KR100987323B1 - Cleaner for wafer container - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 웨이퍼 보관용기 세정장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 웨이퍼 보관용기를 보다 빠르고 편리하며 효율좋게 세정할 수 있는 웨이퍼 보관용기 세정장치에 관한 것이다. The present invention relates to a wafer storage container cleaning apparatus, and more particularly, to a wafer storage container cleaning apparatus capable of cleaning the wafer storage container more quickly, conveniently and efficiently.
반도체 소자를 제조하기 위한 웨이퍼(Wafer)는, 고정밀도의 물품이므로, 보관시 또는 운반시 외부의 오염물질과 충격으로부터 오염되거나 손상되지 않도록 주의를 요한다. Since a wafer for manufacturing a semiconductor device is a high-precision article, care must be taken not to be contaminated or damaged from external contaminants and impacts during storage or transportation.
따라서, 웨이퍼를 보관 및 운반할 때에는 별도의 보관용기(FOUP:Front Opening Unified Pod) 내에 수납시키는 것이 보통이다. Therefore, when storing and transporting the wafer, it is common to store the wafer in a separate storage container (FOUP: Front Opening Unified Pod).
웨이퍼를 보관 및 운반하기 위한 보관용기(이하, "웨이퍼 보관용기"라 칭함)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 용기본체(1)와 용기커버(3)로 구성된다.A storage container (hereinafter referred to as "wafer storage container") for storing and transporting a wafer is composed of a
용기본체(1)는, 수납실(1a)을 구비하고 있으며, 이 수납실(1a)에는 다수의 웨이퍼(W)가 간격을 두고 수납된다. The
용기커버(3)는, 수납실(1a)의 개방부(1b)를 덮어서 밀폐한다. 따라서, 수납실(1a)로 유입되는 이물질을 차단한다. 이로써, 수납실(1a)에 수납된 웨이퍼(W)들을 보호한다. The
한편, 이러한 웨이퍼 보관용기는, 고정밀도의 웨이퍼를 보관하므로, 높은 청정도를 유지해야 한다. On the other hand, since such a wafer storage container stores wafers of high precision, it is necessary to maintain high cleanliness.
웨이퍼 보관용기를 높은 청정도로 유지하기 위해서는, 웨이퍼 보관용기를 주기적으로 세정해주어야 한다. 이러한 웨이퍼 보관용기의 세정은, 별도의 세정장치를 통해 시행된다.In order to maintain the wafer container with high cleanliness, the wafer container must be periodically cleaned. The cleaning of such a wafer storage container is performed through a separate cleaning device.
웨이퍼 보관용기 세정장치의 일례로서, 미국특허 제6,797,076호가 있다. 이 기술은, 인클로저와, 인클로저의 내부에 회전가능하게 설치되는 로터와, 웨이퍼 보관용기를 지지할 수 있도록 로터의 둘레에 설치되는 복수의 용기홀더 및, 용기홀더에 지지된 웨이퍼 보관용기에 세정액을 분사하는 스프레이 노즐을 포함한다.As an example of a wafer storage container cleaning apparatus, there is US Patent No. 6,797,076. This technique uses a cleaning liquid in an enclosure, a rotor rotatably installed inside the enclosure, a plurality of container holders arranged around the rotor to support the wafer storage container, and a wafer storage container supported by the container holder. And a spray nozzle for spraying.
이러한 세정장치는, 세정이 필요한 웨이퍼 보관용기를 용기홀더에 지지시킨 다음, 장치를 온(ON)시킨다. 그러면, 스프레이 노즐로부터 세정액이 분사되면서 웨이퍼 보관용기의 내,외면을 세정한다. This cleaning apparatus supports the wafer storage container that needs cleaning by the container holder, and then turns the apparatus ON. Then, the cleaning liquid is injected from the spray nozzle to clean the inner and outer surfaces of the wafer storage container.
이때, 웨이퍼 보관용기를 지지하고 있던 로터가 회전하게 되는데, 이렇게 로터가 회전하면, 로터와 함께 회전하는 웨이퍼 보관용기의 내,외면에는 스프레이 노즐의 세정액이 골고루 분사된다. 따라서, 웨이퍼 보관용기의 세정효율이 높아진다. At this time, the rotor supporting the wafer storage container is rotated. When the rotor rotates in this way, the cleaning liquid of the spray nozzle is evenly sprayed on the inner and outer surfaces of the wafer storage container which rotates together with the rotor. Therefore, the cleaning efficiency of a wafer storage container becomes high.
그런데, 이러한 종래의 세정장치는, 웨이퍼 보관용기를 용기홀더에 지지시키기가 매우 불편하다는 단점이 있으며, 이러한 단점 때문에 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 지연되고, 이로써, 웨이퍼 보관용기의 세정효율이 현저하게 떨어진다는 문제점이 지적되고 있다.However, such a conventional cleaning apparatus has a disadvantage in that it is very inconvenient to support the wafer storage container in the container holder. Due to this disadvantage, the cleaning time of the wafer storage container is delayed, whereby the cleaning efficiency of the wafer storage container is remarkably increased. The problem of falling is pointed out.
즉, 종래의 세정장치는, 웨이퍼 보관용기를 용기홀더에 지지시키기 위해서, 웨이퍼 보관용기의 상단부분을 어퍼후크에 걸어서 지지시킨 다음, 다시 웨이퍼 보관용기의 하단부분을 로워후크에 일일이 걸어서 지지시켜야 한다는 번거로움이 있다. That is, in the conventional cleaning apparatus, in order to support the wafer storage container to the container holder, the upper part of the wafer storage container should be supported by hanging on the upper hook and then the lower part of the wafer storage container should be supported on the lower hook by hand. There is a hassle.
그리고 이러한 번거로움 때문에 웨이퍼 보관용기를 지지하는데 많은 시간이 소요된다는 단점이 있으며, 이러한 단점 때문에 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 지연된다는 문제점이 있다. 특히, 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 지연되므로, 웨이퍼 보관용기의 세정효율이 현저하게 떨어진다는 결점이 지적되고 있다.In addition, there is a disadvantage that it takes a lot of time to support the wafer storage container because of this hassle, there is a problem that the cleaning time of the wafer storage container is delayed due to this disadvantage. In particular, since the cleaning time of the wafer storage container is delayed, it is pointed out that the cleaning efficiency of the wafer storage container is significantly reduced.
이 밖에도, 종래의 세정장치는, 웨이퍼 보관용기의 용기본체만 세정할 수 있는 구조이므로, 용기커버를 별도로 세정해야 한다는 단점이 있으며, 이러한 단점 때문에 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 더욱 지연된다는 문제점이 있다. In addition, the conventional cleaning apparatus has a disadvantage in that the container cover must be separately cleaned because the container body of the wafer storage container can be cleaned, and the cleaning time of the wafer storage container is further delayed due to this disadvantage. .
특히, 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 더욱 지연되므로, 웨이퍼 보관용기의 세정효율이 더욱 저하된다는 결점이 지적되고 있다.In particular, since the cleaning time of the wafer storage container is further delayed, it is pointed out that the cleaning efficiency of the wafer storage container is further lowered.
또한, 종래의 세정장치는, 용기본체의 외부세정과 내부세정을 동시에 수행할 수 없다는 단점이 있으며, 이러한 단점 때문에 용기본체의 외부세정 후, 내부세정을 별도로 수행해야 한다는 문제점이 있다. 그 결과, 웨이퍼 보관용기의 세정시간이 더욱 지연된다는 문제점이 있다. In addition, the conventional cleaning apparatus has a disadvantage in that the external cleaning and the internal cleaning of the container body can not be performed at the same time, and because of this disadvantage, there is a problem that the internal cleaning must be performed separately after the external cleaning of the container body. As a result, there is a problem that the cleaning time of the wafer storage container is further delayed.
본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 그 목적은, 웨이퍼 보관용기를 보다 편리하고 빠르게 지지시킬 수 있게 구성함으로써, 웨이퍼 보관용기를 보다 편리하고 빠르게 세정할 수 있도록 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치를 제공하는 데 있다.The present invention has been made to solve the conventional problems as described above, the object of the wafer is to configure the wafer storage container to be more convenient and faster, so that the wafer can be more convenient and faster cleaning wafer storage container To provide a storage container cleaning apparatus.
본 발명의 다른 목적은, 웨이퍼 보관용기를 편리하고 빠르게 세정할 수 있도록 구성함으로써, 웨이퍼 보관용기의 세정시간을 단축시킬 수 있고, 이로써, 웨이퍼 보관용기의 세정 효율을 대폭적으로 향상시킬 수 있는 웨이퍼 보관용기 세정장치를 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to configure the wafer storage container so that it can be cleaned conveniently and quickly, thereby reducing the cleaning time of the wafer storage container, and thereby, the wafer storage that can greatly improve the cleaning efficiency of the wafer storage container. It is to provide a container cleaning apparatus.
본 발명의 또 다른 목적은, 웨이퍼 보관용기의 용기커버도 동시에 세척할 수 있는 웨이퍼 보관용기 세정장치를 제공하는 데 있다.Still another object of the present invention is to provide a wafer container cleaning device capable of simultaneously cleaning a container cover of a wafer container.
본 발명의 또 다른 목적은, 웨이퍼 보관용기의 용기커버도 동시에 세척할 수 있도록 구성함으로써, 웨이퍼 보관용기의 세정효율을 더욱 향상시킬 수 있는 웨이퍼 보관용기 세정장치를 제공하는 데 있다. Still another object of the present invention is to provide a wafer storage container cleaning apparatus which can further improve the cleaning efficiency of the wafer storage container by being configured to simultaneously wash the container cover of the wafer storage container.
본 발명의 또 다른 목적은, 용기본체의 외부 및 내부세정을 동시에 수행할 수 있는 웨이퍼 보관용기 세정장치를 제공하는 데 있다. Still another object of the present invention is to provide a wafer storage container cleaning apparatus capable of simultaneously performing external and internal cleaning of the container body.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 웨이퍼 보관용기 세정장치는, 웨이퍼 보관용기의 용기본체를 세정하기 위한 용기본체 세정유닛을 포함하며, 상기 용기본체 세정유닛은, 회전가능한 로터와, 상기 용기본체를 지지시킬 수 있도록 상기 로터에 설치되는 다수의 용기홀더와, 상기 용기홀더에 지지된 상기 용기본체에 세정액을 분사하는 세정액 분사노즐을 포함하는 웨이퍼 보관용기 세정장치에 있어서, 상기 용기홀더는, 상기 용기본체를 엎어서 지지시킬 수 있도록 상기 로터에 설치되며, 상기 용기본체의 트인 개방부를 하방의 준비위치에서 상기 로터의 외측방향의 세정위치를 향해 회전시킬 수 있도록 회전가능하게 설치되는 지지트레이와; 상기 로터의 외측방향을 향해 회전된 상기 용기본체를 위치 고정시킬 수 있도록, 상기 지지트레이를 록킹시키는 록킹수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.Wafer storage container cleaning apparatus of the present invention for achieving this object includes a container body cleaning unit for cleaning the container body of the wafer storage container, the container body cleaning unit, a rotatable rotor and the container body A wafer storage container cleaning apparatus comprising: a plurality of container holders installed in the rotor so as to be supported, and a cleaning liquid injection nozzle for injecting a cleaning liquid into the container body supported by the container holder, wherein the container holder is the container. A support tray installed on the rotor so as to support the main body and supporting the main body, the support tray being rotatably installed to rotate the open opening of the container body toward a cleaning position in the outward direction of the rotor from a lower ready position; And locking means for locking the support tray so as to fix the container body rotated toward the outer direction of the rotor.
바람직하게는, 상기 용기본체의 내부에 세정액을 분사할 수 있도록, 상기 지지트레이에 설치되는 세정액 분사노즐과; 상기 용기본체의 내부에 에어를 분사할 수 있도록, 상기 지지트레이에 설치되는 에어 분사노즐을 포함하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the cleaning liquid injection nozzle is installed in the support tray to spray the cleaning liquid into the container body; It characterized in that it comprises an air injection nozzle installed in the support tray to inject air into the container body.
본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치에 의하면, 용기본체를 용기홀더에 엎어서 지지시킨 다음, 용기홀더를 회전시키기만 하면 용기본체가 지지되는 구조이므로, 용기본체를 지지하기가 매우 쉽고 빠르다. 따라서, 웨이퍼 보관용기를 보다 편리하고 빠르게 세정할 수 있는 효과가 있다. According to the wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention, since the container body is supported by simply supporting the container body on the container holder and then rotating the container holder, it is very easy and fast to support the container body. Therefore, the wafer storage container can be cleaned more conveniently and quickly.
또한, 웨이퍼 보관용기를 편리하고 빠르게 세정할 수 있으므로, 웨이퍼 보관용기의 세정시간을 단축시킬 수 있고, 이로써, 웨이퍼 보관용기의 세정 효율을 대폭적으로 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, since the wafer storage container can be cleaned conveniently and quickly, the cleaning time of the wafer storage container can be shortened, whereby the cleaning efficiency of the wafer storage container can be greatly improved.
또한, 웨이퍼 보관용기의 용기커버도 동시에 세척할 수 있는 구조이므로, 용기커버를 별도로 세정하지 않아도 되는 효과가 있다. In addition, the container cover of the wafer storage container can also be cleaned at the same time, there is an effect that does not need to separately clean the container cover.
또한, 용기커버를 별도로 세정하지 않아도 되므로, 웨이퍼 보관용기의 세정효율을 더욱 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, since the container cover does not need to be cleaned separately, there is an effect of further improving the cleaning efficiency of the wafer storage container.
또한, 용기본체의 외부 및 내부세정을 동시에 수행할 수 있다. 따라서, 보다 빠른 시간내에 웨이퍼 보관용기를 세정할 수 있는 효과가 있다.In addition, the external and internal cleaning of the container body can be performed at the same time. Therefore, there is an effect that the wafer storage container can be cleaned in a faster time.
도 1은 웨이퍼 보관용기의 구성을 나타내는 사시도,
도 2는 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치의 외관을 나타내는 사시도,
도 3은 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치를 나타내는 평단면도,
도 4는 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치를 나타내는 정단면도,
도 5는 본 발명의 웨이퍼 보관용기 세정장치를 구성하는 로터와 용기홀더 및 커버홀더를 상세하게 나타내는 사시도,
도 6은 본 발명의 세정장치를 구성하는 용기홀더를 확대하여 나타내는 사시도,
도 7은 도 6의 측단면도로서, 용기홀더에 웨이퍼 보관용기의 용기본체가 지지되기 전의 모습을 나타내는 도면,
도 8은 용기홀더에 웨이퍼 보관용기의 용기본체가 지지된 모습을 나타내는 도면,
도 9는 용기본체가 지지된 용기홀더를 상부로 회전시킨 상태를 나타내는 도면,
도 10은 용기홀더를 록킹시키기 위한 록킹수단을 나타내는 단면도,
도 11은 본 발명의 세정장치를 구성하는 커버홀더를 확대하여 나타내는 정면도,
도 12는 도 11의 측단면도,
도 13은 본 발명의 세정장치를 구성하는 램프유닛과 건조가스 분사유닛을 나타내는 단면도,
도 14는 도 13의 평단면도이다.1 is a perspective view showing the configuration of a wafer storage container;
Figure 2 is a perspective view showing the appearance of the wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention,
3 is a plan sectional view showing a wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention;
Figure 4 is a front sectional view showing a wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention,
5 is a perspective view showing in detail the rotor, the container holder and the cover holder constituting the wafer storage container cleaning apparatus of the present invention;
6 is an enlarged perspective view showing a container holder constituting the cleaning device of the present invention;
FIG. 7 is a side cross-sectional view of FIG. 6, illustrating a state before the container body of the wafer storage container is supported by the container holder;
8 is a view showing a state in which a container body of a wafer storage container is supported by a container holder;
9 is a view showing a state in which a container holder supported by the container body rotated upwards;
10 is a cross-sectional view showing a locking means for locking the container holder;
11 is an enlarged front view of a cover holder constituting the cleaning device of the present invention;
12 is a side cross-sectional view of FIG.
13 is a cross-sectional view showing a lamp unit and a dry gas injection unit constituting the cleaning device of the present invention;
14 is a plan sectional view of FIG.
이하, 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of the wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
먼저, 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치의 특징부를 살펴보기에 앞서, 도 2 내지 도 5를 참조하여 웨이퍼 보관용기 세정장치의 구성에 대해 간략하게 살펴본다.First, before looking at the features of the wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention, a brief description of the configuration of the wafer storage container cleaning apparatus with reference to FIGS.
웨이퍼 보관용기 세정장치는, 도 2에 도시된 바와 같이, 케이스(10)를 구비하며, 이 케이스(10)의 일측부분에는 콘트롤러(12)가 설치된다. As shown in FIG. 2, the wafer storage container cleaning apparatus includes a
콘트롤러(12)는, 장치를 제어하기 위한 것으로, 제어보드(도시하지 않음)와, 다수의 작동버튼(12a)과, 모니터(12b)를 갖추고 있다.The
그리고 케이스(10)는, 도 3 내지 5에 도시된 바와 같이, 용기본체 세정챔버(14)를 갖추고 있다. And the
용기본체 세정챔버(14)는, 도어(14a)에 의해 개폐되며, 그 내부에는 용기본체 세정유닛(20)이 설치된다. The container
용기본체 세정유닛(20)은, 로터(22)를 포함한다. 로터(22)는, 수직축선을 중심으로 회전가능하게 설치되며, 그 둘레에는 웨이퍼 보관용기의 용기본체(1)를 지지시킬 수 있는 다수의 용기홀더(24)들이 설치된다.The container
그리고 용기본체 세정유닛(20)은, 다수의 세정액 분사노즐(26)과 다수의 램프유닛(28)을 구비한다.The container
세정액 분사노즐(26)은, 용기홀더(24)에 근접하게 배열되며, 이렇게 배열된 세정액 분사노즐(26)은 용기홀더(24)에 지지된 웨이퍼 보관용기의 용기본체(1)(이하, "용기본체"라 약칭함)에 세정액을 분사한다. 따라서, 용기본체(1)를 세정한다.The cleaning
램프유닛(28)은, 로터(22)의 주변 둘레에 설치된다. 특히, 세정챔버(14)의 네 모서리부분에 설치되며, 세정챔버(14)의 내부에 적외선을 조사한다. 따라서, 용기본체(1)의 건조시 세정챔버(14)의 온도를 상승시키고 용기본체(1)를 건조하기 위한 가스의 분사온도를 상승시킨다. 이로써, 용기본체(1)의 건조효율을 높인다.The
램프유닛(28)의 상세한 구성은, 용기커버 세정챔버(16)에 설치되는 램프유닛(60)과 동일하다. 따라서, 그에 대한 상세한 구성은, 후술하는 용기커버 세정챔버(16)의 램프유닛(60)을 통해 알아보기로 한다.The detailed configuration of the
다음으로, 본 발명에 따른 웨이퍼 보관용기 세정장치의 특징부를 도 2 내지 도 12를 참조하여 상세하게 살펴본다.Next, the features of the wafer storage container cleaning apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 to 12.
도 6 내지 도 9를 참조하면, 본 발명의 세정장치는, 용기홀더(24)를 구비하되, 상기 용기홀더(24)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 로터(22)에 설치되는 양쪽의 지지아암(29)을 구비한다. 6 to 9, the cleaning apparatus of the present invention includes a
양쪽의 지지아암(29)은, 간격을 두고 설치되며, 이들 사이에는 지지트레이(30)가 회전가능하게 설치된다. Both support
지지트레이(30)는, 용기본체(1)를 받쳐서 지지하기 위한 것으로, 바닥면부분(30a)이 트여있으며, 트인 바닥면부분(30a)에는 용기본체(1)를 엎어서 지지시킬 수 있는 한 쌍의 하측지지바(32)를 구비한다. The
그리고 지지트레이(30)는, 양쪽의 사이드 플레이트(34)들을 구비한다. 양쪽의 사이드 플레이트(34)들은, 용기본체(1)의 양쪽 측면을 지지하도록 구성된다.And the
한편, 이러한 양쪽의 사이드 플레이트(34)들은, 지지아암(29)에 각각 회전가능하게 설치된다. 이렇게 설치된 사이드 플레이트(34)들은, 지지트레이(30)를 회전가능하게 지지시킨다. On the other hand, both
특히, 도 8과 도 9에 도시된 바와 같이, 트인 바닥면부분(30a)이 하방을 향하는 대략 수평 상태의 "준비위치"(A)로부터, 트인 바닥면부분(30a)이 로터(22)의 외측방향을 향하는 대략 수직 상태의 "세정위치"(B)로 회전운동할 수 있게 지지시킨다. In particular, as shown in Figs. 8 and 9, from the "preparation position" A of the substantially flat state where the open
따라서, 지지트레이(30)에 엎어진 상태로 지지된 용기본체(1)를 로터(22)의 외측방향을 향해 수직하게 세울 수 있게 한다. 그 결과, 용기본체(1)의 내부가 로터(22)의 외측방향을 향할 수 있게 한다.Therefore, the
이렇게, 용기본체(1)의 내부가 로터(22)의 외측방향을 향하게 하는 이유는, 용기본체(1)의 세정 및 건조효율을 높이기 위함이다. Thus, the reason for the interior of the
특히, 로터(22)의 회전시에 발생하는 원심력이 용기본체(1)의 내부에 분사된 세정액에 작용할 수 있게 하기 위함이며, 이로써, 용기본체(1)의 내부에 분사된 세정액이 효율좋게 배출될 수 있게 한다.In particular, the centrifugal force generated during the rotation of the
한편, "준비위치"(A)로 회전된 지지트레이(30)는, 지면에 대해 -10°∼ 0°범위의 각도를 이루는 것이 바람직하다. 따라서, "준비위치"(A)에서 상기 용기본체(1)를 지면에 대해 -10°∼ 0°각도로 지지시키는 것이 바람직하다. On the other hand, the
더욱 바람직하게는, 지면에 대해 -10°각도로 이루도록 구성되는 것이 좋다. 따라서, 용기본체(1)가 하방을 향해 기울어지게 하는 것이 좋다. 이는, 세정후, 용기본체(1)의 내부에 남아 있는 수분이 자연적으로 배수될 수 있게 하기 위함이다.More preferably, it is preferably configured to be -10 degrees to the ground. Therefore, it is good to make the container
그리고 "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)는, "준비위치"(A)에 대해 90°이내의 각도로 회전되는 것이 바람직하다. 따라서, "세정위치"(B)에서 상기 용기본체(1)를 지면에 대해 90°이내의 각도로 지지시키는 것이 바람직하다. The
더욱 바람직하게는, "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)는, 지면에 대해 80°각도로 회전되는 것이 바람직하다. 따라서, 도 9에 도시된 바와 같이, "세정위치"(B)에서 상기 용기본체(1)를 지면에 대해 80°각도로 지지시키고, 이로써, 용기본체(1)가 하방을 향해 기울어지게 하는 것이 좋다. More preferably, the
이렇게 구성한 이유는, 세정시 또는 건조시에 용기본체(1)의 내부에 있는 수분이 자연스럽게 배수될 수 있도록 하기 위함이다. The reason for this configuration is to allow the water inside the
그리고 용기본체(1)는, 지지트레이(30)에 지지될 경우에, 그 무게중심이 지지트레이(30)의 회전중심축(31)에 정렬되도록 구성되는 것이 바람직하다.And when the
이는, 용기본체(1)의 무게중심이, 지지트레이(30)의 회전중심축(31)과 일치되어야만 지지트레이(30)가 원활하게 회전될 수 있기 때문이다.This is because the
다시, 도 6 내지 도 9를 참조하면, 어느 한 쪽의 지지아암(29)에는, "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)를 위치 고정시키기 위한 록킹수단(36)이 설치된다.6 to 9 again, either of the
록킹수단(36)은, 도 10에 도시된 바와 같이, 지지트레이(30)의 사이드 플레이트(34)에 형성되어 있는 록킹홀(36a)과, 록킹홀(36a)에 끼워져 록킹될 수 있도록 지지아암(29)에 설치되는 록킹핀(36b) 및, 사용자의 조작에 따라 상기 록킹핀(36b)을 록킹홀(36a)에 결합 또는 분리시킬 수 있는 인덱스 플런저(Index Plungers)(38)를 포함한다.As shown in FIG. 10, the locking means 36 includes a
록킹핀(36b)은, "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)의 록킹홀(36a)에 끼워져 결합된다. 따라서, "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)를 록킹시킨다. 이로써, 도 9에서와 같이, "세정위치"(B)로 회전된 지지트레이(30)를 위치 고정시킨다. 그 결과, 지지트레이(30)에 지지된 용기본체(1)가 외측방향을 향한 채, 대략 수직한 상태를 유지할 수 있게 한다.The
인덱스 플런저(38)는, 도 10에서와 같이, 레버타입으로서, 평소에는 상기 록킹핀(36b)을 록킹홀(36a)에 끼워지는 방향으로 탄성가압한다. 따라서, 지지트레이(30)가 "세정위치"(B)로 회전하면 자동으로 록킹핀(36b)이 지지트레이(30)의 록킹홀(36a)에 끼워져 록킹될 수 있게 한다. The
반대로, 사용자가 일측의 조작레버(38a)를 회전 조작하면, 상기 록킹핀(36b)을 록킹홀(36a)로부터 이탈되는 방향으로 이동시킨다. 따라서, 록킹홀(36a)에 록킹된 록킹핀(36b)을 해제할 수 있게 한다. On the contrary, when the user rotates the
그 결과, 사용자로 하여금 "세정위치"(B)에서 록킹된 지지트레이(30)를 해제할 수 있게 한다. 이로써, "세정위치"(B)의 지지트레이(30)를 "준비위치"(A)로 복귀시킬 수 있게 한다. 인덱스 플런저(38)는 이미 공지된 기술이므로 그에 대한 구성 및 작동 설명은 생략하기로 한다.As a result, the user can release the
다시, 도 6 내지 도 9를 참조하면, 지지트레이(30)에는, 후측지지바(39)가 설치된다.6 to 9, the
후측지지바(39)는, 사이드 플레이트(34)들의 후측을 가로지르며 설치되는 것으로, 하측지지바(32)에 지지된 용기본체(1)의 후측면을 지지하도록 구성된다. 따라서, 도 9에서와 같이, 지지트레이(30)가 "세정위치"(B)로 회전되었을 경우, 수직하게 세워진 용기본체(1)의 하측부분을 받쳐서 지지하도록 구성된다. 이로써, 수직하게 세워진 용기본체(1)가 안정적인 상태를 유지할 수 있게 한다.The
이 밖에도, 지지트레이(30)에는, 용기본체(1)의 전면부분을 지지하기 위한 복수의 전면패드(40)와, 용기본체(1)의 양쪽 측면부분을 지지하기 위한 다수의 측면패드(42)가 설치된다.In addition, the
전면패드(40)는, 사이드 플레이트(34)로부터 연장되는 지지브라켓(34a)에 고정되며, 용기본체(1)의 전면부분을 직접적으로 지지하도록 구성된다.The
측면패드(42)는, 사이드 플레이트(34)에 고정되며, 용기본체(1)의 양쪽 측면부분을 직접적으로 지지하도록 구성된다.The
이러한 전면 및 측면패드(40, 42)들은, 용기본체(1)의 전면 및 양쪽 측면부분을 직접적으로 지지함으로써, 용기본체(1)의 유동을 방지한다. 특히, 지지트레이(30)가 "세정위치"(B)로 회전되었을 경우, 수직하게 세워진 용기본체(1)의 둘레부분을 지지한다. 따라서, 수직하게 세워진 용기본체(1)가 안정적인 자세를 유지할 수 있게 한다.These front and side pads (40, 42), by directly supporting the front and both side portions of the
다시, 도 6 내지 도 9를 참조하면, 지지트레이(30)에는, 용기본체(1)의 내부에 세정액을 분사할 수 있는 세정액 분사노즐(44)과, 용기본체(1)의 필터(1c)부분에 에어를 분사할 수 있는 에어 분사노즐(46)을 더 구비한다.6 to 9, the
세정액 분사노즐(44)은, 지지트레이(30)의 트인 바닥면부분(30a)에 설치되는 반구형 노즐로서, 다수의 노즐구멍(45)을 갖추고 있다. The cleaning
이렇게 설치된 세정액 분사노즐(44)은, 용기본체(1)를 지지트레이(30)에 엎어서 지지시켰을 경우, 용기본체(1)의 내부에 수용된다. 따라서, 유체펌프(45a)로부터 공급되는 세정액을 용기본체(1)의 내면 부분에 분사한다. 이로써, 용기본체(1)의 내면을 효율좋게 세정한다. The cleaning
한편, 지지트레이(30)의 트인 바닥면부분(30a)에는, 세정액 분사노즐(44)을 설치하기 위한 브라켓(44a)이 조립되어 있다.On the other hand, a
그리고 세정액 분사노즐(44)의 노즐구멍(45)들은, 용기본체(1)의 내부를 향해 방사상으로 형성된다. 따라서, 용기본체(1)의 내부에 세정액을 균일하게 분사한다.The nozzle holes 45 of the cleaning
그리고 세정액 분사노즐(44)은, 경우에 따라 불활성 가스도 분사할 수 있다. 이를 위해, 세정액 분사노즐(44)은, 불활성 가스 공급수단(45b), 예를 들면, 불활성 가스 공급탱크와 연결된다.And the cleaning
이렇게, 불활성 가스의 분사도 가능한 세정액 분사노즐(44)은, 용기본체(1)의 건조시에 불활성 가스를 분사한다. 따라서, 용기본체(1)의 건조효율을 높인다.Thus, the cleaning
한편, 불활성 가스는 별도의 히터(도시하지 않음)에 의해 소정의 온도로 가열되는 것이 바람직하다. 이는, 불활성 가스의 온도를 높여주기 위함이며, 이는 세정액 분사노즐(44)의 내부 유로에 존재하는 미세수분을 건조하기 위함이다. On the other hand, the inert gas is preferably heated to a predetermined temperature by a separate heater (not shown). This is to increase the temperature of the inert gas, which is to dry the fine moisture present in the internal flow path of the cleaning
에어 분사노즐(46)은, 지지트레이(30)의 트인 바닥면부분(30a)에 설치된다. 특히, 트인 바닥면부분(30a)의 하측지지바(32)에 고정적으로 설치된다. The
이렇게 설치된 에어 분사노즐(46)은, 용기본체(1)를 지지트레이(30)에 엎어서 지지시켰을 경우, 용기본체(1)의 내부에 수용된다. The
특히, 용기본체(1)의 내부에서 외부방향을 향해 설치되며, 이렇게 설치된 에어 분사노즐(46)은, 용기본체(1)의 필터(Filter)(도시하지 않음) 부분에 대응된다. 따라서, 에어펌프(도시하지 않음)로부터 공급되는 에어를 용기본체(1)의 필터 부분에 분사한다. 이로써, 용기본체(1)의 필터를 효율좋게 건조한다.In particular, the
그리고 도 3 내지 도 5 및, 도 11과 도 12를 참조하면, 본 발명의 세정장치는, 케이스(10)의 내부에 형성되는 용기커버 세정챔버(16)를 더 구비한다.3 to 5 and FIGS. 11 and 12, the cleaning apparatus of the present invention further includes a container
용기커버 세정챔버(16)는, 도어(16a)에 의해 개폐되며, 그 내부에는 용기커버 세정유닛(50)이 설치된다.The container
용기커버 세정유닛(50)은, 로터(52)를 구비한다. 로터(52)는, 수직축선을 중심으로 회전가능하게 설치되며, 그 일측부분에는 웨이퍼 보관용기의 용기커버(3)(이하, "용기커버"라 약칭함)를 다단으로 지지시킬 수 있는 다수의 커버홀더(54)들이 다단으로 설치되어 있다.The container
커버홀더(54)들은, 도 11과 도 12에 도시된 바와 같이, 한 쌍의 서포트 레일(56)로 구성되며, 이들 서포트 레일(56)은, 용기커버(3)의 양쪽부분을 받쳐서 지지할 수 있도록, 간격을 두고 마주보며 설치된다.The
여기서, 커버홀더(54)들은, 용기홀더(24)들과 동일한 개수로 구성된다. 특히, 용기홀더(24)들과 1:1로 대응되도록 구성된다. 이렇게 구성한 이유는, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 항상 같이 세정될 수 있게 한다.Here, the
그리고 1:1로 대응되는 용기홀더(24)와 커버홀더(54)들에는, 도 4에 도시된 바와 같이, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 지지되었는지 또는 인출되었는지를 감지하는 감지센서(59a, 59b)들이 설치된다.The
감지센서(59a, 59b)들은, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 지지되었는지 또는 인출되었는지를 감지함으로써, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 동시에 세정 및 건조되는지 또는 건조된 후, 용기본체 세정챔버(14)와 용기커버 세정챔버(16)로부터 동시에 인출되었는지를 감지한다. 따라서, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 동시에 세정될 수 있게 한다. The
한편, 콘트롤러(12)는, 감지센서(59a, 59b)들로부터 입력된 신호를 처리하여, 짝을 이루는 용기본체(1)와 용기커버(3)가 동시에 지지되거나 또는 동시에 인출되지 않은 것으로 판별되면, 경고신호를 출력하도록 구성된다.On the other hand, the
다시, 도 3 내지 도 5 및, 도 11과 도 12를 참조하면, 로터(52)에는, 다수의 세정액 분사노즐(58)이 설치된다. 3 to 5 and FIGS. 11 and 12, the
세정액 분사노즐(58)은, 커버홀더(54)들의 사이 사이에 설치되는 것으로, 커버홀더(54)에 지지된 용기커버(3)의 표면에 세정액을 분사한다. 따라서, 용기커버(3)의 표면을 효율좋게 세정한다. The cleaning
여기서, 로터(52)에는 세정액 분사노즐(58)을 지지하는 지지브라켓(58a)들이 설치되어 있으며, 이들 지지브라켓(58a)의 상면과 하면에 상기 세정액 분사노즐(58)이 설치된다. The
그리고, 도 3 내지 도 5 및, 도 13과 도 14를 참조하면, 로터(52)의 주변 둘레에는 램프유닛(60)이 설치된다.3 to 5 and FIGS. 13 and 14, the
램프유닛(60)은, 도 13과 도 14에 도시된 바와 같이, 램프 지지대(62)와, 램프 지지대(62)에 수직하게 설치되는 램프(64)와, 램프(64)의 외주면 둘레에 설치되는 투명튜브(65) 및, 투명튜브(65) 전체를 덮어서 보호하는 램프커버(66)를 포함한다.As shown in FIGS. 13 and 14, the
램프(64)는, 근적외선 램프로 구성되며, 그 양단부분이 램프 지지대(62)에 지지된다. 이렇게 지지된 램프(64)는 인가되는 전기에 의해 작동되면서 용기커버 세정챔버(16)의 내부에 적외선을 조사한다. 따라서, 용기커버(3)의 건조시 세정챔버(16)의 온도를 상승시키고, 용기커버(3)를 건조하기 위한 가스의 분사온도를 높인다(후술함). 이로써, 용기커버(3)의 건조효율을 높인다.The
투명튜브(65)는, 램프(64)의 외주면 둘레에 간격을 두고 설치된다. 이렇게 설치된 투명튜브(65)는, 램프(64)를 보호한다. 특히, 세정시 비산되는 세정액을 차단한다. 따라서, 세정액에 의한 램프(64)의 손상을 줄이고 수명을 연장시킨다.The
한편, 램프유닛(60)의 램프 지지대(62)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 볼트(62a)에 케이스(10)에 고정되며, 이렇게 고정된 램프 지지대(62)는, 케이스(10)의 외측에서 분리할 수 있게 구성된다. Meanwhile, as shown in FIG. 14, the
따라서, 램프유닛(60)의 고장 및 손상시, 케이스(10)의 외측에서 램프 지지대(62)를 분리한 다음, 램프 지지대(62)의 내측에 설치된 램프(64)와, 각종 전기장치들을 수리 및 교체할 수 있게 한다. 그 결과, 램프유닛(60)의 수리 및 부품의 교체가 매우 간편하다.Therefore, when the
다시, 도 13과 도 14를 참조하면, 본 발명의 세정장치는, 용기커버 세정챔버(16)의 내부에 건조가스, 예를 들면, 불활성가스를 분사하는 건조가스 분사유닛(70)을 구비한다.Referring again to FIGS. 13 and 14, the cleaning apparatus of the present invention includes a dry
건조가스 분사유닛(70)은, 건조가스를 공급하는 건조가스 공급원(72), 예를 들면, 에어펌프와, 건조가스 공급원(72)의 건조가스를 용기커버 세정챔버(16)의 내부로 이송하는 이송라인(74)과, 이송라인(74)으로 이송된 건조가스를 세정챔버(16)의 내부로 분사하는 분사노즐(76)을 포함한다.The dry
분사노즐(76)은, 다수의 분사구멍(76a)들을 구비하는 것으로, 램프유닛(60)의 램프 지지대(62)에 설치된다. 특히, 투명튜브(65)의 배후(背後)부분을 따라 설치되며, 이렇게 설치된 분사노즐(76)은, 용기커버 세정챔버(16)의 내부로 건조가스를 분사한다.The
한편, 건조가스 분사유닛(70)은, 분사노즐(76)로부터 분사되는 건조가스를 가열하는 가열수단(80)을 더 구비한다.On the other hand, the dry
가열수단(80)은, 분사노즐(76)로부터 토출된 건조가스를 램프유닛(60)의 램프(64)와 투명튜브(65) 사이로 도입시키는 도입구멍(82)들과, 램프(64)와 투명튜브(65)사이로 도입된 건조가스를 용기커버 세정챔버(16)의 내부로 토출하는 토출구멍(84)들을 포함한다.The heating means 80 includes introduction holes 82 for introducing dry gas discharged from the
도입구멍(82)들은, 분사노즐(76)의 분사구멍(76a)에 대응될 수 있도록 투명튜브(65)에 형성되며, 이렇게 형성된 다수의 도입구멍(82)들은, 분사노즐(76)로부터 토출된 건조가스를 램프(64)와 투명튜브(65)사이로 도입시킨다. 따라서, 도입된 건조가스가 램프(64)에 의해 높은 온도로 가열될 수 있게 한다. The introduction holes 82 are formed in the
토출구멍(84)들은, 투명튜브(65)에 형성되며, 램프(64)에 의해 가열된 높은 온도의 건조가스를 세정챔버(16)의 내부로 토출한다. 따라서, 세정챔버(16)로 토출된 고온의 건조가스가 세정챔버(16)의 내부를 효율좋게 승온시킬 수 있게 한다. 그 결과, 용기커버(3)의 건조효율을 상승시킨다.The discharge holes 84 are formed in the
여기서, 토출구멍(84)들은, 투명튜브(65)의 길이방향을 따라 2열로 형성된다. 그리고 2열로 형성된 원주방향의 토출구멍(84)들은, 서로에 대해 약 60∼120°각도의 범위를 이루며 형성된다. Here, the discharge holes 84 are formed in two rows along the longitudinal direction of the
한편, 램프(64)에 의해 가열된 건조가스는, 램프(64)의 열을 빼앗는 역할도 한다. 따라서, 램프(64)를 냉각시키기도 한다. 이로써, 램프(64)의 고장을 방지하고, 수명을 연장시키는 역할도 한다.On the other hand, the dry gas heated by the
또한, 투명튜브(65)의 토출구멍(84)으로부터 토출되는 건조가스는, 세정챔버(16)로부터 토출구멍(84)으로 역도입되는 수분을 차단하기도 한다. 따라서, 수분의 유입에 따른 투명튜브(65)와 램프(64)의 손상을 방지하기도 한다.In addition, the dry gas discharged from the
한편, 용기본체 세정챔버(14)에 설치되는 램프유닛(28)은, 용기커버 세정챔버(16)에 설치되는 램프유닛(60)과 동일한 구조를 갖는다. 따라서, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.On the other hand, the
이때, 용기본체 세정챔버(14)의 램프유닛(28)에는, 건조가스를 분사하는 건조가스 분사유닛이 일체로 설치됨은 물론이다. 이러한 건조가스 분사유닛은, 용기커버 세정챔버(16)의 건조가스 분사유닛(70)과 동일한 구조를 갖는다. 따라서, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.At this time, the
다음으로, 이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 작동예를 도 2 내지 도 12를 참조하여 살펴본다.Next, an operation example of the present invention having such a configuration will be described with reference to FIGS. 2 to 12.
먼저, 도 2와 도 3에 도시된 바와 같이, 케이스(10)의 용기본체 세정챔버(14)를 개방한다. 그리고 나서, 용기본체(1)들을 용기홀더(24)에 각각 지지시킨다. First, as shown in Figures 2 and 3, the container
이때, 도 7과 도 8에 도시된 바와 같이, 용기본체(1)의 트인 개방부(1b)를 하방으로 향하게 한 다음, 용기홀더(24)의 지지트레이(30)에 엎어서 지지시킨다. At this time, as shown in Fig. 7 and 8, the open opening (1b) of the container body (1) is directed downward, and then supported on the
용기본체(1)의 지지가 완료되면, 도 9에 도시된 바와 같이, 용기본체(1)가 지지된 지지트레이(30)를 로터(22)의 외측방향으로 대략 90°각도 회전시킨다. 그러면, 지지트레이(30)는 "준비위치"(A)에서 "세정위치"(B)로 회전되면서 수직하게 세워진다.When the support of the
이때, 지지트레이(30)가 수직하게 세워짐에 따라 지지트레이(30)에 지지된 용기본체(1)도 수직하게 회전되면서 로터(22)의 외측방향을 향하게 된다. 그 결과, 용기본체(1)의 내부는 외측방향을 향하면서 세정준비를 하게 된다.At this time, as the
한편, 지지트레이(30)가 "준비위치"(A)에서 "세정위치"(B)로 회전되면, 도 10에 도시된 바와 같이, 지지트레이(30)의 록킹홀(36a)에는 록킹핀(36b)이 자동으로 끼워져 록킹된다. 그 결과, 지지트레이(30)는 "세정위치"(B)에서 록킹된다. 이로써, 지지트레이(30)에 지지된 용기본체(1)도 안정적인 자세를 유지하면서 세정준비를 완료한다.On the other hand, when the
그리고 용기본체(1)의 지지가 완료되면, 도 3과 도 4와 도 11과 도 12에 도시된 바와 같이, 케이스(10)의 용기커버 세정챔버(16)를 개방한 다음, 용기커버(3)들을 커버홀더(54)에 각각 지지시킨다. 이때, 도 11과 도 12에 도시된 바와 같이, 용기커버(3)의 양쪽부분을 커버홀더(54)의 서포트 레일(56)에 각각 지지시킨다.When the support of the
용기커버(3)의 지지가 완료되면, 도 2와 도 3에 도시된 바와 같이, 도어(14a, 16a)를 닫아서 용기본체 세정챔버(14)와 용기커버 세정챔버(16)를 완전히 밀폐한다.When the support of the
그리고 나서, 콘트롤러(12)를 조작하여 장치를 온(ON)시킨다. 그러면, 도 4와 도 5 및 도 12에 도시된 바와 같이, 각각의 세정액 분사노즐(26, 44, 58)로부터 세정액이 분사되고, 이로써, 용기본체(1)와 용기커버(3)의 표면이 세정되기 시작한다.Then, the
이때, 용기본체(1)와 용기커버(3)를 지지하는 각 로터(22, 52)들이 회전하게 되는데, 이렇게 로터(22, 52)들이 회전하면, 로터(22, 52)와 함께 회전하는 용기본체(1)와 용기커버(3)의 표면에는 세정액 분사노즐(26, 44, 58)의 세정액이 골고루 분사된다. 이로써, 용기본체(1)와 용기커버(3)의 세정효율이 높아진다. At this time, each of the
한편, 용기본체(1)와 용기커버(3)의 세정이 완료되면, 세정액의 분사가 멈추고, 램프(28, 60)가 작동된다. 그리고 램프(28, 60)가 작동됨에 따라 용기본체(1)와 용기커버(3)의 표면은 건조된다. On the other hand, when the cleaning of the
그리고, 용기본체(1)와 용기커버(3)의 건조가 완료되면, 도어(14a, 16a)를 열고 용기홀더(24)와 커버홀더(54)로부터 용기본체(1)와 용기커버(3)를 취출한다. 이때의 취출방법은 상술한 지지방법과 반대이다.When the
그리고 용기본체(1)와 용기커버(3)를 취출이 완료되면, 케이스(10)로부터 용기본체(1)와 용기커버(3)를 완전히 인출하여 세정을 완료한다.When the
이와 같은 구성을 갖는 본 발명에 의하면, 용기본체(1)를 용기홀더(24)에 엎어서 지지시킨 다음, 용기홀더(24)를 회전시키기만 하면 용기본체(1)가 지지되는 구조이므로, 용기본체(1)를 지지하기가 매우 쉽고 빠르다. 따라서, 웨이퍼 보관용기를 보다 편리하고 빠르게 세정할 수 있다. According to the present invention having such a configuration, since the
또한, 웨이퍼 보관용기를 편리하고 빠르게 세정할 수 있으므로, 웨이퍼 보관용기의 세정시간을 단축시킬 수 있고, 이로써, 웨이퍼 보관용기의 세정 효율을 대폭적으로 향상시킬 수 있다.In addition, since the wafer storage container can be cleaned conveniently and quickly, the cleaning time of the wafer storage container can be shortened, whereby the cleaning efficiency of the wafer storage container can be greatly improved.
또한, 웨이퍼 보관용기의 용기커버(3)도 동시에 세척할 수 있는 구조이므로, 용기커버를 별도로 세정하지 않아도 된다. In addition, since the
또한, 용기커버(3)를 별도로 세정하지 않아도 되므로, 웨이퍼 보관용기의 세정효율을 더욱 향상시킬 수 있다.In addition, since the
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명하였으나, 본 발명의 권리범위는 이와 같은 특정 실시예에만 한정되는 것은 아니며, 특허청구범위에 기재된 범주내에서 적절하게 변경 가능한 것이다. Although the preferred embodiment of the present invention has been described above by way of example, the scope of the present invention is not limited only to such specific embodiments, but may be appropriately changed within the scope described in the claims.
1: 웨이퍼 보관용기의 용기본체 3: 웨이퍼 보관용기의 용기커버
10: 케이스(Case) 12: 콘트롤러(Controller)
14: 용기본체 세정챔버(Chamber) 16: 용기커버 세정챔버(Chamber)
20: 용기본체 세정유닛(Unit) 22: 로터(Rotor)
24: 용기홀더(Holder) 26: 세정액 분사노즐
28: 램프유닛(Lamp Unit) 29: 지지아암(Arm)
30: 지지트레이(Tray) 30a: 지지트레이의 바닥면부분
32: 하측지지바(Bar) 34: 사이드 플레이트(Side Plate)
36: 록킹수단 36a: 록킹홀(Locking Hole)
36b: 록킹핀(Locking Pin) 38: 인덱스 플런저(Index Plungers)
39: 후측지지바 40: 전면패드
42: 측면패드 44: 세정액 분사노즐
46: 에어 분사노즐 50: 용기커버 세정유닛
52: 로터(Rotor) 54: 커버홀더(Cover Holder)
56: 서포트 레일(Support Rail) 58: 세정액 분사노즐
60: 램프유닛(Lamp Unit) 62: 램프 지지대
64: 램프(Lamp) 65: 투명튜브(Tube)
66: 램프커버(Lamp Cover) 70: 건조가스 분사유닛
72: 건조가스 공급원 74: 이송라인
76: 분사노즐(Nozzle) 80: 가열수단
82: 도입구멍 84: 토출구멍1: container body of wafer container 3: container cover of wafer container
10: Case 12: Controller
14: container body cleaning chamber (Chamber) 16: container cover cleaning chamber (Chamber)
20: container body cleaning unit (Unit) 22: rotor
24: container holder 26: cleaning liquid injection nozzle
28: Lamp Unit 29: Support Arm
30:
32: lower support bar 34: side plate
36: locking means 36a: locking hole
36b: Locking Pin 38: Index Plungers
39: rear support bar 40: front pad
42: side pad 44: cleaning liquid jet nozzle
46: air injection nozzle 50: container cover cleaning unit
52: Rotor 54: Cover Holder
56: Support Rail 58: Cleaning Liquid Spray Nozzle
60: Lamp Unit 62: Lamp Support
64: Lamp 65: Transparent Tube
66: Lamp Cover 70: Dry Gas Injection Unit
72: dry gas source 74: transfer line
76: nozzle 80: heating means
82: introduction hole 84: discharge hole
Claims (16)
상기 용기홀더(24)는,
상기 용기본체(1)를 엎어서 지지시킬 수 있도록 상기 로터(22)에 설치되며, 상기 용기본체(1)의 트인 개방부(1b)를 하방의 준비위치(A)에서 상기 로터(22)의 외측방향의 세정위치(B)를 향해 회전시킬 수 있도록 회전가능하게 설치되는 지지트레이(30)와;
상기 세정위치(B)로 회전된 상기 용기본체(1)를 위치 고정시킬 수 있도록, 상기 지지트레이(30)를 록킹시키는 록킹수단(36)을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.And a container body cleaning unit 20 for cleaning the container body 1 of the wafer storage container, wherein the container body cleaning unit 20 supports the rotatable rotor 22 and the container body 1. A wafer including a plurality of container holders 24 installed in the rotor 22 and a cleaning liquid injection nozzle 26 for injecting a cleaning liquid into the container body 1 supported by the container holder 24 so as to be able to make it possible. In the storage container cleaning apparatus,
The container holder 24,
The rotor body 22 is installed on the rotor 22 so as to support the container body 1, and the open part 1b of the container body 1 is opened at a lower preparation position A of the rotor 22. A support tray 30 rotatably installed to rotate toward the cleaning position B in an outward direction;
And a locking means (36) for locking the support tray (30) to fix the container body (1) rotated to the cleaning position (B).
상기 용기본체(1)의 내부에 세정액을 분사할 수 있도록, 상기 지지트레이(30)에 설치되는 세정액 분사노즐(44)과;
상기 용기본체(1)의 필터(1c)부분에 에어를 분사할 수 있도록, 상기 지지트레이(30)에 설치되는 에어 분사노즐(46)을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 1,
A cleaning liquid spray nozzle (44) installed in the support tray (30) to spray the cleaning liquid into the container body (1);
And an air injection nozzle (46) installed in the support tray (30) to inject air into the filter (1c) portion of the container body (1).
상기 세정액 분사노즐(44)은,
용기본체(1)의 세정후, 건조가스를 분사할 수 있는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 2,
The cleaning liquid injection nozzle 44,
Wafer storage container cleaning apparatus, characterized in that the drying gas can be injected after cleaning the container body (1).
상기 용기본체(1)를 엎어서 지지시키기 위한 상기 지지트레이(30)의 바닥면부분(30a)이 개방되어 있는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 1,
Wafer storage container cleaning device, characterized in that the bottom surface portion (30a) of the support tray 30 for supporting the container body (1) upside down.
상기 준비위치(A)로 복귀한 상기 지지트레이(30)는, 지면에 대해 -10°∼ 0°범위의 각도를 이루는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 1,
The support tray (30) returned to the preparation position (A), the wafer storage container cleaning apparatus, characterized in that to form an angle in the range of -10 ° to 0 ° with respect to the ground.
상기 세정위치(B)로 회전된 상기 지지트레이(30)는, 상기 준비위치(A)에 대해 90°이내의 각도를 이루는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method according to claim 1 or 5,
The support tray (30) rotated to the cleaning position (B), the wafer storage container cleaning apparatus, characterized in that to form an angle within 90 ° with respect to the ready position (A).
상기 용기본체(1)가 상기 지지트레이(30)에 지지될 시에, 상기 용기본체(1)의 무게중심과 상기 지지트레이(30)의 회전중심축(31)이 서로 정렬되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 1,
When the container body 1 is supported by the support tray 30, the center of gravity of the container body 1 and the rotation center axis 31 of the support tray 30 is characterized in that the alignment with each other Wafer Storage Container Cleaner.
상기 용기본체(1)의 트인 개방부(1b)를 밀폐하기 위한 용기커버(3)를 세정하는 용기커버 세정유닛(50)을 더 포함하며,
상기 회전가능한 로터(52)와;
상기 용기커버(3)를 지지시킬 수 있도록 상기 로터(52)에 설치되는 다수의 커버홀더(54)와;
상기 커버홀더(54)에 지지된 상기 용기커버(3)에 세정액을 분사하는 세정액 분사노즐(58)을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 1,
Further comprising a container cover cleaning unit (50) for cleaning the container cover (3) for sealing the open opening (1b) of the container body (1),
The rotatable rotor (52);
A plurality of cover holders 54 installed on the rotor 52 to support the container cover 3;
And a cleaning liquid spray nozzle (58) for injecting a cleaning liquid into the container cover (3) supported by the cover holder (54).
상기 커버홀더(54)는,
상기 용기커버(3)의 양쪽부분을 받쳐서 지지할 수 있도록 간격을 두고 마주보며 설치되는 한 쌍의 서포트 레일(56)로 구성되며,
상기 한 쌍의 서포트 레일(56)은, 상기 용기커버(3)를 다단으로 지지시킬 수 있도록 상기 로터(52)에 다단으로 설치되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 8,
The cover holder 54,
Consists of a pair of support rails 56 which are installed facing each other at intervals so as to support both parts of the container cover (3),
The pair of support rails (56), the wafer storage container cleaning apparatus, characterized in that installed in the rotor (52) in multiple stages to support the container cover (3) in multiple stages.
상기 용기본체(1)는 용기본체 세정챔버(14)의 내부에서 세정되고;
용기커버(3)는 용기커버 세정챔버(16)의 내부에서 세정되며;
상기 용기본체 세정챔버(14)와 상기 용기커버 세정챔버(16)의 내부에 각각 빛을 조사하는 램프유닛(28, 60)들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method according to claim 1 or 8,
The container body (1) is cleaned inside the container body cleaning chamber (14);
The container cover 3 is cleaned inside the container cover cleaning chamber 16;
And a lamp unit (28, 60) for irradiating light into the container body cleaning chamber (14) and the container cover cleaning chamber (16), respectively.
상기 램프유닛(28, 60)은,
램프 지지대(62)와, 상기 램프 지지대(62)에 설치되는 램프(64)와, 상기 램프(64)를 보호할 수 있도록, 상기 램프(64)의 외주면 둘레에 간격을 두고 설치되는 투명튜브(65)를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 10,
The lamp unit 28, 60,
Lamp support 62, the lamp 64 is installed on the lamp support 62, and the transparent tube is provided at intervals around the outer peripheral surface of the lamp 64 so as to protect the lamp ( Wafer storage container cleaning apparatus comprising a 65).
상기 램프 지지대(62)는,
케이스(10)의 외측에서 분리할 수 있게 구성되어, 상기 케이스(10)의 외측에서 상기 램프유닛(60)을 인출하여 보수 및 부품교체할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.12. The method of claim 11,
The lamp support 62,
It is configured to be separated from the outside of the case (10), the wafer storage container cleaning device, characterized in that configured to withdraw the lamp unit (60) from the outside of the case (10) to repair and replace parts.
상기 용기본체 및 용기커버 세정챔버(14, 16)의 내부에 건조가스를 각각 분사하는 건조가스 분사유닛(70)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.12. The method of claim 11,
And a dry gas injection unit (70) for injecting dry gas into the container body and the container cover cleaning chamber (14, 16), respectively.
상기 건조가스 분사유닛(70)은,
건조가스를 공급하는 건조가스 공급원(72)과;
상기 건조가스 공급원(72)의 건조가스를 상기 세정챔버(14, 16)의 내부로 분사하는 분사노즐(76)들과;
상기 분사노즐(76)로부터 분사되는 건조가스를 가열하는 가열수단(80)을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 13,
The dry gas injection unit 70,
A dry gas supply source 72 for supplying dry gas;
Injection nozzles (76) for injecting the dry gas of the dry gas source (72) into the cleaning chambers (14, 16);
And a heating means (80) for heating the dry gas injected from the injection nozzle (76).
상기 가열수단(80)은,
상기 분사노즐(76)로부터 토출된 건조가스를 상기 램프유닛(60)의 램프(64)와 투명튜브(65) 사이로 도입시킬 수 있도록, 상기 투명튜브(65)에 형성되는 다수의 도입구멍(82)들과;
상기 램프(64)와 투명튜브(65)사이로 도입된 건조가스를 용기커버 세정챔버(16)의 내부로 토출할 수 있도록, 상기 투명튜브(65)에 형성되는 다수의 토출구멍(84)들을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.The method of claim 14,
The heating means 80,
Multiple introduction holes 82 formed in the transparent tube 65 to introduce the dry gas discharged from the injection nozzle 76 between the lamp 64 and the transparent tube 65 of the lamp unit 60. );
It includes a plurality of discharge holes 84 formed in the transparent tube 65 to discharge the dry gas introduced between the lamp 64 and the transparent tube 65 into the container cover cleaning chamber 16. Wafer storage container cleaning device, characterized in that.
상기 토출구멍(84)들은,
상기 투명튜브(65)의 길이방향을 따라 2열로 형성되어 있되, 2열로 형성된 원주방향의 토출구멍(84)들은, 서로에 대해 약 60∼120°각도의 범위를 이루며 배열되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 보관용기 세정장치.16. The method of claim 15,
The discharge holes 84,
The wafer is characterized in that formed in two rows along the longitudinal direction of the transparent tube 65, the discharge holes 84 in the circumferential direction formed in two rows are arranged in a range of about 60 to 120 ° angle to each other Storage container cleaning device.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101173987B1 (en) * | 2012-01-30 | 2012-08-16 | (주) 디바이스이엔지 | Cleaner for wafer container |
KR20180033917A (en) * | 2016-09-27 | 2018-04-04 | 주식회사 유닉 | Apparatus and system for cleaning wafer container |
KR20190009485A (en) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 송진헌 | Apparatus for cleaning a magazine |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2547529B2 (en) | 1992-06-15 | 1996-10-23 | セミトゥール・インコーポレーテッド | Wafer carrier centrifugal cleaning equipment |
WO2002017355A2 (en) * | 2000-07-07 | 2002-02-28 | Semitool, Inc. | Semiconductor wafer container cleaning apparatus |
US20060185692A1 (en) | 2003-04-11 | 2006-08-24 | Moran Thomas J | Method and apparatus for cleaning articles used in the production of semiconductors |
US7216655B2 (en) | 1998-01-09 | 2007-05-15 | Entegris, Inc. | Wafer container washing apparatus |
-
2010
- 2010-05-18 KR KR1020100046472A patent/KR100987323B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2547529B2 (en) | 1992-06-15 | 1996-10-23 | セミトゥール・インコーポレーテッド | Wafer carrier centrifugal cleaning equipment |
US7216655B2 (en) | 1998-01-09 | 2007-05-15 | Entegris, Inc. | Wafer container washing apparatus |
WO2002017355A2 (en) * | 2000-07-07 | 2002-02-28 | Semitool, Inc. | Semiconductor wafer container cleaning apparatus |
WO2002017355A3 (en) | 2000-07-07 | 2002-05-02 | Semitool Inc | Semiconductor wafer container cleaning apparatus |
US20060185692A1 (en) | 2003-04-11 | 2006-08-24 | Moran Thomas J | Method and apparatus for cleaning articles used in the production of semiconductors |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101173987B1 (en) * | 2012-01-30 | 2012-08-16 | (주) 디바이스이엔지 | Cleaner for wafer container |
KR20180033917A (en) * | 2016-09-27 | 2018-04-04 | 주식회사 유닉 | Apparatus and system for cleaning wafer container |
KR101886414B1 (en) * | 2016-09-27 | 2018-08-09 | 주식회사 유닉 | Apparatus and system for cleaning wafer container |
KR20190009485A (en) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 송진헌 | Apparatus for cleaning a magazine |
KR101973267B1 (en) * | 2017-07-19 | 2019-04-26 | 송진헌 | Apparatus for cleaning a magazine |
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