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KR101067937B1 - 횡전계모드 액정표시소자 및 그 제조방법 - Google Patents

횡전계모드 액정표시소자 및 그 제조방법 Download PDF

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KR101067937B1
KR101067937B1 KR1020040038565A KR20040038565A KR101067937B1 KR 101067937 B1 KR101067937 B1 KR 101067937B1 KR 1020040038565 A KR1020040038565 A KR 1020040038565A KR 20040038565 A KR20040038565 A KR 20040038565A KR 101067937 B1 KR101067937 B1 KR 101067937B1
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남승희
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명의 횡전계모드 액정표시소자 제조방법은 제조방법을 단순화시키고 제조비용을 절감하기 위한 것으로, 횡전계모드 액정표시소자의 제조방법은 제1마스크를 이용하여 제1기판상에 게이트전극과 게이트라인, 횡전계를 형성하는 공통전극 및 화소전극, 패드를 형성하는 단계와, 제2마스크를 이용하여 상기 게이트전극 상부에 제1절연층 및 반도체층을 형성하고 공통전극의 일부 영역 위 및 그 측면에 제2절연층을 형성하는 단계와, 제3마스크를 이용하여 상기 반도체층 위에 소스전극 및 드레인전극을 형성하고 제2절연층 위에 데이터라인을 형성하는 단계와, 상기 기판상에 보호층을 적층하고 패드를 오픈하는 단계로 구성된다.
Figure R1020040038565
횡전계모드, 3마스크, 게이트절연층, 금속층, 투명도전층

Description

횡전계모드 액정표시소자 및 그 제조방법{IN PLANE SWITCHING MODE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF}
도 1(a)는 종래 횡전계모드 액정표시소자의 평면도.
도 1(b)는 도 1(a)의 I-I'선 단면도.
도 2(a)∼도 2(e)는 종래 IPS모드 액정표시소자의 제조방법을 나타내는 도면.
도 3(a)∼도 3(g)는 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 제조방법을 나타내는 도면.
도 4는 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 구조를 나타내는 평면도.
도 5는 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 다른 구조를 나타내는 평면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
103 : 게이트라인 104a : 데이터라인
105a : 공통전극 107a : 화소전극
110 : 박막트랜지스터 111a,111b : 게이트전극
112a : 반도체층 113 : 소스전극
114 : 드레인전극 120,130 : 기판
122a,122b : 게이트절연층
본 발명은 횡전계모드 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 공정이 단순화되고 제조비용을 절감할 수 있으며, 개구율이 향상된 횡전계모드 액정표시소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.
근래, 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 노트북컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 경박단소용의 평판표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재에는 액정표시소자(LCD)가 각광을 받고 있다.
이러한 액정표시소자는 액정분자의 배열에 따라 다양한 표시모드가 존재하지만, 현재에는 흑백표시가 용이하고 응답속도가 빠르며 구동전압이 낮다는 장점 때문에 주로 TN모드의 액정표시소자가 사용되고 있다. 이러한 TN모드 액정표시소자에서는 기판과 수평하게 배향된 액정분자가 전압이 인가될 때 기판과 거의 수직으로 배향된다. 따라서, 액정분자의 굴절율 이방성(refractive anisotropy)에 의해 전압의 인가시 시야각이 좁아진다는 문제가 있었다.
이러한 시야각문제를 해결하기 위해, 근래 광시야각특성(wide viewing angle characteristic)을 갖는 각종 모드의 액정표시소자가 제안되고 있지만, 그중에서도 횡전계모드(In Plane Switching Mode)의 액정표시소자가 실제 양산에 적용되어 생산되고 있다. 상기 IPS모드 액정표시소자는 화소내에 평행으로 배열된 적어도 한쌍의 전극을 형성하여 기판과 실질적으로 평행한 횡전계를 형성함으로써 액정분자를 평면상으로 배향시키는 것이다.
도 1은 종래 IPS모드 액정표시소자의 구조를 나타내는 도면으로, 도 1(a)는 평면도이고 도 1(b)는 도 1(a)의 I-I'선 단면도이다. 도 1(a)에 도시된 바와 같이, 액정패널(1)의 화소는 종횡으로 배치된 게이트라인(3) 및 데이터라인(4)에 의해 정의된다. 도면에는 비록 (n,m)번째의 화소만을 도시하고 있지만 실제의 액정패널(1)에는 상기한 게이트라인(3)과 데이터라인(4)이 각각 n개 및 m개 배치되어 액정패널(1) 전체에 걸쳐서 n×m개의 화소를 형성한다. 상기 화소내의 게이트라인(3)과 데이터라인(4)의 교차영역에는 박막트랜지스터(10)가 형성되어 있다.
상기 박막트랜지스터(10)는 게이트라인(3)으로부터 주사신호가 인가되는 게이트전극(11)과, 상기 게이트전극(11) 위에 형성되어 주사신호가 인가됨에 따라 활성화되어 채널층을 형성하는 반도체층(12)과, 상기 반도체층(12) 위에 형성되어 데이터라인(4)을 통해 화상신호가 인가되는 소스전극(13) 및 드레인전극(14)으로 구성되어 외부로부터 입력되는 화상신호를 액정층에 인가한다.
화소내에는 데이터라인(4)과 실질적으로 평행하게 배열된 복수의 공통전극(5)과 화소전극(7)이 배치되어 있다. 또한, 화소의 상부영역에는 상기 공통전극(5)과 접속되는 공통라인(16)이 배치되어 있으며, 상기 공통라인(16) 위에는 화소전극(7)과 접속되는 화소전극라인(18)이 배치되어 상기 공통라인(16)과 오버랩되어 있다. 상기 공통라인(16)과 화소전극라인(18)의 오버랩에 의해 횡전계모드 액정표시소자에는 축적용량(storage capacitance)이 형성된다.
상기와 같이 구성된 IPS모드 액정표시소자에서 액정분자는 공통전극(5) 및 화소전극(7)과 실질적으로 평행하게 배향되어 있다. 박막트랜지스터(10)가 작동하여 화소전극(7)에 신호가 인가되면, 공통전극(5)과 화소전극(7) 사이에는 액정패널(1)과 실질적으로 평행한 횡전계가 발생하게 된다. 액정분자는 상기 횡전계를 따라 동일 평면상에서 회전하게 되므로, 액정분자의 굴절율 이방성에 의한 계조반전을 방지할 수 있게 된다.
상기한 구조의 종래 IPS모드 액정표시소자를 도 1(b)의 단면도를 참조하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1(b)에 도시된 바와 같이, 제1기판(20) 위에는 게이트전극(11)이 형성되어 있으며, 상기 제1기판(20) 전체에 걸쳐 게이트절연층(22)이 적층되어 있다. 상기 게이트절연층(22) 위에는 반도체층(12)이 형성되어 있으며, 그 위에 소스전극(13) 및 드레인전극(14)이 형성되어 있다. 또한, 상기 제1기판(20) 전체에 걸쳐 보호층(passivation layer;24)이 형성되어 있다.
또한, 상기 제1기판(20) 위에는 복수의 공통전극(5)이 형성되어 있고 게이트절연층(22) 위에는 화소전극(7) 및 데이터라인(4)이 형성되어, 상기 공통전극(5)과 화소전극(7) 사이에 횡전계(E)가 발생한다.
제2기판(30)에는 블랙매트릭스(32)와 컬러필터층(34)이 형성되어 있다. 상기 블랙매트릭스(32)는 액정분자가 동작하지 않는 영역으로 광이 누설되는 것을 방지하기 위한 것으로, 도면에 도시한 바와 같이 박막트랜지스터(10) 영역 및 화소와 화소 사이(즉, 게이트라인 및 데이터라인 영역)에 주로 형성된다. 컬러필터층(34)은 R(Red), B(Blue), G(Green)로 구성되어 실제 컬러를 구현하기 위한 것이다.
상기 제1기판(20) 및 제2기판(30) 사이에는 액정층(40)이 형성되어 액정패널(1)이 완성된다.
상기한 바와 같이, IPS모드 액정표시소자에서는 기판(20)과 게이트절연층(22)에 각각 형성된 공통전극(5)과 화소전극(7)에 의해 액정층(40) 내부에 횡전계(E)가 발생하여 액정층(40) 내부의 액정분자를 구동한다.
도 2(a)∼도 2(e)는 상기 구조의 종래 IPS모드 액정표시소자를 제조하는 방법을 나타내는 도면이다. 이때, IPS모드 액정표시소자의 제조방법을 구체적으로 설명하기 위해, 기판을 화소가 형성되어 실제 화상이 구현되는 표시영역과 패드 및 구동소자가 형성되어 표시영역에 신호를 인가하는 패드영역으로 분할하였다.
우선, 도 2(a)에 도시된 바와 같이, 제1기판(20)위에 금속을 적층한 후 제1마스크를 이용하여 표시영역에 게이트전극(11)과 공통전극(5)을 형성하고 패드영역에 게이트패드(52)를 형성한다. 이어서, 도 2(b)에 도시된 바와 같이, 상기 제1기판(20) 전체에 걸쳐 게이트절연층(22)을 형성한 후, 반도체를 적층하고 제2마스크를 이용하여 상기 반도체를 패터닝하여 상기 게이트절연층(22) 위에 반도체층(12) 을 형성한다. 이때, 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 반도체층(12)위에는 오믹컨택층(ohmic contact layer)이 형성된다.
그 후, 도 2(c)에 도시된 바와 같이, 금속을 적층하고 제3마스크를 이용해 금속을 식각하여 반도체층(12) 위에 소스전극(13) 및 드레인전극(14)을 형성하고 게이트절연층(22) 위에 화소전극(7)을 형성한다. 이어서, 도 2(d)에 도시된 바와 같이, 제1기판(20) 전체에 걸쳐 보호층(passivation layer;24)을 형성한 후 제4마스크를 이용하여 패드영역의 보호층(24) 및 게이트절연층(22)을 식각하여 게이트패드(52)를 노출시킨다. 그리고, 상기 보호층(24) 위에 ITO(Indium Tin Oxide)와 같은 투명한 도전물질을 적층한 후 제5마스크를 이용하여 식각하여 상기 게이트패드(52) 위에 투명도전층(54)을 형성한다. 상기 투명도전층(54)을 형성하는 이유는 공정시 게이트패드(52)가 산소중에 노출되어 산화되는 것을 방지하기 위한 것이다.
이어서, 도 2(e)에 도시된 바와 같이, 상기 제2기판(30)에 화상비표시영역으로 투과되는 광을 차단하기 위한 블랙매트릭스(32)와 실제 컬러를 구현하기 위한 컬러필터층(34)을 형성한 후, 상기 제1기판(20) 및 제2기판(30)을 합착하고 제1기판(20) 및 제2기판(30) 사이에 액정층(40)을 형성하여 IPS모드 액정표시소자를 완성한다.
상술한 바와 같이, 종래 IPS모드 액정표시소자 제조방법에서는 게이트전극 및 공통전극 형성용 마스크, 반도체층 형성용 마스크, 소스/드레인전극 및 화소전극 형성용 마스크, 보호층 식각용 마스크, 투명도전층 형성용 마스크 등 총 5개의 마스크가 필요하게 된다. 따라서, 종래 IPS모드 액정표시소자 제조공정에서는 공정이 복잡하게 되고 제조비용이 증가할 뿐만 아니라 대규모의 설치비용을 필요로 하는 문제가 있었다.
본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 공정이 단순화되고 제조비용이 절감된 횡전계모드 액정표시소자 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 데이터라인과 그 근처에 배치되는 공통전극 사이에 게이트절연층을 위치시켜 데이터라인과 공통전극을 효율적으로 절연시킬 수 있는 횡전계모드 액정표시소자를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 데이터라인과 그 근처에 배치되는 공통전극 사이의 간격을 감소시킴으로써 개구율을 향상시킬 수 있는 횡전계모드 액정표시소자를 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 횡전계모드 액정표시소자는 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인 및 데이터라인과, 각각의 화소내에 배치된 박막트랜지스터와, 상기 화소내에 배치되어 횡전계를 형성하는 적어도 한쌍의 공통전극 및 화소전극과, 상부에 데이터라인이 배치되고 하부에는 상기 데이터라인과 대향하는 공통전극의 측면이 배치되는 제1절연층으로 구성된다.
또한, 본 발명에 따른 횡전계모드 액정표시소자의 제조방법은 제1마스크를 이용하여 제1기판상에 게이트전극과 게이트라인, 횡전계를 형성하는 공통전극 및 화소전극, 패드를 형성하는 단계와, 제2마스크를 이용하여 상기 게이트전극 상부에 제1절연층 및 반도체층을 형성하고 공통전극의 일부 영역 위 및 그 측면에 제2절연층을 형성하는 단계와, 제3마스크를 이용하여 상기 반도체층 위에 소스전극 및 드레인전극을 형성하고 제2절연층 위에 데이터라인을 형성하는 단계와, 상기 기판상에 보호층을 적층하고 패드를 오픈하는 단계로 구성된다.
본 발명에서는 IPS모드 액정표시소자의 제조시 사용되는 마스크의 숫자를 최소화함으로서 제조공정을 단순화하고 제조비용을 절감한다. 종래 IPS모드 액정표시소자를 제작하기 위해 5개의 마스크가 필요하던 반면에 본 발명에서는 3개의 마스크만을 필요로하며, 그에 따라 사진식각공정이 단순화되고 제조비용을 대폭 감소시킬 수 있게 된다.
한편, 본 발명에서는 공통전극 및 화소전극이 기판위에 직접 형성되고 투명한 도전물질로 이루어지므로, IPS모드 액정표시소자의 휘도가 향상될 뿐만 아니라 개구율이 향상된다. 데이터라인은 게이트절연층 위에 형성된다. 그러므로, 데이터라인과 그 근처에 배치되는 공통전극은 상기 게이트절연층에 의해 서로 절연되어 있으므로, 단락에 의한 IPS모드 액정표시소자의 불량을 방지할수 있게 된다. 또한, 상기 게이트절연층의 존재는 데이터라인과 공통전극의 간격을 더 좁힐 수 있다는 것을 의미하며, 이러한 간격의 감소는 IPS모드 액정표시소자의 개구율 향상을 의미하는 것이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자를 상세 히 설명한다.
도 3(a)∼도 3(g)는 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 제조방법을 나타내는 도면이다.
우선, 도 3(a)에 도시된 바와 같이, 유리와 같은 투명한 물질로 이루어지고 표시영역과 패드영역을 포함하는 제1기판(120)에 투명도전층과 금속층을 연속 적층한 후 제1마스크를 이용해 상기 투명도전층과 금속층을 한꺼번에 식각하여 표시영역에 2층으로 이루어진 게이트전극(111a,111b), 공통전극(105a,105b) 및 화소전극(107a,107b)을 형성하고 패드영역에 역시 2층으로 이루어진 게이트패드(152a,152b)를 형성한다.
상기 금속과 투명한 도전물질은 증착(evaporation)이나 스퍼터링(sputtering)에 의해 적층되는 것으로, 금속은 주로 Cu, Cu합금, Al, Al합금, Cr, Mo, Ag, Ta, Ti, MoW 등으로 이루어지고 투명한 도전물질은 주로 ITO(Indium Tin Oxide)나 IZO(Indium Zinc Oxide) 등으로 이루어진다.
한편, 게이트전극과 공통전극 및 화소전극은 3층으로 이루어질 수도 있다. 이 경우, Cu, Cu합금, Al, Al합금 등으로 이루어진 제1금속층과 Ti, Mo, Ta, Cr, Ag, MoW 등으로 이루어진 제2금속층 및 Cu, Cu합금, Al, Al합금 등으로 이루어진 제3금속층을 연속 적층(또는 이들의 조합을 적층)한 후 한꺼번에 식각함으로써 게이트전극과 공통전극 및 화소전극을 형성할 수 있을 것이다.
이후, 도 3(b)에 도시된 바와 같이, CVD(Chemical Vapor Deposition)법에 의해 제1기판(120) 전체에 걸쳐 SiNx나 SiOx와 같은 절연층(122)과 실리콘(Si) 등으 로 이루어진 반도체층(112)을 연속 적층한 후, 상기 반도체층(112) 위에 포토레지스트를 적층하고 제2마스크를 이용해 식각하여 제1포토레지스트패턴(162a,162b)을 형성한다.
이때, 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 반도체층(112) 위에는 불순물이 도핑된 불순물반도체층이 형성된다.
이어서, 도 3(c)에 도시된 바와 같이, 상기 제1포토레지스트패턴(162a,162b)을 이용하여 절연층(122)과 반도체층(112)을 식각하여, 게이트전극(111a,111b)의 상부와 공통전극(105a)의 상부 일부 및 측면에 각각 게이트절연층(122a,122b) 및 반도체층(112a,112b)을 형성한다. 이때, 상기와 같은 식각에 의해 공통전극(105a,105b) 및 화소전극(107a,107b)이 외부로 노출된다.
그리고, 상기 제1포토레지트스패턴(162)을 제거(strip)한 후, 도 3(d)에 도시된 바와 같이, 제1기판(120) 전체에 걸쳐 증착이나 스퍼터링방법에 의해 Cr, Mo, Ta, Ti, Ag, MoW, Cu, Cu합금, Al 또는 Al합금 등을 적층하여 금속층(104)을 형성한다. 이어서, 상기 금속층(104) 위에 포토레지스트를 적층하고 제3마스크에 의해 현상하여 게이트절연층(122a)과 반도체층(112a)의 상부(즉, 게이트전극(111a,111b)의 상부) 및 게이트절연층(122b)과 반도체층(112b)의 상부에 각각 제2포토레지스트패턴(164a,164b)을 형성한다. 이때, 게이트절연층(122a) 및 반도체층(112a) 상부의 포토레지스트패턴(164a)은 상기 게이트절연층(122a) 및 반도체층(112a) 보다 넓은 폭으로 형성되고 게이트절연층(122b) 및 반도체층(112b) 상부의 포토레지스트패턴(164b)은 상기 게이트절연층(122b) 및 반도체층(112b) 보다 작은 폭으로 형성된다.
이때, 상기 제3마스크는 회절마스크이다. 즉, 포토레지스트층으로 입사되는 광(예를 들면, 자외선)을 투과시키는 투과영역과, 광을 차단하는 차단영역과, 일부의 광만을 투과시키는 회절영역(또는 반투과영역)으로 이루어진 회절마스크이다. 따라서, 포토레지스트층의 현상시, 게이트전극(111a,111b) 상부의 포토레지스트층의 일부가 제거된다(이 영역이 박막트랜지스터의 채널층이 형성되는 영역이다).
이어서, 도 3(e)에 도시된 바와 같이, 제2포토레지스트패턴(164a,164b)을 이용하여 금속층(104)을 식각하고, 상기 제2포토레지스트패턴(164a,164b)을 에싱(ashing)하여 게이트전극(111a,111b) 상부의 금속층(104)을 외부로 노출시킨 후 노출된 금속층(104)을 식각하면, 반도체층(112a) 위에 소스전극(113) 및 드레인전극(114)이 형성되고 게이트절연층(122b) 위에 데이터라인(104a)이 형성된다.
한편, 상기 금속층(104)의 식각시 불투명한 금속으로 이루어진 공통전극(105b)과 화소전극(107b) 및 게이트패드(152b)도 식각된다. 그러나, ITO나 IZO와 같은 투명도전층은 금속과의 식각선택비의 차이에 의해 식각되지 않고 남아 있게 된다. 즉, 공통전극(105a)과 화소전극(107a) 및 게이트패드(152a)는 결국 ITO나 IZO로 이루어진 투명도전물질로 이루어진 단일층으로 형성되는 것이다. 또한, 데이터라인(104a) 상부의 제2포토레지스트패턴(164b)을 이용하여 게이트절연층(122b) 위의 반도체층(112b)을 제거하여 데이터라인(104a) 하부에만 반도체층(112c)을 남긴다.
또한, 상기 금속층(104)의 식각시 채널영역의 불순물반도체층(도면표시하지 않음)을 제거하여, 오믹컨택층(ohmic contact layer)을 형성한다.
그 후, 도 3(f)에 도시된 바와 같이, 제1기판(120)에 걸쳐서 SiNx나 SiOx와 같은 무기물이나 BCB(Benzo Cyclo Butene)나 포토아크릴과 같은 유기물을 적층하여 보호층(124)을 형성한 후, 패드영역을 플라즈마에 노출시키거나 HF와 같은 산에 침액(dipping)하여 패드영역의 보호층(124)을 제거함으로써 상기 게이트패드(152a)를 외부로 노출시킨다. 상기 게이트패드(152a)는 ITO나 IZO 등의 투명도전층으로 이루어져 있으므로 외부로 노출되는 경우에도 산소에 의해 산화되지 않기 때문에, 패드의 산화를 방지하기 위한 별도의 산화방지막이 필요없게 된다.
이어서, 도 3(g)에 도시된 바와 같이, 제2기판(130)에 Cr/CrOx이나 블랙수지(black resin) 등으로 이루어진 블랙매트릭스(132)를 형성하고 컬러필터층(134)을 형성한 후 상기 제1기판(120) 및 제2기판(130)을 합착하고 제1기판(120) 및 제2기판(130) 사이에 액정층(140)을 형성하여 IPS모드 액정표시소자를 완성한다. 이때, 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 컬러필터층(134) 위에는 컬러필터층(134)을 보호하고 제2기판(130)을 평탄화하기 위한 오버코트층(overcoat layer)이 형성될 수도 있다.
상기 액정층(140)은 통상적으로 제1기판(120)과 제2기판(130)을 합착한 후 그 사이에 액정을 진공주입함으로써 형성되지만, 이러한 액정층(140)을 근래 각광받고 있는 액정적하방법(liquid crystal dispensing process)에 의해 형성할 수도 있을 것이다. 즉, 제1기판(120) 또는 제2기판(130) 상에 액정을 직접 적하(dropping)한 후 제1기판(120) 및 제2기판(130)을 합착하여 압력에 의해 액정 을 기판(120,130) 전체에 균일하게 분포시킴으로써 액정층(140)을 형성할 수도 있는 것이다.
도면에는 도시하지 않았지만, 패드영역에는 게이트라인(103)으로 신호를 인가하는 게이트패드(152a)만이 아니라 데이터라인(104a)으로 신호를 인가하는 데이터패드도 형성되어 있을 것이다. 이때, 데이터패드는 데이터라인(104a)과 동일한 층에 동일한 공정에 의해 형성되며, 그 위의 보호층(124)은 플라즈마노출 및 산으로의 침액에 의해 외부로 노출될 것이다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자 제조방법에서는 게이트전극, 게이트패드(및 데이터패드), 공통전극 및 화소전극 형성용 제1마스크와, 반도체층 형성용 제2마스크와, 소스전극 및 드레인전극 형성용 제3마스크가 필요하게 된다. 즉, 종래 IPS모드 액정표시소자를 제조하기 위해서는 총 5개의 마스크가 필요한 반면에, 본 발명에서는 총 3개의 마스크가 필요한 것이다. 따라서, 종래 IPS모드 액정표시소자의 제조방법에 비해, 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 제조방법이 대폭 단순화됨을 알 수 있게 되며, 그 결과 IPS모드 액정표시소자의 제조비용을 대폭 감소시킬수 있게 된다.
한편, 도 3(g)를 참조하여 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 구조를 살펴보면 다음과 같다.
도 3(g)에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자에서는 박막트랜지스터의 게이트전극(111a,111b)이 2층으로 이루어져 있다. 즉, 게이트전극이 ITO나 IZO와 같은 투명한 도전물질로 이루어진 투명도전층(111a)과 불투명한 금속으로 이루어진 금속층(111b)으로 이루어진다.
표시영역내의 화소에 배치되어 기판(120)의 표면과 실질적으로 평행한 횡전계를 형성하는 적어도 하나의 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)은 제1기판(120)상에 직접 형성되어 있다. 즉, 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)이 동일한 층(layer)에 형성되는 것이다. 이러한 동일층에서의 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)의 배치에 의해 액정층(140)에는 균일한 횡전계가 인가된다. 또한, 상기 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)의 상부에는 게이트절연층이 형성되어 있지 않으므로, 게이트절연층에 의한 전하의 트랩(trap)현상을 방지할 수 있게 된다.
상기 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)은 ITO와 IZO와 같은 투명도전층으로 이루어진다. 따라서, 불투명한 금속으로 공통전극 및 화소전극이 형성되던 종래의 IPS모드 액정표시소자에 비해, 휘도(화이트휘도) 및 개구율이 향상된다.
한편, 데이터라인(104a)은 게이트절연층(122b) 위에 형성되어 있으며, 상기 게이트절연층(122b)은 데이터라인(104a)의 근처에 배치되는 공통전극(105a) 위에도 일부 형성된다. 다시 말해서, 상기 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)에는 게이트절연층(122b)이 존재하는 것이다. 이러한 게이트절연층(122b)의 존재는 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)을 확실하게 절연시킴으로써 단락에 의한 IPS모드 액정표시소자의 불량을 효과적으로 방지할 수 있게 된다.
또한, 상기 게이트절연층(122b)은 IPS모드 액정표시소자의 개구율을 향상시킨다. 일반적으로 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)은 단락을 방지하기 위해, 일정 간격 이상을 두고 배치되어야 한다. 또한, 데이터라인(104a)과 그 근처에 배치 되는 공통전극(105a), 그리고 그 사이의 간격은 제2기판(130)에 형성된 블랙매트릭스(132)에 의해 차단되어 광이 누설되는 것이 방지된다. 본 발명의 IPS모드 액정표시소자에서와 같이 게이트절연층(122b)을 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 사이에 형성하는 경우, 상기 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)의 간격을 종래 보다 좁히는 경우에도 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)이 단락되지 않게 된다. 따라서, 제2기판(130)의 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 상부에 형성되는 블랙매트릭스(132)의 폭을 감소시킬 수 있게 되며, 그 결과 IPS모드 액정표시소자의 개구율을 향상시킬 수 있게 되는 것이다.
상기와 같이 구성된 IPS모드 액정표시소자(101)의 구조를 도 4에 도시된 평면도를 참조하여 좀더 상세히 설명한다.
도 4에 도시된 바와 같이, 게이트라인(103)과 데이터라인(104a)의 교차영역에는 박막트랜지스터(110)가 형성되어 있고, 투명한 도전물질로 이루어진 공통전극(105a)과 화소전극(107a)은 화소내에 실질적으로 평행하게 배치되어 횡전계를 형성한다.
데이터라인(104a)의 양측면에는 공통전극(105a)이 배치되는데, 그 이유는 공통전극(105a)에 의해 데이터라인(104a)과 화소전극(107a) 사이에 발생하는 전계를 차단(shielding)하여 횡전계에 왜곡이 발생하는 것을 방지하기 위한 것이다. 도면에 도시된 바와 같이, 데이터라인(104a)은 게이트절연층(122b) 위에 형성되고 상기 데이터라인(104a)과 대향하는 공통전극(105a)의 측면은 상기 게이트절연층(122b) 하부에 형성되므로, 결국 서로 대향하는 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 사이 에는 게이트절연층(122b)이 위치하게 된다. 이와 같이, 데이터라인(104a)과 공통전극(105a)이 상기 게이트절연층(122b)에 의해 절연되므로, 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 사이의 간격(b)을 도 1에 도시된 종래 IPS모드 액정표시소자에서의 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 사이의 간격 보다 작게 할 수 있게 된다(b〈a). 이와 같이 데이터라인(104a)과 공통전극(105a) 사이의 간격(b)이 감소함에 따라 IPS모드 액정표시소자의 개구율이 향상되는 것이다.
한편, 화소의 상부영역(또는 중앙영역에 형성될 수도 있을 것이다)에는 공통라인(116)과 화소전극라인(118)이 게이트절연층(122b)을 사이에 두고 배치되어 축적용량을 형성한다. 공통라인(116)은 박막트랜지스터(110)의 게이트라인(111a,111b)과 마찬가지로 투명한 도전층과 불투명한 금속층으로 이루어질 수도 있고, 공통전극(105a)과 마찬가지로 투명도전층으로 형성될 수도 있다. 즉, 상기 공통라인(116)은 박막트랜지스트의 게이트전극(111a,111b) 또는 공통전극(105a)과 동일한 공정에 의해 형성되는 것이다.
화소전극라인(118)은 박막트랜지스터(110)의 소스전극(113) 및 드레인전극(114)과 동일한 공정에 의해 동일한 금속으로 형성된다. 이때, 화소전극라인(118)과 화소전극(107b)은 게이트절연층(122b)에 형성된 제2컨택홀(119b)에 의해 전기적으로 접속된다. 또한, 상기 화소전극(107b)은 제1컨택홀(119a)에 의해 박막트랜지스터(110)의 드레인전극(114)에 전기적으로 접속된다.
도면에는 도시하지 않았지만, 상기 제1컨택홀(119a)은 도 3c에 도시된 절연층(122) 및 반도체층(112)의 식각시 형성된다. 도 4에 도시된 바와 같이 게이트절연층(122b)은 화소내의 일정 영역까지 연장되고 화소전극(107a)도 상기 게이트절연층(122b)이 형성된 영역으로 연장되므로, 상기 화소전극(107a)의 일정 영역 위에는 게이트절연층(122b)이 위치하게 되며, 상기 게이트절연층(122b)이 식각될 때 상기 화소전극(107a) 상부의 게이트절연층(122b)이 식각되어 제1컨택홀(119a)이 형성되는 것이다.
상기와 같이 형성된 제1컨택홀(119a)의 내부에는 소스전극 및 드레인전극 형성용 금속층(104)의 적층시 금속이 적층되어 화소전극(107a,107b)과 전긱적으로 접속된 후(도 3d 참조), 상기 금속층(104)의 식각시 식각되어 상기 화소전극(107a)이 드레인전극(114)과 전기적으로 접속된다(도 3e 참조).
한편, 상기한 도면에서는 특정한 구조의 IPS모드 액정표시소자가 개시되어 있지만, 본 발명이 이러한 구조의 IPS모드 액정표시소자에만 한정되는 것은 아니 다. 예를 들어, 도면에서는 화소내에 특정 갯수의 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)이 배치되어 있지만, 상기 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)의 갯수가 한정될 필요는 없을 것이다. 또한, 화소내에 배치되는 공통전극(105a) 및 화소전극(107a)의 구조 역시 한정될 필요는 없을 것이다.
도 5는 본 발명에 따른 IPS모드 액정표시소자의 다른 구조를 나타내는 평면도이다. 도 5에 도시된 구조의 IPS모드 액정표시소자(201)는 도 3(g) 및 도 4에 도시된 구조의 IPS모드 액정표시소자와는 그 구조가 유사하고 단지 공통전극(205a) 및 화소전극(207a)의 구조만이 다르다. 즉, 이 구조의 IPS모드 액정표시소자에서도 공통전극(205a) 및 화소전극(207a)이 투명도전층으로 기판상에 형성되며, 데이터라인(204a)과 그 근처에 배치되는 공통전극(205a) 사이에는 게이트절연층(222b)이 형성되어 데이터라인(204a)과 공통전극(205a)을 안전하게 절연시킨다.
한편, 이 구조의 IPS모드 액정표시소자에서는 공통전극(205a)과 화소전극(207a)이 화소내에서 절곡되어 있다. 이러한 절곡은 화소를 복수개의 도메인(domain)으로 분할하기 위한 것이다. 즉, 각 도메인의 액정분자를 인접하는 도메인과 서로 대칭으로 배열시켜 주시야각을 보상함으로써 시야각특성을 향상시키기 위한 것이다. 도면에서는 화소내에서 공통전극(205a)과 화소전극(207a)이 1회 절곡되어 2개의 도메인을 형성하지만, 상기 공통전극(205a)과 화소전극(207a)이 복수회 절곡되어 3개 이상의 도메인을 형성할 수도 있을 것이다. 또한, 도면과 같이 화소 자체가 절곡(즉, 데이터라인이 절곡되는 것)되는 것이 아니라 화소 자체는 절곡되지 않고(즉, 데이터라인은 절곡되지 않고) 화소내에 배치되는 공통전극(205a)과 화소전극(207a)만을 절곡시킬 수도 있을 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에서는 3개의 마스크를 이용하여 IPS모드 액정표시소자를 제조한다. 따라서, 종래 제조방법에 의해 사용되는 마스크의 갯수가 감소되며, 그 결과 제조공정이 단순화되고 제조비용이 대폭 절감된다. 또한, 본 발명에서는 데이터라인과 그 양측면에 배치되는 공통전극 사이에 게이트절연층을 위치시켜 상기 데이터라인과 공통전극이 단락되는 것을 방지할 수 있게 된다. 더욱이, 본 발명에서는 상기 데이터라인과 공통전극 사이의 게이트절연층에 의해 데이터라인과 공통전극의 간격을 감소시킬 수 있게 되므로, IPS모드 액정표시소자의 개구율을 향상 시킬 수 있게 된다.

Claims (16)

  1. 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인 및 데이터라인;
    각각의 화소내에 배치되며, 제1기판 위에 형성된 게이트전극, 상기 게이트전극 위에 형성된 게이트절연층, 상기 게이트절연층 위에 형성된 반도체층, 상기 반도체층 위에 형성된 소스전극 및 드레인전극으로 이루어진 박막트랜지스터; 및
    상기 화소내에 배치되어 횡전계를 형성하는 적어도 한쌍의 공통전극 및 화소전극으로 구성되며,
    상기 게이트절연층은 게이트전극 상부와, 화소의 최외각 공통전극 상부의 측면과 그 측면의 일부 영역에 형성되어 상부에 데이터라인이 배치되어 공통전극과 데이터라인을 절연시키며, 화소내의 공통전극 및 화소전극과 최외각 공통전극의 일부 영역은 상기 게이트절연층에 의해 덮이지 않는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서, 상기 게이트전극은,
    투명도전층; 및
    상기 투명도전층 위에 형성된 금속층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  4. 제1항에 있어서, 상기 공통전극 및 화소전극은 제1기판위에 형성되는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  5. 제4항에 있어서, 상기 공통전극 및 화소전극은 투명도전층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  6. 제1항에 있어서, 상기 게이트라인 및 데이터라인으로 신호를 인가하는 패드를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  7. 제6항에 있어서, 상기 패드는 투명도전층으로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  8. 제3항, 제5항 및 제7항 중 어느 한항에 있어서, 상기 투명도전층은 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide)로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  9. 제1항에 있어서,
    제2기판;
    상기 제2기판에 형성되어 화상비표시영역으로 광이 투과되는 것을 차단하는 블랙매트릭스; 및
    컬러를 구현하는 컬러필터층을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자.
  10. 제1기판 전체에 걸쳐 투명도전물질 및 금속층을 연속 적층하는 단계;
    제1마스크를 이용한 사진식각방법에 의해 상기 투명도전물질 및 금속을 식각하여 투명도전층과 그 상부의 금속층으로 이루어진 게이트전극 및 게이트라인, 제1전극 및 제2전극, 패드를 형성하는 단계;
    제2마스크를 이용하여 상기 게이트전극 상부에 제1절연층 및 반도체층을 형성하고 공통전극의 일부 영역 위 및 그 측면에 제2절연층을 형성하는 단계;
    제1기판 전체에 걸쳐 금속을 형성하는 단계;
    상기 금속위에 포토레지스트를 적층한 후 회절마스크인 제3마스크에 의해 상기 포토레지스트를 현상하는 단계;
    상기 현상된 포토레지스트를 금속을 식각하여 소스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하고 제1전극 및 제2전극의 상부 금속층을 식각하여 투명도전층으로 이루어진 공통전극 및 화소전극을 형성하는 단계;
    상기 기판상에 보호층을 적층하고 패드를 오픈하는 단계로 구성된 횡전계모드 액정표시소자 제조방법.
  11. 삭제
  12. 제10항에 있어서, 상기 투명도전물질은 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide)로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자 제조방법.
  13. 제10항에 있어서, 제1절연층과 반도체층 및 제2절연층을 형성하는 단계는,
    제1기판 전체에 걸쳐 절연물 및 반도체를 연속 적층하는 단계; 및
    사진식각방법에 의해 상기 절연물 및 반도체를 식각하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자 제조방법.
  14. 삭제
  15. 제10항에 있어서, 상기 소스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 형성하는 단계는,
    상기 포토레지스트를 에이싱하여 화소전극 및 공통전극 상부의 금속층을 노출시키는 단계; 및
    상기 화소전극 및 공통전극 상부의 금속층을 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자 제조방법.
  16. 제10항에 있어서, 상기 패드를 오픈하는 단계는 패드 위에 형성된 게이트절연층 및 보호층을 플라즈마에 노출시키거나 산에 침액시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 횡전계모드 액정표시소자 제조방법.
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