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KR100839915B1 - Optical inspection system - Google Patents

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Publication number
KR100839915B1
KR100839915B1 KR1020060032938A KR20060032938A KR100839915B1 KR 100839915 B1 KR100839915 B1 KR 100839915B1 KR 1020060032938 A KR1020060032938 A KR 1020060032938A KR 20060032938 A KR20060032938 A KR 20060032938A KR 100839915 B1 KR100839915 B1 KR 100839915B1
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KR
South Korea
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light
imaging area
lights
inspection object
camera
Prior art date
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KR1020060032938A
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Korean (ko)
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KR20070101651A (en
Inventor
최현호
Original Assignee
아주하이텍(주)
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Publication date
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Abstract

본 발명은 검사대상물(인쇄회로기판)의 외관을 광학적인 방식을 이용하여 검사하는 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 광학 검사 시스템은 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라, 카메라에 의해 촬상될 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명 및 촬상영역으로부터 반사되어 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되는 않도록 비수직한 빛을 차단하는 차단부재를 포함한다. The present invention relates to an inspection system for inspecting the appearance of an inspection object (printed circuit board) using an optical method. The optical inspection system of the present invention includes a camera for imaging the surface of the inspection object, at least two illuminations for irradiating light to the imaging area of the inspection object to be imaged by the camera, and vertical light reflected from the imaging area and incident vertically into the camera. And a blocking member for blocking the non-vertical light so as not to collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights.

광학 검사 시스템, 조명, 카메라 Optical inspection system, lighting, camera

Description

광학 검사 시스템{OPTICAL INSPECTION SYSTEM}Optical inspection system {OPTICAL INSPECTION SYSTEM}

도 1은 기존의 동축낙사 조명을 사용하는 광학 검사 시스템의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of an optical inspection system using conventional coaxial fall illumination.

도 2는 본 발명에 따른 광학 검사 시스템의 구성도이다.2 is a block diagram of an optical inspection system according to the present invention.

도 3은 본 발명의 광학 검사 시스템에서의 빛 경로를 개략적으로 설명하기 위한 도면이다. 3 is a view for schematically explaining a light path in the optical inspection system of the present invention.

도 4는 본 발명의 광학 검사 시스템에서 회전될 수 있는 차단판을 설명하기 위한 도면이다.4 is a view for explaining a blocking plate that can be rotated in the optical inspection system of the present invention.

도 5는 본 발명의 광학 검사 시스템으로 회전 가능한 차단부재가 구비된 예를 보여주는 도면이다. 5 is a view showing an example provided with a rotatable blocking member in the optical inspection system of the present invention.

도 6은 본 발명의 광학 검사 시스템으로 수직한 내측면을 갖는 차단판이 구비된 예를 보여주는 도면이다. 6 is a view showing an example provided with a blocking plate having a vertical inner surface in the optical inspection system of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

110 : 카메라110: camera

120 :조명들120: lights

122 : 주조명122: casting name

130 : 차단부재130: blocking member

132 : 지지판132: support plate

134 : 차단판134: blocking plate

135 : 외측면 135: outer side

본 발명은 광학 검사 시스템에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 검사대상물(인쇄회로기판)의 외관을 광학적인 방식을 이용하여 검사하는 검사 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to an optical inspection system, and more particularly to an inspection system for inspecting the appearance of an inspection object (printed circuit board) using an optical method.

근래에 와서 액정 디스플레이 장치의 구동 집적회로(LCD Driver IC), 메모리 및 LSI 등의 각종 반도체 집적회로 및 초소형 제품 등에 사용되는 주요 재료의 하나인 인쇄회로기판은 필름, 테이프 등의 형태로 제조되고 있다.In recent years, printed circuit boards, which are one of the main materials used in various semiconductor integrated circuits such as LCD driver ICs, memory and LSIs, and micro products, have been manufactured in the form of films and tapes. .

이러한 인쇄회로기판 중에 TAB(Tape Automatic Bonding) 또는 COF(Chip On Film) 기판이라 통칭되는 회로가 많이 사용되고 있다. 필름, 테이프 형태의 인쇄회로기판은 노광, 현상 등의 제조 공정을 통하여 패턴이 형성되는데, 이러한 패턴은 반도체 디바이스가 점점 초소형화됨에 따라 극미세화되어 사람의 눈을 통하여 패턴 결함을 검사하기가 점점 불가능해지고 있는 실정이다. 따라서 패턴을 형성하는 원자재인 인쇄회로기판 및 인쇄회로기판에 형성된 패턴의 결함 등을 정확하게 그리고 신속하게 검출하기 위하여 광학 검사 시스템의 도입이 필요하게 되었다.Among these printed circuit boards, a circuit commonly referred to as a tape automatic bonding (TAB) or a chip on film (COF) substrate is used. Printed circuit boards in the form of films and tapes are formed through manufacturing processes such as exposure and development. These patterns are extremely miniaturized as semiconductor devices become increasingly miniaturized, making it difficult to inspect pattern defects through human eyes. The situation is getting worse. Therefore, it is necessary to introduce an optical inspection system to accurately and quickly detect printed circuit boards, which are raw materials for forming patterns, and defects in patterns formed on printed circuit boards.

일반적으로 광학 검사 시스템은 카메라, 이미지 센서 등을 이용하여 광학적 검사를 수행하며, 이 때, 광학 자동 검사 시스템은 각종 조명 장치를 이용하여 인쇄회로기판의 외관에 대한 불량을 부각시켜 정확한 검사를 실시하는데, 다양한 조명 장치들 중 어느 하나의 조명 장치의 선택은 정확한 불량 검출을 위해서 필수적이다. 특히, 액정 디스플레이 장치의 구동 집적회로용 COF와 같은 표면이 거울과 같이 반짝이는 제품을 검사하기 위해서는 동축낙사 조명을 사용해 왔다. In general, the optical inspection system performs an optical inspection by using a camera, an image sensor, etc. At this time, the optical automatic inspection system uses various lighting devices to highlight the defects on the appearance of the printed circuit board to perform accurate inspection. The selection of one of the various lighting devices is essential for accurate failure detection. In particular, coaxial fall illumination has been used to inspect products whose surfaces such as COFs for driving integrated circuits of liquid crystal display devices are shining like mirrors.

하지만, 동축낙사 조명을 사용하는 광학 검사 시스템(1)은 다음과 같은 문제점들을 갖고 있다. 도 1에 도시된 바와 같이, 동축낙사 조명(2)은 측면에서 들어오는 빛을 검사대상물(제품;10)쪽으로 굴절시키는 반사경(3)을 갖는데, 이 반사경(3)은 조명(2)의 빛을 검사대상물(10)쪽으로 굴절시키는 과정에서 빛의 광량 손실이 발생된다. 또한, 촬상장치(8)(렌즈를 통한 LINE CCD SENSOR)는 동축낙사 조명의 반사경(3)을 통해 이미지를 보게 되기 때문에 반사경(3)에 의한 굴절 현상이 발생하여 초점이 틀어지는 현상이 발생된다. However, the optical inspection system 1 using coaxial fall illumination has the following problems. As shown in FIG. 1, the coaxial fall illumination 2 has a reflector 3 that refracts light coming from the side toward the inspection object (product) 10, which reflects the light of the illumination 2. In the process of refracting toward the inspection object 10, the amount of light loss occurs. In addition, since the image pickup device 8 (LINE CCD SENSOR through the lens) sees an image through the reflecting mirror 3 of coaxial falloff illumination, the phenomenon of refraction caused by the reflecting mirror 3 is generated and the focus is shifted.

본 발명의 목적은 다각도에서 입사되는 빛의 성분 중에서 불량을 검사 대상물의 표면상의 특징을 통해 불량 형상이 잘 부각되는 빛의 성분만을 촬상장치로부터 받아들여 원하는 불량을 검사하여 검사 신뢰성을 높이기 위한 광학 검사 시스템을 제공하는데 있다. An object of the present invention is to optically inspect the defects of the light incident from multiple angles through the image pickup device to receive only the components of the light whose defect shape is well highlighted from the imaging device and to inspect the desired defects to increase the inspection reliability. To provide a system.

본 발명의 또 다른 목적은 깨끗한 영상을 얻을 수 있는 조명장치를 갖는 광학 검사 시스템을 제공하는데 있다. Still another object of the present invention is to provide an optical inspection system having an illumination device capable of obtaining a clear image.

본 발명의 또 다른 목적은 검사 대상물 표면상의 불량 형상을 부각시켜 검 사 신뢰성을 높이기 위한 광학 검사 시스템을 제공하는데 있다. Still another object of the present invention is to provide an optical inspection system for enhancing inspection reliability by highlighting a defective shape on the surface of the inspection object.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템은 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명; 및 상기 촬상영역으로부터 반사되어 상기 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되는 않도록 상기 비수직한 빛을 차단하고, 일부 비수직한 빛을 반사시켜 수직한 성분으로 바꾸는 차단부재를 포함한다.According to one aspect of the present invention for achieving the above object, an optical inspection system for optically inspecting the surface of the inspection object includes a camera for imaging the surface of the inspection object; At least two lights for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be picked up by the camera; And blocking the non-vertical light so that the vertical light reflected from the imaging area and vertically incident to the camera does not collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights, and reflects some non-vertical light. It includes a blocking member for changing to a vertical component.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 적어도 2개의 조명은 상기 검사대상물의 촬상영역 표면에 제1각도로 빛을 조사하도록 설치되는 주조명; 및 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 빛을 조사하도록 설치되는 보조조명들을 포함할 수 있다. In a preferred embodiment of this aspect, the at least two illuminations are cast name which is installed to irradiate light at a first angle on the surface of the imaging area of the inspection object; And auxiliary lights installed to radiate light at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 주조명은 상기 보조조명들보다 상기 촬상영역으로부터 가깝게 위치되며, 상기 주조명과 상기 보조조명들은 상기 촬상영역으로부터 멀어질수록 높이가 순차적으로 낮아진다.In a preferred embodiment of this aspect, the cast name is located closer to the imaging area than the auxiliary lights, and the casting name and the auxiliary lights are sequentially lowered as they are farther from the imaging area.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단부재는 상기 수직한 빛이 통과하는 경로와 상기 적어도 2개의 조명 사이에 위치되는 차단판을 포함할 수 있으며, 차단판은 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 안내하는 외측면을 갖는다.In a preferred embodiment of this aspect, the blocking member may comprise a blocking plate located between the path through which the vertical light passes and the at least two lights, the blocking plate being irradiated from the at least two lights. It has an outer surface for guiding light to be irradiated to the imaging area.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단판은 상기 보조조명들로부터 조사되는 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 안내하는 외측면을 갖으며, 차단판의 외측면은 반사면으로 이루어진다.In a preferred embodiment of this aspect, the blocking plate has an outer surface for guiding light emitted from the auxiliary lights to be irradiated to the imaging area, and the outer surface of the blocking plate is a reflective surface.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단판의 외측면은 상기 촬상영역을 향하도록 경사질 수 있다. In a preferred embodiment of this aspect, the outer surface of the blocking plate may be inclined to face the imaging area.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단부재는 상기 차단판의 외측면을 따라 상기 촬상영역으로 안내되는 빛의 각도를 조절할 수 있도록 상기 차단판에 설치되는 힌지부를 더 포함할 수 있다.In a preferred embodiment of this feature, the blocking member may further include a hinge portion provided on the blocking plate to adjust the angle of the light guided to the imaging area along the outer surface of the blocking plate.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단부재는 상기 차단판에 설치되며, 저면에 상기 주조명과 상기 보조조명들이 설치되는 지지판을 더 포함한다.In a preferred embodiment of this feature, the blocking member is installed on the blocking plate, and further includes a support plate on which the casting name and the auxiliary lights are installed.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 지지판은 상기 주조명과 상기 보조조명들의 조사각도를 조절할 수 있도록 회전 가능하게 설치된다.In a preferred embodiment of this feature, the support plate is rotatably installed to adjust the irradiation angle of the cast name and the auxiliary lights.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 주조명과 상기 보조조명들은 상기 지지판의 저면에 (조사각도를 조절할 수 있도록) 회전 가능하게 설치된다.In a preferred embodiment of this feature, the cast name and the auxiliary lights are rotatably installed on the bottom of the support plate (to adjust the irradiation angle).

