[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR102415755B1 - Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board - Google Patents

Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board Download PDF

Info

Publication number
KR102415755B1
KR102415755B1 KR1020177022761A KR20177022761A KR102415755B1 KR 102415755 B1 KR102415755 B1 KR 102415755B1 KR 1020177022761 A KR1020177022761 A KR 1020177022761A KR 20177022761 A KR20177022761 A KR 20177022761A KR 102415755 B1 KR102415755 B1 KR 102415755B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
epoxy resin
resin
bisphenol
composition
resin composition
Prior art date
Application number
KR1020177022761A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20170106405A (en
Inventor
도모타카 노구치
다카유키 추조
Original Assignee
다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 filed Critical 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤
Publication of KR20170106405A publication Critical patent/KR20170106405A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102415755B1 publication Critical patent/KR102415755B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/20Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the epoxy compounds used
    • C08G59/22Di-epoxy compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/40Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the curing agents used
    • C08G59/42Polycarboxylic acids; Anhydrides, halides or low molecular weight esters thereof
    • C08G59/4246Polycarboxylic acids; Anhydrides, halides or low molecular weight esters thereof polymers with carboxylic terminal groups
    • C08G59/4269Macromolecular compounds obtained by reactions other than those involving unsaturated carbon-to-carbon bindings
    • C08G59/4276Polyesters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G59/00Polycondensates containing more than one epoxy group per molecule; Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups
    • C08G59/18Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing
    • C08G59/40Macromolecules obtained by polymerising compounds containing more than one epoxy group per molecule using curing agents or catalysts which react with the epoxy groups ; e.g. general methods of curing characterised by the curing agents used
    • C08G59/44Amides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/18Oxygen-containing compounds, e.g. metal carbonyls
    • C08K3/24Acids; Salts thereof
    • C08K3/26Carbonates; Bicarbonates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/34Silicon-containing compounds
    • C08K3/36Silica
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/18Oxygen-containing compounds, e.g. metal carbonyls
    • C08K3/24Acids; Salts thereof
    • C08K3/26Carbonates; Bicarbonates
    • C08K2003/265Calcium, strontium or barium carbonate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Epoxy Resins (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

종래보다도 더 우수한 성능을 구비하는 열경화성 수지 조성물, 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판을 제공한다. (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와, (B) 경화제 및 경화 촉진제 중 어느 한쪽 또는 양쪽과, (C) 필러를 함유하는 열경화성 수지 조성물이다. 필름 위에, 상기 열경화성 수지 조성물을 도포, 건조하여 얻어지는 수지층을 갖는 드라이 필름, 이것을 경화시켜 얻어지는 경화물, 이 경화물을 갖는 프린트 배선판이다.Provided are a thermosetting resin composition, a dry film, a cured product, and a printed wiring board having better performance than before. (A) It is a thermosetting resin composition containing a bisphenol E-type epoxy resin, (B) any one or both of a hardening|curing agent and a hardening accelerator, and (C) a filler. It is a dry film which has a resin layer obtained by apply|coating and drying the said thermosetting resin composition on a film, hardened|cured material obtained by hardening this, and a printed wiring board which has this hardened|cured material.

Description

열경화성 수지 조성물, 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board

본 발명은 열경화성 수지 조성물(이하, 간단히 「조성물」이라고도 칭함), 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판에 관한 것으로, 상세하게는 프린트 배선판의 제조용으로서 종래보다도 더 우수한 성능을 구비하는 열경화성 수지 조성물, 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판에 관한 것이다.The present invention relates to a thermosetting resin composition (hereinafter simply referred to as “composition”), a dry film, a cured product, and a printed wiring board, and more particularly, a thermosetting resin composition having better performance than before for the production of a printed wiring board, a dry It relates to a film, a hardened|cured material, and a printed wiring board.

근년, 다층 프린트 배선판의 제조 방법으로서, 내층 회로판의 도체층 위에 수지 절연층과 도체층을 교대로 쌓아 올려 가는 빌드 업 방식의 제조 기술이 주목되고 있다. 예를 들어, 회로 형성된 내층 회로판에 에폭시 수지 조성물을 도포하고, 가열 경화한 후, 조면화제에 의해 표면에 요철상의 조면화 면을 형성하고, 도체층을 도금에 의해 형성하는 다층 프린트 배선판의 제조법이 제안되어 있다(특허문헌 1 및 특허문헌 2 참조). 또한, 회로 형성된 내층 회로판에 에폭시 수지 조성물의 접착 시트를 라미네이트하고, 가열 경화한 후, 조면화제에 의해 표면에 요철상의 조면화 면을 형성하고, 도체층을 도금에 의해 형성하는 다층 프린트 배선판의 제조법이 제안되어 있다(특허문헌 3 참조).In recent years, as a manufacturing method of a multilayer printed wiring board, the manufacturing technique of the build-up system which stacks up the resin insulating layer and the conductor layer alternately on the conductor layer of an inner-layer circuit board is attracting attention. For example, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which an epoxy resin composition is applied to a circuit-formed inner-layer circuit board, heat-cured, an uneven roughened surface is formed on the surface with a roughening agent, and a conductor layer is formed by plating. It has been proposed (see Patent Document 1 and Patent Document 2). In addition, after laminating an adhesive sheet of an epoxy resin composition on a circuit-formed inner-layer circuit board, heat-curing, forming an uneven roughened surface on the surface with a roughening agent, and forming a conductor layer by plating Method of manufacturing a multilayer printed wiring board This has been proposed (refer to Patent Document 3).

여기서, 종래의 빌드 업법에 의한 다층 프린트 배선판의 층 구조의 형성 방법의 일례를, 도 1을 참조하면서 설명한다. 먼저, 절연 기판(101)의 양면에 미리 내층 도체 패턴(103)과 수지 절연층(104)이 형성된 적층 기판 X의 양면에 외층 도체 패턴(108)을 형성하고, 그 위에, 에폭시 수지 조성물 등의 절연성의 수지 조성물을 도포 등에 의해 설치하고, 가열 경화시켜, 수지 절연층(109)을 형성한다. 계속해서, 스루홀 구멍(121) 등을 적절히 설치한 후, 수지 절연층(109)의 표면에 무전해 도금 등에 의해 도체층을 형성하고, 계속해서 통상법에 따라, 도체층에 소정의 회로 패턴을 형성하여, 최외층 도체 패턴(110)을 형성할 수 있다. 도면 중, 부호 103a는 커넥션부, 120은 스루홀, 122는 커넥션부를 각각 나타낸다.Here, an example of the formation method of the layer structure of the multilayer printed wiring board by the conventional build-up method is demonstrated, referring FIG. First, an outer conductor pattern 108 is formed on both surfaces of a laminated substrate X on which an inner conductor pattern 103 and a resin insulating layer 104 are previously formed on both surfaces of the insulating substrate 101, and an epoxy resin composition or the like is formed thereon. An insulating resin composition is applied by coating or the like, and cured by heating to form the resin insulating layer 109 . Subsequently, after the through-hole holes 121 and the like are appropriately provided, a conductor layer is formed on the surface of the resin insulating layer 109 by electroless plating or the like, and then, according to a conventional method, a predetermined circuit pattern is applied to the conductor layer. formed to form the outermost conductor pattern 110 . In the drawing, reference numeral 103a denotes a connection part, 120 denotes a through hole, and 122 denotes a connection part.

다층 프린트 배선판에 있어서의, 층간에 설치되는 수지 절연층(이하, 「층간 절연층」이라고도 칭함)의 형성 방법의 하나로서, 상기 특허문헌 3에 기재된 바와 같이, 에폭시 수지 조성물 등의 열경화성 수지 조성물을 필름 위에 도포 건조하여 얻어진 수지층을 갖는 드라이 필름을 라미네이트 후에 열경화함으로써 형성하는 방법이 사용되고 있다. 이와 같은 다층 프린트 배선판의 제조에 적용되는 수지 조성물로서는, 예를 들어 특허문헌 4에, 비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지를 포함하는 복수의 에폭시 수지를 병용한 것이 개시되어 있다.As one of the methods of forming a resin insulating layer (hereinafter also referred to as "interlayer insulating layer") provided between layers in a multilayer printed wiring board, as described in Patent Document 3, a thermosetting resin composition such as an epoxy resin composition The method of forming by thermosetting the dry film which has a resin layer obtained by coating-drying on a film after lamination is used is used. As a resin composition applied to manufacture of such a multilayer printed wiring board, what used together the some epoxy resin containing a bisphenol A epoxy resin and a bisphenol F epoxy resin is disclosed by patent document 4, for example.

한편, 다층 프린트 배선판에 있어서는, 스루홀이나 바이어 홀 등의 오목부나 관통 구멍에 충전하기 위한 영구 구멍 매립용 조성물의 개발이 요망되고 있다. 일반적으로, 프린트 배선판의 영구 구멍 매립용 조성물로서는, 열경화형의 에폭시 수지 조성물이 널리 사용되고 있고, 이와 같은 수지 조성물을 사용한 프린트 배선판의 영구 구멍 매립 가공은, 통상, 에폭시 수지 조성물을 프린트 배선판의 구멍부에 충전하는 공정과, 충전된 조성물을 가열하여 연마 가능한 상태로 예비 경화하는 공정과, 예비 경화한 수지 조성물의 구멍부 표면으로부터 비어져 나와 있는 부분을 연마ㆍ제거하는 공정과, 예비 경화한 수지 조성물을 더 가열하여 본경화하는 공정에 의해 행해진다. 프린트 배선판의 구멍 매립용 에폭시 수지 조성물로서는, 실질적으로 용매를 포함하지 않는 것이 사용되고, 예를 들어 특허문헌 5, 6에 개시되어 있는 것이 있다.On the other hand, in a multilayer printed wiring board, development of the composition for permanent hole embedding for filling in recesses, such as a through hole and a via hole, and a through hole is desired. Generally, as a composition for permanent hole embedding of a printed wiring board, a thermosetting epoxy resin composition is widely used, and the permanent hole embedding process of a printed wiring board using such a resin composition is usually carried out by injecting an epoxy resin composition into the hole part of a printed wiring board. A step of filling the porcelain, a step of pre-curing the filled composition to a polished state, a step of polishing/removing a portion protruding from the surface of the hole of the pre-cured resin composition, and a pre-cured resin composition It is performed by the process of further heating and main hardening. As an epoxy resin composition for hole filling of a printed wiring board, the thing which does not contain a solvent substantially is used, for example, there exist some which are disclosed by patent documents 5 and 6.

일본 특허 공개 평7-304931호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 7-304931 (claims) 일본 특허 공개 평7-304933호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 7-304933 (claims) 일본 특허 공개 제2010-1403호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 2010-1403 (claims) 일본 특허 공개 제2014-28880호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 2014-28880 (claims) 일본 특허 공개 평10-075027호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 10-075027 (claims) 일본 특허 공개 평11-222549호 공보(특허 청구범위)Japanese Patent Laid-Open No. 11-222549 (claims)

상술한 바와 같이, 다양한 용도로, 에폭시 수지 조성물이 사용되고 있다. 그러나, 종래 사용되고 있는 에폭시 수지를 함유하는 조성물에서는, 드라이 필름의 형태로 했을 때, 드라이 필름의 유연성이 저하된다는 문제가 있었다. 또한, 종래 사용되고 있는 액상 에폭시 수지를 함유하는 조성물에서 얻어지는 경화물은, 유리 전이 온도가 비교적 낮거나, 보이드가 발생하기 쉽다는 문제도 있었다.As described above, the epoxy resin composition is used for various purposes. However, in the composition containing the epoxy resin used conventionally, when it was set as the form of a dry film, there existed a problem that the softness|flexibility of a dry film fell. Moreover, the hardened|cured material obtained from the composition containing the liquid epoxy resin used conventionally had a comparatively low glass transition temperature, and also had the problem that a void was easy to generate|occur|produce.

그래서 본 발명의 목적은 상기 과제를 해결하여, 종래보다도 더 우수한 성능을 구비하는 열경화성 수지 조성물, 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판을 제공하는 데 있다.Then, the objective of this invention is to solve the said subject, and to provide the thermosetting resin composition, dry film, hardened|cured material, and a printed wiring board provided with the performance more excellent than before.

본 발명자들은 예의 검토한 결과, 에폭시 수지로서, 종래 사용되지 않았던 비스페놀 E형 에폭시 수지를 사용함으로써 상기 과제를 해결할 수 있음을 알아내어, 본 발명을 완성하는 데 이르렀다.As a result of earnest examination, these inventors discovered that the said subject could be solved by using the bisphenol E-type epoxy resin which was not used conventionally as an epoxy resin, and came to complete this invention.

즉, 본 발명의 열경화성 수지 조성물은, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와, (B) 경화제 및 경화 촉진제 중 어느 한쪽 또는 양쪽과, (C) 필러를 함유하는 것을 특징으로 하는 것이다.That is, the thermosetting resin composition of this invention contains (A) a bisphenol E epoxy resin, (B) either or both of a hardening|curing agent and a hardening accelerator, and (C) a filler, It is characterized by the above-mentioned.

본 발명의 조성물은 프린트 배선판의 제조에 적합하게 사용되고, 특히 프린트 배선판의 층간 절연재, 솔더 레지스트, 커버레이 또는 구멍 매립 용도 중 어느 것에 적합하게 사용된다. 본 발명의 조성물은 용도에 따라, 용제를 포함하지 않는 것으로 할 수 있고, 또한 반고형 에폭시 수지 및 고형 에폭시 수지를 포함하지 않는 것으로 할 수도 있다. 또한, 본 발명의 조성물은 용도에 따라, 상기 경화제로서, 페놀 수지, 활성 에스테르 수지 및 시아네이트에스테르 수지 중 적어도 어느 1종을 포함하는 것으로 할 수 있고, 비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지를 더 포함하는 것으로 할 수도 있다. 또한, 본 발명의 조성물에 있어서는, 상기 (C) 필러가 탄산칼슘 및 실리카 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함하는 것이 바람직하다.The composition of this invention is used suitably for manufacture of a printed wiring board, and is especially used suitably for any one of an interlayer insulating material of a printed wiring board, a soldering resist, a coverlay, or a hole filling application. The composition of this invention can be made into the thing which does not contain a solvent depending on a use, and can also be set as the thing which does not contain a semi-solid epoxy resin and a solid epoxy resin. In addition, the composition of the present invention may contain at least any one of a phenol resin, an active ester resin and a cyanate ester resin as the curing agent, depending on the use, and a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin It may be made to include more. Moreover, in the composition of this invention, it is preferable that the said (C) filler contains any one or both of a calcium carbonate and a silica.

본 발명의 드라이 필름은, 필름 위에, 상기 본 발명의 열경화성 수지 조성물을 도포, 건조하여 얻어지는 수지층을 갖는 것을 특징으로 하는 것이다. 본 발명의 드라이 필름에 있어서는, 상기 수지층의 잔류 용제량이, 용제를 포함하는 수지층 전량 기준으로 1질량% 미만인 것이 바람직하다.The dry film of this invention has a resin layer obtained by apply|coating and drying the said thermosetting resin composition of this invention on a film, It is characterized by the above-mentioned. In the dry film of this invention, it is preferable that the residual solvent amount of the said resin layer is less than 1 mass % based on the resin layer whole quantity containing a solvent.

본 발명의 경화물은, 상기 본 발명의 열경화성 수지 조성물, 또는 상기 본 발명의 드라이 필름의 수지층을 경화시켜 얻어지는 것을 특징으로 하는 것이다.The cured product of the present invention is obtained by curing the thermosetting resin composition of the present invention or the resin layer of the dry film of the present invention.

본 발명의 프린트 배선판은, 상기 본 발명의 경화물을 갖는 것을 특징으로 하는 것이다.The printed wiring board of this invention has the said hardened|cured material of this invention, It is characterized by the above-mentioned.

본 발명에 따르면, 드라이 필름의 유연성이 양호하고, 종래 사용되고 있는 액상 에폭시 수지 함유 조성물에서 얻어지는 경화물보다도 경화물의 유리 전이 온도가 높고, 보이드가 발생하기 어려운 열경화성 수지 조성물, 드라이 필름, 경화물 및 프린트 배선판을 실현하는 것이 가능하게 되었다.According to the present invention, the dry film has good flexibility, the glass transition temperature of the cured product is higher than that of a cured product obtained from a conventionally used liquid epoxy resin-containing composition, and a thermosetting resin composition, dry film, cured product, and print that is less prone to voiding. It became possible to realize a wiring board.

도 1은 종래의 빌드 업법에 의해 제작한 다층 프린트 배선판의 개략 구성을 나타내는 부분 단면도이다.
도 2는 에폭시 수지의 액상 판정에 사용한 2개의 시험관을 나타내는 개략 측면도이다.
도 3은 본 발명의 프린트 배선판의 제조 공정의 일부의 일례를 나타내는 개략 단면도이다.
도 4는 도 3에 나타내는 본 발명의 프린트 배선판의 제조 공정의 후속 공정의 일례를 나타내는 개략 단면도이다.
도 5는 본 발명의 프린트 배선판의 제조 방법의 다른 예를 나타내는 개략 단면도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a partial sectional drawing which shows schematic structure of the multilayer printed wiring board produced by the conventional build-up method.
It is a schematic side view which shows the two test tubes used for liquid phase determination of an epoxy resin.
It is a schematic sectional drawing which shows an example of a part of the manufacturing process of the printed wiring board of this invention.
It is a schematic sectional drawing which shows an example of the subsequent process of the manufacturing process of the printed wiring board of this invention shown in FIG.
It is a schematic sectional drawing which shows the other example of the manufacturing method of the printed wiring board of this invention.

이하, 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail.

또한, 본 명세서에 있어서, (메타)아크릴레이트란, 아크릴레이트, 메타크릴레이트 및 그들의 혼합물을 총칭하는 용어이고, 다른 유사한 표현에 대해서도 마찬가지이다.In addition, in this specification, (meth)acrylate is a term which generically names an acrylate, a methacrylate, and a mixture thereof, and it is the same also about other similar expression.

본 발명의 열경화성 수지 조성물은, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와, (B) 경화제 및 경화 촉진제 중 어느 한쪽 또는 양쪽과, (C) 필러를 함유하는 점에 특징을 갖는 것이다. 에폭시 수지로서, 종래 사용되지 않았던 비스페놀 E형 에폭시 수지를 사용함으로써, 종래 범용의 각종 에폭시 수지를 사용한 경우와 비교하여, 보다 우수한 성능을 구비하는 열경화성 수지 조성물로 하는 것이 가능하게 되었다. 본 발명의 열경화성 수지 조성물은 프린트 배선판의 제조용에 유용하고, 특히 프린트 배선판의 층간 절연재, 솔더 레지스트 및 구멍 매립 용도에 있어서 적합하게 사용된다.The thermosetting resin composition of this invention has a characteristic in the point containing (A) a bisphenol E-type epoxy resin, any one or both of (B) a hardening|curing agent and a hardening accelerator, and (C) a filler. By using the bisphenol E-type epoxy resin which has not been used conventionally as an epoxy resin, compared with the case where conventional general-purpose various epoxy resins were used, it became possible to set it as the thermosetting resin composition provided with the more outstanding performance. The thermosetting resin composition of this invention is useful for manufacture of a printed wiring board, Especially in the interlayer insulating material of a printed wiring board, a soldering resist, and a hole filling use, it is used suitably.

본 발명의 조성물은 보존 안정성이 우수하므로, 모든 성분을 혼합한 1액형으로 할 수 있다. 물론, 본 발명의 조성물은, 상기 (A) 성분과 상기 (B)를 나눈 2액형으로 해도 된다.Since the composition of this invention is excellent in storage stability, it can be set as the one-component type which mixed all the components. Of course, the composition of this invention is good also as a two-component type which divided the said (A) component and said (B).

[(A) 비스페놀 E형 에폭시 수지][(A) Bisphenol E Epoxy Resin]

비스페놀 E형 에폭시 수지는 하기의 구조식으로 나타내는 골격을 갖고, 실온에 있어서 액상이며, 유사한 구조를 갖는 비스페놀 A형 에폭시 수지나 비스페놀 F형 에폭시 수지와 비교하여, 낮은 점도 및 높은 내열성을 구비한다는 특징을 갖는다. 즉, 비스페놀 A형 에폭시 수지는, 내열성의 점에서는 E형과 동등한 반면, 점도가 높고, 비스페놀 F형 에폭시 수지는, 점도는 비교적 낮지만, 내열성이 낮은 난점을 갖는 것에 비해, 비스페놀 E형 에폭시 수지는 A형과 F형의 장점을 겸비하고 있다고 할 수 있다. 비스페놀 E형 에폭시 수지로서는, 예를 들어 (주)프린텍제의 EPOX-MK R710, R1710 등을 사용할 수 있다.Bisphenol E-type epoxy resins have a skeleton represented by the following structural formula, are liquid at room temperature, and have low viscosity and high heat resistance compared to bisphenol A-type epoxy resins and bisphenol F-type epoxy resins having a similar structure. have That is, while the bisphenol A epoxy resin is equivalent to the E-type in terms of heat resistance, the viscosity is high, and the bisphenol F-type epoxy resin has a relatively low viscosity, but has a difficult point of low heat resistance, bisphenol E epoxy resin can be said to have the advantages of type A and type F. As a bisphenol E-type epoxy resin, EPOX-MK R710, R1710, etc. made from Co., Ltd. PRINTEC can be used, for example.

Figure 112017078594218-pct00001
Figure 112017078594218-pct00001

예를 들어, 층간 절연재 및 솔더 레지스트에 사용되는 수지 조성물을, 특히 드라이 필름으로서 사용하는 경우, 필름의 유연성을 유지하기 위해, 수지 성분으로서 액상 에폭시 수지를 사용할 필요가 있다. 또한, 수지 조성물의 경화 특성의 향상을 도모하기 위해, 액상 에폭시 수지의 사용량을 필요 최소한으로 억제하여 반고형 및 고형 에폭시 수지를 사용하는 방법이 생각되지만, 종래의 비스페놀 A형 에폭시 수지를 사용한 경우는, 필름의 유연성이 불충분해져, 수지의 가루 낙하나 균열 발생의 문제가 생긴다. 한편, 비스페놀 F형 에폭시 수지를 사용한 경우는, 내열성이 불충분했다. 그로 인해, 필름의 유연성이 불충분한 경우, 유연성을 올리기 위해, 종래는 필름의 잔류 용제량을 증가시키는 방법이 사용되고 있었지만, 잔류 용제량이 많으면, 열경화 시에 보이드(팽창이나 파포)가 발생하기 쉬워지는 문제가 있었다.For example, when using the resin composition used for an interlayer insulating material and a soldering resist especially as a dry film, in order to maintain the softness|flexibility of a film, it is necessary to use a liquid epoxy resin as a resin component. In addition, in order to improve the curing characteristics of the resin composition, a method of using semi-solid and solid epoxy resins with the amount of liquid epoxy resin used is kept to the necessary minimum is considered, but in the case of using a conventional bisphenol A epoxy resin , the flexibility of the film becomes insufficient, and the problem of powder falling or cracking of the resin arises. On the other hand, when the bisphenol F-type epoxy resin was used, heat resistance was inadequate. Therefore, in order to increase the flexibility when the film has insufficient flexibility, a method of increasing the residual solvent amount of the film has been conventionally used. There was a problem with losing.

이에 비해, 에폭시 수지로서 (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 사용한 본 발명의 조성물에서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지를 사용한 경우보다도 점도가 낮고, 비스페놀 F형 에폭시 수지를 사용한 경우보다도 내열성이 높아진다. 또한, 비스페놀 F형 에폭시 수지를 사용한 경우와 동등한 필름의 유연성을 얻을 수 있다. 이에 의해, 잔류 용제량을 저감시킬 수 있으므로, 보이드 발생의 문제를 해소할 수 있다. 또한, 드라이 필름의 잔류 용제량을 저감하여 보이드의 문제를 해소함으로써, 통상, 무용제의 액상 수지 조성물의 형태로 사용되는 구멍 매립 용도로도 드라이 필름을 사용할 수 있으므로, 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층간 절연재, 솔더 레지스트 및 구멍 매립 용도의 전부를 1종의 드라이 필름으로 행하는 것도 가능해진다. 즉, 종래는 구멍 매립 후에 솔더 레지스트층을 형성했지만, 이것들을 동시에 한 공정에서 행하는 것이 가능해지고, 보이드를 억제한 고품질의 기판을, 공정의 간략화나 비용 삭감을 도모하면서 얻는 것이 가능하게 되었다.On the other hand, in the composition of this invention which used (A) bisphenol E-type epoxy resin as an epoxy resin, a viscosity is lower than when a bisphenol A-type epoxy resin is used, and heat resistance becomes higher than when a bisphenol F-type epoxy resin is used. Moreover, the flexibility of a film equivalent to the case where a bisphenol F-type epoxy resin is used can be acquired. Thereby, since the amount of residual solvent can be reduced, the problem of void generation can be eliminated. In addition, since the dry film can be used also for hole filling applications normally used in the form of a solvent-free liquid resin composition by reducing the residual solvent amount of the dry film and solving the problem of voids, in the production of a printed wiring board, the interlayer It also becomes possible to perform all of an insulating material, a soldering resist, and a hole filling use with 1 type of dry film. That is, although the soldering resist layer was conventionally formed after hole filling, it became possible to perform these in one process simultaneously, and it became possible to obtain the high-quality board|substrate which suppressed the void, aiming at the simplification of a process, and cost reduction.

한편, 예를 들어 스루홀 등의 구멍 매립 용도에 사용되는 수지 조성물은, 통상, 액상 수지 조성물(구멍 매립 잉크)로서 사용되기 때문, 무용제이고 페이스트상으로 하기 위해, 액상의 에폭시 수지가 널리 사용되고 있다. 그러나, 비스페놀 A형 에폭시 수지는 점도가 높아 충분한 인쇄성이 얻어지지 않고, 비스페놀 F형 에폭시 수지는 내열성이 낮아 크랙이 생기기 쉽고, 아미노페놀형 에폭시 수지는 흡수율이 높은 것에 더하여, 경화가 빠르기 때문 보이드가 남기 쉽고, 단단하기 때문에 연마성이 나쁘고, 페놀노볼락형 에폭시 수지는 흡수율이 높은 것에 더하여, 점도가 높아 충분한 인쇄성이 얻어지지 않고, 단관능 에폭시 수지는 내열성이 낮아 크랙이 생기기 쉬워, 모두 충분한 것이 아니었다.On the other hand, for example, since a resin composition used for hole filling applications such as through holes is usually used as a liquid resin composition (pore filling ink), a liquid epoxy resin is widely used in order to form a paste without a solvent. . However, bisphenol A type epoxy resin has high viscosity, so sufficient printability is not obtained, bisphenol F type epoxy resin has low heat resistance and is prone to cracking, and aminophenol type epoxy resin has high water absorption and fast curing. Because it is hard, the abrasiveness is poor, the phenol novolac type epoxy resin has high water absorption, and in addition to the high viscosity, sufficient printability is not obtained, and the monofunctional epoxy resin has low heat resistance and is prone to cracking. It wasn't enough.

이에 비해, 에폭시 수지로서 (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 사용한 본 발명의 조성물에서는, 저점도와 고내열성을 양립할 수 있는 것에 더하여, 인쇄 시에 기포가 빠지기 쉽고 보이드의 발생이 억제되고, 필러의 고충전이 가능해지는 점에서 가일층의 저CTE화를 도모할 수 있고, 더욱이 F형과 동등한 유연성을 갖기 때문에, 연마성도 우수한 것이 된다.On the other hand, in the composition of the present invention using (A) bisphenol E-type epoxy resin as the epoxy resin, in addition to being able to achieve both low viscosity and high heat resistance, bubbles are easy to escape during printing and generation of voids is suppressed, and the filler Since high filling is possible, the CTE can be further reduced, and since it has the same flexibility as that of the F-type, it is also excellent in abrasiveness.

또한, 본 발명의 조성물에 있어서는, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와, 비스페놀 A형 에폭시 수지와, 비스페놀 F형 에폭시 수지의 조합에 의해 의외로 보존 안정성이 양호해지는 것을 알 수 있었다. 또한, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와, 아미노페놀형 에폭시 수지의 조합에 의해, Tg가 향상되어, 내열성이 우수한 것이 된다. (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지에 더하여, 비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지를 사용하는 경우, 이들의 배합비는 비스페놀 A형 에폭시 수지/비스페놀 F형 에폭시 수지(질량비)=0.1 내지 10.0으로 할 수 있다.Moreover, in the composition of this invention, it turned out that storage stability becomes favorable unexpectedly by the combination of (A) bisphenol E-type epoxy resin, bisphenol A-type epoxy resin, and bisphenol F-type epoxy resin. Moreover, (A) Tg improves by the combination of a bisphenol E-type epoxy resin and an aminophenol-type epoxy resin, and it becomes the thing excellent in heat resistance. (A) In addition to the bisphenol E type epoxy resin, when using a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin, their compounding ratio is bisphenol A type epoxy resin/bisphenol F type epoxy resin (mass ratio) = 0.1 to 10.0 can do.

그리고, 본 발명의 구멍 매립 용도의 조성물에 있어서는, 보이드의 발생을 억제하는 관점에서 용제를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 또한, 구멍부로의 충전성의 관점에서, 반고형 또는 고형의 에폭시 수지를 포함하지 않는 것이 바람직하다.And in the composition of the hole filling use of this invention, it is preferable not to contain a solvent from a viewpoint of suppressing generation|occurrence|production of a void. Moreover, it is preferable not to contain a semi-solid or solid epoxy resin from a viewpoint of the fillability to a hole part.

[(B) 경화제 및 경화 촉진제][(B) curing agent and curing accelerator]

본 발명의 조성물은 (B) 경화제 및 경화 촉진제 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유한다.The composition of the present invention contains either or both of (B) a curing agent and a curing accelerator.

(경화제)(hardener)

경화제로서는, 페놀 수지, 폴리카르복실산 및 그의 산 무수물, 시아네이트에스테르 수지, 활성 에스테르 수지 등을 들 수 있다. 경화제는 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.As a hardening|curing agent, a phenol resin, polycarboxylic acid, its acid anhydride, cyanate ester resin, active ester resin, etc. are mentioned. A hardening|curing agent can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

상기 페놀 수지로서는, 페놀노볼락 수지, 알킬페놀노볼락 수지, 비스페놀 A 노볼락 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 자일록(Xylok)형 페놀 수지, 테르펜 변성 페놀 수지, 크레졸/나프톨 수지, 폴리비닐페놀류, 페놀/나프톨 수지, α-나프톨 골격 함유 페놀 수지, 트리아진 함유 크레졸노볼락 수지 등의 종래 공지의 것을, 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the phenol resin include phenol novolak resin, alkylphenol novolak resin, bisphenol A novolak resin, dicyclopentadiene type phenol resin, Xylok type phenol resin, terpene-modified phenol resin, cresol/naphthol resin, poly Conventionally known ones such as vinyl phenols, phenol/naphthol resins, α-naphthol skeleton-containing phenol resins and triazine-containing cresol novolac resins can be used alone or in combination of two or more.

상기 폴리카르복실산 및 그의 산 무수물은 1분자 중에 2개 이상의 카르복실기를 갖는 화합물 및 그의 산 무수물이고, 예를 들어, (메타)아크릴산의 공중합물, 무수 말레산의 공중합물, 이염기산의 축합물 등 외에, 카르복실산 말단 이미드 수지 등의 카르복실산 말단을 갖는 수지를 들 수 있다.The polycarboxylic acid and its acid anhydride are a compound having two or more carboxyl groups in one molecule and an acid anhydride thereof, for example, a copolymer of (meth)acrylic acid, a copolymer of maleic anhydride, and a condensate of a dibasic acid In addition to these, resins having a carboxylic acid terminal, such as a carboxylic acid terminal imide resin, are exemplified.

상기 시아네이트에스테르 수지는 1분자 중에 2개 이상의 시아네이트에스테르기(-OCN)를 갖는 화합물이다. 시아네이트에스테르 수지는 종래 공지의 것을 모두 사용할 수 있다. 시아네이트에스테르 수지로서는, 예를 들어 페놀노볼락형 시아네이트에스테르 수지, 알킬페놀노볼락형 시아네이트에스테르 수지, 디시클로펜타디엔형 시아네이트에스테르 수지, 비스페놀 A형 시아네이트에스테르 수지, 비스페놀 F형 시아네이트에스테르 수지, 비스페놀 S형 시아네이트에스테르 수지를 들 수 있다. 또한, 일부가 트리아진화된 프리폴리머여도 된다.The cyanate ester resin is a compound having two or more cyanate ester groups (-OCN) in one molecule. Any conventionally well-known thing can be used for cyanate ester resin. As cyanate ester resin, for example, phenol novolak type cyanate ester resin, alkylphenol novolak type cyanate ester resin, dicyclopentadiene type cyanate ester resin, bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol F type cyanide Nate ester resin and bisphenol S type|mold cyanate ester resin are mentioned. Moreover, the prepolymer by which a part was triazined may be sufficient.

상기 활성 에스테르 수지는 1분자 중에 2개 이상의 활성 에스테르기를 갖는 수지이다. 활성 에스테르 수지는 일반적으로, 카르복실산 화합물과 히드록시 화합물의 축합 반응에 의해 얻을 수 있다. 그 중에서도, 히드록시 화합물로서 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물을 사용하여 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 바람직하다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디히드록시나프탈렌, 1,6-디히드록시나프탈렌, 2,6-디히드록시나프탈렌, 디히드록시벤조페논, 트리히드록시벤조페논, 테트라히드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디시클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락 등을 들 수 있다.The active ester resin is a resin having two or more active ester groups in one molecule. The active ester resin can generally be obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and a hydroxy compound. Especially, the active ester compound obtained using a phenol compound or a naphthol compound as a hydroxy compound is preferable. Examples of the phenolic compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-cresol, p- Cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzo and phenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, benzenetriol, dicyclopentadienyldiphenol, and phenol novolac.

또한, 경화제로서, 지환식 올레핀 중합체를 사용해도 된다. 지환식 올레핀 중합체의 제조 방법의 구체예로서는, (1) 카르복실기 및/또는 카르복실산 무수물기(이하, 「카르복실기 등」이라고 칭함)를 갖는 지환식 올레핀을, 필요에 따라 다른 단량체와 함께 중합하는 방법, (2) 카르복실기 등을 갖는 방향족 올레핀을, 필요에 따라 다른 단량체와 함께 중합하여 얻어지는 (공)중합체의 방향환 부분을 수소화하는 방법, (3) 카르복실기 등을 갖지 않는 지환식 올레핀과, 카르복실기 등을 갖는 단량체를 공중합하는 방법, (4) 카르복실기 등을 갖지 않는 방향족 올레핀과, 카르복실기 등을 갖는 단량체를 공중합하여 얻어지는 공중합체의 방향환 부분을 수소화하는 방법, (5) 카르복실기 등을 갖지 않는 지환식 올레핀 중합체에 카르복실기 등을 갖는 화합물을 변성 반응에 의해 도입하는 방법, 혹은, (6) 상기 (1) 내지 (5)와 같이 하여 얻어지는 카르복실산에스테르기를 갖는 지환식 올레핀 중합체의 카르복실산에스테르기를, 예를 들어 가수분해 등에 의해 카르복실기로 변환하는 방법 등을 들 수 있다.Moreover, you may use an alicyclic olefin polymer as a hardening|curing agent. As a specific example of the method for producing an alicyclic olefin polymer, (1) a method of polymerizing an alicyclic olefin having a carboxyl group and/or a carboxylic acid anhydride group (hereinafter referred to as “carboxyl group etc.”) together with other monomers as needed , (2) a method of hydrogenating the aromatic ring portion of a (co)polymer obtained by polymerizing an aromatic olefin having a carboxyl group or the like with other monomers if necessary, (3) an alicyclic olefin having no carboxyl group, and a carboxyl group, etc. A method of copolymerizing a monomer having (4) a method of hydrogenating the aromatic ring moiety of a copolymer obtained by copolymerizing an aromatic olefin having no carboxyl group and the like with a monomer having a carboxyl group, etc., (5) an alicyclic having no carboxyl group, etc. A method in which a compound having a carboxyl group or the like is introduced into the olefin polymer by a modification reaction, or (6) a carboxylate group of an alicyclic olefin polymer having a carboxylate ester group obtained as in (1) to (5) above. , for example, a method of converting to a carboxyl group by hydrolysis or the like.

경화제 중에서도, 페놀노볼락 수지, 활성 에스테르 수지, 페놀노볼락형 다관능 시아네이트 수지가 바람직하다.Among the curing agents, phenol novolak resins, active ester resins, and phenol novolak-type polyfunctional cyanate resins are preferable.

상기 경화제는, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 포함하는 에폭시 수지의 에폭시기와, 그 에폭시기와 반응하는 경화제 중의 관능기와의 비율이, 경화제의 관능기/에폭시기(당량비)=0.2 내지 2.0이 되는 비율로 배합하는 것이 바람직하다. 경화제의 관능기/에폭시기(당량비)를 상기 범위 내로 함으로써, 디스미어 공정에 있어서의 필름 표면의 조면화를 방지할 수 있다. 보다 바람직하게는 경화제의 관능기/에폭시기(당량비)=0.2 내지 1.5이고, 더욱 바람직하게는 경화제의 관능기/에폭시기(당량비)=0.3 내지 1.0이다.The curing agent is (A) the ratio of the epoxy group of the epoxy resin containing the bisphenol E type epoxy resin and the functional group in the curing agent reacting with the epoxy group is functional group/epoxy group (equivalent ratio) of the curing agent = 0.2 to 2.0. It is preferable to combine. By making the functional group/epoxy group (equivalent ratio) of a hardening|curing agent into the said range, roughening of the film surface in a desmear process can be prevented. More preferably, the functional group/epoxy group (equivalent ratio) of the curing agent is 0.2 to 1.5, and more preferably, the functional group/epoxy group (equivalent ratio) of the curing agent is 0.3 to 1.0.

(경화 촉진제)(curing accelerator)

경화 촉진제는 열경화 반응을 촉진시키는 것이고, 밀착성, 내약품성, 내열성 등의 특성을 보다 한층 향상시키기 위해 사용된다. 이와 같은 경화 촉진제의 구체예로서는, 이미다졸 및 그의 유도체; 아세토구아나민, 벤조구아나민 등의 구아나민류; 디아미노디페닐메탄, m-페닐렌디아민, m-크실렌디아민, 디아미노디페닐술폰, 디시안디아미드, 요소, 요소 유도체, 멜라민, 다염기 히드라지드 등의 폴리아민류; 이들의 유기산염 및/또는 에폭시 어덕트; 삼불화붕소의 아민 착체; 에틸디아미노-S-트리아진, 2,4-디아미노-S-트리아진, 2,4-디아미노-6-크실릴-S-트리아진 등의 트리아진 유도체류; 트리메틸아민, 트리에탄올아민, N,N-디메틸옥틸아민, N-벤질디메틸아민, 피리딘, N-메틸모르폴린, 헥사(N-메틸)멜라민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노페놀), 테트라메틸구아니딘, m-아미노페놀 등의 아민류; 폴리비닐페놀, 폴리비닐페놀브롬화물, 페놀노볼락, 알킬페놀노볼락 등의 폴리페놀류; 트리부틸포스핀, 트리페닐포스핀, 트리스-2-시아노에틸포스핀 등의 유기 포스핀류; 트리-n-부틸(2,5-디히드록시페닐)포스포늄브로마이드, 헥사데실트리부틸포스포늄클로라이드 등의 포스포늄염류; 벤질트리메틸암모늄클로라이드, 페닐트리부틸암모늄클로라이드 등의 4급 암모늄염류; 상기 다염기산 무수물; 디페닐요오도늄테트라플루오로보로에이트, 트리페닐술포늄헥사플루오로안티모네이트, 2,4,6-트리페닐티오피릴륨헥사플루오로포스페이트 등의 광 양이온 중합 촉매; 스티렌-무수 말레산 수지; 페닐이소시아네이트와 디메틸아민의 등몰 반응물이나, 톨릴렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트 등의 유기 폴리이소시아네이트와 디메틸아민의 등몰 반응물, 금속 촉매 등의 종래 공지의 경화 촉진제를 들 수 있다. 경화 촉진제 중에서도, BHAST 내성이 얻어지는 점에서, 포스포늄염류가 바람직하다.A curing accelerator accelerates a thermosetting reaction, and is used in order to further improve characteristics, such as adhesiveness, chemical-resistance, and heat resistance. As a specific example of such a hardening accelerator, imidazole and its derivative(s); guanamines such as acetoguanamine and benzoguanamine; polyamines such as diaminodiphenylmethane, m-phenylenediamine, m-xylenediamine, diaminodiphenylsulfone, dicyandiamide, urea, urea derivatives, melamine, and polybasic hydrazide; their organic acid salts and/or epoxy adducts; amine complexes of boron trifluoride; triazine derivatives such as ethyldiamino-S-triazine, 2,4-diamino-S-triazine, and 2,4-diamino-6-xylyl-S-triazine; Trimethylamine, triethanolamine, N,N-dimethyloctylamine, N-benzyldimethylamine, pyridine, N-methylmorpholine, hexa(N-methyl)melamine, 2,4,6-tris(dimethylaminophenol), tetra amines such as methylguanidine and m-aminophenol; polyphenols such as polyvinylphenol, polyvinylphenol bromide, phenol novolac, and alkylphenol novolak; organic phosphines such as tributylphosphine, triphenylphosphine, and tris-2-cyanoethylphosphine; phosphonium salts such as tri-n-butyl (2,5-dihydroxyphenyl) phosphonium bromide and hexadecyl tributyl phosphonium chloride; quaternary ammonium salts such as benzyltrimethylammonium chloride and phenyltributylammonium chloride; the polybasic acid anhydride; photocationic polymerization catalysts such as diphenyliodonium tetrafluoroboroate, triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, and 2,4,6-triphenylthiopyrylium hexafluorophosphate; styrene-maleic anhydride resin; A conventionally well-known hardening accelerator, such as an equimolar reaction product of phenyl isocyanate and dimethylamine, an equimolar reaction product of organic polyisocyanate, such as tolylene diisocyanate and isophorone diisocyanate, and dimethylamine, a metal catalyst, is mentioned. Among the curing accelerators, phosphonium salts are preferred from the viewpoint of obtaining BHAST tolerance.

또한, 본 발명의 조성물을 구멍 매립용의 액상 수지 조성물로서 사용하는 경우에는, 특히 이미다졸 유도체가 바람직하다. 이미다졸 유도체의 구체예로서는, 예를 들어 2-메틸이미다졸, 4-메틸-2-에틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 4-메틸-2-페닐이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 2-에틸이미다졸, 2-이소프로필이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸 등을 들 수 있다. 시판되고 있는 것의 구체예로서는, 상품명 2E4MZ, C11Z, C17Z, 2PZ 등의 이미다졸류나, 상품명 2MZ-A, 2E4MZ-A 등의 이미다졸의 AZINE 화합물, 상품명 2MZ-OK, 2PZ-OK 등의 이미다졸의 이소시아누르산염, 상품명 2PHZ, 2P4MHZ 등의 이미다졸히드록시메틸체(상기 상품명은 모두 시코쿠 가세이 고교(주)제) 등을 들 수 있다.Moreover, especially when using the composition of this invention as a liquid resin composition for pore filling, an imidazole derivative is preferable. Specific examples of the imidazole derivative include 2-methylimidazole, 4-methyl-2-ethylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-methyl-2-phenylimidazole, 1-benzyl- 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-isopropylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimida sol, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, etc. are mentioned. Specific examples of commercially available products include imidazoles such as 2E4MZ, C11Z, C17Z, and 2PZ, AZINE compounds of imidazole such as 2MZ-A and 2E4MZ-A, imidazoles such as 2MZ-OK and 2PZ-OK and imidazole hydroxymethyl compounds such as isocyanuric acid salt and brand names 2PHZ and 2P4MHZ (all of the above brand names are manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.).

