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KR100662995B1 - Examination method of mother substrate in organic light emitting display - Google Patents

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KR100662995B1
KR100662995B1 KR1020050124665A KR20050124665A KR100662995B1 KR 100662995 B1 KR100662995 B1 KR 100662995B1 KR 1020050124665 A KR1020050124665 A KR 1020050124665A KR 20050124665 A KR20050124665 A KR 20050124665A KR 100662995 B1 KR100662995 B1 KR 100662995B1
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KR
South Korea
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pixels
light emitting
supplied
mother substrate
organic light
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KR1020050124665A
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최상무
Original Assignee
삼성에스디아이 주식회사
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Abstract

A method for inspecting a mother substrate of an OLED is provided to improve inspection accuracy by setting all pixels at a non-light emitting state, while a data signal is supplied during an inspection process. All pixels formed on plural panels(210) on a mother substrate(200) are set to a non-light emitting state. Data signals are supplied to the pixels which are set to the non-light emitting state. When the pixels are charged at voltage levels corresponding to the data signals, the panels are inspected. A light emitting control signal is supplied to the pixels during a first interval of one frame, so that a transistor for controlling a current application timing for the OLED(Organic Light Emitting Diode) is turned off.

Description

유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법{Examination Method of Mother Substrate in Organic Light Emitting Display}Inspection method of mother substrate of organic light emitting display device {Examination Method of Mother Substrate in Organic Light Emitting Display}

도 1은 종래의 유기 발광 표시장치의 모기판을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a view schematically illustrating a mother substrate of a conventional organic light emitting display device.

도 2에 도시된 모기판의 검사방법을 나타내는 파형도이다.2 is a waveform diagram illustrating an inspection method of the mother substrate shown in FIG. 2.

도 3은 본 발명의 실시예에 의한 유기 발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다.3 is a diagram illustrating a mother substrate of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 도 3의 화소부에 포함되는 화소의 실시예를 나타내는 도면이다.4 is a diagram illustrating an example of a pixel included in a pixel unit of FIG. 3.

도 5는 도 3에 도시된 모기판의 검사방법을 나타내는 파형도이다. FIG. 5 is a waveform diagram illustrating a method of inspecting a mother substrate shown in FIG. 3.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

2,200 : 모기판 4,210 : 패널2,200: Motherboard 4,210: Panel

220 : 주사 구동부 230 : 화소부220: scan driver 230: pixel portion

231 : 화소회로 240 : 데이터 구동부231 pixel circuit 240 data driver

250 : 데이터 분배부 260 : 검사부250: data distribution unit 260: inspection unit

270,280 : 배선그룹270,280: Wiring group

본 발명은 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법에 관한 것으로, 특히 균일한 휘도로 유기 발광 표시장치의 패널들을 검사할 수 있도록 한 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mother substrate inspection method of an organic light emitting display device, and more particularly, to a mother substrate inspection method of an organic light emitting display device, which enables inspection of panels of an organic light emitting display device with uniform luminance.

일반적으로, 다수의 유기 발광 표시장치(Organic Light Emitting Display)의 패널들은 하나의 모기판 상에 형성된 후 스크라이빙(Scribing) 되어 개개의 유기 발광 표시장치들로 분리된다. 이 경우, 검사시간을 단축하기 위하여 모기판에 형성된 유기 발광 표시장치들의 이상여부를 검사하고, 검사가 끝난후 모기판이 스크라이빙(Scribing) 된다. In general, panels of a plurality of organic light emitting displays are formed on one mother substrate and then scribed and separated into individual organic light emitting displays. In this case, in order to shorten the inspection time, the organic light emitting display devices formed on the mother substrate are inspected for abnormality, and after the inspection is finished, the mother substrate is scribed.

도 1은 종래의 유기 발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다. 1 illustrates a mother substrate of a conventional organic light emitting display device.

도 1을 참조하면, 종래의 모기판(2)은 다수의 유기 발광 표시장치의 패널(4)을 구비한다. 모기판(2)의 외부에서는 제 1전원(ELVDD), 제 2전원(ELVSS) 및 제어신호들(CS)이 공급된다. 제 1전원(ELVDD) 및 제 2전원(ELVDD)은 도시되지 않은 전원선들을 경유하여 패널(4) 각각에 형성된 화소들로 공급된다. Referring to FIG. 1, a conventional mother substrate 2 includes a panel 4 of a plurality of organic light emitting display devices. The first power source ELVDD, the second power source ELVSS, and the control signals CS are supplied from the outside of the mother substrate 2. The first power supply ELVDD and the second power supply ELVDD are supplied to the pixels formed in each of the panels 4 via power lines not shown.

제어신호들(CS)은 패널(4)들 각각에 형성된 구동부들로 공급된다. 제어신호들(CS)을 공급받은 구동부들은 패널(4)에 형성된 주사선들로 주사신호를 순차적으 로 공급함과 아울러 데이터선들로 데이터신호를 공급한다. 또한, 제어신호들(CS)을 공급받은 구동부들은 패널(4)에 형성된 발광 제어선으로 발광 제어신호를 순차적으로 공급한다. 그러면, 패널(4)들 각각에 형성된 화소들에서 데이터신호에 대응하여 소정의 화상을 표시한다. 이때, 패널(4)에 표시되는 영상을 이용하여 패널(4)의 이상여부를 검사한다.The control signals CS are supplied to the driving units formed in each of the panels 4. The driving units supplied with the control signals CS sequentially supply the scan signals to the scan lines formed on the panel 4 and also supply the data signals to the data lines. In addition, the driving units supplied with the control signals CS sequentially supply the emission control signals to the emission control lines formed on the panel 4. Then, a predetermined image is displayed in correspondence with the data signal in the pixels formed in each of the panels 4. At this time, the abnormality of the panel 4 is inspected using the image displayed on the panel 4.

도 2는 구동부들에서 공급되는 주사신호 및 발광 제어신호를 나타내는 도면이다.2 is a diagram illustrating a scan signal and a light emission control signal supplied from the driving units.

도 2를 참조하면, 주사신호는 제 1주사선(S1) 내지 제 n주사선(Sn)으로 순차적으로 공급된다. 제 1주사선(S1) 내지 제 n주사선(Sn)으로 주사신호가 순차적으로 공급되면 패널(4)들 각각에 형성된 화소들이 수평라인 단위로 순차적으로 선택된다. 이때, 주사신호에 의하여 선택된 화소들로는 데이터신호가 공급되고, 이에 따라 화소들은 데이터신호에 대응되는 전압을 충전한다. Referring to FIG. 2, the scan signals are sequentially supplied to the first scan line S1 to the nth scan line Sn. When scan signals are sequentially supplied to the first scan line S1 to the nth scan line Sn, pixels formed in each of the panels 4 are sequentially selected in units of horizontal lines. In this case, a data signal is supplied to the pixels selected by the scan signal, and thus the pixels charge a voltage corresponding to the data signal.

발광 제어신호는 제 1발광 제어선(E1) 내지 제 n발광 제어선(En)으로 순차적으로 공급된다. 여기서, i(i는 자연수)번째 발광 제어선(Ei)으로 공급되는 발광 제어신호는 제 i-1발광 제어선(Ei-1) 및 제 i+1발광 제어선(E+1)으로 공급되는 발광 제어신호와 중첩되도록 공급된다. 발광 제어신호를 공급받는 화소들은 비발광 상태로 설정된다. 다시 말하여, 발광 제어신호는 데이터신호에 대응되는 전압이 화소에 충전되는 기간 동안 화소를 비발광 상태로 설정하게 된다. The emission control signal is sequentially supplied to the first emission control line E1 to the nth emission control line En. Here, the emission control signal supplied to the i (i is a natural number) th emission control line Ei is supplied to the i-1th emission control line Ei-1 and the i + 1th emission control line E + 1. It is supplied to overlap with the light emission control signal. The pixels supplied with the emission control signal are set to a non-emission state. In other words, the emission control signal sets the pixel to the non-emission state during the period in which the voltage corresponding to the data signal is charged to the pixel.

실제로, 종래에는 도 2에 도시된 바와 같은 구동파형을 패널들(4)로 공급하 면서 패널들(4)의 이상 여부를 검사하게 된다. 하지만, 도 2에 도시된 구동파형이 패널들(4)로 공급되게 되면 패널들(4)에서 균일한 휘도의 화상을 표시하지 못하고, 이에 따라 정확한 검사가 이루어지지 못한다. In practice, conventionally, while driving the driving waveform as shown in Figure 2 to the panel 4 to check whether the panel (4) is abnormal. However, when the driving waveform shown in FIG. 2 is supplied to the panels 4, the panels 4 may not display an image of uniform brightness, and thus, accurate inspection may not be performed.

