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KR100339865B1 - 감시제어장치 - Google Patents

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Publication number
KR100339865B1
KR100339865B1 KR1019970705951A KR19970705951A KR100339865B1 KR 100339865 B1 KR100339865 B1 KR 100339865B1 KR 1019970705951 A KR1019970705951 A KR 1019970705951A KR 19970705951 A KR19970705951 A KR 19970705951A KR 100339865 B1 KR100339865 B1 KR 100339865B1
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KR
South Korea
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boundary scan
data
board
circuit
scan test
Prior art date
Application number
KR1019970705951A
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English (en)
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KR19980702545A (ko
Inventor
가즈미 사카마키
미츠구 나고야
Original Assignee
듀아키시즈 가부시키가이샤
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Publication date
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Priority claimed from JP7353738A external-priority patent/JP2826812B2/ja
Priority claimed from JP8147912A external-priority patent/JP3005622B2/ja
Application filed by 듀아키시즈 가부시키가이샤 filed Critical 듀아키시즈 가부시키가이샤
Publication of KR19980702545A publication Critical patent/KR19980702545A/ko
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Abstract

본 발명에 의한 감시제어장치는, 예컨대 도 1에 나타내는 바와 같이 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의해서, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)에 탑재되어 있는 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로 자체의 테스트, 이들 각 집적회로의 접속관계 등을 테스트하여, 이들 CPU 기판(4)이나 제어기판(5)등에 이상이 있으면, 경보장치(9)를 동작시켜, 경보를 발하게 하고, 또한 이상 내용이 감시제어대상으로 되고 있는 로봇(3)의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇(2)의 주전원장치(6)을 차단시켜, 로봇(3)의 폭주를 미연에 방지한다.

Description

감시제어장치{MONITORING CONTROL DEVICE}
로봇 등을 감시제어하는 감시제어장치에서는, 어떠한 원인에 의해서 감시제어장치내에 설치되는 CPU 기판이나 각종 제어기판 등이 고장나면, 로봇이 폭주하여 버리거나, 동작을 정지하여 버리기때문에, CPU 기판이나 각종 제어기판 등을 제조하였을 때, 인서키트 테스트법 등의 방법에 의해, 기판의 양부(良否)를 판정하고, 또한 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판을 구성하여, 로봇을 감시제어할 때에도, CPU 기판 등에 의해서 각종 제어기판 등의 양부 등을 주기적으로 체크하여, 하드웨어의 고장에 기인하는 트러블이 발생하지않도록 하고 있다.
그런데, 감시제어장치를 구성하는 각 기판의 양부를 검사하는 테스트방법으로서는, 현재, 기판의 패턴면에, 꽃꽂이등에 사용하는 "침봉"같은 침봉을 눌러놓아 각 기판을 구성하는 프린트패턴의 상태 등을 테스트하는 인서키트 테스트법이 주류이다.
그러나, 기판에 탑재되는 IC의 고집적화 등에 의해 핀수가 증가하고 있음에도 관계없이, 고밀도실장등의 수요로부터, 패키지의 소형화가 진행하고, 도22에 나타내는 바와 같이 인서키트 테스트법으로 사용하고 있는 테스트핀(101)의 직경(예컨대, 0.8 mm)보다, 기판(102)에 탑재되어 있는 IC(103)의 핀 간격(예컨대, 0.66 mm)쪽이 좁게 되어, 인서키트 테스트법에 의한 테스트를 사실상, 할 수 없는 기판(102)이 증가하고 있다.
또한, CPU 기판이나 각종 제어기판을 구성하여, 로봇을 감시제어할 때에도, CPU 기판 등에 의해서 각종 제어기판 등의 양부를 체크하면서, 로봇의 감시제어를 하고 있기 때문에, CPU 기판의 성능의 일부가 희생이 되어 버림과 동시에, CPU 기판 등에 어떤 이상이 발생하였을 때, 로봇이 폭주하여 버리는 문제가 있었다.
그래서, 이러한 문제를 해결하는 방법으로서, CPU 기판과 독립한 감시전용기판을 설치하고, 이 감시전용기판에 의하여 CPU 기판이나 각종 제어기판 등의 동작상태를 감시하는 방법도 제안되고 있지만, 이러한 감시전용기판을 사용한 테스트방법에서는, 감시전용기판의 동작타이밍을 정확히 설정하지않으면 , 감시전용기판의 감시동작과, CPU 기판이나 각종 제어기판의 감시제어동작이 간섭하여, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판에 의한 로봇의 감시제어동작이 정지해 버리는 일이 있었다.
또한, 로봇 등의 감시제어를 하는 감시제어시스템에서는, 로봇의 각 부에 설정된 각종 센서로부터 출력할 수 있는 신호를 받아들여, 로봇 각 부의 동작상태를 파악하면서, 지정된 동작을 행하게 하는 데 필요한 제어신호를 생성하고, 이것을상기 로봇의 각 엑츄에이터에 공급하고, 이들 각 엑츄에이터를 제어하여, 지정된 동작을 행하게 한다.
이 때, 감시제어시스템을 구성하는 각 하드웨어나 소프트웨어에 어떤 이상이 발생하면, 로봇이 폭주해 버리고, 주위에 있는 사람 등이 위험한 상태에 처하게 되므로, CPU 회로의 셀프 체크 기능으로 시스템 각 부의 동작상태를 테스트시키거나, 멀티 CPU 회로구성으로 하여, CPU 회로를 포함하는 시스템 각 부의 동작을 서로 감시시키거나 함에 의해, 각 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그(bug)등에 기인하는 로봇의 폭주를 미연에 방지하도록 하고 있다.
그러나, 상술한 감시제어시스템 등의 데이터처리 시스템에 있어서는, CPU 회로의 셀프 체크 기능에 의해, CPU 회로의 주변에 설정된 장치의 고장유무밖에 검지할 수 없기때문에, 멀티 CPU 회로구성, CPU 회로를 포함하는 시스템 각 부의 동작을 서로 감시시키는 것이 많지만, 이러한 시스템구성으로 하면 , 복수의 CPU 회로중, 한편의 CPU 회로가 로봇의 감시제어를 행하고, 다른 쪽의 CPU 회로가 시스템내부의 동작상태를 감시하는 동작밖에 하지 않기때문에, CPU 회로의 수를 늘리더라도, 로봇의 감시제어성능을 향상시킬 수 없고, 시스템적인 낭비가 많아져 버린다는 문제가 있었다.
그래서, 이러한 낭비를 없애기위해서, 1개의 CPU 회로에 의해서 지정된 데이터 처리를 행하면서, 주기적으로 시스템 각 부의 동작상태를 감시하도록 한 감시제어시스템도 제안되고 있으나, 이러한 시스템구성도, CPU 회로에 의해서 시스템 각 부에 설치되는 메모리 회로 등에 대하여, 미리 설정되어 있는 데이터를 리드·라이트하여, 바른 데이터를 해독할 수 있는지 어떤지라는 테스트법으로서는, 시스템 각 부의 동작상태를 체크할 수 없다.
이 때문에, 시스템 각 부에 설치되는 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 시스템 각 부의 동작상태를 테스트할 수 없고, 시스템 각 부에 설치되는 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로 동작상태를 검지할 수 있는 감시제어시스템의 개발이 매우 요망되고 있었다.
또한, 이러한 감시제어시스템 뿐만 아니라, 예컨대 보통 데이터를 처리하는 데이터 처리 시스템에서도, 마찬가지의 문제가 있어, 시스템 각 부의 동작을 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 그 동작상태를 검지할 수 있는 정보처리 시스템의 개발이 매우 요망되고 있었다.
또한, 분산배치된 각 센서 모듈이나 각 단말장치와, 호스트 컴퓨터장치를 통신회선으로 접속한 통신시스템의 하나로서, 각 센서 모듈, 각 단말장치, 호스트 컴퓨터장치내 등에 통신장치를 탑재하고, 이들 각 통신장치를 사용하여, 각 센서 모듈 등으로 얻을 수 있는 데이터의 수집, 각 센서모듈에 대한 검출조건의 설정 등을 하는 것이 알려져 있다.
그러나, 이러한 종래의 통신시스템에 있어서는, 각 센서 모듈의 센서 본체에서 얻을 수 있는 데이터를 통신회선상에 송출할 때, 센서 모듈에 탑재되어 있는 통신장치에 의해서 상기 데이터를 통신규약에 대응하도록 변환하여 통신신호를 생성하고, 이것을 통신회선상에 송출하고, 또한 호스트 컴퓨터장치로부터 통신회선상에 송출된 통신신호를 받아들일 때, 통신장치에 의해서 통신회선상에서 상기 통신신호를 받아들이고, 이것을 통신규약에 근거하여, CPU로 처리가능한 데이터로 변환하고 있기때문에, 각 센서 모듈마다 통신장치를 탑재해야만하고, 그만큼 각 센서 모듈의 제조비용이 높아져 버린다는 문제가 있었다.
또한, 이러한 통신장치를 사용하여, 각 센서 모듈과, 호스트 컴퓨터장치의 사이로, 시리얼통신을 할 때, 데이터의 전송속도가 수십 K b p s 정도로 제한되어 버리고, 각 센서 모듈 등으로 얻을 수 있는 데이터를 수집하거나, 각 센서 모듈에 대하여 검출조건을 설정하거나 할 때, 너무 시간이 걸려 버린다는 문제가 있었다.
본 발명은 상기한 사정에 감안하여 행해진 것으로서, 청구항1에서는, CPU 기판이나 각종 제어기판 등을 짜넣은 상태에서도, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판을 동작시킨 채로, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판 등의 동작상태를 체크하여, 그 양부를 판정할 수 있는 감시제어장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항2에서는, 감시제어장치의 CPU 기판 등이 고장나더라도, 이 감시제어장치에 의해서 제어되고 있는 로봇등이 폭주하지 않도록 할 수 있는 감시제어장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항3에서는, CPU 기판이나 각종 제어기판 등의 어딘가가 고장나더라도, 나머지 기판이 정상인지 아닌지를 테스트할 수 있어, 이것에 의해서 복수의 기판이 동시에 고장나더라도, 이것을 검지하여 이상 부분을 판정할 수 있는 감시제어장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다. 또한, 청구항4에서는, CPU 기판이나 제어기판에 대하여, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판이 세트되어 있더라도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판의 프라이어리티(우선도)를 전환하여, 상기 바운더리스캔 콘트롤러 기판에 의한 바운더리 스캔 테스트가 필요 없을 때, 이것을 오프상태로 할 수 있는 감시제어장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항5에서는, 시스템 각 부의 동작을 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 그 동작상태를 검지할 수 있고, 이것에 의해서 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그 등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지할 수 있는 데이터 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항6에서는, 오퍼레이터측에 바운더리 스캔 테스트 드라이버의 존재를 의식시키는 일없이, 시스템 각 부의 동작을 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 그 동작상태를 검지할 수 있어, 이것에 의해서 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그 등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지할 수 있는 데이터 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항7에서는, CPU의 동작확인, I/0포트의 상태확인, 각종 조절기의 상태확인, 잘못된 데이터의 검출, 정정 등을 할 수 있고, 이것에 의해서 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그 등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지할 수 있는 데이터 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
또한, 청구항8,9에서는, 통신장치를 사용하는 일 없이 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등과, 호스트 컴퓨터장치 등을 접속할 수 있고, 이것에 의해서 시스템전체의 제조비용을 절감시킬 수 있음 과 동시에, 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등과, 호스트 컴퓨터장치 등의 사이의 데이터 전송속도를 최대로, 20 M b p s 정도까지 높여, 각 센서 모듈이나 각 단말장치등으로 얻을 수 있는 데이터를 수집하거나,각 센서 모듈이나 각 단말장치에 대하여 검출조건이나 데이터를 설정하거나 할 때에 요하는 시간을 비약적으로 짧게 할 수 있는 통신시스템을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
본 발명은, 로봇 등의 감시제어 및 센서에 의해서 수집된 데이터의 취입 등을 행하는 감시제어장치에 관한 것으로, 특히 바운더리 스캔 콘트롤러 기판을 사용하여, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 기판의 동작상태를 감시하면서, 감시제어대상으로 되어있는 로봇 등의 감시제어 및 데이터의 취입 등을 하는 감시제어장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명에 의한 감시제어장치의 한 형태예를 나타내는 블럭도이다.
도 2는 도 1에 나타내는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판의 상세한 회로구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 3은 도 1에 나타내는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의한 바운더리 스캔 테스트의 동작예를 나타내는 모식도이다.
도 4는 본 발명에 의한 감시제어장치의 다른 형태예를 나타내는 블럭도이다.
도 5는 도 4에 나타내는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판의 상세한 회로구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 6은 본 발명에 의한 감시제어장치의 다른 형태예를 나타내는 블럭도이다.
도 7은 본 발명에 의한 데이터 처리 시스템의 한 형태예를 사용한 로봇의 감시제어시스템의 일례를 나타내는 블럭도이다.
도 8은 도 7에 나타내는 대용량기억기구에 격납되어 있는 0S 등의 구성예를 나타내는 모식도이다.
도 9는 도 7에 나타내는 감시제어시스템으로 행해지는 바운더리 스캔 테스트의 동작예를 나타내는 모식도이다.
도 10은 본 발명에 의한 데이터 처리 시스템의 다른 형태예를 사용한 로봇의 감시제어시스템으로 사용되는 0S 등의 구성예를 나타내는 모식도이다.
도 11은 본 발명에 의한 통신시스템의 한 형태예를 나타내는 블럭도이다.
도 12는 도 11에 나타내는 제1∼제N 센서 모듈의 상세한 회로구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 13은 도 11에 나타내는 호스트 컴퓨터장치의 상세한 회로구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 14는 도 13에 나타내는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판의 상세한 회로구성예를 나타내는 블럭도이다.
도 15는 도 14에 나타내는 EEPR0M 회로내에 세트되는 데이터 세트 패턴, 해석 데이터의 작성순서예를 나타내는 모식도이다.
도 16은 본 발명에 의한 감시제어장치로 사용되는 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로의 일례를 나타내는 블럭도이다.
도 17은 도 16에 나타내는 집적회로에 설치되는 TDI단자, TD0단자, TCK단자, TMS단자, TRST 단자의 제어예를 나타내는 표이다.
도 18은 도 16에 나타내는 집적회로를 여러개, 사용한 기판에 대한 바운더리 스캔 테스트예를 나타내는 블럭도이다.
도 19는 도 18에 나타내는 기판상에 탑재되어 있는 각 집적회로의 접속내용을 바운더리 스캔 테스트할 때의 동작예를 나타내는 모식도이다.
도 20은 도 18에 나타내는 기판상에 탑재되어 있는 각 집적회로를 개개에 바운더리 스캔 테스트할 때의 동작예를 나타내는 모식도이다.
도 21은 도 18에 나타내는 기판상에 탑재되어 있는 각 집적회로를 개개에 바운더리 스캔 테스트할 때의 동작예를 나타내는 모식도이다.
도 22는 종래부터 행해지고 있는 인서키트 테스트법에 의한 기판 및 기판상에 탑재되어 있는 집적회로의 테스트예를 나타내는 사시도이다.
상기한 목적을 달성하기위해서 본 발명은, 청구항1에서는, CPU기판, 각종 기판을 사용하여, 감시제어대상물의 감시제어를 하는 감시제어장치에 있어서, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 부품이 탑재된 기판과, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판을 전기적으로 접속하여, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의해, 상기 기판의 바운더리 스캔 테스트를 하여 상기 기판 또는 이 기판에 탑재되어 있는 각 부품을 테스트함에 따라, CPU 기판이나 각종 제어기판 등을 조입(租入)한 상태에서도, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판을 동작시킨 채로, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판 등의 동작상태를 체크하여, 그 양부를 판정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항2에서는, 청구항1에 기재한 감시제어장치에 있어서, 상기 바운더리 스캔 콘틀롤러기판의 전원장치, 상기 기판의 전원장치를 독립시켜, 상기 기판의 전원장치에 이상이 발생하더라도, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의해서 상기 기판의 바운더리 스캔 테스트를 하여, 상기 기판 또는 이 기판에 탑재되어 있는 각 부품을 테스트함에 따라, 감시제어장치의 CPU 기판 등이 고장나더라도, 이 감시제어장치에 의해서 제어되고 있는 로봇 등이 폭주하지않도록 하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항3에서는, 청구항1 또는 2에 기재한 감시제어장치에 있어서, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판을, 상기 각 기판마다 설정된 전용선에 의해서 각 기판에 접속하여, 이들 각 기판을 개개에, 바운더리 스캔 테스트함에 따라, CPU 기판이나 각종 제어기판 등의 어느것이 고장나더라도, 나머지의 기판이 정상인지 아닌지를 테스트할 수 있도록 하고, 이것에 의해서 복수의 기판이 동시에 고장나더라도, 이것을 검지하여 이상 부분을 판정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항4에서는, 청구항1,2,3중 어느 한항에 기재한 감시제어장치에 있어서, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 설정된 이네이블/디스이네이블 스위치의 조작내용에 근거하여, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의한 바운더리 스캔 테스트의 실행, 실행정지를 제어함에 따라, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판이 세트되어 있더라도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판의 프리어리티(우선도)를 전환하여, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의한 바운더리 스캔 테스트가 필요 없을 때, 이것을 오프상태로 하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항5에서는, CPU 회로에 의해서 시스템 각 부의 동작을 제어하면서, 지정된 처리를 하는 데이터 처리 시스템에 있어서, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 집적회로를 탑재하여, 시스템 각 부를 구성하는 기판과, CPU 회로기판을 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 시스템버스로 접속하고, 바운더리 스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크에 의해서 상기 시스템 버스를 통하여, 각 기판 또는 이들 각 기판에 탑재되어 있는 각 집적회로의 바운더리 스캔 테스트를 함에 따라, 시스템 각 부의 동작을 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 그 동작상태를 검지하고, 이것에 의하여 하드 웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항6에서는, 청구항5에 기재한 데이터 처리 시스템에 있어서, 상기 바운더리 스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크를, 상기 CPU 회로의 동작을 규정하는 0S 또는 각 어플리케이션 소프트웨어에 조입함에 따라, 오퍼레이터측에 바운더리 스캔 테스트 드라이버의 존재를 의식시키는 일없이, 시스템 각 부의 동작을 집적회로단위나 이들 각 집적회로가 탑재되어 있는 기판단위로, 그 동작상태를 검지하고, 이것에 의해서 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그 등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항7에서는, 청구항5 또는 6에 기재한 데이터 처리 시스템에 있어서, 상기 바운더리스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크에, CPU의 동작을 확인하는 기능, I/0 포트의 상태를 확인하는 기능, 각종 조절기의 상태를 확인하는 기능, 잘못된 데이터를 검출, 정정하는 기능중, 적어도 어느 한가지 이상의 기능을 갖게 함에 따라, CPU의 동작확인, I/0 포트의 상태확인, 각종 조절기의 상태확인, 잘못된 데이터의 검출, 정정 등을 행하고, 이것에 의해서 하드웨어의 고장이나 소프트웨어의 버그 등에 기인하는 트러블의 발생을 미연에 방지하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항8에서는, 분산배치된 복수의 전자기기에 대하여, 시리얼 데이터를 전송하는 기능, 상기 각 전자기기로부터 시리얼 데이터를 전송시키는 기능을 가지는 통신시스템에 있어서, 상기 각 전자기기내에 바운더리 스캔 테스트 기능을 가지는 바운더리 스캔 소자를 배치하고, 이 바운더리 스캔 소자가 가지는 시리얼 데이터의 입출력기능을 사용하여, 시리얼 데이터의 취입, 출력을 함에 따라, 통신장치를 사용하는 일없이 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등과, 호스트 컴퓨터장치 등을 접속가능하게 하고, 이것에 의해서 시스템 전체의 제조비용을 절감시킴과 동시에, 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등과, 호스트 컴퓨터장치 등의 사이의 데이터 전송속도를 최대로, 20Mbps 정도까지 높여, 각 센서 모듈이나 각 단말장치등으로 얻을 수 있는 데이터를 수집하거나, 각 센서 모듈이나 각 단말장치에 대하여 검출조건이나 데이터를 설정하거나 할 때에 요하는 시간을 비약적으로 짧게 하는 것을 특징으로 한다.
또한, 청구항9에서는, 청구항8에 기재한 통신시스템에 있어서, 상기 각 전자기기 사이를 광파이버 케이블에 의해서 접속하여, 각 전자기기 사이로 전송되는 시리얼 데이터로서, 광 신호를 사용함에 따라, 청구항8과 같이, 통신장치를 사용하는 일없이 각 센서 모듈이나 각 단말장치등과, 호스트 컴퓨터장치 등을 접속가능하게 하여, 이것에 의해서 시스템전체의 제조비용을 절감시킴과 동시에, 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등과, 호스트 컴퓨터장치 등의 사이의 데이터 전송속도를 최대로, 20Mb.ps 정도까지 높여, 각 센서 모듈이나 각 단말장치 등으로 얻을 수 있는 데이터를 수집하거나, 각 센서 모듈이나 각 단말장치에 대하여 검출조건이나 데이터를 설정하거나 할 때에 요하는 시간을 비약적으로 짧게 하는 것을 특징으로 한다.
우선, 본 발명에 의한 감시제어장치의 상세한 설명에 앞서서, 본 발명의 기본원리가 되는 바운더리 스캔 테스트법에 관하여 설명한다.
본 발명에 사용하는 바운더리 스캔 테스트법은, 이 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로(IC 칩), 예컨대 도 16에 나타내는 바와 같이 집적회로(110) 본래의 기능을 실현하는 내부논리회로(111)의 입출력단자와, 집적회로(110)의 입력단자(112), 출력단자(113)와의 사이에, 이들 입력단자(112), 출력단자(113)와 1대1로 대응하는 셀(114)을 설치함과 동시에, 바이패스 레지스터 (115), IDC0DE 레지스터(116), 인스트럭션 레지스터(117) 등을 설치하고, 또한 이들 각 셀(114), 바이패스 레지스터 (115), 인스트럭션 레지스터(117)에 의해서 구성되는 바운더리 스캔 레지스터(118)를 제어하는 TAP 콘트롤러(119)를 설치한 집적회로(110)의 동작상태 및 이 집적회로(110)와 외부기기와의 접속관계를 테스트하는 방법이고, 다음에 서술하는 순서로, 집적회로(110)의 테스트를 행한다.
우선, 집적회로(110)자체의 양부를 체크할 때는, TDI 단자(120), TD0단자121, TCK 단자122, TMS 단자123, TRST 단자124를 도17에 나타내는 바와 같이 제어하고, 집적회로(110)의 TDI 단자 120에 시리얼 데이터(테스트 데이터)를 입력하면서, 이것을 시프트시켜, 각 입력단자(112)에 대응하는 각 셀(114)에 테스트 데이터를 세트하여, 이 상태로, 집적회로(110)를 동작시킨 후, 각 출력단자(113)에 대응하는 각 셀(114)에 세트되어 있는 데이터를 시프트시켜, 본래, 각 출력단자(113)로부터 출력할 수 있는 데이터를 집적회로(110)의 TD0단자 121로부터 출력시키고, 이것에 의해서 얻을 수 있는 시리얼 데이터(테스트 결과 데이터)와,이 집적회로(110)에 입력시킨 테스트 데이터와의 대응관계에 근거하여, 집적회로(110)의 내부논리(111)가 양호한지 어떤지를 테스트한다.
또한, 도 18에 나타내는 바와 같이 기판(126)등에 형성된 프린트패턴을 이용하여, 이러한 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로(110)를 여러개, 접속하고 있을 때에는, 첫번째의 집적회로(110)의 TD0단자(121)와, 두번째의 집적회로(110)의 TDI 단자(120)와 접속함과 동시에, 호스트 컴퓨터장치(127)등에 설치된 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 출력단자(129)와, 첫번째의 집적회로(110)의 TDI 단자120를 접속하고, 또한 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 입력단자(130)와, 두번째의 집적회로(110)의 TD0단자(121)를 접속한다.
그리고, 테스트 데이터 작성 투울(131)등을 사용하여 테스트 데이터(시리얼 데이터)를 작성하고, 이것을 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 출력단자(129)로부터 출력시켜, 첫번째의 집적회로(110)의 TDI 단자(120)에 입력시키면서 이것을 시프트시켜, 이 집적회로(110)의 각 출력단자(113)에 대응하는 각 셀(114)에 세트시킨다. 이 상태에서, 도 19에 나타내는 바와 같이 첫번째의 집적회로(110)에 설치되어 있는 각 출력단자(113)로부터, 이들 각 셀(114)에 격납되고 있는 데이터를 출력시킴과 동시에, 시스템 버스 등을 구성하는 각 프린트패턴(133)을 통해, 두번째의 집적회로(110)의 각 입력단자(112)에 입력시켜, 이들 각 입력단자(112)에 대응하는 각 셀(114)에 받아들이게 한다.
이 다음, 이들 각 집적회로(110)의 각 셀(114)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시켜, 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 입력단자(130)에서, 이것을 취입하면서, 테스트 해석 투울(132)등을 사용하고, 이것을 해석함에 따라, 이들 각 집적회로(110)를 접속하는 프린트패턴(133)등의 테스트범위(135)가 정상인지 아닌지를 테스트한다.
또한, 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)에 의해서, 두번째의 집적회로(110)를 도 20에 나타내는 바와 같이 바이패스 상태로 한 후, 테스트 데이터 작성 투울(131)등을 사용하여 작성한 테스트 데이터를 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 출력단자(129)로부터 출력시키고, 첫번째의 집적회로(110)의 TDI 단자(120)에 입력시키면서 이것을 시프트시켜, 도 21에 나타내는 바와 같이 이 집적회로(110)의 각 입력단자(112)에 대응하는 각 셀(114)에 세트시킨다. 이어서, 이 집적회로(110)를 동작시키고, 이것에 의해서 얻어진 데이터를 각 출력단자(113)에 대응하는 각 셀(114)에 받아들이게 한 후,이들 각 셀(114)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시키고, 첫번째의 집적회로(110)의 TD0단자(121)로부터 출력시킴과 동시에, 두번째의 집적회로(110)를 바이패스시켜, 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 입력단자(130)로, 이것을 취입하면서, 테스트해석 투울(132)등을 사용하고, 이것을 해석함에 따라, 첫번째의 집적회로(110)가 정확하게 동작하는지 어떤지를 테스트한다.
마찬가지로, 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)에 의해서, 첫번째의 집적회로(110)를, 도 20에 나타내는 바와 같이 바이패스 상태로 한 후, 테스트 데이터 작성 투울(131)등을 사용하여 작성한 테스트 데이터를 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 출력단자(129)로부터 출력시켜, 첫번째의 집적회로(110)를 바이패스시킨 상태로, 두번째의 집적회로(110)의 TDI 단자(120)에 입력시키면서 이것을 시프트시켜, 도 21에 나타내는 바와 같이 이 집적회로(110)의 각 입력단자(112)에 대응하는 각 셀(114)에 세트시킨다. 이어서, 이 집적회로(110)를 동작시키고, 이것에 의해서 얻을 수 있는 데이터를 각 출력단자(113)에 대응하는 각 셀(114)에 받아들이게 한 후,이들 각 셀(114)에 격납되어 있는 데이터를 시프트시키고, 바운더리 스캔 콘트롤러 보드(128)의 입력단자(130)로, 이것을 취입하면서, 테스트해석 투울(132)등을 사용하여, 이것을 해석함에 따라, 두번째의 집적회로(110)가 정확하게 동작하는지 어떤지를 테스트한다.
이와 같이, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로(110)를 사용하고 있는 기판(126)이면, 바운더리 스캔 테스트법을 사용하여, 각 집적회로 (110) 자체의 양부, 각 집적회로(110)끼리의 접속관계 등을 테스트할 수 있다.
본 발명은, 감시제어장치의 각 기판으로서, 이러한 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로(110)를 사용하고 있는 기판(126)을 짜넣음에 따라, 바운더리 스캔 테스트법을 사용하여, 감시제어장치내에 장착되어 있는 CPU 기판이나 각종 제어기판 등을 테스트하고, 이들 CPU 기판이나 각종 제어기판 등에 어떤 이상이 있으면, 이상 내용을 상위(上位)컴퓨터 장치에 알리거나, 제어감시장치에 의해서 제어되는 로봇의 주전원을 끊어, 이것이 폭주하거나 하지않도록 하고 있다.
(감시제어장치의 형태예의 구성)
이하, 본 발명을 도면에 나타낸 형태예에 따라서 상세히 설명한다.
도 1은 상술한 기본원리를 사용한 본 발명에 의한 감시제어장치의 한 형태예를 개시하는 블럭도이다.
이 도면에 나타내는 감시제어장치는, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 집적회로를 탑재하여, PCI 버스 등에 의해서 구성되는 시스템 버스(2)에 접속되고, 감시제어대상이 되는 로봇(3)등을 감시제어하는 CPU 기판(4)과, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 집적회로를 탑재하고 , 상기 시스템 버스(2)를 통해 상기 CPU 기판(4)에 접속되고, 상기 CPU 기판(4)의 제어내용에 따라서, 상기 로봇(3)등을 감시하거나, 제어하거나 하는 제어기판(5)과, 상기 시스템 버스(2)로부터 공급되는 전원전압을 사용하여, 전기 CPU 기판(4), 제어기판(5)등으로 바운더리 스캔 테스트하고, 이들 CPU 기판(4)이나 제어기판(5)등에 어떤 이상이 있을 때, 상위 컴퓨터 장치등에 대하여, 이상 내용을 알리거나, 상기 로봇(2)의 주전원장치(6)를 끊어, 로봇(3)이 폭주하지않도록 하거나 하는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)과, 이 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)과 상기 CPU 기판(4), 제어기판(5)을 각각, 접속하는 전용선(8)을 구비하고 있다.
그리고, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의해서, 전용선(8)을 통하여, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)에 탑재되어 있는 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로 자체의 테스트, 이들 각 집적회로의 접속관계 등을 테스트하고, 이들 CPU 기판(4)이나 제어기판(5)등에 이상이 있으면, 상위 컴퓨터장치에 대하여, 이상 내용을 전함과 동시에, 경보장치(9)를 동작시켜, 경보를 내게하고, 또한 이상 내용이 감시제어대상으로 되어있는 로봇(3)의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇(2)의 주전원장치(6)을 차단시켜,로봇(3)의 폭주를 미연에 방지한다.
이 경우, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)은, 도 2에 나타내는 바와 같이 상기 시스템 버스(2)의 전원라인으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하는 마이크로 프로세서 등에 의해서 구성되고, 바운더리 스캔 테스트로 필요한 각종 데이터처리를 하는 중앙처리회로(10)와, 이 중앙처리회로(10)로 사용되는 데이터 등의 격납장소가 되어, 상기 중앙처리회로(10)에 의한 읽기, 써 넣기가 행해지는 EEPR0M 회로(11)와, 상기 시스템 버스(2)의 전원라인으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하고, 상기 중앙처리회로(10)로부터 출력할 수 있는 각종 지시에 따라서, 각 전용선(8)을 통하여, 상기 CPU 기판(4),제어기판(5)을 각각, 바운더리 스캔 테스트하는 복수의 바운더리 스캔 통신회로(12)를 구비하고 있다.
또한,이 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)은, 디지털 I/0나 리레이 또는 스위치 등에 의해서 구성되고, 상기 시스템 버스(2)의 전원라인으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하고, 상기 중앙처리회로(10)과 외부에 설정된 경보장치(9), 상기 주전원장치(6)의 투입차단회로등을 전기적으로 접속하는 입출력 인터 페이스회로(13)와, 상기 시스템 버스(2)의 전원라인으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하고, 상기 중앙처리회로(10)와 상위 컴퓨터장치 등의 사이의 통신을 서포트하는 디지털통신회로(14)와, 상기 시스템 버스(2)에서의 전원전압공급이 정지하였을 때, 상기 중앙처리회로(10)∼디지털통신회로(14)등에 전원전압을 공급하는 백업용의 밧테리회로(15)와, 이 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 동작시키고 싶지 않을 때, 오프상태로 세트되는 이네이블/디스이네이블 전환스위치(16)을 구비하고있다.
그리고, 상위 컴퓨터장치에서의 지시에 근거하여, 중앙처리회로(10)에 의해서 각 바운더리 스캔 통신회로(12)를 동작시켜, CPU 기판(4), 제어기판(5) 등을 바운더리 스캔 테스트시키고, 이것에 의해서 얻을 수 있었던 데이터를 해석하여, 어떤 이상이 검지되었을 때, 상위 컴퓨터장치에 이상 내용을 알림과 동시에, 경보장치(9)로부터 경보를 내게하고, 또한 이상 내용이 로봇(3)의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇(3)에 전력을 공급하고 있는 주전원장치(6)을 오프상태로 시켜, 로봇(3)의 폭주를 미연에 방지한다.
(감시제어장치의 형태예의 동작)
다음에, 도 1, 도 2에 나타내는 블럭도를 참조하면서, 이 형태예의 동작을 설명한다.
우선, 감시제어장치(1)을 동작시키기 전에, 도 3에 나타내는 바와 같이 상위 컴퓨터장치에 의해서, 패턴 제너레이터(22)가 기동되어, CPU 기판(4), 제어기판(5)에서 사용되고 있는 각 집적회로 등의 콤포넌트 데이터 시트(21), 감시제어장치(1)을 설정할 때에 사용된 네트 리스트(20)등에 근거하여, 상기 각 집적회로의 동작상태, 감시제어장치(1)을 구성하는 케이블 등의 접속내용, 프린트패턴의 내용등을 체크하는데 필요한 테스트 데이터가 작성되고, 이것이 테스트 데이터 화일(23)에 화일됨과 동시에, 테스트결과를 판정하는데 필요한 해석 데이터가 작성되고, 이것이 화일된다.
이 다음, 이네이블/디스이네이블 전환스위치(16)가 이네이블 측에 세트되어있으면, 디지털통신회로(14)를 통해, 중앙처리회로(10)과 상위 컴퓨터장치가 통신을 행하고, 상위 컴퓨터장치에 화일되어 있는 새로운 테스트 데이터나 해석 데이터가 공급됨과 동시에, 중앙처리회로(10)에 의해서, 이것이 받아들여지고, EEPR0M 회로(11)내에 격납되어 있는 테스트 데이터나 해석 데이터가 갱신된다.
그리고, 감시제어장치(1)에 의해서 로봇(3)의 감시제어가 되고 있지 않을 때에는, 중앙처리회로(10)에 의해서 상기 EEPR0M 회로(11)에 격납되어 있는 테스트 데이터가 해독되고, 이것이 각 바운더리 스캔 통신회로(12)에 세트됨과 동시에, 각 전용선(8)을 통해, CPU 기판(4), 제어기판(5)에 상기 테스트 데이터가 공급되고, 바운더리 스캔 테스트법으로, 이들 CPU 기판(4), 제어기판(5)에 탑재되어 있는 각 집적회로 자체의 동작상태, 각 집적회로의 접속상태등이 테스트됨과 동시에, 이 테스트로 얻을 수 있었던 데이터(테스트 결과 데이터)가 받아들여진 후, 중앙처리회로(10)에 의해 EEPR0M 회로(11)내에 격납되어 있는 해석 데이터가 사용되고, 이들 각 테스트결과가 해석된다.
또한, 감시제어장치(1)에 의해서 로봇(30)의 감시제어가 행해지고 있을 때에는, 중앙처리회로(10)에 의해서 각 바운더리 스캔 통신회로(12)가 제어되어, 바운더리 스캔 테스트법으로, CPU 기판(4), 제어기판(5)상에 탑재되어 있는 각 집적회로의 입출력 데이터가 받아들여짐과 동시에, EEPR0M 회로(11)내에 격납되어 있는 해석 데이터가 사용되고, 이들 각 테스트결과가 해석된다.
그리고, 이들 각 테스트결과중에 어떤 이상이 발견되면, 중앙처리회로(10)에 의해서 디지털통신회로(12)가 제어되고, 상위 컴퓨터장치에 이상 내용이 알려짐과동시에, 입출력 인터 페이스회로(13)가 제어되고, 경보장치(9)로부터 경보가 나가게 되어, 유저 등에 감시제어장치(1)에 이상이 발생한 것을 알리고, 또한 이상 내용이 로봇(3)의 제어에 중대한 영향을 부여하는 것 같은 이상이면, 상기 로봇(3)에 전원을 공급하는 주전원장치(6)의 투입/차단회로가 제어되고, 이 주전원장치(6)가 끊어지고, 로봇(3)이 정지된다.
또한, 이네이블/디스이네이블 전환스위치(16)가 디스이네이블 측에 세트되어 있으면, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)이 시스템 버스(2)에 접속되어 있더라도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 사용한 바운더리 스캔 테스트가 정지상태로 되어, CPU 기판(4)이 가지는 보통 테스트법, 예컨대 셀프 체크에 의한 테스트 등이 행해져, CPU 기판(4)자체나 제어기판(5) 등에 이상이 있는지 어떤지가 테스트된다.
(감시제어장치의 형태예의 효과)
이와 같이, 이 형태예에서는, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의해서 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 CPU 기판(4), 제어기판(5)등을 바운더리 스캔 테스트하도록 하고 있으므로, 다음에 서술하는 효과를 얻을 수 있다.
우선, 로봇(3)의 감시제어장치(1)에 사용하고 있는 각종 전자회로 기판상에 바운더리 스캔 테스트용 회로를 준비하고 있더라도, 보통 사용형태에서는, 기판제조 시의 검사공정에서 이것이 사용되고, 그 사명을 끝내 버리지만, 이 형태예에서는, 시스템 버스(2)에 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 접속할 뿐으로, CPU 기판(4), 제어기판(5)상에 남아 있는 바운더리 스캔 테스트용 회로를 그대로 사용할 수 있고, 이것에 의해서 로봇(3)의 감시제어를 하고 있는 CPU 기판(4), 제어기판(5)를 가동하고 있는 중에도, 새로운 감시용의 회로등을 추가하는 일없이, 로봇(3)의 동작을 감시제어할 수 있다.
또한, 로봇(3)의 감시제어장치(1)에도, 로봇(3)의 동작을 감시제어하는 기능이 장비되어 있지만, 동일한 처리장치로 제어와, 감시의 양쪽을 하면, 안전성이나 신뢰성 등의 점에서, 그다지 바람직하지 못하다. 이것에 대하여, 이 형태예에서는, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의하여 CPU 기판(4), 제어기판(5)등에 탑재되어 있는 각 집적회로에 입출력되는 데이터를 감시하고, 로봇(3)의 동작상황을 감시하도록 하고 있기때문에, CPU 기판(4)등에 의한 로봇(3)의 감시를 느슨히 하더라도, 로봇(3)의 동작상태를 확실하게 감시하면서, 이것을 제어할 수 있다. 이 때, 감시대상이 되는 1개의 로봇(3)에 대하여, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)에 의한 감시와, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의한 감시를 간섭하지 않으므로, 효율적인 감시제어를 할 수 있다.
또한, 시스템 버스(2)의 전원라인만을 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 접속하고, 시스템 버스(2)측의 전원전압을 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 공급하는 것만의 구성으로 하고 있기 때문에, 전용커넥터나 시스템 버스(2)의 일부를 사용하여 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 동작시킬 수 있다. 이것에 의해서, 로봇(3)의 감시제어장치(1)로서 많이 사용되어 있는 확장 VME 버스나 PCI 버스등, 바운더리 스캔 테스트용의 전용 핀 할당이 행해지고 있는 시스템 버스(2)뿐만 아니라, 이러한 바운더리 스캔 테스트용의 전용 핀 할당이 행해지고 있지 않는 시스템 버스를 사용하고 있는 감시제어장치(1)에서도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 장착하는 것만으로, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)등의 바운더리 스캔 테스트를 할 수 있다.
이 때, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 밧테리 회로(15)를 탑재하고, 이 바운더리 스캔 콘트롤러기판(7)상에 탑재되어 있는 중앙처리회로(10)∼디지털통신회로(14)등을 백업하고 있기 때문에, 감시제어장치(1)측의 전원이 끊어졌다고해도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 계속 동작시키고, 주전원장치(6)의 차단이나 다른 제어장치의 기동지령조작 등, 로봇(3)의 안전을 확보하는데 필요한 처리를 할 수 있다.
또한, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 복수의 바운더리 스캔 통신회로(12)를 탑재하고, 각 전용선(8)에 의해서 이들 바운더리 스캔 통신회로(12)와, CPU 기판(4),제어기판(5)등을 개개에, 접속하도록 하고 있기 때문에, 이들 CPU 기판(4), 제어기판(5)등에 탑재되어 있는 집적회로의 1개가 고장이나서, 동작하지않게 되더라도, 다른 집적회로의 동작상태를 바운더리 스캔 테스트할 수 있고, 이것에 의하여 CPU 기판(4), 제어기판(5)등의 어느 것이 완전히 동작하지않게 되더라도, 동작하고 있는 다른 기판을 바운더리 스캔 테스트할 수 있다.
이 때, CPU 기판(4),제어기판(5)단위가 아니고, 기능블록단위(예컨대, 제어축단위)로 전용선(8)과, 바운더리 스캔 통신회로(12)를 설치하면, 기능블록단위로 바운더리 스캔 테스트를 행할 수 있고, 이것에 의해서 각 집적회로중 어느것이 완전히 동작하지않게 되더라도, 피해를 최소한으로 남게하여, 효과적인 감시를 행할 수 있음과 동시에, 감시 프로그램의 개발을 용이하게 할 수 있다.
또한, 바운더리 스캔 테스트에 의해서 얻을 수 있었던 검지결과가 이상이 아닐 때라도, 디지털통신회로(14)를 통해 상위 컴퓨터장치, 중앙감시실등의 필요한 부분에 검지결과를 통지하도록 하고 있기때문에, 감시표시정보의 일부로서, 검지결과를 이용시킬 수 있음과 동시에, 유용한 보수용정보로서, 이것을 축적시킬 수 있다.
또한, 로봇(3)본체나 감시제어장치(1)에 어떤 이상이 발생하여, 위험한 동작이나 잘못된 데이터를 출력할 염려가 있는 경우에는, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)로부터 안전성이 높은 모범 데이터를 출력시켜, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)상에 탑재되어 있는 각 집적회로의 출력단자에 대응하는 각 셀에 상기 모범 데이터를 세트하고, 이것을 각 집적회로내의 논리회로로부터 출력되는 데이터에 우선시켜, 각 집적회로의 출력단자로부터 출력시킬 수 있기때문에, 집적회로에 중대한 트러블이 발생하여, 로봇(3)이 위험한 상태가 될 염려가 있을 때, 트러블을 일으킨 집적회로나 이 집적회로의 출력을 받아들여 처리하는 집적회로로부터 이상 데이터가 출력되지 않도록 하여, 로봇(3)이 이상한 동작을 하지 않도록 할 수 있다.
또한, 이러한 처리를 할 수 없을 때, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의해서 경보장치(9)로부터 경보(파트라이트 등)를 발함과 동시에, 상기 로봇(3)의 주전원장치(6)을 끊거나, 모터의 전원을 차단하도록 하고 있기때문에, CPU 기판(4)이나 제어기판(5)에 탑재되어 있는 각 집적회로에 고장이 발생하여, 이것이 완전히 동작하지않게 되더라도, 로봇(3)이 위험한 움직임을 하지않도록 할 수 있다.
(감시제어장치의 다른 형태예)
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)과, CPU 기판(4), 제어기판(5)을 전용선(8)에 의해서 접속하도록 하고 있지만, 도 4에 나타내는 바와 같이 PCI 버스 등에 의해서 구성되어 있는 시스템 버스(2)에 할당되고 있는 바운더리 스캔 테스트용 핀에 의해서 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)과, CPU 기판(4), 제어기판(5)을 접속하도록 하더라도 좋다.
이 경우, 도 5에 나타내는 바와 같이 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)의 바운더리 스캔 통신회로(12)를 시스템 버스(2)의 바운더리 스캔 테스트용 핀에 접속하는 것 만으로, 상술한 형태예와 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 시스템 버스 (2)에 접속하여, 전원전압을 받아들이도록 하고 있지만, 도 6에 나타내는 바와 같이 시스템 버스(2)와, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 완전히 분리하도록 하더라도 좋다.
이와 같이 하여도, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)상에 밧테리회로(15)를 탑재하고 있기 때문에, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)에 의한 CPU 기판(4), 제어기판(5)등의 바운더리 스캔 테스트를 행하게 할 수 있다.
이에 따라, 시스템 버스(2)가 배선되어 있는 부분에 커넥터 등을 설치할 여유가 없을 때라도, 감시제어장치(1)내에 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(7)을 배치하여, 상술한 형태예와 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다.
(데이터처리 시스템의 형태예의 구성)
도 7은 상술한 기본원리를 사용한 본 발명에 의한 데이터처리 시스템의 한 형태예를 사용한 로봇의 감시제어시스템의 일례를 나타내는 블럭도이다.
이 도면에 나타내는 감시제어시스템(21)은, 각종 문자 키 등을 가져, 오퍼레이터 등에 의해서 조작되었을 때, 이 조작내용에 따른 키신호를 생성하는 키보드장치(22)와, 복수의 키나 볼 등을 사용한 위치검출기구 등을 가지고, 오퍼레이터 등에 의해서 조작되었을 때, 이 조작내용에 따른 스위치신호나 위치 데이터 등을 생성하는 마우스장치(23)와, 이 마우스장치(23)나 상기 키보드장치(22)로부터 출력할 수 있는 스위치신호나 위치 데이터, 키신호, 미리 등록되어 있는 각종 프로그램에 따라서 각종 표시 데이터, 제어 데이터나 지시 데이터 등을 생성하는 처리, 제어 데이터, 지시 데이터 등을 로봇 등에 전송하는 통신처리, 상기 로봇으로부터 전송되는 각종 검지 데이터를 받아들이는 입출력처리 등을 하는 데이터처리장치(24)와, 이 데이터처리장치(24)에 의해서 생성된 표시 데이터를 받아들여, 상기 로봇의 동작을 감시, 제어하는데 필요한 화면을 표시하는 CRT 장치(25)를 구비하고 있다.
그리고, 키보드장치(22)등의 조작내용에 근거하여, 데이터처리장치(24)에 의해, 로봇으로부터 출력할 수 있는 검지 데이터를 받아들이고, 상기 로봇의 동작을 감시하면서, 제어 데이터, 지시 데이터를 작성하여, 상기 로봇의 동작을 제어함과 동시에, 데이터처리장치(24)내에 수납되어 있는 바운더리 스캔 테스트를 실행하는 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)(도8 참조)에 의해, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로 자체의 테스트, 이들 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트하고, 이들 집적회로 자체나 이들 각 집적회로의 접속관계 등에 이상이 있으면, 상위 컴퓨터장치에 대하여, 이상 내용을 전함과 동시에, CRT 장치(25)상에 경보표시를 나타내고, 또한 이상 내용이 감시제어대상으로 되어있는 로봇의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇의 주전원장치를 차단시켜, 로봇의 폭주를 미연에 방지한다.
상기 키보드장치(22)는 얇은 상자형으로 형성되는 키보드광체와, 이 키보드광체상에 배치되는 문자 키, 텐키 등 각종 키와, 상기 키보드 광체내에 배치되어, 상기 각 키가 조작되었을 때, 이 조작내용에 따른 키신호를 생성하는 엔코더회로 등을 구비하고 있고, 오퍼레이터 등에 의해서 각 키가 조작되었을 때, 이 조작내용에 따른 키신호를 생성하여, 이것을 데이터처리장치(24)에 공급한다.
또한, 마우스장치(23)는 오퍼레이터의 손에 쥐어질 정도의 크기로 형성되는 상자형의 마우스광체와, 이 마우스광체의 상부측에 설정되는 복수의 키와, 상기 마우스광체의 저면에 형성된 구멍에서 일부가 돌출하도록, 상기 마우스광체내에 회전이 자유롭게 배치되는 볼과, 상기 마우스광체내에 배치되고, 상기 볼의 회전량 및 회전방향을 검출하여 마우스광체의 이동방향 및 이동량에 따른 위치 데이터를 생성하는 회전검출기구 등을 구비하고 있고, 오퍼레이터에 의해서 탁상 또는 마우스패드상에서 움직였을 때, 그 이동방향 및 이동량에 따른 위치 데이터를 생성하여, 이것을 상기 데이터처리장치(24)에 공급하고, 또한 각 키중 어느것이 조작되었을 때, 조작된 키에 따른 키신호를 생성하고, 이것을 상기 데이터처리장치(24)에 공급한다. 또한, CRT 장치(25)는 상기 데이터처리장치(24)상에 배치되는 상자형의 CRT 광체와, 이 CRT 광체의 전면으로부터 그 일부가 노출하도록, 상기 CRT 광체내에 배치되는 CRT와, 상기 CRT 광체내에 배치되고, 상기 데이터 처리장치(24)로부터 출력할 수 있는 표시신호에 따라서 상기 CRT를 구동하여, 상기 표시신호에 대응하는 내용을 화면표시시키는 신호처리회로 등을 구비하고 있고, 상기 데이터처리장치(24)에 의해서 생성된 표시신호를 받아들여, 로봇의 동작을 감시하는데 필요한 화면, 상기 로봇의 동작을 제어하는데 필요한 화면 등을 표시한다.
또한, 데이터처리장치(24)는 상기 키보드장치(22)로부터 출력할 수 있는 키신호를 취입, 각종 지령이나 각종 데이터등을 생성하는 키보드 인터 페이스회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(27)과, 상기 마우스장치(23)로부터 출력할 수 있는 스위치신호나 위치 데이터등을 취입, 각종 지령이나 각종 데이터등을 생성하는 마우스 인터 페이스회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(28)과, 이들 마우스 인터 페이스회로(28)나 키보드 인터 페이스회로(27)에 의해서 생성된 각종 지령이나 각종 데이터등에 따라서 각종 정보처리를 하는 CPU 회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(29)과, 이 CPU 회로(29)에 의해서 생성된 표시 데이터를 받아들여 표시신호를 생성하고, 이것을 상기 CRT 장치(25)에 공급하는 CRT 인터 페이스회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(30)과, 상기 CPU 회로(29)의 동작을 규정하는 기본 프로그램이나 각종 정수 데이터 등이 격납되는 R0M 회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(31)과, 상기 CPU 회로(29)의 작업 에리어 등으로서 사용되는 RAM회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(32)와, 상기 CPU 회로(29)와 외부장치 등에 설치되는 로봇, 이 로봇에 급전하는 주전원장치와의 사이의 신호교환을 서포트하는 입출력 인터 페이스회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(33)과, 상기 CPU 회로(29)와 상위 컴퓨터장치 등과의 사이의 통신을 서포트하는 통신회로(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(34)를 구비하고 있다.
또한, 데이터처리장치(24)는 하드디스크장치 등에 의해서 구성되어, 상기 CPU 회로(29)에서 사용되는 멀티 태스크 기능을 가지는 0S, 예컨대 UNIX, 0S/2(IBM사 제조), 윈도우 NT( 마이크로 소프트사 제조)등의 0S본체(39)(도8 참조), 바운더리 스캔 테스트를 실행하는 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26), 이 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)에서 사용되는 테스트 데이터, 해석 데이터, 각종 어플리케이션 소프트웨어 등이 격납되는 대용량기억기구(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(35)와, 플로피디스크(36)을 통해, 외부장치에 대한 정보의 교환을 하는 플로피디스크기구(청구항5,6,7에 기재된 기판에 대응하는 부분)(37)와, 이들 키보드 인터 페이스회로(27)∼플로피디스크기구(37)를 접속하는 PCI버스, ISA 버스등 바운더리 스캔 테스트용의 핀이 할당된 시스템 버스(43)를 구비하고 있다.
그리고, 마우스장치(23)로부터 출력되는 스위치신호나 위치 데이터, 키보드장치(22)로부터 출력되는 키신호에 근거하여, 로봇으로부터 출력할 수 있는 검지 데이터를 받아들여, 상기 로봇의 동작상태를 감시하면서, 제어 데이터, 지시 데이터를 작성하여, 상기 로봇의 동작을 제어한다. 또한, 이 동작과 병행해, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(29)에 의해, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로 자체, 각 집적회로에 입출력되는 데이터, 이들 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트하고, 이들 집적회로 자체, 각 집적회로에 입출력되는 데이터나 이들 각 집적회로의 접속관계 등에 이상이 있으면, 상위 컴퓨터장치에 대하여, 이상 내용을 전함과 동시에, CRT 장치(25)상에 경보표시를 내고, 또한 이상 내용이 감시제어대상으로 되어있는 로봇의 동작에 중대한 영향을 초래할 두려움이 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇의 주전원장치를 차단시켜서, 로봇의 폭주를 미연에 방지한다.
이 경우, 상기 CPU 회로(29)는, 마이크로 프로세서 등에 의해서 구성되고, 각종 처리를 하는 CPU와, CPU 회로(29)내에 설치된 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로를 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트함과 동시에, 상기 시스템 버스 (43)를 통해 키보드 인터 페이스회로(27)∼플로피디스크기구(37)내의 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로를 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트하는 바운더리 스캔 통신회로를 구비하고 있고, 상기 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)로 규정되어 있는 테스트순서에 근거하여, CPU에 의해서 바운더리 스캔 통신회로를 제어하고, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 각 집적회로 자체, 각 집적회로에 입출력되는 데이터, 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트한다.
또한, 상기 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 바운더리 스캔 테스트 드라이버 (26)는, 도 8에 나타내는 바와 같이 멀티 태스크기능을 가지는 0S, 예컨대 UNl X, 0S/2(IBM사 제조), 윈도우 NT(마이크로소프트사 제조)등의 0S본체(39)에 삽입되어, 0S38로서 사용되는 드라이버이고, 0S본체가 기동되었을 때, 동시에 기동하여, CPU 회로(29), 키보드 인터 페이스회로(27), 마우스인터 페이스회로(28), CRT인터 페이스회로(30), ROM 회로(31), RAM 회로(32), 입출력 인터 페이스회로(33), 통신회로(34), 플로피디스크기구(37), 대용량기억기구(35)등의 하드웨어(48)를 구성하고 있는 각 집적회로(바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 각 집적회로)자체, 각 집적회로에 입출력되는 데이터, 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트하고, 상기0S38에 의해서 기동되어 있는 각 어플리케이션 소프트웨어(49)로 사용되고 있는 로봇감시 태스크(40),로봇제어 태스크(41),화면표시 태스크(42)등의 동작상태를 감시한다. 그리고, 어떤 이상이 발견되었을 때, 상위 컴퓨터장치에 대하여, 이상 내용을 전함과 동시에, CRT 장치(25)상에 경보표시를 내고, 또한 이상 내용이 감시제어대상으로 되어있는 로봇의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇의 주전원장치를 차단시켜, 로봇의 폭주를 미연에 방지한다.
(데이터 처리 시스템의 형태예의 동작)
다음에, 도 7에 나타내는 블럭도, 도 8에 나타내는 모식도를 참조하면서, 이 형태예의 동작을 설명한다.
우선, 감시제어시스템(21)을 동작시키기 전에, 도 9에 나타내는 바와 같이 상위 컴퓨터장치에 의해서, 패턴 제너레이터(47)가 기동되어, 데이터처리장치(24)로 사용되고 있는 각 집적회로 등의 콤포넌트 데이터 시트(46), 데이터처리장치(24)를 설정할 때에 사용된 네트 리스트(45)등에 근거하여, 상기 각 집적회로의 동작상태, 데이터처리장치(24)를 구성하는 케이블 등의 접속내용, 프린트패턴 내용 등을 체크하는데 필요한 테스트 데이터가 작성되고, 이것이 테스트 데이터 화일에 화일됨과 동시에, 테스트결과를 판정하는데 필요한 해석 데이터가 작성되고, 이것이 화일된다.
이 다음, 감시제어시스템(21)의 통신회로(34)나 플로피디스크(36)을 통해, 상위 컴퓨터장치로 작성된 테스트 데이터 화일, 해석 데이터 화일의 내용이 받아들여지고, 대용량기억기구(35)에 격납된다.
그리고, 키보드장치(22)나 마우스장치(23)등이 조작되어, 로봇의 감시제어지시가 입력되면, CPU 회로(29)에 의해서 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 0S38에 근거하여, 각 어플리케이션 소프트웨어 중, 로봇의 감시제어를 하는데 필요한 어플리케이션 소프트웨어가 선택되어, 로봇감시 태스크(40), 로봇제어 태스크(41),화면표시 태스크(42)등이 기동된다.
이것에 의해서, 이들 로봇감시 태스크(40), 로봇제어 태스크(41), 화면표시 태스크 (42)등에 의해, 입출력 인터 페이스회로(33)를 통해, 로봇의 각부에 설정된 각종 센서로부터 출력할 수 있는 검지 데이터가 받아들여지고, 로봇의 동작상태가 감시됨과 동시에, 이 감시내용에 근거하여, 제어 데이터나 지시 데이터가 작성되어, 이것이 입출력 인터 페이스회로(33)를 통해, 로봇의 각 에츄에이터에 공급되고, 로봇의 동작이 제어된다.
또한, 이 동작과 병행해, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)에 의해, CPU 회로(29)의 CPU가 제어되고, CPU 회로(29), 키보드 인터 페이스회로(27), 마우스인터 페이스회로(28), CRT 인터 페이스회로(30), R0M 회로(31), RAM 회로(32), 입출력 인터 페이스회로(33), 통신회로(34), 플로피디스크기구(37),대용량기억기구(35) 등을 구성하고 있는 각 집적회로(바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 각 집적회로)에 입출력되는 데이터(검지 데이터)가 받아들여짐과 동시에, 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 해석 데이터에 근거하여, 상기 검지 데이터가 해석되고, 상기 0S38에 의해서 기동된 각 어플리케이션 소프트웨어(49)로 사용되고 있는 로봇감시 태스크(40), 로봇제어 태스크(41), 화면표시 태스크(42)등의 동작상태가 감시된다.
또한, 미리 설정되어 있는 상세 테스트주기로, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)의 상세 테스트 처리가 기동되어, CPU 회로29의 CPU가 제어되고, CPU 회로(29), 키보드 인터 페이스회로(27), 마우스인터 페이스회로(28), CRT 인터 페이스회로(30), R0M 회로(31), RAM 회로(32), 입출력 인터 페이스회로(33), 통신회로(34), 플로피디스크기구(37), 대용량기억기구(35) 등을 구성하고 있는 각 집적회로(바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 각 집적회로)에 대하여, 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 테스트 데이터가 세트된 후, 이들 각 집적회로가 동작상태로 되고, 그 출력 데이터(검지 데이터)가 받아들여짐과 동시에, 대용량기억기구(35)에 격납되어 있는 해석 데이터에 근거하여, 상기 검지 데이터가 해석되고, 상기 0S38에 의해서 기동된 각 어플리케이션 소프트웨어(49)로 사용되고 있는 로봇감시 태스크 (40), 로봇제어 태스크(41), 화면표시 태스크(42)등의 동작내용이 감시된다.
그리고, 어떤 이상이 발견되었을 때, 상위 컴퓨터장치에 대하여, 이상 내용이 전해짐과 동시에, CRT 장치(25)상에 경보표시가 나가게 되고, 또한 이상 내용이감시제어대상으로 되어있는 로봇의 동작에 중대한 영향을 초래할 염려가 있는 내용이면, 안전 장치의 관점에서, 상기 로봇의 주전원장치가 차단되고, 로봇의 폭주가 미연에 방지된다.
(데이터처리 시스템의 형태예의 효과)
이와 같이, 이 형태예에서는, 데이터처리장치(24)를 구성하는 대용량기억기구(35)내에 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)을 받아들여, 이 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)에 의하여 CPU 회로(29)의 CPU를 제어하고, 데이터처리장치(24)를 구성하는 각 집적회로(바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 각 집적회로)자체, 각 집적회로의 입출력 데이터, 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트하도록 하고 있기때문에, 다음에 서술하는 기능을 얻을 수 있다.
(CPU의 동작을 확인하는 기능)
우선, 장치핀으로부터 출력되는 스테이터스 신호를 체크할 때, 집적회로내의 셀에 세트되어 있는 내용을 확인함에 의해, CPU의 통상처리를 중단시키는 일없이, CPU의 동작상태를 확인할 수 있다.
또한, 바운더리 스캔 테스트로 예약되어 있는 전용명령에 의해서, CPU 내부의 스테이터스 레지스터의 내용을 직접, 확인할 수 있고, 이것에 의하여 CPU의 통상처리를 중단시키는 일없이, CPU의 동작상태를 확인할 수 있다.
또한, 바운더리 스캔 테스트로 예약되어 있는 전용명령에 의해서, CPU의 자기진단기능을 실현할 때, CPU의 통상처리를 일시적으로 중단시키지 않으면 안되지만, 이 전용명령을 사용하여, CPU의 동작상태를 거의 완전히 확인할 수 있다.
(I/0 포트의 상태를 확인하는 기능)
또한, 이러한 감시제어시스템(21)에 있어서는, I/0 포트의 상태가 시스템에 직접적인 영향을 초래하는 것부터, 바운더리 스캔 레지스터를 사용하고, 각 기판의 커넥터등, I/0 포트의 상태를 확인함에 의해, 시스템에 대하여, 중대한 영향을 초래할 염려가 있을 때, 이것을 미리 검지할 수 있다. 이 때, 출력 포트에 대해서는, 프로그램적으로 옳은 데이터를 출력할 수 있도록 되어 있더라도, 하드웨어적인 문제로부터 잘못된 데이터가 출력돼 버리는 일이 예상되는 것부터, 패리티 체크부호나 CRC 부호등의 에러 검출부호를 사용하는 등의 방법을 사용하여, 각 출력 포트마다 데이터단위로, 특정한 방식화를 함에 따라, 최종출력단에 설정된 집적회로의 바운더리 스캔 레지스터의 내용을 디스커버리하고, 이것이 방식에 적합하고 있는지 어떤지를 체크함에 의해, 출력 포트의 고장 등을 검지할 수 있다.
그리고, 출력 데이터에 어떠한 에러가 있더라도, 에러 정정부호(ECC)를 이용하는 방법 등으로, 에러를 정정할 수 있을 때에는, 바운더리 스캔 테스트로 준비 되어 있는 PREL0AD 명령과, EXTEST 명령을 사용하여, 최종출력단의 집적회로의 바운더리 스캔 레지스터에 옳은 출력 데이터를 세트하고, 이것을 출력 포트로부터 출력시킬 수 있다.
이에 따라, 최종출력단에 설치된 집적회로로부터 잘못된 데이터가 출력되는 것을 방지하여, 시스템의 동작에 영향을 부여하는 일없이, 로봇이 이상한 동작을 하지 않도록 할 수 있다.
또한, CPU 회로(29)에 설치되는 CPU를 멀티 CPU 보드로 하고 있을 때에는, 한편의 CPU 보드를 사용하고, 다른 쪽의 CPU 보드의 출력 포트상태를 조사할 수 있는 것부터, 각 CPU 보드가 정상으로 동작하고 있는지 어떤지를 서로 체크시킬 수 있다.
이 때, 개개의 피트 데이터에 관해서도, 어떠한 방식(예컨대, 최대지속시간 등)을 명확히 해 놓으면, 어플리케이션 소프트웨어(49)로 규정되어 있는 동작순서의 내용에 관계 없이, 완전히 별도의 차원에서, 각 피트 데이터의 체크를 할 수 있다.
또한, 입력 포트에 대해서도, 출력 포트일 때와 마찬가지 처리를 함에 따라, 입력 포트에 입력되는 데이터의 감시를 할 수 있다.
이 때, 보트단위로 데이터를 방식화하거나, 비트단상에서의 특성을 사용한 각종 체크를 함에 따라, 어플리케이션 소프트웨어(49)로 규정되어 있는 동작순서의 내용에 관계 없이, 완전히 별도의 차원에서, 각 비트 데이터의 체크를 할 수 있다.
그리고, 입력 데이터에 어떠한 에러가 있더라도, 에러 정정부호(ECC)를 이용하는 방법 등으로, 에러를 정정할 수 있을 때에는, 바운더리 스캔 테스트로 준비 되어 있는 명령을 사용하여, 집적회로의 바운더리 스캔 레지스터에 옳은 입력 데이터를 세트하고, 이것을 처리시킴으로써, 어플리케이션 소프트웨어(49)에 일체, 가공하는 일없이, 처리를 계속시킬 수 있다.
또한, 입력 데이터가 옳음에도 불구하고, 집적회로가 고장나는 경우에는, 이 집적회로의 입력단자측에 설정된 셀의 내용을 출력단자측의 셀에 옮김에 따라, 집적회로의 고장을 마스크할 수 있다.
이 때, 이 집적회로가 어떠한 연산처리를 하는 것이더라도, 그 내용이 분명하면, 집적회로의 입력단자측에 설정된 셀의 내용을 CPU 회로(29)측에 전송하고, 필요한 연산처리를 행하게 하여, 이것에 의해서 얻을 수 있었던 데이터를 상기 집적회로의 출력단자측에 설정된 셀에 세트함에 의해, 이 집적회로가 어떠한 연산처리를 하도록 설정되어 있더라도, 이것에 대처할 수 있다.
(각종 콘트롤러의 상태를 확인하는 기능)
또한, 플로피디스크기구(37)나 대용량기억기구(35)등에 설치되는 FDC(플로피 디스크 콘트롤러)나 CRT 인터 페이스회로(30)에 설치되는 CRTC CRT 콘트롤러)등의 ASIC 장치는, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 것이 많은 것부터, 시스템이 사용되고 있지 않을 때, 자기진단명령(RUNBlST 명령) 등을 사용하고, 이들 ASlC 장치의 자기진단을 행하게 하여, 고장의 유무를 체크할 수 있다.
그리고, ASl C 장치에 어떠한 고장이 발견되었을 때, TRAP 등에 의해, 시스템에 고장이 발견된 것을 알림과 동시에, 어플리케이션 소프트웨어(49)상에서의 에러 발생을 미연에 막을 수 있다.
(데이터처리 시스템의 다른 형태예)
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)을 0S38의 드라이버로서, 대용량기억기구(35)에 받아들여, 0S38의 일부로서, 이것을 사용하도록 하고 있지만, 도 10에 나타내는 바와 같이, 0S본체(39)에 의해서 기동되는 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)에 상술한 바운더리 스캔 테스트드라이버(26)의 기능을 갖게 하도록 해도 좋다.
이와 같이 해도, 0S본체(39)가 기동되어, 로봇의 제어에 필요한 어플리케이션 프로그램(29)이 동작하였을 때, 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)에 의하여 CPU 회로(29)의 CPU를 제어하여, 데이터처리장치(24)를 구성하는 각 집적회로(바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 각 집적회로)자체, 각 집적회로의 입출력 데이터, 각 집적회로의 접속관계 등을 바운더리 스캔 테스트법으로 테스트할 수 있다.
또한, 상술한 각형태예에 있어서는, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)을 0S38의 드라이버로서, 대용량기억기구(35)에 받아들여, 0S38의 일부로서, 이것을 사용하거나, 0S38에 의해서 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)를 기동시키거나 하도록 하고 있지만, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)나 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)를 각 어플리케이션 소프트웨어(49)에 개별로 짜넣도록 해도 좋다.
이 때, 시스템의 종류에 의해, 오버 헤드가 너무 커지지 않을 정도의 주기로, 타이머 끼움등에 의해, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26)나 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)를 정기적으로 기동시키도록 설정해 놓으면, 바운더리 스캔 테스트 드라이버(26), 바운더리 스캔 테스트 태스크(50)의 존재를 오퍼레이터에 의식시키는 일없이, 각 집적회로 등의 바운더리 스캔 테스트를 할 수 있다.
또, 상술한 형태예에 있어서는, CPU 회로(29)에 설치되는 CPU와, 바운더리 스캔 통신회로를 사용하여, 바운더리 스캔 테스트를 하도록 하고 있지만, 바운더리 스캔 테스트를 하는 바운더리 스캔 테스트 프로그램을 등록한 전용 CPU와, 바운더리 스캔 통신회로에 따라서 바운더리 스캔 콘트롤러 기판을 작성하고, 이것을 시스템 버스(43)에 짜넣어, 바운더리 스캔 테스트법에 의한 테스트를 행하게 하도록 해도 좋다.
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 상위 컴퓨터장치로 작성된 테스트 데이터 화일, 해석 데이터 화일의 내용을 플로피디스크(36)에 의해서 데이터처리장치(24)에 건네 주도록 하고 있지만, 이들 테스트 데이터 화일, 해석 데이터 화일의 내용이나 바운더리 스캔 테스트 프로그램을 함유하는 어플리케이션 프로그램 등을 광자기 디스크, 상변화형광 디스크 등에 의해서 데이터처리장치(24)에 건네 주도록 하더라도 좋다.
(통신시스템의 형태예의 구성)
도 11은 상술한 기본원리를 사용한 본 발명에 의한 통신시스템의 한 형태예를 나타내는 블럭도이다.
도면에 나타내는 통신시스템(61)은, 각 검지대상 부분에 배치되는 제1∼제N 센서모듈(청구항8,9에 기재한 전자기기에 대응하는 부분)62a∼62n과, 집중관리실내등에 배치되는 호스트 컴퓨터장치(63)와, 이들 제1∼제N 센서모듈(62a∼62n)과 호스트 컴퓨터장치(63)를 접속하는 광파이버 케이블(64)을 구비하고 있고, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 검지대상이 되는 사상, 예컨대 도어의 개폐, 사람의 출입 등을 검출하여, 이것을 바운더리 스캔 소자 (바운더리 스캔 테스트법을 서포트하고 있는 집적회로)의 입출력기능을 이용하여 출력신호로 한 후, 광신호로 변환하여, 시리얼전송방식으로 호스트 컴퓨터장치(63)에 전송한다.
제1∼제N 센서모듈62a∼62n은 각각, 도 12에 나타내는 바와 같이 도어의 개폐나 사람의 출입 등을 검출하는 센서본체(65)와, 바운더리 스캔기능을 가지는 1개 이상의 바운더리 스캔 소자에 의해서 구성되어, 설정되어 있는 검출조건에 근거하여, 상기 센서본체(65)를 제어하여, 도어의 개폐나 사람의 출입 등을 검출하는 처리, 바운더리 스캔 소자가 가지는 시리얼 데이터의 입출력기능을 이용하여, 상기 광파이버 케이블(64)을 통하여, 다른 센서모듈이나 호스트 컴퓨터장치(63)와 통신하는 처리 등을 하는 바운더리 스캔소자회로(66)과, 상기 광파이버 케이블(64)을 통해 공급되는 광신호를 상기 신호로 변환하여, 상기 바운더리 스캔 소자회로(66)에 입력하는 수신용 광 커플러(67)와, 상기 바운더리 스캔 소자회로(66)로부터 출력할 수 있는 상기 신호를 광신호로 변환하여, 광파이버 케이블(64)내에 송출하는 송신용 광 커플러(68)를 구비하고 있다.
그리고, 이들제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서는 광파이버 케이블(64)을 통해 호스트 컴퓨터장치(63)로부터 송신된 광신호를 수광하고, 이것을 상기신호로 변환하여, 바운더리 스캔소자회로(66)내에 있는 각 바운더리 스캔소자에 입력하고, 각 바운더리 스캔소자에 검출조건 등의 데이터를 세트하거나, 각 바운더리 스캔소자로부터 출력할 수 있는 시리얼 데이터를 광신호로 변환하여, 광파이버 케이블(64)내에 출사하고, 다음 단의 센서모듈이나 호스트 컴퓨터장치(63)등에 전송하기도 한다.
또한, 상기 호스트 컴퓨터장치(63)는, 도 13에 나타내는 바와 같이 표시 데이터가 공급되었을 때, 이 표시 데이터로 지정된 내용을 화면표시하는 CRT 장치(70)와, 복수의 키를 가져, 오퍼레이터에 의해서 조작되었을 때, 이 조작내용에 따른 키신호를 생성하는 키보드장치(71)와, 이 키보드장치(71)의 조작내용에 따라서, 지정된 잡을 실행하는 처리, 상기 CRT 장치(70)에 각종화면을 표시하는 처리, 상기 광파이버 케이블(64)을 통해 제1∼제N 센서모듈62a∼62n과의 통신처리 등을 하는 데이터처리장치(72)와, 이 데이터처리장치(72)로부터 프린트 데이터가 출력되었을 때, 이것을 받아들여 지정된 용지에 상기 프린트 데이터로 표시되는 내용을 프린트하고, 이것을 배지(排紙)하는 프린터장치(73)를 구비하고 있고, 키보드장치(71)로부터 출력할 수 있는 키신호로 지시된 명령이나 데이터 등에 근거하여, 지정된 데이터 처리 등을 행하고, 이 처리결과를 상기 CRT 장치(70)상에 표시하거나, 프린터장치(73)로부터 프린트 아웃하기도 한다. 또한, 상기 키보드장치(71)에서 지정된 지시가 송신처리이면, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n의 검출조건 등을 설정하는 데이터를 생성하고, 이것을 광신호로 변환함과 동시에, 광파이버 케이블(64)을 통해, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 순차, 전송하여, 이들 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 검출조건 등을 설정하고, 이 검출조건으로 지정한 검출주기 등으로 검출동작을 행하게 한다. 그리고, 미리 설정되어 있는 주기로, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n을 구동하여, 이들제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 얻을 수 있었던 검출결과를 시리얼신호형식의 광신호로 변환시킴과 동시에, 이 광신호를 제1∼제N 센서모듈62a∼62n, 각 광파이버 케이블(64)을 순차, 전송시켜 취입, 이것을 일괄해서 관리한다.
또한, 상기 데이터처리장치(72)는, PCI 버스 등 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 핀을 가지는 시스템 버스(69)와, 상기 CRT 장치(70)에 대하여 표시 데이터를 공급하는 처리, 상기 키보드장치(71)로부터 출력할 수 있는 키신호를. 받아들여, 각종 명령, 각종 데이터 등을 생성하는 처리 등을 하는 입출력 인터 페이스 기판(74)과, 이 입출력 인터 페이스기판(74)으로부터 출력할 수 있는 각종 명령이나 각종 데이터로 지정된 각종 잡을 실행하는 CPU 기판(75)과, 상기 CPU 기판(75)의 기본동작을 규정하는 기본0S, 각종 데이터 등이 격납되어 있는 R0M 기판(76)과, 상기 CPU 기판(75)의 작업에리아 등으로서 사용되는 RAM 기판(77)과, 상기 CPU 기판(75)의 동작을 규정하는 멀티 태스크 기능을 가지는 범용0S(예컨대, 윈도우 NT, UNIX 등)의 격납 에리아, 각종 잡을 규정하는 어플리케이션 프로그램의 격납 에리아, 처리대상으로 되어있는 데이터의 격납 에리아, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 전송된 데이터의 격납에리아, 처리 결과의 격납에리아 등으로서 사용되는 대용량기억기구(78)를 구비하고 있다.
또한, 상기 데이터처리장치(72)는, 플로피디스크(79)가 세트되었을 때, 이 플로피디스크(79)에 대하여, 데이터의 기입이나 데이터의 읽기를 하는 플로피디스크기구(80)과, 상기 CPU 기판(75)으로부터 출력할 수 있는 프린트 데이터를 받아들여, 상기 프린터장치(73)에 공급하고, 상기 프린트 데이터의 내용을 지정된 용지에 프린트시켜, 배지시키는 프린터 인터 페이스기판(81)과, 상기 CPU 기판(75)으로부터 송신 데이터가 출력될 때 마다, 이것을 시리얼신호로 변환한 후, 광신호로 변환하여, 광파이버 케이블(64)을 통하여, 상기 제1∼제N 센서모듈 62a∼62n에 전송하고, 이들 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 대하여, 데이터의 설정을 하거나, 이들 제1∼제N 센서모듈 62a∼62n에서 광신호를 출력시켜, 데이터의 수집을 하기도 하는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(82)을 구비하고 있다.
이 경우, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(82)은, 도 14에 나타내는 바와 같이 상기 시스템 버스(69)의 전원핀에 접속된 전원라인(83)으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하는 마이크로 프로세서 등에 의해서 구성되어, 바운더리 스캔 테스트로 필요한 각종 데이터처리를 하는 중앙처리회로(84)와, 이 중앙처리회로(84)로 사용되는 데이터 등의 격납장소가 되고, 상기 중앙처리회로(84)에 의한 읽기, 기입이 행해지는 EEPR0M 회로(85)와, 상기 전원라인(83)으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하고, 상기 중앙처리회로(84로)부터 출력할 수 있는 각종 지시에 따라서, 광파이버케이블(64)을 통하여, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 대하여, 바운더리 스캔기능을 사용하여, 데이터의 기입이나 데이터의 수집을 하는 바운더리 스캔 통신회로(86)와, 상기 전원라인(83)으로부터 공급되는 전원전압을 사용하여 동작하고, 시스템 버스(69)를 사용하여, 상기 중앙처리회로(84)와 상기 CPU 기판(75)등의 사이의 통신을 서포트하는 입력출력 인터 페이스회로(87)와, 상기 시스템 버스(69)로부터 공급되는 전원전압에 의해서 충전되고, 상기 전원전압의 공급이 정지하였을 때, 상기 중앙처리회로(84)입출력 인터 페이스회로(87)등에 전원전압을 공급하는 백업용의 밧테리회로(88)를 구비하고 있다.
(통신시스템의 형태예의 동작)
다음에, 도 13, 도 14에 나타내는 블럭도, 도 15에 나타내는 모식도 등을 참조하면서, 이 형태예의 동작을 설명한다.
우선, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n을 실제로 가동시키기 전에, 도 15에 나타내는 바와 같이 컴퓨터장치(도시는 생략한다)에 의해서, 패턴 제너레이터(90)가 기동되고, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 사용되고 있는 각 바운더리 스캔소자등의 콤포넌트 데이터 시트(91), 제1∼제N 센서모듈62a∼62n을 설계할 때에 사용된 네트 리스트(92)등에 근거하여, 상기 각 바운더리 스캔소자, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n을 구성하는 케이블 등의 접속내용, 프린트패턴내용 등에 따른 데이터 세트패턴이 작성되고, 이것이 데이터 세트패턴 화일(93)에 화일됨과 동시에, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 수집된 검출결과를 보통 패저젤 데이터에 되돌리는데 필요한 해석 데이터가 작성되고, 이것이 해석 데이터 화일(94)에 화일되고, 이들 데이터 세트패턴 화일(93)의 내용, 해석 데이터 화일(94)의 내용이 EEPR0M 회로(85)에 기억된다.
이 다음, 상기 CPU 기판(75)으로부터의 지시에 근거하여, 바운더리 스캔 콘트롤러 기판(82)가 기동되었을 때, EEPR0M 회로(85)에 기억되어 있는 데이터 세트패턴에 따라, 중앙처리회로(84)에 의해서 바운더리 통신회로(86)가 제어되고, 상기 CPU 기판(75)으로부터 출력할 수 있는 검출조건 데이터 등이 광신호로 변환되어, 이것이 광파이버 케이블(64)내에 출사되고, 제1∼제N 센서 모듈62a∼62n에 전송되고, 이들 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 검출조건 등이 설정된다.
이 때, 제1∼제N 센서모듈 62a∼62n 모두에 대하여, 검출조건 데이터 등을 세트할 때에는, 바운더리 스캔 통신회로(86)에 의하여 제1∼제N 센서모듈62a∼62n의 바운더리 스캔소자회로(66)내에 설치되는 각 바운더리 스캔소자가 데이터 세트 모드로 된다. 이 다음, CPU 기판(75)으로부터 출력할 수 있는 제 1∼제N 센서모듈62a∼62n 에 대한 제1∼제n 검출조건 데이터가 시리얼 데이터로 변환되면서, 순차, 일렬로 나란히 되고, 광신호형식으로, 광파이버 케이블(64)내에 출사됨과 동시에, 이것이 순차, 시프트되고, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 세트된다.
또한, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n중 어느 하나, 예컨대 제N 센서모듈62n에만, 검출조건 데이터 등을 세트할 때에는, 바운더리 스캔 통신회로(86)에 의해서 제1∼제(N-1) 센서모듈62a∼62(n-1)의 바운더리 스캔소자회로(66)내에 설치되는 각 바운더리 스캔소자가 바이패스 모드로 됨과 동시에, 제N 센서모듈62n의 바운더리 스캔소자회로(66)내에 설치되는 각 바운더리 스캔소자가 데이터 세트 모드로 된다. 이 다음, CPU 기판(75)으로부터 출력할 수 있는 제N 검출조건 데이터가 시리얼 데이터에 변환되어, 광신호형식으로, 광파이버케이블(64)내에 출사됨과 동시에, 이것이 순차, 시프트되고, 제N 센서모듈62n에 세트된다.
이어서, 상기 CPU 기판(75)에서의 지시에 근거하여, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n을 기동시키는데 필요한 광신호가 생성되고, 이것이 광파이버케이블(64)을 통하여, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 전송되고, 이들 제1∼제N 센서모듈62a∼62n의 바운더리 스캔 소자회로(66)에 세트되고, 이들 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 의한 도어의 개폐, 사람의 출입 등의 검출이 개시된다. 그리고, 상기 CPU 기판(75)에서의 지시에 근거하여, 제1∼제N 센서 모듈62a∼62n에 설치되는 바운더리 스캔소자회로(66)의 각 바운더리 스캔소자의 TD0단자로부터 검출결과를 출력할 수 있음과 동시에, 이들이 광신호로 변환되어, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n, 각 광파이버 케이블(64)을 순차, 통하여, 이것이 받아들여지고, 병렬 데이터로 변환되고, 상기 CPU 기판(75)에 전송된다.
이에 따라, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 얻을 수 있었던 검출결과가 CPU 기판(75)에 의해서 받아들여지고, 이것이 결과 화일(95)로서, 대용량기억기구(78)에 기억되고, 일괄해서 해석된다.
(통신시스템의 형태예의 효과)
이와 같이, 이 형태예에 있어서는, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 검출대상이 되는 사상, 예컨대 도어의 개폐, 사람의 출입 등을 검출하고, 이것을 바운더리 스캔소자의 입출력기능을 이용하여 출력신호를 한 후,광신호로 변환하여, 시리얼전송방식으로 호스트 컴퓨터장치(63)에 전송하고, 이것을 관리시키도록 하였기때문에, 통신장치를 사용하는 일없이 제1∼제N 센서모듈62a∼62n과, 호스트 컴퓨터장치(63)를 접속할 수 있고, 이것에 의해서 통신장치를 사용하지않은 것만큼, 시스템 전체의 제조비용을 절감시킬 수 있다. 또한, 바운더리 스캔 소자 자체가 20Mbps 정도의 데이터전송속도를 가지고 있기때문에, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n과, 호스트 컴퓨터장치(63)와의 사이의 데이터전송속도를 최대로, 20Mbps 정도까지 높여, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에서 얻을 수 있었던 데이터를 수집하거나, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n에 대하여 검출조건을 설정하거나 할 때에 요하는 시간을 비약적으로 짧게 할 수 있다.
(통신 시스템의 다른 형태예)
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n과 호스트 컴퓨터장치(63)를 광파이버케이블(64)에 의해서 접속하도록 하고 있지만, 이러한 광파이버케이블(64)에 대신해, 보통 통신선이나 통신회선을 사용하도록 하더라도 좋다.이와 같이 하여도, 이들 보통 통신선이나 통신회선이 충분한 통신속도를 가지고 있을 때에는, 제1∼제N 센서모듈62a∼62n의 바운더리 스캔소자회로(66)에 설정된 각 바운더리 스캔소자가 가지고 있는 20Mbps 정도의 데이터전송속도로, 데이터의 전송을 할 수 있다.
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 분산배치된 제1∼제 N 센서모듈 62a∼62n과, 감시실내에 배치된 호스트 컴퓨터장치(63)를 접속하여 통신시스템(61)을 구축하고 있지만, 분산배치된 단말장치와, 감시실내에 배치된 호스트 컴퓨터장치(63)를 접속하여 통신시스템을 구축하도록 하더라도 좋다.
이와 같이 하여도, 각 단말장치내에 바운더리 스캔 소자회로를 설치하고 있으면, 이 바운더리 스캔소자회로가 가지는 시리얼 데이터전송기능을 이용하여, 20Mbps 정도의 데이터전송속도로, 데이터의 전송을 할 수 있다.
또한, 상술한 형태예에 있어서는, 호스트 컴퓨터장치(63)내에 배치한 바운더리 스캔 콘트롤 기판(82)내에 중앙처리회로(84)와, EEPR0M 회로(85)를 설치하여, 데이터 세트패턴 화일(93)의 내용, 해석 데이터 화일(94)의 내용을 EEPR0M 회로(85)에 기억시켜, 제1 센서모듈62a∼제N 센서모듈62n에서 데이터를 수집하거나, 데이터를 해석하거나 하도록 하고 있지만, 호스트 컴퓨터장치(63)내의 CPU 기판(75)의 처리능력, 대용량기억기구(78)의 용량에 여유가 있을 때에는, 데이터 세트패턴 화일(93)의 내용, 해석 데이터 화일(94)의 내용을 대용량기억기구(78)에 기억시켜, CPU 기판(75)으로 바운더리 스캔컨트롤기판(82)의 바운더리 스캔 통신회로(86)을 직접 제어하여, 제1 센서모듈62a∼제N 센서모듈62n에서 데이터를수집하거나, 데이터를 해석하거나 하도록 해도 좋다.
이와 같이 함으로써, 바운더리 스캔 컨트롤기판(82)으로부터 중앙처리회로(84)와, EEPR0M 회로(85)를 삭제할 수 있고, 이것에 의해서 바운더리 스캔컨트롤기판(82)의 구성을 간단히 할 수 있다. 또한, 호스트 컴퓨터장치(63)를 구성하는 데이터처리장치(72)로부터 프린터장치(73)를 빼어, 데이터 처리장치(72)에 설치되는 프린터인터페이스기판(81)의 입출력커넥터에 전용선을 접속하고, 이들 전용선에 의해 데이터처리장치(72)와, 제1 센서모듈62a∼제N 센서모듈62n을 접속하도록 하더라도 좋다.
이와 같이 함에 의해, 바운더리 스캔컨트롤기판(82)을 사용하는 일없이, 제1 센서모듈62a∼제N 센서모듈62n에서 데이터를 수집하거나, 이들 제1 센서모듈62a∼제N 센서모듈62n에 데이터를 세트하거나 할 수 있고, 이로써 통신시스템(61)전체의 제조비용을 대폭 절감시킬 수 있다.

Claims (7)

  1. CPU기판, 각종 기판을 사용하여, 감시제어대상물의 감시제어를 하는 감시제어장치에 있어서, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 부품이 탑재된 기판과,
    이들 기판에 전기적으로 접속되고, 바운더리 스캔 테스트를 행하여, 상기 각 기판 또는 이들 각 기판에 탑재되어 있는 각 부품을 테스트하는 바운더리 스캔 콘트롤러 기판과,
    상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 전력을 공급하는 주전원장치를 구비하고, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판은, 상기 각 기판의 전원장치와 독립하여 주전원 장치로부터의 전력을 사용하고, 각 기판의 전원장치에 이상이 발생하더라도, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판에 의해서 각 기판의 바운더리 스캔 테스트를 행하여, 상기 각 기판 또는 이들 각 기판에 탑재되어 있는 각 부품을 테스트 하는 것을 특징으로 하는 감시제어장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판은, 상기 각 기판마다 설정된 전용선에 의해서 각 기판에 접속되고, 이들 각 기판을 개개에, 바운더리 스캔 테스트 하는 것을 특징으로 하는 감시제어장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러 기판은, 이네이블/디스이네이블 스위치의 조작내용에 근거하여, 상기 바운더리 스캔 콘트롤러기판에 의한 바운더리 스캔 테스트의 실행, 실행정지를 제어하는 것을 특징으로 하는 감시제어장치.
  4. CPU 회로에 의해서 시스템 각부의 동작을 제어하면서, 지정된 처리를 하는 데이터처리 시스템에 있어서, 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 집적회로를 탑재하여, 시스템각부를 구성하는 기판과, 이들 각 기판을 접속하는 바운더리 스캔 테스트법을 서포트한 시스템 버스와, 이 시스템 버스를 통해, 각 기판 또는 이들 각 기판에 탑재되어 있는 각 집적회로의 바운더리 스캔 테스트를 행하는 바운더리 스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크를 구비하고, 상기 바운더리 스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크는, 상기 CPU 회로의 동작을 규정하는 OS 또는 각 어플리케이션 소프트웨어에 조입되는 것을 특징으로 하는 데이터처리 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 바운더리 스캔 테스트 드라이버 또는 바운더리 스캔 테스트 태스크는, CPU의 동작을 확인하는 기능, I/0 포트의 상태를 확인하는 기능, 각종 콘트롤러의 상태를 확인하는 기능, 잘못된 데이터를 검출, 정정하는 기능중, 적어도 어느 하나 이상의 기능을 가지는 것을 특징으로 하는 데이터처리 시스템.
  6. 분산배치된 복수의 전자기기에 대하여, 시리얼 데이터를 전송하는 기능, 상기 각 전자기기로부터 시리얼 데이터를 전송시키는 기능을 가지는 통신시스템에 있어서, 상기 각 전자기기내에 바운더리 스캔 테스트기능을 가지는 바운더리 스캔 소자를 배치하고, 이 바운더리 스캔소자가 가지는 시리얼 데이터의 입출력기능을 사용하여, 시리얼 데이터의 취입, 출력을 하는 것을 특징으로 하는 통신시스템.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 각 전자기기 사이를 광파이버 케이블에 의해서 접속하고, 각 전자기기 사이로 전송되는 시리얼 데이터로서, 광신호를 사용하는 것을 특징으로 하는 통신시스템.
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Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100515445B1 (ko) * 1998-05-13 2006-03-03 삼성전자주식회사 웨이퍼 카세트 운반용 로봇의 에러 복구방법 및 복구장치
US6389565B2 (en) * 1998-05-29 2002-05-14 Agilent Technologies, Inc. Mechanism and display for boundary-scan debugging information
DE19959330A1 (de) * 1999-12-09 2001-06-13 Kuka Roboter Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Steuern eines Roboters
US7095718B1 (en) * 2000-04-29 2006-08-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Client/server scan software architecture
US6952795B2 (en) 2001-09-24 2005-10-04 Motorola, Inc. Method and apparatus for verifying the integrity of control module operation
US6744256B2 (en) * 2001-10-29 2004-06-01 Agilent Technologies, Inc. Boundary-scan testing of opto-electronic devices
JP2005528596A (ja) * 2002-05-06 2005-09-22 ネクステスト システムズ コーポレイション マルチタスク・アルゴリズミック・パターン・ジェネレータを有する半導体試験システム
WO2004051532A1 (en) * 2002-12-04 2004-06-17 University College Cork-National University Of Ireland, Cork A data processing system
DE102006014267A1 (de) * 2006-03-28 2007-10-04 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Testen zumindest einer in einem Steuergerät eingebauten Recheneinheit
JP4705886B2 (ja) * 2006-06-20 2011-06-22 株式会社日立製作所 回路基板の診断方法、回路基板およびcpuユニット
CN101589603B (zh) * 2006-11-29 2012-04-04 Duaxes株式会社 测试装置
BRPI0722231A2 (pt) 2007-11-29 2014-06-03 Airbus Operations Gmbh Método para testar linhas de energia e linhas de sinal a bordo de uma aeronave, e, kit
RU2451944C2 (ru) * 2007-11-29 2012-05-27 Эйрбас Оперейшнз Гмбх Способ и комплект оборудования для испытания трехфазных питающих электросетей на борту воздушного судна
NL1037457C2 (en) * 2009-11-10 2011-05-12 Jtag Technologies Bv A method of and an arrangement for testing connections on a printed circuit board.
NL2006759C2 (en) 2011-05-10 2012-11-13 Jtag Technologies Bv A method of and an arrangement for automatically measuring electric connections of electronic circuit arrangements mounted on printed circuit boards.
US8812921B2 (en) * 2011-10-25 2014-08-19 Lsi Corporation Dynamic clock domain bypass for scan chains
US8645778B2 (en) 2011-12-31 2014-02-04 Lsi Corporation Scan test circuitry with delay defect bypass functionality
US9609895B2 (en) * 2014-08-21 2017-04-04 Rai Strategic Holdings, Inc. System and related methods, apparatuses, and computer program products for testing components of an aerosol delivery device
CN104252171B (zh) * 2014-09-17 2017-09-19 湖北美的电冰箱有限公司 冰箱的检测系统
CN105527508A (zh) * 2015-07-10 2016-04-27 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种评估智能卡芯片cpu抗干扰能力的测试装置及方法
CN106787172B (zh) * 2016-11-29 2019-08-23 国电南瑞科技股份有限公司 一种配电自动化终端多维度状态综合监测方法
CN112148535B (zh) * 2020-09-28 2023-09-01 深圳市风云实业有限公司 一种机架式设备双监控系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06160489A (ja) * 1992-11-17 1994-06-07 Hitachi Ltd バウンダリスキャン内部テスト方式
JPH0712901A (ja) * 1993-06-16 1995-01-17 Nec Corp バウンダリスキャン機能付icソケット

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5752912A (en) 1980-09-13 1982-03-29 Mitsubishi Electric Corp Remote monitoring and controlling device
JPS5843046A (ja) 1981-09-08 1983-03-12 Anritsu Corp 設備診断装置
US4967347A (en) * 1986-04-03 1990-10-30 Bh-F (Triplex) Inc. Multiple-redundant fault detection system and related method for its use
JPH0789892B2 (ja) 1990-05-11 1995-10-04 純子 佐々木 飲料水
JP2513904B2 (ja) 1990-06-12 1996-07-10 株式会社東芝 テスト容易化回路
US5130645A (en) * 1990-08-13 1992-07-14 Vlsi Technology, Inc. Integrated circuit built-in self-test structure
JP2877505B2 (ja) * 1990-11-30 1999-03-31 株式会社アドバンテスト Lsi実装ボード及びデータ処理装置
EP0559214A1 (en) * 1992-03-06 1993-09-08 Pitney Bowes Inc. Event driven commnication network
EP0578386B1 (en) * 1992-06-17 1998-10-21 Texas Instruments Incorporated Hierarchical connection method, apparatus and protocol
JPH0618628A (ja) 1992-06-30 1994-01-28 Nec Corp 集積回路装置
US5627842A (en) * 1993-01-21 1997-05-06 Digital Equipment Corporation Architecture for system-wide standardized intra-module and inter-module fault testing
US5951703A (en) 1993-06-28 1999-09-14 Tandem Computers Incorporated System and method for performing improved pseudo-random testing of systems having multi driver buses
US5444716A (en) * 1993-08-30 1995-08-22 At&T Corp. Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis
US5630048A (en) * 1994-05-19 1997-05-13 La Joie; Leslie T. Diagnostic system for run-time monitoring of computer operations
US6000040A (en) * 1996-10-29 1999-12-07 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for diagnosing fault states in a computer system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06160489A (ja) * 1992-11-17 1994-06-07 Hitachi Ltd バウンダリスキャン内部テスト方式
JPH0712901A (ja) * 1993-06-16 1995-01-17 Nec Corp バウンダリスキャン機能付icソケット

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Publication number Publication date
WO1997024670A1 (fr) 1997-07-10
EP1630566A2 (en) 2006-03-01
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EP0813151A1 (en) 1997-12-17
EP1632780A2 (en) 2006-03-08
EP0813151A4 (en) 1999-03-31
CA2213966A1 (en) 1997-07-10
US6243665B1 (en) 2001-06-05
TW332258B (en) 1998-05-21
CA2213966C (en) 2004-10-26

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