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KR20060093574A - Display panel - Google Patents

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Publication number
KR20060093574A
KR20060093574A KR1020050014654A KR20050014654A KR20060093574A KR 20060093574 A KR20060093574 A KR 20060093574A KR 1020050014654 A KR1020050014654 A KR 1020050014654A KR 20050014654 A KR20050014654 A KR 20050014654A KR 20060093574 A KR20060093574 A KR 20060093574A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
substrate
pad
metal
electrically connected
Prior art date
Application number
KR1020050014654A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
조원구
현종식
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020050014654A priority Critical patent/KR20060093574A/en
Publication of KR20060093574A publication Critical patent/KR20060093574A/en

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Abstract

패드부의 외관검사가 가능한 표시패널이 개시되어 있다. 표시패널은 기판, 구동칩 및 패드부를 포함한다. 구동칩은 기판의 주변영역에 배치되어, 영상을 표시하기 위한 구동신호를 발생시킨다. 패드부는 기판의 주변영역에 형성되어 구동칩과 전기적으로 연결되고, 구동칩과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역을 갖는다. 이와 같이, 패드부 상에 구동칩과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역이 형성됨에 따라, 패드부와 구동칩과의 연결상태를 보다 쉽게 검사할 수 있다.A display panel capable of inspecting the appearance of a pad portion is disclosed. The display panel includes a substrate, a driving chip, and a pad part. The driving chip is disposed in the peripheral area of the substrate to generate a driving signal for displaying an image. The pad part is formed in the peripheral area of the substrate and electrically connected to the driving chip, and has an inspection area for observing a connection state with the driving chip. As described above, since the inspection area for observing the connection state of the driving chip is formed on the pad part, the connection state of the pad part and the driving chip can be more easily inspected.

Description

표시패널{DISPLAY PANEL}Display panel {DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view illustrating a display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1의 표시패널 중 A부분을 확대해서 도시한 사시도이다.FIG. 2 is an enlarged perspective view of portion A of the display panel of FIG. 1.

도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2.

도 4는 도 1의 표시패널 중 패드부의 일부를 확대해서 도시한 사시도이다. 4 is an enlarged perspective view of a part of a pad part of the display panel of FIG. 1.

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시패널 중 일부를 절단해서 도시한 단면도이다. 5 is a cross-sectional view of a portion of a display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 도 5의 표시패널 중 패드부의 일부를 확대해서 도시한 사시도이다. FIG. 6 is an enlarged perspective view of a part of a pad part of the display panel of FIG. 5.

도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시패널를 도시한 사시도이다. 7 is a perspective view illustrating a display panel according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도 8은 도 7의 표시패널 중 B부분을 확대해서 도시한 사시도이다. FIG. 8 is an enlarged perspective view of a portion B of the display panel of FIG. 7.

도 9는 도 8의 Ⅱ-Ⅱ'선을 따라 절단한 단면도이다. FIG. 9 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'of FIG. 8.

도 10은 본 발명의 제4 실시예에 따른 표시패널 중 일부를 절단해서 도시한 단면도이다.FIG. 10 is a cross-sectional view of a portion of the display panel according to the fourth exemplary embodiment.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10, 20, 30, 40 : 검사영역 100, 700 : 어레이 기판10, 20, 30, 40: inspection area 100, 700: array substrate

110, 710 : 절연층 130a, 130b : 출력패드110, 710: insulating layer 130a, 130b: output pad

740a, 740b : 연결단자 200 : 컬러필터 기판740a, 740b: connection terminal 200: color filter substrate

300 : 구동칩 400, 800 : 연성인쇄회로기판300: driving chip 400, 800: flexible printed circuit board

500 : 인쇄회로기판 600 : 이방성 도전필름500: printed circuit board 600: anisotropic conductive film

본 발명은 표시패널에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패드부의 외관검사가 가능한 표시패널에 관한 것이다.The present invention relates to a display panel, and more particularly, to a display panel capable of inspecting the appearance of a pad portion.

최근 들어 정보처리기기는 다양한 형태, 다양한 기능을 갖고, 더욱 빠른 속도로 정보를 처리하고 있다. 정보처리장치에서 처리된 정보는 전기적인 신호 포맷 형태를 갖는다. 따라서 사용자가 정보처리장치에서 처리된 정보를 육안으로 확인하기 위해서는 정보를 영상으로 표시하는 표시장치들을 필요로 한다.Recently, an information processing device has various forms and various functions, and processes information at a higher speed. The information processed in the information processing apparatus has an electrical signal format. Therefore, in order for the user to visually check the information processed by the information processing apparatus, display apparatuses displaying the information as an image are required.

상기 표시장치들 중 하나인 액정 표시장치(liquid crystal display)는 액정(liquid crystal)을 이용하여 영상을 표시한다. 상기 액정 표시장치는 다른 표시장치에 비해 두께가 얇고 무게가 가벼우며, 소비전력이 적고, 낮은 구동전압을 갖는 장점을 갖는다.One of the display devices, a liquid crystal display, displays an image using liquid crystals. The liquid crystal display device has advantages of thinner, lighter weight, lower power consumption, and lower driving voltage than other display devices.

종래의 액정 표시장치는 광을 이용하여 영상을 표시하는 액정 표시패널과, 상기 액정 표시패널로 광을 제공하는 백라이트 어셈블리로 구성된다. 상기 액정 표시패널은 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(thin film transistor)가 형성된 제1 기판과, 컬러필터가 형성된 제2 기판과, 상기 제1 및 제2 기판 사이에 개재된 액정층과, 영상을 제어하기 위한 제어신호를 발생시키는 인쇄회로기판과, 상기 인쇄회로 기판과 상기 제1 기판을 전기적으로 연결시키는 연성인쇄회로기판을 포함한다.Conventional liquid crystal display device is composed of a liquid crystal display panel for displaying an image using light, and a backlight assembly for providing light to the liquid crystal display panel. The liquid crystal display panel includes a first substrate on which a thin film transistor as a switching element is formed, a second substrate on which a color filter is formed, a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates, and an image. And a flexible printed circuit board for electrically connecting the printed circuit board and the first substrate.

또한, 상기 액정 표시패널은 상기 제어신호를 상기 박막 트랜지스터를 제어하기 위한 구동신호로 변경시키는 구동칩을 더 포함하고, 상기 구동칩의 배치위치에 따라 COF(Chip On Film) 타입과, COG(Chip On Glass) 타입으로 구분될 수 있다. 이때, 상기 COF(Chip On Film) 타입은 상기 구동칩이 상기 연성인쇄회로기판 상에 배치되는 것을 말하며, 상기 COG(Chip On Glass) 타입은 상기 구동칩이 상기 제1 기판의 주변영역에 배치되는 것을 말한다.The liquid crystal display panel may further include a driving chip that converts the control signal into a driving signal for controlling the thin film transistor, and includes a chip on film (COF) type and a chip (COG) according to an arrangement position of the driving chip. On Glass) type. In this case, the chip on film (COF) type means that the driving chip is disposed on the flexible printed circuit board, and the chip on glass (COG) type means that the driving chip is disposed in the peripheral region of the first substrate. Say that.

상기 COF(Chip On Film) 타입의 액정 표시패널의 경우, 상기 제1 기판은 상기 박막 트랜지스터와 전기적으로 연결되는 신호선과, 상기 제1 기판의 주변영역에 형성되어 상기 신호선과 전기적으로 연결되는 연결단자를 포함한다. 이때, 상기 연결단자는 상기 연성인쇄회로기판에 형성된 전송라인과 전기적으로 연결되어, 상기 구동신호를 상기 박막 트랜지스터로 전송한다.In the case of the COF type liquid crystal display panel, the first substrate includes a signal line electrically connected to the thin film transistor, and a connection terminal formed in a peripheral area of the first substrate to be electrically connected to the signal line. It includes. In this case, the connection terminal is electrically connected to a transmission line formed on the flexible printed circuit board to transmit the driving signal to the thin film transistor.

최근에 상기 액정 표시패널의 해상도가 증가됨에 따라, 상기 연결단자의 개수도 증가되고, 그 결과 상기 연결단자는 보다 작은 크기로 조밀하게 상기 제1 기판 상에 배치된다. 따라서, 상기 연결단자는 도전볼이 포함된 이방성 도전필름(Anisotropic Conductive Film)을 매개로 상기 전송라인과 전기적으로 연결된다. 즉, 상기 도전볼이 외부의 압착에 의해 상기 연결단자 또는 상기 전송라인에 압흔이 형성되어, 상기 연결단자와 상기 전송라인은 서로 전기적으로 연결된다.Recently, as the resolution of the liquid crystal display panel is increased, the number of the connection terminals is also increased, and as a result, the connection terminals are densely arranged on the first substrate with a smaller size. Therefore, the connection terminal is electrically connected to the transmission line through an anisotropic conductive film containing a conductive ball. That is, the conductive ball is indented to the connection terminal or the transmission line by external compression, so that the connection terminal and the transmission line are electrically connected to each other.

그러나, 상기 연결단자과 상기 전송라인 사이에 개재되는 상기 도전볼의 분포가 한쪽으로 쏠리거나 상기 도전볼의 형상에 불량이 발생할 경우, 상기 연결단자 와 상기 전송라인과의 전기적인 접촉에 심각한 영향을 미친다.However, when the distribution of the conductive balls interposed between the connection terminal and the transmission line is oriented to one side or a defect occurs in the shape of the conductive ball, the electrical contact between the connection terminal and the transmission line has a serious effect. .

상기 COG(Chip On Glass) 타입의 액정 표시패널에 있어서도, 상기 구동칩과 상기 제1 기판은 상기 이방성 도전필름을 매개로 전기적으로 연결되는 데, 상기 도전볼의 형상불량 및 분포불량에 의해 상기 구동칩과 상기 제1 기판과의 전기적인 연결관계에 심각한 영향을 미친다.In the COG (Chip On Glass) type liquid crystal display panel, the driving chip and the first substrate are electrically connected to each other through the anisotropic conductive film, and the driving may be caused by a shape defect and a distribution defect of the conductive ball. There is a serious effect on the electrical connection between the chip and the first substrate.

따라서, 이러한 상기 도전볼의 형상불량 및 분포불량을 관측하기 위해 상기 구동칩과 상기 제1 기판과의 전기적인 연결관계를 검사하는 검사방법이 필요하며, 상기 검사방법으로 비파괴 외관검사 방법이 주로 사용된다.Therefore, in order to observe the shape defect and the distribution defect of the conductive ball, an inspection method for inspecting the electrical connection between the driving chip and the first substrate is required, and the non-destructive appearance inspection method is mainly used as the inspection method. do.

그러나, 상기 비파괴 외관검사를 수행할 때, 상기 연결단자가 불투명하거나 두꺼운 두께를 가질 경우 상기 비파괴 외관검사가 어려워지는 문제점이 있다.However, when performing the non-destructive visual inspection, there is a problem that the non-destructive visual inspection becomes difficult when the connecting terminal has an opaque or thick thickness.

이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 패드부의 형상을 변형함으로써, 상기 패드부의 외관검사가 가능한 표시패널을 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem of the present invention is to solve such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide a display panel capable of inspecting the appearance of the pad part by modifying the shape of the pad part.

상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 일 실시예에 따른 표시패널은 기판, 구동칩 및 패드부를 포함한다. 상기 구동칩은 상기 기판의 주변영역에 배치되어, 영상을 표시하기 위한 구동신호를 발생시킨다. 상기 패드부는 상기 기판의 주변영역에 형성되어 상기 구동칩과 전기적으로 연결되고, 상기 구동칩과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역을 갖는다.In order to achieve the above object of the present invention, the display panel includes a substrate, a driving chip, and a pad unit. The driving chip is disposed in a peripheral area of the substrate to generate a driving signal for displaying an image. The pad part is formed in a peripheral area of the substrate and electrically connected to the driving chip, and has an inspection area for observing a connection state with the driving chip.

상기한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여 다른 실시예에 따른 표시패널은 기판, 연성인쇄회로기판 및 연결단자를 포함한다. 상기 연성인쇄회로기판은 영상을 표시하기 위한 구동신호를 상기 기판으로 전송한다. 상기 연결단자는 상기 기판의 주변영역에 형성되어 상기 연성인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 상기 연성인쇄회로기판과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역을 갖는다.In accordance with another aspect of the present invention, a display panel includes a substrate, a flexible printed circuit board, and a connection terminal. The flexible printed circuit board transmits a driving signal for displaying an image to the substrate. The connection terminal is formed in a peripheral area of the substrate and electrically connected to the flexible printed circuit board, and has a test area for observing a connection state with the flexible printed circuit board.

이러한 표시패널에 의하면, 상기 패드부 상에 구동칩과의 연결 상태를 관측하기 위한 검사영역이 형성되거나, 연결단자 상에 연성인쇄회로기판과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역이 형성됨에 따라, 상기 패드부와 상기 구동칩과의 연결상태 및 연결단자와 상기 연성인쇄회로기판과의 연결상태를 보다 쉽게 검사할 수 있다.According to the display panel, an inspection region for observing a connection state with a driving chip is formed on the pad portion, or an inspection region for observing a connection state with a flexible printed circuit board is formed on the connection terminal. The connection state between the pad unit and the driving chip and the connection state between the connection terminal and the flexible printed circuit board can be more easily inspected.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

<표시패널의 실시예-1><Example-1 of the Display Panel>

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 표시패널을 나타낸 사시도이고, 도 2는 도 1의 표시패널 중 A부분을 확대해서 도시한 사시도이다. 1 is a perspective view illustrating a display panel according to a first exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged perspective view of part A of the display panel of FIG. 1.

도 1 및 도 2를 참조하면, 표시패널은 어레이 기판(100), 컬러필터 기판(200), 액정층(미도시), 구동칩(300), 연성인쇄회로기판(400) 및 인쇄회로기판(500)을 포함한다.1 and 2, the display panel includes an array substrate 100, a color filter substrate 200, a liquid crystal layer (not shown), a driving chip 300, a flexible printed circuit board 400, and a printed circuit board ( 500).

상기 어레이 기판(100)은 스위칭 소자인 복수의 박막 트랜지스터(미도시)들 및 상기 박막 트랜지스터들과 전기적으로 연결된 복수의 화소전극(미도시)들을 포 함한다. 상기 어레이 기판(100) 상에는 상기 박막 트랜지스터들을 덮는 절연층이 형성된다. 각 박막 트랜지스터는 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 포함한다. 상기 소스 전극들은 상기 어레이 기판(100) 상에 X-축 방향으로 형성된 데이터 라인들과 전기적으로 연결되고, 상기 게이트 전극들은 상기 어레이 기판(100) 상에 Y-축 방향으로 형성된 게이트 라인(미도시)들과 전기적으로 연결되고, 상기 드레인 전극들은 투명하면서 도전성인 상기 화소 전극들과 각각 전기적으로 연결된다.The array substrate 100 includes a plurality of thin film transistors (not shown) which are switching elements, and a plurality of pixel electrodes (not shown) electrically connected to the thin film transistors. An insulating layer covering the thin film transistors is formed on the array substrate 100. Each thin film transistor includes a source electrode, a gate electrode, and a drain electrode. The source electrodes are electrically connected to data lines formed in the X-axis direction on the array substrate 100, and the gate electrodes are formed on the array substrate 100 in the Y-axis direction. ) And the drain electrodes are electrically connected to the transparent and conductive pixel electrodes, respectively.

상기 컬러필터 기판(200)은 상기 어레이 기판(100)과 대향하도록 마주보며 배치된다. 상기 컬러필터 기판(200)은 광을 통과되어 색상을 표시하는 복수의 컬러필터(미도시)들 및 상기 컬러필터 기판(200)의 전면에 형성된 투명하면서 도전성의 공통전극(미도시)을 포함한다. 상기 컬러필터들에는 예를 들어, 적색 컬러필터, 녹색 컬러필터, 청색 컬러필터 등이 있다.The color filter substrate 200 is disposed to face the array substrate 100. The color filter substrate 200 includes a plurality of color filters (not shown) for displaying color through light and a transparent and conductive common electrode (not shown) formed on the front surface of the color filter substrate 200. . The color filters include, for example, a red color filter, a green color filter, a blue color filter, and the like.

상기 액정층은 상기 어레이 기판(100) 및 컬러필터 기판(200) 사이에 개재된다. 상기 액정층은 액체와 고체의 중간성질을 갖으며 일정한 배열로 배치된 액정들로 이루어지며, 상기 액정들은 상기 화소전극과 상기 공통전극 사이에 형성된 전기장에 의해 그 배열이 변화한다. 배열이 변화된 액정들은 광 투과율을 변화시키고, 광 투과율이 변화된 상기 광은 상기 컬러필터들을 통과되면서 원하는 영상을 표시한다.The liquid crystal layer is interposed between the array substrate 100 and the color filter substrate 200. The liquid crystal layer is composed of liquid crystals having an intermediate property of a liquid and a solid and arranged in a constant array. The liquid crystals are changed in an arrangement by an electric field formed between the pixel electrode and the common electrode. Liquid crystals of varying arrangements change light transmittance, and the light of which light transmittance is changed passes through the color filters to display a desired image.

상기 구동칩(300)은 상기 어레이 기판(100)의 주변영역에 배치되어 상기 데이터 라인 또는 상기 게이트 라인과 전기적으로 연결된다. 상기 구동칩(300)은 내부에 상기 박막 트랜지스터를 제어하기 위한 구동신호를 발생시키는 구동회로를 포 함하고, 상기 구동신호는 상기 데이터 라인 또는 상기 게이트 라인을 통해 상기 박막 트랜지스터를 제어하여 영상을 표시한다.The driving chip 300 is disposed in the peripheral region of the array substrate 100 and electrically connected to the data line or the gate line. The driving chip 300 includes a driving circuit for generating a driving signal for controlling the thin film transistor therein, and the driving signal controls the thin film transistor through the data line or the gate line to display an image. do.

상기 연성인쇄회로기판(400)은 상기 인쇄회로기판(500)과 상기 어레이 기판(100)을 전기적으로 연결시킨다. 상기 연성인쇄회로기판(400)은 상기 인쇄회로기판(500)에서 발생된 제어신호를 상기 어레이 기판(100)으로 전송하는 전송라인(미도시)들을 포함한다. 상기 연성인쇄회로기판(400)은 연성을 갖고 있어 굴곡될 수 있고, 그에 따라 상기 인쇄회로기판(500)은 상기 어레이 기판(100)의 측부 또는 하부에 배치될 수 있다. The flexible printed circuit board 400 electrically connects the printed circuit board 500 and the array substrate 100. The flexible printed circuit board 400 includes transmission lines (not shown) for transmitting a control signal generated from the printed circuit board 500 to the array substrate 100. The flexible printed circuit board 400 may be flexible and flexible, and thus the printed circuit board 500 may be disposed at the side or the bottom of the array substrate 100.

상기 인쇄회로기판(500)은 외부의 그래픽 컨트롤러(미도시)로부터 영상신호를 입력받아, 상기 영상신호를 상기 구동칩(300)을 제어하기 위한 제어신호를 발생시킨다. 상기 제어신호는 상기 연성인쇄회로기판(400)을 통해 상기 어레이 기판(100) 상에 형성된 구동칩(300)으로 전송된다.The printed circuit board 500 receives an image signal from an external graphic controller (not shown), and generates a control signal for controlling the driving chip 300. The control signal is transmitted to the driving chip 300 formed on the array substrate 100 through the flexible printed circuit board 400.

도 3은 도 2의 Ⅰ-Ⅰ'선을 따라 절단한 단면도이고, 도 4는 도 1의 표시패널 중 패드부의 일부를 확대해서 도시한 사시도이다.3 is a cross-sectional view taken along line II ′ of FIG. 2, and FIG. 4 is an enlarged perspective view of a part of a pad part of the display panel of FIG. 1.

도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 어레이 기판(100)의 주변영역에는 상기 구동칩(300)을 상기 데이터 라인(120)과 전기적으로 연결시키기 위한 복수의 패드부들이 형성된다.3 and 4, a plurality of pad portions are formed in the peripheral region of the array substrate 100 to electrically connect the driving chip 300 to the data line 120.

상기 패드부들은 입력패드(미도시)들 및 출력패드(130a)들을 포함하며, 상기 구동칩(300)은 상기 입력패드들과 전지적으로 연결되는 입력범프(미도시)들 및 상기 출력패드(130a)들과 전지적으로 연결되는 출력범프(310)들을 포함한다. 이때, 상기 패드부는 도전볼(610)을 포함하는 이방성 도전필름(anisotropic conductive film, 600)을 매개로 상기 구동칩(300)과 전기적으로 연결된다.The pad parts may include input pads (not shown) and output pads 130a, and the driving chip 300 may include input bumps (not shown) and the output pads 130a that are electrically connected to the input pads. ) And output bumps 310 connected to the battery. In this case, the pad part is electrically connected to the driving chip 300 through an anisotropic conductive film 600 including the conductive ball 610.

상기 출력패드(130)들은 상기 데이터 라인(120)과 전기적으로 연결되어 상기 구동칩(300)에서 발생된 구동신호를 상기 박막 트랜지스터로 전송한다. 상기 출력패드(130)들은 상기 표시패널의 해상도를 향상시키기 위해 Y축 방향을 따라 복수 열로 배치되며, 예를 들어 지그재그(zigzag)로 2열 배치되는 것이 바람직하다.The output pads 130 are electrically connected to the data line 120 to transmit a driving signal generated from the driving chip 300 to the thin film transistor. The output pads 130 are arranged in a plurality of rows along the Y-axis direction to improve the resolution of the display panel. For example, the output pads 130 may be arranged in two rows in a zigzag.

상기 입력패드들은 연결라인(150)에 의해 상기 패드부보다 더 외각에 배치된 연결단자들과 전기적으로 연결되며, 상기 연결단자들은 상기 연성인쇄회로기판(400)의 전송라인과 전기적으로 연결된다. 상기 입력패드들은 Y축 방향을 따라 일렬로 배치되는 것이 바람직하다.The input pads are electrically connected to connection terminals arranged on the outer side of the pad unit by the connection line 150, and the connection terminals are electrically connected to the transmission line of the flexible printed circuit board 400. The input pads are preferably arranged in a line along the Y-axis direction.

상기 각 출력패드(130a)는 상기 어레이 기판(100) 상에 형성된 금속패드와, 상기 금속패드와 전기적으로 연결되며, 투명하면서 도전성인 투명전극(136a)을 포함한다. 이때, 상기 투명전극(136a)은 산화주석인듐(Indium Tin Oxide, ITO), 산화아연인듐(Indium Zinc Oxide, IZO), 아몰퍼스 산화주석인듐(amorphous Indium Tin Oxide, a-ITO) 등으로 이루어지며, 상기 화소전극이 형성될 때 같이 형성되는 것이 바람직하다.Each output pad 130a includes a metal pad formed on the array substrate 100 and a transparent electrode 136a electrically connected to the metal pad and being transparent and conductive. In this case, the transparent electrode 136a is made of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), amorphous indium tin oxide (a-ITO), or the like. When the pixel electrode is formed, it is preferably formed together.

상기 어레이 기판(100) 상에는 상기 금속패드를 덮는 절연층(110)이 형성된다. 상기 절연층(110)에는 상기 금속패드의 상부로 콘택홀(112a)이 형성된다. 상기 콘택홀(112a)에 의해 상기 금속패드와 상기 투명전극(136a)은 전기적으로 연결된다. 상기 콘택홀(112a)은 상기 금속패드와 상기 투명전극(136a)과의 접촉저항을 감 소시키기 위해 상기 금속패드의 크기와 동일하거나 작은 크기로 형성되는 것이 바람직하다.The insulating layer 110 covering the metal pad is formed on the array substrate 100. A contact hole 112a is formed in the insulating layer 110 on the metal pad. The metal pad and the transparent electrode 136a are electrically connected by the contact hole 112a. The contact hole 112a may be formed to have a size equal to or smaller than that of the metal pad in order to reduce contact resistance between the metal pad and the transparent electrode 136a.

상기 금속패드는 소정의 거리로 서로 이격되게 배치된 제1 및 제2 금속패드(132a, 134a)를 포함하고, 상기 제1 및 제2 금속패드(132a, 134a)가 서로 이격되게 배치됨에 따라 상기 출력패드(130a)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계를 검사하는 검사영역(10)이 형성된다.The metal pad includes first and second metal pads 132a and 134a disposed to be spaced apart from each other at a predetermined distance, and the first and second metal pads 132a and 134a are spaced apart from each other. An inspection area 10 for inspecting a connection relationship between the output pad 130a and the output bump 310 is formed.

상기 제1 금속패드(132a)는 상기 데이터 러인(120)과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 금속패드(134a)는 테스트 신호가 인가되는 테스트 라인(140)과 전기적으로 연결된다. 상기 테스트 라인(140)은 쇼팅바(shorting bar, 142)와 전기적으로 연결되어, 상기 테스트 신호를 상기 박막 트랜지스터들로 일괄적으로 인가한다. 이때, 상기 박막 트랜지스터들을 검사한 후, 상기 테스트 라인(140)과 상기 쇼팅바(142)는 절단선(144)에 따라 절단되어 전기적으로 단락된다.The first metal pad 132a is electrically connected to the data line 120, and the second metal pad 134a is electrically connected to a test line 140 to which a test signal is applied. The test line 140 is electrically connected to a shorting bar 142 to collectively apply the test signal to the thin film transistors. At this time, after inspecting the thin film transistors, the test line 140 and the shorting bar 142 are cut along the cutting line 144 and electrically shorted.

상기 어레이 기판(100), 상기 절연층(110) 및 상기 투명전극(136a)은 모두 투명한 성질을 가짐에 따라, 상기 어레이 기판(100)의 하부에서 발생된 광이 상기 검사영역(10)을 통과하여 상기 출력패드(130a)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계를 검사할 수 있다. 즉, 상기 어레이 기판(100)에서 발생된 광이 상기 검사영역(10)에 형성된 상기 어레이 기판(100), 상기 절연층(110) 및 상기 투명전극(136a)을 통과됨에 따라, 상기 이방성 도전필름(600) 내에 포함된 도전볼(610)의 형상불량 및 분포불량을 검사할 수 있다.As the array substrate 100, the insulating layer 110, and the transparent electrode 136a all have transparent properties, light generated under the array substrate 100 passes through the inspection region 10. By checking the connection between the output pad 130a and the output bump 310. That is, as the light generated from the array substrate 100 passes through the array substrate 100, the insulating layer 110, and the transparent electrode 136a formed in the inspection region 10, the anisotropic conductive film Shape defects and distribution defects of the conductive balls 610 included in the 600 may be inspected.

이와 같이, 상기 제1 및 제2 금속패드(132a, 134a)가 서로 이격되게 배치됨 에 따라 상기 검사영역(10)이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 상기 출력패드(130a)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계를 검사할 수 있다.As such, as the inspection region 10 is formed as the first and second metal pads 132a and 134a are spaced apart from each other, the output pad 130a and the output bump 310 may be more easily formed. The connection can be checked.

또한, 이상에서는 상기 출력패드(130a)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계뿐만 아니라 상기 출력패드과 상기 출력범프과의 연결관계 및 상기 연결단자과와 상기 전송라인과의 연결관계에도 동일하게 적용될 수 있다.In addition, in the above description, not only a connection relationship between the output pad 130a and the output bump 310 may be equally applied to a connection relationship between the output pad and the output bump and a connection relationship between the connection terminal and the transmission line.

<표시패널의 실시예-2><Example-2 of the display panel>

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 표시패널 중 일부를 절단해서 도시한 단면도이고, 도 6은 도 5의 표시패널 중 패드부의 일부를 확대해서 도시한 사시도이다. 본 발명의 제2 실시예에 의한 표시패널은 패드부 및 콘택홀을 제외하면, 앞서 설명한 제1 실시예의 표시패널과 동일한 구성을 가짐으로 그 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조부호 및 명칭을 사용하기로 한다.5 is a cross-sectional view of a portion of a display panel according to a second exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 6 is an enlarged perspective view of a portion of a pad part of the display panel of FIG. Except for the pad portion and the contact hole, the display panel according to the second embodiment of the present invention has the same configuration as the display panel of the first embodiment described above, and thus a duplicated description thereof will be omitted. The same reference numerals and names are used.

도 1, 도 2, 도 5 및 도 6을 참조하면, 표시패널은 어레이 기판(100), 컬러필터 기판(200), 액정층(미도시), 구동칩(300), 연성인쇄회로기판(400) 및 인쇄회로기판(500)을 포함한다.1, 2, 5, and 6, the display panel includes an array substrate 100, a color filter substrate 200, a liquid crystal layer (not shown), a driving chip 300, and a flexible printed circuit board 400. ) And a printed circuit board 500.

상기 어레이 기판(100)의 주변영역에는 상기 구동칩(300)을 상기 데이터 라인(120)과 전기적으로 연결시키기 위한 복수의 패드부들이 형성된다.A plurality of pads are formed in the peripheral area of the array substrate 100 to electrically connect the driving chip 300 to the data line 120.

상기 패드부들은 입력패드(미도시)들 및 출력패드(130b)들을 포함하며, 상기 구동칩(300)은 상기 입력패드들과 전지적으로 연결되는 입력범프(미도시)들 및 상기 출력패드(130b)들과 전지적으로 연결되는 출력범프(310)들을 포함한다. 이때, 상기 패드부는 도전볼(610)을 포함하는 이방성 도전필름(anisotropic conductive film, 600)을 매개로 상기 구동칩(300)과 전기적으로 연결된다.The pad parts may include input pads (not shown) and output pads 130b, and the driving chip 300 may include input bumps (not shown) and the output pads 130b that are electrically connected to the input pads. ) And output bumps 310 connected to the battery. In this case, the pad part is electrically connected to the driving chip 300 through an anisotropic conductive film 600 including the conductive ball 610.

상기 각 출력패드(130b)는 상기 어레이 기판(100) 상에 형성된 금속패드(132b)와, 상기 금속패드(132b)와 전기적으로 연결되며, 투명하면서 도전성인 투명전극(134b)을 포함한다. 이때, 상기 금속패드(132b)는 상기 데이터 러인(120) 및 테스트 라인(140)과 전기적으로 연결된다. 상기 테스트 라인(140)을 통해 상기 박막 트랜지스터들을 검사한 후, 상기 테스트 라인(140)과 쇼팅바(142)는 절단선(144)에 따라 절단되어 전기적으로 단락된다.Each output pad 130b includes a metal pad 132b formed on the array substrate 100 and a transparent electrode 134b electrically connected to the metal pad 132b and being transparent. In this case, the metal pad 132b is electrically connected to the data line 120 and the test line 140. After inspecting the thin film transistors through the test line 140, the test line 140 and the shorting bar 142 are cut along the cutting line 144 to be electrically shorted.

상기 어레이 기판(100) 상에는 상기 금속패드(132b)를 덮는 절연층(110)이 형성된다. 상기 절연층(110)에는 상기 금속패드(132b)의 상부로 콘택홀(112b)이 형성된다. 상기 콘택홀(112b)에 의해 상기 금속패드(132b)와 상기 투명전극(134b)은 전기적으로 연결된다.The insulating layer 110 covering the metal pad 132b is formed on the array substrate 100. A contact hole 112b is formed in the insulating layer 110 on the metal pad 132b. The metal pad 132b and the transparent electrode 134b are electrically connected by the contact hole 112b.

상기 콘택홀(112b)은 일반적으로 플라즈마 에칭 등에 의해 상기 절연층(110)의 일부가 식각되어 형성된다. 그러나, 상기 절연층(110)의 일부가 식각될 때, 상기 금속패드(132b)에 어떤 금속으로 이루어지냐에 따라 심각한 악영향을 미칠 수 있다. 따라서, 상기 금속패드(132b)가 반응성이 강한 금속으로 이루어지는 경우, 상기 콘택홀(112b)은 그 크기가 제한되어야하고, 그에 따라 상기 콘택홀(112b)은 작은 크기의 원형 및 타원형의 형상을 갖는다.The contact hole 112b is generally formed by etching part of the insulating layer 110 by plasma etching or the like. However, when a portion of the insulating layer 110 is etched, the metal pad 132b may have a serious adverse effect depending on what metal it is made of. Therefore, when the metal pad 132b is made of a highly reactive metal, the contact hole 112b should be limited in size, and thus the contact hole 112b has a circular and elliptical shape with a small size. .

상기 콘택홀(112b)은 복수개로 이루어지며, 상기 콘택홀(112b)들은 두 개 이상의 그룹으로 구획되어 배치됨에 따라, 상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프 (310)와의 연결관계를 관측하기 위한 검사영역(20)이 형성된다. 상기 콘택홀(112b)들은 예를 들어, 3개씩 4열로 배치되며, 각 열이 일정간격 이격되어 2개의 상기 검사영역(20)이 형성된다. 상기 콘택홀(112b)의 개수가 증가될수록 상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프(310)와 접촉저항은 낮아지지만, 상기 검사영역(20)은 상대적으로 감소하므로, 상기 콘택홀(112b)은 적절한 개수로 형성되는 것이 바람직하다.Since the contact holes 112b are formed in plural, and the contact holes 112b are divided into two or more groups, the contact holes 112b are used to observe the connection relationship between the output pads 130b and the output bumps 310. The inspection area 20 is formed. For example, the contact holes 112b are arranged in four rows of three, and the two inspection areas 20 are formed by spaced apart from each other by a predetermined interval. As the number of the contact holes 112b increases, the contact resistance of the output pad 130b and the output bump 310 decreases, but the inspection area 20 decreases relatively, so that the contact holes 112b It is preferable to form an appropriate number.

상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프(310)는 상기 이방성 도전필름(600)이 둘 사이에 개재되어 외부의 열과 압력에 의해 서로 연결된다. 상기 이방성 도전필름(600)에 포함된 상기 도전볼(610)은 상기 열과 압력에 의해 상기 투명전극(134b) 상에 압흔을 형성시킨다. 이러한 압흔 중 상기 검사영역(20)에 형성된 압흔의 형상불량 및 분포불량을 검사함으로써, 상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계를 검사할 수 있다. 이때, 상기 금속패드(132b)는 상기 압흔을 외관을 통해 검사하기 위해 소정의 두께 이하를 갖는 것이 바람직하다.The output pad 130b and the output bump 310 are connected to each other by an external heat and pressure with the anisotropic conductive film 600 interposed therebetween. The conductive balls 610 included in the anisotropic conductive film 600 form indentations on the transparent electrode 134b by the heat and pressure. By inspecting the shape defect and the distribution defect of the indentation formed in the inspection area 20 of the indentation, it is possible to examine the connection relationship between the output pad 130b and the output bump 310. In this case, the metal pad 132b preferably has a predetermined thickness or less to inspect the indentation through appearance.

이와 같이, 상기 콘택홀(122b)이 서로 이격되게 배치되어 상기 검사영역(20)이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계를 검사할 수 있다.As such, as the contact holes 122b are spaced apart from each other and the inspection region 20 is formed, the connection relationship between the output pad 130b and the output bump 310 can be more easily inspected.

또한, 이상에서는 상기 출력패드(130b)와 상기 출력범프(310)와의 연결관계뿐만 아니라 상기 출력패드과 상기 출력범프과의 연결관계 및 상기 연결단자과와 상기 전송라인과의 연결관계에도 동일하게 적용될 수 있다.In addition, in the above description, not only a connection relationship between the output pad 130b and the output bump 310 may be equally applied to a connection relationship between the output pad and the output bump and a connection relationship between the connection terminal and the transmission line.

<표시패널의 실시예-3><Example-3 of the Display Panel>

도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 표시패널를 도시한 사시도이고, 도 8은 도 7의 표시패널 중 B부분을 확대해서 도시한 사시도이다.7 is a perspective view illustrating a display panel according to a third exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 8 is an enlarged perspective view of part B of the display panel of FIG. 7.

도 7 및 도 8을 참조하면, 표시패널은 어레이 기판(700), 컬러필터 기판(200), 액정층(미도시), 연성인쇄회로기판(800) 및 인쇄회로기판(500)을 포함한다.7 and 8, the display panel includes an array substrate 700, a color filter substrate 200, a liquid crystal layer (not shown), a flexible printed circuit board 800, and a printed circuit board 500.

상기 어레이 기판(700)은 스위칭 소자인 복수의 박막 트랜지스터(미도시)들 및 상기 박막 트랜지스터들과 전기적으로 연결된 복수의 화소전극(미도시)들을 포함한다. 상기 어레이 기판(700) 상에는 상기 박막 트랜지스터들을 덮는 절연층이 형성된다. The array substrate 700 includes a plurality of thin film transistors (not shown), which are switching elements, and a plurality of pixel electrodes (not shown) electrically connected to the thin film transistors. An insulating layer covering the thin film transistors is formed on the array substrate 700.

각 박막 트랜지스터는 소스 전극, 게이트 전극 및 드레인 전극을 포함한다. 상기 소스 전극들은 상기 어레이 기판(700) 상에 X-축 방향으로 형성된 데이터 라인(720)들과 전기적으로 연결되고, 상기 게이트 전극들은 상기 어레이 기판(700) 상에 Y-축 방향으로 형성된 게이트 라인(730)들과 전기적으로 연결되고, 상기 드레인 전극들은 투명하면서 도전성인 상기 화소 전극들과 각각 전기적으로 연결된다.Each thin film transistor includes a source electrode, a gate electrode, and a drain electrode. The source electrodes are electrically connected to data lines 720 formed in the X-axis direction on the array substrate 700, and the gate electrodes are formed on the array substrate 700 in the Y-axis direction. And the drain electrodes are electrically connected to the transparent and conductive pixel electrodes, respectively.

상기 컬러필터 기판(200)은 상기 어레이 기판(700)과 대향하도록 마주보며 배치된다. 상기 컬러필터 기판(200)은 광을 통과되어 색상을 표시하는 복수의 컬러필터(미도시)들 및 상기 컬러필터 기판(200)의 전면에 형성된 투명하면서 도전성의 공통전극(미도시)을 포함한다.The color filter substrate 200 is disposed to face the array substrate 700. The color filter substrate 200 includes a plurality of color filters (not shown) for displaying color through light and a transparent and conductive common electrode (not shown) formed on the front surface of the color filter substrate 200. .

상기 액정층은 상기 어레이 기판(700) 및 컬러필터 기판(200) 사이에 개재된다. 상기 액정층은 액체와 고체의 중간성질을 갖으며 일정한 배열로 배치된 액정들로 이루어지며, 상기 액정들은 상기 화소전극과 상기 공통전극 사이에 형성된 전기 장에 의해 그 배열이 변화한다. 배열이 변화된 액정들은 광 투과율을 변화시키고, 광 투과율이 변화된 상기 광은 상기 컬러필터들을 통과되면서 원하는 영상을 표시한다.The liquid crystal layer is interposed between the array substrate 700 and the color filter substrate 200. The liquid crystal layer is composed of liquid crystals having an intermediate property of a liquid and a solid and arranged in a constant array. The liquid crystals are changed in an arrangement by an electric field formed between the pixel electrode and the common electrode. Liquid crystals of varying arrangements change light transmittance, and the light of which light transmittance is changed passes through the color filters to display a desired image.

상기 연성인쇄회로기판(800)은 상기 인쇄회로기판(500)과 상기 어레이 기판(700)을 전기적으로 연결시킨다. 상기 연성인쇄회로기판(800)은 상기 인쇄회로기판(500)에서 발생된 제어신호를 상기 어레이 기판(700)으로 전송하는 전송라인(미도시)들과, 상기 전송라인들과 전기적으로 연결되어 상기 제어신호를 영상을 표시하기 위한 구동신호로 변경시키는 구동칩(850)을 포함한다.The flexible printed circuit board 800 electrically connects the printed circuit board 500 and the array substrate 700. The flexible printed circuit board 800 may include transmission lines (not shown) for transmitting a control signal generated from the printed circuit board 500 to the array substrate 700, and are electrically connected to the transmission lines. And a driving chip 850 for converting the control signal into a driving signal for displaying an image.

상기 인쇄회로기판(500)은 외부의 그래픽 컨트롤러(미도시)로부터 영상신호를 입력받아, 상기 영상신호를 상기 구동칩(850)을 제어하기 위한 제어신호를 발생시킨다. 상기 제어신호는 상기 연성인쇄회로기판(800) 상에 배치된 구동칩(850)에 의해 상기 구동신호로 변경되어 상기 어레이 기판(700)으로 인가된다.The printed circuit board 500 receives an image signal from an external graphic controller (not shown) to generate a control signal for controlling the driving chip 850. The control signal is converted into the driving signal by the driving chip 850 disposed on the flexible printed circuit board 800 and applied to the array substrate 700.

도 9는 도 8의 Ⅱ-Ⅱ'선을 따라 절단한 단면도이다. FIG. 9 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'of FIG. 8.

도 9를 참조하면, 상기 어레이 기판(700)의 주변영역에는 상기 연성인쇄회로기판(800)의 전송라인(810)을 상기 데이터 라인(720)과 전기적으로 연결시키기 위한 복수의 연결단자(740a)들이 형성된다. 이때, 상기 연결단자(740a)들은 도전볼(610)을 포함하는 이방성 도전필름(600)을 매개로 상기 연성인쇄회로기판(800)의 전송라인(810)과 전기적으로 연결된다.9, a plurality of connection terminals 740a for electrically connecting the transmission line 810 of the flexible printed circuit board 800 to the data line 720 in the peripheral region of the array substrate 700. Are formed. In this case, the connection terminals 740a are electrically connected to the transmission line 810 of the flexible printed circuit board 800 through the anisotropic conductive film 600 including the conductive balls 610.

상기 연결단자(740a)들은 상기 데이터 라인(720)과 전기적으로 연결되어, 상기 연성인쇄회로기판(800)으로부터 상기 구동신호를 입력받아 상기 박막 트랜지스 터로 전송한다. 상기 연결단자(740a)들은 상기 표시패널의 해상도를 향상시키기 위해 Y축 방향을 따라 복수 열로 배치되며, 예를 들어 지그재그(zigzag)로 2열 배치될 수 있다.The connection terminals 740a are electrically connected to the data line 720 to receive the driving signal from the flexible printed circuit board 800 and transmit the driving signal to the thin film transistor. The connection terminals 740a may be arranged in a plurality of rows along the Y-axis direction to improve the resolution of the display panel. For example, the connection terminals 740a may be arranged in two rows in a zigzag.

상기 각 연결단자(740a)는 상기 어레이 기판(700) 상에 형성된 금속단자와, 상기 금속단자와 전기적으로 연결되며, 투명하면서 도전성인 투명단자(736a)를 포함한다. Each connection terminal 740a includes a metal terminal formed on the array substrate 700, and a transparent terminal 736a electrically connected to the metal terminal and transparent and conductive.

상기 어레이 기판(700) 상에는 상기 금속단자를 덮는 절연층(710)이 형성된다. 상기 절연층(710)에는 상기 금속단자의 상부로 콘택홀(712a)이 형성된다. 상기 콘택홀(712a)에 의해 상기 금속단자와 상기 투명전극(746a)은 전기적으로 연결된다. 상기 콘택홀(712a)은 상기 금속단자와 상기 투명전극(746a)과의 접촉저항을 감소시키기 위해 상기 금속단자의 크기와 동일하거나 작은 크기로 형성되는 것이 바람직하다.An insulating layer 710 covering the metal terminal is formed on the array substrate 700. A contact hole 712a is formed in the insulating layer 710 on the metal terminal. The metal terminal and the transparent electrode 746a are electrically connected by the contact hole 712a. The contact hole 712a may be formed to have a size equal to or smaller than that of the metal terminal in order to reduce contact resistance between the metal terminal and the transparent electrode 746a.

상기 금속단자는 소정의 거리로 서로 이격되게 배치된 제1 및 제2 금속단자(742a, 744a)를 포함하고, 상기 제1 및 제2 금속단자(742a, 744a)가 서로 이격되게 배치됨에 따라 상기 연결단자(740a)와 상기 전송라인(810)과의 연결관계를 검사하는 검사영역(30)이 형성된다.The metal terminals include first and second metal terminals 742a and 744a spaced apart from each other by a predetermined distance, and the first and second metal terminals 742a and 744a are spaced apart from each other. An inspection area 30 for inspecting a connection relationship between the connection terminal 740a and the transmission line 810 is formed.

상기 제1 금속단자(742a)는 상기 데이터 러인(720)과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 금속패드(744a)는 테스트 신호가 인가되는 테스트 라인(750)과 전기적으로 연결된다. 상기 테스트 라인(750)은 쇼팅바(shorting bar, 미도시)와 전기적으로 연결되어, 상기 테스트 신호를 상기 박막 트랜지스터들로 일괄적으로 인가한다. 이때, 상기 박막 트랜지스터들을 검사한 후, 상기 테스트 라인(750)과 상기 쇼팅바는 절단선(미도시)에 따라 절단되어 전기적으로 단락된다.The first metal terminal 742a is electrically connected to the data line 720, and the second metal pad 744a is electrically connected to a test line 750 to which a test signal is applied. The test line 750 is electrically connected to a shorting bar (not shown) to collectively apply the test signal to the thin film transistors. At this time, after inspecting the thin film transistors, the test line 750 and the shorting bar are cut along the cutting line (not shown) and electrically shorted.

상기 어레이 기판(700), 상기 절연층(710) 및 상기 투명전극(746a)은 모두 투명한 성질을 가짐에 따라, 상기 어레이 기판(700)의 하부에서 발생된 광이 상기 검사영역(30)을 통과하여 상기 연결단자(740a)와 상기 전송라인(810)과의 연결관계를 검사할 수 있다. 즉, 상기 어레이 기판(700)에서 발생된 광이 상기 검사영역(30)에 형성된 상기 어레이 기판(700), 상기 절연층(710) 및 상기 투명전극(746a)을 통과됨에 따라, 상기 이방성 도전필름(600) 내에 포함된 도전볼(610)의 형상불량 및 분포불량을 검사할 수 있다.As the array substrate 700, the insulating layer 710, and the transparent electrode 746a all have transparent properties, light generated under the array substrate 700 passes through the inspection region 30. The connection relationship between the connection terminal 740a and the transmission line 810 may be examined. That is, as the light generated from the array substrate 700 passes through the array substrate 700, the insulating layer 710, and the transparent electrode 746a formed in the inspection region 30, the anisotropic conductive film Shape defects and distribution defects of the conductive balls 610 included in the 600 may be inspected.

이와 같이, 상기 제1 및 제2 금속단자(742a, 744a)가 서로 이격되게 배치됨에 따라 상기 검사영역(30)이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 상기 연결단자(740a)와 상기 전송라인(810)과의 연결관계를 검사할 수 있다.As such, as the inspection region 30 is formed as the first and second metal terminals 742a and 744a are spaced apart from each other, the connection terminal 740a and the transmission line 810 may be more easily formed. You can check the connection between.

또한, 이상에서는 상기 데이타 라인(720)에 연결된 상기 연결단자(740a)를 예를 들어 설명하였지만, 당업자라면 상기 게이트 라인(730)에 연결된 다른 연결단자에서도 쉽게 적용할 수 있을 것이다.In addition, although the connection terminal 740a connected to the data line 720 has been described as an example, a person skilled in the art may easily apply to other connection terminals connected to the gate line 730.

<표시패널의 실시예-4><Example 4 of the display panel>

도 10은 본 발명의 제4 실시예에 따른 표시패널 중 일부를 절단해서 도시한 단면도이다. 본 발명의 제4 실시예에 의한 표시패널은 연결단자 및 콘택홀을 제외하면, 앞서 설명한 일 실시예의 표시패널과 동일한 구성을 가짐으로 그 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조부호 및 명칭을 사용하기로 한다.FIG. 10 is a cross-sectional view of a portion of the display panel according to the fourth exemplary embodiment. Except for the connection terminal and the contact hole, the display panel according to the fourth embodiment of the present invention has the same configuration as that of the display panel of the above-described embodiment, and thus a duplicated description thereof will be omitted. Reference numerals and names will be used.

도 10을 참조하면, 표시패널은 어레이 기판(700), 컬러필터 기판(200), 액정층(미도시), 연성인쇄회로기판(800) 및 인쇄회로기판(500)을 포함한다.Referring to FIG. 10, the display panel includes an array substrate 700, a color filter substrate 200, a liquid crystal layer (not shown), a flexible printed circuit board 800, and a printed circuit board 500.

상기 어레이 기판(700)의 주변영역에는 상기 연성인쇄회로기판(800)의 전송라인(810)을 상기 데이터 라인(720)과 전기적으로 연결시키기 위한 복수의 연결단자(740b)들이 형성된다. 이때, 상기 연결단자(740b)들은 도전볼(610)을 포함하는 이방성 도전필름(600)을 매개로 상기 연성인쇄회로기판(800)의 전송라인(810)과 전기적으로 연결된다.A plurality of connection terminals 740b are formed in the peripheral area of the array substrate 700 to electrically connect the transmission line 810 of the flexible printed circuit board 800 to the data line 720. In this case, the connection terminals 740b are electrically connected to the transmission line 810 of the flexible printed circuit board 800 through the anisotropic conductive film 600 including the conductive balls 610.

상기 연결단자(740b)들은 상기 데이터 라인(720)과 전기적으로 연결되어, 상기 연성인쇄회로기판(800)으로부터 상기 구동신호를 입력받아 상기 박막 트랜지스터로 전송한다.The connection terminals 740b are electrically connected to the data line 720 to receive the driving signal from the flexible printed circuit board 800 and transmit the driving signal to the thin film transistor.

상기 연결단자(740b)들은 상기 어레이 기판(700) 상에 형성된 금속단자(132b)와, 상기 금속단자(742b)와 전기적으로 연결되며, 투명하면서 도전성인 투명전극(744b)을 포함한다. 이때, 상기 금속단자(742b)는 상기 데이터 러인(720) 및 테스트 라인(750)과 전기적으로 연결된다. 상기 테스트 라인(750)을 통해 상기 박막 트랜지스터들을 검사한 후, 상기 테스트 라인(750)과 쇼팅바(미도시)는 절단선(미도시)에 따라 절단되어 전기적으로 단락된다.The connection terminals 740b include a metal terminal 132b formed on the array substrate 700 and a transparent electrode 744b that is electrically connected to the metal terminal 742b and is transparent and conductive. In this case, the metal terminal 742b is electrically connected to the data line 720 and the test line 750. After inspecting the thin film transistors through the test line 750, the test line 750 and the shorting bar (not shown) are cut along the cutting line (not shown) and electrically shorted.

상기 어레이 기판(700) 상에는 상기 금속단자(742b)를 덮는 절연층(710)이 형성된다. 상기 절연층(710)에는 상기 금속단자(742b)의 상부로 콘택홀(712b)이 형성된다. 상기 콘택홀(712b)에 의해 상기 금속단자(742b)와 상기 투명전극(744b)은 전기적으로 연결된다.An insulating layer 710 covering the metal terminal 742b is formed on the array substrate 700. A contact hole 712b is formed in the insulating layer 710 on the metal terminal 742b. The metal terminal 742b and the transparent electrode 744b are electrically connected by the contact hole 712b.

상기 콘택홀(712b)은 일반적으로 플라즈마 에칭 등에 의해 상기 절연층(710)의 일부가 식각되어 형성된다. 그러나, 상기 절연층(710)의 일부가 식각될 때, 상기 금속단자(742b)에 어떤 금속으로 이루어지냐에 따라 심각한 악영향을 미칠 수 있다. 따라서, 상기 금속단자(742b)가 반응성이 강한 금속으로 이루어지는 경우, 상기 콘택홀(712b)은 그 크기가 제한되어야하고, 그에 따라 상기 콘택홀(112b)은 작은 크기의 원형 및 타원형의 형상을 갖는다.The contact hole 712b is generally formed by etching part of the insulating layer 710 by plasma etching or the like. However, when a part of the insulating layer 710 is etched, the metal terminal 742b may have a serious adverse effect depending on which metal is formed. Therefore, when the metal terminal 742b is made of a highly reactive metal, the contact hole 712b should be limited in size, and thus the contact hole 112b has a small circular and elliptical shape. .

상기 콘택홀(712b)은 복수개로 이루어지며, 상기 콘택홀(712b)들은 두 개 이상의 그룹으로 구획되어 배치됨에 따라, 상기 연결단자(740b)와 상기 전송라인(810)과의 연결관계를 관측하기 위한 검사영역(40)이 형성된다. 상기 콘택홀(712b)들은 예를 들어, 3개씩 4열로 배치되며, 각 열이 일정간격 이격되어 2개의 상기 검사영역(40)이 형성된다. 상기 콘택홀(712b)의 개수가 증가될수록 상기 연결단자(740b)와 상기 전송라인(810)과의 접촉저항은 낮아지지만, 상기 검사영역(40)은 상대적으로 감소하므로, 상기 콘택홀(712b)은 적절한 개수로 형성되는 것이 바람직하다.As the contact holes 712b are formed in plural, and the contact holes 712b are divided into two or more groups, the connection relationship between the connection terminal 740b and the transmission line 810 is observed. The inspection area 40 is formed. For example, the contact holes 712b are arranged in four rows of three, and the two inspection areas 40 are formed by spaced apart from each other by a predetermined interval. As the number of the contact holes 712b increases, the contact resistance between the connection terminal 740b and the transmission line 810 decreases, but the inspection area 40 decreases relatively, so that the contact holes 712b It is preferable to form the appropriate number.

상기 연결단자(740b)와 상기 전송라인(810)은 상기 이방성 도전필름(600)이 둘 사이에 개재되어 외부의 열과 압력에 의해 서로 연결된다. 상기 이방성 도전필름(600)에 포함된 상기 도전볼(610)은 상기 열과 압력에 의해 상기 투명전극(744b) 상에 압흔을 형성시킨다. The connection terminal 740b and the transmission line 810 are connected to each other by an external heat and pressure with the anisotropic conductive film 600 interposed therebetween. The conductive balls 610 included in the anisotropic conductive film 600 form indentations on the transparent electrode 744b by the heat and pressure.

이러한 압흔 중 상기 검사영역(40)에 형성된 압흔의 형상불량 및 분포불량을 검사함으로써, 상기 연결단자(740b)와 상기 전송라인(810)의 연결관계를 검사할 수 있다. 이때, 상기 금속단자(742b)는 상기 압흔을 외관을 통해 검사하기 위해 소정의 두께 이하를 갖는 것이 바람직하다.By examining the shape defect and the distribution defect of the indentation formed in the inspection area 40 of the indentation, it is possible to examine the connection relationship between the connection terminal 740b and the transmission line 810. At this time, the metal terminal 742b preferably has a predetermined thickness or less to inspect the indentation through appearance.

이와 같이, 상기 콘택홀(722b)이 서로 이격되게 배치되어 상기 검사영역(40)이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 상기 연결단자(740b)와 상기 전송라인(810)과의 연결관계를 검사할 수 있다.As such, as the contact holes 722b are spaced apart from each other and the inspection area 40 is formed, the connection relationship between the connection terminal 740b and the transmission line 810 may be more easily examined. .

또한, 이상에서는 상기 데이타 라인(720)에 연결된 상기 연결단자(740a)를 예를 들어 설명하였지만, 당업자라면 상기 게이트 라인(730)에 연결된 다른 연결단자에서도 쉽게 적용할 수 있을 것이다.In addition, although the connection terminal 740a connected to the data line 720 has been described as an example, a person skilled in the art may easily apply to other connection terminals connected to the gate line 730.

이와 같은 표시패널에 따르면, 제1 및 제2 금속패드 또는 제1 및 제2 연결단자가 서로 이격되게 배치되어 검사영역이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 출력패드와 출력범프와의 연결관계 또는 연결단자와 전송라인과의 연결관계를 검사할 수 있다.According to the display panel, as the first and second metal pads or the first and second connection terminals are spaced apart from each other to form an inspection area, the connection between the output pad and the output bump or the connection terminal can be more easily performed. The connection with the transmission line can be checked.

또한, 콘택홀이 서로 이격되게 배치되어 검사영역이 형성됨에 따라, 보다 쉽게 출력패드와 출력범프와의 연결관계 또는 연결단자와 전송라인과의 연결관계를 검사할 수 있다.In addition, as the contact holes are spaced apart from each other to form an inspection area, the connection relationship between the output pad and the output bump or the connection between the connection terminal and the transmission line can be more easily examined.

앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary skill in the art will be described in the claims to be described later It will be understood that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the present invention.

Claims (12)

기판;Board; 상기 기판의 주변영역에 배치되어, 영상을 표시하기 위한 구동신호를 발생시키는 구동칩; 및A driving chip disposed in a peripheral area of the substrate to generate a driving signal for displaying an image; And 상기 기판의 주변영역에 형성되어 상기 구동칩과 전기적으로 연결되고, 상기 구동칩과의 연결상태를 관측하기 위해 형성된 검사영역을 갖는 패드부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.And a pad part formed in a peripheral area of the substrate and electrically connected to the driving chip, the pad part having an inspection area formed to observe a connection state with the driving chip. 제1항에 있어서, 상기 패드부는 상기 기판 상에 형성된 도전성의 금속패드와, 상기 금속패드와 전기적으로 연결되는 투명전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 1, wherein the pad part comprises a conductive metal pad formed on the substrate and a transparent electrode electrically connected to the metal pad. 제2항에 있어서, 상기 기판 상에는 상기 금속패드를 덮는 절연층이 형성되고, 상기 절연층의 일부가 제거된 콘택홀이 형성되며,The method of claim 2, wherein an insulating layer covering the metal pad is formed on the substrate, and a contact hole from which a portion of the insulating layer is removed is formed. 상기 콘택홀을 경유하여 상기 투명전극과 금속패드는 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 표시패널.And the transparent electrode and the metal pad are electrically connected to each other via the contact hole. 제3항에 있어서, 상기 금속패드는 상기 검사영역을 정의하기 위해 서로 이격되게 배치된 제1 및 제2 금속패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 3, wherein the metal pads include first and second metal pads spaced apart from each other to define the inspection area. 제4항에 있어서, 상기 구동칩와 상기 패드부와의 연결상태는 상기 검사영역으로 광이 통과됨에 따라 관측되는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 4, wherein a connection state between the driving chip and the pad unit is observed as light passes through the inspection area. 제3항에 있어서, 상기 콘택홀은 복수 개로 구비되고, 상기 콘택홀들은 두 개 이상의 그룹으로 구획되어 상기 검사영역을 정의하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 3, wherein the contact hole is provided in plurality, and the contact holes are divided into two or more groups to define the inspection area. 제1항에 있어서, 내부에 복수개의 도전볼들을 포함하며, 상기 구동칩과 패드부를 전기적으로 연결시키는 이방성 도전필름을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 1, further comprising an anisotropic conductive film including a plurality of conductive balls therein and electrically connecting the driving chip and the pad to each other. 기판;Board; 영상을 표시하기 위한 구동신호를 상기 기판으로 전송하는 연성인쇄회로기판; 및A flexible printed circuit board which transmits a driving signal for displaying an image to the substrate; And 상기 기판의 주변영역에 형성되어 상기 연성인쇄회로기판과 전기적으로 연결되고, 상기 연성인쇄회로기판과의 연결상태를 관측하기 위한 검사영역을 갖는 연결단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.And a connection terminal formed in a peripheral area of the substrate and electrically connected to the flexible printed circuit board and having a test area for observing a connection state with the flexible printed circuit board. 제8항에 있어서, 상기 연결단자는 상기 기판 상에 형성된 도전성의 금속단자 와, 상기 금속단자와 전기적으로 연결되는 투명전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 8, wherein the connection terminal comprises a conductive metal terminal formed on the substrate and a transparent electrode electrically connected to the metal terminal. 제9항에 있어서, 상기 기판 상에는 상기 금속단자를 덮는 절연층이 형성되고, 상기 절연층의 일부가 제거된 콘택홀이 형성되며,The method of claim 9, wherein an insulating layer covering the metal terminal is formed on the substrate, and a contact hole from which a portion of the insulating layer is removed is formed. 상기 콘택홀을 경유하여 상기 투명전극과 금속단자는 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 표시패널.And the transparent electrode and the metal terminal are electrically connected to each other via the contact hole. 제10항에 있어서, 상기 금속단자는 상기 검사영역을 정의하기 위해 서로 이격되게 배치된 제1 및 제2 금속단자를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 10, wherein the metal terminals include first and second metal terminals spaced apart from each other to define the inspection area. 제10항에 있어서, 상기 콘택홀은 복수 개로 구비되고, 상기 콘택홀들은 두 개 이상의 그룹으로 구획되어 상기 검사영역을 정의하는 것을 특징으로 하는 표시패널.The display panel of claim 10, wherein the contact hole is provided in plural, and the contact holes are divided into two or more groups to define the inspection area.
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