이를 상세히 설명하면, 도 2에 도시된 바와 같이 발광 제어신호는 발광 제어선들(E1 내지 En)로 순차적으로 공급된다. 이 경우, 발광 제어신호가 공급되지 않는 화소들은 자신에게 공급된 데이터신호에 대응하여 소정의 빛을 생성한다. 즉, 패널들(4) 각각에 포함된 일부 화소들로 데이터신호가 공급되는 기간 동안 패널들(4) 각각에 포함된 나머지 화소들이 발광한다. 이와 같이 데이터신호가 공급되는 기간 동안 화소들이 발광되면 제 1전원(ELVDD)에서 소정의 전류가 화소들로 공급되기 때문에 제 1전원(ELVDD)의 전압강하(IR Drop)가 발생되고, 이에 따라 화소들이 원하는 전압을 충전하지 못한다.In detail, as illustrated in FIG. 2, the emission control signals are sequentially supplied to the emission control lines E1 to En. In this case, the pixels to which the emission control signal is not supplied generate predetermined light in response to the data signal supplied thereto. That is, while the data signal is supplied to some pixels included in each of the panels 4, the remaining pixels included in each of the panels 4 emit light. As such, when the pixels emit light during the period in which the data signal is supplied, a voltage drop IR drop of the first power source ELVDD occurs because a predetermined current is supplied to the pixels from the first power source ELVDD. Do not charge the desired voltage.

특히, 이와 같은 문제는 제 1전원(ELVDD)을 공급받는 입력핀(도시되지 않음)과 멀리 떨어진 패널(4)일 수록 더욱 심각하게 나타난다. 이와 같은 제 1전원(ELVDD)에서 전압강하 현상이 발생되면 검사과정에서 모기판(2)에 형성된 패널들(4) 간의 휘도 차이가 발생되고, 이에 따라 정확한 검사가 이루어지지 못한다. In particular, this problem is more serious as the panel 4 farther from the input pin (not shown) receiving the first power source ELVDD. When the voltage drop occurs in the first power supply ELVDD, a luminance difference between the panels 4 formed in the mother substrate 2 is generated during the inspection process, and thus, an accurate inspection cannot be performed.

따라서, 본 발명의 목적은 균일한 휘도로 유기 발광 표시장치의 패널들을 검사할 수 있도록 한 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법을 제공하는 것이다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for inspecting a mother substrate of an organic light emitting display device, which enables inspecting panels of the organic light emitting display device with uniform brightness.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법은 모기판에 위치되는 복수의 패널들 각각에 형성된 모든 화소들을 비발광 상태로 설정하는 단계와, 상기 비발광 상태로 설정된 화소들로 데이터신호를 공급하는 단계와, 상기 모든 화소에 상기 데이터신호에 대응되는 전압이 충전된 후 상기 모든 화소들을 발광 상태로 설정하여 상기 패널들의 이상 여부를 검사하는 단계를 포함한다.In order to achieve the above object, a method of inspecting a mother substrate of an organic light emitting diode display according to an embodiment of the present invention comprises the steps of setting all the pixels formed in each of the plurality of panels located on the mother substrate in a non-emitting state; Supplying a data signal to pixels set to a light emitting state, and checking all the pixels by setting all the pixels to a light emitting state after all the pixels are charged with a voltage corresponding to the data signal. do.

바람직하게, 상기 비발광 상태로 설정하는 단계는 한 프레임의 제 1기간 동안 상기 모든 화소들로 발광 제어신호를 공급하여 상기 화소들 각각에 포함되어 유기 발광 다이오드로 공급되는 전류의 공급시점을 제어하기 위한 트랜지스터를 턴-오프 상태로 설정한다. 상기 데이터신호를 공급하는 단계는 상기 한 프레임의 제 1기간 동안 상기 화소들로 주사신호 및 데이터신호를 공급하여 상기 화소들 각각에서 상기 데이터신호에 대응되는 전압을 충전시킨다. 상기 이상 여부를 검사하는 단계는 상기 한 프레임의 제 2기간 동안 상기 발광 제어신호의 공급을 중단하여 상기 트랜지스터를 턴-온 상태로 설정한다. 상기 한 프레임의 제 1기간 및 제 2기간은 서로 중첩되지 않는다. The setting of the non-emission state may include supplying a light emission control signal to all the pixels during a first period of one frame to control a time of supply of a current included in each of the pixels to be supplied to the organic light emitting diode. Set the transistor for the turn-off state. In the supplying of the data signal, a scan signal and a data signal are supplied to the pixels during the first period of the one frame to charge a voltage corresponding to the data signal in each of the pixels. In the checking of the abnormality, the supply of the light emission control signal is stopped during the second period of the one frame to set the transistor to a turn-on state. The first period and the second period of the one frame do not overlap each other.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 첨부된 도 3 내지 도 5를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 5 which can be easily implemented by those skilled in the art.

