KR100848359B1 - 배치식 반응챔버의 히팅시스템 - Google Patents
배치식 반응챔버의 히팅시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100848359B1 KR100848359B1 KR1020060069261A KR20060069261A KR100848359B1 KR 100848359 B1 KR100848359 B1 KR 100848359B1 KR 1020060069261 A KR1020060069261 A KR 1020060069261A KR 20060069261 A KR20060069261 A KR 20060069261A KR 100848359 B1 KR100848359 B1 KR 100848359B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- slit
- reaction chamber
- block
- heater
- reflection
- Prior art date
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 101
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 43
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 42
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 36
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 32
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 claims description 2
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 claims description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 2
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 abstract description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 230000001404 mediated effect Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 206010061876 Obstruction Diseases 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000004148 unit process Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910020968 MoSi2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001994 activation Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000004512 die casting Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000012636 effector Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000953 kanthal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 230000000414 obstructive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002341 toxic gas Substances 0.000 description 1
- 230000003245 working effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
Abstract
Description
Claims (12)
- 공정공간인 배치식 반응챔버(1)의 상하길이에 대해 구분된 점유영역을 갖는 한 쌍의 히터유닛(12)으로 이루어진 히터(14)가 점유하는 상하길이를 복수의 히터(14)에 대해 서로 단차지게 달리하여 반응챔버(1)의 상하영역에 대해 단계되게 형성된 가열담당영역(T)을 형성하는 복수의 히터그룹(16)이 반응챔버(1)의 외주를 따라 순차적으로 배치된 히팅장치(18)에서, 상기 히팅장치(18)에 의한 복사열을 반응챔버(1) 내부로 반사시키기 위해 상기 히팅장치(18) 외측에서 포위하게 배치되는 반사판(22)을 포함하며 상기 히팅장치(18)의 가열에 의한 열손상을 방지하기 위하여 열교환되는 냉각수로(24)를 포함하는 반사장치(26)가 설치되어지되, 상기 반사장치(26)는 상기 히팅장치(18)를 외측에서 포위하게 반사블럭(28)이 구비되고, 이 반사블럭(28) 내부로 전달된 열을 냉각시키기 위한 상기 냉각수로(24)가 형성되며, 상기 반사블럭(28)의 내측면은 반사물질로 반사코팅층이 형성되어 상기 반사판(22)을 이루는 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- (삭제).
- 제 1 항에 있어서, 반사블럭(28)은 알루미늄합금으로 이루어진 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 1 항에 있어서, 반사판(22)은 상기 반사블럭(22)에 복사파장 반사를 위한 반사도를 갖는 반사코팅층 확보를 위해 은 또는 금의 귀금속류가 코팅되어 이루어진 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 1 항에 있어서, 반사장치(26)는 상기 1조의 히터유닛(12)에 대하여 구분된 반사블럭(30)으로 마련되어 상기 1조의 히터유닛(12)이 브라켓(32)을 통해 상기 반사블럭(30)에 설치된 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 5 항에 있어서, 반사블럭(30)은 그 내부에 형성된 상기 냉각수로(24)를 연결하기 위해 그 외부로 연결파이프(34)가 장착되는 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 5 항에 있어서, 반사블럭(30)에는 그 경계사이에 차단판(36)이 설치되며, 이 차단판(36)은 구분된 반사블럭(30)이 조립되는 통형 집합을 보유지지하는 체결수단인 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 5 항에 있어서, 반사블럭(30)은 히터유닛(12)에 의해 구분됨에 따라, 그 경계를 통한 복사열의 외부 방출이 방해되도록 복사파장 차단슬릿(38)을 매개로 반사블럭(30)이 이웃되게 설치된 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 8 항에 있어서, 복사파장 차단슬릿(38)은 반사블럭(30)양단에 반응챔버측 슬릿을 입구슬릿(40)으로 반응챔버로의 중심선상에서 상기 입구슬릿(40)과 출구슬릿(42)이 동일선상을 벗어나게 형성되어 이에 연장된 1차방해슬릿부(44)가 형성되고, 1차 방해슬릿부들(44) 사이가 반사블럭의 동심원주상으로 형성된 2차방해슬릿부(46)로 연결되어 절곡된 요부와 철부로서 결합되게 이루어진 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 8 항에 있어서, 복사파장 차단슬릿(38)은 반사블럭(30)양단에 반응챔버측 슬릿을 입구슬릿(40)으로 반응챔버(1)로의 중심선상에서 상기 입구슬릿(40)과 출구슬릿(42)이 동일선상을 벗어나게 형성되어 이에 연장된 1차방해슬릿부(44)가 형성되고, 이 1차 방해슬릿부(44)들 사이에는 반사블럭(30)의 탈착을 허용하면서 상기 1차방해슬릿부(44)에 의해 여과된 나머지 복사파장의 유출을 방해하도록 경사지게 형성된 2차경사슬릿부(48)가 형성됨과 더불어, 상기 1차방해슬릿부(44)와 2차경사슬릿부(48)는 반사블럭의 원주방향상에서 동일한 방향으로 형성되어 이루어진 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 8 항에 있어서, 복사파장 차단슬릿(38)은 반사블럭(30)의 반응챔버측의 슬릿을 입구슬릿으로 반응챔버(1)로의 중심선상에서 상기 입구슬릿(40)과 출구슬릿(42)이 동일선상을 벗어나게 형성되고, 상기 반사블럭(30)의 탈착을 허용하면서 복사파장의 유출을 방해하도록 상기 입구슬릿(40)과 출구슬릿(42)의 직선연장선상에 간섭되게 최소한 입구슬릿(40)과 출구슬릿(42)의 직선연장선장을 접선으로 하는 돌출곡면으로 방해슬릿(50)이 형성됨과 더불어, 상기 방해슬릿(50)은 반사블럭(30)의 원주방향상에서 동일한 방향으로 형성되어 이루어진 것을 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
- 제 5 항에 있어서, 반사블럭(30)은 회동이 가능하도록 그 하부에 회동부재(52)가 설치되며, 이 반사블럭(30)들 위에 구분된 반사블럭(30)들을 통형으로 결속시키는 상부결속패널(56)이 설치된 것을 특징으로 하는 배치식 반응챔버의 히팅시스템.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060069261A KR100848359B1 (ko) | 2006-07-24 | 2006-07-24 | 배치식 반응챔버의 히팅시스템 |
JP2006223690A JP4502987B2 (ja) | 2006-01-16 | 2006-08-18 | バッチ式反応チャンバーのヒーティングシステム |
TW095131874A TWI311340B (en) | 2006-01-16 | 2006-08-29 | Heating system of batch type reaction chamber and method of using the heating system for heating batch type reaction chamber |
US11/513,732 US7525068B2 (en) | 2006-01-16 | 2006-08-31 | Heating system of batch type reaction chamber and method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060069261A KR100848359B1 (ko) | 2006-07-24 | 2006-07-24 | 배치식 반응챔버의 히팅시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080009534A KR20080009534A (ko) | 2008-01-29 |
KR100848359B1 true KR100848359B1 (ko) | 2008-07-28 |
Family
ID=39221916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060069261A KR100848359B1 (ko) | 2006-01-16 | 2006-07-24 | 배치식 반응챔버의 히팅시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100848359B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101696690B1 (ko) * | 2015-03-27 | 2017-01-17 | 한국기계연구원 | 온도 구배 영역에서 시편 이동에 의한 원전기기 중대사고 생존성 평가시험장치 |
KR20230151339A (ko) * | 2022-04-25 | 2023-11-01 | 주성엔지니어링(주) | 기판 가열 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010053701A (ko) * | 1999-12-01 | 2001-07-02 | 윤종용 | 반도체 제조용 가열장치 |
JP2002110556A (ja) | 2000-09-28 | 2002-04-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 熱処理装置 |
JP3479020B2 (ja) * | 2000-01-28 | 2003-12-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置 |
JP2006173157A (ja) | 2004-12-13 | 2006-06-29 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
-
2006
- 2006-07-24 KR KR1020060069261A patent/KR100848359B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010053701A (ko) * | 1999-12-01 | 2001-07-02 | 윤종용 | 반도체 제조용 가열장치 |
JP3479020B2 (ja) * | 2000-01-28 | 2003-12-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置 |
JP2002110556A (ja) | 2000-09-28 | 2002-04-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 熱処理装置 |
JP2006173157A (ja) | 2004-12-13 | 2006-06-29 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080009534A (ko) | 2008-01-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4502987B2 (ja) | バッチ式反応チャンバーのヒーティングシステム | |
US6737613B2 (en) | Heat treatment apparatus and method for processing substrates | |
KR101046043B1 (ko) | 노용 다중 구역 히터 | |
JP5395810B2 (ja) | 基板支持ユニット、基板処理装置、及び基板支持ユニットを製造する方法 | |
JP4238772B2 (ja) | 載置台構造及び熱処理装置 | |
JPH03108323A (ja) | ヒータ組立体及び基板の加熱方法 | |
US20080073334A1 (en) | Heat-processing furnace and manufacuring method thereof | |
WO2019053807A1 (ja) | 基板処理装置、ヒータ装置、半導体装置の製造方法 | |
TWI697364B (zh) | 一體的噴嘴組件、下襯裡,及包括此之用於基板處理的設備 | |
KR100848359B1 (ko) | 배치식 반응챔버의 히팅시스템 | |
US20190341280A1 (en) | Waffer pedestal with heating mechanism and reaction chamber including the same | |
JP2002124479A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JP3383784B2 (ja) | 半導体ウェハの熱処理装置 | |
US20240055279A1 (en) | Semiconductor processing chamber with filament lamps having nonuniform heat output | |
US8116618B2 (en) | Heating apparatus, substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor devices | |
KR20050083837A (ko) | 강제 대류가 지원된 급속 열로 | |
JP2008041698A (ja) | 処理装置および処理方法 | |
KR100905741B1 (ko) | 반도체 웨이퍼용 퍼니스 | |
JP2005093911A (ja) | 基板処理装置 | |
JPH04325686A (ja) | Cvd装置の加熱ヒータ | |
KR200454992Y1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
JP2023068637A (ja) | 基材処理装置 | |
KR101126098B1 (ko) | 배치식 기판처리 장치 | |
TW202020240A (zh) | 燈頭中的多分區燈控制和單獨燈控制 | |
JP2015065411A (ja) | 熱処理炉及び熱処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130708 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140714 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150706 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160705 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170718 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180717 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190128 Year of fee payment: 12 |