상기 이미다졸 이외에도, 디시안디아미드와 그의 유도체, 멜라민과 그의 유도체, 디아미노말레오니트릴과 그의 유도체, 디에틸렌트리아민, 트리에틸렌테트라민, 테트라메틸렌펜타민, 비스(헥사메틸렌)트리아민, 트리에탄올아민, 디아미노디페닐메탄, 유기산 히드라지드 등의 아민류, 1,8-디아자비시클로[5.4.0]운데센-7(상품명 DBU, 산-아프로(주)제), 3,9-비스(3-아미노프로필)-2,4,8,10-테트라옥사스피로[5.5]운데칸(상품명 ATU, 아지노모토(주)제), 또는 트리페닐포스핀, 트리시클로헥실포스핀, 트리부틸포스핀, 메틸디페닐포스핀 등의 유기 포스핀 화합물 등을, 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 그러나, 방향족 아민류를 사용한 경우에는 가열 경화 후의 수지 조성물의 수축이 커, 경화 후에 스루홀 벽과의 사이에 간극이 생기거나, 구멍 매립부의 경화물에 보이드가 발생하기 쉬우므로 바람직하지 않다. 이들 경화 촉매 중에서도, 디시안디아미드, 멜라민이나, 아세토구아나민, 벤조구아나민, 3,9-비스[2-(3,5-디아미노-2,4,6-트리아자페닐)에틸]-2,4,8,10-테트라옥사스피로[5.5]운데칸 등의 구아나민 및 그의 유도체, 및 이들의 유기산염이나 에폭시 어덕트 등은, 구리와의 밀착성이나 방청성을 갖는 것이 알려져 있고, 에폭시 수지의 경화 촉매로서 작용할 뿐만 아니라, 프린트 배선판의 구리의 변색 방지에 기여할 수 있다.In addition to imidazole, dicyandiamide and its derivatives, melamine and its derivatives, diaminomaleonitrile and its derivatives, diethylenetriamine, triethylenetetramine, tetramethylenepentamine, bis(hexamethylene)triamine, and triethanol Amines, such as amines, diaminodiphenylmethane, organic acid hydrazide, 1,8-diazabicyclo[5.4.0]undecene-7 (trade name DBU, manufactured by San-Apro Corporation), 3,9-bis( 3-aminopropyl)-2,4,8,10-tetraoxaspiro[5.5]undecane (trade name ATU, manufactured by Ajinomoto Co., Ltd.), or triphenylphosphine, tricyclohexylphosphine, tributylphosphine; Organic phosphine compounds, such as methyldiphenylphosphine, etc. can be used individually or in combination of 2 or more types. However, when aromatic amines are used, the shrinkage of the resin composition after heat curing is large, and gaps with the through-hole walls are formed after curing, or voids are easily generated in the cured product of the hole filling portion, which is not preferable. Among these curing catalysts, dicyandiamide, melamine, acetoguanamine, benzoguanamine, 3,9-bis[2-(3,5-diamino-2,4,6-triazaphenyl)ethyl]-2 It is known that guanamine and its derivatives, such as ,4,8,10-tetraoxaspiro[5.5]undecane, and their organic acid salts and epoxy adducts have adhesion to copper and rust prevention properties, and epoxy resins It not only acts as a curing catalyst, but can contribute to the prevention of discoloration of copper of a printed wiring board.

경화 촉진제는 1종을 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.A hardening accelerator can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

본 발명에 있어서, 경화 촉진제의 배합량은, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 포함하는 에폭시 수지 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 내지 20질량부의 범위에서 사용할 수 있다. 또한, 금속 촉매의 경우, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 포함하는 에폭시 수지 100질량부에 대하여, 금속 환산으로 10 내지 550ppm이 바람직하고, 25 내지 200ppm이 바람직하다.In this invention, the compounding quantity of a hardening accelerator becomes like this with respect to 100 mass parts of epoxy resins containing (A) bisphenol E-type epoxy resin. Preferably it can use in 0.01-20 mass parts. Moreover, in the case of a metal catalyst, 10-550 ppm is preferable in conversion of a metal with respect to 100 mass parts of epoxy resins containing (A) bisphenol E-type epoxy resin, and 25-200 ppm is preferable.

[(C) 필러][(C) Filler]

본 발명의 조성물은 (C) 필러를 함유한다. 필러를 배합함으로써, 절연층의 주위에 있는 구리 등의 도체층과 CTE를 가깝게 함으로써, 경화 특성을 향상시킬 수 있다. 필러로서는, 종래 공지의 어떤 무기 충전제 및 유기 충전제든 사용할 수 있고, 특정한 것으로 한정되지 않지만, 도막의 경화 수축을 억제하고, 밀착성, 경도 등의 특성의 향상에 기여할 수 있는 무기 필러가 바람직하다. 무기 필러로서는, 예를 들어 황산바륨, 티타늄산바륨, 무정형 실리카, 결정성 실리카, 용융 실리카, 구상 실리카, 탈크, 클레이, 탄산마그네슘, 탄산칼슘, 산화알루미늄, 수산화알루미늄, 질화규소, 질화알루미늄, 질화붕소, 알루미나, 산화마그네슘, 수산화마그네슘, 산화티타늄, 마이카, 탈크, 노이부르크 규토, 유기 벤토나이트, 인산지르코늄 등의 비금속 필러나, 구리, 주석, 아연, 니켈, 은, 팔라듐, 알루미늄, 철, 코발트, 금, 백금, 실리콘 등의 금속 필러를 들 수 있고, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 적절히 조합하여 사용할 수 있다.The composition of the present invention contains (C) a filler. By mix|blending a filler, hardening characteristics can be improved by making CTE close to conductor layers, such as copper, which exist around an insulating layer. As the filler, any conventionally known inorganic filler and organic filler can be used, and although it is not limited to a specific one, an inorganic filler capable of suppressing cure shrinkage of a coating film and contributing to improvement of properties such as adhesion and hardness is preferable. Examples of the inorganic filler include barium sulfate, barium titanate, amorphous silica, crystalline silica, fused silica, spherical silica, talc, clay, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, silicon nitride, aluminum nitride, boron nitride. , alumina, magnesium oxide, magnesium hydroxide, titanium oxide, mica, talc, Neuburg silicate, organic bentonite, non-metal fillers such as zirconium phosphate, copper, tin, zinc, nickel, silver, palladium, aluminum, iron, cobalt, gold , platinum, and metal fillers such as silicon, and may be used alone or in combination of two or more thereof.

본 발명에 있어서는, 상기 중에서도, (C) 필러로서, 탄산칼슘 및 실리카 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 사용하는 것이 바람직하다. 탄산칼슘을 배합함으로써, 유연하고 연마성이 우수한 드라이 필름으로 할 수 있고, 실리카를 배합함으로써, CTE를 보다 저감하고, TCT 내성을 향상시킬 수 있다. 실리카로서는, 비정질, 결정 중 어느 것이어도 되고, 이들의 혼합물이어도 된다. 특히, 비정질(용융) 실리카가 바람직하다. 또한, 탄산칼슘으로서는, 천연의 중질 탄산칼슘이나, 합성의 침강 탄산칼슘 중 어느 것이어도 된다. 특히, 본 발명의 조성물을 구멍 매립용으로서 사용하는 경우에는, (C) 필러로서, 연마성이 우수한 탄산칼슘을 사용하는 것이 바람직하다.In the present invention, among the above, it is preferable to use either or both of calcium carbonate and silica as the (C) filler. By mix|blending a calcium carbonate, it can be set as the dry film excellent in softness|polishing property, and CTE can be reduced more and TCT resistance can be improved by mix|blending a silica. Silica may be either amorphous or crystalline, or a mixture thereof. In particular, amorphous (fused) silica is preferable. The calcium carbonate may be either natural ground calcium carbonate or synthetic precipitated calcium carbonate. In particular, when the composition of the present invention is used for filling holes, it is preferable to use calcium carbonate excellent in abrasiveness as the (C) filler.

필러의 형상으로서는, 구상, 침상, 판상, 인편상, 중공상, 부정형상, 육각상, 큐빅상, 박편상 등을 들 수 있지만, 무기 필러의 고충전의 관점에서는, 구상이 바람직하다. 또한, 필러의 평균 입경은 25㎛ 이하인 것이 바람직하고, 5㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 하한값으로서는, 예를 들어 1㎚ 이상이다. 한편, 25㎛ 이하이면, 본 발명의 조성물을 구멍 매립재로서 사용했을 때에, 프린트 배선판의 구멍부에 대한 충전성이 양호해지고, 또한 구멍을 매립한 부분에 도체층을 형성했을 때에 평활성이 양호해진다는 효과가 있다. 또한, 평균 입경은 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해 구할 수 있다.Examples of the shape of the filler include spherical, needle-like, plate-like, scale-like, hollow, irregular, hexagonal, cubic, flaky, and the like, but from the viewpoint of high filling of the inorganic filler, spherical shape is preferable. Moreover, it is preferable that it is 25 micrometers or less, and, as for the average particle diameter of a filler, it is more preferable that it is 5 micrometers or less. As a lower limit, it is 1 nm or more, for example. On the other hand, when the composition of the present invention is 25 µm or less, when the composition of the present invention is used as a hole filling material, the filling property with respect to the hole portion of the printed wiring board becomes good, and when the conductor layer is formed in the hole part, the smoothness becomes good. is effective. In addition, the average particle diameter can be calculated|required with the laser diffraction type particle diameter distribution measuring apparatus.

본 발명의 조성물에 있어서의 (C) 필러의 배합량은, 용제를 제외한 조성물 전량 기준으로 1 내지 90질량%인 것이 바람직하고, 10 내지 90질량%인 것이 보다 바람직하고, 30 내지 80질량%인 것이 더욱 바람직하다. 필러의 배합량이 1질량% 이상이면, 열팽창을 억제하고, 내열성을 향상시킬 수 있고, 연마성이나 밀착성을 발휘할 수 있다. 한편, 90질량% 이하이면, 경화물의 경도가 향상되고, 크랙의 발생을 억제할 수 있음과 함께, 액상 페이스트화가 용이하게 발생하기 쉬워, 인쇄성, 구멍 매립 충전성 등이 얻어진다.It is preferable that the compounding quantity of (C) filler in the composition of this invention is 1-90 mass % based on the composition whole quantity excluding a solvent, It is more preferable that it is 10-90 mass %, It is 30-80 mass % more preferably. If the compounding quantity of a filler is 1 mass % or more, thermal expansion can be suppressed, heat resistance can be improved, and grinding|polishing property and adhesiveness can be exhibited. On the other hand, when it is 90 mass % or less, the hardness of hardened|cured material improves, generation|occurrence|production of a crack can be suppressed, and liquid paste formation easily occurs, and printability, hole filling property, etc. are acquired.

본 발명의 조성물은 상기 (A), (B) 및 (C) 성분을 함유하는 것을 필수로 하지만, 용도에 따라, 다른 성분을 더 포함하고 있어도 된다.Although it is essential that the composition of this invention contains the said (A), (B), and (C) component, depending on a use, it may contain other components further.

(다른 에폭시 수지)(other epoxy resins)

본 발명의 조성물에 있어서는, 에폭시 수지로서 (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지를 포함하는 것이 필수이지만, 본 발명의 소기의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 다른 에폭시 화합물을 1종 또는 2종 이상으로 포함해도 된다.In the composition of this invention, although it is essential to contain (A) bisphenol E-type epoxy resin as an epoxy resin, it is a range which does not impair the desired effect of this invention, and contains another epoxy compound by 1 type or 2 types or more. You can do it.

상기 에폭시 화합물은 에폭시기를 갖는 화합물이고, 종래 공지의 것을 모두 사용할 수 있고, 분자 중에 에폭시기를 2개 갖는 2관능성 에폭시 화합물, 분자 중에 에폭시기를 다수 갖는 다관능 에폭시 화합물 등을 들 수 있다. 또한, 수소 첨가된 2관능 에폭시 화합물이어도 된다.The epoxy compound is a compound having an epoxy group, and any conventionally known one can be used. Examples of the epoxy compound include a bifunctional epoxy compound having two epoxy groups in a molecule, and a polyfunctional epoxy compound having a large number of epoxy groups in a molecule. Moreover, the hydrogenated bifunctional epoxy compound may be sufficient.

에폭시 화합물로서는, 예를 들어 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 수소 첨가 비스페놀 A형 에폭시 수지, 브롬화 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 A의 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리페닐메탄형 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 지방족 쇄상 에폭시 수지, 인 함유 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 노르보르넨형 에폭시 수지, 아다만탄형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지, 아미노페놀형 에폭시 수지, 아미노크레졸형 에폭시 수지, 알킬페놀형 에폭시 수지 등이 사용된다. 에폭시 화합물은 고형 에폭시 수지, 반고형 에폭시 수지 및 액상 에폭시 수지 중 어느 것이어도 된다.As an epoxy compound, For example, bisphenol A epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, brominated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolac Epoxy resin, bisphenol A novolak epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, triphenylmethane type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, aliphatic Chain epoxy resin, phosphorus-containing epoxy resin, anthracene-type epoxy resin, norbornene-type epoxy resin, adamantane-type epoxy resin, fluorene-type epoxy resin, aminophenol-type epoxy resin, aminocresol-type epoxy resin, alkylphenol-type epoxy resin, etc. this is used Any of a solid epoxy resin, a semi-solid epoxy resin, and a liquid epoxy resin may be sufficient as an epoxy compound.

여기서, 본 명세서에 있어서, 고형 에폭시 수지란 40℃에서 고체상인 에폭시 수지를 말하고, 반고형 에폭시 수지란 20℃에서 고체상이며 40℃에서 액상인 에폭시 수지를 말하고, 액상 에폭시 수지란 20℃에서 액상인 에폭시 수지를 말한다.Here, in this specification, a solid epoxy resin refers to an epoxy resin that is in a solid state at 40°C, a semi-solid epoxy resin refers to an epoxy resin that is solid at 20°C and liquid at 40°C, and a liquid epoxy resin is a liquid epoxy resin at 20°C. Epoxy resin.

상기 액상의 판정은 위험물의 시험 및 성상에 관한 성령(1989년 일본 자치성령 제1호)의 별지 제2 「액상의 확인 방법」에 준하여 행할 수 있다.The determination of the liquid can be performed in accordance with the Attachment 2 "Method for Confirming Liquid Level" of the Ordinance on Testing and Characteristics of Dangerous Substances (Ordinance of the Ministry of Autonomy of Japan, 1989 No. 1).

(1) 장치(1) device

항온 수조:constant temperature bath:

교반기, 히터, 온도계, 자동 온도 조절기(±0.1℃로 온도 제어가 가능한 것)를 구비한 것이고 깊이 150㎜ 이상의 것을 사용한다.It is equipped with a stirrer, heater, thermometer, and automatic temperature controller (one that can control the temperature at ±0.1°C), and uses a depth of 150 mm or more.

또한, 후술하는 실시예에서 사용한 에폭시 수지의 판정에서는, 모두 야마토 가가쿠사제의 저온 항온 수조(형식 BU300)와 투입식 항온 장치 서모메이트(형식 BF500)의 조합을 사용하고, 수돗물 약 22리터를 저온 항온 수조(형식 BU300)에 넣고, 이것에 부착된 서모메이트(형식 BF500)의 전원을 넣고 설정 온도(20℃ 또는 40℃)로 설정하고, 수온을 설정 온도±0.1℃로 서모메이트(형식 BF500)로 미세 조정했지만, 동일한 조정이 가능한 장치라면 모두 사용할 수 있다.In addition, in the determination of the epoxy resin used in the Examples to be described later, a combination of a low-temperature constant temperature water tank (model BU300) manufactured by Yamato Chemical Co., Ltd. and an input type thermostat (model BF500) was used, and approximately 22 liters of tap water was heated at a low temperature. Put it in a constant temperature water bath (model BU300), turn on the power supply of the thermomate (model BF500) attached to it, set it to the set temperature (20°C or 40°C), and set the water temperature to the set temperature ±0.1°C for the thermomate (model BF500). is fine-tuned, but any device that can adjust the same can be used.

시험관:examiner:

시험관으로서는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 내경 30㎜, 높이 120㎜의 평저 원통형 투명 유리제의 것이고, 관 바닥으로부터 55㎜ 및 85㎜ 높이인 곳에 각각 표선(31, 32)이 부여되고, 시험관의 입구를 고무 마개(33a)로 밀폐한 액상 판정용 시험관(30a)과, 동일한 사이즈로 마찬가지로 표선이 부여되고, 중앙에 온도계를 삽입ㆍ지지하기 위한 구멍이 뚫린 고무 마개(33b)로 시험관의 입구를 밀폐하고, 고무 마개(33b)에 온도계(34)를 삽입한 온도 측정용 시험관(30b)을 사용한다. 이하, 관 바닥으로부터 55㎜ 높이의 표선을 「A선」, 관 바닥으로부터 85㎜ 높이의 표선을 「B선」이라고 한다.As a test tube, as shown in FIG. 2, it is made of flat-bottomed cylindrical transparent glass with an inner diameter of 30 mm and a height of 120 mm, and marked lines 31 and 32 are respectively provided at 55 mm and 85 mm heights from the bottom of the tube, and the inlet of the test tube is Sealed with a rubber stopper (33a), the test tube for liquidity determination (30a), the same size, similarly marked lines, and sealed the entrance of the test tube with a rubber stopper (33b) with a hole for inserting and supporting the thermometer in the center and use the test tube 30b for temperature measurement in which the thermometer 34 is inserted into the rubber stopper 33b. Hereinafter, the marked line 55 mm high from the bottom of the tube is called "Line A", and the marked line 85 mm high from the bottom of the tube is called "Line B".

온도계(34)로서는, JIS B7410(1982) 「석유류 시험용 유리제 온도계」에서 규정하는 응고점 측정용의 것(SOP-58 눈금 범위 20 내지 50℃)을 사용하지만, 0 내지 50℃의 온도 범위를 측정할 수 있는 것이면 좋다.As the thermometer 34, the one for measuring the freezing point prescribed in JIS B7410 (1982) "Glass thermometer for testing of petroleum products" (SOP-58 scale range of 20 to 50 ° C) is used, but the temperature range of 0 to 50 ° C can be measured. It's good if you can.

(2) 시험의 실시 수순(2) Procedure of the test

온도 20±5℃의 대기압 하에서 24시간 이상 방치한 시료를, 도 2의 (a)에 나타내는 액상 판정용 시험관(30a)과 도 2의 (b)에 나타내는 온도 측정용 시험관(30b)에 각각 A선까지 넣는다. 2개의 시험관(30a, 30b)을 저온 항온 수조에 B선이 수면 아래가 되도록 직립시켜 정치한다. 온도계는 그 하단이 A선보다도 30㎜ 아래가 되도록 한다.A sample left at a temperature of 20±5° C. under atmospheric pressure for 24 hours or more was placed in the test tube 30a for liquid determination shown in FIG. 2(a) and the test tube 30b for temperature measurement shown in FIG. up to the line The two test tubes (30a, 30b) are placed upright in a low-temperature constant temperature water bath so that the B line is below the water surface and left still. The lower end of the thermometer should be 30 mm below the A line.

시료 온도가 설정 온도±0.1℃에 도달하고 나서 10분간 그대로의 상태를 유지한다. 10분 후, 액상 판단용 시험관(30a)을 저온 항온 수조로부터 취출하고, 즉시 수평한 시험대 위에 수평으로 쓰러뜨리고, 시험관 내의 액면의 선단이 A선부터 B선까지 이동한 시간을 스톱워치로 측정하고, 기록한다. 시료는 설정 온도에서, 측정된 시간이 90초 이내인 것을 액상, 90초를 초과하는 것을 고체상이라고 판정한다.After the sample temperature reaches the set temperature ±0.1°C, keep it as it is for 10 minutes. After 10 minutes, the liquid test tube 30a is taken out from the low-temperature constant-temperature water bath, immediately laid down on a horizontal test bench, and the time the tip of the liquid level in the test tube moved from line A to line B is measured with a stopwatch, record A sample is judged to be a liquid phase when the measured time is less than 90 seconds at a set temperature, and a solid phase to exceed 90 seconds.

고형 에폭시 수지로서는, DIC사제 HP-4700(나프탈렌형 에폭시 수지), DIC사제 EXA4700(4관능 나프탈렌형 에폭시 수지), 닛폰 가야쿠사제 NC-7000(나프탈렌 골격 함유 다관능 고형 에폭시 수지) 등의 나프탈렌형 에폭시 수지; 닛폰 가야쿠사제 EPPN-502H(트리스페놀에폭시 수지) 등의 페놀류와 페놀성 수산기를 갖는 방향족 알데히드와의 축합물의 에폭시화물(트리스페놀형 에폭시 수지); DIC사제 에피클론HP-7200H(디시클로펜타디엔 골격 함유 다관능 고형 에폭시 수지) 등의 디시클로펜타디엔아르알킬형 에폭시 수지; 닛폰 가야쿠사제 NC-3000H(비페닐 골격 함유 다관능 고형 에폭시 수지) 등의 비페닐아르알킬형 에폭시 수지; 닛폰 가야쿠사제 NC-3000L 등의 비페닐/페놀노볼락형 에폭시 수지; DIC사제 에피클론N660, 에피클론N690, 닛폰 가야쿠사제 EOCN-104S 등의 노볼락형 에폭시 수지; 미츠비시 가가쿠사제 YX-4000 등의 비페닐형 에폭시 수지; 신닛테츠 스미킨 가가쿠사제 TX0712 등의 인 함유 에폭시 수지; 닛산 가가쿠 고교사제 TEPIC 등의 트리스(2,3-에폭시프로필)이소시아누레이트 등을 들 수 있다.As a solid epoxy resin, DIC company HP-4700 (naphthalene type epoxy resin), DIC company EXA4700 (tetrafunctional naphthalene type epoxy resin), Nippon Kayaku Corporation NC-7000 (naphthalene skeleton containing polyfunctional solid epoxy resin), such as naphthalene types epoxy resin; an epoxidized product (trisphenol-type epoxy resin) of a condensate of a phenol and an aromatic aldehyde having a phenolic hydroxyl group, such as EPPN-502H (trisphenol epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Corporation; Dicyclopentadiene aralkyl type epoxy resins, such as Epiclon HP-7200H (dicyclopentadiene skeleton containing polyfunctional solid epoxy resin) by DIC; Biphenyl aralkyl type epoxy resins, such as Nippon Kayaku Co., Ltd. NC-3000H (biphenyl skeleton containing polyfunctional solid epoxy resin); Biphenyl/phenol novolak-type epoxy resins, such as NC-3000L by Nippon Kayaku Co., Ltd.; Novolac-type epoxy resins, such as Epiclon N660 by DIC, Epiclon N690, and EOCN-104S by Nippon Kayaku; Biphenyl type epoxy resins, such as YX-4000 by Mitsubishi Chemical Corporation; Phosphorus containing epoxy resins, such as TX0712 by the Shin-Nittetsu Sumikin Chemical company; Tris(2,3-epoxypropyl)isocyanurate, such as TEPIC by Nissan Chemical Industry Co., Ltd., etc. are mentioned.

반고형 에폭시 수지로서는, DIC사제 에피클론860, 에피클론900-IM, 에피클론EXA-4816, 에피클론EXA-4822, 아사히 치바사제 아랄다이트AER280, 도토 가세이사제 에포토토YD-134, 재팬 에폭시 레진사제 jER834, jER872, 스미토모 가가쿠 고교사제 ELA-134 등의 비스페놀 A형 에폭시 수지; DIC사제 에피클론 HP-4032 등의 나프탈렌형 에폭시 수지; DIC사제 에피클론N-740 등의 페놀노볼락형 에폭시 수지 등을 들 수 있다.As a semi-solid epoxy resin, DIC Corporation Epiclone 860, Epiclone 900-IM, Epiclone EXA-4816, Epiclone EXA-4822, Asahi Chiba Corporation Araldite AER280, Toto Chemical Corporation Epottoto YD-134, Japan Bisphenol-A epoxy resins, such as jER834 and jER872 by an epoxy resin company, and ELA-134 by Sumitomo Chemical Co., Ltd.; Naphthalene-type epoxy resins, such as Epiclon HP-4032 by DIC; Phenol novolak-type epoxy resins, such as DIC Corporation Epiclon N-740, etc. are mentioned.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 아미노페놀형 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지 등을 들 수 있다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, aminophenol type epoxy resin An epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, etc. are mentioned.

