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KR101001099B1 - 액정표시소자 패널 검사장치 - Google Patents

액정표시소자 패널 검사장치 Download PDF

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KR101001099B1
KR101001099B1 KR1020080050307A KR20080050307A KR101001099B1 KR 101001099 B1 KR101001099 B1 KR 101001099B1 KR 1020080050307 A KR1020080050307 A KR 1020080050307A KR 20080050307 A KR20080050307 A KR 20080050307A KR 101001099 B1 KR101001099 B1 KR 101001099B1
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slide
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임철환
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(주)코모코엔지니어링
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Abstract

본 발명은 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트가 지지판 상측으로 위치되는 LCD와 근접되는 상태로 고정되어 LCD 패널의 해상도를 정확하게 판별할 수 있도록 함은 물론, 상기 LCD의 검사작업을 자동적으로 수행하여 검사 작업 효율을 가일층 증대시킬 수 있도록 한 LCD 패널 검사 장치에 관한 것이다.
그 기술적인 구성은, 본체부(120) 상측으로 광원(미부호)이 설치되고, 상기 광원의 상측에는 LCD(110)를 지지하는 지지판(140)이 설치되며, 상기 지지판(140)의 상측에는 LCD(110)패널의 불량률을 검사토록 힌지부(150)를 개재하여 글래스 플레이트(160)가 개폐 가능하게 근접 설치되고, 상기 글래스 플레이트(160)의 일측에는 글래스 브라켓트(130)가 설치되어 결합볼트(131)로서 상기 글래스 플레이트(160)를 결합 고정토록 설치되며, 상기 힌지부(150)를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트(160)의 일측으로 검사용 회로기판(PCB)이 설치되는 프로브 유니트(170)가 연설되고, 상기 프로브 유니트(170) 하측으로 힌지부(150)가 설치되어 일측으로 돌출되는 힌지부 슬라이드(180)를 개재하여 지지 브라켓트(190)가 하향 설치되고, 상기 지지 브라켓트(190)의 일측 하단의 지지대(191)에는 스프링(200)이 탄설되어 승하강 베이스부(210) 일측 하단의 지지대(211)과 연결 설치되는 한편, 상기 승하강 베이스부(210) 하측에는 제1 실린더(220)가 연결 설치되어 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)을 개재하여 상기 승하강 베이스부(210) 및 이와 글래스 플레이트(160)를 승강 및 하강토록 하며, 상기 승하강 베이스부(210) 상측에는 프로브 슬라이드 베이스부(240)가 착설되고, 상기 프로브 슬라이드 베이스부(240) 상측에는 수평 가이드 레일(250)을 개재하여 프로부 슬라이드(260)가 좌우측으로 이송토록 제2 실린더(270)가 연결 설치되고, 상기 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)의 축상에는 양측 단부에 베어링(281)이 설치되어 힌지부 슬라이드(180)와 접촉되는 시이소형 바아(280)가 설치되는 것을 요지로 한다.
글래스 브라켓트, 힌지부, 글래스 플레이트, 제1 실린더, 제2 실린더

Description

액정표시소자 패널 검사장치{A Inspection Device of LCD Panel}
본 발명은 액정표시소자((Liquid Crystal Display ; LCD)의 패널 검사를 위하여 힌지부를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트(probe unit)가 승하강 베이스부 하측에 설치되는 제1 실린더를 통하여 손쉽게 승하강할 수 있도록 하며, 이때 상기 승하강 베이스부의 상부 일측에는 제2 실린더가 설치되어, 상기 프로브 유니트와 연설되는 유니트 슬라이더를 좌우 이송 가능토록 설치함으로 인하여, 상기 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트가 지지판 상측으로 위치되는 LCD와 근접되는 상태로 고정되어 LCD 패널의 해상도를 정확하게 판별할 수 있도록 함은 물론, 상기 LCD의 검사작업을 자동적으로 수행하여 검사 작업 효율을 가일층 증대시킬 수 있도록 한 LCD 패널 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정의 복굴절성(birefringence) 또는 광학적 이방성(光學的 異方性)을 응용한 LCD(액정 표시소자)는, 비발광형(non-emissive) 표시 소자로서, 이 와같은 LCD는 외부광의 존재하에서만 관찰이 가능하므로 반드시 조명광(照明光)을 필요로 하게 되며, 이와같은 LCD의 휘도를 검사하기 위하여 광원이 내부에 수납되는 램프 본체부의 상측으로 검사용 회로기판(PCB)을 설치한 후, 상기 검사용 회로기판 상측에 LCD를 올려놓아 힌지부로서 개폐 가능하게 작동하는 누름판을 덮어씌워 눌러주면서, 상기 LCD의 회로 검사작업을 수행하는 것이다.
이와같은 기술과 관련된 종래의 LCD의 회로 검사장치에 있어서는 대한민국 실용신안공보 공고번호 1995-0006925호에 알려져 있다.
그 기술적인 구성은 도 1에 도시한 바와같이, 광원(3)이 수납되는 램프 본체부(2) 상측으로 검사용 회로기판(PCB)을 지지하는 지지판(4)이 설치되고, 상기 지지판(4)의 일측으로 힌지부(5)를 개재하여 LCD(1)를 상기 회로기판에 대해 눌러 접속시키는 누름판(6)을 구비하는 커버(7)가 설치되는 구성으로 이루어진다.
따라서, 상기 검사용 회로기판(PCB)을 지지하는 지지판(4) 상측에 LCD(1)를 올려놓고, 커버(7)의 누름판(6)을 힌지부(5)를 이용하여 상기 LCD(1)에 눌려 회로기판과 접속이 이루어지도록 한 후, 상기 램프 본체부(2) 내부의 광원(3)을 켜주는 동작에 의해, 회로기판(PCB)의 제어 및 구동회로에 의해 LCD(1)에 소정의 검사용 화상을 표시하여, 이 화상을 누름판(7)을 통하여 관찰함으로써, 상기 LCD(1)의 포커스 검사작업을 수행하게 된다.
그러나, 상기 검사용 회로기판(PCB)을 지지하는 지지판(4) 상측에 LCD(1)를 올려놓고, 누름판(6)을 힌지부(5)를 이용하여 상기 LCD(1)에 밀착 고정시, 상기 힌 지부(5)에 의해 개폐되는 누름판(6)이 상기 힌지부의 유격에 의해 LCD(1)에 정확한 상태의 밀착이 어렵게 되며, 이에 따라 상기 LCD(1)상에 누름판(6)의 일단이 벌어지게 되는 유격이 발생하게 되어, LCD(1)의 정확한 휘도 조절작업이 불가능하게 되는 커다란 단점이 있는 것이다.
또한, 상기와 같은 LCD(1)의 회로 검사작업은 작업자가 직접 수작업에 의해 이루어지게 됨으로써, 정확한 측정값을 얻기가 불가능하며, 특히 LCD검사 작업효율이 극히 저하되는 등 많은 문제점이 있었던 것이다.
본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점들을 개선시키기 위하여 안출된 것으로서 그 목적은, LCD의 패널 검사를 위하여 힌지부를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트(probe unit)가 승하강 베이스부 하측에 설치되는 제1 실린더를 통하여 손쉽게 승하강할 수 있도록 하며, 이때 상기 승하강 베이스부의 상부 일측에는 제2 실린더가 설치되어, 상기 프로브 유니트와 연설되는 유니트 슬라이더를 좌우 이송 가능토록 설치함으로써, 상기 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트가 지지판 상측으로 위치되는 LCD와 근접되는 상태로 고정되어 LCD 패널의 해상도를 정확하게 판별할 수 있도록 함은 물론, 상기 LCD의 검사작업을 자동적으로 수행하여 검사 작업 효율을 가일층 증대시킬 수 있는 LCD 패널 검사 장치를 제공 하는 데에 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기술적인 수단으로서 본 발명은, 본체부 상측으로 광원이 설치되고, 상기 광원의 상측에는 LCD를 지지하는 지지판이 설치되며, 상기 지지판의 상측에는 LCD패널의 불량률을 검사토록 힌지부를 개재하여 글래스 플레이트가 개폐 가능하게 설치되는 LCD 패널 검사장치에 있어서,
상기 힌지부를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트의 일측으로 검사용 회로기판(PCB)이 설치되는 프로브 유니트(probe unit)가 연설되고, 상기 프로브 유니트 하측으로 힌지부가 설치되어 일측으로 돌출되는 힌지부 슬라이드를 개재하여 지지 브라켓트가 하향 설치되고, 상기 지지 브라켓트의 일측 하단의 지지대에는 스프링이 탄설되어 승하강 베이스부 일측 하단의 지지대와 연결 설치되고, 상기 승하강 베이스부 하측에는 제1 실린더가 연결 설치되어 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일을 개재하여 상기 승하강 베이스부 및 이와 글래스 플레이트를 승강 및 하강토록 하며, 상기 승하강 베이스부 상측에는 프로브 슬라이드 베이스부가 착설되고, 상기 프로브 슬라이드 베이스부 상측에는 수평 가이드 레일을 개재하여 프로부 슬라이드가 좌우측으로 이송토록 제2 실린더가 연결 설치되는 한편, 상기 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일의 축상에는 양측 단부에 베어링이 설치되어 힌지부 슬라이드와 접촉되는 시이소형 바아가 설치되는 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD의 패널 검사 장치를 마련함에 의한다.
또한, 본 발명은 상기 글래스 플레이트의 일측으로 글래스 브라켓트가 설치 되어 결합볼트로서 상기 글래스 플레이트를 결합 고정토록 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명인 LCD 패널 검사 장치에 의하면, LCD 패널 검사를 위하여 힌지부를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트(probe unit)가 승하강 베이스부 하측에 설치되는 제1 실린더를 통하여 손쉽게 승하강할 수 있도록 하며, 이때 상기 승하강 베이스부의 상부 일측에는 제2 실린더가 설치되어, 상기 프로브 유니트와 연설되는 유니트 슬라이더를 좌우 이송 가능토록 설치함으로써, 상기 글래스 플레이트 및 이와 연설되는 프로브 유니트가 지지판 상측으로 위치되는 LCD와 근접되는 상태로 고정되어 LCD 패널의 해상도를 보다 정확하게 판별할 수 있도록 함은 물론 , 상기 LCD의 검사작업을 자동적으로 수행하여 검사 작업 효율을 가일층 증대시킬 수 있는 우수한 효과가 있다.
본 발명은 특정한 실시 예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구의 범위에 의해 마련되는 본 발명의 정신이나 분야를 벗어나지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것을 당 업계에서 통상의 지식을 가진 자는 용이하게 알 수 있음을 밝혀두고자 한다.
이하, 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 실시 예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 의한 LCD 패널 검사장치의 정면 개략 구성도이고, 도 3은 본 발명인 LCD 패널 검사장치의 동작 직전인 초기상태의 정면 구조도 및 도 4및 도 5는 본 발명인 LCD 패널 검사장치의 승강상태 및 우측 이송상태를 각각 도시한 도면으로써, 본체부(120) 상측으로 광원(미부호)이 설치되고, 상기 광원의 상측에는 LCD(110)를 지지하는 지지판(140)이 설치되며, 상기 지지판(140)의 상측에는 LCD(110)의 불량률을 검사토록 힌지부(150)를 개재하여 글래스 플레이트(160)가 개폐 가능하게 설치된다.
상기 글래스 플레이트(160)의 일측에는 글래스 브라켓트(130)가 설치되어 결합볼트(131)로서 상기 글래스 플레이트(160)를 결합 고정토록 설치되며, 상기 힌지부(150)를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트(160)의 일측으로 검사용 회로기판(PCB)이 설치되는 프로브 유니트(probe unit)(170)가 연설되고, 상기 프로브 유니트(170) 하측으로 힌지부(150)가 설치되어 일측으로 돌출되는 힌지부 슬라이드(180)를 개재하여 지지 브라켓트(190)가 하향 설치되고, 상기 지지 브라켓트(190)의 일측 하단의 지지대(191)에는 스프링(200)이 탄설되어 승하강 베이스부(210) 일측 하단의 지지대(211)와 연결 설치된다.
또한, 상기 승하강 베이스부(210) 하측에는 제1 실린더(220)가 연결 설치되어 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)을 개재하여 상기 승하강 베이스부(210) 및 이와 글래스 플레이트(160)를 승강 및 하강토록 하며, 상기 승하강 베 이스부(210) 상측에는 프로브 슬라이드 베이스부(240)가 착설되고, 상기 프로브 슬라이드 베이스부(240) 상측에는 수평 가이드 레일(250)을 개재하여 프로부 슬라이드(260)가 좌우측으로 이송토록 제2 실린더(270)가 연결 설치된다.
계속해서, 상기 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)의 축상에는 양측 단부에 베어링(281)이 설치되어 힌지부 슬라이드(180)와 접촉되는 시이소형 바아(280)가 설치되는 구성으로 이루어진다.
이와같은 구성으로 이루어진 본 발명의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.
도2 내지 도 5에 도시한 바와같이, 본체부(120) 상측으로 광원(미부호)이 설치되고, 상기 광원의 상측에는 LCD(110)를 지지하는 지지판(140)이 설치되는 상태에서, 상기 지지판(140)의 상측에는 힌지부(150)를 개재하여 글래스 플레이트(160)가 개폐 가능하게 설치되어, 상기 지지판(140) 상측에 위치되는 LCD(110)의 불량률을 검사토록 한다.
이때, 상기 글래스 플레이트(160)의 일측에는 글래스 브라켓트(130)가 설치되어 결합볼트(131)로서 상기 글래스 플레이트(160)를 빠지지 않고 견고하게 결합 고정시키게 되며, 상기 힌지부(150)를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트(160)의 일측에는 검사용 회로기판(PCB)이 설치되는 프로브 유니트(probe unit)(170)가 연설되어, 상기 LCD(110) 패널 검사작업을 수행한다.
또한,상기 프로브 유니트(170) 하측으로 힌지부(150)가 설치되어 일측으로 돌출되는 힌지부 슬라이드(180)를 개재하여 지지 브라켓트(190)가 하향 설치되고, 상기 지지 브라켓트(190)의 일측 하단의 지지대(191)에는 스프링(200)이 탄설되어 승하강 베이스부(210) 일측 하단의 지지대(211)와 연결 설치됨으로써, 상기 글래스 플레이트(160)의 개폐 동작시 상기 스프링(200)을 통하여 탄력적으로 지지하게 된다.
한편, 도 4에 도시한 바와같이, 상기 승하강 베이스부(210) 하측에는 제1 실린더(220)가 연결 설치됨으로써, 상기 제1 실린더(220)의 승하강 작동에 의해 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)을 개재하여 상기 승하강 베이스부(210) 및 이와 글래스 플레이트(160), 프로브 유니트(170)가 승강 및 하강토록 되어, 지지판(140) 상측의 LCD(110)와 글래스 플레이트(160)가 자동적으로 근접되는 상태로 위치되도록 한다.
또한, 도 5에 도시한 바와같이 상기 승하강 베이스부(210) 상측에는 프로브 슬라이드 베이스부(240)가 착설되고, 상기 프로브 슬라이드 베이스부(240) 상측에는 수평 가이드 레일(250)을 개재하여 프로부 슬라이드(260)가 좌우측으로 이송토록 제2 실린더(270)가 연결 설치됨으로서, 상기 제2 실린더(270)의 작동에 의해 프로부 슬라이드(260)가 수평 가이드 레일(250)을 타고 좌우측으로 이송토록 되며, 이때 상기 글래스 플레이트(160) 및 프로브 유니트(170)가 일체로 좌우측으로 이송될 수 있도록 한다.
한편, 상기 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)의 축상에는 양측 단부에 베어링(281)이 설치되어 힌지부 슬라이드(180)와 접촉되는 시이소형 바아(280) 가 설치 됨으로써, 상기 시이소형 바아(280)의 일측 베어링(281)은 상기 개폐작용을 수행하는 힌지부 슬라이드(180)와 접촉하여 이를 지지할 수 있도록 한다.
따라서, LCD의 회로 검사를 위하여 힌지부(150)를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트(160) 및 이와 연설되는 프로브 유니트(170)가 승하강 베이스부(210) 하측에 설치되는 제1 실린더(220)를 통하여 손쉽게 승하강할 수 있도록 하며, 이때 상기 승하강 베이스부(210)의 상부 일측에는 제2 실린더(270)가 설치되어, 상기 프로브 유니트(170)와 연설되는 유니트 슬라이더(260)를 좌우 이송 가능토록 설치함으로써, 상기 글래스 플레이트(160) 및 이와 연설되는 프로브 유니트(170)가 지지판((140) 상측으로 위치되는 LCD(110)와 근접되는 상태로 고정되어 LCD 패널의 해상도를 보다 정확하게 판별할 수 있는 것이다.
도 1은 종래 LCD 패널 검사장치의 정면 개략 구성도.
도 2는 본 발명에 의한 LCD 패널 검사장치의 정면 개략 구성도.
도 3은 본 발명인 LCD 패널 검사장치의 동작 직전인 초기상태의 정면 구조도.
도 4는 본 발명인 LCD 패널 검사장치의 승강 상태를 도시한 도면.
도 5는 본 발명인 LCD 패널 검사장치의 좌우측 이송상태를 도시한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
110...LCD 120...램프 본체부
130...글래스 브라켓트 140...지지판
150...힌지부 160...글래스 플레이트
170...프로브 유니트(probe unit) 180...힌지부 슬라이드
190...지지 브라켓트 200...스프링
210...승하강 베이스부 220...제1 실린더
230...수직 가이드 레일 240...프로브 슬라이드 베이스부
250...수평 가이드 레일 260...프로부 슬라이드
270...제2 실린더 280...시이소형 바아
281...베어링

Claims (2)

  1. 본체부(120) 상측으로 광원(미부호)이 설치되고, 상기 광원의 상측에는 LCD(110)를 지지하는 지지판(140)이 설치되며, 상기 지지판(140)의 상측에는 LCD(110)의 불량률을 검사토록 힌지부(150)를 개재하여 글래스 플레이트(160)가 개폐 가능하게 설치되는 LCD 패널 검사장치에 있어서,
    상기 힌지부(150)를 통해 개폐 가능하게 설치되는 글래스 플레이트(160)의 일측으로 검사용 회로기판(PCB)이 설치되는 프로브 유니트(probe unit)(170)가 연설되고, 상기 프로브 유니트(170) 하측으로 힌지부(150)가 설치되어 일측으로 돌출되는 힌지부 슬라이드(180)를 개재하여 지지 브라켓트(190)가 하향 설치되고, 상기 지지 브라켓트(190)의 일측 하단의 지지대(191)에는 스프링(200)이 탄설되어 승하강 베이스부(210) 일측 하단의 지지대(211)와 연결 설치되고, 상기 승하강 베이스부(210) 하측에는 제1 실린더(220)가 연결 설치되어 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)을 개재하여 상기 승하강 베이스부(210) 및 이와 글래스 플레이트(160)를 승강 및 하강토록 하며, 상기 승하강 베이스부(210) 상측에는 프로브 슬라이드 베이스부(240)가 착설되고, 상기 프로브 슬라이드 베이스부(240) 상측에는 수평 가이드 레일(250)을 개재하여 프로부 슬라이드(260)가 좌우측으로 이송토록 제2 실린더(270)가 연결 설치되며, 상기 수직으로 입설되는 수직 가이드 레일(230)의 축상에는 양측 단부에 베어링(281)이 설치되어 힌지부 슬라이드(180)와 접촉되는 시이소형 바(280)가 설치되는 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD 패널 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 글래스 플레이트(160)의 일측에는 글래스 브라켓트(130)가 설치되어 결합볼트(131)로서 상기 글래스 플레이트(160)를 결합 고정토록 설치되는 것을 특징으로 하는 LCD 패널 검사장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109724512A (zh) * 2017-10-27 2019-05-07 群光电子(苏州)有限公司 一种玻璃层与pcb偏移检验装置
KR102157070B1 (ko) * 2020-03-03 2020-09-17 주식회사 프로이천 오토 프로브장치
CN113798214B (zh) * 2020-12-31 2024-04-30 深圳市合力泰光电有限公司 一种探针式电测机
CN117908286B (zh) * 2024-03-20 2024-05-17 深圳日日佳显示技术有限公司 液晶显示屏检测装置及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100394506B1 (ko) 2001-04-12 2003-08-14 주식회사 디이엔티 엘시디 핸들러의 편광필름 장착장치
KR200412924Y1 (ko) 2006-01-18 2006-04-05 (주)프로쎈 액정디스플레이 검사기용 검사장비 설치프레임 개폐장치
KR100768914B1 (ko) 2006-03-17 2007-10-23 양 전자시스템 주식회사 프로브 검사장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100394506B1 (ko) 2001-04-12 2003-08-14 주식회사 디이엔티 엘시디 핸들러의 편광필름 장착장치
KR200412924Y1 (ko) 2006-01-18 2006-04-05 (주)프로쎈 액정디스플레이 검사기용 검사장비 설치프레임 개폐장치
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