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KR200451400Y1 - Assembly of test board and plug for zero-insertion force connector - Google Patents

Assembly of test board and plug for zero-insertion force connector Download PDF

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Publication number
KR200451400Y1
KR200451400Y1 KR2020080005471U KR20080005471U KR200451400Y1 KR 200451400 Y1 KR200451400 Y1 KR 200451400Y1 KR 2020080005471 U KR2020080005471 U KR 2020080005471U KR 20080005471 U KR20080005471 U KR 20080005471U KR 200451400 Y1 KR200451400 Y1 KR 200451400Y1
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KR
South Korea
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plug
coupling
test board
insulating plate
hole
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KR2020080005471U
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Inventor
전진국
박성규
김재남
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주식회사 오킨스전자
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    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
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Abstract

본 고안은 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체에 관한 것으로 관통 결합구멍을 가지는 테스트 기판; 상기 테스트 기판의 상부에 위치하는 중앙 절연판, 상기 절연판의 전면 및 후면에 각각 상단이 결합하고 하단은 상기 절연판으로부터 각각 이격되어 벌어지는 콘택트, 상기 절연판 하부로 돌출하고 끝단에 결합돌기를 가지며 상기 결합구멍에 삽입되는 연결핀을 구비하는 플러그; 및, 상기 테스트 기판의 하부에 결합하고 상기 연결핀의 결합돌기를 수용하여 이를 고정하는 돌기구멍을 가지는 보강판을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체에 관한 것이다.The present invention relates to a test board and a plug assembly for a non-insertable input connector, the test board having a through coupling hole; The upper end is coupled to each of the center insulating plate located on the upper portion of the test substrate, the front and rear of the insulating plate, the lower end of the contact is spaced apart from the insulating plate, respectively, protrudes to the lower portion of the insulating plate and has a coupling protrusion at the end of the coupling hole A plug having a connecting pin to be inserted; And a reinforcing plate coupled to a lower portion of the test substrate, the reinforcement plate having a protrusion hole for receiving and fixing a coupling protrusion of the connection pin.

이를 통하여 한번의 작업으로 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그를 결합할 수 있어서, 작업시간을 단축하고, 생산성을 향상시킬 수 있으며, 콘택트의 탄성력을 이용한 충분한 완충작용을 이용하여 결합공정을 진행할 수 있으므로 안정적인 작업이 가능하고, 결합 후의 결합체도 안정적인 결합체를 얻을 수 있다.Through this, the test board can be combined with the plug for the non-insertion input connector in one operation, thereby reducing the working time and improving the productivity, and proceeding with the bonding process by using sufficient buffering action using the elastic force of the contact. Therefore, stable work is possible, and the binder after bonding can also obtain a stable binder.

테스트 기판, 플러그 Test board, plug

Description

테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체 {Assembly of test board and plug for zero-insertion force connector}Assembly of test board and plug for zero-insertion force connector

본 고안은 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체에 관한 것으로 보다 상세하게는 한번의 작업으로 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그를 결합할 수 있어서, 작업시간을 단축하고, 생산성을 향상시킬 수 있으며, 콘택트의 탄성력을 이용한 충분한 완충작용을 이용하여 결합공정을 진행할 수 있으므로 안정적인 작업이 가능하고, 결합 후의 결합체도 안정적인 결합체를 얻을 수 있는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체에 관한 것이다.The present invention relates to a plug assembly for a test board and a non-insertable input connector. More specifically, the test board and a plug for a non-insertable input connector can be combined in one operation, thereby reducing work time and improving productivity. The present invention relates to a plug assembly for a test board and a non-insertable input connector which can perform a stable operation because the coupling process can be performed by using a sufficient buffering effect using the elastic force of the contact.

반도체 칩 패키지 또는 패키지 전의 웨이퍼 상태의 반도체 부품은 제조 공정에서 다양한 테스트를 거치게 되는데, 이러한 테스트를 위한 반도체 시험장치는 테스트 대상이 되는 디바이스를 탑재하는 부분과 이러한 디바이스와 접촉하는 테스트 기판으로 구분된다.The semiconductor component of the semiconductor chip package or the wafer state before the package is subjected to various tests in the manufacturing process. The semiconductor test apparatus for such a test is divided into a part for mounting a device under test and a test substrate in contact with the device.

이러한 반도체 시험 장치, 특히 웨이퍼 상태의 반도체 부품 테스트 장치는 하나의 웨이퍼에 다수의 DUT(Device under test)가 형성되어 있고, 이러한 DUT를 일괄적으로 시험하기 위해서, 해당 부품의 단위별 접속 커넥터가 다수 개 테스트 기판에 부착되게 되며 따라서 테스트 장치의 테스트 헤드에 있어서는, 예컨대 다수의 DUT와 접속하는 이중 인라인 플러그가 테스트 기판에 다수 부착되게 된다.In such a semiconductor test apparatus, in particular, a semiconductor component test apparatus in a wafer state, a plurality of device under tests (DUTs) are formed on one wafer, and in order to collectively test such a DUT, a plurality of unit-specific connection connectors of the corresponding components are provided. In the test head of the test apparatus, for example, a plurality of double in-line plugs connecting to a plurality of DUTs are attached to the test board.

이에 대한 예를 들면, 도 1에 도시한 바와 같이 다수 개의 이중 인라인 플러그가 방사형으로 테스트 기판(특히, 프로브 카드)에 부착되어 있고, 이와 같이 프로브 카드에 결합한 플러그는 도 2에 도시한 바와 같이 무삽입력 커넥터와 결합되어진다.For example, as shown in FIG. 1, a plurality of dual in-line plugs are radially attached to a test substrate (especially a probe card), and the plugs coupled to the probe card are thus free of charge as shown in FIG. It is coupled with the insertion force connector.

그런데 이 테스트 기판은 테스트하고자 하는 DUT의 종류에 따라 전용으로 만들어지는 것이기 때문에, DUT의 종류가 변할 때마다 이중 인라인 플러그 부착 테스트 기판을 시험장비로부터 탈착해야 할 필요가 있다. 따라서 이러한 연결부분은 무삽입력 커넥터를 사용하는 것이 추세이고, 이와 같은 무삽입력 커넥터는 대한민국 특허출원 제10-1999-27562호 등에 개시된 바와 같다.However, since the test board is made exclusively according to the type of DUT to be tested, it is necessary to detach the test board with a double in-line plug from the test equipment whenever the type of DUT changes. Therefore, the connection portion is a trend to use a non-insertable input connector, such a non-insertable input connector is as disclosed in the Republic of Korea Patent Application No. 10-1999-27562.

그러나 이와 같은 종래의 결합방식에서는 상기 플러그와 테스트 기판 사이의 결합이 연결핀의 리벳결합에 의하여 이루어짐에 따라 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그의 결합공정이 어려운 문제점이 있고, 결합공정에서 불량이 발생하는 경우에 손실이 크며, 생산성이 떨어지는 문제점이 있다.However, in the conventional coupling method, as the coupling between the plug and the test board is made by the rivet coupling of the connection pin, there is a problem in that the coupling process of the test board and the plug for the non-insertion input connector is difficult, and the defect in the coupling process is poor. If the loss is large, there is a problem that the productivity is lowered.

따라서 이러한 문제점을 개선하는 간단한 구조의 결합방식의 개발이 절실한 실정이다.Therefore, the development of a simple structure coupling method that improves this problem is urgently needed.

상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하고자, 본 고안은 한번의 작업으로 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그를 결합할 수 있어서, 작업시간을 단축하고, 생산성을 향상시킬 수 있으며, 콘택트의 탄성력을 이용한 충분한 완충작용을 이용하여 결합공정을 진행할 수 있으므로 안정적인 작업이 가능하고, 결합 후의 결합체도 안정적인 결합체를 얻을 수 있는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention can combine the test board and the plug for the non-insertion input connector in a single operation, thereby reducing the work time, improve productivity, and improve the elastic force of the contact It is an object of the present invention to provide a test board and a plug assembly for a non-insertable input connector that can perform a stable operation since the coupling process can be performed using a sufficient buffering effect.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 고안은 In order to achieve the above object, the present invention

관통 결합구멍을 가지는 테스트 기판; A test substrate having through coupling holes;

상기 테스트 기판의 상부에 위치하는 중앙 절연판, 상기 절연판의 전면 및 후면에 각각 상단이 결합하고 하단은 상기 절연판으로부터 각각 이격되어 벌어지는 콘택트, 상기 절연판 하부로 돌출하고 끝단에 결합돌기를 가지며 상기 결합구멍에 삽입되는 연결핀을 구비하는 플러그; 및, The upper end is coupled to the center insulating plate located on the upper side of the test substrate, the front and rear of the insulating plate, respectively, and the lower end of the contact spaced apart from the insulating plate, respectively; A plug having a connecting pin to be inserted; And,

상기 테스트 기판의 하부에 결합하고 상기 연결핀의 결합돌기를 수용하여 이를 고정하는 돌기구멍을 가지는 보강판을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체를 제공한다.And a reinforcing plate coupled to a lower portion of the test substrate, the reinforcement plate having a projection hole for receiving and fixing a coupling protrusion of the connection pin.

본 고안의 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체에 따르면, 종래에 비하여 한번의 작업으로 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그를 결합할 수 있어서, 작업시간을 단축하고, 생산성을 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.According to the test assembly of the present invention and the plug assembly for the non-insertable input connector, the test board and the plug for the non-insertable input connector can be combined in one operation compared to the conventional method, which can shorten the working time and improve productivity. The effect can be obtained.

또한, 이와 같은 결합체는 콘택트가 가지는 탄성력을 이용한 충분한 완충작 용을 이용하여 결합공정을 진행할 수 있으므로 안정적인 작업이 가능하고, 결합 후의 결합체가 탄성변형 영역에서 완충구간을 가지므로 안정적인 결합체를 얻을 수 있는 장점이 있다.In addition, such a binder can perform a stable process by using a sufficient buffering operation using the elastic force of the contact, so that stable work is possible, and since the binder after bonding has a buffer section in the elastic deformation region, a stable binder can be obtained. There is an advantage.

이하 본 고안에 대하여 도면을 참고하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 고안은 테스트 기판(10)과 무삽입력 커넥터(40)용 플러그(20) 결합체에 관한 것으로 관통 결합구멍(12)을 가지는 테스트 기판(10), 상기 테스트 기판(10)의 상부에 위치하는 중앙 절연판(22), 상기 절연판(22)의 전면 및 후면에 각각 상단이 결합하고 하단은 상기 절연판(22)으로부터 각각 이격되어 벌어지는 콘택트(24), 상기 절연판(22) 하부로 돌출하고 끝단에 결합돌기(28)를 가지며 상기 결합구멍(12)에 삽입되는 연결핀(26)을 구비하는 플러그(20) 및, 상기 테스트 기판(10)의 하부에 결합하고 상기 연결핀(26)의 결합돌기(28)를 수용하여 이를 고정하는 돌기구멍(32)을 가지는 보강판(30)을 포함하여 구성된다.The present invention relates to a combination of the test board 10 and the plug 20 for the non-insertable input connector 40, the test board 10 having a through coupling hole 12, which is located above the test board 10. The upper end is coupled to the center insulating plate 22 and the front and rear surfaces of the insulating plate 22, respectively, and the lower end of the contact plate 24 is spaced apart from the insulating plate 22, and protrudes below the insulating plate 22 and is coupled to the end. A plug 20 having a projection 28 and having a connection pin 26 inserted into the coupling hole 12, and a coupling protrusion of the connection pin 26 coupled to a lower portion of the test substrate 10. 28 is configured to include a reinforcing plate 30 having a projection hole 32 for receiving and fixing it.

즉, 본 고안의 테스트 기판(10)과 무삽입력 커넥터(40)용 플러그(20) 결합체는 도 1에 도시한 바와 같은 테스트 기판(10)과 무삽입력 커넥터(40)용 플러그(20) 사이의 결합을 도 3 내지 도 5에 도시한 바와 같은 형식으로 플러그(20)는 절연판(22) 하부로 돌출하고 끝단에 결합돌기(28)를 가지며 상기 테스트 기판의 결합구멍(12)에 삽입되는 연결핀(26)을 구비하는 구성을 가지고, 상기 결합돌기는 보강판(30)의 돌기구멍(32)에 삽입되어 체결되는 구성을 가진다. 이를 통하여 도시한 바와 같이 위에서 아래로 단지 플러그, 테스트 기판, 보강판의 순서로 배열하 고, 플러그의 연결핀을 테스트기판의 결합구멍에 먼저 삽입하고, 이후에 보강판의 돌기구멍에 삽입하여 연결핀의 결합돌기가 보강판의 돌기구멍과 결합하게 하는 과정만으로 테스트 기판에 대한 플러그의 결합이 완료되므로 상기 기술한 본 고안의 효과를 얻을 수 있다.That is, the combination of the test board 10 and the plug 20 for the insertless input connector 40 of the present invention is the plug 20 for the test board 10 and the insertless input connector 40 as shown in FIG. 1. 3 to 5, the plug 20 protrudes below the insulating plate 22, has a coupling protrusion 28 at the end, and is inserted into the coupling hole 12 of the test substrate. It has a configuration having a connecting pin 26, the coupling protrusion has a configuration that is inserted into the protrusion hole 32 of the reinforcing plate 30 and fastened. Through this arrangement, the plugs are arranged in the order of plugs, test boards, and reinforcement plates from top to bottom, and the connecting pins of the plugs are first inserted into the coupling holes of the test boards, and then inserted into the protrusion holes of the reinforcement plates. Since the coupling of the plug to the test substrate is completed only by allowing the coupling protrusion of the pin to engage with the protrusion hole of the reinforcing plate, the effect of the present invention described above can be obtained.

뿐만 아니라 이와 같은 결합이 가능한 것은 콘택트가 도시한 바와 같이 절연판을 기준으로 양쪽으로 벌어져 있고, 이와 같은 콘택트가 탄성변형 범위가 큰 금속판재로 이루어지므로 억지끼움으로 결합돌기와 돌기구멍이 결합한 이후에 플러그를 테스트 기판으로부터 밀어내는 힘을 작용하므로 완충적 결합체가 이루어지도록 할 수 있으므로 이와 같은 결합돌기와 돌기구멍만의 결합이 가능하다.In addition, such a coupling is possible, as shown by the contact, and is formed on both sides of the insulating plate, and since such a contact is made of a metal plate having a large elastic deformation range, the plug is inserted after the coupling protrusion and the projection hole are combined by force. Since the pushing force from the test substrate acts, the buffer assembly can be made, such that only the coupling protrusion and the protrusion hole can be combined.

바람직하게는 상기 결합돌기와 돌기구멍 사이의 결합은 억지끼움으로 이루어지는 것이 결합의 용이성 및 부품의 단순화 측면에서 좋고, 더욱 바람직하게는 상기 결합돌기(28)는 끝단이 아래로 갈수록 작아지게 테이퍼 지며, 결합돌기의 상부는 테두리방향으로 요홈(29)을 가지고, 상기 돌기구멍(32)은 상기 결합돌기(28)가 억지끼움이 되는 크기를 가지는 구성을 가지는 것이 좋으며, 더욱 바람직하게는 도시한 바와 같이 상기 연결핀은 원기둥의 형상(이외에도 다양한 다각기둥으로 이를 구성할 수도 있음은 물론이다.)이고, 상기 관통구멍은 이와 같은 연결핀에 정밀한 공차로 삽입되는 직경을 가지고, 상기 요홈(29)은 연결핀의 상단 직경보다 작은 형태로 이루어져 연결핀의 삽입이후에 연결핀과 테스트 기판 사이의 흔들림이 적도록 할 수 있다.Preferably, the coupling between the coupling protrusion and the projection hole is made of interference fit in terms of ease of coupling and simplification of components, and more preferably, the coupling protrusion 28 is tapered to become smaller as the end goes downward. The upper portion of the projection has a groove 29 in the rim direction, the projection hole 32 is preferably to have a configuration having a size that the engaging projection 28 is interference fit, more preferably as shown The connecting pin is in the shape of a cylinder (in addition to that may be configured as a variety of polygonal pillars of course), the through hole has a diameter that is inserted into such a connection pin with a precise tolerance, the groove 29 is a connecting pin It has a shape smaller than the top diameter of the after the insertion of the connecting pin can be less shake between the connecting pin and the test board.

