KR20000026783A

KR20000026783A - Method for formatting optical recording medium and managing defect region

Info

Publication number: KR20000026783A
Application number: KR1019980044449A
Authority: KR
Inventors: 박용철; 이명구; 신종인; 정규화
Original assignee: 구자홍; 엘지전자 주식회사
Priority date: 1998-10-20
Filing date: 1998-10-20
Publication date: 2000-05-15
Also published as: KR100606977B1

Abstract

PURPOSE: A method for formatting optical recording medium and managing defect region is provided to decrease the probability of an overflow of a DMA and improve a system performance by identifying as to whether an SDL entry is formed when performing a formatting and performing a slipping alternation of a defect block recorded in an SDL entry. CONSTITUTION: If a simple format method is selected when performing a reformat(601), previous DMA information is read and defect sectors recorded in a P-list of a previous PDL is recorded in the P-list of a new PDL, and then defect sectors recorded in a G1-list of the previous PDL is recorded in the G1-list of the new PDL(602). Location information of a defect block recorded in the previous SDL is not converted into a PDL(603) and then the simply formatting is completed(604).

Description

Formatting and defect area management method of optical recording media

본 발명은 재기록 가능한 광 기록매체의 포맷팅 및 결함 영역 관리 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of formatting and managing defective areas of a rewritable optical record carrier.

일반적으로, 광기록매체는 반복 기록의 가능여부에 따라 읽기 전용의 롬(ROM)형과, 1회 기록가능한 웜(WORM)형 및 반복적으로 기록할 수 있는 재기록 가능형 등으로 크게 3종류로 나뉘어 진다.In general, optical recording media are classified into three types, such as read-only ROM, write-once worm type, and rewritable rewritable type. Lose.

여기서, 롬형 광기록매체는 컴팩트 디스크 롬(Compact Disc Read Only Memory ; CD-ROM)과 디지털 다기능 롬(Digital Versatile Disc Read Only Memory ; DVD-ROM) 등이 있으며, 웜형 광기록매체는 1회 기록가능한 컴펙트 디스크(Recordable Compact Disc ; CD-R)와 1회 기록가능한 디지털 다기능 디스크(Recordable Digital Versatile Disc ; DVD-R) 등이 있다.The ROM type optical recording medium may include a compact disc read only memory (CD-ROM) and a digital versatile disc read only memory (DVD-ROM), and a worm type optical recording medium may be written once. Recordable Compact Disc (CD-R) and Recordable Digital Versatile Disc (DVD-R).

또한, 자유롭게 반복적으로 재기록 가능한 디스크로는 재기록 가능한 컴펙트 디스크(Rewritable Compact Disc ; CD-RW)와 재기록 가능한 디지털 다기능 디스크(Rewritable Digital Versatile Disc ; DVD-RAM, DVD-RW) 등이 있다.In addition, freely and repeatedly rewritable discs include a rewritable compact disc (CD-RW) and a rewritable digital versatile disc (DVD-RAM, DVD-RW).

한편, 재기록 가능형 광기록 매체의 경우, 그 사용특성상 정보의 기록/재생 작업이 반복적으로 수행되는데, 이로인해 광기록매체에 정보 기록을 위해 형성된 기록층을 구성하는 혼합물의 혼합 비율이 초기의 혼합 비율과 달라지게 되어 그 특성을 잃어 버림으로써 정보의 기록/재생시 오류가 발생된다.On the other hand, in the case of a rewritable optical recording medium, the recording / reproducing operation of information is repeatedly performed due to its use characteristics, whereby the mixing ratio of the mixture constituting the recording layer formed for recording information on the optical recording medium is initially mixed It becomes different from the ratio and loses its characteristics, resulting in an error in recording / reproducing information.

이러한 현상을 열화라고 하는데, 이 열화된 영역은 광기록매체의 포맷, 기록, 재생 명령 수행시 결함 영역(Defect Area)으로 나타나게 된다.This phenomenon is called deterioration, and the deteriorated area appears as a defect area when the format, recording, and reproducing command of the optical recording medium is executed.

또한, 재기록 가능형 광기록매체의 결함 영역은 상기의 열화 현상 이외에도 표면의 긁힘, 먼지 등의 미진, 제작시의 오류 등에 의해 발생되기도 한다.In addition to the deterioration phenomenon, defect areas of the rewritable optical recording medium may be generated due to scratches on the surface, dust such as dust, errors in production, and the like.

그러므로, 상기와 같은 원인으로 형성된 결함 영역에 데이터를 기록/재생하는 것을 방지하기 위하여 이 결함 영역의 관리가 필요하게 되었다.Therefore, in order to prevent data from being recorded / reproduced in the defect area formed due to the above reasons, it is necessary to manage the defect area.

이를 위해 도 1에 도시된 바와 같이 광기록매체의 리드-인 영역(lead-in area)과 리드-아웃 영역(lead-out area)에 결함 관리 영역(Defect Management Area ; 이하 DMA라 함)을 두어 광기록매체의 결함 영역을 관리하고 있다. 또한, 데이터 영역은 그룹별로 나누어 관리하는데, 각 그룹은 실제 데이터가 기록되는 유저 영역과 상기 유저 영역에 결함이 발생하였을 때 이용하기 위한 스페어(Spare) 영역으로 나뉘어진다.To this end, as shown in FIG. 1, a defect management area (hereinafter referred to as a DMA) is provided in a lead-in area and a lead-out area of the optical recording medium. The defect area of the optical recording medium is managed. The data area is divided and managed by groups, and each group is divided into a user area in which actual data is recorded and a spare area for use when a defect occurs in the user area.

그리고, 일반적으로 하나의 디스크에는 4개의 DMA가 존재하는데, 2개의 DMA는 리드-인 영역에 존재하고 나머지 2개의 DMA는 리드-아웃 영역에 존재한다. 각 DMA는 2개의 블록(block)으로 이루어지고, 총 32섹터들(sectors)로 이루어진다.In general, four DMAs exist in one disk, two DMAs exist in the lead-in area, and the other two DMAs exist in the lead-out area. Each DMA consists of two blocks, totaling 32 sectors.

여기서, 각 DMA의 제 1 블록(DDS/PDL 블록이라 함)은 DDS(Disc Definition Structure)와 PDL(Primary Defect List)을 포함하고, 각 DMA의 제 2 블록(SDL 블록이라 함)은 SDL(Secondary Defect List)을 포함한다.Here, the first block of each DMA (called a DDS / PDL block) includes a Disc Definition Structure (DDS) and a Primary Defect List (PDL), and the second block of each DMA (called an SDL block) is an SDL (Secondary). Defect List).

이때, PDL은 주결함 데이터 저장부를 의미하며, SDL은 부결함 데이터 저장부를 의미한다.In this case, PDL means main defect data storage, and SDL means defect data storage.

일반적으로 PDL은 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 그리고, 디스크를 포맷 즉, 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)시 확인되는 모든 결함 섹터들의 엔트리들(Entries)을 저장한다. 여기서, 각 엔트리는 도 2a에 도시된 바와 같이 엔트리 타입과 결함 섹터에 대응하는 섹터 번호로 구성된다. 상기 섹터 번호는 올림차순으로 리스트된다. 그리고, 상기 엔트리 타입은 결함 섹터의 발생 원인(Origin)을 열거하는데, 일 예로 00b이면 P-리스트, 10b이면 G₁-리스트, 11b이면 G₂-리스트로 분류된다.In general, the PDL stores entries created during the disc creation process and entries of all defective sectors that are identified during formatting, ie, initializing and re-initializing the disc. Here, each entry is composed of an entry type and a sector number corresponding to a defective sector as shown in Fig. 2A. The sector numbers are listed in ascending order. In addition, the entry type is the cause (Origin), one example 00b to open the P- list, 10b is G ₁ of the defective sector are sorted in a list-list if it is, 11b G _2.

즉, 디스크 제조업자가 정의한 결함 섹터 예컨대, 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 섹터들은 P-리스트로 저장하고, 디스크를 포맷할 때 검증 과정(Certification process) 동안 발견되는 결함 섹터들은 G₁-리스트로 저장하며, 검증 과정없이 SDL로부터 이전되는 결함 섹터들은 G₂-리스트에 저장한다.That is, defective sectors defined by the disc manufacturer, for example, defective sectors created during the disc creation process, are stored in the P-list, and defective sectors found during the certification process when the disc is formatted are stored in the G ₁ -list, Defective sectors transferred from the SDL without verification are stored in the G ₂ -list.

한편, 상기 SDL은 블록 단위로 리스트되는데, 포맷 후에 발생하는 결함 영역들이나 포맷 동안 PDL에 저장할 수 없는 결함 영역들의 엔트리들을 저장한다. 상기 각 SDL 엔트리는 도 2b에 도시된 바와 같이 결함 섹터가 발생한 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역과 그것을 대체할 대체 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역 그리고, 미사용 영역(Reserved)으로 구성된다. 또한, 상기 각 엔트리에는 강제 재할당 마킹(Forced Reassignment Marking ; FRM)을 위해 1비트가 할당되어 있는데, 그 값이 0b이면 대체 블록이 할당되어(assigned) 있고 대체 블록에 결함이 없음을 의미하며, 1b이면 대체 블록이 할당되어 있지 않거나 또는 할당된 대체 블록에 결함이 있음을 의미한다.On the other hand, the SDL is listed in units of blocks, and stores entries of defective areas that occur after the format or defective areas that cannot be stored in the PDL during the format. Each SDL entry includes an area for storing the sector number of the first sector of the block in which the defective sector has occurred, an area for storing the sector number of the first sector of the replacement block as shown in FIG. 2B, and an unused area ( Reserved). In addition, one bit is allocated to each entry for Forced Reassignment Marking (FRM). If the value is 0b, the replacement block is assigned and there is no defect in the replacement block. 1b means that no replacement block is allocated or the allocated replacement block is defective.

그리고, 디스크를 초기화하는 방법으로는 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)으로 나누어지는데, 상기 재포맷팅은 다시 최초 포맷팅과 같은 풀(full) 포맷팅과, 부분적으로 초기화를 수행하는 부분 포맷팅(partial certification) 그리고, 포맷 시간의 단축을 위해 검증없이 SDL을 PDL의 G₂-리스트로 옮기는 포맷팅(conversion of SDL to G₂-리스트 ; 이하, 단순 포맷팅이라 칭함.)등이 있다. 여기서, 상기 P-리스트는 어떠한 포맷팅 후에도 변하지 않으며, G₂-리스트의 경우에는 SDL의 결함 블록이 그대로 결함 섹터로 저장되므로 이중에는 정상 섹터도 포함될 수 있으나 결함 섹터로 간주한다.In addition, a method of initializing a disk is divided into initial formatting and re-initialization. The reformatting is again performed by full formatting, such as initial formatting, and partial formatting. (partial certification) then the SDL without the verifying to the reduction in the time format of the PDL G ₂ - formatting move in list (SDL conversion of G to ₂ - list; hereinafter referred to as simple formatting) and the like. Here, the P-list does not change after any formatting, and in the case of G ₂ -list, since a defective block of the SDL is stored as a defective sector as it is, a normal sector may be included, but is regarded as a defective sector.

즉, 부분 포맷팅은 도 3a에 도시된 바와 같이, 포맷전의 P-리스트와 G₁-리스트의 섹터들은 포맷후에도 그대로 P-리스트와 G₁-리스트에 남게되나, 포맷전의 옛(old) G₂-리스트와 SDL에 리스트된 결함 블록들은 검증 과정을 거친다. 그리고, G₂-리스트와 SDL 내의 엔트리들은 모두 지운 후 상기 검증과정에서 발견되는 결함 섹터들만 G₁-리스트에 등록한다. 이는 G₂-리스트나 SDL에 있는 결함 블록에는 결함이 없는 섹터도 포함되어 있기 때문이다. 이때, G₁-리스트에 오버플로우(overflow)가 발생하면 그 나머지는 다시 새로운 SDL에 리스트되며, G₂-리스트에는 널(Null) 데이터가 삽입된다.That is, as shown in FIG. 3A, the partial formatting of the P-list and the G ₁ -list before formatting remain in the P-list and G ₁ -list as it is after formatting, but the old G ₂ − before formatting. The defect blocks listed in the list and SDL are verified. After deleting all entries in the G ₂ -list and the SDL, only the defective sectors found in the verification process are registered in the G ₁ -list. This is because defective blocks in the G ₂ -list or SDL also contain sectors without defects. At this time, if an overflow occurs in the G ₁ -list, the rest is again listed in a new SDL, and null data is inserted into the G ₂ -list.

또한, 검증없이 SDL을 G₂-리스트로 변환하는 단순(simple or quick) 포맷은 도 3b에 도시된 바와 같이, 포맷전의 P-리스트와 G₁-리스트, G₂-리스트 내의 섹터들은 포맷후에도 그대로 P-리스트와 G₁-리스트, G₂-리스트에 유지된다. 그리고, 옛(old) SDL 엔트리들은 16 PDL 엔트리로 변환한 후 해당 SDL 엔트리를 삭제하고 G₂-리스트에 등록한다. 이때, G₂-리스트에 오버플로우가 발생하면 G₂-리스트에 등록되지 않은 SDL의 나머지 엔트리들은 새로운(new) SDL에 남는다.In addition, a simple or quick format for converting SDL into a G ₂ -list without verification is shown in FIG. 3B, and the sectors in the P-list, the G ₁ -list, and the G ₂ -list before formatting remain intact after the format. P-list, G ₁ -list, G ₂ -list are maintained. The old SDL entries are converted to 16 PDL entries, then the corresponding SDL entries are deleted and registered in the G ₂ -list. At this time, G ₂ - when an overflow occurs in the list G ₂ - the rest of the entry is not registered in the SDL list are left in the new (new) SDL.

여기서, 오버플로우가 발생하는 것은 다음의 수학식 1과 같은 조건에 의해 PDL에 등록될 수 있는 엔트리 수가 한정되기 때문이다.Here, the overflow occurs because the number of entries that can be registered in the PDL is limited by the condition shown in Equation 1 below.

여기서, S_PDL은 PDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, S_SDL은 SDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, E_PDL은 PDL 엔트리의 개수, E_SDL은 SDL 엔트리의 개수이다. 그리고,는 P보다 크지않은 최대 정수를 표시한다.Here, S _PDL is the number of sectors used to hold the PDL entries, S _SDL is the number of sectors used to hold the SDL entries, E _PDL is the number of PDL entries, and E _SDL is the number of SDL entries. And, Denotes the largest integer not greater than P.

즉, PDL과 SDL에 사용될 수 있는 전체 섹터의 개수는 16섹터를 넘을 수 없으며, PDL만으로 또는, SDL만으로는 15섹터를 넘어설 수 없다.That is, the total number of sectors that can be used for the PDL and the SDL cannot exceed 16 sectors, and the PDL alone or the SDL alone cannot exceed 15 sectors.

한편, 상기 데이터 영역내의 결함 영역(즉, 결함 섹터 또는 결함 블럭)들은 정상적인 영역으로 대체되어져야 하는데, 대체 방법으로는 슬리핑 대체(slipping replacement)방법과 리니어 대체(linear replacement)방법이 있다.Meanwhile, the defective areas (ie, defective sectors or defective blocks) in the data area should be replaced with normal areas, which include a slipping replacement method and a linear replacement method.

상기 슬리핑 대체방법은 결함 영역이 PDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 4a에 도시된 바와 같이 실제 데이터가 기록되는 유저 영역(user area)에 결함 섹터가 존재하면 그 결함 섹터를 건너뛰고 대신에 그 결함 섹터 다음에 오는 정상 섹터(Good sector)로 대체되어 데이터를 기록한다.The sleeping replacement method is applied when a defective area is registered in the PDL. If a defective sector exists in a user area where actual data is recorded as shown in FIG. 4A, the defective sector is skipped. Instead, it is replaced by a good sector following the defective sector to record data.

그러므로, 데이터가 기록되는 유저 영역은 밀리면서 결국 건너 뛴 결함 섹터 만큼 스페어 영역(spear area)을 차지하게 된다. 예컨대, PDL의 P-리스트나 G₁-리스트에 2개의 결함 섹터가 등록되어 있다면 데이터는 스페어 영역의 2섹터까지 밀려서 기록된다. 그리고, PDL의 G₂-리스트에 결함 섹터가 기록되어 있다면 데이터는 스페어 영역의 16 섹터(=1 블럭)까지 밀려서 기록된다.Therefore, the user area in which data is recorded occupies a spare area as much as the defective sector skipped and eventually skipped. For example, the list PDL P- or G ₁ - if two defect sectors are registered in the list data is recorded pushed up to two sectors of the spare area. And, G ₂ of the PDL - if it is a defective sector recorded in the list data is recorded to 16 sectors pushed (= one block) of the spare area.

또한, 리니어 대체 방법은 결함 영역이 SDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 4b에 도시된 바와 같이 유저 영역에 결함 블록(defect block)이 존재하면 스페어 영역에 할당된 블록 단위의 대체(replacement) 영역으로 대체되어 데이터를 기록한다. 만일, SDL에 기록된 대체 블록이 나중에 결함이라고 발견되면 다이렉트 포인터 방법(Direct pointer method)이 SDL 등록에 적용된다. 즉, 다이렉트 포인터 방법에 의해 결함 대체 블록은 새로운 대체 블록으로 바뀌고 결함 대체 블록이 등록된 SDL 엔트리는 새로 바뀐 대체 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호로 수정된다.In addition, the linear replacement method is applied when the defective area is registered in the SDL. When a defective block exists in the user area as shown in FIG. 4B, the replacement of the block unit allocated to the spare area ( replacement) field to record the data. If the replacement block written in the SDL is later found to be defective, the direct pointer method is applied to the SDL registration. That is, by the direct pointer method, the defective replacement block is replaced with a new replacement block, and the SDL entry in which the defective replacement block is registered is modified with the sector number of the first sector of the newly replaced replacement block.

그러나, 상기된 리니어 대체 방법은 SDL에 기록된 결함 블록의 데이터를 스페어 영역에 할당된 대체 블록에 기록하기 위해 광 픽업을 스페어 영역으로 이송시켰다가 다시 유저 영역으로 이송시켜야 하므로, 이러한 과정이 계속 반복되면 시스템의 성능(performance)을 떨어뜨릴 수 있다.However, the above-described linear replacement method has to transfer the optical pickup to the spare area and then back to the user area in order to record the data of the defective block recorded in the SDL in the replacement block assigned to the spare area, and thus this process is repeated repeatedly. This can degrade the performance of the system.

따라서, 재포맷팅하는 이유중의 하나가 상기 SDL에 등록된 결함 섹터들을 PDL로 옮겨 계속적인 리니어 대체를 줄임으로써, 시스템의 성능을 높이기 위해서이다.Therefore, one of the reasons for reformatting is to increase the performance of the system by moving the defective sectors registered in the SDL to the PDL and reducing the continuous linear replacement.

이때, 재포맷팅 방법에는 상기와 같이 여러 가지가 있을 수 있는데 포맷팅이 복잡하므로 SDL을 G₂-리스트로 검증없이 변환하는 단순 포맷 방법처럼 포맷 과정을 단순화하려는 경향이 있다.At this time, there may be a number of reformatting methods as described above, and since the formatting is complicated, there is a tendency to simplify the formatting process as a simple format method of converting SDL into G ₂ -list without verification.

그러나, SDL에 등록된 결함 블록에는 결함이 없는 섹터도 포함되어 있는데 상기된 검증없이 SDL을 G₂-리스트로 변환하는 단순 포맷은 SDL에 등록된 결함 블록의 모든 섹터들을 PDL의 G₂-리스트로 변환하므로 PDL이 상기된 수학식 1과 같은 조건에 빨리 가까워지고, 이로인해 DMA에 오버플로우가 쉽게 발생할 수 있게 된다. 예컨대, SDL 엔트리는 8바이트이고, PDL 엔트리는 4바이트이므로, 하나의 SDL 엔트리가 PDL의 G₂-리스트로 변환되면 PDL은 64(=4×16)바이트가 필요하게 된다.However, the defect block registered in the SDL also contains sectors without defects. The simple format of converting an SDL to a G ₂ -list without the above-described verification is to convert all sectors of the defect block registered in the SDL to the G ₂ -list of the PDL. By converting, the PDL quickly approaches the condition as shown in Equation 1 above, which makes it possible to easily overflow the DMA. For example, since an SDL entry is 8 bytes and a PDL entry is 4 bytes, if one SDL entry is converted to a G ₂ -list of PDLs, the PDL requires 64 (= 4 × 16) bytes.

이때, 오버플로우가 나게되면 디스크를 사용할 수 없는 경우도 발생하므로 상기된 단순 포맷 방법은 DMA의 활용도를 떨어뜨리는 문제가 있다.At this time, if the overflow occurs, the disk may not be used, so the simple format method described above has a problem of decreasing the utilization of DMA.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 재포맷팅시 옛 SDL에 등록된 결함 블록의 위치 정보를 새로운 SDL에 그대로 등록하면서 상기 새로운 SDL 엔트리의 미사용 영역에 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것임을 표시하는 광 기록매체의 포맷팅 방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to register the position of the defect block registered in the old SDL in the new SDL as it is while reformatting the new block in the unused area of the new SDL entry. An object of the present invention is to provide a method of formatting an optical recording medium which indicates that location information is registered at the time of formatting.

본 발명의 다른 목적은 데이터 기록/재생 중에 상기 SDL에 등록된 결함 블록을 만나면 상기 결함 블록이 포맷팅시 등록된 것인지를 확인하고 포맷팅시 등록된 것이라면 상기 SDL에 등록된 결함 블록을 슬리핑 대체하는 광 기록매체의 결함 영역 관리 방법을 제공함에 있다.It is another object of the present invention to check if a defect block registered in the SDL is encountered during data recording / reproducing, and if the defect block is registered at the time of formatting, if it is registered at the time of recording, the optical recording for slipping and replacing the defective block registered in the SDL. The present invention provides a method for managing a defective area of a medium.

도 1은 일반적인 광디스크의 구조를 보인 도면1 is a view showing the structure of a typical optical disk

도 2a는 일반적인 PDL 엔트리 구조를 보인 도면Figure 2a shows a general PDL entry structure

도 2b는 일반적인 SDL 엔트리 구조를 보인 도면2b shows a general SDL entry structure

도 3a는 일반적인 포맷팅 방법 중 부분 포맷팅 방법을 보여주는 도면3A illustrates a partial formatting method of a general formatting method.

도 3b는 일반적인 포맷팅 방법 중 검증없이 SDL 리스트를 G₂-리스트로 변환하는 단순 포맷팅 방법을 보여주는 도면3B is a view illustrating a simple formatting method of converting an SDL list into a G ₂ -list without verification among general formatting methods.

도 4a는 일반적인 슬리핑 대체 방법을 보여주는 도면4A illustrates a typical sleeping alternative method

도 4b는 일반적인 리니어 대체 방법을 보여주는 도면4b illustrates a typical linear replacement method

도 5a는 본 발명에 따른 SDL 엔트리 구조를 보인 도면5A illustrates an SDL entry structure according to the present invention.

도 5b 내지 도 5d는 본 발명에 따른 SDL 엔트리의 등록 예들을 보인 도면5B to 5D show examples of registration of an SDL entry according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법을 나타낸 흐름도6 is a flowchart illustrating a method of formatting an optical record carrier according to the present invention.

도 7은 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함 영역 관리 방법을 나타낸 흐름도7 is a flowchart showing a method for managing a defective area of an optical record carrier according to the present invention.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법은, 옛 SDL에 등록된 결함 블록의 위치 정보는 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것임을 표시하는 정보와 함께 새로운 SDL에 저장하는 것을 특징으로 한다.In the method of formatting the optical recording medium according to the present invention for achieving the above object, the location information of the defective block registered in the old SDL is a new SDL with information indicating that the location information of the defective block is registered at the time of formatting; Characterized in that stored in.

상기 SDL의 미사용 영역을 이용하여 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것인지 유무를 표시하는 것을 특징으로 한다.The presence or absence of the unused area of the SDL is characterized by indicating whether the location information of the defective block is registered at the time of formatting.

상기 옛 SDL에 등록된 대체 블록의 위치 정보는 새로운 SDL에 등록하지 않는 것을 특징으로 한다.The location information of the replacement block registered in the old SDL is not registered in the new SDL.

본 발명에 따른 광 기록매체의 결함영역 관리방법은, SDL에 등록된 결함 블록이 발견되면 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것인지를 판별하는 단계와, 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것이라고 판별되면 상기 결함 블록을 슬리핑 대체하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to the present invention, a method for managing a defective area of an optical recording medium includes determining whether location information of a defective block is registered at the time of formatting if a defect block registered in the SDL is found, and at the time of formatting the location information of the defective block. And if it is determined that the registration is registered, the step of sleeping replacing the defective block.

상기 판별 단계는 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록되었다는 것을 표시하는 플래그를 이용하여 SDL에 등록된 결함 블록이 포맷팅시 등록된 것인지 유무를 판별하는 것을 특징으로 한다.The determining may include determining whether a defect block registered in the SDL is registered at the time of formatting by using a flag indicating that the location information of the defect block is registered at the time of formatting.

상기 판별 단계에서 상기 표시 플래그는 SDL 엔트리의 미사용 영역에 할당된 것임을 특징으로 한다.In the determining step, the indication flag is assigned to an unused area of the SDL entry.

상기 슬리핑 대체 단계는 슬리핑 대체되는 결함 블록의 각 섹터들에는 논리적 섹터 번호를 부여하지 않는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.And said step of replacing sleeping does not assign a logical sector number to each sector of a defective block to be replaced by sleeping.

상기 슬리핑 대체 단계는 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 위치 정보가 데이터 기록/재생 중에 등록된 것이라고 판별되면 대체 블록의 유무에 따라 상기 결함 블록을 리니어 대체하는 것을 특징으로 한다.In the sleeping replacing step, when it is determined that the position information of the defective block registered in the SDL is registered during data recording / reproducing, the defective block is linearly replaced according to the presence or absence of the replacement block.

본 발명의 다른 목적, 특징 및 잇점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.Other objects, features and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of embodiments taken in conjunction with the accompanying drawings.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 SDL을 검증없이 PDL로 변환하는 단순 포맷 방법을 개선한 것이다. 즉, 단순 포맷팅시 본 발명은 SDL에 등록된 결함 블록을 PDL로 변환하지 않고 그대로 SDL에 유지하면서 대신 도 5a와 같이 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역중 1비트(이하, 본 발명에서는 FPE(format process entry) 플래그라 칭함.)를 할당하여 상기 결함 블록의 위치 정보가 포맷팅시 등록된 것임을 표시한다. 이는 데이터 기록/재생 중에 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록이 발견되면 상기 결함 블록을 PDL에 등록된 것처럼 처리하기 위해서이다. 따라서, 데이터 기록/재생시에는 상기 FPE 플래그 상태에 따라 SDL에 등록된 결함 블록을 슬리핑 대체하거나 리니어 대체한다.The present invention is an improvement on the simple format method of converting SDL to PDL without verification. That is, in the simple formatting, the present invention does not convert the defect block registered in the SDL into the PDL without converting the PDL into the PDL. Instead, 1 bit of the unused area of the SDL entry (hereinafter referred to as FPE (format process entry in the present invention)) is shown in FIG. ) Flag to indicate that the location information of the defective block is registered at the time of formatting. This is to process the defect block as if it is registered in the PDL if a defect block registered in the SDL entry is found during data recording / reproducing. Accordingly, during data recording / reproducing, the defective block registered in the SDL is slipped or linearly replaced according to the FPE flag state.

즉, 상기 FPE 플래그를 1 또는 0으로 셋트시켜 상기 SDL 엔트리가 포맷팅시 만들어진 것인지 데이터 기록(또는 재생)중에 만들어진 것인지를 구분할 수 있도록 한다.In other words, the FPE flag is set to 1 or 0 so as to distinguish whether the SDL entry is made at formatting or during data recording (or reproduction).

본 발명에서는 실시예로 상기 FPE 플래그가 1이면 해당 SDL 엔트리가 포맷팅시 만들어진 것을 의미하고, 0이면 데이터 기록/재생 중에 만들어진 것을 의미한다.In the present invention, if the FPE flag is 1, this means that the corresponding SDL entry is created at the time of formatting, and if the FPE flag is 0, it is created during data recording / reproducing.

예를 들어, A가 결함이 발생한 블록의 위치 정보라 하고, B가 스페어 영역의 대체 블록의 위치 정보라 가정하면, 도 5b의 (1,0,A,0)는 데이터 기록/재생 중에 결함이 발생한 블록(A)이 발견되어 SDL에 등록하였으며 대체 블록은 할당되지 않았음을 의미한다. 그리고, 도 5c의 (0,0,A,B)는 데이터 기록/재생 중에 결함이 발생한 블록(A)이 발견되어 SDL에 등록하였으며, 유저 영역의 결함 블록(A)에 기록될 데이터가 스페어 영역의 대체 블록(B)으로 대체되어 기록됨을 의미한다. 또한, 도 5d의 (1,1,A,0)은 포맷팅시 옛 SDL 엔트리를 수정한 것으로서, 기록/재생 중에 상기 결함 블록(A)을 만나면 상기 결함 블록은 슬리핑 대체함을 의미한다. 이때는 대체 블록이 할당되지 않는다.For example, assuming that A is location information of a block in which a defect has occurred and B is location information of a replacement block in a spare area, (1, 0, A, 0) in FIG. It means that the generated block A has been found and registered in the SDL, and no replacement block has been allocated. In FIG. 5C, (0, 0, A, B), a block A in which a defect has been found during data recording / reproducing is found and registered in the SDL, and data to be recorded in the defect block A of the user area is a spare area. It means that it is replaced by the replacement block (B) of and written. In addition, (1, 1, A, 0) of FIG. 5D is a modification of an old SDL entry during formatting, and means that if a defect block A is encountered during recording / reproducing, the defect block is sleeping replaced. In this case, no replacement block is allocated.

이때, 데이터 기록/재생 중에는 발견되는 결함 블록의 수만큼 SDL 엔트리의 개수가 증가하나 포맷팅시에는 옛 SDL을 수정하기만 하면 되므로 SDL 엔트리의 개수가 증가하지 않는다. 즉, 포맷팅시에는 옛 SDL의 결함 블록의 위치 정보는 그대로 둔채 FPE 플래그를 1로 셋트하고 대체 블록의 위치 정보를 삭제하며, FRM 비트를 1로 셋트시키면 되기 때문이다.At this time, the number of SDL entries increases by the number of defective blocks found during data recording / reproducing, but the number of SDL entries does not increase because the old SDL only needs to be modified during formatting. That is, when formatting, the FPE flag is set to 1, the position information of the replacement block is deleted, and the FRM bit is set to 1, leaving the position information of the defective block of the old SDL as it is.

따라서, 종래에는 하나의 SDL 엔트리가 PDL의 G₂-리스트로 변환되기 위해서는 PDL이 64(=4×16)바이트 즉, 16 PDL 엔트리가 필요하였으나 본 발명에서는 SDL 엔트리로 인해 추가되는 PDL 엔트리가 없으므로, 오버플로우가 발생할 확률이 그만큼 줄어들게 된다. 또한, 포맷팅시 만들어지는 SDL 엔트리도 옛 SDL 엔트리를 수정만 하면 되므로 DMA 리스트가 풀(full)이 되었을 때도 포맷팅을 할 수 있다.Therefore, in order to convert a single SDL entry into a G ₂ -list of PDLs, 64 (= 4 × 16) bytes, that is, 16 PDL entries are required. However, in the present invention, there is no PDL entry added due to the SDL entry. As a result, the probability of overflow is reduced. In addition, the SDL entry created during formatting can only be formatted when the DMA list becomes full because the old SDL entry only needs to be modified.

도 6은 이러한 포맷팅 과정을 나타낸 본 발명의 흐름도로서, 재포맷팅시 단순 포맷 방법이 선택되면(단계 601), 옛 DMA 정보를 읽은 후 옛 PDL의 P-리스트에 등록된 결함 섹터들은 그대로 새로운 PDL의 P-리스트에 등록하고, 옛 PDL의 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터들은 그대로 새로운 PDL의 G₁-리스트에 등록한다(단계 602).FIG. 6 is a flow chart of the present invention showing such a formatting process. If a simple format method is selected during reformatting (step 601), the defective sectors registered in the P-list of the old PDL after reading the old DMA information are retained in the new PDL. P- registered in the list, the old PDL G ₁ - registered in the list of defective sectors as G ₁ in the new PDL - be registered in the list (step 602).

그리고, 옛 SDL에 등록된 결함 블록의 위치 정보는 PDL로 변환하지 않고 그대로 새로운 SDL에 등록한다(단계 603). 이때, 상기 SDL 엔트리가 포맷팅시 만들어진 것임을 표시하기 위해 도 5d와 같이 SDL 엔트리의 FPE 플래그를 1로 셋트하고 만일, 대체 블록의 위치 정보가 상기 옛 SDL 엔트리에 등록되어 있다면 상기 대체 블록의 위치 정보는 삭제한다. 그리고, 대체 블록의 정보가 없으므로 FRM 비트도 1로 셋트한다.Then, the positional information of the defect block registered in the old SDL is registered in the new SDL as it is without conversion to the PDL (step 603). At this time, to indicate that the SDL entry was created at the time of formatting, the FPE flag of the SDL entry is set to 1, as shown in FIG. 5D. Delete it. And since there is no information of the replacement block, the FRM bit is also set to 1.

상기와 같은 과정이 모든 옛 SDL 엔트리에 적용되면 단순 포맷팅 과정이 완료된다(단계 604).If the above process is applied to all the old SDL entries, then the simple formatting process is completed (step 604).

도 7은 상기와 같은 방법으로 포맷팅된 광 디스크의 결함 영역 관리를 위한 본 발명의 흐름도이다.7 is a flowchart of the present invention for managing a defective area of an optical disc formatted in the above manner.

즉, 시스템이 온되거나 시스템에 광 디스크가 장착되면(단계 701), 초기화 과정에 의해 DMA로부터 PDL에 리스트된 결함 섹터들과 SDL에 리스트된 결함 섹터들의 정보를 읽는다(단계 702).That is, when the system is turned on or the optical disk is loaded in the system (step 701), the initialization process reads the information of the defect sectors listed in the PDL and the defect sectors listed in the SDL from the DMA (step 702).

따라서, 데이터 기록(또는 재생)중에 만나는 섹터가 상기 DMA에 등록된 결함 섹터인지 정상 섹터인지를 알 수 있으며, 결함 섹터라면 PDL에 등록된 결함 섹터인지 SDL에 등록된 결함 섹터인지도 알 수 있다.Therefore, it is possible to know whether the sectors encountered during data recording (or reproduction) are defective sectors registered in the DMA or normal sectors. If the sectors are defective sectors, it is also possible to know whether they are defect sectors registered in the PDL or defect sectors registered in the SDL.

그러므로, 사용자가 기록(또는 재생)을 선택하면(단계 703) 광 디스크에 데이터를 기록(또는 재생)한다(단계 704).Therefore, when the user selects recording (or reproduction) (step 703), data is recorded (or reproduced) on the optical disc (step 704).

이때, 상기 PDL의 P-리스트나 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터들을 만나면 슬리핑 대체 방법으로 데이터를 기록하거나 재생하게된다(단계 705). 즉, 데이터 기록 중에 상기 P-리스트나 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터를 만나면 그 결함 섹터는 건너뛰고 대신 그 결함 섹터 다음에 오는 정상 섹터(Good sector)에 데이터를 기록한다. 이때, 상기 결함 섹터에는 논리적 섹터 번호(Logical Sector Number ; LSN)가 부여되어 있지 않다. 그러므로, 재생시에도 상기 결함 섹터에서는 데이터를 읽지 않는다.At this time, when the defective sectors registered in the P-list or the G ₁ -list of the PDL are met, data is recorded or reproduced by a sleeping replacement method (step 705). That is, if a defective sector registered in the P-list or G ₁ -list is encountered during data recording, the defective sector is skipped and instead the data is recorded in a good sector following the defective sector. At this time, a logical sector number (LSN) is not assigned to the defective sector. Therefore, even during playback, data is not read from the defective sector.

한편, 데이터 기록(또는 재생) 중에 SDL에 등록된 결함 블록을 만나면(단계 706), FPE 플래그가 1인지를 판별한다(단계 707).On the other hand, if a defective block registered in the SDL is encountered during data recording (or reproduction) (step 706), it is determined whether the FPE flag is 1 (step 707).

만일, FPE 플래그가 도 5d와 같이 1이라면 상기 SDL 엔트리는 포맷팅시 만들어진 것이므로 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록을 모두 슬리핑 대체한다(단계 708). 즉, 상기 결함 블록을 건너뛰고 대신 다음에 오는 정상 블록에 데이터를 기록한다. 이때는 상기 결함 블록을 PDL에 등록된 결함 섹터처럼 처리하므로 상기 결함 블록에 해당하는 16섹터만큼 스페어 영역이 밀려서 유저 영역으로 된다. 여기서도, 상기 슬리핑 대체하는 결함 블록의 16섹터에는 LSN이 부여되지 않는다.If the FPE flag is 1 as shown in FIG. 5D, the SDL entry is created at the time of formatting, and thus all the defective blocks registered in the SDL entry are slipped and replaced (step 708). That is, the defective block is skipped and data is written to the next normal block instead. In this case, since the defective block is treated like a defective sector registered in the PDL, the spare area is pushed into the user area by 16 sectors corresponding to the defective block. Here, the LSN is not given to 16 sectors of the defective block which replaces the sleeping.

또한, 상기 슬리핑 대체하는 16 섹터(= 1 블록)에는 P-리스트나 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터들이 제외되어 있다.In addition, the 16 sectors (= 1 block) replacing the sleeping region exclude defective sectors registered in the P-list or the G ₁ -list.

한편, FPE 플래그가 0이라면 상기 SDL 엔트리는 데이터 기록(또는 재생)중에 만들어진 것이므로, 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록을 리니어 대체한다(단계 710). 예를 들어, 상기 SDL 엔트리가 도 5b와 같이 (1,0,A,0) 이고 재생 과정에서 상기 결함 블록을 만났다면 상기 결함 블록(A)의 대체 블록이 할당되어 있지 않으므로 상기 결함 블록(A)에서 데이터를 읽는다. 또한, 기록 과정에서 상기 결함 블록(A)을 만났다면 스페어 영역의 대체 블록(B)을 지정한 후 대체 블록(B)에 결함 블록(A)의 데이터를 기록하고, SDL 엔트리를 도 5c와 같이 (0, 0, A, B)로 수정한다.On the other hand, if the FPE flag is 0, the SDL entry is made during data recording (or reproduction), and thus linearly replaces the defective block registered in the SDL entry (step 710). For example, if the SDL entry is (1,0, A, 0) as shown in FIG. 5B and the defective block is encountered during the reproduction process, the replacement block of the defective block A is not allocated, so that the defective block A To read the data. In addition, if the defective block A is encountered in the recording process, the replacement block B of the spare area is designated, the data of the defective block A is recorded in the replacement block B, and the SDL entry is written as shown in FIG. 0, 0, A, B).

그러므로, 기록(또는 재생)중에 만난 결함 블록(A)의 SDL 엔트리가 도 5c와 같이 (0,0,A,B)라면 데이터 기록(또는 재생)중에 만들어진 것으로서 결함이 없는 대체 블록(B)이 할당되어 있으므로 유저 영역의 결함 블록(A)에 기록될(즉, 기록 과정) 또는 기록된(즉, 재생 과정) 데이터가 스페어 영역의 대체 블록(B)으로 리니어 대체되어 기록된다.Therefore, if the SDL entry of the defective block A encountered during recording (or reproduction) is (0, 0, A, B) as shown in Fig. 5C, the replacement block B without defect as being made during data recording (or reproduction) is created. Since it is assigned, data to be recorded (i.e., recording process) or recorded (i.e., reproduction process) in the defective block A of the user area is linearly replaced by the replacement block B of the spare area and recorded.

또한, 데이터 기록(또는 재생)중에 SDL에 등록안된 결함 블록이 발견되면 상기 결함 블록의 위치 정보를 SDL 엔트리에 등록하는데 이때의 FPE 플래그는 0으로 리셋한다. 이는 다음 재기록(또는 재생)에 상기 결함 블록을 만나면 리니어 대체를 하기 위해서이다. 이때, 스페어 영역의 대체 블록의 사용 유무에 따라 FRM 비트를 0으로 리셋하거나 1로 셋트한다.If a defective block not registered in the SDL is found during data recording (or reproduction), the position information of the defective block is registered in the SDL entry, and the FPE flag at this time is reset to zero. This is to perform a linear replacement upon encountering the defective block on the next rewrite (or reproduction). At this time, the FRM bit is reset to 0 or set to 1 depending on whether the spare block of the spare area is used.

그리고, 기록(또는 재생)이 완료되었는지를 판별하여 완료되지 않았으면 상기 과정을 계속 반복하고 완료되었으면 프로그램을 종료한다(단계 709).Then, it is determined whether recording (or reproduction) is completed, and if not, the process is repeated continuously, and if it is completed, the program is terminated (step 709).

이와 같이, 본 발명은 재포맷팅시 SDL에 등록된 결함 블록은 그대로 SDL에 유지시키면서 대신 해당 SDL 엔트리의 미사용 영역에 이 상태를 표시하여 데이터 기록/재생 과정에서 상기 결함 블록을 슬리핑 대체하도록 함으로써, DMA 리스트를 더욱 효율적으로 관리할 수 있게 된다.As described above, the present invention allows the defective block registered in the SDL to be retained in the SDL as it is reformatted, but instead displays the state in the unused area of the corresponding SDL entry so that the defective block is replaced by a slipping process in the data recording / reproducing process. Lists can be managed more efficiently.

이상에서와 같이 본 발명에 따른 광기록매체의 포맷팅 및 결함 영역 관리 방법에 의하면, 단순 재포맷팅시 SDL에 등록된 결함 블록의 위치 정보는 상기 SDL에 그대로 두고 대신 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역(=FPE 플래그)을 이용하여 상기 SDL 엔트리가 포맷팅시 만들어진 것임을 표시한 후 데이터 기록(또는 재생)중에 SDL에 등록된 결함 블록을 만나면 상기 SDL 엔트리가 포맷팅시 만들어진 것인지를 확인하여 포맷팅시 만들어진 것이라면 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록은 슬리핑 대체하도록 함으로써, DMA 리스트를 효율적으로 관리하여 DMA의 오버플로우 발생 확률을 줄이므로 시스템의 성능을 높이는 효과가 있다. 특히, 포맷팅시 만들어지는 SDL 엔트리도 SDL 엔트리를 추가하지 않고 옛 SDL 엔트리를 수정만 하면 되므로 DMA 리스트가 풀(full)이 되었을 때도 포맷팅을 할 수 있어 디스크의 관리가 더욱 효율적으로 이루어진다.As described above, according to the method for formatting an optical recording medium and managing a defective area according to the present invention, the position information of a defect block registered in an SDL is left in the SDL during simple reformatting, and the unused area (= FPE) of the SDL entry is left instead. Flag to indicate that the SDL entry was created at the time of formatting, and if a defect block registered in the SDL is encountered during data recording (or playback), it is checked whether the SDL entry was created at the time of formatting, The registered defective blocks are replaced by sleeping, which effectively manages the DMA list and reduces the probability of occurrence of overflow of the DMA, thereby improving the performance of the system. In particular, the SDL entry created during formatting only needs to modify the old SDL entry without adding the SDL entry, so that formatting can be performed even when the DMA list becomes full, thereby making disk management more efficient.

Claims

A method of formatting an optical recording medium for converting defect information registered in an old defect area storage unit into a new defect area storage unit without verification,

The location information of the defect block registered in the defect data storage unit SDL of the old defect area storage unit together with information indicating that the location information of the defect block is registered at the time of formatting, the defect data storage unit of the new defect area storage unit (SDL) storing the optical recording medium.

The method of claim 1,

And displaying whether or not the location information of the defective block is registered at the time of formatting by using an unused area of the defective data storage (SDL) entry.

The method of claim 1,

The position information of the replacement block registered in the old defective data storage unit (SDL) is not stored in the new defective data storage unit (SDL).

A method for managing a defective area of an optical recording medium in which data is recorded by sleeping or linear replacement with a replacement area when a defective area is generated,

Determining whether the location information of the defect block is registered at the time of formatting when a defect block registered in the defect data storage unit SDL is found;

And if the position information of the defective block is determined to be registered at the time of formatting, sleeping the replacement of the defective block.

The method of claim 4, wherein

The determining step

A defect of the optical recording medium, characterized in that it is determined whether or not the defective block registered in the defective data storage unit (SDL) is registered at the time of formatting by using a flag indicating that the position information of the defective block has been registered at the time of formatting. Territory management method.

The method of claim 5,

And wherein the indication flag is assigned to an unused area of a defective data storage unit (SDL) entry in the determining step.

The method of claim 4, wherein

The sleeping replacement step

And each sector of the defective block to be replaced by sleeping is not given a logical sector number.

The method of claim 4, wherein

The sleeping replacement step

If it is determined that the position information of the defective block registered in the defective data storage SDL is registered during data recording / reproducing, the defective block of the optical recording medium is linearly replaced according to the presence or absence of the replacement block. Territory management method.