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KR101016020B1 - Socket for chip package - Google Patents

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Publication number
KR101016020B1
KR101016020B1 KR1020080132314A KR20080132314A KR101016020B1 KR 101016020 B1 KR101016020 B1 KR 101016020B1 KR 1020080132314 A KR1020080132314 A KR 1020080132314A KR 20080132314 A KR20080132314 A KR 20080132314A KR 101016020 B1 KR101016020 B1 KR 101016020B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
support
contact
chip package
plate
socket
Prior art date
Application number
KR1020080132314A
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Korean (ko)
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KR20100073599A (en
Inventor
전진국
박성규
함종욱
Original Assignee
주식회사 오킨스전자
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Publication date
Application filed by 주식회사 오킨스전자 filed Critical 주식회사 오킨스전자
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Abstract

본 발명은 칩 패키지용 소켓에 관한 것으로, 특히 중심 개구부를 갖는 베이스; 탄성부재를 사이에 두고 상기 베이스에 상하이동 가능하게 결합하는 커버; 상기 베이스의 개구부에 삽입되고, 복수의 콘택트 핀을 가지는 콘택트 지지유닛; 및 상기 커버의 상하이동에 따라 개방 및 지지 위치로 이동하는 래치를 포함하는 칩 패키지용 소켓에 있어서, 상기 콘택트 지지유닛은 상기 칩 패키지의 접속단자의 열 방향 피치에 해당하는 간격으로 슬롯이 형성되고, 횡 방향 피치에 해당하는 두께를 가지고 상단 및 하단에는 상기 콘택트 핀의 양단부가 각각 안착되고 외부로 돌출하도록 하는 요홈을 가지는 판상의 지지판이 복수 개 적층되는 적층체; 및, 중간부가 휘어져 상기 슬롯에 삽입되고, 상단 및 하단은 상기 요홈을 통하여 상기 적층체의 상면 및 하면으로부터 외부로 돌출되는 복수의 콘택트 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 칩 패키지용 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a socket for a chip package, in particular a base having a central opening; A cover coupled to the base such that the elastic member is interposed therebetween; A contact support unit inserted into the opening of the base and having a plurality of contact pins; And a latch that moves to an open and support position according to the movement of the cover, wherein the contact support unit has slots formed at intervals corresponding to a column pitch of the connection terminal of the chip package. A laminate in which a plurality of plate-shaped support plates having a thickness corresponding to a lateral pitch and having grooves to allow both ends of the contact pins to be seated and protrude to the outside are respectively stacked on the top and the bottom; And a plurality of contact pins having an intermediate portion bent and inserted into the slots, and having upper and lower ends protruding from the upper and lower surfaces of the stack through the recesses.

이를 통하여 종래의 콘택트 지지유닛에 비하여 안정적이고, 조립이 용이하게 이를 구성할 수 있어서, 오 조립의 염려가 없고, 생산성이 향상되어, 제조비용이 절감되는 장점이 있다.As a result, it is more stable than the conventional contact support unit, and can be easily assembled. Therefore, there is no fear of misassembly, productivity is improved, and manufacturing costs are reduced.

칩 패키지, 소켓, 지지유닛 Chip Package, Sockets, Support Units

Description

칩 패키지용 소켓 {SOCKET FOR CHIP PACKAGE}Socket for Chip Package {SOCKET FOR CHIP PACKAGE}

본 발명은 칩 패키지(chip package)용 소켓(socket)에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 종래의 콘택트 지지유닛에 비하여 지지판에 수용되는 콘택트 핀이 안정적으로 수용되고, 조립이 용이하게 이를 구성할 수 있어서, 오 조립의 염려가 없고, 생산성이 향상되어, 제조비용이 절감되는 장점이 있는 칩 패키지(chip package)용 소켓(socket)에 관한 것이다.The present invention relates to a socket for a chip package, and more particularly, a contact pin accommodated in a support plate is more stably received than a conventional contact support unit, and can be easily configured. The present invention relates to a socket for a chip package which has the advantage that there is no fear of assembling, productivity is improved, and manufacturing cost is reduced.

일반적인 칩 패키지용 Socket의 경우, 각각의 소켓에 적용되는 칩 패키지의 전극단자 배열 형태가 다르거나 그 피치가 달라 전용의 소켓을 사용하고 있으나, 이 경우에는 칩 패키지별로 전용의 소켓을 구비하여야 하므로 비용이 증가하는 문제점이 있다. 또한 동일한 외부형상과 전극 단자의 피치가 동일한 경우라도 실질적인 칩 패키지의 단자 배열은 상이가 경우가 발생하여 상기와 같은 문제를 그대로 가지게 된다.In general, a socket for a chip package uses a dedicated socket having a different electrode terminal arrangement form or a different pitch of the chip package applied to each socket. However, in this case, a dedicated socket is provided for each chip package. There is an increasing problem. In addition, even if the same external shape and the pitch of the electrode terminal is the same, the actual arrangement of the terminal of the chip package may be different, and thus have the same problem as above.

따라서 이러한 문제를 해결하기 위하여, 동일한 매트릭스 형태에서 칩 패키지의 단자 배치만 변하는 경우에 이에 대응하는 유니버설 소켓을 개발하는 연구가 이루어졌으며, 특히 대한민국 공개특허 공보 제2003-22736호, "번인 시험 소켓"의 경우에는 칩 패키지의 단자에 대응하는 복수개의 콘택트 핀을 지지할 수 있어서 상이한 단자 배열을 갖는 각종 칩 패키지를 처리할 수 있고, 이러한 소켓을 단순한 몰딩기술로도 제작이 가능한 소켓이 제안되었다.Therefore, in order to solve this problem, studies have been made to develop a universal socket corresponding to the case where only the terminal arrangement of the chip package is changed in the same matrix form. In particular, Korean Patent Publication No. 2003-22736, "Burn-In Test Socket" In this case, a plurality of contact pins corresponding to the terminals of the chip package can be supported to handle various chip packages having different terminal arrangements, and a socket capable of manufacturing such a socket even with a simple molding technique has been proposed.

그러나 이와 같은 구성은 도 1에 도시한 바와 같이, 하나의 지지판에 콘택트 핀을 얹어놓은 형태로 이를 구성하게 되므로 콘택트 핀을 얹은 후에 외부에서 충격을 주는 경우에 콘택트 핀이 쉽게 이탈하거나 이동하는 문제점이 있어서, 취급에 세심한 주의가 필요하고 생산성이 떨어지는 문제점이 있다.However, as shown in FIG. 1, since the contact pin is placed on one support plate, the contact pin is easily detached or moved when the contact pin is impacted from the outside. Therefore, there is a problem in that careful handling is required and productivity is low.

따라서 지지판에 콘택트 핀을 용이하게 결합하면서도 외부충격에 대하여 안정적인 적층방식을 개발하는 것이 절실한 실정이다.Therefore, it is urgent to develop a stable lamination method against external impact while easily connecting the contact pin to the support plate.

상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하고자, 본 발명은 종래의 콘택트 지지유닛에 비하여 지지판에 수용되는 콘택트 핀이 안정적으로 수용되고, 조립이 용이하게 이를 구성할 수 있어서, 오 조립의 염려가 없고, 생산성이 향상되어, 제조비용이 절감되는 장점이 있는 칩 패키지용 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention is a contact pin accommodated in the support plate as compared to the conventional contact support unit is stably accommodated, can be easily configured, there is no fear of misassembly, It is an object of the present invention to provide a socket for a chip package which has an advantage of improving productivity and reducing manufacturing costs.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은In order to achieve the above object, the present invention

중심 개구부를 갖는 베이스; 탄성부재를 사이에 두고 상기 베이스에 상하이동 가능하게 결합하는 커버; 상기 베이스의 개구부에 삽입되고, 복수의 콘택트 핀을 가지는 콘택트 지지유닛; 및 상기 커버의 상하이동에 따라 개방 및 지지 위치로 이동하는 래치를 포함하는 칩 패키지용 소켓에 있어서, A base having a central opening; A cover coupled to the base such that the elastic member is interposed therebetween; A contact support unit inserted into the opening of the base and having a plurality of contact pins; And a latch moving to an open and support position according to the shanghai of the cover.

상기 콘택트 지지유닛은 The contact support unit

상기 칩 패키지의 접속단자의 열 방향 피치에 해당하는 간격으로 슬롯이 형성되고, 횡 방향 피치에 해당하는 두께를 가지고 상단 및 하단에는 상기 콘택트 핀의 양단부가 각각 안착되고 외부로 돌출하도록 하는 요홈을 가지는 판상의 지지판이 복수 개 적층되는 적층체; 및, Slots are formed at intervals corresponding to the column pitches of the connection terminals of the chip package, and have a thickness corresponding to the horizontal pitch, and upper and lower ends thereof have recesses for allowing both ends of the contact pins to be respectively seated and protrude outward. A laminated body in which a plurality of plate-shaped support plates are laminated; And,

중간부가 휘어져 상기 슬롯에 삽입되고, 상단 및 하단은 상기 요홈을 통하여 상기 적층체의 상면 및 하면으로부터 외부로 돌출되는 복수의 콘택트 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 칩 패키지용 소켓을 제공한다.An intermediate part is bent and inserted into the slot, and the upper and lower ends provide a plurality of contact pins protruding from the upper and lower surfaces of the stack through the recesses.

본 발명의 칩 패키지용 소켓에 따르면, 종래의 콘택트 지지유닛에 비하여 지지판에 수용되는 콘택트 핀이 안정적으로 수용되고, 조립이 용이하게 이를 구성할 수 있어서, 오 조립의 염려가 없고, 생산성이 향상되어, 제조비용이 절감되는 장점이 있다.According to the socket for a chip package of the present invention, compared to the conventional contact support unit, the contact pin accommodated in the support plate can be stably accommodated, and the assembly can be easily configured, so that there is no fear of misassembly and productivity is improved. This has the advantage of reducing manufacturing costs.

이하 본 발명에 대하여 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명은 칩 패키지용 소켓에 관한 것으로 중심 개구부(12)를 갖는 베이스(10); 탄성부재(20)를 사이에 두고 상기 베이스(10)에 상하이동 가능하게 결합하는 커버(30); 상기 베이스(10)의 개구부(12)에 삽입되고, 복수의 콘택트 핀(100)을 가지는 콘택트 지지유닛(40); 및 상기 커버(30)의 상하이동에 따라 개방 및 지지 위치로 이동하는 래치(50)를 포함하는 칩 패키지용 소켓에 있어서, 상기 콘택트 지지유닛(40)은 상기 칩 패키지의 접속단자의 열 방향 피치에 해당하는 간격으로 슬롯(46)이 형성되고, 횡 방향 피치에 해당하는 두께를 가지고 상단 및 하단에는 상기 콘택트 핀의 양단부가 각각 안착되고 외부로 돌출하도록 하는 요홈(47)을 가지는 판상의 지지판(45)이 복수 개 적층되는 적층체(43); 및, 중간부(102)가 휘어져 상기 슬롯(46)에 삽입되고, 상단 및 하단은 상기 요홈(47)을 통하여 상기 적층체(43)의 상면 및 하면으로부터 외부로 돌출되는 복수의 콘택트 핀(100)을 포함하여 구성된다.The present invention relates to a socket for a chip package, the base (10) having a central opening (12); A cover 30 coupled to the base 10 so that the elastic member 20 is interposed therebetween; A contact support unit 40 inserted into the opening 12 of the base 10 and having a plurality of contact pins 100; And a latch 50 that moves to an open and support position according to the movement of the cover 30, wherein the contact support unit 40 is a column pitch of the connection terminal of the chip package. Slot 46 is formed at intervals corresponding to the plate, the plate-like support plate having a thickness corresponding to the lateral pitch, and having a groove 47 to allow both ends of the contact pins to be seated and protrude to the outside, respectively ( A stack 43 in which a plurality of 45 are stacked; And, the middle portion 102 is bent and inserted into the slot 46, the top and bottom are a plurality of contact pins 100 protruding from the upper and lower surfaces of the laminate 43 through the groove 47 to the outside It is configured to include).

이에 대한 구체적인 예는 도 2 내지 도 10에 도시한 바와 같다. 즉, 도 1에 도시한 바와 같이 지지판에 콘택트 핀이 단순히 얹혀지는 형태에서는 콘택트 핀의 안정적인 수용이 불가하므로, 이를 개선하기 위하여 콘택트 핀의 무게중심이 지지판의 하부에 위치하도록 하기 위하여 지지판에 콘택트 핀의 휘어진 중심부가 삽입되어 내려갈 수 있도록 하는 슬롯을 구비하고, 여기에 중간 부분이 휘어져 탄성변형이 이루어지는 보우 형상의 콘택트 핀의 중간부가 삽입되도록 한 것이다.Specific examples thereof are as shown in FIGS. 2 to 10. That is, in the form in which the contact pin is simply placed on the support plate, as shown in FIG. 1, since the contact pin cannot be stably received, the contact pin is placed on the support plate so that the center of gravity of the contact pin is located below the support plate. The center of the bow-shaped contact pin is provided with a slot to allow the curved center of the insert to go down, wherein the middle portion is bent to elastic deformation.

본 발명이 적용되는 소켓은 통상의 소켓으로서, 이는 일반적으로 베이스, 커버, 이들 사이에 결합하는 탄성부재 및 래치를 구비하고, 이와 같은 구성은 공지의 다양한 형상이 이에 적용될 수 있으며, 특이점은 콘택트 지지유닛에 있는 것으로, 통상적인 소켓의 구성에 대한 일 실시예는 도 2에 도시한 바와 같다.The socket to which the present invention is applied is a conventional socket, which generally includes a base, a cover, an elastic member and a latch engaged therebetween, and such a configuration may be applied to various known shapes, and the singularity of the contact support is One embodiment of a conventional socket configuration, as in the unit, is as shown in FIG. 2.

여기에 적용되는 상기 콘택트 지지유닛(40)은 지지판의 적층체와 이들 지지판 사이에 끼워지는 콘택트 핀으로 구성되어지는데, 상기 지지판(45)에 대한 구체 적인 예는 도 3에 도시한 바와 같다. 즉, 지지판은 도 3의 좌측 상부에 도시한 바와 같이, 슬롯과 요홈을 구비하여 콘택트 핀을 수용할 수 있고, 여기에 수용되는 콘택트 핀은 중간부분이 휘어진 것이면 휘어진 형태에 무관하게 적용이 가능하며, 이에 대한 예는 도 3의 우측 상부에 도시한 바와 같다. 여기서는 나중에 설명할 마감 플레이트 상에 상기 콘택트 핀을 결합하는 것을 도시한 것이고, 도 3의 좌측 하부에 도시한 도면은 1차로 마감 플레이트 상에 필요한 슬롯에 콘택트를 얹고, 이의 상부에 지지판을 얹은 후에 여기에 두 번째 콘택트를 끼운 모습이다.The contact support unit 40 applied here is composed of a stack of support plates and contact pins sandwiched between these support plates. Specific examples of the support plate 45 are shown in FIG. 3. That is, as shown in the upper left side of Figure 3, the support plate is provided with a slot and a recess to accommodate the contact pin, the contact pin accommodated therein is applicable to the bent form regardless of the bent middle portion. , An example thereof is as shown in the upper right of FIG. 3. Herein is shown the coupling of the contact pin on the finishing plate, which will be described later, the figure shown in the lower left of FIG. 3 firstly puts the contact in the required slot on the finishing plate, and then the support plate on top of it. Here's a second contact.

여기서 상기 지지판은 칩 패키지의 단자 매트릭스와 대응이 이루어져야 하므로 슬롯의 간격 및 지지판의 두께가 매트릭스 피치와 대응되어야 한다. 여기서 열 및 행은 바라보는 시점에 따라 그 기준이 달라지나 매트릭스 x-y 피치와 지지판의 슬롯 간격 및 지지판 두께가 서로 대응된다는 의미이다.In this case, since the support plate must correspond to the terminal matrix of the chip package, the spacing of the slots and the thickness of the support plate must correspond to the matrix pitch. Here, the columns and rows vary in terms of the viewing point, but the matrix x-y pitch, the slot spacing of the support plate, and the support plate thickness correspond to each other.

또한 콘택트의 안정적인 가이드를 위하여 요홈을 가지고, 바람직하게는 상기 요홈(47) 또는 상기 슬롯(46)의 양단에 요홈(47)의 최외곽 폭보다 확대되는 폭을 가지는 지지부(48)를 더 포함하고, 상기 콘택트 핀(100)은, 상부에는 상기 지지부(48) 중 상부 지지부의 폭에 대응하고, 상기 지지부(48) 중 상부 지지부의 길이보다는 짧은 상부 돌출부(104)를 가지고, 하부에는 상기 지지부(48) 중 하부 지지부의 폭과 길이에 대응하는 하부 돌출부(106)를 가지는 구성을 가질 수 있다. 즉, 상기 요홈(지지판의 상단 및 하단 각각의)에 요홈의 최외곽 폭보다 확대되는 폭을 가지는 지지부를 더 포함하거나, 상기 슬롯의 양단(상단 및 하단)에 요홈의 최외곽 폭보다 확대되는 폭을 가지는 지지부를 더 포함하여 상기 콘택트 핀의 상부 및 하 부 돌출부가 이에 결합하여 콘택트 핀의 안정적인 수용 및 가이드가 가능하도록 할 수 있다. 여기서 상기 상부 돌출부는 콘택트 핀의 탄성변형에 따라 이동이 이루어지는 부분이므로 상기 기술한 바와 같이 상기 지지부(48)의 폭에 대응하고 상기 지지부(48)의 길이보다는 짧은 형태의 구성을 가지고, 하부 돌출부는 테스트 보드의 전극과 접속하는 고정부이므로 상기 기술한 바와 같이 상기 지지부(48) 중 하부 지지부의 폭과 길이에 대응하는 구성을 가지는 것이 좋다.In addition, it has a groove for stable guide of the contact, preferably further comprises a support portion 48 having a width that is wider than the outermost width of the groove 47 at both ends of the groove 47 or the slot 46; The contact pin 100 has an upper protrusion 104 shorter than a length of an upper support portion of the support portion 48 at an upper portion thereof, and a lower portion of the support portion 100 at a lower portion thereof. It may have a configuration having a lower protrusion 106 corresponding to the width and length of the lower support of the 48. That is, the groove (in each of the upper and lower ends of the support plate) further includes a support having a width that is wider than the outermost width of the groove, or the width that is larger than the outermost width of the groove on both ends (top and bottom) of the slot The upper and lower protrusions of the contact pins may further be coupled to each other so as to enable stable reception and guide of the contact pins. Since the upper protrusion is a portion in which the movement is made according to the elastic deformation of the contact pin, the upper protrusion has a configuration that corresponds to the width of the support 48 and is shorter than the length of the support 48, and the lower protrusion is Since it is a fixed part connected with the electrode of a test board, it is good to have a structure corresponding to the width | variety and length of the lower support part of the said support part 48 as mentioned above.

또한 상기 지지판의 적층을 보다 용이하도록 하기 위하여, 바람직하게는 상기 적층체(43)는 상기 지지판(45)의 적층방향으로 끝단에 마감 플레이트(49)를 더 가지고, 상기 마감 플레이트(49)는 좌우 양단에 결합축(41)을 가지며, 상기 지지판(45)은 상기 결합축(41)에 대응하는 결합구(42)를 좌우 양단에 더 가지는 구성을 가질 수 있다. 즉, 도 4 내지 도 6에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 적층된 지지판의 정렬 및 조립이 용이하고, 조립 후에 취급이 용이하도록 하기 위하여 결합축을 가지는 마감 플레이트를 적용할 수 있고, 이와 같은 마감 플레이는 도 4의 좌측에 도시한 바와 같이 콘택트 핀의 휘어진 중간부를 수용하기 위하여 슬롯 또는 슬롯에 해당하는 요홈을 구비할 수 있으며, 적층되는 지지판을 고정하는 결합축을 포함하고, 적층되는 지지판은 상기 결합축에 끼워지는 결합구를 양측에 가져 이에 삽입되어 적층 결합이 이루어지도록 할 수 있다. 상기 마감 플레이트는 일단에만 존재할 수도 있고, 양단에 마주보고 배치될 수도 있다. 또한 상기 결합축은 적층체 전체에 대하여 좌우에 각각 하나씩으로 이루어진 한 쌍만을 구비하고 여기에 일련의 지지판이 끼워지도록 할 수도 있고, 도 5 내지 도 6에 도시한 바와 같이 마주 보는 마감 플레이트에 서로 높이가 다르게 배치되는 2쌍의 결합축을 배치하여 결합을 더욱 용이하게 할 수도 있다. 도 4는 한쪽 편의 적층체 형성과정을 도시하고, 도 5 내지 도 6은 이와 같이 구성된 각 편의 적층체를 서로 결합하는 과정을 도시한다.In addition, in order to facilitate stacking of the support plate, preferably, the stack 43 further includes a finish plate 49 at an end in the stacking direction of the support plate 45, and the finish plate 49 is left and right. It has a coupling shaft 41 at both ends, the support plate 45 may have a configuration further having a coupling tool 42 corresponding to the coupling shaft 41 at both left and right ends. That is, as shown in the specific example in Figures 4 to 6, it is possible to apply a closing plate having a coupling shaft in order to facilitate the alignment and assembly of the laminated support plate, easy handling after assembly, such a finish The play may include a slot or a groove corresponding to the slot for accommodating the curved intermediate portion of the contact pin as shown on the left side of FIG. 4, and includes a coupling shaft for fixing the supporting plate to be stacked, and the supporting plate to be stacked is the coupling. Couplers fitted to the shaft may be inserted into both sides to be laminated coupling is made. The closing plate may be present only at one end or may be disposed opposite to each other. In addition, the coupling shaft may be provided with only one pair consisting of one each on the left and right with respect to the entire laminate, and a series of support plates may be fitted thereto, and the heights of the coupling shafts may face each other as shown in FIGS. 5 to 6. Two pairs of coupling axes arranged differently may be arranged to facilitate the coupling. 4 illustrates a process of forming a laminate of one side, and FIGS. 5 to 6 illustrate a process of bonding each of the laminates configured as described above to each other.

또한 더욱 바람직하게는 배치되는 콘택트 핀이 대칭구조를 가지지 않으므로 한 방향으로만 이를 배치하는 경우에 칩 패키지가 결합하는 경우에 한 방향으로 힘을 가하는 현상이 발생할 수 있으므로, 이를 방지하고, 콘택트 핀의 탄성변형에 따른 칩 패키지에 가해지는 외력이 서로 상쇄되어 없어지도록 하기 위하여 도 7에 그 실시예를 도시한 바와 같이, 상기 콘택트 핀의 중간부 배치가 대칭으로 이루어지는 것이 좋으며, 이 경우에 중간 부분에 별도의 더미 플레이트가 삽입되어질 수 있다. 즉, 상기 적층체(43)는 상기 지지판(45)의 적층방향을 기준으로 중간에 더미 지지판(45')을 더 가지고, 상기 더미 지지판(45')을 기준으로 상기 콘택트 핀(100)의 중간부(102) 배치가 대칭으로 이루어지는 것이 바람직하다.In addition, since the contact pins are more preferably arranged to have no symmetrical structure, a force may be applied in one direction when the chip package is coupled in the case where the contact pins are arranged only in one direction. In order for the external forces applied to the chip package according to the elastic deformation to cancel each other, as shown in FIG. 7, it is preferable that the middle portion of the contact pin is symmetrically formed. A separate dummy plate may be inserted. That is, the stack 43 further has a dummy support plate 45 'in the middle of the supporting plate 45 in the stacking direction, and the middle of the contact pin 100 based on the dummy support plate 45'. It is preferable that the part 102 arrangement be symmetrical.

이와 같은 구성을 가지는 경우의 적층체 및 콘택트 지지유닛 조립 방법의 구체적인 예는 도 4 내지 도 6에 도시한 바와 같다.Specific examples of the laminated body and the contact support unit assembly method in the case of having such a configuration are as shown in FIGS. 4 to 6.

이와 같이 구성되어질 수 있는 콘택트지지 유닛은 도 9에 그 구체적인 예를 도시한 바와 같이, 상기 베이스의 중심 개구부에 안착되어질 수 있고, 일정한 유격을 가지는 콘택트 핀의 상단 및 하단은 필요에 따라서 그 위치의 정확도를 확보하기 위하여 도 2 및 도 8에 도시한 바와 같이, 지지 유닛의 상부에는 어댑터, 지지유닛의 하부에는 리드 가이드를 더 추가하여 이를 정렬할 수 있다.The contact support unit, which can be configured in this way, can be seated in the central opening of the base, as shown in the specific example in FIG. 9, and the upper and lower ends of the contact pins having a constant clearance can be positioned as necessary. 2 and 8, in order to ensure the accuracy, the upper portion of the support unit, the adapter, the lower guide unit may be further added to align it.

이와 같이 구성된 소켓에 칩 패키지가 삽입되려면 도 10에 도시한 바와 같이 통상의 래치 구동을 통하여 래치가 개방위치로 이동하게 되고, 상기 칩 패키지가 소켓에 인입되고 나면 래치는 지지위치로 이동하여 소켓에 상기 칩 패키지를 고정하여 테스트를 수행하고, 테스트 이후에 다시 래치를 개방위치로 이동하여 칩 패키지 탈거를 수행하여 소켓으로부터 칩 패키지를 분리할 수 있다.In order to insert the chip package into the socket configured as described above, as shown in FIG. 10, the latch is moved to the open position through the normal latch driving. After the chip package is inserted into the socket, the latch is moved to the support position and inserted into the socket. The chip package may be fixed to perform a test, and after the test, the latch may be moved to an open position to remove the chip package, thereby removing the chip package from the socket.

또한 이외의 보다 상세한 사항은 대한민국 공개특허 공보 제2003-22736호, "번인 시험 소켓"에 대한 기술을 참고할 수 있다.Also, other details may be referred to the description of the Republic of Korea Patent Publication No. 2003-22736, "burn-in test socket".

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 한정되는 것은 아니고, 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 해당 기술분야의 당업자가 다양하게 수정 및 변경시킨 것 또한 본 발명의 범위 내에 포함됨은 물론이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and various modifications and changes made by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the present invention described in the claims below. Changes are also included within the scope of the invention.

도 1은 종래의 콘택트 지지유닛을 가지는 소켓에 적용되는 지지판 및 이에 콘택트 핀을 결합하는 형태를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a view illustrating a support plate applied to a socket having a conventional contact support unit and a contact pin coupled thereto.

도 2는 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 대한 일 실시예를 개략적으로 도시한 분해 사시도이다.Figure 2 is an exploded perspective view schematically showing an embodiment of a socket for a chip package of the present invention.

도 3은 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용되는 지지판 및 콘택트 핀과 이의 결합관계를 도시한 도면이다.3 is a diagram illustrating a coupling relationship between a support plate and a contact pin applied to a socket for a chip package according to the present invention.

도 4는 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용될 수 있는 마감 플레이트를 적용한 경우의 결합관계를 순차적으로 도시한 도면이다.Figure 4 is a view showing a coupling relationship in the case of applying a closing plate that can be applied to the socket for the chip package of the present invention sequentially.

도 5는 도 4와 같이 부분적으로 결합한 상부 및 하부를 더미 지지판을 적용하여 결합하는 경우를 도시한 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating a case where the upper and lower portions partially coupled as shown in FIG. 4 are applied by applying a dummy support plate.

도 6은 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용될 수 있는 마감 플레이트를 적용한 경우의 상부 및 하부 적층체를 더미 지지판을 적용하여 결합하는 다른 경우를 도시한 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating another case in which the upper and lower laminates are coupled to each other by applying a dummy support plate when the finishing plate applicable to the socket for a chip package of the present invention is applied.

도 7은 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용될 수 있는 더미 지지판을 적용한 경우의 지지판 및 콘택트 핀의 결합관계를 도시한 도면이다.7 is a view showing a coupling relationship between the support plate and the contact pin when the dummy support plate that can be applied to the socket for the chip package of the present invention.

도 8은 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용될 수 있는 어댑터를 적용한 경우의 결합관계를 도시한 도면과 이의 부분 확대도이다.8 is a diagram illustrating a coupling relationship when the adapter applicable to the socket for a chip package of the present invention is applied and a partially enlarged view thereof.

도 9는 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용되는 베이스와 콘택트 지지유닛 의 결합관계를 도시한 사시도이다.9 is a perspective view illustrating a coupling relationship between a base and a contact support unit applied to a socket for a chip package according to the present invention.

도 10은 본 발명의 칩 패키지용 소켓에 적용될 수 있는 래치 구동 기구를 개략적으로 도시한 도면이다.10 is a view schematically showing a latch driving mechanism that can be applied to the socket for a chip package of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 베이스(base) 12: 개구부10: base 12: opening

20: 탄성부재 30: 커버(cover)20: elastic member 30: cover

40: 콘택트 지지 유닛(unit) 41: 결합축40: contact support unit 41: coupling shaft

42: 결합구 43: 적층체42: coupler 43: laminate

45: 지지판 45': 더미(dummy) 지지판45: support plate 45 ': dummy support plate

46: 슬롯(slot) 47: 요홈46: slot 47: groove

48: 지지부 49: 마감 플레이트(plate)48: support 49: closing plate

50: 래치(latch) 60: IC 가이드(guide)50: latch 60: IC guide

70: 어댑터(adaptor) 80: 리드 가이드(lead guide)70: adapter 80: lead guide

100: 콘택트 핀(contact pin) 102: 중간부100: contact pin 102: middle part

104: 상부 돌출부 106: 하부 돌출부104: upper protrusion 106: lower protrusion

Claims (4)

중심 개구부를 갖는 베이스; 탄성부재를 사이에 두고 상기 베이스에 상하이동 가능하게 결합하는 커버; 상기 베이스의 개구부에 삽입되고, 복수의 콘택트 핀을 가지는 콘택트 지지유닛; 및 상기 커버의 상하이동에 따라 개방 및 지지 위치로 이동하는 래치를 포함하는 칩 패키지용 소켓에 있어서, A base having a central opening; A cover coupled to the base such that the elastic member is interposed therebetween; A contact support unit inserted into the opening of the base and having a plurality of contact pins; And a latch moving to an open and support position according to the shanghai of the cover. 상기 콘택트 지지유닛은 The contact support unit 상기 칩 패키지의 접속단자의 열 방향 피치에 해당하는 간격으로 슬롯이 형성되고, 횡 방향 피치에 해당하는 두께를 가지고 상단 및 하단에는 상기 콘택트 핀의 양단부가 각각 안착되고 외부로 돌출하도록 하는 요홈을 가지는 판상의 지지판이 복수 개 적층되는 적층체; 및 중간부가 휘어져 상기 슬롯에 삽입되고, 상단 및 하단은 상기 요홈을 통하여 상기 적층체의 상면 및 하면으로부터 외부로 돌출되는 복수의 콘택트 핀을 포함하며,Slots are formed at intervals corresponding to the column pitches of the connection terminals of the chip package, and have a thickness corresponding to the horizontal pitch, and upper and lower ends thereof have recesses for allowing both ends of the contact pins to be respectively seated and protrude outward. A laminated body in which a plurality of plate-shaped support plates are laminated; And a middle portion is bent and inserted into the slot, the top and bottom includes a plurality of contact pins projecting outward from the top and bottom of the laminate through the groove, 상기 요홈 또는 상기 슬롯의 양단에 요홈의 최외곽 폭보다 확대되는 폭을 가지는 지지부를 포함하고,Both ends of the groove or the slot includes a support having a width that is larger than the outermost width of the groove, 상기 콘택트 핀은, 상부에는 상기 지지부 중 상부 지지부의 폭에 대응하고 상기 지지부 중 상부 지지부의 길이보다는 짧은 상부 돌출부를 가지고, 하부에는 상기 지지부 중 하부 지지부의 폭과 길이에 대응하는 하부 돌출부를 가지는 것을 특징으로 하는 칩 패키지용 소켓.The contact pin may have an upper protrusion corresponding to a width of an upper support of the support and shorter than a length of an upper support of the support, and a lower protrusion corresponding to a width and a length of a lower support of the support. A socket for chip package, characterized in that. 삭제delete 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 적층체는 The laminate is 상기 지지판의 적층방향으로 끝단에 마감 플레이트를 더 가지고, 상기 마감 플레이트는 좌우 양단에 결합축을 가지며, 상기 지지판은 상기 결합축에 대응하는 결합구를 좌우 양단에 더 가지는 것을 특징으로 하는 칩 패키지용 소켓.The finishing plate further has a closing plate at the end in the stacking direction of the support plate, the closing plate has a coupling shaft on both left and right ends, the support plate further comprises a coupling hole corresponding to the coupling shaft on both left and right ends . 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 적층체는The laminate is 상기 지지판의 적층방향을 기준으로 중간에 더미 지지판을 더 가지고, 상기 더미 지지판을 기준으로 상기 콘택트 핀의 중간부 배치가 대칭으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 칩 패키지용 소켓.And a dummy support plate in the middle with respect to the stacking direction of the support plate, wherein the middle portion of the contact pin is arranged symmetrically with respect to the dummy support plate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990033161U (en) * 1999-03-11 1999-08-05 이채윤 Connector for probing chip
JP2001324515A (en) * 2000-05-17 2001-11-22 Suncall Corp Contact probe device for inspecting electronic part
KR20030022736A (en) * 2001-09-11 2003-03-17 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 Burn-in test socket
KR20080030174A (en) * 2006-09-29 2008-04-04 센싸타테크놀러지스코리아 주식회사 Batch type contact member assembly for socket, socket, and method of assembling the socket

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990033161U (en) * 1999-03-11 1999-08-05 이채윤 Connector for probing chip
JP2001324515A (en) * 2000-05-17 2001-11-22 Suncall Corp Contact probe device for inspecting electronic part
KR20030022736A (en) * 2001-09-11 2003-03-17 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 Burn-in test socket
KR20080030174A (en) * 2006-09-29 2008-04-04 센싸타테크놀러지스코리아 주식회사 Batch type contact member assembly for socket, socket, and method of assembling the socket

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