[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR101102051B1 - Auto partial array self refresh device - Google Patents

Auto partial array self refresh device Download PDF

Info

Publication number
KR101102051B1
KR101102051B1 KR1020050000096A KR20050000096A KR101102051B1 KR 101102051 B1 KR101102051 B1 KR 101102051B1 KR 1020050000096 A KR1020050000096 A KR 1020050000096A KR 20050000096 A KR20050000096 A KR 20050000096A KR 101102051 B1 KR101102051 B1 KR 101102051B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
bank
signal
refresh
unit
emrs
Prior art date
Application number
KR1020050000096A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20060079646A (en
Inventor
홍윤석
안진홍
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020050000096A priority Critical patent/KR101102051B1/en
Publication of KR20060079646A publication Critical patent/KR20060079646A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101102051B1 publication Critical patent/KR101102051B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40615Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
    • G11C11/40618Refresh operations over multiple banks or interleaving
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4074Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 확장 모드 레지스터 셋트(Extended Mode Register Set;이하, EMRS)를 이용하여 셀프 리프레쉬를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 EMRS와 무관하게 선택된 뱅크 또는 블록을 자동으로 셀프 리프레쉬 하도록 하여 전류소모를 감소시키는 기술을 개시한다. 이를 위해, 본 발명은 뱅크활성화신호를 이용한 뱅크래치신호와 EMRS 셋팅을 이용한 EMRS 셀프리프레쉬신호를 선택적으로 출력하여, 뱅크를 선택하고 선택된 뱅크의 셀프 리프레쉬 동작을 제어하는 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부와, 상기 선택된 뱅크의 뱅크어드레스정보를 이용한 어드레스래치신호와 EMRS를 이용한 영역분할신호를 선택적으로 출력하여 상기 선택된 뱅크의 영역을 구분하여 선택된 영역을 셀프 리프레쉬 동작하도록 제어하는 뱅크영역분할부를 포함하여 구성함을 특징으로 한다.The present invention relates to an automatic partial array self refresh apparatus, and more particularly, to perform self refresh using an extended mode register set (hereinafter referred to as EMRS) as well as to select a bank or A technique for reducing current consumption by automatically self-refreshing a block is disclosed. To this end, the present invention provides a bank cell refresh signal generator for selectively outputting a bank latch signal using a bank activation signal and an EMRS cell refresh signal using an EMRS setting, selecting a bank and controlling a self refresh operation of the selected bank; And a bank area divider configured to selectively output an address latch signal using the bank address information of the selected bank and an area split signal using EMRS, to divide the area of the selected bank, and to control the selected area to be self-refreshed. It is characterized by.

Description

자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치{Auto partial array self refresh device}Auto partial array self refresh device

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치의 구성도.1 is a block diagram of an automatic partial array self refresh apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1의 액티브 어드레스 래치부의 세부 회로도.FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the active address latch unit of FIG. 1. FIG.

본 발명은 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 확장 모드 레지스터 셋트(Extended Mode Register Set;이하, EMRS)를 이용하여 셀프 리프레쉬를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 EMRS와 무관하게 선택된 뱅크 또는 블록을 자동으로 셀프 리프레쉬 하도록 하여 전류소모를 감소시키는 기술이다. The present invention relates to an automatic partial array self refresh apparatus, and more particularly, to perform self refresh using an extended mode register set (hereinafter referred to as EMRS) as well as to select a bank or This technology reduces current consumption by automatically self-refreshing the block.

일반적으로, 셀프 리프레쉬(self-refresh)란 디램(dynamic random access memory: DRAM) 등의 반도체 메모리 장치가 대기상태에서 메모리 셀내에 저장된 데이터를 유지하기 위해 자체적으로 내부에서 일정주기 즉 기본주기를 갖고 리프레쉬를 수행하는 것을 의미한다. In general, self-refresh means that a semiconductor memory device, such as a dynamic random access memory (DRAM), has a predetermined period or a basic period internally to maintain data stored in a memory cell in a standby state. Means to do.                         

이러한 셀프 리프레쉬는 의미 있는 데이터가 존재하는 부분의 메모리 셀 어레이만 셀프 리프레시를 수행하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬(Partial Array Self Refresh;이하, PASR) 동작과 외부의 온도 감지기의 출력신호를 입력으로 온도변화에 따라 셀프 리프레시 주기를 조절하는 온도보상 셀프 리프레쉬(Temperature Compensated Self Refresh;TCSR) 동작으로 구분된다.This self-refresh is a function of partial array self refresh (PASR) which performs only self-refresh of the memory cell array of the part where meaningful data exists and the output signal of the external temperature sensor to the temperature change. Therefore, it is divided into Temperature Compensated Self Refresh (TCSR) operation that adjusts the self refresh cycle.

특히, PASR 모드는 리프레쉬 모드시에 특정 뱅크만을 엑세스함으로써 칩 전체에 흐르는 전류 소모를 많이 줄일 수 있어, 전류소모에 민감한 핸드폰이나 개인휴대단말기 등의 이동 장치(mobile application)들에 사용되는 디램에 많이 적용되고 있다.In particular, the PASR mode can reduce the current consumption of the entire chip by accessing a specific bank only in the refresh mode, and is used in DRAMs used in mobile applications such as mobile phones or personal portable terminals, which are sensitive to current consumption. Is being applied.

이러한 PASR 모드를 구동하기 위해 종래에는 EMRS를 이용하여 구동할 뱅크를 미리 지정하여 사용하게 된다.In order to drive such a PASR mode, a bank to be driven is previously specified using EMRS.

아래 표 1은 종래 기술에 따른 저전력 128M DRAM의 EMRS의 사양을 나타낸 개념도이다.Table 1 below is a conceptual diagram showing the specifications of the EMRS of the low-power 128M DRAM according to the prior art.

