[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR100399975B1 - 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로 - Google Patents

포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR100399975B1
KR100399975B1 KR10-1999-0060507A KR19990060507A KR100399975B1 KR 100399975 B1 KR100399975 B1 KR 100399975B1 KR 19990060507 A KR19990060507 A KR 19990060507A KR 100399975 B1 KR100399975 B1 KR 100399975B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
positive charge
vppx
charge pumping
pumping voltage
row decoder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
KR10-1999-0060507A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010063423A (ko
Inventor
하임철
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR10-1999-0060507A priority Critical patent/KR100399975B1/ko
Priority to JP2000378696A priority patent/JP2001184884A/ja
Publication of KR20010063423A publication Critical patent/KR20010063423A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100399975B1 publication Critical patent/KR100399975B1/ko
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/145Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은 플래쉬 메모리의 쓰기 시간(Write time) 특성을 개선할 수 있는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로에 관한 것이다.
본 발명은 전원전압을 입력으로 하며 포지티브 챠지 펌핑 인에이블신호에 따라 포지티브 챠지 펌핑 전압을 출력하기 위한 포지티브 챠지 펌핑 회로와, 상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 입력으로 하며 VPPY 인에이블신호에 따라 VPPY 펌핑 전압을 출력하기 위한 VPPY 스위칭 블록과, 상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 각각 입력으로 하며, VPPX 인에이블 신호, 우수 섹터 선택신호 및 기수 섹터 선택신호에 따라 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압을 출력하기 위한 VPPX 스위칭 블록을 포함하여 구성된 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 제공한다.

Description

포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로{A positive charge pumping voltage switching circuit and a row decoder circuit of a flash memory using the same}
본 발명은 플래쉬 메모리의 쓰기 시간(Write time) 특성을 개선할 수 있는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로에 관한 것이다.
일반적으로, 플래쉬 메모리의 쓰기 모드(Write mode)중에서 프로그램 모드(Program)와 프로그램 확인 모드(Program Verify mode)시에는 전원전압(VCC)보다 더 높은 전압 레벨이 요구된다. 칩(Chip)의 공급 전원은 싱글 파워(Single power)를 사용하므로, 칩 내부에서 펌핑 동작을 수행하고 펌핑 전압을 선택적으로 스위칭(Switching)하여 선택된 셀에 공급하게 된다. 특히 플래쉬 메모리에서의 프로그램 시간은 쓰기 특성의 중요한 파라미터(Parameter)로써 프로그램 시간을 줄이는 것이 중요하다. 프로그램 시간을 줄이기 위한 방법으로는 단위 소자의 특성을 개선하는 소자 측면과, 펌핑 시간을 줄이는 설계 측면을 들 수 있다.
도 1은 종래의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로도이다.
전원전압(VCC)을 입력으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 회로(1)는 포지티브 챠지 펌핑 인에이블신호(VPPEN)에 따라 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 출력하게 된다. VPPY 스위칭 블록(2)은 전원전압(VCC) 및 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 각각 입력으로 하며, VPPY 인에이블신호(VPPYEN)에 따라 VPPY 펌핑 전압(VPPY)을 출력하게 된다.
또한, VPPX 스위칭 블록(3)은 상기 전원전압(VCC) 및 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 각각 입력으로 하며, 섹터신호(SECTOR<0:n>) 및 VPPX 인에이블 신호(VPPXEN)에 따라 VPPX 펌핑 전압(VPPX<0:n>)을 출력하게 된다.
예를 들어, 상기 섹터신호(SECTOR<0:n>) 중 첫번째 섹터신호(SECTOR<0>)가 인에이블 상태, 그 이외의 섹터신호(SECTOR<1:n>)는 모두 디스에이블(Disable) 상태, 그리고 VPPY 인에이블신호(VPPYEN)와 VPPX 인에이블신호(VPPYEN)는 모두 인에이블(Enable) 상태라고 가정하면, 상기 VPPY 스위칭 블록(2)은 상기 VPPY 인에이블신호(VPPYEN)에 의해 VPPY 펌핑 전압(VPPY)을 출력하게 된다.
또한, 상기 VPPX 스위칭 블록(3)은 상기 첫번째 섹터신호(SECTOR<0>)와 VPPX 인에이블신호(VPPXEN)에 의해 첫번째 VPPX 스위칭 블록(VPPX0)만 인에블되고, 그 이외의 모든 VPPX 스위칭 블록(VPPX<1:n>)은 디스에이블 된다.
그러므로, 상기 첫번째 VPPX 스위칭 블록(VPPX<0>)은 VPPX 펌핑 전압(VPPX0)을 출력하게 되며, 그 이외의 VPPX 스위칭 블록(VPPX<1:n>)은 VCC 전압을 출력하게 된다. 즉, 상기 포지티브 챠지 펌핑 회로(1)의 출력(VPP)에 대한 로딩(Loading)은 선택된 VPPX 스위칭 블록과 VPPY 스위칭 블록의 로딩에 의하여 결정되므로, 로딩이 커지게 된다.
도 3은 종래의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 로우 디코더 회로도이다.
하나의 섹터(5)는 다수의 로우 디코더 드라이버(<0:n>)로 구성된 메인 로우 디코더(6)와 리던던시 로우 디코더(7)로 각각 구성된다.
상기 섹터(5)내의 메인 로우 디코더(6)와 리던던시 로우 디코더(7)는 제 1 및 제 2 전압원(VPPX 및 VEEX), 리셋신호(XRSTb) 및 로우 프리-디코더(도시 안됨)의 출력인 제 1 제어신호(XPREDA<0:n>)를 각각 입력으로 하며, 상기 로우 프리-디코더의 출력인 제 2 및 제 3 제어신호(XPREDB<0:m> 및 XPREDC<0:k>)와 섹터 선택신호(SECTOR)를 각각 입력으로 하는 3입력 낸드게이트(Io0 및 Iokm)의 출력신호(XCOMb0 및 XCOMbkm)를 각각 입력으로 한다.
이러한, 종래의 로우 디코더 회로는 로우 어드레스의 조합인 로우 프리-디코더(도시 안됨)의 출력인 제 2 및 제 3 제어신호(XPREDB<0:m> 및 XPRDC<0:k>)가 3입력 낸드게이트(Io0 및 Iokm)의 입력으로 사용되고, 상기 3입력 낸드게이트(Io0 및 Iokm)의 출력신호(XCOMb0 및 XCOMbkm)는 상기 섹터(5)의 메인 로우 디코더 및 리던던시 로우 디코더(6 및 7)의 입력으로 사용되고 있으므로, 로우 프리-디코더의 출력신호인 제 2 및 제 3 제어신호(XPREDB<0:m> 및 XPRDC<0:k>)에 대한 로딩(Loading)이 그만큼 커지게 되고, 이로 인해 펌핑 시간이 오래 걸리게 되는 단점이 있다.
따라서, 본 발명은 하나의 섹터 내에 두 개 이상의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 구성하여 선택된 섹터 내의 선택된 스위칭 블록만을 인에이블 되도록 하고, 상기 인에이블 된 선택된 스위칭 블록으로부터 출력되는 전압에 의해 로우 디코더 드라이버가 구동되로록 함으로써, 상기한 단점을 해결할 수 있는 포지티브 챠지 펌핑 전압의 스위칭 회로 및 그를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로를 제공하는 데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로는 전원전압을 입력으로 하며 포지티브 챠지 펌핑 인에이블신호에 따라 포지티브 챠지 펌핑 전압을 출력하기 위한 포지티브 챠지 펌핑 회로와, 상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 입력으로 하며 VPPY 인에이블신호에 따라 VPPY 펌핑 전압을 출력하기 위한 VPPY 스위칭 블록과, 상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 각각 입력으로 하며, VPPX 인에이블 신호, 우수 섹터 선택신호 및 기수 섹터 선택신호에 따라 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압을 출력하기 위한 VPPX 스위칭 블록을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로는 로우 프리-디코더로부터 출력되는 각각의 제어신호 및 섹터 선택신호를 각각 입력으로 하는 논리 수단과, 상기 논리 수단으로부터 출력되는 제어신호 및 로우 프리-디코더로부터 출력되는 또 다른 제어신호에 따라 어느 한 전압원으로부터 공급되는 전압과 프리챠지 펌핑 전압 스위칭 회로로부터 공급되는 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압 중 어느 한 전압을 선택적으로 출력하기 위한 메인 로우 디코더 및 리던던시 로우 디코더를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명은 플래쉬 메모리의 프로그램 및 프로그램 확인 모드에서 선택된 섹터의 선택된 워드라인(W/L)에는 포지티브 챠지 펌핑 전압이 인가되도록 하고, 그이외의 워드라인(W/L)에는 0V 전압이 인가되도록 하여 해당 워드라인을 선택하게 된다.
즉, 선택된 워드라인이 그룹핑(Grouping) 된 부분에만 포지티브 챠지 펌핑 전압이 전달되도록 하기 위한 스위칭 회로를 구성함으로써, 포지티브 챠지 펌프의 출력 로딩(Loading)을 줄여 펌핑 시간을 단축할 수 있게 된다.
신호 Standby Read Program Pgm.Ver Erase Recovery Erase Ver 비고
VPP GEN. 출력 VCC VCC VPP VPP VPE VCC VCC VCC>VPE
VPPY VCC VCC VPP VCC VCC VCC VCC
선택된 VPPX VCC VCC VPP VPP VPE VCC VCC
비 선택된 VPPX VCC VCC VCC VCC VCC VCC VCC
[표 1]은 각 모드에 따른 포지티브 챠지 펌핑의 출력 레벨 및 선택과 비선택 된 VPPX와 VPPY의 레벨을 정리한 것으로, 프로그램 모드 및 프로그램 확인 모드에서 선택된 VPPX 스위칭 블록의 출력은 포지티브 챠지 펌핑 전압 레벨이 되고, 그 이외의 비 선택된 VPPX 스위칭 블록의 출력은 VCC 전압 레벨로 됨을 알 수 있다.
도 1은 종래의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로도.
도 2는 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로도.
도 3은 종래의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 로우 디코더 회로도.
도 4는 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 로우 디코더 회로도.
도 5는 종래 및 본 발명에 적용되는 로우 디코더 드라이버의 상세 회로도.
도 6은 종래 및 본 발명에 따른 로우 디코더 회로의 시뮬레이션 결과 파형도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
11: 포지티브 챠지 펌핑 회로 12: VPPY 스위칭 블록
13: VPPX 스위칭 블록 14, 15: 우수 및 기수 스위칭 블록
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로도이다.
전원전압(VCC)을 입력으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 회로(11)는 포지티브 챠지 펌핑 인에이블신호(VPPEN)에 따라 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 출력하게 된다. VPPY 스위칭 블록(12)은 전원전압(VCC) 및 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 각각 입력으로 하며, VPPY 인에이블신호(VPPYEN)에 따라 VPPY 펌핑 전압(VPPY)을 출력하게 된다.
또한, VPPX 스위칭 블록(13)은 상기 전원전압(VCC) 및 포지티브 챠지 펌핑 전압(VPP)을 각각 입력으로 하며, VPPX 인에이블 신호(VPPXEN)와 우수(짝수) 및 기수(홀수) 섹터 선택신호(SECTOR0_Even 내지 SECTORn_Even 및 SECTOR0_Odd 내지 SECTORn_Odd)에 따라 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압(VPPX0_Even 내지 VPPXn_Even 및 VPPX0_Odd 내지 VPPXn_Odd)을 출력하기 위한 우수 스위칭 블록(14)과 기수 스위칭 블록(15)으로 구성된다.
본 발명에서는 설명의 편의를 위해 상기 우수 및 기수 섹터 선택신호 (SECTOR0_Even 내지 SECTORn_Even 및 SECTOR0_Odd 내지 SECTORn_Odd) 중 첫번째 우수 및 기수 섹터 선택신호 (SECTOR0_Even 및 SECTOR0_Odd)를 각각 입력으로 하는 첫번째 우수 스위칭 블록(VPPX0_Even; 14)과 기수 스위칭 블록(VPPX0_Odd; 15)을 예를 들어 설명하기로 한다.
상기 우수 섹터 선택신호(SECTOR0_Even)는 인에이블 상태, 상기 기수 섹터 선택신호(SECTOR0_Odd)는 디스에이블(Disable) 상태, 그리고 VPPY 인에이블신호(VPPYEN)와 VPPX 인에이블신호(VPPXEN)는 모두 인에이블(Enable) 상태라고 가정하면, 상기 VPPY 스위칭 블록(12)은 상기 VPPY 인에이블신호(VPPYEN)에 의해 VPPY 펌핑 전압(VPPY)을 출력하게 된다.
또한, 상기 VPPX 스위칭 블록(13)은 상기 우수 섹터 선택신호(SECTOR0_Even)와 VPPX 인에이블신호(VPPXEN)에 의해 우수 스위칭 블럭(14)만 인에블되고, 기수 스위칭 블록(15)은 디스에이블 된다.
즉, 본 발명의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로는 VPPX 스위칭 블록(13)을 우수 및 기수의 스위칭 블록(14 및 15)으로 각각 분리하고, 각각의 섹터 선택신호(도 1의 SECTOR0 내지 SECTORn)를 우수 및 기수 섹터 선택신호(SECTOR0_Even 내지 SECTORn_Even 및 SECTOR0_Odd 내지 SECTORn_Odd)로 분리하여 상기 포지티브 챠지 펌핑 회로(11)의 출력노드의 로딩을 1/2로 줄이게 된다. 왜냐하면, 우수와 기수로 분리된 섹터 신호와 VPPX 스위칭 블록(13)을 통해 로우 디코더에 공급되는 VPP 펌핑 전압을 우수와 기수로 나누어 출력함으로써, 구동되는 우수 및 기수 로우 디코더 드라이버를 분리할 수 있기 때문이다. 이하, 도면을 바탕으로 로우 디코더를 설명한다.
도 4는 본 발명에 따른 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 로우 디코더 회로도이다.
하나의 섹터(18)는 다수의 로우 디코더 드라이버(XDECDRV0 내지 XDECDRVn)로 구성된 메인 로우 디코더(19)와 리던던시 로우 디코더(20)로 각각 구성된다.
상기 섹터(18)내의 메인 로우 디코더(19)와 리던던시 로우 디코더(20)는 제 2 전압원(VEEX), 리셋신호(XRSTb) 및 로우 프리-디코더(도시 안됨)의 출력인 제 1 제어신호(XPREDA<0:n>)를 각각 입력으로 하며, 상기 로우 프리-디코더의 출력인 제 2 및 제 3 제어신호(XPREDB<0:m> 및 XPREDC<0:k>)와 섹터 선택신호(SECTOR)를 각각 입력으로 하는 논리 수단(In0 및 Inkm)의 출력신호(XCOMb0 및 XCOMbkm)를 각각 입력으로 한다. 상기 논리 수단(In0 및 Inkm)은 3입력 낸드게이트로 구성된다. 또한, 상기 메인 로우 디코더(19)와 리던던시 로우 디코더(20)는 우수 및 기수 로우 디코더 드라이버로 구성되며, 상기 도 2의 프리챠지 펌핑 전압 스위칭 회로로 부터 공급되는 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압(VPPX_Even 및 VPPX_Odd)이 공급되게 된다.
예를 들어, 로우 디코더를 선택하기 위한 어드레스의 최하위 비트(LSB)가 로우 레벨(Low level)로 선택되고, 첫 번째 섹터(Sector 0)가 선택되어 프로그램 및 프로그램 확인 동작을 수행하면, 도 2의 우수 VPPX 스위칭 블록(VPPX0_Even)의 출력인 우수 VPPX 펌핑 전압(VPPX0_Even)이 도 4의 우수 로우 디코더 드라이버로 공급된다. 그리고, 그 이외의 모든 VPPX 스위칭 블록의 출력은 VCC 전압으로 출력된다. 그러므로, 상기 도 4의 우수 로우 디코더 드라이버의 워드라인(W/L)에는 포지티브 챠지 펌핑 전압이 공급되고, 그 이외의 비 선택된 우수 로우 디코더의 우수 디코더 드라이버의 워드라인(W/L)에는 OV 전압이 공급된다. 또한, 기수 로우 디코더의 워드라인(W/L)에는 VCC 레벨인 기수 VPPX 펌핑 전압(VPPX_Odd)이 공급되어 비 선택되게 된다.
결국 본 발명에 의하면, 선택된 섹터의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로에 대한 로딩중에서, 비 선택된 워드라인(W/L)의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로에 대한 로딩을 1/2로 줄임으로써 포지티브 챠지 펌핑 회로의 출력에 대한 로딩을 개선할 수 있게 된다.
도 5는 종래 및 본 발명에 적용되는 로우 디코더 드라이버의 상세 회로도이다.
로우 디코더 드라이버의 출력단은 워드라인(W/L)을 최종적으로 드라이브(Drive)하기 위한 인버터 형태의 제 3 PMOS 트랜지스터(P3) 및 트리플-P웰 NMOS 트랜지스터(TN1)로 구성된다. 상기 트리플 P-웰 NMOS 트랜지스터(TN1)의 게이트(Gate)는 제 1 노드(K1)에 접속되며, 소오스(Source)는 상기 트리플 P-웰 NMOS 트랜지스터(TN1)의 트리플 P-웰과 함께 제 2 전압원(VEEX)으로 접속되어 소거(Erase) 동작시에는 네가티브 바이어스(Negative bias), 그리고 프로그램 또는읽기 동작시에는 접지전위(0V)로 바이어스 된다.
그리고, 상기 트리플 P-웰 NMOS 트랜지스터(TN1)의 트리플 N-웰은 제 3 전압원(VCC)에 접속된다. 상기 제 3 PMOS 트랜지스터(P3)의 게이트는 제 1 노드(K1)에 접속되며, 상기 제 3 PMOS 트랜지스터(P3)의 N-웰은 제 1 전압원(VPPX)에 접속된다.
또한, 워드라인(W/L) 전압을 게이트 입력으로 하는 제 2 PMOS 트랜지스터(P2)의 N-웰과 소오스는 제 1 전압원(VPPX)에 접속되며, 드레인(Drain)은 제 1 노드(K1)에 접속된다.
제 1 PMOS 트랜지스터(P1)의 소오스와 N-웰은 제 1 전압원(VPPX)에 접속되고, 드레인은 제 1 노드(K1)에 접속되며, 게이트에는 리셋신호(XRSTb)가 공급된다.
그리고, NMOS 트랜지스터(N1)는 소오스가 상기 제 1 노드(K1)에 접속되고, 게이트는 제 1 제어신호(XPREAI)를 입력으로 하며, 드레인은 제 4 전압원(XCOMb)에 접속된다.
도 4에서 선택된 로우 디코더의 VPPX 로딩은 도 5의 로우 디코더 드라이버 회로와 같이 PMOS 트랜지스터(P1)의 소오스 정션(Source junction)과 PMOS 트랜지스터(P2)의 게이트 그리고 트리플 P-웰 NMOS 트랜지스터(TN1)의 드레인 정션(Drain junction) 그리고 PMOS 트랜지스터(P1 내지 P3)의 N-웰 그리고 워드라인(W/L)에 대한 로딩이며, 전체의 로우 디코더 중 1개만 해당되므로 로딩은 크지않게 된다.
비 선택된 로우 디코더의 VPPX 로딩은 PMOS 트랜지스터(P1 및 P2)의 게이트 로딩 그리고 NMOS 트랜지스터(N1)의 드레인 정션, 그리고 PMOS 트랜지스터(P2)의게이트와 소오스 정션, 그리고 트리플 P-웰 NMOS 트랜지스터(TN1)의 게이트, 그리고 PMOS 트랜지스터(P1 내지 P3)의 N-웰의 로딩의 합이 비 선택된 로우 디코더 1개의 VPPX 로딩이 됨으로 전체의 비 선택된 VPPX 로딩은 비 선택된 로우 디코더의 VPPX 로딩과 비 선택된 로우 디코더 수의 곱이 된다.
결국 전체의 VPPX 로딩은 선택된 로우 디코더의 VPPX 로딩과 비 선택된 로우 디코더 전체의 VPPX 로딩의 합이 된다. 따라서, 선택된 VPPX 로딩을 줄이기 위해서는 비 선택된 로우 디코더의 수를 줄이는 것이 가장 효율적으로 된다.
도 6은 종래 및 본 발명에 따른 로우 디코더 회로의 시뮬레이션 결과 파형도로서, 본 발명에 의한 포지티브 챠지 펌핑 시간(A)이 종래의 포지티브 챠지 펌핑 시간(B)보다 약 2배 정도 개선됨을 알 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 의하면 본 발명은 하나의 섹터 내에 두 개 이상의 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 구성하여 선택된 섹터 내의 선택된 스위칭 블록만을 인에이블 되도록 하고, 상기 인에이블 된 선택된 스위칭 블록으로부터 출력되는 전압에 의해 로우 디코더 드라이버가 구동되로록 함으로써, 로우 디코더의 로딩을 줄일 수 있고, 프로그램 및 프로그램 확인 시간을 단축시킬 수 있는 탁월한 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 전원전압을 입력으로 하며 포지티브 챠지 펌핑 인에이블신호에 따라 포지티브 챠지 펌핑 전압을 출력하기 위한 포지티브 챠지 펌핑 회로;
    상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 입력으로 하며 VPPY 인에이블신호에 따라 VPPY 펌핑 전압을 출력하기 위한 VPPY 스위칭 블록; 및
    상기 전원전압 및 포지티브 챠지 펌핑 전압을 각각 입력으로 하며, VPPX 인에이블 신호, 우수 섹터 선택신호 및 기수 섹터 선택신호에 따라 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압을 플래쉬 메모리의 로우 디코더에 출력하기 위한 VPPX 스위칭 블록을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 VPPX 스위칭 블록은 VPPX 인에이블 신호 및 우수 섹터 선택신호에 따라 우수 VPPX 펌핑 전압을 출력하기 위한 우수 스위칭 블록과,
    상기 VPPX 인에이블 신호 및 기수 섹터 선택신호에 따라 기수 VPPX 펌핑 전압을 출력하기 위한 기수 스위칭 블록을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로.
  3. 플래쉬 메모리의 로우 디코더에 있어서,
    로우 프리-디코더로부터 출력되는 각각의 제어신호 및 섹터 선택신호를 각각 입력으로 하는 논리 수단; 및
    상기 논리 수단으로부터 출력되는 제어신호 및 로우 프리-디코더로부터 출력되는 또 다른 제어신호에 따라 어느 한 전압원으로부터 공급되는 전압과 프리챠지 펌핑 전압 스위칭 회로로부터 공급되는 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압 중 어느 한 전압을 선택적으로 출력하기 위한 메인 로우 디코더 및 리던던시 로우 디코더를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 섹터 선택신호는 우수 섹터 선택신호 또는 기수 섹터 선택신호 중 어느 한 섹터 선택신호인 것을 특징으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 논리 수단은 로우 프리-디코더로부터 출력되는 각각의 제어신호 및 섹터 선택신호를 각각 입력으로 하는 3입력 낸드게이트로 구성된 것을 특징으로 하는포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로.
  6. 제 3 항에 있어서,
    상기 메인 로우 디코더 및 리던던시 로우 디코더 각각은 상기 프리챠지 펌핑 전압 스위칭 회로로부터 공급되는 우수 및 기수 VPPX 펌핑 전압을 각각 입력으로 하는 우수 및 기수 로우 디코더 드라이버로 구성된 것을 특징으로 하는 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로를 이용한 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로.
KR10-1999-0060507A 1999-12-22 1999-12-22 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로 Expired - Fee Related KR100399975B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1999-0060507A KR100399975B1 (ko) 1999-12-22 1999-12-22 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로
JP2000378696A JP2001184884A (ja) 1999-12-22 2000-12-13 ポジティブ・チャージ・ポンピング電圧スイッチング回路及びそれを用いたフラッシュ・メモリのローデコーダ回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1999-0060507A KR100399975B1 (ko) 1999-12-22 1999-12-22 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010063423A KR20010063423A (ko) 2001-07-09
KR100399975B1 true KR100399975B1 (ko) 2003-09-29

