KR100229070B1 - 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치 및 방법이 개시된다. 이 장치는, 크림 납을 촬영하여 크림 납의 영상 및 이송된 크림 납의 영상들을 반복적으로 획득하고 저장하여 출력하는 광학 계산 수단과, 위치 제어 신호에 응답하여 광학 계산 수단을 3차원적으로 이동시키는 위치 조정 수단과, 측정할 인쇄 회로 기판을 컨베이어 제어신호에 응답하여 이동, 정지 또는 배출하는 인쇄 회로 기판 운반 수단 및 위치 제어신호 및 컨베이어 제어신호를 발생하고, 광학 계산 수단으로부터 입력한 영상들을 이용하여 크림 납의 높이를 계산하는 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하고, 1㎛수준의 높은 분해능으로 크림 납의 높이 및 부피 측정이 가능하므로 현재의 인쇄 조건과 인쇄 상태의 분석 결과를 이용하여 고신뢰성의 인쇄 조건 산출이 용이하며, 고속 및 고분해능 인 라인 크림 납 검사가 가능해짐으로서 안장된 PCB기판의 생산이 가능하고 이후의 인쇄 공정과 밀접한 관련이 있는 부품 장착 공정, 납땝 공정에서의 불량을 현격히 줄임으로서 생산성 및 최종 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치 및 방법

본 발명은 인쇄 회로 기판 검사에 관한 것으로서, 특히 인쇄 회로 기판의 크림 납의 높이 및 부피를 계산할 수 있는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.

이하, 종래의 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치의 구성 및 동작을 첨부한 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.

도 1은 종래의 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치를 설명하기 위한 도면으로서, 라인 프로젝터(line projector)(10), 갈바노 거울(Galvano mirror)(12), 모터(14), 고체 촬상 소자(CCD:Charged Coupled Device) 카메라(16), 슬릿 빔(slit beam)(18), 크림 납(solder paster)(20), 인쇄 회로 기판(PCB:Printed Circuit Board)(22) 및 모니터(24)로 구성된다.

도 1에 도시된 라인 프로젝터(10)는 슬릿 광을 발생하는 기능을 수행하며, 1개의 라인을 투사한다. 제조 회사에 따라 복수개의 라인을 동시에 생성시켜 속도를 향상시키는 방법을 취하기도 한다. 갈바노 거울(12)은 라인 프로젝터(10)로부터 방출된 슬릿광이 일정 각도로 꺾이도록 한다. 여기서, 크림 납(20)의 한쪽 끝에서 다른 쪽 끝으로 슬릿광을 이동시킨다. 이로써, 크림 납(20)의 전 영역을 스캔하게 된다. 한편, 모터(14)는 갈바노 거울(14)을 회전시키는 역할을 하며, CCD 카메라(16)는 크림 납(20)에 맺힌 슬릿 빔(18)의 영상을 획득한다. 이 때, CCD 카메라(16)에 획득된 영상의 형태는 모니터(24)에 그려진 것처럼 나타난다. 왜냐하면, 라인 프로젝터(10)가 기준면이 되는 PCB 기판(22)에 대하여 비스듬히 주사되기 때문에 수직으로 설치된 CCD 카메라(16)에는 모니터(24)에 도시된 바와 같은 파형이 나타난다. 제어부(미도시)는 이를 영상 처리 및 분석하여 높이 정보를 산출한다. 이 때의 높이는 일반적으로 널리 알려진 광 삼각법에 의해 간단히 계산될 수 있다.

즉, 스크린 프린터(screen printer)뒤에 설치되어 인쇄 상태를 검사하는 도 1에 도시된 인쇄 평가 장치 또는 크림 납 검사기는 인 라인에서 2차원적인 검사를 주로 수행하고 일부는 3차원적으로 검사를 하나 평균 높이 정도만을 측정하는 수준으로 인쇄 조건을 추적하기는 불가능하다.