도 3은 본 발명의 실시예에 의한 모기판의 일례를 나타내는 도면이다.3 is a view showing an example of a mother substrate according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 모기판(200)은 매트릭스 형태로 배열되는 다수의 패널(210)들과, 제 1배선그룹(270) 및 제 2배선그룹(280)을 구비한다. Referring to FIG. 3, the mother substrate 200 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of panels 210 arranged in a matrix form, and a first wiring group 270 and a second wiring group 280. do.

제 1배선그룹(270)은 수직방향으로 형성되어 모기판(200) 상의 동일한 열에 위치된 패널들(210)에 공통으로 접속된다. 제 1배선그룹(270)은 제 3전원(VDD), 제 4전원(VSS), 주사 제어신호들 및 제 1전원(ELVDD)을 패널들(210)로 공급한다. The first wiring group 270 is formed in a vertical direction and commonly connected to the panels 210 positioned in the same row on the mother substrate 200. The first wiring group 270 supplies the third power source VDD, the fourth power source VSS, the scan control signals, and the first power source ELVDD to the panels 210.

제 1배선그룹(270)으로 공급된 제 3전원(VDD), 제 4전원(VSS) 및 주사 제어신호들은 패널들(210) 각각에 형성된 주사 구동부(220)로 공급된다. 제 1배선그룹(270)으로 공급된 제 1전원(ELVDD)은 패널들(210)의 화소부(230)로 공급된다. 실제로, 제 1전원(ELVDD)은 화소부(230)에 형성된 화소들(미도시) 각각으로 공급된다. The third power source VDD, the fourth power source VSS, and the scan control signals supplied to the first wiring group 270 are supplied to the scan driver 220 formed in each of the panels 210. The first power ELVDD supplied to the first wiring group 270 is supplied to the pixel portion 230 of the panels 210. In fact, the first power source ELVDD is supplied to each of the pixels (not shown) formed in the pixel unit 230.

제 2배선그룹(280)은 수평방향으로 형성되어 모기판(200) 상의 동일한 행에 위치된 패널들(210)에 공통으로 접속된다. 제 2배선그룹(280)은 제 2전원(ELVSS), 검사신호 및 바이어스 전압 등을 공급받는다. The second wiring group 280 is formed in the horizontal direction and commonly connected to the panels 210 positioned in the same row on the mother substrate 200. The second wiring group 280 receives a second power source ELVSS, a test signal, a bias voltage, and the like.

제 2배선그룹(280)으로 공급된 제 2전원(ELVSS)은 패널들(210)의 화소부(230)로 공급된다. 실제로, 제 2전원(ELVSS)은 화소부(230)에 형성된 화소들 각각으로 공급된다. 제 2배선그룹(280)으로 공급된 검사신호들은 검사부(260)로 공급 된다. 여기서, 검사신호들은 원장단위의 검사과정에서 화소부(230)에 포함된 화소들로 공급된다. 제 2배선그룹(280)으로 공급된 바이어스 전압은 데이터 분배부(250)로 공급된다. The second power supply ELVSS supplied to the second wiring group 280 is supplied to the pixel portion 230 of the panels 210. In fact, the second power source ELVSS is supplied to each of the pixels formed in the pixel unit 230. The test signals supplied to the second wiring group 280 are supplied to the test unit 260. In this case, the test signals are supplied to the pixels included in the pixel unit 230 during the test of the ledger unit. The bias voltage supplied to the second wiring group 280 is supplied to the data distributor 250.

패널들(210) 각각은 주사 구동부(220), 화소부(230), 데이터 구동부(240), 데이터 분배부(210) 및 검사부(260)를 구비한다. Each of the panels 210 includes a scan driver 220, a pixel unit 230, a data driver 240, a data distributor 210, and an inspector 260.

주사 구동부(220)는 제 1배선그룹으로부터 제 3전원(VDD), 제 4전원(VSS) 및 주사제어신호들을 공급받는다. 제 3전원(VDD), 제 4전원(VSS) 및 주사제어신호들을 공급받은 주사 구동부(220)는 화소부(230)에 포함된 주사선들(미도시)로 주사신호를 공급함과 아울러 발광 제어선들(미도시)로 발광 제어신호를 공급한다. 주사 구동부(220)에서 공급되는 구동파형에 대하여 상세한 설명은 후술하기로 한다.The scan driver 220 receives the third power source VDD, the fourth power source VSS, and the scan control signals from the first wiring group. The scan driver 220, which receives the third power source VDD, the fourth power source VSS, and the scan control signals, supplies scan signals to scan lines (not shown) included in the pixel unit 230, and emits light control lines. The light emission control signal is supplied to (not shown). The driving waveform supplied from the scan driver 220 will be described in detail later.

화소부(230)는 유기 발광 다이오드를 구비한 복수의 화소들로 이루어진다. 화소들은 주사선, 데이터선 및 발광 제어선에 접속되어 소정의 화상을 표시한다. 화소부(230)에 포함된 화소의 구조에 대한 설명은 후술하기로 한다. The pixel unit 230 includes a plurality of pixels including an organic light emitting diode. The pixels are connected to the scanning line, the data line and the emission control line to display a predetermined image. The structure of the pixel included in the pixel unit 230 will be described later.

데이터 구동부(240)는 각각의 패널(210)이 모기판(200)으로부터 스크라이빙 된 이후 외부로부터 공급되는 데이터에 대응하여 데이터신호를 생성한다. 이와 같은 데이터 구동부(240)는 모기판(200)에서 원장단위의 검사가 행해질 때 구동되지 않는다. The data driver 240 generates a data signal corresponding to data supplied from the outside after each panel 210 is scribed from the mother substrate 200. The data driver 240 is not driven when the mother unit 200 inspects the ledger unit 200.

데이터 분배부(250)는 데이터 구동부(240) 각각의 출력선으로부터 공급되는 데이터신호를 복수의 데이터선으로 공급한다. 이와 같은 데이터 분배부(250)는 데이터 구동부(240)의 채널 수를 감소시켜 제조비용을 절감하기 위하여 사용된다. 데이터 분배부(250)는 복수의 트랜지스터를 구비하며, 모기판(200)에서 원장단위의 검사가 행해질 때 복수의 트랜지스터들은 바이어스 전압에 의하여 턴-오프 된다. The data distributor 250 supplies a data signal supplied from an output line of each of the data drivers 240 to a plurality of data lines. The data distributor 250 is used to reduce the number of channels of the data driver 240 to reduce manufacturing costs. The data distributor 250 includes a plurality of transistors, and the plurality of transistors are turned off by a bias voltage when the mother substrate is inspected in the mother substrate 200.

검사부(260)는 원장단위의 검사과정에서 제 2배선그룹(280)으로부터 검사신호를 공급받는다. 검사신호를 공급받은 검사부(260)는 데이터신호로써 검사신호들을 데이터선들로 공급한다. 여기서, 검사신호는 패널들(210)의 불량유무를 판단하기 위한 신호들로 점등 검사신호, 에이징 검사신호 및 누설전류 검사 신호들이 포함될 수 있다. The inspection unit 260 receives an inspection signal from the second wiring group 280 in the inspection process of the ledger unit. The test unit 260 receiving the test signal supplies the test signals to the data lines as data signals. Here, the test signal may be a signal for determining whether the panels 210 are defective or not, and may include a lighting test signal, an aging test signal, and a leakage current test signal.

한편, 도 3에 도시된 모기판의 구조는 본 발명을 설명하기 위한 일례로써 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 실제로, 패널들(210) 각각에 포함된 구동부들의 구조, 제 1배선그룹 및 제 2배선그룹의 구동등은 다양한 형태로 변경될 수 있다. On the other hand, the structure of the mother substrate shown in Figure 3 is an example for explaining the present invention is not limited thereto. In fact, the structure of the driving units included in each of the panels 210, the driving of the first wiring group and the second wiring group may be changed in various forms.

도 4는 화소부에 포함되는 화소의 구조를 나타내는 회로도이다. 도 4에서는 본 발명을 설명하기 위하여 일례로서 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 도 4에서는 설명의 편의성을 위하여 제 n주사선(Sn), 제 n발광 제어선(En) 및 제 m데이터선(Dm)과 접속된 화소를 도시하기로 한다.4 is a circuit diagram illustrating a structure of a pixel included in a pixel unit. In FIG. 4, the present invention is not limited thereto as an example for describing the present invention. In FIG. 4, for convenience of explanation, the pixel connected to the nth scan line Sn, the nth emission control line En, and the mth data line Dm will be illustrated.

도 4를 참조하면, 화소는 유기 발광 다이오드(OLED)와, 유기 발광 다이오드(OLED), 데이터선(Dm), 발광 제어선(En) 및 주사선(Sn)에 접속되어 유기 발광 다이오드(OLED)로 전류를 공급하기 위한 화소회로(231)를 구비한다. Referring to FIG. 4, a pixel is connected to an organic light emitting diode OLED, an organic light emitting diode OLED, a data line Dm, an emission control line En, and a scanning line Sn to be an organic light emitting diode OLED. The pixel circuit 231 for supplying current is provided.

유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드전극은 화소회로(231)에 접속되고, 캐소드전극은 제 2전원(ELVSS)에 접속된다. 이와 같은 유기 발광 다이오드(OLED)는 화소회로(231)로부터 공급되는 전류에 대응되어 소정의 빛을 생성한다.The anode electrode of the organic light emitting diode OLED is connected to the pixel circuit 231, and the cathode electrode is connected to the second power source ELVSS. The organic light emitting diode OLED generates predetermined light in response to a current supplied from the pixel circuit 231.

화소회로(231)는 제 1전원(ELVDD)과 유기 발광 다이오드(OLED) 사이에 접속되는 제 2트랜지스터(M2) 및 제 3트랜지스터(M3)와, 제 2트랜지스터(M2), 데이터선(Dm) 및 주사선(Sn) 사이에 접속되는 제 1트랜지스터(M1)와, 제 2트랜지스터(M2)의 게이트전극과 제 1전원(ELVDD) 사이에 접속되는 스토리지 커패시터(C)를 구비한다. The pixel circuit 231 includes a second transistor M2 and a third transistor M3, a second transistor M2, and a data line Dm connected between the first power supply ELVDD and the organic light emitting diode OLED. And a storage capacitor C connected between the first transistor M1 connected between the scan lines Sn and the gate electrode of the second transistor M2 and the first power supply ELVDD.

제1트랜지스터(M1)의 게이트전극은 주사선(Sn)에 접속되고, 제 1전극은 데이터선(Dm)에 접속된다. 그리고, 제 1트랜지스터(M1)의 제 2전극은 스토리지 커패시터(C)의 일측 및 제 2트랜지스터(M2)의 게이트전극에 접속된다. 이와 같은 제 1트랜지스터(M1)는 주사선(Sn)으로부터 주사신호가 공급될 때 턴-온되어 데이터선(Dm)으로부터 공급되는 데이터신호를 스토리지 커패시터(C)로 공급한다. 이때, 스토리지 커패시터(C)에는 데이터신호와 제 1전원(ELVDD)의 차전압에 대응되는 전압이 충전된다. 한편, 제 1전극은 소오스전극 및 드레인전극 중 어느 하나로 설정되고, 제 2전극은 제 1전극과 다른 전극으로 설정된다. 예를 들어, 제 1전극이 소오스전극으로 설정되면 제 2전극은 드레인전극으로 설정된다. The gate electrode of the first transistor M1 is connected to the scan line Sn, and the first electrode is connected to the data line Dm. The second electrode of the first transistor M1 is connected to one side of the storage capacitor C and the gate electrode of the second transistor M2. The first transistor M1 is turned on when the scan signal is supplied from the scan line Sn to supply the data signal supplied from the data line Dm to the storage capacitor C. At this time, the storage capacitor C is charged with a voltage corresponding to the difference voltage between the data signal and the first power supply ELVDD. On the other hand, the first electrode is set to any one of the source electrode and the drain electrode, and the second electrode is set to a different electrode from the first electrode. For example, when the first electrode is set as the source electrode, the second electrode is set as the drain electrode.

제 2트랜지스터(M2)의 게이트전극은 스토리지 커패시터(C)의 일측에 접속되고, 제 1전극은 제 1전원(ELVDD)에 접속된다. 그리고, 제 2트랜지스터(M2)의 제 2전극은 제 3트랜지스터(M3)의 제 1전극에 접속된다. 이와 같은 제 2트랜지스터(M2)는 스토리지 커패시터(C)에 저장된 전압에 대응하여 제 1전원(ELVDD)으로부터 발광소자(OLED)로 흐르는 전류량을 제어한다. The gate electrode of the second transistor M2 is connected to one side of the storage capacitor C, and the first electrode is connected to the first power source ELVDD. The second electrode of the second transistor M2 is connected to the first electrode of the third transistor M3. The second transistor M2 controls the amount of current flowing from the first power supply ELVDD to the light emitting device OLED in response to the voltage stored in the storage capacitor C.

