n 비트 데이터에 상응하는 아날로그 데이터 전압을 출력하는 디지털 아날로그 컨버터에 있어서, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 상기 n 비트 데이터의 상위 x 비트에 상응하는 상위 비트 전압 및 상기 n 비트 데이터의 하위 y 비트에 상응하는 하위 비트 전압을 입력받아 상기 아날로그 데이터 전압을 출력하는 쵸핑 앰프(chopping amp)부;를 구비한다. 상기 쵸핑 앰프부는, 비반전 모드시 상기 상위 비트 전압으로 충전되는 샘플 홀드 커패시터; 및 상기 비반전 모드시 상기 상위 비트 전압을 상기 샘플 홀드 커패시터에 공급하고, 반전 모드시 상기 상위 비트 전압과 상기 하위 비트 전압을 더한 전압을 상기 아날로그 데이터 전압으로서 출력하는 쵸핑 앰프;를 구비한다.
상기 쵸핑 앰프는, 상기 비반전 모드시 상기 상위 비트 전압을 입력받는 제 1 입력 단자; 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 1 단자에 연결되는 제 2 입력 단자; 및 상기 반전 모드시 상기 아날로그 데이터 전압을 출력하는 출력 단자;를 구비할 수 있다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 비반전 모드시 상기 제 1 입력 단자는 정극성 단자이고 상기 제 2 입력 단자는 부극성 단자이며, 상기 반전 모드시 상기 제 1 입력 단자는 부극성 단자이고 상기 제 2 입력 단자는 정극성 단자이다.
본 발명에서, 상기 쵸핑 앰프가 상기 비반전 모드 및 상기 반전 모드로 교대로 동작함으로써, 상기 쵸핑 앰프의 오프셋(offset)이 제거될 수 있다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 디지털 아날로그 컨버터는, 상기 상위 비트 전압을 상기 제 1 입력 단자로 전달하는 상위 비트 스위치; 상기 하위 비트 전압 또는 기준 전압을 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 2 단자에 전달하는 하위 비트 스위치; 상기 제 1 입력 단자와 상기 출력 단자를 연결하는 제 1 피드백 스위치; 및 상기 제 2 입력 단자와 상기 출력 단자를 연결하는 제 2 피드백 스위치;를 더 구비할 수 있다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 상위 비트 스위치는, 상기 비반전 모드시에 온(on)되고, 상기 반전 모드시에 오프(off)된다. 상기 하위 비트 스위치는, 상기 비반전 모드시에 상기 기준 전압을 전달하고, 상기 반전 모드시에 상기 하위 비트 전압을 전달한다. 상기 제 1 피드백 스위치는, 상기 비반전 모드시에 오프(off)되고, 상기 반전 모드시에 온(on)된다. 상기 제 2 피드백 스위치는, 상기 비반전 모드시에 온(on)되고, 상기 반전 모드시에 오프(off)된다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 반전 모드시, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 2 단자의 전위는 상기 하위 비트 전압의 전위이고, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 1 단자의 전위는 상기 상위 비트 전압과 상기 하위 비트 전압을 더한 전압의 전위이다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는, 입력되는 다수의 상위 레벨 전압들 중에서 상기 상위 x 비트에 상응하는 상위 레벨 전압을 상기 상위 비트 전압으로서 출력하는 상위 비트 디코더; 및 입력되는 다수의 하위 레벨 전압들 중에서 상기 하위 y 비트에 상응하는 하위 레벨 전압을 상기 하위 비트 전압으로서 출력하는 하위 비트 디코더;를 더 구비할 수 있다. 이 경우에 x + y = n (x, y, n은 자연수)이다. 또한, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는, 제 1 상위 기준 전압과 제 2 상위 기준 전압의 전압 차이를 분배해서 상기 다수의 상위 레벨 전압들을 출력하는 상위 레벨 전압 생성부; 및 제 1 하위 기준 전압과 제 2 하위 기준 전압의 전압 차이를 분배해서 상기 다수의 하위 레벨 전압들을 출력하는 하위 레벨 전압 생성부;를 더 구비할 수 있다. 상기 상위 레벨 전압 생성부는 x 개의 저항들로 이루어진 저항 스트링을 구비할 수 있고, 상기 하위 레벨 전압 생성부는 y 개의 저항들로 이루어진 저항 스트링을 구비할 수 있다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 제 2 상위 기준 전압의 전위는 상기 제 2 하위 기준 전압의 전위와 같다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 디스플레이 장치에 구비되는 디스플레이 패널 드라이버에 적용될 수 있다. 이 경우, 디스플레이 패널에 대한 스캔 동작에서, 상기 스캔 동작의 1 라인 구간은 상기 비반전 모드로 동작하는 구간과 상기 반전 모드로 동작하는 구간으로 구분될 수 있다. 상기 스캔 동작의 1 라인 구간은, 상기 비반전 모드로 동작하는 제 1 구간과 상기 반전 모드로 동작하는 제 2 구간으로 이루어질 수 있다.
또한, 샘플 홀드 커패시터 및 비반전 모드와 반전 모드로 교대로 동작하는 쵸핑 앰프(chopping amp)를 사용하여, n 비트 데이터를 아날로그 데이터 전압으로 변환하는 디지털 아날로그 컨버팅 방법에 있어서, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버팅 방법은, 상기 n 비트 데이터의 상위 x 비트에 상응하는 상위 비트 전압 및 상기 n 비트 데이터의 하위 y 비트에 상응하는 하위 비트 전압을 생성하는 단계; 상기 비반전 모드시, 상기 쵸핑 앰프의 제 1 입력 단자에 상기 상위 비트 전압을 입력하여, 제 1 단자가 상기 쵸핑 앰프의 제 2 입력 단자에 연결된 상기 샘플 홀드 커패시터를 상기 상위 비트 전압으로 충전시키는 단계; 및 상기 반전 모드시, 상기 하위 비트 전압을 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 2 단자에 공급하고, 상기 쵸핑 앰프의 출력 단자와 상기 쵸핑 앰프의 제 1 입력 단자를 연결시켜, 상기 상위 비트 전압과 상기 하위 비트 전압을 더한 전압을 상기 아날로그 데이터 전압으로서 출력하는 단계;를 구비한다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 비반전 모드시에, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 2 단자의 전위는 기준 전압의 전위이고, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 1 단자의 전위는 상기 상위 비트 전압의 전위이다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 반전 모드시에, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 2 단자의 전위는 상기 하위 비트 전압의 전위이고, 상기 샘플 홀드 커패시터의 제 1 단자의 전위는 상기 상위 비트 전압과 상기 하위 비트 전압을 더한 전압의 전위이다.
본 발명의 어느 한 실시예에 있어서, 상기 상위 비트 전압은, 제 1 상위 기준 전압과 제 2 상위 기준 전압의 전압 차이를 분배해서 생성되는 다수의 상위 레벨 전압들 중에서 상기 상위 x 비트에 상응하는 상위 레벨 전압이다. 상기 하위 비트 전압은, 제 1 하위 기준 전압과 제 2 하위 기준 전압의 전압 차이를 분배해서 생성되는 다수의 하위 레벨 전압들 중에서 상기 하위 y 비트에 상응하는 하위 레벨 전압이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지의 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.
본 발명을 설명하기에 앞서, 먼저 도 3에 대하여 살펴 본다.
도 3은 2 개의 앰프부를 구비하는 디지털 아날로그 컨버터를 나타내는 도면이다. 즉, 도 3은 본 발명과 비교되는 디지털 아날로그 컨버터를 나타내는 도면이다.
도 3에는 상위 레벨 전압 생성부(341), 하위 레벨 전압 생성부(342), 상위 비트 디코더(351), 하위 비트 디코더(352), 제 1 앰프부(361) 및 제 2 앰프부(362)가 도시되어 있다.
상위 레벨 전압 생성부(341)는 제 1 상위 기준 전압(VH1)과 제 2 상위 기준 전압(VH2)의 전압 차이를 분배해서 다수의 상위 레벨 전압들(V11, V12, ..., V1x)을 생성한다. 하위 레벨 전압 생성부(342)는 제 1 하위 기준 전압(VL1)과 제 2 하위 기준 전압(VL2)의 전압 차이를 분배해서 다수의 하위 레벨 전압들(V21, V22, ..., V2y)을 생성한다.
도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터로 입력되는 디지털 데이터는 상위 x 비트(Din_UB)와 하위 y 비트(Din_LB)로 나뉘어 상위 비트 디코더(351)와 하위 비트 디코더(352)로 각각 입력된다. 상위 비트 디코더(351)는 다수의 상위 레벨 전압들(V11, V12, ..., V1x) 중에서 상위 x 비트(Din_UB)에 상응하는 상위 레벨 전압을 상위 비트 전압(V_UB)으로서 출력한다. 하위 비트 디코더(352)는 다수의 하위 레벨 전압들(V21, V22, ..., V2y) 중에서 하위 y 비트(Din_LB)에 상응하는 하위 레벨 전압을 하위 비트 전압(V_LB)으로서 출력한다.
n 비트 데이터를 아날로그 데이터 전압으로 변환하는 경우에, 2n 개의 저항을 구비하는 레벨 전압 생성부 1 개 및 2n-to-1 디코더 1 개를 사용하는 디지털 아날로그 컨버터에 비해서, 도 3에서와 같이 2n/2 개의 저항을 구비하는 레벨 전압 생성부 2 개(341, 342) 및 2n/2-to-1 디코더 2 개(351, 352)를 사용하는 디지털 아날 로그 컨버터는 적은 칩 사이즈를 요구한다. 그만큼 디지털 아날로그 컨버터의 칩 사이즈를 줄일 수 있다. 도 3에서 x = y = n/2 으로 설정할 수 있다.
도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터는 2 개의 앰프부(361, 362)를 구비한다. 각각의 앰프부(361, 362)는 앰프(AMP), 상위 커패시터(C_U), 하위 커패시터(C_L), 상위 스위치(S_U), 하위 스위치(S_L), 피드백 스위치(S_fb) 및 초기화 스위치(S_ini)를 구비한다. 이하에서, 도 4를 참조하여 도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터의 동작을 설명한다.
도 4는 도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터의 동작 타이밍을 나타내는 도면이다. 도 4에서 1 라인 구간은, 예컨대, 디스플레이 패널의 1 게이트 라인을 스캔(scan)하는 구간으로 볼 수 있다.
첫번째 1 라인 구간에서, 샘플(SAMPLE) 모드로 동작하는 제 1 앰프부(361)에서는 상위 커패시터(C_U)가 상위 비트 전압(V_UB)으로 충전된다. 홀드(HOLD) 모드로 동작하는 제 2 앰프부(362)에서는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)이 더해져서 아날로그 데이터 전압 V_out2이 출력된다.
두번째 1 라인 구간에서, 샘플(SAMPLE) 모드로 동작하는 제 2 앰프부(362)에서는 상위 커패시터(C_U)가 상위 비트 전압(V_UB)으로 충전된다. 홀드(HOLD) 모드로 동작하는 제 1 앰프부(361)에서는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)이 더해져서 아날로그 데이터 전압 V_out1이 출력된다.
도 4에서 보듯이, 세번째 1 라인 구간 및 네번째 1 라인 구간에서도 샘플(SAMPLE) 모드와 홀드(HOLD) 모드가 교대로 반복된다. 이와 같이, 도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터에서는, 제 1 앰프부(361)와 제 2 앰프부(362)가 샘플(SAMPLE) 모드와 홀드(HOLD) 모드를 교대로 반복한다. 각각의 앰프부(361, 362)가 1 라인 구간에서 샘플(SAMPLE) 모드와 홀드(HOLD) 모드 모두를 수행할 수 없기 때문에, 도 3에 도시된 디지털 아날로그 컨버터는 2 개의 앰프부(361, 362)를 필요로 한다. 그만큼 디지털 아날로그 컨버터의 칩 사이즈가 커지게 된다. 이와 달리, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 1 개의 쵸핑 앰프(chopping amp)부를 필요로 한다. 이하에서는, 도 5a 내지 도 6을 참조하여 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터를 자세하게 설명한다.
도 5a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디지털 아날로그 컨버터를 나타내는 도면이고, 도 5b는 도 5a에 도시된 디지털 아날로그 컨버터가 비반전(Non-inverting) 모드로 동작하는 경우를 나타내며, 도 5c는 도 5a에 도시된 디지털 아날로그 컨버터가 반전(Inverting) 모드로 동작하는 경우를 나타낸다.
도 5a 내지 도 5c에는 상위 레벨 전압 생성부(541), 하위 레벨 전압 생성부(542), 상위 비트 디코더(551), 하위 비트 디코더(552) 및 쵸핑 앰프부(560)가 도시되어 있다.
상위 레벨 전압 생성부(541)는 제 1 상위 기준 전압(VH1)과 제 2 상위 기준 전압(VH2)의 전압 차이를 분배해서 다수의 상위 레벨 전압들(V11, V12, ..., V1x)을 생성한다. 하위 레벨 전압 생성부(542)는 제 1 하위 기준 전압(VL1)과 제 2 하위 기준 전압(VL2)의 전압 차이를 분배해서 다수의 하위 레벨 전압들(V21, V22, ..., V2y)을 생성한다. 도 5a 내지 도 5c에서, 제 2 상위 기준 전압(VH2)의 전위는 제 2 하위 기준 전압(VL2)의 전위와 동일하게 설정될 수 있다. 예컨대, 제 2 상위 기준 전압(VH2)의 전위 및 제 2 하위 기준 전압(VL2)의 전위는 기준 전압(VG)의 전위로 설정될 수 있다. 도 5a 내지 도 5c에서, 상위 레벨 전압 생성부(541)는 x 개의 저항들로 이루어진 저항 스트링을 구비하고, 하위 레벨 전압 생성부(542)는 y 개의 저항들로 이루어진 저항 스트링을 구비한다.
도 5a 내지 도 5c에 도시된 디지털 아날로그 컨버터로 입력되는 n 비트 데이터는 상위 x 비트(Din_UB)와 하위 y 비트(Din_LB)로 나뉘어 상위 비트 디코더(551)와 하위 비트 디코더(552)로 각각 입력된다. 앞서 설명하였듯이, n 비트 데이터를 아날로그 데이터 전압(V_out)으로 변환하는 경우에, 디지털 아날로그 컨버터의 칩 사이즈를 줄이기 위해서, n 비트 데이터를 2n 개의 저항을 구비하는 레벨 전압 생성부 1 개 및 2n-to-1 디코더 1 개를 사용하여 디코딩하지 않고, n 비트 데이터를 상위 x 비트(Din_UB)와 하위 y 비트(Din_LB)로 나누어 디코딩한다. 여기서, x + y = n (x, y, n은 자연수)이며, x = y = n/2 으로 설정할 수 있다. 다만, 본 발명의 다른 실시예에서는 x ≠ y ≠ n/2 으로 설정할 수도 있다.
상위 비트 디코더(551)는 다수의 상위 레벨 전압들(V11, V12, ..., V1x) 중에서 상위 x 비트(Din_UB)에 상응하는 상위 레벨 전압을 상위 비트 전압(V_UB)으로서 출력한다. 하위 비트 디코더(552)는 다수의 하위 레벨 전압들(V21, V22, ..., V2y) 중에서 하위 y 비트(Din_LB)에 상응하는 하위 레벨 전압을 하위 비트 전압(V_LB)으로서 출력한다.
쵸핑 앰프(chopping amp)부(560)는 n 비트 데이터의 상위 x 비트(Din_UB)에 상응하는 상위 비트 전압(V_UB) 및 n 비트 데이터의 하위 y 비트(Din_LB)에 상응하는 하위 비트 전압(V_LB)을 입력받아 아날로그 데이터 전압(V_out)을 출력하는 역할을 담당한다. 이를 위해서, 쵸핑 앰프부(560)는 샘플 홀드 커패시터(S_SH)와 쵸핑 앰프(AMP_chop)를 구비한다. 도 5에 도시된 쵸핑 앰프부(560)는, 샘플 홀드 커패시터(S_SH)와 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 동작을 제어하기 위해서, 상위 비트 스위치(S_UB), 하위 비트 스위치(S_LB), 제 1 피드백 스위치(S_FB1) 및 제 2 피드백 스위치(S_FB2)를 더 구비한다.
쵸핑 앰프(AMP_chop)는 제 1 입력 단자(T1), 제 2 입력 단자(T2) 및 아날로그 데이터 전압(V_out)을 출력하는 출력 단자를 구비한다. 그리고, 본 발명에서의 쵸핑 앰프(AMP_chop)는 1 라인 구간에서 비반전(Non-inverting) 모드와 반전(Inverting) 모드로 교대로 동작한다.
도 5b를 참조하여, 비반전(Non-inverting) 모드를 살펴본다.
비반전 모드시, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)는 정극성(+) 단자이고, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 2 입력 단자(T2)는 부극성(-) 단자이다. 비반전 모드시, 상위 비트 스위치(S_UB)는 온(on)되고, 하위 비트 스위치(S_LB)는 기준 전압(VG)을 전달하고, 제 1 피드백 스위치(S_FB1)는 오프(off)되며, 제 2 피드백 스위치(S_FB2)는 온(on)된다.
상위 비트 전압(V_UB)이 상위 비트 스위치(S_UB)를 통해서 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)에 입력되면, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 2 입 력 단자(T2)에 연결된 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자에는, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 가상 단락(virtual short) 특성상, 상위 비트 전압(V_UB)이 공급된다. 즉, 비반전 모드시, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자에는 상위 비트 전압(V_UB)이 공급되고 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자로는 기준 전압(VG)이 전달되므로, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)는 상위 비트 전압(V_UB)으로 충전된다. 이 때, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자의 전위는 기준 전압(VG)의 전위이고, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자의 전위(Vc)는 상위 비트 전압(V_UB)의 전위이다. 한편, 비반전 모드에서, 상위 비트 전압(V_UB)이 제 2 피드백 스위치(S_FB2)를 통해서 우선적으로 출력될 수 있다.
도 5c를 참조하여, 반전(Inverting) 모드를 살펴본다.
반전 모드시, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)는 부극성(-) 단자이고, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 2 입력 단자(T2)는 정극성(+) 단자이다. 반전 모드시, 상위 비트 스위치(S_UB)는 오프(off)되고, 하위 비트 스위치(S_LB)는 하위 비트 전압(V_LB)을 전달하고, 제 1 피드백 스위치(S_FB1)는 온(on)되며, 제 2 피드백 스위치(S_FB2)는 오프(off)된다.
하위 비트 전압(V_LB)이 하위 비트 스위치(S_LB)를 통해서 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자에 전달되면, 이미 상위 비트 전압(V_UB)으로 충전되어 있던 샘플 홀드 커패시터(C_SH)에서는 전압 부스팅(boosting)이 발생한다. 결과적으로, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자의 전위(Vc)는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압의 전위로 된다. 즉, 반전 모드시, 샘플 홀드 커패시 터(C_SH)의 제 2 단자의 전위는 하위 비트 전압(V_LB)의 전위이고, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자의 전위(Vc)는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압의 전위이다. 반전 모드에서 제 1 피드백 스위치(S_FB1)가 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)와 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 출력 단자를 연결하므로, 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압이 아날로그 데이터 전압(V_out)으로서 출력된다.
종합적으로 설명하자면, 쵸핑 앰프부(560)는, 비반전 모드에서 상위 비트 전압(V_UB)을 출력하고, 반전 모드에서 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압을 출력할 수 있다.
도 6은 도 5a에 도시된 디지털 아날로그 컨버터의 동작 타이밍을 나타내는 도면이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디지털 아날로그 컨버터에서, 쵸핑 앰프부(560)는 1 라인 구간에서 샘플(SAMPLE) 모드와 홀드(HOLD) 모드로 교대로 동작한다. 구체적으로, 쵸핑 앰프(AMP_chop)는 1 라인 구간에서 비반전(Non-inverting) 모드와 반전(Inverting) 모드로 교대로 동작한다. 각 라인 구간의 홀드(HOLD) 모드에서 쵸핑 앰프부(560)는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압을 아날로그 데이터 전압(V_out)으로서 출력한다.
이와 같이, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터에서는 쵸핑 앰프부(560)가 1 라인 구간에서 샘플(SAMPLE) 모드와 홀드(HOLD) 모드 모두를 수행할 수 있기 때문에, 1 개의 쵸핑 앰프부를 사용하여 디지털 아날로그 컨버터를 구현할 수 있 다. 2 개의 앰프부를 필요로 하는 디지털 아날로그 컨버터에 비해서, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 상대적으로 적은 칩 사이즈를 요구한다. 또한, 2 개의 앰프부를 사용하지 않고 1 개의 쵸핑 앰프부를 사용하므로, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 상대적으로 저전력을 소모한다.
한편, 대개의 앰프(AMP)는 그 자체의 오프셋(offset)을 가지게 마련이다. 그런데, 본 발명에서는 쵸핑 앰프(AMP_chop)가 비반전(Non-inverting) 모드 및 반전(Inverting) 모드로 교대로 동작하므로, 아날로그 데이터 전압(V_out)을 출력함에 있어서 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 오프셋(offset)을 제거할 수 있다.
본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버터는 디스플레이 장치에 구비되는 디스플레이 패널 드라이버(예컨대, 도 1에서의 소스 드라이버 120)에 적용될 수 있다. 이 경우, 디스플레이 패널(예컨대, 도 1에서의 110)에 대한 스캔(scan) 동작에서, 스캔 동작의 1 라인 구간(예컨대, 디스플레이 패널의 1 게이트 라인을 스캔하는 구간)은 비반전(Non-inverting) 모드로 동작하는 구간과 반전(Inverting) 모드로 동작하는 구간으로 구분될 수 있다. 즉, 도 6에서 보듯이, 스캔 동작의 1 라인 구간은 비반전(Non-inverting) 모드로 동작하는 제 1 구간과 반전(Inverting) 모드로 동작하는 제 2 구간으로 이루어질 수 있다.
이상에서는 장치 발명의 측면에서 본 발명을 설명하였으나, 본 발명은 다음과 같이 방법 발명의 측면에서 파악될 수도 있다. 즉, 샘플 홀드 커패시터(C_SH) 및 비반전 모드와 반전 모드로 교대로 동작하는 쵸핑 앰프(AMP_chop)를 사용하여, n 비트 데이터를 아날로그 데이터 전압(V_out)으로 변환하는 디지털 아날로그 컨버 팅 방법에 있어서, 본 발명에 따른 디지털 아날로그 컨버팅 방법은 다음과 같은 단계를 구비한다.
어느 일 단계에서, n 비트 데이터의 상위 x 비트(Din_UB)에 상응하는 상위 비트 전압(V_UB) 및 n 비트 데이터의 하위 y 비트(Din_LB)에 상응하는 하위 비트 전압(V_LB)을 생성한다. 상위 비트 전압(V_UB)은, 제 1 상위 기준 전압(VH1)과 제 2 상위 기준 전압(VH2)의 전압 차이를 분배해서 생성되는 다수의 상위 레벨 전압들(V11, V12, ..., V1x) 중에서 상위 x 비트(Din_UB)에 상응하는 상위 레벨 전압이다. 하위 비트 전압(V_LB)은, 제 1 하위 기준 전압(VL1)과 제 2 하위 기준 전압(VL2)의 전압 차이를 분배해서 생성되는 다수의 하위 레벨 전압들(V21, V22, ..., V2y) 중에서 하위 y 비트(Din_LB)에 상응하는 하위 레벨 전압이다.
다른 일 단계에서, 비반전(Non-inverting) 모드시, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)에 상위 비트 전압(V_UB)을 입력하여, 제 1 단자가 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 2 입력 단자(T2)에 연결된 샘플 홀드 커패시터(C_SH)를 상위 비트 전압(V_UB)으로 충전시킨다. 비반전 모드시에, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자의 전위는 기준 전압(VG)의 전위이고, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자의 전위(Vc)는 상위 비트 전압(V_UB)의 전위이다.
또 다른 일 단계에서, 반전(Inverting) 모드시, 하위 비트 전압(V_LB)을 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자에 공급하고, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 출력 단자와 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 제 1 입력 단자(T1)를 연결시켜, 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압을 아날로그 데이터 전압(V_out)으로 서 출력한다. 반전 모드시에, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 2 단자의 전위는 하위 비트 전압(V_LB)의 전위이고, 샘플 홀드 커패시터(C_SH)의 제 1 단자의 전위(Vc)는 상위 비트 전압(V_UB)과 하위 비트 전압(V_LB)을 더한 전압의 전위이다.
앞서 설명하였듯이, 쵸핑 앰프(AMP_chop)를 비반전 모드 및 반전 모드로 교대로 동작시킴으로써, 쵸핑 앰프(AMP_chop)의 오프셋(offset)을 제거할 수 있다.
이상에서는 도면에 도시된 구체적인 실시예를 참고하여 본 발명을 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하므로, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 기술을 가진 자라면 이로부터 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명의 보호 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 해석되어야 하고, 그와 동등 및 균등한 범위 내에 있는 모든 기술적 사상은 본 발명의 보호 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.