KR101717667B1

KR101717667B1 - 전원공급유닛용 검사장치

Info

Publication number: KR101717667B1
Application number: KR1020100126253A
Authority: KR
Inventors: 김진성; 강규철; 배진우; 이철호; 추종양
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2010-12-10
Filing date: 2010-12-10
Publication date: 2017-03-20
Also published as: US8779755B2; TW201234174A; EP2463675B1; KR20120064972A; EP2463675A1; CN102565720B; TWI448888B; US20120146622A1; CN102565720A

Abstract

발광소자(LED,Light Emitting Diode)가 삽입되는 공간을 구비하여, 발광소자로 인가되는 전원공급상태를 검사하는 검사환경을 제공하는 몸체유닛 및, 발광소자와 마주하도록 몸체유닛의 내부에 설치되어, 전원공급 이상의 경우에 발생되는 발광소자의 깜박거림(Flicker)을 감지하는 검사유닛을 포함하는 전원공급유닛용 검사장치가 개시된다. 이러한 구성에 의해, 정량적으로 발광소자로 공급되는 전원공급상태를 감지할 수 있음으로 인해, 발광소자의 전원공급품질을 향상시킬 수 있다.

Description

전원공급유닛용 검사장치{TEST APPARATUS FOR POWER SUPPLY UNIT}

발광소자의 품질을 검사할 수 있는 전원공급유닛용 검사장치에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 전원공급장치의 전원공급상태를 발광소자의 깜박거림(Flicker)을 통해 검사할 수 있는 전원공급유닛용 검사장치에 관한 것이다.

발광소자(LED,Light Emitting Diode)는 전기 에너지를 광 에너지로 변환하여 빛을 발산하는 광원이다. 이러한 발광소자는 빠른 응답속도 및 낮은 전력소모와 같은 장점 뿐만 아니라, 장수명에 의한 친환경적인 요인으로 인해, 디스플레이장치의 백라이트 광원 또는 조명기기의 광원과 같은 다양한 산업분야에 적용되고 있다.

이러한 발광소자는 소정 전원공급유닛을 통해 전원을 공급받아 발광한다. 이때, 발광소자에 제공되는 전원공급유닛의 전원공급상태가 불안정할 경우, 발광소자로부터 발생된 빛이 깜박거리는 플리커(Flicker)와 같은 오작동이 야기된다. 즉, 상기 발광소자의 플리커는 발광소자로 공급되는 전원의 전류파형의 균형이 이루어지지 않을 때 발생된다.

한편, 상기 전원공급상태 확인을 위한 플리커를 검사하기 위해서는 작업자가 제조된 발광소자를 육안으로 확인함이 일반적이다. 그러나, 작업자에 의한 플리커 선별의 경우, 작업자의 개인차에 의해 객관적인 정보 도출이 어렵다. 이에 따라, 근래에는 발광소자의 플리커를 정확히 감지하여 발광소자에 공급되는 전원공급 품질을 향상시키고자 하는 시도가 요구되고 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 발광소자의 깜박거림을 감지하여 발광소자로 공급되는 전원의 공급품질을 향상시킬 수 있는 전원공급유닛용 검사장치가 개시된다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전원공급유닛용 검사장치는, 발광소자(LED,Light Emitting Diode)가 삽입되는 공간을 구비하여, 상기 발광소자로 인가되는 전원공급상태를 검사하는 검사환경을 제공하는 몸체유닛 및, 상기 발광소자와 마주하도록 상기 몸체유닛의 내부에 설치되어, 전원공급 이상의 경우에 발생되는 상기 발광소자의 깜박거림(Flicker)을 감지하는 검사유닛을 포함한다.

일측에 의하면, 상기 검사유닛은 상기 발광소자와 마주하는 간격의 조절이 가능하다.

일측에 의하면, 상기 몸체유닛은 외부로부터 격리된 암실(Darkroom) 환경을 제공한다.

일측에 의하면, 상기 몸체유닛은, 상기 발광소자가 삽입되는 제1몸체, 상기 검사유닛이 삽입되되, 상기 제1몸체로부터 분리 가능한 제2몸체 및, 상기 제2몸체의 적어도 일부를 선택적으로 개방시켜, 상기 검사유닛을 선택적으로 노출시키는 커버를 포함한다.

일측에 의하면, 상기 검사유닛은, 상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림을 감지하는 센서부 및, 상기 센서부를 지지하여, 상기 센서부와 상기 발광소자 사이의 이격된 간격을 조절하는 조절부를 포함한다.

일측에 의하면, 상기 센서부는 포토 다이오드(Photo Diode)를 포함한다.

일측에 의하면, 상기 조절부는, 상기 센서부가 상기 발광소자와 마주하도록 지지하는 받침부재, 상기 받침부재와 상기 발광소자가 상호 마주하는 방향에 나란하도록 상기 받침부재를 관통하여 상기 몸체유닛에 설치되며, 복수의 고정홈이 마련되는 지지부재 및, 상기 받침부재를 통해 상기 지지부재에 마련된 복수의 고정홈 중 적어도 어느 하나에 맞물림으로써, 상기 지지부재에 대해 상기 받침부재를 선택적으로 자세 고정시키는 고정부재를 포함한다.

일측에 의하면, 상기 몸체유닛의 내부에는 상기 발광소자로부터 발생된 열을 방열하기 위한 방열부재가 마련된다.

본 발명의 일 실시예에 따른 전원공급유닛용 검사장치는, 발광소자(LED,Light Emitting Diode)가 삽입되는 공간을 구비하는 몸체유닛 및, 상기 몸체유닛의 내부에 설치되어, 상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림(Flicker)으로 상기 발광소자로 인가되는 전원공급상태를 검사하는 검사유닛을 포함하며, 상기 몸체유닛은 상기 발광소자 및 검사유닛을 외부로 선택적으로 노출시키도록 개방 가능하다.

일측에 의하면, 상기 검사유닛은 상기 발광소자와 마주하도록 설치되되, 마주하는 간격의 조절이 가능하다.

일측에 의하면, 상기 몸체유닛은, 상기 발광소자가 삽입되는 제1몸체, 상기 검사유닛이 삽입되되, 상기 제1몸체로부터 분리 가능한 제2몸체 및, 상기 검사유닛와 마주하는 상기 제2몸체의 일측면에 관통된 노출공을 선택적으로 개폐하는 커버를 포함한다.

일측에 의하면, 상기 검사유닛은, 상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림(Ficker)을 감지하는 센서부 및, 상기 센서부가 상기 발광소자와 마주하도록 지지하는 받침부재, 상기 받침부재와 상기 발광소자가 상호 마주하는 방향에 나란하도록 상기 받침부재를 관통하여 상기 몸체유닛에 설치되는 지지부재 및, 상기 받침부재를 통해 상기 지지부재에 고정되어 상기 지지부재에 대해 상기 받침부재를 선택적으로 자세 고정시키는 고정부재를 포함하여, 상기 센서부와 발광소자 사이의 간격을 조절시키는 조절부를 포함한다.

첫째, 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림을 검사함에 따라, 발광소자에 대한 전원공급 이상을 정량적으로 감지하여 분석할 수 있게 된다.

둘째, 발광소자의 깜박거림 현상이 플리커를 감지하는 감지유닛과 발광소자 사이의 이격된 간격을 선택적으로 조절함에 따라, 다양한 검사조건을 제공할 수 있어 전원공급품질 향상에 기여할 수 있다.

셋째, 발광소자를 검사함에 있어서 외부로부터 빛이 유입됨을 차단하여 암실 환경을 제공함에 따라, 발광소자의 검사 정확도를 향상시킬 수 있다.

넷째, 몸체유닛의 내부를 선택적으로 개방하여 발광소자를 노출시킴에 따라, 발광소자의 교체가 용이해진다.

다섯째, 커버의 개폐 동작에 의해 몸체유닛의 내부로 용이하게 작업자가 진입하여 검사유닛과 발광소자 사이의 간격을 조절할 수 있어, 검사 작업성 또한 향상시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 전원공급유닛용 검사장치를 개략적으로 도시한 구성도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 전원공급유닛용 검사장치를 개략적으로 도시한 분해 사시도, 그리고,
도 3은 도 2에 도시된 전원공급유닛용 검사장치를 개략적으로 도시한 단면도이다.

이하, 첨부된 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명이 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.

도 1 및 도 2를 참고하면, 일실시예에 의한 전원공급유닛용 검사장치(1)는 몸체유닛(10) 및 검사유닛(20)을 포함한다.

참고로, 본 발명에서 설명하는 전원공급유닛용 검사장치(1)는 발광소자(L)(LED,Light Emitting Diode)로 전원을 공급하는 전원공급유닛(P)(Power Supply Unit)의 전원공급 이상에 의해 발생되는 발광소자(L)의 깜박거림 즉, 플리커(Flicker)를 감지한다. 즉, 상기 전원공급유닛용 검사장치(1)는 발광소자(L)를 매개체로 전원공급유닛(P)의 전원공급상태를 검사하는 것이다.

상기 몸체유닛(10)은 발광소자(L)가 삽입되는 공간을 구비하여, 발광소자(L)의 검사환경을 제공한다. 여기서, 상기 몸체유닛(10)은 발광소자(L)의 정확한 검사를 위해 발광소자(L)의 검사 중, 발광소자(L)로부터 발생된 빛 이외의 빛이 내부로 유입됨을 차단하기 위해, 격리된 암실(Darkroom)을 형성한다. 이러한 몸체유닛(10)은 도 2의 도시와 같이, 제1몸체(11), 제2몸체(12) 및 커버(13)를 포함한다.

상기 제1몸체(11)는 전원공급유닛(P)과 연결된 발광소자(L)가 삽입된다. 상기 발광소자(L)는 동시에 복수개가 제1몸체(11)에 삽입되어 동시에 플리커를 검사함이 좋다. 아울러, 상기 제1몸체(11)는 발광소자(L)와 접촉되어 구동 중 발생되는 열을 방출하는 히트싱크(Heat sink)와 같은 방열부재(H)가 발광소자(L)와 함께 삽입되어 마련된다.

상기 제2몸체(12)는 후술할 검사유닛(20)이 삽입되되, 제1몸체(11)로부터 분리 가능하도록 마련된다. 이때, 상기 제2몸체(12)는 제1몸체(11)에 대해 상부에 적층 설치되어, 상호 수직한 방향인 Y축 방향으로 분리 가능한 것으로 예시한다. 이에 따라, 서로 마주하는 제1몸체(11)의 상부 및 제2몸체(12)의 하부는 각각 개방되어 형성된다.

상기 커버(13)는 제2몸체(12)를 선택적으로 개방시켜, 후술할 검사유닛(20)을 선택적으로 노출시킨다. 구체적으로, 상기 커버(13)는 검사유닛(20)의 유지/보수 또는 검사조건 가변을 위해, 제2몸체(12)에 내장된 검사유닛(20)을 선택적으로 노출시킨다. 이러한 커버(13)는 제2몸체(12)의 일측에 관통 형성된 노출공(14)을 선택적으로 개폐하도록 마련된다.

상기 검사유닛(20)은 발광소자(L)와 마주하되, 발광소자(L)와 마주하는 간격이 조절 가능하도록 몸체유닛(10)의 내부에 설치되어, 발광소자(L)로부터 발생된 플리커를 검사한다. 이를 위해, 상기 검사유닛(20)은 도 2 및 도 3의 도시와 같이, 센서부(21)와 조절부(24)를 포함한다.

상기 센서부(21)는 전원공급유닛(P)의 전원공급 이상으로 인해 발광소자(L)로부터 발생된 빛의 깜박거림인 플리커를 감지한다. 이를 위해, 상기 센서부(21)는 빛을 감지하는 센서(22)와, 센서(22)와 전기적으로 연결되어 감지된 정보를 처리하는 기판(23)을 포함한다. 여기서, 상기 센서(22)는 포토 다이오드(Photo Diode)를 포함하는 것으로 예시한다.

상기 조절부(24)는 센서부(21)를 지지하여, 센서부(21)와 발광소자(L) 사이의 이격된 간격(G)을 조절한다. 이러한 조절부(24)는 도 3의 도시와 같이, 받침부재(25), 지지부재(26) 및 고정부재(27)를 포함한다. 이때, 상기 조절부(24)에 의한 센서부(21)와 발광소자(L) 사이의 이격된 간격(G)은 10mm 내지 80mm인 것으로 예시하나, 꼭 이에 한정되지 않는다.

상기 받침부재(25)는 상기 센서부(21)가 발광소자(L)와 마주하도록 지지한다. 도 2 및 도 3의 도시에서는, 상기 발광소자(L)와 센서부(21)가 상호 수직하게 적층된 제1 및 제2몸체(11)(12)의 내부에 설치됨에 따라, 센서부(21)와 발광소자(L)도 도시된 방향을 기준으로 상호 수직하게 Y축 방향으로 마주하는 것으로 예시한다. 그러나, 상기 센서부(21)와 발광소자(L)가 도시된 기준으로 수평방향인 X축 방향으로 마주하도록 배치될 수도 있으며, 이에 대응하여, 제1 및 제2몸체(11)(12)의 결합방향도 Y축 방향이 아닌 X축 방향으로 변형 가능함은 당연하다.

참고로, 상기 받침부재(25)에 마련된 센서부(21)의 기판(23)은 유지/보수를 위해 전체 분리 가능함이 좋다.

상기 지지부재(26)는 받침부재(25)와 발광소자(L)가 상호 마주하는 Y축 방향에 나란하도록 받침부재(25)를 관통하여 몸체유닛(10)에 설치된다. 상기 지지부재(26)는 센서부(21)가 설치되지 않은 받침부재(25)의 일측에 관통 형성된 연결홈(25a)을 통해 받침부재(25)와 연결된다. 또한, 상기 지지부재(26)의 일단은 제2몸체(12)의 내면에 고정되며, 타단은 제2몸체(12)에 마련된 지지턱(12a)에 고정되어, 자세 고정된다. 이러한 구성에 의해 상기 지지부재(26)를 따라 받침부재(25)가 Y축 방향으로 승강되어, 지지하는 센서부(21)와 발광소자(L) 사이의 간격(G)을 조절한다.

상기 고정부재(27)는 받침부재(25)를 통해 삽입되어, 지지부재(26)에 마련된 복수의 고정홈(26a) 중 적어도 어느 하나에 맞물려 고정된다. 구체적으로, 상기 고정부재(27)는 받침부재(25)와 발광소자(L)가 상호 마주하는 Y축 방향에 직교하는 방향 즉, X축 방향으로 받침부재(25)의 일단을 통해 삽입되어, 상기 고정홈(26a)에 삽입된다. 이러한 고정부재(27)는 도 1의 도시와 같이, 검사자에 의해 파지되는 파지단(28)과, 파지단(28)으로부터 연장되어 고정홈(26a)에 삽입되는 고정단(29)을 포함한다.

참고로, 상기 고정부재(27)는 커버(13)에 의해 선택적으로 노출되도록, 제2몸체(12)에 마련된 노출공(14)과 마주하도록 위치함이 좋다. 이러한 구성에 의해, 상기 커버(13)로 인해 제2몸체(12)의 내부가 개방되면, 작업자가 노출공(14)을 통해 용이하게 몸체유닛(10)의 내부로 진입하여 고정부재(27)를 조작할 수 있다.

상기와 같은 구성을 가지는 일 실시예에 의한 전원공급유닛용 검사장치(1)의 검사동작을 도 2 및 도 3을 참고하여 설명한다.

우선, 도 2의 도시와 같이, 제1 및 제2몸체(11)(12)의 내부에 각각 발광소자(L) 및 센서부(21)를 포함하는 검사유닛(20)이 각각 설치된다. 이때, 상기 발광소자(L)는 전원공급유닛(P)과 연결되어, 발광된다.

상기 제1 및 제2몸체(11)(12)는 상호 결합됨으로써, 도 3의 도시와 같이, 제1 및 제2몸체(11)(12)의 내부는 밀폐되어 암실 환경을 제공한다. 상기 제1몸체(11)에 마련된 발광소자(L)가 동작되면, 마주하는 센서부(21)의 센서(22)가 전원공급 이상에 의해 발생된 발광소자(L)의 동작 중 깜박거림 즉, 플리커를 감지하여, 이를 기판(23)에 제공한다.

한편, 상기 제1 및 제2몸체(11)(12)에 각각 마련된 발광소자(L)와 센서부(21) 사이의 이격된 간격(G)을 조절하여 플리커 현상을 검사하고자 할 경우에는, 검사자가 도 2과 같이 제2몸체(12)의 노출공(14)에 결합된 커버(13)를 분리하여 제2몸체(12)의 내부로 진입한다. 그 후, 도 3의 도시와 같이, 상기 지지부재(26)에 마련된 복수의 고정홈(26a) 중 어느 하나에 맞물려 고정된 고정부재(27)를 분리시킨 후, 고정력이 해제된 받침부재(25)를 Y축 방향으로 이동시켜 원하는 위치에 위치시킨다. 마지막으로, 작업자는 분리된 고정부재(27)를 다시 복수의 고정홈(26a) 중 받침부재(25)의 연결홈(25a) 내부로 삽입된 고정홈(26a)에 맞물리도록 지지부재(26)를 통해 X축 방향으로 삽입되어, 받침부재(25)의 위치를 재 고정시킨다.

또한, 검사자가 검사하는 발광소자(L)를 교체하고자 할 경우에는, 제2몸체(12)를 제1몸체(11)에 대해 분리시킴으로써, 제1몸체(11)에 삽입된 발광소자(L)를 노출시켜 교체한다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

1: 전원공급유닛용 검사장치 10: 몸체유닛
11: 제1몸체 12: 제2몸체
13: 커버 20: 검사유닛
21: 센서부 24: 조절부

Claims

발광소자(LED,Light Emitting Diode)가 삽입되는 공간을 구비하여, 상기 발광소자로 인가되는 전원공급상태를 검사하는 검사환경을 제공하는 몸체유닛; 및
상기 발광소자와 마주하도록 상기 몸체유닛의 내부에 설치되어, 전원공급 이상의 경우에 발생되는 상기 발광소자의 깜박거림(Flicker)을 감지하는 검사유닛;
을 포함하고,
상기 몸체유닛은,
상기 발광소자가 삽입되는 제1몸체;
상기 검사유닛이 삽입되되, 상기 제1몸체의 상부에 적층 설치되어 상기 제1몸체로부터 분리 가능한 제2몸체; 및
상기 제2몸체의 적어도 일부를 선택적으로 개방시켜, 상기 검사유닛을 선택적으로 노출시키는 커버;를 포함하며,
서로 마주하는 상기 제1몸체의 상부 및 상기 제2몸체의 하부는 각각 개방되어 형성되고, 상기 커버는 상기 제2몸체의 일측에 관통 형성된 노출공을 선택적으로 개폐하도록 마련되는 것을 특징으로 하는 전원공급유닛용 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 검사유닛은 상기 발광소자와 마주하는 간격의 조절이 가능한 전원공급유닛용 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 몸체유닛은 외부로부터 격리된 암실(Darkroom) 환경을 제공하는 전원공급유닛용 검사장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 검사유닛은,
상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림을 감지하는 센서부; 및
상기 센서부를 지지하여, 상기 센서부와 상기 발광소자 사이의 이격된 간격을 조절하는 조절부;
를 포함하는 전원공급유닛용 검사장치.
제5항에 있어서,
상기 센서부는 포토 다이오드(Photo Diode)를 포함하는 전원공급유닛용 검사장치.
제5항에 있어서,
상기 조절부는,
상기 센서부가 상기 발광소자와 마주하도록 지지하는 받침부재;
상기 받침부재와 상기 발광소자가 상호 마주하는 방향에 나란하도록 상기 받침부재를 관통하여 상기 몸체유닛에 설치되며, 복수의 고정홈이 마련되는 지지부재; 및
상기 받침부재를 통해 상기 지지부재에 마련된 복수의 고정홈 중 적어도 어느 하나에 맞물림으로써, 상기 지지부재에 대해 상기 받침부재를 선택적으로 자세 고정시키는 고정부재;
를 포함하는 전원공급유닛용 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 몸체유닛의 내부에는 상기 발광소자로부터 발생된 열을 방열하기 위한 방열부재가 마련되는 전원공급유닛용 검사장치.
발광소자(LED,Light Emitting Diode)가 삽입되는 공간을 구비하는 몸체유닛; 및
상기 몸체유닛의 내부에 설치되어, 상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림(Flicker)으로 상기 발광소자로 인가되는 전원공급상태를 검사하는 검사유닛;
을 포함하며,
상기 몸체유닛은 상부가 개방된 제1몸체, 일측에 관통 형성된 노출공이 마련되며 상기 제1몸체의 상부에 적층 설치되되 하부가 개방된 제2몸체, 및 상기 노출공을 선택적으로 개폐하는 커버를 포함하고,
상기 몸체유닛은 상기 커버에 의한 상기 노출공의 선택적 개폐를 통해서 상기 발광소자 및 검사유닛을 외부로 선택적으로 노출시키는 것을 특징으로 하는 전원공급유닛용 검사장치.
제9항에 있어서,
상기 검사유닛은,
상기 발광소자로부터 발생된 빛의 깜박거림(Ficker)을 감지하는 센서부; 및
상기 센서부가 상기 발광소자와 마주하도록 지지하는 받침부재, 상기 받침부재와 상기 발광소자가 상호 마주하는 방향에 나란하도록 상기 받침부재를 관통하여 상기 몸체유닛에 설치되는 지지부재 및, 상기 받침부재를 통해 상기 지지부재에 고정되어 상기 지지부재에 대해 상기 받침부재를 선택적으로 자세 고정시키는 고정부재를 포함하여, 상기 센서부와 발광소자 사이의 간격을 조절시키는 조절부;
를 포함하는 전원공급유닛용 검사장치.
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