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KR102598155B1 - 전자 장치 - Google Patents

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KR102598155B1
KR102598155B1 KR1020160141421A KR20160141421A KR102598155B1 KR 102598155 B1 KR102598155 B1 KR 102598155B1 KR 1020160141421 A KR1020160141421 A KR 1020160141421A KR 20160141421 A KR20160141421 A KR 20160141421A KR 102598155 B1 KR102598155 B1 KR 102598155B1
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center
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KR1020160141421A
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김형철
손미희
유영석
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삼성디스플레이 주식회사
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Abstract

전자 장치는 센싱 영역 및 상기 센싱 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하는 베이스층, 센싱 영역에 배치된 복수의 센서 패턴들, 복수의 센서 패턴들을 연결하는 연결 패턴들을 포함하고, 상기 센싱 영역 및 상기 주변 영역 사이의 경계는 라운드진 곡선 경계를 포함하고, 상기 연결 패턴들 중 상기 라운드진 곡선 경계에 인접하여 배치된 연결 패턴은 상기 곡선 경계로부터 소정 간격 이상으로 이격 되어 배치될 수 있다.

Description

전자 장치{ELECTRONIC DEVICE}
본 발명은 전자 장치에 관한 것으로, 신뢰성이 향상된 전자 장치에 관한 것이다.
전자 장치는 전기적 신호에 따라 활성화되는 활성화 영역을 포함한다. 전자 장치는 활성화 영역을 통해 외부에서 인가되는 터치를 감지하고, 이와 동시에 다양한 이미지를 표시하여 사용자에게 정보를 제공할 수 있다. 최근 다양한 형상의 전자 장치들이 개발되면서, 다양한 형상을 가진 활성화 영역이 구현되고 있다.
본 발명의 목적은 신뢰성이 향상된 전자 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 제1 영역, 상기 제1 영역 외곽의 제2 영역 및 상기 제2 영역 외곽의 제3 영역을 포함하는 베이스층 및 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역에 배치된 복수의 센서 패턴들 및 상기 복수의 센서 패턴들 중 서로 인접한 센서 패턴들을 연결하며 상기 제1 영역에 배치된 중심 연결 패턴 및 상기 제2 영역에 배치된 제1 내지 제3 외곽 연결 패턴들을 포함하는 복수의 연결 패턴들을 포함하는 센싱 유닛을 포함하고, 상기 제1 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제2 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제2 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제3 외곽 연결 패턴은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 외곽 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제2 방향으로 연장하는 제1 가상선 및 상기 제2 외곽 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향으로 연장하는 제2 가상선이 교차하는 제1 교차점과 비중첩할 수 있다.
상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 라운드진 제1 곡선 경계를 포함하고, 상기 센싱 유닛은 상기 제3 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 상기 경계에 인접한 센서 패턴들에 연결되는 복수의 구동 라인들을 더 포함하고, 상기 복수의 구동 라인들은 상기 제1 곡선 경계에 인접하게 배치되어, 상기 제1 곡선 경계를 따라 연장하고, 상기 제3 외곽 연결 패턴은 상기 제1 곡선 경계를 사이에 두고 상기 복수의 구동 라인들과 마주할 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제3 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 거리는 1mm 이상일 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제3 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제1 거리이고, 상기 제1 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제1 외곽 연결 패턴와 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제2 거리이고, 상기 제2 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제2 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제3 거리이고, 상기 제1 거리는 상기 제2 거리 및 상기 제3 거리 중 더 작은 값보다 크거나 같은 값을 가질 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점과 상기 제1 외곽 연결 패턴 사이의 상기 제1 가상선 상에 배치될 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점과 상기 제2 외곽 연결 패턴 사이의 상기 제2 가상선 상에 배치될 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점, 상기 제1 외곽 연결 패턴, 상기 중심 연결 패턴, 상기 제2 외곽 연결 패턴, 및 상기 제1 교차점을 순차적으로 잇는 선들에 둘러싸인 영역 내에 배치될 수 있다.
상기 중심 연결 패턴은 복수로 제공되고, 복수의 중심 연결 패턴들은 상기 제1 방향을 따라 제1 피치 및 상기 제2 방향을 따라 제2 피치로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제2 외곽 연결 패턴을 향하는 방향으로 상기 제1 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제1 외곽 연결 패턴을 향하는 방향으로 상기 제2 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제1 방향으로 상기 제1 피치의 1/10 이상의 간격, 및 상기 제2 방향으로 상기 제2 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 라운드진 제1 곡선 경계, 상기 제1 곡선 경계로부터 연장하는 직선 경계, 및 상기 직선 경계로부터 연장하며 라운드진 제2 곡선 경계를 더 포함하고, 상기 복수의 연결 패턴들은 상기 제2 곡선 경계와 상기 중심 연결 패턴 사이에 배치된 제4 외곽 연결 패턴을 더 포함할 수 있다.
상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 가상선과 상기 제2 가상선이 교차하는 제2 교차점과 중첩할 수 있다.
상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 가상선과 상기 제2 가상선이 교차하는 제2 교차점과 비중첩하고, 상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제2 교차점, 상기 제1 외곽 연결 패턴, 상기 중심 연결 패턴, 상기 제2 외곽 연결 패턴, 및 상기 제2 교차점을 순차적으로 잇는 선들에 둘러싸인 영역 내에 배치될 수 있다.
상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 원 또는 타원 형상을 가질 수 있다.
상기 베이스층 아래에 배치되어 영상을 표시하는 표시 패널을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 센싱 영역 및 상기 센싱 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고, 상기 센싱 영역과 상기 주변 영역 사이의 경계는 곡선 경계를 포함하는 베이스층, 상기 센싱 영역에 배치되며 제1 방향 및 제2 방향을 따라 배열된 복수의 센서 패턴들, 상기 주변 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 상기 경계에 인접한 센서 패턴들에 연결되는 복수의 구동라인들, 및 상기 센싱 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 서로 인접한 센서 패턴들을 연결하며 평면 상에서 상기 제1 방향으로 제1 피치, 상기 제2 방향으로 제2 피치의 간격으로 이격되어 배열된 제1 연결 패턴들 및 상기 제1 연결 패턴들과 상기 곡선 경계 사이에 배치되는 제2 연결 패턴을 포함하는 복수의 연결 패턴들을 포함하고, 상기 제2 연결 패턴 및 상기 제1 연결 패턴들 중 상기 제2 연결 패턴에 가장 인접한 제1 연결 패턴 사이의 최소 피치는 상기 제1 피치 및 상기 제2 피치보다 작을 수 있다.
상기 곡선 경계 및 상기 제2 연결 패턴 각각은 복수로 제공되고, 상기 경계는 복수로 제공된 곡선 경계들을 서로 연결하는 직선 경계들을 더 포함하고, 복수로 제공된 제2 연결 패턴들 각각은 상기 곡선 경계들 각각과 상기 제1 연결 패턴들 사이에 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 센싱 영역 및 상기 센싱 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하는 베이스층, 상기 센싱 영역에 배치되는 복수의 센서 패턴들, 및 상기 센싱 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 인접한 센서 패턴들을 연결하고, M x N (M 및 N 은 1 이상의 정수)의 매트릭스 형태로 배열되는 복수의 연결 패턴들을 포함하고, 상기 센싱 영역 상에는 상기 복수의 연결 패턴들 중 1 행 2열 내지 1행 N-1열에 배치된 연결 패턴들 각각의 중심을 관통하며 연장하는 제1 선, 상기 복수의 연결 패턴들 중 M 행 2열 내지 M행 N-1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제2 선, 상기 복수의 연결 패턴들 중 2행 1 열 내지 M-1행 1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제3 선, 및 상기 복수의 연결 패턴들 중 2행 N 열 내지 M-1행 N열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제4 선이 정의되고, 상기 복수의 연결 패턴들 중 1행 1열, 1행 N열, M행 1열, 및 M행 N열에 배치된 연결 패턴들 각각과 상기 제1 선과 상기 제3 선이 교차하는 제1 교차점, 상기 제1 선과 상기 제4 선이 교차하는 제2 교차점, 상기 제2 선과 상기 제3 선이 교차하는 제3 교차점, 및 상기 제2 선과 상기 제4 선이 교차하는 제4 교차점 각각은 서로 비중첩할 수 있다.
상기 센싱 영역 및 상기 주변 영역의 경계는 라운드진 경계를 포함하고, 상기 라운드진 경계는 상기 제1 교차점, 상기 제2 교차점, 상기 제3 교차점, 및 상기 제4 교차점 중 적어도 어느 하나와 인접하고, 상기 1행 1열, 1행 N열, M행 1열, 및 M행 N열에 배치된 연결 패턴들 각각은 상기 제1 내지 제4 교차점들 각각으로부터 상기 라운드진 경계에 대해 멀어지는 방향으로 이격되어 배치될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 곡선 경계와 인접한 연결 패턴을 곡선 경계와 소정 간격 이격하여 배치시킨다. 따라서, 특정 연결 패턴에 전하가 집중됨에 따라, 연결 패턴이 열화되어 파손되는 현상이 개선될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 사용 상태를 도시한 사시도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치를 개략으로 도시한 단면도이다.
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치를 개략으로 도시한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛을 간략히 도시한 평면도이다.
도 4a는 도 3의 AA' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 4b는 도 4a의 I-I'를 따라 자른 단면도이다.
도 5a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 AA' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 5b는 도 5a의 II-II'를 따라 자른 단면도이다.
도 5c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 도시한 단면도이다.
도 6a는 도 3의 BB' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 6b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 BB' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 6c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 BB' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 7a는 도 3의 CC' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 7b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 CC' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛을 간략히 도시한 평면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛의 구성 중 일부를 간략히 도시한 평면도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 사용 상태를 도시한 사시도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛을 간략히 도시한 평면도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태도 에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결 된다", 또는 "결합 된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.
동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. "및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
또한, "아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(EA)의 사용 상태를 도시한 사시도이다.
도 1을 참조하면, 전자 장치(EA)는 외부에서 인가되는 터치를 감지하는 장치일 수 있다. 외부에서 인가되는 터치는 다양한 방식으로 제공될 수 있다. 도 1에서는 사용자의 손과 같은 신체의 일부가 전자 장치(EA)에 근접하거나 접촉하는 상태를 감지하는 실시예를 도시하였다.
다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 전자 장치(EA)는 스타일러스 펜과 같은 무체물의 일부가 근접하거나 접촉하는 것을 감지할 수도 있다. 또한, 전자 장치(EA)는 광학식, 접촉식, 열감지식, 또는 자기식을 포함하는 다양한 방식을 통해 터치를 감지할 수 있다.
도 1에서는 전자 장치(EA)의 일 예로써 플랫한 전자 장치를 예시적으로 도시하였다. 그러나, 이에 제한되는 것은 아니고, 전자 장치(EA)는 커브드 전자 장치, 폴더블 전자 장치, 롤러블 전자 장치, 및 스트레쳐블 전자 장치 등과 같은 다양한 전자 장치에 적용될 수 있다. 또한, 전자 장치(EA)는 텔레비전, 모니터 등과 같은 대형 전자장치를 비롯하여, 휴대 전화, 태블릿, 자동차 네비게이션, 게임기, 스마트 와치 등과 같은 중소형 전자장치 등에 사용될 수 있다. 이것들은 단지 실시예로서 제시된 것들로서, 본 발명의 개념에서 벗어나지 않은 이상 다른 전자 장치에도 채용될 수 있음은 물론이다.
전자 장치(EA)는 이미지가 표시되는 표시면(IS)을 가질 수 있다. 표시면(IS)은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 정의하는 면과 평행할 수 있다. 표시면(IS)의 법선 방향, 즉 전자 장치(EA)의 두께 방향은 제3 방향(DR3)이 지시한다. 각 부재들의 전면(또는 상면)과 배면(또는 하면)은 제3 방향(DR3)에 의해 구분된다. 그러나, 제1 내지 제3 방향들(DR1, DR2, DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다.
전자 장치(EA)의 표시면(IS)은 복수 개의 영역들을 포함할 수 있다. 전자 장치(EA)는 이미지(IM)가 표시되는 표시 영역(DD-DA) 및 표시 영역(DD-DA)에 인접한 비표시 영역(DD-NDA)을 포함한다. 도 1 에서 표시 영역(DD-DA)에 표시되는 이미지(IM)의 일 예로 어플리케이션의 아이콘들과 시계창을 도시하였다. 비표시 영역(DD-NDA)은 이미지가 표시되지 않는 영역이다.
표시 영역(DD-DA)은 4 개의 둥근 엣지를 갖는 사각형상일 수 있다. 구체적으로, 표시 영역(DD-DA)은 네 개의 직선 변과 네 개의 직선 변 각각을 이어주는 라운드 진 형상의 4 개의 곡선 변을 포함할 수 있다. 하지만, 이는 예시적인 것으로 표시 영역(DD-DA)은 1 개의 둥근 엣지를 갖는 사각형상일 수도 있다.
비표시 영역(DD-NDA)은 표시 영역(DD-DA)을 둘러쌀 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 영역(DD-DA)의 형상과 비표시 영역(DD-NDA)의 형상은 상대적으로 디자인될 수 있다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치를 개략으로 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2a를 참조하면, 전자 장치(EA)는 표시 패널(DP), 베이스층(BS), 및 센싱 유닛(TSU)을 포함할 수 있다.
표시 패널(DP)은 입력된 영상 데이터에 대응하는 이미지(IM)를 생성한다. 도 2a에서는 표시 패널(DP)의 일 예로 유기발광 표시 패널에 대해 대표적으로 설명한다. 하지만, 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니고, 표시 패널(DP)은 액정표시 패널, 플라즈마 표시 패널, 전기영동 표시 패널일 수도 있다.
표시 패널(DP)은 베이스필름(BF), 베이스필름(BF) 상에 배치된 회로층(ML), 발광소자층(EL), 및 박막 봉지층(ECL)을 포함한다.
베이스필름(BF)은 플라스틱 기판, 유리 기판, 메탈 기판, 또는 유/무기 복합재료 기판 등을 포함할 수 있다. 플라스틱 기판은 아크릴계 수지, 메타크릴계 수지, 폴리이소프렌, 비닐계 수지, 에폭시계 수지, 우레탄계 수지, 셀룰로오스계 수지, 실록산계 수지, 폴리이미드계 수지, 폴리아미드계 수지 및 페릴렌계 수지 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
회로층(ML)은 복수 개의 절연층들, 복수 개의 도전층들 및 반도체층을 포함할 수 있다. 회로층(ML)의 복수 개의 도전층들은 신호라인들 또는 화소의 제어회로를 구성할 수 있다.
발광소자층(EL)은 표시 소자, 예컨대 유기발광 다이오드들을 포함한다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니고, 표시 패널(DP)의 종류에 따라,발광소자층(EL)은 무기발광 다이오드들 또는 유기-무기 하이브리드 발광 다이오드들을 포함할 수 있다.
박막 봉지층(ECL)은 발광소자층(EL)을 밀봉한다. 박막 봉지층(ECL)은 복수개의 무기 박막들과 그 사이에 배치된 적어도 하나의 유기 박막을 포함한다. 무기 박막들은 수분 및 산소로부터 발광소자층(EL)을 보호하고, 유기 박막은 먼지 입자와 같은 이물질로부터 발광소자층(EL)을 보호한다.