Figure 112005000080849-pat00001
Figure 112005000080849-pat00001

PASR 기능을 사용하기 위해서는 셀프 리프레시 시작(entry) 전에 적어도 한번의 EMRS 명령어를 통해 리프레시를 수행할 메모리 영역을 선택해야 한다. 즉, EMRS 명령어 중에서 A<0:2>의 조합으로 메모리 영역을 선택해야 한다. In order to use the PASR function, the memory area to be refreshed must be selected through at least one EMRS instruction before starting the self refresh. That is, the memory area should be selected by the combination of A <0: 2> among the EMRS commands.                         

그러나, EMRS 셋팅을 통해 원하는 뱅크 및 그 뱅크의 영역을 선택하는 경우, PASR 모드 동작 시에 사용자가 미리 사용할 메모리 용량을 확인한 후 EMRS 셋팅을 해야하는 불편한 문제점이 있다.However, when the desired bank and its region are selected through the EMRS setting, it is inconvenient to check the memory capacity to be used in advance in the PASR mode operation and then set the EMRS.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 보다 상세하게는 확장 모드 레지스터 셋트(Extended Mode Register Set;EMRS)를 이용하여 셀프리프레쉬를 수행할 수 있을 뿐만 아니라, 뱅크어드레스정보를 이용하여 EMRS와 무관하게 사용자가 특정 뱅크 또는 블록을 선택하여 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬시를 수행하도록 하는데 그 목적이 있다.The present invention was created to solve the above problems, and more specifically, it is possible to perform cell refresh using an extended mode register set (EMRS), as well as using bank address information. The objective is to allow the user to select a specific bank or block to perform automatic partial array self refresh regardless of EMRS.

또한, EMRS를 이용하여 셀프리프레쉬를 수행할 뱅크내 영역을 분할하여 선택할 수 있을 뿐만 아니라, EMRS와 무관하게 사용자가 뱅크 어드레스정보를 이용하여 선택된 뱅크를 분할하여 뱅크내에서 리프레쉬를 수행해야할 영역만 구동함으로써 전류소모를 감소시키는데 그 목적이 있다.In addition, not only the area within the bank to perform cell refresh can be selected by using the EMRS, but also the area to be refreshed in the bank is driven by dividing the selected bank using the bank address information irrespective of the EMRS. The purpose is to reduce current consumption.

상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치는, 뱅크활성화신호를 이용한 뱅크래치신호와 EMRS 셋팅을 이용한 EMRS 셀프리프레쉬신호를 선택적으로 출력하여, 뱅크를 선택하고 선택된 뱅크의 셀프 리프레쉬 동작을 제어하는 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부와, 상기 선택된 뱅크의 뱅크어드레스정보를 이용한 어드레스래치신호와 EMRS를 이용한 영역분할신호를 선택적으로 출력하여 상기 선택된 뱅크의 영역을 구분하여 선택된 영역을 셀프 리프레쉬 동작하도록 제어 하는 뱅크영역분할부를 포함하여 구성함을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the partial array self refresh apparatus of the present invention selectively outputs a bank latch signal using a bank activation signal and an EMRS cell refresh signal using an EMRS setting to select a bank and perform a self refresh operation of the selected bank. Selectively outputs a bank cell refresh signal generation unit to control, an address latch signal using bank address information of the selected bank, and an area division signal using EMRS, to divide the selected bank area and to perform a self-refresh operation of the selected area. And a bank area divider.

상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해질 것이다.The above and other objects and features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치의 구성도이다.1 is a block diagram of an automatic partial array self refresh apparatus according to an embodiment of the present invention.

부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치는 뱅크 셀프리프레쉬신호 발생부(100) 및 뱅크영역분할부(200)를 구비한다.The partial array self refresh apparatus includes a bank cell refresh signal generator 100 and a bank region divider 200.

뱅크 셀프리프레쉬신호 발생부(100)는 복수개의 액티브 어드레스 래치부(101), 노아게이트 NOR0~NOR3, 및 인버터 IV0~IV3를 구비한다.The bank cell refresh signal generation unit 100 includes a plurality of active address latch units 101, NOR gates NOR0 to NOR3, and inverters IV0 to IV3.

복수개의 액티브 어드레스 래치부(101)는 뱅크활성화신호 BA0~BA3를 각각 수신하여 뱅크래치신호 BA0_LAT~BA3_LAT를 출력한다. 여기서, 뱅크활성화신호 BA0~BA3는 활성화시킬 뱅크의 어드레스정보신호이고, 뱅크래치신호 BA0_LAT~BA3_LAT는 뱅크 활성화신호 BA0~BA3에 따라 선택된 뱅크의 셀프리프레쉬를 제어하는 신호이다.The plurality of active address latch units 101 receive bank activation signals BA0 to BA3, respectively, and output bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT. Here, the bank activation signals BA0 to BA3 are address information signals of the banks to be activated, and the bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT are signals for controlling the cell refresh of the bank selected according to the bank activation signals BA0 to BA3.

노아게이트 NOR0~NOR3는 뱅크래치신호 BA0_LAT~BA3_LAT와 EMRS셀프리프레쉬신호 BA0_SR~BA3_SR를 노아연산하여 출력한다. 여기서, EMRS셀프리프레쉬신호 BA0_SR~BA3_SR는 확장 모드 레지스터 셋트(Extended Mode Register Set;이하, EMRS)를 이용하여 뱅크를 선택하고 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어하는 신호이다.The NOR gates NOR0 to NOR3 perform a phantom operation on the bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT and the EMRS cell refresh signals BA0_SR to BA3_SR. Here, the EMRS cell refresh signals BA0_SR to BA3_SR are signals for controlling bank selection and cell refresh using an extended mode register set (hereinafter, referred to as EMRS).

인버터 IV0~IV3는 노아게이트 NOR0~NOR3의 출력신호를 각각 반전하여 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D~ BA3_SR_D를 출력한다. 여기서, 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D~ BA3_SR_D는 선택된 뱅크를 셀프리프레쉬하도록 제어하는 신호이다.The inverters IV0 to IV3 invert the output signals of the NOR gates NOR0 to NOR3, respectively, and output the bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D. Here, the bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D are signals for controlling to refresh the selected bank.