본 발명의 조성에 있어서는, 액상인 (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 함께, 반고형 에폭시 수지와, 고형 에폭시 수지를 병용해도 된다. 이 경우, (A) 성분의 배합량은 고형분 환산으로, 조성물 전량 기준으로 1 내지 45질량%인 것이 바람직하고, 1 내지 30질량%인 것이 보다 바람직하고, 1 내지 10질량%인 것이 더욱 바람직하다.In the composition of this invention, you may use together a semi-solid epoxy resin and a solid epoxy resin with liquid (A) bisphenol E-type epoxy resin. In this case, it is preferable that the compounding quantity of (A) component is 1-45 mass % based on the composition whole quantity in conversion of solid content, It is more preferable that it is 1-30 mass %, It is still more preferable that it is 1-10 mass %.

반고형 또는 고형의 에폭시 수지는 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 반고형 및 고형의 에폭시 수지의 배합량은, 용제를 제외한 고형분 환산으로, 조성물 전량 기준으로 5 내지 50질량%인 것이 바람직하고, 10 내지 40질량%인 것이 보다 바람직하고, 10 내지 35질량%가 더욱 바람직하다.A semi-solid or solid epoxy resin can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. The blending amount of the semi-solid and solid epoxy resin is preferably 5 to 50 mass %, more preferably 10 to 40 mass %, more preferably 10 to 35 mass %, based on the total amount of the composition, in conversion of the solid content excluding the solvent. desirable.

또한, 내열성, 유연성 및 흡수율을 유지할 수 있는 범위에서, 액상 에폭시 수지로서, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 함께, 비스페놀 A형 에폭시 수지 등의 다른 액상 성분을 사용해도 된다. 이 경우, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지의 배합량은 액상 에폭시 수지의 전량 기준으로 1 내지 90질량%인 것이 바람직하고, 1 내지 70질량%인 것이 보다 바람직하고, 1 내지 50질량%인 것이 더욱 바람직하다.Moreover, you may use other liquid components, such as a bisphenol A epoxy resin, together with (A) bisphenol E epoxy resin as a liquid epoxy resin in the range which can maintain heat resistance, flexibility, and water absorption. In this case, (A) the compounding amount of the bisphenol E-type epoxy resin is preferably 1-90 mass %, more preferably 1-70 mass %, furthermore, 1-50 mass %, based on the total amount of the liquid epoxy resin. desirable.

또한, 본 발명의 조성물을, 예를 들어 구멍 매립용의 액상 수지 조성물로서 사용하는 경우에는, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 함께, 다관능 에폭시 수지를 병용하는 것이 바람직하다. (A) 성분과 함께 다관능 에폭시 수지를 병용함으로써, 내열성을 더 향상시킬 수 있는 효과가 있다. 이 경우, (A) 성분의 배합량은, 비스페놀 E형 에폭시 수지를 포함하는 에폭시 수지 전량에 대하여, 10질량% 이상인 것이 바람직하고, 15 내지 80질량%인 것이 보다 바람직하고, 15 내지 60질량%인 것이 더욱 바람직하다.In addition, when using the composition of this invention as a liquid resin composition for hole filling, for example, it is preferable to use a polyfunctional epoxy resin together with (A) bisphenol E-type epoxy resin. (A) By using a polyfunctional epoxy resin together with a component, there exists an effect which can improve heat resistance further. In this case, the compounding quantity of component (A) is preferably 10 mass % or more, more preferably 15 to 80 mass %, and 15 to 60 mass % with respect to the total amount of the epoxy resin containing the bisphenol E-type epoxy resin. more preferably.

또한, 본 발명의 조성물을, 예를 들어 구멍 매립용의 액상 수지 조성물로서 사용하는 경우에는, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 함께, 고형상의 에폭시 수지를 용제에 녹여 사용해도 된다. 이 경우, 용제로서는, 케톤류, 방향족 탄화수소류, 글리콜에테르류, 글리콜에테르아세테이트류, 에스테르류, 알코올류, 지방족 탄화수소, 석유계 용제 등을 사용할 수 있다. 구체적으로는, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류; 톨루엔, 크실렌, 테트라메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소류; 셀로솔브, 메틸셀로솔브, 부틸셀로솔브, 카르비톨, 메틸카르비톨, 부틸카르비톨, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜디에틸에테르, 트리에틸렌글리콜모노에틸에테르 등의 글리콜에테르류; 아세트산에틸, 아세트산부틸, 디프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜에틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜부틸에테르아세테이트, 락트산메틸, 락트산에틸, 락트산부틸 등의 에스테르류; 에탄올, 프로판올, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜 등의 알코올류; 옥탄, 데칸 등의 지방족 탄화수소; 석유 에테르, 석유 나프타, 수소 첨가 석유 나프타, 솔벤트 나프타 등의 석유계 용제 등을 들 수 있다. 이들 용제는 단독으로 사용해도 되고, 또는 2종 이상을 병용해도 된다. 또한, 용제의 배합량은 본 발명의 소기의 효과가 얻어지는 범위에서, 작업성 등에 기초하여 적절히 결정하면 된다.In addition, when using the composition of this invention as a liquid resin composition for hole filling, for example, you may melt|dissolve a solid epoxy resin in a solvent with (A) bisphenol E epoxy resin, and may use it. In this case, as the solvent, ketones, aromatic hydrocarbons, glycol ethers, glycol ether acetates, esters, alcohols, aliphatic hydrocarbons, petroleum solvents and the like can be used. Specifically, Ketones, such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone; aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene, and tetramethylbenzene; Cellosolve, methyl cellosolve, butyl cellosolve, carbitol, methyl carbitol, butyl carbitol, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol diethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether glycol ethers such as; esters such as ethyl acetate, butyl acetate, dipropylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol ethyl ether acetate, propylene glycol butyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, and butyl lactate; alcohols such as ethanol, propanol, ethylene glycol, and propylene glycol; aliphatic hydrocarbons such as octane and decane; Petroleum solvents, such as petroleum ether, petroleum naphtha, hydrogenated petroleum naphtha, and solvent naphtha, etc. are mentioned. These solvents may be used independently and may use 2 or more types together. In addition, what is necessary is just to determine the compounding quantity of a solvent suitably based on workability|operativity etc. in the range from which the desired effect of this invention is acquired.

(착색제)(coloring agent)

본 발명의 조성물에는 필요에 따라, 착색제를 함유시킬 수 있다. 착색제를 함유함으로써, 특히 본 발명의 조성물을 솔더 레지스트층 등의 표층의 형성에 사용한 경우에, 회로 등의 은폐성을 높일 수 있다. 착색제로서는, 적, 청, 녹, 황, 백, 흑 등의 관용 공지의 착색제를 사용할 수 있고, 안료, 염료, 색소의 어느 것이어도 된다. 구체적으로는, 컬러 인덱스(C.I.; 더 소사이어티 오브 다이어즈 앤드 컬러리스츠(The Society of Dyers and Colourists) 발행) 번호가 부여되어 있는 것을 들 수 있다. 단, 환경 부하 저감, 그리고 인체에 대한 영향의 관점에서 할로겐을 함유하지 않는 착색제인 것이 바람직하다.If necessary, the composition of the present invention may contain a colorant. By containing a coloring agent, when especially the composition of this invention is used for formation of surface layers, such as a soldering resist layer, concealability, such as a circuit, can be improved. As a coloring agent, commonly known coloring agents, such as red, blue, green, yellow, white, and black, can be used, Any of a pigment, dye, and a pigment|dye may be sufficient. Specific examples include those to which a color index (C.I.; issued by The Society of Dyers and Colorists) number is assigned. However, it is preferable that it is a coloring agent which does not contain a halogen from a viewpoint of environmental load reduction and an influence on a human body.

적색 착색제로서는 모노아조계, 디스아조계, 아조레이크계, 벤즈이미다졸론계, 페릴렌계, 디케토피롤로피롤계, 축합 아조계, 안트라퀴논계, 퀴나크리돈계 등을 들 수 있다. 청색 착색제로서는 금속 치환 혹은 비치환의 프탈로시아닌계, 안트라퀴논계가 있고, 안료계는 피그먼트(Pigment)로 분류되어 있는 화합물이 있다. 녹색 착색제로서는, 마찬가지로 금속 치환 혹은 비치환의 프탈로시아닌계, 안트라퀴논계, 페릴렌계가 있다. 황색 착색제로서는 모노아조계, 디스아조계, 축합 아조계, 벤즈이미다졸론계, 이소인돌리논계, 안트라퀴논계 등을 들 수 있다. 백색 착색제로서는, 루틸형, 아나타제형 등의 산화티타늄 등을 들 수 있다. 흑색 착색제로서는, 티타늄 블랙계, 카본 블랙계, 흑연계, 산화철계, 안트라퀴논계, 산화코발트계, 산화구리계, 망간계, 산화안티몬계, 산화니켈계, 페릴렌계, 아닐린계의 안료, 황화몰리브덴, 황화비스무트 등을 들 수 있다. 그 밖에, 색조를 조정할 목적으로 보라색, 오렌지색, 갈색 등의 착색제를 가해도 된다. 착색제는 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Examples of the red colorant include monoazo, disazo, azolake, benzimidazolone, perylene, diketopyrrolopyrrole, condensed azo, anthraquinone, and quinacridone. As the blue colorant, there are metal-substituted or unsubstituted phthalocyanine-based and anthraquinone-based compounds, and pigment-based compounds classified as pigments. As a green colorant, there exist a metal-substituted or unsubstituted phthalocyanine type, anthraquinone type, and a perylene type similarly. Examples of the yellow colorant include monoazo, disazo, condensed azo, benzimidazolone, isoindolinone, and anthraquinone. As a white colorant, titanium oxide, such as a rutile type and an anatase type, etc. are mentioned. Examples of the black colorant include titanium black, carbon black, graphite, iron oxide, anthraquinone, cobalt oxide, copper oxide, manganese, antimony oxide, nickel oxide, perylene and aniline pigments, sulfide. Molybdenum, bismuth sulfide, etc. are mentioned. In addition, you may add colorants, such as purple, orange, and brown, for the purpose of adjusting a color tone. A colorant can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

착색제의 배합량은 특별히 한정되지 않지만, 용제를 제외한 조성물 전량 기준으로 0.1 내지 10질량%인 것이 바람직하고, 0.1 내지 7질량%인 것이 보다 바람직하다.Although the compounding quantity of a coloring agent is not specifically limited, It is preferable that it is 0.1-10 mass % based on the composition whole quantity excluding a solvent, and it is more preferable that it is 0.1-7 mass %.

(열가소성 수지(고분자 수지))(thermoplastic resin (polymer resin))

본 발명의 조성물에는, 얻어지는 경화막의 기계적 강도를 향상시키기 위해, 열가소성 수지를 더 함유할 수 있다. 열가소성 수지로서는, 열가소성 폴리히드록시폴리에테르 수지나, 에피클로로히드린과 각종 2관능 페놀 화합물의 축합물인 페녹시 수지 혹은 그의 골격에 존재하는 히드록시에테르부의 수산기를 각종 산 무수물이나 산 클로라이드를 사용하여 에스테르화한 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리아미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 블록 공중합체 등을 들 수 있다. 열가소성 수지는 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 페녹시 수지의 수산기를 아실화한 것이 전기 특성이 우수하므로 바람직하다.The composition of this invention can further contain a thermoplastic resin in order to improve the mechanical strength of the cured film obtained. As the thermoplastic resin, the hydroxyl group of the hydroxyether moiety present in the backbone of the thermoplastic polyhydroxypolyether resin, the phenoxy resin which is a condensate of epichlorohydrin and various difunctional phenol compounds, or various acid anhydrides or acid chlorides is used. The esterified phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyamide resin, polyamideimide resin, a block copolymer, etc. are mentioned. A thermoplastic resin can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type. What acylated the hydroxyl group of a phenoxy resin is preferable since it is excellent in an electrical property.

폴리비닐아세탈 수지는, 예를 들어 폴리비닐알코올 수지를 알데히드로 아세탈화함으로써 얻어진다. 상기 알데히드로서는, 특별히 한정되지 않고, 예를 들어 포름알데히드, 아세트알데히드, 프로피온알데히드, 부틸알데히드, 아밀알데히드, 헥실알데히드, 헵틸알데히드, 2-에틸헥실알데히드, 시클로헥실알데히드, 푸르푸랄, 벤즈알데히드, 2-메틸벤즈알데히드, 3-메틸벤즈알데히드, 4-메틸벤즈알데히드, p-히드록시벤즈알데히드, m-히드록시벤즈알데히드, 페닐아세트알데히드, β-페닐프로피온알데히드 등을 들 수 있고, 부틸알데히드가 바람직하다.Polyvinyl acetal resin is obtained by acetalizing polyvinyl alcohol resin with an aldehyde, for example. The aldehyde is not particularly limited and includes, for example, formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, butyraldehyde, amylaldehyde, hexylaldehyde, heptylaldehyde, 2-ethylhexylaldehyde, cyclohexylaldehyde, furfural, benzaldehyde, 2- methylbenzaldehyde, 3-methylbenzaldehyde, 4-methylbenzaldehyde, p-hydroxybenzaldehyde, m-hydroxybenzaldehyde, phenylacetaldehyde, β-phenylpropionaldehyde, etc. are mentioned, and butyraldehyde is preferable.

페녹시 수지의 구체예로서는 도토 가세이사제 FX280, FX293, 미츠비시 가가쿠사제 YX8100, YX6954, YL7213, YL7218 등을 들 수 있다. 또한, 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는 세키스이 가가쿠 고교사제 에스렉KS 시리즈, 폴리아미드 수지로서는 히타치 가세이 고교사제 KS5000 시리즈, 닛폰 가야쿠사제 BP 시리즈, 또한 폴리아미드이미드 수지로서는 히타치 가세이 고교사제 KS9000 시리즈 등을 들 수 있다.Specific examples of the phenoxy resin include FX280 and FX293 manufactured by Toto Chemical Corporation, YX8100, YX6954, YL7213, and YL7218 manufactured by Mitsubishi Chemical. Moreover, as a specific example of polyvinyl acetal resin, Sekisui Chemical Co., Ltd. S-Rec KS series, Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd. KS5000 series, Nippon Kayaku Co., Ltd. BP series as polyamide resin, Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd. KS9000 series as polyamideimide resin. and the like.

열가소성 폴리히드록시폴리에테르 수지는, 플루오렌 골격을 갖는 경우, 높은 유리 전이점을 갖고, 내열성이 우수하기 때문, 반고형 또는 고형 에폭시 수지에 의한 낮은 열팽창률을 유지함과 함께 그 유리 전이점을 유지하여, 얻어지는 경화 피막은 낮은 열팽창률과 높은 유리 전이점을 균형있게 더불어 갖는 것이 된다. 또한, 열가소성 폴리히드록시폴리에테르 수지는 수산기를 갖기 때문에, 기재 및 도체에 대하여 양호한 밀착성을 나타냄과 함께, 얻어지는 경화 피막은 조면화제에 의해 침지되기 어렵지만, 수용액 형태의 조면화 액은 경화 피막과 필러의 계면에 침투하기 쉬우므로, 조면화 처리에 의해 경화 피막 표면의 필러가 누락되기 쉬워져, 양호한 조면화 면을 형성하기 쉬워진다.When the thermoplastic polyhydroxypolyether resin has a fluorene skeleton, it has a high glass transition point and is excellent in heat resistance. Thus, the obtained cured film has a low coefficient of thermal expansion and a high glass transition point in a well-balanced manner. In addition, since the thermoplastic polyhydroxypolyether resin has a hydroxyl group, it exhibits good adhesion to substrates and conductors, and the resulting cured film is difficult to be immersed with a roughening agent. Since it is easy to osmose|permeate into the interface of , the filler on the surface of a hardened-film becomes easy to fall out by a roughening process, and it becomes easy to form a favorable roughening surface.

열가소성 수지로서는, 블록 공중합체를 사용해도 된다. 블록 공중합체란, 성질이 다른 2종류 이상의 중합체가, 공유 결합으로 연결되어 긴 연쇄가 된 분자 구조의 공중합체이다.As the thermoplastic resin, a block copolymer may be used. The block copolymer is a copolymer of a molecular structure in which two or more types of polymers having different properties are linked by a covalent bond to form a long chain.

블록 공중합체로서는 A-B-A형 또는 A-B-A'형 블록 공중합체가 바람직하다. A-B-A형 및 A-B-A'형 블록 공중합체 중, 중앙의 B가 소프트 블록이고 유리 전이 온도(Tg)가 낮고, 바람직하게는 0℃ 미만이고, 그 양 외측 A 또는 A'가 하드 블록이고 유리 전이 온도(Tg)가 높고, 바람직하게는 0℃ 이상인 중합체 단위에 의해 구성되어 있는 것이 바람직하다. 유리 전이 온도(Tg)는 시차 주사 열량 측정(DSC)에 의해 측정된다. 또한, A-B-A형 및 A-B-A'형 블록 공중합체 중, A 또는 A'가 Tg가 50℃ 이상인 중합체 단위를 포함하고, B가 유리 전이 온도(Tg)가 -20℃ 이하인 중합체 단위를 포함하는 블록 공중합체가 더욱 바람직하다. 또한, A-B-A형 및 A-B-A'형 블록 공중합체 중, A 또는 A'가 상기 비스페놀 E형 에폭시 수지와의 상용성이 높은 것이 바람직하고, B가 상기 비스페놀 E형 에폭시 수지와의 상용성이 낮은 것이 바람직하다. 이와 같이, 양단의 블록이 매트릭스에 상용이고, 중앙의 블록이 매트릭스에 불상용인 블록 공중합체로 함으로써, 매트릭스 중에 있어서 특이적인 구조를 나타내기 쉬워진다고 생각된다.As the block copolymer, A-B-A type or A-B-A' type block copolymer is preferable. Among the A-B-A-type and A-B-A'-type block copolymers, B in the center is a soft block, and the glass transition temperature (Tg) is low, preferably less than 0°C, and both outer A or A' are hard blocks and glass transition It is preferable that the temperature (Tg) is high, and it is comprised by the polymer unit, Preferably it is 0 degreeC or more. The glass transition temperature (Tg) is measured by differential scanning calorimetry (DSC). In addition, among A-B-A type and A-B-A' type block copolymers, A or A' contains a polymer unit having a Tg of 50°C or higher, and B is a block containing a polymer unit having a glass transition temperature (Tg) of -20°C or lower A copolymer is more preferred. In addition, among A-B-A type and A-B-A' type block copolymers, A or A' preferably has high compatibility with the bisphenol E type epoxy resin, and B has low compatibility with the above bisphenol E type epoxy resin it is preferable As described above, it is thought that a specific structure in the matrix is easily exhibited by using a block copolymer in which the blocks at both ends are compatible with the matrix and the central block is incompatible with the matrix.

열가소성 수지 중에서도, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 플루오렌 골격을 갖는 열가소성 폴리히드록시폴리에테르 수지, 블록 공중합체가 바람직하고, 특히 페녹시 수지가 바람직하다.Among the thermoplastic resins, a phenoxy resin, a polyvinyl acetal resin, a thermoplastic polyhydroxy polyether resin having a fluorene skeleton, and a block copolymer are preferable, and a phenoxy resin is particularly preferable.

열가소성 수지의 배합량은 에폭시 수지 100질량부에 대하여, 1 내지 20질량부가 바람직하고, 1 내지 10질량부가 보다 바람직하다. 열가소성 수지의 배합량이 상기 범위 내인 경우, 균일한 조면화 면 상태가 용이하게 얻어진다.1-20 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of epoxy resins, and, as for the compounding quantity of a thermoplastic resin, 1-10 mass parts is more preferable. When the compounding quantity of a thermoplastic resin is in the said range, a uniform roughened surface state is obtained easily.

(말레이미드 화합물)(maleimide compound)

본 발명의 조성물에는 말레이미드 화합물을 더 함유시킬 수 있다. 말레이미드 화합물을 배합함으로써, Tg를 보다 향상시킬 수 있다.The composition of the present invention may further contain a maleimide compound. By mix|blending a maleimide compound, Tg can be improved more.

말레이미드 화합물은 말레이미드 골격을 갖는 화합물이고, 종래 공지의 것을 모두 사용할 수 있다. 말레이미드 화합물은 2 이상의 말레이미드 골격을 갖는 것이 바람직하고, N,N'-1,3-페닐렌디말레이미드, N,N'-1,4-페닐렌디말레이미드, N,N'-4,4-디페닐메탄비스말레이미드, 1,2-비스(말레이미드)에탄, 1,6-비스말레이미드헥산, 1,6-비스말레이미드-(2,2,4-트리메틸)헥산, 2,2'-비스-[4-(4-말레이미드페녹시)페닐]프로판, 3,3'-디메틸-5,5'-디에틸-4,4'-디페닐메탄비스말레이미드, 4-메틸-1,3-페닐렌비스말레이미드, 비스(3-에틸-5-메틸-4-말레이미드페닐)메탄, 비스페놀 A 디페닐에테르비스말레이미드, 폴리페닐메탄말레이미드 및 이들의 올리고머, 그리고 말레이미드 골격을 갖는 디아민 축합물 중 적어도 어느 1종인 것이 보다 바람직하다. 상기 올리고머는, 상술한 말레이미드 화합물 중 단량체인 말레이미드 화합물을 축합시킴으로써 얻어진 올리고머이다. 말레이미드 화합물은 1종을 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The maleimide compound is a compound having a maleimide skeleton, and any conventionally known compound can be used. The maleimide compound preferably has two or more maleimide skeletons, N,N'-1,3-phenylenedimaleimide, N,N'-1,4-phenylenedimaleimide, N,N'-4, 4-diphenylmethanebismaleimide, 1,2-bis(maleimide)ethane, 1,6-bismaleimidehexane, 1,6-bismaleimide-(2,2,4-trimethyl)hexane, 2, 2'-bis-[4-(4-maleimidephenoxy)phenyl]propane, 3,3'-dimethyl-5,5'-diethyl-4,4'-diphenylmethanebismaleimide, 4-methyl -1,3-phenylenebismaleimide, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidephenyl)methane, bisphenol A diphenyletherbismaleimide, polyphenylmethanemaleimide and oligomers thereof, and maleic It is more preferable that it is at least any 1 sort(s) of the diamine condensate which has mid frame|skeleton. The said oligomer is an oligomer obtained by condensing the maleimide compound which is a monomer among the above-mentioned maleimide compounds. A maleimide compound can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more type.

