KR102526759B1 - 거리 측정 장치 및 그 방법 - Google Patents
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Abstract
검출된 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득으로 상기 전기 신호를 증폭하고, 증폭된 전기 신호의 피크를 검출하여, 대상체까지의 거리를 측정하는 거리 측정 장치 및 거리 측정 방법을 제공한다.
Description
본 개시는 거리 측정 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
3D 카메라 또는 LIDAR(Light Detection And Ranging)로 사물의 거리 정보를 측정하는 기술 중 하나가 빛의 왕복시간 측정법(Time Of Flight, 이하 TOF라 한다)이다. TOF 방법은 기본적으로 특정 파장의 빛을피사체로 투사하고, 피사체로부터 반사된 동 파장의 빛을 포토 다이오드(D) 또는 카메라에서 측정 또는 촬영하고 깊이 영상을 추출하는 프로세싱을 거치게 된다.
거리 측정 장치 및 그 방법을 제공하는데 있다. 본 실시예가 이루고자 하는 기술적 과제는 상기된 바와 같은 기술적 과제들로 한정되지 않으며, 이하의 실시예들로부터 또 다른 기술적 과제들이 유추될 수 있다.
일 측면에 따라, 거리 측정 장치는, 대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력하는 광 수신부; 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 전기 신호를 증폭하는 가변 이득 증폭기(variable gain amplifier); 증폭된 전기 신호에서 피크를 검출하는 피크 검출기; 및 피크를 이용하여 대상체까지의 거리를 측정하는 프로세서를 포함할 수 있다.
또한, 가변 이득 증폭기는, 전기 신호를 일정 시간 동안 지연시키는 지연 회로; 일정 시간 내에, 전기 신호의 레벨을 검출하고, 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성하는 이득 제어부; 및 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭하는 이득 제어 증폭기(gain-controlled amplifier);를 포함할 수 있다.
또한, 이득 제어부는, 전기 신호를 소정의 이득에 따라 증폭시키는 증폭기; 소정의 이득에 따라 증폭된 전기 신호의 포락선 신호을 검출하여, 전기 신호의 레벨을 검출하는 포락선 검출기; 포락선 신호를 기 설정된 기준과 비교하여 피크 발생 여부를 판단하는 비교기; 및 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 이득 제어 신호를 생성하는 S/H(샘플 앤드 홀드) 회로;를 포함할 수 있다.
또한, 비교기는, 포락선 신호가 기 설정된 기준을 넘는 경우, 피크 발생 신호를 생성하고, 프로세서는, 피크 발생 신호에 대응하여, 샘플링 신호를 생성하고, S/H 회로는, 샘플링 신호에 대응하여, 이득 제어 신호를 생성할 수 있다.
또한, 가변 이득 증폭기는, 전기 신호의 레벨이 증가할 때, 이득이 감소되도록 제어할 수 있다.
또한, 전기 신호의 레벨은, 전압 신호의 진폭일 수 있다.
또한, 광 수신부는, 광을 검출하여 전류를 출력하는 광 검출기; 및 전류를 전압으로 변환하여 전기 신호로서 전압을 출력하는 전류-전압 변환기;를 포함할 수 있다.
또한, 광 검출기는, 애벌런치 포토 다이오드(Avalanche Photo Diode) 또는 싱글 포톤 애벌런치 다이오드(Single Photon Avalenche Diode) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
또한, 피크 검출기는, CFD(Constant fraction discriminator) 방식으로 피크를 검출할 수 있다.
또한, 거리 측정 장치는, 대상체에 레이저 펄스 형태의 광을 조사하는 광원을 더 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따라, 거리 측정 방법은, 대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력하는 단계; 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 전기 신호를 증폭하는 단계; 증폭된 전기 신호에서 피크를 검출하는 단계; 및 피크를 이용하여 대상체까지의 거리를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
또 다른 측면에 따라, 거리 측정 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체가 제공된다.
본 실시예들에 따르면, 거리 측정 장치는, 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득으로 전기 신호를 증폭하는 바, 전기 신호의 포화를 방지할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 거리 측정 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 거리 측정 장치의 구체적인 실시예를 나타내는 도면이다.
도 3은 이득 제어부가 동작하는 실시예를 나타낸다.
도 4는 이득 제어부의 구체적인 블록도를 나타낸다.
도 5 및 6은 가변 이득 증폭기가 동작하는 실시예를 나타낸다.
도 7은 일 실시예에 따라, 거리 측정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 거리 측정 장치의 구체적인 실시예를 나타내는 도면이다.
도 3은 이득 제어부가 동작하는 실시예를 나타낸다.