또한 상기 보강판의 돌기구멍은 결합돌기를 수용하여 이를 결합하는 구멍으 로서 그 최소크기 부분은 도시한 바와 같이 결합돌기가 억지끼움이 가능하도록 결합돌기 직경보다 0.1 내지 0.03 ㎜ 작은 직경을 가지는 것이 좋고, 바람직하게는 0.05 ㎜작은 직경으로 만들어지는 것이 억지끼움에 적절하며, 최소직경 부분을 하부에는 도시한 바와 같이 연결핀의 끝단이 내부에 포함되도록 단을 형성할 수도 있으며, 이외에도 단을 형성하지 않고, 연결핀의 끝단이 밖으로 돌출되도록 하는 형상도 가능하며, 최소직경 부분의 상부도 도시한 바와 달리 단을 형성하지 않을 수도 있으며, 바람직하게는 도시한 바와 같이 연결핀의 삽입이 용이하도록 단을 형성하거나 테이퍼지게 이를 형성할 수도 있다. 더욱 바람직하게는 도시한 바와 같이 최소직경의 상부 및 하부에 각각 크기가 증가하는 단을 형성하는 것이 억지끼움 시에 변형되는 부분의 두께를 얇게 하여 억지끼움이 용이하도록 하고, 연결핀의 돌출을 막아 간섭을 방지하고, 연결핀의 삽입을 용이하게 하므로 좋다. 즉, 상기 돌기구멍은 상기 결합돌기가 억지끼움이 되는 크기를 가지는 최소 구멍부(34)를 상하방향 기준으로 중간부에 가지고, 이의 상부 및 하부는 최소구멍부보다 그 크기가 확대되는 단부를 각각 가지는 구성을 가지는 것이 바람직하다.In addition, the protrusion hole of the reinforcing plate is a hole for receiving the coupling protrusions and joining them, and the minimum size portion of the reinforcing plate is preferably 0.1 to 0.03 mm smaller than the diameter of the coupling protrusion so that the coupling protrusion can be pressed as shown. It is preferable to be made of a small diameter, preferably 0.05 mm, is suitable for interference fit, and as shown in the lower part of the minimum diameter portion may be formed so that the end of the connection pin is included therein, in addition to forming the end It is also possible to form the end of the connecting pin to protrude out, and the upper portion of the minimum diameter portion may not form a stage, as shown, and preferably form the stage to facilitate the insertion of the connecting pin as shown Or tapered it. More preferably, as shown in the figure, forming a step of increasing size at the top and the bottom of the minimum diameter, respectively, makes the interference fit easier by reducing the thickness of the deformed portion during the interference fit, and prevents the protrusion of the connection pin. It is good because it prevents the interference and facilitates the insertion of the connecting pin. That is, the protruding hole has a minimum hole portion 34 having a size in which the engaging protrusion is fitted into the middle portion on the basis of the vertical direction, and the upper and lower portions thereof have end portions whose sizes are larger than the minimum hole portion, respectively. It is preferable to have a structure which has.

또한 여기서 상기 테스트 기판은 하나의 PCB기판 등으로 이루어질 수도 있으며, 도시한 바와 같이 복층의 PCB기판으로 이를 구성할 수도 있음은 물론이다.In addition, the test substrate may be made of a single PCB substrate, etc., as shown, may be configured of a multilayer PCB substrate as well.