제 3트랜지스터(M3)의 게이트전극은 발광 제어선(E)에 접속되고, 제 1전극은 제 2트랜지스터(M2)의 제 2전극에 접속된다. 그리고, 제 3트랜지스터(M3)의 제 2전극은 유기 발광 다이오드(OLED)에 접속된다. 이와 같은 제 3트랜지스터(M3)는 발광 제어신호가 공급되지 않을 때 턴-온되어 제 2트랜지스터(M2)로부터 공급되는 전류를 유기 발광 다이오드(OLED)로 공급한다. The gate electrode of the third transistor M3 is connected to the emission control line E, and the first electrode is connected to the second electrode of the second transistor M2. The second electrode of the third transistor M3 is connected to the organic light emitting diode OLED. The third transistor M3 is turned on when the emission control signal is not supplied to supply the current supplied from the second transistor M2 to the organic light emitting diode OLED.

도 5는 원장단위 검사과정 동안 주사 구동부에서 공급되는 주사신호 및 발광 제어신호를 나타내는 도면이다.5 is a diagram illustrating a scan signal and a light emission control signal supplied from a scan driver during a ledger unit inspection process.

도 5를 참조하면, 원장단위의 검사시에 패널들(210) 각각에 포함된 주사 구동부(220)는 한 프레임(1F)의 제 1기간(T1) 동안 제 1주사선(S1) 내지 제 n주사선(Sn)으로 주사신호를 순차적으로 공급한다. 제 1주사선(S1) 내지 제 n주사선(Sn)으로 주사신호가 순차적으로 공급되면 패널들(210) 각각의 화소들에 포함된 제 1트랜지스터(M1)가 수평라인 단위로 순차적으로 턴-온된다. 제 1트랜지스터(M1)가 턴-온되면 검사부(260)로부터 공급되는 검사신호(데이터신호)에 대응되는 전압이 화소들 각각에 포함된 스토리지 커패시터(C)에 저장된다. Referring to FIG. 5, the scan driver 220 included in each of the panels 210 during a ledger unit inspection may include first scan lines S1 to nth scan lines during a first period T1 of one frame 1F. Scan signals are sequentially supplied to (Sn). When the scan signals are sequentially supplied to the first scan line S1 to the nth scan line Sn, the first transistor M1 included in the pixels of each of the panels 210 is sequentially turned on in units of horizontal lines. . When the first transistor M1 is turned on, a voltage corresponding to the test signal (data signal) supplied from the test unit 260 is stored in the storage capacitor C included in each pixel.

한편, 한 프레임(1F)의 제 1기간(T1) 동안 모든 발광 제어선들(E1 내지 En)로는 발광 제어신호가 공급된다. 그러면, 한 프레임(1F)의 제 1기간(T1) 동안 모든 패널들(210) 각각에 포함된 모든 화소들의 제 3트랜지스터(M3)가 턴-오프된다. 제 3트랜지스터(M3)가 턴-오프되면 모든 화소들이 비발광 상태로 설정된다. 다시 말하여, 데이터신호가 공급되는 제 1기간(T1) 동안 제 1전원(ELVDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 전류가 공급되지 않고, 이에 따라 제 1기간(T1) 동안 제 1전원(ELVDD)의 전압강하가 발생되지 않는다. 이와 같이 제 1전원(ELVDD)에서 전압강하가 발생되지 않으면 화소들 각각에서는 데이터신호에 대응하는 정확한 전압을 충전할 수 있다. On the other hand, the emission control signal is supplied to all the emission control lines E1 to En during the first period T1 of one frame 1F. Then, the third transistor M3 of all the pixels included in each of the panels 210 is turned off during the first period T1 of one frame 1F. When the third transistor M3 is turned off, all pixels are set to the non-emission state. In other words, current is not supplied from the first power source ELVDD to the organic light emitting diode OLED during the first period T1 during which the data signal is supplied, and thus, the first power source ELVDD during the first period T1. ), No voltage drop occurs. As such, when no voltage drop occurs in the first power supply ELVDD, each pixel may charge an accurate voltage corresponding to the data signal.

이후, 한 프레임(1F)의 제 2기간(T2) 동안 주사신호 및 발광 제어신호의 공급이 중단된다. 그러면, 화소들 각각에 포함된 제 3트랜지스터(M3)가 턴-온 되어 화소들이 발광 상태로 설정된다. 여기서, 제 2기간(T2) 동안에는 제 1전원(ELVDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 전류가 공급되기 때문에 전압강하가 발생된다. 이 경우, 전압강하 현상은 제 2기간(T2)의 시점에 모든 패널들(210)에 동시에 적용되기 된다. 따라서, 본 발명에서는 제 2기간(T2) 동안 모기판(200)에 형성된 패널들(210)에 균일한 휘도로 발굉되고, 이에 따라 정확한 검사가 이루어질 수 있다. Thereafter, the supply of the scan signal and the light emission control signal is stopped during the second period T2 of one frame 1F. Then, the third transistor M3 included in each of the pixels is turned on to set the pixels to the light emitting state. Here, a voltage drop occurs because a current is supplied from the first power source ELVDD to the organic light emitting diode OLED during the second period T2. In this case, the voltage drop phenomenon is simultaneously applied to all the panels 210 at the time point of the second period T2. Therefore, in the present invention, the panels 210 formed on the mother substrate 200 are emitted at a uniform brightness during the second period T2, and thus an accurate inspection can be performed.

상기 발명의 상세한 설명과 도면은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 따라서, 이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.The above detailed description and drawings are merely exemplary of the present invention, but are used only for the purpose of illustrating the present invention and are not intended to limit the scope of the present invention as defined in the meaning or claims. Accordingly, those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical protection scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법에 의하면 원장단위의 검사시에 데이터신호가 공급되는 기간 동안 모든 패널에 포함된 화소들을 비발광 상태로 설정함으로써 각각의 패널에 포함된 모든 화소들 각각에 원하는 전압을 충전할 수 있다. 그리고, 데이터신호가 공급된 후 모든 패널에 포함된 화소들을 발광 상태로 설정함으로써 패널들 각각에서 균일한 휘도를 가지는 화상을 표시할 수 있고, 이에 따라 검사과정의 신뢰성을 확보할 수 있다. As described above, according to the mother substrate inspection method of the organic light emitting diode display according to the embodiment of the present invention, by setting the pixels included in all panels to the non-emission state during the period in which the data signal is supplied during the inspection of the ledger unit, Each of the pixels included in the panel may be charged with a desired voltage. After the data signal is supplied, the pixels included in all the panels are set to the light emitting state to display an image having a uniform luminance in each of the panels, thereby ensuring the reliability of the inspection process.

Claims (5)

모기판에 위치되는 복수의 패널들 각각에 형성된 모든 화소들을 비발광 상태로 설정하는 단계와,Setting all pixels formed in each of the plurality of panels positioned on the mother substrate to a non-light emitting state; 상기 비발광 상태로 설정된 화소들로 데이터신호를 공급하는 단계와,Supplying a data signal to the pixels set to the non-emission state; 상기 모든 화소에 상기 데이터신호에 대응되는 전압이 충전된 후 상기 모든 화소들을 발광 상태로 설정하여 상기 패널들의 이상 여부를 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법.And inspecting whether the panels are abnormal by setting all the pixels to a light emitting state after all the pixels are charged with a voltage corresponding to the data signal. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 비발광 상태로 설정하는 단계는The setting to the non-emitting state is 한 프레임의 제 1기간 동안 상기 모든 화소들로 발광 제어신호를 공급하여 상기 화소들 각각에 포함되어 유기 발광 다이오드로 공급되는 전류의 공급시점을 제어하기 위한 트랜지스터를 턴-오프 상태로 설정하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법.Supplying a light emission control signal to all the pixels during the first period of one frame to set a transistor for controlling the supply time of a current included in each of the pixels to be supplied to the organic light emitting diode; A mother substrate inspection method of an organic light emitting display device. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 데이터신호를 공급하는 단계는Supplying the data signal 상기 한 프레임의 제 1기간 동안 상기 화소들로 주사신호 및 데이터신호를 공급하여 상기 화소들 각각에서 상기 데이터신호에 대응되는 전압을 충전시키는 것 을 특징으로 하는 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법.And supplying a scan signal and a data signal to the pixels during the first period of the one frame to charge a voltage corresponding to the data signal in each of the pixels. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 이상 여부를 검사하는 단계는The checking of the abnormality is 상기 한 프레임의 제 2기간 동안 상기 발광 제어신호의 공급을 중단하여 상기 트랜지스터를 턴-온 상태로 설정하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법. And stopping the supply of the emission control signal during the second period of the one frame to set the transistor to a turn-on state. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 한 프레임의 제 1기간 및 제 2기간은 서로 중첩되지 않는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시장치의 모기판 검사방법. And a first period and a second period of the one frame do not overlap each other.
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