그러므로, 전술한 종래의 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치는 크림 납(20)의 전 영역에 대하여 연속적으로 스캐닝하여 높이를 측정할 경우, 상당한 시간이 소요되므로 보통 인 라인 설비의 경우 양끝단과 중간의 3개소 또는 샘플링 개소를 그 이상으로 하여 측정하나 그렇게 되면 측정 신뢰성이 저하되는 결과를 초래한다. 또한, 슬릿 빔(18)의 선폭이 제한되어 있으므로, 샘플링 포인트의 피치를 줄이는데 한계가 있으며 측정분해능을 높이기 어려운 문제점이 있다. 게다가, 1㎛ 수분의 분해능을 얻으려면 포인트 레이져를 이용하여야 하나 이는 측정에 상당시간이 소요되므로 인 라인 장비에 설치할 경우 적절치 못한 문제점이 있다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 스크린 프린터를 통해 인쇄된 인쇄 회로 기판의 크림납의 부피 및 높이들을 고속, 고정도로 측정하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치를 제공하는데 있다.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 상기 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치에서 수행되는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 방법을 제공하는데 있다.

도 1은 종래의 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치를 설명하기 위한 도면이다.

도 2는 본 발명에 의한 PCB의 크림 납 검사 장치의 블럭도이다.

도 3은 도 2에 도시된 광학 계산부의 본 발명에 의한 블럭도이다.

도 4는 도 2에 도시된 장치에서 수행되는 본 발명에 의한 크림 납 검사 방법을 설명하기 위한 플로우차트이다.

상기 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치는, 상기 크림 납을 촬영하여 상기 크림 납의 영상 및 이송된 상기 크림 납의 영상들을 반복적으로 획득하고 저장하여 출력하는 광학 계산 수단과, 위치 제어 신호에 응답하여 상기 광학 계산 수단을 3차원적으로 이동시키는 위치 조정 수단과, 측정할 인쇄 회로 기판을 컨베이어 제어신호에 응답하여 이동, 정지 또는 배출하는 인쇄 회로 기판 운반 수단 및 상기 위치 제어신호 및 상기 컨베이어 제어신호를 발생하고, 상기 광학 계산 수단으로부터 입력한 상기 영상들을 이용하여 상기 크림 납의 높이를 계산하는 제어수단로 구성되는 것이 바람직하다.

상기 다른 과제를 이루기 위해, 텔레센트릭 영사식 모아레로 구성되어 있으며, 위상 천이량에 따라 상기 크림 납의 부피를 계산하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치에서 수행되는 본 발명에 의한 크림 납 검사 방법은, 상기 인쇄 회로 기판에 대한 영상을 획득하는 단계와, 상기 획득된 영상으로부터 잡음을 제거하는 단계와, 상기 잡음이 제거된 영상으로부터 엣지 성분을 검출하고, 상기 크림 납에 대한 영역을 추출하는 단계와, 상기 크림 납의 부피를 검사할 것인가 높이를 검사할 것인가를 판단하는 단계와, 상기 크림 납의 부피를 검사하고자 할 경우, 윤곽선을 검출하고 면적과 중심을 계산하여 부피에 대한 형상 데이타를 산출하는 단계와, 상기 크림 납의 높이를 검사하고자 할 경우, 측정점에서의 광강도 분포 및 측정위상을 계산하고, 위상을 정렬하여 높이에 대한 형상 데이타를 산출하는 단계와, 상기 형상 데이타가 기준치 이상인가를 판단하는 단계와, 상기 형상 데이타가 상기 기준치 이상이면, 상기 인쇄 회로 기판의 인쇄 상태를 불량한 것으로 결정하는 단계 및 상기 형상 데이타가 상기 기준치 이하이면, 상기 인쇄 회로 기판의 인쇄 상태가 양호한 것으로 결정하는 단계로 이루어지는 것이 바람직하다.

이하, 본 발명에 의한 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치의 구성 및 동작을 첨부한 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.

도 2는 본 발명에 의한 PCB의 크림 납 검사 장치의 블럭도로서, PCB(46)상의 크림 납을 촬영하여 크림 납의 영상 및 이송된 크림 납의 영상들을 반복적으로 획득하고 저장하여 출력하는 광학 계산부(40), 2축 로보트로 구현될 수 있으며 위치 제어 신호에 응답하여 광학 계산부(40) 3차원적으로 이동시키는 위치 조정부(42 및 44), 측정할 인쇄 회로 기판을 컨베이어 제어신호에 응답하여 이동, 정지 또는 배출하는 PCB 운반부를 구성하는 컨베이어(48)와 스토퍼(stopper)(50)와 스토퍼 실린더(52)와 센서(50) 및 구동 모터(54), 검사 대상인 기판(46), 크림 납의 높이에 대한 정보를 디스플레이하는 제1디스플레이부(56), 광학 계산부(40)에서 촬영한 영상을 디스플레이하는 제2디스플레이부(58), 프레임 그래버(60), 카메라의 조명 밝기를 제어하는 조명 제어부(62), 이동 제어신호를 발생하는 이동 제어부(64), 위치 제어신호를 발생하는 위치 제어부(66), 카메라로부터 입력한 영상 신호를 해석하여 크림 납의 높이를 계산하고, 위치 제어부(66), 컨베이어 제어부(70), 조명 제어부(62) 및 이동 제어부(64)들을 제어하는 주 제어부(68) 및 주 제어신호에 응답하여 컨베이어 제어신호를 발생하는 컨베이어 제어부(70)로 구성된다.

도 2에 도시된 장치는 주 제어부(68)와 컨베이어 제어부(70)에 의해 먼저 제어된다. 컨베이어(48)가 구동 모터(54)에 의해 구동되면 피 측정물인 기판(56)이 검사 위치로 들어온다. 검사 위치에의 도착 여부는 센서(50)에 의해 감지되고 스토퍼 실린더(52)가 상승하여 기판(46)의 흐름을 멈추게 한다. 그렇게 되면 컨베이어 제어부(70)는 주 제어부(68)에게 기판이 도착하였으니 검사를 시작하라는 신호를 출력한다.

한편, 주 제어부(68)는 기판(46)이 검사 위치로 이동하도록 위치 조정부(42 및 44)를 제어하도록 하는 위치 제어신호를 위치 제어부(66)로 출력한다. 위치 조정부(42 및 44)의 제어하에, 기판(46)이 검사 위치에 도착되어 광학 계산부(40)에서 영상이 촬영되면, 주 제어부(68)는 광학 계산부(40)로부터의 영상 신호가 프레임 그래버(60)에 저장되도록 제어한다.

도 3은 도 2에 도시된 광학 계산부(40)의 본 발명에 의한 블럭도로서, 광학부를 구성하는 광원(82), 프로젝션 격자(88) 및 프로젝션 렌즈(90)와 결상부를 구성하는 영상 즉 모아레 무늬를 촬상하는 카메라(80), 현미경 푸르브(92), 기준 격자(94) 및 결상 렌즈(98)로 구성된다. 여기서, 참조부호 84는 광학 계산부를, 86은 위상 이송을 위해 두개의 격자들(88 및 94)을 미소 이동시키는 이동부를, 96은 PCB기판(96)을 각각 나타낸다.

도 3에 도시된 광학 계산부(84)를 설명하기 전에, 본 발명의 동작 원리를 다음과 같이 살펴본다.

먼저, 크림 납의 계산하기 전에, 두 개 이상의 주기적인 패턴이 겹칠 때 맥놀이 현상에 의해 발생하는 모아레 무늬를 광위상 간섭법에서의 간섭 무늬로 가정하고 이를 해석하여 높이 정보를 추출한다. 본 발명에서는 물체의 3차원 형상 측정에서 가장 많이 사용되는 다양한 모아레 발생 방법들중에서 영사식 모아레를 적용한다. 이의 원리는 프로젝터를 이용해서 모아레 격자를 측정 대상인 물체면에 주사하고 물체의 형상에 따라 변화된 변형 격자를 결상렌즈를 이용해서 기준 격자위에 결상함으로서 기준 격자 위에 모아레 무늬가 형성된다.

영사식 모아레는 비교적 넓은 면적을 비접촉으로 손쉽게 측정할 수 있는 방법이지만, 그림자식에 비해 가시성이 낮아 측정 분해능이 다소 떨어지고, 조명 광학계의 광축과 결상 광학계의 광축이 기울어져 있을 경우 등차수면이 휘는 경우와 물체의 절대 좌표계에 대해서 기울어지는 경우가 발생하게 되는 문제점이 있다. 이런 현상을 제거하기 위해서, 결상 시스템과 조명 시스템의 광학계가 정확하게 일치하고 서로의 광축이 평행하게 유지되는 텔레센트릭 영사식 모아레로 광학계를 구성해야 한다.

즉, 텔레센트릭 영사식 모아레는 조명 광학계와 결상 광학계는 똑같은 시스템으로 서로 대칭적으로 구성하고, 측정 대상에 모아레 격자를 주사하고, 그 상을 결상하기 위해 55㎜ 접사 렌즈를 사용한다. 여기서, 접사 렌즈를 사용하는 이유는 물체와 측정물 사이의 거리가 최소한 250㎜로 5배의 확대율을 사용하므로 표준 렌즈를 사용하면 등차수면의 휨 현상이 발생하기 때문이다. 또한, 측정 분해능을 높이기 위해서 측정 물체와 프루브 사이의 거리가 적을수록 유리하게 된다. 이러한 구조적 요구를 만족하는 프로젝션 렌즈(90), 결상 렌즈(98)는 접사 렌즈로 근거리에서 수차가 최대한 보정되어 있기 때문이다.

한편, 위상 천이 간섭계의 기본적인 개념은 간섭계에서 사용되는 기준파와 측정파 사이에 시간에 따라 변하는 위상 이송을 줌으로서 원하는 측정파와 기준파 사이의 광경로 차이를 형성된 간섭 무늬로부터 알아내는 것이다. 즉, 한 측정점에서 위상 이송을 함에 따라 간섭 무늬의 광강도가 변하게 되며 이를 이용하여 높이 정보와 비례하는 위상 천이량을 구함으로서 측정하고자 하는 표면의 높이 정보를 얻을 수 있다. 이를 위상 천이법이라 한다.

영사식 모아레에서 위상 천이를 시키기 위해서는 기준 격자(94)와 프로젝션 격자(88)간의 상대적인 이동을 시킨다. 격자 이송에 의한 위상 천이법의 경우, 기준 격자(94)는 격자의 1피치의 거리를 측정 알고리즘에 따라 5, 6등분하여 이동시킨다. 기준 격자(94)가 40라인/㎜인 경우, 25㎛를 5, 6등분하기 위해 ㎛단위의 구동 분해능을 낼 수 있는 스테이지(86)위에서 이동해야 한다. 이동시의 제약 조건은 이동된 후에도 두 격자는 같은 평면에 존재하고, 프로젝션 격자(88)에 대하여 이동한 격자는 상대적인 롤링, 피칭, 요잉이 없어야 한다.

전술한 원리를 바탕으로 하는, 도 3에 도시된 광학 계산부(40)의 동작 과정은 다음과 같다. 즉, 일단 광학 계산부(40)가 도 2에 도시된 장치에서 지정위치로 이동이 완료되면, 카메라(80)가 한 번의 영상을 얻는다[이하, 그래빙(grabbing)이하 한다]. 얻어진 영상 신호 즉, 모아레 영상은 도 2에 도시된 프레임 그래버(60)에 저장된다. 위상 천이를 하기 위해서 이동부(86)에 내장된 모터를 구동하여 프로젝션 격자(88)와 기준 격자(94)를 미소량 이송한다. 그리고, 이 때 다시 그래빙한다. 이 과정을 5, 6회 반복한 뒤, 도 2에 도시된 프레임 그래버(60)에 이 때까지 반복된 모아레 영상을 연속적으로 저장한다.

주 제어부(68)는 프레임 그래버(60)에 연속적으로 저장된 영상 정보들을 독출하여 모아레 간섭 무늬를 해석하여 위상 천이량을 계산하고, 이로부터 물체의 높이를 산출한다. 산출한 결과는 제1디스플레이부(56)에 나타난다. 일단 PCB(46) 상의 지정된 위치에 대한 검사가 이루어지면 다음 위치로 광학 계산부(40)를 이동하고, 전술한 과정을 반복하여 기판(46)의 전 영역에 대한 검사를 완료한다. 검사가 완료되면, 주 제어부(68)는 컨베이어 제어부(70)로 검사가 완료되었다는 신호를 보내고, 이를 받은 컨베이어 제어부(70)는 스토퍼 실린더(52)를 하강시키고, 컨베이어 구동 모터(54)를 구동하여 검사 기판(46)을 배출함으로서 검사가 종료된다.

한편, 조명 밝기 조절을 위한 조명제어부(62)와 위상천이를 위한 이동 제어부(64), 카메라(80)로부터 검출된 모아레 무늬를 영상정보로 저장하는 프레임 그래버(60)는 모두 주 제어부(68)의 제어를 받아 해당하는 기능을 수행한다.

이하, 본 발명에 의한 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 방법을 첨부한 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다.

도 4는 도 2에 도시된 장치에서 수행되는 본 발명에 의한 크림 납 검사 방법을 설명하기 위한 플로우차트로서, PCB로부터 영상을 획득하여 잡음을 제거하는 단계(제200∼204단계), 크림 납에 대한 영역을 추출하고, 검사할 목표에 따라 형상 데이터를 추출하는 단계(제206∼212단계), 형상 데이타와 기준치를 비교하여 인쇄 상태의 양/불량을 결정하는 단계(제214∼218단계) 및 높이 또는 면적을 계산하여 저장하는 단계(제220 및 222단계)로 이루어진다.

먼저, 측정 헤드인 광학 계산부(40)를 통해 영상을 획득한다(제200단계). 제200단계에서 획득된 영상은 주 제어부(68)내에 설치되어 있는 영상처리부를 통해 PCB 기판(46)의 크림 납 영역을 추출하기 위해 다음과 같은 과정들이 수행된다. 즉, 헤드를 통해 축적된 영상에는 격자판들(88 및 94)에 새겨진 그림자가 줄무늬 형식으로 나타나고, 이것의 영상 해석에 있어 잡음으로 작용할 수 있으므로 FFT(Fast Fourier Transform)분석 및 IFFT(Inverse FFT) 분석을 통해 주기적인 잡음 성분인 격자 그림자를 제거한 영상을 획득한다(제202단계).

제202단계후에, 얻어진 영상을 통해서도 영상분석에 방해되는 불규칙한 잡음이 있기 때문에 여러가지 잡음 제거를 위한 필터링 등 일련의 전처리과정을 수행한다(제204단계). 제204단계후에, 얻어진 영상에 대하여 엣지를 추출하고 크림 납에 해당하는 영역만을 추출한다(제206단계). 제206단계후에, 크림 납의 부피를 계산할 것인가 높이를 계산할 것인가를 판단한다(제208단게). 만일, 크림 납의 부피를 계산하고자 하는 경우, 추출된 납 영역의 윤곽선을 추출하고 면적 및 중심을 계산하여 형상 데이타를 추출한다(제210단계). 그러나, 크림 납의 높이를 게산하고자 하는 경우, 3차원 정보를 얻기 위해서는 납 영역에 대하여 즉, 납에 해당하는 영역에서의 해당 좌표점에 대한 광 강도 분포를 계산하고, 측정 위상을 계산한 뒤, 위상을 정렬하여, 3차원의 영상 정보인 형상 데이터를 획득한다(제212단계). 제212단계에서, 측정 위상을 계산하는 방법에는 알려진 여러가지 방법이 있으나 여기서는 임의 간격 위상 이송 측정법을 이용한다.

제210단계 또는 제212단계후에, 즉 형상 데이터를 추출한 후에, 형상 데이타가 기준치 이상인가를 판단한다(제214단계). 형상 데이타가 기준치 이상으로 면적이 넓거나 좁을 경우, 중심이 벗어나 경우등을 인쇄 불량으로 간주하여 검사한 PCB의 인쇄상태를 불량으로 결정한다(제216단계). 그러나, 형상 데이타가 기준치이내에 있을 경우에는, 인쇄 상태가 양호한 것으로 결정한다(제218단계).

제218단계후에, 3차원의 높이 정보를 이용해서 납의 평균 높이를 계산할 수 있고, 2차원 측정에서 얻어진 결과들과 결합하여 부피(평균 높이 * 면적)를 측정한다(제220단계). 제220단계후에, 각각의 패드에 대하여 고유 번호를 부여하고, 2차원 및 3차원 측정 결과가 저장된 화일의 해당 패드에 연결하여 주 제어부(68)에 파일로 보관한다(제222단계).

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치 및 방법은 1㎛수준의 높은 분해능으로 크림 납의 높이 및 부피 측정이 가능하므로 현재의 인쇄 조건과 인쇄 상태의 분석 결과를 이용하여 고신뢰성의 인쇄 조건 산출이 용이하며, 고속 및 고분해능 인 라인 크림 납 검사가 가능해짐으로서 안장된 PCB기판의 생산이 가능하고 이후의 인쇄 공정과 밀접한 관련이 있는 부품 장착 공정, 납땝 공정에서의 불량을 현격히 줄임으로서 생산성 및 최종 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (12)

1. 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치에 있어서,

   상기 크림 납을 촬영하여 상기 크림 납의 영상 및 이송된 상기 크림 납의 영상들을 반복적으로 획득하고 저장하여 출력하는 광학 계산 수단;

   위치 제어 신호에 응답하여 상기 광학 계산 수단을 3차원적으로 이동시키는 위치 조정 수단;

   측정할 인쇄 회로 기판을 컨베이어 제어신호에 응답하여 이동, 정지 또는 배출하는 인쇄 회로 기판 운반 수단; 및

   상기 위치 제어신호 및 상기 컨베이어 제어신호를 발생하고, 상기 광학 계산 수단으로부터 입력한 상기 영상들을 이용하여 상기 크림 납의 높이를 계산하는 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치는

   상기 제어 수단에서 계산된 상기 크림 납의 높이에 대한 정보를 디스플레이하는 제1디스플레이수단; 및

   상기 광학 계산수단에서 촬영한 영상을 디스플레이하는 제2디스플레이수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 광학 계산 수단은

   광원;

   상기 광원으로부터 발생된 광을 통과시키는 프로젝션 격자;

   상기 프로젝션 격자를 통과한 상기 광을 상기 크림 납으로 조사하는 프로젝션 렌즈;

   상기 크림 납의 형상에 따라 변화되는 상을 통과시키는 결상 렌즈;

   상기 결상 렌즈를 통과한 상기 상을 결상시키기 위해, 상기 프로젝션 격자와 수평하게 위치하는 기준 격자;

   상기 기준 격자에 결상된 상을 촬상하는 카메라;

   상기 카메라와 상기 기준 격자 사이에 위치하는 현미경 푸르브; 및

   상기 프로젝션 격자와 상기 기준 격자를 수평방향으로 이동 제어신호에 응답하여 소정 거리 이동시키기 위한 이동수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
4. 상기 제1항 또는 제3항에 있어서, 상기 광학 계산 수단은 텔레센트릭 영사식 모아레로 구성되고, 상기 제어수단은 위상 천이량에 따라 상기 크림 납의 높이를 계산하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
5. 제4항에 있어서, 상기 제어수단은

   상기 위치 제어신호를 발생하는 위치 제어 수단;

   주 제어신호에 응답하여 상기 컨베이어 제어신호를 발생하는 컨베이어 제어수단;

   상기 카메라의 조명 밝기를 제어하는 조명 제어 수단;

   상기 이동 제어신호를 발생하는 이동 제어 수단; 및

   상기 카메라로부터 입력한 영상 신호를 해석하여 상기 크림 납의 높이를 계산하고, 상기 위치 제어수단, 상기 컨베이어 제어수단, 상기 조명 제어수단 및 상기 이동 제어 수단들을 제어하는 주 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
6. 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치에 있어서,

   상기 크림 납을 촬영하여 상기 크림 납의 영상 및 이송된 상기 크림 납의 영상들을 반복적으로 획득하여 저장하고 출력하는 광학 계산 수단;

   위치 제어 신호에 응답하여 상기 광학 계산 수단을 2차원적으로 이동시키는 위치 조정 수단;

   측정할 인쇄 회로 기판을 컨베이어 제어신호에 응답하여 이동, 정지 또는 배출하는 인쇄 회로 기판 운반 수단; 및

   상기 위치 제어신호 및 상기 컨베이어 제어신호를 발생하고, 상기 광학 계산 수단으로부터 출력되는 상기 영상들을 이용하여 상기 크림 납의 부피를 계산하는 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
7. 제6항에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치는

   상기 제어 수단에서 계산된 상기 크림 납의 부피에 대한 정보를 디스플레이하는 제1디스플레이수단; 및

   상기 광학 계산수단에서 촬영한 영상을 디스플레이하는 제2디스플레이수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
8. 제6항에 있어서, 상기 광학 계산 수단은

   광원;

   상기 광원으로부터 발생된 광을 통과시키는 프로젝션 격자;

   상기 프로젝션 격자를 통과한 상기 광을 상기 크림 납으로 조사하는 프로젝션 렌즈;

   상기 크림 납의 형상에 따라 변화되는 상을 통과시키는 결상 렌즈;

   상기 결상 렌즈를 통과한 상기 상을 결상시키기 위해, 상기 프로젝션 격자와 수평하게 위치하는 기준 격자;

   상기 기준 격자에 결상된 상을 촬상하는 카메라;

   상기 카메라와 상기 기준 격자 사이에 위치하는 현미경 푸르브; 및

   상기 프로젝션 격자와 상기 기준 격자를 수평방향으로 이동 제어신호에 응답하여 소정 거리 이동시키기 위한 이동수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
9. 상기 제6항 또는 제8항에 있어서, 상기 광학 계산 수단은 텔레센트릭 영사식 모아레로 구성되고, 상기 제어수단은 위상 천이량에 따라 상기 크림 납의 높이를 계산하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 제어수단은

    상기 위치 제어신호를 발생하는 위치 제어 수단;

    주 제어신호에 응답하여 상기 컨베이어 제어신호를 발생하는 컨베이어 제어수단;

    상기 카메라의 조명 밝기를 제어하는 조명 제어 수단;

    상기 이동 제어신호를 발생하는 이동 제어 수단; 및

    상기 카메라로부터 입력한 영상 신호를 해석하여 상기 크림 납의 부피를 계산하고, 상기 위치 제어수단, 상기 컨베이어 제어수단, 상기 조명 제어수단 및 상기 이동 제어 수단들을 제어하는 주 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치.
11. 텔레센트릭 영사식 모아레로 구성되어 있으며, 위상 천이량에 따라 상기 크림 납의 부피를 계산하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 장치에서 수행되는 크림 납 검사 방법에 있어서,

    상기 인쇄 회로 기판에 대한 영상을 획득하는 단계;

    상기 획득된 영상으로부터 잡음을 제거하는 단계;

    상기 잡음이 제거된 영상으로부터 엣지 성분을 검출하고, 상기 크림 납에 대한 영역을 추출하는 단계;

    상기 크림 납의 부피를 검사할 것인가 높이를 검사할 것인가를 판단하는 단계;

    상기 크림 납의 부피를 검사하고자 할 경우, 윤곽선을 검출하고 면적과 중심을 계산하여 부피에 대한 형상 데이타를 산출하는 단계;

    상기 크림 납의 높이를 검사하고자 할 경우, 측정점에서의 광강도 분포 및 측정위상을 계산하고, 위상을 정렬하여 높이에 대한 형상 데이타를 산출하는 단계;

    상기 형상 데이타가 기준치 이상인가를 판단하는 단계;

    상기 형상 데이타가 상기 기준치 이상이면, 상기 인쇄 회로 기판의 인쇄 상태를 불량한 것으로 결정하는 단계; 및

    상기 형상 데이타가 상기 기준치 이하이면, 상기 인쇄 회로 기판의 인쇄 상태가 양호한 것으로 결정하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 방법.
12. 제11항에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 방법은

    상기 인쇄 상태가 양호한 것으로 결정난 뒤에, 상기 형상 데이터를 이용하여 상기 높이 또는 상기 면적을 계산하는 단계; 및

    상기 계산된 높이 또는 상기 면적에 고유 번호를 지정하여 저장하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 크림 납 검사 방법.

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