KR20020074991A - Circuit for Input-Output Buffer of Register Delay locked loop - Google Patents
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- 239000000872 buffer Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
본 발명은 디디알 에스디램(DDR SDRAM: Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)에 관한 것으로, 특히 레지스터 지연 동기 루프가 디스에이블 상태일 때, 회로의 제어부로 들어가는 클럭을 로우 레벨 상태로 설정하여 전력 소모를 감소시킨 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a double data rate synchronous dynamic random access memory (DDR SDRAM). In particular, when a register delay lock loop is disabled, a clock entering a circuit control unit is set to a low level state to consume power. It relates to a buffer circuit of a register delay lock loop, which is reduced.
일반적인 DRAM(Dynamic Random Access Memory)은 외부에서 인가된 리드(read) 명령에 응답하여 데이터를 출력하기 위해서는 준비 시간, 즉, 억세스 타임(tAC)이 소요된다.In general, a dynamic random access memory (DRAM) requires a preparation time, that is, an access time tAC, in order to output data in response to a read command applied from an external device.
그런데, DRAM 중에서도 SDRAM(Synchronous DRAM)은 데이터를 출력함에 있어서, 외부에서 인가된 클럭에 동기시켜 데이터를 출력하도록 하는 기억 소자이다. 데이터 출력의 속도를 향상시키기 위해 DDR(Double Data Rate) SDRAM을 사용하는 데, 일반적인 SDRAM에 비해서 약 2배 정도의 속도 향상 효과를 얻을 수 있다.By the way, SDRAM (Synchronous DRAM) is a memory device that outputs data in synchronization with a clock applied from the outside in outputting data. Double Data Rate (DDR) SDRAM is used to speed up the data output, which is about twice as fast as conventional SDRAM.
이와 같은 DDR SDRAM은 외부 클럭의 클럭 에지에 동기하여 데이터를 출력하기 위해서 지연 동기 루프(DLL : Delay Locked Loop)를 사용하여 클럭 신호를 조정한다.Such a DDR SDRAM adjusts the clock signal using a delay locked loop (DLL) to output data in synchronization with the clock edge of the external clock.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 레지스터 지연 동기 루프 회로에 대해 설명한다.Hereinafter, a conventional register delay sync loop circuit will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 지연 동기 루프 회로를 사용한 DDR SDRAM의 데이터 출력을 나타낸 타이밍도이다.1 is a timing diagram showing the data output of a DDR SDRAM using a delay locked loop circuit.
도 1과 같이, 지연 동기 루프를 통하여 지연 동기 루프 클럭 신호(clk_dll)가 나오게 되는 데, 실제 지연 동기 루프 클럭 신호(clk_dll)와 데이터 출력까지의 시간을 억세스 타임(tAC)이라 하며, 따라서, 외부에서 인가된 클럭 신호(clk)와 지연 동기 루프 클럭 신호(clk_dll)와의 시간차는 tCK-tAC가 된다(여기서, tCK는 외부 인가 클럭의 1클럭 발생 시간).As shown in FIG. 1, the delayed synchronization loop clock signal clk_dll is output through the delayed synchronization loop, and the time between the actual delayed synchronization loop clock signal clk_dll and the data output is called an access time tAC. The time difference between the clock signal clk applied at and the delayed synchronization loop clock signal clk_dll is tCK-tAC (where tCK is one clock generation time of the externally applied clock).
이 때, 외부에서 인가된 클럭 신호(clk)의 라이징 에지(B)에서 지연 동기 루프 클럭 신호를 보면, tAC만큼 앞선 것처럼 보인다.At this time, looking at the delayed synchronization loop clock signal at the rising edge B of the externally applied clock signal clk, it appears to be as advanced as tAC.
도 2는 일반적인 레지스터 지연 동기 루프 회로의 블록도이다.2 is a block diagram of a general register delay lock loop circuit.
도 2와 같이, 일반적인 레지스터 지연 동기 루프 회로는 입력 버퍼부(100), 제어부(200), 지연 모니터부(300), 지연 모델부(400), 출력 버퍼부(500)로 구성된다.As shown in FIG. 2, a general register delay lock loop circuit includes an input buffer unit 100, a control unit 200, a delay monitor unit 300, a delay model unit 400, and an output buffer unit 500.
상기 입력 버퍼부(100)는 클럭 인에이블 신호(enable_clk)에 응답하여 입력으로 들어온 클럭 신호(clk)와 클럭바 신호(clkb)를 버퍼링하여 제 1 클럭 신호(clk2_dll) 및 제 1 클럭 바 신호(clkb2_dll)와 지연 동기 루프 제어 클럭(clk_con)을 출력한다.The input buffer unit 100 buffers the clock signal clk and the clock bar signal clkb input to the input in response to the clock enable signal enable_clk so that the first clock signal clk2_dll and the first clock bar signal ( clkb2_dll) and a delay lock loop control clock (clk_con) are output.
제어부(200)는 상기 지연 동기 제어 클럭(clk_con)에 응답하여 입력으로 들어온 제어 신호(control signal)와 일정시간 이동한 지연 모니터 클럭 신호(cmp_shift)를 출력한다.The control unit 200 outputs a control signal input to the input and a delay monitor clock signal cmp_shift that has been shifted for a predetermined time in response to the delay synchronization control clock clk_con.
상기 제어부(200)에서는 지연 동기 루프의 클럭 신호(clk_dll)가 상기 외부에서 인가된 클럭 신호의 라이징 에지(rising edge)에 비해 억세스 타임(tAC)만큼앞서는지를 판단하는 역할을 한다. 이 때, 상기 지연 동기 루프의 클럭 신호(clk_dll)가 상기 클럭 신호(clk)의 라이징 에지(rising edge)에 비해 억세스 타임(tAC)만큼 앞서지 않을 경우에는, 제어부(200)에서 지연모니터부(300), 지연 모델부(400)를 거쳐 다시 제어부(200)로 소정 시간 지연된 클럭 신호가 인가되도록 피드백 루프를 생성한다.The controller 200 determines whether the clock signal clk_dll of the delay synchronization loop is ahead of the access time tAC compared to the rising edge of the externally applied clock signal. At this time, when the clock signal clk_dll of the delay lock loop is not advanced by the access time tAC with respect to the rising edge of the clock signal clk, the delay monitor unit 300 is controlled by the control unit 200. ), A feedback loop is generated such that a clock signal delayed by a predetermined time is applied to the controller 200 again through the delay model unit 400.