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 주조명의 제1각도와 상기 차단판의 외측면의 경사각도는 상기 촬상영역의 표면과 이루는 각도가 75°내지 90°인 것이 바람직하다. In a preferred embodiment of this aspect, the angle of inclination of the first angle of the cast name and the outer surface of the blocking plate is preferably 75 ° to 90 ° with the surface of the imaging area.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 특징에 의하면, 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템은 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 조 명들; 및 상기 검사대상물의 촬상영역으로 조사되어 반사되는 빛들 중에서 수직한 빛들만 상기 카메라로 입사되도록 수직영역을 제공하는 차단부재를 포함한다.According to another aspect of the present invention for achieving the above object, an optical inspection system for optically inspecting the surface of the inspection object includes a camera for imaging the surface of the inspection object; Illuminations for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be imaged by the camera; And a blocking member configured to provide a vertical region such that only vertical lights from among lights reflected and reflected by the imaging region of the inspection object are incident on the camera.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단부재는 상기 조명들이 위치되며 상기 조명들의 빛이 상기 검사대상물의 촬상영역으로 제공되어지는 외곽영역과, 상기 수직영역을 구획하기 위한 차단판을 포함한다.In a preferred embodiment of the present feature, the blocking member includes an outer area where the lights are located and the light of the lights is provided to the imaging area of the inspection object, and a blocking plate for partitioning the vertical area.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 차단판은 반사면으로 이루어지는 외측면을 포함하되; 상기 차단판의 외측면은 상기 조명들로부터 조사되는 빛 중에서 상기 차단판의 외측면으로 조사되는 빛이 상기 촬상영역으로 안내되도록 경사지게 형성된다.In a preferred embodiment of this aspect, the blocking plate comprises an outer surface consisting of a reflective surface; The outer surface of the blocking plate is formed to be inclined so that the light irradiated to the outer surface of the blocking plate among the light emitted from the lights is guided to the imaging area.

이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 조명들은 상기 검사대상물의 촬상영역에 가장 가깝게 위치되며, 제1각도로 상기 촬상영역에 빛을 조사하는 주조명; 및 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 상기 촬상영역에 빛을 조사하는 보조조명들을 포함한다.In a preferred embodiment of the present invention, the lights are located closest to the imaging area of the inspection object, the cast name for irradiating light to the imaging area at a first angle; And auxiliary lights irradiating light to the imaging area at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명된 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided so that the disclosure may be made thorough and complete, and to fully convey the spirit of the invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape of the elements in the drawings and the like are exaggerated to emphasize a clearer description.

본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 2 내지 도 6에 의거하여 상세히 설명한 다. 또, 상기 도면들에서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다. An embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 to 6. In addition, in the drawings, the same reference numerals are denoted together for components that perform the same function.

본 발명의 기본적인 의도는 표면이 거울과 같이 반짝이는 검사대상물(COF 기판이라 통칭되는 인쇄회로기판)의 표면상에 균등한 빛을 조사하여 정확하고 선명한 촬상이 가능한 광학 검사 시스템을 제공하는데 있다. 이를 위해 본 발명자는 검사대상물의 촬상영역으로 조사되어 반사되는 빛들 중에서 카메라로 제공되는 수직한 빛이 다른 빛과 충돌되는 것을 차단하는 차단부재를 갖는데 그 특징이 있다. The basic intention of the present invention is to provide an optical inspection system capable of accurate and clear imaging by irradiating uniform light on the surface of an inspection object whose surface is shiny like a mirror (a printed circuit board, commonly referred to as a COF substrate). To this end, the present invention has a feature of having a blocking member for blocking the vertical light provided to the camera from colliding with the other light among the light that is irradiated to the image pickup area of the inspection object.

도 2는 본 발명에 따른 광학 검사 시스템의 구성도이고, 도 3은 본 발명의 광학 검사 시스템에서의 빛 경로를 개략적으로 설명하기 위한 도면이다. 2 is a configuration diagram of an optical inspection system according to the present invention, Figure 3 is a view for schematically explaining the light path in the optical inspection system of the present invention.

도 2 및 도 3을 참조하면, 광학 검사 시스템(100)은 검사대상물(10) 표면을 촬상하기 위한 카메라(110), 조명들(120) 그리고 차단부재(130)를 포함한다. 차단부재(130)와 조명들(120)은 하나의 모듈로 형성될 수 있다. 2 and 3, the optical inspection system 100 includes a camera 110, illuminations 120, and a blocking member 130 for imaging the surface of the inspection object 10. The blocking member 130 and the lights 120 may be formed as one module.

카메라(110)는 검사 대상물(10)의 촬상영역(10a) 상부로부터 이격되게 배치된다. 카메라(110) 아래 일측에는 차단부재(130)와 조명들(120)이 배치된다. 여기서, 카메라(110)는 검사대상물의 촬상영역(10a)에 대한 영상을 촬상하기 위한 것으로, 통상 촬상소자(CCD 또는 CMOS)와 광학계(렌즈) 등이 사용될 수 있으며, 카메라(110)로부터 나온 영상신호는 영상처리 장치(180)로 제공된다. 영상 처리 장치(180)는 전형적인 컴퓨터 시스템으로 구비되어, 자동 광학 검사에 따른 제반 동작을 제어, 처리한다. 영상 처리 장치(180)는 카메라(110)로부터 제공받은 영상신호를 가지고 검사대상물 표면의 불량 유무를 판별한다.The camera 110 is disposed to be spaced apart from an upper portion of the imaging area 10a of the inspection object 10. The blocking member 130 and the lights 120 are disposed at one side below the camera 110. Here, the camera 110 is for capturing an image of the imaging area 10a of the inspection object, and an image capturing device (CCD or CMOS) and an optical system (lens) may be used, and the image from the camera 110 may be used. The signal is provided to the image processing apparatus 180. The image processing apparatus 180 is provided as a typical computer system, and controls and processes various operations according to automatic optical inspection. The image processing apparatus 180 determines whether the surface of the inspection object is defective by using the image signal provided from the camera 110.

차단부재(130)는 촬상영역(10a)으로부터 반사되어 카메라(110)로 수직하게 입사되는 수직한 빛(L1)이 조명들(120)로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌하지 않도록 수직한 빛(L1)을 보호하기 위한 것이다. 차단부재(130)는 조명들(120)이 저면에 설치되는 지지판(132)과, 외곽영역(a)과 수직영역(b)을 구획하기 위한 차단판(134)으로 이루어지며, 이들은 수직영역(b)을 중심으로 양측에 서로 대칭되게 설치되거나 또는 일측에만 설치될 수 있다. 조명들(120)은 어느 하나의 지지판(132)에만 설치되는 것이 바람직하다. 지지판(132)은 외곽으로 하향경사진 저면(132a)을 갖으며, 조명들(120)은 그러한 경사진 저면(132a)에 서로 다른 높이로 설치됨으로써 조명들(120) 간의 빛 간섭을 방지하였다. 예컨대, 조명들(120)은 브라켓(133)의 힌지부에 회전 가능하게 설치됨으로써 수동 또는 자동으로 설치각도(조사 각도)를 조절할 수 있다. The blocking member 130 is perpendicular to the vertical light L1 reflected from the imaging area 10a and vertically incident to the camera 110 so as not to collide with the non-vertical light emitted from the lights 120. To protect L1). The blocking member 130 includes a support plate 132 on which the lights 120 are installed on the bottom, and a blocking plate 134 for dividing the outer area a and the vertical area b. b) can be installed symmetrically to each other on both sides or only one side. The lights 120 are preferably installed only on one support plate 132. The support plate 132 has a bottom 132a inclined downward, and the lights 120 are installed at different heights on the inclined bottom 132a to prevent light interference between the lights 120. For example, the lights 120 may be rotatably installed on the hinge portion of the bracket 133 to adjust the installation angle (irradiation angle) manually or automatically.

여기서 외곽영역(a)은 지지판(132)에 설치된 조명들(120)이 위치되는 공간임과 동시에 조명들(120)의 빛이 검사대상물(10)의 촬상영역(10a)으로 제공되어지는 공간이며, 수직영역(b)은 촬상영역(10a)으로부터 반사되는 빛 중에서 수직한 빛(L1)만 카메라(110)로 입사되는 공간이라 할 수 있다. The outer area (a) is a space in which the lights 120 installed on the support plate 132 are located and at the same time the light of the lights 120 is provided to the imaging area 10a of the inspection object 10. The vertical area b may be a space in which only the vertical light L1 is incident to the camera 110 among the light reflected from the imaging area 10a.

차단판(134)은 촬상영역(10a)으로부터 반사되어 카메라(10)로 수직하게 입사되는 수직한 빛(L1)이 다른 비수직한 빛(L2)과 충돌되지 않도록 수직한 빛(L1)을 보호하는 기본적인 기능을 갖는다. 그 뿐만 아니라, 차단판(134)은 조명들(120)로부터 조사되는 비수직한 빛(L2)이 촬상영역(10a)으로 조사되도록 빛의 방향을 바꾸도록 안내하는 기능도 갖고 있다. 이를 위해 차단판(134)은 조명들(120)로부터 조 사되는 빛을 반사시켜 그 방향을 촬상영역(10a)으로 제공할 수 있는 반사면으로 이루어지는 외측면(135)을 갖는다. 즉, 외측면(135)은 조명들(120)들로부터 조사되는 빛 중에서 촬상영역(10a)으로부터 벗어나는 수직하지 않은 빛이 촬상영역으로 조사되도록 안내한다. 외측면(135)은 촬상영역(10a)을 향하도록 경사지며, 그 경사각도(X1)는 촬상영역(10a)의 표면으로부터 75° 이상 90°(수직에 가까운 각도) 이내로 이루어질 수 있다. The blocking plate 134 protects the vertical light L1 such that the vertical light L1 reflected from the imaging area 10a and incident vertically into the camera 10 does not collide with other non-vertical light L2. It has a basic function. In addition, the blocking plate 134 has a function of guiding the direction of the light so that the non-vertical light L2 irradiated from the lights 120 is irradiated to the imaging area 10a. To this end, the blocking plate 134 has an outer surface 135 made of a reflecting surface capable of reflecting light emitted from the lights 120 and providing its direction to the imaging area 10a. That is, the outer surface 135 guides non-vertical light, which is out of the imaging area 10a, from the light emitted from the lights 120 to be irradiated to the imaging area. The outer surface 135 is inclined to face the imaging area 10a, and the inclination angle X1 may be 75 ° or more and 90 ° (angle close to vertical) from the surface of the imaging area 10a.

도 4에 도시된 바와 같이, 차단판(134)은 지지판(132)의 힌지부(139)에 회전가능하게 설치되어 외측면(135)의 경사각도를 조절할 수 있기 때문에 외측면(135)으로 조사되어 반사되는 간접 빛(L3)의 방향을 조절할 수 있다. As shown in FIG. 4, the blocking plate 134 is rotatably installed at the hinge portion 139 of the supporting plate 132 so that the inclination angle of the outer side 135 can be adjusted to the outer side 135. The direction of the reflected indirect light (L3) can be adjusted.

한편, 본 실시예에서는 차단판(134)의 내측면(136)이 외측면(135)과 동일한 경사각도를 갖는 것으로 도시하였으나, 도 6에서와 같이 차단판(134)은 수직한 빛(L1)과 평행하게 수직한 내측면(136')을 가질 수도 있다. Meanwhile, in the present exemplary embodiment, the inner side surface 136 of the blocking plate 134 has the same inclination angle as the outer side surface 135, but as shown in FIG. 6, the blocking plate 134 has vertical light L1. It may have an inner side 136 ′ that is perpendicular to and parallel to it.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 광학 검사 시스템으로 회전 가능하 차단부재가 구비된 예를 보여주는 도면이다. 도 5에서와 같이, 차단부재(130)는 힌지축(138)을 중심으로 회전될 수 있으며, 이러한 차단부재(130)의 회전을 통해 조명들(120)의 설치각도 및 차단판(134)의 외측면(135)의 경사각도 등을 동시에 조절할 수 있는 것이다.5 is a view showing an example provided with a rotatable blocking member as an optical inspection system according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, the blocking member 130 may be rotated around the hinge shaft 138, and the installation angle of the lights 120 and the blocking plate 134 may be rotated through the rotation of the blocking member 130. The inclination angle of the outer surface 135 can be adjusted at the same time.

차단판(134)의 외측면(135)은 빛 반사용 광택 도료를 도포(코팅)하거나 또는 반사시트를 부착하거나 또는 반사가 잘되는 재질(스테인레스 등)로 이루어질 수 있다. 선택적으로, 외측면(135)은 빛이 반사되어 촬상영역(10a)으로 제공되도록 음 각 또는 양각의 패턴이 형성될 수 있다. The outer surface 135 of the blocking plate 134 may be made of a material (stainless steel, etc.) that is coated (coated) with a light reflective gloss paint, adheres a reflective sheet, or has a good reflection. Optionally, the outer surface 135 may have an intaglio or embossed pattern so that light is reflected and provided to the imaging area 10a.

다시 도 2 및 도 3을 참조하면, 조명들(120)은 카메라(110)에 의해 촬상될 검사대상물(10)의 촬상영역(10a)으로 빛을 조사하는 4개의 조명들(122, 124a, 124b, 124c)로 이루어진다. 조명들(120)은 하나의 주조명(122)과 3개의 보조조명(124a, 124b, 124c)들로 구분될 수 있다. 주조명(122)과 3개의 보조조명(124a, 124b, 124c)들은 조사각도를 변경하기 위하여 차단부재(130)의 지지판(132) 저면(132a)에 회전 가능하게 설치된다. 본 실시예에서, 조명들(122,124a,124b,124c)은 20°-30°의 발광각도(빛이 퍼지는 각도)를 갖는 발광다이오드(LED)를 사용하였으나, 발광다이오드 이외의 램프와 같은 다른 광원이 사용될 수 도 있다. 또한, 본 실시예에서는 4개의 조명들이 사용되었으나 이는 하나의 실시예에 불과하다. Referring again to FIGS. 2 and 3, the lights 120 illuminate four lights 122, 124a, and 124b that irradiate light into the imaging area 10a of the object 10 to be imaged by the camera 110. 124c). The lights 120 may be divided into one cast name 122 and three auxiliary lights 124a, 124b, and 124c. Casting name 122 and the three auxiliary lights (124a, 124b, 124c) are rotatably installed on the support plate 132 bottom surface 132a of the blocking member 130 to change the irradiation angle. In the present embodiment, the lights 122, 124a, 124b, and 124c use light emitting diodes (LEDs) having a light emitting angle (light spreading angle) of 20 ° -30 °, but other light sources such as lamps other than the light emitting diodes. This may be used. In addition, four lights were used in this embodiment, but this is only one embodiment.

주조명(122)은 검사대상물의 촬상영역(10a) 표면으로 직접 빛을 조사하는 조명으로, 주조명(122)는 촬상영역(10a)의 표면으로부터 75° 이상 90°(수직에 가까운 각도)이내 제1설치각도(X2)를 갖도록 설치된다. 물론, 주조명(122)은 설치 각도에 따라 차단판의 외측면(135)에 조사된 후 반사되어 촬상영역(10a)으로 간접 조사되는 간접 빛(L3)도 제공할 수 있다. 그러나 그 간접 빛의 양은 보조조명들에 비해 상대적으로 적다. 제1,2,3보조조명(124a, 124b, 124c)은 검사대상물의 촬상영역(10a) 표면으로 직접 조사되는 빛보다 간접적으로 조사되는 간접 빛(L3)이 많도록 주조명(122)보다는 큰 기울기를 갖도록 설치된다. 도 2에서 보여주는 바와 같이, 주조명(122)과 제1,2,3보조조명(124a, 124b, 124c)의 설치 각도는 주조명(X2)>제1보조조명(X3)>제2보조조명(X4)>제3보조조명(X5) 순으로 이루어진다. Casting name 122 is illumination that directly irradiates light onto the surface of the imaging area 10a of the inspection object, casting name 122 is 75 ° or more and 90 degrees (angle close to vertical) from the surface of the imaging area 10a. It is installed to have a first installation angle (X2). Of course, the casting name 122 may also provide indirect light L3 that is irradiated to the outer surface 135 of the blocking plate and reflected indirectly to the imaging area 10a according to the installation angle. However, the amount of indirect light is relatively small compared to auxiliary lights. The first, second, and third auxiliary lights 124a, 124b, and 124c are larger than the cast name 122 so that the indirect light L3 is irradiated indirectly than the light directly irradiated to the surface of the imaging area 10a of the inspection object. It is installed to have a slope. As shown in FIG. 2, the installation angles of the casting name 122 and the first, second, and third auxiliary lights 124a, 124b, and 124c are set to the casting name (X2)> first auxiliary light (X3)> second auxiliary light. (X4)> Third auxiliary light (X5).

