KR102210589B1 - Organic light emitting display panel and organic light emitting display device - Google Patents
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Abstract
본 실시예들은, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 불필요한 열화 발생을 방지하면서도, 비 액티브 영역에 더미 픽셀로서 형성해둔 적어도 하나의 모니터렁 픽셀을 이용하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하고, 센싱 결과에 기초하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화에 따른 휘도 보상을 가능하게 하는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치에 관한 것이다. In the present embodiments, while preventing unnecessary deterioration of a pixel formed in the active region, at least one monitor rung pixel formed as a dummy pixel in the inactive region is used to indirectly sense the degree of deterioration of the pixel formed in the active region. , An organic light emitting display panel and an organic light emitting display device that enable luminance compensation according to deterioration of a pixel formed in an active region based on a sensing result.
Description
본 발명은 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting display panel and an organic light emitting display device.
최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써, 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 큰 장점이 있다. 2. Description of the Related Art Recently, organic light-emitting display devices, which are in the spotlight as display devices, use organic light-emitting diodes (OLEDs) that emit light by themselves, so that response speed is fast, and luminous efficiency, luminance, and viewing angle are great.
이러한 유기발광표시장치는 유기발광다이오드가 포함된 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔신호에 의해 선택된 서브픽셀들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다. In such an organic light emitting display device, subpixels including organic light emitting diodes are arranged in a matrix form, and brightness of subpixels selected by a scan signal is controlled according to gray scale of data.
이러한 유기발광표시장치의 각 서브픽셀은 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하기 위한 트랜지스터 및 캐패시터 등으로 구성된 회로부를 포함한다. Each sub-pixel of the organic light-emitting display device includes an organic light-emitting diode, and a circuit unit including a transistor and a capacitor for driving the organic light-emitting diode.
각 서브픽셀 내 유기발광다이오드 및 트랜지스터 등의 회로소자는 구동시간에 따라 열화(Degradation)가 진행되어, 각 서브픽셀의 휘도를 떨어뜨리거나 각 서브픽셀 간의 휘도 편차를 발생시켜, 유기발광표시패널에서의 휘도 균일도(Uniformity)가 저하된다. 이러한 휘도 균일도의 저하는 화상 품질을 크게 떨어뜨려 제품 퀄리티에 대한 심각한 저해가 될 수 있다. Circuit elements such as organic light-emitting diodes and transistors in each sub-pixel are degraded according to the driving time, thereby reducing the luminance of each sub-pixel or causing a luminance deviation between each sub-pixel. The luminance uniformity of is lowered. Such a decrease in luminance uniformity can significantly degrade image quality and seriously impair product quality.
이에, 센싱 및 보상 기술이 제안되고 있으나, 종래의 센싱 및 보상 기술은, 휘도 보상을 위한 센싱 동작 시, 화상을 표시하지 않으면서도, 픽셀 내 서브픽셀을 센싱 목적으로 구동시켜야 하기 때문에, 불필요한 열화가 발생하는 문제점 등이 있고, 이뿐만 아니라, 센싱 및 보상 효율이 크게 떨어지는 문제점이 있어왔다. Accordingly, sensing and compensation technologies have been proposed, but conventional sensing and compensation technologies require driving subpixels within a pixel for sensing purposes while not displaying an image during a sensing operation for luminance compensation. There are problems that occur, and there has been a problem in that sensing and compensation efficiency is greatly deteriorated.
본 실시예들의 목적은, 높은 휘도 균일도(Uniformity)를 갖는 유기발광표시패널과, 이를 포함하는 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다. An object of the present embodiments is to provide an organic light emitting display panel having high luminance uniformity, and an organic light emitting display device including the same.
또한, 본 실시예들의 다른 목적은, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 불필요한 열화를 발생시키지 않으면서도, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 추정할 수 있는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다. In addition, another object of the present embodiments is to provide an organic light-emitting display panel and an organic light-emitting display device capable of estimating the degree of deterioration of a pixel formed in the active area without causing unnecessary deterioration of the pixel formed in the active area. have.
또한, 본 실시예들의 또 다른 목적은, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 세밀하고 정확하게 추정할 수 있는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다. In addition, another object of the present embodiments is to provide an organic light emitting display panel and an organic light emitting display device capable of accurately and precisely estimating the degree of deterioration of a pixel formed in an active area.
또한, 본 실시예들의 또 다른 목적은, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 그 어떠한 열화도 발생시키지 않으면서, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하고, 센싱 결과에 기초하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화에 따른 휘도 보상을 가능하게 하는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다. In addition, another object of the present embodiments is to indirectly sense the degree of deterioration of the pixel formed in the active region, without causing any deterioration of the pixel formed in the active region, and based on the sensing result, An organic light emitting display panel and an organic light emitting display device capable of compensating for luminance according to deterioration of pixels are provided.
일 실시예는, 제1방향으로 다수의 데이터 라인이 형성되어 있고, 제2방향으로 다수의 게이트 라인이 형성되어 있으며, 액티브 영역에 다수의 픽셀이 배치되어 있는 유기발광표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부와, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부와, 데이터 구동부 및 게이트 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되, 유기발광표시패널의 액티브 영역의 외곽에, 제1방향 또는 제2방향으로 픽셀 행 개수 또는 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀 또는 모니터링 픽셀 세트가 배치되어 있는 유기발광표시장치를 제공한다. In one embodiment, an organic light emitting display panel in which a plurality of data lines are formed in a first direction, a plurality of gate lines are formed in a second direction, and a plurality of pixels are arranged in an active area, and a plurality of data are provided. A data driver for driving a line, a gate driver for driving a plurality of gate lines, and a timing controller for controlling the data driver and the gate driver, and in a first direction or a second direction outside the active area of the organic light emitting display panel. An organic light-emitting display device is provided in which monitoring pixels or monitoring pixel sets as many as the number of pixel rows or pixel columns are arranged in a direction.
다른 실시예는, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀과, 액티브 영역의 외곽에 적어도 하나의 더미 픽셀 행 또는 적어도 하나의 더미 픽셀 열이 배치되어 있는 유기발광표시패널을 제공한다. In another embodiment, a plurality of data lines formed in a first direction, a plurality of gate lines formed in a second direction, a plurality of pixels disposed in an active area, and at least one dummy pixel row or at least outside the active area An organic light emitting display panel in which one dummy pixel row is arranged is provided.
또 다른 실시예는, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀과, 액티브 영역의 외곽에 적어도 하나의 더미 픽셀을 포함하되, 적어도 하나의 더미 픽셀에는 열화 스트레스 데이터 전압이 인가되는 유기발광표시장치를 제공한다. In another embodiment, a plurality of data lines formed in a first direction, a plurality of gate lines formed in a second direction, a plurality of pixels disposed in the active area, and at least one dummy pixel outside the active area are included. However, an organic light emitting display device to which a deterioration stress data voltage is applied to at least one dummy pixel is provided.
또 다른 실시예는, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀과, 액티브 영역의 외곽에 둘 이상의 더미 픽셀을 포함하되, 둘 이상의 더미 픽셀에는 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압이 인가되는 유기발광표시장치를 제공한다.Another embodiment includes a plurality of data lines formed in a first direction, a plurality of gate lines formed in a second direction, a plurality of pixels disposed in the active area, and two or more dummy pixels outside the active area. , An organic light emitting display device to which different deterioration stress data voltages are applied to two or more dummy pixels is provided.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 높은 휘도 균일도(Uniformity)를 갖는 유기발광표시패널과, 이를 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. According to the exemplary embodiments described above, an organic light-emitting display panel having high luminance uniformity and an organic light-emitting display device including the same can be provided.
또한, 본 실시예들에 의하면, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 불필요한 열화를 발생시키지 않으면서도, 비 액티브 영역에 더미 픽셀로서 형성된 적어도 하나의 모니터렁 픽셀을 이용하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 추정할 수 있는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. In addition, according to the present embodiments, the degree of deterioration of a pixel formed in the active region is reduced by using at least one monitor rung pixel formed as a dummy pixel in the non-active region without causing unnecessary deterioration of the pixel formed in the active region. An organic light emitting display panel and an organic light emitting display device that can be indirectly estimated can be provided.
또한, 본 실시예들에 의하면, 비 액티브 영역에 더미 픽셀로서 형성된 둘 이상의 모니터렁 픽셀을 이용하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 세밀하고 정확하게 추정할 수 있는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. In addition, according to the present embodiments, an organic light-emitting display panel and an organic light-emitting display capable of accurately and accurately estimating the degree of deterioration of a pixel formed in the active area by using two or more monitor-run pixels formed as dummy pixels in the inactive area Device can be provided.
또한, 본 실시예들에 의하면, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 그 어떠한 열화도 발생시키지 않으면서, 비 액티브 영역에 더미 픽셀로서 형성된 적어도 하나의 모니터렁 픽셀을 이용하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하고, 센싱 결과에 기초하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀의 열화에 따른 휘도 보상을 가능하게 하는 유기발광표시패널 및 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. In addition, according to the present embodiments, the degree of deterioration of the pixel formed in the active region by using at least one monitor rung pixel formed as a dummy pixel in the non-active region without causing any deterioration of the pixel formed in the active region. An organic light-emitting display panel and an organic light-emitting display device capable of indirectly sensing and compensating for luminance due to deterioration of a pixel formed in an active area based on a sensing result may be provided.
도 1은 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 실시예들에 따른 유기발광표시패널의 서브픽셀에 대한 2가지 등가회로도를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 구동 시간에 따른 서브픽셀의 휘도 감소를 나타낸 도면이다.
도 4 및 도 5는 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 비 액티브 영역에서 1개의 모니터링 픽셀 행 또는 1개의 모니터링 픽셀 열의 배치 구조와, 비 액티브 영역에 배치된 1개의 모니터링 픽셀 행 또는 1개의 모니터링 픽셀 열을 이용한 액티브 영역에서의 휘도 보상을 나타낸 도면이다.
도 6 및 도 7은 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 비 액티브 영역에서 3개의 모니터링 픽셀 행 또는 3개의 모니터링 픽셀 열의 배치 구조와, 비 액티브 영역에 배치된 3개의 모니터링 픽셀 행 또는 3개의 모니터링 픽셀 열을 이용한 액티브 영역에서의 휘도 보상을 나타낸 도면이다.
도 8은 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 1개의 모니터링 픽셀 행에서, m개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압을 나타낸 도면이다.
도 9는 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 1개의 모니터링 픽셀 열에서, n개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압을 나타낸 도면이다.
도 10은 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 3개의 모니터링 픽셀 행에서, m개의 모니터링 픽셀 세트 각각에 포함된 3개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압을 나타낸 도면이다.
도 11은 실시예들에 따른 유기발광표시패널에서, 3개의 모니터링 픽셀 열에서, n개의 모니터링 픽셀 세트 각각에 포함된 3개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압을 나타낸 도면이다.
도 12는 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된 모니터링 서브픽셀(MSP)을 이용하여, 전압 센싱방식에 기초한 센싱 및 휘도 보상을 위한 구성도이다.
도 13은 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된 모니터링 서브픽셀(MSP)을 이용하여, 조도 센싱방식에 기초한 센싱 및 휘도 보상을 위한 구성도이다.
도 14는 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 모니터링 서브픽셀을 이용한 휘도 보상 전후의 휘도를 나타낸 도면이다. 1 is a schematic system configuration diagram of an organic light emitting display device according to embodiments.
FIG. 2 is a diagram illustrating two equivalent circuit diagrams for subpixels of an organic light emitting display panel according to exemplary embodiments.
3 is a diagram illustrating a decrease in luminance of a subpixel according to a driving time in an organic light emitting display panel according to exemplary embodiments.
4 and 5 illustrate an arrangement structure of one monitoring pixel row or one monitoring pixel column in an inactive area, and one monitoring pixel row or one monitoring pixel column in an inactive area in the organic light emitting display panel according to the embodiments. A diagram showing luminance compensation in an active region using a monitored pixel row.
6 and 7 illustrate an arrangement structure of three monitoring pixel rows or three monitoring pixel columns in an inactive area, and three monitoring pixel rows or three monitoring pixel rows in an inactive area in the organic light emitting display panel according to the embodiments. A diagram showing luminance compensation in an active region using a monitored pixel row.
FIG. 8 is a diagram illustrating a deterioration stress data voltage supplied to monitoring subpixels constituting each of m monitoring pixels in one row of monitoring pixels in an organic light emitting display panel according to exemplary embodiments.
9 is a diagram illustrating a deterioration stress data voltage supplied to monitoring subpixels constituting each of n monitoring pixels in one column of monitoring pixels in an organic light emitting display panel according to exemplary embodiments.
10 illustrates deterioration stress data voltages supplied from three monitoring pixel rows to monitoring subpixels constituting each of three monitoring pixels included in each of m monitoring pixel sets in the organic light emitting display panel according to the embodiments. It is a figure shown.
11 illustrates deterioration stress data voltages supplied to monitoring subpixels constituting each of three monitoring pixels included in each of n monitoring pixel sets in a column of three monitoring pixels in an organic light emitting display panel according to embodiments. It is a figure shown.
12 is a configuration diagram for sensing and luminance compensation based on a voltage sensing method using a monitoring sub-pixel (MSP) to which a deterioration stress data voltage is applied in an organic light emitting display device according to exemplary embodiments.
13 is a configuration diagram for sensing and luminance compensation based on an illuminance sensing method using a monitoring subpixel (MSP) to which a deterioration stress data voltage is applied in an organic light emitting display device according to exemplary embodiments.
14 is a diagram illustrating luminance before and after luminance compensation using a monitoring subpixel in an organic light emitting display device according to exemplary embodiments.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, the same elements may have the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof may be omitted.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b) may be used. These terms are only for distinguishing the component from other components, and the nature, order, order, or number of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to that other component, but other components between each component It is to be understood that is "interposed", or that each component may be "connected", "coupled" or "connected" through other components.
