KR101000718B1 - 윤곽화 감소를 위한 방법 및 시스템 - Google Patents
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- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 처리 단계는,상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;상기 평균 화소 값을 미리 정해진 비트 폭으로 환산하는 단계 - 상기 미리 정해진 비트 폭은 상기 식별된 화소 스팬의 각 화소의 상기 비트 폭보다 더 큼 - ; 및상기 식별된 화소 스팬의 중심이나 그 근처의 화소를 상기 환산된 평균 화소 값으로 교체하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 처리 단계는,상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 디더링하는 단계; 및상기 식별된 화소 스팬의 중심이나 그 근처의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 처리 단계는,상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 가장 근접한 정수로 환산하는 단계; 및상기 식별된 화소 스팬의 중심이나 그 근처의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 식별된 화소 스팬은 수평 화소 스팬인, 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 식별된 화소 스팬은 수직 화소 스팬인, 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,상기 식별된 화소 스팬은 다차원 화소 스팬인, 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하는 단계;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하는 단계;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하고,화소 스팬은 상기 수신된 비디오 신호의 매 화소마다 식별되는, 방법.
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- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하기 위한 수단;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하기 위한 수단;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하기 위한 수단; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하기 위한 수단을 포함하고,상기 식별된 화소 스팬은 수평 화소 스팬인, 시스템.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 최대 화소 값과 최소 화소 값을 검출하기 위한 수단;상기 최대 화소 값과 상기 최소 화소 값 간의 차이를 연산하기 위한 수단;상기 연산된 차이가 미리 정해진 임계 값보다 작은 경우 상기 식별된 화소 스팬에 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하기 위한 수단; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하기 위한 수단을 포함하고,상기 식별된 화소 스팬은 수직 화소 스팬인, 시스템.
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- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에 걸쳐 실행중인 화소 값의 합을 연산하는 단계;상기 식별된 화소 스팬의 중심이나 그 근처의 화소에 상기 식별된 화소 스팬의 화소들의 총 수를 곱하는 단계;상기 곱해진 화소와 상기 연산된 화소 값의 합 간의 차이를 연산하는 단계;상기 차이의 절대값을 연산하는 단계;상기 연산된 차이의 절대값이 미리 정해진 범위 내에 있으면 상기 식별된 화소 스팬에 상기 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하는 단계; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하는 단계를 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하는 단계;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;상기 평균 화소 값을 미리 정해진 비트 폭으로 환산하는 단계 - 상기 미리 정해진 비트 폭은 상기 식별된 화소 스팬의 각 화소의 비트 폭보다 더 큼 - ; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 환산된 평균 화소 값으로 교체하는 단계를 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하는 단계;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 디더링하는 단계; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하는 단계를 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하는 단계;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하는 단계;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 가장 근접한 정수로 환산하는 단계; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하는 단계를 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키는 방법에 있어서,각각이 세 개의 화소 성분으로 구성된 복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하는 단계;미리 정해진 수의 화소 성분들을 포함하는 화소 성분 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하는 단계;상기 식별된 화소 성분 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하는 단계;상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 성분 스팬의 화소 성분들을 처리하는 단계; 및상기 세 개의 화소 성분 각각에 대해 상기 식별, 검출 및 처리 단계를 개별적으로 반복하는 단계를 포함하는 방법.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬에 걸쳐 실행중인 화소 값의 합을 연산하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 중심이나 그 근처의 화소에 상기 식별된 화소 스팬의 화소들의 총 수를 곱하기 위한 수단;상기 곱해진 화소와 상기 연산된 화소 값의 합 간의 차이를 연산하기 위한 수단;상기 차이의 절대값을 연산하기 위한 수단;상기 연산된 차이의 절대값이 미리 정해진 범위 내에 있는 경우 상기 식별된 화소 스팬에 윤곽화 아티팩트들이 존재한다고 결정하기 위한 수단; 및상기 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 상기 화소들을 처리하기 위한 수단을 포함하는 시스템.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하기 위한 수단;상기 평균 화소 값을 미리 정해진 비트 폭으로 환산하기 위한 수단 - 상기 미리 정해진 비트 폭은 상기 식별된 화소 스팬의 각 화소의 비트 폭보다 더 큼 - ; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 환산된 평균 화소 값으로 교체하기 위한 수단을 포함하는 시스템.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하기 위한 수단;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 디더링하기 위한 수단; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하기 위한 수단을 포함하는 시스템.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;미리 정해진 수의 화소들을 포함하는 화소 스팬을 상기 수신된 비디오 신호에서 식별하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하기 위한 수단;상기 식별된 화소 스팬의 평균 화소 값을 연산하기 위한 수단;교체 화소 값을 생성하도록 상기 평균 화소 값을 가장 근접한 정수로 환산하기 위한 수단; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 상기 식별된 화소 스팬의 화소를 상기 교체 화소 값으로 교체하기 위한 수단을 포함하는 시스템.
- 화상 표시에서의 윤곽화 아티팩트를 감소시키기 위한 시스템에 있어서,각각이 세 개의 화소 성분으로 구성된 복수의 화소를 포함하는 비디오 신호를 수신하기 위한 수단;상기 수신된 비디오 신호의 각 화소의 상기 세 개의 화소 성분 각각에 대해 화소 성분 스팬을 개별적으로 식별하기 위한 수단 - 상기 화소 성분 스팬은 미리 정해진 수의 화소 성분들을 포함함 - ;상기 개별적으로 식별된 화소 성분 스팬에서의 윤곽화 아티팩트들의 존재를 검출하기 위한 수단; 및상기 검출된 윤곽화 아티팩트들이 감소되도록 각각 개별적으로 식별된 화소 성분 스팬의 화소 성분을 처리하기 위한 수단을 포함하는 시스템.
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Patent event date: 20100909 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PB07012S01D Patent event date: 20100830 Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial Patent event code: PB07011S01I |
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