KR100910593B1 - Faulty pixel detecting method and faulty pixel detecting system for led electric sign board - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LED 전광판의 전체 화면에서 화소 단위로 불량 화소를 검출할 수 있는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치에 관한 것이다.The present invention relates to a bad pixel detection method and a bad pixel detection device of an LED sign, and more particularly, to a bad pixel detection method and a bad pixel detection of an LED sign that can detect a bad pixel in units of pixels on the entire screen of the LED sign. Relates to a device.
LED(Light Emitting Diode)는 빛을 발하는 반도체 소자인 발광 다이오드를 의미하며, 적색, 녹색, 청색, 황색 등의 다양한 색상으로 각종 전자 제품류와 계기판 등의 전자 표시판 등에 널리 사용되고 있다.LED (Light Emitting Diode) refers to a light emitting diode that emits light, and is widely used in various electronic products and electronic display panels such as instrument panels in various colors such as red, green, blue, and yellow.
이 중 LED 전광판은 다수의 LED를 매트릭스 형태로 배열하고, 매트릭스 형태로 배열된 다수의 LED가 이미지를 표시하기 위한 화소를 형성함으로써, 영상의 표시가 가능하게 된다. 이러한 LED 전광판은 광고나 각종 정보의 전달을 위해 건물 외부나 내부에 다양한 형태로 설치되어 사용되고 있다.Among these, the LED display board arranges a plurality of LEDs in a matrix form, and a plurality of LEDs arranged in a matrix form a pixel for displaying an image, thereby displaying an image. Such LED signboards are installed and used in various forms outside or inside the building for advertisement or delivery of various information.
통상적으로 LED 전광판의 전체 화면은, 도 1에 도시된 바와 같이, N×M 개의 화소로 구성되는데, 하나의 화소는 적색 LED, 녹색 LED 및 청색 LED로 구성되어 발광 여부 및 각 LED의 발광 세기에 따라 풀 컬러를 구현하게 된다. 즉, 컴퓨터 등과 같은 영상 소스로부터 인가되는 영상 데이터에 따라 각 화소를 구성하는 LED를 선택적으로 점등시킴으로서, 다양한 문자, 그림 및 동영상 등의 정보를 표시하게 된다.Typically, the entire screen of the LED signboard, as shown in Figure 1, is composed of N × M pixels, one pixel is composed of a red LED, a green LED and a blue LED to determine whether the light emission and the emission intensity of each LED Therefore, full color is realized. That is, by selectively turning on the LEDs constituting each pixel in accordance with image data applied from an image source such as a computer, various texts, pictures, and moving images are displayed.
LED 전광판을 제조 공정 상의 문제나 사용 과정에서 발생하는 LED 자체의 불량이나, 각 LED에 전원을 공급하기 위해 연결되는 전선의 단선이나 단락 등에 불량 화소가 발생할 수 있다. 이와 같은 불량 화소는 LED 전광판의 화질을 떨어뜨리는 요인으로 작용하게 된다. 이러한 불량 화소를 LED 전광판의 제조 과정이나 사용 중에 교체하기 위해서는 LED 전광판의 전체 화면을 구성하는 전체 화소 중 불량 화소를 검출하는 과정이 선행되어야 한다.Defective pixels may occur due to a problem in the manufacturing process of the LED display board or a failure of the LED itself, or a disconnection or short circuit of a wire connected to supply power to each LED. Such defective pixels act as a factor of degrading the image quality of the LED display. In order to replace the defective pixels during the manufacturing process or use of the LED display board, the process of detecting the defective pixels among all the pixels constituting the entire screen of the LED display board must be preceded.
한국등록특허 제0815587호는 불량 화소를 검출할 수 있는 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 고장 감지 장치를 개시하고 있으며, 상기 한국등록특허에 개시돤 고장 감지 장치는 데이터 및 제어 신호를 출력하는 메인 제어부와, 일반 모드 및 감지 모드를 구비하고 메인 제어부로부터 데이터 및 제어 신호를 받아서 일반 모드 또는 감지 모드로 표시 정보를 출력하도록 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 적어도 하나의 발광 다이오드에 오픈/쇼트 이상이 발생하면 각각의 오픈/쇼트 이상에 대응되는 감지 정보를 메인 제어부로 출력하는 감지부를 포함하여, 다양한 동작 모드에 대응하여 발광 다이오드들의 오픈/쇼트 및 정상 상태를 감지함으로써, 현재의 발광 다이오드 및 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 동작 상태를 확인할 수 있도록 하고 있다.Korean Patent No. 0815587 discloses a failure detecting apparatus for a light emitting diode dot matrix module capable of detecting a bad pixel. The failure detecting apparatus disclosed in the Korean Patent Registration discloses a main controller for outputting data and control signals; It is provided with a normal mode and a sensing mode, each open if a short / open abnormality occurs in at least one light emitting diode of the LED dot matrix module to receive data and control signals from the main controller and output display information in the normal mode or the sensing mode. / Including a detection unit for outputting the sensing information corresponding to the short / short to the main control unit, by detecting the open / short and the normal state of the light emitting diodes corresponding to various operation modes, the current operation of the light emitting diodes and LED dot matrix module I can confirm the state .
그러나, 상기 한국등록특허에 개시된 고장 감지 장치의 경우, LED 전광판에 고장을 감지하기 위해 별도의 회로 구성이 추가된다는 점에서 제조 비용을 증가시키는 단점이 있고, 고장 감지 장치 자체에 고장 등의 오류가 발생하는 경우에는 불량 화소의 검출 자체가 불가능해지는 단점이 있다.However, in the case of the failure detection device disclosed in the Korean Patent Registration, there is a disadvantage in that a separate circuit configuration is added in order to detect a failure in the LED display board, which increases the manufacturing cost, and an error such as a failure occurs in the failure detection device itself. In case of occurrence, there is a disadvantage in that detection of defective pixels is impossible.
또한, LED 전광판의 제조 공정에서는 n×m, 예컨대 16×16 단위로 LED 모듈을 제작한 후, 복수 개의 LED 모듈을 다시 매트릭스 형태로 배열하여 LED 전광판의 전체 화면을 구성하는데, 불량 화소를 검출하기 위해 LED 모듈 단위로 휘도를 측정하고, 측정된 휘도가 일정 범위를 벗어나는 경우에 이를 불량이 발생한 LED 모듈로 판단한 후, 해당 LED 모듈 내부에서 불량이 발생한 불량 화소를 찾아내는 방식을 사용하고 있다.In addition, in the manufacturing process of the LED display board, the LED module is manufactured in n × m, for example, 16 × 16 units, and then the plurality of LED modules are arranged in a matrix to form the entire screen of the LED display board. In order to measure the luminance in the LED module unit, and if the measured luminance is out of a predetermined range, it is determined that the defective LED module is used, and then the defective pixel inside the corresponding LED module is found.
여기서, 불량 화소를 검출하는데 화소 단위로 휘도를 측정하는게 보다 정확함에도 불구하고 LED 모듈 단위로 휘도를 측정하는 것은 화소 단위로 휘도를 측정하는데 기술적으로 어렵다는 점과, 소요되는 비용 및 시간이 많다는 점을 고려한 것이다.Here, although it is more accurate to measure luminance in pixel units to detect bad pixels, measuring luminance in LED module units is technically difficult to measure luminance in pixel units, and requires a lot of cost and time. Considered.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, LED 전광판 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않으면서도, 불량 화소를 검출할 수 있는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and provides a bad pixel detection method and a bad pixel detection apparatus of an LED light plate that can detect bad pixels without adding a separate circuit configuration in the LED light plate. The purpose is.
상기 목적은 본 발명에 따라, LED 전광판의 불량 화소 검출방법에 있어서, (a) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수평 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (b) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수직 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (c) 상기 측정된 수평 라인 휘도값들 및 상기 측정된 수직 라인 휘도값들이 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어나는지 여부를 판단하는 단계와; (d) 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법에 의해 달성된다.According to the present invention, in the method for detecting a bad pixel of the LED sign, (a) lighting the pixels constituting the LED sign in units of horizontal lines, and measuring the horizontal line luminance value for each horizontal line Wow; (b) lighting the pixels constituting the LED display board in a vertical line unit and measuring vertical line luminance values of the vertical lines; (c) determining whether the measured horizontal line luminance values and the measured vertical line luminance values deviate from a preset reference luminance range; and (d) determining the pixel at the position where the horizontal line and the vertical line intersect with the horizontal line luminance value and the vertical line luminance value that are outside the reference luminance range as the defective pixel. It is achieved by the pixel detection method.
여기서, 상기 (a) 단계 및 상기 (b) 단계에서 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값은 상기 수평 라인 및 상기 수직 라인 단위로 점등된 상태에서 카메라의 촬영에 의해 획득된 영상 데이터의 휘도값에 따라 측정되는 것을 특징으로 한다.Here, in the steps (a) and (b), the horizontal line luminance value and the vertical line luminance value are the luminance of the image data obtained by photographing the camera in the state of being lit in units of the horizontal line and the vertical line. It is characterized in that it is measured according to the value.
한편, 상기 목적은 본 발명의 다른 실시 형태에 따라, LED 전광판의 불량 화소 검출장치에 있어서, 상기 LED 전광판의 화면을 촬상하기 위한 휘도 측정부와; 기준 휘도 범위에 대한 정보가 저장되는 데이터 저장부와; 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 점멸하도록 제어하고, 상기 LED 전광판이 상기 수평 라인 단위 및 상기 수직 라인 단위로 각각 점등된 상태에서 상기 휘도 측정부가 상기 LED 전광판의 화면을 촬상하도록 제어하고, 상기 휘도 측정부로부터 상기 수평 라인 단위 및 상기 수평 라인 단위로 촬상된 영상 데이터에 기초하여 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값과 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 검출하고, 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값 중 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어하는지 여부를 판단하며, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 불량 화소 검출 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출장치에 의해서도 달성된다.On the other hand, the above object is, according to another embodiment of the present invention, in the bad pixel detection device of the LED display panel, comprising: a luminance measuring unit for photographing the screen of the LED display plate; A data storage unit for storing information on a reference luminance range; The luminance measuring unit controls the screen of the LED display board while the pixels constituting the LED display board are controlled to blink in a horizontal line unit and a vertical line unit, and the LED display plate is turned on in the horizontal line unit and the vertical line unit, respectively. Control to capture an image, and detect a horizontal line luminance value for each horizontal line and a vertical line luminance value for each vertical line based on the horizontal line unit and the image data captured in the horizontal line unit from the luminance measuring unit. And determining whether to deviate from a preset reference luminance range among the horizontal line luminance value and the vertical line luminance value, and horizontal and vertical lines corresponding to the horizontal line luminance value and the vertical line luminance value outside the reference luminance range. Bad pixel detection control which judges the pixel of this intersection position as bad pixel By the bad pixel detection device of the LED display comprising: a is achieved.
여기서, 상기 기준 휘도 범위에 대한 정보와, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인 정보가 저장되는 데이터 저장부와, 이미지가 표시되는 디스플레이부를 더 포함하며; 상기 불량 화소 검출 제어부는 상기 불량 라인 정보 및 상기 불 량 화소에 대한 정보에 대한 로그 파일을 생성하여 상기 디스플레이부를 통해 표시될 수 있다.Here, the data storage unit for storing the information about the reference luminance range, and the bad line information for the horizontal line and the vertical line corresponding to the horizontal line luminance value and the vertical line luminance value outside the reference luminance range, and the image is displayed It further comprises a display unit; The bad pixel detection controller may generate a log file of the bad line information and the information on the bad pixel, and display the log file through the display.
상기 구성에 의해 본 발명에 따르면, LED 전광판 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않고, 기준 휘도 범위를 벗어하는 수평 라인 및 수직 라인을 검출하고, 검출된 수평 라인과 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하여 검출함으로써, LED 전광판의 제조 공정시나 사용 중에 불량 화소를 용이하게 교체 가능하게 된다.According to the present invention by the above configuration, a horizontal line and a vertical line outside the reference luminance range are detected without adding a separate circuit configuration in the LED display board, and the pixel at the position where the detected horizontal line and the vertical line cross each other is detected. By judging and detecting a bad pixel, a bad pixel can be replaced easily at the time of manufacture or use of a LED display board.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.
본 발명에 따른 LED 전광판(10)의 불량 화소 검출장치(30)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 휘도 측정부(31), 디스플레이부(34), 데이터 저장부(33) 및 불량 화소 검출 제어부(32)를 포함할 수 있다. 여기서, 디스플레이부(34), 데이터 저장부(33) 및 불량 화소 검출 제어부(32)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 컴퓨터와 같은 정보처리장치 형태로 마련될 수 있다.The defective
휘도 측정부(31)는 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하여 화면 상에 표시된 영상의 휘도를 측정한다. 여기서, 휘도 측정부(31)는 CCD 카메라나 CMOS 카메라 형태로 마련되어 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하여 획득된 영상에 대한 정보를 불량 화소 검출장치(30)로 전달한다.The
데이터 저장부(33)에는 불량 화소의 검출의 기준이 되는 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH, 도 4 및 도 5 참조)에 대한 정보가 저장된다. 디스플레이부(34)는 불량 화소 검출 제어부(32)의 제어에 따라 화면 상에 이미지를 표시하며, 제어부(32)에 의해 생성되는 후술할 로그 파일을 화면 상에 표시함으로써, 불량 화소에 대한 정보를 시각적으로 표시한다.The
불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 화소들이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 점멸하도록 제어한다. 그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 각각 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어한다.The bad
도 3을 참조하여 보다 상세히 설명하면, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 n개의 수평 라인이, 예컨대 상부에서부터 하부로 순차적으로 점등되도록 LED 전광판(10)을 제어한다. 여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 특정 수평 라인만이 점등되게 하는 영상신호를 LED 전광판(10)에 인가하는 방식으로 LED 전광판(10)이 수평 라인 단위로 점등되도록 제어할 수 있다.Referring to FIG. 3, the bad
이와 같은 과정에서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 하나의 수평 라인이 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어하여, 각 수평 라인에 대한 영상 데이터(이하, '수평 영상 데이터'라 함)를 휘도 측정부(31)로부터 전달받는다.In this process, the bad pixel
동일한 방법으로, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 m개의 수직 라인이, 예컨대 좌측에서부터 우측으로 순차적으로 점등되도록 LED 전광판(10)을 제어한다. 그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 하나의 수직 라인이 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어하여, 각 수직 라인에 대한 영상 데이터(이하, '수직 영상 데이터'라 함)를 휘도 측정부(31)로부터 전달받는다.In the same way, the bad pixel
상기와 같은 방식을 통해 LED 전광판(10)의 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 영상 데이터 및 수직 영상 데이터를 획득하게 되면, 불량 화소 검출 제어부(32)는 수평 영상 데이터 및 수직 영상 데이터에 기초하여 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 휘도값을 검출한다. 여기서, 수평 영상 데이터에 기초하여 검출된 휘도값을 수평 라인 휘도값(HB, 도 4 참조)이라 하고, 수직 영상 데이터에 기초하여 검출된 휘도값을 수직 라인 휘도값(VB, 도 5 참조)이라 정의하여 설명한다.When the horizontal image data and the vertical image data of each horizontal line and the vertical line of the
한편, 불량 화소 검출 제어부(32)는 상기와 같이 LED 전광판(10)의 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)이 검출되면, 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)이 데이터 저장부(33)에 저장된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는지 여부를 판단하고, 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인 정보를 생성한다. 여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 불량 라인 정보를 데이터 저장부(33)에 저장할 수 있다.On the other hand, when the bad pixel
그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단한다.In addition, the bad
예를 들어, 도 3을 참조하여 설명하면, 수평 라인 중 3번째 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나고, 수직 라인 중 2번째 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우, 3번째 수평 라인과 2번째 수직 라인이 교차하는 화소, 즉 m×n 개의 화소 중 위로부터 3번째 및 좌측에서 2번째 화소가 불량 화소로 검출된다.For example, referring to FIG. 3, the horizontal line luminance value HB for the third horizontal line of the horizontal lines is outside the reference luminance range RB L to RB H , and the second vertical line of the vertical lines is included in the second vertical line. If it is determined that the vertical line luminance value VB is out of the reference luminance range RB L to RB H , the pixel at which the third horizontal line and the second vertical line intersect, that is, 3 from the top of m × n pixels The second and second pixels from the left are detected as bad pixels.
여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 불량 라인 정보 및 불량 화소에 대한 정보에 대한 로그 파일을 생성하여 데이터 저장부(33)에 저장할 수 있으며, 생성된 로그 파일을 전술한 바와 같이, 디스플레이부(34)를 통해 표시할 수 있다.Here, the bad
상기와 같은 구성을 통해, LED 전광판(10) 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않고, 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어하는 수평 라인 및 수직 라인을 검출하고, 검출된 수평 라인과 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하여 검출함으로써, LED 전광판(10)의 제조 공정시나 사용 중에 불량 화소를 용이하게 교체 가능하게 된다.Through the above configuration, without adding a separate circuit configuration in the
전술한 실시예에서는 불량 화소 검출 제어부(32)가 전체 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)을 검출한 후 기준 휘 도 범위(RBL ~ RBH)와 비교하는 것으로 설명하였으나, 하나의 수평 라인(또는 수직 라인)에 대하여 수평 라인 휘도값(HB)(또는 수직 라인 휘도값(VB))의 검출 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)와의 비교를 통한 불량 라인 여부의 검출이 완료된 후 다음 수평 라인(또는 수직 라인)에 대한 검출 및 비교가 진행될 수 있음은 물론이다. 또한, 수평 라인 및 수직 라인의 검출 및 비교 순서가 바뀔 수 있음은 물론이다.In the above-described embodiment, the bad pixel
이하에서는, 도 4 및 도 5를 참조하여 본 발명에 따른 LED 전광판(10)의 불량 화소 검출방법에 대해 상세히 설명한다. 여기서, LED 전광판(10)이 m×n 개의 화소로 구성된 것, 즉 n개의 수평 라인과 m개의 수직 라인으로 구성된 것을 일 예로 하여 설명한다.Hereinafter, a method of detecting a defective pixel of the
먼저, 첫 번째 수평 라인이 점등된 상태(S40)에서 첫 번째 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 측정된다(S41). 여기서, 수평 라인 휘도값(HB)의 측정 방식은 상술한 바와 같은 바, 그 상세한 설명은 생략한다.First, in a state in which the first horizontal line is turned on (S40), the horizontal line luminance value HB for the first horizontal line is measured (S41). Here, the measurement method of the horizontal line luminance value HB is as described above, and the detailed description thereof is omitted.
그런 다음, 측정된 수평 라인 휘도값(HB)이 기 설정된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는지 여부를 판단하고(S42), 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는 것으로 판단되면 첫 번째 수평 라인을 소등시킨다(S44).Then, it is determined whether the measured horizontal line luminance value HB is included in the preset reference luminance range RB L to RB H (S42), and the horizontal line luminance value HB is the reference luminance range RB L. If it is determined that the ~ ~ RB H ) to turn off the first horizontal line (S44).
반면, S42 단계에서 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우 해당 수평 라인이 불량 라인인 것으로 판단하여(S43), 해당 정보를 데이터 저장부(33)에 저장한 후 첫 번째 수평 라인을 소등시킨다(S44).On the other hand, if it is determined in step S42 that the horizontal line luminance value HB is out of the reference luminance range RB L to RB H , it is determined that the horizontal line is a bad line (S43), and the corresponding information is stored in the data storage unit ( 33) and extinguish the first horizontal line (S44).
그리고, 수평 라인 휘도값(HB)의 측정 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내의 포함 여부 판단이 모든 수평 라인에 대해 종료되었는지 여부를 판단하여(S45), 모든 수평 라인에 대해 종료되지 않은 경우에는 다음 차례의 수평 라인만을 점등시킨 후(S46), S41 단계 내지 S45 단계를 수행하여 전체 수평 라인 중 불량 라인을 검출한다.Then, it is determined whether the measurement of the horizontal line luminance value HB and the determination of inclusion in the reference luminance range RB L to RB H have ended for all horizontal lines (S45). In this case, after turning on only the next horizontal line (S46), steps S41 to S45 are performed to detect a defective line among the entire horizontal lines.
한편, 상기와 같은 과정을 통해 모든 수평 라인에 대한 불량 라인의 검출이 종료되면(S45), 수직 라인에 대한 불량 라인의 검출이 도 5에 도시된 바와 같이 진행된다.On the other hand, when the detection of the defective line for all the horizontal line is finished (S45) through the above process, the detection of the defective line for the vertical line proceeds as shown in FIG.
먼저, 첫 번째 수직 라인이 점등된 상태(S50)에서 첫 번째 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값(VB)이 측정된다(S51). 여기서, 수직 라인 휘도값(VB)의 측정 방식은 상술한 바와 같은 바, 그 상세한 설명은 생략한다.First, in the state in which the first vertical line is turned on (S50), the vertical line luminance value VB for the first vertical line is measured (S51). Here, the measuring method of the vertical line luminance value VB is as described above, and the detailed description thereof is omitted.
그런 다음, 측정된 수직 라인 휘도값(VB)이 기 설정된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는지 여부를 판단하고(S52), 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는 것으로 판단되면 첫 번째 수직 라인을 소등시킨다(S54).Then, it is determined whether the measured vertical line luminance value VB is included in the preset reference luminance range RB L to RB H (S52), and the vertical line luminance value VB is the reference luminance range RB L. If it is determined that the ~ ~ RB H ) to turn off the first vertical line (S54).
반면, S52 단계에서 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우 해당 수직 라인이 불량 라인인 것으로 판단하여(S53), 해당 정보를 데이터 저장부(33)에 저장한 후 첫 번째 수직 라인을 소등시킨다(S44).On the other hand, if it is determined in step S52 that the vertical line luminance value VB is out of the reference luminance range RB L to RB H , it is determined that the corresponding vertical line is a bad line (S53), and the corresponding information is stored in the data storage unit ( 33), the first vertical line is turned off (S44).
그리고, 수직 라인 휘도값(VB)의 측정 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내의 포함 여부 판단이 모든 수직 라인에 대해 종료되었는지 여부를 판단하여(S55), 모든 수직 라인에 대해 종료되지 않은 경우에는 다음 차례의 수직 라인만을 점등시킨 후(S56), S51 단계 내지 S55 단계를 수행하여 전체 수직 라인 중 불량 라인을 검출한다.Then, it is determined whether the measurement of the vertical line luminance value VB and the determination of inclusion in the reference luminance range RB L to RB H have ended for all vertical lines (S55). In this case, after turning on only the next vertical line (S56), steps S51 to S55 are performed to detect a defective line among all vertical lines.
이와 같이 모든 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인의 검출이 종료되면(S55), 불량 라인으로 판단된 수직 라인과 수평 라인이 교차되는 화소를 판단하여(S57), 해당 화소를 불량 화소로 검출하고, 불량 화소에 대한 정보가 디스플레이부(34)에 표시된다(S58).As described above, when the detection of the defective lines for all the horizontal lines and the vertical lines is finished (S55), the pixels in which the vertical lines and the horizontal lines determined as the defective lines intersect are determined (S57), and the corresponding pixels are detected as the defective pixels. In operation S58, information about the bad pixel is displayed on the
전술한 실시예에서는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)가 동일한 것을 예로 하여 설명하였으나, 그 값이 상이할 수 있음은 물론이다.In the above-described embodiment, the reference luminance ranges RB L to RB H for the horizontal line and the vertical line have been described as an example, but the values may be different.
또한, 전술한 불량 화소 검출방법에서는 수평 라인에 대한 불량 라인의 검출 후 수직 라인의 불량 화소를 검출하는 것을 예로 하였으나, 그 순서가 바뀔 수 있음은 물론이고, 수평 라인(또는 수직 라인, 이하 동일)에 대해 전체 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 측정된 후 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 와의 비교가 진행될 수도 있다.In addition, in the above-described bad pixel detection method, the bad pixels of the vertical lines are detected after the detection of the bad lines with respect to the horizontal lines. However, the order may be changed. After the horizontal line luminance value HB for the entire horizontal line is measured, the comparison with the reference luminance range RB L to RB H may be performed.
비록 본 발명의 몇몇 실시예들이 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 별명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.Although some embodiments of the invention have been shown and described, it will be apparent to those skilled in the art that modifications may be made to the embodiment without departing from the spirit or spirit of the invention. . The scope of the alias will be defined by the appended claims and their equivalents.
도 1은 본 발명에 따른 LED 전광판의 불량 화소 검출장치의 구성을 도시한 도면이고,1 is a view showing the configuration of a bad pixel detection device of the LED display panel according to the present invention,
도 2는 도 1의 불량 화소 검출장치의 제어 블록도이고,FIG. 2 is a control block diagram of the bad pixel detecting apparatus of FIG. 1;
도 3은 본 발명에 따른 LED 전광판의 화소 구성을 도시한 도면이고,3 is a diagram illustrating a pixel configuration of an LED display panel according to the present invention;
도 4 및 도 5는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법을 설명하기 위한 제어흐름도이다.4 and 5 are control flowcharts illustrating a method of detecting a bad pixel of an LED display board.
<도면의 주요 번호에 대한 설명><Description of Major Numbers in Drawing>
10 : LED 전광판 30 : 불량 화소 검출장치10: LED display board 30: Bad pixel detection device
31 : 휘도 측정부 32 : 불량 화소 검출 제어부31: luminance measuring unit 32: bad pixel detection control unit
33 : 데이터 저장부 34 : 디스플레이부33: data storage 34: display
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