이상에서 설명한 본 고안은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 실용신안등록청구범위에 기재된 본 고안의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 고안의 범위 내에 포함됨은 물론이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and those skilled in the art can be variously modified without departing from the spirit and scope of the present invention described in the utility model registration claims below. Modifications and variations are also included within the scope of the present invention.

도 1은 종래의 테스트 기판 (프로브 카드)과 플러그가 결합된 상태를 나타내는 사진이다.1 is a photograph showing a state in which a conventional test board (probe card) and a plug are coupled to each other.

도 2는 종래의 무삽입력 커넥터와 플러그의 결합관계를 도시한 사진이다.2 is a photograph showing a coupling relationship between a conventional non-insertable input connector and a plug.

도 3은 본 고안의 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체의 정면 단면의 일부를 도시한 도면이다.3 is a view showing a part of the front cross section of the plug assembly for the test board and the insertionless connector of the present invention.

도 4는 본 고안의 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체의 측면 단면의 일부를 도시한 도면이다.Figure 4 is a view showing a part of the side cross-section of the plug assembly for the test board and the insertionless connector of the present invention.

도 5는 도4의 일부 확대도이다.5 is an enlarged view of a portion of FIG. 4.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 테스트 기판 12: 관통구멍10: test substrate 12: through hole

20: 플러그 22: 절연판20: plug 22: insulation plate

24: 콘택트 26: 연결핀24: contact 26: connecting pin

28: 결합돌기 29: 요홈28: engaging protrusion 29: groove

30: 보강판 32: 돌기구멍30: gusset 32: projection hole

34: 최소 구멍부34: minimum hole

Claims (3)

관통 결합구멍을 가지는 테스트 기판;A test substrate having through coupling holes; 상기 테스트 기판의 상부에 위치하는 중앙 절연판, 상기 절연판의 전면 및 후면에 각각 상단이 결합하고 하단은 상기 절연판으로부터 각각 이격되어 벌어진 상태로 외부로 노출된 콘택트, 상기 절연판 하부로 돌출하고 끝단에 결합돌기를 가지며 상기 결합구멍에 삽입되는 연결핀을 구비하는 플러그; 및,The upper end is coupled to the center insulating plate located on the upper side of the test substrate, the front and rear of the insulating plate, respectively, the lower end of the contact exposed to the outside in the state apart from the insulating plate, protruding to the lower end of the insulating plate and the coupling protrusion at the end A plug having a connection pin inserted into the coupling hole; And, 상기 테스트 기판의 하부에 결합하고 상기 연결핀의 결합돌기를 억지끼움하여 이를 고정하는 돌기구멍을 가지는 보강판을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체.And a reinforcing plate coupled to a lower portion of the test substrate, the reinforcement plate having a projection hole for fixing the coupling protrusion of the connection pin and fixing it. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 결합돌기는 끝단이 아래로 갈수록 작아지게 테이퍼 지며, 결합돌기의 상부는 테두리방향으로 요홈을 가지고, The coupling protrusion tapered to the end toward the bottom, the upper portion of the coupling protrusion has a groove in the rim direction, 상기 돌기구멍은 상기 결합돌기가 억지끼움이 되는 크기를 가지는 것을 특징으로 하는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체.The projection hole is a plug assembly for a test board and a non-insertable input connector, characterized in that the coupling projection has a size that is fit. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 돌기구멍은 상기 결합돌기가 억지끼움이 되는 크기를 가지는 최소 구멍부를 중간부에 가지고, 이의 상부 및 하부는 최소구멍부보다 확대되는 단부를 각각 가지는 것을 특징으로 하는 테스트 기판과 무삽입력 커넥터용 플러그 결합체.The projection hole has a minimum hole portion in the middle portion having a size that the engaging projection is fit, and the upper and lower portions of the test board and the insertion-free input connector, characterized in that each has an end portion that is larger than the minimum hole portion Plug assembly.
KR2020080005471U 2008-04-24 2008-04-24 Assembly of test board and plug for zero-insertion force connector KR200451400Y1 (en)

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