한편, 뱅크영역분할부(200)는 뱅크2배주기신호 발생부(300), 및 뱅크4배주기신호 발생부(400)를 구비한다.The bank area divider 200 includes a bank double cycle signal generator 300 and a bank quadruple signal generator 400.

뱅크2배주기신호 발생부(300)는 액티브 어드레스 래치부(301), 노아게이트 NOR4, NOR5, 및 인버터 IV4, IV5를 구비한다.The bank double cycle signal generation unit 300 includes an active address latch unit 301, a NOR gate NOR4 and NOR5, and inverters IV4 and IV5.

인버터 IV4는 뱅크상위 어드레스신호 BX12를 반전하고, 노아게이트 NOR4는 인버터 IV4의 출력신호 뱅크상위 어드레스신호 BX11를 노아연산하여 출력한다.The inverter IV4 inverts the bank upper address signal BX12, and the NOR gate NOR4 performs a nil operation on the output signal bank upper address signal BX11 of the inverter IV4.

액티브 어드레스 래치부(301)는 노아게이트 NOR4의 출력신호를 래치하여 어드레스 래치신호 BX12_LAT를 출력한다. 노아게이트 NOR5는 어드레스 래치신호 BX12_LAT와 2배주기신호 double_Period를 노아연산하고, 인버터 IV5는 노아게이트 NOR5의 출력신호를 반전하여 뱅크2배주기신호 double_Period_D를 출력한다. 이때, 2배주기신호 double_Period는 EMRS의 셋팅을 이용하여 뱅크영역을 하프(half)로 분할하고 선택된 영역의 셀프 리프레쉬를 제어하는 신호이다.The active address latch unit 301 latches the output signal of the NOR gate NOR4 to output the address latch signal BX12_LAT. The NOA gate NOR5 performs a NO operation on the address latch signal BX12_LAT and the double cycle signal double_Period, and the inverter IV5 inverts the output signal of the NOGATE NOR5 to output the bank double cycle signal double_Period_D. In this case, the double period signal double_Period is a signal for dividing the bank area into half using the setting of EMRS and controlling the self refresh of the selected area.

뱅크4배주기신호 발생부(400)는 액티브 어드레스 래치부(401), 노아게이트 NOR6, NOR7, 및 인버터 IV6를 구비한다.The bank four cycle signal generation unit 400 includes an active address latch unit 401, a noor gate NOR6, a NOR7, and an inverter IV6.

노아게이트 NOR6은 뱅크상위 어드레스신호 BX11, BX12를 노아연산하고, 액티브 어드레스 래치부(401)는 노아게이트 NOR6의 출력신호를 래치하여 어드레스 래치신호 BX11_LAT를 출력한다. 노아게이트 NOR7은 어드레스 래치신호 BX11_LAT와 4배주기신호 Quadruple_Period를 노아연산하고, 인버터 IV6는 노아게이트 NOR7의 출력신호를 반전하여 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 출력한다. 이때, 4배주기 신호 Quadruple_Period는 EMRS 셋팅을 이용하여 뱅크영역을 쿼터(quarter)로 분할하고 선택된 영역의 셀프 리프레쉬를 제어하는 신호이다.The NOR gate NOR6 performs a no operation on the bank upper address signals BX11 and BX12, and the active address latch unit 401 latches the output signal of the NOR gate NOR6 to output the address latch signal BX11_LAT. The NOR gate NOR7 performs a NO operation on the address latch signal BX11_LAT and the quadruple cycle signal Quadruple_Period, and the inverter IV6 inverts the output signal of the NOR gate NOR7 to output the bank quadruple signal Quadruple_Period_D. In this case, the quadruple_period quadruple_period is a signal for dividing the bank area into quarters using the EMRS setting and controlling the self refresh of the selected area.

이와같이, 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부(100)는 뱅크활성화신호를 이용한 뱅크래치신호 BA_LAT와 EMRS를 이용한 EMRS 셀프리프레쉬신호 BA_SR를 선택적으로 이용하여 뱅크를 선택하고 선택된 뱅크를 셀프리프레쉬 하도록 제어한다.As such, the bank cell refresh signal generator 100 selectively selects a bank by using the bank latch signal BA_LAT using the bank activation signal and the EMRS cell refresh signal BA_SR using the EMRS, and controls the cell bank to be refreshed.

즉, EMRS를 이용하여 뱅크를 선택하고 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어할 수 있을 뿐만 아니라 EMRS와 무관하게 뱅크활성화신호를 이용하여 직접 뱅크를 선택하고 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어할 수 있다.That is, it is possible to control not only to select a bank and to perform cell refresh using EMRS, but also to directly select a bank and perform cell refresh using a bank activation signal regardless of EMRS.

또한, 뱅크영역분할부(200)는 EMRS를 이용하여 뱅크영역을 분할하여 해당영역만 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어하는 2배주기신호 double_Period 및 4배주기신호 Quadruple_Period 이용하여 선택된 뱅크내의 원하는 영역만 셀프리프레쉬를 수행할 수 있을 뿐만 아니라, EMRS와 무관하게 뱅크어드레스정보를 이용하여 선택된 뱅크내의 원하는 영역만 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어한다.In addition, the bank area divider 200 divides a bank area using EMRS and performs cell refresh only for a corresponding area to perform a cell refresh. In addition to performing the cell refresh control, only the desired area in the selected bank is performed using the bank address information regardless of the EMRS.

도 2는 도 1의 액티브 어드레스 래치부(101)의 세부 회로도이다. FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the active address latch unit 101 of FIG. 1.

액티브 어드레스 래치부(101)는 뱅크활성화신호 인가부(410), 초기화부(420), 래치부(430), 및 논리조합부(440)를 구비한다.The active address latch unit 101 includes a bank activation signal applying unit 410, an initialization unit 420, a latch unit 430, and a logic combination unit 440.

뱅크활성화신호 인가부(410)는 펄스발생부(411), 인버터 IV7, 및 피모스 트랜지스터 PM를 구비한다.The bank activation signal applying unit 410 includes a pulse generator 411, an inverter IV7, and a PMOS transistor PM.

