KR101466890B1 - 시스템 온 칩에서 리셋 회로 장치 및 방법 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 83
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 6
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Description
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- 시스템 온 칩에서 리셋 회로 장치에 있어서,외부의 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되는 동안에 슬립 트랜지스터를 온 시키기 위한 제어 신호를 생성하고, 상기 외부 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되지 않는 동안에 슬립 트랜지스터를 오프 시키기 위한 제어 신호를 생성하는 슬립신호 생성부(sleep signal generator)와,상기 슬립신호 생성부에서 생성된 제어 신호가 상기 슬립 트랜지스터를 온 시키기 위한 제어 신호인 경우, 온되어 리셋 버퍼 체인부(reset buffer chain)로 전원을 공급하고, 상기 슬립 신호 생성부에서 생성된 제어 신호가 상기 슬립 트랜지스터를 오프 시키기 위한 제어 신호인 경우, 오프되어 리셋 버퍼 체인부로의 전원을 차단하는 슬립 트랜지스터(sleep transistor)와,상기 슬립 트랜지스터에 의해 전원이 공급되는 동안에 상기 외부 리셋 핀을 통해 입력되는 리셋 신호를 리셋이 필요한 소자에 전달하는 복수의 버퍼들로 구성된 리셋 버퍼 체인부와,상기 리셋 버퍼체인부와 상기 소자 사이에 연결되어 상기 외부의 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되지 않을 시, 상기 소자의 리셋 단자에 잘못된 리셋 값이 인가되지 않도록 상기 리셋 신호가 입력되지 않은 상황임을 나타내는 신호를 전달하는 아이솔레이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 슬립신호 생성부는,인버터, 버퍼 중 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 리셋 회로 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 슬립 트랜지스터는, 접지전압원(VSS)과 상기 리셋 버퍼 체인부 사이에 연결되고, 상기 접지전압원과 가상접지전압원(Virtual VSS)을 연결하는 NMOS 트랜지스터를 이용하는 푸터 스위치(footer switch) 형태인 것을 특징으로 하는 리셋 회로 장치
- 제 1항에 있어서,상기 슬립 트랜지스터는, 전원전압원(VDD)과 상기 리셋 버퍼 체인부 사이에 연결되고, 상기 전원전압원과 가상전원전압원(Virtual VDD)을 연결하는 PMOS 트랜지스터를 이용하는 헤더 스위치(header switch) 형태인 것을 특징으로 하는 리셋 회로 장치
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- 제 1항에 있어서,상기 외부 리셋 핀으로부터 리셋 신호가 입력되는지 여부를 나타내는 신호를 출력하고, 결함에 의해 비정상적인 리셋 신호가 발생되는 것을 방지하는 글리치 방지부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로 장치.
- 삭제
- 시스템 온 칩에서 리셋 회로 동작 방법에 있어서,외부의 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되는 동안에 슬립 트랜지스터를 온 시키기 위한 제어 신호를 생성하고, 상기 외부 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되지 않는 동안에 슬립 트랜지스터를 오프 시키기 위한 제어 신호를 생성하는 과정과,상기 생성된 제어 신호가 상기 슬립 트랜지스터를 온 시키기 위한 제어 신호인 경우, 슬립 트랜지스터(sleep transistor)를 온 시켜 리셋 신호 전달 경로에 존재하는 복수의 버퍼들로 구성된 리셋 버퍼 체인부(reset buffer chain)로 전원을 공급하고, 상기 생성된 제어 신호가 상기 슬립 트랜지스터를 오프 시키기 위한 제어 신호인 경우, 슬립 트랜지스터를 오프 시켜 상기 리셋 신호 전달 경로에 존재하는 복수의 버퍼들로 구성된 리셋 버퍼 체인부로의 전원을 차단하는 과정과,상기 외부의 리셋 핀을 통해 리셋 신호가 입력되지 않을 시, 상기 리셋 신호 전달 경로의 최종 단에 존재하는 소자의 리셋 단자에 잘못된 리셋 값이 인가되지 않도록 상기 리셋 신호가 입력되지 않은 상황임을 나타내는 신호를 전달하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로의 동작 방법.
- 삭제
- 제 8항에 있어서,상기 전원을 공급 혹은 차단하는 과정은,상기 생성된 제어 신호에 따라 접지전압원(VSS)과 상기 리셋 버퍼 체인부 사이에 연결된 슬립 트랜지스터를 온 혹은 오프시켜 상기 접지전압원으로부터의 전원을 상기 리셋 버퍼 체인부에 공급 혹은 차단하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로의 동작 방법.
- 제 8항에 있어서,상기 전원을 공급 혹은 차단하는 과정은,상기 생성된 제어 신호에 따라 전원전압원(VDD)과 상기 리셋 버퍼 체인부 사이에 연결된 슬립 트랜지스터를 온 혹은 오프시켜 상기 전원전압원으로부터의 전원을 상기 리셋 버퍼 체인부에 공급 혹은 차단하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로의 동작 방법.
- 제 8항에 있어서,상기 리셋 신호가 입력되지 않을 시, 상기 리셋 신호가 결함에 의해 비정상적으로 발생되는 것을 방지하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 리셋 회로의 동작 방법.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070113528A KR101466890B1 (ko) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | 시스템 온 칩에서 리셋 회로 장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070113528A KR101466890B1 (ko) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | 시스템 온 칩에서 리셋 회로 장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090047608A KR20090047608A (ko) | 2009-05-13 |
KR101466890B1 true KR101466890B1 (ko) | 2014-12-11 |
Family
ID=40856939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070113528A KR101466890B1 (ko) | 2007-11-08 | 2007-11-08 | 시스템 온 칩에서 리셋 회로 장치 및 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101466890B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112543018B (zh) * | 2020-12-11 | 2024-12-31 | 深圳开立生物医疗科技股份有限公司 | 一种超声设备的芯片复位方法、装置及超声系统 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR940023772U (ko) * | 1993-03-03 | 1994-10-22 | 리세트 스위치 겸용 전원 스위치 장치 |
-
2007
- 2007-11-08 KR KR1020070113528A patent/KR101466890B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR940023772U (ko) * | 1993-03-03 | 1994-10-22 | 리세트 스위치 겸용 전원 스위치 장치 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
저전력 회로 구조에 관한 연구. 최종연구보고서. 한국과학기술원 (2006.1.17) * |
저전력 회로 구조에 관한 연구. 최종연구보고서. 한국과학기술원 (2006.1.17)* |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090047608A (ko) | 2009-05-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20071108 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20121108 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20071108 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20131126 Patent event code: PE09021S01D |
|
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20140526 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20131126 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
|
PJ0201 | Trial against decision of rejection |
Patent event date: 20140625 Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event code: PJ02012R01D Patent event date: 20140526 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Decision date: 20140825 Appeal identifier: 2014101003963 Request date: 20140625 |
|
AMND | Amendment | ||
PB0901 | Examination by re-examination before a trial |
Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20140725 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event date: 20140625 Patent event code: PB09011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20140127 Patent event code: PB09011R02I |
|
B701 | Decision to grant | ||
PB0701 | Decision of registration after re-examination before a trial |
Patent event date: 20140825 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PB07012S01D Patent event date: 20140805 Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial Patent event code: PB07011S01I |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20141124 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20141125 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |