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KR102583949B1 - 전기적 특성 검사 장치 - Google Patents

전기적 특성 검사 장치 Download PDF

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KR102583949B1
KR102583949B1 KR1020210042475A KR20210042475A KR102583949B1 KR 102583949 B1 KR102583949 B1 KR 102583949B1 KR 1020210042475 A KR1020210042475 A KR 1020210042475A KR 20210042475 A KR20210042475 A KR 20210042475A KR 102583949 B1 KR102583949 B1 KR 102583949B1
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South Korea
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pin block
inspection
inspected
circuit board
printed circuit
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KR1020210042475A
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Inventor
문득수
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주식회사 케이아이
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Abstract

전기적 특성 검사 장치가 제공된다. 이 전기적 특성 검사 장치는 피검사품이 안착되는 안착 홈을 갖는 안착 베이스, 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재, 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록, 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터, 및 핀 블록과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판을 포함한다.

Description

전기적 특성 검사 장치{Electric Characteristic Test Equipment}
본 발명은 전기적 특성 검사 장치에 관한 것으로, 더 구체적으로 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 구조를 갖는 전기적 특성 검사 장치에 관한 것이다.
최근 모바일 디바이스(mobile device) 시장의 성장에 따라, 외부 커넥터(connector), 칩(chip) 커넥터, 집적 회로(Integrated Circuit : IC) 칩 등의 전자 부품이 소형화되고, 사용 목적에 따라 그 구성 및 형태가 다양화되는 추세에 있다.
이와 같은 전자 부품이 정상적으로 작동하는지 알기 위해 후공정에서 검사에 사용되는 테스트 소켓(test socket) 등과 같은 장치가 전기적 특성 검사 장치이다.
이러한 테스트 소켓이 포함하는 테스트 핀(pin)을 기준으로 일측에는 직접 회로 칩 등의 검사하고자 하는 부품의 단자가 위치하고, 그리고 타측에는 테스트 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board : PCB)가 위치한다. 이때, 검사하고자 하는 부품의 단자와 테스트 인쇄 회로 기판은 테스트 소켓에 의해 전기적으로 연결되어 전기적 신호가 양방으로 교환 가능하게 된다.
이 경우, 검사하고자 하는 부품과 테스트 인쇄 회로 기판은 1:1로 연결되어야 하므로, 연결될 부품의 부위, 부품의 모양에 따라 테스트 소켓의 모양이 다양하게 결정된다. 따라서, 목적이 상이하거나 검사하고자 하는 부품의 모양이 다를 경우, 이에 적합한 서로 다른 테스트 소켓이 사용되어야 한다.
일반적으로 테스트 소켓은 검사하고자 하는 전자 부품과 테스트 소켓이 만나는 플로팅 블록(floating block), 플로팅 블록이 이탈되지 않도록 하면서 외부로 노출되도록 상방에서 지지해주는 커버(cover) 블록을 포함한다.
이렇게 구성된 테스트 소켓을 이용하여 전자 부품에 대한 검사를 하기 위해서는, 테스트 소켓의 상방에는 전자 부품을, 그리고 하방에는 테스트 인쇄 회로 기판을 위치시키고, 이들 각각의 단자를 전기적으로 연결해야 한다. 따라서, 검사하고자 하는 전자 부품이 안착되는 플로팅 블록의 중심부에는 관통공이 형성되고, 관통공은 테스트 소켓 전체에 대해서 상응하도록 형성되어 도전성 핀들이 이를 관통하도록 한다. 검사하고자 하는 전자 부품 및 테스트 인쇄 회로 기판의 전극들과 도전성 핀들이 일치하도록 정렬한 뒤, 상방에 위치한 전자 부품을 일정 이상의 힘으로 눌러 전기적 접촉을 발생시키는 방식으로 전자 부품을 검사한다.
그러나 테스트 소켓으로 전자 부품을 검사하기 위해 필요한 압착 정도에 대해서 쉽게 알 수 없으므로, 과압착이 일어나거나 필요한 만큼 압착을 하지 못하는 경우가 생긴다.
이러한 과압착은 검사하고자 하는 전자 부품의 전극들과 접촉하는 도전성 핀들을 파손시킬 수 있으며, 그리고 필요한 만큼 압착이 이루어지지 않으면 전자 부품에 대한 검사가 안정적으로 이루어질 수 없다.
대한민국 등록실용신안 제20-0471076호
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에 언급한 과제들에 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 전기적 특성 검사 장치를 제공한다. 이 전기적 특성 검사 장치는 피검사품이 안착되는 안착 홈을 갖는 안착 베이스, 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재, 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록, 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터, 및 핀 블록과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판을 포함할 수 있다.
누름 부재는 공압 실린더의 작동에 의해 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.
액추에이터는 전기 모터에 의해 구동되어 핀 블록을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다.
전기적 특성 검사 장치는 액추에이터와 검사용 인쇄 회로 기판 사이에 구비되어 핀 블록과 전기적으로 연결된 검사용 인쇄 회로 기판이 놓이는 승하강 베이스를 포함하되, 액추에이터는 승하강 베이스를 승강 및 하강시켜 핀 블록을 승강 및 하강 시킬 수 있다.
전기적 특성 검사 장치는 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함하되, 액추에이터의 구동에 의해 핀 블록이 승강 및 하강할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 안착 베이스(base)에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(actuator)를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것이 방지될 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 안착 베이스에 안착된 피검사품이 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것을 방지하는 동시에 전기적 특성 검사 장치의 구조가 단순해질 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사할 수 있으며, 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 동시에 구조가 단순화된 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.
도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이다.
도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 8 내지 도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술 되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 따라서, 동일한 참조 부호 또는 유사한 참조 부호들은 해당 도면에서 언급 또는 설명되지 않았더라도, 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다. 또한, 참조 부호가 표시되지 않았더라도, 다른 도면들을 참조하여 설명될 수 있다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다.
하나의 구성 요소(element)가 다른 구성 요소와 '접속된(connected to)' 또는 '결합한(coupled to)'이라고 지칭되는 것은, 다른 구성 요소와 직접적으로 연결된 또는 결합한 경우, 또는 중간에 다른 구성 요소를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소와 '직접적으로 접속된(directly connected to)' 또는 '직접적으로 결합한(directly coupled to)'으로 지칭되는 것은 중간에 다른 구성 요소를 개재하지 않은 것을 나타낸다. '및/또는'은 언급된 아이템(item)들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.
공간적으로 상대적인 용어인 '아래(below)', '밑(beneath)', '하부(lower)', '위(above)', '상부(upper)' 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 장치 또는 구성 요소들과 다른 장치 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 장치의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 장치를 뒤집을 경우, 다른 장치의 '아래(below)' 또는 '밑(beneath)'으로 기술된 장치는 다른 장치의 '위(above)'에 놓일 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 '아래'는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 장치는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 장치의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이고, 그리고 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 전기적 특성 검사 장치는 피검사품(200)이 안착되는 안착 홈(111)을 갖는 안착 베이스(110), 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재(160), 누름 부재(160)에 대향하는 안착 베이스(110) 쪽에 구비되어 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들(미도시)과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록(130), 핀 블록(130)을 승강 및 하강시켜 피검사품(200)과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(140), 및 핀 블록(130)이 구비되면서, 이와 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120a)을 포함할 수 있다.
누름 부재(160)는 공압 실린더(cylinder)의 작동에 의해 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.
여기서, 누름 부재(160)를 동작시키는 공압 실린더는 피검사품(200)을 눌러 고정하기 위한 압착 정도를 제어할 수 없기 때문에, 단순히 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착된 피검사품(200)의 커넥터(210)가 핀 블록(130) 상에 조금 이격된 상태를 유지할 수 있도록 피검사품(200)을 눌러 고정하는 역할을 수행할 수 있다.
즉, 피검사품(200)은 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착되어 누름 부재(160)에 의해 고정된 상태에서는 핀 블록(130)과 접촉되지 않은 상태이고, 그리고 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들도 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태일 수 있다.
액추에이터(140)는 전기 모터(motor)에 의해 구동되어 핀 블록(130)을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다. 즉, 액추에이터(140)는 핀 블록(130) 및 핀 블록(130) 내의 핀들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시켜 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 이에 대응하는 핀 블록(130)의 핀들을 서로 물리적으로 접촉시켜 이들 사이의 안정적인 전기적 연결을 구현할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 액추에이터(140)와 검사용 인쇄 회로 기판(120a) 사이에 구비되어 핀 블록(130)과 전기적으로 연결된 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 놓이는 승하강 베이스(112)를 포함할 수 있다. 승하강 베이스(112)는 검사용 인쇄 회로 기판(120a)보다 양측방향으로 큰 판 형태를 이룰 수 있으며, 액추에이터(140)는 승하강 베이스(112)에서 상기 핀 블록(130)과 대응되는 지점의 하측에 결합되어 상기 승하강 베이스(112)를 승강 및 하강시킬 수 있다.
이에 따라, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 베이스(112)가 승강 및 하강하는 것에 의해 승하강 베이스(112)에 놓인 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 승강 및 하강될 수 있다. 즉, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 베이스(112)가 승강 및 하강하는 것에 의해 검사용 인쇄 회로 기판(120a)에 구비되어 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강 및 하강되기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되거나 분리되어 전기적으로 연결 및 해제될 수 있다.
승하강 베이스(112)에서 검사용 인쇄 회로 기판(120a)의 양측편에는 지지축들(150a)이 결합되도록 구비될 수 있다. 지지축(150a)은 직선 움직임을 잡아주는 베어링(bearing)인 볼 부시(ball bush)일 수 있다. 이에 따라, 전기적 특성 검사 장치는 지지축(150a)에 의해 고정 부재와 연결되어 안정적으로 검사 위치에 고정될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 안착 베이스에 안착된 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 누름 부재에 대향하는 안착 베이스 쪽에 구비되어 피검사품의 커넥터의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록을 승강 및 하강시켜 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것이 방지될 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사하는 동시에 검사 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.
도 3 내지 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정은 다음과 같다.
안착 베이스(110)의 안착 홈(도 2의 111 참조)에 피검사품(200)이 안착된다. 이때, 피검사품(200)의 커넥터(도 2의 210 참조)은 핀 블록(130)의 핀들 상에 단순히 조금 이격된 상태로 안착될 수 있다.
안착 베이스(110)의 안착 홈에 피검사품(200)이 안착되면 공압 실린더의 작동에 의해 누름 부재(160)가 내려와 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다. 즉, 누름 부재(160)의 누름에 의해 피검사품(200)의 커넥터의 단자들은 핀 블록(130) 또는 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태를 유지하고, 그리고 피검사품(200)은 단순히 고정된 상태일 수 있다.
누름 부재(160)가 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하면, 액추에이터(140)의 구동에 의해 승하강 베이스(112)가 승강한다. 이러한 승하강 베이스(112)의 승강에 의해 승하강 베이스(112)에 놓인 검사용 인쇄 회로 기판(120a)이 승강될 수 있다. 이에 따라, 검사용 인쇄 회로 기판(120a)에 구비되어 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강하기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되어 전기적으로 연결된다.
액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 승하강 베이스(112)를 승강시키는 정도를 조절할 수 있기 때문에, 액추에이터(140)는 핀 블록(130), 핀 블록(130)의 핀들 및 피검사품(200)의 커넥터의 단자들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시킬 수 있다.
이러한 상태에서 피검사품(200)에 대한 전기적 특성 검사가 수행된다.
도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 입체도이고, 그리고 도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치를 설명하기 위한 분해 입체도이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 전기적 특성 검사 장치는 피검사품(200)이 안착되는 안착 홈(111)을 갖는 안착 베이스(110), 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재(160), 누름 부재(160)에 대향하는 안착 베이스(110) 쪽에 구비되어 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들(미도시)과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록(130), 핀 블록(132)을 승강 및 하강시켜 피검사품(200)과 전기적으로 연결 및 해제시키는 액추에이터(140), 및 핀 블록(130)과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120b)을 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 핀 블록(130), 검사용 인쇄 회로 기판(120b) 및 액추에이터(140)가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함할 수 있다. 즉, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치일 수 있다.
여기서, 승하강 부재는 핀 블록(130), 핀 블록(130)이 구비된 승하강 플레이트(plate)(142), 지지축들(150b)을 가져 승하강 플레이트(142)의 직선 움직임을 잡아주는 결합 베이스(144), 핀 블록(130)과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판(120b) 및 핀 블록(130)이 구비된 승하강 플레이트를 승강 및 하강시키는 액추에이터(140)가 일체형으로 구성된 것일 수 있다.
누름 부재(160)는 공압 실린더의 작동에 의해 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다.
여기서, 누름 부재(160)를 동작시키는 공압 실린더는 피검사품(200)을 눌러 고정하기 위한 압착 정도를 제어할 수 없기 때문에, 단순히 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착된 피검사품(200)의 커넥터(210)가 핀 블록(130) 상에 조금 이격된 상태를 유지할 수 있도록 피검사품(200)을 눌러 고정하는 역할을 수행할 수 있다.
즉, 피검사품(200)은 안착 베이스(100)의 안착 홈(111)에 안착되어 누름 부재(160)에 의해 고정된 상태에서는 핀 블록(130)과 접촉되지 않은 상태이고, 그리고 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들도 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태일 수 있다.
액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 핀 블록(130)을 승강시키는 정도를 조절할 수 있다. 즉, 액추에이터(140)는 핀 블록(130) 및 핀 블록(130) 내의 핀들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시켜 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 이에 대응하는 핀 블록(130)의 핀들을 서로 물리적으로 접촉시켜 이들 사이의 안정적인 전기적 연결을 구현할 수 있다.
이에 따라, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 플레이트(142)가 승강 및 하강하는 것에 의해 승하강 플레이트(142)에 구비된 핀 블록(130)이 승강 및 하강될 수 있다. 즉, 액추에이터(140)의 구동에 따라 승하강 플레이트(142)가 승강 및 하강하는 것에 의해 검사용 인쇄 회로 기판(120b)과 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강 및 하강되기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터(210)의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되거나 분리되어 전기적으로 연결 및 해제될 수 있다.
본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치는 안착 베이스에 안착된 피검사품이 피검사품이 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재 및 핀 블록, 검사용 인쇄 회로 기판 및 액추에이터가 일체형으로 형성된 승하강 부재를 포함함으로써, 피검사품의 전기적 특성 검사를 하는 과정에서 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들이 파손되는 것을 방지하는 동시에 전기적 특성 검사 장치의 구조가 단순해질 수 있다. 이에 따라, 피검사품의 전기적 특성을 안정적으로 검사할 수 있으며, 핀 블록, 핀 블록의 핀들 및 피검사품의 커넥터의 단자들을 보호할 수 있는 동시에 구조가 단순화된 액추에이터 일체형 핀 블록을 포함하는 전기적 특성 검사 장치가 제공될 수 있다.
도 8 내지 도 10은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정을 설명하기 위해 일면에서 바라본 정면도들이다.
도 8 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 전기적 특성 검사 장치의 검사 과정은 다음과 같다.
안착 베이스(110)의 안착 홈(도 7의 111 참조)에 피검사품(200)이 안착된다. 이때, 피검사품(200)의 커넥터(도 7의 210 참조)는 핀 블록(130)의 핀들 상에 단순히 조금 이격된 상태로 안착될 수 있다.
안착 베이스(110)의 안착 홈에 피검사품(200)이 안착되면 공압 실린더의 작동에 의해 누름 부재(160)가 내려와 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정할 수 있다. 즉, 누름 부재(160)의 누름에 의해 피검사품(200)의 커넥터의 단자들은 핀 블록(130) 또는 핀 블록(130)의 핀들과 접촉되지 않은 상태를 유지하고, 그리고 피검사품(200)은 단순히 고정된 상태일 수 있다.
누름 부재(160)가 안착 베이스(110)에 안착된 피검사품(200)이 안착 베이스(110)로부터 이격되지 않도록 고정하면, 액추에이터(140)의 구동에 의해 승하강 플레이트(142)가 승강한다. 이러한 승하강 플레이트(142)의 승강에 의해 승하강 플레이트(142)에 구비된 핀 블록(130)이 승강될 수 있다. 이에 따라, 검사용 인쇄 회로 기판(120b)과 전기적으로 연결된 핀 블록(130)이 승강하기 때문에, 핀 블록(130)의 핀들이 이에 대응되는 피검사품(200)의 커넥터의 단자들과 서로 물리적으로 접촉되어 전기적으로 연결된다.
액추에이터(140)는 전기 모터에 의해 구동되어 승하강 플레이트(142)를 승강시키는 정도를 조절할 수 있기 때문에, 액추에이터(140)는 핀 블록(130), 핀 블록(130)의 핀들 및 피검사품(200)의 커넥터의 단자들이 파손되지 않을 정도로 핀 블록(130)을 승강시킬 수 있다.
이러한 상태에서 피검사품(200)에 대한 전기적 특성 검사가 수행된다.
이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
110 : 안착 베이스
111 : 안착 홈
112 : 승하강 베이스
120a, 120b : 검사용 인쇄 회로 기판
130 : 핀 블록
140 : 액추에이터
142 : 승하강 플레이트
144 : 결합 베이스
150a, 150b : 지지축
160 : 누름 부재
200 : 피검사품
210 : 커넥터

Claims (5)

  1. 피검사품이 안착되는 안착 홈을 갖는 안착 베이스;
    공압 실린더에 의해 작동되되, 상기 안착 베이스에 안착된 상기 피검사품의 커넥터의 단자들이 핀 블록 또는 핀 블록의 핀들과 접촉되지 않으면서 상기 피검사품이 상기 안착 베이스로부터 이격되지 않도록 고정하는 누름 부재;
    상기 누름 부재에 대향하는 상기 안착 베이스 쪽에 구비되어 상기 피검사품의 단자들과 각각 물리적으로 접촉하여 전기적으로 연결되는 핀들을 구비하는 핀 블록;
    상기 핀 블록을 승강 및 하강시켜 상기 피검사품과 전기적으로 연결 및 해제시키되, 전기 모터에 의해 구동되어 상기 핀 블록을 승강시키는 정도를 조절가능하여, 핀 블록 및 핀 블록 내의 핀들이 파손되지 않게끔 핀 블록을 승강시켜 피검사품의 커넥터의 단자들과 이에 대응되는 핀 블록의 핀들이 물리적으로 접촉되면서 전기적 연결이 이루어지도록 하는 액추에이터;
    상기 핀 블록과 전기적으로 연결되어 전기적 검사 신호를 발생시키는 검사용 인쇄 회로 기판; 및
    상기 액추에이터와 상기 검사용 인쇄 회로 기판 사이에 구비되어 상기 핀 블록과 전기적으로 연결된 상기 검사용 인쇄 회로 기판이 놓이는 승하강 베이스;를 포함하되,
    상기 승하강 베이스는, 상기 검사용 인쇄 회로 기판보다 양측방향으로 큰 판 형태를 이루어, 상기 검사용 인쇄 회로 기판의 양측편에서 하방으로 결합된 지지축에 의해 고정부재와 연결되고, 상기 핀 블록과 대응되는 지점의 하측에 액추에이터가 결합되며,
    상기 지지축은 승하강 베이스의 직선 움직임을 잡아주는 볼 부시(ball bush)로 이루어진, 전기적 특성 검사 장치.
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