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KR101939844B1 - Apparatus and method of testing a substrate - Google Patents

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KR101939844B1
KR101939844B1 KR1020120096082A KR20120096082A KR101939844B1 KR 101939844 B1 KR101939844 B1 KR 101939844B1 KR 1020120096082 A KR1020120096082 A KR 1020120096082A KR 20120096082 A KR20120096082 A KR 20120096082A KR 101939844 B1 KR101939844 B1 KR 101939844B1
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South Korea
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강경원
김수현
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세메스 주식회사
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Abstract

기판 검사 장치는 기판을 일정 크기의 셀들로 구분하고, 점등된 셀에 대한 컬러 영상을 획득하기 위한 카메라와, 컬러 영상에 기판 정보 및 점등된 셀의 패턴 정보를 포함하여 영상 파일을 생성하는 파일 생성부와, 영상 파일을 저장하며 영상 파일을 전송하기 위한 전송부 및 전송부를 통해 영상 파일을 전송받아 기판의 화질을 검사할 수 있다. 영상 파일을 생성함으로써 컬러 영상을 암호화하여 기판 검사 공정의 보안성을 향상시킬 수 있다. The substrate inspection apparatus includes a camera for dividing a substrate into cells of a predetermined size, a camera for acquiring a color image of a lit cell, and a file generating unit for generating an image file including the substrate information and the pattern information of the lit- And an image file is received through a transmitting unit and a transmitting unit for transmitting an image file, and the image quality of the substrate can be checked. By creating an image file, the color image can be encrypted to improve the security of the substrate inspection process.

Description

기판의 검사 장치 및 방법{Apparatus and method of testing a substrate}[0001] Apparatus and method for testing a substrate [0002]

본 발명은 기판 검사 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 점등된 셀의 영상을 이용하여 기판의 화질을 검사하는 기판 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate inspection apparatus and method, and more particularly, to a substrate inspection apparatus and method for inspecting an image quality of a substrate using an image of a lighted cell.

일반적으로, 액정 기판이나 엘이디 기판 등은 점등 검사를 통해 상기 기판의 불량을 확인한다. In general, a liquid crystal substrate, an LED substrate, or the like is checked for defects of the substrate through a lighting test.

종래 기술에 따르면, 먼저 점등된 하나의 셀을 카메라로 촬영 후 이미지를 생성하고, 생성된 이미지를 화질 검사부로 전송하여 상기 이미지의 이상 여부를 확인하여 상기 기판의 불량을 검사한다. According to the related art, a camera is first photographed with a camera, and an image is generated. Then, the generated image is transmitted to an image quality checking unit to check whether the image is abnormal, and the defect of the substrate is inspected.

이때, 상기 화질 검사부에서 상기 이미지를 확인하여 상기 셀이 정상으로 확인되는 경우에만 다른 셀에 대한 촬영을 진행한다. 상기 화질 검사부에서 상기 이미지를 확인하여 상기 셀이 이상으로 확인되는 경우에는 에러를 발생하고 상기 기판에 대한 검사 공정이 중단된다. At this time, the image quality checking unit checks the image and proceeds to photograph another cell only when the cell is confirmed as normal. The image quality checking unit checks the image, and if the cell is found abnormal, an error is generated and the inspection process for the substrate is interrupted.

따라서, 상기 이미지의 확인 결과에 따라 상기 기판의 검사가 반복적으로 중단될 수 있으므로, 상기 기판에 대한 검사 공정의 효율이 저하될 수 있다. Therefore, the inspection of the substrate may be repeatedly stopped according to the result of the checking of the image, so that the efficiency of the inspection process on the substrate may be reduced.

본 발명은 기판의 셀 이미지에 대한 확인 결과에 상관없이 기판에 대한 검사를 수행할 수 있는 기판 검사 장치를 제공한다. The present invention provides a substrate inspection apparatus capable of performing inspection on a substrate irrespective of a confirmation result on a cell image of the substrate.

본 발명은 기판의 셀 이미지에 대한 확인 결과에 상관없이 기판에 대한 검사를 수행할 수 있는 기판 검사 방법을 제공한다. The present invention provides a substrate inspection method capable of performing inspection on a substrate regardless of a confirmation result on a cell image of the substrate.

본 발명에 따른 기판 검사 장치는 기판을 일정 크기의 셀들로 구분하고, 점등된 셀에 대한 컬러 영상을 획득하기 위한 카메라와, 상기 컬러 영상에 기판 정보 및 상기 점등된 셀의 패턴 정보를 포함하여 영상 파일을 생성하는 파일 생성부와, 상기 영상 파일을 저장하며 상기 영상 파일을 전송하기 위한 전송부 및 상기 전송부를 통해 상기 영상 파일을 전송받아 상기 기판의 화질을 검사하는 화질 검사부를 포함할 수 있다. The apparatus for inspecting a substrate according to the present invention includes a camera for dividing a substrate into cells of a predetermined size and obtaining a color image of a lit cell, A file generating unit for generating a file, a transmitting unit for storing the image file and transmitting the image file, and an image quality checking unit for receiving the image file through the transmitting unit and examining the image quality of the substrate.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 전송부의 영상 파일 전송 여부와 상관없이 상기 카메라의 컬러 영상 획득, 상기 파일 생성부의 영상 파일 생성 및 상기 저장부의 영상 파일 저장이 반복하여 이루어질 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the color image acquisition of the camera, the image file creation of the file generation unit, and the image file storage of the storage unit may be repeatedly performed regardless of whether the transmission unit transmits the image file.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 기판 정보는 기판의 아이디, 기판 크기, 셀 크기, 셀 카운트, 픽셀 사이즈, 기판 타입을 포함하고, 상기 패턴 정보는 패턴 개수 및 패턴 이름을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the substrate information includes an ID of a substrate, a substrate size, a cell size, a cell count, a pixel size, and a substrate type, and the pattern information may include a pattern number and a pattern name .

본 발명에 따른 기판 검사 방법은 점등된 셀에 대한 컬러 영상을 획득하는 단계와, 상기 컬러 영상에 기판 정보 및 상기 점등된 셀의 패턴 정보를 포함하여 영상 파일을 생성하는 단계와, 상기 영상 파일을 상기 기판의 화질을 검사하는 화질 검사부로 전송하기 위해 상기 영상 파일을 저장하는 단계 및 상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하는 단계를 포함할 수 있다. A method for inspecting a substrate according to the present invention includes the steps of: obtaining a color image of a lit cell; generating an image file including the substrate information and the pattern information of the lit cell in the color image; Storing the image file for transmission to an image quality checking unit for checking the image quality of the substrate, and performing an inspection on the stored image file.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 기판 검사 방법은 상기 영상 파일이 상기 화질 검사부로 전송되었는지 여부와 상관없이 상기 컬러 영상을 획득하는 단계, 상기 영상 파일을 생성하는 단계 및 상기 영상 파일을 저장하는 단계를 반복할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the method of inspecting a substrate may further include acquiring the color image regardless of whether the image file is transmitted to the image quality checking unit, generating the image file, Can be repeated.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하는 단계는 상기 화질 검사부와의 통신 연결 여부를 확인하는 단계와, 상기 화질 검사부와의 통신 연결이 확인되면, 상기 전송할 영상 파일의 유무를 확인하는 단계와, 상기 전송할 영상 파일이 있으면, 상기 영상 파일을 통신을 통해 상기 화질 검사부로 전송하는 단계 및 상기 전송된 영상 파일을 이용하여 상기 기판의 화질 정상 여부를 확인할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the checking of the stored image file may include checking whether communication with the image quality checking unit is established, and if the communication connection with the image quality checking unit is confirmed, Checking whether the image file exists or not; transmitting the image file to the image quality checking unit via communication if the image file to be transmitted exists; and checking whether the image quality of the substrate is normal using the transmitted image file.

본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하는 단계는 상기 기판의 화질이 정상으로 확인되면 상기 전송된 영상 파일을 삭제하는 단계를 더 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the checking of the stored image file may further include deleting the transmitted image file if the quality of the substrate is confirmed to be normal.

본 발명의 기판 검사 장치 및 방법에 따르면, 컬러 영상에 기판 정보와 패턴 정보를 추가하여 영상 파일을 생성하면서 상기 컬러 영상을 암호화한다. 따라서, 기판의 검사 공정에 대한 보안을 강화할 수 있다. According to the substrate inspection apparatus and method of the present invention, substrate information and pattern information are added to a color image to encrypt the color image while generating an image file. Thus, the security of the inspection process of the substrate can be enhanced.

또한, 상기 기판 검사 장치 및 방법은 전송부와 화질 검사부의 통신 연결 상태와 상관없이 상기 컬러 영상 획득, 상기 영상 파일 생성 및 상기 영상 파일 저장을 반복하여 수행할 수 있다. 그러므로, 상기 기판에 대한 검사를 중단없이 연속적으로 수행할 수 있다. In addition, the apparatus and method for inspecting a substrate may perform the color image acquisition, the image file generation, and the image file storage repeatedly irrespective of a communication connection state between the transmitting unit and the image quality checking unit. Therefore, the inspection of the substrate can be continuously performed without interruption.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 검사 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 검사 대상인 기판을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예들에 따른 기판 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 4는 도 3의 영상 파일 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
1 is a block diagram for explaining a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view for explaining a substrate to be inspected.
3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a substrate according to one embodiment of the present invention.
4 is a flowchart for explaining a video file checking method of FIG.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사 장치 및 방법에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, an apparatus and method for inspecting a substrate according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are enlarged to illustrate the present invention in order to clarify the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, the terms "comprises", "having", and the like are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a part or a combination thereof is described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 검사 장치를 설명하기 위한 블록도이고, 도 2는 검사 대상인 기판을 설명하기 위한 평면도이다. FIG. 1 is a block diagram for explaining a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view for explaining a substrate to be inspected.

도 1 및 도 2를 참조하면, 기판 검사 장치(100)는 기판(10)의 화질을 검사하기 위한 것으로, 카메라(110), 파일 생성부(120), 전송부(130) 및 화질 검사부(140)를 포함한다. 1 and 2, the substrate inspection apparatus 100 is for inspecting the image quality of the substrate 10 and includes a camera 110, a file generation unit 120, a transmission unit 130, and an image quality inspection unit 140 ).

기판(10)은 일정 크기를 갖는 다수의 셀(12)들로 구분되고, 각 셀(12)은 다수의 픽셀(14)들을 포함할 수 있다. The substrate 10 is divided into a plurality of cells 12 having a predetermined size, and each cell 12 may include a plurality of pixels 14.

카메라(110)는 점등된 셀(12)에 대한 컬러 영상을 촬영하여 획득한다. 셀(12)은 화이트, 레드, 그린, 블루 등으로 점등될 수 있다. 상기 컬러 영상은 비트맵 이미지일 수 있다. The camera 110 captures and acquires a color image of the lit cell 12. The cell 12 may be illuminated in white, red, green, blue, or the like. The color image may be a bitmap image.

파일 생성부(120)는 카메라(110)로부터 상기 컬러 영상을 전달받고, 상기 컬러 영상에 기판 정보 및 상기 점등된 셀(12)의 패턴 정보를 포함하여 영상 파일을 생성한다.The file generation unit 120 receives the color image from the camera 110 and generates an image file including the substrate information and the pattern information of the lit cells 12 in the color image.

상기 영상 파일에서 상기 컬러 영상은 비트맵(bitmap) 영상 정보 형태를 갖는다. In the image file, the color image has a form of bitmap image information.

상기 기판 정보는 기판의 아이디, 기판의 크기, 셀 크기, 셀 카운트, 픽셀 사이즈, 기판 타입을 포함한다. The substrate information includes the ID of the substrate, the size of the substrate, the cell size, the cell count, the pixel size, and the substrate type.

상기 기판의 아이디는 기판(10)을 식별하기 위한 것으로, 숫자, 알파벳, 한글 등으로 이루어질 수 있다. 상기 기판의 크기는 기판(10)의 가로 크기 및 세로 크기를 의미한다. 상기 셀 크기는 기판(10)을 일정 크기로 구분한 셀(12)의 가로 크기 및 세로 크기를 의미한다. 상기 셀 카운트는 셀(12)들의 가로 개수 및 세로 개수를 의미한다. 상기 픽셀 사이즈는 각 픽셀(14)의 가로 크기 및 세로 크기를 의미한다. 상기 기판 타입은 기판(10)이 마진용 기판인지 분석용 기판인지를 나타낸다. 상기 마진용 기판은 기판(10)의 일정 영역을 촬영하여 기계적으로 검사하는 기판이며, 상기 분석용 기판은 기판(10)의 화질을 검사하기 위한 검사원이 직접 현미경으로 검사하는 기판이다. The ID of the substrate is used to identify the substrate 10, and may include numbers, alphabets, and Korean characters. The size of the substrate refers to the horizontal and vertical sizes of the substrate 10. The cell size refers to the horizontal size and the vertical size of the cell 12 in which the substrate 10 is divided into a predetermined size. The cell count means the number of horizontal and vertical cells 12. The pixel size means a horizontal size and a vertical size of each pixel 14. The substrate type indicates whether the substrate 10 is a margin substrate or an analysis substrate. The margin substrate is a substrate on which a predetermined area of the substrate 10 is photographed and inspected mechanically. The analysis substrate is a substrate directly inspected by a microscope for inspecting the image quality of the substrate 10.

상기 패턴 정보는 상기 점등된 셀(12)의 패턴 개수 및 패턴 이름을 포함한다. 상기 패턴 개수는 셀(12)의 점등될 수 있는 패턴의 개수를 의미하며, 셀(12)은 화이트, 레드, 그린, 블루 등으로 점등될 수 있다. 상기 패턴 이름은 셀(12)을 화이트, 레드, 그린, 블루로 각각 점등할 때 필요한 전류값 및 신호 등을 의미한다. The pattern information includes a pattern number of the lit cells 12 and a pattern name. The number of patterns means the number of patterns that can be lit in the cell 12, and the cell 12 may be lit in white, red, green, blue, and the like. The pattern name refers to a current value and a signal necessary for lighting the cell 12 to white, red, green, and blue, respectively.

상기 영상 파일은 패턴 리스트 정보 및 비트맵 헤더(header) 정보를 더 포함할 수 있다. The image file may further include pattern list information and bitmap header information.

상기 패턴 리스트 정보는 상기 패턴의 개수 및 상기 패턴들의 리스트를 포함한다. The pattern list information includes a number of the patterns and a list of the patterns.

상기 비트맵 헤더 정보는 상기 컬러 영상의 비트맵 사이즈와 비트맵의 이름을 포함한다. The bitmap header information includes the bitmap size of the color image and the name of the bitmap.

파일 생성부(120)에서 상기 영상 파일을 생성함으로써 상기 컬러 영상이 암호화하는 효과를 갖는다. 따라서, 상기 영상 파일은 상기 기판 정보, 패턴 정보, 패턴 리스트 정보, 비트맵 헤더 정보, 상기 컬러 영상의 비트맵 정보를 포함하는 구조를 가지며, 상기 영상 파일의 구조를 알지 못하면, 상기 컬러 영상을 확인할 수 없다. The file generation unit 120 generates the image file to encrypt the color image. Therefore, the image file has the structure including the substrate information, the pattern information, the pattern list information, the bitmap header information, and the bitmap information of the color image. If the structure of the image file is unknown, I can not.

전송부(130)는 파일 생성부(120)에서 생성된 영상 파일을 저장하며, 상기 저장된 영상 파일을 화질 검사부(140)로 전송한다. 전송부(130)는 유무선 통신을 통해 화질 검사부(140)와 연결된다. 전송부(130)는 화질 검사부(140)로 상기 영상 파일이 전송되면 상기 저장된 영상 파일을 삭제할 수 있다. The transmitting unit 130 stores the image file generated by the file generating unit 120 and transmits the stored image file to the image quality checking unit 140. The transmission unit 130 is connected to the image quality checking unit 140 through wired / wireless communication. The transmission unit 130 may delete the stored image file when the image file is transmitted to the image quality checking unit 140. [

전송부(130)는 화질 검사부(140)와 상기 통신을 통한 연결이 되지 않으면, 전송부(130)는 화질 검사부(140)와 통신 연결이 될 때까지 상기 영상 파일을 저장한 상태로 대기한다. The transmission unit 130 waits while the image file is stored until the image quality checking unit 140 establishes a communication connection with the image quality checking unit 140.

한편, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결 여부 및 전송부(130)가 화질 검사부(140)로 상기 영상 파일을 전송했는지 여부와 상관없이 카메라(110)의 컬러 영상 획득, 파일 생성부(120)의 영상 파일 생성 및 전송부(130)의 영상 파일 저장이 반복하여 이루어진다. 즉, 전송부(130)가 화질 검사부(140)로 상기 영상 파일을 전송하든지 하지 못하든지 간에 카메라(110)는 점등된 다른 셀(12)들에 대한 컬러 영상들을 획득하고, 파일 생성부(120)는 상기 컬러 영상들을 영상 파일로 생성한다. 그러므로, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 연결 상태와 무관하게 기판(10)에 대한 검사 공정이 중단없이 수행될 수 있다. Whether communication is established between the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 and whether the transmission unit 130 transmits the image file to the image quality checking unit 140, The generation of the image file by the generation unit 120 and the storage of the image file by the transfer unit 130 are repeated. That is, whether or not the transmitting unit 130 transmits the image file to the image quality checking unit 140, the camera 110 acquires color images of the different cells 12 that are lighted up, and the file generating unit 120 Generates the color images as image files. Therefore, the inspection process for the substrate 10 can be performed without interruption regardless of the connection state between the transfer unit 130 and the image quality inspection unit 140.

생성된 영상 파일들은 전송부(130)에 저장된 후 화질 검사부(140)로 전송된다. The generated image files are stored in the transmission unit 130 and then transmitted to the image quality checking unit 140.

전송부(130)와 화질 검사부(140)의 상기 통신을 통한 연결이 되지 않으면, 전송부(13)는 다수의 영상 파일들을 저장할 수 있다. 상기 영상 파일들이 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 상기 통신을 통한 연결된 후 화질 검사부(140)로 전송되더라도 각 영상 파일에 포함된 기판 정보 및 패턴 정보를 이용하여 상기 영상 파일이 기판(10)의 어느 셀(12)에 대한 어떤 패턴에 관한 영상인지 정확하게 확인할 수 있다. If the connection through the communication between the transmission unit 130 and the image quality inspection unit 140 is not established, the transmission unit 13 can store a plurality of image files. Even if the image files are transmitted to the image quality checking unit 140 after the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 are connected through the communication, the image file is transferred to the substrate It is possible to precisely confirm which pattern of the cell 12 in which the image is related to which pattern.

화질 검사부(140)는 전송부(130)를 통해 상기 영상 파일을 전송받아 상기 기판의 화질을 검사한다. 화질 검사부(140)는 상기 영상 파일과 기 설정된 기준 파일을 비교하여 셀(12)의 화질을 검사하거나, 검사원이 상기 영상 파일을 검사하여 셀(12)의 화질을 검사할 수 있다. 화질 검사부(140)의 화질 검사 결과 상기 영상 파일이 정상으로 확인되면, 상기 영상 파일을 삭제할 수 있다. The image quality inspection unit 140 receives the image file through the transmission unit 130 and checks the image quality of the substrate. The image quality checking unit 140 may check the image quality of the cell 12 by comparing the image file with a preset reference file or may inspect the image file of the cell 12 by the inspector. If it is determined that the image file is normal as a result of the image quality check by the image quality checking unit 140, the image file can be deleted.

기판 검사 장치(100)는 파일 생성부(120)에서 상기 영상 파일을 생성하면서 상기 컬러 영상이 암호화되므로, 상기 기판(10)의 검사 공정에 대한 보안을 강화할 수 있다. The substrate inspection apparatus 100 can secure the inspection process of the substrate 10 because the color image is encrypted while generating the image file in the file generation unit 120. [

또한, 기판 검사 장치(100)는 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결 상태와 상관없이 카메라(110)의 컬러 영상 획득, 파일 생성부(120)의 영상 파일 생성 및 전송부(130)의 영상 파일 저장이 반복하여 이루어질 수 있으므로, 기판 검사 장치(100)가 연속적으로 구동될 수 있다.
In addition, the substrate inspection apparatus 100 may acquire color images of the camera 110, generate image files of the file generation unit 120, and transmit the image files to the transmission unit 130, irrespective of the communication connection state between the transmission unit 130 and the image quality inspection unit 140 130 can be repeatedly performed, so that the substrate inspection apparatus 100 can be continuously driven.

도 3은 본 발명의 일 실시예들에 따른 기판 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a substrate according to one embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 상기 기판 검사 방법은 먼저 점등된 셀(12)에 대한 컬러 영상을 획득한다(S100).Referring to FIG. 3, the substrate inspection method first obtains a color image for the lit cell 12 (S100).

기판(10)을 일정 크기를 갖는 다수의 셀(12)들로 구분하고, 하나의 셀(12)을 점등한 후 점등된 셀(12)에 대한 컬러 영상을 카메라(110)를 이용하여 획득한다. 셀(12)은 화이트, 레드, 그린, 블루 등 다양한 컬러로 점등될 수 있으며, 상기 컬러 영상은 비트맵 이미지일 수 있다. The substrate 10 is divided into a plurality of cells 12 having a predetermined size and a color image for the lit cells 12 is acquired using the camera 110 after one cell 12 is lit . The cell 12 may be illuminated in various colors such as white, red, green, and blue, and the color image may be a bitmap image.

상기 컬러 영상이 획득되면, 상기 컬러 영상을 이용하여 영상 파일을 생성한다(S200). When the color image is acquired, an image file is generated using the color image (S200).

구체적으로, 상기 컬러 영상에 기판 정보 및 상기 점등된 셀(12)의 패턴 정보를 포함하여 상기 영상 파일을 생성한다. 상기 영상 파일 생성은 파일 생성부(120)에서 이루어질 수 있다. Specifically, the image file includes the substrate information and the pattern information of the lit cells 12 in the color image. The file creation unit 120 may create the image file.

상기 영상 파일에서 상기 컬러 영상은 비트맵(bitmap) 영상 정보 형태를 갖는다. In the image file, the color image has a form of bitmap image information.

상기 기판 정보는 기판의 아이디, 기판의 크기, 셀 크기, 셀 카운트, 픽셀 사이즈, 기판 타입을 포함하고, 상기 패턴 정보는 상기 점등된 셀(12)의 패턴 개수 및 패턴 이름을 포함한다. 또한, 상기 영상 파일은 패턴 리스트 정보 및 비트맵 헤더 정보를 더 포함할 수 있다. The substrate information includes an ID of a substrate, a size of a substrate, a cell size, a cell count, a pixel size, and a substrate type, and the pattern information includes a pattern number and a pattern name of the lit cells 12. In addition, the image file may further include pattern list information and bitmap header information.

상기 기판 정보, 상기 패턴 정보, 상기 패턴 리스트 정보 및 비트맵 헤더 정보에 대한 구체적 설명은 도 1 내지 도 2를 참조하여 설명되었으므로 생략한다. The substrate information, the pattern information, the pattern list information, and the bitmap header information are described in detail with reference to FIGS. 1 and 2. FIG.

상기 영상 파일이 생성됨으로써 상기 컬러 영상이 암호화되는 효과를 갖는다. 따라서, 상기 영상 파일은 상기 기판 정보, 패턴 정보, 패턴 리스트 정보, 비트맵 헤더 정보, 상기 컬러 영상의 비트맵 정보를 포함하는 구조를 가지며, 상기 영상 파일의 구조를 알지 못하면, 상기 컬러 영상을 확인할 수 없다. And the color image is encrypted by generating the image file. Therefore, the image file has the structure including the substrate information, the pattern information, the pattern list information, the bitmap header information, and the bitmap information of the color image. If the structure of the image file is unknown, I can not.

상기 영상 파일이 생성되면 상기 영상 파일을 저장한다(S300). When the image file is generated, the image file is stored (S300).

생성된 영상 파일은 전송부(130)에 저장되며, 화질 검사부(140)로의 전송의 위해 대기한다. 전송부(130)와 화질 검사부(140)가 서로 통신 연결이 되지 않으면 전송부(13)에 다수의 영상 파일들이 저장될 수도 있다. The generated image file is stored in the transmission unit 130 and waits for transmission to the image quality checking unit 140. [ If the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 are not in communication with each other, a plurality of image files may be stored in the transmission unit 13.

상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행한다(S400). The stored image file is inspected (S400).

도 4는 도 3의 영상 파일 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 4 is a flowchart for explaining a video file checking method of FIG.

도 4를 참조하면, 상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하기 위해 화질 검사부(140)와의 통신 연결 여부를 확인한다(S410).Referring to FIG. 4, in step S410, it is determined whether a communication connection with the image quality checking unit 140 is performed to check the stored image file.

전송부(130)는 유무선 통신을 통해 화질 검사부(140)와 연결된다. 상기 영상 파일을 화질 검사부(140)와의 연결을 확인한다. 전송부(130)와 화질 검사부(140)가 서로 연결되지 않으면 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 연결 여부를 반복적으로 확인한다. 또한, 전송부(130)와 화질 검사부(140)가 서로 연결되지 않으면, 상기 영상 파일은 대기 상태로 유지된다. The transmission unit 130 is connected to the image quality checking unit 140 through wired / wireless communication. And confirms the connection of the image file to the image quality checking unit 140. [ If the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 are not connected to each other, the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 are repeatedly checked. If the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 are not connected to each other, the image file is maintained in a standby state.

한편, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 연결 상태와 무관하게 상기 컬러 영상 획득 공정(S100), 상기 영상 파일 생성 공정(S200) 및 상기 영상 파일 저장 공정(S300)은 반복적으로 이루어질 수 있다. 그러므로, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 연결 상태와 무관하게 기판(10)에 대한 검사 공정이 중단없이 수행될 수 있다. Meanwhile, the color image acquisition process S100, the image file generation process S200, and the image file storage process S300 may be repeatedly performed regardless of the connection state between the transmission unit 130 and the image quality checking unit 140 have. Therefore, the inspection process for the substrate 10 can be performed without interruption regardless of the connection state between the transfer unit 130 and the image quality inspection unit 140.

화질 검사부(140)와의 통신 연결이 확인되면, 상기 전송할 영상 파일의 유무를 확인한다(S420). If the communication connection with the image quality checking unit 140 is confirmed, the presence of the image file to be transmitted is checked (S420).

구체적으로, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신이 연결되면, 전송부(130)에 저장된 영상 파일이 있는지 확인한다. 전송부(130)에 저장된 영상 파일이 없으면, 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결 확인 공정(S410) 및 전송부(130)에 저장된 영상 파일 확인 공정(S420)을 전송부(130)에 저장된 영상 파일이 확인될 때까지 반복한다. Specifically, when the communication between the transmitting unit 130 and the image quality checking unit 140 is connected, it is determined whether the image file stored in the transmitting unit 130 exists. If there is no image file stored in the transfer unit 130, the communication connection checking step S410 of the transfer unit 130 and the image quality checking unit 140 and the image file checking step S420 stored in the transfer unit 130 are performed by the transfer unit 130 130 until the image file stored in the storage unit 130 is confirmed.

상기 전송할 영상 파일이 있으면, 상기 영상 파일을 통신을 통해 상기 화질 검사부로 전송한다(S430).If the image file to be transmitted exists, the image file is transmitted to the image quality checking unit through communication (S430).

상기 영상 파일은 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 유무선 통신을 통해 화질 검사부(140)로 전송될 수 있다. 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결이 유지되는 경우, 상기 영상 파일이 생성되고 저장되는 즉시 화질 검사부(140)로 전송되므로 상기 영상 파일은 하나씩 전송될 수 있다. The image file may be transmitted to the image quality checking unit 140 through the wired / wireless communication between the transmitting unit 130 and the image quality checking unit 140. When the communication connection between the transmitting unit 130 and the image quality checking unit 140 is maintained, the image file is transmitted to the image quality checking unit 140 as soon as the image file is generated and stored, so that the image file can be transmitted one by one.

전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결이 끊어진 상태에서 다시 연결되는 경우, 전송부(130)에 저장되어 대기하는 다수의 영상 파일들이 화질 검사부(140)로 전송될 수 있다. 상기 다수의 영상 파일들이 화질 검사부(140)로 전송되더라도, 각 영상 파일에 포함된 기판 정보 및 패턴 정보를 이용하여 상기 영상 파일이 기판(10)의 어느 셀(12)에 대한 어떤 패턴에 관한 영상인지 정확하게 확인할 수 있다. A plurality of image files stored and waiting in the transmission unit 130 may be transmitted to the image quality checking unit 140 when the communication unit 130 and the image quality checking unit 140 are disconnected from each other. Even if the plurality of image files are transmitted to the image quality checking unit 140, the image file may be displayed on the substrate 10 using the substrate information and the pattern information included in each image file, It can be confirmed accurately.

한편, 전송부(130)에서 화질 검사부(140)로 상기 영상 파일이 전송되면 전송부(130)에 저장된 영상 파일은 삭제될 수 있다. 따라서, 전송부(130)에 영상 파일이 과도하게 저장되는 것을 방지할 수 있다. Meanwhile, when the image file is transmitted from the transmission unit 130 to the image quality checking unit 140, the image file stored in the transmission unit 130 may be deleted. Accordingly, it is possible to prevent the image file from being excessively stored in the transfer unit 130. [

화질 검사부(140)로 전송된 영상 파일을 이용하여 기판(10)의 화질 정상 여부를 확인한다(S440). The image quality of the substrate 10 is checked using the image file transmitted to the image quality checking unit 140 (S440).

구체적으로, 화질 검사부(140)로 전송된 영상 파일과 기 설정된 기준 파일을 비교하여 셀(12)의 화질을 검사할 수 있다. 또는 검사원이 화질 검사부(140)로 전송된 영상 파일을 검사하여 셀(12)의 화질을 검사할 수 있다.Specifically, the image quality of the cell 12 can be checked by comparing the image file transmitted to the image quality checking unit 140 with a preset reference file. Or the inspector can check the image quality of the cell 12 by inspecting the image file transmitted to the image quality checking unit 140. [

검사한 셀(12)의 화질이 불량으로 확인되면, 다른 영상 파일을 검사하기 위해 통신 연결 여부를 확인하는 공정(S410)부터 화질을 검사하는 공정(S440)을 반복한다. If it is determined that the image quality of the inspected cell 12 is bad, it is checked whether the communication connection is established (S410) or not (S440).

기판(10)의 화질이 정상으로 확인되면 상기 검사가 완료된 영상 파일을 삭제한다(S450). If it is determined that the image quality of the substrate 10 is normal, the image file having been inspected is deleted (S450).

검사가 완료된 영상 파일을 삭제함으로써 화질 검사부(140)에 과도한 영상 파일이 저장되는 것을 방지할 수 있다. It is possible to prevent an excessive image file from being stored in the image quality checking unit 140 by deleting the checked image file.

검사가 완료된 영상 파일의 삭제가 완료되면, 다른 영상 파일을 검사하기 위해 통신 연결 여부를 확인하는 공정(S410)부터 화질을 검사하는 공정(S440)을 반복한다.When the deletion of the image file having been inspected is completed, a step S410 of checking whether or not communication is established to check another image file, and a step S440 of checking the image quality are repeated.

상기 기판 검사 방법에 따르면, 상기 컬러 영상을 상기 영상 파일로 생성하면서 상기 컬러 영상이 암호화되므로, 상기 기판(10)의 검사 공정에 대한 보안을 강화할 수 있다. According to the substrate inspection method, since the color image is encrypted while generating the color image as the image file, the security of the inspection process of the substrate 10 can be enhanced.

또한, 상기 기판 검사 방법은 전송부(130)와 화질 검사부(140)의 통신 연결 상태와 상관없이 상기 컬러 영상 획득, 영상 파일 생성 및 영상 파일 저장을 반복적으로 수행하므로, 상기 기판에 대한 검사 공정을 중단없이 연속적으로 수행할 수 있다. In addition, since the substrate inspection method repeatedly performs color image acquisition, image file generation, and image file storage irrespective of the communication connection state between the transmission unit 130 and the image quality inspection unit 140, Can be performed continuously without interruption.

상술한 바와 같이, 본 발명의 기판 검사 장치 및 방법은 기판의 검사 공정에 대한 보안을 강화할 수 있고, 상기 기판의 검사 공정을 연속적으로 수행할 수 있다. 따라서, 상기 기판 검사 공정에 대한 신뢰성과 생산성을 향상시킬 수 있다. As described above, the apparatus and method for inspecting a substrate of the present invention can enhance the security of the inspection process of the substrate, and can continuously perform the inspection process of the substrate. Therefore, reliability and productivity of the substrate inspection process can be improved.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims. It can be understood that it is possible.

100 : 기판 검사 장치 110 ; 카메라
120 : 파일 생성부 130 : 전송부
140 : 화질 검사부
100: substrate inspection apparatus 110; camera
120: file generating unit 130:
140: Picture quality checker

Claims (7)

기판을 일정 크기의 셀들로 구분하고, 점등된 셀에 대한 비트맵 영상 정보 형태를 갖는 컬러 영상을 획득하기 위한 카메라;
상기 컬러 영상에 기판 정보, 상기 점등된 셀의 패턴 정보, 패턴 리스트 정보 및 비트맵 헤더 정보를 포함하여 영상 파일을 생성하는 파일 생성부;
상기 영상 파일을 저장하며 상기 영상 파일을 전송하기 위한 전송부; 및
상기 전송부를 통해 상기 영상 파일을 전송받아 상기 기판의 화질을 검사하는 화질 검사부를 포함하고,
상기 전송부의 영상 파일 전송 여부와 상관없이 상기 카메라의 컬러 영상 획득, 상기 파일 생성부의 영상 파일 생성 및 상기 전송부의 영상 파일 저장이 반복하여 이루어지며,
상기 화질 검사부의 화질 검사 결과 상기 영상 파일이 정상으로 확인되면, 상기 전송부는 상기 저장된 영상 파일을 삭제하고,
상기 영상 파일은 상기 기판 정보, 상기 패턴 정보, 상기 패턴 리스트 정보, 상기 비트맵 헤더 정보 및 상기 컬러 영상의 비트맵 정보를 포함하는 구조를 가지므로, 상기 영상 파일을 생성함으로써 상기 컬러 영상을 암호화하고,
상기 기판 정보는 기판의 아이디, 기판 크기, 셀 크기, 셀 카운트, 픽셀 사이즈, 기판 타입을 포함하고,
상기 패턴 정보는 패턴 개수 및 패턴 이름을 포함하고,
상기 패턴 리스트 정보는 상기 패턴의 개수 및 상기 패턴들의 리스트를 포함하고,
상기 비트맵 헤더 정보는 상기 컬러 영상의 비트맵 사이즈와 비트맵의 이름을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사 장치.
A camera for dividing a substrate into cells of a predetermined size and obtaining a color image having a bitmap image information form for a lit cell;
A file generating unit for generating an image file including the substrate information, the pattern information of the lit cells, the pattern list information, and the bitmap header information in the color image;
A transmitting unit for storing the image file and transmitting the image file; And
And an image quality checking unit for receiving the image file through the transmission unit and examining the image quality of the substrate,
The color image acquisition of the camera, the image file creation of the file creation unit, and the image file storage of the transfer unit are repeatedly performed irrespective of whether or not the image file is transferred by the transfer unit,
If the image file is found to be normal as a result of the image quality check of the image quality checking unit, the transmitting unit deletes the stored image file,
Since the image file includes the substrate information, the pattern information, the pattern list information, the bitmap header information, and the bitmap information of the color image, the color image is encrypted by generating the image file ,
Wherein the substrate information includes an ID of a substrate, a substrate size, a cell size, a cell count, a pixel size, and a substrate type,
Wherein the pattern information includes a pattern number and a pattern name,
Wherein the pattern list information includes a number of the patterns and a list of the patterns,
Wherein the bitmap header information includes a bitmap size of the color image and a name of a bitmap.
삭제delete 삭제delete 점등된 셀에 대한 비트맵 영상 정보 형태를 갖는 컬러 영상을 획득하는 단계;
상기 컬러 영상에 기판 정보, 상기 점등된 셀의 패턴 정보, 패턴 리스트 정보 및 비트맵 헤더 정보를 포함하여 영상 파일을 생성하는 단계;
상기 영상 파일을 상기 기판의 화질을 검사하는 화질 검사부로 전송하기 위해 상기 영상 파일을 저장하는 단계; 및
상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하는 단계를 포함하고,
상기 영상 파일이 상기 화질 검사부로 전송되었는지 여부와 상관없이 상기 컬러 영상을 획득하는 단계, 상기 영상 파일을 생성하는 단계 및 상기 영상 파일을 저장하는 단계를 반복하며,
상기 영상 파일은 상기 기판 정보, 상기 패턴 정보, 상기 패턴 리스트 정보, 상기 비트맵 헤더 정보 및 상기 컬러 영상의 비트맵 정보를 포함하는 구조를 가지므로, 상기 영상 파일을 생성함으로써 상기 컬러 영상을 암호화하고,
상기 저장된 영상 파일에 대한 검사를 수행하는 단계는,
상기 화질 검사부와의 통신 연결 여부를 확인하는 단계;
상기 화질 검사부와의 통신 연결이 확인되면, 상기 전송할 영상 파일의 유무를 확인하는 단계;
상기 전송할 영상 파일이 있으면, 상기 영상 파일을 통신을 통해 상기 화질 검사부로 전송하는 단계;
상기 전송된 영상 파일을 이용하여 상기 기판의 화질 정상 여부를 확인하는 단계; 및
상기 기판의 화질이 정상으로 확인되면 상기 전송된 영상 파일을 삭제하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사 방법.
Obtaining a color image having a bitmap image information type for a lit cell;
Generating an image file including the substrate information, the pattern information of the lit cells, the pattern list information, and the bitmap header information in the color image;
Storing the image file to transmit the image file to an image quality checking unit for checking image quality of the substrate; And
And performing an inspection on the stored image file,
The method comprising the steps of: acquiring the color image regardless of whether the image file is transmitted to the image quality checking unit; generating the image file; and storing the image file,
Since the image file includes the substrate information, the pattern information, the pattern list information, the bitmap header information, and the bitmap information of the color image, the color image is encrypted by generating the image file ,
The step of checking the stored image file may include:
Confirming whether or not communication with the image quality checking unit is established;
Confirming whether or not the image file to be transmitted exists when a communication connection with the image quality checking unit is confirmed;
Transmitting the image file to the image quality checking unit through communication if the image file to be transmitted exists;
Confirming whether the image quality of the substrate is normal or not using the transmitted image file; And
And deleting the transferred image file if the image quality of the substrate is confirmed to be normal.
삭제delete 삭제delete 삭제delete
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220094593A (en) * 2020-12-29 2022-07-06 부산대학교 산학협력단 Apparatus and method for storing image data for surface defect detection scanner

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001038860A1 (en) 1999-11-25 2001-05-31 Olympus Optical Co., Ltd. Defect inspection data processing system

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3146644B2 (en) * 1992-06-05 2001-03-19 オムロン株式会社 Teaching method of mounted part inspection data
JPH11258178A (en) * 1998-03-13 1999-09-24 Omron Corp Apparatus and method for inspection
JP2010014436A (en) * 2008-07-01 2010-01-21 Micronics Japan Co Ltd Defect inspection method and defect inspection device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001038860A1 (en) 1999-11-25 2001-05-31 Olympus Optical Co., Ltd. Defect inspection data processing system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220094593A (en) * 2020-12-29 2022-07-06 부산대학교 산학협력단 Apparatus and method for storing image data for surface defect detection scanner
KR102595278B1 (en) 2020-12-29 2023-10-27 부산대학교 산학협력단 Apparatus and method for storing image data for surface defect detection scanner
US11961217B2 (en) 2020-12-29 2024-04-16 Pusan National University Industry—University Cooperation Foundation Device and method for storing image data for surface defect detection scanner

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