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KR101775584B1 - 열-보조 자기 기록에 대한 최적화된 기록 조건 - Google Patents

열-보조 자기 기록에 대한 최적화된 기록 조건 Download PDF

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KR101775584B1
KR101775584B1 KR1020160017127A KR20160017127A KR101775584B1 KR 101775584 B1 KR101775584 B1 KR 101775584B1 KR 1020160017127 A KR1020160017127 A KR 1020160017127A KR 20160017127 A KR20160017127 A KR 20160017127A KR 101775584 B1 KR101775584 B1 KR 101775584B1
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민지에 마
에드워드 찰스 게이지
카이즈홍 가오
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시게이트 테크놀로지 엘엘씨
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Abstract

장치는, 기록 매체에 데이터를 기입하기 위해 열-보조 자기 기록 헤드에 기입 구성(WC)을 적용하도록 구성되는 제어기를 포함한다. 기록 매체는 복수의 섹터들을 포함한다. 제어기는 추가로, 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC를 결정하고, 복수의 섹터들 중 하나에 기입 동작을 개시하도록 구성된다. 기입 동작은, 개별적인 섹터에 대해 최적화된 WC를 이용하여 헤드에 의해 수행되도록 구성된다.

Description

열-보조 자기 기록에 대한 최적화된 기록 조건{OPTIMIZED RECORDING CONDITION FOR HEAT-ASSISTED MAGNETIC RECORDING}
본 개시의 장치는, 기록 매체에 데이터를 기입하기 위해 열-보조 자기 기록 헤드(heat-assisted magnetic recording head)에 기입 구성(WC; writing configuration)을 적용하도록 구성되는 제어기를 포함한다. 기록 매체는 복수의 섹터들을 포함한다. 제어기는 추가로, 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC를 결정하고, 복수의 섹터들 중 하나에 기입 동작을 개시하도록 구성된다. 기입 동작은, 개별적인 섹터에 대해 최적화된 WC를 이용하여 헤드에 의해 수행되도록 구성된다.
본 개시의 방법은, 기록 매체의 복수의 섹터들 각각에 대해, 열-보조 자기 기록 헤드로 기입 동작을 수행하기 위한 최적화된 기입 구성(WC)을 결정하는 단계를 포함한다.
본 개시의 다른 장치는, 기록 매체에 데이터를 기입하기 위해 열-보조 자기 기록 헤드에 기입 구성(WC)을 적용하도록 구성되는 제어기를 포함한다. 기록 매체는 복수의 섹터들을 포함한다. 제어기는 추가로, 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC를 결정하고, 복수의 섹터들 중 하나에 기입 동작을 개시하도록 구성된다. 최적화된 WC는, 기록 매체의 복수의 섹터들 각각에 대한 트리플 트랙 비트 에러 레이트(triple track bit error rate)를 최소화하는 WC를 포함하며, 기입 동작은, 개별적인 섹터에 대해 최적화된 WC를 이용하여 수행되도록 구성된다.
위의 개요는 각각의 실시예 또는 모든 각각의 구현을 설명하도록 의도되지는 않는다. 첨부된 도면들과 함께 다음의 상세한 설명 및 청구항들을 참조함으로써, 더 완전한 이해가 명백해지고 인식될 것이다.
도 1은 HAMR 슬라이더의 예를 도시한다.
도 2는 판독/기입 헤드 구성의 예를 도시한다.
도 3a는 식별된 트랙 및 섹터들을 갖는 디스크의 예를 예시한다.
도 3b는 이상적인 트랙 프로파일(profile)을 예시한다.
도 3c는 실제의 트랙 프로파일을 예시한다.
도 4는 트랙의 섹터들에 걸쳐 비트 에러 레이트(BER; bit error rate)에서의 변동의 그래픽적 예시이다.
도 5는 이웃하는 트랙의 BER에서의 변동의 그래픽적 예시이다.
도 6, 도 6a, 및 도 7은 다양한 예시적인 실시예들에 따른 섹터-기반 레이저 다이오드 전류(SB-LDI; sector-based laser diode current) 기입 방법을 예시하는 흐름도들이다.
도 8-9는 트랙-기반 레이저 다이오드 전류(TB-LDI; track-based laser diode current) 기입을 SB-LDI 기입과 비교하는 그래픽적 예시이다.
도면들은 반드시 실척에 맞는 것은 아니다. 도면들에서 사용되는 유사한 숫자들은 유사한 컴포넌트들을 지칭한다. 그러나, 주어진 도면에서 컴포넌트를 지칭하기 위한 숫자의 사용이, 동일한 숫자로 라벨링(label)된 다른 도면에서의 컴포넌트로 제한하도록 의도되는 것은 아니라는 것이 이해될 것이다.
열적-보조 자기 기록(TAMR; thermal-assisted magnetic recording)으로 또한 지칭되는 열-보조 자기 기록(HAMR; heat-assisted magnetic recording)에서, 종래의 자기 매체들의 데이터 면밀도(areal data density)를 제한하는 초-상자성(super-paramagnetic) 효과들을 극복하기 위해, 자기 기록 매체들, 예컨대 하드 디스크에 인가되는 자기장들과 함께 열 에너지가 사용된다. HAMR 기록에서, 정보 비트들은 상승된 온도들에서 저장 층(layer) 상에 기록된다. 저장 층에서의 가열된 면적은 데이터 비트 디멘션(dimension)을 결정하고, 선형 기록 밀도는 데이터 비트들 사이의 자기 트랜지션(transition)들에 의해 결정된다.
원하는 데이터 밀도를 달성하기 위해, HAMR 슬라이더로 또한 알려져 있는 HAMR 기록 헤드는, 가열을 위한 에너지 소스로부터의 광 에너지를 기록 매체 상으로 유도(direct)하고, 집중시키고, 그리고 변환하는 광학 컴포넌트들을 포함한다. HAMR 슬라이더의 예시적인 구성이 도 1에 도시된다. HAMR 슬라이더(100)는, 근접 장 트랜스듀서(NFT; near field transducer)(106)의 광학 안테나(112)를 활성화(energize)시키는 레이저 광을 생성하도록 구성되는 에너지 소스(102), 예컨대 레이저 다이오드를 포함한다. 에너지 소스(102)에 의해 생성되는 레이저 광은 광 도파관(optical waveguide)(110)을 통해 NFT(106)로 안내된다. ABS(air bearing surface)로 또한 알려져 있는 HMI(head media interface)는 항목 번호(108)로 표시된다.
도 2에서, 블록도는 일 예시적인 실시예에 따른 슬라이더(200)의 단면 뷰를 예시한다. 도시된 바와 같이, 도파관(202)은 에너지 소스로부터 전자기 에너지(204)를 수신하고, 에너지는 근접-장 트랜스듀서(NFT)(206)에 커플링된다. NFT(206)는, 인가된 에너지(204)에 응답하여 표면 플라즈모닉 공진(plasmonic resonance)을 달성하는 금속(예를 들어, 은, 금, 구리 등)으로 이루어진다. NFT(206)는, 매체(214)의 표면(210) 상에 작은 핫스폿(hotspot)(208)을 생성하도록 에너지를 쉐이핑(shape) 및 송신한다. 자기 기입 폴(pole)(216)은, 인가된 전류에 응답하여 슬라이더의 매체 대면 표면(218) 근처의 자기 플럭스(flux)에서의 변경들을 야기한다. 기입 폴(216)로부터의 플럭스는, 기입 폴(216)을 지나 다운 트랙(down track)(z-방향)으로 이동하는 경우, 핫스폿(208)의 자기 배향을 변경한다. 핫스폿을 생성하기 위해 NFT(206)에 인가된 에너지(204)는, 국부적 영역에서의 상당한 온도 상승을 야기할 수 있다. 그러므로, NFT(206)는, 일부 열을, 예컨대 기입 폴(216) 또는 다른 근처의 열 전도성 컴포넌트로 유도(draw)하기 위해 열 싱크(heat sink)(220)를 포함할 수 있다.
HAMR에서, 자기 및 열적 속성들 둘 모두는 가장 양호한 성능을 달성하기 위한 바람직한 기입 구성(이후 "WC")(LDI Iop/LDI-OSA/LDI-OSD/Iw/OSA/OSD/가열기(heater) 셋팅 등)을 결정한다. 일반적으로, HAMR 드라이브는 바람직하게, 수용가능한 트리플 트랙 BER을 생성하는 WC에서 동작한다. 일 구성에서, HAMR 레이저 다이오드 전류 기입 방법은, 전체 트랙이 WC에서의 고정된(fixed) LDI에 의해 기입되는 트랙-기반 레이저 다이오드 전류(TB-LDI) 기입 방법을 포함한다. 이러한 기입 방법은, 트랙에 걸쳐 균일한 바람직한 LDI를 가정한다. 그러나, HAMR 매체들은 트랙에 걸쳐 비-균일성을 나타낼 수 있으며, 이는 OAR(once around)로 알려져 있다. OAR 이슈(issue)를 갖는 매체들에 대해, TB-LDI 기입 방법은 비-균일 트랙 프로파일 뿐만 아니라 비-균일 트리플 트랙 BER을 초래할 수 있다. 일반적으로, 디스크의 물질 분포는, 열적 또는 자기일 수 있는 디스크 내부에서의 변동들을 야기할 수 있으며, 그러므로, 그들 변동들을 조정하기 위한 소망이 존재한다.
트랙 프로파일에서의 변동은 도 3a-3c를 참조하여 더 양호하게 이해될 수 있다. 도 3a는, 트랙(302) 및 복수의 섹터들(304)을 갖는 간략화된 자기 기록 매체(300)를 예시한다. 도 3b는, TB-LDI 기입 방법이 사용되는 경우, 균일한 기입 폭(WW; write width)을 갖는 섹터들(304) 및 트랙(302)에 대한 이상적인 트랙 프로파일을 표현한다. 도 3c는, TB-LDI 기입 방법이 사용되는 경우, 섹터들(304) 및 트랙(302)에 대한 실제의 트랙 프로파일을 예시한다. 도시된 바와 같이, WW는 단일 레볼루션(revolution)에 걸쳐 상당히 변할 수 있으며, 이는 비-균일 트리플 트랙 BER을 초래한다. 도 4는 추가로, 단일 트랙의 다양한 섹터들에 걸쳐 트리플 트랙 BER에서의 변동의 그래픽적 예시를 제공함으로써 그러한 변동을 예시한다.
TB-LDI 기입 방법에서, OAR을 갖는 자기 매체들에 대해, 동일한 트랙 상의 섹터들은 고정된 LDI Iop 하에서 집합적으로 동작되기 위해 BER을 절충(compromise)해야 한다. 결과적으로, 온-트랙(on-track), 트리플 트랙 BER은 최적 값에 있지 않다. 또한, 다수의 기입들 이후, BER에 대한 인접 트랙 영향력은 온-트랙 비-균일성, 또는 OAR을 나타낸다(도 5에서 도시된 바와 같이, 인접 OAR은 10 기입들 이후 관측됨). BER에 대한 인접 트랙 영향력은, 훨씬 더 넓은 기입 폭으로 인해, 고정된 IOP보다 더 적은 IOP를 요구하는 섹터들에 대해 0.5 디케이드(decade) 더 불량할 수 있다(도 5 참조). 도 5는, 자기 매체들이 OAR 이슈를 갖는 경우, 중심 트랙의 0 내지 1000 기입들 이후의 이웃하는 트랙의 온-트랙, 트리플 트랙 BER의 그래픽적 예시이다.
주어진 매체들로부터 최적 트리플 트랙 BER을 획득하고, 인접 트랙 영향 OAR 효과를 감소시키기 위해, 본 개시는 섹터-기반 WC(SB-WC; sector-based WC) 기입 방법을 설명한다. 방법은 일반적으로, 최적화된 WC를 탐색하는 단계, 기록 매체의 복수의 섹터들 각각에 대한 바람직한 최적화된 WC를 결정하는 단계, 및 HAMR 헤드가 섹터들에 기입하는 경우, HAMR 헤드의 WC를 조정하는 단계를 포함한다. SB-WC에서, 임의의 WC 파라미터(이후 "WCP"), 예컨대, 레이저 다이오드 동작 전류(LDI Iop), 자기 기입 전류(Iw), 레이저 다이오드 전류의 오버 슈트 진폭 (over shoot amplitude)(LDI-OSA), 레이저 다이오드 전류의 오버 슈트 지속기간(LSI-OSD), 자기 기입 전류의 오버 슈트 진폭(OSA), 자기 기입 전류의 오버 슈트 지속기간(OSD) 등을 포함하지만 이에 제한되지 않는 HAMR 기입에 영향을 미칠 임의의 파라미터가 스위핑(sweep)될 수 있다. 단일 WCP 또는 다수의 WCP를 최적화하도록 선택될 수 있으며, 한 번에 하나의 WCP가 최적화된다. LDI는 HAMR에서 가장 뚜렷이 구별되는 WCP들 중 하나이다. 다음의 방법(600)에서, SB-WC 기입의 명시적인 예로서 SB-LDI 기입이 주어진다. 방법(600)에서의 Iop는 대응하는 SB-WC 기입에 대한 다른 WCP로 대체될 수 있다.
방법(600)은 도 6의 흐름도를 참조하여 예시된다. SB-LDI 기입 방법(600)에서, 주어진 매체 트랙에 대해, 트랙의 각각의 섹터는 각각의 섹터가 최적 트리플 트랙 BER을 생성하는 것을 가능하게 하는 대응하는 IOP에 의해 기입된다. 도 6 및 도 6a에 도시된 방법은 다양한 알파벳 식별자들을 사용하며, 이들은, 참고로 다음의 것들을 포함하는데, (1) j는 트랙 넘버이고; (2) m은 매체들 상의 트랙들의 총 수이고; (3) k는 섹터 넘버이고; (4) n은 트랙 j 상의 섹터들의 총 수 이고; 그리고 (5) i는 카운터이다.
방법(600)에 대하여, 트랙 넘버 j는 1과 동일한 것으로 설정된다(602). 그 후, 세트 [1, n]의 엘리먼트를 포함하는 모든 섹터들 k에 대해(604), i는 1과 동일하게 셋팅된다(606). 후속하여, 각각의 트랙 j, j-1, 및 j+1은 동작 전류 IOP(i- 1,j )로 기입되고, 여기서, IOP( 0,j )는 초기 동작 전류 IOP이며, BER, 즉 IOP(i- 1,j ) 하의 트랙 j 상의 섹터 k의 BER인 BER_IOP(i- 1,k,j )가 측정된다(608). 블록(604)에서 선택된 섹터들은 트랙의 모든 섹터들의 서브세트(subset)일 수 있고, 블록(602)에서 선택된 트랙들은 매체들의 트랙들 전부의 서브세트일 수 있음이 인식될 것이다. 그 후, 각각의 트랙 j, j-1, 및 j+1은 동작 전류 IOP( i,j )로 기입되고, 여기서, IOP( i,j )는 IOP(i-1,j) + DAC와 동일하며, DAC는 IOP(i,j)와 동일한 유닛(unit)으로 사용자 정의되고(예컨대, 이를테면 0.205 mA), BER_IOP( i,k,j )와 같은 BER이 다시 한번 측정된다(610). 그 후, 동작 전류 및 동작 전류 + DAC에서의 BER 값들 사이의 차이가 수학식(1)에 따라 계산된다(612).
Figure 112016014814302-pat00001
차이가 0보다 크지 않은 △BER(i,k,j)에 대한 값을 생성하면(614), 카운터 i는 1만큼 증분되고(615), 루프의 제어는 단계(610)로 리턴(return)되며, 여기서 트랙들 j, j-1, 및 j+1은 i의 새로운 값을 반영하는 동작 전류 IOP( i,j )로 기입되고, BER, 즉 i의 새로운 값을 또한 반영하는 BER_IOP( i,k,j )가 다시 한번 측정된다. BER 값들 사이의 차이가 수학식(1)에 따라 다시 한번 결정된다(612).
차이가 0보다 큰 △BER(i,k,j)에 대한 값을 생성하면(614), 섹터 서브세트 A(i,j)에 저장된 k 값들, 즉 섹터 넘버들 및 대응하는 동작 전류 IOP는, 섹터 서브세트 A( i,j )의 엘리먼트인 모든 섹터 넘버들 k에 대해 △BER( i,k,j ) > 0인 정보로 기록되고, IOP(i- 1,j )는 최적 IOP이다(616). 후속하여, 결정 블록(618)에 대하여, 세트 [1,n]의 엘리먼트를 포함하는 섹터 넘버 k에 대해 임의의 △BER(i,k,j)가 0 미만인지 여부가 질의된다. 임의의 △BER(i,k,j)가 0 미만이면, 카운터 i는 1만큼 증분되고(615), 제어는 다시 한번 단계(610)로 리턴되어 그로부터 위에 설명된 바와 같이 진행된다.
어떠한 △BER(i,k,j)도 0 미만이 아니면, 방법(600)은 결정 블록(620)으로 진행된다. 결정 블록(620)에서, 트랙 넘버 j가 트랙들의 총 수 m 미만인지 여부가 질의된다. 트랙 넘버 j가 트랙들의 총 수 m 미만이면, 트랙 넘버 j는 1(또는 몇몇 다른 값, 예컨대 2, 3, 4...)만큼 증분되고(621), 제어는, j의 새로운 값을 반영하여 위에 설명된 바와 같이 진행하기 위해 단계(604)로 리턴된다. 그러므로, 방법(600)은, 각각의 트랙 j의 각각의 섹터 k에 대한 최적 동작 전류 IOP( k,j )를 발견하기 위해 매체들의 각각의 섹터 및 트랙에 걸쳐 반복되며, 이는 또한 최적 트리플 트랙 BER을 생성할 것이다. 방법(600)이 섹터들 k 및 트랙들 j에 걸쳐 반복되는 경우, 섹터 서브세트들 A( i,j ) 전부 및 대응하는 IOP에 기초하는 IOP( k,j )에 대한 동작 전류 검색 테이블이 기록될 수 있다(622).
IOP( k,j )를 발견한 이후, 트랙 j의 섹터 k에 대한 최종 동작 레이저 전류 IOP가 계산될 수 있다. 먼저, 섹터들 k 및 트랙들 j에 대한 카운터들이 다시 1로 셋팅된다(621, 623). 그 후, 모든 트랙들 j에 대한 모든 섹터들 k에 대하여, 트랙 j∈[1,m]에 대해(m은 트랙들의 총 수임), IOP(j)는 최소 [IOP( k,j )]와 동일하게 셋팅되고, △IOP(k,j)는 수학식(2)에 따라 계산된다(624).
Figure 112016014814302-pat00002
방법(600)이 섹터들 k 및 트랙들 j에 걸쳐 반복되는 경우(각각 결정 블록들(632, 634) 및 증분들(633, 635)을 사용함), 대응하는 동작 전류 IOP(j) 및 △IOP(k,j)가 검색 테이블에 기록될 수 있다(628). 블록(628)까지의 이러한 절차는 저장 디바이스의 제조 스테이지, 예컨대 품질 테스팅 동안 수행될 수 있다. 따라서, 매체들에 기입할 경우, 매체들의 각각의 트랙은 검색 테이블로부터 획득된 대응하는
Figure 112016014814302-pat00003
를 사용하여 섹터별로 기입될 수 있다(630). 헤드로부터의 최적 성능을 달성하기 위한 바람직한 기입 구성 전류를 HAMR 기록 헤드에 제시하기 위해, 동작 전류 IOP는 (IOP/Iw)와 같은 기입 전류 Iw와 함께 이용됨을 유의한다.
SB-LDI 기입 방법의 다른 예시적인 실시예에서, 방법은, 매체들에 기입하기 위한 최적 동작 전류를 결정하기 위해 각(angle) 및 반경(radius)을 이용한다. 다시 도 3a를 참조하면, 각각의 트랙은 반경 r에 대응하고, 각각의 섹터는 각 θ에 대응함이 관측될 수 있다. 도 6 및 도 6a의 흐름도는, 다른 적절한 수정들과 함께 트랙 넘버 j를 반경 r로 치환하고 섹터 넘버 k를 각 θ로 치환함으로써 이러한 실시예에 대해 이용될 수 있다. 언급된 치환들에 대해, r에 의해 정의되는 트랙의 각 θ에 의해 정의되는 섹터에 대한 최종 동작 레이저 전류는 수학식(3)에서 발견될 수 있다.
Figure 112016014814302-pat00004
항 △IOP( θ,r )은 아래의 수학식(4)에 의해 정의된다.
Figure 112016014814302-pat00005
여기서, A(k,θ,r)은 차수 k에 대한 계수이다.
위에 설명된 동작 전류 검색 테이블들은 적절한 메모리, 예컨대 비휘발성 메모리에서의 저장을 통해 구현될 수 있거나, 또는 부가적으로/대안적으로, 특별히 예비된 필드들에서 매체들로 기입될 수 있음이 유의되어야 한다. 또한, 최적 동작 전류들의 계산은, 디스크 드라이브의 동작 조건들, 예컨대 온도 보상 팩터(factor)들에서의 변형들을 수용하기 위한 팩터들을 포함할 수 있음이 유의되어야 한다. 더욱이, 메모리 할당을 감소시키기 위해, Iop 및 Iw에 대한 사용 존(zone) 기반, 웨지(sedge) 기반, 또는 섹터 기반 값들과 같은 부가적인 최적화가 제공될 수 있다.
도 7은 본 개시의 SB-WC 기입 방법의 간략화된 흐름도를 예시한다. 방법(700)은, (1) 기록 매체의 복수의 섹터들 각각에 대해 HAMR 헤드로 기입 동작을 수행하기 위한 최적화된 WC를 결정하는 단계(702)를 포함한다. 방법(700)은 부가적으로, 복수의 섹터들 각각에 대한 단일 WCP 또는 다수의 WCP들의 검색 테이블을 유지하는 단계(706), WC를 조정하기 위해 검색 테이블을 사용하는 단계(706), 및/또는 검색 테이블을 기록 매체에 기입하는 단계(708)를 포함할 수 있다. 다른 단계들이 특정한 애플리케이션에 적절히 포함될 수 있다. (708)의 검색 테이블은 매체들 또는 메모리 상에 있을 수 있다. 첫번째 단계는, 한 극성의 섹터들 내의 각각의 섹터(영역)에 대해 최적화된 WC를 탐색한다.
도 8 및 도 9는 본 명세서에 기재된 SB-LDI 기입 방법을 사용하는 것의 이점들 중 일부를 예시한다. 구체적으로, 도 8은, 트랙-기반 LDI 기입 방법 및 섹터-기반 LDI 기입 방법에 관하여 온-트랙, 트리플 트랙 BER의 비교를 제공한다. 도시된 바와 같이, 섹터-기반 LDI 기입 방법은 최적 섹터 BER, 최적 온-트랙 BER, 및 그에 따른 최적 면밀도 용량(ADC; area density capability)을 획득한다. 도 9는, 트랙-기반(TB-LDI) 기입 방법 및 섹터-기반(SB-LDI) 기입 방법 둘 모두를 사용하여, 중심 트랙의 1000 기입들 이후의 이웃 트랙의 온-트랙, 트리플 트랙 BER의 비교를 제공한다. 도시된 바와 같이, SB-LDI 기입 방법은, 전체 인접 트랙 영향 효과를 감소시키는 것을 초래하는 ATI OAR(adjacent track influence once around) 효과를 현저히 감소시킨다.
본 명세서에 기재된 시스템들, 디바이스들, 또는 방법들은, 본 명세서에 설명된 특성들, 구조들, 방법들, 또는 이들의 결합들 중 하나 또는 그 초과를 포함할 수 있다. 예를 들어, 디바이스 또는 방법은 위의 특성들 및/또는 프로세스들 중 하나 또는 그 초과를 포함하도록 구현될 수 있다. 그러한 디바이스 또는 방법은 본 명세서에 설명된 특성들 및/또는 프로세스들 전부를 포함할 필요는 없지만, 유용한 구조들 및/또는 기능성을 제공하는 선택된 특성들 및/또는 프로세스들을 포함하도록 구현될 수 있다는 것이 의도된다.
위에 설명된 다양한 실시예들은 특정한 결과들을 제공하도록 상호작용하는 회로 및/또는 소프트웨어 모듈들을 사용하여 구현될 수 있다. 컴퓨팅 기술분야의 당업자는, 당업계에 일반적으로 알려져 있는 정보를 사용하여, 모듈식 레벨에서 또는 전체로서 그러한 설명된 기능을 용이하게 구현할 수 있다. 예를 들어, 본 명세서에서 예시된 흐름도들은 프로세서에 의한 실행을 위한 컴퓨터-판독가능 명령들/.코드를 생성하기 위해 사용될 수 있다. 그러한 명령들은 비-일시적인 컴퓨터-판독가능 매체 상에 저장될 수 있고, 당업계에 알려져 있는 바와 같은 실행을 위해 프로세서에 전달될 수 있다.
달리 표시되지 않으면, 명세서 및 청구항들에서 사용되는 피처(feature) 사이즈들, 양들, 및 물리적 속성들을 표현하는 모든 수들은, 용어 "약"에 의한 모든 경우들에서 변형되는 것으로 이해될 것이다. 따라서, 다르게 표시되지 않으면, 전술한 명세서 및 첨부된 청구항들에서 기재되는 수치적 파라미터들은, 본 명세서에 기재된 교시들을 이용하여 당업자들이 획득하고자 시도하는 원하는 속성들에 의존하여 변할 수 있는 근사치들이다. 종점들에 의해 수치적 범위들의 사용은, 그 범위 내의 모든 수들(예를 들어, 1 내지 5는, 1, 1.5, 2, 2.75, 3, 3.80, 4, 및 5를 포함함) 및 그 범위 내의 임의의 범위를 포함한다.
위에 설명된 기재된 실시예들에 대해 다양한 변형들 및 부가들이 이루어질 수 있다. 따라서, 본 개시의 범위는 위에 설명된 특정한 실시예들에 의해 제한되어서는 안되며, 아래에 기재된 청구항들 및 그들의 등가물들에 의해서만 정의되어야 한다.

Claims (20)

  1. 장치로서,
    복수의 트랙들을 포함하는 기록 매체에 데이터를 기입하기 위해, 열-보조 자기 기록 헤드(heat-assisted magnetic recording head)에 기입 구성(WC; writing configuration)을 적용하도록 구성되는 제어기를 포함하며,
    각각의 트랙은 복수의 섹터들을 포함하며, 상기 제어기는,
    각각의 섹터에 대한 비트 에러 레이트들 사이에서 계산된 차이와 임계치와의 비교에 기초하여 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC를 결정하고 ― 제1 비트 에러 레이트는 제1 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정되며, 제2 비트 에러 레이트는 제2 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정됨 ―; 그리고
    상기 복수의 섹터들에 대한 기입 동작을 개시
    하도록 구성되고,
    상기 기입 동작은, 상기 섹터들 각각에 대해 상기 최적화된 WC를 이용하여 상기 헤드에 의해 수행되도록 구성되는, 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 최적화된 WC는, 상기 기록 매체의 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 트리플 트랙 비트 에러 레이트(triple track bit error rate)를 최소화하는 복수의 기입 구성 파라미터(WCP; writing configuration parameter)들을 포함하는, 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 최적화된 WC는, 상기 기록 매체의 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 트리플 트랙 비트 에러 레이트를 최소화하는 단일 WCP를 포함하는, 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어기는, 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC들의 검색 테이블(lookup table)을 저장하도록 구성되는, 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 검색 테이블은, 상기 복수의 섹터들 각각에 대응하는 각(angle) 파라미터들 및 반경(radius) 파라미터들을 통해 인덱싱(index)되는, 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 섹터들 각각은 서보 웨지-기반(servo wedge-based) 섹터 또는 데이터-기반 섹터를 포함하는, 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    트랙의 하나 또는 그 초과의 섹터들의 물질 속성들은 변하고,
    상기 최적화된 WC는 상기 물질 속성들의 변동에 응답하는, 장치.
  8. 방법으로서,
    각각의 섹터에 대한 비트 에러 레이트들 사이에서 계산된 차이와 임계치와의 비교에 기초하여 기록 매체의 복수의 섹터들 각각에 대해 열-보조 자기 기록 헤드로 기입 동작을 수행하기 위한 최적화된 기입 구성(WC)을 결정하는 단계를 포함하고, 제1 비트 에러 레이트는 제1 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정되며, 제2 비트 에러 레이트는 제2 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정되며, 상기 기록 매체는 복수의 트랙들을 포함하며, 각각의 트랙은 복수의 섹터들을 포함하는, 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 최적화된 WC는 최적화된 레이저 다이오드 전류(LDI; laser diode current)를 포함하는, 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 최적화된 LDI는, 상기 기록 매체의 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 트리플 트랙 비트 에러 레이트를 최소화하는 LDI를 포함하는, 방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC들을 검색 테이블에 저장하는 단계를 더 포함하는, 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 검색 테이블은, 상기 복수의 섹터들 각각에 대응하는 각(angle) 파라미터들 및 반경 파라미터들을 통해 인덱싱되는, 방법.
  13. 제 8 항에 있어서,
    상기 섹터들 각각은 서보 웨지-기반 섹터 또는 데이터-기반 섹터를 포함하는, 방법.
  14. 제 8 항에 있어서,
    트랙의 하나 또는 그 초과의 섹터들의 물질 속성들은 변하고,
    상기 최적화된 WC는 상기 물질 속성들의 변동에 응답하는, 방법.
  15. 장치로서,
    복수의 트랙들을 포함하는 기록 매체에 데이터를 기입하기 위해, 열-보조 자기 기록 헤드에 기입 구성(WC)을 적용하도록 구성되는 제어기를 포함하며,
    각각의 트랙은 복수의 섹터들을 포함하며, 상기 제어기는,
    각각의 섹터에 대한 비트 에러 레이트들 사이에서 계산된 차이와 임계치와의 비교에 기초하여 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC를 결정하고 ― 제1 비트 에러 레이트는 제1 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정되며, 제2 비트 에러 레이트는 제2 WC를 이용하여 상기 복수의 섹터들 각각에 기입한 이후에 측정되고, 상기 최적화된 WC는 상기 기록 매체의 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 트리플 트랙 비트 에러 레이트를 최소화하는 WC를 포함함 ―; 그리고
    상기 복수의 섹터들에 기입 동작을 개시
    하도록 구성되고,
    상기 기입 동작은, 상기 섹터들 각각에 대해 상기 최적화된 WC를 이용하여 수행되도록 구성되는, 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 최적화된 WC는 최적화된 레이저 다이오드 전류(LDI)를 포함하는, 장치.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 제어기는, 상기 복수의 섹터들 각각에 대한 최적화된 WC들의 검색 테이블을 저장하도록 구성되는, 장치.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 검색 테이블은, 상기 복수의 섹터들 각각에 대응하는 각 파라미터들 및 반경 파라미터들을 통해 인덱싱되는, 장치.
  19. 제 15 항에 있어서,
    상기 섹터들 각각은 서보 웨지-기반 섹터 또는 데이터-기반 섹터를 포함하는, 장치.
  20. 제 15 항에 있어서,
    트랙의 하나 또는 그 초과의 섹터들의 물질 속성들은 변하고,
    상기 최적화된 WC는 상기 물질 속성들의 변동에 응답하는, 장치.
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