KR101372970B1 - Method for detecting metal foreign object on contactless power supply device, contactless power supply device, contactless power reception device, and contactless power supply system - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 비접촉 급전 장치의 금속 이물질 검출 방법, 비접촉 급전 장치, 수전 장치 및 비접촉 급전 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a method for detecting metal foreign matter in a non-contact power supply device, a non-contact power supply device, a power receiving device, and a non-contact power supply system.
최근, 전자 유도 방식에 의한 비접촉 급전 시스템의 실용화가 진행되고 있다.In recent years, practical use of the non-contact electric power feeding system by the electromagnetic induction system is progressing.
전자 유도 방식에 의한 비접촉 급전 시스템은, 1차 코일을 포함하는 비접촉 급전 장치와 2차 코일을 포함하는 수전 장치를 구비한다. 비접촉 급전 장치의 탑재면에 수전 장치를 구비한 전기 기기가 탑재된 상태에서, 비접촉 급전 장치는 1차 코일을 여자시켜, 전자 유도에 의해 전기 기기의 수전 장치에 설치된 2차 코일을 여자 급전한다. 2차 코일에 발생한 2차 전력은 수전 장치 내에서 직류 전력으로 변환된다. 그리고, 그 직류 전력은 전기 기기의 부하의 구동 전원으로서 공급된다.A non-contact power feeding system by an electromagnetic induction system includes a non-contact power feeding device including a primary coil and a power receiving device including a secondary coil. In the state where the electric machine provided with a power receiving device was mounted on the mounting surface of the non-contact power feeding device, the non-contact power feeding device excites the primary coil, and energizes the secondary coil provided in the power receiving device of the electric device by electromagnetic induction. Secondary power generated in the secondary coil is converted into direct current power in the power receiving device. The DC power is supplied as a drive power source for the load of the electric device.
그런데, 비접촉 급전 장치와 전기 기기(수전 장치) 사이에 금속 이물질이 존재하면 급전 중에 금속 이물질이 유도 가열되는 경우가 있다. 그래서, 비접촉 급전 장치에는 금속 이물질을 검출하는 금속 검출 장치를 구비한 것이 있다. 금속 검출 장치가 금속 이물질을 검출했을 때는, 비접촉 급전 장치는 급전을 정지한다.By the way, when a metal foreign material exists between a non-contact electric power feeding device and an electrical device (electric power receiving device), a metal foreign material may inductively heat during power feeding. Therefore, some non-contact power supply devices include a metal detection device that detects metal foreign matter. When the metal detecting device detects a metal foreign substance, the non-contact power feeding device stops feeding.
비접촉 급전 장치에 구비된 금속 검출 장치는, 예를 들면, 비접촉 급전 장치의 1차 코일을 급전 시의 주파수와는 상위한 소정의 주파수로 여자시킨다. 금속 이물질이 존재할 때는, 소정의 주파수로 여자되어 있는 1차 코일의 인덕턴스가 변화하는 것이 알려져 있다. 금속 검출 장치는, 인덕턴스의 변화를 이용하여 금속 이물질이 존재하다고 검출했을 때, 급전을 정지시킨다(일본 공개특허공보 제2000-295796호).The metal detection device provided in the non-contact power supply device excites the primary coil of the non-contact power supply device at a predetermined frequency that differs from the frequency at the time of power supply, for example. When metal foreign matter exists, it is known that the inductance of the primary coil excited by the predetermined frequency changes. The metal detection device stops feeding when it detects that metal foreign matter exists by using the change in inductance (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-295796).
그러나, 상기 금속 검출 장치는 비접촉 급전 장치의 1차 코일을 급전 시의 여자 주파수와는 상위한, 금속 이물질 검출을 위한 여자 주파수로 여자시킨다. 그러므로, 비접촉 급전 장치에는, 1차 코일을 여자하기 위한 여자 주파수를 복수 설정할 필요가 있고, 또, 금속 이물질 검출을 실행할 때마다, 여자 주파수를 전환할 필요가 있었다. 그러므로, 1차 코일을 여자 구동시키는 회로가 복잡해져, 비접촉 급전 장치가 고가가 되는 문제가 있었다.However, the metal detection device excites the primary coil of the non-contact power supply device at an excitation frequency for detecting metal foreign matter, which is different from the excitation frequency at the time of power supply. Therefore, in the non-contact power supply device, it is necessary to set a plurality of excitation frequencies for exciting the primary coil, and it is necessary to switch the excitation frequency every time the metal foreign matter detection is performed. Therefore, the circuit which drives an excitation drive of a primary coil becomes complicated, and there existed a problem that a non-contact power feeding device became expensive.
또, 상기 금속 검출 장치는, 금속 이물질을 검출하기 위하여, 1차 코일의 인덕턴스의 변화, 즉 1차 코일을 포함하는 발진 회로의 공진 주파수의 변화를 검출 하여야 하므로, 고속으로 신호 처리하는 증폭기나 프로세서를 필요로 하기 때문에, 비접촉 급전 장치를 더욱 고가인 것이 되게 하였다.In addition, the metal detecting apparatus must detect a change in inductance of the primary coil, that is, a change in resonant frequency of the oscillation circuit including the primary coil, in order to detect metal foreign matter, so that an amplifier or a processor which processes the signal at high speed Since it requires, the non-contact power feeding device became more expensive.
본 발명은 상기 문제를 해결하기 위해 이루어진 것이며, 그 목적은 비접촉 급전 장치의 급전 코일의 여자 주파수를 바꾸지 않고 금속 이물질을 검출할 수 있고, 또한 염가로 제조를 할 수 있는 비접촉 급전 장치의 금속 이물질 검출 방법을 제공하는 것에 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problem, and its object is to detect metal foreign matters without changing the excitation frequency of the power supply coil of the non-contact power supply device, and to detect metal foreign matters of the non-contact power supply device, which can be manufactured at low cost. To provide a method.
또한, 이 비접촉 급전 장치의 금속 이물질 검출 방법에 사용되는 비접촉 급전 장치, 수전 장치 및 비접촉 급전 시스템을 제공하는 것에 있다.Another object of the present invention is to provide a non-contact power supply device, a power receiving device, and a non-contact power supply system for use in a method for detecting a metal foreign substance in the non-contact power supply device.
본 발명의 일 측면은, 전기 기기에 포함되는 수전 장치에 대하여 전자 유도 현상을 이용하여 급전을 행하는 비접촉 급전 장치 상에 금속 이물질이 존재하는지 여부를 검출하는 방법을 제공한다. 그 방법은, 상기 비접촉 급전 장치가 상기 수전 장치에 발진 신호를 송신하고, 상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따른 변조파를 검출하고, 상기 변조파를 상기 비접촉 급전 장치에 송신하기 위하여, 캐리어 신호를 상기 변조파에 따라 변조함으로써 피변조파 신호를 생성하고, 이 피변조파 신호를 상기 수전 장치가 상기 비접촉 급전 장치에 송신하고, 상기 수전 장치로부터 송신된 상기 피변조파 신호를 수신하고, 이 피변조파 신호로부터 복조된 복조 신호에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는 것을 구비한다.One aspect of the present invention provides a method for detecting whether a metal foreign material is present on a non-contact power feeding device that feeds power using an electromagnetic induction phenomenon to a power receiving device included in an electric device. The method includes the non-contact power feeding device transmitting an oscillation signal to the power receiving device, detecting, from the oscillation signal received by the power receiving device, a modulated wave caused by a change in magnetic flux due to the presence of a metal foreign material, and modulating the modulation. In order to transmit the wave to the non-contact power supply device, a modulated wave signal is generated by modulating a carrier signal according to the modulated wave, and the power receiver device transmits the modulated wave signal to the non-contact power supply device, and transmits from the power receiver. Receiving said modulated wave signal, and determining whether or not a metal foreign material exists in accordance with the demodulated signal demodulated from said modulated wave signal.
일례에서는, 상기 변조파는 상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 구형파 펄스 신호이며, 상기 피변조파 신호는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이며, 상기 복조 신호는 상기 피변조파 신호를 포락선 검파함으로써 생성된 구형파 펄스 신호이다.In one example, the modulated wave is a square wave pulse signal having a period changed in accordance with a change in magnetic flux due to the presence of a foreign metal in the oscillation signal received by the power receiving device, the modulated wave signal is the amplitude of the carrier signal The demodulation signal is generated by amplitude modulation in proportion to the square wave pulse signal, and the demodulation signal is a square wave pulse signal generated by envelope detection of the modulated wave signal.
일례에서는, 상기 캐리어 신호는 상기 비접촉 급전 장치로부터 상기 수전 장치에 송신되는 상기 발진 신호이다.In one example, the carrier signal is the oscillation signal transmitted from the non-contact power feeding device to the power receiving device.
일례에서는, 상기 캐리어 신호는 상기 비접촉 급전 장치의 1차 코일로부터 전자 유도 현상을 이용하여 상기 수전 장치의 2차 코일에 급전되는 급전 전류에 따른 전자파 신호이며, 피변조파 신호는 상기 전자파 신호에 상기 변조파를 중첩한 신호이다.In one example, the carrier signal is an electromagnetic signal according to a feed current supplied from the primary coil of the non-contact power supply device to the secondary coil of the power receiving device by using an electromagnetic induction phenomenon, the modulated wave signal is modulated by the electromagnetic signal This is a signal that overlaps waves.
본 발명의 다른 측면은, 전기 기기에 포함되는 수전 장치에 대하여 전자 유도 현상을 이용하여 급전을 행하는 비접촉 급전 장치를 제공한다. 이 비접촉 급전 장치는, 상기 수전 장치에 발진 신호를 송신하는 발진 회로; 상기 발진 신호를 수신한 상기 수전 장치로부터, 상기 발진 신호를 자속 변화에 따른 변조파에 의해 변조한 피변조파 신호를 수신하고, 이 피변조파 신호를 검파하여, 상기 수전 장치가 검출한 변조파를 복조하는 검파 회로; 상기 검파 회로가 복조한 상기 변조파의 주파수를 검출하는 주파수 검출 회로; 및 상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 복조한 변조파의 주파수에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는 판정 회로를 포함한다.Another aspect of the present invention provides a non-contact power feeding device that feeds power using an electromagnetic induction phenomenon to a power receiving device included in an electric device. This non-contact power supply device includes an oscillation circuit for transmitting an oscillation signal to the power reception device; From the power receiving device that has received the oscillation signal, a modulated wave signal obtained by modulating the oscillation signal by a modulated wave according to a change in magnetic flux is received, detects the modulated wave signal, and demodulates the modulated wave detected by the power receiver. Detection circuit; A frequency detection circuit for detecting a frequency of the modulated wave demodulated by the detection circuit; And a determination circuit that determines whether or not a metal foreign matter exists in accordance with the frequency of the demodulated modulated wave detected by the frequency detection circuit.
일례에서는, 상기 변조파는, 상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 구형파 펄스 신호이며, 상기 피변조파 신호는 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이며, 상기 검파 회로는 상기 피변조파 신호를 포락선 검파함으로써 상기 구형파 펄스 신호를 복조하도록 구성되어 있고, 상기 주파수 검출 회로는 상기 검파 회로가 복조한 상기 구형파 펄스 신호의 주기를 검출하는 회로이며, 상기 판정 회로는 상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 구형파 펄스 신호의 주기에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정한다.In one example, the modulated wave is a square wave pulse signal having a period changed in accordance with a change in magnetic flux due to the presence of a foreign metal in the oscillation signal received by the power receiving device, wherein the modulated wave signal is the amplitude of the carrier signal. Wherein the detection circuit is configured to demodulate the square wave pulse signal by envelope detection of the modulated wave signal, and the frequency detection circuit demodulates the square wave pulse demodulated by the detection circuit. A circuit for detecting a period of the signal, wherein the determining circuit determines whether or not a metal foreign matter exists in accordance with the period of the square wave pulse signal detected by the frequency detecting circuit.
본 발명의 또 다른 측면은, 전기 기기에 설치되고, 수전 장치는, 전자 유도 현상을 이용하여 비접촉 급전 장치로부터 수전하는 수전 장치를 제공한다. 이 수전 장치는, 상기 비접촉 급전 장치로부터 송신되는, 금속 이물질이 존재하는지 여부를 검출하기 위한 발진 신호를 수신하는 발진 신호 수신 회로; 상기 발진 신호 수신 회로가 수신한 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따른 변조파를 생성하는 변조파 신호 생성 회로; 및 상기 변조파를 상기 비접촉 급전 장치에 송신하기 위하여, 캐리어 신호를 상기 변조파에 따라 변조하여 피변조파 신호를 생성하는 피변조파 신호 생성 회로를 구비한다.Another aspect of the present invention is provided in an electrical apparatus, and the power receiving device provides a power receiving device that receives power from a non-contact power feeding device using an electromagnetic induction phenomenon. This power receiving device includes: an oscillation signal receiving circuit that receives an oscillation signal for detecting whether there is a metal foreign material transmitted from the non-contact power supply device; A modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave according to a change in magnetic flux due to the presence of a foreign metal in the oscillation signal received by the oscillation signal receiving circuit; And a modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave signal by modulating a carrier signal according to the modulated wave to transmit the modulated wave to the non-contact power supply device.
일례에서는, 상기 변조파는 구형파 펄스 신호이며, 상기 변조파 신호 생성 회로는, 수신한 상기 발진 신호로부터, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 상기 구형파 펄스 신호를 생성하도록 구성되어 있고, 상기 피변조파 신호는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례해 진폭 변조시켜 생성한 것이며, 상기 피변조파 신호 생성 회로는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조시켜 상기 피변조파 신호를 생성하도록 구성되어 있다.In one example, the modulated wave is a square wave pulse signal, and the modulated wave signal generating circuit is configured to generate the square wave pulse signal having a period changed from the received oscillation signal according to a change in magnetic flux due to the presence of a metal foreign material. The modulated wave signal is generated by amplitude modulating the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal, and the modulated wave signal generating circuit modulates the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal. And generate the modulated wave signal.
본 발명은 상기 수전 장치와 상기 비접촉 급전 장치를 구비하는 비접촉 급전 시스템에도 적합하다.The present invention is also suitable for a non-contact power supply system including the power receiving device and the non-contact power supply device.
본 발명의 다른 태양 및 이점은 본 발명의 원리의 예를 나타내고 있는 도면과 함께 이하의 기재로부터 분명해진다.Other aspects and advantages of the invention will be apparent from the following description taken in conjunction with the drawings showing examples of the principles of the invention.
본 발명의 신규하다고 생각되는 특징은, 특히 첨부한 특허청구범위에서 분명해진다. 목적 및 이점을 수반하는 본 발명은, 이하에 나타내는 실시예의 설명을 첨부 도면을 참조함으로써 이해된다.
도 1은 비접촉 급전 시스템의 급전 장치와 전기 기기의 사시도이다.
도 2는 급전 장치와 전기 기기의 단면도이다.
도 3은 급전 장치와 전기 기기의 블록도이다.
도 4는 전기 기기에 설치된 수전 회로의 블록도이다.
도 5는 전기 기기에 설치된 변조 회로의 블록도이다.
도 6은 전기 기기의 변조 회로에 포함되는 정류 회로와 변조 회로의 전기 회로도이다.
도 7은 전기 기기의 변조 회로에 포함되는 변조파 신호 생성부의 전기 회로 도이다.
도 8은 급전 장치에 설치된 급전 회로 및 금속 검출 회로의 블록도이다.
도 9의 (a), (b), (c), (d)는 금속편이 존재하지 않는 경우의 발진 신호, 구형파 펄스 신호, 피변조파 신호 및 복조 신호의 파형도이다.
도 9의 (e), (f), (g), (h)는 금속편이 있는 경우의 발진 신호, 구형파 펄스 신호, 피변조파 신호 및 복조 신호의 파형도이다.The characteristics considered to be novel of this invention become clear especially in the attached Claim. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The present invention with its objects and advantages is understood by referring to the accompanying drawings for description of the embodiments shown below.
1 is a perspective view of a power supply device and an electrical apparatus of a non-contact power supply system.
2 is a cross-sectional view of a power supply device and an electrical device.
3 is a block diagram of a power feeding device and an electrical device.
4 is a block diagram of a power receiving circuit installed in an electric device.
5 is a block diagram of a modulation circuit installed in an electric device.
6 is an electrical circuit diagram of a rectifier circuit and a modulation circuit included in a modulation circuit of an electric device.
7 is an electric circuit diagram of a modulated wave signal generation unit included in a modulation circuit of an electric device.
8 is a block diagram of a power supply circuit and a metal detection circuit provided in the power supply device.
9A, 9B, 9C, and 9D are waveform diagrams of an oscillation signal, a square wave pulse signal, a modulated wave signal, and a demodulation signal when a metal piece is not present.
(E), (f), (g), (h) are waveform diagrams of an oscillation signal, a square wave pulse signal, a modulated wave signal, and a demodulation signal when there is a metal piece.
이하, 본 발명의 비접촉 급전 시스템의 실시예를 도면에 따라 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the Example of the non-contact power supply system of this invention is described according to drawing.
도 1에 나타낸 비접촉 급전 시스템은, 비접촉 급전 장치(이하, 단지 급전 장치라고 함)(1)와, 이 급전 장치(1)로부터 비접촉 급전되는 전기 기기(이하, 단지 기기라고 함)(E)를 포함한다. 급전 장치(1)의 하우징(2)은, 위쪽이 개구된 사각 형상의 상자체(3)와, 그 개구를 닫아서 막는 절연체(예를 들면, 강화 유리)로 이루어지는 천정판(4)에 의해 형성되어 있다. 천정판(4)의 상면은, 비접촉 급전할 때 기기(E)가 탑재되는 탑재면(5)으로서 기능한다. 하우징(2) 내에는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 천정판(4)의 이면에 1차 코일(L1)이 설치되어 있다. 1차 코일(L1)은, 본 실시예에서는 1개이며, 천정판(4)의 탑재면(5)과 평행하게 배치되어 있다.The non-contact power supply system shown in FIG. 1 includes a non-contact power supply device (hereinafter simply referred to as a power supply device) 1 and an electric device (hereinafter referred to simply as a device) E that is contactlessly fed from the
탑재면(5)에 기기(E)가 탑재된 때, 기기(E)에 설치된 2차 코일(L2)은 급전 장치(1)의 1차 코일(L1)의 여자에 의한 전자 유도에 의해 여자 급전된다. 전자 유도에 의해 2차 코일(L2)에 유기된 2차 전력은 기기(E)에 설치된 수전 회로(15)(도 3 참조)에 입력되고, 수전 회로(15)에 의해 리플(ripple)이 없는 직류 전압으로 변환되어, 기기(E)의 부하(Z)에 공급된다.When the device E is mounted on the
또, 천정판(4)의 이면에는, 1차 코일(L1)을 에워싸도록 급전 측 제1 통신 안테나 코일(이하, 급전 측 제1 안테나 코일이라고 함)(6a)이 설치되어 있다. 급전 측 제1 안테나 코일(6a)과 기기(E)에 설치된 수전 측 제1 통신 안테나 코일(이하, 수전 측 제1 안테나 코일이라고 함)(6b) 사이의 무선 통신에 의해 데이터 및/ 또는 정보가 송수신된다.Moreover, the power supply side 1st communication antenna coil (henceforth a power supply side 1st antenna coil) 6a is provided in the back surface of the
일례에서는, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재된 때, 급전 측 제1 안테나 코일(6a)과 수전 측 제1 안테나 코일(6b) 사이의 무선 통신에 의해 데이터 및/ 또는 정보가 송수신된다.In one example, when the device E is mounted on the mounting
본 실시예에서는, 기기(E)는 기기 인증 신호(ID)와 여자 요구 신호(RQ)를 수전 측 제1 안테나 코일(6b)로부터 무선으로 송신한다. 기기 인증 신호(ID)는 급전 장치(1)로부터의 급전을 받는 기기(E)의 식별 정보를 포함할 수 있다. 여자 요구 신호(RQ)는 급전 장치(1)에 급전을 요구한다. 급전 측 제1 안테나 코일(6a)은 기기 인증 신호(ID)와 여자 요구 신호(RQ)를 수신한다.In the present embodiment, the device E wirelessly transmits the device authentication signal ID and the excitation request signal RQ from the power receiving side
천정판(4)의 상면, 즉 탑재면(5)(천정판(4)의 이면이라도 됨)에는, 급전 측 제2 통신 안테나 코일(이하, 급전 측 제2 안테나 코일이라고 함)(7a)이 형성되어 있다. 급전 측 제2 안테나 코일(7a)은, 예를 들면, 공지의 인쇄 배선 기술로 탑재면(5)에 형성되어 있다. 급전 측 제2 안테나 코일(7a)과, 기기(E)에 설치된 수전 측 제2 통신 안테나 코일(이하, 수전 측 제2 안테나 코일이라고 함)(7b) 사이의 무선 통신에 의해 데이터 및/ 또는 정보가 송수신된다.On the upper surface of the
일례에서는, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재된 때, 급전 측 제2 안테나 코일(7a)과 수전 측 제2 안테나 코일(7b) 사이에서, 탑재면(5) 상에 금속편(금속 이물질)(8)이 존재하는지 여부를 검출하기 위한 신호의 송수신이 행해진다.In one example, when the device E is mounted on the mounting
본 실시예에서는, 급전 장치(1)의 발진 회로(33a)(도 8 참조)는 금속편(8)의 검출을 위한 발진 신호(Φt)(도 9 참조)를 발진하고, 이 발진 신호(Φt)를 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 송신한다. 기기(E)의 수전 측 제2 안테나 코일(7b)은 발진 신호(Φt)를 수신한다. 기기(E)의 변조 회로(16)(도 3 참조)는, 수신한 발진 신호(Φt)를 변조하고, 변조가 끝난 신호(피변조파 신호)(Φm)(도 9 참조)를 생성하고, 이 피변조파 신호(Φm)(도 9 참조)를 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 송신한다.In the present embodiment, the
도 2에 나타낸 예에서는, 하우징(2) 내의 내부 바닥면에 인쇄 배선 기판(10)이 배치되어 있고, 이 인쇄 배선 기판(10)에는 전원 회로(31)와, 탑재면(5)에 탑재된 기기(E)에 전자 유도에 의해 전력을 급전하는 급전 회로(32)와, 탑재면(5) 상의 금속편(8)을 기기(E)와 협동하여 검출하기 위한 금속 검출 회로(33)와, 급전 장치(1)를 통괄 제어하는 마이크로 컴퓨터로 이루어지는 시스템 제어부(34)가 실장되어 있다.In the example shown in FIG. 2, a printed
다음에, 급전 장치(1)와 기기(E)의 전기적 구성을 도 3∼도 8에 따라 설명한다.Next, an electrical configuration of the
기기(E)는, 도 3에 나타낸 바와 같이, 급전 장치(1)로부터 2차 전력을 수전하는 수전 회로(15)와, 수전 회로(15)가 수전한 2차 전력으로 구동하는 부하(Z)와, 금속편 검출을 위한 피변조파 신호(Φm)를 생성하는 변조 회로(16)를 가진다.As shown in FIG. 3, the device E includes a
일례의 수전 장치는 2차 코일(L2)과 수전 회로(15)를 포함할 수 있다. 다른 예의 수전 장치는 2차 코일(L2)과 수전 회로(15)와 변조 회로(16)를 포함할 수 있다. 또 다른 예의 수전 장치는 부하를 제외한 기기(E)이다. 기기(E) 전체를 수전 장치라고 부르는 경우도 있다.An example power receiving device may include a secondary coil L2 and a
수전 회로(15)는, 1차 코일(L1)로부터 2차 코일(L2)을 통하여 2차 전력을 수전하고, 부하(Z)에 구동 전압을 공급한다. 도 4에 나타낸 바와 같이, 수전 회로(15)는 정류 평활 회로(15a), 데이터 생성 회로(15b) 및 송신 회로(15c)를 포함한다.The
정류 평활 회로(15a)는 2차 코일(L2)과 접속되어 있다. 정류 평활 회로(15a)는 급전 장치(1)의 1차 코일(L1)의 여자에 의한 전자 유도에 의해 2차 코일(L2)에 여자 급전된 2차 전력을 리플이 없는 직류 전압으로 변환하고, 이 직류 전압을 기기(E)의 부하(Z)에 공급한다.The
부하(Z)는 2차 코일(L2)에 의해 발생하는 2차 전력으로 구동하는 기기이면 된다. 예를 들면, 부하(Z)는, 정류한 직류 전압을 사용하여 탑재면(5) 상에서 구동하는 기기라도 되고, 2차 전력을 그대로 교류 전원으로서 사용하여 탑재면(5) 상에서 구동하는 기기라도 되고, 정류한 직류 전압으로 내장 충전지(2차 전지)를 충전하는 기기라도 된다.The load Z may be a device that is driven by secondary power generated by the secondary coil L2. For example, the load Z may be a device to be driven on the mounting
비한정적인 예에서는, 정류 평활 회로(15a)는 정류된 직류 전압을 데이터 생성 회로(15b) 및 송신 회로(15c)에 공급하는 구동원으로서 기능할 수 있다.In a non-limiting example, the rectifying smoothing
데이터 생성 회로(15b)는 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 생성하고 송신 회로(15c)에 공급하는 회로이다. 기기 인증 신호(ID)는 급전 장치(1)에 대하여 상기 급전 장치(1)에 의해 급전을 받게 되는 기기(E)라는 취지의 인증 신호이다. 여자 요구 신호(RQ)는 급전 장치(1)에 대하여 급전을 요구하는 요구 신호이다.The
데이터 생성 회로(15b)는, 예를 들면, 정류 평활 회로(15a)가 직류 전원을 출력하고 있을 때나, 기기(E)에 내장된 2차 전지 등으로 구동 가능한 상태일 때, 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 생성하고 송신 회로(15c)에 공급한다. 또, 데이터 생성 회로(15b)는, 기기(E)에 설치된 예를 들면, 부하(Z)를 구동시키기 위한 전원 스위치가 오프일 때는, 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 생성하지 않는다.The
또한, 데이터 생성 회로(15b)는, 기기(E)에 마이크로 컴퓨터가 설치되어 있는 경우, 마이크로 컴퓨터의 판단으로 급전을 휴지(休止)하고 싶다고 판단했을 때는, 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 생성하지 않는다.In addition, when the microcomputer is installed in the apparatus E, when the microcomputer is installed in the apparatus E, and it is determined that power supply is to be stopped by the microcomputer's judgment, the apparatus authentication signal ID and the excitation request signal are carried out. Do not generate (RQ).
송신 회로(15c)는 수전 측 제1 안테나 코일(6b)과 접속되어 있다. 송신 회로(15c)는 데이터 생성 회로(15b)로부터 공급된 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 수전 측 제1 안테나 코일(6b)을 통하여 급전 장치(1)에 송신한다.The
기기(E)는 급전 장치(1)로부터 송신되어 수전 측 제2 안테나 코일(7b)에 의해 수신된 발진 신호(Φt)를 변조하는 변조 회로(16)를 가진다. 변조 회로(16)는, 도 5에 나타낸 바와 같이, 발진 신호(Φt)를 정류하는 정류 회로(16a)와, 정류 회로(16a)가 정류한 정류 전류에 따라 구형파 펄스 신호(MP)를 생성하는 변조파 신호 생성 회로(16b)와, 변조파 신호 생성 회로(16b)가 생성한 구형파 펄스 신호(MP)에 따라 발진 신호(Φt)를 변조하여, 변조가 끝난 신호(피변조파 신호)(Φm)를 생성하는 변조부(16c)를 포함한다.The device E has a
도 6에 나타낸 예에서는, 정류 회로(16a)는 반파 정류 회로이며, 정류용 다이오드(D0), 충방전 커패시터(C0) 및 저항(R0)을 가지고 있다. 정류용 다이오드(D0)의 애노드 단자는 수전 측 제2 안테나 코일(7b)의 양극 단자(PT)에 접속되고, 정류용 다이오드(D0)의 캐소드 단자는 충방전 커패시터(C0)의 양 단자에 접속되어 있다. 충방전 커패시터(C0)의 음단자는 수전 측 제2 안테나 코일(7b)의 음극 단자(NT)에 접속되어 있다. 저항(R0)은 충방전 커패시터(C0)와 병렬로 접속되어 있다. 정류 회로(16a)는, 급전 장치(1)의 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 송신된 발진 신호(Φt)를 수전 측 제2 안테나 코일(7b)을 통하여 수신하고, 수신한 발진 신호(Φt)를 반파 정류한다.In the example shown in FIG. 6, the
도 9의 (a)에 나타낸 바와 같이, 급전 장치(1)로부터 송신된 발진 신호(Φt)는 일정한 진폭값 및 일정한 주파수를 가지는 정현파일 수 있다. 수전 측 제2 안테나 코일(7b)이 수신한 발진 신호(Φt)가 정류용 다이오드(D0)에 의해 반파 정류되면, 충방전 커패시터(C0)는 충방전을 반복한다. 예를 들면, 발진 신호(Φt)가 양전위일 때, 충방전 커패시터(C0)는 정류용 다이오드(D0)로부터의 전류에 의해 충전된다. 발진 신호(Φt)가 음전위일 때, 충방전 커패시터(C0)에 충전된 전하는 저항(R0)을 통하여 방전된다.As shown in Fig. 9A, the oscillation signal? T transmitted from the
발진 신호(Φt)의 주파수가 변화되었을 때, 충방전 커패시터(C0)의 충방전 시간은 변동한다. 예를 들면, 기기(E)가 탑재면(5)에 탑재된 상태에서, 급전 측 제2 안테나 코일(7a)과 수전 측 제2 안테나 코일(7b) 사이에 금속편(8)이 존재할 때에, 수전 측 제2 안테나 코일(7b)이 수신한 발진 신호(Φt)의 주파수는 급전 장치(1)로부터 송신된 발진 신호(Φt)의 주파수로부터 변동한다.When the frequency of the oscillation signal .phi.t changes, the charge / discharge time of the charge / discharge capacitor C0 varies. For example, when the metal piece 8 exists between the power supply side
급전 장치(1)로부터 송신된 발진 신호(Φt)의 주파수를 제1 주파수라고 하는 경우가 있다. 수전 측 제2 안테나 코일(7b)이 수신한 발진 신호(Φt)의 주파수를 제2 주파수라고 하는 경우가 있다. 제2 주파수는, 금속편(8)이 존재하지 않을 때는 제1 주파수와 같지만, 금속편(8)이 존재할 때는, 제1 주파수와는 상이하다. 예를 들면, 금속편(8)이 존재하지 않을 때는, 도 9의 (a)에 나타낸 바와 같이, 발진 회로(33a)가 발진한 제1 주파수와 동일한 주파수를 가지는 발진 신호(Φt)가 수전 측 제2 안테나 코일(7b)에 의해 수신된다. 한편, 금속편(8)이 존재할 때는, 도 9의 (e)에 나타낸 바와 같이, 발진 회로(33a)가 발진한 제1 주파수와는 상이한, 비교적 낮은 주파수를 가지는 발진 신호(Φt)가 수전 측 제2 안테나 코일(7b)에 수신된다.The frequency of the oscillation signal .phi.t transmitted from the
이것은, 금속편(8)의 존재에 의해 발진 신호(Φt)의 주파수가 저하됨으로써, 충방전 커패시터(C0)의 충방전 시간(충방전의 주기)이 길어지는 것을 의미한다. 즉, 금속편(8)이 존재할 때의 충방전 커패시터(C0)의 충전 전압 파형의 주기는, 금속편(8)이 존재하지 않을 때에 비해 길어진다. 이 충방전 커패시터(C0)의 충전 전압(Vt)은 변조파 신호 생성 회로(16b)에 전원 전압(VG)으로서 인가된다.This means that the charge / discharge time (cycle of charge / discharge) of the charge / discharge capacitor C0 becomes long because the frequency of the oscillation signal .phi.t decreases due to the presence of the metal piece 8. That is, the period of the charge voltage waveform of the charge / discharge capacitor C0 when the metal piece 8 is present becomes longer than when the metal piece 8 is not present. The charging voltage Vt of this charge / discharge capacitor C0 is applied as the power supply voltage VG to the modulation wave
변조파 신호 생성 회로(16b)는, 도 7에 나타낸 바와 같이, 무안정 멀티바이브레이터(20)에 의해 구성될 수 있다. 무안정 멀티바이브레이터(20)는 2개의 트랜지스터(Q1, Q2), 2개의 커패시터(C1, C2), 4개의 저항(R1a, R1b, R2a, R2b)으로 구성되는 공지의 멀티바이브레이터일 수 있다.The modulated wave
충방전 커패시터(C0)의 충전 전압(Vt)은 무안정 멀티바이브레이터(20)의 전원선(21)에 전원 전압(VG)으로서 인가되고 있다. 본 실시예의 무안정 멀티바이브레이터(20)는 트랜지스터(Q1)의 콜렉터 단자로부터 구형파 펄스 신호(MP)(변조파)를 변조부(16c)에 공급한다.The charging voltage Vt of the charge / discharge capacitor C0 is applied as the power supply voltage VG to the
즉, 무안정 멀티바이브레이터(20)의 트랜지스터(Q1)가 온되었을 때, 트랜지스터(Q2)의 베이스·이미터 사이의 전위는 임계값 전압(예를 들면, 0.7볼트)에서 전원 전압(VG)를 뺀 값이 되고, 트랜지스터(Q2)는 오프된다. 그리고, 저항(R1b)을 통하여 커패시터(C1)에 전류가 흐르고, 커패시터(C1)가 충전되어 트랜지스터(Q2)의 베이스·이미터 사이의 전위가 상승한다. 이윽고, 트랜지스터(Q2)의 베이스·이미터 사이의 전위가 임계값을 초과하면, 트랜지스터(Q2)는 온된다.That is, when the transistor Q1 of the
이 트랜지스터(Q2)의 온에 따라, 트랜지스터(Q1)의 베이스·이미터 사이의 전위는 임계값 전압에서 전원 전압(VG)을 뺀 값이 되고, 트랜지스터(Q1)는 오프된다. 그리고, 저항(R2b를 통하여 커패시터(C2)에 전류가 흘러 커패시터(C2)가 충전되고 트랜지스터(Q1)의 베이스·이미터 사이의 전위가 상승한다. 이윽고, 트랜지스터(Q1)의 베이스·이미터 사이의 전위가 임계값을 초과하면, 트랜지스터(Q1)는 온되고, 트랜지스터(Q2)가 오프된다.As the transistor Q2 is turned on, the potential between the base and emitter of the transistor Q1 becomes the value obtained by subtracting the power supply voltage VG from the threshold voltage, and the transistor Q1 is turned off. Then, a current flows through the capacitor C2 through the resistor R2b to charge the capacitor C2, and the potential between the base and the emitter of the transistor Q1 rises. When the potential of P exceeds the threshold, transistor Q1 is turned on and transistor Q2 is turned off.
이것을 반복함으로써, 무안정 멀티바이브레이터(20)는 트랜지스터(Q1)(트랜지스터(Q2)도 마찬가지임)의 콜렉터 단자로부터 구형파 펄스 신호(MP)를 계속 출력한다.By repeating this, the
이때, 본 실시예에서는, 트랜지스터(Q1)(트랜지스터(Q2)도 마찬가지임)가 오프에서 온으로 바뀌는 시간은, 트랜지스터(Q1)의 베이스·이미터 사이의 전위가 임계값을 초과하는 데 필요한 시간에 의존한다. 다시 말해, 트랜지스터(Q1)가 오프에서 온으로 바뀌는 시간은 저항(R1b)을 통하여 커패시터(C1)에 충전되는 전원 전압(VG)에 의존한다.At this time, in this embodiment, the time when the transistor Q1 (which is similar to the transistor Q2) turns from off to on is the time required for the potential between the base and the emitter of the transistor Q1 to exceed the threshold. Depends on In other words, the time when the transistor Q1 turns from off to on depends on the power supply voltage VG charged to the capacitor C1 through the resistor R1b.
그런데, 무안정 멀티바이브레이터(20)는 충방전 커패시터(C0)의 충전 전압(Vt)을 전원 전압(VG)으로서 이용하고 있기 때문에, 전원 전압 파형의 주기가 변동한다. 이로써, 트랜지스터(Q1)의 콜렉터로부터 출력되는 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)는 변동되게 된다.By the way, since the
즉, 금속편(8)이 존재하지 않는 경우, 도 9의 (a)에 나타낸 주파수의 발진 신호(Φt)를 수신하므로, 무안정 멀티바이브레이터(20)에는, 전원 전압 파형의 주기가 짧은 전원 전압(VG)가 인가된다. 이 경우, 트랜지스터(Q1, Q2)의 베이스·이미터 사이의 전위가 비교적 단시간에 임계값을 초과하기 때문에, 무안정 멀티바이브레이터(20)는, 도 9의 (b)에 나타낸 비교적 짧은 주기(Tn)를 가지는 구형파 펄스 신호(MP)를 출력한다.That is, when the metal piece 8 is not present, since the oscillation signal phi t of the frequency shown in Fig. 9A is received, the
한편, 금속편(8)이 존재하는 경우, 도 9의 (e)에 나타낸 비교적 낮은 제2 주파수의 발진 신호(Φt)를 수신하므로, 무안정 멀티바이브레이터(20)에는, 전원 전압 파형의 주기가 긴 전원 전압(VG)이 인가된다. 이 경우, 트랜지스터(Q1, Q2)의 베이스·이미터 사이의 전위가 비교적 장시간을 걸쳐 임계값을 초과하므로, 무안정 멀티바이브레이터(20)는 도 9의 (f)에 나타낸 비교적 긴 주기(Tn)를 가지는 구형파 펄스 신호(MP)를 출력한다.On the other hand, when the metal piece 8 is present, since the oscillation signal phi t of the relatively low second frequency shown in Fig. 9E is received, the
이와 같이, 금속편(8)이 존재할 때는, 무안정 멀티바이브레이터(20)는 금속편(8)이 존재하지 않을 때에 비해, 주기(Tn)가 긴 구형파 펄스 신호(MP)를 트랜지스터(Q1)의 콜렉터 단자로부터 출력한다.As described above, when the metal piece 8 is present, the
무안정 멀티바이브레이터(20)는, 구형파 펄스 신호(MP)를 변조부(16c)에 공급한다.The
변조부(16c)는, 도 6에 나타낸 바와 같이, 트랜지스터(Q3)와 다이오드(D1)를 가지고 있다. 다이오드(D1)의 애노드 단자는 정류 회로(16a)의 정류용 다이오드(D0)의 애노드 단자와 양극 단자(PT)에 접속되어 있다. 다이오드(D1)의 캐소드 단자는 트랜지스터(Q3)의 콜렉터 단자에 접속되어 있다. 트랜지스터(Q3)의 베이스 단자는 무안정 멀티바이브레이터(20)의 트랜지스터(Q1)에 접속되고, 이미터 단자는 접지되어 있다. 트랜지스터(Q3)는 베이스 단자에 공급되는 무안정 멀티바이브레이터(20)로부터의 구형파 펄스 신호(MP)에 따라 온·오프된다.As shown in FIG. 6, the
트랜지스터(Q3)가 온될 때, 정류용 다이오드(D0)를 통하여 충방전 커패시터(C0)에 충전되는 충전 전류의 일부가 다이오드(D1)를 통하여 트랜지스터(Q3)(변조부(16c))에 흐른다. 반대로, 트랜지스터(Q3)가 오프될 때, 정류용 다이오드(D0)를 통하여 충방전 커패시터(C0)에 충전되는 충전 전류가 트랜지스터(Q3)(변조부(16c))에 흐르지 않고, 정류용 다이오드(D0)를 통하여 충방전 커패시터(C0)에 흐른다.When the transistor Q3 is turned on, a part of the charging current charged in the charge / discharge capacitor C0 through the rectifying diode D0 flows through the diode D1 to the transistor Q3 (
그 결과, 트랜지스터(Q3)의 온·오프에 의해, 발진 신호(Φt)에 따라 수전 측 제2 안테나 코일(7b)의 두 단자(PT, NT) 사이를 흐르는 2차 전류가 변화한다. 이 2차 전류의 변화에 의해, 수전 측 제2 안테나 코일(7b)이 생성하는 자속이 변화하고, 이 변화된 자속은 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 전자 유도로서 전파하고, 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 흐르는 1차 전류를 변화시킨다.As a result, the secondary current flowing between the two terminals PT and NT of the power receiving side
즉, 트랜지스터(Q3)의 온·오프에 의해(구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)에 의해), 수전 측 제2 안테나 코일(7b)의 두 단자(PT, NT) 사이를 흐르는 전류(발진 신호(Φt))는 진폭 변조된다. 그 피변조파 신호(Φm)는 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 송신된다.That is, the current flowing between the two terminals PT and NT of the power receiving side
도시한 예에서는, 수전 측 제2 안테나 코일(7b)이 수신하는 발진 신호(Φt)는 캐리어 신호를 구성한다. 기기(E) 내에서 이 캐리어 신호의 주파수에 따라 생성된 구형파 펄스 신호(MP)는 변조파의 일례이다. 변조부(16c)는 캐리어 신호(발진 신호(Φt))의 진폭을, 그 변조파(구형파 펄스 신호(MP))에 비례하여 변조함으로써, 도 9의 (c) 또는 (g)에 나타낸 피변조파 신호(Φm)를 생성한다.In the illustrated example, the oscillation signal? T received by the power receiving side
예를 들면, 변조부(16c)는, 도 9의 (b)에 나타낸 구형파 펄스 신호(MP)에 따라 캐리어 신호(발진 신호(Φt))의 진폭을 변조함으로써, 도 9의 (c)에 나타낸 피변조파 신호(Φm)를 생성한다. 한편, 변조부(16c)는, 도 9의 (f)에 나타낸 구형파 펄스 신호(MP)에 따라 캐리어 신호(발진 신호(Φt))의 진폭을 변조함으로써, 도 9의 (g)에 나타내는 피변조파 신호(Φm)를 생성한다.For example, the
이와 같이, 피변조파 신호(Φm)의 포락선 파형은, 구형파 펄스 신호(MP)(변조파)의 주기(Tn)에 대응하는 주기를 가진다.In this way, the envelope waveform of the modulated wave signal .phi.m has a period corresponding to the period Tn of the square wave pulse signal MP (modulation wave).
도 3에서, 급전 장치(1)는 전원 회로(31), 급전 회로(32), 금속 검출 회로(33), 및 시스템 제어부(34)를 가지고 있다. In FIG. 3, the
전원 회로(31)는 정류 회로 및 DC/DC 컨버터를 가진다.The
전원 회로(31)는 외부로부터 공급된 상용 전원을 정류 회로에 의해 정류하고, 정류한 직류 전압을 DC/DC 컨버터에 의해 원하는 전압으로 변환하여, 그 직류 전압을 구동 전원으로서 시스템 제어부(34), 급전 회로(32) 및 금속 검출 회로(33)에 공급한다.The
급전 회로(32)는, 도 8에 나타낸 바와 같이, 수신 회로(32a), 신호 추출 회로(32b) 및 여자 구동 회로(32c)를 가지고 있다.The
수신 회로(32a)는, 급전 측 제1 안테나 코일(6a)고 접속되어 있다. 수신 회로(32a)는, 탑재면(5)에 탑재된 기기(E)의 수전 측 제1 안테나 코일(6b)로부터 송신된 신호를 급전 측 제1 안테나 코일(6a)을 통하여 수신하고, 그 수신한 신호를 신호 추출 회로(32b)에 공급한다.The receiving
신호 추출 회로(32b)는 송신 신호로부터 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 추출한다. 신호 추출 회로(32b)는 송신 신호로부터 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)의 두 신호를 추출했을 때, 시스템 제어부(34)에 허가 신호(EN)를 공급한다. 또한, 신호 추출 회로(32b)는 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ) 중 어느 하나 밖에 추출하지 않았을 때, 또는 두 신호 모두 추출하지 않았을 때는, 시스템 제어부(34)에 허가 신호(EN)를 공급하지 않는다.The
여자 구동 회로(32c)는, 1차 코일(L1)과 접속되고, 본 실시예에서는 이 1차 코일(L1)로 하프 브리지 회로를 구성하고 있다. 따라서, 여자 구동 회로(32c)는 2개의 MOS 트랜지스터 등의 스위칭 트랜지스터를 가진다.The excitation drive circuit 32c is connected to the primary coil L1, and in this embodiment, this half coil circuit is comprised by this primary coil L1. Therefore, the excitation drive circuit 32c has switching transistors such as two MOS transistors.
상기 2개의 트랜지스터의 게이트 단자에는, 온·오프시키기 위한 펄스 신호로 이루어지는 여자 신호(PS1, PS2)가 각각 시스템 제어부(34)로부터 공급된다. 두 트랜지스터의 게이트 단자에 각각 입력되는 여자 신호(PS1, PS2)는 상보 신호이며, 한쪽의 트랜지스터가 한쪽의 여자 신호에 응답하여 온될 때, 다른 쪽의 트랜지스터는 다른 쪽의 여자 신호에 응답하여 오프된다.The excitation signals PS1 and PS2 each consisting of pulse signals for turning on and off are supplied from the
일례에서는, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되고, 신호 추출 회로(32b)가 시스템 제어부(34)에 허가 신호(EN)를 계속 공급하고 있는 동안, 시스템 제어부(34)는 여자 신호(PS1, PS2)를 계속 공급한다. 따라서, 이 경우, 여자 구동 회로(32c)는 1차 코일(L1)을 연속 여자 구동한다.In one example, while the device E is mounted on the mounting
또, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되어 있지 않을 때, 시스템 제어부(34)는 여자 신호(PS1, PS2)를 소정 기간만큼 간헐적으로 출력한다. 따라서, 이 경우, 여자 구동 회로(32c)는 일정한 기간마다 1차 코일(L1)을 간헐 여자 구동한다.In addition, when the device E is not mounted on the mounting
이 1차 코일(L1)의 간헐 여자 구동은, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재된 때에 이 기기(E)의 부하(Z)를 즉시 구동할 수 있는 2차 전력이 아니라, 부하(Z)의 충전기를 충전할 수 있는 정도의 2차 전력이 공급되도록 한 것이다. 그리고, 그 충전 전압에 따라 급전 장치(1) 사이에서 무선 통신을 행하기 위한 기기(E)의 데이터 생성 회로(15b) 및 송신 회로(15c)는 구동된다.The intermittent excitation drive of the primary coil L1 is not secondary power that can immediately drive the load Z of the device E when the device E is mounted on the mounting
또, 이 1차 코일(L1)의 간헐 여자 구동은, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재해도 그 금속편(8)을 유도 가열하여 고온이 되게 하는 것도 아니다.Moreover, even if the metal piece 8 exists in the mounting
또, 여자 구동 회로(32c)는, 신호 추출 회로(32b)가 허가 신호(EN)를 출력하고 있지 않을 때는, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되어 있지 않을 때와 마찬가지로, 1차 코일(L1)을 간헐 여자 구동한다.In addition, when the
또한, 여자 구동 회로(32c)는, 금속 검출 회로(33)로부터 금속 있음 신호(ST)가 시스템 제어부(34)에 공급되고 있을 때, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되어 있지 않을 때와 마찬가지로, 1차 코일(L1)은 간헐 여자 구동된다. 따라서, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재해도, 1차 코일(L1)은 간헐 여자 구동이므로, 그 금속편(8)을 고온으로 유도 가열하는 일은 없다.In addition, the excitation drive circuit 32c is not equipped with the device E on the mounting
금속 검출 회로(33)는, 도 8에 나타낸 바와 같이 발진 회로(33a), 검파 회로(33b), 주파수 검출 회로(33c) 및 판정 회로(33d)를 가지고 있다.The
발진 회로(33a)는, 본 실시예에서는 클랩(clapp) 발진 회로로 구성되어 있다. 발진 회로(33a)는, 상기 여자 구동 회로(32c)의 간헐 여자 구동과 동기하여 발진 동작한다. 그리고, 발진 회로(33a)는, 도 9 (a)에 나타낸 진폭값 및 주파수가 일정한 정현파로 이루어지는 발진 신호(Φt)를 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 탑재면(5)에 탑재한 기기(E)의 수전 측 제2 안테나 코일(7b)을 향해 송신한다.The
발진 회로(33a)로부터 발진되는 발진 신호(Φt)는 캐리어 신호로서 기능한다. 즉, 기기(E)는, 수신한 발진 신호(Φt)의 주파수에 따라 구형파 펄스 신호(MP)를 생성하고, 수신한 캐리어 신호(발진 신호(Φt))의 진폭을, 구형파 펄스 신호(MP)에 비례하여 진폭 변조한 피변조파 신호(Φm)를 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 송신시킨다.The oscillation signal .phi.t oscillated from the
그리고, 기기(E)에서 변조된 도 9의 (c) 또는 (g)에 나타내는 피변조파 신호(Φm)는, 급전 장치(1)의 제2 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 수신되고, 발진 회로(33a)를 통하여 검파 회로(33b)에 공급된다.And the modulated wave signal (phi) shown in FIG.9 (c) or (g) modulated by the apparatus E is received by the 2nd power supply side
검파 회로(33b)는, 예를 들면, 포락선 검파 회로이며, 발진 회로(33a)를 통하여 기기(E)로부터 수신한 피변조파 신호(Φm)를 검파한다. 검파 회로(33b)는, 피변조파 신호(Φm)로부터 이 피변조파 신호(Φm)의 외측을 둘러싼 포락선 파형 신호(복조 신호(DMP))를 생성한다, 즉 기기(E)에서 생성된 구형파 펄스 신호(MP)를 복조한다. 검파 회로(33b)는 복조 신호(DMP)를 주파수 검출 회로(33c)에 공급한다.The
주파수 검출 회로(33c)는 복조 신호(DMP)의 주파수를 검출한다. 주파수 검출 회로(33c)는, 본 실시예에서는, 구형파 펄스 신호(MP)의 상승과 하강을 검출하고, 그 상승과 하강의 시간을 카운트하여 구형파 펄스 신호(MP)의 주기를 계측한다. 예를 들면, 주파수 검출 회로(33c)는 미분 회로, 정류 회로 및 타이머를 구비하고 있다.The
미분 회로는 구형파 펄스 신호(MP)의 상승과 하강을 검출한다. 정류 회로는 미분 회로에 의해 미분된 미분 신호 중 음전위로 하강한 미분 신호를 양전위의 미분 신호로 하고, 타이머는 정류 회로로부터 출력된 미분 신호와 미분 신호 사이를 카운트한다.The differential circuit detects the rise and fall of the square wave pulse signal MP. The rectifier circuit makes a derivative signal having a negative potential among the differential signals differentiated by the differential circuit as a differential signal of positive potential, and a timer counts between the differential signal and the differential signal output from the rectifier circuit.
주파수 검출 회로(33c)는 타이머로 카운트 한 시간을 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)로서 판정 회로(33d)에 공급한다.The
판정 회로(33d)는, 주파수 검출 회로(33c)로부터 공급된 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)에 따라 금속편(8)이 존재하는지 여부를 판정한다. 예를 들면, 판정 회로(33d)는 이 판정 회로(33d)에 내장된 메모리에 미리 기억된 기준 주기(Tk)와 주파수 검출 회로(33c)로부터 공급된 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)를 비교함으로써 금속편이 존재하는지 여부를 판정한다.The
일례에서는, 기준 주기(Tk)는, 급전 장치(1)의 탑재면(5)과 기기(E) 사이에 금속편(8)이 존재하지 않는 상태에서 기기(E)로부터의 피변조파 신호(Φm)를 급전 장치(1)가 수신했을 때, 주파수 검출 회로(33c)가 카운트 한 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)이다.In one example, the reference period Tk is a modulated wave signal Φ m from the device E in a state in which there is no metal piece 8 between the mounting
따라서, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는 상태에서는, 기기(E)가 수신한 발진 신호(Φt)의 주파수는 낮아지고, 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)는 길어진다. 그 결과, 판정 회로(33d)는, 주파수 검출 회로(33c)로부터의 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)가 기준 주기(Tk)를 초과했을 때, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재한다고 판정한다. 판정 회로(33d)는, 주파수 검출 회로(33c)로부터의 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)가 기준 주기(Tk) 이하일 때는, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는다고 판정한다.Therefore, in the state where the metal piece 8 exists in the mounting
판정 회로(33d)는 판정 결과를 시스템 제어부(34)에 통지한다. 예를 들면, 판정 회로(33d)는, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재한다고 판정한 때, 금속 있음 신호(ST)를 시스템 제어부(34)에 공급한다. 판정 회로(33d)는, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는다고 판정한 때, 금속 있음 신호(ST)를 시스템 제어부(34)에 공급하지 않는다.The
시스템 제어부(34)는, 신호 추출 회로(32b)로부터 수신한 허가 신호(EN)에 응답하여, 여자 구동 회로(32c)에 대하여 여자 신호(PS1, PS2)를 공급한다. 도시한 예에서는, 신호 추출 회로(32b)가 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)의 두 신호를 추출했을 때, 시스템 제어부(34)는, 여자 구동 회로(32c)에 여자 신호(PS1, PS2)를 공급하고, 1차 코일(L1)을 연속 여자 구동시킨다.The
시스템 제어부(34)는 간헐적으로 여자 신호(PS1, PS2)를 여자 구동 회로(32c)에 공급하는 경우가 있다. 예를 들면, 신호 추출 회로(32b)가 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ) 중 어느 하나만을 추출했을 때, 또는 두 신호 모두 추출하지 않았을 때에는, 시스템 제어부(34)는, 여자 구동 회로(32c)에 여자 신호(PS1, PS2)를 간헐적으로 공급하고, 1차 코일(L1)을 간헐 여자 구동시킨다.The
시스템 제어부(34)는, 판정 회로(33d)로부터 금속 있음 신호(ST)가 공급되어 있는 상태에서, 신호 추출 회로(32b)로부터의 허가 신호(EN)에 응답하여 여자 구동 회로(32c)에 여자 신호(PS1, PS2)를 간헐적으로 공급하고, 1차 코일(L1)을 간헐 여자 구동시킨다.The
또, 시스템 제어부(34)는, 간헐적으로 금속 검출 회로(33)의 발진 회로(33a)를 동작시켜, 간헐적으로 발진 신호(Φt)를 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 송신시킨다.Moreover, the
다음에, 급전 장치(1)의 작용에 대하여 설명한다.Next, the operation of the
도시하지 않은 전원 스위치가 온되어, 전원 회로(31)에 상용 전원이 공급되면, 전원 회로(31)는, 구동 전원으로서 직류 전압을 시스템 제어부(34), 급전 회로(32) 및 금속 검출 회로(33)에 공급한다.When a power supply switch (not shown) is turned on and commercial power is supplied to the
시스템 제어부(34)는, 전원 회로(31)로부터 구동 전원이 공급되었을 때, 여자 구동 회로(32c)에 여자 신호(PS1, PS2)를 간헐적으로 공급한다. 여자 구동 회로(32c)는 간헐적인 여자 신호(PS1, PS2)에 응답하여 1차 코일(L1)을 간헐 여자 구동시킨다. 급전 장치(1)는 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되기를 기다린다.The
또, 시스템 제어부(34)는 금속 검출 회로(33)의 발진 회로(33a)를 간헐적으로 발진 동작시킨다. 따라서, 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 간헐적인 발진 신호(Φt)가 송신된다.In addition, the
그리고, 탑재면(5)에 기기(E)가 탑재되면, 기기(E)의 2차 코일(L2)은 1차 코일(L1)의 간헐 여자 구동에 따른 2차 전력을 수전한다. 기기(E)에서는, 이 2차 전력에 따라, 수전 회로(15)의 데이터 생성 회로(15b)가 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 생성하고, 신호(ID, RQ)를 송신 회로(15c)에 공급한다. 송신 회로(15c)는 이 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 수전 측 제1 안테나 코일(6b)로부터 급전 장치(1)의 급전 측 제1 안테나 코일(6a)을 향해 송신한다.And when the apparatus E is mounted on the mounting
급전 장치(1)에서는, 신호 추출 회로(32b)가 급전 측 제1 안테나 코일(6a) 및 수신 회로(32a)를 통하여 수신한 신호로부터 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 추출한다. 신호 추출 회로(32b)는, 기기 인증 신호(ID) 및 여자 요구 신호(RQ)를 추출할 수 있었을 때, 시스템 제어부(34)에 허가 신호(EN)를 공급한다.In the
시스템 제어부(34)는, 허가 신호(EN)에 응답하여, 여자 구동 회로(32c)에 여자 신호(PS1, PS2)를 연속적으로 공급한다. 여자 구동 회로(32c)는 이 연속적인 여자 신호(PS1, PS2)에 응답하여 1차 코일(L1)을 연속 여자 구동한다. 이로써, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 탑재된 기기(E)는 1차 코일(L1)의 연속 여자 구동에 따른 2차 전력을 2차 코일(L2)을 통하여 수전한다.The
이로써, 기기(E)에서는, 수전 회로(15)(정류 평활 회로(15a))로부터 부하(Z)에 부하(Z)를 구동시키기 위한 전원이 공급되게 된다.Thereby, in the apparatus E, the power supply for driving the load Z from the power receiving circuit 15 (
한편, 기기(E)에 설치된 수전 측 제2 안테나 코일(7b)은 급전 측 제2 안테나 코일(7a)로부터 발진 신호(Φt)를 수신한다. 수전 측 제2 안테나 코일(7b)은 수신한 발진 신호(Φt)를 변조 회로(16)의 정류 회로(16a)에 공급하고, 정류 회로(16a)는 이 발진 신호(Φt)를 반파 정류한다.On the other hand, the power receiving side
반파 정류된 발진 신호(Φt)는 정류 회로(16a)에 설치된 충방전 커패시터(C0) 및 저항(R0)에 의해 충방전된다. 충방전 커패시터(C0)의 충전 전압(Vt)이 전원 전압(VG)으로서 변조파 신호 생성 회로(16b)(무안정 멀티바이브레이터(20))에 인가된다.The half-wave rectified oscillation signal .phi.t is charged and discharged by the charge / discharge capacitor C0 and the resistor R0 provided in the
여기서, 충방전 커패시터(C0)의 충방전 시간은 발진 신호(Φt)의 주파수에 의해, 즉 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는지 여부에 의해 변동한다.Here, the charge / discharge time of the charge / discharge capacitor C0 varies depending on the frequency of the oscillation signal? T, that is, whether or not the metal piece 8 is present on the mounting
발진 신호(Φt)의 주파수는 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우, 도 9의 (a)에 나타낸 바와 같이 비교적 높다. 반대로, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는 경우, 발진 신호(Φt)의 주파수는 도 9의 (e)에 나타낸 바와 같이 비교적 낮다. 따라서, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우에 비해 금속편(8)이 존재하는 쪽이, 충방전 커패시터(C0)의 충방전 시간은 길어진다.The frequency of the oscillation signal .phi.t is relatively high as shown in Fig. 9A when the metal piece 8 is not present on the mounting
그 결과, 변조파 신호 생성 회로(16b)(무안정 멀티바이브레이터(20))로부터 출력되는 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)는, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우, 도 9의 (b)에 나타낸 바와 같이 비교적 짧아진다. 이에 대하여, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는 경우, 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)는, 도 9의 (f)에 나타낸 바와 같이 비교적 길어진다. 이와 같이, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는지 여부에 따라, 존재하지 않는 경우에 비해 금속편(8)이 존재하는 쪽이 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)는 길어진다.As a result, the period Tn of the square wave pulse signal MP output from the modulated wave
이 구형파 펄스 신호(MP)는, 변조부(16c)의 트랜지스터(Q3)의 게이트 단자에 공급되고, 트랜지스터(Q3)를 온·오프시킨다.The square wave pulse signal MP is supplied to the gate terminal of the transistor Q3 of the modulator 16c to turn the transistor Q3 on and off.
이 트랜지스터(Q3)의 온·오프(구형파 펄스 신호(MP))에 의해, 수전 측 제2 안테나 코일(7b)에 흐르는 전류(발진 신호(Φt))는 진폭 변조되어 피변조파 신호(Φm)로서 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 송신된다.By the on / off (square wave pulse signal MP) of the transistor Q3, the current (oscillation signal? T) flowing through the power receiving side
탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우, 도 9의 (b)에 나타낸 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)에 맞추어, 도 9의 (c)에 나타낸 파형을 가지는 피변조파 신호(Φm)가 생성된다. 한편, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는 경우, 도 9의 (f)에 나타낸 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)에 맞추어, 도 9의 (g)에 나타낸 파형을 가지는 피변조파 신호(Φm)가 생성된다.In the case where the metal piece 8 is not present on the mounting
급전 측 제2 안테나 코일(7a)은 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 송신되는 피변조파 신호(Φm)를 수신한다. 급전 측 제2 안테나 코일(7a)가 수신한 피변조파 신호(Φm)는 발진 회로(33a)를 통하여 검파 회로(33b)에 공급된다.The power feeding side
검파 회로(33b)는 피변조파 신호(Φm)로부터 이 피변조파 신호(Φm)의 외측을 둘러싼 포락선 파형 신호(복조 신호(DMP))를 생성한다, 즉 구형파 펄스 신호(MP)를 복조한다. 검파 회로(33b)는 복조 신호(DMP)를 주파수 검출 회로(33c)에 공급한다.The
따라서, 검파 회로(33b)에 의해 생성된 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)는, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우, 도 9의 (d)에 나타낸 바와 같이 비교적 짧다. 한편, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하는 경우, 도 9의 (h)에 나타낸 바와 같이, 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)는 비교적 길어진다. 이와 같이, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우에 비해 금속편(8)이 존재하는 쪽이, 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)는 길어진다.Therefore, the period Tn of the demodulation signal DMP generated by the
검파 회로(33b)는 복조 신호(DMP)를 주파수 검출 회로(33c)에 공급한다.The
주파수 검출 회로(33c)는 복조 신호(DMP)의 상승과 하강을 검출하여 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)를 카운트한다. 이때, 카운트된 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)는, 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는 경우에 비해 금속편(8)이 존재하는 경우의 쪽이 길어진다. The
주파수 검출 회로(33c)는 카운트한 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)를 판정 회로(33d)에 공급한다. 판정 회로(33d)는 입력된 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)를 입력하고, 그 주기(Tn)와 기준 주기(Tk)를 비교한다.The
판정 회로(33d)는, 복조 신호(DMP)의 주기(Tn)가 기준 주기(Tk)를 초과할 때, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재한다고 판정하고, 금속 있음 신호(ST)를 시스템 제어부(34)에 공급한다.The
또, 판정 회로(33d)는, 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)가 기준 주기(Tk) 이하의 값일 때는, 급전 장치(1)의 탑재면(5)에 금속편(8)이 존재하지 않는다고 판정하고, 금속 있음 신호(ST)를 시스템 제어부(34)에 공급하지 않는다.Moreover, when the period Tn of the square wave pulse signal MP is a value below the reference period Tk, the
시스템 제어부(34)는, 금속 있음 신호(ST)를 수신하면, 여자 구동 회로(32c)에의 여자 신호(PS1, PS2)를 연속 출력으로부터 간헐 출력으로 전환한다. 이로써, 1차 코일(L1)은 간헐 여자되므로 금속 검출 회로(33)가 검출한 금속편(8)을 유도 가열시킬 일은 없다. 한편, 시스템 제어부(34)는, 금속 있음 신호(ST)를 수신하지 않으면, 여자 구동 회로(32c)에의 여자 신호(PS1, PS2)의 연속 출력을 계속한다. 이로써, 1차 코일(L1)은 연속 여자를 계속하므로, 기기(E)의 부하(Z)에는 구동 전원이 계속하여 공급된다.When the
정류 회로(16a)는 발진 신호 수신 회로의 일례이다. 변조부(16c) 및 무안정 멀티바이브레이터(20)는 피변조파 신호 생성 회로의 일례이다.The
제1 실시예에 의하면 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.According to the first embodiment, the following effects can be obtained.
(1) 상기 실시예에 의하면, 급전 장치(1)에 설치된 금속 검출 회로(33)의 발진 회로(33a)가 발진 신호(Φt)를 기기(E)의 변조 회로(16)에 송신한다. 기기(E)의 변조 회로(16)는 수신한 발진 신호(Φt)로부터 구형파 펄스 신호(MP)를 생성한다. 이때, 변조 회로(16)는 금속편(8)이 존재하는지 여부에 따라 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)를 변경하고, 그 구형파 펄스 신호(MP)를 변조하여 피변조파 신호(Φm)를 생성하고, 그 피변조파 신호(Φm)를 금속 검출 회로(33)에 송신한다.(1) According to the above embodiment, the
급전 장치(1)의 금속 검출 회로(33)는 피변조파 신호(Φm)로부터 생성한 복조 신호(DMP)의 주기, 즉 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)를 계측하여 금속편(8)이 존재하는지 여부를 판정한다.The
이와 같이, 금속편(8)을 돌출할 때, 급전 장치(1)는 급전을 위한 1차 코일(L1)의 여자 주파수를 바꾸지 않아도 된다. 따라서, 급전 장치(1)에, 1차 코일(L1)의 여자 주파수를 복수 설정할 것은 불필요하게 되므로, 여자 주파수를 전환하기 위한 복잡하고 고가인 제어 회로가 불필요하게 되어, 값싼 비접촉 급전 장치를 실현할 수 있다.In this way, when protruding the metal piece 8, the
또, 급전 장치(1)는, 기기(E)로부터의 피변조파 신호(Φm)를 수신하고, 복조하여 주기(Tn)를 구할 수 있으면 되므로, 고속의 신호 처리를 행하는 고가의 회로를 필요로 하지 않는다. 따라서, 염가의 비접촉 급전 장치를 실현할 수 있다.In addition, since the
(2) 상기 실시예에 의하면, 금속편(8)이 존재하는지 여부를 나타내는 정보, 즉 구형파 펄스 신호(MP)를 기기(E)가 생성한다. 따라서, 그만큼, 급전 장치(1) 측의 회로 구성 및 부하의 경감할 수 있고, 더욱 염가의 비접촉 급전 장치를 실현할 수 있다.(2) According to the above embodiment, the device E generates information indicating whether the metal piece 8 is present, that is, a square wave pulse signal MP. Therefore, the circuit structure and load of the
(3) 상기 실시예에 의하면, 피변조파 신호(Φm)를 생성할 때, 금속 검출 회로(33)의 발진 회로(33a)로부터의 발진 신호(Φt)를 캐리어 신호로서 이용하였으므로, 캐리어 신호를 생성하는 전용의 발진 회로를 생략할 수 있다.(3) According to the above embodiment, when generating the modulated wave signal .phi.m, since the oscillation signal .phi.t from the
(4) 상기 실시예에 의하면, 피변조파 신호(Φm)는 진폭 변조 신호이므로, 주파수 변조 등의 다른 변조에 비하여, 피변조파 신호(Φm)를 생성하기 위한 회로는 간단한 구성이고 또한 염가이다. 마찬가지의 이유로, 피변조파 신호(Φm)를 복조하는 검파 회로(33b)는 간단한 구성이고 또한 염가이다.(4) According to the above embodiment, since the modulated wave signal .phi.m is an amplitude modulated signal, the circuit for generating the modulated wave signal .phi.m is simple and inexpensive compared to other modulations such as frequency modulation. For the same reason, the
(5) 상기 실시예에 의하면, 정류 회로(16a)의 충방전 커패시터(C0)의 충전 전압(Vt)을 전원 전압(VG)으로 하는 변조파 신호 생성 회로(16b)의 무안정 멀티바이브레이터(20)에 공급하였다. 그리고, 금속편(8)의 존재에 의해 변동하는 전원 전압(VG)에 의해 무안정 멀티바이브레이터(20)의 발진 주기를 변경시켜, 금속편(8)이 존재하는지 여부에 따라 주기(Tn)가 변경되는 구형파 펄스 신호(MP)를 생성하였다.(5) According to the above embodiment, the
따라서, 무안정 멀티바이브레이터(20)라는 간단한 회로 구성으로 금속편(8)의 존재를 검출하기 위한 변조파(구형파 펄스 신호(MP))를 생성할 수 있다.Therefore, a modulated wave (square wave pulse signal MP) for detecting the presence of the metal piece 8 can be generated by a simple circuit configuration called the
실시예는, 다음과 같이 변경해도 된다.You may change an Example as follows.
상기 실시예에 의하면, 캐리어 신호로 급전 장치(1)의 발진 회로(33a)가 송신한 발진 신호(Φt)를 이용하였으나, 그 캐리어 신호를 기기(E) 측에서 생성하여 실시해도 된다. 이 경우, 예를 들면, 변조 회로(16)에 캐리어 신호용의 발진 회로를 설치하고, 이 발진 회로로 생성한 캐리어 신호를 구형파 펄스 신호(MP)(변조파)로 변조시켜 피변조파 신호를 생성하고, 급전 장치(1)에 송신해도 된다.According to the above embodiment, the oscillation signal? T transmitted by the
상기 실시예에 의하면, 피변조파 신호(Φm)를 수전 측 제2 안테나 코일(7b)로부터 급전 측 제2 안테나 코일(7a)에 송신하였다. 이것을, 변조 회로(16)에서 생성한 피변조파 신호(Φm)를, 급전 장치(1)의 1차 코일(L1)로부터 전자 유도 현상을 이용하여 기기(E)의 2차 코일(L2)에 급전되는 급전 전류에 따른 전자파 신호에 중첩하고, 그 중첩한 신호를 1차 코일(L1)을 통하여 수신하고, 금속 검출 회로(33)의 검파 회로(33b)에 의해 그 중첩된 신호로부터 상기 피변조파 신호(Φm)를 복조하도록 실시해도 된다.According to this embodiment, the modulated wave signal .phi.m is transmitted from the power receiving side
상기 실시예에 의하면, 주파수 검출 회로(33c)는, 구형파 펄스 신호(MP)의 상승과 하강을 검출하고, 이 상승과 하강의 시간을 카운트해 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)를 계측하는 회로이었다. 이것을, 매우 짧은 주기의 샘플링 신호로 구형파 펄스 신호(MP)를 샘플링하고, 구형파 펄스 신호(MP)의 고전위(하이 레벨)에서의 샘플링 수와 저전위(로우 레벨)에서의 샘플링 수로부터, 구형파 펄스 신호(MP)의 주기(Tn)를 구하도록 해도 된다.According to the above embodiment, the
본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 상기한 것에 한정되지 않으며, 첨부한 특허청범위 및 등가물로 변경되어도 된다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the drawings, the present invention is not limited to the above, but may be modified with the appended claims and equivalents.
Claims (13)
상기 비접촉 급전 장치가 상기 수전 장치에 발진 신호를 송신하고,
상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따른 변조파를 검출하고,
상기 변조파를 상기 비접촉 급전 장치에 송신하기 위하여, 캐리어 신호를 상기 변조파에 따라 변조함으로써 피변조파 신호를 생성하고, 이 피변조파 신호를 상기 수전 장치가 상기 비접촉 급전 장치에 송신하고,
상기 비접촉 급전 장치가 상기 수전 장치로부터 송신된 상기 피변조파 신호를 수신하고, 상기 피변조파 신호로부터 복조된 복조 신호에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는 것을 포함하는, 금속 이물질 검출 방법.A method for detecting whether a metal foreign material is present on a non-contact power feeding device that performs power feeding by using an electromagnetic induction phenomenon for a power receiving device included in an electric device,
The non-contact power feeding device transmits an oscillation signal to the power receiving device,
In the oscillation signal received by the power receiving device, a modulated wave according to a change in magnetic flux due to the presence of foreign metals is detected.
In order to transmit the modulated wave to the non-contact power feeding device, a modulated wave signal is generated by modulating a carrier signal according to the modulated wave, and the power receiving device transmits the modulated wave signal to the non-contact power feeding device,
And the non-contact power feeding device receives the modulated wave signal transmitted from the power receiving device, and determines whether metal foreign matter exists in accordance with the demodulated signal demodulated from the modulated wave signal.
상기 변조파는, 상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 구형파 펄스 신호이고,
상기 피변조파 신호는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이고,
상기 복조 신호는 상기 피변조파 신호를 포락선 검파함으로써 생성된 구형파 펄스 신호인, 금속 이물질 검출 방법.The method of claim 1,
The modulated wave is a square wave pulse signal having a period changed in response to a change in magnetic flux due to the presence of foreign metals in the oscillation signal received by the power receiving device,
The modulated wave signal is generated by amplitude modulating the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal,
And said demodulation signal is a square wave pulse signal generated by envelope detection of said modulated wave signal.
상기 캐리어 신호는 상기 비접촉 급전 장치로부터 상기 수전 장치에 송신되는 상기 발진 신호인, 금속 이물질 검출 방법.3. The method according to claim 1 or 2,
And the carrier signal is the oscillation signal transmitted from the non-contact power feeding device to the power receiving device.
상기 캐리어 신호는 상기 비접촉 급전 장치의 1차 코일로부터 전자 유도 현상을 이용하여 상기 수전 장치에 포함되는 2차 코일에 급전되는 급전 전류에 따른 전자파 신호이고,
상기 피변조파 신호는 상기 전자파 신호에 상기 변조파를 중첩한 신호인, 금속 이물질 검출 방법.The method of claim 1,
The carrier signal is an electromagnetic wave signal according to a feed current supplied from a primary coil of the non-contact power feeding device to a secondary coil included in the power receiving device by using an electromagnetic induction phenomenon.
And said modulated wave signal is a signal obtained by superposing said modulated wave on said electromagnetic wave signal.
상기 수전 장치에 발진 신호를 송신하는 발진 회로;
상기 발진 신호를 수신한 상기 수전 장치로부터, 상기 발진 신호를 자속 변화에 따른 변조파에 의해 변조한 피변조파 신호를 수신하고, 이 피변조파 신호를 검파하여, 상기 수전 장치가 검출한 변조파를 복조하는 검파 회로;
상기 검파 회로가 복조한 변조파의 주파수를 검출하는 주파수 검출 회로; 및
상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 복조한 변조파의 주파수에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는 판정 회로
를 포함하는 비접촉 급전 장치.A non-contact power feeding device for feeding power to a power receiving device included in an electric device by using an electromagnetic induction phenomenon,
An oscillation circuit for transmitting an oscillation signal to the power receiving device;
From the power receiving device that has received the oscillation signal, a modulated wave signal obtained by modulating the oscillation signal by a modulated wave according to a change in magnetic flux is received, detects the modulated wave signal, and demodulates the modulated wave detected by the power receiving device. Detection circuit;
A frequency detection circuit for detecting a frequency of a modulated wave demodulated by the detection circuit; And
A determination circuit for determining whether a metal foreign material exists according to the frequency of the demodulated modulated wave detected by the frequency detection circuit
And the non-contact power feeding device.
상기 변조파는, 상기 수전 장치에 의해 수신된 상기 발진 신호로에서, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 구형파 펄스 신호이고,
상기 피변조파 신호는 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이고,
상기 검파 회로는 상기 피변조파 신호를 포락선 검파함으로써 상기 구형파 펄스 신호를 복조하도록 구성되어 있고,
상기 주파수 검출 회로는, 상기 검파 회로가 복조한 상기 구형파 펄스 신호의 주기를 검출하도록 구성되어 있고,
상기 판정 회로는, 상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 구형파 펄스 신호의 주기에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는, 비접촉 급전 장치.6. The method of claim 5,
The modulated wave is a square wave pulse signal having a period changed in accordance with a change in magnetic flux due to the presence of foreign metal in the oscillation signal path received by the power receiving device,
The modulated wave signal is generated by amplitude modulation of a carrier signal in proportion to the square wave pulse signal,
The detection circuit is configured to demodulate the square wave pulse signal by envelope detecting the modulated wave signal,
The frequency detection circuit is configured to detect a period of the square wave pulse signal demodulated by the detection circuit,
And the determination circuit determines whether or not metal foreign matter exists in accordance with a period of the square wave pulse signal detected by the frequency detection circuit.
상기 캐리어 신호는, 상기 발진 회로가 상기 수전 장치에 송신하는 상기 발진 신호인, 비접촉 급전 장치.The method according to claim 6,
And the carrier signal is the oscillation signal transmitted by the oscillation circuit to the power receiving device.
상기 비접촉 급전 장치로부터 송신되는, 금속 이물질이 존재하는지 여부를 검출하기 위한 발진 신호를 수신하는 발진 신호 수신 회로;
상기 발진 신호 수신 회로가 수신한 상기 발진 신호로부터, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따른 변조파를 생성하는 변조파 신호 생성 회로; 및
상기 변조파를 비접촉 급전 장치에 송신하기 위하여, 캐리어 신호를 상기 변조파에 따라 변조하여 피변조파 신호를 생성하는 피변조파 신호 생성 회로
를 포함하는 수전 장치.A power receiving device installed in an electric device and receiving power from a non-contact power supply device using an electromagnetic induction phenomenon,
An oscillation signal receiving circuit that receives an oscillation signal for detecting whether a metallic foreign substance exists, which is transmitted from the non-contact power supply device;
A modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave according to a change in magnetic flux due to the presence of foreign metals from the oscillation signal received by the oscillation signal receiving circuit; And
A modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave signal by modulating a carrier signal according to the modulated wave to transmit the modulated wave to a non-contact power supply device
Power receiving device comprising a.
상기 변조파는 구형파 펄스 신호이고,
상기 변조파 신호 생성 회로는, 수신한 상기 발진 신호로부터, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 상기 구형파 펄스 신호를 생성하도록 구성되어 있고,
상기 피변조파 신호는, 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이고,
상기 피변조파 신호 생성 회로는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 상기 피변조파 신호를 생성하도록 구성되어 있는, 수전 장치.9. The method of claim 8,
The modulated wave is a square wave pulse signal,
The modulated wave signal generation circuit is configured to generate the square wave pulse signal having a period changed from the received oscillation signal according to a change in magnetic flux due to the presence of a foreign metal material.
The modulated wave signal is generated by amplitude modulating the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal.
And the modulated wave signal generation circuit is configured to generate the modulated wave signal by amplitude modulating the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal.
상기 캐리어 신호는 상기 비접촉 급전 장치로부터 상기 발진 신호 수신 회로에 송신되는 상기 발진 신호인, 수전 장치.10. The method of claim 9,
And the carrier signal is the oscillation signal transmitted from the non-contact power supply device to the oscillation signal receiving circuit.
상기 비접촉 급전 장치는,
금속 이물질이 존재하는지 여부를 검출하기 위한 일정 주파수의 발진 신호를 상기 수전 장치에 송신하는 발진 회로;
상기 발진 신호를 수신한 상기 수전 장치로부터, 상기 발진 신호를 자속 변화에 따른 변조파에 의해 변조한 피변조파 신호를 수신하고, 이 피변조파 신호를 검파하여, 상기 수전 장치가 검출한 변조파를 복조하는 검파 회로;
상기 검파 회로가 복조한 상기 변조파의 주파수를 검출하는 주파수 검출 회로; 및
상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 변조파의 주파수에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는 판정 회로
를 포함하고,
상기 수전 장치는,
상기 비접촉 급전 장치로부터 송신되는 상기 발진 신호를 수신하는 발진 신호 수신 회로;
상기 발진 신호 수신 회로가 수신한 상기 발진 신호로부터, 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따른 변조파를 생성하는 변조파 신호 생성 회로; 및
상기 변조파를 비접촉 급전 장치에 송신하기 위하여, 캐리어 신호를 상기 변조파에 따라 변조하여 피변조파 신호를 생성하는 피변조파 신호 생성 회로
를 포함하는, 비접촉 급전 시스템.A non-contact power feeding system comprising a power receiving device included in an electrical device and a non-contact power feeding device that feeds power to the power receiving device using electromagnetic induction.
The non-contact power feeding device includes:
An oscillation circuit for transmitting an oscillation signal of a predetermined frequency to the power receiving device for detecting whether a metal foreign matter is present;
From the power receiving device that has received the oscillation signal, a modulated wave signal obtained by modulating the oscillation signal by a modulated wave according to a change in magnetic flux is received, detects the modulated wave signal, and demodulates the modulated wave detected by the power receiving device. Detection circuit;
A frequency detection circuit for detecting a frequency of the modulated wave demodulated by the detection circuit; And
A determination circuit that determines whether or not a metal foreign matter exists according to the frequency of the modulated wave detected by the frequency detection circuit.
Lt; / RTI >
The power receiving device,
An oscillation signal receiving circuit that receives the oscillation signal transmitted from the non-contact power supply device;
A modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave according to a change in magnetic flux due to the presence of foreign metals from the oscillation signal received by the oscillation signal receiving circuit; And
A modulated wave signal generation circuit for generating a modulated wave signal by modulating a carrier signal according to the modulated wave to transmit the modulated wave to a non-contact power supply device
And a contactless power supply system.
상기 변조파는 구형파 펄스 신호이고,
상기 수전 장치의 상기 변조파 신호 생성 회로는, 수신한 상기 발진 신호의 금속 이물질의 존재에 기인하는 자속 변화에 따라 변경된 주기를 가지는 상기 구형파 펄스 신호를 생성하도록 구성되어 있고,
상기 피변조파 신호는 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 생성한 것이고,
상기 수전 장치의 상기 피변조파 신호 생성 회로는, 상기 캐리어 신호의 진폭을 상기 구형파 펄스 신호에 비례하여 진폭 변조하여 상기 피변조파 신호를 생성하도록 구성되어 있고,
상기 비접촉 급전 장치의 상기 검파 회로는, 상기 피변조파 신호를 포락선 검파함으로써 상기 구형파 펄스 신호를 복조하도록 구성되어 있고,
상기 비접촉 급전 장치의 상기 주파수 검출 회로는, 상기 검파 회로가 복조한 상기 구형파 펄스 신호의 주기를 검출하도록 구성되어 있고,
상기 비접촉 급전 장치의 상기 판정 회로는, 상기 주파수 검출 회로가 검출한 상기 구형파 펄스 신호의 주기에 따라 금속 이물질이 존재하는지 여부를 판정하는, 비접촉 급전 시스템.12. The method of claim 11,
The modulated wave is a square wave pulse signal,
The modulated wave signal generating circuit of the power receiving device is configured to generate the square wave pulse signal having a period changed in accordance with a change in magnetic flux due to the presence of metal foreign matter in the received oscillation signal,
The modulated wave signal is generated by amplitude modulating the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal,
The modulated wave signal generating circuit of the power receiving device is configured to amplitude modulate the amplitude of the carrier signal in proportion to the square wave pulse signal to generate the modulated wave signal,
The detection circuit of the non-contact power supply device is configured to demodulate the square wave pulse signal by envelope detection of the modulated wave signal.
The frequency detection circuit of the non-contact power supply device is configured to detect a period of the square wave pulse signal demodulated by the detection circuit,
And the determination circuit of the non-contact power supply device determines whether or not a metal foreign matter exists in accordance with a period of the square wave pulse signal detected by the frequency detection circuit.
상기 캐리어 신호는, 상기 비접촉 급전 장치의 상기 발진 회로로부터 상기 수전 장치의 상기 발진 신호 수신 회로에 송신하는 상기 발진 신호인, 비접촉 급전 시스템.13. The method according to claim 11 or 12,
And the carrier signal is the oscillation signal transmitted from the oscillation circuit of the non-contact power feeding device to the oscillation signal receiving circuit of the power receiving device.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101747064B1 (en) | 2014-02-25 | 2017-06-14 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR101816471B1 (en) | 2014-02-25 | 2018-01-08 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR101817455B1 (en) | 2014-02-25 | 2018-01-11 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR20190088690A (en) * | 2018-01-19 | 2019-07-29 | 엘지전자 주식회사 | Foreign Object Detector and wireless charging system |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100116556A (en) * | 2009-04-22 | 2010-11-01 | 파나소닉 전공 주식회사 | Non-contact power supply system |
WO2011122348A1 (en) | 2010-03-30 | 2011-10-06 | パナソニック電工 株式会社 | Wireless power supply system |
WO2012002063A1 (en) | 2010-06-30 | 2012-01-05 | パナソニック電工 株式会社 | Non-contact electric power feeding system and metal foreign-object detection apparatus for non-contact electric power feeding system |
KR20120012422A (en) * | 2010-07-30 | 2012-02-09 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | Wireless power feeding system and wireless power feeding method |
-
2012
- 2012-10-11 KR KR1020120112817A patent/KR101372970B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100116556A (en) * | 2009-04-22 | 2010-11-01 | 파나소닉 전공 주식회사 | Non-contact power supply system |
WO2011122348A1 (en) | 2010-03-30 | 2011-10-06 | パナソニック電工 株式会社 | Wireless power supply system |
WO2012002063A1 (en) | 2010-06-30 | 2012-01-05 | パナソニック電工 株式会社 | Non-contact electric power feeding system and metal foreign-object detection apparatus for non-contact electric power feeding system |
KR20120012422A (en) * | 2010-07-30 | 2012-02-09 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | Wireless power feeding system and wireless power feeding method |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101747064B1 (en) | 2014-02-25 | 2017-06-14 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR101816471B1 (en) | 2014-02-25 | 2018-01-08 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR101817455B1 (en) | 2014-02-25 | 2018-01-11 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | Wireless power supply system and power transmission device |
KR20190088690A (en) * | 2018-01-19 | 2019-07-29 | 엘지전자 주식회사 | Foreign Object Detector and wireless charging system |
KR102077567B1 (en) * | 2018-01-19 | 2020-02-14 | 엘지전자 주식회사 | Foreign Object Detector and wireless charging system |
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