KR100855849B1 - 변위측정장치 및 그것을 이용한 형상검사장치 - Google Patents
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 122
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 73
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 101001080825 Homo sapiens PH and SEC7 domain-containing protein 1 Proteins 0.000 claims description 13
- 102100027472 PH and SEC7 domain-containing protein 1 Human genes 0.000 claims description 13
- 101001080808 Homo sapiens PH and SEC7 domain-containing protein 2 Proteins 0.000 claims description 10
- 102100027455 PH and SEC7 domain-containing protein 2 Human genes 0.000 claims description 10
- 101000736367 Homo sapiens PH and SEC7 domain-containing protein 3 Proteins 0.000 claims description 9
- 102100036231 PH and SEC7 domain-containing protein 3 Human genes 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 14
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 101100136727 Caenorhabditis elegans psd-1 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/245—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2545—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with one projection direction and several detection directions, e.g. stereo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02017—Interferometers characterised by the beam path configuration with multiple interactions between the target object and light beams, e.g. beam reflections occurring from different locations
- G01B9/02021—Interferometers characterised by the beam path configuration with multiple interactions between the target object and light beams, e.g. beam reflections occurring from different locations contacting different faces of object, e.g. opposite faces
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
Description
상기 광원의 하나에 대하여, 상기 수광렌즈와 상기 수광소자로 형성된 수광부를 적어도 3개 이상의 복수로 구비하고, 상기 복수의 수광부 중 어느 하나가 상기 피측정물의 상기 주사방향에 따른 단면에 있어서의 양측의 경사부분(Xn-1)(Xn+1) 및 그 사이의 꼭대기부분(Xn) 중의 어느 한 부분을 측정점으로 해서도 정반사된 반사광을 수광할 수 있도록, 상기 측정점을 중심으로 배열하여 구비한다.
청구항 4에 기재의 발명은, 빛을 피측정물 상에 집광시키는 것에 의해 집광 된 위치를 측정점으로서 조사하는 투광부(100)와, 상기 측정점으로부터 정반사하는 반사광을 수광하기 위한 수광부(210)를 갖는 광변위센서를 구비하고, 상기 투광되는 빛을 포함하여 상기 피측정부에 거의 수직인 평면에 직교하는 방향으로 상대적으로 상기 광변위센서를 이동시키는 것에 의해 주사하고, 상기 피측정물의 변위를 측정하는 변위측정장치로서,
청구항 5에 기재의 발명은, 청구항 4에 기재의 발명에 있어서, 상기 복수의 수광부는 상기 평면과 교차하는 점에 1개와, 그 평면과 교차하는 방향의 양측에 같은 수만큼 대칭으로 배열된 구성으로 한다.
Claims (11)
- 빛을 피측정물 상에 집광시키는 것에 의해 집광된 위치를 측정점으로서 조사하는 투광부(100)와, 상기 측정점으로부터 정반사하는 반사광을 수광하기 위한 수광부(210)를 갖는 광변위센서를 구비하고, 상기 투광되는 빛을 포함하여 상기 피측정물에 수직인 평면에 직교하는 방향으로 상대적으로 상기 광변위센서를 이동시키는 것에 의해 주사하고, 상기 피측정물의 변위를 측정하는 변위측정장치로서,상기 광원의 하나에 대하여 상기 수광부를 적어도 3개 이상의 복수로 구비하고, 상기 복수의 수광부 중 어느 하나가 상기 피측정물의 상기 평면에 따른 단면에 있어서의 양측의 경사부분(Xn-1)(Xn+1) 및 그 사이의 꼭대기부분(Xn) 중의 어느 한 부분을 측정점으로 해서도 정반사된 반사광을 수광할 수 있도록, 상기 복수의 수광부를 상기 측정점을 중심으로 배열하여 구비한 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 복수의 수광부를 상기 측정점을 중심으로 배열하는 것은,상기 복수의 수광부를 상기 측정점을 향하여 상기 평면과 교차하는 방향으로 배열하고, 또한 상기 각 수광부의 수광면이 차지하는 상기 측정점으로부터 상기 정반사한 반사광을 수광할 수 있는 수광범위가, 변위측정상, 서로 이웃하는 수광부의 수광면끼리로 연속하도록 배치하는 것임을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 복수의 수광부는, 상기 평면과 교차하는 점에 1개와, 그 평면과 교차하는 방향의 양측에 같은 수만큼 대칭으로 배열된 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 투광부는, 광원(LD)과, 상기 광원으로부터 출사한 빛을 피측정물 상에 집광시키는 것에 의해 집광된 위치를 측정점으로서 조사하는 집광렌즈(2)를 구비하고,상기 복수의 수광부는, 상기 측정점으로부터 정반사한 빛을 받아 집광하는 수광렌즈 기능소자(3a,3b,3c)와, 상기 수광렌즈 기능소자에서 집광된 빛을 받는 수광소자(PSD1, PSD2, PSD3)를 구비하고,상기 수광부의 수광면은, 상기 수광렌즈 기능소자의 수광면인 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 복수의 수광렌즈 기능소자로부터 상기 집광되는 위치까지의 거리는 동일하고, 상기 각 수광렌즈 기능소자는 상기 측정점으로부터 동일거리에 배치되고, 또한 서로 이웃하는 수광렌즈 기능소자의 수광면이 서로 접하도록 근방에 배치된 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 각 수광렌즈 기능소자는, 상기 측정점으로부터 정반사한 빛을 받아 평행광으로 하는 콜리미터 렌즈(3a1,3b1,3c1)와 상기 콜리미터 렌즈로부터의 평행광을 상기 대응하는 수광소자에 집광하는 수광용 집광렌즈(3a2,3b2,3c2)를 갖고,상기 수광부의 수광면은, 상기 콜리미터 렌즈의 수광면으로서, 서로 이웃하는 콜리미터 렌즈의 수광면이 상기 측정점에 대해서 차지하는 수광범위가, 변위 측정상 서로 연속하도록 배치되는 것과 함께, 각 수광렌즈 기능소자에 있어서, 상기 측정점과 상기 콜리미터 렌즈 사이의 거리와 상기 수광용 집광렌즈와 상기 수광소자간의 거리의 비가, 동일한 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 광변위센서는, 2개 구비되고, 또한 각각의 상기 주사가 다른 방향으로 주사 가능하게 배치된 구성인 것을 특징으로 하는, 변위측정장치.
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Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005282629A JP4275661B2 (ja) | 2005-09-28 | 2005-09-28 | 変位測定装置 |
JPJP-P-2005-00282629 | 2005-09-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070035964A KR20070035964A (ko) | 2007-04-02 |
KR100855849B1 true KR100855849B1 (ko) | 2008-09-01 |
Family
ID=37958860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060091666A Expired - Fee Related KR100855849B1 (ko) | 2005-09-28 | 2006-09-21 | 변위측정장치 및 그것을 이용한 형상검사장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4275661B2 (ko) |
KR (1) | KR100855849B1 (ko) |
CN (1) | CN100498217C (ko) |
TW (1) | TWI288226B (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4995041B2 (ja) * | 2007-11-01 | 2012-08-08 | アンリツ株式会社 | 印刷はんだ検査方法、及び印刷はんだ検査装置 |
JP5033587B2 (ja) * | 2007-11-05 | 2012-09-26 | アンリツ株式会社 | 印刷はんだ検査装置、及び印刷はんだ検査方法 |
JP2012007942A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 位置測定装置 |
CN103363951B (zh) * | 2012-04-10 | 2015-11-25 | 通用电气公司 | 三角法距离测量系统和方法 |
KR20150107450A (ko) * | 2014-03-14 | 2015-09-23 | 주식회사 엔젤 | 테잎리스 엔코더 일체형 왕복동 실린더 |
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JP2002246302A (ja) * | 2001-02-21 | 2002-08-30 | Nikon Corp | 位置検出装置および露光装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5859924A (en) * | 1996-07-12 | 1999-01-12 | Robotic Vision Systems, Inc. | Method and system for measuring object features |
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JP2885765B2 (ja) * | 1997-06-20 | 1999-04-26 | 富山日本電気株式会社 | 半田量の測定方法 |
US6618155B2 (en) * | 2000-08-23 | 2003-09-09 | Lmi Technologies Inc. | Method and apparatus for scanning lumber and other objects |
-
2005
- 2005-09-28 JP JP2005282629A patent/JP4275661B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-09-21 KR KR1020060091666A patent/KR100855849B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2006-09-26 TW TW095135532A patent/TWI288226B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-09-26 CN CNB2006101270889A patent/CN100498217C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0763538A (ja) * | 1993-08-31 | 1995-03-10 | Matsushita Electric Works Ltd | 表面の外観検査装置 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4275661B2 (ja) | 2009-06-10 |
TW200712437A (en) | 2007-04-01 |
CN1940469A (zh) | 2007-04-04 |
CN100498217C (zh) | 2009-06-10 |
JP2007093369A (ja) | 2007-04-12 |
TWI288226B (en) | 2007-10-11 |
KR20070035964A (ko) | 2007-04-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20060921 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20070822 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20080222 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20080808 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20080826 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20080826 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110720 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120802 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120802 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130801 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130801 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20160709 |