Family

ID=19628230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-1999-0060507A Expired - Fee Related KR100399975B1 (ko) 1999-12-22 1999-12-22 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2001184884A (ko)
KR (1) KR100399975B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10482979B1 (en) * 2018-08-31 2019-11-19 Micron Technology, Inc. Capacitive voltage modifier for power management
US10453541B1 (en) 2018-08-31 2019-10-22 Micron Technology, Inc. Capacitive voltage divider for power management

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001184884A (ja) 2001-07-06
KR20010063423A (ko) 2001-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5592419A (en) Flash memory with improved erasability and its circuitry
US7839714B2 (en) Non-volatile semiconductor storage device and word line drive method
US20020097596A1 (en) Nonvolatile semiconductor memory device
JP2565104B2 (ja) 仮想接地型半導体記憶装置
US6621743B2 (en) Word-line driving circuit with reduced current leakage
US9558830B2 (en) Semiconductor device
KR20180134829A (ko) Nand 메모리용 디코더
US6069838A (en) Semiconductor memory device having sub-word line driving circuit
KR20190103008A (ko) 레벨 시프터 및 반도체 장치
US6122200A (en) Row decoder for a flash-EEPROM memory device with the possibility of selective erasing of a sub-group of rows of a sector
KR100758885B1 (ko) 플래시 메모리용 고속 디코더
JP3743780B2 (ja) フラッシュメモリ装置のロ―デコ―ダ
KR960003967B1 (ko) 디코더 회로
JPH11283390A (ja) 半導体記憶装置
US6111792A (en) Non-volatile semiconductor memory device for selective cell flash erasing/programming
KR100399975B1 (ko) 포지티브 챠지 펌핑 전압 스위칭 회로 및 그를 이용한플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로
US7035162B2 (en) Memory devices including global row decoders and operating methods thereof
US8873312B2 (en) Decoder circuit of semiconductor storage device
JP3265291B2 (ja) 出力バッファ回路および半導体集積回路
JP2001057097A (ja) 階層型列デコーダを有する単一電源電圧不揮発性記憶装置
KR20010092074A (ko) 고전압 워드 라인 드라이버 회로를 구비한 반도체 메모리장치
KR100356484B1 (ko) 플래쉬 메모리의 로우 디코더 회로
JPH04228192A (ja) 不揮発性記憶セルアレイの語線に電源電圧とプログラミング電圧を印加する語線駆動回路
KR100254473B1 (ko) 로오 디코더 회로
KR20000027267A (ko) 플래쉬 메모리 장치의 워드라인 디코더

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19991222

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 20001125

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event code: PA02011R01I

Patent event date: 19991222

Comment text: Patent Application

PG1501 Laying open of application
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20030127

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20030722

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20030918

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20030919

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20060818

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20070827

Start annual number: 5

End annual number: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080820

Year of fee payment: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20080820

Start annual number: 6

End annual number: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee