KR101988778B1 - Copper foil for printed wiring board, and copper-clad laminated board - Google Patents
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Abstract
과제
회로 패턴 형성 후의 시인성이 양호하고, 상태 박리강도가 높고 또한 내열 박리강도가 고수준으로 유지되는 배선판용 동박 및 구리 피복 적층판을 제공한다.
해결수단
동박의 적어도 일 표면에 산술 평균 높이가 0.05~0.5 ㎛인 조화 입자로 이루어지는 조화 입자층을 갖고, 상기 조화 입자층 상에, 적어도 니켈과 아연을 포함하고, 아연의 상기 조화 입자층으로의 부착량에 대한 니켈의 상기 조화 입자층으로의 부착량의 비율(질량비)이 0.5~20의 범위 내인 확산 방지 피복을 갖는 동박으로서, 상기 일 표면 측에서 측정한 파장 600 nm에서의 확산 반사율(Rd)이 5~50%의 범위 내 및 채도(C*)가 30 이하인 동박과 구리 피복 적층판, 및 특정한 동해 방지제를 포함하는 폴리이미드 수지층을 해당 동박의 상기 일 표면 측에 갖는 구리 피복 적층판. assignment
A copper foil for a wiring board and a copper clad laminate having good visibility after formation of a circuit pattern, high state peel strength, and high heat peel strength can be provided.
Solution
Wherein at least one surface of the copper foil has a roughening particle layer composed of roughened particles having an arithmetic mean height of 0.05 to 0.5 mu m and the roughening particle layer contains at least nickel and zinc, (Mass ratio) of the adhesion amount to the above-mentioned roughening particle layer is in the range of 0.5 to 20, wherein the copper foil having a diffusion reflectance (R d ) at a wavelength of 600 nm measured at the one surface side is 5 to 50% A copper clad laminate having a copper foil and a copper clad laminate within a range and chroma (C *) of 30 or less, and a polyimide resin layer containing a specific anti-corrosive agent on the one surface side of the copper foil.
Description
본 발명은 배선판용 동박(銅箔) 및 구리 피복 적층판(copper-clad laminate)에 관한 것이며, 보다 상세하게는 수지 밀착성과 회로 패턴 형성 후의 수지 투과 시인성(視認性)이 뛰어난 배선판용 구리 피복 적층판 및 이것에 사용하는 동박에 관한 것이다.The present invention relates to a copper foil and a copper-clad laminate for a wiring board, and more particularly to a copper-clad laminate for a wiring board which is excellent in resin adhesion and resin permeability after formation of a circuit pattern (visibility) The present invention relates to a copper foil to be used for this.
각종 전자기기류에서 기판이나 접속 재료로서 배선판이 이용되고 있으며, 배선판의 도전층에는 동박이 일반적으로 사용되고 있다.BACKGROUND ART [0002] A wiring board is used as a substrate or a connecting material in various electronic devices, and a copper foil is generally used for a conductive layer of a wiring board.
상기 배선판에 채용되는 동박은 일반적으로 압연 동박 또는 전해 동박의 형태로 공급된다.The copper foil used for the wiring board is generally supplied in the form of a rolled copper foil or an electrolytic copper foil.
배선판은 일반적으로는 전해 동박 등의 동박과 폴리이미드 등의 수지 필름을 맞붙이고 에칭으로 회로 패턴을 형성한다. 회로 패턴이 형성된 배선판은 그 후의 실장공정에서는 회로 패턴 형성 시에 동박을 에칭하여 제거한 곳의 수지 필름을 투과하여 얼라인먼트 마크 등을 카메라로 인식하여 위치 결정을 실행하는 경우가 있다. 이 때문에 이 수지 필름을 투과한 빛이 확산하지 않고 명료하게 카메라로 인식 가능한 수지 투과 시인성을 갖는 것이 요구된다. 본 명세서에서는 이하, 이 수지 투과 시인성을 간단히 「시인성」으로 표현한다.In general, a copper foil such as an electrolytic copper foil and a resin film such as polyimide are bonded to a wiring board to form a circuit pattern by etching. The wiring board on which the circuit pattern is formed may be subjected to the positioning by recognizing the alignment mark or the like with the camera by passing the resin film where the copper foil is etched and removed at the subsequent mounting step. For this reason, it is required that the light transmitted through the resin film does not diffuse and that the resin transparent visibility is clearly recognizable by a camera. Hereinafter, this resin transparency visibility is expressed simply as " visibility ".
수지 필름의 시인성은 일반적으로 헤이즈 값(연무값)으로 표현된다. 수지 필름의 전 광선 투과율(Tt), 확산 투과율(Td)에 대한 헤이즈 값은 하기 식The visibility of the resin film is generally expressed by a haze value (haze value). The haze value of the resin film relative to the total light transmittance (T t ) and the diffusion transmittance (T d )
(Td/Tt)×100(%)(T d / T t ) × 100 (%)
로 나타낸다. 이 값이 작을수록 시인성이 높다. 시인성의 평가에는 일반적으로 파장 600 nm의 헤이즈 값이 채용된다.Respectively. The smaller this value is, the higher the visibility is. For the evaluation of the visibility, a haze value of a wavelength of 600 nm is generally employed.
수지 필름의 종류가 동일하면 수지 필름의 헤이즈 값은 표면 형상에 좌우된다. 표면이 거칠면 확산 투과 성분이 커지고 헤이즈 값은 높아지므로, 시인성을 높이기 위해서는 표면을 어느 정도는 평활하게 할 필요가 있다.If the types of the resin films are the same, the haze value of the resin film depends on the surface shape. If the surface is rough, the diffuse transmission component becomes large and the haze value becomes high. Therefore, in order to improve the visibility, it is necessary to make the surface smooth to some extent.
또한 수지 필름의 표면 형상은 맞붙인 동박의 표면 형상을 전사한다. 따라서 평활한 수지 표면을 얻기 위해서는 평활한 동박을 사용하는 것이 필요해진다.Further, the surface shape of the resin film transfers the surface shape of the mated copper foil. Therefore, in order to obtain a smooth resin surface, it is necessary to use a smooth copper foil.
한편, 배선판으로서의 사용에 대해서는 수지 필름과 동박의 밀착성이 요구된다. 밀착성 향상을 위해서는 동박 표면을 거칠게 하여 접촉 표면적의 증대 및 앵커 효과를 이용하는 일이 많다. 따라서 밀착성의 향상은 한편으로 시인성의 악화로 이어지고, 수지 밀착성과 시인성의 양립은 곤란한 것으로 되어 있다.On the other hand, for use as a wiring board, adhesion between the resin film and the copper foil is required. In order to improve the adhesion, the surface of the copper foil is roughened to increase the contact surface area and often use an anchor effect. Therefore, the improvement of the adhesion leads to the deterioration of the visibility on the one hand, and the compatibility between the resin adhesion and the visibility becomes difficult.
동박 표면을 거칠게 하는 방법(조화 처리)으로는 동박 상에 입상 구리 도금을 실시하는(조화 도금) 것이 일반적이다. 이 외에 에칭으로 표면을 거칠게 하는 방법, 구리 이외의 금속 또는 합금 도금으로 조화 도금을 실시하는 방법이 이용된다.As a method of roughening the copper foil surface (roughening treatment), it is general that the copper foil is subjected to particulate copper plating (harmonious plating). In addition, a method of roughening the surface by etching, a method of performing plating by plating with a metal or alloy plating other than copper is used.
특허문헌 1은 구리의 조화 도금을 2종류 실시함으로써, 1차 조화 입자 위에 보다 작은 2차 조화 입자를 석출시킴으로써 수지와의 접착력을 높인 전해 동박을 개시하고 있다. 그러나 이 전해 동박은 표면이 지나치게 거칠어져 있기 때문에 밀착성은 우수하지만 시인성이 낮고, 또한 개량의 여지가 있다.
특허문헌 2는 특수한 열 압착으로 얻어지는 다층 폴리이미드 필름을 평활한 동박에 특수한 조건으로 열 압착한 구리 피복 적층판을 개시하고 있다. 그러나 이 구리 피복 적층판으로는 수지의 구성 및 구리 피복 적층판의 제법에 제약이 많고, 어떤 특정한 조건에서만 실현 가능한 내용이라고 할 수 있다.
또한 동박과 수지 필름 밀착성에 관하여, 특히 플렉시블 프린트 배선 기판(FPC)의 기재로서 이용되는 폴리이미드 수지와의 밀착성에 관해서는 동박과 폴리이미드 수지를 적층한 직후의 밀착강도(이후, 상태(常態) 박리강도라고 칭함) 이외에 장기 신뢰성의 관점에서 장시간의 열 부하를 가한 후의 박리강도(이후, 내열 박리강도라고 칭함)도 중요하다.With respect to the adhesion between the copper foil and the resin film, in particular, the adhesiveness with the polyimide resin used as the substrate of the flexible printed wiring board (FPC) (Hereinafter referred to as heat peel strength) after the heat load is applied for a long period of time from the viewpoint of long-term reliability.
폴리이미드 수지를 기재로 한 프린트 배선판의 내열 박리강도는 150℃의 대기 분위기 하에서 1000시간의 열 부하를 가한 후에 측정되는 것이 일반적이다.The heat-resisting peel strength of a printed wiring board based on a polyimide resin is generally measured after a heat load of 1000 hours is applied in an air atmosphere at 150 캜.
상기의 조건에서의 열 부하를 프린트 배선판에 가하고 있는 도중에 동박 표면의 구리 원자가 구리 이온이 되고, 이것이 고분자 수지를 분해하는 현상(이후, 동해(銅害)라고 칭함)이 발생한다. 따라서 일반적으로 내열 박리강도는 상태 박리강도와 비교하여 낮다.Copper atoms on the surface of the copper foil become copper ions during the application of the heat load under the above conditions to the printed wiring board and this causes a phenomenon of decomposing the polymer resin (hereinafter referred to as copper harm). Therefore, generally, the heat peel strength is low as compared with the state peel strength.
내열 박리강도의 향상에는 상술한 조화에 의한 앵커 효과를 향상시키는 수단이 있다. 그러나 조화 입자를 지나치게 크게 하면 시인성이 저하하므로, 앵커 효과의 향상만으로 내열 박리강도를 향상시키는 것에는 한계가 있다.In order to improve the heat peeling strength, there is a means for improving the anchor effect by the above-mentioned harmony. However, if the coarsened particles are excessively large, the visibility is lowered. Therefore, there is a limit to improving the heat peeling strength only by improving the anchor effect.
조화에 의한 앵커 효과 향상 이외에 특허문헌 3과 같이 조화 처리(조화 도금)를 실시하지 않은 평활한 동박 표면에 니켈 및 아연으로 이루어지는 구리 이외의 이종(異種) 금속 원자층(이후, 확산 방지층이라고 칭함)을 형성하여 구리의 열 확산에 의한 수지의 열화를 방지하며, 박리강도의 향상을 실행하는 것이 알려져 있다. 이 수법만으로는, 150℃에서 50시간이라는 낮은 열 이력으로는 박리강도가 어느 일정 이상의 값이 유지된다. 그러나 동박이 평활한 탓에 앵커 효과는 거의 얻을 수 없으므로, 150℃에서 1000시간이라는 고열 부하의 시험 후에 박리강도를 고수준으로 유지하는 것은 곤란하다. 또한 특허문헌 3에서는 니켈 및 아연을 많이 부착시켜 처리하는 것이고, 동박의 에칭성이 희생된다. 덧붙여 니켈 및 아연의 처리에 이용하는 도금액으로부터의 금속 성분의 반출량이 많아지고 제조 비용의 면에서 봐도 불리해진다.In addition to the enhancement of the anchor effect by harmony, a heterogeneous metal atom layer (hereinafter referred to as a diffusion preventing layer) other than copper made of nickel and zinc is formed on the surface of a smooth copper foil which is not subjected to harmonization treatment (harmonious plating) To prevent deterioration of the resin due to thermal diffusion of copper, and to improve the peel strength. With this method alone, the peel strength is maintained at a certain value or more with a low thermal history of 50 hours at 150 ° C. However, since the copper foil is smooth, an anchor effect can hardly be obtained. Therefore, it is difficult to maintain the peel strength at a high level after a test with a high heat load of 150 hours at a temperature of 150 占 폚. Further, in Patent Document 3, nickel and zinc are adhered to a large extent, and the etching property of the copper foil is sacrificed. In addition, the removal amount of the metal component from the plating solution used for the treatment of nickel and zinc increases, which is disadvantageous in view of the manufacturing cost.
내열시험 중의 수지에 대한 동해를 방지하기 위해 동해 방지제를 수지 중에 첨가하는 수법이 있다. 동해 방지제에 의해 구리 이온을 킬레이트화 함으로써, 구리 이온을 불활성화하고, 과산화물이 접촉 분해하여 옥시 라디칼을 발생시키는 것을 억제할 수 있다. 즉, 동해 방지제의 첨가에 의해 고분자 재료가 산화 열화하는 것을 억제할 수 있다. 구체적으로는, 동해 방지제로서는 옥살산 유도체, 살리실산 유도체, 하이드라지드 유도체, 벤조트리아졸 등을 들 수 있다.There is a method of adding an antifungal agent to the resin in order to prevent frost damage to the resin during the heat resistance test. By chelating copper ions by an antidise agent, it is possible to inhibit the copper ions from being inactivated and the peroxides to catalytically decompose to generate oxy radicals. That is, oxidation deterioration of the polymer material can be suppressed by the addition of the anti-shudder agent. Specifically, examples of the antifouling agent include oxalic acid derivatives, salicylic acid derivatives, hydrazide derivatives, benzotriazole, and the like.
그러나 표면 요철이 작고 시인성이 우수한 동박을 이용한 FPC에서, FPC의 내열시험조건인 150℃에서 1000시간이라는 엄격한 열 부하로는 동해 방지제의 첨가만으로 내열 박리강도의 열화를 방지하는 것이 곤란하다.However, it is difficult to prevent the deterioration of the heat peel strength by the addition of the anti-freezing agent only in the FPC using the copper foil having a small surface unevenness and excellent visibility with strict heat load of 150 hours at the temperature of 150 占 폚, which is the heat resistance test condition of the FPC.
본 발명은 회로 패턴 형성 후의 시인성이 양호하고, 상태 박리강도가 높고 또한 내열 박리강도가 고수준으로 유지되는 배선판용 동박 및 구리 피복 적층판을 제공하는 것을 과제로 한다.An object of the present invention is to provide a copper foil for a wiring board and a copper clad laminate which have good visibility after formation of a circuit pattern, have a high state peel strength and a high heat-resisting peel strength.
본 발명자들은 동박의 일 표면에 시인성을 저하시키지 않는 범위의 요철 높이를 갖는 조화 처리를 실행하여 특정한 입자 높이의 조화 입자층을 형성함과 동시에, 상기 표면에, 적어도 니켈 및 아연을 포함하여 구성되는 특정 니켈/아연 부착량 비의 확산 방지 피복을 갖고, 또한 조화 처리를 실시한 동박의 상기 일 표면 측의 확산 반사율 및 채도를 소정 범위로 제어함으로써 고내열 박리강도와 고시인성이 실현되는 것을 발견했다. 여기서 확산 반사율이란 물체 표면에 입사한 광속(光束)에 대한 확산 반사(난반사)한 광속의 비율을 말하고, 물체 표면의 요철의 정도를 판정하는 지표가 된다. 또한 채도란 색의 3속성 중 하나로, 색의 선명함의 척도이다. 또한 본 발명자들은 절연층으로서 사용되는 폴리이미드 수지층에 옥살산 유도체, 살리실산 유도체, 하이드라지드 유도체, 트리아졸류에서 선택되는 적어도 1종류 이상의 동해 방지제를 함유시킴으로써, 내열 박리강도가 한층 더 향상된 완전히 새로운 구리 피복 적층판이 얻어지는 것을 발견했다. 본 발명은 이러한 발견에 근거하여 완성하기에 이른 것이다.The inventors of the present invention conducted a harmonization treatment having a concavo-convex height within a range that does not deteriorate visibility on one surface of a copper foil to form a coarse particle layer having a specific particle height and to form a coarse particle layer having a specific particle height of at least nickel and zinc It has been found that high heat resistance peel strength and high toughness can be realized by controlling the diffusion reflectance and chroma of the one surface side of the copper foil having the diffusion preventing coating of nickel / zinc adhesion ratio and the roughened treatment to a predetermined range. Here, the diffuse reflectance refers to the ratio of the diffuse reflection (diffuse reflection) of the light flux (light flux) incident on the surface of the object, and is an index for determining the degree of irregularity of the surface of the object. Saturation is also one of the three properties of color, a measure of the clarity of color. The present inventors have also found that the polyimide resin layer used as the insulating layer contains at least one anti-corrosion agent selected from an oxalic acid derivative, a salicylic acid derivative, a hydrazide derivative, and triazole in an entirely new copper It was found that a clad laminate was obtained. The present invention has been completed based on this finding.
즉, 본 발명에 의하면 이하의 수단이 제공된다.That is, according to the present invention, the following means are provided.
(1) 동박의 적어도 일 표면에 산술 평균 높이가 0.05~0.5 ㎛인 조화 입자로 이루어지는 조화 입자층을 갖고, 상기 조화 입자층 상에, 적어도 니켈과 아연을 포함하고, 아연의 상기 조화 입자층(표면)으로의 부착량에 대한 니켈의 상기 조화 입자층으로의 부착량의 비율(질량비)이 0.5~20의 범위 내인 확산 방지 피복을 갖는 동박으로서, 상기 일 표면 측에서 측정한 파장 600 nm에서의 확산 반사율(Rd)이 5~50%의 범위 내 및 채도(C*)가 30 이하인 것을 특징으로 하는 동박.(1) A copper foil having a roughening particle layer composed of roughening particles having an arithmetic average height of 0.05 to 0.5 탆 on at least one surface of a copper foil and having at least nickel and zinc on the roughening particle layer, Wherein a ratio (mass ratio) of the amount of nickel adhering to the roughening particle layer to the amount of nickel adhering to the surface of the copper foil is in the range of 0.5 to 20. The copper foil has a diffuse reflectance R d at a wavelength of 600 nm, Is in the range of 5 to 50% and the chroma (C *) is 30 or less.
(2) (1)항에 기재된 동박을 갖는 것을 특징으로 하는 구리 피복 적층판.(2) A copper clad laminate having the copper foil according to (1).
(3) 옥살산 유도체, 살리실산 유도체, 하이드라지드 유도체 및 트리아졸류에서 선택되는 적어도 1종류 이상의 동해 방지제를 포함하는 폴리이미드 수지층을 (1)항에 기재한 동박의 상기 일 표면 측에 갖는 구리 피복 적층판.(3) A polyimide resin layer comprising at least one kind of anti-corrosive agent selected from an oxalic acid derivative, a salicylic acid derivative, a hydrazide derivative and triazole, is coated on a surface of the copper foil of the copper foil according to (1) Laminates.
본 발명에 의해 회로 패턴 형성 후의 시인성과 수지 밀착성의 양자가 뛰어난 프린트 배선판용 동박 및 구리 피복 적층판을 제공하는 것이 가능하다.It is possible to provide a copper foil for a printed wiring board and a copper clad laminated board excellent in both visibility and resin adhesion after formation of a circuit pattern by the present invention.
도 1은 본 발명에 따른 조화 입자 높이의 측정법을 설명하는 도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view for explaining a method of measuring the height of a coarse particle according to the present invention. Fig.
본 발명의 동박은 그의 적어도 일 표면에 산술 평균 높이가 0.05~0.5 ㎛인 조화 입자로 이루어지는 조화 입자층을 가짐과 동시에, 상기 조화 입자층 상에, 적어도 니켈과 아연을 포함하고, 아연의 표면으로의 부착량에 대한 니켈의 표면으로의 부착량의 비율(질량비)이 0.5~20의 범위 내의 확산 방지 피복을 갖는 동박으로서, 상기 일 표면 측에서 측정한 파장 600 nm에서의 확산 반사율(Rd)이 5~50%의 범위 내 및 채도(C*)가 30 이하인 것을 특징으로 한다.The copper foil of the present invention has at least one surface thereof with a roughened particle layer composed of roughened particles having an arithmetic average height of 0.05 to 0.5 탆 and at least nickel and zinc on the roughening particle layer, (Mass ratio) of nickel to the surface of nickel is in the range of 0.5 to 20, wherein a diffuse reflectance (R d ) at a wavelength of 600 nm measured at the one surface side is 5 to 50 % And a chroma (C *) of 30 or less.
본 발명의 동박은 프린트 배선판에 적합하게 이용할 수 있다.The copper foil of the present invention can be suitably used for a printed wiring board.
수지 필름의 전 광선 투과율은 수지의 종류 및 두께에 의해 대략 결정되고, 수지 표면 형상에 의해 조금은 변화하지만 그 변화 정도는 작다. 따라서 시인성을 평가하는 헤이즈 값은 확산 투과율에 크게 영향받는다. 수지의 확산 투과율은 그 표면 형상에 크게 영향받는다. 수지의 표면 형상은 동박의 표면 형상을 전사한 것이 된다. 따라서 동박의 형상이 수지의 확산 투과율에 크게 영향을 준다.The total light transmittance of the resin film is roughly determined by the type and thickness of the resin, and varies slightly depending on the resin surface shape, but the degree of change is small. Therefore, the haze value for evaluating the visibility is greatly influenced by the diffusion transmittance. The diffusion transmittance of the resin is greatly influenced by its surface shape. The surface shape of the resin is the surface shape of the copper foil transferred. Therefore, the shape of the copper foil greatly affects the diffusion transmittance of the resin.
동박 표면의 파장 600 nm에서의 확산 반사율이 50%보다 크면 전사된 표면 형상을 갖는 수지는 확산 투과율이 상승하고 밀착력은 뛰어나지만 시인성이 나빠진다. 한편 확산 반사율이 5%보다 작으면 극히 양호한 광택을 갖는 동박 표면이 되지만, 지나치게 평활하기 때문에 시인성은 우수하나 수지와의 밀착성은 저하한다.If the diffuse reflectance of the surface of the copper foil at a wavelength of 600 nm is greater than 50%, the resin having the transferred surface shape increases in diffuse transmittance and adheres well but visibility deteriorates. On the other hand, if the diffuse reflectance is less than 5%, the surface of the copper foil having an extremely good gloss is obtained, but since it is excessively smooth, the visibility is excellent but the adhesion with the resin is deteriorated.
색을, 명도 지수 L*와 크로마네틱스 지수 a*, b*로 이루어지는 균등 색공간 상의 좌표로 나타낸, CIE L*a*b* 표색계에서 채도(C*)는 식(1)으로 산출된다. 채도가 낮을수록 회색 표면이 된다. 채도가 높은 표면은 반사율이 파장에 따라 크게 상이하고, 반대로 채도가 낮은 표면은 분광 반사율이 평탄하다.(C *) is calculated by the formula (1) in the CIE L * a * b * color system represented by the coordinates on the uniform color space consisting of the luminosity index L * and the chromaticity index a *, b *. The lower the saturation, the grayer the surface. The reflectance of a highly saturated surface differs greatly depending on the wavelength. On the other hand, a surface having a low saturation has a flat spectral reflectance.
식(1)Equation (1)
동박 표면의 색상은 표면 처리에 따라 크게 상이하다. 그러나 헤이즈 값은 일반적으로 파장 600 nm의 값을 평가에 사용한다.The color of the copper foil surface varies greatly depending on the surface treatment. However, the haze value is generally used for the evaluation of the wavelength of 600 nm.
헤이즈 값의 평가가 일반적으로 파장 600 nm의 값을 채용하는 것에 주목한 본 발명자들은 채도(C*)가 30 이상, 다시 말해 채도가 낮음으로써 어떤 색상의 표면에서도 파장 600 nm의 반사율은 일정 이상으로 유지되고, 이러한 표면을 갖는 동박은 표면을 전사한 수지 필름의 시인성이 뛰어난 것을 발견했다.Note that the evaluation of the haze value generally adopts a value of a wavelength of 600 nm, the inventors of the present invention have found that the reflectance at a wavelength of 600 nm is higher than a certain level on a surface of any color by having a saturation (C *) of 30 or more And that the copper foil having such a surface has excellent visibility of the resin film on which the surface is transferred.
또한 동박의 표면에서 시인성이 결정되므로, 수지의 종류, 수지의 제법, 배선판의 제법 등에 좌우되기 어려운 것을 발견했다.Further, since the visibility is determined on the surface of the copper foil, it has been found that it is difficult to depend on the type of resin, the method of producing resin, and the method of producing a wiring board.
본 발명의 프린트 배선판에 이용하는 동박은 폴리이미드 수지로 이루어지는 절연층과 접하는 측의 동박의 적어도 일 표면 상에 형성된 조화 처리층에 있어서의 조화 입자의 산술 평균 높이가 0.05 ㎛~0.5 ㎛이다. 0.05 ㎛보다 낮으면 초기 박리강도 및 내열 박리강도가 저하한다. 0.5 ㎛보다 높으면 시인성이 저하한다.In the copper foil used for the printed wiring board of the present invention, the arithmetic average height of the coarsened particles in the coarsened layer formed on at least one surface of the copper foil in contact with the insulating layer made of polyimide resin is 0.05 mu m to 0.5 mu m. If it is lower than 0.05 탆, the initial peel strength and the heat peel strength are lowered. If it is higher than 0.5 占 퐉, the visibility is lowered.
조화 처리층의 형태를 종합하면 표 1과 같이 된다.The shape of the harmonized layer is summarized in Table 1.
본 발명에서 규정하는 동박의 단면 형상은 표 1의 형상 1에 상당한다.The cross-sectional shape of the copper foil specified in the present invention corresponds to the
이것에 대하여 형상 2~5는 본 발명의 규정 범위 외의 형상을 나타낸다.On the contrary, shapes 2 to 5 show shapes outside the range defined by the present invention.
형상 2와 같이 조화 입자 높이가 형상 1과 동일한 범위여도 최표면(最表面)이 완만해지면 확산 반사율 및 채도는 본 발명의 규정을 초과한다. 덧붙여 표면 요철에 의한 앵커 효과가 적으므로 밀착성이 저하한다.Even if the height of the harmonic particle is the same as that of the
형상 3과 같이 조화 입자 높이가 형상 1과 동일한 범위여도 조화 입자가 세밀해지면 확산 반사율이 본 발명의 규정 미만이 된다. 시인성은 좋지만 조화 입자가 탈락하기 쉬워지고 (조화 입자가 밑동에서 부러지기 쉬워지기 때문에) 밀착성이 저하한다.Even if the height of the roughened particle is the same as that of the
형상 4와 같이 조화 입자 높이가 높으면 확산 반사율 및 채도가 본 발명의 규정을 초과한다. 조화 입자가 크므로 앵커 효과가 커서 밀착성은 만족하지만, 동박 에칭 후의 수지의 시인성은 나빠진다.When the height of the roughening particle is high as in the shape 4, the diffuse reflectance and the saturation exceed the specification of the present invention. Since the coarsened particles are large, the anchoring effect is large and the adhesion is satisfied, but the visibility of the resin after the copper foil etching is deteriorated.
형상 5와 같이 조화 입자 높이가 작으면 확산 반사율이 본 발명의 규정 미만이 된다. 요철이 작은 만큼 앵커 효과가 적으므로 밀착성이 저하한다.If the height of the roughened particle is small as in the shape 5, the diffuse reflectance becomes less than the specification of the present invention. As the unevenness is small, the anchor effect is small, so the adhesion is reduced.
[표 1][Table 1]
본 발명의 프린트 배선판에 이용하는 동박은 폴리이미드 수지로 이루어지는 절연층과 접하는 측의 동박 표면 상에, 적어도 니켈 및 아연을 포함하여 구성되고, 또한 아연의 표면으로의 부착량에 대한 니켈의 표면으로의 부착량의 비율(Ni/Zn의 질량비)이 0.5~20의 범위 내인 확산 방지 피복을 갖는다. 부착량 비가 20보다 높으면 동박을 에칭할 때의 장애가 되어 배선의 단락(短絡)을 발생시킨다. 부착량 비가 0.5보다 낮으면 구리의 확산을 방지하는 효과가 저하하여 내열 박리강도의 저하를 초래한다.The copper foil used in the printed wiring board of the present invention comprises at least nickel and zinc on the surface of the copper foil on the side in contact with the insulating layer made of polyimide resin and has an adhesion amount to the surface of nickel (The mass ratio of Ni / Zn) is in the range of 0.5 to 20. If the deposition rate is higher than 20, the copper foil will become an obstacle when etching the copper foil, resulting in a short circuit of the wiring. If the coating weight ratio is lower than 0.5, the effect of preventing the diffusion of copper is lowered and the heat peeling strength is lowered.
여기서 상기 확산 방지 피복은 동박의 상기 표면의 전면(全面)에 실행해도 되고, 혹은 그 일부에 실행해도 된다. 상기 동박 표면의 일부를 확산 방지 피복하는 경우는 피복율이 50% 이상인 것이 바람직하다. 여기서 피복율이란 동박의 상기 표면의 전면적을 100%로 한 경우의 피복 면적의 비율을 말한다.Here, the diffusion preventing coating may be performed on the entire surface of the surface of the copper foil, or on a part thereof. When a part of the surface of the copper foil is coated with a diffusion preventing agent, it is preferable that the coating rate is 50% or more. Here, the coating rate refers to the ratio of the coated area when the overall area of the surface of the copper foil is 100%.
동박에 적층하는 폴리이미드 수지로서는 시판 폴리이미드 필름을 그대로 사용하는 것도 가능하다. 절연층으로서의 폴리이미드 수지층의 두께나 물성을 컨트롤하기 쉬운 관점에서는 폴리아미드산 용액을 동박 상에 직접 도포한 후, 열 처리에 의해 건조 및 경화하는 이른바 캐스트(도포)법에 의해 생성시킨 폴리이미드 수지가 바람직하다. 폴리이미드 수지는 단일층으로 형성되는 것도 좋다. 폴리이미드 수지와 동박의 접착성 등을 고려하면 복수 층으로 이루어지는 폴리이미드 수지층으로 하는 것이 바람직하다. 폴리이미드 수지층을 복수 층으로 하는 경우, 어떤 폴리아미드산 용액 상에 상이한 구성 성분으로 이루어지는 폴리아미드산 용액을 순차적으로 도포하여 형성할 수 있다.As the polyimide resin laminated on the copper foil, a commercially available polyimide film can be used as it is. From the viewpoint of easy control of the thickness and physical properties of the polyimide resin layer as the insulating layer, polyimide produced by a so-called cast (coating) method in which a polyamic acid solution is directly applied on a copper foil and then dried and cured by heat treatment Resins are preferred. The polyimide resin may be formed as a single layer. Considering the adhesion of the polyimide resin and the copper foil, it is preferable to form a polyimide resin layer composed of a plurality of layers. When the polyimide resin layer is composed of a plurality of layers, it is possible to form the polyamic acid solution by sequentially applying a polyamic acid solution composed of different constituent components.
상기 폴리이미드 수지의 전구체인 폴리아미드산 용액은 상법(常法)에 따라 임의의 디아민과 임의의 산 2무수물(酸二無水物)을 용매의 존재 하에서 중합하여 제조할 수 있다. 이 용매로서는 상법에 따라 임의의 용매를 이용하는 것이 가능하다.The polyamic acid solution which is a precursor of the polyimide resin can be prepared by polymerizing an optional diamine and an optional acid dianhydride (acid dianhydride) in the presence of a solvent according to a conventional method. As this solvent, any solvent can be used in accordance with the conventional method.
폴리이미드 수지의 원료로서 이용되는 디아민으로서는, 예를 들어, 4,6-디메틸-m-페닐렌디아민, 2,5-디메틸-p-페닐렌디아민, 2,4-디아미노메시틸렌, 4, 4'-메틸렌디-o-톨루이딘, 4,4'-메틸렌디-2,6-크실리딘, 4,4'-메틸렌-2,6-디에틸아닐린, 2,4-톨루엔디아민, m-페닐렌디아민, p-페닐렌디아민, 4,4'-디아미노디페닐프로판, 3,3'-디아미노디페닐프로판, 4,4'-디아미노디페닐에탄, 3,3'-디아미노디페닐에탄, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐메탄, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판, 4,4'-디아미노디페닐설파이드, 3,3'-디아미노디페닐설파이드, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 3,3'-디아미노디페닐설폰, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디아미노디페닐에테르, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 벤지딘, 3,3'-디아미노비페닐, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디메톡시벤지딘, 4,4'-디아미노-p-테르페닐, 3,3'-디아미노-p-테르페닐, 비스(p-아미노사이클로헥실)메탄, 비스(p-β-아미노-t-부틸페닐)에테르, 비스(p-β-메틸-δ-아미노펜틸)벤젠, p-비스(2-메틸-4-아미노펜틸)벤젠, p-비스(1,1-디메틸-5-아미노펜틸)벤젠, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌, 2,4-비스(β-아미노-t-부틸)톨루엔, 2,4-디아미노톨루엔, m-크실렌-2,5-디아민, p-크실렌-2,5-디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 2,6-디아미노피리딘, 2,5-디아미노피리딘, 2,5-디아미노-1,3,4-옥사디아졸, 피페라진, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,7-디아미노디벤조푸란, 1,5-디아미노플루오렌, 디벤조-p-다이옥신-2,7-디아민, 4,4'-디아미노벤질 등을 들 수 있다.Examples of the diamine used as a raw material of the polyimide resin include 4,6-dimethyl-m-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-p-phenylenediamine, 2,4- Methylene di-o-toluidine, 4,4'-methylene di-2,6-xylidine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, 2,4- Phenylenediamine, p-phenylenediamine, 4,4'-diaminodiphenylpropane, 3,3'-diaminodiphenylpropane, 4,4'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diamino 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, Diaminodiphenylsulfide, 3,3'-diaminodiphenylsulfide, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, ) Benzene, benzidine, 3,3'-diamine Naphthophenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxybenzidine, 4,4'-diamino- bis (p-aminocyclohexyl) methane, bis (p-? -amino-t-butylphenyl) ether, bis (1,1-dimethyl-5-aminopentyl) benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-diaminonaphthalene, 2,4-bis Diamino toluene, m-xylene-2,5-diamine, p-xylene-2,5-diamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine , 2,6-diaminopyridine, 2,5-diaminopyridine, 2,5-diamino-1,3,4-oxadiazole, piperazine, 2,2'-dimethyl- Diaminobenzofuran, 1,5-diaminofluorene, dibenzo-p-dioxin-2,7-diamine, and 4,4'-diaminobenzyl.
또한 폴리이미드 수지의 원료로서 사용되는 산 2무수물로서는, 예를 들어, 피로멜리트산 2무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 2,3,3',4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 나프탈렌-1,2,5,6-테트라카르복실산 2무수물, 나프탈렌-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물, 나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 2무수물, 나프탈렌-1,2,6,7-테트라카르복실산 2무수물, 4,8-디메틸-1,2,3,5,6,7-헥사하이드로나프탈렌-1,2,5,6-테트라카르복실산 2무수물, 4,8-디메틸-1,2,3,5,6,7-헥사하이드로나프탈렌-2,3,6,7-테트라카르복실산 2무수물, 2,6-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 2무수물, 2,7-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 2무수물, 2,3,6,7-테트라클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 2무수물, 1,4,5,8-테트라클로로나프탈렌-2,3,6,7-테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,3,3',4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 3,3'',4,4''-p-테르페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,2'',3,3''-p-테르페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,3,3'',4''-p-테르페닐테트라카르복실산 2무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)-프로판 2무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)프로판 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)에테르 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)설폰 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)설폰 2무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2무수물, 페릴렌-2,3,8,9-테트라카르복실산 2무수물, 페릴렌-3,4,9,10-테트라카르복실산 2무수물, 페릴렌-4,5,10,11-테트라카르복실산 2무수물, 페릴렌-5,6,11,12-테트라카르복실산 2무수물, 페난트렌-1,2,7,8-테트라카르복실산 2무수물, 페난트렌-1,2,6,7-테트라카르복실산 2무수물, 페난트렌-1,2,9,10-테트라카르복실산 2무수물, 사이클로펜탄-1,2,3,4-테트라카르복실산 2무수물, 피라진-2,3,5,6-테트라카르복실산 2무수물, 피롤리딘-2,3,4,5-테트라카르복실산 2무수물, 티오펜-2,3,4,5-테트라카르복실산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물 등을 들 수 있다.Examples of the acid dianhydride used as a raw material of the polyimide resin include pyromellitic acid dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride, 2,2', 3, 3'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,4,6-tetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, 4 , 8-dimethyl-1,2,3,5,6,7-hexahydronaphthalene-1,2,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, 4,8-dimethyl- 6,7-hexahydronaphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, 2,6-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, 2,7-dichloro Naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-tetrachloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, 1,4,5,6- 8-tetrachloro Naphthalene-2,3,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 2,2', 3,3'-biphenyltetracar Biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 3,3 '', 4,4''-p-terphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 2,2'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 3 '' - p-terphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 2,3 '', 4''-p-terphenyltetracarboxylic acid dianhydride, 2,2-bis (2 Bis (2,3-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2- (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, perylene-2,3,8,9-tetracarboxyl Acid dianhydride, perylene-3,4,9,10-tetracar Perylene-4,5,10,11-tetracarboxylic acid dianhydride, perylene-5,6,11,12-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,7,8 -Tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,6,7-tetracarboxylic acid dianhydride, phenanthrene-1,2,9,10-tetracarboxylic acid dianhydride, cyclopentane-1,2 , 3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, pyrrolidine-2,3,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride, thiophene 2,3,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, and the like.
본 발명의 프린트 배선판에 이용하는 폴리이미드 수지로 이루어지는 절연층은, 동해 방지제로서 옥살산 유도체, 살리실산 유도체, 하이드라지드 유도체 및 트리아졸류에서 선택되는 적어도 1종류 이상을 포함하는 폴리이미드 수지로 구성되는 것이 바람직하다.The insulating layer made of the polyimide resin for use in the printed wiring board of the present invention is preferably composed of a polyimide resin containing at least one kind selected from oxalic acid derivatives, salicylic acid derivatives, hydrazide derivatives and triazoles as anti- Do.
본 발명에 이용되는 동해 방지제는 2,2'-옥사미드-비스[에틸-3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트] 등의 옥살산 유도체, 3-(N-살리실로일)아미노-1,2,4-트리아졸 등의 살리실산 유도체 및 트리아졸류, N,N'-비스[3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오닐]하이드라진 등의 하이드라지드 유도체 등을 사용할 수 있다. 이들 동해 방지제를 단독으로 사용해도 되고, 또는 2종 이상을 혼합하여 사용해도 된다. 또한 사전에 복수의 동해 방지제 등이 혼합되어 있는 시판 동해 방지제로서는 아데카스타브 ZS-27(상품명, (주)ADEKA 제품) 등을 사용하는 것도 가능하다.The antidiscoactive agent used in the present invention is an oxalic acid derivative such as 2,2'-oxamide-bis [ethyl-3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate] (N-salicyloyl) amino-1,2,4-triazole and the like, triazole derivatives such as N, N'-bis [3- (3,5- ) Propionyl] hydrazine and the like can be used. These antifouling agents may be used alone or in combination of two or more. As a commercially available antifouling agent containing a plurality of antifouling agents and the like in advance, Adekastab ZS-27 (trade name, product of ADEKA Co., Ltd.) may be used.
그 중에서도 3-(N-살리실로일)아미노-1,2,4-트리아졸 등의 살리실산 유도체 및 트리아졸류를 이용한 경우에 본 발명의 효과가 보다 현저해진다.Among them, when the salicylic acid derivative such as 3- (N-salicyloyl) amino-1,2,4-triazole and the triazole are used, the effect of the present invention becomes more remarkable.
동해 방지제의 첨가량은 베이스 수지인 폴리이미드 수지 100질량부에 대하여 0.05~5.0질량부가 바람직하다. 동해 방지제의 첨가량이 지나치게 적으면 소망하는 효과를 얻을 수 없고, 또한 지나치게 많으면 동해 방지제가 수지 표면에 블룸(Bloom)하는 문제나 비용 상승 등의 문제가 발생하게 되기 때문이다.The amount of the anti-freezing agent to be added is preferably 0.05 to 5.0 parts by mass based on 100 parts by mass of the polyimide resin as the base resin. If the addition amount of the antifouling agent is too small, a desired effect can not be obtained. If the amount is too large, there arises a problem that the antifouling agent blooms on the resin surface and an increase in cost is caused.
또한 본 발명에서는 상기 동해 방지제 외에 시판 고분자 재료에 사용되는 산화 방지제를 병용하는 것도 가능하다. 동해 방지제와 산화 방지제를 병용함으로써 고분자 재료의 산화 열화를 보다 효과적으로 억제할 수 있다. 본 발명에 이용되는 산화 방지제란 고분자 재료의 산화 열화 도중에 발생한 과산화물을 분해하고, 그 후의 자동 산화의 사이클을 정지하도록 하는 기능을 갖는 것이다.Further, in the present invention, in addition to the anti-freezing agent, an antioxidant used in a commercially available polymer material may be used in combination. By using the antifreezing agent and the antioxidant in combination, the oxidative deterioration of the polymer material can be more effectively suppressed. The antioxidant used in the present invention has a function of decomposing peroxide generated during the oxidative deterioration of the polymer material and stopping the cycle of the subsequent autoxidation.
구체적으로는, 본 발명에 관한 폴리이미드 수지와 동해 방지제로 이루어지는 조성물에는, 필요에 따라, 페놀계 산화 방지제, 인계 산화 방지제, 유황계 산화 방지제 등의 산화 방지제를 병용할 수 있다.Specifically, antioxidants such as a phenol-based antioxidant, a phosphorus-based antioxidant, and a sulfur-based antioxidant can be used in combination with the composition comprising the polyimide resin and the antifouling agent according to the present invention, if necessary.
상기 페놀계 산화 방지제로서는, 예를 들어, 이르가녹스1010(상품명: Irganox1010, 물질명: 펜타에리트리톨테트라키스[3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트], BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스1076(상품명: Irganox1076, 물질명: 옥타데실-3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스1330(상품명: Irganox1330, 물질명: 3,3',3'',5,5',5''-헥사-t-부틸-α,α',α''-(메시틸렌-2,4,6-트리일)트리-p-크레졸, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스3114(상품명: Irganox3114, 물질명: 1,3,5-트리스(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시벤질)-1,3,5-트리아진-2,4,6(1H,3H,5H)-트리온, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스3790(상품명: Irganox3790, 물질명: 1,3,5-트리스((4-t-부틸-3-하이드록시-2,6-크실릴)메틸)-1,3,5-트리아진-2,4,6(1H,3H,5H)-트리온, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스1035(상품명: Irganox1035, 물질명: 티오디에틸렌비스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트], BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스1135(상품명: Irganox1135, 물질명: 벤젠프로판산3,5-비스(1,1-디메틸에틸)-4-하이드록시의 C7-C9 측쇄 알킬 에스테르, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스1520L(상품명: Irganox1520L, 물질명: 4,6-비스(옥틸티오메틸)-o-크레졸, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스3125(상품명: Irganox3125, BASF 재팬(주) 제품), 이르가녹스565(상품명: Irganox565, 물질명: 2,4-비스(n-옥틸티오)-6-(4-하이드록시3',5'-디-t-부틸아닐리노)-1,3,5-트리아진, BASF 재팬(주) 제품), 아데카스타브AO-80(상품명: ADK STAB AO-80, 물질명: 3,9-비스(2-(3-(3-t-부틸-4-하이드록시-5-메틸페닐)프로피오닐옥시)-1,1-디메틸에틸)-2,4,8,10-테트라옥사스피로(5,5)운데칸, (주)ADEKA 제품), 스미라이자 BHT(상품명: Sumilizer BHT, 스미토모카가쿠(주) 제품), 스미라이자-GA-80(상품명: Sumilizer GA-80, 스미토모카가쿠(주) 제품), 스미라이자 GS(상품명: Sumilizer GS, 스미토모카가쿠(주) 제품), 시아녹스1790(상품명: Cyanox1790, (주)사이테크 제품) 및 비타민 E(예를 들어, 에자이(주) 제품) 등을 들 수 있다.Examples of the phenolic antioxidant include Irganox 1010 (trade name: Irganox1010, pentaerythritol tetrakis [3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate (Manufactured by BASF Japan), Irganox 1076 (trade name: Irganox1076, octadecyl-3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate, BASF Japan (Trade name: Irganox 1330, 3,3 ', 3 ", 5,5', 5" -hexa-t-butyl- ?,? ',? "- Mesitylene-2,4,6-triyl) tri-p-cresol, manufactured by BASF Japan Ltd.), Irganox 3114 (trade name: Irganox 3114, (1H, 3H, 5H) -triene, BASF Japan Co., Ltd.), Irganox 3790 (manufactured by BASF Japan) Tris ((4-t-butyl-3-hydroxy-2,6-xylyl) methyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -thione, produced by BASF Japan Ltd.), Irganox 1035 (trade name: Irgano butylphenyl) propionate], BASF Japan Co., Ltd.), Irganox 1135 (trade name: Irganox 1135, trade name: (C7-C9 branched alkyl ester of benzenepropanoic acid 3,5-bis (1,1-dimethylethyl) -4-hydroxy, BASF Japan Ltd.), Irganox 1520L (trade name: Irganox 1520L, Irganox 565 (trade name: Irganox3125, manufactured by BASF Japan Ltd.), Irganox 565 (trade name: Irganox 565, manufactured by BASF Japan Ltd.), 4,6-bis (octylthiomethyl) : 2,4-bis (n-octylthio) -6- (4-hydroxy 3 ', 5'-di-t-butyl anilino) -1,3,5-triazine, product of BASF Japan ), Adecastab AO-80 (trade name: ADK STAB AO-80, 3,9-bis (2- (3- (3- (5,5) undecane, manufactured by ADEKA), Sumilizer BHT (trade name: Sumilizer BHT, Sumitomo Chemical Co., Ltd.) (Sumilizer GS, Sumitomo Chemical Co., Ltd.), Sumilizer GA-80 (Sumilizer GA-80, Sumitomo Chemical Co., Ltd.) 1790 (trade name: Cyanox 1790, manufactured by Cytec) and vitamin E (for example, manufactured by Eisai Co., Ltd.).
상기 페놀계 산화 방지제의 함유량은 베이스 수지인 폴리이미드 수지 100질량부에 대하여 바람직하게는 0.001~10질량부, 보다 바람직하게는 0.05~5질량부이다.The content of the phenolic antioxidant is preferably 0.001 to 10 parts by mass, more preferably 0.05 to 5 parts by mass based on 100 parts by mass of the polyimide resin as the base resin.
상기 인계 산화 방지제로서는, 예를 들어, 이르가포스 168(상품명: Irgafos 168, 물질명: 트리스(2,4-디-t-부틸페닐)포스파이트, BASF 재팬(주) 제품), 이르가포스 12(상품명: Irgafos 12, 물질명: 트리스[2-[[2,4,8,10-테트라-t-부틸디벤조[d,f][1,3,2]디옥사포스핀-6-일]옥시]에틸]아민, BASF 재팬(주) 제품), 이르가포스 38(상품명: Irgafos 38, 물질명: 비스(2,4-비스(1,1-디메틸에틸)-6-메틸페닐)에틸 에스테르 아인산, BASF 재팬(주) 제품), 아데카스타브329K(상품명, (주)ADEKA 제품), 아데카스타브PEP36(상품명, (주)ADEKA 제품), 아데카스타브PEP-8(상품명, (주)ADEKA 제품), 산드스타브(Sandstab) P-EPQ(상품명, 클라리언트사 제품), 웨스톤618(상품명: Weston618, GE사 제품), 웨스톤619G(상품명: Weston619G, GE사 제품), 울트라녹스626(상품명: Ultranox626, GE사 제품) 및 스미라이자 GP(상품명: Sumilizer GP, 물질명: 6-[3-(3-t-부틸-4-하이드록시-5-메틸페닐)프로폭시]-2,4,8,10-테트라-t-부틸디벤즈[d,f][1.3.2]디옥사포스페핀)(스미토모카가쿠(주) 제품) 등을 들 수 있다.Examples of the phosphorus antioxidant include Irgafos 168 (trade name: Irgafos 168, tris (2,4-di-t-butylphenyl) phosphite, BASF Japan Ltd.), Irgafos 12 (Irgafos 12, material name: tris [2- [[2,4,8,10-tetra-t-butyldibenzo [d, f] [1,3,2] dioxaphosphin- Bis (1,1-dimethylethyl) -6-methylphenyl) ethyl ester phosphoric acid, Irgafos 38 (trade name: Irgafos 38, Adekastab PEP-8 (trade name, product of ADEKA Co., Ltd.), ADEKASTAB PEP36 (trade name, product of ADEKA), Adekastab PEP-8 ), Sandstab P-EPQ (trade name, manufactured by Clariant), Weston 618 (trade name: Weston 618, by GE), Weston 619G (trade name: Weston 619G by GE), Ultranox 626 : Ultranox 626, manufactured by GE) and Sumilizer GP (trade name: Sumilizer GP, material: 6- [3- (3- butyl dibenz [d, f] [1.3.2] dioxaphosphperine) (commercially available from Sumitomo Chemical Co., Ltd.) Manufactured by Kaku Co., Ltd.).
상기 인계 산화 방지제의 함유량은 폴리이미드 수지 100질량부에 대하여 바람직하게는 0.01~10질량부, 보다 바람직하게는 0.05~5질량부이다.The content of the phosphorus antioxidant is preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.05 to 5 parts by mass based on 100 parts by mass of the polyimide resin.
상기 유황계 산화 방지제로서는 2-메르캅토벤즈이미다졸, 티오디프로피온산디라우릴, 티오디프로피온산디미리스틸, 티오디프로피온산디스테아릴 등의 디알킬티오디프로피오네이트류 및 펜타에리스리톨테트라(β-도데실메르캅토프로피오네이트) 등의 폴리올의 β-알킬메르캅토프로피온산에스테르류를 들 수 있다.Examples of the sulfur-based antioxidant include dialkyl thiodipropionates such as 2-mercaptobenzimidazole, dilauryl thiodipropionate, dimyristyl thiodipropionate and distearyl thiodipropionate, and pentaerythritol tetra (β- Dodecyl mercaptopropionate), and the like can be given as examples of the? -Alkylmercaptopropionic acid esters of polyols.
상기 유황계 산화 방지제의 함유량은 폴리이미드 수지 100질량부에 대하여 바람직하게는 0.01~10질량부, 보다 바람직하게는 0.05~5질량부 이용된다.The content of the sulfur-based antioxidant is preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.05 to 5 parts by mass based on 100 parts by mass of the polyimide resin.
동해 방지제를 폴리이미드 수지 중에 함유시킴으로써 내열 박리강도를 한층 더 향상시킬 수 있으므로 바람직하다.It is preferable that the anti-freezing agent is contained in the polyimide resin because the heat peel strength can be further improved.
이하, 본 발명의 일 실시형태에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail.
사용하는 본 발명의 동박은 폴리이미드 수지와 적층시키는 면(적층 전에 조화 처리를 포함하는 이하에 기술하는 각종 처리를 실행하는 면)이 후술하는 처리 전의 시점에서 광택도가 10 이상인 것이 바람직하다. 사용 전의 미처리 동박의 광택도는 무광택박에서 0~30 정도, 광택박에서 100~500 정도이고, 광택도가 10 미만인 표면 형상에서는 조화 처리 후에 충분한 시인성을 얻는 것이 어려워지기 때문이다.It is preferable that the copper foil of the present invention to be used has a degree of gloss of 10 or more at a point before the surface to be laminated with the polyimide resin (the surface to be subjected to the various treatments described below including the roughening treatment before lamination) This is because the untreated copper foil before use is about 0 to 30 in matte foil and 100 to 500 in glossy foil, and it is difficult to obtain sufficient visibility after roughening treatment in a surface shape with less than 10 gloss.
소망하는 표면 광택을 갖는 동박은 이하의 조건으로 제작하는 것이 가능하다. 이하, 전해 동박을 예로 설명한다. 전해 동박의 제작 조건은 일례이며, 이것에 한정되는 것은 아니다.The copper foil having the desired surface gloss can be produced under the following conditions. Hereinafter, an electrolytic copper foil will be described as an example. The production conditions of the electrolytic copper foil are merely examples, and the present invention is not limited thereto.
[전해 동박 제조 조건][Electrolytic copper foil manufacturing conditions]
3-메르캅토1-프로판설폰산나트륨: 0.5~3.0 ppmSodium 3-mercapto-1-propanesulfonate: 0.5 to 3.0 ppm
하이드록시에틸셀룰로오스: 2∼20 ppmHydroxyethylcellulose: 2-20 ppm
아교(분자량=3000): 1∼10 ppmGlue (molecular weight = 3000): 1 to 10 ppm
Cu: 40~150 g/LCu: 40 to 150 g / L
H2SO4: 60~160 g/LH 2 SO 4 : 60 to 160 g / L
액온: 40℃~60℃Liquid temperature: 40 ° C to 60 ° C
전류 밀도: 30~90 A/dm2 Current density: 30 to 90 A / dm 2
상기 동박의 적어도 한쪽 면(전해 동박의 경우는 M면(Matte면) 또는 S면(Shiny면) 중 적어도 한쪽 면(바람직하게는 M면), 압연 동박의 경우는 압연면 중 적어도 한쪽 면)에 조화 처리를 실행한다. 무조화 상태의 동박으로는 시인성과 수지 밀착성을 양립하는 것은 어렵다. 이하에 서술하는 후처리로 박 표면을 적절한 상태로 조정하는 것이 중요해진다.(Preferably at least one of the M surface (matte surface) or the S surface (Shine surface) (preferably the M surface) of at least one surface of the copper foil (at least one of the rolled surface in the case of rolled copper foil) And executes harmonization processing. It is difficult to achieve both visibility and resin adhesion as copper foils in an unharmed state. It is important to adjust the foil surface to a proper state by the post-treatment described below.
조화 처리의 대표예 중 하나로 전기 도금에 의해 미세한 입상 순동을 동박 표면에 형성하는 순동(Cu)계 조화 도금이 있다. 순동계 조화 도금에는 황산구리 도금액을 이용한다. 조화 도금액의 황산 농도는 50∼250 g/L가 바람직하고, 특히 70∼200 g/L가 바람직하다. 황산 농도가 지나치게 낮으면 도전율이 낮고, 조화 입자의 전착성(電着性)이 나빠진다. 황산 농도가 지나치게 높으면 설비의 부식이 촉진된다.One typical example of the harmonization treatment is a copper (Cu) based plating in which fine granular copper is formed on the copper foil surface by electroplating. Copper sulfate plating solution is used for pure copper plating. The concentration of sulfuric acid in the coarsening plating solution is preferably 50 to 250 g / L, more preferably 70 to 200 g / L. When the sulfuric acid concentration is too low, the conductivity is low and the electrodeposition property of the coarse particles deteriorates. If the sulfuric acid concentration is too high, corrosion of the equipment is promoted.
순동계 조화 도금액의 구리 농도는 6∼100 g/L가 바람직하고, 특히 10∼50 g/L가 바람직하다. 구리 농도가 지나치게 낮으면 조화 입자의 전착성이 나빠진다. 구리 농도가 지나치게 높으면 입자상으로 도금하기에는 보다 큰 전류가 필요해지고, 설비상으로도 현실적이지 않다.The copper concentration of the copper-based harmonic plating solution is preferably 6 to 100 g / L, more preferably 10 to 50 g / L. If the copper concentration is too low, the electrodepositability of the coarsened particles deteriorates. When the copper concentration is too high, a larger current is required to be plated with the particle, and this is not realistic in terms of equipment.
또 하나의 조화 처리의 대표예로서, 전기 도금에 의해 미세한 입상 Cu-Co-Ni 합금을 동박 표면에 형성하는 합금계 조화 도금이 있다. Cu-Co-Ni 합금 도금은 전기 도금에 의해 부착량이 5~15 mg/dm2의 구리-20~90 ㎍/dm2의 코발트-100~900 ㎍/dm2의 니켈인 것처럼 3원계 합금층을 형성하도록 실시하는 것이 가능하다. Co 부착량이 지나치게 낮으면 내열 시험 후의 박리강도가 저하하는 경우가 있다. Co 부착량이 지나치게 높으면 에칭 잔사가 발생하기 쉬워지므로 바람직하지 않다. Ni 부착량이 지나치게 낮으면 내열 시험 후의 박리강도가 저하하는 경우가 있다. 다른 한편, Ni 부착량이 지나치게 높으면 에칭 잔사가 발생하기 쉬워지므로 바람직하지 않다. 보다 바람직한 Co 부착량은 30~80 ㎍/dm2이고, 보다 바람직한 니켈 부착량은 200~400 ㎍/dm2이다.As a representative example of another roughening treatment, there is an alloy-based plating in which a fine grain-like Cu-Co-Ni alloy is formed on the copper foil surface by electroplating. The Cu-Co-Ni alloy plating is formed by electroplating a ternary alloy layer as if it has a copper content of 5 to 15 mg / dm 2 and a cobalt-20 to 90 μg / dm 2 nickel of -100 to 900 μg / dm 2 It is possible to carry out the above-described processes. If the Co deposition amount is too low, the peeling strength after the heat resistance test may be lowered. If the Co deposition amount is too high, etching residues tend to occur, which is not preferable. If the Ni adhesion amount is too low, the peel strength after the heat resistance test may be lowered. On the other hand, if the Ni deposition amount is too high, etching residues tend to occur, which is not preferable. A more preferred coating weight Co is 30 ~ 80 ㎍ / dm 2, and more preferred nickel coating weight is 200 ~ 400 ㎍ / dm 2.
Cu-Co-Ni 합금계 조화 도금액의 구리 농도는 2~10 g/L, 코발트 농도는 20~40 g/L, 니켈 농도는 20~40 g/L, 황산 농도는 50~250 g/L로 하는 것이 바람직하다. 구리, 코발트 및 니켈 농도가 상술한 범위 미만이 되면 조화 입자의 전착성이 나빠지고, 상술한 범위를 초과하면 입자상으로 도금하기에는 보다 큰 전류가 필요해지며, 설비상으로도 현실적이지 않다.The Cu-Co-Ni alloy plating solution had a copper concentration of 2 to 10 g / L, a cobalt concentration of 20 to 40 g / L, a nickel concentration of 20 to 40 g / L, and a sulfuric acid concentration of 50 to 250 g / L . If the concentration of copper, cobalt and nickel is less than the above-mentioned range, the electrodeposition property of the coarse particles deteriorates. If the concentration exceeds the above-mentioned range, a larger current is required for plating into the particulate form, and this is not realistic in terms of equipment.
순동계 및 Cu-Co-Ni 합금계 조화 도금을 하는 전류 밀도는 모두 5~120 A/dm2가 바람직하고, 특히 25~100 A/dm2가 바람직하다. 전류 밀도가 지나치게 낮으면 처리에 시간이 필요하기 때문에 생산적이지 않다. 전류 밀도가 지나치게 높으면 조화 입자의 전착성이 나빠진다.The current density for the pure copper system and Cu-Co-Ni alloy system plating is preferably 5 to 120 A / dm 2 , and more preferably 25 to 100 A / dm 2 . If the current density is too low, it is not productive because it takes time to process. If the current density is excessively high, the electrodeposition property of the coarse particles deteriorates.
조화 처리 후의 조화 입자의 탈락을 방지하기 위해 조화 입자층의 표면에 얇은 구리의 평활 도금(커버 도금)을 실행해도 된다. 이때의 액체 조성은 구리 농도가 40~200 g/L, 황산 농도가 70~200 g/L이고, 전류값을 0.4~20 A/dm2, 액온을 40~60℃, 처리시간을 1~10초간으로 하는 것이 바람직하다.Smooth copper plating (cover plating) may be performed on the surface of the roughening particle layer in order to prevent the coarse particles from falling off after the roughening treatment. At this time, the liquid composition has a copper concentration of 40 to 200 g / L, a sulfuric acid concentration of 70 to 200 g / L, a current value of 0.4 to 20 A / dm 2 , a liquid temperature of 40 to 60 ° C, Sec.
본 발명에서 이용하는 조화 조건에서는 「조화 도금」 부분에서, 형성되는 조화 입자의 높이가 우선적으로 변화하는 경향이 있다. 한편, 「커버 도금」 부분에서 조화 입자의 폭이 우선적으로 변화하는 경향이 있다. 또한 커버 도금은 조화 입자 간의 골을 메우는 작용도 있으므로, 커버 도금을 지나치게 하면 조화 입자 높이가 지나치게 감소하는 경우도 있다. 이 두 종류의 도금을 적절히 제어함으로써 용도에 따른 조화 입자의 형상이 제어 가능하다. 예를 들어, 조화 도금 전기량이 작고 커버 도금 전기량이 큰 조건이면 조화 입자는 밑단이 크고 완만한 형상이 된다(예를 들어, 상기 표 1에 나타낸 형상 2). 반대로, 조화 도금 전기량이 크고 커버 도금 전기량이 작은 조건이면 조화 입자가 가늘고 긴 형상이 된다(예를 들어, 상기 표 1에 나타낸 형상 3). 또한 조화 도금액의 구리 농도에 관해서는, 농도가 짙으면 조화 입자 형상이 완만해지고(예를 들어, 상기 표 1에 나타낸 형상 2), 연하면 가늘고 긴 조화 입자가 고밀도로 형성되는(예를 들어, 상기 표 1에 나타낸 형상 3) 경향이 있다.In the harmonizing condition used in the present invention, the height of the formed coarse particles tends to change preferentially in the "coarsened plating" portion. On the other hand, in the " cover plating " portion, the width of the coarsened particles tends to change preferentially. In addition, since the cover plating also functions to fill the valleys between the coarsened particles, excessive height of the coarsened particles may be excessively reduced if the cover plating is excessively applied. By appropriately controlling these two types of plating, the shape of the coarsely grained particles can be controlled according to the application. For example, if the coarsened amount of electricity is small and the amount of cover plating electricity is large, the coarse particles have a large foot and a gentle shape (for example, the
또한 조화 도금 이외의 수법에 의해 조화 처리를 실행해도 된다. 예로서는 에칭 처리에 의한 것, 산화제 또는 분위기 조정에 의해 박 표면을 산화시켜 표면을 거칠게 한 것, 산화시킨 표면을 재환원함으로써 표면을 거칠게 한 것 및 이들을 조합한 처리에 의한 것 등을 들 수 있다.Further, the roughening treatment may be carried out by a method other than roughening. Examples thereof include those obtained by etching, those obtained by oxidizing the surface of the foil by oxidizing agents or adjusting the atmosphere to roughen the surface thereof, those obtained by roughening the oxidized surface by recirculating the surface thereof, and a combination thereof.
이어서 전해 동박의 적어도 조화 처리를 한 쪽의 한쪽 면에 PR 펄스 전해에 의한 처리를 실행한다. PR 펄스 전해를 실시함으로써 조화 입자의 용해, 석출이 반복되고, 조화 입자의 소형화, 조화 입자수의 증대, 조화 입자 표면의 평활화 등이 실행되어, 시인성을 향상시키는 조화 입자 형상이 된다.Then, the electrolytic copper foil is subjected to PR pulse electrolysis treatment on at least one surface of the electrolytic copper foil which is subjected to at least the harmonic treatment. The PR pulse electrolysis is repeated to dissolve and precipitate the coarse particles to reduce the size of the coarse particles, to increase the number of coarse particles, to smooth the surface of the coarse particles, and to obtain a coarse particle shape that improves visibility.
PR 펄스 전해 처리에 이용하는 전해액은 상술한 순동계 조화 도금액 및 Cu-Co-Ni 합금계 조화 도금액을 이용하는 것이 바람직하다. 또한 순동계 조화 처리를 행한 것은 PR 펄스 전해 처리도 순동계 조화 도금액을 이용하고, Cu-Co-Ni 합금계 조화 처리를 실행한 것은 PR 펄스 전해 처리도 Cu-Co-Ni 합금계 조화 도금액을 이용함으로써, 사용하는 액체의 종류가 적어지고 도금액의 관리가 용이해지는 장점이 있다.As the electrolytic solution used for the PR pulse electrolytic treatment, it is preferable to use the pure copper-based coarsening plating solution and the Cu-Co-Ni alloy-based coarsening plating solution described above. The PR-pulse electrolytic treatment and the Cu-Co-Ni alloy harmonization treatment were carried out using the copper-Co-Ni alloy-based plating solution for PR pulse electrolysis treatment. Thereby, there is an advantage that the kind of the liquid to be used is reduced and the management of the plating liquid is facilitated.
PR 펄스 전해의 순전해 시간 및 역전해 시간은 50~500 밀리초의 범위가 바람직하다. 이 시간이 지나치게 짧으면 PR 펄스 전해의 효과가 나타나기 힘들고, 지나치게 길면 조화 입자가 보다 조대화할 우려가 있다.It is preferable that the time of the pure pulse electrolysis and the reverse electrolysis time are in the range of 50 to 500 milliseconds. If this time is too short, the effect of the PR pulse electrolysis is hard to appear, and if it is too long, the coarse particles may be coarsened.
PR 펄스 전해의 순전류 밀도는 0.5~10 A/dm2가 바람직하다. 이 순전류 밀도가 지나치게 작으면 펄스 1회당 석출량이 작고, 표면 형상에 대한 효과가 얻어지기 힘들다. 지나치게 높으면 전착성이 나빠진다.The forward current density of the PR pulse electrolysis is preferably 0.5 to 10 A / dm 2 . If the net current density is too small, the amount of precipitation per pulse is small and it is difficult to obtain an effect on the surface shape. If it is too high, the electrodepositivity will deteriorate.
역전류 밀도는 1~20 A/dm2가 바람직하다. 또한 이 범위 내여도 순전류 밀도에 대하여 크게 하회하거나, 또는 상회하는 것과 같은 조건은 바람직하지 않다. PR 펄스 전해의 조건은 각각의 항목이 밀접하게 서로 영향을 주고받으므로 종합적으로 판단하여 조건을 결정한다.The reverse current density is preferably 1 to 20 A / dm 2 . Even within this range, conditions such as below or below the net current density are not preferable. The condition of PR pulse electrolysis is determined by comprehensive judgment because each item closely influences each other.
또한, 필요에 따라, 후처리로서 알칼리 침지 처리를 실행한다. 이 처리는 제박용 첨가제 등의 표면 오염물의 잔사 제거나 조화 입자 표면의 평활화를 목적으로 실행한다. 알칼리 용액으로서는 NaOH 수용액을 사용한다. NaOH 농도는 10∼60 g/L의 범위가 바람직하다. 용액 온도는 20~50℃, 침지 시간은 5~50초가 바람직하다.Further, if necessary, an alkali immersion treatment is performed as a post-treatment. This treatment is carried out for the purpose of removing residues of surface contaminants such as additives for bulking agents or for smoothing the surface of harmonized particles. As the alkali solution, an aqueous solution of NaOH is used. The NaOH concentration is preferably in the range of 10 to 60 g / L. The solution temperature is preferably 20 to 50 占 폚, and the immersion time is preferably 5 to 50 seconds.
조화 처리를 한 후에 조화 입자를 덮는 니켈 및 아연의 확산 방지 피복을 실행한다. 본 발명에서는 하기 조건으로 니켈→아연 연속 전기 도금 또는 니켈/아연 합금 전기 도금법을 이용하는 것이 바람직하지만, 형성법에 대해서는 이들 수법으로 한정되지 않는다.After the roughening treatment, diffusion prevention coating of nickel and zinc covering the coarse particles is carried out. In the present invention, it is preferable to use nickel-zinc continuous electroplating or nickel / zinc alloy electroplating under the following conditions, but the forming method is not limited to these methods.
[니켈→아연 연속 전기 도금][Nickel → Zinc continuous electroplating]
*니켈 도금욕* Nickel plating bath
NiSO4 ·6H2O: 45 g/L~450 g/L NiSO 4 · 6H 2 O: 45 g / L ~ 450 g / L
H3BO3: 10 g/L~50 g/LH 3 BO 3 : 10 g / L to 50 g / L
pH: 3.0~4.5pH: 3.0 to 4.5
욕온: 30℃~60℃Bath temperature: 30 ° C to 60 ° C
전류 밀도: 0.1 A/dm2~2.0 A/dm2 Current density: 0.1 A / dm 2 to 2.0 A / dm 2
도금 시간: 2초~30초Plating time: 2 seconds ~ 30 seconds
*아연 도금욕* Zinc plating bath
ZnSO4 ·7H2O: 3 g/L~100 g/L ZnSO 4 · 7H 2 O: 3 g / L ~ 100 g / L
NaOH: 20 g/L~80 g/LNaOH: 20 g / L to 80 g / L
욕온: 20℃~40℃Bath temperature: 20 ℃ ~ 40 ℃
전류 밀도: 0.1 A/dm2~2.0 A/dm2 Current density: 0.1 A / dm 2 to 2.0 A / dm 2
도금 시간: 2초~30초Plating time: 2 seconds ~ 30 seconds
[니켈/아연 합금 전기 도금][Nickel / zinc alloy electroplating]
NiSO4 ·6H2O: 45 g/L~450 g/L NiSO 4 · 6H 2 O: 45 g / L ~ 450 g / L
ZnSO4 ·7H2O: 3 g/L~100 g/L ZnSO 4 · 7H 2 O: 3 g / L ~ 100 g / L
(NH4)2SO4: 3 g/L~30 g/L (NH 4) 2 SO 4: 3 g / L ~ 30 g / L
pH: 4.0~6.0pH: 4.0 to 6.0
욕온: 30℃~50℃Bath temperature: 30 ° C to 50 ° C
전류 밀도: 0.1 A/dm2~2.0 A/dm2 Current density: 0.1 A / dm 2 to 2.0 A / dm 2
도금 시간: 6초~60초Plating time: 6 to 60 seconds
상기 전해 동박의 적어도 한쪽 면(바람직하게는 상기 조화 처리와 확산 방지 피복을 실행한 측의 동박 표면)에는 거듭 표면 처리를 실시해도 된다. 구체적으로는 밀착성, 내약품성, 방청()을 목적으로 한 표면 처리를 들 수 있다. 표면처리 중 금속 표면 처리에 이용하는 처리제로서는 Cr, Si, Co, Mo의 단체 또는 수화물을 들 수 있다. 합금 표면 처리로서는 Si, Co, Mo 중 적어도 1종류의 금속 또는 1종류 이상의 금속을 함유하는 합금을 부착시킨 후 Cr을 부착시킨다.At least one surface of the electrolytic copper foil (preferably, the surface of the copper foil on the side where the roughening treatment and the diffusion preventing coating are performed) may be subjected to a laminated surface treatment. Concretely, adhesion, chemical resistance, rust prevention ( ) For surface treatment. As the treatment agent used for the metal surface treatment during the surface treatment, a single substance or a hydrate of Cr, Si, Co, Mo can be exemplified. As the alloy surface treatment, Cr is adhered after attaching at least one kind of metal among Si, Co, and Mo or an alloy containing at least one kind of metal.
상기 금속 표면 처리 또는 합금 표면 처리를 실시하는 (해당 금속 또는 합금을 부착시키는) 도금액과 도금 조건의 일례를 하기에 나타낸다.Examples of the plating solution and the plating conditions (to which the metal or the alloy is applied) for performing the above-described metal surface treatment or alloy surface treatment are shown below.
[Mo-Co 도금][Mo-Co plating]
Na2MoO4 ·2H2O 1~30 g/L Na 2 MoO 4 · 2H 2 O 1 ~ 30 g / L
CoSO4 ·7H2O 1~50 g/L CoSO 4 · 7H 2 O 1 ~ 50 g / L
구연산3나트륨 2수화물 30~200 g/LCitric acid 3 sodium dihydrate 30 ~ 200 g / L
전류 밀도 1~50 A/dm2
욕온 10~70℃Bath temperature 10 ~ 70 ℃
처리시간 1초~2분
pH 1.0~4.0pH 1.0 to 4.0
[Cr 도금][Cr plating]
CrO3 0.5~40 g/LCrO 3 0.5 to 40 g / L
욕온 20~70℃Bath temperature 20 ~ 70 ℃
처리시간 1초~2분
전류 밀도 0.1~10 A/dm2 Current density 0.1 to 10 A / dm 2
pH 1.0~4.0pH 1.0 to 4.0
상기 확산 방지 피복에 함유되는 그리고 상기 표면 처리에 의해 조화 처리 후의 동박 표면 상에 부착되는 Ni이나 Mo 등은 에칭성을 나쁘게 하는 금속이다. 따라서 이들 금속에 대해서는 표면으로의 부착량을 1 mg/dm2 이하로 하는 것이 바람직하다. 또한 Zn에 대해서는 표면으로의 부착량이 지나치게 많으면 에칭 시에 녹아 박리강도의 열화의 원인이 되는 일이 있으므로, 0.2 mg/dm2 이하인 것이 바람직하다. 또한 모두다 이 정도의 부착량이면 상기 표면 처리 후의 전해 동박 조화면의 형상 및 표면의 색(외관)을 크게 손상시키는 일은 없다.The Ni or Mo contained in the diffusion preventing coating and adhered on the surface of the copper foil after the surface treatment by the surface treatment is a metal which deteriorates the etching property. Therefore, for these metals, it is preferable that the adhesion amount to the surface is 1 mg / dm 2 or less. Further, if the amount of Zn to be adhered to the surface is excessively large, it may melt at the time of etching to deteriorate the peel strength, and therefore, it is preferably 0.2 mg / dm 2 or less. In addition, if the adhesion amount is all the same, the shape of the electrolytic copper foil roughened surface after the surface treatment and the color (appearance) of the surface are not greatly damaged.
박리강도 향상을 위하여 이들 금속 표면 처리가 실시된 표면 상을 실란 커플링제로 처리(실란 커플링제 처리)하는 것이 바람직하다. 실란 커플링제로서는 일반적으로 사용되고 있는 아미노계, 비닐계, 이소시아네이트계, 에폭시계를 들 수 있는데, 본 발명에서는 그 종류는 특별히 한정되지 않는다.In order to improve the peel strength, it is preferable to treat the surface of the metal surface treated with the silane coupling agent (silane coupling agent treatment). As the silane coupling agent, generally used amino-based, vinyl-based, isocyanate-based, and epoxy-based materials are exemplified, but the kind of the silane coupling agent is not particularly limited in the present invention.
본 발명의 구리 피복 적층판에서는, 동박과 폴리이미드 수지층의 적층에는 접착제의 사용이나 열 압착이 불필요하다. 동박의 일 표면 상에 조화 입자층을 설치하고, 이 위에 한층 더 상기 특정된 Ni/Zn 비를 갖는 확산 방지 피복을 실행하고, 또한 그 표면을 금속 표면 처리 또는 합금 표면 처리, 크로메이트 처리 및 실란 커플링제 처리, 필요에 따라, 후처리로서 알칼리 침지 처리함으로써, 동박의 폴리이미드 수지층과의 밀착성을 담보하는 것이 가능하다.In the copper clad laminate according to the present invention, the use of an adhesive or thermal compression bonding is not required for the lamination of the copper foil and the polyimide resin layer. A roughening particle layer is provided on one surface of the copper foil, a diffusion preventive coating having the above specified Ni / Zn ratio is further carried out thereon, and the surface thereof is subjected to a metal surface treatment or an alloy surface treatment, a chromate treatment and a silane coupling agent It is possible to secure the adhesion of the copper foil to the polyimide resin layer by treatment and, if necessary, post-treatment with an alkali immersion treatment.
본 발명의 동박으로서 압연 동박의 경우에는 터프 피치 동박(Tough pitch copper foil), 동은(銅銀) 합금박(Cu-Ag 0.02~0.03질량%) 등 임의의 것을 이용하는 것이 가능하다. 압연 동박에 대해서도 상술한 전해 동박의 경우와 동일하게 각종 처리를 실시하고 나서 폴리이미드 수지와 적층한다.In the case of the rolled copper foil of the present invention, it is possible to use any of tough pitch copper foil and copper (copper silver) alloy foil (Cu-Ag 0.02 to 0.03 mass%). The rolled copper foil is also laminated with a polyimide resin after various treatments as in the case of the electrolytic copper foil mentioned above.
실시예Example
이하에 본 발명을 실시예에 기초하여 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples, but the present invention is not limited thereto.
실시예 1~15, 비교예 1~12Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 12
<동박의 조제><Preparation of copper foil>
M면(Matte면)의 광택도가 230, S면(Shiny면)의 광택도가 100인 하기 전해 동박 제조 조건에서 제조한 전해 동박(두께 12 ㎛)을 준비하였다(이하, 이 동박의 종류를 「전해」라고 약기한다). 이것과는 별도로 압연 동박(터프 피치 구리, 애즈 롤 박(as rolled foil))(두께 12 ㎛)도 준비하였다(이하, 이 동박 종류를 「압연」이라고 약기한다).An electrolytic copper foil (thickness: 12 占 퐉) prepared in an electrolytic copper foil production condition under which the gloss of the M plane (matte plane) was 230 and the gloss of the S plane (Shiny plane) was 100 Quot; delivered "). Apart from this, a rolled copper foil (tough pitch copper, as rolled foil) (thickness: 12 占 퐉) was also prepared (hereinafter this copper foil type was abbreviated as "rolling").
[전해 동박 제조 조건][Electrolytic copper foil manufacturing conditions]
3-메르캅토1-프로판설폰산나트륨: 0.5~3.0 ppmSodium 3-mercapto-1-propanesulfonate: 0.5 to 3.0 ppm
하이드록시에틸셀룰로오스: 2∼20 ppmHydroxyethylcellulose: 2-20 ppm
아교(분자량=3000): 1∼10 ppmGlue (molecular weight = 3000): 1 to 10 ppm
Cu: 40~150 g/LCu: 40 to 150 g / L
H2SO4: 60~160 g/LH 2 SO 4 : 60 to 160 g / L
욕온: 40℃~60℃Bath temperature: 40 ℃ ~ 60 ℃
전류 밀도: 30~90 A/dm2 Current density: 30 to 90 A / dm 2
이들 각종 동박을 상법에 따라 탈지, 산세(酸洗)한 후, 하기에 기재한 조건으로 동박의 한쪽 면에(전해 동박에서는 매트면 측에) 순동계 또는 합금계 조화 처리를 실행하고, 이어서 커버 도금 처리를 실행하였다. 순동계 및 합금계 조화 도금액의 온도는 모두 25℃로 했다.These various copper foils were subjected to degreasing and pickling in accordance with a conventional method and then subjected to a pure copper or alloy plating treatment on one surface of the copper foil (on the mat surface side in the electrolytic copper foil) under the conditions described below, A plating process was performed. The temperature of the copper-based system and alloy-based harmonic plating solution was all set at 25 캜.
커버 도금액의 구리 농도는 70 g/L, 황산 농도는 110 g/L, 액온은 50℃로 하였다.The copper plating solution had a copper concentration of 70 g / L, a sulfuric acid concentration of 110 g / L, and a liquid temperature of 50 캜.
기타 구체적인 조건은 표 2에 나타낸다. 「조화 도금 처리」와 「커버 도금 처리」의 조건을 표 2에 나타낸 바와 같이 적절히 제어함으로써, 조화 입자의 형상을 제어했다.Other specific conditions are shown in Table 2. The conditions of the "coarsening plating treatment" and "cover plating treatment" were appropriately controlled as shown in Table 2 to control the shape of the coarsely grained particles.
일부 커버 도금 후의 시료의 조화 처리면 측에 조화 도금액과 동일한 조성의 도금액을 이용하여 PR 펄스 전해 처리를 실행했다. 펄스 순전해(350밀리초), 펄스 역전해(100밀리초), 펄스 전해 정지(200밀리초)의 순서로 소정 시간 이 처리를 반복하여 실행했다. 기타 구체적인 조건은 표 2에 나타낸다.The PR pulse electrolytic treatment was carried out on the surface of the sample after the cover plating, using the same plating liquid as that of the coarsening plating solution. The process was repeated for a predetermined period of time in the order of the pulse pure electrolysis (350 milliseconds), the pulse reverse electrolysis (100 milliseconds), and the pulse electrolysis stop (200 milliseconds). Other specific conditions are shown in Table 2.
[표 2][Table 2]
상기 조화 도금과 커버 도금 및 PR 펄스 전해 처리를 실시한 각 동박에 알칼리 침지 처리를 실시했다. 처리액은 NaOH을 40 g/L로 하고, 액온을 50℃로 하며, 처리 시간은 32초간으로 하였다.Each copper foil subjected to the above coarse plating, cover plating and PR pulse electrolytic treatment was subjected to alkali immersion treatment. The treatment liquid was NaOH at 40 g / L, the liquid temperature was 50 占 폚, and the treatment time was 32 seconds.
알칼리 침지 처리 후의 동박의 조화 처리면 상에 확산 방지 피복(하기 니켈→아연 연속 전기 도금), 표면 방청 처리(하기 Cr 도금 처리) 및 실란 커플링 처리를 이 순서대로 실행하였다. 실란 커플링제에는 아미노계(신에츠카가쿠 제품, 상품명: KBM-903)를 이용하고, 농도 0.2질량%의 수용액으로 조제하며, 동박에 도포 및 건조(120℃)를 실행하여 실란 커플링 처리를 실시하였다.Diffusion preventing coating (the following nickel → zinc continuous electroplating), surface rust prevention treatment (the following Cr plating treatment), and silane coupling treatment were carried out in this order on the roughened surface of the copper foil after the alkali immersion treatment. A silane coupling agent was prepared by using an amino system (KBM-903, product of Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) as an aqueous solution with a concentration of 0.2 mass%, applying a coating on a copper foil and drying (120 ° C) Respectively.
[니켈→아연 연속 전기 도금][Nickel → Zinc continuous electroplating]
*니켈 도금욕* Nickel plating bath
NiSO4 ·6H2O: 45 g/L~450 g/L NiSO 4 · 6H 2 O: 45 g / L ~ 450 g / L
H3BO3: 10 g/L~50 g/LH 3 BO 3 : 10 g / L to 50 g / L
pH: 3.0~4.5pH: 3.0 to 4.5
욕온: 30℃~60℃Bath temperature: 30 ° C to 60 ° C
전류 밀도: 0.1 A/dm2~2.0 A/dm2 Current density: 0.1 A / dm 2 to 2.0 A / dm 2
도금 시간: 2초~30초Plating time: 2 seconds ~ 30 seconds
*아연 도금욕* Zinc plating bath
ZnSO4 ·7H2O: 3 g/L~100 g/L ZnSO 4 · 7H 2 O: 3 g / L ~ 100 g / L
NaOH: 20 g/L~80 g/LNaOH: 20 g / L to 80 g / L
욕온: 20℃~40℃Bath temperature: 20 ℃ ~ 40 ℃
전류 밀도: 0.1 A/dm2~2.0 A/dm2 Current density: 0.1 A / dm 2 to 2.0 A / dm 2
도금 시간: 2초~30초Plating time: 2 seconds ~ 30 seconds
[Cr 도금](크로메이트 처리)[Cr plating] (chromate treatment)
CrO3 0.5~40 g/LCrO 3 0.5 to 40 g / L
욕온 20~70℃Bath temperature 20 ~ 70 ℃
처리시간 1초~2분
전류 밀도 0.1~10 A/dm2 Current density 0.1 to 10 A / dm 2
pH 1.0~4.0pH 1.0 to 4.0
<폴리이미드 수지의 조제>≪ Preparation of polyimide resin &
[폴리아미드산의 합성][Synthesis of polyamic acid]
열전쌍 및 교반기를 구비함과 동시에 질소 도입이 가능한 반응 용기에 N,N-디메틸아세트아미드를 넣고, 또한 이 반응 용기에 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판(BAPP)을 투입하여 용기 중에서 교반하면서 용해시켰다. 이어서 피로멜리트산 2무수물(PMDA)을 상기 디아민(BAPP)과 산 2무수물(PMDA)이 약 1:1의 몰 비이고, 또한 이들의 합계량인 모노머의 투입 총량이 12질량%가 되도록 투입하였다.N, N-dimethylacetamide was added to a reaction vessel equipped with a thermocouple, a stirrer and a nitrogen-introducing reaction vessel, and 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ) Was added and dissolved in the container while stirring. Then, pyromellitic dianhydride (PMDA) was added in such an amount that the molar ratio of the diamine (BAPP) to the acid dianhydride (PMDA) was about 1: 1, and the total amount of the monomers was 12 mass%.
상기 조제한 폴리아미드산 100질량부에 대하여 하기 동해 방지제의 1종을 0.2질량부 첨가한 폴리아미드산도 동일하게 제작하였다.A polyamic acid obtained by adding 0.2 parts by mass of one kind of antifouling agent described below to 100 parts by mass of the polyamic acid thus prepared was also prepared in the same manner.
동해 방지제 1: 살리실산 유도체·트리아졸류(상품명: 아데카스타브CDA-1, (주)ADEKA 제품)Antiseptic agent 1: Salicylic acid derivative / triazole (trade name: Adecastab CDA-1, manufactured by ADEKA)
물질명: 3-(N-살리실로일)아미노-1,2,4-트리아졸Material name: 3- (N-salicyloyl) amino-1,2,4-triazole
[화학식 1][Chemical Formula 1]
동해 방지제 2: 옥살산 유도체(상품명: Naugard XL-1, Addivant 제품)Antifungal agent 2: Oxalic acid derivative (trade name: Naugard XL-1, available from Addivant)
물질명: 2,2'-옥사미드-비스[에틸-3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오네이트]Bis [ethyl-3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate]
[화학식 2](2)
동해 방지제 3: 하이드라지드 유도체(상품명: 이르가녹스 MD1024, BASF 재팬(주) 제품)Antihalation agent 3: Hydrazide derivative (trade name: Irganox MD1024, manufactured by BASF Japan)
물질명: N,N'-비스[3-(3,5-디-t-부틸-4-하이드록시페닐)프로피오닐]하이드라진N, N'-bis [3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionyl] hydrazine
[화학식 3](3)
각 동박의 상기 실란 커플링 처리까지 실시한 표면 상에, 상기 동해 방지제를 함유하거나 혹은 동해 방지제를 포함하지 않은 폴리아미드산 용액을 경화 후에 생성되는 폴리이미드 수지의 두께가 2.5 ㎛가 되도록 균일하게 도포한 후 130℃에서 가열 건조하여 용매를 제거하였다. 이어서 이 도포면 측에 동해 방지제를 포함하지 않은 폴리아미드산 용액을 경화 후에 생성되는 폴리이미드 수지의 두께가 20.0 ㎛가 되도록 균일하게 도포하고, 120℃에서 가열 건조하여 용매를 제거하였다. 또한 이 도포면 측에 제1층째에 도포한 것과 동일한(상기 동해 방지제를 함유하거나 혹은 동해 방지제를 포함하지 않은) 폴리아미드산 용액을 경화 후에 생성되는 폴리이미드 수지의 두께가 2.5 ㎛가 되도록 균일하게 도포하고, 130℃로 가열 건조하여 용매를 제거하였다. 이 장척 형상의 각 동박을 130℃에서 개시하여 300℃까지 단계적으로 온도가 올라가도록 설정한 연속 경화로에서 합계 6분 정도의 시간에 걸쳐 열 처리하고, 각 폴리아미드산의 이미드화를 실행하여, 생성된 전 3층으로 이루어지는 폴리이미드 수지층의 합계 두께가 25 ㎛인 동박 적층판을 얻었다.A polyamic acid solution containing the antifouling agent or no antifouling agent was uniformly coated on the surface of each copper foil until the silane coupling treatment so that the thickness of the polyimide resin produced after curing was 2.5 占 퐉 After drying at 130 ° C, the solvent was removed. Subsequently, a polyamic acid solution containing no antifouling agent was uniformly applied to the coated side so that the thickness of the polyimide resin produced after curing was 20.0 占 퐉, and the solvent was removed by drying at 120 占 폚. The same polyamide acid solution (containing the antifouling agent or no antifouling agent) as applied to the first layer on the side of the coated surface was applied uniformly so that the thickness of the polyimide resin produced after curing was 2.5 占 퐉 And dried by heating at 130 DEG C to remove the solvent. Each copper foil of this elongated shape was subjected to a heat treatment for a total of about 6 minutes in a continuous curing furnace which was set at 130 DEG C and set to raise the temperature stepwise up to 300 DEG C and imidization of each polyamic acid was carried out, A copper clad laminate having a total thickness of 25 mu m in total of the polyimide resin layers composed of all three layers thus formed was obtained.
제작한 각 실시예, 각 비교예의 동박에 대하여 각 특성을 표 3에 나타낸다.Table 3 shows the respective characteristics of the copper foils of the respective examples and comparative examples.
[표 3][Table 3]
각 실시예, 각 비교예에서 각 특성의 측정은 이하의 방법으로 실행하였다.In each of the examples and comparative examples, the measurement of each characteristic was carried out in the following manner.
(1) 확산 반사율의 측정(1) Measurement of diffuse reflectance
측정에는 닛폰분코 제품 자외 가시 분광 광도계 V-660(상품명, 적분구 유닛)을 사용하였다. 폴리이미드 수지에 붙이기 전의 동박의 조화 처리 면에 대하여 수직으로 측정광을 입사하여 확산 반사율(Rd)을 측정하였다. 모두 파장 600 nm일 때의 값을 평가에 사용하였다.For the measurement, an ultraviolet visible spectrophotometer V-660 (trade name, integral sphere unit) manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd. was used. The measurement light was incident perpendicularly to the roughened surface of the copper foil before being adhered to the polyimide resin, and the diffuse reflectance (Rd) was measured. The values at all wavelengths of 600 nm were used for the evaluation.
(2) 표면색(채도(C*))의 측정(2) Measurement of surface color (saturation (C *))
측정에는 닛폰분코 제품 자외 가시 분광 광도계 V-660(상품명, 적분구 유닛)을 사용하였다. 파장 870~200 nm 사이에서 폴리이미드 수지에 붙이기 전의 동박의 조화 처리 면의 전 광선 분광 반사율을 측정하였다. 그 스펙트럼에서 측정기 부속 소프트웨어에 의해 L*, a*, b*를 산출하였다. C*는 상기 식 1에 의해 a*와 b*로부터 산출하였다.For the measurement, an ultraviolet visible spectrophotometer V-660 (trade name, integral sphere unit) manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd. was used. The total light ray spectral reflectance of the roughened surface of the copper foil before being attached to the polyimide resin at a wavelength of 870 to 200 nm was measured. L *, a *, and b * were calculated by the software attached to the instrument in the spectrum. C * was calculated from a * and b * in accordance with the
(3) 조화 입자 높이의 측정(3) Measurement of height of harmonic particles
제작한 각 구리 피복 적층판을 수지로 메우고, 단면 노출을 실행한 후에 FE-SEM(전계방사형 주사전자현미경)(히타치하이테크 제품, 상품명: SU8020)을 이용하여 50000배로 관찰하였다. 5 ㎛ 각의 시야 중에서 무작위로 선택한 10개의 조화 입자의 높이를 측정하고, 이의 산술 평균값을 조화 입자 높이로 하였다. 조화 입자 높이의 측정법의 자세한 내용을 도 1에 나타낸다. 즉,Each of the copper clad laminates thus prepared was filled with a resin and subjected to cross-sectional exposure, and observed at 50000 magnifications using FE-SEM (field emission scanning electron microscope) (product name: SU8020, product of Hitachi Hi-tech Co., Ltd.). The height of 10 coarse particles randomly selected from the field of view of 5 占 퐉 was measured, and the arithmetic mean value thereof was regarded as the coarsened particle height. Details of the method for measuring the height of harmonic particles are shown in Fig. In other words,
[1] 단면 노출 시에 절단된 조화 입자(도시한 SEM 사진 중에서 가장 앞 측에 보이는 조화 입자)의 뿌리 2점과, 조화 입자의 높이가 가장 높은 점을 잇는 삼각형을 그린다. 50000배의 관찰로는 5 ㎛의 시야각을 관찰하지 못하고, 조건에 따라서는 10개의 조화 입자를 관찰하는 것이 불가능한 경우가 있으므로, 그 경우에는 촬영 부분이 상이한 단면 SEM 화상을 2~3장 이용하여 산술 평균 높이를 구한다.[1] Draw a triangle connecting two roots of the coarsely grained particles (the coarsest grains shown in the front side of the SEM photograph shown) and the highest point of the coarsened particles at the time of single-sided exposure. It is impossible to observe a viewing angle of 5 占 퐉 by observing 50000 times and it may not be possible to observe 10 coarse particles depending on conditions. In this case, Find the average height.
[2] [1]에서 그린 삼각형에 대하여 조화 입자의 높이가 가장 높은 점을 정점, 조화 입자의 뿌리를 잇는 선을 저변으로 한 경우의 삼각형의 높이를 재고, 이것을 조화 입자 높이로 한다. 그의 산술 평균 높이를 구하여 조화 입자 높이로 한다.[2] The height of the triangle in the case where the highest point of the height of the harmonic grains is the apex and the line connecting the roots of the roughed grains is the bottom is obtained from the triangle drawn in [1]. The arithmetic mean height is obtained as the height of the harmonic grain.
(4) 원소 부착량 비의 측정(4) Measurement of atomic weight ratio
ICP 발광분석장치(시마즈세이사쿠죠 제품, 상품명: ICPS-7000)를 이용하여 폴리이미드 수지에 붙이기 전의 동박의 조화 처리면의 니켈 및 아연 부착량을 JIS K 0553-2002의 규격에 준한 수법으로 측정하였다. 합금계 조화 처리품의 Ni 부착량은 조화 입자를 구성하는 Ni 및 확산 방지층을 구성하는 Ni의 부착량의 합계를 측정하였다. 측정된 부착량에서 Ni/Zn 부착량 비(질량비)를 산출하였다.The adhesion amount of nickel and zinc on the roughened surface of the copper foil before being attached to the polyimide resin using an ICP emission spectrometer (product of Shimadzu Seisakujo Co., Ltd., product name: ICPS-7000) was measured according to the method of JIS K 0553-2002 . The Ni deposition amount of the alloy-based roughened products was determined by summing up the amounts of Ni and Ni constituting the coarse particles and the Ni constituting the diffusion preventing layer. The ratio of Ni / Zn adhesion ratio (mass ratio) was calculated from the measured adhesion amount.
각 실시예, 각 비교예의 동박의 성능 평가는 이하의 방법으로 실행하였다.The performance evaluation of the copper foils of the respective examples and comparative examples was carried out by the following methods.
(5) 필름 시인성 평가(5) Evaluation of film visibility
상기 각 실시예, 각 비교예에서 제작한 구리 피복 적층판에 대하여 염화구리 에칭액으로 동박을 모두 용해시키고, 한쪽 면 측에 동박 표면이 전사된 폴리이미드 필름을 제작하였다.The copper clad laminate produced in each of the above Examples and Comparative Examples was completely dissolved in the copper chloride etching solution to prepare a polyimide film having the copper foil surface transferred on one side thereof.
측정에는 닛폰분코 제품 자외 가시 분광 광도계 V-660(상품명, 적분구 유닛)을 사용하고, 광원은 파장 600 nm의 단색광을 이용하며, 기타 측정 조건은 JIS K 7136-2000에 준거하였다. 폴리이미드 필름의 동박 표면 요철이 전사된 면에 대하여 수직으로 측정광을 입사하고, 그 투과광이 적분구에 들어가도록 하였다. 입사광의 광축과 적분구 내벽이 교차하는 부분에 적분구 내벽과 동일한 표준 반사판을 설치했을 때의 투과율이 전 광선 투과율(Tt)이고, 동일 부분에 트래핑을 설치하여 수직으로 투과해온 빛을 적분구 밖으로 꺼내어 제외한 후 측정했을 때의 투과율이 확산 투과율(Td)이다. 측정 결과를 표 4에 기재했다.For the measurement, an ultraviolet visible spectrophotometer V-660 (trade name, integral sphere unit) manufactured by Nippon Bunko Co., Ltd. was used, and a monochromatic light having a wavelength of 600 nm was used as a light source, and other measurement conditions were in accordance with JIS K 7136-2000. Measurement light was incident perpendicularly to the surface of the polyimide film on which the surface irregularities of the copper foil were transferred, and the transmitted light was allowed to enter the integrating sphere. When the same standard reflector as the inner wall of the integrating sphere is provided at the intersection of the optical axis of the incident light and the inner wall of the integrating sphere, the transmittance is the total light transmittance (T t ) The transmittance measured when taken out and removed is the diffuse transmittance (T d ). The measurement results are shown in Table 4.
(Td/Tt)×100(%)을 헤이즈 값으로 하여 산출하였다.(T d / T t ) × 100 (%) as a haze value.
시인성의 평가로는 헤이즈 값<40(%)일 때를 「우수(A)」, 40≤헤이즈 값<80(%)일 때를 「양호(B)」, 80(%)≤헤이즈 값일 때를 「열악(E)」으로 하였다. 시인성 평가 E는 프린트 배선판 용도로서는 적합하지 않을 정도로 열악한 시인성이고, 시인성 평가 B는 프린트 배선판 용도로서 적합한 정도의 양호한 시인성이다. B에서 A의 순서로 시인성이 높아지고, 시인성 평가 A이면 보다 바람직한 시인성이다. 헤이즈 값을 표 4에 아울러 기재하였다.When the haze value is less than 40 (%) is evaluated as "excellent (A)", when the haze value is less than 80 (%), the haze value is evaluated as good (B) (E) ". The visibility evaluation E is poor visibility to the extent that it is not suitable for printed wiring board applications, and the visibility evaluation B is good visibility to a degree suitable for use in a printed wiring board. The visibility is higher in the order of B to A, and the visibility is more preferable than the visibility evaluation A. The haze values are also shown in Table 4.
(6) 동박/수지 간의 박리강도의 측정(6) Measurement of peel strength between copper foil and resin
동박과 폴리이미드 수지층의 밀착성의 척도로서 상태 박리강도 및 내열 박리강도를 아래와 같이 측정하였다. 상기 각 실시예, 각 비교예에서 제작한 구리 피복 적층판의 내열시험(150℃의 대기 중에 1000시간의 열 처리) 전후의 시료를 사용하여, 동박부를 10 mm 폭 테이프로 마스킹하여 염화구리 에칭을 실행한 후에 테이프를 제거하여 10 mm 폭의 샘플을 제작하고, JIS C 6481-1996의 규격에 따라 상태 박리강도 및 내열 박리강도를 측정하였다.The state peel strength and the heat peel strength as a measure of the adhesion between the copper foil and the polyimide resin layer were measured as follows. Using the specimens before and after the heat resistance test (heat treatment at 150 ° C for 1000 hours in the air) of the copper clad laminate produced in each of the above Examples and Comparative Examples, the copper foil portion was masked with a 10 mm wide tape to perform copper chloride etching The tape was removed to prepare a sample having a width of 10 mm, and the state peel strength and the heat peel strength were measured according to the standard of JIS C 6481-1996.
상태 박리강도 및 내열 박리강도 쌍방이 1.0 kN/m 이상일 때를 「수(A)」로 하고, 어느 한쪽의 박리강도가 1.0 kN/m 미만 0.8 kN/m 이상일 때를 「우(B)」로 하고, 어느 한쪽의 박리강도가 0.8 kN/m 미만 0.6 kN/m 이상일 때를 「양(C)」으로 하고, 어느 한쪽의 박리강도가 0.6 kN/m 미만 0.4 kN/m 이상일 때를 「가(D)」로 하고, 어느 한쪽의 박리강도가 0.4 kN/m 미만일 때를 「열(불합격)(E)」로 하였다. 박리강도 평가 D, C, B, A는 프린트 배선판 용도로서 적합한 정도의 양호한 밀착성을 갖고 있다고 할 수 있다. D에서 C, B의 순서로 밀착성이 높아지고, A이면 보다 바람직한 밀착성이다. 결과를 표 4에 아울러 기재하였다.(A) " when both of the state peel strength and the heat peel strength were 1.0 kN / m or more, and when the peel strength was 1.0 kN / m or less and 0.8 kN / m or more, And when the peel strength of either one is less than 0.6 kN / m and not more than 0.4 kN / m is referred to as " (C) " D) ", and when one of the peel strengths was less than 0.4 kN / m, the heat (rejection) (E) was determined. Peel strength evaluation D, C, B, and A can be said to have good adhesiveness to a degree suitable for printed wiring board applications. The adhesion is increased in the order of D, C, and B, and A is more preferable. The results are also shown in Table 4.
(7) 시인성과 밀착성의 종합 평가(7) Overall evaluation of visibility and adhesion
상기 (5) 및 (6)의 결과로부터 아래의 기준에 의거하여 종합 평가를 실행하였다. 결과를 표 4에 아울러 기재하였다.Based on the results of (5) and (6) above, comprehensive evaluation was carried out based on the following criteria. The results are also shown in Table 4.
시인성, 밀착성 중 하나라도 E 평가인 것: E(불합격)E, which is one of the visibility and the adhesion, is E (rejected)
밀착성 평가에 D 평가가 있고, 또한 시인성이 E 평가가 아닌 것: D(합격, 가)D for evaluation of adhesion and visibility not for E: D (acceptance, a)
밀착성 평가에 C 평가가 있고, 또한 시인성이 E 평가가 아닌 것: C(합격, 양)There is C evaluation in adhesion evaluation, and visibility is not E evaluation: C (acceptance, quantity)
시인성, 밀착성 중 적어도 한쪽이 B 평가이고, 또한 E 평가가 아닌 것: B(합격, 우)Visibility, and adhesion are B evaluation and not E evaluation: B (acceptance, right)
양쪽의 평가 항목에서 A 평가인 것: A(합격, 수)In both evaluation items, evaluation A: A (acceptance, number)
[표 4][Table 4]
실시예 1~15는 모두 종합평가가 D, C, B, A이고, 실용상 문제가 없는 레벨이라고 할 수 있다. 동박 표면의 조화의 형상에 관해서도 단면 관찰의 결과로부터 모두 본 발명의 규정을 충족하고, 표 1의 형상 1로 나타내는 형상이 되어 있었다.In Examples 1 to 15, the overall evaluation is D, C, B, and A, and it can be said that there is no problem in practical use. The shape of the roughening of the surface of the copper foil was found to have a shape represented by the
순동계 조화 처리에서는 실시예 1과 실시예 12, 합금계 조화 처리에서는 실시예 14와 실시예 15의 비교로 동해 방지제를 포함하는 쪽이 내열 박리강도는 높아 보다 바람직하다는 것을 알 수 있다. 실시예 11과 14에서는 조화 높이, Rd 및 Ni 부착량 비가 거의 동일하지만, 순동계 조화 처리인 실시예 11 쪽이 상태 및 내열 박리강도가 높아, 보다 바람직하다는 것을 알 수 있다. 실시예 1과 실시예 9의 비교로 Rd는 보다 바람직하게는 24% 이상이 좋은 것을 알 수 있다. 실시예 10과 실시예 14의 비교로 합금계 조화 처리보다도 순동계 조화 처리 쪽이 박리강도는 높아 보다 바람직한 것을 알 수 있다. 실시예 1~6과 실시예 7~11을 비교하면 순동계 조화 처리에서 동해 방지제를 사용한 것 중에서도 Rd가 24~38%, Ni 부착량 비가 5.6~20% 쪽이 보다 바람직하다는 것을 알 수 있다. 실시예 1과 실시예 13은 동등한 조화 입자 높이였음에도 불구하고, 실시예 13 쪽이 헤이즈 값이 높아 시인성이 열악하지만, 압연 동박 특유의 오일 피트에 의한 요철에 의한 것으로 생각되고, 전해 동박을 이용한 쪽이 바람직하다는 것을 알 수 있다.It can be seen that the antifouling agent is contained in Examples 1 and 12 in the pure roughening treatment and in the alloying roughening treatment in Examples 14 and 15, because the heat peel strength is higher and more preferable. In Examples 11 and 14, the blend height, Rd, and Ni deposition ratio are almost the same, but it is understood that Example 11, which is a pure roughening treatment, is more preferable because the condition and the heat peel strength are high. It can be seen from comparison between Example 1 and Example 9 that Rd is more preferably at least 24%. It can be seen from the comparison between Example 10 and Example 14 that the peeling strength is higher than that of the alloy-based roughening treatment because the roughening treatment is higher than that of the alloy roughening treatment. Comparing Examples 1 to 6 and Examples 7 to 11, it can be seen that Rd is preferably from 24 to 38% and Ni adhesion ratio is from 5.6 to 20% in the case of using the antifouling agent in the pure roughening treatment. Although Example 1 and Example 13 were equal in height of harmonic grains, Example 13 had a poor haze value due to a high haze value, but was considered to be caused by unevenness due to oil pits peculiar to the rolled copper foil, Is preferable.
이것에 반하여 각 비교예는 모두 열악한 성질을 나타내었다.On the contrary, each comparative example exhibited poor properties.
비교예 1은 Rd, C* 및 조화 입자 높이가 모두 본 발명의 규정보다 높고, 단면 관찰을 실행하면 표 1의 형상 4로 나타내는 형상이었다. 따라서 밀착성에는 뛰어나지만 시인성이 낮아, 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Example 1, R d , C * and the height of harmonic particles were both higher than those in the present invention, and when the cross-section was observed, the shape was shown by Form 4 in Table 1. Therefore, although it is excellent in adhesion, it has low visibility and is not suitable for practical use.
비교예 2는 비교예 1과는 반대로 Rd 및 조화 입자 높이가 본 발명의 규정보다 낮고, 단면 관찰을 실행하면 표 1의 형상 5로 나타내는 형상이었다. 따라서 모두 시인성에는 뛰어나지만 밀착성이 낮으므로 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Example 2, contrary to Comparative Example 1, the R d and the height of the harmonic particle were lower than those in the present invention. Therefore, all of them are excellent in visibility but are not suitable for practical use because they have low adhesion.
비교예 3 및 4는 조화 입자 높이, 니켈/아연 부착량 비가 본 발명의 규정 범위 내이고 수지 중에 동해 방지제를 포함하지만, Rd 및 C* 중 적어도 1개가 본 발명의 규정 범위 외이고, 단면 관찰을 실행하면 각각 표 1의 형상 2 및 3으로 나타내는 형상이었다. 동시에 시인성은 좋지만 밀착성이 낮으므로 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Examples 3 and 4, at least one of R d and C * is out of the range defined by the present invention and the ratio of the height of the harmonic grain and the ratio of nickel / zinc is within the specified range of the present invention and the anti- When they were carried out, they had shapes shown by
비교예 5 및 6은 니켈/아연 부착량 비가 본 발명의 규정보다도 낮았다. 모두 시인성은 좋지만 밀착성이 열악하므로 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Examples 5 and 6, the nickel / zinc adhesion ratio was lower than that of the present invention. Both are good in visibility but poor in adhesion, which is not suitable for practical use.
비교예 7은 Rd, C* 및 조화 입자 높이가 모두 본 발명의 규정보다 높고, 단면 관찰을 실행하면 표 1의 형상 4로 나타내는 형상이었다. 따라서 밀착성에는 뛰어나지만 시인성이 낮고, 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Example 7, R d , C * and height of harmonic particles were both higher than those in the present invention, and when the cross section was observed, the shape was shown by the shape 4 in Table 1. Therefore, although it is excellent in adhesion, it has low visibility and is not suitable for practical use.
비교예 8은 비교예 1과는 반대로 Rd 및 조화 입자 높이가 본 발명의 규정보다 낮고, 단면 관찰을 실행하면 표 1의 형상 5로 나타내는 형상이었다. 따라서 시인성에는 뛰어나지만 밀착성이 낮으므로 실용에는 적합하지 않다.In Comparative Example 8, contrary to Comparative Example 1, the R d and the height of the harmonic particle were lower than those of the present invention, and when the cross-section was observed, the shape represented by the shape 5 in Table 1 was obtained. Therefore, although they are excellent in visibility, they are not suitable for practical use because they have low adhesion.
비교예 9~12는 각각 실시예 1, 8, 10 및 14의 PR 펄스 전해 처리를 실행하지 않았던 것에 상당한다. 비교예 9~12의 단면 관찰을 하면 조화 입자 사이의 골이 상당히 깊어져 있었다. 따라서 조화 입자 높이의 평균값이 높아지고, 표 1의 형상 4로 나타내는 형상과 비슷해졌다. 따라서 밀착성에는 뛰어나지만 시인성이 낮으므로 실용에 적합하지 않다. 본 발명의 PR 펄스 전해 처리는 조화 입자 사이의 골을 어느 정도 메움으로써 조화 입자의 높이를 낮추고, 표 1의 형상 1과 비슷하게 함으로써 시인성 향상에 기여하고 있다.Comparative Examples 9 to 12 correspond to those in which the PR pulse electrolytic treatment of Examples 1, 8, 10, and 14 was not performed, respectively. Cross-sectional observation of Comparative Examples 9 to 12 revealed that the grains between the coarsened grains were deeply deepened. Therefore, the average value of the height of the harmonic grains is increased, which is similar to the shape shown by the shape 4 in Table 1. Therefore, it is not suitable for practical use because it is excellent in adhesion but low in visibility. The PR pulse electrolytic treatment of the present invention contributes to the improvement of the visibility by lowering the height of the coarsened grains by filling the grains between the coarsened grains to some extent and by making them similar to the
이상과 같이 동박 표면의 조화 입자 높이, 확산 반사율, 채도, 확산 방지 피복의 니켈/아연 부착량 비에 대하여 모두 본 발명의 규정대로 됨으로써 처음으로 실용상 문제가 없는 수준에 도달했다는 것을 알 수 있다. 또한 동해 방지제를 폴리이미드 수지 중에 함유시킴으로써 내열 박리강도가 한층 더 향상되는 것을 알 수 있다.As described above, it can be seen that the ratio of the height of the coarsened grains on the surface of the copper foil, the diffuse reflectance, the saturation, and the ratio of the nickel / zinc adhered amount of the diffusion preventive coating are all in accordance with the present invention. It is also found that the heat peel strength is further improved by incorporating the antifreezing agent into the polyimide resin.
산업상 이용 가능성Industrial availability
본 발명에 의해 프린트 배선판 용도에 적합한 수지 밀착성과 시인성이 뛰어난 배선판용 구리 피복 적층판 및 이것에 사용되는 동박을 제공하는 것이 가능해진다.The present invention makes it possible to provide a copper clad laminate for a wiring board excellent in resin adhesion and visibility suitable for use as a printed wiring board and a copper foil used therefor.
Claims (3)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014183358 | 2014-09-09 | ||
JPJP-P-2014-183358 | 2014-09-09 | ||
PCT/JP2015/061878 WO2016038923A1 (en) | 2014-09-09 | 2015-04-17 | Copper foil for printed wiring board, and copper-clad laminated board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20170052577A KR20170052577A (en) | 2017-05-12 |
KR101988778B1 true KR101988778B1 (en) | 2019-06-12 |
Family
ID=55458686
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020177005502A KR101988778B1 (en) | 2014-09-09 | 2015-04-17 | Copper foil for printed wiring board, and copper-clad laminated board |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101988778B1 (en) |
CN (1) | CN106795644B (en) |
TW (1) | TWI625989B (en) |
WO (1) | WO2016038923A1 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102639577B1 (en) * | 2016-11-21 | 2024-02-21 | 에스케이넥실리스 주식회사 | Metal Laminate and Method for Manufacturing The Same |
JP7492807B2 (en) * | 2016-12-06 | 2024-05-30 | Jx金属株式会社 | Surface-treated copper foil, carrier-attached copper foil, laminate, method for manufacturing printed wiring board, and method for manufacturing electronic device |
JP7492808B2 (en) * | 2017-03-31 | 2024-05-30 | Jx金属株式会社 | Surface-treated copper foil, surface-treated copper foil with resin layer, copper foil with carrier, laminate, method for manufacturing printed wiring board, and method for manufacturing electronic device |
KR102100016B1 (en) * | 2017-11-20 | 2020-04-10 | 주식회사 엘지화학 | Quantitative Analysis Method for Monomer in Polyimide Film |
EP3786317A4 (en) | 2018-04-27 | 2022-04-20 | JX Nippon Mining & Metals Corporation | Surface-treated copper foil, copper clad laminate, and printed wiring board |
JP7251928B2 (en) * | 2018-06-05 | 2023-04-04 | Jx金属株式会社 | Surface treated copper foil, copper clad laminate and printed wiring board |
US10581081B1 (en) * | 2019-02-01 | 2020-03-03 | Chang Chun Petrochemical Co., Ltd. | Copper foil for negative electrode current collector of lithium ion secondary battery |
JP6733971B1 (en) * | 2019-04-23 | 2020-08-05 | 株式会社シミズ | Copper damage prevention film, method for producing copper member with copper damage prevention film, and copper damage prevention method |
US11732376B2 (en) | 2019-06-12 | 2023-08-22 | Toyo Kohan Co., Ltd. | Roughened plated sheet |
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---|---|---|---|---|
JPH11340596A (en) | 1998-05-21 | 1999-12-10 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Copper foil for printed circuit board and copper foil attached with resin |
US6984456B2 (en) | 2002-05-13 | 2006-01-10 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Flexible printed wiring board for chip-on flexibles |
JP2004098659A (en) * | 2002-07-19 | 2004-04-02 | Ube Ind Ltd | Copper-clad laminate and its manufacturing process |
TWI298988B (en) | 2002-07-19 | 2008-07-11 | Ube Industries | Copper-clad laminate |
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CN103483816A (en) * | 2013-07-31 | 2014-01-01 | 宁波泛龙塑料新材料有限公司 | Carbon fiber reinforced polyimide composite material and preparation method thereof |
-
2015
- 2015-04-17 KR KR1020177005502A patent/KR101988778B1/en active IP Right Grant
- 2015-04-17 WO PCT/JP2015/061878 patent/WO2016038923A1/en active Application Filing
- 2015-04-17 CN CN201580046555.2A patent/CN106795644B/en active Active
- 2015-04-20 TW TW104112547A patent/TWI625989B/en active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106795644B (en) | 2019-10-01 |
TWI625989B (en) | 2018-06-01 |
WO2016038923A1 (en) | 2016-03-17 |
TW201611672A (en) | 2016-03-16 |
CN106795644A (en) | 2017-05-31 |
KR20170052577A (en) | 2017-05-12 |
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