도 4는 이득 제어부의 구체적인 블록도를 나타낸다.
도 5 및 6은 가변 이득 증폭기가 동작하는 실시예를 나타낸다.
도 7은 일 실시예에 따라, 거리 측정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 오로지 예시를 위한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 하기 실시예는 기술적 내용을 구체화하기 위한 것일 뿐 권리 범위를 제한하거나 한정하는 것이 아님은 물론이다. 상세한 설명 및 실시예로부터 해당 기술분야의 전문가가 용이하게 유추할 수 있는 것은 권리범위에 속하는 것으로 해석된다.
본 명세서에서 사용되는 '구성된다' 또는 '포함한다' 등의 용어는 명세서 상에 기재된 여러 구성 요소들, 또는 여러 단계들을 반드시 모두 포함하는 것으로 해석되지 않아야 하며, 그 중 일부 구성 요소들 또는 일부 단계들은 포함되지 않을 수도 있고, 또는 추가적인 구성 요소 또는 단계들을 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
또한, 본 명세서에서 사용되는 '제 1' 또는 '제 2' 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용할 수 있지만, 이런 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
도 1은 일 실시예에 따른 거리 측정 장치를 나타내는 도면이다.
거리 측정 장치(100)는 전방 대상체에 대한 거리 정보 등의 3차원 정보를 실시간으로 획득하는 센서로 활용될 수 있다. 예를 들어, 거리 측정 장치(100)는 무인 자동차, 자율 주행차, 로봇, 및 드론 등에 적용될 수 있다. 예를 들어, 거리 측정 장치(100)는 라이다(LiDAR: Light Detection And Ranging) 장치 또는 3D 카메라 장치가 될 수 있다. 거리 측정 장치(100)는, 3D 카메라 또는 라이다 사용시, 근적외선 반도체 레이저 등 다양한 종류의 레이저를 사용하여, 대상체에 대한 거리를 측정할 수 있다.
거리 측정 장치(100)는 광원(110), 광 수신부(120), 이득 제어 증폭기(variable gain amplifier)(130), 피크 검출기(140), 및 프로세서(150)를 포함할 수 있다. 도 1에 도시된 거리 측정 장치(100)는 본 실시예와 관련된 구성요소들만이 도시되어 있다. 따라서, 도 1에 도시된 구성요소들 외에 다른 범용적인 구성요소들이 더 포함될 수 있음을 본 실시예와 관련된 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 수 있다.
광원(110)은 대상체(OB)를 향해 광을 조사할 수 있다. 광원(110)은 펄스광 또는 연속광을 생성하고 조사할 수 있다. 또한, 광원(110)은 복수의 서로 다른 파장 대역의 광을 생성하고 조사할 수도 있다. 예를 들어, 광원(110)은 적외선 영역의 광을 방출할 수 있다. 적외선 영역의 광을 사용하면 태양광을 비롯한 가시광선 영역의 자연광과 혼합되는 것을 방지할 수 있다. 그러나 반드시 적외선 영역에 한정되는 것은 아니며 다양한 파장 영역의 빛을 방출 할 수 있다. 이러한 경우 혼합된 자연광의 정보를 제거하기 위한 보정이 요구될 수 있다. 예를 들어, 광원(110)은 레이저 광원일 수 있으며 특정한 예시에 한정되지 않는다. 광원(110)은 측면 발광 레이저 (Edge emitting laser), 수직캐비티 표면 광방출 레이저 (Vertical-cavity surface emitting laser;VCSEL), 분포궤환형 레이저 (Distributed feedback laser) 중 어느 하나일 수 있다. 예를 들어, 광원(110) 은 레이저 다이오드(D)(Laser Diode) 일 수 있다. 또한, 광원(110)은 근적외선 반도체 레이저 등 다양한 종류의 레이저가 될 수 있다. 구현의 필요에 따라, 광원(110)은 다른 장치에 포함될 수도 있고, 반드시 거리 측정 장치(100)에 포함된 하드웨어로 구성될 필요는 없다.
광 수신부(120)는 대상체(OB)에서 반사 또는 산란된 광을 검출하여 전기 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어, 광 수신부(120)는 대상체(OB)에서 반사 또는 산란된 광을 전압 신호로 변환할 수 있다.
가변 이득 증폭기(130)는 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 전기 신호를 증폭할 수 있다. 구체적으로, 가변 이득 증폭기(130)는 광 수신부(120)에 의해 출력되는 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있고, 검출된 전기 신호의 레벨에 대응되게 이득을 제어할 수 있다. 가변 이득 증폭기(130)는, 검출된 전기 신호의 레벨과 이득이 서로 반비례 관계를 갖도록, 이득을 제어할 수 있다. 일 예에 따라, 가변 이득 증폭기(130)는 검출된 전기 신호의 레벨이 증가하는 경우, 이득이 감소되도록 제어할 수 있다. 다른 예에 따라, 가변 이득 증폭기(130)는 검출된 전기 신호의 레벨이 감소하는 경우, 이득이 증가되도록 제어할 수 있다. 이어서, 가변 이득 증폭기(130)는 제어되는 이득으로 전기 신호를 증폭할 수 있다.
따라서, 거리 측정 장치(100)는, 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득으로 전기 신호를 증폭하는 바, 전기 신호의 포화를 방지할 수 있다. 예를 들어, 대상체(OB)가 가까운 거리에 있거나 반사율이 큰 경우, 광 수신부(120)가 출력한 전기 신호의 레벨이 클 수 있으므로, 이러한 전기 신호를 기존과 같은 이득으로 증폭하는 경우 전기 신호의 다이나믹 레인지가 초과될 수 있다. 이 경우, 거리 측정 장치(100)는 광 수신부(120)가 출력한 전기 신호의 레벨이 큰 경우, 작은 이득으로 전기 신호를 증폭하는 바, 전기 신호의 포화를 방지할 수 있다. 또한, 거리 측정 장치(100)는 전기 신호의 포화를 방지할 수 있는 바, 대상체에 대한 보다 정확한 거리 측정을 가능하게 할 수 있다.
피크 검출기(140)는 가변 이득 증폭기(130)에 의해 증폭되는 전기 신호에서 피크를 검출할 수 있다. 피크 검출기(140)는 전기 신호의 중심 위치를 검출함으로써 피크를 검출할 수 있다. 또는 피크 검출기(140)는 아날로그적으로 전기 신호의 폭을 검출함으로써 피크를 검출할 수 있다. 또는 피크 검출기(140)는 전기 신호를 디지털 신호로 변환한 다음 디지털 신호의 상승 에지 및 하강 에지를 검출함으로써 피크를 검출할 수 있다. 또는 피크 검출기(140)는 복수 개의 신호로 나누고, 일부 신호를 반전 및 시간 지연시킨 후 나머지 신호와 결합하여 0을 지나는 지점(zero cross point)를 검출하는 CFD(Constant Fraction Discriminator) 방식을 이용하여 피크를 검출할 수 있다. CFD 방식으로 피크를 검출하는 회로를 CFD 회로라고 칭할 수 있다. 피크 검출기(140)는 비교기(comparator)를 더 포함하여, 검출된 피크를 펄스 신호로 출력할 수 있다.
프로세서(150)는 거리 측정 장치(100)의 각 구성요소들의 동작을 제어할 수 있다. 또한, 거리 측정 장치(100)는 프로세서(150)에서 수행하는 동작을 위한 프로그램 및 기타 데이터들이 저장되는 메모리를 포함할 수 있다.
프로세서(150)는 피크 검출기(140)에서 검출된 피크를 이용하여 대상체(OB)까지의 거리를 측정할 수 있다. 구체적으로, 프로세서(150)는 광원(110)에서 조사된 광의 조사 시점과 피크 검출기(140)에서 검출된 피크의 검출 시점 사이의 시간을 측정하여, 대상체(OB)까지의 거리를 측정할 수 있다. 피크를 이용한 거리 측정 방법은 통상의 기술인 바, 자세한 설명은 생략한다.
도 2는 거리 측정 장치의 구체적인 실시예를 나타내는 도면이다.
광 수신부(120)는 광에 대응하는 전기 신호, 예를 들어 전류를 출력하는 광 검출기(122), 및 광 검출기(122)에서 출력된 전류를 전압으로 변환하는 전류-전압 변환 회로(I/V)(124)를 포함할 수 있다. 이외에도 광 수신부(120)는 대상체(OB)에서 반사된 광을 집광하는 렌즈 및 특정 주파수의 전기 신호를 필터링하는 필터(예로, 하이패스 필터)를 더 포함할 수 있다.
광 검출기(122)는 수광 소자일 수 있다. 광 검출기(122)는 바이어스 전압(Vbias)이 인가된 상태에서 동작하는 수광 소자일 수 있다. 예를 들어, 광 검출기(122)는 애벌런치 포토 다이오드(Avalanche Photo Diode;APD) 또는 싱글 포톤 애벌런치 다이오드(Single Photon Avalanche Diode;SPAD)를 포함할 수 있다. 광 수신부(120)는 APD 또는 SPAD중 어떤 수광소자를 포함하는지에 따라 AFE(Analog Front End), TDC(Time Digital Counter) 등의 구체적 회로 구성을 다르게 가질 수 있다. 이러한 구체적인 회로 구성은 통상의 기술일 수 있으므로, 자세한 설명은 생략한다.
가변 이득 증폭기(130)는 지연 회로(132), 이득 제어부(134), 및 이득 제어 증폭기(gain-controlled amplifier)(136)를 포함할 수 있다.
지연 회로(132)는 광 수신부(120)에 의해 출력되는 전기 신호를 일정 시간 동안 지연시킬 수 있다.
이득 제어부(134)는, 일정 시간 내에, 광 수신부(120)에 의해 출력되는 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있고, 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 다시 말해, 이득 제어부(134)는 이득 제어 증폭기(136)의 이득을 제어하기 위해, 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 이득 제어부(134)는, 이득 제어 신호의 크기가 전기 신호의 레벨의 크기에 비례하도록, 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 이득 제어부(134)는 광 수신부(120)에 의해 출력되는 전압 신호의 진폭을 검출할 수 있고, 검출된 전압 신호의 진폭에 대응되는 크기를 갖는 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 이어서, 이득 제어부(134)는 이득 제어 신호를 통해 이득 제어 증폭기(136)의 이득을 제어할 수 있다.
이득 제어 증폭기(136)는 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 구체적으로, 이득 제어 증폭기(136)는 이득 제어부(134)의 이득 제어 신호에 대응되는 이득을 결정할 수 있고, 결정된 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 이득 제어 증폭기(136)의 이득은 이득 제어 신호의 크기에 의존할 수 있다. 예를 들어, 이득 제어 신호의 크기와 이득의 크기는 반비례 관계를 가질 수 있다. 다시 말해, 이득 제어 신호의 크기가 클수록 이득의 크기는 작아질 수 있다.
거리 측정 장치(100)는, 지연 회로(132)를 통해 일정 시간 동안 전기 신호를 지연시키는 동안, 이득 제어부(134)를 통해 전기 신호의 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 이어서, 거리 측정 장치(100)는, 이득 제어 신호를 통해 이득 제어 증폭기(136)의 이득을 제어하여, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 따라서, 거리 측정 장치(100)는, 광 수신부(120)가 출력한 전기 신호의 레벨이 큰 경우, 이득 제어 신호를 통해 이득 제어 증폭기(136)의 이득을 작게 제어하는 바, 전기 신호의 포화를 방지할 수 있다.
도 3은 이득 제어부가 동작하는 실시예를 나타낸다.
광 수신부(120)가 출력한 전기 신호가 지연 회로(132) 및 이득 제어부(134)로 각각 입력될 수 있다.
지연 회로(132)는 일정 시간 ΔT 동안 전기 신호를 지연 시킬 수 있다.
이득 제어부(134)는 일정 시간 ΔT 내에, 전기 신호의 레벨 L을 검출할 수 있고, 검출된 레벨 L에 대응되는 이득 제어 신호 S를 생성할 수 있다.
이어서, 이득 제어 증폭기(136)는 이득 제어 신호 S에 의해 대응되는 이득 G를 결정할 수 있고, 일정 시간 ΔT 동안 지연된 전기 신호를 이득 G에 따라 증폭시킬 수 있다. 따라서, 이득 제어 증폭기(136)는 증폭된 전기 신호를 출력할 수 있다.
또한, 전기 신호의 레벨 L보다 큰 레벨을 갖는 전기 신호가 입력되는 경우, 이득 제어부(134)는 이득 제어 신호 S보다 큰 크기의 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 이어서, 이득 제어 신호의 크기와 이득의 크기는 반비례 관계를 가지므로, 이득 제어 증폭기(136)는 이득 G보다 작은 크기를 갖는 이득에 따라 전기 신호를 증폭할 수 있다.
마찬가지로, 전기 신호의 레벨 L보다 작은 레벨을 갖는 전기 신호가 입력되는 경우, 이득 제어 증폭기(136)는 이득 G보다 큰 크기를 갖는 이득에 따라 전기 신호를 증폭할 수 있다.
도 4는 이득 제어부의 구체적인 블록도를 나타낸다.
이득 제어부(134)는 증폭기(11), 포락선 검출기(13), 비교기(15), 및 S/H(샘플링앤드홀드) 회로(17)를 포함할 수 있다.
증폭기(11)는 광 수신부(120)에 의해 출력되는 전기 신호를 기 설정된 이득에 따라 증폭할 수 있다. 구체적으로, 포락선 검출기(13)가 전기 신호에 대한 포락선 신호의 검출을 용이하게 하기 위해, 증폭기(11)는 전기 신호를 기 설정된 이득에 따라 증폭할 수 있다.
포락선 검출기(13)는 증폭기(11)에 의해 증폭된 전기 신호의 포락선 신호를 검출하여, 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있다.
비교기(15)는 포락선 신호를 기 설정된 기준과 비교하여, 피크 발생 여부를 판단할 수 있다. 구체적으로, 비교기(15)는 포락선 신호의 크기가 기 설정된 기준을 넘는 경우, 피크가 발생하였다고 판단할 수 있다. 이에 따라, 비교기(15)는 피크 발생 신호를 발생시킬 수 있다. 비교기(15)는 발생된 피크 발생 신호를 프로세서(150)에 전송할 수 있다.
피크 발생 신호가 발생하는 경우, S/H 회로(17)는 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 구체적으로, 비교기(15)의 피크 발생 신호에 대응하여, 프로세서(150)는 샘플링 신호를 생성할 수 있고, 샘플링 신호를 S/H 회로(17)에 전송할 수 있다. S/H 회로(17)는, 프로세서(150)의 샘플링 신호에 대응하여, 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. S/H 회로(17)는 포락선 신호에 대해 샘플링을 수행하고 샘플링한 결과를 일정 시간 동안 홀드하는 방식으로, 샘플 앤드 홀드를 수행할 수 있다.
이어서, 이득 제어 증폭기(136)는, S/H 회로(17)에 의해 생성된 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다.
또한, 포락선 검출기(13)는 리셋 신호에 따라 포락선 신호를 리셋할 수 있다. 구체적으로, 포락선 검출기(13)는 프로세서(150)로부터 리셋 신호를 수신할 수 있고, 리셋 신호에 따라 포락선 신호를 리셋할 수 있다. 따라서, 포락선 검출기(13)는 광 수신부(120)가 출력한 다음 차례의 전기 신호의 포락선 신호를 검출할 수 있다. 다시 말해, 포락선 신호가 리셋되었기 때문에, 광 수신부(120)가 출력한 다음 차례의 전기 신호의 크기가 이전 보다 작더라도, 포락선 검출기(13)는 다음 차례의 전기 신호의 포락선 신호를 검출할 수 있다.
도 5 및 6은 가변 이득 증폭기가 동작하는 실시예를 나타낸다.
도 5 및 6에서 (a) 내지 (g)로 도시된 신호는 시간 도메인 상에서 전개되는 신호를 나타낸다.
도 5 및 6의 (a)에서 점선으로 도시된 신호는 광 수신부(120)로부터 출력되는 전기 신호를 나타내고, 도 5 및 6의 (a)에서 실선으로 도시된 신호는 포락선 검출기(13)에 의해 검출되는 전기 신호의 포락선 신호를 나타낸다. 도 5 및 6의 (a)에서는 3번의 전기 신호 및 포락선 신호가 검출되는 것을 나타낸다.
비교기(15)는 포락선 신호가 기 설정된 기준을 넘는 경우, 도 6의 (e)와 같이 도시된 피크 발생 신호를 발생시킬 수 있고, 피크 발생 신호를 프로세서(150)로 전송할 수 있다. 이어서, 프로세서(150)는 도 6의 (f)와 같이 도시된 샘플링 신호를 생성하고, 샘플링 신호를 S/H 회로(17)로 전송할 수 있다.
S/H 회로(17)는 (f)와 같은 샘플링 신호에 따라, 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여, 도 5의 (b)와 같이 도시된 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 구체적으로, 도 5의 (b)를 참조하면, S/H 회로(17)는 첫 번째 전기 신호의 포락선 신호를 샘플링하여, 샘플링 결과에 따라 이득 제어 신호의 크기를 증가시킨 후 그대로 유지시킬 수 있다. 이어서, S/H 회로(17)는 두 번째 전기 신호의 포락선 신호를 샘플링할 수 있고, 첫 번째 샘플링 결과보다 두 번째 샘플링 결과가 더 크므로, 이득 제어 신호의 크기를 증가 시킨 후 그대로 유지시킬 수 있다. 이어서, S/H 회로(17)는 세 번째 전기 신호의 포락선 신호를 샘플링할 수 있고, 두 번째 샘플링 결과보다 세 번째 샘플링 결과가 더 작으므로, 이득 제어 신호의 크기를 감소 시킨 후 그대로 유지시킬 수 있다.
이어서, 이득 제어 증폭기(136)는 (b)와 같은 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, (c)와 같이 도시된 일정 시간 ΔT 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 그 결과, 이득 제어 증폭기(136)는 (d)와 같이 도시된 증폭된 전기 신호를 출력할 수 있다. (c) 및 (d)와 같이 도시된 전기 신호를 서로 비교해보면, 첫 번째 전기 신호에 비해 두 번째 전기 신호의 레벨이 더 크지만, 첫 번째 전기 신호에 비해 두 번째 전기 신호에 적용되는 이득이 더 작으므로(다시 말해, 두 번째 전기에 적용되는 이득 제어 신호가 더 크므로), 두 번째 전기 신호의 포화를 방지할 수 있다.
또한, 프로세서(150)는, (f)와 같이 도시된 샘플링 신호를 S/H 회로(17)에 전송한 후, 도 6의 (g)와 같이 도시된 리셋 신호를 생성할 수 있고, 리셋 신호를 포락선 검출기(13)에 전송할 수 있다. 포락선 검출기(13)는 (g)와 같이 도시된 리셋 신호에 따라 포락선 신호를 리셋할 수 있다. 따라서, 포락선 신호에 대한 S/H 회로(17)의 샘플링 후에, 포락선 신호는 리셋되므로, 포락선 검출기(13)는 레벨이 변동하는 서로 다른 전기 신호의 포락선 신호를 순차적으로 검출할 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따라, 거리 측정 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 7에 도시된 방법은, 도 1 내지 도 4의 거리 측정 장치(100)의 각 구성요소에 의해 수행될 수 있고, 중복되는 설명에 대해서는 생략한다.
단계 s710에서, 거리 측정 장치(100)는 대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력할 수 있다. 구체적으로, 거리 측정 장치(100)는 광 검출기를 이용하여 대상체에서 반사된 광에 대응하는 전기 신호, 예를 들어 전류를 출력할 수 있고, 전류-전압 변환 회로를 이용하여, 출력된 전류를 전압으로 변환하여 출력할 수 있다.
또한, 거리 측정 장치(100)는 광원을 이용하여 대상체를 향해 광을 조사할 수 있고, 대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력할 수 있다.
단계 s720에서, 거리 측정 장치(100)는 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 전기 신호를 증폭할 수 있다. 구체적으로, 거리 측정 장치(100)는 s710에서 출력되는 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있고, 검출된 전기 신호의 레벨에 대응되게 이득을 제어할 수 있다.
거리 측정 장치(100)는 s710에서 출력되는 전기 신호를 일정 시간 동안 지연시킬 수 있다. 거리 측정 장치(100)는, 일정 시간 내에, s710에서 출력되는 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있고, 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 거리 측정 장치(100)는, 이득 제어 신호의 크기가 전기 신호의 레벨의 크기에 비례하도록, 이득 제어 신호를 생성할 수 있다. 구체적으로, 거리 측정 장치(100)는 s710에서 출력되는 전기 신호를 기 설정된 이득에 따라 증폭하고, 증폭된 전기 신호의 포락선 신호를 검출하여, 전기 신호의 레벨을 검출할 수 있다. 또한, 거리 측정 장치(100)는 포락선 신호를 기 설정된 기준과 비교하여, 피크 발생 여부를 판단할 수 있다. 피크가 발생된 경우, 거리 측정 장치(100)는 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 이득 제어 신호를 생성할 수 있다.
이어서, 거리 측정 장치(100)는, 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 구체적으로, 거리 측정 장치(100)는 이득 제어 신호에 대응되는 이득을 결정할 수 있고, 결정된 이득에 따라, 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭할 수 있다. 이득은 이득 제어 신호의 크기에 의존할 수 있다. 예를 들어, 이득 제어 신호의 크기와 이득의 크기는 반비례 관계를 가질 수 있다.
단계 s730에서, 거리 측정 장치(100)는 증폭된 전기 신호에서 피크를 검출할 수 있다. 예를 들어, 거리 측정 장치(100)는 복수 개의 신호로 나누고, 일부 신호를 반전 및 시간 지연시킨 후 나머지 신호와 결합하여 0을 지나는 지점(zero cross point)를 검출하는 CFD(Constant Fraction Discriminator) 방식을 이용하여 피크를 검출할 수 있다.
단계 s740에서, 거리 측정 장치(100)는 피크를 이용하여 대상체까지의 거리를 측정할 수 있다. 구체적으로, 거리 측정 장치(100)는 광의 조사 시점과 검출된 피크의 검출 시점 사이의 시간을 측정하여, 대상체까지의 거리를 측정할 수 있다.
상기 살펴 본 실시 예들에 따른 장치는 프로세서, 프로그램 데이터를 저장하고 실행하는 메모리, 디스크 드라이브와 같은 영구 저장부(permanent storage), 외부 장치와 통신하는 통신 포트, 터치 패널, 키(key), 버튼 등과 같은 사용자 인터페이스 장치 등을 포함할 수 있다. 소프트웨어 모듈 또는 알고리즘으로 구현되는 방법들은 상기 프로세서상에서 실행 가능한 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드들 또는 프로그램 명령들로서 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체 상에 저장될 수 있다. 여기서 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체로 마그네틱 저장 매체(예컨대, ROM(read-only memory), RAM(random-access memory), 플로피 디스크, 하드 디스크 등) 및 광학적 판독 매체(예컨대, 시디롬(CD-ROM), 디브이디(DVD: Digital Versatile Disc)) 등이 있다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템들에 분산되어, 분산 방식으로 컴퓨터가 판독 가능한 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 매체는 컴퓨터에 의해 판독가능하며, 메모리에 저장되고, 프로세서에서 실행될 수 있다.
본 실시 예는 기능적인 블록 구성들 및 다양한 처리 단계들로 나타내어질 수 있다. 이러한 기능 블록들은 특정 기능들을 실행하는 다양한 개수의 하드웨어 또는/및 소프트웨어 구성들로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시 예는 하나 이상의 마이크로프로세서들의 제어 또는 다른 제어 장치들에 의해서 다양한 기능들을 실행할 수 있는, 메모리, 프로세싱, 로직(logic), 룩 업 테이블(look-up table) 등과 같은 직접 회로 구성들을 채용할 수 있다. 구성 요소들이 소프트웨어 프로그래밍 또는 소프트웨어 요소들로 실행될 수 있는 것과 유사하게, 본 실시 예는 데이터 구조, 프로세스들, 루틴들 또는 다른 프로그래밍 구성들의 조합으로 구현되는 다양한 알고리즘을 포함하여, C, C++, 자바(Java), 어셈블러(assembler) 등과 같은 프로그래밍 또는 스크립팅 언어로 구현될 수 있다. 기능적인 측면들은 하나 이상의 프로세서들에서 실행되는 알고리즘으로 구현될 수 있다. 또한, 본 실시 예는 전자적인 환경 설정, 신호 처리, 및/또는 데이터 처리 등을 위하여 종래 기술을 채용할 수 있다. "매커니즘", "요소", "수단", "구성"과 같은 용어는 넓게 사용될 수 있으며, 기계적이고 물리적인 구성들로서 한정되는 것은 아니다. 상기 용어는 프로세서 등과 연계하여 소프트웨어의 일련의 처리들(routines)의 의미를 포함할 수 있다.
본 실시 예에서 설명하는 특정 실행들은 예시들로서, 어떠한 방법으로도 기술적 범위를 한정하는 것은 아니다. 명세서의 간결함을 위하여, 종래 전자적인 구성들, 제어 시스템들, 소프트웨어, 상기 시스템들의 다른 기능적인 측면들의 기재는 생략될 수 있다. 또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 선들의 연결 또는 연결 부재들은 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것으로서, 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가의 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들로서 나타내어질 수 있다.
본 명세서(특히 특허청구범위에서)에서 "상기"의 용어 및 이와 유사한 지시 용어의 사용은 단수 및 복수 모두에 해당하는 것일 수 있다. 또한, 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 상세한 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다. 마지막으로, 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 언급하는 기재가 없다면, 이런 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 기술적 사상을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 이들로 인해 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 당업자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 특허청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 팩터에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.
Claims (20)
- 거리 측정 장치에 있어서,
대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력하는 광 수신부;
상기 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 상기 전기 신호를 증폭하는 가변 이득 증폭기(variable gain amplifier);
상기 증폭된 전기 신호에서 피크를 검출하는 피크 검출기; 및
상기 피크를 이용하여 상기 대상체까지의 거리를 측정하는 프로세서를 포함하고,
상기 가변 이득 증폭기는,
상기 전기 신호를 일정 시간 동안 지연시키는 지연 회로;
상기 일정 시간 내에, 상기 전기 신호의 레벨을 검출하고, 상기 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성하는 이득 제어부; 및
상기 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 상기 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭하는 이득 제어 증폭기(gain-controlled amplifier);를 포함하고,
상기 이득 제어부는,
상기 전기 신호를 소정의 이득에 따라 증폭시키는 증폭기;
상기 소정의 이득에 따라 증폭된 전기 신호의 포락선 신호을 검출하여, 상기 전기 신호의 레벨을 검출하는 포락선 검출기;
상기 포락선 신호를 기 설정된 기준과 비교하여 피크 발생 여부를 판단하는 비교기; 및
상기 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 상기 이득 제어 신호를 생성하는 S/H(샘플 앤드 홀드) 회로;를 포함하는, 거리 측정 장치. - 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 비교기는,
상기 포락선 신호가 기 설정된 기준을 넘는 경우, 피크 발생 신호를 생성하고,
상기 프로세서는,
상기 피크 발생 신호에 대응하여, 샘플링 신호를 생성하고,
상기 S/H 회로는,
상기 샘플링 신호에 대응하여, 상기 이득 제어 신호를 생성하는, 거리 측정 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 가변 이득 증폭기는,
상기 전기 신호의 레벨이 증가할 때, 상기 이득이 감소되도록 제어하는, 거리 측정 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 전기 신호의 레벨은, 전압 신호의 진폭인, 거리 측정 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 광 수신부는,
상기 광을 검출하여 전류를 출력하는 광 검출기; 및
상기 전류를 전압으로 변환하여 상기 전기 신호로서 상기 전압을 출력하는 전류-전압 변환기;를 포함하는, 거리 측정 장치. - 제 7 항에 있어서,
상기 광 검출기는,
애벌런치 포토 다이오드(Avalanche Photo Diode) 또는 싱글 포톤 애벌런치 다이오드(Single Photon Avalenche Diode) 중 적어도 하나를 포함하는, 거리 측정 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 피크 검출기는,
CFD(Constant fraction discriminator) 방식으로 피크를 검출하는, 거리 측정 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 대상체에 레이저 펄스 형태의 광을 조사하는 광원;을 더 포함하는, 거리 측정 장치. - 거리 측정 방법에 있어서,
대상체에서 반사된 광을 검출하여 전기 신호를 출력하는 단계;
상기 전기 신호의 레벨에 따라 가변하는 이득(gain)으로 상기 전기 신호를 증폭하는 단계;
상기 증폭된 전기 신호에서 피크를 검출하는 단계; 및
상기 피크를 이용하여 상기 대상체까지의 거리를 측정하는 단계를 포함하고,
상기 증폭하는 단계는,
상기 전기 신호를 일정 시간 동안 지연시키는 단계
상기 일정 시간 내에, 상기 전기 신호의 레벨을 검출하고, 상기 검출된 레벨에 대응되는 이득 제어 신호를 생성하는 단계; 및
상기 이득 제어 신호에 의해 제어되는 이득에 따라, 상기 일정 시간 동안 지연된 전기 신호를 증폭하는 단계를 포함하고,
상기 이득 제어 신호를 생성하는 단계는,
상기 전기 신호를 소정의 이득에 따라 증폭시키는 단계;
상기 소정의 이득에 따라 증폭된 전기 신호의 포락선 신호을 검출하여, 상기 전기 신호의 레벨을 검출하는 단계;
상기 포락선 신호를 기 설정된 기준과 비교하여 피크 발생 여부를 판단하는 단계; 및
상기 포락선 신호에 대해 샘플 앤드 홀드를 수행하여 상기 이득 제어 신호를 생성하는 단계;를 포함하는, 거리 측정 방법. - 삭제
- 삭제
- 제 11 항에 있어서,
상기 이득 제어 신호를 생성하는 단계는,
상기 포락선 신호가 기 설정된 기준을 넘는 경우, 피크 발생 신호를 생성하는 단계;
상기 피크 발생 신호에 대응하여, 샘플링 신호를 생성하는 단계; 및
상기 샘플링 신호에 대응하여, 상기 이득 제어 신호를 생성하는 단계를 포함하는, 거리 측정 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 증폭하는 단계는,
상기 전기 신호의 레벨이 증가할 때, 상기 이득이 감소되도록 제어하는 단계를 포함하는, 거리 측정 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 출력하는 단계는,
상기 광을 검출하여 전류를 출력하는 단계; 및
상기 전류를 전압으로 변환하여 상기 전기 신호로서 상기 전압을 출력하는 단계;를 포함하는, 거리 측정 방법. - 제 16 항에 있어서,
상기 광을 검출하는 단계는,
애벌런치 포토 다이오드(Avalanche Photo Diode) 또는 싱글 포톤 애벌런치 다이오드(Single Photon Avalenche Diode) 중 적어도 하나를 이용하여 상기 광을 검출하는, 거리 측정 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 피크를 검출하는 단계는,
CFD(Constant fraction discriminator) 방식으로 피크를 검출하는, 거리 측정 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 대상체에 레이저 펄스 형태의 광을 조사하는 단계를 더 포함하는, 거리 측정 방법. - 제 11 항, 제 14 항 내지 19 항 중에 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
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