KR20040031633A - 탄성 표면파 장치 및 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정방법 - Google Patents
탄성 표면파 장치 및 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정방법 Download PDFInfo
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- 오일러각 (0°, 113∼135°, ±(40∼49°))으로 절단된 수정판의 주 표면 상에, 레일리(Rayleigh)파를 여진(勵振)하기 위한 적어도 한 쌍의 IDT 전극을 배치하여 이루어지는 복수 n개의 탄성 표면파 소자 M1∼Mn이, 서로 병렬 관계로 접속되고, 당해 탄성 표면파 소자 M1∼Mn으로부터 각각 획득되는 탄성 표면파의 전파 방향 ψ1∼ψn 중에서, 적어도 복수의 상기 전파 방향이 서로 상이하도록 배치되어 이루어지는 탄성 표면파 장치로서,상기 오일러각을 (O°, θ, ψ)로 한 경우, 상기 전파 방향 ψ1∼ψn이, ψ1∼ψn=0.3295θ+3.3318°±1.125°의 범위 내인 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치.
- 오일러각 (0°, 113∼135°, ±(40∼49°))으로 절단된 수정판의 주 표면 상에, 레일리파를 여진하기 위한 적어도 한 쌍의 IDT 전극을 배치하여 이루어지는 복수 n개의 탄성 표면파 소자 M1∼Mn이, 서로 병렬 관계로 접속되고, 상기 탄성 표면파 소자 M1∼Mn의 상기 IDT 전극으로부터 각각 획득되는 전극 폭/전극 피치 η1∼ηn 중에서, 적어도 복수의 상기 전극 폭/전극 피치가 서로 상이하도록 배치되어 이루어지는 탄성 표면파 장치로서,상기 오일러각을 (0°, θ, ψ)로 한 경우, ψ=0.3295θ+3.3318°±1.125°의 범위 내인 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치.
- 오일러각 (0°, 113∼135°, ±(40∼49°))으로 절단된 수정판의 주 표면 상에, 레일리파를 여진하기 위한 적어도 한 쌍의 IDT 전극을 배치하여 이루어지는 복수 n개의 탄성 표면파 소자 M1∼Mn이, 서로 병렬 관계로 접속되고, 상기 탄성 표면파 소자 M1∼Mn의 상기 IDT 전극으로부터 각각 획득되는 전극 폭/전극 피치 η1∼ηn 중에서, 적어도 복수의 상기 전극 폭/전극 피치가 서로 상이하도록 배치되어 이루어지는 탄성 표면파 장치로서, 또한,당해 탄성 표면파 소자 M1∼Mn으로부터 각각 획득되는 탄성 표면파의 전파 방향 Ψ1∼Ψn 중에서, 적어도 복수의 상기 전파 방향이 서로 상이하도록 배치되어 이루어지는 탄성 표면파 장치로서,상기 오일러각을 (0°, θ, Ψ)로 한 경우, 상기 전파 방향 Ψ1∼Ψn이, Ψ1∼Ψn=0.3295θ+3.3318°±1.125°의 범위 내인 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 탄성 표면파 소자 M1∼Mn으로부터 각각 획득되는 온도 특성의 정점(頂点) 온도 Tp1∼Tpn 중 적어도 하나가, 사용 온도 범위 외에 있는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치.
- 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 기재된 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정 방법으로서,오일러각이 (0°, 113∼135°, ±(40∼49°))로 절단된 상기 수정판에 상기 탄성 표면파 장치를 배치하는 각도를 조정함으로써 온도 특성을 조정하는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정 방법.
- 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 기재된 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정 방법으로서,상기 탄성 표면파 소자 M1∼Mn으로부터 각각 획득된 온도 특성의 정점 온도 Tp1∼Tpn 중 적어도 하나가, 사용 온도 범위 외에 있고, 또한, 오일러각이 (0°, 113∼135°, ±(40∼49°))로 절단된 상기 수정판에 상기 탄성 표면파 장치를 배치하는 각도를 조정함으로써 온도 특성을 조정하는 것을 특징으로 하는 탄성 표면파 장치의 온도 특성 조정 방법.
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