베이스층(BS)은 표시 패널(DP) 위에 배치될 수 있다. 베이스층(BS)은 투명한 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 상기 "투명"하다는 것은 0% 초과의 광 투과율을 갖는 것으로, 반투명한 것을 포함하는 의미이다.
센싱 유닛(TSU)은 베이스층(BS) 위에 배치될 수 있다. 센싱 유닛(TSU)은 외부 입력의 좌표 정보를 획득할 수 있다. 또한, 센싱 유닛(TSU)은 외부에서 인가되는 압력을 감지할 수도 있다.
표시 패널(DP)과 센싱 유닛(TSU)이 형성된 베이스층(BS)은 접착 부재(AL)에 의해 서로 결합될 수 있다. 접착 부재(AL)는 광학투명접착필름(OCA, Optically Clear Adhesive film), 광학투명접착수지(OCR, Optically Clear Resin), 또는 감압접착필름(PSA, Pressure Sensitive Adhesive film)과 같은 유기 접착층일 수 있다. 유기 접착층은 폴리우레탄계, 폴리아크릴계, 폴리에스테르계, 폴리에폭시계, 또는 폴리초산비닐계 등의 접착물질을 포함할 수 있다.
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치를 개략으로 도시한 단면도이다. 도 2b를 설명함에 있어서, 도 2a에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 2b를 참조하면, 전자 장치(EA1)는 표시 패널(DP), 및 센싱 유닛(TSU)을 포함할 수 있다. 센싱 유닛(TSU)은 표시 패널(DP) 상에 직접 배치될 수 있다. "직접 배치된다"는 것은 별도의 접착 부재를 이용하여 부착하는 것을 제외하며 연속 공정에 의해 형성된 것을 의미한다.
베이스층(BS)은 버퍼층일 수 있다. 버퍼층은 무기층 또는 유기층일 수 있다. 무기층은 실리콘 나이트라이드, 실리콘 옥시 나이트라이드, 실리콘 옥사이드, 티타늄옥사이드 또는 알루미늄옥사이드 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 유기층은 고분자, 예를 들어 아크릴 계열 유기층을 포함할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로 이에 제한되는 것은 아니다. 도 2b에서는 베이스층(BS)이 별개의 구성인 것으로 설명하였으나, 베이스층(BS)은 박막 봉지층(ECL)에 포함되는 구성일 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛(TSU)을 간략히 도시한 평면도이다.
도 2a 및 도 3을 참조하면, 베이스층(BS)은 제1 영역(AR1), 제1 영역(AR1) 외곽의 제2 영역(AR2) 및 제2 영역(AR2) 외곽의 제3 영역(SA)을 포함할 수 있다. 제2 영역(AR2)은 제1 영역(AR1)을 둘러싸고, 제3 영역(SA)은 제2 영역(AR2)을 둘러쌀 수 있다. 즉, 제1 영역(AR1)과 제3 영역(SA) 사이에 제2 영역(AR2)이 배치될 수 있다. 제1 영역(AR1)과 제2 영역(AR2)은 센싱 영역(TA)이라 지칭될 수 있고, 제3 영역(SA)은 주변 영역(SA)이라 지칭될 수 있다.
센싱 유닛(TSU)은 복수의 센서 패턴들(PP), 연결 패턴들(CP), 복수의 구동 라인들(SL), 및 패드부(PD)를 포함할 수 있다.
복수의 센서 패턴들(PP) 및 복수의 연결 패턴들(CP)은 센싱 영역(TA)에 배치될 수 있다. 센싱 영역(TA)은 센서 패턴들(PP) 및 복수의 연결 패턴들(CP)이 배치된 영역과 센서 패턴들(PP) 및 복수의 연결 패턴들(CP)이 배치되지 않은 영역 사이의 경계(BL)에 의해 둘러싸이는 영역으로 정의될 수 있다. 또는 센싱 영역(TA)은 전기적 신호에 따라 활성화되는 활성화 영역으로 정의될 수 있다.
복수의 센서 패턴들(PP)은 제1 방향(DR1)을 따라 배열된 복수의 제1 센서 패턴들(PP1) 및 제2 방향(DR2)을 따라 배열된 복수의 제2 센서 패턴들(PP2)을 포함할 수 있다. 복수의 제1 센서 패턴들(PP1) 및 복수의 제2 센서 패턴들(PP2) 각각은 제1 영역(AR1) 및 제2 영역(AR2) 모두에 배치될 수 있다. 복수의 연결 패턴들(CP)은 복수의 제1 센서 패턴들(PP1) 중 서로 인접한 제1 센서 패턴들 및 복수의 제2 센서 패턴들(PP2) 중 서로 인접한 제2 센서 패턴들을 연결할 수 있다. 예컨대, 상기 서로 인접한 제1 센서 패턴들은 제1 방향(DR1)으로 이격된 제1 센서 패턴들일 수 있고, 상기 서로 인접한 제2 센서 패턴들은 제2 방향(DR2)으로 이격된 제2 센서 패턴들일 수 있다.
복수의 연결 패턴들(CP)은 제1 연결 패턴들(CP1) 및 제2 연결 패턴(CPS3)을 포함할 수 있다. 제1 연결 패턴들(CP1)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2) 각각으로 소정 간격 이격되며 규칙적으로 배열될 수 있다.
제1 연결 패턴들(CP1)은 중심 연결 패턴(CPC), 제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 및 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)을 포함할 수 있다. 제2 연결 패턴(CPS3)은 이하 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)이라 지칭된다.
중심 연결 패턴(CPC)은 제1 영역(AR1)에 배치되고, 제1 내지 제3 외곽 연결 패턴들(CPS1, CPS2, CPS3)은 제2 영역(AR2)에 배치될 수 있다. 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)은 중심 연결 패턴(CPC)으로부터 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치되고, 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)은 중심 연결 패턴(CPC)으로부터 제2 방향(DR2)으로 이격되어 배치될 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)은 중심 연결 패턴(CPC)으로부터 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2) 각각과 교차하는 제4 방향(DR4)으로 이격되어 배치될 수 있다.
제2 영역(AR2)과 제3 영역(SA)의 경계(BL), 즉, 센싱 영역(TA)과 주변 영역(SA)의 경계(BL)는 라운드진 곡선 경계들(C_BL1, C_BL2)을 포함할 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)은 라운드진 곡선 경계들(C_BL1, C_BL2) 중 어느 하나와 제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2) 및 중심 연결 패턴(CPC)에 의해 둘러싸일 수 있다.
본 발명의 실시예에서는, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 위치를 조정하여 정전기에 의해 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 예를 들어, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)을 라운드진 곡선 경계들(C_BL1, C_BL2)로부터 멀어지는 방향으로 이격시켜 배치시킬 수 있다. 이에 대한 구체적인 설명은 이하 도 6a 내지 도 6c에서 설명된다.
복수의 구동 라인들(SL)은 복수의 제1 센서 패턴들(PP1)에 연결된 제1 구동 라인들(SL1) 및 복수의 제2 센서 패턴들(PP2)에 연결된 제2 구동 라인들(SL2)을 포함할 수 있다. 복수의 구동 라인들(SL)은 제3 영역(SA)에 배치될 수 있다.
복수의 센서 패턴들(PP), 복수의 연결 패턴들(CP), 및 복수의 구동 라인들(SL) 각각은 도전 물질을 포함할 수 있다. 복수의 센서 패턴들(PP), 복수의 연결 패턴들(CP), 및 복수의 구동 라인들(SL) 각각은 단층 또는 다층구조를 가질 수 있다.
복수의 센서 패턴들(PP), 복수의 연결 패턴들(CP), 및 복수의 구동 라인들(SL) 각각은 투명한 전도성 산화물(transparent conductive oxide)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 센서 패턴들(PP), 복수의 연결 패턴들(CP), 및 복수의 구동 라인들(SL) 각각은 인듐아연 산화물(IZO), 인듐주석 산화물(ITO), 인듐갈륨 산화물(IGO), 인듐아연갈륨 산화물(IGZO), 및 이들의 혼합물/화합물 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
한편, 복수의 센서 패턴들(PP), 복수의 연결 패턴들(CP), 및 복수의 구동 라인들(SL) 각각은 금속층, 예컨대, 몰리브덴, 은, 티타늄, 구리, 알루미늄, 또는 이들의 합금을 포함할 수 있다. 복수의 센서 패턴들(PP), 및 복수의 구동 라인들(SL)은 동일한 층구조를 갖거나, 다른 층구조를 가질 수 있다.
복수의 센서 패턴들(PP)이 금속층을 포함할 때, 복수의 센서 패턴들(PP)은 메탈 메쉬 구조를 포함할 수 있다. 이에 따라, 복수의 센서 패턴들(PP)이 불투명한 물질로 구성되더라도, 복수의 센서 패턴들(PP)이 외부에서 시인 될 가능성이 감소될 수 있다.
패드부(PD)는 복수의 구동 라인들(SL)에 전기적으로 연결될 수 있다. 패드부(PD)는 제3 영역(SA)에 배치될 수 있다. 패드부(PD)는 외부의 구동 회로(미도시)로부터 전기적 신호를 제공받아 복수의 구동 라인들(SL)로 전달하거나, 센싱 영역(TA)에서 발생된 외부 터치 감지 신호를 구동 회로로 전달할 수 있다. 하지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 예컨대 상기 외부의 구동 회로(미도시)는 베이스층(BS)에 실장될 수도 있다.
도 4a는 도 3의 AA' 영역을 확대하여 도시한 평면도이고, 도 4b는 도 4a의 I-I'를 따라 자른 단면도이다. 도 4a는 제1 영역(AR1, 도 3 참조)의 중심 연결 패턴(CPC)이 배치된 영역을 확대하여 도시한 것이다. 제1 외곽 연결 패턴(CPS1, 도 3 참조), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2, 도 3 참조), 및 제3 외곽 연결 패턴(CPS3, 도 3 참조) 각각은 중심 연결 패턴(CPC)과 실질적으로 동일한 구조를 가질 수 있다. 따라서, 이하에서는 중심 연결 패턴(CPC)에 대해서만 설명되고, 제1 외곽 연결 패턴(CPS1, 도 3 참조), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2, 도 3 참조), 및 제3 외곽 연결 패턴(CPS3, 도 3 참조)에 대한 설명은 생략된다.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 중심 연결 패턴(CPC)은 제1 중심 연결부(CPC1) 및 제2 중심 연결부(CPC2)를 포함할 수 있다.
제1 중심 연결부(CPC1)는 제1 방향(DR1)을 따라 연장된다. 제1 중심 연결부(CPC1)는 제1 방향(DR1)으로 인접한 제1 센서 패턴들(PP1) 사이에 배치되어 제1 센서 패턴들(PP1)을 서로 전기적으로 연결할 수 있다. 제1 중심 연결부(CPC1)는 제1 센서 패턴들(PP1)과 동시에 형성될 수 있고, 이 경우, 제1 중심 연결부(CPC1)와 제1 센서 패턴들(PP1)은 서로 일체의 형상으로 동일한 물질을 포함할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로 제1 중심 연결부(CPC1)와 제1 센서 패턴들(PP1)은 별도의 공정으로 형성되어 서로 다른 물질을 포함할 수도 있다.
제2 중심 연결부(CPC2)는 제2 방향(DR2)을 따라 연장한다. 제2 중심 연결부(CPC2)는 제1 중심 연결부(CPC1)와 절연 교차한다. 제2 중심 연결부(CPC2)는 제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 센서 패턴들(PP2) 사이에 배치되어 제2 센서 패턴들(PP2)을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
복수의 제1 센서 패턴들(PP1), 복수의 제2 센서 패턴들(PP2), 및 제1 중심 연결부(CPC1)는 동일한 층상에 배치될 수 있다. 제2 중심 연결부(CPC2)는 절연패턴(IL)을 사이에 두고 제1 중심 연결부(CPC1)로부터 제3 방향(DR3)으로 이격되어 배치될 수 있다. 절연패턴(IL)은 아일랜드 형태로 제1 중심 연결부(CPC1)와 제2 중심 연결부(CPC2)가 교차하는 영역마다 배치될 수 있다.
도 4a에서는 제2 중심 연결부(CPC2)가 제2 방향(DR2)을 따라 연장하는 것을 예시적으로 도시하였으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 예컨대, 제2 중심 연결부(CPC2)는 제2 방향(DR2)으로부터 기울어진 방향으로 연장하며 제2 방향(DR2)으로 인접하는 제2 센서 패턴들(PP2)을 전기적으로 연결할 수도 있다.
도 5a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 AA' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이고, 도 5b는 도 5a의 II-II'를 따라 자른 단면도이다. 도 5a 및 도 5b를 설명함에 있어서, 도 1 내지 도 4b에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 중심 연결 패턴(CPCa)은 제1 중심 연결부(CPC1) 및 제2 중심 연결부(CPC2a)를 포함할 수 있다.
복수의 제1 센서 패턴들(PP1), 복수의 제2 센서 패턴들(PP2), 및 제1 중심 연결부(CPC1)는 동일한 층상에 배치될 수 있다. 제2 중심 연결부(CPC2a)는 절연층(IL-1)을 사이에 두고 제1 중심 연결부(CPC1)로부터 제3 방향(DR3)으로 이격되어 배치될 수 있다.
절연층(IL-1)은 복수의 제1 센서 패턴들(PP1), 복수의 제2 센서 패턴들(PP2), 및 제1 중심 연결부(CPC1)를 커버하는 층으로 제공될 수 있다. 이에 따라, 복수의 제1 센서 패턴들(PP1), 복수의 제2 센서 패턴들(PP2), 및 제1 중심 연결부(CPC1)는 절연층(IL-1) 및 베이스층(BS) 사이에 배치될 수 있다. 제2 중심 연결부(CPC2a)는 절연층(IL-1)에 정의된 관통홀들(CH)을 통해 절연층(IL-1)을 관통하여 인접하는 제2 센서 패턴들(PP2) 각각에 접속될 수 있다.
도 5c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 도시한 단면도이다. 도 5c에는 용이한 설명을 위해 도 5b와 대응되는 영역을 도시하였다.
도 5c를 참조하면, 중심 연결 패턴(CPCb)은 제1 중심 연결부(CPC1a) 및 제2 중심 연결부(CPC2b)를 포함할 수 있다. 도 5c는 도 5b와 비교하였을 때, 제2 중심 연결부(CPC2b)의 위치에 차이가 있다. 제2 중심 연결부(CPC2b)는 절연층(IL-1) 아래에 배치될 수 있다. 복수의 제1 센서 패턴들(미도시), 복수의 제2 센서 패턴들(PP2a), 및 제1 중심 연결부(CPC1a)는 절연층(IL-1) 상에 배치될 수 있다. 복수의 제2 센서 패턴들(PP2a) 중 제2 방향(DR2)으로 서로 인접하는 두 개의 제2 센서 패턴들(PP2a)은 관통홀들(CH)을 통해 하부의 제2 중심 연결부(CPC2b)에 각각 접속될 수 있다.
도 6a는 도 3의 BB' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. BB'은 제1 곡선 경계(C_BL1)가 배치된 부분을 확대하여 도시한 것이다. 도 6a를 설명함에 있어서, 앞서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 6a를 참조하면, 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)의 중심(Csp1)은 중심 연결 패턴(CPC)의 중심(Ccp)으로부터 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치되고, 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)의 중심(Csp2)은 중심 연결 패턴(CPC)의 중심(Ccp)으로부터 제2 방향(DR2)으로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 중심은 평면 상에서 연결 패턴의 길이 및 폭 방향의 중심을 의미할 수 있다.
도 6a에는 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)의 중심(Csp1)으로부터 제2 방향(DR2)으로 연장하는 제1 가상선(IML1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)의 중심(Csp2)으로부터 제1 방향(DR1)으로 연장하는 제2 가상선(IML2), 및 제1 가상선(IML1) 및 제2 가상선(IML2)이 교차하는 교차점(CRP)이 도시된다.
제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 중심(Csp3)은 교차점(CRP)과 비중첩할 수 있다. 예컨대, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)은 교차점(CRP)으로부터 제1 영역(AR1)을 향하는 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)은 교차점(CRP)으로부터 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)과 교차하는 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2) 사이의 소정의 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 따라서, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 중심(Csp3)은 제1 가상선(IML1) 및 제2 가상선(IML2)과 비중첩할 수 있다. 예컨대, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 중심(Csp3)은 교차점(CRP), 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)의 중심(Csp1), 중심 연결 패턴(CPC)의 중심(Ccp), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)의 중심(Csp2), 및 교차점(CRP)을 순차적으로 잇는 직선들에 둘러싸인 영역 내에 배치될 수 있다.
센싱 영역(TA)과 주변 영역(SA)의 경계(BL, 도 3 참조)는 네 개의 직선 경계들과 네 개의 직선 경계들 각각을 이어주는 라운드 진 4 개의 곡선 경계들을 포함할 수 있따. 특히, 경계(BL, 도 3 참조)는 복수의 구동 라인들(SL)과 인접하게 배치된 제1 곡선 경계(C_BL1)를 갖는다. 복수의 구동 라인들(SL)은 제1 곡선 경계(C_BL1)에 인접하게 배치되어, 제1 곡선 경계(C_BL1)를 따라 연장할 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)은 제1 곡선 경계(C_BL1)를 사이에 두고 구동 라인들(SL)과 서로 마주할 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴(CPS3)과 복수의 구동 라인들(SL) 중 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제1 거리(DT1)이고, 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)과 복수의 구동 라인들(SL) 중 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제2 거리(DT2)이고, 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)과 복수의 구동 라인들(SL) 중 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제3 거리(DT3)라 정의한다. 제1 내지 제3 거리(DT1, DT2, DT3)는 모두 1mm 이상, 10mm 이하의 값을 가질 수 있다.
이하, 표 1은 ESD(electrostatic discharge) 테스트에 따른 결과를 기재한 표이다. 전자 장치(EA, 도 1 참조)의 소정의 포인트에 전압을 인가하여, 연결 패턴의 파손 여부를 테스트한 것이다. 설명의 이해를 돕기 위해, 도 1에 10 개의 소정의 포인트(TP, 도 1 참조)를 점선으로 도시하였다. 표 1은 10 개의 포인트(TP, 도 1 참조)에 인가 전압의 극성을 바꿔가며 5회씩 테스트한 것이다. 예를 들어, 15Kv의 전압을 10 개의 포인트(TP, 도 1 참조) 각각에 5회씩 인가하고, -15Kv의 전압을 10 개의 포인트(TP, 도 1 참조) 각각에 5회씩 인가하며 테스트한 것이다. 연결 패턴이 정전기에 의해 파손된 경우 "F"로 나타내었고, 연결 패턴이 파손되지 않은 경우 "O" 로 나타내었다.
인가 전압[kV] 구동 라인과 연결 패턴까지의 이격 거리
1mm 이하 1mm이상
13 O O
15 F O
17 F O
상기 표 1을 참조하면, 구동 라인과 연결 패턴까지의 이격 거리가 1mm 이상인 경우, 13kV, 15kV, 및 17kV를 인가하는 테스트를 모두 통과한 것을 확인할 수 있다. 따라서, 정전기에 의해 연결 패턴이 파손되는 것을 방지하기 위해 제1 내지 제3 거리(DT1, DT2, DT3)는 모두 1mm 이상일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 제1 거리(DT1)는 제2 거리(DT2) 및 제3 거리(DT3) 중 더 작은 값보다 크거나 같은 값을 가질 수 있다. 따라서, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)으로 전하가 집중되는 현상이 방지될 수 있고, 그 결과 정전기에 의해 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)이 파손될 확률이 감소될 수 있다.
본 발명의 실시예와 달리, 제3 외곽 연결 패턴이 제1 연결 패턴들(CP1)과 동일한 피치로 배열되며 규칙적으로 배열된 경우, 제3 외곽 연결 패턴은 교차점(CRP)에 배치될 수 있다. 교차점(CRP)과 제1 곡선 경계(C_BL1) 사이의 최소 거리는 교차점(CRP) 외에 배치된 연결 패턴과 경계(BL, 도 3 참조) 사이의 최소 거리보다 짧다. 따라서, 소정의 영역에 축적된 전하가 구동 라인들(SL)을 타고 이동하여 교차점(CRP)에 위치한 연결 패턴에 집중될 수 있다. 이 경우, 교차점(CRP)에 위치한 연결 패턴은 파손될 수 있다. 본 발명의 실시예에에서는 전하가 하나의 연결 패턴에 집중되어 파손되는 것을 방지하기 위해 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 위치를 조정할 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴(CPS3)을 교차점(CRP)으로부터 제1 곡선 경계(C_BL1)에 대해 멀어지는 방향으로 이격시켜 배치시킴에 따라, 전하가 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)에 집중되는 현상이 방지되어 제품 신뢰성이 향상될 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴(CPS3)의 위치가 조정됨에 따라, 복수의 제1 센서 패턴들(PP1) 및 복수의 제2 센서 패턴들(PP2) 중 제3 외곽 연결 패턴(CPS3)에 의해 서로 연결되는 제1 센서 패턴들 및 제2 센서 패턴들의 형상은 도 6a에 도시된 바와 같이 다른 제1 센서 패턴들 및 제2 센서 패턴들의 형상과 상이할 수 있다.
도 6b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 BB' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이고, 도 6c는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 BB' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 6b를 참조하면, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3a)의 중심(Csp3a)은 교차점(CRP)과 비중첩할 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3a)은 교차점(CRP)으로부터 제2 방향(DR2)으로 이격되어 배치될 수 있다. 구체적으로, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3a)의 중심(Csp3a)은 교차점(CRP)과 제1 외곽 연결 패턴(CPS1) 사이의 제1 가상선(IML1) 상에 배치될 수 있다.
도 6c를 참조하면, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3b)의 중심(Csp3b)은 교차점(CRP)과 비중첩할 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(CPS3b)은 교차점(CRP)으로부터 제1 방향(DR1)으로 이격되어 배치될 수 있다. 구체적으로, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3b)의 중심(Csp3b)은 교차점(CRP)과 제2 외곽 연결 패턴(CPS2) 사이의 제2 가상선(IML2) 상에 배치될 수 있다.
도 6b 및 도 6c와 같이, 제3 외곽 연결 패턴들(CPS3a, CPS3b) 각각은 교차점(CRP)으로부터 제1 곡선 경계(C_BL1)로부터 멀어지는 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 따라서, 외부로부터 유입된 전하가 제3 외곽 연결 패턴들(CPS3a, CPS3b)에 집중되어 제3 외곽 연결 패턴들(CPS3a, CPS3b)이 파손될 확률이 감소될 수 있다.
도 7a는 도 3의 CC' 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. CC'는 제2 곡선 경계(C_BL2)가 배치된 부분을 확대하여 도시한 것이다. 도 7a를 설명함에 있어서, 앞서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 7a를 참조하면, 중심 연결 패턴(CPC), 제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2) 및 제4 외곽 연결 패턴(CPS4)이 도시된다. 제4 외곽 연결 패턴(CPS4)은 제2 곡선 경계(C_BL2)와 중심 연결 패턴(CPC) 사이에 배치될 수 있다. 제2 곡선 경계(C_BL2)에는 복수의 구동 라인들(SL, 도 3 참조)이 인접하지 않을 수 있다.
도 7a에는 제1 외곽 연결 패턴(CPS1)의 중심(Csp1)으로부터 제2 방향(DR2)으로 연장하는 제1 가상선(IML1a), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2)의 중심(Csp2)으로부터 제1 방향(DR1)으로 연장하는 제2 가상선(IML2a), 및 제1 가상선(IML1a) 및 제2 가상선(IML2a)이 교차하는 교차점(CPRa)이 도시된다.
제4 외곽 연결 패턴(CPS4)의 중심(Csp4)은 교차점(CPRa)과 비중첩할 수 있다. 예컨대, 제4 외곽 연결 패턴(CPS4)은 교차점(CPRa)으로부터 제1 영역(AR1)을 향하는 방향으로 이격되어 배치될 수 있다.
제4 외곽 연결 패턴(CPS4)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)과 교차하는 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2) 사이의 소정의 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 하지만, 이에 제한되는 것은 아니고 도 6b 및 도 6c에 설명한 것과 유사하게, 제4 외곽 연결 패턴(CPS4)의 중심(Csp4)은 교차점(CRPa)과 제1 외곽 연결 패턴(CPS1) 사이의 제1 가상선(IML1a) 상에 배치되거나, 교차점(CRPa)과 제2 외곽 연결 패턴(CPS2) 사이의 제2 가상선(IML2a) 상에 배치될 수 있다.
즉, 센싱 영역(TA)에 배치된 연결 패턴들(CP, 도 3 참조) 및 센서 패턴들(PP, 도 3 참조) 각각은 센싱 영역(TA)의 중심(TA_c)을 관통하며 제1 방향(DR1)으로 연장하는 기준선(SD1, 도 3 참조) 및 센싱 영역(TA)의 중심(TA_c)을 관통하며 제2 방향(DR2)으로 연장하는 기준선(SD2, 도 3 참조) 각각에 대해 서로 대칭적인 형상을 가질 수 있다.
도 7b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 도 3의 CC' 영역과 대응하는 부분을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 7b를 설명함에 있어서, 앞서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 7b를 참조하면, 중심 연결 패턴(CPC), 제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2) 및 제4 외곽 연결 패턴(CPS4a)이 도시된다. 제4 외곽 연결 패턴(CPS4a)은 제2 곡선 경계(C_BL2)와 중심 연결 패턴(CPC) 사이에 배치될 수 있다. 제4 외곽 연결 패턴(CPS4a)의 중심(Csp4a)은 교차점(CRPa)과 중첩할 수 있다.
복수의 구동 라인들(SL, 도 3 참조)에 축적된 전하는 순식간으로 연결 패턴으로 이동할 수 있고, 그 결과 전하의 집중에 의해 연결 패턴이 열화되어 데미지를 입을 수 있다. 하지만, 제4 외곽 연결 패턴(CPS4a)과 인접한 제2 곡선 경계(C_BL2) 근처에는 복수의 구동 라인들(SL, 도 3 참조)이 배치되지 않을 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따르면 곡선 경계를 사이에 두고 복수의 구동 라인들(SL, 도 2 참조)과 마주하는 외곽 연결 패턴, 예컨대, 제3 외곽 연결 패턴(CPS3, 도 3 참조),의 위치만을 조정하고, 곡선 경계를 사이에 두고 복수의 구동 라인들(SL, 도 2 참조)과 마주하지 않는 외곽 연결 패턴, 예컨대, 제4 외곽 연결 패턴(CPS4a),은 중심 연결 패턴(CPC)과 같이 동일한 피치로 규칙적으로 배열될 수도 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛(TSUa)을 간략히 도시한 평면도이다. 도 8을 설명함에 있어서, 앞서 도 3에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 8을 참조하면, 센싱 유닛(TSUa)은 제3 영역(SA)에 배치된 2 개의 도전 라인들(EBL1, EBL2)을 더 포함할 수 있다. 도전 라인들(EBL1, EBL2) 각각에는 그라운드 전압이 인가되어 정전기에 의해 센싱 유닛(TSUa)이 손상되는 것을 방지할 수 있다.
도전 라인들(EBL1, EBL2)은 센싱 영역(TA)을 사이에 두고 서로 마주하며 배치될 수 있다. 도전 라인들(EBL1, EBL2) 각각은 별도로 구비된 패드를 통해 그라운드 전압을 수신할 수 있다. 다만, 이에 제한되는 것은 아니다. 예컨대, 도전 라인들(EBL1, EBL2)은 서로 연결되어 일체로 제공될 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛의 구성 중 일부를 간략히 도시한 평면도이다. 도 9는 도 3에 도시된 베이스층(BS)과 연결 패턴들(CP)만을 간략히 도시한 것이다. 특히, 시인성을 향상시키기 위해 연결 패턴들(CP) 중 일부를 확대하여 도시하였다.
도 3 및 도 9를 참조하면, 복수의 연결 패턴들(CP)은 M X N(M 및 N은 1 이상의 정수)의 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 도 9에서는, 5 X 4 의 매트릭스 형태를 일 예로 도시하였으나, 본 발명이 이에 제한되는 것은 아니다.
복수의 연결 패턴들(CP) 중 1 행 2열 내지 1행 N-1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제1 선(LN1), 복수의 연결 패턴들(CP) 중 M 행 2열 내지 M행 N-1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제2 선(LN2), 복수의 연결 패턴들(CP) 중 2행 1 열 내지 M-1행 1 열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제3 선(LN3), 복수의 연결 패턴들(CP) 중 2행 N 열 내지 M-1행 N열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제4 선(LN4)이 도시된다. 제1 선(LN1)과 제3 선(LN3)이 교차하는 지점을 제1 교차점(CS1), 제1 선(LN1)과 제4 선(LN4)이 교차하는 지점을 제2 교차점(CS2), 제2 선(LN2)과 제3 선(LN3)이 교차하는 지점을 제3 교차점(CS3), 제2 선(LN2)과 제4 선(LN4)이 교차하는 지점을 제4 교차점(CS4)이라 정의한다.
도면 상에 점선으로 도시한, M행 1열 및 M행 N열에 배치된 제3 외곽 연결 패턴 그룹(CPS3g)의 연결 패턴 및 1행 1열 및 1행 N열에 배치된 제4 외곽 연결 패턴 그룹(CPS4g)의 연결 패턴은 제1 교차점(CS1), 제2 교차점(CS2), 제3 교차점(CS3), 및 제4 교차점(CS4)에 배치되지 않을 수 있다. 구체적으로, 구동 라인들(SL)과 센싱 영역(TA) 사이에 정의된 제1 곡선 경계(C_BL1)와 인접한 제3 외곽 연결 패턴 그룹(CPS3g)의 연결 패턴은 제3 및 제4 교차점들(CS3, CS4)에 배치되지 않을 수 있다. 하지만, 제2 곡선 경계(C_BL2)와 인접한 제4 외곽 연결 패턴 그룹(CPS4g)의 연결 패턴은 제1 및 제2 교차점들(CS1, CS2)에 배치될 수도 있다.
제3 외곽 연결 패턴 그룹(CPS3g) 및 제4 외곽 연결 패턴 그룹(CPS4g)에 각각 도시된 점선의 연결 패턴들은 점선의 연결 패턴들이 모두 그 위치에 배치되었다는 것을 의미하지 않고, 설명을 위해 도시한 것이다. 예컨대, 1 행 1열에 배치되는 연결 패턴은 제4 외곽 연결 패턴 그룹(CPS4g)에 점선으로 도시된 4 개의 연결 패턴들 중 어느 하나의 위치에 배치될 수 있다. 또한, M행 1 열에 배치되는 연결 패턴은 제3 외곽 연결 패턴 그룹(CPS3g)에 점선으로 도시된 3 개의 연결 패턴들 중 어느 하나의 위치에 배치될 수 있다.
제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2), 및 중심 연결 패턴(CPC)은 제1 방향(DR1)으로 제1 피치(PC1)의 간격을 갖고, 제2 방향(DR2)으로 제2 피치(PC2)의 간격을 가지며 서로 이격되어 배치될 수 있다. 규칙적인 간격으로 배열된 제1 외곽 연결 패턴(CPS1), 제2 외곽 연결 패턴(CPS2), 및 중심 연결 패턴(CPC)은 제1 연결 패턴들(CP1)로 지칭될 수 있다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 제2 피치(PC2)의 간격은 센싱 영역(TA)의 제2 방향(DR2)의 폭을 제2 방향(DR2)으로 배열되는 채널의 개수로 나눈 값에 대응될 수 있다. 구체적으로 설명하면, 제1 방향(DR1)으로 배열된 제1 센서 패턴(PP1)을 제1 채널로 정의하고, 상기 제1 채널은 복수로 제공될 수 있고, 복수로 제공된 상기 제1 채널은 제2 방향(DR2)을 따라 배열될 수 있다. 도 8에서는 상기 제1 채널이 4개인 것을 예시적으로 도시하였다. 즉, 제2 피치(PC2)의 간격은 센싱 영역(TA)의 제2 방향(DR2)의 폭을 제2 방향(DR2)으로 배열된 제1 센서 패턴(PP1)의 수로 나눈 값과 동일할 수 있다.
제1 피치(PC1)의 간격은 센싱 영역(TA)의 제1 방향(DR1)의 폭을 제1 방향(DR1)으로 배열되는 채널의 개수로 나눈 값에 대응될 수 있다. 구체적으로 설명하면, 제2 방향(DR2)으로 배열된 제2 센서 패턴(PP2)을 제2 채널로 정의하고, 상기 제2 채널은 복수로 제공될 수 있고, 복수로 제공된 상기 제2 채널은 제1 방향(DR1)을 따라 배열될 수 있다. 도 8에서는 상기 제2 채널이 5개인 것을 예시적으로 도시하였다. 즉, 제1 피치(PC1)의 간격은 센싱 영역(TA)의 제1 방향(DR1)의 폭을 제1 방향(DR1)으로 배열된 제2 센서 패턴(PP2)의 수로 나눈 값과 동일할 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴 그룹(CPS3g)의 제3 외곽 연결 패턴(C3x, C3y, 또는 C3z) 및 제4 외곽 연결 패턴 그룹(CPS4g)의 제4 외곽 연결 패턴(C4w, C4x, C4y, 또는 C4z)은 제1 연결 패턴들(CP1)과 달리 불규칙적으로 배열될 수 있다. 따라서, 제3 외곽 연결 패턴(C3x, C3y, 또는 C3z) 및 제4 외곽 연결 패턴(C4w, C4x, C4y, 또는 C4z)은 제2 연결 패턴(CP2)으로 지칭될 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴(C3x)과 제3 교차점(CS3) 사이의 제1 간격(MD1)은 제1 피치(PC1)의 1/10이상일 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(C3y)과 제3 교차점(CS3) 사이의 제2 간격(MD2)은 제2 피치(PC2)의 1/10 이상일 수 있다. 제3 외곽 연결 패턴(C3z)은 제3 교차점(CS3)으로부터 제1 방향(DR1)으로 제1 간격(MD1), 제2 방향(DR2)으로 제2 간격(MD2)만큼 이격되어 배치될 수 있다.
제3 외곽 연결 패턴(C3x, C3y, 또는 C3z) 및 제3 외곽 연결 패턴(C3x, C3y, 또는 C3z)에 가장 인접한 제1 연결 패턴(CP1) 사이의 최소 피치(mPC1, mPC2, 또는 mPC3)는 상기 제1 피치(PC1) 및 제2 피치(PC2)와 상이할 수 있다. 예컨대, 상기 최소 피치(mPC1, mPC2, 또는 mPC3)는 제1 피치(PC1) 및 제2 피치(PC2)보다 작을 수 있다.
도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(EAa)의 사용 상태를 도시한 사시도이고, 도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 유닛(TSUb)을 간략히 도시한 평면도이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 전자 장치(EAa)의 일 예로써 손목에 착용하는 웨어러블 전자 장치를 예시적으로 도시하였다. 전자 장치(EAa)는 원형의 활성화 영역을 가질 수 있다.
베이스층(BSa)은 센싱 영역(TAa) 및 주변 영역(SAa)을 포함할 수 있다. 센싱 영역(TAa)은 원형의 형상을 가질 수 있다. 따라서, 센싱 영역(TAa)과 주변 영역(SAa)의 경계(BLa)는 원 형상을 가질 수 있다.
센싱 영역(TAa)에는 외부에서 인가되는 터치를 감지하는 복수의 센서 패턴들(PPa) 및 복수의 센서 패턴들(PPa) 중 인접한 센서 패턴들을 연결하는 연결 패턴들(CPa)을 포함할 수 있다.