도 1은 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다. 1 is a schematic system configuration diagram of an organic light
도 1을 참조하면, 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 제1방향(예: 수직방향)으로 4m개의 데이터 라인(DL1, ... , DL4m, m: 자연수) 및 제2방향(예: 수평방향)으로 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn, n: 자연수)이 형성된 유기발광표시패널(110)과, 4m개의 데이터 라인(DL1, ... , DL4m)을 구동하는 데이터 구동부(120)와, n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)을 순차적으로 구동하는 게이트 구동부(130)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140) 등을 포함한다. Referring to FIG. 1, an organic light
유기발광표시패널(110)에는, 4m개의 데이터 라인(DL1, ... , DL4m) 및 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)이 형성되어 4×m×n개의 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 형성되어 있다. In the organic light
적색 서브픽셀(R), 흰색 서브픽셀(W), 녹색 서브픽셀(G), 청색 서브픽셀(B)에 해당하는 4개의 서브픽셀이 1개의 픽셀(P: Pixel)을 구성함으로써, 유기발광표시패널(110)에는 m×n개의 픽셀이 정의된다. The organic light-emitting display consists of four sub-pixels corresponding to red sub-pixel (R), white sub-pixel (W), green sub-pixel (G), and blue sub-pixel (B) to form one pixel (P: Pixel). In the
그리고, m×n개의 픽셀은 유기발광표시패널(110)에서 화상이 표시되는 영역인 액티브 영역(A/A: Active Area)에 배치되어 있다. 여기서, 유기발광표시패널(110)에서 화상이 표시되는 액티브 영역(A/A: Active Area)의 외곽 영역은 화상이 표시되지 않는 비 액티브 영역(N/A: Non Active Area)이라고 한다. In addition, m×n pixels are arranged in an active area (A/A) that is an area in which an image is displayed on the organic light
여기서, 본 명세서에서는, 1개의 픽셀이 적색 서브픽셀(R), 흰색 서브픽셀(W), 녹색 서브픽셀(G) 및 청색 서브픽셀(B)에 해당하는 4개의 서브픽셀로 구성된 것을 예로 들고 있다. 하지만, 이는 설명의 편의를 위한 예시일 뿐, 경우에 따라서는, 1개의 픽셀은 적색 서브픽셀(R), 녹색 서브픽셀(G) 및 청색 서브픽셀(B)에 해당하는 3개의 서브픽셀로 구성될 수도 있다. 이 경우, 표시패널(110)에는 3m개의 데이터 라인이 제1방향으로 형성된다. Here, in the present specification, it is assumed that one pixel is composed of four subpixels corresponding to a red subpixel (R), a white subpixel (W), a green subpixel (G), and a blue subpixel (B). . However, this is only an example for convenience of explanation, and in some cases, one pixel is composed of three subpixels corresponding to a red subpixel (R), a green subpixel (G), and a blue subpixel (B). It could be. In this case, 3m data lines are formed in the first direction on the
타이밍 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 인터페이스에서 입력되는 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(Data)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다. The
이러한 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal), 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal) 등의 각종 제어 신호를 출력할 수 있다. The
게이트 구동부(130)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)으로 순차적으로 공급하여 n개의 게이트 라인(GL1, ... , GLn)을 순차적으로 구동한다. The
데이터 구동부(120)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 입력된 영상 데이터(Data)를 메모리(미도시)에 저장해두고, 특정 게이트 라인이 열리면, 해당 영상 데이터(Data)를 아날로그 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm)으로 공급함으로써, m개의 데이터 라인(DL1, ... , DLm)을 구동한다. The
데이터 구동부(120)는 다수의 데이터 구동 집적회로(Data Driver IC, 소스 구동 집적회로(Source Driver IC)라고도 함)를 포함할 수 있는데, 이러한 다수의 데이터 구동 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 표시패널(110)에 직접 형성될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시패널(110)에 집적화되어 형성될 수도 있다. The
게이트 구동부(130)는, 구동 방식에 따라서, 도 1에서와 같이 표시패널(110)의 한 측에만 위치할 수도 있고, 2개로 나누어져 표시패널(110)의 양측에 위치할 수도 있다. The
또한, 게이트 구동부(130)는, 다수의 게이트 구동 집적회로(Gate Driver IC)를 포함할 수 있는데, 이러한 다수의 게이트 구동 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 표시패널(110)에 직접 형성될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시패널(110)에 집적화되어 형성될 수도 있다. In addition, the
본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에 형성된 각 서브픽셀에는, 트랜지스터, 캐패시터 등의 회로 소자가 형성되어 있다. 이러한 각 서브픽셀의 구조는 도 2를 참조하여 다시 설명한다. Circuit elements such as transistors and capacitors are formed in each subpixel formed in the organic light emitting
도 2는 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)의 서브픽셀에 대한 2가지 등가회로도를 예시적으로 나타낸 도면이다. 2 is a diagram illustrating two equivalent circuit diagrams for subpixels of the organic light emitting
도 2를 참조하면, 전술한 바와 같이, 각 픽셀(Pij: i행 j열 픽셀, i=1, ... , n, j=1, ... , m)은 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀(SPr), 흰색 서브픽셀(SPw), 녹색 서브픽셀(SPg), 청색 서브픽셀(SPb))로 구성된다. Referring to FIG. 2, as described above, each pixel (Pij: i-row j-column pixel, i=1, ..., n, j=1, ..., m) has four subpixels (red subpixels). It consists of a pixel (SPr), a white sub-pixel (SPw), a green sub-pixel (SPg), and a blue sub-pixel (SPb).
도 2를 참조하면, 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀(SPr), 흰색 서브픽셀(SPw), 녹색 서브픽셀(SPg), 청색 서브픽셀(SPb)) 각각은, 기본적으로, 1개의 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 이를 구동하는 회로부로 구성된다. Referring to FIG. 2, each of the four sub-pixels (red sub-pixel (SPr), white sub-pixel (SPw), green sub-pixel (SPg), and blue sub-pixel (SPb)) is basically one organic light-emitting diode. It is composed of (OLED: Organic Light Emitting Diode) and a circuit that drives it.
도 2에서 왼쪽 등가회로도를 참조하면, 기본적인 회로부 구성을 갖는 경우, 각 서브픽셀은, 1개의 유기발광다이오드(OLED)와, 이를 구동하기 위하여, 2개의 트랜지스터(T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cstg)를 포함하는 회로부로 구성된다. 즉, 각 서브픽셀은 기본적으로는 2T(Transistor)1C(Capacitor) 구조를 가질 수 있다. Referring to the left equivalent circuit diagram in FIG. 2, in the case of having a basic circuit part configuration, each subpixel includes one organic light emitting diode (OLED), and two transistors T1 and T2 and one capacitor ( Cstg). That is, each sub-pixel may basically have a 2T (Transistor) 1C (Capacitor) structure.
도 2의 왼쪽 등가회로도를 참조하면, 트랜지스터 T1은, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(Driving Transistor)로서, 게이트 노드인 제1노드(N1)에 인가된 전압에 의해 제어되며, 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)에서 공급된 구동전압(EVDD)이 인가되는 제2노드(N2)와 유기발광다이오드(OLED) 사이에 연결된다. 트랜지스터 T2는, 트랜지스터 T1의 제1노드(N1)의 전압을 제어해주는 스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)로서, 게이트 라인(GL)에서 인가된 스캔 신호(SCAN)에 의해 제어되며, 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL)과 트랜지스터 T1의 제1노드(N1) 사이에 연결된다. 캐패시터 Cstg는 한 프레임 동안 일정한 전압을 유지시켜주는 역할을 하는 스토리지 캐패시터(Storage Capacitor)로서, 트랜지스터 T1의 제1노드(N1)과 제2노드(N2) 사이에 연결된다. Referring to the left equivalent circuit diagram of FIG. 2, transistor T1 is a driving transistor that drives an organic light emitting diode (OLED), and is controlled by a voltage applied to a first node (N1), which is a gate node, and is driven. It is connected between the second node N2 and the organic light emitting diode OLED to which the driving voltage EVDD supplied from the driving voltage line (DVL) is applied. Transistor T2 is a switching transistor that controls the voltage of the first node N1 of the transistor T1, and is controlled by the scan signal SCAN applied from the gate line GL, and controls the data voltage Vdata. It is connected between the supplied data line DL and the first node N1 of the transistor T1. The capacitor Cstg is a storage capacitor that maintains a constant voltage for one frame, and is connected between the first node N1 and the second node N2 of the transistor T1.
도 2의 왼쪽 등가회로도에서는, 트랜지스터 T1, T2가 P 타입 트랜지스터인 것으로 도시되었으나, 이는 일 예일 뿐, N 타입 트랜지스터로 설계될 수도 있다.In the left equivalent circuit diagram of FIG. 2, the transistors T1 and T2 are shown to be P-type transistors, but this is only an example and may be designed as an N-type transistor.
도 2에서 오른쪽 등가회로도를 참조하면, 휘도 보상을 위한 회로부 구성을 갖는 경우로서, 각 서브픽셀은, 1개의 유기발광다이오드(OLED)와, 이를 구동하기 위하여, 3개의 트랜지스터(T1, T2, T3)와 1개의 캐패시터(Cstg)를 포함하는 회로부로 구성된다. 즉, 각 서브픽셀은 기본적으로는 3T(Transistor)1C(Capacitor) 구조를 가질 수 있다. Referring to the right equivalent circuit diagram in FIG. 2, in the case of having a circuit part configuration for luminance compensation, each subpixel includes one organic light-emitting diode (OLED) and three transistors (T1, T2, T3) to drive the same. ) And one capacitor (Cstg). That is, each sub-pixel may basically have a 3T (Transistor) 1C (Capacitor) structure.
도 2의 오른쪽 등가회로도를 참조하면, 트랜지스터 T1은, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(Driving Transistor)로서, 게이트 노드인 제1노드(N1)에 인가된 전압에 의해 제어되며, 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)에서 공급된 구동전압(EVDD)이 인가되는 제3노드(N3)와 유기발광다이오드(OLED) 사이에 연결된다. 트랜지스터 T2는, 트랜지스터 T1의 제1노드(N1)의 전압을 제어해주는 스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)로서, 제1게이트 라인(GL1)에서 인가된 제1 스캔 신호(SCAN)에 의해 제어되며, 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL)과 트랜지스터 T1의 제1노드(N1) 사이에 연결된다. 트랜지스터 T3은, 트랜지스터 T1의 제2노드(N2, 예: 소스 노드)의 전압을 제어해주고, 휘도 보상을 위해, 트랜지스터 T1의 제2노드(N2)의 전압을 센싱할 때 관여하는 센싱 트랜지스터(Sensing Transistor)로서, 제2게이트 라인(GL2)에서 인가된 제2 스캔 신호(SENSE)에 의해 제어되며, 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line)에서 공급된 기준전압(Vref: Reference Voltage)이 인가되는 제4노드(N4)와 트랜지스터 T1의 제2노드(N2) 사이에 연결된다. 캐패시터 Cstg는 한 프레임 동안 일정한 전압을 유지시켜주는 역할을 하는 스토리지 캐패시터(Storage Capacitor)로서, 트랜지스터 T1의 제1노드(N1)과 제2노드(N2) 사이에 연결된다. Referring to the right equivalent circuit diagram of FIG. 2, transistor T1 is a driving transistor that drives an organic light emitting diode (OLED), and is controlled by a voltage applied to the first node N1, which is a gate node, and is driven. The voltage line (DVL: Driving Voltage Line) is connected between the third node (N3) to which the driving voltage (EVDD) is applied and the organic light emitting diode (OLED). Transistor T2 is a switching transistor that controls the voltage of the first node N1 of the transistor T1, and is controlled by the first scan signal SCAN applied from the first gate line GL1, and is a data voltage. It is connected between the data line DL supplying (Vdata) and the first node N1 of the transistor T1. Transistor T3 controls the voltage of the second node (N2, for example, a source node) of the transistor T1, and is involved in sensing the voltage of the second node (N2) of the transistor T1 for luminance compensation. Transistor), which is controlled by a second scan signal SENSE applied from the second gate line GL2, and a reference voltage (Vref) supplied from a reference voltage line (RVL) is applied. It is connected between the fourth node N4 and the second node N2 of the transistor T1. The capacitor Cstg is a storage capacitor that maintains a constant voltage for one frame, and is connected between the first node N1 and the second node N2 of the transistor T1.
도 2의 오른쪽 등가회로도에서는, 트랜지스터 T1, T2, T3이 N 타입 트랜지스터인 것으로 도시되었으나, 이는 일 예일 뿐, P 타입 트랜지스터로 설계될 수도 있다.In the equivalent circuit diagram on the right side of FIG. 2, the transistors T1, T2, and T3 are illustrated as being N-type transistors, but this is only an example and may be designed as a P-type transistor.
전술한 바와 같이, 유기발광표시패널(110)의 각 서브픽셀에는 유기발광다이오드(OLED) 및 트랜지스터들이 형성되어 있는데, 이러한 회로 소자는, 시간이 지남에 따라, 열화(Degradation)가 진행되어, 해당 서브픽셀의 휘도가 도 3에 도시된 바와 같이 감소하게 된다. 여기서, 회소 소자의 열화는 회로 소자의 특성치(예: 문턱전압, 이동도, 휘도 등)가 구동 시간에 따라 변하여 발생할 수 있다. As described above, organic light-emitting diodes (OLEDs) and transistors are formed in each sub-pixel of the organic light-emitting
이에 따라, 각 서브픽셀은 원하는 만큼의 휘도를 내지 못하거나, 서브픽셀 간의 휘도 편차가 발생할 수 있다. Accordingly, each sub-pixel may not have a desired luminance, or a luminance deviation may occur between sub-pixels.
이에, 본 실시예들은, 액티브 영역에 형성된 각 픽셀을 구성하는 서브픽셀들의 회로 소자(예: 유기발광다이오드, 트랜지스터)의 열화 정도를 센싱하여(즉, 각 서브픽셀의 휘도 감소를 센싱하여), 센싱 결과를 이용하여, 각 픽셀을 구성하는 서브픽셀의 휘도 감소를 보상해줄 수 있는 효율적인 방법과 이를 위한 구조를 개시한다. Accordingly, the present embodiments sense the degree of deterioration of the circuit elements (eg, organic light emitting diodes, transistors) of the subpixels constituting each pixel formed in the active region (i.e., by sensing the decrease in luminance of each subpixel), An efficient method capable of compensating for a decrease in luminance of a subpixel constituting each pixel using a sensing result and a structure therefor is disclosed.
본 실시예들은, 액티브 영역에 형성된 각 픽셀을 구성하는 서브픽셀들의 회로 소자의 열화 정도를 센싱하기 위하여, 액티브 영역에 형성된 픽셀 열(동일한 행(Row)에서 제1방향으로 형성된 픽셀들) 또는 픽셀 행(동일한 열(Column)에서 제2방향으로 형성된 픽셀들) 각각에 대응시켜 "모니터링 픽셀(MP: Monitoring Pixel)" 또는 "모너링 픽셀 세트(MPS: Monitoring Pixel Set)"를 액티브 영역(A/A)의 외곽의 "비 액티브 영역(N/A)"에 형성해둔다. In the present embodiments, in order to sense the degree of deterioration of the circuit elements of subpixels constituting each pixel formed in the active region, pixel columns (pixels formed in the same row in the first direction) or pixels formed in the active region In correspondence with each row (pixels formed in the second direction in the same column), a "monitoring pixel (MP)" or a "monitoring pixel set (MPS)" is designated as an active area (A/ It is formed in the "non-active area (N/A)" outside of A).
여기서, "1개의 모니터링 픽셀 세트(MPS)"는 둘 이상의 모니터링 픽셀(MP)을 포함한다. 그리고, "1개의 모니터링 픽셀(MP)"은, 픽셀(P)과 동일하게, "4개의 모니터링 서브픽셀(MSP: Montoring Sub Pixel, MSPr(적색 모니터링 서브픽셀), MSPw(흰색 모니터링 서브픽셀), MSPg(녹색 모니터링 서브픽셀), MSPb(청색 모니터링 서브픽셀))"로 구성된다. Here, "one monitoring pixel set MPS" includes two or more monitoring pixels MP. And, "one monitoring pixel (MP)", like the pixel (P), "4 monitoring sub-pixels (MSP: Montoring Sub Pixel, MSPr (red monitoring sub-pixel), MSPw (white monitoring sub-pixel), It consists of "MSPg (green monitoring subpixel), MSPb (blue monitoring subpixel))".
여기서, 모니터링 픽셀(MP)은, 비 액티브 영역(N/A)에 형성되기 때문에, 구동되더라도, 화상 표시에 이용되지 않는다. 따라서, 화상 표시 관점에서, 모니터링 픽셀(MP)은 더미 픽셀(Dummy Pixel)에 해당한다. Here, since the monitoring pixel MP is formed in the non-active area N/A, even if it is driven, it is not used for image display. Therefore, from the viewpoint of image display, the monitoring pixel MP corresponds to a dummy pixel.
그리고, 비 액티브 영역(N/A)에 형성해둔 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 인위적인 열화 스트레스(Degradation Stress)를 가해주고, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)의 열화 정도를 센싱한다. In addition, artificial degradation stress is applied to each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel set (MPS) formed in the inactive area (N/A), and each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel The degree of degradation of the pixel set MPS is sensed.
이때, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 인위적으로 가해지는 "열화 스트레스(Degradation Stress)"는, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 속한 모니터링 서브픽셀들의 열화를 인위적으로 발생시키는 것을 의미한다. At this time, the "degradation stress" artificially applied to each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel set (MPS) is a monitoring belonging to each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel set (MPS). It means artificially causing deterioration of subpixels.
또한, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 인위적으로 가해지는 "열화 스트레스(Degradation Stress)"는, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 대응되는 액티브 영역(A/A)의 픽셀 열 또는 픽셀 행에 속한 픽셀들의 열화 스트레스를 간접적으로 대변하는 것이다. In addition, the "degradation stress" artificially applied to each monitoring pixel (MP) or each set of monitoring pixels (MPS), corresponds to each monitoring pixel (MP) or each set of monitoring pixels (MPS). It indirectly represents the deterioration stress of pixels in the pixel column or pixel row of the active area A/A.
따라서, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)의 열화 정도를 센싱한다는 것은, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 대응되는 액티브 영역(A/A)의 픽셀 열 또는 픽셀 행에 속한 픽셀들의 열화 정도를 간접적으로 센싱하는 것이 된다. Therefore, sensing the degree of deterioration of each monitoring pixel MP or each monitoring pixel set MPS means an active area A/A corresponding to each monitoring pixel MP or each monitoring pixel set MPS. This is to indirectly sense the degree of deterioration of pixels in the pixel column or pixel row of.
이와 같이, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)의 열화 정도를 센싱하여, 센싱 결과를 이용하여, 각 모니터링 픽셀(MP) 또는 각 모너링 픽셀 세트(MPS)에 대응되는 픽셀 열 또는 픽셀 행에 속한 픽셀들 각각을 구성하는 서브픽셀들의 휘도 보상을 해준다. In this way, by sensing the degree of deterioration of each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel set (MPS), and using the sensing result, a pixel corresponding to each monitoring pixel (MP) or each monitoring pixel set (MPS) It compensates for the luminance of subpixels constituting each of the pixels in a column or pixel row.
아래에서는, 비 액티브 영역(N/A)에서의 모니터링 픽셀(MP) 또는 모니터링 픽셀 세트(MPS)의 배치 구조와, 비 액티브 영역(N/A)에서의 모니터링 픽셀(MP) 또는 모니터링 픽셀 세트(MPS)에서의 각 모니터링 서브픽셀(MSP)에 인위적인 열화 스트레스를 가해주는 방법과, 비 액티브 영역(N/A)에서의 모니터링 픽셀(MP) 또는 모니터링 픽셀 세트(MPS)의 열화 정도를 센싱하여, 액티브 영역(A/A)에서의 각 픽셀(P)을 구성하는 서브픽셀들의 휘도를 보상해주는 방법을 설명한다. Below, the arrangement structure of the monitoring pixel (MP) or the monitoring pixel set (MPS) in the non-active area (N/A), and the monitoring pixel (MP) or the monitoring pixel set ( MPS) by applying artificial deterioration stress to each monitoring subpixel (MSP) and sensing the degree of deterioration of the monitoring pixel (MP) or the monitoring pixel set (MPS) in the inactive area (N/A), A method of compensating for the luminance of subpixels constituting each pixel P in the active area A/A will be described.
도 4 및 도 5는 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 비 액티브 영역(N/A)에서 1개의 모니터링 픽셀 행(R) 또는 1개의 모니터링 픽셀 열(C)의 배치 구조와, 비 액티브 영역(N/A)에 배치된 1개의 모니터링 픽셀 행(R) 또는 1개의 모니터링 픽셀 열(C)을 이용한 액티브 영역(A/A)에서의 휘도 보상을 나타낸 도면이다. 4 and 5 illustrate an arrangement structure of one monitoring pixel row R or one monitoring pixel column C in the non-active area N/A in the organic light emitting
도 4를 참조하면, 유기발광표시패널(110)에서, n개의 행(Row)과 m개의 열(Column)의 픽셀(Pij, i(행 번호)=1, ... , n, j(열 번호)=1, ... , m)이 형성된 액티브 영역(A/A)의 외곽에 해당하는 비 액티브 영역(N/A)에, 제2방향(예: 수평방향)으로 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm)가 배치되어 있을 수 있다. 여기서, 픽셀 열(Pixel Column)은, 1열, 2열, ... , m열이다. Referring to FIG. 4, in the organic light emitting
도 4를 참조하면, 비 액티브 영역(N/A)에 제2방향(예: 수평방향)으로 배치된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm)은 모니터링 픽셀 행(R)에 포함된다고 한다. Referring to FIG. 4, monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPm as many as the number of pixel columns (m) arranged in a second direction (eg, horizontal direction) in an inactive area (N/A) are It is said to be included in the monitoring pixel row (R).
도 4를 참조하면, 모니터링 픽셀 행(R)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 각각은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되어, 열화 스트레스 데이터 전압이 누적되어 인가되어 열화가 인위적으로 발생한다. 본 명세서에서, 별도의 센싱 구간을 할애하지 않고, 모니터링 픽셀 또는 모니터링 픽셀 세트는, 액티브 영역의 픽셀과 함께 구동될 수 있다. Referring to FIG. 4, each of the number of monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPm as many as the number of pixel columns (m) included in the monitoring pixel row R is periodically driven for each frame. , Deterioration stress data voltage is accumulated and applied to cause deterioration artificially. In the present specification, without allocating a separate sensing period, the monitoring pixel or the monitoring pixel set may be driven together with the pixels in the active area.
전술한 바와 같이, 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 각각을 매 프레임마다 주기적으로 구동시킴으로써, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀과 거의 동일한 수준으로 열화를 인위적으로 발생시켜주어, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화 정도를 더욱 정확하게 추정할 수 있도록 해준다. As described above, by periodically driving each of the monitoring pixels (MP1, MP2, ..., MPm) every frame, deterioration is artificially generated to the same level as the pixels formed in the active area (A/A). , It makes it possible to more accurately estimate the degree of deterioration of the pixels formed in the active area A/A.
도 4를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 각 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터들 중 하나와 대응되는 데이터, 또는, 각 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터들을 평균한 평균 데이터를 비 액티브 영역(N/A)에 제2방향(예: 수평방향)으로 배치된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 각각으로 공급할 "열화 스트레스 데이터"으로서 결정한다. Referring to FIG. 4, the
이에 따라, 비 액티브 영역(N/A)에 제2방향(예: 수평방향)으로 배치된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 각각으로는, 해당 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 하나와 대응되는 데이터 전압이 "열화 스트레스 데이터 전압"으로서 인가되거나, 해당 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 평균 데이터 전압이 "열화 스트레스 데이터 전압"으로서 인가될 수 있다. Accordingly, for each of the number of monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPm as many as the number of pixel columns (m) arranged in the second direction (eg, horizontal direction) in the non-active area N/A, A data voltage corresponding to one of the data voltages supplied to the pixels in the pixel column in which the monitoring pixel is arranged is applied as a "deterioration stress data voltage", or data supplied to the pixels in the pixel column in which the monitoring pixel is arranged The average data voltage obtained by averaging the voltages may be applied as the "deterioration stress data voltage".
도 4를 참조하면, 모니터링 픽셀 행(R)에 픽셀 열 개수(m개)만큼 포함된 모니터링 픽셀(MP1, ... , MPm) 각각은, 대응되는 픽셀 열에 배치된 픽셀들의 열화 정도를 대변하는 더미 픽셀이고, 대응되는 픽셀 열에 배치된 픽셀들에 공급되는 데이터 전압을 기초로 만들어진 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압으로서 누적되어 인가된다. Referring to FIG. 4, each of the monitoring pixels MP1, ..., MPm included in the number of pixel columns (m) in the monitoring pixel row R represents the degree of deterioration of the pixels arranged in the corresponding pixel column. It is a dummy pixel, and a data voltage generated based on a data voltage supplied to pixels arranged in a corresponding pixel column is accumulated and applied as a deterioration stress data voltage.
도 4를 참조하여, j열에 대응되는 모니터링 픽셀(MPj)에 대하여 상세하게 설명하면, 데이터 구동부(120)는, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "열화 스트레스 데이터 전압"을 j열에 대응되는 모니터링 픽셀(MPj)에 인위적으로 인가해주어, j열에 대응되는 모니터링 픽셀(MPj)의 열화를 인위적으로 발생시킨다. Referring to FIG. 4, when the monitoring pixel MPj corresponding to column j is described in detail, the
이에 따라, 센싱구성은, j열에 대응되는 모니터링 픽셀(MPj)의 열화 정도를 센싱하여 센싱 데이터를 출력한다. 여기서, 센싱구성은, 센싱방식에 따라 달라질 수 있다. 본 실시예들에서는, 일 예로, 전압 센싱방식과 조도(휘도) 센싱방식을 개시하고 있으며, 전압 센상방식의 경우, 센싱구성으로서, 센싱 라인 및 센싱부 등을 포함하고, 조도 센싱방식의 경우, 조도 센서 및 센싱부 등을 포함한다. 이러한 센싱구성에 대해서는, 도 12 및 도 13을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. Accordingly, the sensing configuration senses the degree of deterioration of the monitoring pixel MPj corresponding to column j and outputs sensing data. Here, the sensing configuration may vary according to the sensing method. In the present embodiments, as an example, a voltage sensing method and an illuminance (luminance) sensing method are disclosed. In the case of the voltage sensing method, as a sensing configuration, a sensing line and a sensing unit are included, and in the case of the illuminance sensing method, It includes an illuminance sensor and a sensing unit. This sensing configuration will be described in more detail with reference to FIGS. 12 and 13.
이후, 보상구성은, 센싱 데이터를 수신하여, 액티브 영역(A/A)에서 j열에 형성된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , P1n)의 휘도 보상을 해줄 수 있다. 여기서, 보상구성은 센싱구성에서 출력된 센싱 데이터를 이용하여 휘도 보상을 하는 보상부 등을 포함한다. 이러한 보상구성에 대해서는, 도 12 및 도 13을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. Thereafter, the compensation configuration may receive sensing data and compensate for luminance of n pixels P1j, P2j, ..., P1n formed in the j column in the active area A/A. Here, the compensation configuration includes a compensation unit that compensates for luminance using the sensing data output from the sensing configuration. This compensation configuration will be described in more detail with reference to FIGS. 12 and 13.
본 명세서에서, 픽셀의 열화 정도를 센싱한다는 것은, 픽셀을 구성하는 서브픽셀들의 열화 정도를 센싱한다는 것과 동일한 의미이며, 픽셀을 구성하는 서브픽셀들 각각의 회로 소자의 특정 노드의 전압을 센싱하는 것, 또는 픽셀을 구성하는 서브픽셀들 각각의 회로 소자의 특성치(예: 문턱전압, 이동도, 휘도 등)을 센싱하는 것과도 동일한 의미일 수 있다. In this specification, sensing the degree of deterioration of a pixel has the same meaning as sensing the degree of deterioration of the subpixels constituting the pixel, and sensing the voltage of a specific node of each circuit element of the subpixels constituting the pixel Or, it may have the same meaning as sensing characteristic values (eg, threshold voltage, mobility, luminance, etc.) of each circuit element of the subpixels constituting the pixel.
또한, 본 명세서에서, 픽셀의 휘도를 보상하는 것은, 픽셀을 구성하는 서브픽셀들의 휘도를 보상하는 것과 동일한 의미이며, 픽셀을 구성하는 서브픽셀들 각각의 회로 소자의 특성치를 보상하는 것, 또는 픽셀을 구성하는 서브픽셀들로 공급하는 데이터를 보상(변경)하는 것과도 동일한 의미일 수 있다. In addition, in this specification, compensating for the luminance of a pixel has the same meaning as compensating for the luminance of subpixels constituting the pixel, and compensating for a characteristic value of each circuit element of the subpixels constituting the pixel, or It may have the same meaning as compensating (changing) data supplied to the subpixels constituting the.
도 5를 참조하면, 유기발광표시패널(110)에서, n개의 행(Row)과 m개의 열(Column)의 픽셀(Pij, i(행 번호)=1, ... , n, j(열 번호)=1, ... , m)이 형성된 액티브 영역(A/A)의 외곽에 해당하는 비 액티브 영역(N/A)에, 제1방향(예: 수직방향)으로 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn)가 배치되어 있을 수 있다. 여기서, 픽셀 행(Pixel Row)은, 1행, 2행, ... , n행이다. Referring to FIG. 5, in the organic light emitting
도 5를 참조하면, 비 액티브 영역(N/A)에 제1방향(예: 수직방향)으로 배치된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn)은 모니터링 픽셀 열(C)에 포함된다고 한다. Referring to FIG. 5, monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPn as many as the number of pixel rows (n) arranged in a first direction (eg, vertical direction) in an inactive area (N/A) are It is said to be included in the monitoring pixel column (C).
도 5를 참조하면, 모니터링 픽셀 열(C)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn) 각각은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되어, 열화 스트레스 데이터 전압이 누적되어 인가되어 열화가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 5, each of the monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPn as many as the number of pixel rows (n) included in the monitoring pixel column C is periodically driven for each frame. , Deterioration stress data voltage is accumulated and applied to cause deterioration artificially.
도 5를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(140)는, 각 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터들 중 하나와 대응되는 데이터, 또는, 각 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터들을 평균한 평균 데이터를 비 액티브 영역(N/A)에 제1방향(예: 수직방향)으로 배치된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn) 각각으로 공급할 "열화 스트레스 데이터"으로서 결정한다. Referring to FIG. 5, the
이에 따라, 비 액티브 영역(N/A)에 제1방향(예: 수직방향)으로 배치된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn) 각각으로는, 해당 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 하나와 대응되는 데이터 전압이 "열화 스트레스 데이터 전압"으로서 인가되거나, 해당 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 평균 데이터 전압이 "열화 스트레스 데이터 전압"으로서 인가될 수 있다. Accordingly, each of the number of monitoring pixels MP1, MP2, ..., MPn as many as the number of pixel rows (n) arranged in the first direction (eg, vertical direction) in the non-active area N/A, A data voltage corresponding to one of the data voltages supplied to the pixels in the pixel row in which the monitoring pixel is arranged is applied as a "deterioration stress data voltage" or supplied to the pixels in the pixel row in which the monitoring pixel is arranged. An average data voltage obtained by averaging the data voltages obtained may be applied as a "deterioration stress data voltage".
도 5를 참조하면, 모니터링 픽셀 열(C)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀(MP1, ... , MPn) 각각은, 대응되는 픽셀 행에 배치된 픽셀들의 열화 정도를 대변하는 더미 픽셀이고, 대응되는 픽셀 행에 배치된 픽셀들에 공급되는 데이터 전압을 기초로 만들어진 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압으로서 누적되어 인가된다. Referring to FIG. 5, each of the monitoring pixels MP1, ..., MPn as many as the number of pixel rows (n) included in the monitoring pixel column C indicates the degree of deterioration of the pixels arranged in the corresponding pixel row. A data voltage that is a representative dummy pixel and is generated based on a data voltage supplied to pixels arranged in a corresponding pixel row is accumulated and applied as a deterioration stress data voltage.
도 5를 참조하여, i행에 대응되는 모니터링 픽셀(MPi)에 대하여 상세하게 설명하면, 데이터 구동부(120)는, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 열화 스트레스 데이터 전압을 i행에 대응되는 모니터링 픽셀(MPi)에 인위적으로 인가해주어, 열화를 인위적으로 발생시킨다. Referring to FIG. 5, when the monitoring pixel MPi corresponding to row i is described in detail, the
이에 따라, 센싱구성은, i행에 대응되는 모니터링 픽셀(MPi)의 열화 정도를 센싱하여, 센싱 데이터를 출력한다. Accordingly, the sensing configuration senses the degree of deterioration of the monitoring pixel MPi corresponding to row i, and outputs sensing data.
이후, 보상구성은, 센싱 데이터를 수신하여, 액티브 영역(A/A)에서 i행에 형성된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)의 휘도 보상을 해줄 수 있다. Thereafter, the compensation configuration may receive sensing data and compensate for luminance of m pixels Pi1, Pi2, ..., Pim formed in the i row in the active area A/A.
전술한 바와 같이, 유기발광표시패널(110)의 액티브 영역(A/A)에 형성된 m×n개의 픽셀, 즉, 4×m×n개의 서브픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하기 위하여, 비 액티브 영역(N/A)에 다수의 모니터링 픽셀(MP)을 배치할 때, 도 4의 배치 구조(1개의 모니터링 픽셀 행(R) 구조) 또는 도 5의 배치 구조(1개의 모니터링 픽셀 열(C) 구조)를 이용할 수 있다. As described above, in order to indirectly sense the degree of deterioration of m×n pixels, that is, 4×m×n subpixels formed in the active area A/A of the organic light emitting
또한, 유기발광표시패널(110)의 액티브 영역(A/A)에 형성된 m×n개의 픽셀, 즉, 4×m×n개의 서브픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하기 위하여, 비 액티브 영역(N/A)에 다수의 모니터링 픽셀(MP)을 배치할 때, 도 4에 도시된 1개의 모니터링 픽셀 행(R)의 배치 구조 또는 도 5에 도시된 1개의 모니터링 픽셀 열(C)의 배치 구조 이외에, 둘 이상의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, ...)의 배치 구조 또는 둘 이상의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, ...)의 배치 구조를 이용할 수도 있다. In addition, in order to indirectly sense the degree of deterioration of m×n pixels, that is, 4×m×n subpixels formed in the active area A/A of the organic light emitting
아래에서는, 유기발광표시패널(110)의 액티브 영역(A/A)에 형성된 m×n개의 픽셀, 즉, 4×m×n개의 서브픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하기 위하여, 비 액티브 영역(N/A)에 다수의 모니터링 픽셀(MP)을 배치할 때, 둘 이상의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, ...)의 배치 구조 또는 둘 이상의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, ...)의 배치 구조를 이용하는 방법에 대하여, 도 6 및 도 7을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 단, 3개의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, ...)의 배치 구조, 3개의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, ...)의 배치 구조를 예로 들어 설명한다. Below, in order to indirectly sense the degree of deterioration of m×n pixels, that is, 4×m×n subpixels formed in the active area A/A of the organic light emitting
도 6 및 도 7은 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 비 액티브 영역(N/A)에서 3개의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, R3) 또는 3개의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, C3)의 배치 구조와, 비 액티브 영역(N/A)에 배치된 3개의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, R3) 또는 3개의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, C3)을 이용한 액티브 영역(A/A)에서의 휘도 보상을 나타낸 도면이다.6 and 7 illustrate three monitoring pixel rows R1, R2, and R3 or three monitoring pixel columns C1 in an inactive area N/A in the organic light emitting
도 6을 참조하면, 유기발광표시패널(110)의 액티브 영역(A/A)의 외곽에, 즉, 비 액티브 영역(N/A)에, 제2방향(예: 수평 방향)으로 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm)가 배치되어 있을 수 있다. Referring to FIG. 6, the number of pixel columns outside the active area A/A of the organic light emitting
도 6을 참조하면, 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각은, 3개의 모니터링 픽셀(최대 열화 모니터링 픽셀(MPja), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc))로 이루어져 있다.Referring to FIG. 6, each of the monitoring pixel sets MPS1, MPS2, ..., MPSm as many as the number of pixel columns (m) has three monitoring pixels (maximum degradation monitoring pixels MPja, intermediate degradation monitoring pixels ( MPjb), minimum degradation monitoring pixel (MPjc)).
전술한 바와 같이, 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각을, 3개의 모니터링 픽셀(최대/중간/최소 열화 모니터링 픽셀)로 구성함으로써, 서로 다른 열화를 인위적으로 발생시켜, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화 정도를 더욱 세밀하고 정확하게 추정하여 더욱 정확한 센싱 데이터를 얻을 수 있게 해준다. As described above, by configuring each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSm) into three monitoring pixels (maximum/medium/minimum degradation monitoring pixels), different degradations are artificially generated and active It is possible to obtain more accurate sensing data by estimating the degree of deterioration of the pixels formed in the area A/A more precisely and accurately.
도 6을 참조하면, 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각에 포함된 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc)은, 제1방향(예: 수직방향)으로 배치된다. Referring to FIG. 6, the maximum degradation monitoring pixel (MPja), the intermediate degradation monitoring pixel (MPjb), and the minimum included in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSm) corresponding to the number of pixel columns (m). The degradation monitoring pixels MPjc are arranged in a first direction (eg, vertical direction).
도 6을 참조하면, 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각에 포함된 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, ... , MPma)끼리 하나의 모니터링 픽셀 행(R1)을 이루고, 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각에 포함된 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, ... , MPmb)끼리 다른 하나의 모니터링 픽셀 행(R2)을 이루고, 픽셀 열 개수(m개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각에 포함된 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, ... , MPmc)끼리 또 다른 하나의 모니터링 픽셀 행(R3)을 이룬다. Referring to FIG. 6, one monitoring of the maximum degradation monitoring pixels (MP1a, ..., MPma) included in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSm) as many as the number of pixel columns (m) Intermediate deterioration monitoring pixels (MP1b, ..., MPmb) in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSm) forming the pixel row (R1) and as many as the number of pixel columns (m) are different. The minimum deterioration monitoring pixels (MP1c, ..., MPSm) included in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSm) as many as one monitoring pixel row (R2) and the number of pixel columns (m) ) To form another row of monitoring pixels R3.
즉, 도 6의 모니터링 픽셀 배치 구조는 3개의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, R3)의 배치 구조이다. That is, the monitoring pixel arrangement structure of FIG. 6 is an arrangement structure of three monitoring pixel rows R1, R2, and R3.
도 6을 참조하면, 첫 번째 모니터링 픽셀 행(R1)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPma) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "최대 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최대 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 6, each of the maximum degradation monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPma as many as the number of pixel columns (m) included in the first monitoring pixel row R1 is in the
여기서, 최대 열화 스트레스 데이터 전압은, 첫 번째 모니터링 픽셀 행(R1)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPma) 각각에 대응되는 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최대 데이터 전압이다. Here, the maximum deterioration stress data voltage is the pixel column corresponding to each of the maximum deterioration monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPma as many as the number of pixel columns (m) included in the first monitoring pixel row R1. This is the maximum data voltage among the data voltages supplied to the belonging pixels.
j열을 예로 들면, 첫 번째 모니터링 픽셀 행(R1)에 포함된 j열의 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja)은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, j열의 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja)에 대응되는 픽셀 열(j열)에 속한 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj)로 공급되는 데이터 전압(Vdata) 중 최대 데이터 전압에 해당하는 "최대 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최대 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking column j as an example, the maximum degradation monitoring pixel (MPja) in column j included in the first monitoring pixel row (R1) is driven periodically every frame, and corresponds to the maximum degradation monitoring pixel (MPja) in column j. Among the data voltages (Vdata) supplied to n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) belonging to the pixel column (column j), the "maximum deterioration stress data voltage" corresponding to the maximum data voltage is accumulated and applied. , "Maximum deterioration" is artificially accumulated.
도 6을 참조하면, 두 번째 모니터링 픽셀 행(R2)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPmb) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "중간 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "중간 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 6, each of the intermediate degradation monitoring pixels MP1b, MP2b, ..., MPmb as many as the number of pixel columns (m) included in the second monitoring pixel row R2 is in the
여기서, 중간 열화 스트레스 데이터 전압은, 두 번째 모니터링 픽셀 행(R2)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPmb) 각각에 대응되는 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 데이터 전압이다. Here, the intermediate deterioration stress data voltage is applied to the pixel columns corresponding to each of the intermediate deterioration monitoring pixels MP1b, MP2b, ..., MPmb as many as the number of pixel columns (m) included in the second monitoring pixel row R2. This is the average of the data voltages supplied to the pixels to which it belongs.
j열을 예로 들면, 두 번째 모니터링 픽셀 행(R2)에 포함된 j열의 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb)은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, j열의 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb)에 대응되는 픽셀 열(j열)에 속한 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj)로 공급되는 데이터 전압(Vdata)의 평균 데이터 전압에 해당하는 "중간 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "중간 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking column j as an example, the intermediate deterioration monitoring pixel MPjb in column j included in the second monitoring pixel row R2 is periodically driven by the
도 6을 참조하면, 세 번째 모니터링 픽셀 행(R3)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPmc) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "최소 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최소 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 6, each of the minimum degradation monitoring pixels MP1c, MP2c, ..., MPmc as many as the number of pixel columns (m) included in the third monitoring pixel row R3 is in the
여기서, 최소 열화 스트레스 데이터 전압은, 세 번째 모니터링 픽셀 행(R3)에 포함된 픽셀 열 개수(m개)만큼의 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPmc) 각각에 대응되는 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압 중 최소 데이터 전압이다. Here, the minimum deterioration stress data voltage is the pixel column corresponding to each of the minimum deterioration monitoring pixels MP1c, MP2c, ..., MPmc as many as the number of pixel columns (m) included in the third monitoring pixel row R3. This is the minimum data voltage among the data voltages supplied to the belonging pixels.
j열을 예로 들면, 세 번째 모니터링 픽셀 행(R3)에 포함된 j열의 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc)은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되어, j열의 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc)에 대응되는 픽셀 열(j열)에 속한 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj)로 공급되는 데이터 전압(Vdata) 중 최소 데이터 전압에 해당하는 "최소 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최소 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking column j as an example, the minimum degradation monitoring pixel (MPjc) in column j included in the third monitoring pixel row (R3) is periodically driven every frame, corresponding to the minimum degradation monitoring pixel (MPjc) in column j. Among the data voltages (Vdata) supplied to n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) belonging to the pixel column (column j), the "minimum deterioration stress data voltage" corresponding to the minimum data voltage is accumulated and applied. , "Minimal deterioration" is artificially accumulated.
도 6을 참조하여, 데이터 구동부(120)는, 각 열마다, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja, j=1, 2, ... , m), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb, j=1, 2, ... , m), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc, j=1, 2, ... , m) 각각으로 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 최대 열화 스트레스 데이터 전압, 중간 열화 스트레스 데이터 전압, 최소 열화 스트레스 데이터 전압을 인위적으로 인가한다. 6, the
도 6을 참조하면, 픽셀 열 개수(m개)만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, ... , MPSm) 각각은, 대응되는 픽셀 열에 배치된 픽셀들의 3가지 열화 정도(최대 열화 정도, 중간 열화 정도, 최소 열화 정도)를 대변하는 더미 픽셀 세트이고, 대응되는 픽셀 열에 배치된 픽셀들에 공급되는 데이터 전압을 기초로 만들어진 3가지의 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압(최대 열화 스트레스 데이터 전압, 중간 열화 스트레스 데이터 전압, 최소 열화 스트레스 데이터 전압)으로서 누적되어 인가된다. Referring to FIG. 6, each of the monitoring pixel sets MPS1, ..., MPSm as many as the number of pixel columns (m) has three degrees of deterioration (maximum deterioration degree, intermediate deterioration degree) of pixels arranged in a corresponding pixel row. , The minimum degree of deterioration), and the three data voltages created based on the data voltages supplied to the pixels arranged in the corresponding pixel columns are the deterioration stress data voltages (maximum deterioration stress data voltage, intermediate deterioration stress). Data voltage and minimum deterioration stress data voltage) are accumulated and applied.
이후, 센싱구성은, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja, j=1, 2, ... , m), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb, j=1, 2, ... , m), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc, j=1, 2, ... , m) 각각에서의 열화 정도를 센싱하여, 센싱 데이터를 출력한다. Thereafter, the sensing configuration is the maximum degradation monitoring pixel (MPja, j=1, 2, ..., m), the intermediate degradation monitoring pixel (MPjb, j=1, 2, ..., m), the minimum degradation monitoring pixel. (MPjc, j=1, 2, ..., m) The degree of deterioration at each is sensed and the sensing data is output.
이에 따라, 보상구성은, 센싱 데이터를 수신하여, 액티브 영역(A/A)에서 각 열에 형성된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , P1n)의 휘도 보상을 해줄 수 있다. Accordingly, the compensation configuration may receive sensing data and compensate for luminance of n pixels P1j, P2j, ..., P1n formed in each column in the active area A/A.
이때, 보상구성은, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPja, j=1, 2, ... , m)의 최대 열화 정도, 중간 열화 모니터링 픽셀(MPjb, j=1, 2, ... , m)의 중간 열화 정도, 최소 열화 모니터링 픽셀(MPjc, j=1, 2, ... , m)의 최소 열화 정도를 고려하여, 각 열에 형성된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , P1n)의 휘도 보상을 위한 보상량에 해당하는 게인(Gain)을 산출하고, 산출된 게인을 원래의 데이터에 곱하는 형태로 보상 데이터(Data')를 생성하여 데이터 구동부(120)로 공급한다. At this time, the compensation configuration is the maximum degree of deterioration of the maximum deterioration monitoring pixel (MPja, j=1, 2, ..., m), and the middle deterioration monitoring pixel (MPjb, j=1, 2, ..., m). The luminance of n pixels (P1j, P2j, ..., P1n) formed in each column, taking into account the degree of intermediate degradation and the minimum degradation monitoring pixels (MPjc, j=1, 2, ..., m) A gain corresponding to the amount of compensation for compensation is calculated, and compensation data Data′ is generated in a form in which the calculated gain is multiplied by the original data, and supplied to the
도 7을 참조하면, 유기발광표시패널(110)의 액티브 영역(A/A)의 외곽에, 즉, 비 액티브 영역(N/A)에, 제1방향(예: 수직 방향)으로 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn)가 배치되어 있을 수 있다. Referring to FIG. 7, the number of pixel rows in a first direction (eg, vertical direction) outside the active area A/A of the organic light emitting
도 7을 참조하면, 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn) 각각은, 3개의 모니터링 픽셀(최대 열화 모니터링 픽셀(MPIa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic))로 이루어져 있다.Referring to FIG. 7, each of the monitoring pixel sets MPS1, MPS2, ..., MPSn as many as the number of pixel rows (n) has three monitoring pixels (maximum degradation monitoring pixel MPIa, intermediate degradation monitoring pixel ( MPib), minimum degradation monitoring pixel (MPic)).
도 7을 참조하면, 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn) 각각에 포함된 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic)은, 제2방향(예: 수평방향)으로 배치된다. Referring to FIG. 7, the maximum degradation monitoring pixel (MPia), the intermediate degradation monitoring pixel (MPib), and the minimum included in each of the monitoring pixel sets MPS1, MPS2, ..., MPSn as many as the number of pixel rows (n). The degradation monitoring pixels MPic are disposed in a second direction (eg, horizontal direction).
도 7을 참조하면, 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn) 각각에 포함된 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, ... , MPna)끼리 하나의 모니터링 픽셀 열(C1)을 이루고, 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn) 각각에 포함된 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, ... , MPnb)끼리 다른 하나의 모니터링 픽셀 열(C2)을 이루고, 픽셀 행 개수(n개) 만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSn) 각각에 포함된 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, ... , MPnc)끼리 또 다른 하나의 모니터링 픽셀 열(C3)을 이룬다. Referring to FIG. 7, one monitoring of the maximum degradation monitoring pixels MP1a, ..., MPna included in each of the monitoring pixel sets MPS1, MPS2, ..., MPSn as much as the number of pixel rows (n) Intermediate deterioration monitoring pixels (MP1b, ..., MPnb) included in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSn) that make up the pixel column (C1) and have the number of pixel rows (n) are different. The minimum deterioration monitoring pixels (MP1c, ..., MPSn) included in each of the monitoring pixel sets (MPS1, MPS2, ..., MPSn) as many as one monitoring pixel column (C2) and the number of pixel rows (n) ) To form another column of monitoring pixels (C3).
즉, 도 7의 모니터링 픽셀 배치 구조는 3개의 모니터링 픽셀 열(C1, C2, C3)의 배치 구조이다. That is, the arrangement structure of the monitoring pixels in FIG. 7 is the arrangement structure of the three monitoring pixel columns C1, C2, and C3.
도 7을 참조하면, 첫 번째 모니터링 픽셀 열(C1)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPna) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "최대 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최대 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 7, each of the maximum deterioration monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPna as many as the number of pixel rows (n) included in the first monitoring pixel column C1 is in the
여기서, 최대 열화 스트레스 데이터 전압은, 첫 번째 모니터링 픽셀 열(C1)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPna) 각각에 대응되는 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최대 데이터 전압이다. Here, the maximum deterioration stress data voltage is a pixel row corresponding to each of the maximum deterioration monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPna as much as the number of pixel rows (n) included in the first monitoring pixel column C1. This is the maximum data voltage among the data voltages supplied to the pixels belonging to.
i행을 예로 들면, 첫 번째 모니터링 픽셀 열(C1)에 포함된 i행의 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia)은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, i행의 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia)에 대응되는 픽셀 행(i행)에 속한 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)로 공급되는 데이터 전압(Vdata) 중 최대 데이터 전압에 해당하는 "최대 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최대 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking row i as an example, the maximum deterioration monitoring pixel MPia in row i included in the first monitoring pixel column C1 is driven periodically every frame, but the maximum deterioration monitoring pixel MPia in row i Among the data voltages (Vdata) supplied to m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) belonging to the pixel row (row i) corresponding to, the "maximum deterioration stress data voltage" corresponding to the maximum data voltage is accumulated. When applied, "maximum deterioration" is artificially accumulated and occurs.
도 7을 참조하면, 두 번째 모니터링 픽셀 열(C2)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPnb) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "중간 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "중간 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 7, each of the intermediate degradation monitoring pixels MP1b, MP2b, ..., MPnb as many as the number of pixel rows (n) included in the second monitoring pixel column C2 is in the
여기서, 중간 열화 스트레스 데이터 전압은, 두 번째 모니터링 픽셀 열(C2)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPnb) 각각에 대응되는 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 데이터 전압이다. Here, the intermediate deterioration stress data voltage is a pixel row corresponding to each of the intermediate deterioration monitoring pixels MP1b, MP2b, ..., MPnb as much as the number of pixel rows (n) included in the second monitoring pixel column C2. This is the data voltage obtained by the average of the data voltages supplied to the pixels belonging to the.
i행을 예로 들면, 두 번째 모니터링 픽셀 열(C2)에 포함된 i행의 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib)은, 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, i행의 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib)에 대응되는 픽셀 행(i행)에 속한 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)로 공급되는 데이터 전압(Vdata)의 평균 데이터 전압에 해당하는 "중간 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "중간 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking the i row as an example, the intermediate deterioration monitoring pixel MPib of row i included in the second monitoring pixel column C2 is periodically driven by the
도 7을 참조하면, 세 번째 모니터링 픽셀 열(C3)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPnc) 각각은, 데이터 구동부(120)에 의해 데이터 구동부(120)에 의해 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되되, 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 "최소 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최소 열화"가 인위적으로 발생한다. Referring to FIG. 7, each of the minimum deterioration monitoring pixels MP1c, MP2c, ..., MPnc as many as the number of pixel rows (n) included in the third monitoring pixel column C3 is in the
여기서, 최소 열화 스트레스 데이터 전압은, 세 번째 모니터링 픽셀 열(C3)에 포함된 픽셀 행 개수(n개)만큼의 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPnc) 각각에 대응되는 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압 중 최소 데이터 전압이다. Here, the minimum deterioration stress data voltage is a pixel row corresponding to each of the minimum deterioration monitoring pixels MP1c, MP2c, ..., MPnc as much as the number of pixel rows (n) included in the third monitoring pixel column C3. This is the minimum data voltage among the data voltages supplied to the pixels belonging to.
i행을 예로 들면, 세 번째 모니터링 픽셀 열(C3)에 포함된 i행의 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic)은, 매 프레임(Frame)마다 주기적으로 구동되어, i행의 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic)에 대응되는 픽셀 행(i행)에 속한 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)로 공급되는 데이터 전압(Vdata) 중 최소 데이터 전압에 해당하는 "최소 열화 스트레스 데이터 전압"이 누적되어 인가되어, "최소 열화"가 인위적으로 누적되어 발생한다. Taking row i as an example, the minimum deterioration monitoring pixel MPic in row i included in the third monitoring pixel column C3 is periodically driven every frame, so that the minimum deterioration monitoring pixel MPic in row i Among the data voltages (Vdata) supplied to m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) belonging to the pixel row (row i) corresponding to, the "minimum deterioration stress data voltage" corresponding to the minimum data voltage is accumulated. When applied, "minimal deterioration" is artificially accumulated and occurs.
도 7을 참조하여, 데이터 구동부(120)는, 각 행마다, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia, i=1, 2, ... , n), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib, i=1, 2, ... , n), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic, i=1, 2, ... , n) 각각으로 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 최대 열화 스트레스 데이터 전압, 중간 열화 스트레스 데이터 전압, 최소 열화 스트레스 데이터 전압을 인위적으로 인가한다. Referring to FIG. 7, the
도 7을 참조하면, 픽셀 행 개수(n개)만큼의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, ... , MPSn) 각각은, 대응되는 픽셀 행에 배치된 픽셀들의 3가지 열화 정도(최대 열화 정도, 중간 열화 정도, 최소 열화 정도)를 대변하는 더미 픽셀 세트이고, 대응되는 픽셀 행에 배치된 픽셀들에 공급되는 데이터 전압을 기초로 만들어진 3가지의 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압(최대 열화 스트레스 데이터 전압, 중간 열화 스트레스 데이터 전압, 최소 열화 스트레스 데이터 전압)으로서 누적되어 인가된다. Referring to FIG. 7, each of the monitored pixel sets MPS1, ..., MPSn as many as the number of pixel rows (n) has three degrees of deterioration (maximum deterioration degree, intermediate deterioration degree) of pixels arranged in a corresponding pixel row. It is a set of dummy pixels representing the degree of deterioration and the minimum degree of deterioration, and the three data voltages created based on the data voltages supplied to the pixels arranged in the corresponding pixel row are the deterioration stress data voltages The deterioration stress data voltage and minimum deterioration stress data voltage) are accumulated and applied.
이후, 센싱구성은, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia, i=1, 2, ... , n), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib, i=1, 2, ... , n), 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic, i=1, 2, ... , n) 각각에서의 열화 정도를 센싱하여, 센싱 데이터를 출력한다. Thereafter, the sensing configuration is the maximum degradation monitoring pixel (MPia, i=1, 2, ..., n), the intermediate degradation monitoring pixel (MPib, i=1, 2, ..., n), the minimum degradation monitoring pixel. (MPic, i=1, 2, ..., n) The degree of deterioration at each is sensed and the sensing data is output.
이에 따라, 보상구성은, 센싱 데이터를 수신하여, 액티브 영역(A/A)에서 각 행에 형성된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)의 휘도 보상을 해줄 수 있다. Accordingly, the compensation configuration may receive sensing data and compensate for the luminance of m pixels Pi1, Pi2, ..., Pim formed in each row in the active area A/A.
이때, 보상구성은, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPia, i=1, 2, ... , n)의 최대 열화 정도, 중간 열화 모니터링 픽셀(MPib, i=1, 2, ... , n)의 중간 열화 정도, 최소 열화 모니터링 픽셀(MPic, i=1, 2, ... , n)의 최소 열화 정도를 고려하여, 각 행에 형성된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim)의 휘도 보상을 위한 보상량에 해당하는 게인(Gain)을 산출하고, 산출된 게인을 원래의 데이터에 곱하는 형태로 보상 데이터(Data')를 생성하여 데이터 구동부(120)로 공급한다. At this time, the compensation configuration is the maximum degree of deterioration of the maximum deterioration monitoring pixel (MPia, i=1, 2, ..., n), and the middle deterioration monitoring pixel (MPib, i=1, 2, ..., n). In consideration of the degree of intermediate degradation and the minimum degree of degradation of the minimum degradation monitoring pixels (MPic, i=1, 2, ..., n), the m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) formed in each row A gain corresponding to a compensation amount for luminance compensation is calculated, and compensation data Data′ is generated in a form in which the calculated gain is multiplied by the original data, and supplied to the
이상에서는, 설명의 편의를 위하여, 모니터링 픽셀 단위로, 열화 스트레스 데이터 전압 인가, 열화 정도의 센싱 및 보상 등을 설명하였으나, 실질적으로는, 모니터링 픽셀을 구성하는 모니터링 서브픽셀 단위로, 열화 스트레스 데이터 전압 인가, 열화 정도의 센싱 및 보상 등이 이루어진다. In the above, for convenience of explanation, the application of the deterioration stress data voltage and the sensing and compensation of the degree of deterioration have been described in units of monitoring pixels. The sensing and compensation of the degree of application and deterioration are performed.
이에, 아래에서는, 모니터링 서브픽셀 단위의 열화 스트레스 전압 인가, 열화 정도의 센싱 및 보상 등을 간략하게 설명한다. Accordingly, below, application of a deterioration stress voltage in units of monitoring subpixels, sensing and compensation of the degree of deterioration, etc. will be briefly described.
도 8 내지 도 11은 도 4 내지 도 7의 모니터링 픽셀 배치 구조 하에서, 열화 스트레스 데이터 전압의 인가를 설명하기 위한 도면이다. 8 to 11 are diagrams for explaining application of a deterioration stress data voltage under the monitoring pixel arrangement structure of FIGS. 4 to 7.
도 8은 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 도 4의 모니터링 픽셀 배치 구조, 즉, 1개의 모니터링 픽셀 행(R)에서, m개의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들(적색 모니터링 서브픽셀(MSPr), 흰색 모니터링 서브픽셀(MSPw), 녹색 모니터링 서브픽셀(MSPg), 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)) 중 대표적으로 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)을 나타낸 도면이다. 8 illustrates an arrangement structure of monitoring pixels of FIG. 4, that is, m monitoring pixels MP1, MP2, ..., in one row of monitoring pixels R in the organic light emitting
도 8을 참조하면, 1개의 모니터링 픽셀 행(R)에 포함된 m개의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPm) 중에서 j열 모니터링 픽셀(MPj)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, j열의 픽셀 열에 배치된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j))의 평균 데이터 전압을 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. Referring to FIG. 8, of the m monitoring pixels (MP1, MP2, ..., MPm) included in one monitoring pixel row (R), red monitoring among four subpixels constituting the j-column monitoring pixel (MPj) The subpixel MSPr is a data voltage V_RED_(1,j), V_RED_() supplied to each red subpixel SPr of n pixels P1j, P2j, ..., Pnj arranged in the pixel column of column j. 2,j),…, V_RED_(n,j)) may be applied as the deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Average {V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)}-V_1H_RED_DATA= Average (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),… , V_RED_(n,j)}
또는, j열 모니터링 픽셀(MPj)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, j열의 픽셀 열에 배치된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)) 중 임의로 선택된 데이터 전압을 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수도 있다. Alternatively, of the four subpixels constituting the j-column monitoring pixel MPj, the red monitoring sub-pixel (MSPr) is the red sub-pixel of each of the n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) arranged in the pixel column of the j column. Data voltages arbitrarily selected among data voltages (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),…, V_RED_(n,j)) supplied to the pixel SPr may be applied as the deterioration stress data voltage (V_1H_RED_DATA). have.
- V_1H_RED_DATA= Select {V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)}-V_1H_RED_DATA= Select (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),… , V_RED_(n,j)}
전술한 바와 같이, 데이터 구동부(120)에 의해, j열 모니터링 픽셀(MPj)의 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)에 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 열화 스트레스 데이터가 아날로그 형태로 변환된 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)이 인가된 이후, 센싱구성은, j열 모니터링 픽셀(MPj)의 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)의 열화 정도를 센싱하여 센싱 데이터를 출력한다. As described above, the degradation stress data voltage determined by the
이에 따라, 보상구성은, 센싱구성으로부터 입력받은 센싱 데이터를 토대로, 액티브 영역(A/A)에서, j열 모니터링 픽셀(MPj)과 대응되는 픽셀 열(j열)에 배치된 픽셀들(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각에 포함된 적색 서브픽셀(SPr)의 휘도를 보상하기 위한 보상 데이터를 생성하여, 데이터 구동부(120)로 출력한다. Accordingly, the compensation configuration is based on the sensing data input from the sensing configuration, in the active area A/A, the pixels P1j arranged in the pixel column (column j) corresponding to the column j monitoring pixel MPj, Compensation data for compensating the luminance of the red sub-pixels SPr included in each of P2j, ..., Pnj) is generated and output to the
도 9는 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 도 5의 모니터링 픽셀 배치 구조, 즉, 1개의 모니터링 픽셀 열(C)에서, n개의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn) 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들(적색 모니터링 서브픽셀(MSPr), 흰색 모니터링 서브픽셀(MSPw), 녹색 모니터링 서브픽셀(MSPg), 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)) 중 대표적으로 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_BLUE_DATA)을 나타낸 도면이다.9 illustrates an arrangement structure of monitoring pixels of FIG. 5, that is, n monitoring pixels MP1, MP2, ..., in one monitoring pixel column C in the organic light emitting
도 9를 참조하면, 1개의 모니터링 픽셀 열(C)에 포함된 n개의 모니터링 픽셀(MP1, MP2, ... , MPn) 중에서 i행 모니터링 픽셀(MPi)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)은, i행의 픽셀 행에 배치된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각의 청색 서브픽셀(SPb)로 공급되는 데이터 전압(V_BLUE_(i,1), V_BLUE_(i,2), … , V_BLUE_(i,m))의 평균 데이터 전압을 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_BLUE_DATA)으로서 인가받을 수 있다. Referring to FIG. 9, among the n monitoring pixels (MP1, MP2, ..., MPn) included in one monitoring pixel column (C), blue monitoring among four subpixels constituting the i-row monitoring pixel MPi The subpixel MSPb is a data voltage V_BLUE_(i,1) supplied to the blue subpixels SPb of each of the m pixels Pi1, Pi2, ..., Pim arranged in the pixel row of the i row, The average data voltage of V_BLUE_(i,2),…, V_BLUE_(i,m)) may be applied as the deterioration stress data voltage V_1H_BLUE_DATA.
- V_1H_BLUE_DATA= Average {V_BLUE_(i,1),V_BLUE_(i,2),…,V_BLUE_(i,m)}-V_1H_BLUE_DATA= Average (V_BLUE_(i,1),V_BLUE_(i,2),… ,V_BLUE_(i,m)}
또는, i행 모니터링 픽셀(MPi)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)은, i행의 픽셀 행에 배치된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각의 청색 서브픽셀(SPb)로 공급되는 데이터 전압(V_BLUE_(i,1), V_BLUE_(i,2), … , V_BLUE_(i,m)) 중 임의로 선택된 데이터 전압을 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_BLUE_DATA)으로서 인가받을 수도 있다. Alternatively, of the four subpixels constituting the i-row monitoring pixel MPi, the blue monitoring sub-pixel (MSPb) is each of m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) arranged in the i-row pixel row. A data voltage arbitrarily selected among data voltages (V_BLUE_(i,1), V_BLUE_(i,2),…, V_BLUE_(i,m)) supplied to the blue subpixel SPb is applied as the deterioration stress data voltage (V_1H_BLUE_DATA) You can also receive.
- V_1H_BLUE_DATA=Select {V_BLUE_(i,1), V_BLUE_(i,2), … , V_BLUE_(i,m)}-V_1H_BLUE_DATA=Select (V_BLUE_(i,1), V_BLUE_(i,2),… , V_BLUE_(i,m)}
전술한 바와 같이, 데이터 구동부(120)에 의해, i행 모니터링 픽셀(MPi)의 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)에 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 열화 스트레스 데이터가 아날로그 형태로 변환된 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_BLUE_DATA)이 인가된 이후, 센싱구성은, i행 모니터링 픽셀(MPi)의 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)의 열화 정도를 센싱하여 센싱 데이터를 출력한다. As described above, the degradation stress data voltage determined by the
이에 따라, 보상구성은, 센싱구성으로부터 입력받은 센싱 데이터를 토대로, 액티브 영역(A/A)에서, i행 모니터링 픽셀(MPi)과 대응되는 픽셀 행(i행)에 배치된 픽셀들(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각에 포함된 청색 서브픽셀(SPb)의 휘도를 보상하기 위한 보상 데이터를 생성하여, 데이터 구동부(120)로 출력한다. Accordingly, the compensation configuration is based on the sensing data input from the sensing configuration, in the active area A/A, the pixels Pi1, which are arranged in the pixel row (row i) corresponding to the row i monitoring pixel MPi, Compensation data for compensating the luminance of the blue subpixels SPb included in each of Pi2, ..., Pim) is generated and output to the
도 10은 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 도 6의 모니터링 픽셀 구조, 즉, 3개의 모니터링 픽셀 행(R1, R2, R3)의 배치 구조 하에서, m개의 모니터링 픽셀 세트(MPS1, MPS2, ... , MPSm) 각각에 포함된 3개의 모니터링 픽셀(최대 열화 모니터링 픽셀, 중간 열화 모니터링 픽셀, 최소 열화 모니터링 픽셀) 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들(적색 모니터링 서브픽셀(MSPr), 흰색 모니터링 서브픽셀(MSPw), 녹색 모니터링 서브픽셀(MSPg), 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)) 중 대표적으로 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)을 나타낸 도면이다. 10 illustrates m monitoring pixel sets MPS1 under the monitoring pixel structure of FIG. 6, that is, the arrangement structure of three monitoring pixel rows R1, R2, R3 in the organic light emitting
도 10을 참조하면, 첫 번째 모니터링 픽셀 행(R1), 즉, 최대 열화 모니터링 픽셀 행(R1)에 포함된 m개의 최대 열화 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPma) 중에서 j열 모니터링 픽셀(MPja)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, j열의 픽셀 열에 배치된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)) 중 최대 데이터 전압을 최대 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. Referring to FIG. 10, among the m maximum degradation monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPma included in the first monitoring pixel row R1, that is, the maximum degradation monitoring pixel row R1, the j-column monitoring pixel Of the four subpixels constituting (MPja), the red monitoring subpixel (MSPr) is supplied to each red subpixel (SPr) of n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) arranged in the pixel column of column j. The maximum data voltage among the data voltages V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), …, V_RED_(n,j)) may be applied as the maximum deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Max {V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)}-V_1H_RED_DATA= Max (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),… , V_RED_(n,j)}
두 번째 모니터링 픽셀 행(R2), 즉, 중간 열화 모니터링 픽셀 행(R2)에 포함된 m개의 중간 열화 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPmb) 중에서 j열 모니터링 픽셀(MPjb)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, j열의 픽셀 열에 배치된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j))을 평균한 평균 데이터 전압을 중간 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. The second monitoring pixel row (R2), that is, the j-column monitoring pixel (MPjb) among the m intermediate degradation monitoring pixels (MP1b, MP2b, ..., MPmb) included in the intermediate degradation monitoring pixel row (R2). Of the four subpixels, the red monitoring subpixel (MSPr) is the data voltage V_RED_(V_RED_() supplied to the red subpixels SPr of each of the n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) arranged in the pixel column of column j. 1,j), V_RED_(2,j), …, V_RED_(n,j)) may be applied as the average deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Average {V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)}-V_1H_RED_DATA= Average (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),… , V_RED_(n,j)}
세 번째 모니터링 픽셀 행(R3), 즉, 최소 열화 모니터링 픽셀 행(R3)에 포함된 m개의 최소 열화 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPmc) 중에서 j열 모니터링 픽셀(MPjc)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, j열의 픽셀 열에 배치된 n개의 픽셀(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)) 중 최소 데이터 전압을 최소 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. Among the m minimum deterioration monitoring pixels (MP1c, MP2c, ..., MPmc) included in the third monitoring pixel row (R3), that is, the minimum deterioration monitoring pixel row (R3), the j-column monitoring pixel (MPjc) is formed. Of the four subpixels, the red monitoring subpixel (MSPr) is the data voltage V_RED_(V_RED_() supplied to the red subpixels SPr of each of the n pixels (P1j, P2j, ..., Pnj) arranged in the pixel column of column j. 1,j), V_RED_(2,j), …, V_RED_(n,j)), the minimum data voltage may be applied as the minimum deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Mjn {V_RED_(1,j), V_RED_(2,j), … , V_RED_(n,j)}-V_1H_RED_DATA= Mjn (V_RED_(1,j), V_RED_(2,j),… , V_RED_(n,j)}
전술한 바와 같이, 데이터 구동부(120)에 의해, j열 모니터링 픽셀 세트(MPSj)를 이루는 3개의 모니터링 픽셀(MPja, MPjb, MPjc) 각각의 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)에 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 열화 스트레스 데이터가 아날로그 형태로 변환된 최대/중간/최소 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)이 인가된 이후, 센싱구성은, j열 모니터링 픽셀 세트(MPSj)를 이루는 3개의 모니터링 픽셀(MPja, MPjb, MPjc) 각각의 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)의 열화 정도를 센싱하여 센싱 데이터를 출력한다. As described above, by the
이에 따라, 보상구성은, 센싱구성으로부터 입력받은 센싱 데이터를 토대로, 액티브 영역(A/A)에서, j열 모니터링 픽셀 세트(MPSj)와 대응되는 픽셀 열(j열)에 배치된 픽셀들(P1j, P2j, ... , Pnj) 각각에 포함된 적색 서브픽셀(SPr)의 휘도를 보상하기 위한 보상 데이터를 생성하여, 데이터 구동부(120)로 출력한다. Accordingly, the compensation configuration is based on the sensing data received from the sensing configuration, in the active area A/A, the pixels P1j arranged in the pixel column (column j) corresponding to the j column monitoring pixel set MPSj. Compensation data for compensating the luminance of the red subpixels SPr included in each of P2j, ..., Pnj) is generated and output to the
도 11은 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에서, 3개의 모니터링 픽셀 열에서, n개의 모니터링 픽셀 세트 각각에 포함된 3개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들(적색 모니터링 서브픽셀(MSPr), 흰색 모니터링 서브픽셀(MSPw), 녹색 모니터링 서브픽셀(MSPg), 청색 모니터링 서브픽셀(MSPb)) 중 대표적으로 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)로 공급되는 열화 스트레스 데이터 전압을 나타낸 도면이다. 11 illustrates monitoring subpixels (red monitoring subpixels) constituting each of three monitoring pixels included in each of n monitoring pixel sets in a column of three monitoring pixels in the organic light emitting
도 11을 참조하면, 첫 번째 모니터링 픽셀 열(C1), 즉, 최대 열화 모니터링 픽셀 열(C1)에 포함된 n개의 모니터링 픽셀(MP1a, MP2a, ... , MPna) 중에서 i행 모니터링 픽셀(MPia)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, i행의 픽셀 행에 배치된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m)) 중 최대 데이터 전압을 최대 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. Referring to FIG. 11, among n monitoring pixels MP1a, MP2a, ..., MPna included in a first monitoring pixel column C1, that is, a maximum degradation monitoring pixel column C1, an i-row monitoring pixel MPia ), the red monitoring subpixel (MSPr) is supplied to each red subpixel (SPr) of m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) arranged in the pixel row of row i. The maximum data voltage among the data voltages V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), …, V_RED_(i,m)) may be applied as the maximum deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Max {V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m)}-V_1H_RED_DATA= Max (V_RED_(i,1), V_RED_(i,2),… , V_RED_(i,m)}
또한, 두 번째 모니터링 픽셀 열(C2), 즉, 중간 열화 모니터링 픽셀 열(C2)에 포함된 n개의 모니터링 픽셀(MP1b, MP2b, ... , MPnb) 중에서 i행 모니터링 픽셀(MPib)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, i행의 픽셀 행에 배치된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m))의 평균 데이터 전압을 중간 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. In addition, among the n monitoring pixels (MP1b, MP2b, ..., MPnb) included in the second monitoring pixel column (C2), that is, the intermediate degradation monitoring pixel column (C2), the i-row monitoring pixel (MPib) is configured. Of the four subpixels, the red monitoring subpixel (MSPr) is the data voltage supplied to each red subpixel (SPr) of m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) arranged in the pixel row of row i ( The average data voltage of V_RED_(i,1), V_RED_(i,2),…, V_RED_(i,m)) may be applied as the intermediate deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Average {V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m)}-V_1H_RED_DATA= Average (V_RED_(i,1), V_RED_(i,2),… , V_RED_(i,m)}
또한, 세 번째 모니터링 픽셀 열(C3), 즉, 최소 열화 모니터링 픽셀 열(C3)에 포함된 n개의 모니터링 픽셀(MP1c, MP2c, ... , MPnc) 중에서 i행 모니터링 픽셀(MPic)을 구성하는 4개의 서브픽셀 중 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)은, i행의 픽셀 행에 배치된 m개의 픽셀(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각의 적색 서브픽셀(SPr)로 공급되는 데이터 전압(V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m)) 중 최소 데이터 전압을 최소 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)으로서 인가받을 수 있다. In addition, among the n monitoring pixels (MP1c, MP2c, ..., MPnc) included in the third monitoring pixel column (C3), that is, the minimum degradation monitoring pixel column (C3), the i-row monitoring pixel (MPic) is configured. Of the four subpixels, the red monitoring subpixel (MSPr) is the data voltage supplied to each red subpixel (SPr) of m pixels (Pi1, Pi2, ..., Pim) arranged in the pixel row of row i ( The minimum data voltage among V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), …, V_RED_(i,m)) may be applied as the minimum deterioration stress data voltage V_1H_RED_DATA.
- V_1H_RED_DATA= Min {V_RED_(i,1), V_RED_(i,2), … , V_RED_(i,m)}-V_1H_RED_DATA= Min (V_RED_(i,1), V_RED_(i,2),… , V_RED_(i,m)}
전술한 바와 같이, 데이터 구동부(120)에 의해, i행 모니터링 픽셀 세트(MPSi)를 이루는 3개의 모니터링 픽셀(MPia, MPib, MPic) 각각의 적색 모니터링 서픽셀(MSPr)에 타이밍 컨트롤러(140)에 의해 결정된 열화 스트레스 데이터가 아날로그 형태로 변환된 최대/중간/최소 열화 스트레스 데이터 전압(V_1H_RED_DATA)이 인가된 이후, 센싱구성은, i행 모니터링 픽셀 세트(MPSi)를 이루는 3개의 모니터링 픽셀(MPia, MPib, MPic) 각각의 적색 모니터링 서브픽셀(MSPr)의 열화 정도를 센싱하여 센싱 데이터를 출력한다. As described above, by the
이에 따라, 보상구성은, 센싱구성으로부터 입력받은 센싱 데이터를 토대로, 액티브 영역(A/A)에서, i행 모니터링 픽셀 세트(MPSi)와 대응되는 픽셀 행(i행)에 배치된 픽셀들(Pi1, Pi2, ... , Pim) 각각에 포함된 적색 서브픽셀(SPr)의 휘도를 보상하기 위한 보상 데이터를 생성하여, 데이터 구동부(120)로 출력한다. Accordingly, the compensation configuration is based on the sensing data received from the sensing configuration, in the active area A/A, the pixels Pi1 arranged in the pixel row (row i) corresponding to the row i monitoring pixel set MPSi. Compensation data for compensating the luminance of the red sub-pixel SPr included in each of, Pi2, ..., Pim) is generated and output to the
아래에서는, 이상에서 언급한 센싱구성 및 보상구성에 대하여, 도 12 및 도 13을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. In the following, the sensing configuration and the compensation configuration described above will be described in more detail with reference to FIGS. 12 and 13.
도 12 및 도 13을 참조한 설명에 앞서, 센싱구성은, 센싱방식에 따라 달라질 수 있으며, 센싱방식이 전압 센상방식의 경우, 센싱 라인 및 센싱부 등을 포함하고, 센싱방식이 조도 센싱방식의 경우, 조도 센서 및 센싱부 등을 포함한다. Prior to the description with reference to FIGS. 12 and 13, the sensing configuration may vary according to the sensing method, and the sensing method includes a voltage sensing method, a sensing line and a sensing unit, and the sensing method is an illuminance sensing method. , An illuminance sensor and a sensing unit.
먼저, 센싱방식이 전압 센상방식의 경우에 대한 센싱구성 및 보상구성에 대하여, 도 12를 참조하여 설명하고, 이어서, 센싱방식이 조도 센상방식의 경우에 대한 센싱구성 및 보상구성에 대하여, 도 13을 참조하여 설명한다. First, the sensing configuration and compensation configuration for the case of the voltage sensing method as the sensing method will be described with reference to FIG. 12, and then, the sensing configuration and the compensation configuration for the case where the sensing method is the illuminance sensing method, FIG. 13 This will be described with reference to.
도 12는 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된 모니터링 서브픽셀(MSP)을 이용하여, 전압 센싱방식에 기초한 센싱 및 휘도 보상을 위한 구성도이다. 12 is a configuration diagram for sensing and luminance compensation based on a voltage sensing method using a monitoring sub-pixel (MSP) to which a deterioration stress data voltage is applied in the organic light emitting
도 12를 참조하면, 모니터링 서브픽셀(MSP)이 도 2에 도시된 2가지 서브픽셀 구조(2가지 등가회로도) 중에서 3T1C 구조로 되어 있는 것으로 예를 든다. Referring to FIG. 12, an example is given that the monitoring subpixel MSP has a 3T1C structure among the two subpixel structures (two equivalent circuit diagrams) shown in FIG. 2.
도 12를 참조하면, 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압이 인가되는데, 이 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압이 된다. Referring to FIG. 12, a data voltage is applied through a data line DL, which becomes a deterioration stress data voltage.
이러한 열화 스트레스 데이터 전압은, 트랜지스터 T2가 턴 온 되어, 구동 트탠지스터인 트랜지스터 T1의 게이트 노드 N1에 인가된다. 이에 따라, 이 모니터링 서브픽셀의 트랜지스터들(T1, T2, T3) 및 유기발광다이오드(OLED)는 열화 스트레스를 받게 된다. This deterioration stress data voltage is applied to the gate node N1 of the transistor T1, which is a driving transistor, when the transistor T2 is turned on. Accordingly, the transistors T1, T2, and T3 of the monitoring subpixel and the organic light emitting diode OLED are subjected to deterioration stress.
이러한 열화 스트레스는 매 프레임마다 모니터링 서브픽셀에 누적되어 가해져서, 화상 표시를 위한 일반적인 서브픽셀과 거의 동일한 조건 하에서 열화 스트레스를 받게 된다. Such deterioration stress is accumulated and applied to the monitoring subpixels every frame, and thus deterioration stress is applied under almost the same conditions as general subpixels for image display.
도 12를 참조하면, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도는, 유기발광다이오드(OLED)가 얼마나 높은 휘도를 내느냐 또는 얼마나 오랫동안 발광하느냐에 따라 정해질 수 있으며, 이는, 유기발광다이오드(OLED)로 흐르는 전류가 얼마나 많이 흐르느냐 또는 얼마나 오랫동안 흐르느냐와 관련된다. Referring to FIG. 12, the degree of deterioration of the organic light-emitting diode (OLED) may be determined according to how high luminance the organic light-emitting diode (OLED) emits or how long it emits light, which flows to the organic light-emitting diode (OLED). It is related to how much current flows or how long it flows.
따라서, 도 12에서는, 유기발광다이오드(OLED)에 흐르는 전류를 결정하게 되는 유기발광다이오드(OLED)의 애노드 전극, 즉, 트랜지스터 T1의 제2노드(N2, 예: 소스 노드)의 전압을 센싱함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 센싱할 수 있다. Accordingly, in FIG. 12, by sensing the voltage of the anode electrode of the organic light-emitting diode OLED, that is, the second node N2 (eg, the source node) of the transistor T1 that determines the current flowing through the organic light-emitting diode OLED. , It is possible to sense the degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED).
아울러, 트랜지스터 T1의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 일정 전압을 인가한 이후, 제2노드(N2)만을 플로팅(Floating) 시켜, 트랜지스터 T1의 제2노드(N2)의 전압을 부스팅(Boosting) 시키고, 트랜지스터 T1의 제2노드(N2)의 전압이 상승하다가 포화(Saturation) 되면, 이때의 트랜지스터 T1의 제2노드(N2)의 전압을 센싱함으로써, 구동 트랜지스터인 트랜지스터 T1의 열화 정도를 가능하는 문턱전압 또는 이동도를 센싱할 수도 있다. In addition, after applying a certain voltage to the first node N1 and the second node N2 of the transistor T1, only the second node N2 is floated, and the voltage of the second node N2 of the transistor T1 is Is boosted, and when the voltage of the second node N2 of the transistor T1 rises and then saturates, the voltage of the second node N2 of the transistor T1 at this time is sensed. It is also possible to sense a threshold voltage or mobility enabling the degree of deterioration.
도 12를 참조하면, 모니터링 서브픽셀 내 회로 소자의 특정 노드의 전압을 센싱하여, 이를 토대로, 모니터링 서브픽셀과 대응되는 액티브 영역(A/A)에 형성된 서브픽셀들의 휘도 보상을 하기 위하여, 유기발광표시장치(100)는, 센싱 라인(1210), 센싱부(1220) 및 보상부(1230) 등을 포함한다. Referring to FIG. 12, in order to compensate for the luminance of subpixels formed in the active area A/A corresponding to the monitoring subpixel based on sensing the voltage of a specific node of the circuit element in the monitoring subpixel, organic light emission The
센싱 라인(1210)은, 유기발광표시패널(110)에 형성되며, 모니터링 픽셀(MS) 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들(MSPr, MSPw, MSPg, MSPb) 내 회로소자의 특정 노드와 개별적으로 또는 공유되어 연결된다. 여기서, 회로소자의 특정 노드는, 도 12에서 구동 트랜지스터의 특정 노드(N2) 또는 유기발광다이오드의 애노드 전극일 수 있다. The sensing line 1210 is formed on the organic light emitting
또는, 센싱 라인(1210)은, 유기발광표시패널(110)에 형성되며, 모니터링 픽셀 세트(MPS)에 포함된 3개의 모니터링 픽셀(최대 열화 모니터링 픽셀, 중간 열화 모니터링 픽셀, 최소 열화 모니터링 픽셀) 각각에 포함된 모니터링 서브픽셀들(MSPr, MSPw, MSPg, MSPb) 내 회로소자의 특정 노드와 개별적으로 또는 공유되어 연결된다. 여기서, 회로소자의 특정 노드는, 도 12에서 구동 트랜지스터의 특정 노드(N2) 또는 유기발광다이오드의 애노드 전극일 수 있다. Alternatively, the sensing line 1210 is formed on the organic light-emitting
이러한 센싱 라인(1210)은, 액티브 영역(A/A)에 형성된 서브픽셀에 기준전압(Vref)을 공급해주는 기준전압 라인(RVL)을 이용할 수도 있다. The sensing line 1210 may use a reference voltage line RVL that supplies a reference voltage Vref to a subpixel formed in the active region A/A.
센싱부(1220)는, 이러한 센싱 라인(1210)을 통해, 모니터링 서브픽셀 내 회로소자의 특정 노드(예: N2)의 전압을 센싱하여 센싱된 전압을 디지털 형태로 변환하여 센싱 데이터를 출력한다. The
보상부(1230)는, 센싱부(1220)에서 출력된 센싱 데이터를 수신하여, 수신된 센싱 데이터를 기초로, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각으로 공급할 데이터의 보상량을 결정하고, 결정된 보상량에 따라, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각으로 공급할 데이터를 보상하여, 보상된 데이터를 출력함으로써, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각에 대한 휘도 보상 처리를 수행할 수 있다. The
도 12를 참조하면, 센싱부(1220)는 각 데이터 구동 집적회로 내 포함된 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog Digital Converter)일 수 있다. 보상부(1230)는 타이밍 컨트롤러(1230)에 포함될 수 있다.Referring to FIG. 12, the
도 12를 참조하여 전술한 전압 센싱방식과 이에 기초한 보상에 따르면, 회로적으로 조작하기가 용이한 전압 정보에 기초하여 센싱 동작과 보상이 이루어지기 때문에, 효율적인 센싱 및 보상 처리가 가능해질 수 있다. According to the voltage sensing method and compensation based on the voltage sensing method described above with reference to FIG. 12, since the sensing operation and compensation are performed based on voltage information that is easy to operate in a circuit, efficient sensing and compensation processing may be possible.
도 13은 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된 모니터링 서브픽셀(MSP)을 이용하여, 조도 센싱방식에 기초한 센싱 및 휘도 보상을 위한 구성도이다. 13 is a configuration diagram for sensing and luminance compensation based on an illuminance sensing method by using a monitoring subpixel (MSP) to which a deterioration stress data voltage is applied in the organic light emitting
도 13을 참조하면, 모니터링 서브픽셀(MSP)이 도 2에 도시된 2가지 서브픽셀 구조(2가지 등가회로도) 중에서 2T1C 구조로 되어 있는 것으로 예를 든다. Referring to FIG. 13, an example is given that the monitoring subpixel MSP has a 2T1C structure among the two subpixel structures (two equivalent circuit diagrams) shown in FIG. 2.
도 13을 참조하면, 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압이 인가되는데, 이 데이터 전압이 열화 스트레스 데이터 전압이 된다. Referring to FIG. 13, a data voltage is applied through a data line DL, which becomes a deterioration stress data voltage.
이러한 열화 스트레스 데이터 전압은, 트랜지스터 T2가 턴 온 되어, 구동 트탠지스터인 트랜지스터 T1의 게이트 노드 N1에 인가된다. 이에 따라, 이 모니터링 서브픽셀의 트랜지스터들(T1, T2) 및 유기발광다이오드(OLED)는 열화 스트레스를 받게 된다. This deterioration stress data voltage is applied to the gate node N1 of the transistor T1, which is a driving transistor, when the transistor T2 is turned on. Accordingly, the transistors T1 and T2 and the organic light emitting diode OLED of the monitoring subpixel are subjected to deterioration stress.
이러한 열화 스트레스는 매 프레임마다 모니터링 서브픽셀에 누적되어 가해져서, 화상 표시를 위한 일반적인 서브픽셀과 거의 동일한 조건 하에서 열화 스트레스를 받게 된다. Such deterioration stress is accumulated and applied to the monitoring subpixels every frame, and thus deterioration stress is applied under almost the same conditions as general subpixels for image display.
이와 같이, 해당 모니터링 서브픽셀이 열화 스트레스를 받게 되면, 모니터링 서브픽셀 내 유기발광다이오드(OLED)의 휘도가 기대하는 휘도보다 떨어지게 된다. As described above, when the monitoring subpixel is subjected to deterioration stress, the luminance of the organic light emitting diode (OLED) in the monitoring subpixel is lower than the expected luminance.
따라서, 조도 센싱방식의 경우, 조도 센서(1310)를 이용하여, 유기발광다이오드(OLED)의 휘도를 센싱하여, 센싱된 휘도를 기대하는 휘도(열화 스트레스 전압을 인가하였을 때, 나와야 하는 휘도)와 비교하여, 휘도가 얼마나 떨어졌는지를 통해, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 센싱한다. Therefore, in the case of the illuminance sensing method, the brightness of the organic light-emitting diode (OLED) is sensed using the
도 13을 참조하면, 이러한 조도 센싱방식에 기초하여, 모니터링 서브픽셀 내 유기발광다이오드(OLED)의 휘도를 센싱하여, 이를 토대로, 모니터링 서브픽셀과 대응되는 액티브 영역(A/A)에 형성된 서브픽셀들의 휘도 보상을 하기 위하여, 유기발광표시장치(100)는, 조도 센서(1310), 센싱부(1320) 및 보상부(1330) 등을 포함한다. Referring to FIG. 13, based on this illuminance sensing method, a subpixel formed in the active area A/A corresponding to the monitoring subpixel by sensing the luminance of the organic light emitting diode (OLED) in the monitoring subpixel. In order to compensate for luminance, the organic light emitting
조도 센서(1310)는, 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들 또는 모니터링 픽셀 세트에 포함된 3개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들 각각에 형성된 유기발광다이오드의 휘도를 센싱한다. 여기서, 조도 센서(1310)는 광 검출 센서일 수 있다. The
센싱부(1320)는, 조도 센서(1310)에서 센싱된 휘도의 정보를 포함하는 센싱 데이터를 출력한다. The
보상부(1330)는, 센싱부(1220)에서 출력된 센싱 데이터를 수신하여, 수신된 센싱 데이터를 기초로, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각으로 공급할 데이터의 보상량을 결정하고, 결정된 보상량에 따라, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각으로 공급할 데이터를 보상하여, 보상된 데이터를 출력함으로써, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각에 대한 휘도 보상 처리를 수행할 수 있다. The
도 13를 참조하면, 센싱부(1320)는 각 데이터 구동 집적회로 내 포함된 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog Digital Converter)일 수 있다. 보상부(1330)는 타이밍 컨트롤러(140)에 포함될 수 있다. Referring to FIG. 13, the
도 13에 도시된 바와 같이, 조도센서(1310)를 이용하여, 열화정도를 센싱하는 경우, 직접적인 센싱이 가능해져 더욱 정확한 센싱을 할 수 있고, 이뿐만 아니라, 액티브 영역 내 서브픽셀을, 3T1C 구조(액티브 영역 내 서브픽셀을 직접 센싱하기 위한 구조)로 구현하지 않고 2T1C 구조로 간단하게 구현할 수 있기 때문에, 유기발광표시패널(110)의 공정을 더욱 쉽게 해줄 수 있다. As shown in FIG. 13, when sensing the degree of deterioration using the
도 14는 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 모니터링 서브픽셀을 이용한 휘도 보상 전후의 휘도를 나타낸 도면이다.14 is a diagram illustrating luminance before and after luminance compensation using a monitoring subpixel in the organic light emitting
도 14를 참조하면, 보상 전과 후의 휘도를 비교하기 위하여, 먼저, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각에 대하여, 최대 열화 스트레스, 중간 열화 스트레스 및 최소 열화 스트레스를 가하여 열화 정도를 다르게 발생시킨다. Referring to FIG. 14, in order to compare the luminance before and after compensation, first, for each of the maximum degradation monitoring pixel MPa, the intermediate degradation monitoring pixel MPb, and the minimum degradation monitoring pixel MPc, the maximum degradation stress and the intermediate degradation Different degrees of deterioration are generated by applying stress and minimum deterioration stress.
도 14에서, 첫 번째 그래프는, 보상 전 휘도를 나타낸 그래프로서, 이를 참조하면, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각에 동일한 데이터 전압을 인가해준다. In FIG. 14, the first graph is a graph showing the luminance before compensation, and referring to this, the same data voltage is applied to each of the maximum degradation monitoring pixel MPa, the intermediate degradation monitoring pixel MPb, and the minimum degradation monitoring pixel MPc. Authorize it.
이때, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각의 열화 정도가 동일하다면, 동일한 휘도를 보여야 한다. At this time, if the deterioration degree of each of the maximum deterioration monitoring pixel MPa, the intermediate deterioration monitoring pixel MPb, and the minimum deterioration monitoring pixel MPc is the same, the same luminance should be displayed.
하지만, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각의 열화 정도가 다르기 때문에, 동일한 휘도가 나오지 않고, 열화 정도에 따라, 휘도가 다르게 나온다. However, since the maximum deterioration monitoring pixel MPa, the intermediate deterioration monitoring pixel MPb, and the minimum deterioration monitoring pixel MPc have different degrees of deterioration, the same luminance does not appear, and the luminance differs depending on the degree of deterioration.
즉, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa)은 최대 열화가 인위적으로 발생했기 때문에, 가장 많은 휘도 감소가 발생한다. That is, the maximum degradation monitoring pixel MPa has the greatest reduction in luminance because the maximum degradation occurs artificially.
최소 열화 모니터링 픽셀(MPc)은 최소 열화가 인위적으로 발생했기 때문에, 가장 작은 휘도 감소가 발생한다. In the minimum degradation monitoring pixel MPc, the smallest reduction in luminance occurs because the minimum degradation occurs artificially.
중간 열화 모니터링 픽셀(MPb)은 중간 열화가 인위적으로 발생했기 때문에, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa)의 휘도 감소와 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc)의 후도 감소의 중간 수준의 휘도를 낸다. Since the intermediate deterioration monitoring pixel MPb has been artificially generated, the luminance of the maximum deterioration monitoring pixel MPa is reduced and the luminance of the minimum deterioration monitoring pixel MPc is reduced.
도 14에서, 두 번째 그래프, 즉, 전술한 바와 같이, 열화 정도의 차이에 따른 휘도 감소의 차이를 보상해주기 위하여, 열화 정도에 따라 다르게 산출한 게인(Gain)을 나타낸 그래프이다. In FIG. 14, a second graph, that is, as described above, is a graph showing a gain calculated differently according to the degree of deterioration in order to compensate for the difference in luminance decrease according to the difference in the degree of deterioration.
이 그래프를 참조하면, 최대 열화가 발생하여 최대 휘도 감소가 발생한 경우, 즉, 최소 휘도를 내는 경우, 가장 큰 게인을 산출하여 데이터 보상에 이용한다. 최소 열화가 발생하여 최소 휘도 감소가 발생한 경우, 즉, 최대 휘도를 내는 경우, 가장 작은 게인을 산출하여 데이터 보상에 이용한다. 중간 열화가 발생하여 중간 휘도 감소가 발생한 경우, 즉, 중간 휘도를 내는 경우, 중간 정도의 게인을 산출하여 데이터 보상에 이용한다. Referring to this graph, when the maximum deterioration occurs and the maximum luminance decreases, that is, when the minimum luminance is generated, the largest gain is calculated and used for data compensation. When the minimum deterioration occurs and the minimum luminance decreases, that is, when the maximum luminance is produced, the smallest gain is calculated and used for data compensation. When intermediate luminance decreases due to intermediate deterioration, that is, when intermediate luminance is produced, an intermediate gain is calculated and used for data compensation.
도 14에서, 세 번째 그래프, 즉, 앞에서 산출한 열화 정도, 휘도 감소의 정도에 따라 산출된 게인을 이용하여 데이터 보상(예: 원래의 데이터에 게인을 곱하는 처리)을 한 이후, 휘도를 나타낸 그래프이다. In FIG. 14, a third graph, that is, a graph showing luminance after data compensation (e.g., processing of multiplying the original data by the gain) using the gain calculated according to the previously calculated degree of deterioration and luminance reduction to be.
이 그래프를 참조하면, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각의 열화 정도가 다르더라도, 최대 열화 모니터링 픽셀(MPa), 중간 열화 모니터링 픽셀(MPb) 및 최소 열화 모니터링 픽셀(MPc) 각각의 휘도가 균일(Uniformity)해져서, 휘도 편차가 보상되었다는 것을 확인할 수 있다. Referring to this graph, although each of the maximum deterioration monitoring pixel (MPa), the intermediate deterioration monitoring pixel (MPb), and the minimum deterioration monitoring pixel (MPc) have different degrees of deterioration, the maximum deterioration monitoring pixel (MPa) and the intermediate deterioration monitoring pixel ( It can be seen that the luminance of each of the MPb) and the minimum deterioration monitoring pixel MPc became uniform, so that the luminance deviation was compensated.
이상에서 설명한 바를 간단히 정리하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)은, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀(P)과, 액티브 영역(A/A)의 외곽에 적어도 하나의 더미 픽셀 행(Dummy Pixel Row) 또는 적어도 하나의 더미 픽셀 열(Dummy Pixel Column)에 해당하는 적어도 하나의 모니터링 픽셀 행(Monitoring Pixel Row) 또는 적어도 하나의 모니터링 픽셀 열(Monitoring Pixel Column)을 포함한다. Briefly summarized above, the organic light emitting
또한, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역(A/A)에 배치된 다수의 픽셀(P)과, 액티브 영역(A/A)의 외곽에 적어도 하나의 더미 픽셀(Dummy Pixel)에 해당하는 적어도 하나의 모니터링 픽셀(MP)을 포함하되, 적어도 하나의 모니터링 픽셀(MP)에는 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된다. In addition, the organic light emitting
또한, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 제1방향으로 형성된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인과, 액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀(P)과, 액티브 영역(A/A)의 외곽에 둘 이상의 더미 픽셀(Dummy Pixel)에 해당하는 둘 이상의 모니터링 픽셀(MP)을 포함하되, 둘 이상의 모니터링 픽셀(MP)에는 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압이 인가된다. In addition, the organic light emitting
일 예로서, 2가지의 모니터링 픽셀(MP)이 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압을 인가받는 경우, 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압은, 일 예로, 위에서 언급된 최대 열화 스트레스 데이터 전압 및 최소 열화 스트레스 데이터 전압일 수 있다. As an example, when two monitoring pixels MP are applied with different deterioration stress data voltages, different deterioration stress data voltages are, for example, the maximum deterioration stress data voltage and the minimum deterioration stress data voltage mentioned above. I can.
다른 예로서, 3가지의 모니터링 픽셀(MP)이 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압을 인가받는 경우, 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압은, 일 예로, 위에서 언급된 최대 열화 스트레스 데이터 전압, 중간 열화 스트레스 데이터 전압 및 최소 열화 스트레스 데이터 전압일 수 있다. As another example, when the three monitoring pixels MP are applied with different deterioration stress data voltages, different deterioration stress data voltages may be, for example, the maximum deterioration stress data voltage, the intermediate deterioration stress data voltage, and It may be the minimum deterioration stress data voltage.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 높은 휘도 균일도(Uniformity)를 갖는 유기발광표시패널(110)과, 이를 포함하는 유기발광표시장치(100)를 제공할 수 있다. According to the exemplary embodiments described above, an organic light-emitting
또한, 본 실시예들에 의하면, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 불필요한 열화를 발생시키지 않으면서도, 비 액티브 영역(N/A)에 더미 픽셀로서 형성된 적어도 하나의 모니터렁 픽셀(MP)을 이용하여, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 추정할 수 있는 유기발광표시패널(110) 및 유기발광표시장치(100)를 제공할 수 있다. In addition, according to the present exemplary embodiments, at least one monitor rung pixel MP formed as a dummy pixel in the non-active area N/A without causing unnecessary deterioration of the pixel formed in the active area A/A. Using, an organic light emitting
또한, 본 실시예들에 의하면, 비 액티브 영역(N/A)에 더미 픽셀로서 형성된 둘 이상의 모니터렁 픽셀(MP)을 이용하여, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화 정도를 세밀하고 정확하게 추정할 수 있는 유기발광표시패널(110) 및 유기발광표시장치(100)를 제공할 수 있다. In addition, according to the present embodiments, by using two or more monitor rung pixels MP formed as dummy pixels in the non-active area N/A, the degree of deterioration of the pixel formed in the active area A/A can be detailed. An organic light emitting
또한, 본 실시예들에 의하면, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 그 어떠한 열화도 발생시키지 않으면서, 비 액티브 영역(N/A)에 더미 픽셀로서 형성된 적어도 하나의 모니터렁 픽셀(MP)을 이용하여, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화 정도를 간접적으로 센싱하고, 센싱 결과에 기초하여, 액티브 영역(A/A)에 형성된 픽셀의 열화에 따른 휘도 보상을 가능하게 하는 유기발광표시패널(110) 및 유기발광표시장치(100)를 제공할 수 있다. Further, according to the present exemplary embodiments, at least one monitor rung pixel MP formed as a dummy pixel in the non-active area N/A without causing any deterioration of the pixel formed in the active area A/A. ) To indirectly sense the degree of deterioration of the pixels formed in the active area (A/A) and, based on the sensing result, enable luminance compensation according to the deterioration of the pixels formed in the active area (A/A). An organic light emitting
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The description above and the accompanying drawings are merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains, combinations of configurations without departing from the essential characteristics of the present invention Various modifications and variations, such as separation, substitution, and alteration, will be possible. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but to explain the technical idea, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
100: 유기발광표시장치
110: 유기발광표시패널
120: 데이터 구동부
130: 게이트 구동부
140: 타이밍 컨트롤러
1210: 센싱 라인
1220, 1320: 센싱부
1310: 조도 센서
1230, 1330: 보상부100: organic light emitting display device
110: organic light emitting display panel
120: data driver
130: gate driver
140: timing controller
1210: sensing line
1220, 1320: sensing unit
1310: light sensor
1230, 1330: compensation unit
Claims (13)
상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부;
상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부; 및
상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되,
상기 유기발광표시패널의 상기 액티브 영역의 외곽에, 상기 제1방향 또는 상기 제2방향으로 픽셀 행 개수 또는 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀 또는 모니터링 픽셀 세트가 배치되어 있고,
상기 모니터링 픽셀 또는 상기 모니터링 픽셀 세트에 포함된 모니터링 서브픽셀들 각각에 배치된 유기발광다이오드의 휘도를 센싱하는 조도 센서;
상기 조도 센서에서 센싱된 휘도의 정보를 포함하는 센싱 데이터를 출력하는 센싱부; 및
상기 센싱 데이터를 기초로, 상기 액티브 영역에 배치된 상기 다수의 픽셀 각각을 구성하는 서브픽셀들 각각으로 공급되는 데이터가 변경되도록 휘도 보상 처리를 수행하는 보상부를 더 포함하는 유기발광표시장치. An organic light-emitting display panel in which a plurality of data lines are formed in a first direction, a plurality of gate lines are formed in a second direction, and a plurality of pixels are disposed in an active area;
A data driver driving the plurality of data lines;
A gate driver driving the plurality of gate lines; And
Including a timing controller for controlling the data driver and the gate driver,
Monitoring pixels or monitoring pixel sets as many as the number of pixel rows or pixel columns are arranged in the first direction or the second direction in the outer portion of the active area of the OLED display panel,
An illuminance sensor for sensing the luminance of the monitoring pixel or the organic light emitting diode disposed in each of the monitoring subpixels included in the monitoring pixel set;
A sensing unit that outputs sensing data including information on luminance sensed by the illuminance sensor; And
The organic light emitting display device further comprises a compensation unit configured to perform a luminance compensation process to change data supplied to each of the subpixels constituting each of the plurality of pixels disposed in the active area based on the sensing data.
상기 픽셀 행 개수 또는 상기 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀, 또는 상기 픽셀 행 개수 또는 상기 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀 세트 각각에 포함된 둘 이상의 모니터링 픽셀은, 매 프레임마다 주기적으로 구동되는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method of claim 1,
The monitoring pixels corresponding to the number of pixel rows or the number of pixel columns, or two or more monitoring pixels included in each of the monitoring pixel sets corresponding to the number of pixel rows or the number of pixel columns are periodically driven for each frame. Organic light-emitting display device.
상기 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들 또는 상기 모니터링 픽셀 세트에 포함된 3개의 모니터링 픽셀 각각을 구성하는 모니터링 서브픽셀들 각각에 형성된 회로 소자의 특정 노드와 개별적으로 연결되거나 공유되어 연결된 센싱 라인;
상기 센싱 라인을 통해 상기 특정 노드의 전압을 센싱하여 센싱 데이터를 출력하는 센싱부; 및
상기 센싱 데이터를 기초로, 상기 액티브 영역에 배치된 상기 다수의 픽셀 각각을 구성한 서브픽셀들 각각에 대한 휘도 보상 처리를 수행하는 보상부를 더 포함하는 유기발광표시장치.The method of claim 1,
A sensing line individually connected or shared and connected to a specific node of a circuit element formed in monitoring subpixels constituting each of the monitoring pixels or monitoring subpixels constituting each of three monitoring pixels included in the monitoring pixel set;
A sensing unit that senses the voltage of the specific node through the sensing line and outputs sensing data; And
An organic light emitting display device further comprising: a compensation unit configured to perform luminance compensation processing for each of subpixels constituting each of the plurality of pixels disposed in the active area based on the sensing data.
상기 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀 세트가 상기 제2방향으로 배치되고, 상기 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀 세트 각각에 3개의 모니터링 픽셀이 포함된 경우,
상기 3개의 모니터링 픽셀은 상기 제1방향으로 배치되는 최대 열화 모니터링 픽셀, 중간 열화 모니터링 픽셀 및 최소 열화 모니터링 픽셀로 이루어지고,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최대 데이터 전압이 상기 최대 열화 모니터링 픽셀로 공급되며,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들의 평균 데이터 전압이 상기 중간 열화 모니터링 픽셀로 공급되고,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최소 데이터 전압이 상기 최소 열화 모니터링 픽셀로 공급되는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method of claim 1,
When a set of monitoring pixels as many as the number of pixel columns is arranged in the second direction, and three monitoring pixels are included in each of the monitoring pixel sets as many as the number of pixel columns,
The three monitoring pixels are composed of a maximum deterioration monitoring pixel, an intermediate deterioration monitoring pixel, and a minimum deterioration monitoring pixel arranged in the first direction,
A maximum data voltage among data voltages supplied to pixels belonging to a pixel column in which the three monitoring pixels are arranged is supplied to the maximum degradation monitoring pixel,
An average data voltage of data voltages supplied to pixels belonging to a pixel column in which the three monitoring pixels are arranged is supplied to the intermediate deterioration monitoring pixel,
An organic light-emitting display device, wherein a minimum data voltage among data voltages supplied to pixels belonging to a pixel column in which the three monitoring pixels are arranged is supplied to the minimum degradation monitoring pixel.
상기 픽셀 행 개수만큼의 모니터링 픽셀 세트가 상기 제1방향으로 배치되고, 상기 픽셀 행 개수만큼의 모니터링 픽셀 세트 각각에 3개의 모니터링 픽셀이 포함된 경우,
상기 3개의 모니터링 픽셀은 상기 제2방향으로 배치되는 최대 열화 모니터링 픽셀, 중간 열화 모니터링 픽셀 및 최소 열화 모니터링 픽셀로 이루어지고,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최대 데이터 전압이 상기 최대 열화 모니터링 픽셀로 공급되며,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들의 평균 데이터 전압이 상기 중간 열화 모니터링 픽셀로 공급되고,
상기 3개의 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 최소 데이터 전압이 상기 최소 열화 모니터링 픽셀로 공급되는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method of claim 1,
When a set of monitoring pixels as many as the number of pixel rows are arranged in the first direction, and three monitoring pixels are included in each of the monitoring pixel sets as many as the number of pixel rows,
The three monitoring pixels are composed of a maximum deterioration monitoring pixel, an intermediate deterioration monitoring pixel, and a minimum deterioration monitoring pixel arranged in the second direction,
A maximum data voltage among data voltages supplied to pixels in a pixel row in which the three monitoring pixels are arranged is supplied to the maximum degradation monitoring pixel,
An average data voltage of data voltages supplied to pixels belonging to a pixel row in which the three monitoring pixels are arranged is supplied to the intermediate deterioration monitoring pixel,
An organic light-emitting display device, wherein a minimum data voltage among data voltages supplied to pixels belonging to a pixel row in which the three monitoring pixels are disposed is supplied to the minimum degradation monitoring pixel.
상기 픽셀 열 개수만큼의 모니터링 픽셀이 상기 제2방향으로 배치된 경우,
상기 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 하나와 대응되는 데이터 전압이 상기 모니터링 픽셀로 공급되거나,
상기 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 열에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 데이터 전압이 상기 모니터링 픽셀로 공급되는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method of claim 1,
When as many monitoring pixels as the number of pixel columns are arranged in the second direction,
A data voltage corresponding to one of data voltages supplied to pixels in a pixel column in which the monitoring pixel is arranged is supplied to the monitoring pixel, or
And a data voltage obtained by an average of data voltages supplied to pixels belonging to a pixel column in which the monitoring pixel is arranged is supplied to the monitoring pixel.
상기 픽셀 행 개수만큼의 모니터링 픽셀이 상기 제1방향으로 배치된 경우,
상기 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들 중 하나와 대응되는 데이터 전압이 상기 모니터링 픽셀로 공급되거나,
상기 모니터링 픽셀이 배치된 픽셀 행에 속한 픽셀들로 공급되는 데이터 전압들을 평균한 데이터 전압이 상기 모니터링 픽셀로 공급되는 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치. The method of claim 1,
When monitoring pixels as many as the number of pixel rows are arranged in the first direction,
A data voltage corresponding to one of data voltages supplied to pixels in a pixel row in which the monitoring pixel is arranged is supplied to the monitoring pixel, or
And a data voltage obtained by averaging data voltages supplied to pixels in a pixel row in which the monitoring pixel is disposed is supplied to the monitoring pixel.
상기 모니터링 픽셀 또는 상기 모니터링 픽셀 세트는,
대응되는 픽셀 행 또는 픽셀 열에 배치된 픽셀들의 열화 정도를 대변하는 열화 스트레스 데이터 전압이 누적되어 인가되는 더미 픽셀 또는 더미 픽셀 세트인 것을 특징으로 하는 유기발광표시장치.The method of claim 1,
The monitoring pixel or the monitoring pixel set,
An organic light emitting display device comprising: a dummy pixel or a set of dummy pixels to which a deterioration stress data voltage representing a degree of deterioration of pixels arranged in a corresponding pixel row or pixel column is accumulated and applied.
제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인;
액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀; 및
상기 액티브 영역의 외곽에, 적어도 하나의 더미 픽셀 행 또는 적어도 하나의 더미 픽셀 열이 배치되어 있고,
상기 적어도 하나의 더미 픽셀 행 또는 적어도 하나의 상기 더미 픽셀 열에 포함된 더미 픽셀에 포함되는 모니터링 서브픽셀들 각각에 배치된 유기발광다이오드의 휘도를 센싱하는 조도 센서를 더 포함하고,
상기 조도 센서에서 센싱된 휘도의 정보에 따라 데이터가 변경되어 상기 다수의 픽셀 각각을 구성하는 서브픽셀들로 공급되는 유기발광표시패널. A plurality of data lines formed in the first direction;
A plurality of gate lines formed in the second direction;
A plurality of pixels disposed in the active area; And
At least one dummy pixel row or at least one dummy pixel column is disposed outside the active region,
Further comprising an illuminance sensor for sensing the luminance of the organic light emitting diode disposed in each of the monitoring subpixels included in the dummy pixel included in the at least one dummy pixel row or the at least one dummy pixel column,
An organic light-emitting display panel wherein data is changed according to information on luminance sensed by the illuminance sensor and supplied to subpixels constituting each of the plurality of pixels.
제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인;
액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀; 및
상기 액티브 영역의 외곽에 적어도 하나의 더미 픽셀을 포함하되,
상기 적어도 하나의 더미 픽셀에는 열화 스트레스 데이터 전압이 인가되고,
상기 적어도 하나의 더미 픽셀에 포함되는 모니터링 서브픽셀들 각각에 배치된 유기발광다이오드의 휘도를 센싱하는 조도 센서를 더 포함하고,
상기 조도 센서에서 센싱된 휘도의 정보에 따라 데이터가 변경되어 상기 다수의 픽셀 각각을 구성하는 서브픽셀들로 공급되는 유기발광표시장치.A plurality of data lines formed in the first direction;
A plurality of gate lines formed in the second direction;
A plurality of pixels disposed in the active area; And
Including at least one dummy pixel outside the active area,
A deterioration stress data voltage is applied to the at least one dummy pixel,
Further comprising an illuminance sensor for sensing the luminance of the organic light emitting diode disposed in each of the monitoring subpixels included in the at least one dummy pixel,
An organic light-emitting display device wherein data is changed according to information on luminance sensed by the illuminance sensor and supplied to subpixels constituting each of the plurality of pixels.
제2방향으로 형성된 다수의 게이트 라인;
액티브 영역에 배치된 다수의 픽셀; 및
상기 액티브 영역의 외곽에 둘 이상의 더미 픽셀을 포함하되,
상기 둘 이상의 더미 픽셀에는 서로 다른 열화 스트레스 데이터 전압이 인가되고,
상기 둘 이상의 더미 픽셀 각각에 포함되는 모니터링 서브픽셀들 각각에 배치된 유기발광다이오드의 휘도를 센싱하는 조도 센서를 더 포함하고,
상기 조도 센서에서 센싱된 휘도의 정보에 따라 데이터가 변경되어 상기 다수의 픽셀 각각을 구성하는 서브픽셀들로 공급되는 유기발광표시장치.A plurality of data lines formed in the first direction;
A plurality of gate lines formed in the second direction;
A plurality of pixels disposed in the active area; And
Including two or more dummy pixels outside the active area,
Different deterioration stress data voltages are applied to the two or more dummy pixels,
Further comprising an illumination sensor for sensing the luminance of the organic light emitting diode disposed in each of the monitoring subpixels included in each of the two or more dummy pixels,
An organic light-emitting display device wherein data is changed according to information on luminance sensed by the illuminance sensor and supplied to subpixels constituting each of the plurality of pixels.
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