KR100363118B1

KR100363118B1 - 모듈ic테스트핸들러의 단위모듈ic피치조절장치

Info

Publication number: KR100363118B1
Application number: KR1020000034384A
Authority: KR
Inventors: 최순기
Original assignee: 메카텍스 (주)
Priority date: 2000-06-22
Filing date: 2000-06-22
Publication date: 2002-11-30
Also published as: KR20020000259A

Abstract

본 발명은 생산 완료된 다수의 모듈IC에 대한 테스트를 위한 테스트공정에 있어, 각기 다른 피치간격을 갖는 테스트공정에 따른 이송로봇의 피치간격에 맞추어 각각의 테스트공정을 위한 모듈IC의 피치간격을 그때그때 해당공정의 이송로봇의 피치간격과 일치되게 하여 생산 완료된 모듈IC의 테스트효율을 높일 수 있도록 한 것으로, 베이스판(2) 상에 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)을 설치하되, 그중 마지막소켓(1˝)을 제외한 나머지소켓(1)(1´)을 그 하부의 안내구(11)에 의해 안내레일(12)을 타고 이동가능하게 설치하고, 상기 베이스판(2)하면에는 실린더(3)를 설치하여, 이 실린더(3)의 작동로드(31)에는 연결구(32)에 의해 첫째소켓(1´)이 연결고정되게 하되, 상기 첫째소켓(1´)에는 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)을 관통하여 그 타단이 유동구(21)에 의해 베이스판(2)상에 유동가능하게 설치되는 작동봉(4)의 선단을 고정 설치하고, 상기 작동봉(4)외면에는 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝) 중 첫째소켓(1´)과 마지막소켓(1˝)를 제외한 소켓(1)저면에 형성된 걸림부(1a)와 각각 접촉되는 작동턱(41)을 계단형으로 형성하고, 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)중 소켓(1)의 저면에는 걸림턱(13)을 각각 형성하여 이 걸림턱(13)이 실린더 작동에 따른 소켓(1)의 일 방향 이동시 베이스판(2) 상면에 설치되는 스토퍼(22)와 각각 접촉되도록 하여서 되는 것을 특징으로 하는 것이다.

Description

모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치{Module IC pitch adjustment device}

본 발명은 모듈IC테스트핸들러의 모듈IC피치조절장치에 관한 것으로,

더욱 상세하게는 생산 완료된 다수의 모듈IC에 대한 테스트를 위한 테스트공정에 있어, 각기 다른 피치간격을 갖는 테스트공정에 따른 이송로봇의 피치간격에 맞추어 각각의 테스트공정을 위한 모듈IC의 피치간격을 그때그때 해당공정의 이송로봇의 피치간격과 일치되게 하여 생산 완료된 모듈IC의 테스트효율을 높일 수 있도록 한 것이다.

일반적으로 기판의 일측면이나 또는 양측면에 다수개의 IC 및 부품을 고정하여 독립적으로 회로를 구성하여서 되는 생산완료된 모듈IC는 메인 기판에 실장하여 용량이나 또는 기능을 확장시키는 기능을 갖는 것으로, 이들 모듈IC는 생산완료된 각각의 모듈IC를 낱개로 판매하는 것보다 고부가가치를 갖게되므로 IC생산업체에서는 주력상품으로 개발하여 판매하고 있는 실정이다.

순차적으로 제조공정을 거쳐 조립 생산된 고부가가치를 갖는 모듈IC는, 그 가격이 고가이므로 인해 제품의 신뢰도 또한 매우 중요하며 엄격한 품질테스트를 거치게 되는 것인바, 그 결과 양품(良品)으로 판정된 제품만을 하나의 완제품으로서 출하하고 테스트결과 불량으로 판정된 모듈IC는 별도로 모아 수정작업을 거쳐 재차 테스트를 거치거나 또는 전량 폐기 처분하게 된다.

이와 같이 생산된 고부가가치의 모듈IC는 다수개를 일정피치간격이 유지되도록 하나의 단위로하여 양, 불량테스트를 위해서 모듈IC테스트핸들러로 보내져 각각의 공정을 순차적을 거치면서 소정의 테스트가 이루어지도록 하고 있는 것인바, 이 경우 단위모듈IC에 대해 각각의 테스트공정을 수행하기 위해서는 단위모듈IC가 해당공정으로 이송되어야 하고, 이들 단위모듈IC를 해당공정으로 이송하기 위해서는각 공정마다 서로 다른 피치간격을 갖는 이송로봇이 단위모듈IC를 협지하여 다음 공정으로 이송하고 있다.

상기와 같이 생산 완료된 단위모듈IC를 모듈IC테스트핸들러에 공급하기 위한 로더와, 이송을 위한 이송로봇 및 테스트를 위한 마더보드의 피치간격은 각각 상이하므로, 공급되는 단위모듈IC에 대해 각각의 공정에서 요구되는 피치간격으로 그때그때 변환시켜 가며 각 공정에서 요구되는 피치간격에 맞도록 하여 단위모듈IC에 대한 목적한 일련의 테스트 공정이 이루어지도록 하는 것이었다.

상기와 같이 생산 완료된 단위모듈IC에 대한 테스트공정을 순조롭게 진행하기 위해, 각각의 공정마다 다르게 적용되는 단위모듈IC의 피치에 대해, 종래의 모듈IC테스트핸들러에서는 각 공정마다 서로 다른 피치간격에 대해 단위모듈IC가 적용될수 있도록 이송로봇의 피치를 가변상태로 구성하여 각 공정마다 다르게 요구되는 단위모듈IC의 피치간격을 만족시켜 목적한 테스트 공정이 수행되도록 하고 있는 것이었다.

그러나 상기와 같이 일정피치간격을 갖는 다수의 모듈IC로 되는 단위모듈IC에 대해 테스트공정을 수행하기 위해 각 공정마다 요구되는 상이한 피치간격에 능동적으로 대응할 수 있도록 하는 수단으로서 단위모듈IC에 대한 피치간격의 조절이 아닌 이송수단의 피치간격을 해당 공정에서 요구되는 피치간격으로 맞추어 단위모듈IC를 협지 이송하도록 하는 종래의 단위모듈IC피치조절장치는, 각각의 이송수단 마다에 피치조절장치를 마련하여야 하는데 따른 구성상의 복잡함과 아울러 항상 움직이는 이송수단에 피치조절장치가 마련되어야 하는 구성특성상 잦은 고장의 발생과 그에 따른 유지보수에 많은 시간과 비용이 요구되는 문제가 있는 것이었다.

따라서 본 발명의 목적은 상기와 같이 모듈IC테스트핸들러로 공급되는 단위모듈IC에 대해 서로 다른 피치간격을 갖는 테스트공정에 맞추어 단위모듈IC의 피치간격을 그때그때 조절할 수 있도록 이송수단에 피치조절장치를 설치하여서 되는 종래의 모듈IC피치조절장치가 지닌 제반문제점을 해결하기 위하여, 생산 완료된 모듈IC에 대한 테스트를 위해 모듈IC테스트핸들러의 각 공정중, 공급되는 단위모듈IC에 대한 피치간격의 조절이 요구되는 공정전에 공급되는 단위모듈IC의 피치간격을 조절할 수 있는 단위모듈IC피치조절장치를 설치하는 것에 의해 단위모듈IC에 대해 간편히 해당공정에서 요구되는 피치간격으로 조절할 수 있게 함으로써 생산 완료된 모듈IC의 테스트공정에 있어 단위모듈IC피치조절을 위한 장치의 구성을 간단히 함과 동시에 피치조절을 용이하게 하여 모듈IC테스트핸들러의 사용성을 높인 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치를 제공함에 있다.

도 1은 본 발명에 의한 분해사시도.

도 2는 본 발명의 조립상태 평면도.

도 3은 본 발명의 구성을 나타내는 베이스판을 제거한 상태의 저면도.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 실시 작동 상태도.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1, 1´, 1˝ : 소켓 1a : 걸림부 2 : 베이스판

3 : 실린더 4 : 작동로드 11 : 안내구

12 : 안내레일 21 : 유동구 22 : 스토퍼

31 : 작동로드 32 : 연결구 41 : 작동턱

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치는, 베이스판(2) 상에 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)을 설치하되, 그중 마지막소켓(1˝)을 제외한 나머지 소켓(1)(1´)을 그 하부의 안내구(11)에 의해 안내레일(12)을 타고 이동가능하게 설치하고, 상기 베이스판(2)하면에는 실린더(3)를 설치하여, 이 실린더(3)의 작동로드(31)에는 연결구(32)에 의해 첫째소켓(1´)이 연결고정되게 하되, 상기 첫째소켓(1´)에는 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)을관통하여 그 타단이 유동구(21)에 의해 베이스판(2)상에 유동가능하게 설치되는 작동봉(4)의 선단을 고정 설치하고, 상기 작동봉(4)외면에는 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝) 중 첫째소켓(1´)과 마지막소켓(1˝)를 제외한 나머지 소켓(1)저면에 형성된 걸림부(1a)와 각각 접촉되는 작동턱(41)을 계단형으로 형성하고, 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)중 소켓(1)의 저면에는 걸림턱(13)을 각각 형성하여 이 걸림턱(13)이 실린더 작동에 따른 나머지 소켓(1)의 일방향 이동시 베이스판(2)상면에 설치되는 스토퍼(22)에 각각 접촉되도록 하여서 되는 것을 특징으로 한다.

이하 본 발명의 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명에 의한 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치의 구성을 나타내는 분해사시도이고, 도 2는 본 발명에 의한 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치의 구성을 나타내는 조립상태 평면도이며, 도 3은 본 발명에 의한 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치의 구성을 나타내는 베이스판을 제거한 상태의 저면도이고, 도 4는 본 발명에 의한 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치의 실시작동상태도로서, 그 구성은 크게 소켓(1)(1´)(1˝)과 베이스판(2)과, 실린더(3) 및 작동봉(4)으로 이루어진다.

상기한 소켓(1)(1´)(1˝)은 상기 베이스판(2)상에 설치되는 것으로, 그중 마지막소켓(1˝)은 베이스판(5)상에 고정상태로 설치되고 나머지 소켓(1)(1´)은 그 하부에 각각 안내구(11)를 부착 설치하여 이 안내구(11)로 하여금 베이스판(2)상에 설치되는 안내레일(12)을 타고 좌우(전후)이동 가능한 상태로 설치되며,

상기 소켓(1)(1´)(1˝)중 첫째소켓(1´)은, 실린더(3)의 작동로드(31)선단과 연결구(32)에 의해 연결고정되어 실린더(3)의 운동력을 직접전달 받도록 하고 있다. 또한 첫째소켓(1´)의 일측에는 하부에 작동봉(4)의 선단이 연결고정 설치되어 있으며, 상기 소켓(1)의 저면 일측에는 각각 걸림턱(13)을 일정길이 돌출되게 형성하여 베이스판(2) 상의 스토퍼(22)와 접촉되게 함으로써 소켓(1)의 이동범위를 제한하도록 하고 있다.

또한 각각의 소켓(1)저면에는 홈 형태의 걸림부(1a)를 각각 형성하되, 이때 상기 홈 형태의 걸림부(1a)의 크기는 각 소켓(1)마다 크기를 다르게 형성하여 작동봉(4)외면에 계단형으로 형성된 작동턱(41)과 선택적으로 접촉되어 일방향으로 순차이동되도록 하고 있다.

상기한 베이스판(2)은 대략 장방형으로 되어 그 상면에는 다수의 안내레일(12)과 함께 그 일측에 다수의 스토퍼(22)를 설치하고 있으며, 그 하면에는 실린더(3)를 설치하여 이 실린더(3)의 작동에 의해 다수의 소켓(1)(1´)이 안내레일(12)을타고 이동되거나 스토퍼(22)에 의해 소켓(1)의 이동범위가 제한되도록 하고 있다.

상기한 실린더(3)는, 상기 베이스판(2) 저면에 설치되는 것으로, 그 작동로드(31)의 선단에는 연결구(32)를 부착 설치하여 첫째소켓(1´)과 연결되게 함으로써 실린더(3)의 왕복운동력이 첫째소켓(1´)에 그대로 절단되도록 하고 있다.

상기한 작동봉(4)은, 상기 다수의 소켓(1)(1´)(1˝)하부를 관통하는 상태로그 타단이 유동구(21)에 의해 베이스판(2)상에 유동 가능한 상태 설치되고 그 선단은 상기 소켓(1)(1´)(1˝)중 첫째소켓(1´)의 일측에 연결 고정되도록 한 것으로, 그 외면에는 상기 다수의 소켓(1)하부에 각각 그 크기가 다르게 형성되는 걸림부(1a)와 선택적으로 접촉되는 걸림턱(13)을 계단형으로 다단으로 형성하고 있다.

상기와 같은 구성으로 되는 본 발명에 의한 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치조절장치의 실시작동상태에 대해 설명한다.

생산 완료된 모듈IC에 대한 양품 또는 불량품의 테스트를 위해 단축로보트에 의해 모듈IC다수개를 하나의 단위로 하여 로더를 거쳐 테스트핸들러에 공급한 상태에서 단위 모듈IC에 대한 일차적으로 DC 및 SPA 테스트를 거친 후 다음 공정을 위해 버퍼로 보내진 단위 모듈IC는 마더보드의 피치 간격에 맞추어 피치조절이 이루어져야 한다. 다시 말해 일차로 DC 및SPA 테스트를 위한 단위모듈IC의 피치간격과 최종테스트를 위한 마더보드의 피치간격은 서로 상이하므로 본 발명의 피치조절장치를 버퍼 및 트랜스퍼에 설치하여 각 공정별로 상이하게 요구되는 단위모듈IC에 대한 피치간격의 조절이 이루어지도록 하고 있다.

즉, 공급되는 단위 모듈IC의 피치간격의 조절은 그 간격을 크게 하거나 작게 하는 두 가지 경우로서, 단위모듈IC를 이루는 각각의 모듈IC가 본 발명의 피치조절장치(A)의 소켓(1)(1´)(1˝)에 끼워진 상태에서, 각각의 모듈IC간의 간격, 즉 피치간격을 서로 좁히도록 조절하고자 하는 경우에는, 실린더(3)를 작동시키게 되면, 이 실린더(3)의 작동로드(31)에 연결구(32)에 의해 연결된 첫째소켓(1´)이 당겨지면서 그대로 이웃하는 다른 소켓(1)을 당기게 되고, 계속해서 소켓(1)들은 이웃하는 소켓(1)에 의해 그대로 순차적으로 당겨져 최종적으로 베이스판(2)에 고정 상태인 마지막소켓(1˝)측으로 첫째소켓(1´)을 포함한 나머지 소켓(1)들을 밀착시키는 형태로 소켓(1´)(1˝)을 이동시켜 각각의 소켓(1)(1´)(1˝)간의 간격, 즉 피치간격을 가장 작은 값으로 되게 하여 그 설치상태를 유지하게 된다. 이때 상기 첫째소켓(1´)에 그 선단이 고정된 작동봉(4)은 첫째소켓(1´)의 이동에 따라 함께 이동하게 된다.

이와 같이 각각의 소켓(1)(1´)(1˝)이 좁은 피치간격을 갖게 조절된 상태에서 다음 공정을 위해 설정된 피치간격으로 소켓(1)(1´)(1˝)간의 간격을 조절하고자 하는 경우, 다시 말해 넓은 피치간격을 갖게 하고자 할 때에는, 실린더(3)를 앞서와는 반대방향, 즉 밀어내는 방향으로 작동시키게 되면, 작동로드(31) 선단에 연결구(32)에 의해 연결된 첫째소켓(1´)이 가장 먼저 밀려나면서 이동되게 되고, 이렇게 첫째소켓(1´)이 이동하게 됨에 따라 이 첫째소켓(1´)에 선단이 부착고정되고 타단은 베이스판(2)상에 유동 가능하게 설치된 작동봉(4)도 함께 이동하게 되게 된다.

이렇게 첫째소켓(1´)이 정해진 위치에 도달될 때까지 실린더(3)의 작동로드(31)가 이동하게 됨에 따라 첫째소켓(1´)에 연결된 작동봉(4)도 이동하게 되면서 작동봉(4)외면에 계단형태로 형성된 작동턱(41)중 가장 선단부측 작동턱(41)이 첫째소켓(1´)에 바로 이웃하는 소켓(1)의 저면에 형성된 걸림턱(13)에 걸리면서, 소켓(1)을 그대로 끌고 나가게 되고, 계속해서 작동봉(4)이 이동하게 됨에 따라 작동봉(4)외면에 형성된 그 다음 작동턱(41)이 그 다음 소켓(1)의 걸림턱(13)에 걸리면서 역시 소켓(1)을 그대로 끌고 나가는 식으로 하여 작동봉(4)의 외면에 일정거리를 두고 계단형으로 형성된 작동턱(41)에 의해 소켓(1)이 순차적으로 그 하면의 걸림턱(13)에 의해 하나씩 걸려 이동하게 되면서 좁은 피치간격으로 모아졌던 각각의 소켓(1)(1´)(1˝)은 일정간격의 넓은 피치간격이 유지되는 형태의 설정된 피치간격으로 그 간격을 벌려 위치되게 된다. 이때 실린더(3)의 작동로드(31)에 고정된 첫째소켓(1´)과, 베이스판(2)에 고정 설치된 마지막소켓(1˝)을제외한 소켓(1)들의 저면에는 각각 걸림턱(13)을 형성하고, 베이스판(4)상면의 상기 소켓(1)의 피치간격을 넓은 피치간격으로 유지하도록 하는 위치에는 상기 걸림턱(13)과 각각 접촉하는 스토퍼(22)를 형성하고 있음으로 인해 소켓(1)의 걸림턱(13)이 해당 스토퍼(22)와 접촉하게 되면서 더 이상의 진행이 저지되므로 설정된 피치간격이 유지되도록 각 소켓(1)은 정해진 위치로 정확하게 이동하게 되어 목적한 넓은 간격의 피치간격을 갖는 상태로 된다.

이 상태에서 다시 각각의 소켓(1)(1´)(1˝)의 피치간격을 좁은 피치간격으로 유지하고자 하는 경우, 앞에서 설명한 바와 같이 실린더(3)를 당기는 방향으로 작동시키게 되면 첫째소켓(1´)에 의해 각각의 이웃하는 소켓(1)이 당겨지는 식으로 각각의 소켓(1)(1´)(1˝)간격이 좁혀지면서 좁은 피치간격을 갖게 된다.

이와 같이 조절 가능한 각 소켓(1)(1´)(1˝)의 피치 간격은 모듈IC의 테스트공정특성에 맞추어 임의 조절 가능하게 된다.

상기 구성에 있어서, 생산 완료된 모듈IC가 테스트를 위해 일정피치간격이유지되게 삽입 설치되는 단위모듈IC피치조절장치를 이루는 소켓(1)(1´)(1˝)의 수를 8개로 하여 설명하였으나, 반드시 여기에만 한정되는 것은 아니며, 장치의 규모나 특성에 맞추어 증감할 수 있음은 물론이다.

이상의 설명에서 분명히 알 수 있듯이, 본 발명의 모듈IC테스트핸들러의 단위모듈IC피치 조절장치에 의하면, 생산 완료된 모듈IC의 테스트를 위한 테스트공정에 있어 다수개의 모듈IC를 하나의 단위모듈IC로 하여 해당 테스트 공정에서 요구하는 피치간격으로 신속하고 정확하게 조절하기 위해 상기 단위모듈IC가 삽입되는 다수의 소켓에 의해 피치간격을, 실린더에 의해 진퇴 작동하는 작동봉 외면의 작동턱으로 하여금 각 소켓하면의 걸림턱에 순차적으로 걸려 소켓의 피치간격을 넓은 피치간격으로 유지되게 하거나, 또는 실린더 작동에 따라 첫째소켓이 반대방향으로 이동하면서 이웃하는 소켓을 함께 이동시키는 식으로 마지막 소켓 측으로 소켓을 모아 좁은 피치간격을 갖도록 하는 것에 의해 생산 완료된 모듈IC에 대한 테스트공정수행을 위한 모듈IC의 피치간격조절이 보다 용이하고 정확하게 이루어지게 되어 생산 완료된 모듈IC에 대한 테스트작업능률을 높일 수 있게 되는 등의 유용한 효과를 제공한다.

Claims

모듈IC테스트 핸들러의 단위모듈IC피치조절장치를 구성함에 있어서,

하면에는 실린더(3)가 설치되는 것으로서 그 상면에는 다수의 안내레일(12)을 설치하고, 소켓(1)(1')의 하부에는 상기 안내레일(12)을 타고 이동되는 안내구(11)를 각각 설치하여서 되는 베이스판(2)상에 베이스판(2)상에 소켓(1˝)을 고정설치하고, 그 일측으로는 다수의 소켓(1)(1´)을 이동가능하게 설치하되, 상기 소켓(1´)에는 실린더(3)의 작동실린더(3)가 연결되게 하고, 상기 소켓(1)(1´)(1˝)하부에는 선단이 소켓(1´)일측에 연결되고, 타단은 베이스판(2)상에 유동 가능하게 설치되는 작동봉(4)을 관통 설치하여 소켓(1)저면에 형성된 걸림부(1a)에 작동봉(4)외면의 작동턱(41)이 선택적으로 걸려 소켓(1)이 순차이동되도록 한 것을 특징으로 하는 모듈아이씨테스트핸들러의 단위모듈아이씨피치조절장치.
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청구항 1에 있어서, 상기 작동봉(4)외면에 형성되는 작동턱(41)은, 계단형으로 다수 반복 형성되는 것을특징으로 하는 모듈아이씨테스트핸들러의 단위모듈아이씨피치조절장치.