말레이미드 화합물 중에서도, 페닐메탄말레이미드의 축합물 및 비스말레이미드 올리고머의 중 적어도 어느 1종인 것이 더욱 바람직하다. 상기 비스말레이미드 올리고머는, 페닐메탄비스말레이미드와 4,4-디아미노디페닐메탄의 축합에 의해 얻어진 올리고머인 것이 바람직하다. 페닐메탄말레이미드의 축합물의 시판품으로서는, 야마토 가세이사제 BMI-2300 등을 들 수 있다. 또한, 비스말레이미드 올리고머의 시판품으로서는, 야마토 가세이사제 DAIMAID-100H 등을 들 수 있다.Among the maleimide compounds, at least any one of a condensate of phenylmethane maleimide and a bismaleimide oligomer is more preferable. It is preferable that the said bismaleimide oligomer is an oligomer obtained by condensation of phenylmethanebismaleimide and 4, 4- diaminodiphenylmethane. As a commercial item of the condensate of phenylmethane maleimide, Yamato Chemical Co., Ltd. BMI-2300 etc. are mentioned. Moreover, as a commercial item of a bismaleimide oligomer, Yamato Chemical Co., Ltd. DAIMAID-100H etc. are mentioned.

또한, 말레이미드 화합물은 하기 일반식 (I)로 표시되는 말레이미드 화합물인 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that a maleimide compound is a maleimide compound represented by the following general formula (I).

Figure 112017078594218-pct00002
Figure 112017078594218-pct00002

상기 일반식 (I) 중, R1 내지 R3은 각각 독립적으로, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 유기기를 나타내고, n은 0 내지 1의 정수를 나타낸다. 상기 일반식 (I) 중, R1 내지 R3은 수소 원자인 것이 바람직하다.In the general formula (I), R 1 to R 3 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom or an organic group, and n represents an integer of 0 to 1. In the general formula (I), R 1 to R 3 are preferably a hydrogen atom.

상기 말레이미드 화합물은 상기 일반식 (I)로 표시되는 말레이미드 화합물의 혼합물인 것이 바람직하다. 또한, 혼합물의 용해성이 높아지고, 수지층의 경화물의 CTE가 보다 낮아지는 점에서, 혼합물의 상기 일반식 (I) 중의 n의 평균값이 0.1 내지 1인 것이 보다 바람직하다. n의 평균값이 클수록, 혼합물의 용해성은 높아진다. n의 평균값이 0.1 내지 1인 말레이미드 화합물의 혼합물의 경우, 드라이 필름의 수지층을 저온에서 열경화시켜도, Tg가 높은 경화물의 형성이 가능하여, 내열성이 낮은 얇은 기재를 사용하는 것도 가능해진다.It is preferable that the said maleimide compound is a mixture of the maleimide compound represented by the said General formula (I). Moreover, it is more preferable that the average value of n in the said General formula (I) of a mixture is 0.1-1 at the point from which solubility of a mixture becomes high and CTE of the hardened|cured material of a resin layer becomes lower. The larger the average value of n, the higher the solubility of the mixture. In the case of a mixture of maleimide compounds having an average value of n of 0.1 to 1, even if the resin layer of the dry film is thermally cured at a low temperature, a cured product having a high Tg can be formed, and it is also possible to use a thin substrate with low heat resistance.

말레이미드 화합물의 배합량은, 용제 및 필러를 제외한 조성물 전량 기준으로 2 내지 50질량%인 것이 바람직하고, 10 내지 50질량%인 것이 보다 바람직하다. 2질량% 이상인 경우, 경화물의 CTE가 낮아지고, 또한 경화물의 Tg가 보다 높아진다. 또한, 50질량% 이하인 경우, 파단 강도가 높아진다.It is preferable that it is 2-50 mass % based on the composition whole quantity except a solvent and a filler, and, as for the compounding quantity of a maleimide compound, it is more preferable that it is 10-50 mass %. When it is 2 mass % or more, CTE of hardened|cured material becomes low and Tg of hardened|cured material becomes higher. Moreover, when it is 50 mass % or less, breaking strength becomes high.

(그 밖의 성분)(Other ingredients)

본 발명의 조성물을, 예를 들어 층간 절연재 및 솔더 레지스트용의 드라이 필름으로서 사용하는 경우, 또한 필요에 따라, 아스베스토, 오르벤, 벤톤, 미분 실리카 등의 종래 공지의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계 등의 소포제 및/또는 레벨링제, 티아졸계, 트리아졸계, 실란 커플링제 등의 밀착성 부여제, 난연제, 티타네이트계, 알루미늄계의 종래 공지의 첨가제류를 사용할 수 있다.When the composition of the present invention is used as a dry film for an interlayer insulating material and a solder resist, for example, if necessary, conventionally known thickeners such as asbesto, orben, bentone, finely divided silica, silicone-based, fluorine-based, polymer Antifoaming agents and/or leveling agents, such as antifoaming agents, adhesion-imparting agents such as thiazole-based, triazole-based and silane coupling agents, flame retardants, titanate-based, and aluminum-based conventionally known additives can be used.

(용제)(solvent)

본 발명의 조성물을, 예를 들어 층간 절연재 및 솔더 레지스트용의 드라이 필름으로서 사용하는 경우, 조성물의 제조, 기판이나 캐리어 필름에 도포하기 위한 점도 조정, 드라이 필름의 수지층의 형성 등을 위해, 용제를 사용할 수 있다. 용제의 종류로서는, 특별히 한정되지 않고 종래 공지의 용제를 사용할 수 있다. 또한, 용제의 배합량도 한정되지 않는다.When the composition of the present invention is used, for example, as a dry film for an interlayer insulating material and a solder resist, a solvent for preparation of the composition, adjustment of viscosity for application to a substrate or carrier film, formation of a resin layer of a dry film, etc. can be used It does not specifically limit as a kind of solvent, A conventionally well-known solvent can be used. In addition, the compounding quantity of a solvent is not limited, either.

특히, 본 발명의 조성물을 사용하여 드라이 필름을 형성할 때에는, 용제로서, 비점이 100℃ 이상이며, 또한 비점의 차가 5℃ 이상인 2종의 용제를 사용하는 것이 바람직하고, 이에 의해, 유연성이 우수한 드라이 필름을 얻는 것이 가능해진다. 비점의 차는, 바람직하게는 10℃ 이상, 보다 바람직하게는 20℃ 이상이다. 또한, 본 명세서에 있어서, 용제의 비점에 폭이 있는 경우는, 증류의 초류점 내지 종점을 비점으로 한다.In particular, when forming a dry film using the composition of the present invention, as a solvent, it is preferable to use two solvents having a boiling point of 100° C. or more and a difference in boiling point of 5° C. or more, thereby providing excellent flexibility. It becomes possible to obtain a dry film. The difference in boiling points becomes like this. Preferably it is 10 degreeC or more, More preferably, it is 20 degreeC or more. In addition, in this specification, when the boiling point of a solvent has a width|variety, let the initial distillation point - the end point of distillation be a boiling point.

비점이 100℃ 미만인 용제로서는, 디에틸에테르, 이황화탄소, 아세톤, 클로로포름, 메탄올, n-헥산, 아세트산에틸, 1,1,1-트리클로로에탄, 사염화탄소, 메틸에틸케톤, 이소프로필알코올, 트리클로로에틸렌, 아세트산이소프로필 등을 들 수 있다.Examples of the solvent having a boiling point of less than 100°C include diethyl ether, carbon disulfide, acetone, chloroform, methanol, n-hexane, ethyl acetate, 1,1,1-trichloroethane, carbon tetrachloride, methyl ethyl ketone, isopropyl alcohol, trichloro Ethylene, isopropyl acetate, etc. are mentioned.

비점이 100℃ 이상인 용제로서는, 이소부틸알코올, 톨루엔, 메틸이소부틸케톤, n-부탄올, 아세트산부틸, 2-메톡시프로판올 등의 메톡시프로판올, 아세트산이소부틸, 테트라클로로에틸렌, 에틸렌글리콜모노메틸에테르, 메틸부틸케톤, 이소펜틸알코올, 에틸렌글리콜모노에틸에테르, N,N-디메틸포름아미드(DMF), 에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 테레빈유, 시클로헥사논, 에틸렌글리콜모노부틸에테르 등을 들 수 있다.Examples of the solvent having a boiling point of 100°C or higher include methoxypropanol such as isobutyl alcohol, toluene, methyl isobutyl ketone, n-butanol, butyl acetate and 2-methoxypropanol, isobutyl acetate, tetrachloroethylene, and ethylene glycol monomethyl ether. , methyl butyl ketone, isopentyl alcohol, ethylene glycol monoethyl ether, N,N-dimethylformamide (DMF), ethylene glycol monoethyl ether acetate, turpentine, cyclohexanone, and ethylene glycol monobutyl ether. .

또한, 비점이 100℃ 이상인 용제로서는, 크실렌, 석유계 나프타, 마루젠 세키유 가가쿠사제 스와졸1000(탄소수 8 내지 10: 고비점 방향족 탄화수소), 스와졸1500(고비점 방향족 탄화수소), 스탠다드 세키유 오사카 하츠바이쇼사제 솔벳소100(탄소수 9 내지 10: 고비점 방향족 탄화수소), 솔벳소150(탄소수 10 내지 11: 고비점 방향족 탄화수소), 산쿄 가가쿠사제 솔벤트#100, 솔벤트#150, 셸 케미컬즈 재팬사제 셸졸A100, 셸졸A150, 이데미츠 고산사제 이프졸100번(탄소수 9의 방향족 탄화수소가 주성분), 이프졸150번(탄소수 10의 방향족 탄화수소가 주성분) 등도 들 수 있다. 고비점 방향족 탄화수소는 방향족 성분을 99용량% 이상 함유하는 것이 바람직하다. 또한, 고비점 방향족 탄화수소는 벤젠, 톨루엔 및 크실렌 각각이 0.01 용량% 미만인 것이 바람직하다.Moreover, as a solvent with a boiling point of 100 degreeC or more, Xylene, petroleum naphtha, Maruzen Sekiyu Chemical Co., Ltd. Swasol 1000 (C8-10: high boiling point aromatic hydrocarbon), Swasol 1500 (high boiling point aromatic hydrocarbon), Standard Seki Solvesso 100 made by Osaka Hatsubaisho Corporation (9 to 10 carbon atoms: high boiling point aromatic hydrocarbon), Solvesso 150 (C10 to 11: high boiling point aromatic hydrocarbon), Sankyo Chemical Company solvent #100, solvent #150, Shell Chemical and Shellsol A100 and Shellsol A150 manufactured by Japan Corporation, Idemitsu Kosan Co., Ltd. Ipsol No. 100 (the main component is an aromatic hydrocarbon having 9 carbon atoms), and Ipsol No. 150 (the main component is an aromatic hydrocarbon having 10 carbon atoms), and the like. The high boiling point aromatic hydrocarbon preferably contains 99% by volume or more of the aromatic component. Further, the high boiling point aromatic hydrocarbon preferably contains less than 0.01% by volume of each of benzene, toluene and xylene.

본 발명의 조성물을 사용하여 드라이 필름을 형성하는 경우, 조성물에는 비점이 100℃ 이상인 용제를 3종 이상 배합해도 되고, 이 경우, 3종 이상의 용제 중 어느 2종의 용제의 비점이 다른 것이면 된다. 또한, 비점이 100℃ 이상인 용제 중에서도, 비점이 100 내지 230℃인 용제가 바람직하고, 100 내지 220℃인 용제가 보다 바람직하다. 비점이 230℃ 이하이면, 열경화 또는 어닐 처리 후에, 용제가 드라이 필름의 수지층에 잔존하기 어렵다. 이러한 용제로서는, 톨루엔, N,N-디메틸포름아미드, 메톡시프로판올, 메틸이소부틸케톤, 시클로헥사논, 석유계 나프타, 또는 탄소수가 8 이상인 방향족 탄화수소인 것이 더욱 바람직하다. 그 중에서도, 톨루엔과 시클로헥산의 조합, 톨루엔과 메틸이소부틸케톤의 조합 및 시클로헥사논과 메틸이소부틸케톤의 조합이 보다 바람직하다.When a dry film is formed using the composition of the present invention, three or more solvents having boiling points of 100°C or higher may be blended with the composition, and in this case, any two solvents having different boiling points among three or more solvents may be used. Moreover, the solvent whose boiling point is 100-230 degreeC among the solvents of 100 degreeC or more is preferable, and the solvent whose boiling point is 100-220 degreeC is more preferable. It is difficult for a solvent to remain|survive in the resin layer of a dry film after thermosetting or an annealing process that a boiling point is 230 degrees C or less. The solvent is more preferably toluene, N,N-dimethylformamide, methoxypropanol, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, petroleum naphtha, or an aromatic hydrocarbon having 8 or more carbon atoms. Especially, the combination of toluene and cyclohexane, the combination of toluene and methyl isobutyl ketone, and the combination of cyclohexanone and methyl isobutyl ketone are more preferable.

건조 전의 용제의 배합량은, 용제를 제외한 드라이 필름의 수지층 100질량부에 대하여, 10 내지 150질량부인 것이 바람직하고, 25 내지 100질량부인 것이 보다 바람직하다. 용제의 배합량이 10질량부 이상인 경우, 용해성이 향상되고, 잔류 용제의 양의 조정이 용이해지고, 한편, 150질량부 이하인 경우, 수지층의 두께의 컨트롤이 용이해진다.It is preferable that it is 10-150 mass parts with respect to 100 mass parts of resin layers of the dry film except a solvent, and, as for the compounding quantity of the solvent before drying, it is more preferable that it is 25-100 mass parts. When the compounding quantity of a solvent is 10 mass parts or more, solubility improves and adjustment of the quantity of a residual solvent becomes easy, on the other hand, when it is 150 mass parts or less, control of the thickness of a resin layer becomes easy.

또한, 본 발명의 조성물은, 액상 수지 조성물로서 층간 절연재, 커버레이 또는 솔더 레지스트 등의 프린트 배선판의 경화 피막의 형성에 적용할 수도 있다.Moreover, the composition of this invention can also be applied to formation of hardened films of printed wiring boards, such as an interlayer insulating material, a coverlay, or a soldering resist, as a liquid resin composition.

(그 밖의 성분)(Other ingredients)

본 발명의 조성물을, 예를 들어 구멍 매립용의 액상 수지 조성물로서 사용하는 경우, 또한 필요에 따라, 보관 시의 보존 안정성을 부여하기 위해, 붕산에스테르 화합물, 하이드로퀴논, 하이드로퀴논모노메틸에테르, tert-부틸카테콜, 피로갈롤, 페노티아진 등의 공지 관용의 열중합 금지제, 클레이, 카올린, 유기 벤토나이트, 몬모릴로나이트 등의 공지 관용의 증점제 혹은 요변성화제, 실리콘계, 불소계, 고분자계 등의 소포제 및/또는 레벨링제, 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계, 실란 커플링제 등의 밀착성 부여제와 같은 공지 관용의 첨가제류를 첨가할 수 있다. 특히, 유기 벤토나이트를 사용한 경우, 구멍부 표면으로부터 비어져 나온 부분이 연마ㆍ제거되기 쉬운 돌출된 상태로 형성되기 쉬워, 연마성이 우수한 것이 되므로 바람직하다.When using the composition of the present invention, for example, as a liquid resin composition for filling holes, and if necessary, in order to provide storage stability during storage, boric acid ester compound, hydroquinone, hydroquinone monomethyl ether, tert - Well-known and usual thermal polymerization inhibitors such as butylcatechol, pyrogallol, and phenothiazine; Well-known and usual thickeners or thixotropic agents such as clay, kaolin, organic bentonite, and montmorillonite; / Or, well-known and usual additives, such as adhesion-imparting agents, such as a leveling agent, an imidazole type, a thiazole type, a triazole type, and a silane coupling agent, can be added. In particular, when organic bentonite is used, the portion protruding from the surface of the hole tends to be formed in a protruding state that is easy to be polished and removed, and it is preferable because it is excellent in polishing properties.

본 발명의 열경화성 수지 조성물은 가열에 의해 우수한 경화물 특성을 얻을 수 있는 것이다. 따라서, 본 발명의 열경화성 수지 조성물은, 광중합성 단량체 등의 그 자체가 광조사에 의해 중합되는 성분을 포함할 필요가 없다.The thermosetting resin composition of the present invention can obtain excellent properties of a cured product by heating. Therefore, the thermosetting resin composition of the present invention does not need to contain a component that itself is polymerized by light irradiation, such as a photopolymerizable monomer.

[조성물의 형태][Form of composition]

본 발명의 조성물의 형태는 적절하게 점도 조정된 액상 수지 조성물로서 제공되어도 되고, 상술한 바와 같이, 지지 베이스 필름 위에 조성물을 도포하고, 용제를 건조시킨 드라이 필름으로 해도 된다. 또한, 본 발명의 조성물을, 유리 클로스, 유리 및 아라미드 부직포 등의 시트상 섬유질 기재에 도공 및/또는 함침시켜 반경화시킨, 프리프레그 시트로 해도 된다. 지지 베이스 필름으로서는, 폴리에틸렌, 폴리염화비닐 등의 폴리올레핀, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트, 폴리이미드, 나아가 이형지나 구리박, 알루미늄박과 같은 금속박 등을 들 수 있다. 또한, 지지 베이스 필름에는 매드 처리나 코로나 처리 외에, 이형 처리를 실시하고 있어도 된다.The form of the composition of this invention may be provided as a liquid resin composition whose viscosity was adjusted suitably, and as mentioned above, it is good also as a dry film which apply|coated the composition on the support base film, and dried the solvent. Moreover, it is good also as a prepreg sheet in which the composition of this invention was made to coat and/or impregnate to sheet-like fibrous base materials, such as glass cloth, glass and an aramid nonwoven fabric, and made it semi-hardened. Examples of the supporting base film include polyolefins such as polyethylene and polyvinyl chloride, polyesters such as polyethylene terephthalate, polycarbonates, polyimides, and metal foils such as release paper, copper foil, and aluminum foil. In addition, you may give a mold release process other than a mad process and corona treatment to a support base film.

본 발명의 조성물을 사용한 액상 수지 조성물, 드라이 필름 또는 프리프레그는, 회로가 형성된 내층 회로 기판에 직접 코팅하고, 건조, 경화를 행하거나, 또는 드라이 필름을 가열 라미네이트하여 일체 성형하고, 그 후, 오븐 중 혹은 열판 프레스에 의해 경화시켜도 된다. 프리프레그의 경우에는, 내층 회로 기판에 겹치고, 이형 필름을 개재하여 금속판에 끼우고, 가압ㆍ가열하여 프레스하는 방법을 사용할 수도 있다.The liquid resin composition, dry film, or prepreg using the composition of the present invention is directly coated on an inner circuit board on which a circuit is formed, dried and cured, or integrally formed by heating and laminating the dry film, and then, in an oven You may harden by medium or hot plate press. In the case of a prepreg, it is also possible to use a method of overlapping the inner circuit board, sandwiching the metal plate with a release film interposed therebetween, pressurizing and heating, and pressing.

상기 공정 중, 라미네이트 혹은 열판 프레스하는 방법은 내층 회로에 의한 미세 요철이 가열 용융될 때에 해소되고, 그대로 경화되므로, 최종적으로는 편평한 표면 상태의 다층판이 얻어지므로 바람직하다. 또한, 내층 회로가 형성된 기재와 본 발명의 조성물의 필름 또는 프리프레그를 라미네이트 혹은 열판 프레스할 때에, 구리박 혹은 회로 형성된 기재를 동시에 적층할 수도 있다.Among the above steps, the method of laminating or hot plate pressing is preferable because fine irregularities caused by the inner layer circuit are resolved when heated and melted and cured as they are, so that a multilayer plate with a flat surface is finally obtained. Moreover, when laminating or hot-plate pressing the base material with an inner-layer circuit and the film or prepreg of the composition of this invention, copper foil or the base material with a circuit may be laminated|stacked simultaneously.

이와 같이 하여 얻어진 기판에, CO2 레이저나 UV-YAG 레이저 등의 반도체 레이저 또는 드릴로 구멍을 뚫는다. 구멍은, 기판의 표리를 도통시키는 것을 목적으로 하는 관통 구멍(스루홀)이어도 되고, 내층의 회로와 층간 절연층 표면의 회로를 도통시키는 것을 목적으로 하는 부분 구멍(컨포멀 비아)의 어느 것이어도 된다.A hole is punched in the substrate obtained in this way with a semiconductor laser such as a CO 2 laser or UV-YAG laser, or a drill. The hole may be a through hole (through hole) for the purpose of conducting the front and back of the substrate, or a partial hole (conformal via) for the purpose of conducting an inner layer circuit and a circuit on the surface of the interlayer insulating layer. do.

구멍 뚫기 후, 구멍의 내벽이나 저부에 존재하는 잔사(스미어)를 제거하는 것과, 도체층(그 후에 형성하는 금속 도금층)과의 앵커 효과를 발현시키기 위해, 표면에 미세 요철상의 조면화 면을 형성하는 것을 목적으로 하여, 시판의 디스미어액(조면화제) 또는 과망간산염, 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등의 산화제를 함유하는 조면화 액으로 동시에 행한다.After drilling, in order to remove the residue (smear) existing on the inner wall or bottom of the hole and to express the anchor effect with the conductor layer (the metal plating layer to be formed thereafter), a roughened surface of fine concavo-convex shape is formed on the surface It carries out simultaneously with the roughening liquid containing oxidizing agents, such as a commercially available desmear liquid (roughening agent) or permanganate, dichromate, ozone, hydrogen peroxide/sulfuric acid, and nitric acid for the purpose of doing this.

이어서, 디스미어액으로 잔사를 제거한 구멍이나, 미세 요철상 조면화 면을 발생시킨 피막 표면을 형성한 후에, 서브트랙티브법이나 세미애디티브법 등에 의해 회로를 형성한다. 어떤 방법에 있어서도, 무전해 도금 또는 전해 도금 후, 혹은 양쪽의 도금을 실시한 후에, 금속의 스트레스 제거, 강도 향상의 목적으로, 약 80 내지 200℃에서 10 내지 60분 정도의 어닐이라고 불리는 열처리를 실시해도 된다.Next, after forming the film surface which produced the hole from which the residue was removed with the desmear liquid, and the fine grooving|roughness-like roughening surface, a circuit is formed by a subtractive method, a semi-additive method, etc. In either method, after electroless plating, electrolytic plating, or both plating, heat treatment called annealing is performed at about 80 to 200 ° C for 10 to 60 minutes for the purpose of stress relief and strength improvement of the metal. also be

여기서 사용하는 금속 도금으로서는, 구리, 주석, 땜납, 니켈 등, 특별히 제한은 없고, 복수 조합하여 사용할 수도 있다. 또한, 여기서 사용하는 도금 대신에 금속의 스퍼터 등으로 대용하는 것도 가능하다.There is no restriction|limiting in particular as metal plating used here, such as copper, tin, solder, nickel, A plurality of metal platings may be used in combination. In addition, it is also possible to substitute metal sputtering or the like in place of the plating used here.

본 발명의 조성물은 프린트 배선판의 제조에 적합하게 사용할 수 있고, 특히 층간 절연층이나 솔더 레지스트 등의 프린트 배선판의 절연층의 형성 및 스루홀이나 바이어 홀 등의 구멍 매립 용도에 적합하게 사용할 수 있다.The composition of this invention can be used suitably for manufacture of a printed wiring board, and can be used especially suitably for formation of insulating layers of a printed wiring board, such as an interlayer insulating layer and a soldering resist, and the use of hole filling, such as a through hole and a via hole.

[드라이 필름][Dry Film]

본 발명의 드라이 필름은, 캐리어 필름 위에, 본 발명의 조성물을 도포하고, 건조하여, 건조 도막으로서의 수지층을 형성함으로써 제조할 수 있다. 수지층 위에는 필요에 따라, 보호 필름을 라미네이트할 수 있다.The dry film of this invention can be manufactured by apply|coating the composition of this invention on a carrier film, drying, and forming the resin layer as a dry coating film. On the resin layer, if necessary, a protective film can be laminated.

캐리어 필름의 재질로서는, 적합하게는 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 등을 사용할 수 있다. 캐리어 필름의 두께는 적합하게는 8 내지 75㎛이다. 또한, 보호 필름의 재질로서는, 캐리어 필름에 사용하는 것과 동일한 것을 사용할 수 있고, 적합하게는 PET 또는 폴리프로필렌(PP)이다. 보호 필름의 두께는 적합하게는 5 내지 50㎛이다. 또한, 본 발명에 있어서는, 상기 보호 필름 위에 본 발명의 조성물을 도포, 건조시킴으로써 수지층을 형성하고, 그 표면에 캐리어 필름을 적층하는 것이어도 된다. 즉, 본 발명에 있어서 드라이 필름을 제조할 때에 본 발명의 조성물을 도포하는 필름으로서는, 캐리어 필름 및 보호 필름의 어느 것을 사용해도 된다.As a material of a carrier film, polyethylene terephthalate (PET) etc. can be used suitably. The thickness of the carrier film is suitably from 8 to 75 mu m. In addition, as a material of a protective film, the thing similar to what is used for a carrier film can be used, PET or polypropylene (PP) is preferable. The thickness of a protective film is 5-50 micrometers suitably. Moreover, in this invention, a resin layer is formed by apply|coating and drying the composition of this invention on the said protective film, and you may laminate|stack a carrier film on the surface. That is, when manufacturing a dry film in this invention, you may use any of a carrier film and a protective film as a film which apply|coats the composition of this invention.

여기서, 조성물의 도포 방법으로서는, 딥 코팅법, 플로우 코팅법, 롤 코팅법, 바 코터법, 스크린 인쇄법, 커튼 코팅법 등의 방법을 사용할 수 있다. 또한, 휘발 건조 방법으로서는, 열풍 순환식 건조로, IR(적외선)로, 핫 플레이트, 컨벡션 오븐 등, 증기에 의한 공기 가열 방식의 열원을 구비한 것을 사용할 수 있다.Here, as a coating method of a composition, methods, such as a dip coating method, the flow coating method, the roll coating method, the bar coater method, the screen printing method, the curtain coating method, can be used. Moreover, as a volatilization drying method, the thing equipped with the heat source of the air heating system by steam, such as a hot-air circulation type drying furnace, an IR (infrared) furnace, a hot plate, a convection oven, can be used.

본 발명의 드라이 필름에 있어서는, 상기와 같이 하여 형성된 수지층의 잔류 용제량이, 용제를 포함하는 수지층 전량 기준으로 1질량% 미만인 것이 바람직하고, 0.01 내지 0.8질량%인 것이 보다 바람직하다. 수지층에 있어서의 잔류 용제량을 상기 범위로 함으로써, 드라이 필름의 균열이나 가루 낙하를 억제하면서, 박리성을 향상시키고, 기포의 잔류를 적게 하고, 크랙의 발생을 더 효과적으로 억제할 수 있는 것이 된다.In the dry film of the present invention, the amount of residual solvent in the resin layer formed as described above is preferably less than 1% by mass, more preferably 0.01 to 0.8% by mass, based on the total amount of the resin layer containing the solvent. By setting the amount of residual solvent in the resin layer within the above range, while suppressing cracks and powder fall of the dry film, the peelability is improved, the residual bubble is reduced, and the occurrence of cracks can be more effectively suppressed. .

[구멍 매립용 조성물][Composition for filling holes]

본 발명의 조성물을 구멍 매립용의 액상 수지 조성물로서 사용하는 경우에는, 종래부터 채용되고 있는 방법, 예를 들어 스크린 인쇄법, 롤 코팅법, 다이 코팅법 등을 이용하여, 프린트 배선판의 바이어 홀이나 스루홀 등의 구멍부에 용이하게 충전할 수 있다. 계속해서, 예를 들어 약 90 내지 180℃에서 약 30 내지 90분 정도 가열하여, 조성물을 경화시킨다. 계속해서, 경화된 조성물 중, 기판 표면으로부터 비어져 나와 있는 불필요 부분은 물리 연마에 의해 용이하게 제거할 수 있어, 평탄면으로 할 수 있다. 또한, 물리 연마는 종래부터 행해져 온, 공지의 방법으로 행할 수 있다.In the case of using the composition of the present invention as a liquid resin composition for filling holes, the via hole of the printed wiring board or the It can easily fill in hole parts, such as a through hole. Subsequently, for example, the composition is cured by heating at about 90 to 180° C. for about 30 to 90 minutes. Then, among the hardened|cured composition, the unnecessary part protruding from the board|substrate surface can be easily removed by physical polishing, and it can be set as a flat surface. In addition, physical polishing can be performed by the conventionally performed and well-known method.

[경화물 및 프린트 배선판][Cured material and printed wiring board]

본 발명의 경화물은 본 발명의 조성물 또는 드라이 필름의 수지층을 경화시켜 얻어지는 것이고, 본 발명의 프린트 배선판은 이러한 본 발명의 경화물을 구비하는 것이다. 그의 제조 방법에 대하여 이하에 설명하지만, 이것에 한정되는 것은 아니다.The hardened|cured material of this invention is obtained by hardening|curing the resin layer of the composition or dry film of this invention, The printed wiring board of this invention is equipped with such hardened|cured material of this invention. Although the manufacturing method is demonstrated below, it is not limited to this.

[프린트 배선판의 제조][Manufacture of printed wiring board]

본 발명의 조성물을 사용한 프린트 배선판의 제조는, 예를 들어 도 3 내지 도 5에 나타낸 바와 같이 행할 수 있다. 도 3에 나타내는 예에서는, 먼저, 구리박(2)을 라미네이트한 기판(1)에 관통 구멍을 뚫고, 그 벽면 및 구리박 표면에 무전해 도금을 실시하여 스루홀(3)을 형성한 후(도 3의 (a)), 기판(1)의 표면 및 스루홀(3) 내벽에 도금막(4a)을 형성한다(도 3의 (b)). 이어서, 스루홀(3) 내에 본 발명의 조성물을 사용한 액상 수지 조성물(5)을 충전하고(도 3의 (c)), 가열 경화시킨 후, 스루홀(3)로부터 비어져 나온 불필요 부분을 연마하여 평탄화한다(도 3의 (d)). 이어서, 기판(1)의 표면에 도금막(4b)을 형성한 후(도 3의 (e)), 에칭 레지스트(6)를 형성하고(도 3의 (f)), 레지스트 비형성 부분을 에칭하여 에칭 레지스트(6)를 박리함으로써, 도체 회로층(7a)을 형성한다(도 3의 (g)).Manufacture of the printed wiring board using the composition of this invention can be performed, as shown, for example to FIGS. 3-5. In the example shown in FIG. 3, first, a through hole is drilled in the substrate 1 on which the copper foil 2 is laminated, and the through hole 3 is formed by electroless plating on the wall surface and the surface of the copper foil ( 3 (a)), a plating film 4a is formed on the surface of the substrate 1 and the inner wall of the through hole 3 (Fig. 3 (b)). Next, the liquid resin composition 5 using the composition of the present invention is filled in the through-hole 3 (FIG. 3(c)), and after curing by heat, the unnecessary portion protruding from the through-hole 3 is polished and flattened (FIG. 3(d)). Next, after forming the plating film 4b on the surface of the substrate 1 (FIG. 3(e)), an etching resist 6 is formed (FIG. 3(f)), and the non-resist portion is etched Then, the etching resist 6 is peeled off to form the conductor circuit layer 7a (FIG. 3(g)).

이어서, 도체 회로층(7a) 위에, 본 발명의 조성물을 사용한 드라이 필름에 의해 층간 절연층(8a)을 형성하고, 개구(9a)를 형성한다(도 4의 (a)). 이어서, 전체면에 도금막(4c)을 형성하고(도 4의 (b)), 도금막(4c) 위에 도금 레지스트층(10)을 형성한 후, 또한 전해 도금을 행하여, 도체 회로 부분을 두껍게 하여, 전해 도금막(4d)을 형성한다(도 4의 (c)). 이어서, 도금 레지스트층(10)을 박리한 후, 그 아래의 무전해 도금막(4c)을 에칭으로 용해 제거하여, 독립된 도체 회로(바이어 홀(11a)을 포함함)를 형성한다(도 4의 (d)).Next, on the conductor circuit layer 7a, an interlayer insulating layer 8a is formed with the dry film using the composition of this invention, and the opening 9a is formed (FIG.4(a)). Next, a plating film 4c is formed on the entire surface (Fig. 4(b)), a plating resist layer 10 is formed on the plating film 4c, and then electrolytic plating is further performed to thicken the conductor circuit portion. Thus, an electrolytic plating film 4d is formed (FIG. 4(c)). Next, after the plating resist layer 10 is peeled off, the electroless plating film 4c below it is dissolved and removed by etching to form an independent conductor circuit (including the via hole 11a) (shown in Fig. 4). (d)).

도 5에 나타내는 다른 예에서는, 도 3의 (d)에 나타내는 코어 기판 제작 공정까지 종료한 후, 코어 기판(1)의 양면의 도체층에 대하여 에칭을 실시하고, 기판(1)의 양면에 제1 도체 회로층(7b)을 형성함과 함께, 스루홀(3)에 접속하는 도체 회로층(7b)의 일부에 랜드(12)를 형성한다(도 5의 (a)). 이어서, 기판(1)의 상하 양면 위에 층간 절연층(8b)을 형성하고(도 5의 (b)), 랜드(12)의 바로 위에 위치하는 층간 절연층(8b)에 바이어 홀(11b)을 형성한다(도 5의 (c)). 이어서, 바이어 홀(11b) 내와 층간 절연층(8b) 위에 도금층을 형성하고, 이것들 위에 에칭 레지스트를 형성한 후, 에칭을 실시하여, 층간 절연층(8b) 위에 제2 도체 회로층(7c)을 형성한다(도 5의 (c)). 제1, 제2 각 도체 회로층(7b, 7c)은 바이어 홀(11b)을 통해, 기판 양면의 도체 회로층(7b)은 스루홀(3)을 통해, 각각 서로 도통한다. 이어서, 각 층간 절연층(8b)과 제2 도체 회로층(7c) 위에, 본 발명의 조성물을 사용하여 솔더 레지스트층(13)을 형성하고, 상방의 솔더 레지스트층(13)에는 땜납 범프(14)를 형성한다(도 5의 (c)). 또한, 하방의 개구(9b)로부터 노출되는 도체 회로층(7c)의 표면에 도금을 실시하여, 접속 단자로서의 다층의 배선 기판을 얻을 수 있다.In another example shown in Fig. 5, after the core substrate manufacturing process shown in Fig. 3(d) is completed, the conductor layers on both surfaces of the core substrate 1 are etched, and the substrate 1 is formed on both surfaces. While the one conductor circuit layer 7b is formed, a land 12 is formed in a part of the conductor circuit layer 7b connected to the through hole 3 (FIG. 5(a)). Next, an interlayer insulating layer 8b is formed on the upper and lower surfaces of the substrate 1 (FIG. 5(b)), and a via hole 11b is formed in the interlayer insulating layer 8b located directly above the land 12. formed (FIG. 5(c)). Next, a plating layer is formed in the via hole 11b and on the interlayer insulating layer 8b, and an etching resist is formed thereon, followed by etching, and a second conductor circuit layer 7c is formed on the interlayer insulating layer 8b. to form (FIG. 5 (c)). Each of the first and second conductor circuit layers 7b and 7c conducts through the via hole 11b, and the conductor circuit layers 7b on both sides of the substrate conducts through the through hole 3, respectively. Next, on each interlayer insulating layer 8b and the second conductor circuit layer 7c, a soldering resist layer 13 is formed using the composition of the present invention, and solder bumps 14 are formed on the upper soldering resist layer 13. ) is formed (FIG. 5(c)). Further, by plating the surface of the conductor circuit layer 7c exposed from the lower opening 9b, a multilayer wiring board as a connection terminal can be obtained.

실시예Example

이하, 본 발명의 실시예 및 비교예를 나타내어 본 발명에 대하여 구체적으로 설명하지만, 본 발명이 하기 실시예에 한정되는 것이 아님은 물론이다. 또한, 이하에 있어서 「부」 및 「%」는 특별히 언급하지 않는 한 모두 질량 기준이다.Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples of the present invention, but it goes without saying that the present invention is not limited to the following Examples. In addition, in the following, "part" and "%" are both based on mass unless otherwise indicated.

<열경화성 수지 조성물의 제조><Production of thermosetting resin composition>

하기 표 1 내지 5에 나타내는 처방으로 각 성분을 배합, 교반하고, 3개 롤밀로 혼련 분산하고, 실시예 1 내지 8 및 비교예 1 내지 7의 액상 수지 조성물용의 조성물에 대해서는 점도 250 내지 600d㎩ㆍs(회전 점도계 5rpm, 25℃)로, 실시예 9 내지 22 및 비교예 8 내지 12의 드라이 필름용의 조성물에 대해서는 점도 0.5 내지 20d㎩ㆍs가 되도록 조정했다.Each component is blended and stirred according to the formulation shown in Tables 1 to 5 below, kneaded and dispersed with a three roll mill, and the compositions for liquid resin compositions of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 7 have a viscosity of 250 to 600 dPa. - s (rotational viscometer 5 rpm, 25 degreeC), about the composition for dry films of Examples 9-22 and Comparative Examples 8-12, it adjusted so that it might become a viscosity 0.5-20 dPa*s.

<드라이 필름의 제작><Production of dry film>

상기에서 얻은 실시예 9 내지 22 및 비교예 8 내지 12의 조성물을, 바 코터를 사용하여, 건조 후의 막 두께가 하기 표 6 내지 8, 10에 기재된 막 두께가 되도록, 캐리어 필름(PET 필름; 도레이(주)제 루미러38R75, 두께 38㎛) 위에 도포했다. 그 후, 건조 후에 있어서의 유기 용제의 잔류 함유량이 하기 표 6 내지 8, 10에 나타내는 양이 되도록, 열풍 순환식 건조로에서 70 내지 120℃(평균 100℃)에서 5 내지 10분간 건조하여, 캐리어 필름 위에 수지층을 갖는 건조 도막을 얻었다. 계속해서, 롤 라미네이터로, 보호 필름을, 온도 70℃에서 수지층 위에 맞붙여, 양면을 필름으로 샌드위치한, 실시예 및 비교예의 드라이 필름을 얻었다.Using a bar coater, the compositions of Examples 9 to 22 and Comparative Examples 8 to 12 obtained above were subjected to a carrier film (PET film; Toray) so that the film thickness after drying became the film thickness shown in Tables 6 to 8 and 10 below. Co., Ltd. Lumirer 38R75, thickness 38 micrometers) was apply|coated. Then, it dries for 5 to 10 minutes at 70-120 degreeC (average 100 degreeC) in a hot-air circulation type drying furnace so that residual content of the organic solvent after drying may become the quantity shown in following Tables 6-8, 10, and a carrier film The dry coating film which has a resin layer on it was obtained. Then, with a roll laminator, the protective film was stuck on the resin layer at the temperature of 70 degreeC, and the dry film of the Example and the comparative example which sandwiched both surfaces with the film was obtained.

<드라이 필름 중의 유기 용제의 잔류 함유량(%)의 측정><Measurement of residual content (%) of organic solvent in dry film>

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름으로부터 캐리어 필름 및 보호 필름을 박리한 후, 약 1.2g의 수지층을 채취하고, 마개가 달린 용기에 넣고 채취한 수지층의 질량(W)을 정확하게 칭량했다. 이 용기에, 피펫으로 내부 표준 물질로서 3-에톡시프로피온산에틸을 1방울 첨가하고, 그 질량(We)을 정확하게 칭량했다. 그 후, 아세톤 5ml를 홀 피펫에 의해 첨가하고 마개를 막고, 용기를 충분히 흔들어, 채취한 수지층을 용해시켰다. 계속해서, 이 액을 눈 크기 0.5㎛의 필터로 여과하고, 여과액의 조성을 가스 크로마토그래피(서모 피셔 사이언티픽사제 TRACEGCULTRA)에 의해 분석하고, 별도 작성한 검량선으로부터, 내부 표준 물질 1g에 대한 유기 용제의 질량(Ws)을 구했다. 이들로부터, 하기 식에 따라 유기 용제의 잔류 함유량을 계산했다.After peeling a carrier film and a protective film from the dry film of each Example and a comparative example, about 1.2 g of resin layers were extract|collected, put into the container with a stopper, and the mass (W) of the collect|collected resin layer was precisely weighed. To this container, one drop of ethyl 3-ethoxypropionate as an internal standard was added with a pipette, and the mass (We) was accurately weighed. Then, 5 ml of acetone was added with a hole pipette, the stopper was closed, the container was sufficiently shaken, and the collected resin layer was dissolved. Then, this solution was filtered with a filter having an eye size of 0.5 µm, the composition of the filtrate was analyzed by gas chromatography (TRACEGCULTRA manufactured by Thermo Fisher Scientific), and from a calibration curve prepared separately, the organic solvent per 1 g of the internal standard substance The mass (Ws) of From these, the residual content of the organic solvent was calculated according to the following formula.

유기 용제의 잔류 함유량(질량%)=(We×Ws/W)×100Residual content of organic solvent (mass %) = (We × Ws/W) × 100

또한, 가스 크로마토그래피에 있어서의 측정 조건은 하기와 같다. 칼럼: Agilent Technologies사제 캐필러리 컬럼 DB-1MS(30m×0.25㎜), 검출기: MS(ITQ900), 캐리어 가스: 헬륨, 인젝터 온도: 300℃, 디텍터 온도:230℃, 칼럼 온도 조건: 초기 온도 50℃, 시료 주입 후 50℃에서 2분간 홀드하고, 10℃/분으로 300℃까지 승온, 300℃ 도달 후 10분간 홀드.In addition, the measurement conditions in gas chromatography are as follows. Column: Capillary column DB-1MS (30 m×0.25 mm) manufactured by Agilent Technologies, Detector: MS (ITQ900), Carrier gas: Helium, Injector temperature: 300° C., Detector temperature: 230° C., Column temperature conditions: Initial temperature 50 ℃, hold for 2 minutes at 50℃ after sample injection, increase the temperature to 300℃ at 10℃/min, and hold for 10 minutes after reaching 300℃.

<드라이 필름의 유연성(굽힘 테스트)><Flexibility of dry film (bending test)>

JIS K5600-5-1(ISO1519)에 준거하여, BYK-Gardner사제 원통형 맨드릴 굴곡 시험기를 사용하여, 각 실시예 및 비교예의 드라이 필름의 균열 및 캐리어 필름으로부터의 박리가 일어나기 시작하는 맨드릴의 최소 직경으로부터, 드라이 필름의 유연성을 평가했다. 평가 기준은 이하와 같다. 드라이 필름의 유연성이 양호한 경우, 수지층의 유연성이 높고, 균열과 가루 낙하를 억제할 수 있다.In accordance with JIS K5600-5-1 (ISO1519), using a cylindrical mandrel bending tester manufactured by BYK-Gardner, from the minimum diameter of the mandrel at which cracking of the dry film and peeling from the carrier film of each Example and Comparative Example begins to occur , the flexibility of the dry film was evaluated. The evaluation criteria are as follows. When the flexibility of the dry film is good, the flexibility of the resin layer is high, and cracks and powder fall can be suppressed.

◎: φ2㎜ 이하의 직경에서, 수지층의 균열, 가루 낙하, 캐리어 필름의 박리의 발생이 없었다.(double-circle): There was no generation|occurrence|production of the crack of a resin layer, powder fall, and peeling of a carrier film in the diameter of (phi) 2 mm or less.

○: φ2㎜ 초과 5㎜ 미만의 범위에서, 수지층의 균열, 가루 낙하, 캐리어 필름의 박리의 발생이 없었다.(circle): In the range of more than phi 2 mm and less than 5 mm, there was no generation|occurrence|production of the crack of a resin layer, powder fall, and peeling of a carrier film.

△: φ2㎜ 초과 5㎜ 미만의 범위에서, 수지층의 균열, 가루 낙하 및 캐리어 필름의 박리가 발생했다.(triangle|delta): The crack of a resin layer, powder fall, and peeling of a carrier film generate|occur|produced in the range of more than (phi) 2 mm and less than 5 mm.

×: φ5㎜ 이상의 직경에서, 수지층의 균열, 가루 낙하 및 캐리어 필름의 박리가 발생했다.x: In the diameter of phi 5 mm or more, the crack of a resin layer, powder fall, and peeling of a carrier film generate|occur|produced.

<유리 전이 온도(Tg) 및 열팽창 계수(CTE(α1))><Glass transition temperature (Tg) and coefficient of thermal expansion (CTE(α1))>

(액상 조성물의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of liquid composition)

각 실시예 및 비교예의 액상 수지 조성물을 GTS-MP박(후루카와 서킷 호일(주)제)의 광택면측(구리박) 위에 어플리케이터에 의해 도포하고, 열풍 순환식 건조로에서 150℃에서 60분간 경화시켰다.The liquid resin composition of each Example and Comparative Example was applied with an applicator on the glossy side (copper foil) of GTS-MP foil (manufactured by Furukawa Circuit Foil Co., Ltd.), and cured at 150 ° C. for 60 minutes in a hot air circulation drying furnace.

(드라이 필름의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of dry film)

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름을, 보호 필름을 박리하고, GTS-MP박(후루카와 서킷 호일(주)제)의 광택면측(구리박) 위에, 뱃치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500(메이키사제)을 사용하여 라미네이트했다. 라미네이트 조건은 5㎏f/㎠, 80℃, 1분, 1Torr의 조건에서 가열 라미네이트하고, 계속해서, 열판 프레스기로 10㎏f/㎠, 80℃, 1분의 조건에서 레벨링시켰다. 계속해서, 열풍 순환식 건조로에서 180℃에서 60분간, 수지층을 경화시켰다. 또한, 실시예 16, 20에 기재된 말레이미드 화합물을 포함하는 조성물에 관해서는, 220℃에서 60분간, 수지층을 경화시켰다.For the dry film of each Example and Comparative Example, the protective film was peeled off, and on the glossy side (copper foil) of GTS-MP foil (manufactured by Furukawa Circuit Foil Co., Ltd.), batch-type vacuum pressurization laminator MVLP-500 (manufactured by Makey Co., Ltd.) ) was used for lamination. Lamination conditions were heat lamination under the conditions of 5 kgf/cm 2 , 80° C. for 1 minute and 1 Torr, and then leveling was performed under the conditions of 10 kgf/cm 2 , 80° C. for 1 minute with a hot plate press machine. Then, the resin layer was hardened at 180 degreeC for 60 minute(s) in the hot-air circulation type drying furnace. Moreover, regarding the composition containing the maleimide compound described in Examples 16 and 20, the resin layer was hardened at 220 degreeC for 60 minute(s).

(유리 전이 온도(Tg) 및 열팽창 계수(CTE(α1))의 측정)(Measurement of glass transition temperature (Tg) and coefficient of thermal expansion (CTE(α1)))

그 후, 상기 방법으로 제작한 경화물을 구리박으로부터 박리한 후, 측정 사이즈(3㎜×10㎜의 사이즈)로 샘플을 잘라내고, 세이코 인스트루먼츠사제 TMA6100에 제공했다. TMA 측정은 시험 가중 5g, 샘플을 10℃/분의 승온 속도로 실온에서부터 승온, 연속해서 2회 측정했다. 2회째에 있어서의 열팽창 계수가 다른 2접선의 교점을 유리 전이 온도(Tg)로 하고, Tg 미만의 영역에서의 열팽창 계수(CTE(α1))로서 평가했다. Tg가 높을수록, 내열성이 높다고 할 수 있다.Then, after peeling the hardened|cured material produced by the said method from copper foil, the sample was cut out to the measurement size (size of 3 mm x 10 mm), and it used for Seiko Instruments TMA6100. For TMA measurement, the temperature of the test weight of 5 g and the sample was raised from room temperature at a temperature increase rate of 10° C./min, and the measurement was performed twice in succession. The point of intersection of two tangents having different coefficients of thermal expansion in the second time was defined as the glass transition temperature (Tg), and evaluated as the coefficient of thermal expansion (CTE(α1)) in the region less than Tg. It can be said that heat resistance is high, so that Tg is high.

[유리 전이 온도(Tg)의 평가 기준][Evaluation criteria for glass transition temperature (Tg)]

◎◎: Tg가 190℃ 이상.(double-circle): Tg is 190 degreeC or more.

◎: Tg가 160℃ 이상 190℃ 미만.(double-circle): Tg is 160 degreeC or more and less than 190 degreeC.

○: Tg가 150℃ 이상 160℃ 미만.(circle): Tg 150 degreeC or more and less than 160 degreeC.

×: Tg가 150℃ 미만.x: Tg is less than 150 degreeC.

[열팽창 계수(CTE(α1))의 평가 기준] [Evaluation criteria for coefficient of thermal expansion (CTE(α1))]

◎: 20ppm 미만. (double-circle): Less than 20 ppm.

○: 20ppm 이상 내지 35ppm 미만.○: 20 ppm or more to less than 35 ppm.

<스루홀로의 충전성><Filling through Holo>

(액상 조성물의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of liquid composition)

각 실시예 및 비교예의 액상 수지 조성물을, 패널 도금에 의해 도체층이 형성된 스루홀을 갖는 두께 1.6㎜/스루홀 직경 0.25㎜/피치 1㎜의 유리 에폭시 기판에, 스크린 인쇄법에 의해, 하기 인쇄 조건에서 스루홀 내에 충전했다. 충전 후, 열풍 순환식 건조로에 넣고, 150℃에서 60분 경화를 행하여, 평가 기판을 얻었다. 이 평가 기판의 스루홀 내에 충전된 경화물의 충전 정도에 의해, 충전성을 평가했다.The liquid resin compositions of Examples and Comparative Examples were printed on a glass epoxy substrate having a thickness of 1.6 mm/through-hole diameter of 0.25 mm/pitch of 1 mm having through-holes in which a conductor layer was formed by panel plating, by screen printing, as follows. It was filled in the through hole under the condition. After charging, it was put in a hot air circulation drying furnace, and hardening was performed at 150 degreeC for 60 minutes, and the evaluation board|substrate was obtained. Fillability was evaluated by the filling degree of the hardened|cured material filled in the through-hole of this evaluation board|substrate.

<인쇄 조건><Print conditions>

스퀴지: 스퀴지 두께 20㎜, 경도 70°, 경사 연마: 23°,Squeegee: Squeegee thickness 20mm, hardness 70°, bevel grinding: 23°,

판: PET100 메쉬 바이어스판,Plate: PET100 mesh bias plate,

인압: 50㎏, 스퀴지 스피드 30㎜/Sec,Pressure: 50kg, squeegee speed 30mm/Sec,

스퀴지 각도: 80°.Squeegee angle: 80°.

(드라이 필름의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of dry film)

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름을, 보호 필름을 박리하고, 뱃치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500(메이키사제)을 사용하고, 상기 「액상 조성물의 평가 샘플의 제작」과 동일한 유리 에폭시 기판에, 상기 <유리 전이 온도(Tg) 및 열팽창 계수(CTE(α1))>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 기판의 양면으로부터 드라이 필름을 라미네이트하고, 수지 조성물을 스루홀 내에 충전했다. 계속해서, 열풍 순환식 건조로에서 수지층을 경화시켰다.The dry film of each Example and Comparative Example was peeled off the protective film, and a batch vacuum pressurized laminator MVLP-500 (manufactured by Meiki Corporation) was used, and on the same glass epoxy substrate as in "Preparation of evaluation sample of liquid composition" above, A dry film was laminated from both sides of the substrate by the same method as described in the above <Glass transition temperature (Tg) and coefficient of thermal expansion (CTE(α1))>, and the resin composition was filled in the through hole. Then, the resin layer was hardened by the hot-air circulation type drying furnace.

(충전성의 평가)(Evaluation of filling properties)

그 후, 기판 중의 스루홀 중심을 지나는 단면을 정밀 절단기로 재단, 연마하고 단면 상태를 광학 현미경으로 관찰을 행하였다. 평가 기준은 하기에 따라 평가를 행하였다. 관찰 스루홀 수는 200구멍으로 했다.Thereafter, the cross section passing through the center of the through hole in the substrate was cut and polished with a precision cutter, and the state of the cross section was observed with an optical microscope. The evaluation criteria evaluated according to the following. The number of observation through-holes was set to 200 holes.

◎: 모든 스루홀 내가 수지로 완전히 매립되어 있다.(double-circle): The inside of all through-holes is completely filled with resin.

○: 수지로 완전히 매립되어 있지 않은 스루홀이 1 내지 2구멍 발생.(circle): 1 or 2 holes generate|occur|produced through hole which is not completely filled with resin.

△: 수지로 완전히 매립되어 있지 않은 스루홀이 3 내지 50구멍 발생.(triangle|delta): 3-50 holes generate|occur|produced through hole which is not completely filled with resin.

×: 수지로 완전히 매립되어 있지 않은 스루홀이 51구멍 이상 발생.x: 51 holes or more generate|occur|produced the through hole which is not completely filled with resin.

<보이드의 발생><Occurrence of voids>

상기 <스루홀로의 충전성>에서 평가한 샘플을 사용하여, 스루홀 중의 보이드의 발생을 확인했다. 평가 기준은 하기에 따라 평가를 행하였다. 관찰 스루홀 수는 200구멍으로 했다.Generation|occurrence|production of the void in a through-hole was confirmed using the sample evaluated in the said <filling property into a through-hole>. The evaluation criteria evaluated according to the following. The number of observation through-holes was set to 200 holes.

◎: 보이드의 발생 없음.(double-circle): No generation|occurrence|production of a void.

○: 보이드가 1 내지 2구멍 발생.(circle): A void generate|occur|produces 1-2 holes.

△: 보이드가 3 내지 50 구멍 발생.(triangle|delta): 3-50 hole generation|occurrence|production of a void.

×: 보이드가 51구멍 이상 발생.x: 51 or more holes generate|occur|produced a void.

<흡수율의 측정><Measurement of absorption rate>

(액상 조성물의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of liquid composition)

각 실시예 및 비교예의 액상 수지 조성물에 대하여, 상기 <유리 전이 온도(Tg) 및 열팽창 계수(CTE(α1))>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 도포, 경화를 행하였다.The liquid resin compositions of Examples and Comparative Examples were coated and cured in the same manner as described in <Glass Transition Temperature (Tg) and Coefficient of Thermal Expansion (CTE(α1))> above.

(드라이 필름의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of dry film)

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름에 대하여, 상기 <유리 전이 온도(Tg) 및 열팽창 계수(CTE(α1))>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 수지층을 경화했다.About the dry film of each Example and comparative example, the resin layer was hardened by the method similar to the method described in the said <glass transition temperature (Tg) and thermal expansion coefficient (CTE(α1))>.

(흡수율의 측정)(Measurement of absorption rate)

그 후, 경화물을 구리박으로부터 박리한 후, 측정 사이즈(50㎜×50㎜의 사이즈)로 샘플을 잘라낸 후, 100℃에서 2시간 건조를 행하여, 수분을 완전히 제거하고, 정밀 천칭으로 질량(W1)의 측정을 행하였다. 그 후, 샘플을 23℃±2℃로 관리된 증류수에 침지하고, 24시간 후의 질량(W2)의 측정을 행하였다. 흡수율은 (W2-W1)/W1×100(%)에 의해 구했다.Then, after peeling the hardened|cured material from copper foil, after cutting out a sample to the measurement size (size of 50 mm x 50 mm), it dried at 100 degreeC for 2 hours, moisture was completely removed, and the mass ( W1) was measured. Then, the sample was immersed in distilled water managed at 23 degreeC +/-2 degreeC, and the measurement of the mass (W2) after 24 hours was performed. Water absorption was calculated|required by (W2-W1)/W1x100 (%).

◎◎: 0.3% 미만.◎◎: less than 0.3%.

◎: 0.3% 이상 0.7% 미만.(double-circle): 0.3% or more and less than 0.7%.

○: 0.7% 이상 1.0% 미만.○: 0.7% or more and less than 1.0%.

△: 1.0% 이상 1.4% 미만.(triangle|delta): 1.0 % or more and less than 1.4 %.

×: 1.4% 이상.x: 1.4% or more.

<냉열 사이클(크랙의 억제)><Cooling/heating cycle (crack suppression)>

(액상 조성물의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of liquid composition)

각 실시예 및 비교예의 액상 수지 조성물을, 상기 <스루홀로의 충전성>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 스루홀 내에 충전했다. 그 후, 열풍 순환식 건조로에서, 150℃에서 60분간 가열하여, 수지층을 경화시키고, 기판 표면으로부터 비어져 나와 있는 수지의 부분을 버프 연마에 의해 제거했다. 계속해서, 시판의 습식 과망간산 디스미어(ATOTECH사제), 무전해 구리 도금(스루컵PEA, 우에무라 고교사제), 전해 구리 도금 처리의 순으로 처리를 행하여, 덮개 도금 사양의 평가 기판을 얻었다.The liquid resin compositions of Examples and Comparative Examples were filled into the through-holes in the same manner as in the method described in the above <Filling into through-holes>. Then, in a hot-air circulation drying furnace, it heated at 150 degreeC for 60 minutes, the resin layer was hardened, and the part of the resin protruding from the board|substrate surface was removed by buffing. Subsequently, a commercially available wet permanganate desmear (manufactured by ATOTECH), electroless copper plating (Thru Cup PEA, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.), and electrolytic copper plating treatment were performed in this order to obtain an evaluation substrate having cover plating specifications.

(드라이 필름의 평가 샘플의 제작) (Preparation of evaluation sample of dry film)

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름에 대하여, 뱃치식 진공 가압 라미네이터MVLP-500(메이키사제)을 사용하여, 상기 <스루홀로의 충전성>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 기판의 양면으로부터 드라이 필름을 라미네이트하고, 수지 조성물을 스루홀 내에 충전했다. 그 후, 캐리어 필름을 박리하고, 열풍 순환식 건조로에서 180℃에서 30분간 가열하여 수지층을 경화시켰다. 또한, 실시예 16, 20에 기재된 말레이미드 화합물을 포함하는 조성물에 관해서는, 220℃에서 60분간, 수지층을 경화시켰다. 그 후, CO2 레이저 가공기(히타치 비아 메카닉스사제)를 사용하여 톱 직경 65㎛, 보텀 직경 50㎛가 되도록 비아 형성을 행하였다.For the dry films of each Example and Comparative Example, using a batch vacuum pressurized laminator MVLP-500 (manufactured by Meiki Corporation), the dry film was removed from both sides of the substrate in the same manner as in the method described in the <Filling through holes>. After lamination, the resin composition was filled in the through hole. Then, the carrier film was peeled, and it heated at 180 degreeC for 30 minute(s) in a hot-air circulation type drying furnace, and hardened the resin layer. In addition, regarding the composition containing the maleimide compound described in Examples 16 and 20, the resin layer was hardened at 220 degreeC for 60 minute(s). Thereafter, via formation was performed using a CO 2 laser processing machine (manufactured by Hitachi Via Mechanics) so as to have a top diameter of 65 µm and a bottom diameter of 50 µm.

계속해서, 시판의 습식 과망간산 디스미어(ATOTECH사제), 무전해 구리 도금(스루컵PEA, 우에무라 고교사제), 전해 구리 도금 처리의 순으로 처리를 행하여, 수지층 위에 구리 두께 25㎛, 비아 부분을 충전하도록 구리 도금 처리를 실시했다. 계속해서, 열풍 순환식 건조로에서 190℃에서 60분간 경화를 행하여, 완전 경화시킨 구리 도금 처리를 실시한 시험 기판을 얻었다.Subsequently, a commercially available wet permanganate desmear (manufactured by ATOTECH), electroless copper plating (Thru Cup PEA, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.), and electrolytic copper plating treatment are performed in this order, and a copper thickness of 25 µm on a resin layer, via portion A copper plating treatment was performed to fill the Then, it hardened|cured at 190 degreeC for 60 minute(s) in a hot-air circulation type drying furnace, and the test board|substrate which gave the copper plating process which made it hardening was obtained.

(냉열 사이클의 실시)(Implementation of cold-heat cycle)

상기의 방법으로 얻어진 각 실시예 및 비교예의 시험용 기판에 대하여, -65℃에서 30분, 150℃에서 30분을 1사이클로 하고, 2000 및 2500사이클의 열 이력을 가했다.For the test substrates of Examples and Comparative Examples obtained by the above method, one cycle of 30 minutes at -65 DEG C and 30 minutes at 150 DEG C was set, and 2000 and 2500 cycles of heat history were applied.

(스루홀 중의 크랙의 확인)(Confirmation of cracks in through-holes)

상기 <스루홀로의 충전성>의 기재와 동일한 방법으로, 스루홀 중심의 단면 상태를 광학 현미경으로 관찰을 행하였다. 평가 기준은 하기에 따라 평가를 행하였다. 관찰 스루홀 수는 200구멍으로 했다.The cross-sectional state of the center of the through hole was observed with an optical microscope in the same manner as described in the above <Fillability into the through hole>. The evaluation criteria evaluated according to the following. The number of observation through-holes was set to 200 holes.

◎: 2000사이클 및 2500사이클 모두 크랙 발생 없음.(double-circle): No crack generation in both 2000 cycles and 2500 cycles.

○: 2000사이클에서의 크랙의 발생 없음. 2500사이클에서 1 내지 5개소의 크랙이 발생.(circle): No crack generation|occurrence|production in 2000 cycles. 1 to 5 cracks occurred at 2500 cycles.

×: 2000사이클에서 크랙이 발생.x: A crack generate|occur|produced in 2000 cycles.

(비아의 크랙의 확인)(Confirmation of cracks in vias)

비아 바닥이나 벽면의 상태를 광학 현미경에 의해 관찰하기 위해, 비아 중심 부분을 정밀 절단기로 재단, 연마하고, 단면 상태의 관찰을 행하였다. 평가 기준은 하기에 따라 평가를 행하였다. 관찰 비아수는 100구멍으로 했다.In order to observe the state of the via bottom and wall surface with an optical microscope, the via center part was cut and grind|polished with the precision cutter, and the cross-sectional state was observed. The evaluation criteria evaluated according to the following. The number of observation vias was set to 100 holes.

◎: 2000사이클 및 2500사이클 모두 크랙 발생 없음.(double-circle): No crack generation in both 2000 cycles and 2500 cycles.

○: 2000사이클에서의 크랙의 발생 없음. 2500사이클에서 1 내지 5개소의 크랙이 발생.(circle): No crack generation|occurrence|production in 2000 cycles. 1 to 5 cracks occurred at 2500 cycles.

×: 2000사이클에서 크랙이 발생.x: A crack generate|occur|produced in 2000 cycles.

<연마성><Abrasiveness>

(액상 조성물의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of liquid composition)

각 실시예 및 비교예의 액상 수지 조성물을, 상기 <스루홀로의 충전성>의 기재와 동일한 방법으로 스루홀 내에 충전했다. 충전 후, 열풍 순환식 건조로에 넣고, 150℃에서 60분 경화를 행하여, 평가 기판을 얻었다.The liquid resin compositions of Examples and Comparative Examples were filled into the through-holes in the same manner as described in the above <Fillability into the through-holes>. After charging, it was put into a hot-air circulation drying furnace, and hardening was performed at 150 degreeC for 60 minutes, and the evaluation board|substrate was obtained.

(드라이 필름의 평가 샘플의 제작)(Preparation of evaluation sample of dry film)

각 실시예 및 비교예의 드라이 필름을, 뱃치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500(메이키사제)을 사용하여, 상기 <스루홀로의 충전성>에 기재된 방법과 동일한 방법으로 기판의 편면으로부터만 드라이 필름을 라미네이트하고, 그 후, 수지층을 경화시켰다.For the dry films of each Example and Comparative Example, using a batch vacuum pressurized laminator MVLP-500 (manufactured by Makey Corporation), the dry film was applied only from one side of the substrate in the same manner as described in the <Filling through hole> method. After lamination, the resin layer was cured.

(연마성의 평가)(Evaluation of abrasiveness)

상기의 방법으로 얻어진 각 실시예 및 비교예의 시험용 기판의 기판 표면으로부터 비어져 나와 있는 수지의 부분을 버프 연마에 의해 물리 연마를 행하고, 토출부의 수지가 제거될 때까지의 패스 횟수를 비교했다.The portion of the resin protruding from the substrate surface of the test substrates of each Example and Comparative Example obtained by the above method was subjected to physical polishing by buffing, and the number of passes until the resin was removed from the discharge portion was compared.

◎: 2패스 이하로 연마 가능.(double-circle): Polishing is possible in 2 passes or less.

○: 2 내지 3패스로 연마 가능.○: Grinding is possible in 2-3 passes.

×: 4패스 이상.×: 4 passes or more.

<보존 안정성의 평가><Evaluation of storage stability>

(액상 조성물의 보존 안정성의 평가)(Evaluation of storage stability of liquid composition)

각 실시예 1 내지 8 및 비교예 1 내지 7의 액상 수지 조성물에 대하여, 초기와 25℃ 7일간 보관 후의 점도의 측정을 행하고, 하기의 계산식에 의해 증점률을 구했다.For the liquid resin compositions of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 7, the viscosity was measured at the initial stage and after storage at 25°C for 7 days, and the thickening rate was calculated by the following formula.

증점률(%)=(25℃ 7일간 보관 후의 점도-초기 점도)/초기 점도×100Thickening rate (%) = (viscosity after storage at 25°C for 7 days - initial viscosity)/initial viscosity × 100

◎: 10% 미만◎: less than 10%

○: 10% 이상 30% 미만○: 10% or more and less than 30%

△: 30% 이상 50% 미만△: 30% or more and less than 50%

×: 50% 이상×: 50% or more

(드라이 필름의 보존 안정성의 평가)(Evaluation of storage stability of dry film)

각 실시예 9 내지 22 및 비교예 8 내지 12의 드라이 필름에 대하여, 서모 피셔 사이언티픽(주)제 「레오스트레스RS6000」을 사용하여, 초기와 25℃ 3일간 보관 후의 용융 점도를 측정했다. 측정은, 30㎜×30㎜의 크기로 준비한 각 실시예 및 비교예의 드라이 필름으로부터 캐리어 필름 및 보호 필름을 박리한 후, 직경 20㎜의 패러렐 플레이트 위에 적재하고, 개시 온도 40℃부터 150℃까지, 승온 온도 3℃/분, 진동 1㎐, 왜곡 2deg의 조건에서 용융 점도를 측정하여, 최저 용융 점도를 구하고, 하기의 계산식에 의해 증점률을 구했다.About the dry film of each Examples 9-22 and Comparative Examples 8-12, the melt viscosity after initial stage and 25 degreeC 3 days storage was measured using "Reostress RS6000" manufactured by Thermo Fisher Scientific Co., Ltd. After peeling the carrier film and the protective film from the dry film of each Example and Comparative Example prepared in the size of 30 mm × 30 mm, it is loaded on a parallel plate having a diameter of 20 mm, and the starting temperature is from 40 ° C to 150 ° C, The melt viscosity was measured under the conditions of a temperature rise temperature of 3°C/min, a vibration of 1 Hz, and a strain of 2deg to determine the minimum melt viscosity, and the thickening rate was obtained by the following formula.

증점률(%)=(25℃ 3일간 보관 후의 최저 용융 점도-초기의 최저 용융 점도)/초기의 최저 용융 점도×100Thickness rate (%) = (minimum melt viscosity after storage at 25°C for 3 days - initial minimum melt viscosity) / initial minimum melt viscosity x 100

◎: 30% 미만 ◎: less than 30%

○: 30% 이상 50% 미만○: 30% or more and less than 50%

Figure 112017078594218-pct00003
Figure 112017078594218-pct00003

*1) EPOX-MK R710: (주)프린텍제(비스페놀 E형 에폭시 수지, 에폭시 당량 160 내지 180g/eq, 액상)*1) EPOX-MK R710: made by PRINTEC (Bisphenol E-type epoxy resin, epoxy equivalent 160 to 180 g/eq, liquid)

*2) JER828: 미츠비시 가가쿠(주)제(비스페놀 A형 에폭시 수지, 에폭시 당량 184 내지 194g/eq, 액상)*2) JER828: manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (bisphenol A type epoxy resin, epoxy equivalent of 184 to 194 g/eq, liquid)

*3) JER807: 미츠비시 가가쿠(주)제(비스페놀 F형 에폭시 수지, 에폭시 당량 160 내지 175g/eq, 액상)*3) JER807: manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (bisphenol F-type epoxy resin, epoxy equivalent 160 to 175 g/eq, liquid)

*4) DEN431: 다우ㆍ케미컬사제(페놀노볼락형 에폭시 수지(다관능 에폭시 수지))*4) DEN431: Dow Chemical Co., Ltd. (phenol novolak type epoxy resin (polyfunctional epoxy resin))

*5) JER630: 미츠비시 가가쿠(주)제(파라아미노페놀형 액상 에폭시 수지(다관능 에폭시 수지), 에폭시 당량 90 내지 105g/eq, 액상)*5) JER630: Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (paraaminophenol type liquid epoxy resin (polyfunctional epoxy resin), epoxy equivalent 90 to 105 g/eq, liquid)

*6) ED-509S: (주)ADEKA제(단관능 에폭시 수지, 에폭시 당량 206g/eq)*6) ED-509S: manufactured by ADEKA Corporation (monofunctional epoxy resin, epoxy equivalent 206 g/eq)

*7) HP-4032: DIC(주)제(나프탈렌형 에폭시 수지, 에폭시 당량 135 내지 165g/eq; 반고체)*7) HP-4032: DIC Co., Ltd. (naphthalene type epoxy resin, epoxy equivalent 135 to 165 g/eq; semi-solid)

*8) HP-7200L: 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지(DIC사제, 에폭시 당량 250 내지 280g/eq; 연화점 57 내지 68℃)*8) HP-7200L: dicyclopentadiene type epoxy resin (manufactured by DIC, epoxy equivalent 250 to 280 g/eq; softening point 57 to 68° C.)

*9) HF-1M: 메이와 가세이사제(페놀노볼락 수지)*9) HF-1M: Meiwa Kasei Co., Ltd. (phenol novolac resin)

*10) SN-485: 신닛테츠 스미킨 가가쿠(주)제(페놀노볼락 수지)*10) SN-485: Shin-Nitetsu Sumikin Chemical Co., Ltd. (phenol novolac resin)

*11) LA-7054: DIC사제(페놀노볼락 수지)*11) LA-7054: manufactured by DIC (phenol novolac resin)

*12) PT-30: 론자 재팬사제(페놀노볼락형 다관능 시아네이트 수지)*12) PT-30: Lonza Japan Co., Ltd. (phenol novolak type polyfunctional cyanate resin)

*13) HPC-8000: 활성 에스테르 수지(DIC사제)*13) HPC-8000: Active ester resin (manufactured by DIC)

*14) BMI-2300: 다이와 가세이 고교(주)제*14) BMI-2300: Daiwa Kasei High School Co., Ltd.

*15) 소프톤1800: 비호쿠훈카 고교사제, 탄산칼슘 CaCO3(평균 입경 1.25㎛)*15) Softon 1800: Bihoku Hunka Kogyo Co., Ltd., calcium carbonate CaCO 3 (average particle size 1.25㎛)

*16) (주)애드마텍스제, 실리카 SiO2(D50=0.5㎛)*16) Admatex Co., Ltd., silica SiO 2 (D50=0.5㎛)

*17) 2MZ-AP: 시코쿠 가세이 고교(주)제*17) 2MZ-AP: Shikoku Kasei High School Co., Ltd.

*18) 2E4MZ *18) 2E4MZ

*19) DMAP: 4-디메틸아미노피리딘*19) DMAP: 4-dimethylaminopyridine

*20) FX-293: 신닛테츠 스미킨 가가쿠(주)제(페녹시 수지)*20) FX-293: Shin-Nitetsu Sumikin Chemical Co., Ltd. (phenoxy resin)

Figure 112017078594218-pct00004
Figure 112017078594218-pct00004

Figure 112017078594218-pct00005
Figure 112017078594218-pct00005

Figure 112017078594218-pct00006
Figure 112017078594218-pct00006

Figure 112017078594218-pct00007
Figure 112017078594218-pct00007

Figure 112017078594218-pct00008
Figure 112017078594218-pct00008

Figure 112017078594218-pct00009
Figure 112017078594218-pct00009

Figure 112017078594218-pct00010
Figure 112017078594218-pct00010

Figure 112017078594218-pct00011
Figure 112017078594218-pct00011

Figure 112017078594218-pct00012
Figure 112017078594218-pct00012

상기 표 중에 나타낸 바와 같이, 에폭시 수지로서 비스페놀 E형 에폭시 수지를 사용한 각 실시예의 조성물은 고Tg 및 저CTE를 구비하고, 저흡수율이며 스루홀로의 충전성, TCT 내성, 연마성이 우수하고, 보이드의 발생에 대해서도 억제할 수 있는 것임이 확인되었다.As shown in the above table, the composition of each Example using the bisphenol E-type epoxy resin as the epoxy resin has high Tg and low CTE, low water absorption, excellent through-hole fillability, TCT resistance, abrasiveness, and voids. It was confirmed that it is possible to suppress the occurrence of

또한, 액상 수지 조성물에 대하여, 필러로서 탄산칼슘과 실리카를 병용한 실시예 2에 있어서는, 탄산칼슘만을 사용한 실시예 1과 비교하여, CTE가 보다 저하되고 TCT 내성이 향상되어 있는 것을 알 수 있다. (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지에, 비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지를 소량 가한 실시예 3 내지 5에서는 보존 안정성이 향상되어 있고, 또한 아미노페놀형 에폭시 수지를 가한 실시예 5 내지 8에서는 (A) 성분을 단독 사용한 실시예 1과 비교하여, Tg가 향상되고 내열성이 보다 향상되어 있는 것을 알 수 있다.Moreover, with respect to the liquid resin composition, in Example 2 which used calcium carbonate and silica together as a filler, compared with Example 1 using only calcium carbonate, it turns out that CTE falls more and TCT resistance is improved. (A) Examples 3 to 5 in which a small amount of a bisphenol A epoxy resin and a bisphenol F epoxy resin were added to a bisphenol E-type epoxy resin. Examples 5 to 8 in which storage stability was improved and an aminophenol-type epoxy resin was added. In comparison with Example 1 in which component (A) was used alone, it can be seen that Tg is improved and heat resistance is further improved.

또한, 드라이 필름에 대하여, 에폭시 수지로서, (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 반고형 에폭시 수지를 병용한 실시예 9와 비교하여, (A) 성분과 함께 고형 에폭시 수지를 병용한 실시예 10에서는, Tg가 보다 높아지고 TCT 내성이 향상되어 있고, 또한 (A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와 함께 반고형 에폭시 수지와 고형 에폭시 수지를 병용한 실시예 11에서는 유연성에 대해서도 우수한 것을 알 수 있다. 실시예 11의 배합으로부터, 액상 에폭시 수지를 (A) 성분의 E형의 것과 A형 및 F형의 것의 조합으로 바꾼 실시예 12, 15 내지 18에서는 A형을 포함함으로써 CTE가 저하되고, 또한 보존 안정성도 우수하며, 또한 실리카의 양을 증량한 실시예 13에서는 CTE가 보다 저하되어 있다. 또한, 실시예 11의 배합으로부터, 실리카를 탄산칼슘으로 바꾼 실시예 14에서는 연마성이 보다 향상되어 있다. 또한, 실시예 11의 배합에 착색제를 가한 실시예 19에서도, 실시예 11과 동등한 성능이 얻어지고 있고, 비스말레이미드 수지를 가한 실시예 20에서는 Tg가 더욱 향상되어 있다. 또한, 실시예 11의 배합으로부터, 경화제 및 경화 촉진제를 수산기를 갖지 않는 것으로 바꾼 실시예 21, 22에서는 흡수율이 향상되어 있다.In addition, in Example 10 in which a solid epoxy resin was used together with the component (A) compared to Example 9 in which (A) a bisphenol E-type epoxy resin and a semi-solid epoxy resin were used together as an epoxy resin with respect to the dry film, , Tg is higher, TCT resistance is improved, and (A) Example 11 in which a semi-solid epoxy resin and a solid epoxy resin were used together with the bisphenol E-type epoxy resin was excellent also in flexibility. In Examples 12, 15 to 18, in which the liquid epoxy resin was replaced with a combination of the E-type and A-type and F-type ones of the component (A) from the formulation of Example 11, the CTE decreases by including the A-type, and storage The stability was also excellent, and in Example 13 in which the amount of silica was increased, the CTE was further decreased. Further, from the blending of Example 11, in Example 14 in which silica was replaced with calcium carbonate, the abrasiveness was further improved. Moreover, also in Example 19 in which the coloring agent was added to the formulation of Example 11, the performance equivalent to Example 11 was obtained, and in Example 20 to which the bismaleimide resin was added, Tg is further improved. Further, in Examples 21 and 22 in which the curing agent and the curing accelerator were replaced with those having no hydroxyl group from the formulation of Example 11, the water absorption was improved.

이에 대해, 액상 수지 조성물에 대하여, 에폭시 수지로서, A형의 것만을 사용한 비교예 1에서는 점도가 상승하여 충전성이 저하되고, 보이드의 발생 방지의 점에서도 뒤떨어져 있고, F형의 것만을 사용한 비교예 2에서는 Tg가 저하되고 TCT 내성이 악화되어 있고, A형과 F형을 병용한 비교예 3에서는 충전성이 저하되고, 보이드의 발생 방지의 점에서도 불충분함과 함께, Tg가 저하되고 TCT 내성이 악화되어 있다. 또한, 에폭시 수지로서, 아미노페놀형의 것만을 사용한 비교예 4에서는 흡수율이 악화되어 보이드가 발생하고, 연마성도 악화되어 있고, F형과 아미노페놀형을 병용한 비교예 5에서는 흡수율이 악화되어 보이드가 발생하고 있고, 페놀노볼락형과 아미노페놀형을 병용한 비교예 6에서는 흡수율이 악화되어 보이드가 발생하고, 연마성도 악화되어 있다. 또한, 에폭시 수지로서, A형과 단관능 에폭시 수지를 병용한 비교예 7에서는 Tg가 저하되고 TCT 내성이 악화되어 있다.On the other hand, with respect to the liquid resin composition, in Comparative Example 1 in which only A type was used as the epoxy resin, the viscosity increased and the filling property was lowered, and it was also inferior in the point of preventing the occurrence of voids, Comparison using only F type In Example 2, Tg fell and TCT tolerance deteriorated, and in Comparative Example 3 which used A-type and F-type together, fillability fell, while being inadequate also in the point of generation|occurrence|production of a void generation|occurrence|production prevention, Tg falls and TCT resistance This is getting worse. Further, in Comparative Example 4 in which only the aminophenol type was used as the epoxy resin, the water absorption deteriorated and voids were generated, and the abrasiveness was also deteriorated. , and in Comparative Example 6 in which the phenol novolak type and the aminophenol type were used together, the water absorption deteriorated, voids were generated, and the abrasiveness was also deteriorated. Moreover, as an epoxy resin, in the comparative example 7 which used A-type and a monofunctional epoxy resin together, Tg falls and TCT tolerance is worsening.

또한, 드라이 필름에 대하여, 에폭시 수지로서, A형의 것만을 사용한 비교예 8에서는 유연성이 저하되어 있고, F형의 것만을 사용한 비교예 9에서는 Tg가 저하되고 TCT 내성이 악화되어 있고, A형과 F형을 병용한 비교예 10에서는 Tg가 저하되고 TCT 내성이 악화되어 있다. 또한, 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지를 배합하고 있지 않은 비교예 11, 12 중, 잔류 용제량이 적은 비교예 11에서는 유연성 및 충전성이 저하되어 있고, 잔류 용제량이 많은 비교예 12에서는 보이드가 발생하고 있다.Further, with respect to the dry film, as the epoxy resin, in Comparative Example 8 using only A-type, flexibility was lowered, and in Comparative Example 9 using only F-type, Tg decreased and TCT resistance was deteriorated, and A-type In Comparative Example 10 in which and F type were used in combination, Tg was lowered and TCT tolerance was deteriorated. In addition, among Comparative Examples 11 and 12 in which a liquid epoxy resin was not blended as an epoxy resin, in Comparative Example 11 with a small amount of residual solvent, flexibility and filling properties were lowered, and in Comparative Example 12 with a large amount of residual solvent, voids were generated, have.

1 : 기판
2 : 구리박
3 : 스루홀
4 : 도금막
5 : 수지 조성물
6 : 에칭 레지스트
7 : 도체 회로층
8 : 층간 수지 절연층
9 : 개구
10 : 도금 레지스트층
11 : 바이어 홀
12 : 랜드
13 : 솔더 레지스트층
14 : 땜납 범프
30a : 액상 판정용 시험관
30b : 온도 측정용 시험관
31 : 표선(A선)
32 : 표선(B선)
33a, 33b : 고무 마개
34 : 온도계
X : 적층 기판
101 : 절연 기판
103 : 내층 도체 패턴
103a : 커넥션부
104, 109 : 수지 절연층
108 : 외층 도체 패턴
110 : 최외층 도체 패턴
120 : 스루홀
121 : 스루홀 구멍
122 : 커넥션부
1: substrate
2: copper foil
3: Through hole
4: plating film
5: resin composition
6: etching resist
7: conductor circuit layer
8: interlayer resin insulating layer
9: opening
10: plating resist layer
11: Buyer Hall
12 : Land
13: solder resist layer
14 : Solder Bump
30a: test tube for liquid determination
30b: test tube for temperature measurement
31: Marked line (A line)
32: marked line (B line)
33a, 33b: rubber stopper
34: thermometer
X: laminated board
101: insulating substrate
103: inner layer conductor pattern
103a: connection part
104, 109: resin insulating layer
108: outer layer conductor pattern
110: outermost layer conductor pattern
120: through hole
121: through hole hole
122: connection part

Claims (12)

(A) 비스페놀 E형 에폭시 수지와,
(B) 경화제 및 경화 촉진제 중 어느 한쪽 또는 양쪽과,
(C) 비금속 필러와,
비스페놀 A형 에폭시 수지 및 비스페놀 F형 에폭시 수지를 함유하는 것을 특징으로 하는 절연성 열경화성 수지 조성물.
(A) a bisphenol E-type epoxy resin;
(B) either or both of a curing agent and a curing accelerator;
(C) a non-metal filler;
Bisphenol A epoxy resin and bisphenol F epoxy resin are contained, The insulating thermosetting resin composition characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서, 용제를 포함하지 않는 절연성 열경화성 수지 조성물.The insulating thermosetting resin composition according to claim 1, which does not contain a solvent. 제1항에 있어서, 반고형 에폭시 수지 및 고형 에폭시 수지를 포함하지 않는 절연성 열경화성 수지 조성물. The insulating thermosetting resin composition according to claim 1, which does not contain a semi-solid epoxy resin and a solid epoxy resin. 제1항에 있어서, 상기 경화제가 페놀 수지, 활성 에스테르 수지 및 시아네이트에스테르 수지 중 적어도 어느 1종을 포함하는 절연성 열경화성 수지 조성물.The insulating thermosetting resin composition according to claim 1, wherein the curing agent includes at least one of a phenol resin, an active ester resin, and a cyanate ester resin. 제1항에 있어서, 프린트 배선판의 제조에 사용되는 절연성 열경화성 수지 조성물.The insulating thermosetting resin composition according to claim 1, which is used for manufacturing a printed wiring board. 제1항에 있어서, 상기 (C) 비금속 필러가 탄산칼슘 및 실리카 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 포함하는 절연성 열경화성 수지 조성물.The insulating thermosetting resin composition according to claim 1, wherein the (C) non-metal filler contains either or both of calcium carbonate and silica. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 프린트 배선판의 층간 절연재, 솔더 레지스트, 커버레이 또는 구멍 매립 용도 중 어느 것에 사용되는 절연성 열경화성 수지 조성물.The insulating thermosetting resin composition according to any one of claims 1 to 6, which is used as an interlayer insulating material for a printed wiring board, a solder resist, a coverlay, or a hole filling application. 필름 위에, 제1항에 기재된 절연성 열경화성 수지 조성물을 도포, 건조하여 얻어지는 수지층을 갖는 것을 특징으로 하는 드라이 필름.It has a resin layer obtained by apply|coating and drying the insulating thermosetting resin composition of Claim 1 on a film, The dry film characterized by the above-mentioned. 제8항에 있어서, 상기 수지층의 잔류 용제량이, 용제를 포함하는 수지층 전량 기준으로 1질량% 미만인 드라이 필름.The dry film according to claim 8, wherein the residual solvent in the resin layer is less than 1% by mass based on the total amount of the resin layer including the solvent. 제1항에 기재된 절연성 열경화성 수지 조성물, 또는 제8항 또는 제9항에 기재된 드라이 필름의 상기 수지층을 경화시켜 얻어지는 것을 특징으로 하는 경화물.It is obtained by hardening the said resin layer of the insulating thermosetting resin composition of Claim 1, or the dry film of Claim 8 or 9, The hardened|cured material characterized by the above-mentioned. 제10항에 기재된 경화물을 갖는 것을 특징으로 하는 프린트 배선판.It has the hardened|cured material of Claim 10, The printed wiring board characterized by the above-mentioned. 삭제delete
KR1020177022761A 2015-01-21 2015-12-10 Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board KR102415755B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015009670 2015-01-21
JPJP-P-2015-009670 2015-01-21
PCT/JP2015/084727 WO2016117237A1 (en) 2015-01-21 2015-12-10 Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170106405A KR20170106405A (en) 2017-09-20
KR102415755B1 true KR102415755B1 (en) 2022-07-04

Family

ID=56416797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020177022761A KR102415755B1 (en) 2015-01-21 2015-12-10 Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6268310B2 (en)
KR (1) KR102415755B1 (en)
CN (1) CN107207837B (en)
TW (1) TWI684623B (en)
WO (1) WO2016117237A1 (en)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7103225B2 (en) * 2016-11-18 2022-07-20 昭和電工マテリアルズ株式会社 Encapsulating film and its cured product, and electronic devices
JP7082496B2 (en) * 2017-02-27 2022-06-08 株式会社Adeka A resin composition for fiber reinforced plastics, a cured product thereof, and a fiber reinforced plastic containing the cured product.
JP7084203B2 (en) * 2017-06-21 2022-06-14 積水化学工業株式会社 Resin composition for insulating film, insulating film and multilayer printed wiring board
JP7401961B2 (en) * 2017-11-10 2023-12-20 住友ベークライト株式会社 Thermosetting resin composition, circuit board, and method for producing circuit board
EP3712191B1 (en) 2017-11-14 2023-01-04 Koki Company Limited Resin composition for reinforcement and electronic component device
JP6516115B1 (en) * 2018-05-16 2019-05-22 山栄化学株式会社 Soluble and non-soluble particle-containing curable resin composition
CN111511123B (en) * 2019-01-31 2024-10-29 太阳控股株式会社 Method for producing cured product
CN113614191A (en) * 2019-03-22 2021-11-05 琳得科株式会社 Resin sheet
JP7252027B2 (en) * 2019-03-26 2023-04-04 太陽インキ製造株式会社 Curable resin composition for hole filling
CN110642998A (en) * 2019-08-27 2020-01-03 中山精合电子材料有限公司 Epoxy resin composition, curable dry film, cured product and printed circuit board
JP2021150311A (en) 2020-03-16 2021-09-27 キオクシア株式会社 Semiconductor device
WO2021200032A1 (en) * 2020-03-31 2021-10-07 太陽インキ製造株式会社 Curable resin composition, cured product, and printed wiring board
WO2022202220A1 (en) * 2021-03-26 2022-09-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 Method for producing magnetic body-incorporating substrate
JPWO2023063282A1 (en) * 2021-10-15 2023-04-20
TW202323344A (en) * 2021-10-15 2023-06-16 日商三菱瓦斯化學股份有限公司 Resin composition, laminate, semiconductor chip with resin composition layer, mounting board for semiconductor chip with resin composition layer, and semiconductor device
CN114369437A (en) * 2022-02-08 2022-04-19 深圳先进电子材料国际创新研究院 High-temperature-resistant insulating adhesive film, preparation method and application thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000030533A (en) * 1998-05-08 2000-01-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Conductive paste composition for filling via hole, double face and multilayer printed circuit board and their manufacture
JP2004149758A (en) 2002-09-05 2004-05-27 Sanyo Chem Ind Ltd Hardenable resin film
JP2014175459A (en) * 2013-03-08 2014-09-22 Hitachi Chemical Co Ltd Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62212418A (en) * 1986-03-13 1987-09-18 Mitsubishi Petrochem Co Ltd One-component epoxy resin composition
JPH02281068A (en) * 1989-04-24 1990-11-16 Somar Corp Resin composition suitable for interlayer insulation
JP3290295B2 (en) 1994-05-13 2002-06-10 太陽インキ製造株式会社 Curable resin composition, multilayer printed wiring board using the composition, and method for producing the same
JP3290296B2 (en) 1994-05-13 2002-06-10 太陽インキ製造株式会社 Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
JP3242009B2 (en) 1995-10-23 2001-12-25 イビデン株式会社 Resin filler
JP3405914B2 (en) 1998-02-06 2003-05-12 日本特殊陶業株式会社 Paste for filling through holes
JP4849860B2 (en) * 2005-10-04 2012-01-11 太陽ホールディングス株式会社 Photocurable / thermosetting resin composition, cured product thereof, and printed wiring board obtained using the same
JP5150381B2 (en) 2008-06-20 2013-02-20 太陽ホールディングス株式会社 Thermosetting resin composition
JP2014028880A (en) 2012-07-31 2014-02-13 Ajinomoto Co Inc Resin composition

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000030533A (en) * 1998-05-08 2000-01-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Conductive paste composition for filling via hole, double face and multilayer printed circuit board and their manufacture
JP2004149758A (en) 2002-09-05 2004-05-27 Sanyo Chem Ind Ltd Hardenable resin film
JP2014175459A (en) * 2013-03-08 2014-09-22 Hitachi Chemical Co Ltd Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2016117237A1 (en) 2017-04-27
KR20170106405A (en) 2017-09-20
TWI684623B (en) 2020-02-11
JP6268310B2 (en) 2018-01-24
TW201631023A (en) 2016-09-01
WO2016117237A1 (en) 2016-07-28
CN107207837A (en) 2017-09-26
CN107207837B (en) 2020-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102415755B1 (en) Thermosetting resin composition, dry film, cured product and printed wiring board
KR20160041788A (en) Dry film, cured product and printed wiring board
KR101618025B1 (en) Dry film and printed wiring board
US7989561B2 (en) Composition of liquid, solid and semisolid epoxy resins
KR102429729B1 (en) Dry film, cured product and printed wiring board
JP5238342B2 (en) Thermosetting resin composition for hole filling of printed wiring board and printed wiring board using the same
KR102689382B1 (en) Dry film, cured product, and electronic component
JP6018148B2 (en) Dry film and printed wiring board
JP6069278B2 (en) Dry film and printed wiring board
KR101589425B1 (en) Heat-curable composition, dry film, and printed wiring board
JP5970521B2 (en) Thermosetting composition, dry film and printed wiring board
TWI656172B (en) Solvent-free resin composition and uses of the same
JP7454394B2 (en) Dry film, cured product, electronic components, and dry film manufacturing method
TW202120624A (en) Curable resin composition, dry film, cured product, and electronic component
JP2019166831A (en) Laminate film

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant