[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR100341577B1 - A QFCB siganl generator in memory device - Google Patents

A QFCB siganl generator in memory device Download PDF

Info

Publication number
KR100341577B1
KR100341577B1 KR1019990024876A KR19990024876A KR100341577B1 KR 100341577 B1 KR100341577 B1 KR 100341577B1 KR 1019990024876 A KR1019990024876 A KR 1019990024876A KR 19990024876 A KR19990024876 A KR 19990024876A KR 100341577 B1 KR100341577 B1 KR 100341577B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
output
qfcb
pull
clock
Prior art date
Application number
KR1019990024876A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20010004253A (en
Inventor
가순택
Original Assignee
박종섭
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박종섭, 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 박종섭
Priority to KR1019990024876A priority Critical patent/KR100341577B1/en
Publication of KR20010004253A publication Critical patent/KR20010004253A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100341577B1 publication Critical patent/KR100341577B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 기술에 관한 것으로, 특히 DDR SDRAM(double data rate synchronous dynamic random access memory)과 같은 고속 동작 메모리에 관한 것이며, 더 자세히는 모듈(module)로 구성되어 공통 데이터 버스(common data bus)를 이용하는 메모리 소자에 관한 것이다. 본 발명은 버스트 길이에 따라 데이터가 입력되는 동안에만 인에이블되며, 인터럽트나 쓰기 명령이 연속적으로(지체없이) 들어오는 경우에도 빠르고 정확하게 동작하는 QFCB 신호 발생 회로를 제공하는데 그 목적이 있다. 본 발명은 쓰기 명령시에 내부의 쉬프트 레지스터로 구성된 카운터를 이용하여 데이터가 입출력되는 타이밍만큼의 윈도우를 형성하는 QFCB 신호 발생 회로를 구현하였다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to semiconductor technology, and more particularly, to high-speed operating memory, such as DDR double data rate synchronous dynamic random access memory (SDRAM), and more particularly to a module configured to provide a common data bus. A memory device to be used. It is an object of the present invention to provide a QFCB signal generation circuit that is enabled only while data is input according to the burst length, and operates quickly and accurately even when an interrupt or write command is continuously (without delay). The present invention implements a QFCB signal generation circuit that forms a window as much as the timing at which data is inputted and outputted by using a counter composed of an internal shift register during a write command.

Description

메모리 소자의 데이터 스위치 제어신호 발생 회로{A QFCB siganl generator in memory device}Data switch control signal generation circuit of a memory device {A QFCB siganl generator in memory device}

본 발명은 반도체 기술에 관한 것으로, 특히 DDR SDRAM(double data rate synchronous dynamic random access memory)과 같은 고속 동작 메모리에 관한 것이며, 더 자세히는 모듈(module)로 구성되어 공통 데이터 버스(common data bus)를 이용하는 메모리 소자의 데이터 스위치 제어신호(QFCB, DQ FET Control Bar) 발생 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to semiconductor technology, and more particularly, to high-speed operating memory, such as DDR double data rate synchronous dynamic random access memory (SDRAM), and more particularly to a module configured to provide a common data bus. A circuit for generating a data switch control signal (QFCB, DQ FET Control Bar) of a memory device to be used.

메모리 모듈에서는 첨부된 도면 도 1에 도시된 바와 같이 하나의 보드(board)(10)에 여러 개의 메모리 칩(11)을 구성하고 데이터 버스를 공통으로 사용한다. 즉, 데이터 버스가 각 메모리 칩(11)에 공통으로 연결되어 있다.In the memory module, as shown in FIG. 1, a plurality of memory chips 11 are configured on one board 10 and data buses are commonly used. That is, the data bus is commonly connected to each memory chip 11.

이때, 메모리 제어기(12)와 칩선택 버스를 통해 선택되어 동작하는 칩 이외의 칩 즉, 읽기 또는 쓰기 동작을 수행하지 않는 칩 역시 데이터 버스에 공통으로 연결되어 있으므로 그 칩의 데이터 출력(dout) 버퍼들도 이 공통 데이터 버스에 로드(load)로 작용하게 된다. 따라서 이와 같은 경우 특히, 동작 주파수가 높은 고속 동작의 메모리에서 데이터 버스의 로드를 크게 받게 된다.At this time, a chip other than a chip selected and operated through the memory controller 12 and the chip select bus, that is, a chip which does not perform a read or write operation, is also connected to the data bus in common, and thus the data output buffer of the chip. They also act as a load on this common data bus. Therefore, in such a case, the load of the data bus is particularly large in a high-speed memory having a high operating frequency.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 첨부된 도면 도 2에 도시된 바와 같이 공통 데이터 버스와 각 메모리 칩(21) 사이에 데이터 스위치(S/W)(23)를 채용하여 읽기/쓰기 동작으로 데이터 입출력 동작을 수행하는 칩의 데이터 S/W(23)만을 턴온시켜 공통 데이터 버스의 로드를 줄이는 방식이 제시되었다. 미설명 도면 부호 '22'는 메모리 제어기를 나타낸 것이다.In order to solve this problem, as shown in FIG. 2, a data switch (S / W) 23 is employed between the common data bus and each memory chip 21 to perform data input / output operations in a read / write operation. A method of reducing the load of the common data bus by turning on only the data S / W 23 of the performing chip has been proposed. Reference numeral 22 denotes a memory controller.

이때, 데이터 S/W(23)의 온/오프 동작을 제어하는 신호가 메모리 칩(21)내에서 발생된 QFCB 신호인데, 이 신호는 데이터가 입출력되는 동안에만 논리레벨 로우로 인에이블되어 데이터 윈도우(data window)를 형성한다.At this time, a signal controlling the on / off operation of the data S / W 23 is a QFCB signal generated in the memory chip 21. The signal is enabled at a logic level low only while data is inputted and outputted, thereby causing a data window. Form a (data window).

첨부된 도면 도 3에 버스트 길이(burst length)에 따른 QFCB 신호의 타이밍을 도시한 것으로, QFCB 신호는 원래 읽기 또는 쓰기 때에 데이터에 관하여 동작하는 신호이지만 여기에서는 쓰기 동작시만을 기준으로 하여 설명하기로 한다.3 is a timing diagram of a QFCB signal according to a burst length. The QFCB signal is a signal that operates with respect to data at the time of reading or writing, but will be described based only on the writing operation. do.

쓰기 동작시 QFCB 신호는 쓰기 명령에 의해 바로 인에이블되고 데이터의 입력이 다 끝나는 마지막 데이터에서 디스에이블되도록 하여야 한다. 이때, 중요한 것은 버스트 길이에 따라 각각의 데이터가 입력되는 동안 QFCB 신호가 인에이블되며, 또한 데이터가 입력되는 중간에 다른 명령에 의해 이전 쓰기 명령이 인터럽트되어 데이터의 입력이 멈추면 QFCB 신호도 이에 따라 디스에이블되어야 한다는 것이다. 또한 쓰기 명령후 지체없이(gapless) 또 다른 쓰기 명령이 입력되면 QFCB는 두 번째 쓰기 명령에 의해 입력되는 데이터가 들어올 때까지 디스에이블되지 말아야 한다.During a write operation, the QFCB signal must be enabled by the write command and disabled at the last data at the end of the data input. In this case, it is important to note that the QFCB signal is enabled while each data is input according to the burst length. Also, if the previous write command is interrupted by another command in the middle of data input and the data input stops, the QFCB signal is accordingly. It must be disabled. Also, if another write command is entered without a write after the write command, QFCB should not be disabled until the data entered by the second write command is received.

그러나, QFCB 신호는 JEDEC에서 권고(recommend)되고 있을 뿐 상기의 요구를 충족시키는 발생 회로가 아직까지 제시되어 있지 않았기 때문에 기존의 DRAM에서는 QFCB 신호를 사용하지 않았다.However, since the QFCB signal is recommended by JEDEC and a generation circuit that satisfies the above requirement has not yet been proposed, the conventional DRAM has not used the QFCB signal.

본 발명은 버스트 길이에 따라 데이터가 입력되는 동안에만 인에이블되며, 인터럽트나 쓰기 명령이 연속적으로(지체없이) 들어오는 경우에도 빠르고 정확하게 동작하는 QFCB 신호를 얻기 위한 QFCB 신호 발생 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a QFCB signal generation circuit for enabling a QFCB signal that is enabled only while data is input according to the burst length, and operates quickly and accurately even when an interrupt or write command is continuously received (without delay). have.

도 1은 통상적인 메모리 모듈의 블럭 구성도.1 is a block diagram of a conventional memory module.

도 2는 개선된 메모리 모듈의 블럭 구성도.2 is a block diagram of an improved memory module.

도 3은 버스트 길이(burst length)에 따른 QFCB 신호의 타이밍도.3 is a timing diagram of a QFCB signal according to a burst length.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 QFCB 발생 회로의 블럭 구성도.4 is a block diagram of a QFCB generation circuit according to an embodiment of the present invention.

도 5a는 상기 도 4의 쓰기 qfcb 온/오프 블럭(40)의 블럭 구성도.5A is a block diagram of the write qfcb on / off block 40 of FIG.

도 5b는 상기 도 4의 QFC pu/pd 블럭(42)의 회로 예시도.5B is a circuit diagram of the QFC pu / pd block 42 of FIG.

도 5c는 도 5c는 상기 도 4의 출력 드라이버(44)의 예시도.5C is an illustration of the output driver 44 of FIG. 4.

도 5d는 상기 도 4, 도 5a 내지 도 5c에 나타낸 신호의 타이밍도.Fig. 5D is a timing diagram of the signal shown in Figs. 4 and 5A to 5C.

도 6은 상기 도 5의 wtqfc_inc 블럭(50)의 회로도.6 is a circuit diagram of the wtqfc_inc block 50 of FIG.

도 7은 상기 도 6의 쉬프트 카운터 출력 wt0, wt1, wt2, wt3과 버스트 길이에 따른 쓰기 qfc 인에이블 신호의 타이밍도.7 is a timing diagram of a write qfc enable signal according to the shift counter output wt0, wt1, wt2, wt3 and burst length of FIG.

도 8은 상기 도 6에 도시된 wtqfc_inc 블럭의 상세 회로 예시도.8 is a detailed circuit diagram of the wtqfc_inc block shown in FIG. 6;

도 9는 상기 도 5의 wt_qfcenb 블럭(52)의 상세 회로 예시도.9 is a detailed circuit diagram of the wt_qfcenb block 52 of FIG.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

40 : 쓰기 qfcb 온/오프 블럭40: write qfcb on / off block

42 : QFC pu/pd 블럭42: QFC pu / pd block

44 : 출력 드라이버44: output driver

상기의 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은, 다수의 메모리 칩을 구비한 메모리 모듈의 공통 데이터 버스와 각 메모리 칩의 전기적 연결을 선택적으로 절체하기 위한 데이터 스위치 제어신호 발생 회로에 있어서, 클럭 신호 및 리셋 신호에 제어 받아 쓰기 명령 신호를 쉬프트 카운팅하는 다수의 쉬프트 카운팅 수단; 상기 다수의 쉬프트 카운팅 수단 각각의 출력의 논리 연산을 통해 쓰기 데이터가 입력되는 구간에서 설정된 버스트 길이만큼 데이터 스위치 제어신호(QFCB)를 인에이블시키기 위한 QFCB 인에이블 신호 발생 수단; 상기 QFCB 인에이블 신호를 입력으로 하여 풀다운 구동 신호 및 풀업 구동 신호를 발생시키기 위한 출력 구동 신호 발생 수단; 및 상기 풀다운 구동 신호 및 상기 풀업 구동 신호에 제어 받아 상기 QFCB를 출력하는 출력 구동 수단을 포함하여 이루어진다.또한, 본 발명은, 다수의 메모리 칩을 구비한 메모리 모듈의 공통 데이터 버스와 각 메모리 칩의 전기적 연결을 선택적으로 절체하기 위한 데이터 스위치 제어신호(QFCB) 발생 회로에 있어서, 클럭 신호, 리셋 신호 및 쓰기 명령 신호에 제어 받아 쓰기 데이터가 입력되는 구간에서 설정된 버스트 길이만큼 데이터 스위치 제어신호(QFCB)를 인에이블시키기 위한 QFCB 인에이블 신호 발생 수단; 상기 QFCB 인에이블 신호를 입력으로 하여 풀다운 구동 신호 및 풀업 구동 신호를 발생시키기 위한 출력 구동 신호 발생 수단; 및 상기 풀다운 구동 신호 및 상기 풀업 구동 신호에 제어 받아 상기 QFCB를 출력하는 출력 구동 수단을 포함하여 이루어진다.즉, 본 발명은 쓰기 명령시에 내부의 쉬프트 레지스터로 구성된 카운터를 이용하여 데이터가 입출력되는 타이밍만큼의 윈도우를 형성하는 QFCB 신호 발생 회로를 구현하였다.이하, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 보다 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여 본 발명의 바람직한 실시예를 소개하기로 한다.In order to achieve the above technical problem, the present invention provides a data switch control signal generation circuit for selectively switching electrical connections between a common data bus of a memory module having a plurality of memory chips and each memory chip, the clock signal and A plurality of shift counting means for shift counting the control write command signal to the reset signal; QFCB enable signal generation means for enabling the data switch control signal (QFCB) by a set burst length in a section in which write data is input through a logical operation of an output of each of the plurality of shift counting means; Output drive signal generating means for generating a pull-down drive signal and a pull-up drive signal by inputting the QFCB enable signal; And output driving means for controlling the pull-down driving signal and the pull-up driving signal and outputting the QFCB. The present invention also provides a common data bus of a memory module including a plurality of memory chips and a plurality of memory chips. A data switch control signal (QFCB) generation circuit for selectively switching electrical connections, wherein the data switch control signal (QFCB) is set by a burst length set in a section in which write data is input under control of a clock signal, a reset signal, and a write command signal. QFCB enable signal generation means for enabling a; Output drive signal generating means for generating a pull-down drive signal and a pull-up drive signal by inputting the QFCB enable signal; And output driving means for outputting the QFCB under control of the pull-down driving signal and the pull-up driving signal. That is, the present invention provides a timing at which data is inputted and outputted using a counter configured with an internal shift register during a write command. A QFCB signal generation circuit is formed which forms as many windows as follows. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in order to enable those skilled in the art to more easily implement the present invention. Shall be.

첨부된 도면 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 QFCB 발생 회로의 블럭 구성을 도시한 것으로, 쓰기 명령시 필요한 구간만큼 QFCB 신호를 인에이블시키기 위한 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 생성하기 위한 쓰기 qfcb 온/오프 블럭(40)과, 쓰기 qfcb 온/오프 블럭(40)으로부터 출력된 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 입력으로 하여 풀다운/풀업(pull up/pull down) 구동 신호 pd, pu를출력하는 QFC pu/pd 블럭(42)과, QFC pu/pd 블럭(42)으로부터 출력된 pu, pd 신호에 제어 받아 QFCB 신호를 출력하는 출력 드라이버(44)로 구성된다.4 is a block diagram of a QFCB generation circuit according to an exemplary embodiment of the present invention, and includes a write qfcb for generating a write qfc enable signal wt_qfcenb for enabling the QFCB signal by a necessary period during a write command. QFC outputting pull up / pull down drive signals pd and pu by inputting on / off block 40 and write qfc enable signal wt_qfcenb output from write qfcb on / off block 40 as input. pu / pd block 42 and an output driver 44 which is controlled by the pu and pd signals output from the QFC pu / pd block 42 and outputs a QFCB signal.

첨부된 도면 도 5a는 상기 도 4의 쓰기 qfcb 온/오프 블럭(40)의 블럭 구성을 도시한 것으로, 쓰기 qfcb 온/오프 블럭(40)은 외부 클럭 clk, 리셋 펄스 reset, 쓰기 명령 신호 wt_cmd를 입력으로 하여 외부 클럭 clk의 주기마다 쉬프트하면서 인크리멘트(increment)하는 쉬프트 카운팅 값 wt0, wt1, wt2, wt4를 출력하는 wtqfc_inc 블럭(50)과, wtqfc_inc 블럭(50)의 출력 wt0, wt1, wt2, wt4를 입력으로 하여 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 출력하는 wt_qfcenb 블럭(52)으로 구성되어 있다.5A illustrates a block configuration of the write qfcb on / off block 40 of FIG. 4, wherein the write qfcb on / off block 40 performs an external clock clk, reset pulse reset, and write command signal wt_cmd. A shift counting value wt0, wt1, wt2, and wt4 that increments and shifts every cycle of the external clock clk as an input, and an output wt0, wt1, wt2 of the wtqfc_inc block 50; , wt4 is inputted into a wt_qfcenb block 52 that outputs the write qfc enable signal wt_qfcenb as an input.

여기서, 쓰기 명령 신호 wt_cmd는 외부에서 클럭의 상승 에지(rising edge)에 동기되어 쓰기 명령이 들어오면 커맨드 디코더(command decoder)에서 만들어지는 펄스이며, reset 신호는 버스트 정지(burst stop) 명령이나 프리차지(precharge) 명령에 의해 쓰기 동작이 인터럽트될 때 입력되는 펄스이다.Here, the write command signal wt_cmd is a pulse generated by the command decoder when a write command is received in synchronization with a rising edge of the clock from the outside, and the reset signal is a burst stop command or precharge. This pulse is input when the write operation is interrupted by the (precharge) command.

한편, 상기 도 4의 QFC pu/pd 블럭(42)은 첨부된 도면 도 5b에 도시된 바와 같이, 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 반전시켜 풀다운 구동 신호 pd로 출력하는 인버터(I50)와, 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 입력으로 하여 풀업 구동 신호 pu를 출력하는 펄스 발생기(54)로 구성된다. 펄스 발생기(54)는 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 일정 시간만큼 지연시키기 위한 다수의 인버터(I51, I52, I53)와, 인버터 I53의 출력 및 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 입력으로 하는 낸드 게이트(I54)와, 낸드 게이트(I54)의 출력을 반전시켜 풀업 구동 신호 pu로 출력하는 인버터(I55)로 이루어진다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 5B, the QFC pu / pd block 42 of FIG. 4 includes an inverter I50 that inverts the write qfc enable signal wt_qfcenb and outputs the pull-down driving signal pd, and the write qfc. The pulse generator 54 outputs the pull-up drive signal pu with the enable signal wt_qfcenb as an input. The pulse generator 54 includes a plurality of inverters I51, I52, and I53 for delaying the write qfc enable signal wt_qfcenb by a predetermined time, and a NAND gate I54 for inputting the output and the write qfc enable signal wt_qfcenb of the inverter I53. ) And an inverter I55 that inverts the output of the NAND gate I54 and outputs the pull-up driving signal pu.

첨부된 도면 도 5c는 상기 도 4의 출력 드라이버(44)를 예시한 것으로, 풀업 구동 신호 pu를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(P1)와 풀다운 구동 신호 pd를 게이트 입력으로 하는 풀다운 NMOS 트랜지스터(N1)로 구성되어 있다.5C illustrates the output driver 44 of FIG. 4, a pull-up PMOS transistor P1 having a pull-up drive signal pu as a gate input and a pull-down NMOS transistor N1 having a pull-down drive signal pd as a gate input. It consists of).

첨부된 도면 도 5d는 상기 도 4, 도 5a 내지 도 5c에 나타낸 신호의 타이밍도로서, 이를 참조하여 상기 QFCB 발생 회로의 동작을 간략히 설명하면 다음과 같다.FIG. 5D is a timing diagram of the signal shown in FIGS. 4 and 5A to 5C. The operation of the QFCB generation circuit will be briefly described with reference to the following.

우선, 버스트 길이만큼의 데이터 입력 윈도우를 형성하는 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb가 로우로 인에이블되면 QFC pu/pd 블럭(42)에서 pd 신호를 하이로 출력하고 출력 드라이버(44)의 출력 QFCB는 하이 임피던스(Hi-Z) 상태에서 로우레벨로 천이하게 된다. 이 상태에서 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb가 디스에이블되면 QFC pu/pd 블럭(42)의 펄스 발생기(44)에서 pu 신호를 짧은 펄스로 발생시켜 QFCB 신호가 하이레벨로 디스에이블되었다가 바로 하이 임피던스(Hi-Z) 상태를 유지하도록 한다.First, when the write qfc enable signal wt_qfcenb, which forms a data input window of the burst length, is enabled low, the output QFCB of the output driver 44 outputs the pd signal high in the QFC pu / pd block 42. The transition to the low level in the impedance (Hi-Z) state. In this state, if the write qfc enable signal wt_qfcenb is disabled, the pulse generator 44 of the QFC pu / pd block 42 generates the pu signal as a short pulse, which causes the QFCB signal to be disabled at a high level and then immediately becomes a high impedance ( Hi-Z) state.

첨부된 도면 도 6은 상기 도 5a의 wtqfc_inc 블럭(50)의 구성을 도시한 것으로, wtqfc_inc 블럭(50)은 리셋 펄스 reset 및 외부 클럭 clk에 제어 받아 쓰기 명령 신호 wt_cmd를 입력 받는 제1 쉬프트 카운터(60)와, 제1 쉬프트 카운터(60)의 출력 wt0을 입력으로 하여 wt1을 출력하는 제2 쉬프트 카운터(61)와, wt1을 입력으로 하여 wt2를 출력하는 제3 쉬프트 카운터(62)와, wt2를 입력으로 하여 wt3을 출력하는 제4 쉬프트 카운터(63)로 구성되어 있다.6 is a block diagram of the wtqfc_inc block 50 of FIG. 5A. The wtqfc_inc block 50 may include a first shift counter for receiving a reset pulse reset and an external clock clk. 60), a second shift counter 61 for outputting wt1 by inputting wt0 of the first shift counter 60, a third shift counter 62 for outputting wt2 by input of wt1, and wt2 Is configured as a fourth shift counter 63 for outputting wt3.

각 쉬프트 카운터의 출력 wt0, wt1, wt2, wt3과 버스트 길이에 따른 쓰기 qfc 인에이블 신호의 타이밍을 첨부된 도면 도 7에 도시하였다. 먼저 쓰기 명령 신호 wt_cmd가 입력되면 wt0이 인에이블되고, 다음 클럭(clk)에 의해 wt1이 인에이블되고 wt0이 디스에이블된다. 그 다음 클럭(clk)에서는 wt2가 인에이블되고 wt1이 디스에이블되며, 이러한 동작이 매 클럭(clk) 마다 반복되어 마지막 wt3이 디스에이블될 때까지 반복된다. 모드 레지스터 세트(또는 확장된 모드 레지스터 세트)에서 버스트 길이를 2로 세팅한 경우(BL2) 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb는 wt0 신호의 반전값에 해당하고, 버스트 길이가 4인 경우(BL4) wt_qfcenb 신호는 wt0과 wt1의 낸딩을 통해 만들며, 버스트 길이가 8인 경우(BL8) wt0, wt1, wt2, wt4의 낸딩을 통하여 wt_qfcenb 신호를 만들게 된다.The timing of the write qfc enable signal according to the output wt0, wt1, wt2, wt3 and the burst length of each shift counter is shown in FIG. When the write command signal wt_cmd is input first, wt0 is enabled, wt1 is enabled by the next clock clk, and wt0 is disabled. Then at clock clk wt2 is enabled and wt1 is disabled, and this operation is repeated every clock clk until the last wt3 is disabled. When the burst length is set to 2 (BL2) in the mode register set (or extended mode register set), the write qfc enable signal wt_qfcenb corresponds to the inverse of the wt0 signal, and when the burst length is 4 (BL4) the wt_qfcenb signal Is made through the NAND of wt0 and wt1, and when the burst length is 8 (BL8), the wt_qfcenb signal is generated through the NAND of wt0, wt1, wt2, wt4.

wt0, wt1, wt2, wt4 신호 및 wt_qfcenb 신호를 생성하기 위한 구체적인 로직을 첨부된 도면 도 8 및 도 9에 예시하였다.Specific logic for generating wt0, wt1, wt2, wt4 signals and wt_qfcenb signals is illustrated in the accompanying drawings, FIGS. 8 and 9.

우선, 첨부된 도면 도 8은 상기 도 6에 도시된 wtqfc_inc 블럭의 상세 회로 구성을 예시한 것으로, 우선 제1 쉬프트 카운터(60)는 쓰기 명령 신호 wt_cmd를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(P5) 및 풀다운 NMOS 트랜지스터(N2), 그리고 외부 클럭 clk를 소오스로 하여 생성된 리셋 클럭 rst_clk를 게이트 입력으로 하는 PMOS 트랜지스터(P1)로 구성된 드라이버(80)와, 두 개의 인버터(I7, I8)로 이루어진 래치(81)로 이루어진다.8 is a diagram illustrating a detailed circuit configuration of the wtqfc_inc block shown in FIG. 6. First, the first shift counter 60 includes a pull-up PMOS transistor P5 having a write command signal wt_cmd as a gate input; A driver 80 composed of a pull-down NMOS transistor N2, a PMOS transistor P1 having a gate input as a reset clock rst_clk generated using an external clock clk as a source, and a latch composed of two inverters I7 and I8 ( 81).

리셋 클럭 rst_clk는 외부 클럭 clk을 반전시키는 인버터(I68)와, 인버터(I68)의 출력을 소정 시간동안 지연시키기 위한 인버터(I69, I72, I73)와,인버터(I68)와 인버터(I73)의 출력을 입력으로 하는 낸드 게이트(I162)로 구성된 클럭 발생기(86)에서 만들어진 신호로서, 쓰기 명령 신호 wt_cmd가 인에이블된 후 외부 클럭 clk의 하강 에지에서 카운팅 값을 리셋시키기 위해 채용된 것이다.The reset clock rst_clk is an inverter I68 for inverting the external clock clk, inverters I69, I72, and I73 for delaying the output of the inverter I68 for a predetermined time, and outputs of the inverters I68 and I73. A signal produced by the clock generator 86 composed of the NAND gate I162 as an input, is employed to reset the counting value on the falling edge of the external clock clk after the write command signal wt_cmd is enabled.

한편, 제2 쉬프트 카운터(61)는 인버터(I13) 및 트랜스미션 게이트(T12)로 구성되어 외부 클럭 clk이 하이레벨인 경우 즉, 클럭의 상승 에지에 동작하여 wt0을 통과시키는 제1 스위칭부(82)와, 제1 스위칭부(82)의 출력과 리셋 펄스 reset을 입력으로 하는 낸드 게이트(I79) 및 인버터(I21, I17)로 구성된 제1 래치부(83)와, 인버터(I19) 및 트랜스미션 게이트(T18)로 구성되어 외부 클럭 clk이 로우레벨인 경우 즉, 클럭의 하강 에지에 동작하여 제1 래치부(83)의 출력을 통과시키는 제2 스위칭부(84)와, 제2 스위칭부(84)의 출력과 리셋 펄스 reset을 입력으로 하는 낸드 게이트(I81) 및 인버터(I22, I20)로 구성된 제2 래치부(85)로 구성되며, 제2 래치부(85)의 출력이 인버터(I48, I47)를 통하여 wt1 신호로 출력된다.Meanwhile, the second shift counter 61 includes an inverter I13 and a transmission gate T12 so that when the external clock clk is at a high level, that is, on the rising edge of the clock, the first switching unit 82 passes the wt0. ), A first latch portion 83 composed of a NAND gate I79 and inverters I21 and I17 for inputting an output of the first switching portion 82 and a reset pulse reset, and an inverter I19 and a transmission gate. A second switching unit 84 and a second switching unit 84 that operate at the falling edge of the clock to pass the output of the first latch unit 83 when the external clock clk is at a low level. And a second latch portion 85 composed of a NAND gate I81 and an inverter I22 and I20 for inputting the output of the reset pulse reset and the reset pulse reset. The output of the second latch portion 85 is an inverter I48, It is outputted as a wt1 signal through I47).

제3 쉬프트 카운터(62) 및 제4 쉬프트 카운터(63)의 구성은 전술한 제2 쉬프트 카운터(61)의 구성과 동일하므로 그에 대한 설명은 생략한다. 미설명 도면 부호 T41, T23, T33, T28은 트랜스미션 게이트, I83, I85, I87, I89는 낸드 게이트, I40, I23, I44, I24, I26, I25, I45, I46, I37, I27, I34, I32, I28, I31, I50, I49는 각각 인버터를 나타낸 것이다.Since the configurations of the third shift counter 62 and the fourth shift counter 63 are the same as those of the above-described second shift counter 61, description thereof will be omitted. Unexplained reference numerals T41, T23, T33, T28 are transmission gates, I83, I85, I87, I89 are NAND gates, I40, I23, I44, I24, I26, I25, I45, I46, I37, I27, I34, I32, I28, I31, I50, and I49 represent inverters, respectively.

첨부된 도면 도 9는 상기 도 5의 wt_qfcenb 블럭(52)의 상세 회로 구성을 예시한 것으로, 크게 낸드 로직부(90), 구동부(91), 래치(92)로 구성되어 있다.9 is a diagram illustrating a detailed circuit configuration of the wt_qfcenb block 52 of FIG. 5, and is composed of a NAND logic unit 90, a driver 91, and a latch 92.