연결 패턴들(CPa)은 M x N (M 및 N 은 1 이상의 정수)의 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 그 중, 1행 1열, 1행 N열, M행 1열 및 M행 N열에 배치된 연결 패턴들은 규칙적으로 배열되었을 때 연결 패턴이 배치될 위치(CS)로부터 경계(BLa)에서 멀어지는 방향으로 이격되어 배치될 수 있다. 따라서, 외부로부터 유입된 전하가 특정 연결 패턴에 집중되어, 특정 연결 패턴이 파손되는 확률이 감소될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
BS: 베이스층 AR1: 제1 영역
AR2: 제2 영역 SA: 제3 영역
PP: 복수의 센서 패턴들 CP: 연결 패턴들
SL: 복수의 구동 라인들 PD: 패드부
CPC: 중심 연결 패턴 CPS1: 제1 외곽 연결 패턴
CPS2: 제2 외곽 연결 패턴 CPS3: 제3 외곽 연결 패턴
CPS4: 제4 외곽 연결 패턴

Claims (20)

  1. 제1 영역, 상기 제1 영역 외곽의 제2 영역 및 상기 제2 영역 외곽의 제3 영역을 포함하는 베이스층; 및
    상기 제1 영역 및 상기 제2 영역에 배치된 복수의 센서 패턴들 및 상기 복수의 센서 패턴들 중 서로 인접한 센서 패턴들을 연결하며 상기 제1 영역에 배치된 중심 연결 패턴 및 상기 제2 영역에 배치된 제1 내지 제3 외곽 연결 패턴들을 포함하는 복수의 연결 패턴들을 포함하는 센싱 유닛을 포함하고,
    상기 제1 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 제1 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제2 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제3 외곽 연결 패턴은 상기 중심 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향과 교차하는 제3 방향으로 이격되어 배치되고, 상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 외곽 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제2 방향으로 연장하는 제1 가상선 및 상기 제2 외곽 연결 패턴의 중심으로부터 상기 제1 방향으로 연장하는 제2 가상선이 교차하는 제1 교차점과 비중첩되고,
    상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 라운드진 제1 곡선 경계를 포함하고,
    상기 복수의 센서 패턴들 중 상기 제3 외곽 연결 패턴에 직접 연결된 센서 패턴의 엣지는 상기 제1 곡선 경계와 중첩하는 전자 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 센싱 유닛은 상기 제3 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 상기 경계에 인접한 센서 패턴들에 연결되는 복수의 구동 라인들을 더 포함하고,
    상기 복수의 구동 라인들은 상기 제1 곡선 경계에 인접하게 배치되어, 상기 제1 곡선 경계를 따라 연장하고, 상기 제3 외곽 연결 패턴은 상기 제1 곡선 경계를 사이에 두고 상기 복수의 구동 라인들과 마주하는 전자 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제3 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 거리는 1mm 이상인 전자 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제3 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제1 거리이고,
    상기 제1 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제1 외곽 연결 패턴와 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제2 거리이고,
    상기 제2 외곽 연결 패턴과 상기 복수의 구동 라인들 중 상기 제2 외곽 연결 패턴과 가장 인접한 구동 라인 사이의 최단 거리는 제3 거리이고,
    상기 제1 거리는 상기 제2 거리 및 상기 제3 거리 중 더 작은 값보다 크거나 같은 값을 갖는 전자 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점과 상기 제1 외곽 연결 패턴 사이의 상기 제1 가상선 상에 배치되는 전자 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점과 상기 제2 외곽 연결 패턴 사이의 상기 제2 가상선 상에 배치되는 전자 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점, 상기 제1 외곽 연결 패턴, 상기 중심 연결 패턴, 상기 제2 외곽 연결 패턴, 및 상기 제1 교차점을 순차적으로 잇는 선들에 둘러싸인 영역 내에 배치되는 전자 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 중심 연결 패턴은 복수로 제공되고, 복수의 중심 연결 패턴들은 상기 제1 방향을 따라 제1 피치 및 상기 제2 방향을 따라 제2 피치로 이격되어 배치되는 전자 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제2 외곽 연결 패턴을 향하는 방향으로 상기 제1 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치되는 전자 장치.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제1 외곽 연결 패턴을 향하는 방향으로 상기 제2 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치되는 전자 장치.
  11. 제8 항에 있어서,
    상기 제3 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 교차점으로부터 상기 제1 방향으로 상기 제1 피치의 1/10 이상의 간격, 및 상기 제2 방향으로 상기 제2 피치의 1/10 이상의 간격으로 이격되어 배치되는 전자 장치.
  12. 제8 항에 있어서,
    상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 상기 제1 곡선 경계로부터 연장하는 직선 경계, 및 상기 직선 경계로부터 연장하며 라운드진 제2 곡선 경계를 더 포함하고,
    상기 복수의 연결 패턴들은 상기 제2 곡선 경계와 상기 중심 연결 패턴 사이에 배치된 제4 외곽 연결 패턴을 더 포함하는 전자 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 가상선과 상기 제2 가상선이 교차하는 제2 교차점과 중첩하는 전자 장치.
  14. 제12 항에 있어서,
    상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제1 가상선과 상기 제2 가상선이 교차하는 제2 교차점과 비중첩하고, 상기 제4 외곽 연결 패턴의 중심은 상기 제2 교차점, 상기 제1 외곽 연결 패턴, 상기 중심 연결 패턴, 상기 제2 외곽 연결 패턴, 및 상기 제2 교차점을 순차적으로 잇는 선들에 둘러싸인 영역 내에 배치되는 전자 장치.
  15. 제1 항에 있어서,
    상기 제2 영역과 상기 제3 영역의 경계는 원 또는 타원 형상을 갖는 전자 장치.
  16. 제1 항에 있어서,
    상기 베이스층 아래에 배치되어 영상을 표시하는 표시 패널을 더 포함하는 전자 장치.
  17. 센싱 영역 및 상기 센싱 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고, 상기 센싱 영역과 상기 주변 영역 사이의 경계는 곡선 경계를 포함하는 베이스층;
    상기 센싱 영역에 배치되며 제1 방향 및 제2 방향을 따라 배열된 복수의 센서 패턴들;
    상기 주변 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 상기 경계에 인접한 센서 패턴들에 연결되는 복수의 구동라인들; 및
    상기 센싱 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 서로 인접한 센서 패턴들을 연결하며 평면 상에서 상기 제1 방향으로 제1 피치, 상기 제2 방향으로 제2 피치의 간격으로 이격되어 배열된 제1 연결 패턴들 및 상기 제1 연결 패턴들과 상기 곡선 경계 사이에 배치되는 제2 연결 패턴을 포함하는 복수의 연결 패턴들을 포함하고,
    상기 제2 연결 패턴 및 상기 제1 연결 패턴들 중 상기 제2 연결 패턴에 가장 인접한 제1 연결 패턴 사이의 최소 피치는 상기 제1 피치 및 상기 제2 피치보다 작은 전자 장치.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 곡선 경계 및 상기 제2 연결 패턴 각각은 복수로 제공되고,
    상기 경계는 복수로 제공된 곡선 경계들을 서로 연결하는 직선 경계들을 더 포함하고,
    복수로 제공된 제2 연결 패턴들 각각은 상기 곡선 경계들 각각과 상기 제1 연결 패턴들 사이에 배치되는 전자 장치.
  19. 센싱 영역 및 상기 센싱 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하는 베이스층;
    상기 센싱 영역에 배치되는 복수의 센서 패턴들; 및
    상기 센싱 영역에 배치되며 상기 복수의 센서 패턴들 중 인접한 센서 패턴들을 연결하고, M x N (M 및 N 은 1 이상의 정수)의 매트릭스 형태로 배열되는 복수의 연결 패턴들을 포함하고,
    상기 센싱 영역 상에는 상기 복수의 연결 패턴들 중 1 행 2열 내지 1행 N-1열에 배치된 연결 패턴들 각각의 중심을 관통하며 연장하는 제1 선, 상기 복수의 연결 패턴들 중 M 행 2열 내지 M행 N-1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제2 선, 상기 복수의 연결 패턴들 중 2행 1 열 내지 M-1행 1열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제3 선, 및 상기 복수의 연결 패턴들 중 2행 N 열 내지 M-1행 N열에 배치된 연결 패턴들의 중심을 관통하며 연장하는 제4 선이 정의되고,
    상기 복수의 연결 패턴들 중 1행 1열, 1행 N열, M행 1열, 및 M행 N열에 배치된 연결 패턴들 각각과 상기 제1 선과 상기 제3 선이 교차하는 제1 교차점, 상기 제1 선과 상기 제4 선이 교차하는 제2 교차점, 상기 제2 선과 상기 제3 선이 교차하는 제3 교차점, 및 상기 제2 선과 상기 제4 선이 교차하는 제4 교차점 각각은 서로 비중첩하는 전자 장치.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 센싱 영역 및 상기 주변 영역의 경계는 라운드진 경계를 포함하고, 상기 라운드진 경계는 상기 제1 교차점, 상기 제2 교차점, 상기 제3 교차점, 및 상기 제4 교차점 중 적어도 어느 하나와 인접하고, 상기 1행 1열, 1행 N열, M행 1열, 및 M행 N열에 배치된 연결 패턴들 각각은 상기 제1 내지 제4 교차점들 각각으로부터 상기 라운드진 경계에 대해 멀어지는 방향으로 이격되어 배치되는 전자 장치.
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