상술한 바와 같은 구성으로 이루어지는 광학 검사 시스템(100)에서 조명들의 빛 경로를 살펴보면 다음과 같다. 먼저, 주조명(122)에서 나오는 빛은 수직에 가까운 각도로 촬상영역(10a)으로 조사되고, 촬상영역(10a)으로부터 반사되는 빛들 중에서 수직한 빛(L1)은 수직영역(a)을 통해 카메라(110)로 입사된다. 이때 촬상영역(10a)의 표면에 패인부분(미도시됨)들이 있다면, 그 패인부분으로 조사되는 빛은 수직으로 반사되지 않기 때문에 그 부분이 어둡게 보인다. 따라서 카메라(110)에서 촬상된 이미지를 보면 패인부분들이 어둡기 때문에 불량 검출이 매우 용이하다. 그리고, 보조조명들(124a, 124b, 124c)에서 나오는 빛의 일부는 촬상영역(10a)으로 조사되기도 하지만, 대부분의 빛은 차단판(124)의 외측면(125,반사면)으로 조사된다. 차단판(124)의 외측면(125)으로 조사되는 비수직한 빛(L2)은 외측면(125)을 따라 유도되어 수직에 가까운 간접 빛(L3)으로 촬상영역(10a)으로 간접적으로 제공된다. 이때, 외측면(125)으로 조사되어 반사되는 간접 빛(L3)은 반사되는 과정을 통해 부드럽고 균일하게 되면서 촬상영역(10a)의 광량을 증가시키는 빛으로 제공된다. 만약, 보조조명들(124a,124b,124c)로부터 조사되는 빛이 촬상영역(10a) 표면으로 직접 조사된다면 표면의 패인부분들 안쪽에서 빛 산란에 의해 그 부분이 밝게 보이게 되면서 불량 위치가 보이지 않게 되는 문제점이 발생될 수 있다. 된다. 따라서, 본 발명에서는 이러한 패인부분의 미검출을 방지하기 위하여 보조조명들(124a, 124b, 124c)의 조사각도(설치 각도)를 경사지게 하여, 촬상영역(10a)으로 직접조사되는 빛을 최대한 줄이고 단지 카메라(110)로 입사되는 광량을 늘이기 위해 촬상영역(10a)으로 간접적인 빛(L3)을 제공하도록 한 것이다. Looking at the light path of the lights in the optical inspection system 100 having the configuration as described above are as follows. First, the light emitted from the casting name 122 is irradiated to the imaging area 10a at an angle close to the vertical, and among the light reflected from the imaging area 10a, the vertical light L1 is a camera through the vertical area a. Incident at 110. At this time, if there are recessed portions (not shown) on the surface of the imaging area 10a, the portions irradiated with the recessed portions are dark because they are not reflected vertically. Therefore, when looking at the image picked up by the camera 110, since the indentations are dark, defect detection is very easy. Although some of the light emitted from the auxiliary lights 124a, 124b, and 124c is irradiated to the imaging area 10a, most of the light is irradiated to the outer surface 125 (reflection surface) of the blocking plate 124. The non-vertical light L2 irradiated to the outer surface 125 of the blocking plate 124 is guided along the outer surface 125 and indirectly provided to the imaging area 10a as an indirect light L3 close to the vertical. . In this case, the indirect light L3 that is irradiated and reflected on the outer surface 125 is provided as light that increases the amount of light in the imaging area 10a while being soft and uniform through the reflecting process. If the light irradiated from the auxiliary lights 124a, 124b, and 124c is directly irradiated onto the surface of the imaging area 10a, the part becomes bright due to light scattering inside the recesses of the surface, and thus the defective position is not visible. Problems may arise. do. Therefore, in the present invention, the irradiation angles (installation angles) of the auxiliary lights 124a, 124b, and 124c are inclined to prevent the undetection of such recessed portions, so that the light directly irradiated to the imaging area 10a is reduced as much as possible. In order to increase the amount of light incident on the camera 110, indirect light L3 is provided to the imaging area 10a.

본 발명에 따른 광학 검사 시스템(100)은 필름, 테이프 형태의 기판 중 COF 기판을 검사하는데 매우 유용하게 사용될 수 있다. 예컨대, COF 기판은 그 표면이 거울과 유사하여 매우 반사적인 표면을 가지고 있다. 그리고 COF 기판의 검사 대상물에 비추어지는 빛의 입사각이 카메라와 수직으로 조사되어야만 그 빛이 카메라의 이미지 센서로 전달되어 선명한 영상을 얻을 수 있게 된다. 즉, 본 발명의 광학 검사 시스템(100)은 검사대상물(10)의 촬상영역(10a)으로부터 수직하게 반사되는 빛(L1)이 다른 빛과 충돌하지 않고 카메라(110)로 제공할 수 있고, 수직하지 않은 빛(L2)은 촬상영역(10a)에 수직에 가까운 간접 조명을 제공되도록 수직하지 않은 빛(L2)의 방향을 바꾸어 조사시킴으로써 빛의 광량 손실을 최대한 줄일 수 있을 뿐만 아니라 선명한 영상을 얻을 수 있는 것이다.The optical inspection system 100 according to the present invention can be very useful for inspecting a COF substrate in a film or tape type substrate. For example, a COF substrate has a very reflective surface whose surface is similar to a mirror. When the incident angle of light shining on the inspection object of the COF substrate is irradiated perpendicularly to the camera, the light is transmitted to the image sensor of the camera to obtain a clear image. That is, in the optical inspection system 100 of the present invention, the light L1 that is vertically reflected from the imaging area 10a of the inspection object 10 may be provided to the camera 110 without colliding with other light. The non-light L2 is irradiated by changing the direction of the non-vertical light L2 so as to provide indirect illumination close to the vertical in the imaging area 10a, thereby reducing the amount of light loss as much as possible and obtaining a clear image. It is.

이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 그리고, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시예들은 본 발명을 실시하는데 있어 최선의 상태를 설명하기 위한 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The foregoing detailed description illustrates the present invention. In addition, the foregoing description merely shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. And, it is possible to change or modify within the scope of the concept of the invention disclosed in this specification, the scope equivalent to the written description, and / or the skill or knowledge in the art. The above-described embodiments are for explaining the best state in carrying out the present invention, the use of other inventions such as the present invention in other state known in the art, and the specific fields of application and uses of the present invention. Various changes are also possible. Accordingly, the detailed description of the invention is not intended to limit the invention to the disclosed embodiments. Also, the appended claims should be construed to include other embodiments.

상술한 바와 같이, 본 발명은 검사 대상물 표면의 불량 형상을 검사하는데 신뢰성을 높일 수 있다. 본 발명은 빛의 광량 손실을 최대한 줄일 수 있을 뿐만 아니라 차단부재의 각도를 조절함으로써 검사대상물 표면의 다양한 불량 형상을 검사하는데 필요한 빛의 성분(각도를 변화시켜 얻는 빛의 성분)을 얻을 수 있다는데 있다. 본 발명은 필름, 테이프 형태의 기판 중 COF 기판을 검사하는데 매우 유용하게 사용될 수 있다. As described above, the present invention can increase the reliability in inspecting the defective shape of the surface of the inspection object. The present invention not only can reduce the amount of light loss as much as possible, but also by adjusting the angle of the blocking member, it is possible to obtain a light component (a light component obtained by changing the angle) necessary for inspecting various defective shapes on the surface of the inspection object. . The present invention can be very usefully used to inspect a COF substrate in a film or tape type substrate.

Claims (17)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템에 있어서:In an optical inspection system for optically inspecting the surface of an inspection object: 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; A camera for imaging the surface of the inspection object; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명; 및At least two lights for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be picked up by the camera; And 상기 촬상영역으로부터 반사되어 상기 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되지 않도록 상기 비수직한 빛을 차단하는 차단부재를 포함하되;And a blocking member blocking the non-vertical light so that the vertical light reflected from the imaging area and incident vertically into the camera does not collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights; 상기 적어도 2개의 조명은 The at least two lights 상기 검사대상물의 촬상영역 표면에 제1각도로 빛을 조사하도록 설치되는 주조명; 및A casting name installed to irradiate light on the surface of the imaging area of the inspection object at a first angle; And 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 빛을 조사하도록 설치되는 적어도 하나의 보조조명을 포함하고, At least one auxiliary light is installed to irradiate light at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name, 상기 차단부재는 상기 수직한 빛이 통과하는 경로와 상기 적어도 2개의 조명 사이에 위치되고, 상기 적어도 하나의 보조조명으로부터 조사되는 빛 중에서 상기 촬상영역으로부터 벗어나는 수직하지 않은 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 반사면으로 이루어지는 외측면을 갖는 차단판을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.The blocking member is positioned between the path through which the vertical light passes and the at least two illuminations so that non-vertical light that is out of the imaging area is irradiated to the imaging area among the light emitted from the at least one auxiliary light. And a blocking plate having an outer surface made of a reflective surface. 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템에 있어서:In an optical inspection system for optically inspecting the surface of an inspection object: 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; A camera for imaging the surface of the inspection object; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명; 및At least two lights for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be picked up by the camera; And 상기 촬상영역으로부터 반사되어 상기 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되지 않도록 상기 비수직한 빛을 차단하는 차단부재를 포함하되;And a blocking member blocking the non-vertical light so that the vertical light reflected from the imaging area and incident vertically into the camera does not collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights; 상기 적어도 2개의 조명은 The at least two lights 상기 검사대상물의 촬상영역 표면에 제1각도로 빛을 조사하도록 설치되는 주조명; 및A casting name installed to irradiate light on the surface of the imaging area of the inspection object at a first angle; And 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 빛을 조사하도록 설치되는 적어도 하나의 보조조명을 포함하고, At least one auxiliary light is installed to irradiate light at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name, 상기 차단부재는 상기 수직한 빛이 통과하는 경로와 상기 적어도 2개의 조명 사이에 위치되고, 상기 적어도 하나의 보조조명으로부터 조사되는 빛 중에서 상기 촬상영역으로부터 벗어나는 수직하지 않은 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 안내하며, 상기 촬상영역을 향하도록 경사진 외측면을 갖는 차단판을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템. The blocking member is positioned between the path through which the vertical light passes and the at least two illuminations so that non-vertical light that is out of the imaging area is irradiated to the imaging area among the light emitted from the at least one auxiliary light. And a blocking plate which guides and has an outer side surface inclined toward the imaging area. 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템에 있어서:In an optical inspection system for optically inspecting the surface of an inspection object: 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; A camera for imaging the surface of the inspection object; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명; 및At least two lights for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be picked up by the camera; And 상기 촬상영역으로부터 반사되어 상기 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되지 않도록 상기 비수직한 빛을 차단하는 차단부재를 포함하되;And a blocking member blocking the non-vertical light so that the vertical light reflected from the imaging area and incident vertically into the camera does not collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights; 상기 적어도 2개의 조명은 The at least two lights 상기 검사대상물의 촬상영역 표면에 제1각도로 빛을 조사하도록 설치되는 주조명; 및A casting name installed to irradiate light on the surface of the imaging area of the inspection object at a first angle; And 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 빛을 조사하도록 설치되는 적어도 하나의 보조조명을 포함하고, At least one auxiliary light is installed to irradiate light at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name, 상기 차단부재는 상기 수직한 빛이 통과하는 경로와 상기 적어도 2개의 조명 사이에 위치되고, 상기 적어도 하나의 보조조명으로부터 조사되는 빛 중에서 상기 촬상영역으로부터 벗어나는 수직하지 않은 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 안내하는 외측면을 갖는 차단판; 및 The blocking member is positioned between the path through which the vertical light passes and the at least two illuminations so that non-vertical light that is out of the imaging area is irradiated to the imaging area among the light emitted from the at least one auxiliary light. A blocking plate having a guided outer surface; And 상기 차단판의 외측면을 따라 상기 촬상영역으로 안내되는 빛의 각도를 조절할 수 있도록 상기 차단판에 설치되는 힌지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.And a hinge part installed on the blocking plate so as to adjust an angle of light guided to the imaging area along an outer surface of the blocking plate. 삭제delete 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템에 있어서:In an optical inspection system for optically inspecting the surface of an inspection object: 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; A camera for imaging the surface of the inspection object; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 적어도 2개의 조명; 및At least two lights for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be picked up by the camera; And 상기 촬상영역으로부터 반사되어 상기 카메라로 수직하게 입사되는 수직한 빛이 상기 적어도 2개의 조명으로부터 조사되는 비수직한 빛과 충돌되지 않도록 상기 비수직한 빛을 차단하는 차단부재를 포함하되;And a blocking member blocking the non-vertical light so that the vertical light reflected from the imaging area and incident vertically into the camera does not collide with the non-vertical light emitted from the at least two lights; 상기 적어도 2개의 조명은 The at least two lights 상기 검사대상물의 촬상영역 표면에 제1각도로 빛을 조사하도록 설치되는 주조명; 및A casting name installed to irradiate light on the surface of the imaging area of the inspection object at a first angle; And 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 빛을 조사하도록 설치되는 적어도 하나의 보조조명을 포함하고, At least one auxiliary light is installed to irradiate light at an inclination angle smaller than the first angle of the casting name, 상기 차단부재는 상기 수직한 빛이 통과하는 경로와 상기 적어도 2개의 조명 사이에 위치되고, 상기 적어도 하나의 보조조명으로부터 조사되는 빛 중에서 상기 촬상영역으로부터 벗어나는 수직하지 않은 빛이 상기 촬상영역으로 조사되도록 안내하는 외측면을 갖는 차단판; 및The blocking member is positioned between the path through which the vertical light passes and the at least two illuminations so that non-vertical light that is out of the imaging area is irradiated to the imaging area among the light emitted from the at least one auxiliary light. A blocking plate having a guided outer surface; And 상기 차단판에 설치되고, 저면에 상기 주조명과 상기 보조조명들이 설치되며, 상기 주조명과 상기 보조조명들의 조사각도를 조절할 수 있도록 회전 가능하게 설치되는 지지판을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.An optical inspection system, the support plate being installed on the blocking plate, the casting name and the auxiliary lights installed on a bottom surface thereof, and a support plate rotatably installed to adjust an irradiation angle of the casting name and the auxiliary lights. . 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 7 to 9, 상기 주조명과 상기 보조조명들은 상기 차단부재의 저면에 회전 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.The cast name and the auxiliary lights are rotatably installed on the bottom surface of the blocking member. 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 7 to 9, 상기 주조명의 제1각도와 상기 차단판의 외측면의 경사각도는 상기 촬상영역의 표면과 이루는 각도가 75°내지 90°인 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.And an angle of inclination of the first angle of the casting name and the outer surface of the blocking plate is 75 ° to 90 ° with the surface of the imaging area. 삭제delete 삭제delete 검사대상물의 표면을 광학적으로 검사하는 광학 검사 시스템에 있어서:In an optical inspection system for optically inspecting the surface of an inspection object: 검사대상물 표면을 촬상하는 카메라; A camera for imaging the surface of the inspection object; 상기 카메라에 의해 촬상될 상기 검사대상물의 촬상영역으로 빛을 조사하는 조명들; 및Illuminations for irradiating light to an imaging area of the inspection object to be imaged by the camera; And 상기 검사대상물의 촬상영역으로 조사되어 반사되는 빛들 중에서 수직한 빛들만 상기 카메라로 입사되도록 수직영역을 제공하는 차단부재를 포함하되;It includes a blocking member for providing a vertical area so that only the vertical light of the light that is irradiated to the imaging area of the inspection object is reflected to the camera; 상기 차단부재는 상기 조명들이 위치되며 상기 조명들의 빛이 상기 검사대상물의 촬상영역으로 제공되어지는 외곽영역과, 상기 수직영역을 구획하기 위한 차단판을 포함하고, The blocking member includes an outer area where the lights are located and the light of the lights is provided to the imaging area of the inspection object, and a blocking plate for partitioning the vertical area. 상기 차단판은 반사면으로 이루어지고, 상기 조명들로부터 조사되는 빛 중에서 상기 차단판의 외측면으로 조사되는 빛이 상기 촬상영역으로 안내되도록 경사지게 형성되는 외측면을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템.The blocking plate is formed of a reflecting surface, and the optical inspection system comprising an outer surface inclined so that the light irradiated to the outer surface of the blocking plate among the light irradiated from the illumination is guided to the imaging area. . 제16항에 있어서,The method of claim 16, 상기 조명들은 The lights 상기 검사대상물의 촬상영역에 가장 가깝게 위치되며, 제1각도로 상기 촬상영역에 빛을 조사하는 주조명; 및A casting name which is located closest to an imaging area of the inspection object and irradiates light to the imaging area at a first angle; And 상기 주조명의 제1각도보다 작은 경사각도로 상기 촬상영역에 빛을 조사하는 보조조명들을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 시스템. And auxiliary lights for illuminating the imaging area with an inclination angle smaller than the first angle of the casting name.
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