낸드 로직부(90)는 wt1 신호와 인버터(I188)를 통해 반전된 bl2 신호를 입력으로 하는 낸드 게이트(I209)와, 낸드 게이트(I209)의 출력과 인버터(I186)를 통해 반전된 wt0을 입력으로 하는 낸드 게이트(I192)와, wt2 신호 및 bl2 신호를 입력으로 하는 낸드 게이트(I210)와, wt3 신호와 bl8 신호를 입력으로 하는 낸드 게이트(I211)와, 낸드 게이트(I210) 및 낸드 게이트(I211)의 출력을 입력으로 하는 낸드 게이트(I193)와, 낸드 게이트(I192) 및 낸드 게이트(I193)의 출력을 입력으로 하는 노아 게이트(I194)로 이루어진다.The NAND logic unit 90 inputs a NAND gate I209 which receives the wt1 signal and the bl2 signal inverted through the inverter I188, an output of the NAND gate I209, and an inverted wt0 through the inverter I186. NAND gate I192 to be used, NAND gate I210 to input wt2 signal and bl2 signal, NAND gate I211 to input wt3 signal and bl8 signal, NAND gate I210 and NAND gate ( A NAND gate I193 having the output of I211 as an input, and a NOR gate I194 having the output of the NAND gate I192 and the NAND gate I193 as input.

bl2, bl4 및 bl8 신호를 하기 표 1에 정의하였다.The bl2, bl4 and bl8 signals are defined in Table 1 below.

BL2BL2 BL4BL4 BL8BL8 bl2bl2 HH LL LL bl4bl4 LL HH LL bl8bl8 LL LL HH

상기 도 9에 도시된 로직에서는 bl4 신호를 사용하지 않았는데, 이는 상기 표 1에 나타난 바와 같이 bl2 신호와 bl8 신호로 bl4 신호의 표현이 가능하기 때문이다.In the logic shown in FIG. 9, the bl4 signal is not used because the bl4 signal can be represented by the bl2 and bl8 signals as shown in Table 1 above.

결국, 낸드 로직부(90)에서는 버스트 길이가 2인 경우 wt0 신호를 제외한 신호를 막아 버리고, 버스트 길이가 4인 경우 wt2 및 wt3을 막아 wt0 및 wt1을 낸딩하고, 버스트 길이가 8인 경우 wt0, wt1, wt2, wt3을 낸딩하게 된다.As a result, the NAND logic unit 90 blocks signals except for the wt0 signal when the burst length is 2, blocks wt2 and wt3 when the burst length is 4, and gives out wt0 and wt1 when the burst length is 8, wt0, N1 wt1, wt2, and wt3.

구동부(91)는 낸드 로직부(90)의 출력을 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(P101) 및 풀다운 NMOS 트랜지스터(N100)와, 인버터(I197)를 통해 반전된 wt0 신호를 게이트 입력으로 하는 풀업 PMOS 트랜지스터(P196)와, 외부 클럭 clk를게이트 입력으로 하여 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb가 디스에이블되는 시점을 외부 클럭 clk에 동기화하기 위한 NMOS 트랜지스터(N99)로 이루어진다.The driver 91 has a pull-up PMOS transistor P101 and a pull-down NMOS transistor N100 having the output of the NAND logic unit 90 as a gate input, and a pull-up PMOS having the wt0 signal inverted through the inverter I197 as a gate input. A transistor P196 and an NMOS transistor N99 for synchronizing the timing at which the write qfc enable signal wt_qfcenb is disabled to the external clock clk with the external clock clk as the gate input.

래치부(92)는 두 개의 인버터(I105, I104)로 구성하였다.The latch portion 92 is composed of two inverters I105 and I104.

전술한 바와 같은 본 발명의 QFCB 신호 발생 회로는 데이터가 입출력되는 타이밍만큼의 윈도우를 형성하는 QFCB 신호를 버스트 길이에 따라 형성할 수 있으며, 버스트 정지 명령이나 프리차지 명령에 의해 쓰기 동작이 인터럽트될 경우, 즉 리셋 펄스 reset가 뜨게 되면 wt0, wt1, wt2, wt3 모두가 로우로 디스에이블되어 쓰기 qfc 인에이블 신호 wt_qfcenb를 리셋시키고, 연속적으로(지체없이) 쓰기 명령이 들어올 때에는 wt0부터 다시 인에이블되어 카운딩을 수행하므로 wt_qfcenb 신호가 디스에이블되지 않고 연속적으로 동작이 가능하다.As described above, the QFCB signal generating circuit of the present invention can form a QFCB signal that forms a window corresponding to the timing at which data is inputted and outputted according to the burst length, and when a write operation is interrupted by a burst stop command or a precharge command. In other words, when the reset pulse reset occurs, wt0, wt1, wt2, wt3 are all disabled low to reset the write qfc enable signal wt_qfcenb, and when the write command comes in continuously (without delay), it is re-enabled from wt0. Because it performs grounding, the wt_qfcenb signal can be operated continuously without being disabled.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible in the art without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those of ordinary knowledge.

예컨대, 전술한 실시예에서는 쉬프트 카운터의 클럭단에 외부 클럭을 공급하는 경우를 일례로 들어 설명하였으나, 본 발명은 이를 DLL(지연동기루프) 클럭 또는 내부 클럭으로 대체하여 사용하는 경우에도 적용할 수 있다.For example, in the above-described embodiment, the case where the external clock is supplied to the clock stage of the shift counter has been described as an example. However, the present invention can also be applied to the case of using a DLL (Delayed-Interlock Loop) clock or an internal clock. have.

또한, 전술한 실시예에서는 wt_qfcenb 블럭에서 낸드 로직을 사용하는 경우를 일례로 들어 설명하였으나, 이를 다른 로직을 사용하여 신호를 조합하여 구성하는 것도 가능하다.In addition, in the above-described embodiment, the case where NAND logic is used in the wt_qfcenb block has been described as an example. However, it is also possible to combine the signals using other logic.

전술한 본 발명은 고속으로 동작하는 메모리에서 정확하고 빠르게 QFCB 신호를 발생시킬 수 있으며, 이러한 QFCB 신호를 메모리에 채용하여 칩 외부에서의 데이터 버스의 로드를 줄일 수 있는 효과가 있다.The above-described present invention can generate a QFCB signal accurately and quickly in a memory operating at a high speed, and by employing such a QFCB signal in the memory, it is possible to reduce the load of the data bus outside the chip.

Claims (13)

다수의 메모리 칩을 구비한 메모리 모듈의 공통 데이터 버스와 각 메모리 칩의 전기적 연결을 선택적으로 절체하기 위한 데이터 스위치 제어신호 발생 회로에 있어서,A data switch control signal generation circuit for selectively switching electrical connections between a common data bus of a memory module having a plurality of memory chips and each memory chip, 클럭 신호 및 리셋 신호에 제어 받아 쓰기 명령 신호를 쉬프트 카운팅하는 다수의 쉬프트 카운팅 수단;A plurality of shift counting means for shift counting a control write command signal to a clock signal and a reset signal; 상기 다수의 쉬프트 카운팅 수단 각각의 출력의 논리 연산을 통해 쓰기 데이터가 입력되는 구간에서 설정된 버스트 길이만큼 데이터 스위치 제어신호(QFCB)를 인에이블시키기 위한 QFCB 인에이블 신호 발생 수단;QFCB enable signal generation means for enabling the data switch control signal (QFCB) by a set burst length in a section in which write data is input through a logical operation of an output of each of the plurality of shift counting means; 상기 QFCB 인에이블 신호를 입력으로 하여 풀다운 구동 신호 및 풀업 구동 신호를 발생시키기 위한 출력 구동 신호 발생 수단; 및Output drive signal generating means for generating a pull-down drive signal and a pull-up drive signal by inputting the QFCB enable signal; And 상기 풀다운 구동 신호 및 상기 풀업 구동 신호에 제어 받아 상기 QFCB를 출력하는 출력 구동 수단Output driving means for outputting the QFCB under control of the pull-down driving signal and the pull-up driving signal; 을 포함하여 이루어진 메모리 소자의 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.Data switch control signal generation circuit of the memory device comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 다수의 쉬프트 카운팅 수단이,The plurality of shift counting means, 상기 클럭 신호 및 상기 리셋 신호에 제어 받아 상기 쓰기 명령 신호를 입력받는 제1 쉬프트 카운터;A first shift counter configured to receive the write command signal under control of the clock signal and the reset signal; 상기 클럭 신호 및 상기 리셋 신호에 제어 받아 상기 제1 쉬프트 카운터의 출력을 입력 받는 제2 쉬프트 카운터;A second shift counter configured to receive the output of the first shift counter under control of the clock signal and the reset signal; 상기 클럭 신호 및 상기 리셋 신호에 제어 받아 상기 제2 쉬프트 카운터의 출력을 입력 받는 제3 쉬프트 카운터; 및A third shift counter controlled by the clock signal and the reset signal to receive an output of the second shift counter; And 상기 클럭 신호 및 상기 리셋 신호에 제어 받아 상기 제3 쉬프트 카운터의 출력을 입력 받는 제4 쉬프트 카운터를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And a fourth shift counter configured to receive the output of the third shift counter under the control of the clock signal and the reset signal. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 출력 구동 신호 발생 수단이,The output drive signal generating means, 상기 QFCB 인에이블 신호를 반전시켜 상기 풀다운 구동 신호로 출력하기 위한 반전 수단과,Inverting means for inverting the QFCB enable signal to output the pull-down driving signal; 상기 QFCB 인에이블 신호의 상승 에지에서 상기 풀업 구동 신호를 출력하기 위한 펄스 발생 수단을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And pulse generating means for outputting the pull-up drive signal at the rising edge of the QFCB enable signal. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 QFCB 인에이블 신호 발생 수단이,The QFCB enable signal generation means, 상기 버스트 길이가 2인 경우 상기 제1 쉬프트 카운터의 출력을 출력하고, 상기 버스트 길이가 4인 경우 상기 제1 및 제2 쉬프트 카운터의 출력을 낸딩하고, 상기 버스트 길이가 8인 경우 상기 제1 내지 제4 쉬프트 카운터의 출력을 낸딩하는 논리 연산부;Outputting the first shift counter when the burst length is 2; outputting the output of the first and second shift counters when the burst length is 4; A logic operation unit configured to output an output of the fourth shift counter; 상기 논리 연산부의 출력을 소정 레벨로 구동시키는 구동부; 및A driving unit driving the output of the logical operation unit to a predetermined level; And 상기 구동부의 출력을 래치시키는 래치부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And a latch portion for latching an output of the drive portion. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제1 쉬프트 카운터가,The first shift counter, 상기 쓰기 명령 신호를 게이트 입력으로 하는 풀업 트랜지스터 및 풀다운 트랜지스터와 상기 클럭 신호의 하강 에지에 동기된 리셋 클럭을 게이트 입력으로 하는 카운터 리셋 트랜지스터를 구비한 드라이버와,A driver having a pull-up transistor and a pull-down transistor using the write command signal as a gate input, and a counter reset transistor having a reset clock synchronized with a falling edge of the clock signal as a gate input; 상기 쓰기 명령 신호가 인에이블될 때부터 상기 리셋 클럭이 인에이블될 때까지 상기 드라이버의 출력을 래치하기 위한 래치를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And a latch for latching an output of the driver from when the write command signal is enabled to when the reset clock is enabled. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제2 내지 제3 쉬프트 카운터 각각이,Each of the second to third shift counters, 상기 클럭 신호의 상승 에지에 동기되어 전단 쉬프트 카운터의 출력을 통과시키는 제1 스위칭부;A first switching unit configured to pass an output of a front end shift counter in synchronization with a rising edge of the clock signal; 상기 제1 스위칭부의 출력을 래치하되, 상기 리셋 신호에 의해 제어 받는 제1 래치부;A first latch unit latching an output of the first switching unit and controlled by the reset signal; 상기 클럭 신호의 하강 에지에 동기되어 상기 제1 래치부의 출력을 통과시키는 제2 스위칭부; 및A second switching unit configured to pass an output of the first latch unit in synchronization with a falling edge of the clock signal; And 상기 제2 스위칭부의 출력을 래치하되, 상기 리셋 신호에 의해 제어 받는 제2 래치부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And latching an output of the second switching unit, the second switching unit being controlled by the reset signal. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 구동부가,The drive unit, 상기 논리 연산부의 출력에 제어 받는 제1 풀업 트랜지스터;A first pull-up transistor controlled by an output of the logic calculator; 상기 제1 쉬프트 카운터의 출력에 제어 받는 제2 풀업 트랜지스터;A second pull-up transistor controlled by the output of the first shift counter; 상기 논리 연산부의 출력에 제어 받는 풀다운 트랜지스터; 및A pull-down transistor controlled by an output of the logic calculator; And 상기 QFCB 신호의 디스에이블 시점을 상기 클럭 신호에 동기시키기 위한 스위칭 트랜지스터를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호발생 회로.And a switching transistor for synchronizing a disable time point of the QFCB signal to the clock signal. 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 리셋 클럭이,The reset clock, 상기 클럭 신호의 반전값과 일정시간 지연된 상기 클럭 신호를 낸딩한 신호인 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And the inverted value of the clock signal and the clock signal delayed for a predetermined time. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 8, 상기 클럭 신호가,The clock signal, 외부 클럭인 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.A data switch control signal generation circuit, characterized in that the external clock. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 8, 상기 클럭 신호가,The clock signal, 내부 클럭인 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.A data switch control signal generation circuit, characterized in that the internal clock. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 8, 상기 클럭 신호가,The clock signal, 지연동기루프(DLL) 클럭인 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.A data switch control signal generation circuit characterized in that it is a delayed synchronization loop (DLL) clock. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 8, 상기 리셋 신호가,The reset signal, 버스트 정지 명령 또는 프리차지 명령에 의해 쓰기 동작이 인터럽트되도록 하는 펄스 신호인 것을 특징으로 하는 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.And a pulse signal for interrupting a write operation by a burst stop command or a precharge command. 다수의 메모리 칩을 구비한 메모리 모듈의 공통 데이터 버스와 각 메모리 칩의 전기적 연결을 선택적으로 절체하기 위한 데이터 스위치 제어신호(QFCB) 발생 회로에 있어서,In a circuit for generating a data switch control signal (QFCB) for selectively switching electrical connections between a common data bus of a memory module having a plurality of memory chips and each memory chip, 클럭 신호, 리셋 신호 및 쓰기 명령 신호에 제어 받아 쓰기 데이터가 입력되는 구간에서 설정된 버스트 길이만큼 데이터 스위치 제어신호(QFCB)를 인에이블시키기 위한 QFCB 인에이블 신호 발생 수단;QFCB enable signal generation means for enabling the data switch control signal (QFCB) by a burst length set in a section in which write data is controlled by a clock signal, a reset signal, and a write command signal; 상기 QFCB 인에이블 신호를 입력으로 하여 풀다운 구동 신호 및 풀업 구동 신호를 발생시키기 위한 출력 구동 신호 발생 수단; 및Output drive signal generating means for generating a pull-down drive signal and a pull-up drive signal by inputting the QFCB enable signal; And 상기 풀다운 구동 신호 및 상기 풀업 구동 신호에 제어 받아 상기 QFCB를 출력하는 출력 구동 수단Output driving means for outputting the QFCB under control of the pull-down driving signal and the pull-up driving signal; 을 포함하여 이루어진 메모리 소자의 데이터 스위치 제어신호 발생 회로.Data switch control signal generation circuit of the memory device comprising a.
KR1019990024876A 1999-06-28 1999-06-28 A QFCB siganl generator in memory device KR100341577B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990024876A KR100341577B1 (en) 1999-06-28 1999-06-28 A QFCB siganl generator in memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990024876A KR100341577B1 (en) 1999-06-28 1999-06-28 A QFCB siganl generator in memory device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010004253A KR20010004253A (en) 2001-01-15
KR100341577B1 true KR100341577B1 (en) 2002-06-22

Family

ID=19596261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990024876A KR100341577B1 (en) 1999-06-28 1999-06-28 A QFCB siganl generator in memory device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100341577B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100507855B1 (en) * 1999-07-14 2005-08-17 주식회사 하이닉스반도체 A QFCB siganl generator for read operation in DDR SDRAM
KR100399895B1 (en) * 2001-06-30 2003-09-29 주식회사 하이닉스반도체 DDR memory for high data write speed

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010004253A (en) 2001-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5999458A (en) Latch circuit, data output circuit and semiconductor device having the circuits
KR100406543B1 (en) Pipe-latch control circuit in synchronous memory
US6717884B2 (en) Synchronous memory device with reduced address pins
US7196966B2 (en) On die termination mode transfer circuit in semiconductor memory device and its method
US6060916A (en) Operation controller for a semiconductor memory device
JP4987458B2 (en) Data output circuit and method for semiconductor memory device
US6538956B2 (en) Semiconductor memory device for providing address access time and data access time at a high speed
KR20070075572A (en) Command decoder circuit of semiconductor memory device
KR100311974B1 (en) Internal clock generating circuit for use in synchronous type semiconductor memory device and internal clock generating method
KR20140146332A (en) Clock control device
KR20090067795A (en) Device preventing ringing noise
KR100224718B1 (en) Internal clock generator for synchronous memory device
US5983314A (en) Output buffer having inherently precise data masking
KR100341577B1 (en) A QFCB siganl generator in memory device
KR100748461B1 (en) Circuit and method for inputting data in semiconductor memory apparatus
US6195296B1 (en) Semiconductor memory device and system
KR20010009843A (en) A QFCB siganl generator for read operation in DDR SDRAM
KR100668829B1 (en) Data output controller for memory device
US6301189B1 (en) Apparatus for generating write control signals applicable to double data rate SDRAM
US20040109366A1 (en) Variable-delay precharge circuits and methods
KR20030039179A (en) Synchronous semiconductor memory apparatus capable of accomplishing mode change between single-ended strobe mode and differential strobe mode
KR100605598B1 (en) A signal generator for enabling qfcb in memory device
KR100653972B1 (en) Device and method to control output data in semiconductor memory device
US6327191B1 (en) Address signal generator in a semiconductor memory
KR100340071B1 (en) DDR synchronous memory device accomplishing high speed write operation

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100524

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee