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KR101528887B1 - apparatus and method screening light emitting diode - Google Patents

apparatus and method screening light emitting diode

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Publication number
KR101528887B1
KR101528887B1 KR1020130092780A KR20130092780A KR101528887B1 KR 101528887 B1 KR101528887 B1 KR 101528887B1 KR 1020130092780 A KR1020130092780 A KR 1020130092780A KR 20130092780 A KR20130092780 A KR 20130092780A KR 101528887 B1 KR101528887 B1 KR 101528887B1
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KR
South Korea
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array module
light
led
led array
light guide
Prior art date
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KR1020130092780A
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Korean (ko)
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KR20150016835A (en
Inventor
정현돈
김영범
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주식회사 에타맥스
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Publication date
Application filed by 주식회사 에타맥스 filed Critical 주식회사 에타맥스
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Abstract

발광다이오드 스크리닝 장치가 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 발광다이오드 스크리닝 장치는 수광 소자들이 설치된 광검출용 기판; 상기 광검출용 기판이 안착되는 베이스 부재; 상면에는 엘이디 칩들이 본딩된 엘이디 어레이 모듈이 놓여지고, 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들과 상기 광검출용 기판의 수광 소자들이 서로 마주보도록 상기 베이스 부재에 설치되며, 상기 엘이디 칩들의 빛이 상기 수광 소자들로 안내되도록 관통되어 형성되는 도광홀들이 형성된 라이트 가이드 블록; 및 상기 라이트 가이드 볼록에 놓여진 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들 각각으로 구동 전원을 인가하는 전원공급부를 포함한다. A light emitting diode screening apparatus is provided. A light emitting diode screening apparatus according to an embodiment of the present invention includes a light detecting substrate having light receiving elements installed therein; A base member on which the light detection substrate is mounted; An LED array module in which LED chips are mounted on an upper surface of the LED array module and installed on the base member so that LED chips of the LED array module and light receiving elements of the light detection substrate face each other, A light guide block having light guide holes formed therein so as to be guided by the light guide blocks; And a power supply unit for applying driving power to each of the LED chips of the LED array module placed in the light guide convexity.

Figure R1020130092780
Figure R1020130092780

Description

발광다이오드 스크리닝 장치 및 방법{apparatus and method screening light emitting diode}[0001] The present invention relates to an apparatus and a method for screening light emitting diodes,

본 발명은 발광다이오드 스크리닝 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting diode screening apparatus and method.

일반적으로, 엘이디(LED) 모듈은 다수의 엘이디 칩들이 형성된 웨이퍼(wafer)를 접착 시트에 접착하는 접착공정, 접착 시트에 접착된 웨이퍼를 절단하여 다수의 엘이디 칩을 각각 개별화하는 소잉 공정, 개별화된 엘이디 칩을 접착 시트로부터 분리하는 다이 분리 공정, 접착 시트로부터 분리된 엘이디 칩을 리드 프레임(Lead Frame)에 본딩하는 다이 본딩(Die Bonding) 공정, 엘이디 칩을 리드 프레임의 접속 패드와 와이어를 통해 전기적으로 연결하는 와이어 본딩(Wire Bonding) 공정, 엘이디 칩을 에폭시(epoxy) 수지로 몰딩하는 몰딩공정, 및 개개의 엘이디 칩로 분할되는 절단/성형 공정을 통해 제조된다.In general, the LED module includes a bonding process of bonding a wafer on which a plurality of LED chips are formed to an adhesive sheet, a soaking process of individually cutting a plurality of LED chips by cutting a wafer bonded to the adhesive sheet, A die bonding process of bonding the LED chip separated from the adhesive sheet to a lead frame, a process of electrically bonding the LED chip to the lead frame through the connection pad and the wire, , A wire bonding process to connect the LED chip to the LED chip, a molding process to mold the LED chip with an epoxy resin, and a cutting / molding process to be divided into individual LED chips.

상술한 바와 같은 공정에 의해 제조된 엘이디(LED) 모듈은 출고되기 직전에 신뢰성 테스트를 한다. 그러나, 기존의 신뢰성 테스트는 절단/형성 공정을 통해 리드 프레임으로부터 분리된 엘이디 모듈 상태에서 테스트를 진행한다. The LED module manufactured by the above-described process performs a reliability test immediately before being shipped. However, the conventional reliability test is performed in the state of the LED module separated from the lead frame through the cutting / forming process.

즉, 기존 엘이디 모듈의 신뢰성 테스트는 엘이디 모듈들 각각을 검사 위치에 세팅하는 얼라인 과정을 반복해서 수행해야 하기 때문에 비효율적이고, 특히 고가형 엘이디 모듈의 경우 전수 검사가 필요한데 기존 방식으로는 엘이디 모듈을 매번 얼라인하여 개별 테스트를 수행해야 하므로 작업의 효율이 떨어지고 생산성이 저하되는 문제점이 있다. That is, the reliability test of the conventional LED module is inefficient because the alignment process of setting each of the LED modules to the inspection position is repeatedly performed. In particular, in the case of the high-priced LED module, There is a problem that the efficiency of the work is lowered and the productivity is lowered.

본 발명의 실시예들은 리드 프레임으로부터 엘이디 모듈들을 분리하기 전에 스크리닝을 수행할 수 있는 발광다이오드 스크리닝 장치 및 방법을 제공하고자 한다. Embodiments of the present invention seek to provide a light emitting diode screening apparatus and method that can perform screening before separating LED modules from a lead frame.

본 발명의 목적은 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited thereto, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 발명의 일 측면에 따르면, 수광 소자들이 설치된 광검출용 기판; 상기 광검출용 기판이 안착되는 베이스 부재; 상면에는 엘이디 칩들이 본딩된 엘이디 어레이 모듈이 놓여지고, 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들과 상기 광검출용 기판의 수광 소자들이 서로 마주보도록 상기 베이스 부재에 설치되며, 상기 엘이디 칩들의 빛이 상기 수광 소자들로 안내되도록 관통되어 형성되는 도광홀들이 형성된 라이트 가이드 블록; 및 상기 라이트 가이드 볼록에 놓여진 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들 각각으로 구동 전원을 인가하는 전원공급부를 포함하는 발광다이오드 스크리닝 장치가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a light emitting device comprising: a light detecting substrate provided with light receiving elements; A base member on which the light detection substrate is mounted; An LED array module in which LED chips are mounted on an upper surface of the LED array module and installed on the base member so that LED chips of the LED array module and light receiving elements of the light detection substrate face each other, A light guide block having light guide holes formed therein so as to be guided by the light guide blocks; And a power supply unit for applying driving power to each of the LED chips of the LED array module placed in the light guide convexity.

또한, 상기 전원공급부는 이동 플레이트; 상기 이동 플레이트에 설치되고, 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들로 구동 전원을 인가하는 프로브 핀들을 포함할 수 있다.The power supply unit may include a moving plate; And probe pins mounted on the moving plate for applying driving power to the LED chips of the LED array module.

또한, 상기 전원공급부는 상기 프로브핀들이 각각 설치되는 삽입홀들을 갖는 프로브 블록; 상기 프로브 블록의 상면에 설치되고 외부로부터 제공되는 전원을 상기 프로브핀들 각각으로 분배하는 전원분배용 인쇄회로기판을 포함할 수 있다.The power supply unit may include a probe block having insertion holes in which the probe pins are respectively installed; And a power distribution PCB provided on the top surface of the probe block and distributing a power source provided from the outside to each of the probe pins.

또한, 상기 발광다이오드 스크리닝 장치는 상기 전원공급부의 프로브 핀들이 상기 엘이디 칩들과 접속되도록 상기 이동 플레이트를 업다운시키는 승강 장치를 더 포함할 수 있다.The light emitting diode screening apparatus may further include a lifting device for lifting up the moving plate so that the probe pins of the power supply unit are connected to the LED chips.

또한, 상기 프로브 블록은 절연체로 이루어질 수 있다.The probe block may be made of an insulator.

본 발명의 일 측면에 따르면, 다이 본딩 공정을 마친 상기 엘이디 어레이 모듈을 상기 라이트 가이드 블록의 상면에 로딩하는 단계; 상기 라이트 가이드 볼록에 놓여진 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들로 구동 전원을 인가하는 단계; 및 상기 광검출용 기판의 수광 소자들이 상기 라이트 가이드 블록의 도광홀들을 통해 제공되는 엘이디 칩들의 출력광을 검출하여 실시간으로 광도의 변화를 측정하는 단계를 포함하는 발광다이오드 스크리닝 방법이 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a light guide module, comprising: loading the LED array module after a die bonding process on an upper surface of the light guide block; Applying driving power to LED chips of the LED array module placed in the light guide convexity; And the light receiving elements of the light detecting substrate detect output light of the LED chips provided through the light guide holes of the light guide block and measure a change in luminous intensity in real time .

또한, 상기 구동 전원 인가 단계는 상기 엘이디 어레이 모듈 상부에 위치한 프로브 핀들이 하강하여 상기 리드 프레임의 엘이디 칩들에 접속되어 구동전압을 동시에 인가할 수 있다. In addition, in the driving power application step, the probe pins located on the upper side of the LED array module are lowered and connected to the LED chips of the lead frame, so that the driving voltage can be simultaneously applied.

또한, 상기 구동 전원 인가 단계에서 외부로부터 제공되는 전원은 상기 전원분배용 인쇄회로기판을 통해 상기 프로브핀들 각각으로 분배될 수 있다.In addition, power supplied from the outside in the driving power application step may be distributed to each of the probe pins through the power distribution PCB.

또한, 상기 엘이디 어레이 모듈은 엘이디 칩들이 리드 프레임에 본딩된 리드 프레임 타입 또는 엘이디 칩들이 회로 기판에 실장된 플립칩 타입을 포함할 수 있다. In addition, the LED array module may include a lead frame type in which LED chips are bonded to a lead frame, or a flip chip type in which LED chips are mounted on a circuit board.

본 발명의 실시예들에 따르면, 엘이디 어레이 모듈로부터 엘이디 칩들을 개별 분할하기 전에 엘이디 어레이 모듈 자체를 스크리닝할 수 있어 전체 공정을 단순화시킬 수 있어 공정 대비 효율적인 생산성 향상을 기대할 수 있다. According to the embodiments of the present invention, the LED array module itself can be screened before the LED chips are individually divided from the LED array module, so that the entire process can be simplified and productivity can be improved more efficiently.

본 발명의 실시예들은 전수 검사가 필요한 엘이디 제조 공정에 적용할 경우 생산성 향상을 기대할 수 있다. Embodiments of the present invention can be expected to improve productivity when applied to an LED manufacturing process requiring full inspection.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 발광다이오드 스크리닝 장치의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 발광다이오드 스크리닝 장치의 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 발광다이오드 스크리닝 장치의 분해 사시도이다.
도 4a 및 도 4b는 발광다이오드 스크리닝 장치에서의 스크리닝 방법을 설명하기 위한 도면들이다. 1 is a perspective view of a light emitting diode screening apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of the light emitting diode screening apparatus shown in FIG.
3 is an exploded perspective view of the light emitting diode screening apparatus shown in FIG.
4A and 4B are diagrams for explaining a screening method in a light emitting diode screening apparatus.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention, and how to accomplish them, will become apparent by reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the concept of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of illustrating embodiments and is not intended to be limiting of the present invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. It is noted that the terms "comprises" and / or "comprising" used in the specification are intended to be inclusive in a manner similar to the components, steps, operations, and / Or additions.

이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 발광다이오드 스크리닝 장치 및 방법에 대해 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a light emitting diode screening apparatus and method according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 발광다이오드 스크리닝 장치의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 발광다이오드 스크리닝 장치의 단면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 발광다이오드 스크리닝 장치의 분해 사시도이다.FIG. 1 is a perspective view of a light emitting diode screening apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the light emitting diode screening apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3 is an exploded perspective view of the light emitting diode screening apparatus shown in FIG. 1 .

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 발광다이오드 스크리닝 장치(10)는, 엘이디 칩(30)들이 낱개로 분할되기 전에(트립 공정 이전) 엘이디 어레이 모듈(20) 상태에서 엘이디 칩(30)들의 광특성(실시간으로 광도의 변화율을 모니터링)을 동시에 검사하기 위해 제공된다. 여기서, 엘이디 어레이 모듈은 엘이디 칩들이 리드 프레임에 본딩된 리드 프레임 타입 또는 엘이디 칩들이 회로 기판에 실장된 플립칩 타입일 수 있으며, 회로 기판은 엘이디의 본딩(bonding)이 가능한 메탈 PCB, 세라믹 PCB 및 Si 서브마운트(submount) 중 어느 하나일 수 있다. 1 to 3, the light emitting diode screening apparatus 10 of the present invention includes a LED chip 30 in the state of the LED array module 20 before the LED chips 30 are separately divided (before the trip process) (Monitoring the rate of change of the luminous intensity in real time). Here, the LED array module may be a lead frame type in which the LED chips are bonded to the lead frame or a flip chip type in which the LED chips are mounted on the circuit board. The circuit board may be a metal PCB, a ceramic PCB, Si submount. ≪ / RTI >

발광다이오드 스크리닝 장치(10)는 광검출용 기판(100), 베이스 부재(200), 라이트 가이드 블록(300), 전원공급부(400), 승강 장치(500)를 포함한다. The light emitting diode screening apparatus 10 includes a light detecting substrate 100, a base member 200, a light guide block 300, a power supply unit 400, and an elevating apparatus 500.

광검출용 기판(100)은 일면에 수광 소자(110)들이 실장된 인쇄회로기판(120)으로 이루어진다. 광검출용 기판(100)의 수광 소자(110)들은 포토 다이오드(photo diode)를 갖는 감광 센서를 포함할 수 있다. 수광 소자(110)들의 배열은 엘이디 어레이 모듈(20)의 엘이디 칩(30)들 배열에 따라 변경될 수 있다. 광검출용 기판(100)은 측정부(190)와 연결될 수 있다. 측정부(190)는 광검출용 기판(100)에 의해 검출된 엘이디 칩(30)들의 출력광에 대한 광학적 특성을 측정 및 분석하는 연산장치와 메모리 등의 마이컴으로 이루어질 수 있다. The light detection substrate 100 includes a printed circuit board 120 on which light receiving elements 110 are mounted. The light receiving elements 110 of the light detection substrate 100 may include a photosensor having a photo diode. The arrangement of the light receiving elements 110 may be changed according to the arrangement of the LED chips 30 of the LED array module 20. [ The light detection substrate 100 may be connected to the measurement unit 190. The measuring unit 190 may be a microcomputer such as a memory and an arithmetic unit for measuring and analyzing the optical characteristics of output light of the LED chips 30 detected by the light detection substrate 100.

광검출용 기판(100)은 베이스 부재(200) 상면에 배치된다. 도시하지 않았지만, 베이스 부재(200)의 상면에는 광검출용 기판(100)이 정확한 위치에 세팅될 수 있도록 광검출용 기판(100)의 위치를 정렬해주는 정렬수단들이 제공될 수 있다. 베이스 부재(200)에는 라이트 가이드 블록(300)이 적층 설치됨으로써 광검출용 기판(100)이 베이스 부재(200)와 라이트 가이드 블록(300) 사이에 위치된다. 라이트 가이드 블록(300)의 저면(302)에는 광검출용 기판(100)이 위치되도록 제1그루브(310)가 형성된다. The light detection substrate 100 is disposed on the upper surface of the base member 200. Alignment means may be provided on the upper surface of the base member 200 to align the position of the photodetecting substrate 100 so that the photodetecting substrate 100 can be set at an accurate position. The light guide block 300 is stacked on the base member 200 so that the light detection substrate 100 is positioned between the base member 200 and the light guide block 300. The first groove 310 is formed on the bottom surface 302 of the light guide block 300 so that the light detecting substrate 100 is positioned.

라이트 가이드 블록(300)은 상면(304)에 엘이디 어레이 모듈(20)이 놓여지도록 제2그루브(320)가 제공될 수 있다. 도시하지 않았지만, 제2그루브(320)에는 엘이디 어레이 모듈(20)이 정확한 위치에 세팅될 수 있도록 엘이디 어레이 모듈(20)의 위치를 정렬해주는 정렬수단들이 제공될 수 있다. 라이트 가이드 블록(300)은 상면(304)으로부터 저면(302)으로 관통되어 형성되는 도광홀(330)들을 갖는다. 라이트 가이드 블록(300)의 상면에 놓여지는 엘이디 어레이 모듈(20)의 엘이디 칩(30)들과 저면에 위치한 광검출용 기판의 수광 소자(110)들은 도광홀(330)들을 통해 서로 마주보도록 배치되며, 엘이디 칩(30)의 출력광은 도광홀(330)들을 통해 수광 소자(110)로 제공된다. The light guide block 300 may be provided with the second groove 320 so that the LED array module 20 is placed on the upper surface 304. Although not shown, the second groove 320 may be provided with alignment means for aligning the position of the LED array module 20 so that the LED array module 20 can be set at an accurate position. The light guide block 300 has light guide holes 330 penetrating from the upper surface 304 to the lower surface 302. The LED chips 30 of the LED array module 20 placed on the upper surface of the light guide block 300 and the light receiving elements 110 of the photodetecting substrate located on the bottom face are arranged to face each other through the light guide holes 330 And output light of the LED chip 30 is provided to the light receiving element 110 through the light guide holes 330.

전원공급부(400)는 라이트 가이드 볼록(300)에 놓인 엘이디 어레이 모듈(20)의 엘이디 칩(30)들 각각으로 구동 전원을 동시에 인가하기 위해 제공된다. 전원공급부(400)는 이동 플레이트(410)와, 프로브 블록(420), 전원분배용 인쇄회로기판(430) 그리고 프로브핀(440)들을 포함한다. The power supply unit 400 is provided for simultaneously applying driving power to each of the LED chips 30 of the LED array module 20 placed on the light guide convex 300. The power supply unit 400 includes a moving plate 410, a probe block 420, a power distribution printed circuit board 430, and a probe pin 440.

이동 플레이트(410)는 베이스 부재(200)에 수직한 방향으로 설치되는 4개의 지지축(800)에 끼워져 상하 방향으로 슬라이드 지지되는 구조로 설치된다. The moving plate 410 is fitted to four supporting shafts 800 installed in a direction perpendicular to the base member 200 and is installed in a structure in which the moving plate 410 is slidably supported in the vertical direction.

프로브 블록(420)은 이동 플레이트(410)의 저면에 설치된다. 프로브 블록(420)은 저면에 엘이디 칩(30)들과 대응되는 삽입홀(422)들이 제공되며, 삽입홀(422)들에는 엘이디 어레이 모듈(20)의 엘이디 칩(30)들로 구동 전원을 인가하는 프로브 핀(440)들이 설치된다. 프로브 핀(440)들은 엘이디 칩(30)의 단자에 탄력적으로 접촉되도록 스프링 타입의 프로브 핀으로 제공될 수 있다. 도시하지 않았지만, 프로브 핀(440)은 엘이디 칩(30)을 구동시키기 위해 엘이디 칩의 양전극에 접촉하는 양극성 프로브 핀과 음극성 프로브 핀을 포함할 수 있다. 프로브 블록(420)은 절연체(isolator)이면서 히트싱크(Heatsink) 역할이 가능한 소재로 제공될 수 있다. The probe block 420 is installed on the bottom surface of the moving plate 410. The probe block 420 is provided with insertion holes 422 corresponding to the LED chips 30 on the bottom surface and the driving power is supplied to the insertion holes 422 by the LED chips 30 of the LED array module 20 The probe pins 440 are provided. The probe pins 440 may be provided as spring-type probe pins to elastically contact the terminals of the LED chip 30. Although not shown, the probe pin 440 may include a bipolar probe pin and a negative polarity probe pin that contact the positive electrode of the LED chip to drive the LED chip 30. The probe block 420 may be provided as an isolator and a material capable of serving as a heat sink.

프로브 블록(420)의 상면에는 전원분배용 인쇄회로기판(430)이 안착되도록 제3그루브(428)가 제공된다. 전원분배용 인쇄회로기판(430)은 프로브 블록(420)의 제3그루브(428)에 설치되어 외부로부터 제공되는 전원을 프로브 핀(440)들 각각으로 분배한다. 프로브 블록(420)은 전원분배용 인쇄회로기판(430)과 프로브 핀(440)들을 전기적으로 상호 연결하는 내부배선들을 포함하는 채널(450)들이 제공될 수 있다. 도시하지 않았지만, 채널(450)의 일단에는 전원분배용 인쇄회로기판(430)의 각 단자와 접촉되는 제1단자가 제공되고, 채널의 타단에는 프로브 핀(440)과 접촉되는 제2단자가 제공될 수 있다. On the upper surface of the probe block 420, a third groove 428 is provided so that the power distribution PCB 430 is seated. The power distributing printed circuit board 430 is installed in the third groove 428 of the probe block 420 to distribute power from the outside to each of the probe pins 440. The probe block 420 may be provided with channels 450 that include internal wirings for electrically interconnecting the power distribution printed circuit board 430 and the probe pins 440. Although not shown, a first terminal that is in contact with each terminal of the power distribution PCB 430 is provided at one end of the channel 450, and a second terminal is provided at the other end of the channel in contact with the probe pin 440 .

전원 공급부(400)는 승강 장치(500)에 의해 업다운된다. 승강 장치(500)는 전원 공급부(400)의 프로브 핀(440)들이 엘이디 칩(30)들과 접속 또는 분리되도록 이동 플레이트(410)를 업다운시키는 실린더를 포함한다. The power supply unit 400 is up-downed by the lifting device 500. The lifting apparatus 500 includes a cylinder for lifting up the moving plate 410 so that the probe pins 440 of the power supply unit 400 are connected to or separated from the LED chips 30.

상기와 같은 구성을 갖는 발광다이오드 스크리닝 장치를 이용한 스크리닝 방법을 살펴보면 다음과 같다. A screening method using the light emitting diode screening apparatus having the above-described structure will be described as follows.

도 4a 및 도 4b는 발광다이오드 스크리닝 장치에서의 스크리닝 방법을 설명하기 위한 도면들이다. 4A and 4B are diagrams for explaining a screening method in a light emitting diode screening apparatus.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 다이 본딩 공정을 마친 엘이디 어레이 모듈(20)은 라이트 가이드 블록(300)의 상면에 로딩된다. 이때, 엘이디 어레이 모듈(20)의 엘이디 칩(30)들은 도광홀(330)들을 통해 광검출용 기판(100)의 수광 소자(110)들과 마주보도록 배치된다. 4A and 4B, the LED array module 20 after the die bonding process is loaded on the upper surface of the light guide block 300. At this time, the LED chips 30 of the LED array module 20 are arranged to face the light receiving elements 110 of the light detection substrate 100 through the light guide holes 330.

전원 공급부(400)는 승강 장치(500)의 구동에 의해 하강 이동되고, 프로브 핀(440)들이 엘이디 칩(30)들에 접속하게 되면서 구동전압이 동시에 인가된다. 여기서, 외부로부터 제공되는 전원은 전원분배용 인쇄회로기판(430)에서 분배된 후 각 채널(450)들을 통해 프로브 핀(440)들로 공급된다. The power supply unit 400 is moved down by the driving of the lifting device 500 and the driving voltage is simultaneously applied while the probe pins 440 are connected to the LED chips 30. [ Here, the power source provided from the outside is distributed to the PCB 450 through the power distribution PCB 430 and then supplied to the probe pins 440 through the respective channels 450.

전원 공급부(400)를 통해 제공되는 구동 전압에 의해 엘이디 칩(30)들이 점등되면, 광검출용 기판(100)의 수광 소자(110)들이 라이트 가이드 블록(300)의 도광홀(330)들을 통해 제공되는 엘이디 칩(30)들의 출력광을 검출하고, 그 검출된 결과를 제공받은 측정부(190)는 실시간으로 광도의 변화를 측정하게 된다. When the LED chips 30 are turned on by the driving voltage supplied through the power supply unit 400, the light receiving elements 110 of the light detecting substrate 100 are guided through the light guide holes 330 of the light guide block 300 The measuring unit 190 detects the output light of the provided LED chips 30 and provides a result of the detection to measure a change in luminous intensity in real time.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하고 설명하는 것이다. 또한, 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 전술한 바와 같이 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있으며, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한, 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The foregoing description is intended to illustrate and describe the present invention. It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory only and are not restrictive of the invention, It is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention. Accordingly, the foregoing description of the invention is not intended to limit the invention to the precise embodiments disclosed. In addition, the appended claims should be construed to include other embodiments.

100: 광검출용 기판 200 : 베이스 부재
300 : 라이트 가이드 블록 400 : 전원공급부
500 : 승강 장치 100: photo detecting substrate 200: base member
300: light guide block 400: power supply part
500: lifting device

Claims (9)

발광다이오드 스크리닝 장치에 있어서:
수광 소자들이 설치된 광검출용 기판;
상기 광검출용 기판이 안착되는 베이스 부재;
상면에는 엘이디 칩들이 본딩된 엘이디 어레이 모듈이 놓여지고, 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들과 상기 광검출용 기판의 수광 소자들이 서로 마주보도록 상기 베이스 부재에 설치되며, 상기 엘이디 칩들의 빛이 상기 수광 소자들로 안내되도록 관통되어 형성되는 도광홀들이 형성된 라이트 가이드 블록; 및
상기 라이트 가이드 볼록에 놓여진 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들 각각으로 구동 전원을 인가하는 전원공급부를 포함하되;
상기 전원공급부는
상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들로 구동 전원을 인가하는 프로브핀들; 및
상기 프로브핀들이 각각 설치되는 삽입홀들을 갖는 프로브 블록을 포함하며,
상기 프로브 블록은 절연체로 이루어지는 발광다이오드 스크리닝 장치.A light emitting diode screening apparatus comprising:
A photodetecting substrate provided with light receiving elements;
A base member on which the light detection substrate is mounted;
An LED array module in which LED chips are mounted on an upper surface of the LED array module and installed on the base member so that LED chips of the LED array module and light receiving elements of the light detection substrate face each other, A light guide block having light guide holes formed therein so as to be guided by the light guide blocks; And
And a power supplier for applying driving power to each of the LED chips of the LED array module placed in the light guide convexity,
The power supply unit
Probe pins for applying driving power to the LED chips of the LED array module; And
And a probe block having insertion holes in which the probe pins are respectively installed,
Wherein the probe block is made of an insulator. 제 1 항에 있어서,
상기 전원공급부는
상기 프로브핀들이 설치되는 이동 플레이트; 및
상기 프로브 블록의 상면에 설치되고 외부로부터 제공되는 전원을 상기 프로브핀들 각각으로 분배하는 전원분배용 인쇄회로기판을 더 포함하는 발광다이오드 스크리닝 장치.The method according to claim 1,
The power supply unit
A moving plate on which the probe pins are installed; And
And a power distributing printed circuit board disposed on an upper surface of the probe block and distributing power supplied from the outside to each of the probe pins. 삭제delete 제 2 항에 있어서,
상기 발광다이오드 스크리닝 장치는
상기 전원공급부의 프로브 핀들이 상기 엘이디 칩들과 접속되도록 상기 이동 플레이트를 업다운시키는 승강 장치를 더 포함하는 발광다이오드 스크리닝 장치.3. The method of claim 2,
The light emitting diode screening device
And a lifting device for lifting up the moving plate so that the probe pins of the power supply unit are connected to the LED chips. 삭제delete 청구항 1에서 청구된 상기 발광다이오드 스크리닝 장치를 이용하는 발광다이오드 스크리닝 방법에 있어서:
다이 본딩 공정을 마친 상기 엘이디 어레이 모듈을 상기 라이트 가이드 블록의 상면에 로딩하는 단계;
상기 라이트 가이드 볼록에 놓여진 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들로 구동 전원을 인가하는 단계; 및
상기 광검출용 기판의 수광 소자들이 상기 라이트 가이드 블록의 도광홀들을 통해 제공되는 엘이디 칩들의 출력광을 검출하여 실시간으로 광도의 변화를 측정하는 단계를 포함하며,
상기 엘이디 어레이 모듈은
엘이디 칩들이 리드 프레임에 본딩된 리드 프레임 타입 또는 엘이디 칩들이 회로 기판에 실장된 플립칩 타입을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 스크리닝 방법.A light emitting diode screening method using the light emitting diode screening apparatus as claimed in claim 1,
Loading the LED array module after the die bonding process on the top surface of the light guide block;
Applying driving power to LED chips of the LED array module placed in the light guide convexity; And
Wherein the light receiving elements of the light detection substrate detect output light of LED chips provided through the light guide holes of the light guide block and measure a change in brightness in real time,
The LED array module
Wherein the lead frame type LED chip is bonded to the lead frame or the flip chip type LED chip is mounted on the circuit board. 제 6 항에 있어서,
상기 구동 전원 인가 단계는
상기 엘이디 어레이 모듈 상부에 위치한 프로브 핀들이 하강하여 상기 엘이디 어레이 모듈의 엘이디 칩들에 접속되어 구동전압을 동시에 인가하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 스크리닝 방법.The method according to claim 6,
The driving power application step
Wherein the probe pins located on the upper side of the LED array module are lowered to be connected to the LED chips of the LED array module to simultaneously apply a driving voltage. 제 7 항에 있어서,
상기 구동 전원 인가 단계에서
외부로부터 제공되는 전원은 전원분배용 인쇄회로기판을 통해 상기 프로브핀들 각각으로 분배되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드 스크리닝 방법.8. The method of claim 7,
In the driving power application step
Wherein power from an external source is distributed to each of the probe pins through a power distribution PCB. 삭제delete
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