상기 지연 모니터부(300)는 상기 제 1 클럭 신호(clk2_dll) 및 제 1 클럭 바 신호(clkb2_dll)를 입력받고 상기 지연 모니터 클럭 신호(cmp_shift)에 응답하여 제어 신호(control signal)를 출력하여 다시 피드백시키고, 상기 제 1 클럭 신호(clk2_dll) 및 제 1 클럭 바 신호(clkb2_dll)를 일정시간 지연시킨 제 2 클럭 신호(clk3_dll) 및 제 2 클럭 바 신호(clkb3_dll)를 출력한다.The delay monitor 300 receives the first clock signal clk2_dll and the first clock bar signal clkb2_dll and outputs a control signal in response to the delay monitor clock signal cmp_shift to feed back the feedback. The second clock signal clk3_dll and the second clock bar signal clkb3_dll having a predetermined time delayed from the first clock signal clk2_dll and the first clock bar signal clkb2_dll are output.
이러한 상기 지연 모니터부(300)는 데이터 출력을 억세스 타임만큼 지연시키는 역할을 한다. 여기에는 많은 레지스터들이 있는데, 레지스터가 필요한 이유는 인버터를 몇 게 거쳤는지 기억하기 위해서이다.The delay monitor 300 serves to delay data output by an access time. There are many registers, and the reason why they are needed is to remember how many times the inverter has gone through.
상기 지연 모델부(400)는 상기 피드백된 제어 신호를 다시 일정 지연 시간을 거쳐 상기 제어부(200)로 입력한다. 상기 지연 모델부(400)는 많은 인버터와 레지스터들로 구성된다. 레지스터가 필요한 이유는 인버터를 몇 개 거쳤는지 기억하는 역할을 한다. 지연 동기 루프의 클럭 신호(clk_dll)는 한 번의 피드백 동작으로 상기 클럭 신호(clk)의 라이징 에지(rising edge)보다 억세스 타임(tAC)만큼 앞서는 것이 아니라 조금씩 지연시키는 과정을 반복해서 상기 억세스 타임(tAC)만큼 앞서게 되는 것이다.The delay model unit 400 inputs the feedback control signal back to the controller 200 through a predetermined delay time. The delay model unit 400 is composed of many inverters and registers. The reason for the need for a resistor is to remember how many inverters have gone through. The clock signal (clk_dll) of the delay lock loop repeats the delay time step by step rather than the access time (tAC) before the rising edge of the clock signal (clk) by one feedback operation. Will be as advanced as
상기 출력 버퍼부(500)는 상기 제 2 클럭 신호(clk3_dll) 및 제 2 클럭 바 신호(clkb3_dll)를 입력으로 하여 지연 동기 루프 회로의 클럭 신호(clk_dll) 및 클럭 바 신호(clkb_dll)를 출력한다.The output buffer unit 500 receives the second clock signal clk3_dll and the second clock bar signal clkb3_dll, and outputs the clock signal clk_dll and the clock bar signal clkb_dll of the delay lock loop circuit.
상기 입력 버퍼부(100)로부터의 출력 중의 하나인 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)는 제어 신호(control signal)와 함께, 제어부(200) 및 지연모니터(300), 지연 모델부(400)를 거치면서 피드백되어 상기 제어부(200)로 다시 인가된다. 이러한 루프를 거치면서 상기 지연 동기 루프에서 록킹되는 영역의 클럭 신호를 찾을 수 있다.The delay lock loop control clock signal clk_con, which is one of the outputs from the input buffer unit 100, controls the control unit 200, the delay monitor 300, and the delay model unit 400 together with a control signal. It is fed back while being applied to the control unit 200 again. Through this loop, the clock signal of the region locked in the delay lock loop can be found.
DDR SDRAM에서는 필요에 따라서 지연 동기 루프(DLL)를 인에이블(enable)하기도 하고, 디스에이블(disable)하기도 한다.In DDR SDRAM, a delay synchronization loop (DLL) may be enabled or disabled as needed.
상기 레지스터 지연 동기 루프 회로에서는 인에이블 모드(enable mode)나, 디스에이블 모드(disable mode) 구별없이 상기 제어부(200)에 지연 동기 제어 클럭(clk_con)이 입력되므로, 제어부(200) 및 지연 모니터부(300), 지연 모델부(400) 등의 피드백 루프가 계속적으로 돌기 때문에 필요 없는 전력 소모가 일어난다.In the register delay lock loop circuit, since the delay lock control clock (clk_con) is input to the controller 200 without discriminating an enable mode or a disable mode, the controller 200 and the delay monitor unit. Unnecessary power consumption occurs because the feedback loop of 300, the delay model unit 400, etc. continuously rotates.
도 3은 종래의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로를 나타내는 회로도이다.3 is a circuit diagram illustrating an input buffer circuit of a conventional register delay lock loop.
도 3에 도시된 종래의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로는 외부에서 인가된 클럭 신호에 대한 버퍼 회로이다.The input buffer circuit of the conventional register delay lock loop shown in FIG. 3 is a buffer circuit for an externally applied clock signal.
클럭 바 신호에 대한 버퍼 회로는 상기 차동 증폭부의 클럭 바 신호의 출력단에 차동 증폭부 이하의 반전부, 루프 펄스 폭 결정부, 연산부를 부가하여 구할 수 있다.The buffer circuit for the clock bar signal may be obtained by adding an inverting unit, a loop pulse width determining unit, and a calculating unit below the differential amplifying unit to an output terminal of the clock bar signal of the differential amplifier.
도 3과 같이, 종래의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로는 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)와 클럭 인에이블 신호(enable_clk)에 응답하여 전압 신호(vb)를 출력하는 차동 증폭부(31)와, 상기 차동 증폭부(31)의 전압 신호(vb)를 반전하여 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)를 출력하는 제 1 반전부(32)와, 상기 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)와 펄스 인에이블 신호(enable_pul)를 인가받아 소정 시간 펄스를 유지하는 펄스 폭 클럭 신호(clk_dly)를 출력하는 지연 동기 루프 펄스 폭 결정부(33)와, 상기 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)와 펄스 폭 클럭 신호(clk_dly)의 신호를 인가받아 상기 클럭 신호의 버퍼링된 클럭 신호를 출력하는 연산부(34)로 구성되어 있다.As shown in FIG. 3, the input buffer circuit of the conventional register delay lock loop outputs a voltage signal vb in response to the clock and clock bar signals clk and clkb and the clock enable signal enable_clk. ), A first inverting unit 32 for inverting the voltage signal vb of the differential amplifier 31 and outputting a delayed synchronization loop control clock signal clk_con, and the delayed synchronization loop control clock signal clk_con. And a delay locked loop pulse width determiner 33 for receiving a pulse enable signal enable_pul and outputting a pulse width clock signal clk_dly for holding a predetermined time pulse, and the delay locked loop control clock signal clk_con And a calculator 34 for receiving a pulse width clock signal clk_dly and outputting a buffered clock signal of the clock signal.
상기 차동 증폭부(31)는 클럭 신호(clk), 클럭 바 신호(clkb)를 받아 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)에 응답하여 전압 신호(vb)를 출력한다.The differential amplifier 31 receives a clock signal clk and a clock bar signal clkb and outputs a voltage signal vb in response to the clock enable signal enable_clk.
이러한 상기 차동 증폭부(31)는 4개의 피모스 트랜지스터와 3개의 앤모스 트랜지스터로 구성되어 있다.The differential amplifier 31 includes four PMOS transistors and three NMOS transistors.
이 때, 전원 전압(Vdd)을 소오스로 하며 서로 병렬 연결된, 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4)의 연결은 다음과 같다.At this time, the connection of the first, second, third, and fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 connected in parallel to each other with the source voltage Vdd as follows is as follows.
상기 제 1, 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P4)의 게이트에는 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 공통으로 인가되고, 상기 제 2, 제 3 피모스 트랜지스터(P2, P3)의 게이트는 공통으로 연결되어 있고, 여기에는 상기 제 2 피모스 트랜지스터(P2)의 드레인단의 출력이 인가된다.The clock enable signal enable_clk is commonly applied to the gates of the first and fourth PMOS transistors P1 and P4, and the gates of the second and third PMOS transistors P2 and P3 are common. The output of the drain terminal of the second PMOS transistor P2 is applied thereto.
상기 제 1, 제 2 피모스 트랜지스터(P1, P2)의 공통 드레인단에는 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 드레인이 연결되고, 상기 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 게이트에는 클럭 바 신호(clkb)가 인가된다.A drain of the first NMOS transistor N1 is connected to a common drain terminal of the first and second PMOS transistors P1 and P2, and a clock bar signal clkb is connected to a gate of the first NMOS transistor N1. ) Is applied.
상기 제 3, 제 4 피모스 트랜지스터(P3, P4)의 공통 드레인단에는 제 2 앤모스 트랜지스터(N2)의 드레인이 연결되어 있고, 상기 제 2 앤모스 트랜지스터(N2)의 게이트에는 클럭 신호(clk)가 인가된다.A drain of the second NMOS transistor N2 is connected to a common drain terminal of the third and fourth PMOS transistors P3 and P4, and a clock signal clk is connected to a gate of the second NMOS transistor N2. ) Is applied.
상기 제 1, 제 2 앤모스 트랜지스터(N1, N2)의 공통 소오스단과 접지 단 사이에는 제 3 앤모스 트랜지스터(N3)가 연결되어 있으며, 상기 제 3 앤모스 트랜지스터(N3)의 게이트는 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 연결되어 있다.A third NMOS transistor N3 is connected between the common source terminal and the ground terminal of the first and second NMOS transistors N1 and N2, and the gate of the third NMOS transistor N3 is the clock in. The enable signal enable_clk is connected.
이 때, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 로우 레벨일 때와 하이 레벨일 때로 나누어 생각한다.At this time, it is considered that the clock enable signal enable_clk is divided into a low level and a high level.
첫 번째로, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 로우 레벨일 때는 상기 제 1 내지 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4)는 턴온되고, 따라서, 상기 차동 증폭부(31)의 출력은 하이 레벨이 나오게 된다. 즉, 로우 레벨일 때는 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)에 관계없이 차동 증폭부가 하이 레벨을 출력한다.First, when the clock enable signal enable_clk is at a low level, the first to fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 are turned on, and thus, the output of the differential amplifier 31 is provided. The high level will come out. That is, at the low level, the differential amplifier outputs the high level regardless of the clock and clock bar signals clk and clkb.
두 번째로, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 하이 레벨일 때는 상기 제 1 내지 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4)는 턴오프되고, 상기 제 1, 제 2 앤모스 트랜지스터(N1, N2)의 출력은 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)에 의해 제어된다.Second, when the clock enable signal enable_clk is at a high level, the first to fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 are turned off, and the first and second NMOS transistors ( The output of N1, N2 is controlled by the clock and clock bar signals clk and clkb.
즉, 이 때, 클럭 신호(clk)가 하이 레벨, 클럭 바 신호(clkb)가 로우 레벨로 인가되게 되면 상기 차동 증폭부(31)의 출력은 로우 레벨로 인가된다.In other words, when the clock signal clk is applied at the high level and the clock bar signal clkb is applied at the low level, the output of the differential amplifier 31 is applied at the low level.
상기와 반대의 경우, 즉, 클럭 신호(clk)가 로우 레벨, 클럭 바 신호(clkb)가 하이 레벨로 인가되면, 상기 제 1 앤모스 트랜지스터는 턴온 상태이며, 이 때 상기 제 1 앤모스 트랜지스터의 드레인 출력은 로우 레벨로 제 2, 제 3 피모스 트랜지스터는 턴온 상태에 있게 된다. 따라서, 상기 차동 증폭부의 출력 전압(vb)은 하이 레벨 상태에 있게된다.In the opposite case, that is, when the clock signal clk is applied at a low level and the clock bar signal clkb is applied at a high level, the first NMOS transistor is turned on, and at this time, the first NMOS transistor The drain output is at a low level so that the second and third PMOS transistors are turned on. Thus, the output voltage vb of the differential amplifier is in a high level state.
상기 차동 증폭부(31)의 출력인 전압 신호(vb)는 반전부(32)를 거쳐 반전 신호가 출력된다. 이 반전 신호를 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)로 사용한다.The inverted signal is output through the inverting unit 32 as the voltage signal vb which is the output of the differential amplifier 31. This inverted signal is used as the delay lock loop control clock signal clk_con.
이어, 상기 지연 동기 루프 펄스 폭 결정부(33)는 상기 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)와 외부에서 인가되는 펄스 인에이블 신호(enable_pul)를 인가받아 소정 시간만큼 펄스 폭을 유지시킬 수 있는 펄스 폭 클럭 신호(clk_dly)를 출력한다.Subsequently, the delay locked loop pulse width determiner 33 receives the delay locked loop control clock signal clk_con and a pulse enable signal enable_pul applied from the outside to maintain a pulse width for a predetermined time. The width clock signal clk_dly is output.
상기 논리 연산부(34)는 상기 지연 동기 루프 제어 클럭 신호(clk_con)와 상기 펄스 폭 클럭 신호(clk_dly)를 인가받아 낸드 연산하는 낸드 게이트와, 상기 낸드 게이트의 출력을 반전하여 지연 동기 루프 입력 버퍼의 클럭 신호를 출력하는 인버터로 구성된다. 여기서 전원 전압과 접지 전압 사이에 병렬로 연결된 제 5, 제 6 피모스 트랜지스터(P5, P6)와 이에 직렬로 연결된 제 4, 제 5 앤모스 트랜지스터(N4, N5)가 바로 낸드 게이트이다.The logic operation unit 34 applies a NAND gate to perform a NAND operation by applying the delay lock loop control clock signal clk_con and the pulse width clock signal clk_dly, and inverts an output of the NAND gate to invert the output of the delay lock loop input buffer. It consists of an inverter that outputs a clock signal. Here, the fifth and sixth PMOS transistors P5 and P6 connected in parallel between the power supply voltage and the ground voltage and the fourth and fifth NMOS transistors N4 and N5 connected in series thereto are NAND gates.
상기 논리 연산부는 상기 DLL 제어 클럭 신호와 상기 DLL 펄스 폭 결정부의 신호가 모두 하이 레벨일 때, 상기 입력 버퍼의 클럭 신호를 하이 레벨로 출력한다.The logic calculator outputs the clock signal of the input buffer to a high level when both the DLL control clock signal and the signal of the DLL pulse width determiner are high level.
상기에서 기술한 반전부의 인버터나 논리 연산부의 낸드 게이트 및 인버터는 모두 CMOS 트랜지스터로 구현된다.The inverter and the NAND gate and the inverter of the inverting unit described above are all implemented with CMOS transistors.
그러나, 상기와 같은 종래의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로는 다음과 같은 문제점이 있다.However, the conventional input buffer circuit of the register delay lock loop has the following problems.
종래의 레지스터 지연 동기 루프 회로에서는 디스에이블 모드(disable mode)에서 불필요한 동작을 수행하고 있다.In a conventional register delay lock loop circuit, an unnecessary operation is performed in a disable mode.
그 원인은 종래의 레지스터 지연 동기 루프 회로는 실제적으로 인에이블 모드와 디스에이블을 구분하는 신호 입력이 이루어지지 않기 때문에, 디스에이블 모드에서도 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로에서 하이 레벨로 출력되는 클럭 신호가 제어부, 지연 모니터, 지연 모델부를 거쳐 출력 버퍼로 인가되기 때문이다.The reason is that in the conventional register delay lock loop circuit, since a signal input for enabling and disabling the signal is not actually input, the clock signal output at a high level from the input buffer circuit of the delay lock loop is disabled even in the disable mode. This is because it is applied to the output buffer via the control unit, the delay monitor, and the delay model unit.
즉, 상기 디스에이블 모드에서, 입력 버퍼의 클럭 신호를 로우 레벨로 제어할 수 있다면, 제어부, 지연 모니터, 지연 모델부를 거칠 때 사용되는 전력 소비를 줄일 수 있는 것이다.That is, in the disable mode, when the clock signal of the input buffer can be controlled at a low level, power consumption used when passing through the control unit, the delay monitor, and the delay model unit can be reduced.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 레지스터 지연 동기 루프가 디스에이블 상태일 때, 회로의 제어부로 들어가는 클럭을 로우 레벨상태로 설정하여 전력 소모를 감소시킨 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로를제공하는 데, 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and when the register delay lock loop is in a disabled state, the buffer circuit of the register delay lock loop reduces power consumption by setting a clock entering the circuit control unit to a low level state. To provide it, its purpose is.
도 1은 지연 동기 루프 회로를 사용한 DDR SDRAM의 데이터 출력을 나타낸 타이밍도이다.1 is a timing diagram showing the data output of a DDR SDRAM using a delay locked loop circuit.
도 2는 일반적인 레지스터 지연 동기 루프를 나타낸 블록도2 is a block diagram illustrating a general register delay lock loop.
도 3은 종래의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로를 나타낸 회로도3 is a circuit diagram illustrating an input buffer circuit of a conventional register delay lock loop.
도 4는 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 입력 버퍼 회로를 나타낸 회로도4 is a circuit diagram showing an input buffer circuit of a register delay lock loop according to the present invention.
도면의 주요 부분에 대한 부호 설명Explanation of symbols for the main parts of drawings
41 : 차동 증폭부 42 : 반전부41: differential amplifier 42: inverter
43 : 입력 버퍼부 44 : 출력 버퍼부43: input buffer section 44: output buffer section
clk : 클럭 신호 clkb : 클럭 바 신호clk: clock signal clkb: clock bar signal
enable_clk : 클럭 인에이블 신호 vb : 차동 증폭부의 출력 전압enable_clk: Clock enable signal vb: Output voltage of differential amplifier
clk_con : 지연 동기 루프 제어 클럭 신호 dis : 디스에이블 신호clk_con: delay lock loop control clock signal dis: disable signal
pdenb : 파워 다운 인에이블바 신호 disb : 디스에이블바 신호pdenb: Power down enable bar signal disb: Disable bar signal
clk_dll : 지연 동기 루프의 출력 클럭 신호clk_dll: Output clock signal for delay lock loop
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로는 입력 버퍼, 제어부, 지연 모니터부, 지연 모델부, 출력 버퍼로 이루어진 레지스터 지연 동기 루프에 있어서, 클럭 및 클럭 바 신호와 클럭 인에이블 신호에 응답하여 전압 신호를 출력하는 차동 증폭부와, 상기 차동 증폭부의 전압 신호를 반전하여 제 1 클럭 신호를 출력하는 반전부와, 상기 제 1 클럭 신호, 외부로부터 인가된 디스에이블 반전 신호 및 파워 다운 인에이블바 신호에 응답하여 지연 동기 루프의 제어 클럭 신호와, 제 2 클럭 신호를 출력하는 입력 버퍼부, 상기 제 1 클럭 신호, 외부로부터 인가된 디스에이블 신호 및 상기 디스에이블 반전 신호와 상기 지연 모니터부의 출력인 제 3 클럭 신호를 응답하여 레지스터 지연 동기 루프의 클럭 신호를 출력하는 출력 버퍼부를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The buffer circuit of the register delay lock loop of the present invention for achieving the above object is a clock and clock bar signal and the clock in a register delay lock loop comprising an input buffer, a control unit, a delay monitor unit, a delay model unit, an output buffer. A differential amplifier for outputting a voltage signal in response to an enable signal, an inverter for inverting a voltage signal of the differential amplifier and outputting a first clock signal, the first clock signal, and a disable inversion signal applied from the outside And a control clock signal of a delay lock loop, an input buffer unit for outputting a second clock signal, the first clock signal, an externally disabled disable signal, and the disable inverting signal in response to a power down enable bar signal. Outputting a clock signal of a register delay lock loop in response to a third clock signal output from the delay monitor; It characterized by configured by comprising a force buffer.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로에 대해 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a buffer circuit of a register delay lock loop according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 4는 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로를 나타낸 회로도이다.4 is a circuit diagram illustrating a buffer circuit of a register delay lock loop according to the present invention.
도 4와 같이, 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로는 입력 버퍼, 제어부, 지연 모니터부, 출력 버퍼로 이루어진 레지스터 지연 동기 루프에 있어서, 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)와 클럭 인에이블 신호(enable_clk)에 응답하여 전압 신호(vb)를 출력하는 차동 증폭부(41)와, 상기 차동 증폭부(41)의 전압신호(vb)를 반전하여 제 1 클럭 신호(clk1_dll)를 출력하는 반전부(42)와, 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll), 외부로부터 인가된 디스에이블 반전 신호(disb) 및 파워 다운 인에이블바 신호(pdenb)에 응답하여 지연 동기 루프의 제어 클럭 신호(clk_con)와, 제 2 클럭 신호(clk2_dll)를 출력하는 입력 버퍼부(43), 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll), 외부로부터 인가된 디스에이블 신호(dis) 및 상기 디스에이블 반전 신호(disb)와 상기 지연 모니터부의 출력인 제 3 클럭 신호(clk3_dll)를 응답하여 레지스터 지연 동기 루프의 클럭 신호(clk_dll)를 출력하는 출력 버퍼부(44)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 4, the buffer circuit of the register delay lock loop according to the present invention includes clock and clock bar signals (clk and clkb) and clock enable in a register delay lock loop including an input buffer, a controller, a delay monitor, and an output buffer. A differential amplifier 41 outputting the voltage signal vb in response to the signal enable_clk, and a half outputting the first clock signal clk1_dll by inverting the voltage signal vb of the differential amplifier 41. And the control clock signal clk_con of the delay lock loop in response to the entirety 42 and the first clock signal clk1_dll, an externally disabled disable invert signal disb, and a power down enable bar signal pdenb. And an input buffer unit 43 for outputting a second clock signal clk2_dll, the first clock signal clk1_dll, a disable signal dis applied from the outside, the disable inversion signal disb, and the delay monitor. The third clock signal (clk3_dll) that is a negative output And an output buffer section 44 which outputs the clock signal clk_dll of the register delay lock loop in response.
상기 차동 증폭부(41)는 클럭 신호(clk), 클럭 바 신호(clkb)를 받아 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)에 응답하여 전압 신호(vb)를 출력한다.The differential amplifier 41 receives a clock signal clk and a clock bar signal clkb and outputs a voltage signal vb in response to the clock enable signal enable_clk.
이 때의 차동 증폭부(41)는 4개의 피모스 트랜지스터와 3개의 앤모스 트랜지스터로 구성되어 있다.The differential amplifier 41 at this time is composed of four PMOS transistors and three NMOS transistors.
전원 전압(Vdd)을 소오스로 하며 서로 병렬 연결된, 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4)의 연결은 다음과 같다.The first, second, third, and fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 connected in parallel with the source voltage Vdd as a source are as follows.
상기 제 1, 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P4)의 게이트에는 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 공통으로 인가되고, 상기 제 2, 제 3 피모스 트랜지스터(P2, P3)의 게이트는 공통으로 연결되어 있고, 여기에는 상기 제 2 피모스 트랜지스터(P2)의 드레인단의 출력이 인가된다.The clock enable signal enable_clk is commonly applied to the gates of the first and fourth PMOS transistors P1 and P4, and the gates of the second and third PMOS transistors P2 and P3 are common. The output of the drain terminal of the second PMOS transistor P2 is applied thereto.
상기 제 1, 제 2 피모스 트랜지스터(P1, P2)의 공통 드레인단에는 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 드레인이 연결되고, 상기 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 게이트에는 클럭 바 신호(clkb)가 인가된다.A drain of the first NMOS transistor N1 is connected to a common drain terminal of the first and second PMOS transistors P1 and P2, and a clock bar signal clkb is connected to a gate of the first NMOS transistor N1. ) Is applied.
상기 제 3, 제 4 피모스 트랜지스터(P3, P4)의 공통 드레인단에는 제 2 앤모스 트랜지스터(N2)의 드레인이 연결되어 있고, 상기 제 2 앤모스 트랜지스터(N2)의 게이트에는 클럭 신호(clk)가 인가된다.A drain of the second NMOS transistor N2 is connected to a common drain terminal of the third and fourth PMOS transistors P3 and P4, and a clock signal clk is connected to a gate of the second NMOS transistor N2. ) Is applied.
상기 제 1, 제 2 앤모스 트랜지스터(N1, N2)의 공통 소오스단과 접지 단 사이에는 제 3 앤모스 트랜지스터(N3)가 연결되어 있으며, 상기 제 3 앤모스 트랜지스터(N3)의 게이트는 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 연결되어 있다.A third NMOS transistor N3 is connected between the common source terminal and the ground terminal of the first and second NMOS transistors N1 and N2, and the gate of the third NMOS transistor N3 is the clock in. The enable signal enable_clk is connected.
이 때, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 로우 레벨일 때와 하이 레벨일 때로 나누어 생각한다.At this time, it is considered that the clock enable signal enable_clk is divided into a low level and a high level.
첫 번째로, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 로우 레벨일 때는 상기 제 1 내지 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4)는 턴온되고, 따라서, 상기 차동 증폭부(41)의 전압 출력(vb)은 하이 레벨이 나오게 된다. 즉, 로우 레벨일 때는 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)에 관계없이 차동 증폭부(41)가 하이 레벨을 출력한다.First, when the clock enable signal enable_clk is at a low level, the first to fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 are turned on, and thus, the voltage of the differential amplifier 41 is turned on. The output vb will come high level. That is, at the low level, the differential amplifier 41 outputs the high level regardless of the clock and clock bar signals clk and clkb.
두 번째로, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 하이 레벨일 때는 상기 제 1 내지 제 4 피모스 트랜지스터(P1, P2, P3, P4) 턴오프되고, 상기 제 1, 제 2 앤모스 트랜지스터(N1, N2)의 출력은 클럭 및 클럭 바 신호(clk, clkb)에 의해 제어된다.Second, when the clock enable signal enable_clk is at a high level, the first to fourth PMOS transistors P1, P2, P3, and P4 are turned off, and the first and second NMOS transistors N1 are turned off. The output of N2) is controlled by the clock and clock bar signals clk and clkb.
즉, 이 때, 클럭 신호(clk)가 하이 레벨, 클럭 바 신호(clkb)가 로우 레벨로 인가되게 되면 상기 제 1 차동 증폭부(41)의 출력은 로우 레벨로 인가된다.In other words, when the clock signal clk is applied at the high level and the clock bar signal clkb is applied at the low level, the output of the first differential amplifier 41 is applied at the low level.
그 반대의 경우, 즉, 이 때, 클럭 신호(clk)가 하이 레벨, 클럭 바 신호(clkb)가 로우 레벨로 인가되게 되면 상기 차동 증폭부(41)의 전압 출력(vb)은 로우 레벨 상태에 있게된다.On the contrary, that is, at this time, when the clock signal clk is applied at a high level and the clock bar signal clkb is applied at a low level, the voltage output vb of the differential amplifier 41 is in a low level state. Will be.
상기와 반대의 경우, 즉, 클럭 신호(clk)가 로우 레벨, 클럭 바 신호(clkb)가 하이 레벨로 인가되면, 상기 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)는 턴온 상태이며, 이 때 상기 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 드레인 출력은 로우 레벨로 제 2, 제 3 피모스 트랜지스터(P2, P3)는 턴온 상태에 있게 된다. 따라서, 상기 차동 증폭부(41)의 전압 출력(vb)은 하이 레벨 상태에 있게된다.In the opposite case, that is, when the clock signal clk is applied at a low level and the clock bar signal clkb is applied at a high level, the first NMOS transistor N1 is turned on, and the first NMOS transistor is turned on. The drain output of the MOS transistor N1 is at a low level, and the second and third PMOS transistors P2 and P3 are turned on. Thus, the voltage output vb of the differential amplifier 41 is in a high level state.
반전부(42)는 CMOS 인버터 하나로 이루어져 있다.The inverting section 42 is composed of one CMOS inverter.
따라서, 상기 차동 증폭부(41)의 출력(vb)을 반전하는 데, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 로우 레벨일 경우에는 상기 차동 증폭부(41)의 출력이 하이 레벨이므로, 반전부(42)를 거쳐 출력된 제 1 클럭 신호(clk1_dll)는 로우 레벨이 된다.Accordingly, when the clock enable signal enable_clk is at a low level, the output of the differential amplifier 41 is at a high level. The first clock signal clk1_dll output through 42 is at a low level.
또한, 상기 클럭 인에이블 신호(enable_clk)가 하이 레벨이고, 상기 클럭 신호(clk)가 하이 레벨인 경우, 상기 차동 증폭부(41)의 출력은 로우 레벨이므로, 이를 반전시킨 반전부(42)의 출력 제 1 클럭 신호는 하이 레벨로 나오게 된다.In addition, when the clock enable signal enable_clk is at a high level and the clock signal clk is at a high level, the output of the differential amplifier 41 is at a low level. The output first clock signal comes out at a high level.
상기 클럭 신호(clk)가 로우 레벨인 경우, 즉, 상기 클럭 바 신호(clkb)가 하이 레벨인 경우는 상기 차동 증폭부(41)의 출력은 하이 레벨로 나와, 상기 반전부(42)의 출력 제 1 클럭 신호(clk1_dll)는 로우 레벨로 나오게 된다.When the clock signal clk is at a low level, that is, when the clock bar signal clkb is at a high level, the output of the differential amplifier 41 comes out at a high level and the output of the inverter 42 is output. The first clock signal clk1_dll comes out at a low level.
즉, 상기 차동부(41)와 상기 반전부(42)를 거쳐 나온 제 1 클럭신호(clk1_dll)는 잡음이 제거되고, 약간 지연된 값을 갖는 클럭 신호인 것이다.That is, the first clock signal clk1_dll, which has passed through the differential part 41 and the inverting part 42, is a clock signal having a noise and slightly delayed value.
입력 버퍼부(43)는 각각 2개씩의 낸드 게이트와 인버터로 이루어져 있다.The input buffer unit 43 is composed of two NAND gates and an inverter, respectively.
상기 입력 버퍼부는 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll)와 디스에이블바 신호(disb)를 논리 연산하는 제 1 낸드 게이트(nand1)와, 상기 제 1 낸드 게이트(nand1)의 출력을 반전시키는 제 1 인버터(iv1)와, 상기 제 1 클럭 신호(clk_dll)와 디스에이블바 신호(disb) 및 파워 다운 인에이블바 신호(pdenb)를 입력하여 이를 논리 연산하는 제 2 낸드 게이트(nand2)와, 상기 제 2 낸드 게이트(nand2)의 출력을 받아 이를 반전하는 제 2 인버터(iv2)를 포함하여 구성된다.The input buffer unit includes a first NAND gate nand1 for performing a logic operation on the first clock signal clk1_dll and a disable bar signal disb, and a first inverter for inverting the output of the first NAND gate nand1. iv1), a second NAND gate nand2 which inputs the first clock signal clk_dll, a disable bar signal disb, a power down enable bar signal pdenb, and logically operates it; and the second NAND And a second inverter iv2 that receives the output of the gate nand2 and inverts it.
상기 외부로부터의 입력인 디스에이블바 신호(disb)는 지연 동기 루프가 디스에이블 모드일 때 로우 레벨로, 인에이블 모드일 때 하이 레벨로 인가되는 신호이다. 이러한 디스에이블바 신호(disb)와 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll)를 입력으로 하여 제 1 낸드 게이트(nand1)와 제 1 인버터(iv1)를 거쳐 출력한 신호는 상기 지연 동기 루프의 제어 클럭 신호(clk_con)이다.The disable bar signal disb, which is an input from the outside, is a signal applied at a low level when the delay lock loop is in a disable mode and at a high level when in the enable mode. A signal output through the disable bar signal disb and the first clock signal clk1_dll through the first NAND gate nand1 and the first inverter iv1 is a control clock signal of the delay lock loop ( clk_con).
즉, 지연 동기 루프의 제어부를 제어하는 클럭 신호인 clk_con은 상기 제 1 클럭 신호와, 디스에이블바 신호가 모두 하이 레벨로 인가되어야 하이 레벨로 출력될 수 있는 것으로, 종래의 지연 동기 루프의 입력 버퍼로서는 고려하지 않았던 디스에이블 모드와 인에이블 모드와의 구별이 가능하게 한다. 이로써, 디스에이블 모드시 제어부로 들어가는 클럭 신호(clk_con)를 로우 레벨로 인가하여 제어부에서 일어나는 불필요한 피드백 현상을 막아 전력 소모를 줄일 수 있다.That is, clk_con, which is a clock signal that controls the control unit of the delay lock loop, may be output at a high level when both the first clock signal and the disable bar signal are applied at a high level. It is possible to distinguish between the disable mode and the enable mode which has not been considered. As a result, the clock signal clk_con input to the controller in the disable mode is applied at a low level to prevent unnecessary feedback from occurring in the controller, thereby reducing power consumption.
또한, 여기서 외부에서 인가되는 신호 파워 다운 인에이블바 신호(pdenb)는 파워 다운 모드일 때는 로우 레벨의 신호가, 그렇지 않을 경우에는 하이 레벨의 신호로 인가된다. 이러한 파워 다운 인에이블바 신호(pdenb)와 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll), 디스에이블바 신호(disb)를 입력으로 하여 상기 제 2 낸드 게이트(nand2)와 제 2 인버터(iv2)를 거쳐 출력한 신호는 상기 지연 동기 루프의 제 2 클럭 신호(clk2_dll)이다.In addition, the signal power down enable bar signal pdenb applied from the outside is applied as a low level signal in the power down mode, and is otherwise applied as a high level signal. The power down enable bar signal pdenb, the first clock signal clk1_dll, and the disable bar signal disb are inputted and output through the second NAND gate n2 and the second inverter iv2. The signal is the second clock signal clk2_dll of the delay lock loop.
상기 지연 모니터부를 제어하는 제 2 클럭 신호(clk2_dll)를 출력함에 있어서, 상기 파워 다운 인에이블바 신호(pdenb)를 인가하여, 파워 다운 모드(power down mode)일 때, 제 2 클럭 신호(clk2_dll)를 로우 레벨로 출력할 수 있게 하여, 불필요한 전력의 소모를 최소화한다.In outputting the second clock signal clk2_dll controlling the delay monitor, the power down enable bar signal pdenb is applied to the second clock signal clk2_dll in the power down mode. Output at low level, minimizing unnecessary power consumption.
상기 출력 버퍼부(44)는 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll)와, 지연 모델부의 출력인 제 3 클럭 신호(clk3_dll)와 외부에서 입력된 디스에이블 신호(dis)를 논리 연산하는 제 3 낸드 게이트(nand3)와, 상기 제 1 클럭 신호(clk1_dll)와 디스에이블바 신호(disb)를 논리 연산하는 제 4 낸드 게이트(nand4)와, 상기 제 3 낸드 게이트(nand3)와 제 4 낸드 게이트(nand4)의 출력을 논리 연산하는 제 5 낸드 게이트(nand5)와, 상기 제 5 낸드 게이트(nand5)의 출력을 지연시키는 제 4, 제 5 인버터(iv4, iv5)를 포함하여 구성된다.The output buffer unit 44 may perform a third NAND gate logic operation on the first clock signal clk1_dll, a third clock signal clk3_dll, which is an output of the delay model unit, and a disable signal dis input from the outside. nand3, a fourth NAND gate nand4 that logically operates the first clock signal clk1_dll and the disable bar signal disb, and a third NAND gate nand3 and a fourth NAND gate nand4. And a fifth NAND gate nand5 for logically calculating the output, and fourth and fifth inverters iv4 and iv5 for delaying the output of the fifth NAND gate nand5.
이 때의 상기 디스에이블바(disb) 신호는 상기 외부에서 인가되는 디스에이블 신호(dis)를 제 3 인버터(iv3)를 사용하여 반전시킨 신호이다. 즉, 디스에이블 반전 신호이다.At this time, the disable bar signal is a signal obtained by inverting the disable signal dis applied from the outside using the third inverter iv3. That is, it is a disable inversion signal.
이 때 상기 제 5 인버터(iv5)의 출력은 상기 지연 동기 루프의 출력인 클럭 신호(clk_dll)이다.At this time, the output of the fifth inverter iv5 is a clock signal clk_dll which is an output of the delay lock loop.
상기에서 기술한 바는 클럭 신호(clk)의 버퍼링을 하는 지연 동기 루프의 클럭 버퍼에 관해 것이고, 상기 차동 증폭부(41)의 제 1 앤모스 트랜지스터(N1)의 드레인단에 상기와 같은 구성의 반전부(42), 입력 버퍼부(43), 출력 버퍼부(44)를 설계하여 클럭 바 신호의 입력 및 출력 버퍼링을 하는 클럭 바 버퍼를 구할 수 있다.The above description relates to a clock buffer of a delayed synchronization loop that buffers the clock signal clk, and has the above configuration at the drain terminal of the first NMOS transistor N1 of the differential amplifier 41. The inverter 42, the input buffer 43, and the output buffer 44 can be designed to obtain a clock bar buffer for inputting and output buffering the clock bar signal.
상기와 같은 본 발명의 레지스터 지연 동기 루프의 버퍼 회로는 다음과 같은 효과가 있다.The buffer circuit of the register delay lock loop of the present invention as described above has the following effects.
첫째, 지연 동기 루프가 디스에이블 모드일 때, 이를 로우 레벨로 제어할 수 있게 되어, 종래의 피드백 루프가 형성되었을 때 소모되는 전력 소비를 절감할 수 있다.First, when the delay lock loop is in the disable mode, it is possible to control the low level, thereby reducing the power consumption consumed when the conventional feedback loop is formed.
본 발명의 지연 동기 루프의 버퍼회로로써, 디스에이블 모드일 때 약 1.5㎃ 내지 2㎃정도의 전류 소모를 줄일 수 있다.According to the buffer circuit of the delay lock loop of the present invention, the current consumption of about 1.5 mA to 2 mA can be reduced in the disable mode.
둘째, 디스에이블 모드 지연 동기 루프에서 전류를 적게 사용하면 할수록 상기 레지스터 지연 동기 루프 버퍼 회로를 사용하는 SDRAM은 그만큼 DC 특성의 마진을 확보할 수 있다.Second, the less current is used in the disable mode delay lock loop, the more the SDRAM using the register delay lock loop circuit can secure the DC characteristic margin.
셋째, 전원에 실리는 노이즈가 줄어들어 SDRAM의 보다 안정적인 동작을 기대할 수 있다.Third, noise on the power supply is reduced, so more stable operation of the SDRAM can be expected.
넷째, 입력 버퍼뿐만 아니라, 출력 버퍼까지 디스에이블 신호에 의해 제어되도록 하여 전력 소비 절감 효과를 향상시킬 수 있다.Fourth, the power consumption reduction effect can be improved by controlling not only the input buffer but also the output buffer by the disable signal.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010015141A KR100721187B1 (en) | 2001-03-23 | 2001-03-23 | Circuit for Input-Output Buffer of Register Delay locked loop |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010015141A KR100721187B1 (en) | 2001-03-23 | 2001-03-23 | Circuit for Input-Output Buffer of Register Delay locked loop |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020074991A true KR20020074991A (en) | 2002-10-04 |
KR100721187B1 KR100721187B1 (en) | 2007-05-23 |
Family
ID=27698431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020010015141A KR100721187B1 (en) | 2001-03-23 | 2001-03-23 | Circuit for Input-Output Buffer of Register Delay locked loop |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100721187B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100673126B1 (en) * | 2002-10-28 | 2007-01-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | Cluck Buffer Circuit of Memory |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100283191B1 (en) * | 1997-08-25 | 2001-03-02 | 윤종용 | Internal clock generating circuit in semiconductor device |
-
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100673126B1 (en) * | 2002-10-28 | 2007-01-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | Cluck Buffer Circuit of Memory |
Also Published As
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---|---|
KR100721187B1 (en) | 2007-05-23 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |