KR100949993B1 - 트랜지스터의 통전 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 트랜지스터의 통전 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 트랜지스터(파워트랜지스터)의 불량 여부를 신속하게 검사할 수 있도록 하여 검사 신뢰성 및 효율을 극대화할 수 있는 트랜지스터의 통전 검사 장치에 관한 것이다.
본 발명의 목적은, 다수개의 트랜지스터를 일정 간격으로 정렬시켜 매우 신속하고 정확하게 통전검사 등을 실시할 수 있도록 함으로써, 트랜지스터의 검사 효율을 향상시킬 수 있는 트랜지스터의 통전 검사 장치를 제공함에 있다.
상기한 목적을 실현하기 위하여 본 발명은, 저면에 하부판(1)이 설치되어 있을 뿐만 아니라 상부판(2)이 설치되어 있는 지지대(3)와, 상기한 상부판(2)에 수직으로 설치되어 있는 실린더(4)와, 상기한 실린더(4)의 로드(R) 하단에 결합되어 있고 수평 방향으로 검사공(5)이 길게 형성되어 있는 고정플레이트(6)와, 상기한 고정플레이트(6)에 검사할 트랜지스터(TR)의 개수에 맞춰 탈착할 수 있게 형성됨과 아울러 검사공(5)에 검침단자(7)가 삽입되어 하부로 돌출되고 위치고정수단에 의해 일정 위치에 고정되면서 트랜지스터(TR)를 시험하는 다수의 검사부재(8)와, 상기한 하부판(1)에 설치됨과 아울러 상기한 검침단자(7)가 하향될 때 방열판(9)의 볼트 및 트랜지스터(TR)의 리드(L)와 접촉할 수 있도록 형성된 가이드수단으로 구성함을 특징으로 한다.
트랜지스터, 방열판, 트랜지스터 검사, 통전시험
Description
본 발명은 트랜지스터의 통전 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 트랜지스터(파워트랜지스터)의 불량 여부를 신속하게 검사할 수 있도록 하여 검사 신뢰성 및 효율을 극대화할 수 있는 트랜지스터의 통전 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 파워 트랜지스터 등과 같은 전자부품은 작동 중 많은 열이 발생되기 때문에 이를 효율적으로 방출시키기 위한 방열판이 결합되어 사용되는 경우가 많다.
상기한 파워 트랜지스터는 볼트를 통해 방열판에 결합되어 사용되는바, 상기한 파워트랜지스터는 방열판과의 결합을 위한 볼트공이 형성되어 있게 된다.
또한, 상기한 파워 트랜지스터는 제작 후 시험을 통해 제품의 불량과 정상 여부를 확인하게 되는바, 상기한 제품의 불량과 정상 여부는 트랜지스터의 리이드단자에 전기를 흘려서 확인하게 되는 소위 통전시험 등을 통해 하게 된다.
물론, 상기한 파워 트랜지스터의 시험은 작업자가 하나씩 트랜지스터를 잡고 리이드단자에 전류를 흘려서 시험을 하게 된다.
그러나, 상기한 바와 같이 작업자가 파워 트랜지스터를 하나씩 손으로 잡고 리이드 단자에 전류를 흘리면서 통전검사 등을 실행하게 되면 작업이 매우 복잡하게 되고 작업 능률이 저하되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 다수개의 트랜지스터를 일정 간격으로 정렬시켜 매우 신속하고 정확하게 통전검사 등을 실시할 수 있도록 함으로써, 트랜지스터의 검사 효율을 향상시킬 수 있는 트랜지스터의 통전 검사 장치를 제공함에 있다.
상기한 목적을 실현하기 위하여 본 발명은, 저면에 하부판이 설치되어 있을 뿐만 아니라 상부판이 설치되어 있는 지지대와, 상기한 상부판에 수직으로 설치되어 있는 실린더와, 상기한 실린더의 로드 하단에 결합되어 있고 수평 방향으로 검사공이 길게 형성되어 있는 고정플레이트와, 상기한 고정플레이트에 검사할 트랜지스터의 개수에 맞춰 탈착할 수 있게 형성됨과 아울러 검사공에 검침단자가 삽입되어 하부로 돌출되고 위치고정수단에 의해 일정 위치에 고정되면서 트랜지스터를 시험하는 다수의 검사부재와, 상기한 하부판에 설치됨과 아울러 상기한 검침단자가 하향될 때 방열판의 볼트 및 트랜지스터의 리드와 접촉할 수 있도록 형성된 가이드 수단으로 구성함을 특징으로 한다.
이상과 같이 본 발명은 다수개의 트랜지스터가 고정된 방열판에서 다수의 트랜지스터를 고정하는 볼트와 트랜지스터의 리드를 통해 신속하게 검사를 할 수 있게 됨으로써, 다수의 트랜지스터를 신속하고 정밀하게 검사하여 검사 효율을 향상시킬 수 있는 잇점이 있는 것이다.
도 1과 도 2와 도 3은 본 발명에 따른 트랜지스터 검사 장차를 도시한 정면도와 평면도 및 고정지그의 사시도로서, 저면에 하부판(1)이 설치되어 있을 뿐만 아니라 상부판(2)이 설치되어 있는 지지대(3)와, 상기한 상부판(2)에 수직으로 설치되어 있을 뿐만 아니라 상부판(2)의 하부로 로드(R)가 승강하는 실린더(4)와, 상기한 로드(R)의 하단에 결합되어 있고 수평 방향으로 2줄의 검사공(5)이 길게 형성되어 있는 고정플레이트(6)와, 상기한 고정플레이트(6)에 검사할 트랜지스터(TR)의 개수에 맞춰 탈착할 수 있게 형성됨과 아울러 검사공(5)에 검침단자(7)가 삽입되어 하부로 돌출되고 위치고정수단에 의해 일정 위치에 고정되는 다수의 검사부재(8)와, 상기한 트랜지스터(TR)가 일정 간격으로 볼트(B)에 의해 결합되어 있는 방열판(9)과, 상기한 하부판(1)에 설치되어 있을 뿐만 아니라 상기한 검침단자(7)가 하향될 때 방열판(9)의 트랜지스터 볼트(B)와 리드(L)에 접촉하여 통전시험을 하도록 형성된 가이드수단으로 이루어져 있다.
물론, 상기한 검침단자(7)에는 시험장치 등이 연결되어 있는바, 검침단자(7)가 트랜지스터(TR)의 볼트(B)와 리드(L)에 접촉할 때 전류를 인가하여 통전시험 등을 할 수 있게 되어 있다.
즉 방열판(9)에 볼트(B)에 의해 결합되는 다수의 트랜지스터(TR)는 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 밀착하여 고정되더라도 방열판(9)과 트랜지스터(TR)에 구성되는 리드(L)가 서로가 통전하지 않아 전도되지 않도록 장착구성하며, 이때 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 고정하는 볼트(B)는 방열판(9)에 직접 나사고정되므로 방열판(9)과 볼트(B)가 통전하지만 트랜지스터(TR)에 구성되는 리드(L)과 볼트(B)는 통전하지 않게 되는 것이다.
이로 인해, 검침단자(7)를 복수로 구성하여 한번의 작업으로 볼트(b)과 리드(L)에 동시접촉하는 것이 리드(L)와 방열판(9)에 동시접촉하는 것과 같은 효과가 발생하므로 위치고정수단의 구성을 간단하게 구성할 수 있는 것이다
즉 방열판(9)에 볼트(B)에 의해 결합되는 다수의 트랜지스터(TR)는 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 밀착하여 고정되더라도 방열판(9)과 트랜지스터(TR)에 구성되는 리드(L)가 서로가 통전하지 않아 전도되지 않도록 장착구성하며, 이때 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 고정하는 볼트(B)는 방열판(9)에 직접 나사고정되므로 방열판(9)과 볼트(B)가 통전하지만 트랜지스터(TR)에 구성되는 리드(L)과 볼트(B)는 통전하지 않게 되는 것이다.
이로 인해, 검침단자(7)를 복수로 구성하여 한번의 작업으로 볼트(b)과 리드(L)에 동시접촉하는 것이 리드(L)와 방열판(9)에 동시접촉하는 것과 같은 효과가 발생하므로 위치고정수단의 구성을 간단하게 구성할 수 있는 것이다
상기한 위치고정수단은 검사부재(8)에 설치되어 있는 고정볼트(10)와, 상기한 고정볼트(10)가 나사 결합되도록 형성됨과 아울러 2줄의 검사공(7) 사이에 일정 간격(예를 들면, 방열판(9)에 결합되는 트랜지스터(TR)의 간격)으로 형성된 볼트공(11)으로 이루어져 있다.
또한, 상기한 가이드수단은 방열판(9)의 전면을 지지하여 검침단자(7)와의 위치를 정렬하도록 하부판(1)에 설치되어 있는 제1가이드블럭(12)과, 상기한 방열판(9)의 측면을 지지하도록 설치된 제2가이드블럭(13)으로 이루어져 있는 바, 상기한 제1, 2가이드블럭(12, 13)에는 위치 조절이 가능하도록 장공(14)이 형성되어 있고 볼트(15)에 의해 조이거나 풀면서 위치 조절하게 된다.
상기한 바와 같은 본 발명의 작용 효과를 설명하면 먼저 트랜지스터(TR)를 방열판(9)에 볼트(B)로 결합시키게 된다.
방열판(9)에 다수개의 트랜지스터(TR)가 결합된 상태에서 방열판(9)을 제1, 2가이드블럭(12, 13)에 밀착시키게 되는 바, 도 4에 도시된 바와 같이 상기한 제1, 2가이드블럭(12, 13)에 의해 방열판(9)의 위치가 검침단자(7)의 위치와 일치되도록 정렬된 상태가 된다.
즉, 상기한 제1, 2가이드블럭(12, 13)이 방열판(9)의 위치를 항상 일정한 상태로 유지시키게 되는바, 작업자가 방열판(9)을 제1, 2가이드블럭(12, 13)에 위치시키게 되면 작업자가 도시되지 않은 작동버튼을 작동시키게 된다.
이때, 상기한 방열판(9)에 결합된 트랜지스터(TR)의 개수만큼 고정플레이트(6)에 검사부재(8)를 삽입시키고, 고정볼트(10)로 검사부재(8)를 고정시키게 되는 바, 결과적으로는 한번에 검사할 트랜지스터(TR)의 개수만큼 검사부재(8)를 고정플레이트(6)에 설치하게 되는 것이다.
작업자가 작동버튼을 동작시키게 되면 실린더(4)가 작동하게 되고, 상기한 실린더(4)의 작동에 의해 고정플레이트(6)가 하강하게 됨과 동시에 도 5에 도시된 바와 같이 검침단자(7)가 하강하면서 트랜지스터(TR)의 리드(L)와 볼트(B)에 접촉하게 된다.
이때, 리드(L)와 볼트(B)에 각각 접지된 검침단자(7)에 전류가 도통하면 트랜지스터(TR)와 방열판(9)이 통전하는 상태로 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 장착한 시험대상이 불량임을 표시하고, 각각의 검침단자(7)에 전류가 도통하지 않으면 트랜지스터(TR)와 방열판(9)이 통전하지 않는 상태로 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 장착한 시험대상이 정상임을 표시하는 장치이며, 이러한 각각의 검침단자(7)가 구비된 위치고정수단의 수량만큼 한꺼번에 다수의 트랜지스터(TR)의 통전여부를 검사할 수 있는 것이다.
이때, 리드(L)와 볼트(B)에 각각 접지된 검침단자(7)에 전류가 도통하면 트랜지스터(TR)와 방열판(9)이 통전하는 상태로 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 장착한 시험대상이 불량임을 표시하고, 각각의 검침단자(7)에 전류가 도통하지 않으면 트랜지스터(TR)와 방열판(9)이 통전하지 않는 상태로 방열판(9)에 트랜지스터(TR)를 장착한 시험대상이 정상임을 표시하는 장치이며, 이러한 각각의 검침단자(7)가 구비된 위치고정수단의 수량만큼 한꺼번에 다수의 트랜지스터(TR)의 통전여부를 검사할 수 있는 것이다.
즉, 방열판(9)에 설치된 다수개의 트랜지스터의 볼트(B)와 리드(L)에 동시에 다수개의 검침단자(7)가 접촉하게 되는바, 여러개의 트랜지스터(TR)를 동시에 시험할 수 있게 되는 것이다.
트랜지스터(TR)의 시험이 완료되면 다음 방열판(9)을 작업자가 제1, 2가이드블럭(12, 13)에 위치시키면서 연속적인 트랜지스터(TR)의 시험을 할 수 있게 되는 바, 다수개의 트랜지스터(TR)를 동시에 그리고 연속적으로 시험할 수 있게 되면 트랜지스터(TR)의 통전시험 등과 같은 시험을 매우 효율적으로 진행할 수 있게 된다.
도 1은 본 발명에 따른 트랜지스터의 통전 검사 장치를 도시한 정면도,
도 2는 도 1의 평면도,
도 3은 도 1에서 방열판을 도시한 사시도,
도 4는 도 1에서 방열판이 가이드블럭에 밀착된 상태를 도시한 정면도,
도 5는 도 4에서 검사단자가 트랜지스터에 접촉된 상태를 도시한 정면도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1: 하부판 2: 상부판
3: 지지대 4: 실린더
5: 검사공 6: 고정플레이트
7: 검침단자 8: 검사부재
9: 방열판 10: 고정볼트
11: 볼트공 12: 제1가이드블럭
13: 제2가이드블럭 14: 장공
15: 볼트 TR: 트랜지스터
B: 볼트
Claims (4)
- 저면에 하부판(1)을 설치하고 상부판(2)을 지지대(3)로 연결하여 상부에 형성하도록 구성하는 작업대를 포함하며;상기한 상부판(2)에 수직으로 설치되어 있는 실린더(4)의 로드(R) 하단에 결합하여 고정하되 수평 방향으로 검사공(5)이 길게 형성되어 있는 고정플레이트(6)와;상기한 고정플레이트(6)에 검사할 트랜지스터(TR)의 개수에 맞춰 탈착할 수 있게 형성됨과 아울러 검사공(5)에 검침단자(7)가 삽입되어 하부로 돌출되고 위치고정수단에 의해 일정 위치에 고정되면서 트랜지스터(TR)를 시험하는 다수의 검사부재(8)와;상기한 하부판(1)에 설치됨과 아울러 검침단자(7)가 하향될 때 방열판(9)의 트랜지스터(TR)에 구성되는 볼트(B)와 리드(L)에 각각 접촉할 수 있도록 형성된 가이드수단으로 구성하되 실린더(4)의 작동에 의해 고정수단을 구성하는 검침단자(7)가 하강하여 가이드수단에 안착한 방열판(9)에 고정된 트랜지스터(TR)의 리드(L)와 볼트(B)에 접촉하도록 하여 방열판(9)과 트랜지스터(TR)의 통정상태를 확인함을 특징으로 하는 트랜지스터의 통전 검사 장치.
- 제1항에 있어서,상기한 위치고정수단은 검사부재(8)에 설치되어 있는 고정볼트(10)와, 상기한 고정볼트(10)가 나사 결합되도록 형성됨과 아울러 방열판(9)에 결합되는 트랜지스터(TR)의 간격으로 형성된 볼트공(11)으로 구성함을 특징으로 하는 트랜지스터의 통전 검사 장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,상기한 가이드수단은 방열판(9)의 전면을 지지하여 검침단자(7)와의 위치를 정렬하도록 하부판(1)에 설치되어 있는 제1가이드블럭(12)과, 상기한 방열판(9)의 측면을 지지하도록 설치된 제2가이드블럭(13)으로 구성함을 특징으로 하는 트랜지스터의 통전 검사 장치.
- 제3항에 있어서,상기한 제1, 2가이드블럭(12)(13)은 위치 조절이 가능하도록 장공(14)이 형성되어 있고 장공(14)에 삽입되어 제1, 2가이드블럭(12)(13)을 조이거나 풀도록 설치된 볼트(15)를 포함함을 특징으로 하는 트랜지스터의 통전 검사 장치.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5480088A (en) | 1977-12-09 | 1979-06-26 | Hitachi Ltd | Characteristics testing electrode |
JPS6073470A (ja) | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Matsushita Electric Works Ltd | パワ−トランジスタ特性評価用フレ−ム |
JPH04313076A (ja) * | 1991-04-03 | 1992-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波高出力トランジスタ検査装置 |
US5892450A (en) | 1995-07-27 | 1999-04-06 | Texas Instruments Incorported | Circuit arrangement for testing the operation of a current monitoring circuit for a power transistor |
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- 2009-09-24 KR KR1020090090419A patent/KR100949993B1/ko active IP Right Grant
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