KR100494323B1 - 반도체 메모리 장치 및 이를 이용한 데이터 출력 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
x16 모드 | x8 모드 | x4 모드 | |
제1 입출력 센스앰프(iosa0) | 제1 출력 핀(DQ0) | 제1 출력 핀(DQ0) | 제7 출력 핀(DQ6) |
제2 입출력 센스앰프(iosa1) | 제2 출력 핀(DQ1) | 제7 출력 핀(DQ6) | 제7 출력 핀(DQ6) |
제3 입출력 센스앰프(iosa2) | 제3 출력 핀(DQ2) | 제3 출력 핀(DQ2) | 제3 출력 핀(DQ2) |
제4 입출력 센스앰프(iosa3) | 제4 출력 핀(DQ3) | 제5 출력 핀(DQ4) | 제3 출력 핀(DQ2) |
제5 입출력 센스앰프(iosa4) | 제5 출력 핀(DQ4) | 제5 출력 핀(DQ4) | 제3 출력 핀(DQ2) |
제6 입출력 센스앰프(iosa5) | 제6 출력 핀(DQ5) | 제3 출력 핀(DQ2) | 제3 출력 핀(DQ2) |
제7 입출력 센스앰프(iosa6) | 제7 출력 핀(DQ6) | 제7 출력 핀(DQ6) | 제7 출력 핀(DQ6) |
제8 입출력 센스앰프(iosa7) | 제8 출력 핀(DQ7) | 제1 출력 핀(DQ0) | 제7 출력 핀(DQ6) |
제9 입출력 센스앰프(iosa8) | 제9 출력 핀(DQ8) | 제16 출력 핀(DQ15) | 제10 출력 핀(DQ9) |
제10 입출력 센스앰프(iosa9) | 제10 출력 핀(DQ9) | 제10 출력 핀(DQ9) | 제10 출력 핀(DQ9) |
제11 입출력 센스앰프(iosa10) | 제11 출력 핀(DQ10) | 제14 출력 핀(DQ13) | 제14 출력 핀(DQ13) |
제12 입출력 센스앰프(iosa11) | 제12 출력 핀(DQ11) | 제12 출력 핀(DQ11) | 제14 출력 핀(DQ13) |
제13 입출력 센스앰프(iosa12) | 제13 출력 핀(DQ12) | 제12 출력 핀(DQ11) | 제14 출력 핀(DQ13) |
제14 입출력 센스앰프(iosa13) | 제14 출력 핀(DQ13) | 제14 출력 핀(DQ13) | 제14 출력 핀(DQ13) |
제15 입출력 센스앰프(iosa14) | 제15 출력 핀(DQ14) | 제10 출력 핀(DQ9) | 제10 출력 핀(DQ9) |
제16 입출력 센스앰프(iosa15) | 제16 출력 핀(DQ15) | 제16 출력 핀(DQ15) | 제10 출력 핀(DQ9) |
Claims (12)
- 다수의 그룹으로 이루어지며, 각 그룹은 적어도 4개의 입출력 센스 앰프로 구성되고, 각 그룹의 입출력 센스 앰프는 제1, 제2 또는 제3 데이터 출력 모드에 따라 선택 신호에 의해 인에이블 되어 메모리 셀에 저장된 데이터를 출력하는 입출력 센스 앰프 블록;상기 제1 데이터 출력 모드에 따라 각 그룹에서 상기 선택 신호에 의해 인에이블된 입출력 센스 앰프의 각 출력을 제1 데이터 출력 모드 신호에 따라 출력하는 제1 출력부;상기 제2 데이터 출력 모드에 따라 각 그룹에서 상기 선택 신호에 의해 인에이블된 입출력 센스 앰프의 각 출력을 제2 데이터 출력 모드 신호에 따라 출력하는 제2 출력부; 및상기 제3 데이터 출력 모드에 따라 각 그룹에서 상기 선택 신호에 의해 인에이블된 입출력 센스 앰프의 각 출력을 제3 데이터 출력 모드 신호에 따라 출력하는 제3 출력부를 포함하여 이루어진 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 입출력 센스앰프 중 상기 선택 신호에 의해 선택되지 않은 입출력 센스앰프는 상기 제2 또는 상기 제3 출력부의 동작에 영향을 주지 않는 레벨의 신호를 발생시키는 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제1 출력부는 제1 데이터 출력 모드 신호에 따라 상기 다수의 입출력 센스앰프의 출력신호들을 전송하는 다수의 패스 게이트를 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제2 출력부는 각 그룹의 4개의 입출력 센스앰프 중 상기 선택 신호에 의해 선택된 각 2개의 입출력 센스앰프의 출력신호를 출력하는 다수의 다중 선택부를 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 4 항에 있어서, 상기 다중 선택부는,상기 각 그룹의 4개의 입출력 센스앰프의 출력을 2개씩 2개조로 나누고, 상기 제2 데이터 출력 모드 신호에 따라 각 조에서 2개의 출력 중 하나를 출력하기 위한 다수의 논리 수단을 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 논리 수단은 상기 제2 데이터 출력 모드 신호에 따라 상기 선택 신호에 의해 선택된 입출력 센스앰프의 출력 신호를 출력하는 난드 게이트;상기 난드 게이트의 출력을 반전시키는 인버터; 및상기 제2 데이터 출력 모드 신호에 따라 상기 인버터의 출력 신호를 출력하는 제2 패스 게이트를 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제3 출력부는 각 그룹의 4개의 상기 입출력 센스앰프 중 상기 선택 신호에 의해 선택된 각각 하나의 입출력 센스앰프의 출력신호를 출력하는 다수의 다중 선택부를 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제1, 제2, 및 제3 출력부의 각 출력을 출력하기 위한 다수의 출력핀을 더 포함하는데, 상기 출력핀의 수는 상기 제1 출력부의 출력 수와 동일한 반도체 메모리 장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 각 출력핀과 상기 제1 출력부 간에 접속되며, 상기 제1, 제2 또는 제3 데이터 출력 모드 신호에 따라 동작하는 다수의 패드 게이트를 더 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 다수의 패스 게이트와 상기 출력 핀들 사이에 접속된 다수의 래치 수단들을 더 포함하는 반도체 메모리 장치.
- 제 1 항 또는 제 8 항에 있어서,상기 제2 출력부의 각 출력은 상기 제1 출력부의 일부의 출력에 연결되고, 상기 제3 출력부의 각 출력은 상기 제2 출력부의 일부의 출력에 연결되는 반도체 메모리 장치.
- 메모리 어레이로부터의 데이터를 출력하기 위해 제공된 다수의 입출력 센스 앰프를 4개씩 그룹핑하고 제1, 제2, 또는 제3 데이터 출력 모드에 따라 각 그룹의 입출력 센스앰프들이 선택적으로 인에이블되도록 하는 단계;각 그룹에서 인에이블된 입출력 센스앰프들의 각 출력을 상기 제1, 제2, 또는 제3 데이터 출력 모드에 따라 출력하는 단계를 포함하는 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 방법.
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