 홀더를 지지하는 지지판을 포함하고, 상기 제2 수단은 상기 제2 홀더에 구비된 다수의 볼트이며, 상기 볼트들에 의해 상기 지지판에 대해서 상기 제2 홀더의 기울기가 조절되는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The method of claim 1, wherein the second mounting unit includes a support plate for supporting the second holder, the second means is a plurality of bolts provided in the second holder, with respect to the support plate by the bolts And the inclination of the second holder is adjusted. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 마운트 유닛은 동일 베이스 상에 구비된 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. The measurement system of claim 1, wherein the first and second mount units are provided on the same base. 제 8 항에 있어서, 상기 베이스는 다른 베이스 상에 구비된 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. 10. The system of claim 8, wherein said base is provided on another base. 제 9 항에 있어서, 상기 다른 베이스 상에 상기 시준기를 지지하는 구조물이 구비된 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템. 10. The system of claim 9, wherein a structure for supporting the collimator is provided on the other base. 베이스; Base; 상기 베이스 상에 구비된 것으로서, 광학 요소가 탑재되는 제1 홀더를 포함하는 제1 마운트 유닛; 및 A first mount unit provided on the base, the first mount unit including a first holder on which an optical element is mounted; And 상기 베이스 상에 구비된 것으로서, 상기 제1 홀더 위쪽에 배치되고 광학 요소가 탑재되는 제2 홀더를 포함하는 제2 마운트 유닛;을 구비하고, A second mount unit provided on the base, the second mount unit being disposed above the first holder and including a second holder on which the optical element is mounted; 상기 제1 및 제2 홀더는 수평한 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템.And the first and second holders are horizontal. 제 11 항에 있어서, 상기 제1 마운트 유닛은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 렌즈용 계측 시스템.12. The measurement system of claim 11, wherein the first mount unit further comprises a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder. 청구항 1에 기재된 광학 렌즈용 계측 시스템을 이용한 렌즈의 특성 평가 방법에 있어서, In the characteristic evaluation method of the lens using the measuring system for optical lenses of Claim 1, 상기 제1 및 제2 홀더의 수평을 각각 맞추는 단계; 및Leveling the first and second holders, respectively; And 상기 제1 및 제2 홀더에 각각 미러 및 렌즈를 탑재한 상태에서, 상기 시준기를 이용해서 상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. And evaluating characteristics of the lens by using the collimator in a state in which the mirror and the lens are mounted on the first and second holders, respectively. 제 13 항에 있어서, 상기 제1 홀더의 수평을 맞추는 단계는,The method of claim 13, wherein leveling the first holder comprises: 상기 제1 홀더에 제1 미러를 탑재하는 단계; 및Mounting a first mirror on the first holder; And 상기 시준기의 슬릿(slit)을 통과한 빛이 상기 시준기에 내재된 광선 분할기(beam splitter)에서 반사되어 나타나는 제1상과, 상기 빛이 상기 광선 분할기를 통과하여 상기 제1 미러에서 반사된 후 상기 광선 분할기에서 반사되어 나타나는 제2상의 중심이 일치되도록 상기 제1 수단을 조정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. A first image in which light passing through a slit of the collimator is reflected by a beam splitter inherent to the collimator; and after the light is reflected from the first mirror through the beam splitter, And adjusting the first means such that the center of the second phase reflected by the ray splitter is matched. 제 13 항에 있어서, 상기 제2 홀더의 수평을 맞추는 단계는,The method of claim 13, wherein leveling the second holder comprises: 상기 제2 홀더에 제2 미러를 탑재하는 단계; 및Mounting a second mirror on the second holder; And 상기 시준기의 슬릿(slit)을 통과한 빛이 상기 시준기에 내재된 광선 분할기(beam splitter)에서 반사되어 나타나는 제1상과, 상기 빛이 상기 광선 분할기를 통과하여 상기 제2 미러에서 반사된 후 상기 광선 분할기에서 반사되어 나타나는 제2상의 중심이 일치되도록 상기 제2 수단을 조정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. A first image of light passing through a slit of the collimator reflected by a beam splitter inherent to the collimator, and after the light is reflected from the second mirror through the beam splitter; And adjusting the second means such that the center of the second phase reflected by the ray splitter is matched. 제 13 항에 있어서, 상기 광학 렌즈용 계측 시스템은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. The method of claim 13, wherein the measurement system for the optical lens further comprises a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder. 제 13 항에 있어서, 상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계는, The method of claim 13, wherein the evaluating characteristics of the lens comprises: 신뢰성 테스트 전의 렌즈의 특성을 평가하는 단계; Evaluating the characteristics of the lens before the reliability test; 상기 렌즈에 대한 신뢰성 테스트를 수행하는 단계; Performing a reliability test on the lens; 상기 신뢰성 테스트를 거친 상기 렌즈의 특성을 평가하는 단계; 및 Evaluating characteristics of the lens that have undergone the reliability test; And 상기 신뢰성 테스트 전과 후에 평가된 상기 렌즈의 특성을 비교하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. Comparing the characteristics of the lens evaluated before and after the reliability test. 청구항 11에 기재된 광학 렌즈용 계측 시스템을 이용한 렌즈의 특성 평가 방법에 있어서, In the characteristic evaluation method of the lens using the measuring system for optical lenses of Claim 11, 상기 제1 홀더의 중심과 상기 제2 홀더의 중심을 동일 수직선 상에 배치하기 위한 센터링(centering) 단계; Centering the center of the first holder and the center of the second holder on a same vertical line; 상기 제1 및 제2 홀더에 각각 이미지센서 및 렌즈를 탑재하고, 상기 제2 홀더 위쪽에 피사체를 배치하는 단계; Mounting an image sensor and a lens on the first and second holders, respectively, and placing a subject above the second holder; 상기 피사체의 이미지를 얻는 단계; 및 Obtaining an image of the subject; And 상기 이미지를 분석하여 상기 렌즈의 해상도를 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. Evaluating the resolution of the lens by analyzing the image. 제 18 항에 있어서, 상기 렌즈용 계측 시스템은 상기 제1 홀더의 수평 및 수직 이동을 위한 이동 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. 19. The method of claim 18, wherein the measurement system for the lens further comprises a moving device for horizontal and vertical movement of the first holder. 제 19 항에 있어서, 상기 센터링은 상기 이동 장치 및 공구현미경을 이용하여 수행하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. 20. The method of claim 19, wherein the centering is performed using the moving device and a tool microscope. 제 18 항에 있어서, 상기 센터링 단계 전, 상기 제1 및 제2 홀더의 수평을 각각 맞추는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈의 특성 평가 방법. 19. The method of claim 18, further comprising leveling the first and second holders, respectively, before the centering step.
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