펄스발생부(411)는 뱅크활성화신호 BA를 수신하여 펄스신호를 발생하고, 인버터 IV7는 펄스발생부(411)의 출력신호를 반전하며, 피모스 트랜지스터 PM는 전원 전압단 VDD과 노드 N1의 사이에 연결되어 인버터 IV7의 출력에 의해 제어되어 전원전압레벨을 노드 N1에 인가한다.The pulse generator 411 receives the bank activation signal BA to generate a pulse signal, the inverter IV7 inverts the output signal of the pulse generator 411, and the PMOS transistor PM is connected between the power supply voltage terminal VDD and the node N1. Is controlled by the output of inverter IV7 to apply the supply voltage level to node N1.

초기화부(420)는 노드 N1와 접지전압단 VSS 사이에 엔모스 트랜지스터 NM1, NM2를 구비한다. 엔모스 트랜지스터 NM1는 파워업신호 PWRUP에 의해 제어되고 엔모스 트랜지스터 NM2는 파워다운모드신호 PD에 의해 제어되어 파워업모드 및 파워다운모드에 각각 노드 N1에 접지전압레벨을 인가하여 초기화시킨다.The initialization unit 420 includes NMOS transistors NM1 and NM2 between the node N1 and the ground voltage terminal VSS. The NMOS transistor NM1 is controlled by the power-up signal PWRUP and the NMOS transistor NM2 is controlled by the power-down mode signal PD to initialize the ground voltage level to the node N1 in the power-up mode and the power-down mode, respectively.

래치부(430)는 피드백구조의 인버터 IV8, IV9를 구비하여 노드 N1의 전위를 일정레벨로 유지시킨다.The latch unit 430 includes inverters IV8 and IV9 having a feedback structure to maintain the potential of the node N1 at a constant level.

논리조합부(440)는 인버터 IV10 및 노아게이트 NOR7를 구비한다.The logic combination unit 440 includes an inverter IV10 and a no-gate NOR7.

인버터 IV10는 셀프리프레쉬모드신호 SRF를 반전하고, 노아게이트 NOR7는 래치부(430)의 출력신호 및 인버터 IV10의 출력신호를 노아연산하여 뱅크래치신호 BA_LAT를 출력한다. 이때, 셀프리프레쉬모드신호 SRF는 내부회로를 셀프리프레쉬 모드로 진입하도록 제어하는 신호이다.The inverter IV10 inverts the cell refresh mode signal SRF, and the NOA gate NOR7 performs a NO operation on the output signal of the latch unit 430 and the output signal of the inverter IV10 to output the bank latch signal BA_LAT. In this case, the cell refresh mode signal SRF is a signal for controlling the internal circuit to enter the cell refresh mode.

한편, 뱅크2배주기신호 발생부(300)의 액티브 어드레스 래치부(301)와 뱅크4배주기신호 발생부(400)의 액티브 어드레스 래치부(401)의 세부구성은 도 2와 동일하다.Meanwhile, detailed configurations of the active address latch unit 301 of the bank double cycle signal generator 300 and the active address latch unit 401 of the bank quadruple signal generator 400 are the same as those of FIG. 2.

이하, 표 2 및 표 3를 참조하여 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치의 동작을 설명하기로 한다.  Hereinafter, the operation of the partial array self refresh apparatus will be described with reference to Tables 2 and 3.

뱅크 셀프리프레쉬신호 발생부(100)의 노아게이트 NOR0~NOR3는 뱅크래치신호 BA0_LAT ~ BA3_LAT가 하이레벨이면 셀프리프레쉬신호 BA0_SR ~ BA3_SR와 무관하게 하이레벨의 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D ~ BA3_SR_D를 출력하고 뱅크래치신호 BA0_LAT ~ BA3_LAT가 로우레벨이면 셀프리프레쉬신호 BA0_SR ~ BA3_SR에 따라 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D ~ BA3_SR_D를 출력한다.Noah gates NOR0 to NOR3 of the bank cell refresh signal generator 100 output high bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D when the bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT are high level, regardless of the cell refresh signals BA0_SR to BA3_SR. If the signals BA0_LAT to BA3_LAT are at the low level, the bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D are output in accordance with the cell refresh signals BA0_SR to BA3_SR.

즉, EMRS 셋팅을 이용하여 뱅크를 선택하고 셀프 리프레쉬를 수행하는 경우에는 뱅크래치신호 BA0_LAT ~ BA3_LAT를 로우레벨로 디스에이블시키고 셀프리프레쉬신호 BA0_SR ~ BA3_SR에 따라 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D ~ BA3_SR_D를 출력하고, EMRS 셋팅없이 뱅크를 선택하고 셀프 리프레쉬를 수행하는 경우에는 뱅크래치신호 BA0_LAT ~ BA3_LAT에 따라 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D ~ BA3_SR_D를 출력한다.In other words, when the bank is selected using the EMRS setting and the self refresh is performed, the bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT are disabled at a low level, and the bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D are output according to the cell refresh signals BA0_SR to BA3_SR. When the bank is selected and the self refresh is performed without the EMRS setting, the bank cell refresh signals BA0_SR_D to BA3_SR_D are output according to the bank latch signals BA0_LAT to BA3_LAT.

Figure 112005000080849-pat00002
Figure 112005000080849-pat00002

표 2는 셀프 리프레쉬 모드시에 뱅크 셀프리프레쉬신호 발생부(100)의 EMRS 셋팅에 의한 셀프리프레쉬신호 BA_SR를 사용하지 않고 뱅크활성화신호 BA를 이용하여 뱅크0을 선택하는 경우의 입출력 신호들의 동작 진리표이다.Table 2 is an operation truth table of the input / output signals when the bank 0 is selected using the bank activation signal BA without using the cell refresh signal BA_SR due to the EMRS setting of the bank cell refresh signal generator 100 in the self refresh mode. .

먼저, 뱅크0을 셀프 리프레쉬 시키기 위해, 뱅크활성화신호 BA0이 하이레벨로 인에이블시키고 나머지 뱅크활성화신호 BA1~BA3를 로우레벨로 디스에이블시킨다. 그에 따라, 액티브어드레스 래치부(101)는 뱅크래치신호 BA0_LAT가 하이레벨로 인에이블시키고 뱅크래치신호 BA1_LAT ~ BA3_LAT는 로우레벨로 디스에이블시켜, 결 국 뱅크셀프리프레쉬신호 BA0_SR_D만 하이레벨로 인에이블되고 나머지 뱅크셀프리프레쉬신호 BA1_SR_D~ BA3_SR_D는 로우레벨로 디스에이블되어 뱅크 0만 선택되어 셀프리프레쉬가 수행된다.First, to self-refresh bank 0, bank enable signal BA0 is enabled at high level and the remaining bank enable signals BA1 to BA3 are disabled at low level. Accordingly, the active address latch unit 101 enables the bank latch signal BA0_LAT to the high level and disables the bank latch signals BA1_LAT to BA3_LAT to the low level, so that only the bank cell refresh signal BA0_SR_D is enabled to the high level. The remaining bank cell refresh signals BA1_SR_D to BA3_SR_D are disabled at a low level so that only bank 0 is selected and cell refresh is performed.

한편, 표 2에서는 도시하고 있지 않으나, EMRS 셋팅에 의한 셀프리프레쉬를 수행하고자 하는 경우에는 뱅크래치신호 BA_LAT를 로우레벨로 디스에이블시키고 셀프리프레쉬신호 BA_SR을 이용하여 뱅크셀프리프레쉬신호 BA_SR_D를 출력한다.On the other hand, although not shown in Table 2, when cell refresh by EMRS setting is to be performed, the bank latch signal BA_LAT is disabled to a low level, and the bank cell refresh signal BA_SR_D is output using the cell refresh signal BA_SR.

이어서, 뱅크2배주기신호 발생부(300)와 뱅크4배주기신호발생부(400)는 EMRS 셋팅을 이용하거나 EMRS 셋팅없이 뱅크내의 영역을 하프(half) 또는 쿼터(quarter)로 구분하여 셀프 리프레쉬를 수행하도록 한다.Subsequently, the bank doubling signal generator 300 and the bank doubling signal generator 400 divide the area within the bank into half or quarter by using the EMRS setting or without the EMRS setting. To perform.

즉, EMRS 셋팅을 이용하여 뱅크 내의 리프레쉬할 영역을 선택하여 셀프 리프레쉬를 수행하는 경우에는 어드레스래치신호 BX12_LAT, BX11_LAT를 로우레벨로 디스에이블시키고 2배주기신호 double_Period 및 4배주기신호 Quadruple_Period에 따라 뱅크2배주기신호 double_Period_D 및 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 출력하고, EMRS 셋팅없이 뱅크 내의 리프레쉬할 영역을 선택하여 셀프 리프레쉬를 수행하는 경우에는 2배주기신호 double_Period 및 4배주기신호 Quadruple_Period와 무관하게 어드레스래치신호 BX12_LAT, BX11_LAT에 따라 뱅크2배주기신호 double_Period_D 및 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 출력한다. In other words, when the self-refresh is performed by selecting the area to be refreshed in the bank using the EMRS setting, the address latch signals BX12_LAT and BX11_LAT are disabled at a low level, and bank 2 according to the double cycle signals double_Period and quadruple cycle Quadruple_Period. When outputting double cycle signal double_Period_D and bank 4-fold signal Quadruple_Period_D, and performing self-refresh by selecting the area to be refreshed in the bank without setting EMRS, address latch signal is independent of double cycle signal double_Period and quadruple signal Quadruple_Period. The bank double cycle signal double_Period_D and the bank quadruple signal Quadruple_Period_D are output according to BX12_LAT and BX11_LAT.                     

Figure 112005000080849-pat00003
Figure 112005000080849-pat00003

표 3은 뱅크2배주기신호 발생부(200)와 뱅크4배주기신호발생부(300)의 신호들의 동작진리표이다.Table 3 is an operation truth table of signals of the bank double cycle signal generator 200 and the bank quadruple signal generator 300.

먼저, 뱅크내의 영역을 하프로 구분하는 경우, 뱅크상위 어드레스신호 BX12는 로우레벨, BX11은 하이레벨이 되어 액티브 어드레스 래치부(301)는 하이레벨의 어드레스래치신호 BX12_LAT를 출력한다. 그에 따라, 뱅크2배주기신호 발생부(300)는 하이레벨의 뱅크2배주기신호 double_Period_D를 출력하는 반면에 뱅크4배주기신호 발생부(400)는 로우레벨의 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 출력한다.First, when the area within the bank is divided into halves, the bank upper address signal BX12 becomes low level and BX11 becomes high level, and the active address latch unit 301 outputs the address latch signal BX12_LAT of high level. Accordingly, the bank double cycle signal generator 300 outputs the high level bank double cycle signal double_Period_D, while the bank double cycle signal generator 400 outputs the low level bank quadruple signal Quadruple_Period_D. do.

이와같이, 뱅크2배주기신호 발생부(300)는 뱅크2배주기신호 double_Period_D를 통해 뱅크를 하프로 구분하고 하프영역의 상부 또는 하부의 영역을 셀프 리프레쉬하도록 한다.In this way, the bank double cycle signal generator 300 divides the bank into halves through the bank double cycle signal double_Period_D and self-refreshs an area above or below the half area.

한편, 뱅크내의 영역을 쿼터로 구분하는 경우, 뱅크상위 어드레스신호 BX11, BX12는 모두 로우레벨이 되어 액티브 어드레스 래치부(301)는 하이레벨의 어드레스래치신호 BX11_LAT를 출력한다. 그에 따라, 뱅크4배주기신호 발생부(400)는 하이레벨의 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 출력하는 반면에 뱅크2배주기신호 발생부(300)는 로우레벨의 뱅크2배주기신호 double_Period_D를 출력한다.On the other hand, when the area in the bank is divided into quarters, the bank upper address signals BX11 and BX12 are all at the low level, and the active address latch unit 301 outputs the high level address latch signal BX11_LAT. Accordingly, the bank quadruple signal generator 400 outputs a high level bank quadruple signal Quadruple_Period_D, while the bank quadruple signal generator 300 outputs a low level bank double cycle signal double_Period_D. do.

이와같이, 뱅크4배주기신호 발생부(400)는 뱅크4배주기신호 Quadruple_Period_D를 통해 뱅크를 쿼터로 구분하고 쿼터 영역 중 일부영역을 셀프 리프레쉬 하도록 한다.As such, the bank quadruple signal generation unit 400 divides the bank into quarters through the bank quadruple signal Quadruple_Period_D and performs self-refreshing of a portion of the quarter area.

이와같이, 본 발명은 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부(100)를 통해 셀프리프레쉬를 수행할 뱅크를 선택하고, 뱅크2배주기신호 발생부(300)와 뱅크4배주기신호발생부(400)를 통해 뱅크내의 영역을 하프 또는 쿼터로 구분하여 셀프리프레쉬를 수행하도록 한다.As described above, the present invention selects a bank to perform cell refresh through the bank cell refresh signal generator 100, and uses the bank double cycle signal generator 300 and the bank quadruple signal generator 400. Cell refresh is performed by dividing the region into half or quarter.

또한, 본 발명은 EMRS 셋팅에 의해 뱅크를 선택하여 셀프 리프레쉬를 수행할 수 있을 뿐만 아니라, 사용자가 뱅크활성화신호를 이용하여 EMRS 셋팅없이 뱅크를 선택하여 셀프 리프레쉬를 수행할 수 있도록 한다.In addition, the present invention may not only perform a self refresh by selecting a bank by the EMRS setting, but also enable a user to perform a self refresh by selecting a bank without the EMRS setting by using a bank activation signal.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명은 확장 모드 레지스터 셋트(Extended Mode Register Set;EMRS)를 이용하여 셀프리프레쉬를 수행할 수 있을뿐만 아니라, 뱅크 어드레스정보를 이용하여 EMRS와 무관하게 뱅크활성화신호를 이용하여 특정 뱅크 또는 블록을 선택하고 자동 부분 어레이 셀프 리프레쉬시를 수행하도록 하는 효과가 있다.As described above, the present invention can not only perform cell refresh using an extended mode register set (EMRS), but also use a bank activation signal regardless of EMRS using bank address information. This has the effect of selecting a specific bank or block and performing automatic partial array self refresh.

또한, EMRS를 이용하여 셀프리프레쉬를 수행할 뱅크내 영역을 분할하여 선택할 수 있을뿐만 아니라, EMRS와 무관하게 사용자가 뱅크어드레스정보를 이용하여 선택된 뱅크를 분할하고 뱅크내에서 리프레쉬를 수행해야할 영역만 구동함으로써 전류소모를 감소시키는 효과가 있다.In addition, an area within a bank to perform cell refresh can be divided and selected using EMRS. In addition, the user can divide a selected bank using bank address information and drive only an area to be refreshed in the bank regardless of EMRS. As a result, current consumption is reduced.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라 면 첨부된 특허 청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, the preferred embodiment of the present invention is for the purpose of illustration, various modifications, changes, substitutions and additions will be possible to those skilled in the art through the spirit and scope of the appended claims, such modifications and modifications are as follows It should be regarded as belonging to the claims.

Claims (14)

뱅크활성화신호를 이용한 뱅크래치신호와 EMRS 셋팅을 이용한 EMRS 셀프리프레쉬신호를 선택적으로 출력하여, 상기 뱅크래치신호가 활성화된 경우, 상기 활성화된 뱅크래치신호에 기초하여 상기 EMRS 셀프리프레쉬신호와 관계없이 선택된 뱅크, 상기 뱅크래치신호가 비활성화된 경우, 상기 EMRS 셀프리프레쉬신호에 기초하여 선택된 뱅크의 셀프 리프레쉬 동작을 제어하는 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부; 및A bank latch signal using a bank activation signal and an EMRS cell refresh signal using EMRS settings are selectively output, and when the bank latch signal is activated, the bank latch signal is selected regardless of the EMRS cell refresh signal based on the activated bank latch signal. A bank cell refresh signal generator configured to control a self refresh operation of a selected bank based on the EMRS cell refresh signal when a bank and the bank latch signal are deactivated; And 상기 선택된 뱅크의 뱅크어드레스정보를 이용한 어드레스래치신호와 EMRS를 이용한 영역분할신호를 선택적으로 출력하여 상기 선택된 뱅크의 영역을 구분하여 선택된 영역을 셀프 리프레쉬 동작하도록 제어하는 뱅크영역분할부;A bank area divider configured to selectively output an address latch signal using the bank address information of the selected bank and an area split signal using EMRS, to divide the area of the selected bank and to perform a self refresh operation of the selected area; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 2 has been abandoned due to the setting registration fee. 제 1항에 있어서, 상기 뱅크셀프리프레쉬신호 발생부는, The method of claim 1, wherein the bank cell refresh signal generation unit, 상기 뱅크활성화신호 및 셀프리프레쉬모드신호를 이용하여 상기 뱅크를 선택하고 선택된 뱅크의 셀프리프레쉬를 제어하는 상기 뱅크래치신호를 출력하는 액티브 어드레스 래치부; 및An active address latch unit for selecting the bank using the bank activation signal and the cell refresh mode signal and outputting the bank latch signal for controlling the cell refresh of the selected bank; And 상기 뱅크래치신호와 상기 EMRS 셀프리프레쉬신호를 선택적으로 출력하는 논리연산부A logic operation unit selectively outputting the bank latch signal and the EMRS cell refresh signal 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 3 was abandoned when the setup registration fee was paid. 제 2항에 있어서, 상기 논리연산부는,The method of claim 2, wherein the logic operation unit, 노아게이트를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.A partial array self refresh device comprising a noah gate. 청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 4 was abandoned when the registration fee was paid. 제 2항에 있어서, 상기 액티브 어드레스 래치부는, The method of claim 2, wherein the active address latch unit, 상기 뱅크활성화신호에 따라 전원전압 레벨을 출력노드에 인가하는 뱅크활성화신호 인가부;A bank activation signal applying unit applying a power supply voltage level to an output node according to the bank activation signal; 초기화시에 접지전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 초기화부;An initialization unit for applying a ground voltage level to the output node during initialization; 상기 출력노드의 전위를 일정레벨로 유지하는 래치부; 및 A latch unit for maintaining the potential of the output node at a constant level; And 상기 래치부의 출력신호 및 상기 셀프리프레쉬모드신호를 논리조합하여 출력하는 논리조합부A logic combination unit for logically combining the output signal of the latch unit and the cell refresh mode signal; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 5 was abandoned upon payment of a set-up fee. 제 4항에 있어서, 상기 뱅크활성화신호 인가부는, The method of claim 4, wherein the bank activation signal applying unit, 상기 뱅크활성화신호를 이용하여 소정 펄스를 갖는 신호를 출력하는 펄스발생부; 및A pulse generator for outputting a signal having a predetermined pulse using the bank activation signal; And 상기 펄스발생부의 출력신호에 의해 제어되어 상기 전원전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 스위칭소자;A switching element controlled by an output signal of the pulse generator to apply the power supply voltage level to the output node; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 6 was abandoned when the registration fee was paid. 제 5항에 있어서, 상기 스위칭소자는 피모스 트랜지스터임을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.6. The partial array self refresh apparatus according to claim 5, wherein the switching element is a PMOS transistor. 청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 7 was abandoned upon payment of a set-up fee. 제 4항에 있어서, 상기 초기화부는, The method of claim 4, wherein the initialization unit, 파워업신호에 의해 제어되어 상기 접지전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 제 1 스위칭소자; 및A first switching element controlled by a power-up signal to apply the ground voltage level to the output node; And 파워다운신호에 의해 제어되어 상기 접지전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 제 2 스위칭소자A second switching element controlled by a power down signal to apply the ground voltage level to the output node 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 8은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 8 was abandoned when the registration fee was paid. 제 7항에 있어서, 상기 제 1 및 상기 제 2 스위칭소자는 엔모스 트랜지스터임을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치. 8. The partial array self refresh device of claim 7, wherein the first and second switching elements are NMOS transistors. 청구항 9은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 9 was abandoned upon payment of a set-up fee. 제 4항에 있어서, 상기 논리조합부는, The method of claim 4, wherein the logical combination portion, 노아게이트임을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self refresh device, characterized in that it is a noah gate. 청구항 10은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 10 was abandoned upon payment of a setup registration fee. 제 1항에 있어서, 상기 뱅크영역분할부는,The method of claim 1, wherein the bank area division unit, 상기 어드레스래치신호와 상기 영역분할신호 중 2배주기신호를 선택적으로 출력하여 상기 뱅크를 하프영역으로 분할하고 상기 하프영역 중 셀프리프레쉬를 수행할 영역을 선택하여 상기 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어하는 뱅크2배주기신호 발생부; 및Bank 2 which selectively divides the bank into half regions by selectively outputting a double period signal among the address latch signal and the region division signal, and selects a region to perform cell refresh among the half regions to perform the cell refresh. A cycle signal generator; And 상기 어드레스래치신호와 상기 영역분할신호 중 4배주기신호를 선택적으로 출력하여 상기 뱅크를 쿼터영역으로 분할하고 상기 쿼터영역 중 상기 셀프리프레쉬를 수행할 영역을 선택하여 상기 셀프리프레쉬를 수행하도록 제어하는 뱅크4배주기신호 발생부; A bank for dividing the bank into a quarter region by selectively outputting a quadruple period signal among the address latch signal and the region division signal, and selecting a region to perform the cell refresh from the quarter region to perform the cell refresh. A quadruple cycle signal generator; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 11 was abandoned upon payment of a setup registration fee. 제 10항에 있어서, 상기 뱅크2배주기신호 발생부는,  The method of claim 10, wherein the bank double cycle signal generation unit, 상기 어드레스정보를 논리조합하는 제 1 논리연산부;A first logical operation unit for logically combining the address information; 상기 제 1 논리연산부의 출력신호 및 셀프리프레쉬모드신호를 이용하여 상기 뱅크내의 영역을 선택하고 선택된 뱅크영역의 셀프리프레쉬를 제어하는 상기 어드레스래치신호를 출력하는 액티브 어드레스 래치부; 및An active address latch unit for selecting an area within the bank and outputting the address latch signal for controlling the cell refresh of the selected bank area by using an output signal of the first logic operation unit and a cell refresh mode signal; And 상기 어드레스래치신호와 상기 2배주기신호를 선택적으로 출력하는 제 2 논리연산부A second logic operation unit selectively outputting the address latch signal and the double period signal; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 12 was abandoned upon payment of a registration fee. 제 11항에 있어서, 상기 액티브 어드레스 래치부는, The method of claim 11, wherein the active address latch unit, 상기 뱅크어드레스정보에 따라 전원전압 레벨을 출력노드에 인가하는 뱅크활성화신호 인가부;A bank activation signal applying unit for applying a power supply voltage level to an output node according to the bank address information; 초기화시에 접지전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 초기화부;An initialization unit for applying a ground voltage level to the output node during initialization; 상기 출력노드의 전위를 일정레벨로 유지하는 래치부; 및 A latch unit for maintaining the potential of the output node at a constant level; And 상기 래치부의 출력신호 및 상기 셀프리프레쉬모드신호를 논리조합하여 출력하는 논리조합부A logic combination unit for logically combining the output signal of the latch unit and the cell refresh mode signal; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 13 was abandoned upon payment of a registration fee. 제 10항에 있어서, 상기 뱅크4배주기신호 발생부는,  The method of claim 10, wherein the bank four cycle signal generation unit, 상기 뱅크 어드레스정보 및 셀프리프레쉬모드신호를 이용하여 상기 뱅크내의 영역을 선택하고 선택된 뱅크영역의 셀프리프레쉬를 제어하는 상기 어드레스래치신호를 출력하는 액티브 어드레스 래치부; 및An active address latch unit for selecting an area within the bank using the bank address information and a cell refresh mode signal and outputting the address latch signal for controlling cell refresh of the selected bank area; And 상기 어드레스래치신호와 상기 4배주기신호를 선택적으로 출력하는 논리연산부A logic operation unit selectively outputting the address latch signal and the quadruple cycle signal 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a. 청구항 14은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 14 was abandoned when the registration fee was paid. 제 13항에 있어서, 상기 액티브 어드레스 래치부는, The method of claim 13, wherein the active address latch unit, 상기 뱅크어드레스정보에 따라 전원전압 레벨을 출력노드에 인가하는 뱅크활성화신호 인가부;A bank activation signal applying unit for applying a power supply voltage level to an output node according to the bank address information; 초기화시에 접지전압레벨을 상기 출력노드에 인가하는 초기화부;An initialization unit for applying a ground voltage level to the output node during initialization; 상기 출력노드의 전위를 일정레벨로 유지하는 래치부; 및 A latch unit for maintaining the potential of the output node at a constant level; And 상기 래치부의 출력신호 및 상기 셀프리프레쉬모드신호를 논리조합하여 출력하는 논리조합부A logic combination unit for logically combining the output signal of the latch unit and the cell refresh mode signal; 를 포함함을 특징으로 하는 부분 어레이 셀프 리프레쉬 장치.Partial array self-refresh device comprising a.
KR1020050000096A 2005-01-03 2005-01-03 Auto partial array self refresh device KR101102051B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050000096A KR101102051B1 (en) 2005-01-03 2005-01-03 Auto partial array self refresh device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050000096A KR101102051B1 (en) 2005-01-03 2005-01-03 Auto partial array self refresh device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060079646A KR20060079646A (en) 2006-07-06
KR101102051B1 true KR101102051B1 (en) 2012-01-04

Family

ID=37171246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050000096A KR101102051B1 (en) 2005-01-03 2005-01-03 Auto partial array self refresh device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101102051B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9653139B1 (en) 2016-04-01 2017-05-16 SK Hynix Inc. Simultaneous plural wordline within a bank refreshing control device and memory device including the same

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7694253B2 (en) * 2006-05-24 2010-04-06 The Regents Of The University Of California Automatically generating an input sequence for a circuit design using mutant-based verification
KR100806341B1 (en) 2006-10-18 2008-03-03 삼성전자주식회사 Memory device performing partial refresh operation and method thereof
US7613060B2 (en) 2007-05-21 2009-11-03 Micron Technology, Inc. Methods, circuits, and systems to select memory regions

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020074723A (en) * 2001-03-21 2002-10-04 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for Refresh of Semiconductor Device and Method for the Same
KR20020085758A (en) * 2001-05-07 2002-11-16 삼성전자 주식회사 System and method for performing partial array self-refresh operation in a semiconductor memory device
KR20040040579A (en) * 2002-11-07 2004-05-13 주식회사 하이닉스반도체 Self refresh apparatus
KR20040072260A (en) * 2003-02-10 2004-08-18 주식회사 하이닉스반도체 Self refresh apparatus and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020074723A (en) * 2001-03-21 2002-10-04 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for Refresh of Semiconductor Device and Method for the Same
KR20020085758A (en) * 2001-05-07 2002-11-16 삼성전자 주식회사 System and method for performing partial array self-refresh operation in a semiconductor memory device
KR20040040579A (en) * 2002-11-07 2004-05-13 주식회사 하이닉스반도체 Self refresh apparatus
KR20040072260A (en) * 2003-02-10 2004-08-18 주식회사 하이닉스반도체 Self refresh apparatus and method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9653139B1 (en) 2016-04-01 2017-05-16 SK Hynix Inc. Simultaneous plural wordline within a bank refreshing control device and memory device including the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR20060079646A (en) 2006-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100234365B1 (en) Refresh method and circuit of semiconductor memory device
EP1130602B1 (en) Semiconductor memory device with reduced current consumption in data hold mode
US6618314B1 (en) Method and architecture for reducing the power consumption for memory devices in refresh operations
US6950364B2 (en) Self-refresh apparatus and method
JP3607407B2 (en) Semiconductor memory device
EP1906409B1 (en) Semiconductor memory and system
US7280422B2 (en) BLEQ driving circuit in semiconductor memory device
KR20060053426A (en) Method for refreshing a memory device
JPH11176156A (en) Semiconductor integrated-circuit device
US7317648B2 (en) Memory logic for controlling refresh operations
US7688659B2 (en) Semiconductor memory capable of testing a failure before programming a fuse circuit and method thereof
US6236605B1 (en) Semiconductor integrated circuit and semiconductor memory device including overdriving sense amplifier
US20040093461A1 (en) Self-refresh device and method
KR100652414B1 (en) Memory device reserving data during power down mode and method thereof
KR20070025754A (en) Device for generating peripheral voltage
KR101102051B1 (en) Auto partial array self refresh device
JP2022144926A (en) semiconductor memory device
US20040221099A1 (en) Semiconductor memory device
US7263021B2 (en) Refresh circuit for use in semiconductor memory device and operation method thereof
US20080080284A1 (en) Method and apparatus for refreshing memory cells of a memory
JP2008004249A (en) Semiconductor integrated circuit device
KR100792364B1 (en) Device for generating pumping voltage and semiconductor memory device with the same
KR20030026035A (en) Apparatus for supplying high voltage and method for supplying high voltage using the same
JP2004227624A (en) Partial refresh of semiconductor memory device
KR101020289B1 (en) Self refresh test circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee