[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR0152885B1 - Classifying method of soldering for pcb - Google Patents

Classifying method of soldering for pcb Download PDF

Info

Publication number
KR0152885B1
KR0152885B1 KR1019950017517A KR19950017517A KR0152885B1 KR 0152885 B1 KR0152885 B1 KR 0152885B1 KR 1019950017517 A KR1019950017517 A KR 1019950017517A KR 19950017517 A KR19950017517 A KR 19950017517A KR 0152885 B1 KR0152885 B1 KR 0152885B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
stage
soldering
image
lighting
extracting
Prior art date
Application number
KR1019950017517A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR970004990A (en
Inventor
정영기
Original Assignee
문정환
엘지산전주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, 엘지산전주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019950017517A priority Critical patent/KR0152885B1/en
Publication of KR970004990A publication Critical patent/KR970004990A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR0152885B1 publication Critical patent/KR0152885B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • H05K1/0269Marks, test patterns or identification means for visual or optical inspection
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법에 관한 것으로, 종래에는 3단 칼라 형광조명방식은 R.G.B환형의 형광조명을 3단의 층을 두어 동시에 물체에 조사하여 영상을 얻은 방법이나 형광 조명원은 경제적인 링형 구조의 광원으로 적합하나 사용시간이 경과할수록 광원이 불균일한 조도를 나타내며 검사영역에 대한 광의 집중도가 떨어지기 때문에 취득된 영상에서 다른 칼라성분이 섞여서 나오므로 R.G.B영역을 정확하게 나누기가 어려워 검사의 신뢰성을 떨어지게 하는 문제점이 있다. 따라서, 본 발명은 조명원을 엘이디(LED)조명을 사용함으로써 빛의 직진성이 뛰어나 납땜영역에 대한 집중도를 높일 수 있고 사용시간에 따라 균일한 세기를 유지할 수 있도록 한 3단의 엘이디조명을 이용하게 되는데, 먼저 3단 영상에서 검사영역의 위치정보만 추출한 후 1단과 2단, 1단과 3단의 특징추출에 이용하여 검사시간을 줄일 수 있도록 한다.The present invention relates to a method for classifying solder states of a printed circuit board. In the related art, a three-stage color fluorescence illumination method is a method in which an image is obtained by simultaneously irradiating an object with three stages of RGB circular fluorescence illumination in three layers. It is suitable as an economical ring-shaped light source, but as the use time elapses, the light source shows uneven illumination and concentration of light in the inspection area decreases, so it is difficult to accurately divide the RGB area because different color components are mixed in the acquired image. There is a problem that reduces the reliability of the. Therefore, in the present invention, the LED is used as an illumination source, so that the linearity of the light is excellent, so that the concentration of the soldering area can be increased, and the three-level LED lighting can be maintained to maintain uniform intensity according to the use time. First, only the location information of the inspection area is extracted from the three-stage image, and then the inspection time can be reduced by extracting the features of the first and second stages.

Description

인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.Method of classifying solder state of printed circuit board.

제1도는 종래 납땜 검사장치의 전체구성도.1 is an overall configuration diagram of a conventional soldering inspection device.

제2도는 제1도에서, 형광 조명장치 및 납땜의 반사특성도.2 is a reflection characteristic of the fluorescent lighting apparatus and the solder in FIG.

제3도는 제2도의 3단 칼라 조명을 이용하여 얻은 영상패턴도.3 is an image pattern diagram obtained using the three-stage color illumination of FIG.

제4도는 종래 납땜 검사장치의 납땜 분류방법에 대한 과정도.4 is a process chart for the solder classification method of the conventional solder inspection apparatus.

제5도는 본 발명의 납땜 검사장치 구성도.5 is a block diagram of a soldering inspection device of the present invention.

제6도는 제5도에서의 조명장치 구성도.6 is a configuration diagram of the lighting apparatus in FIG.

제7도는 검사할 납땜의 종류 및 유형도.7 shows the type and type of solder to be tested.

제8도는 조명 각도에 대한 납땜의 반사특성도.8 is a reflection characteristic of the solder with respect to the illumination angle.

제9도는 본 발명 인쇄기판의 납땜상태 분류방법에 대한 과정도.9 is a process diagram for the soldering state classification method of the printed circuit board of the present invention.

제10도는 정상, 납부족인 리드의 3단 조명영상도.10 is a three-stage illumination image of a lead, which is normal and insufficient.

제11도는 제9도에서의 납땜영역 추출결과 영상도.11 is an image showing the result of soldering region extraction in FIG.

제12도는 각 분류 타입에 대한 영상도.12 is an image diagram for each classification type.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

18 : 영상취득부 18 : 카메라18: image acquisition unit 18: camera

19 : 조명장치 20 : 조명콘트롤러19: lighting device 20: lighting controller

21 : 호스트 22 : 테이블21: host 22: table

23 : 기판 24 : 부품23: substrate 24: parts

24a : 리드 24b : 납땜24a: Lead 24b: Solder

25c : 패드25c: pad

본 발명은 영상을 이용하여 표면실장 피씨비(PCB)의 납땜상태를 자동으로 검사하기 위한 것으로, 특히 조사 각도가 다른 링형의 3단 엘이디(LED) 조명을 사용하여 세개의 영상을 입력하고 그 입력영상으로 부터 납땜상태를 분류하도록 한 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법에 관한 것이다.The present invention is to automatically check the soldering state of the surface-mounted PCB (PCB) by using an image, in particular, input three images using a ring-shaped three-stage LED (LED) with different irradiation angles and the input image It relates to a soldering state classification method of a printed circuit board to classify the soldering state from.

표면실장 기술의 발달로 많은 프린트 기판의 부품들은 고밀도 및 표면실장화가 급격히 이루어지고 있다.With the development of surface mount technology, many printed circuit board components have been rapidly made high density and surface mount.

그러나 이들에 대한 부품검사는 부품자체의 고밀도화로 인해 더욱 어려워지고 있는 실정이고 인간이 행하는 검사도 많은 불량율을 보이고 있음에 따라 실제로 제조분야에서는 인간을 대신할 수 있고, 또한 빠른 처리를 할 수 있는 납땜 시각 검사장치에 대한 요구가 많아지고 있다.However, the parts inspection for these parts is becoming more difficult due to the densification of the parts themselves, and the inspections performed by humans also show a lot of defects, so that in the manufacturing field, it is possible to substitute for humans and also to perform fast processing. There is a growing demand for visual inspection devices.

검사대상 부품으로는 QFP, SOP, 각형 CHIP, PLCC, SOJ등이 있고 납땜검사항목은 납땜유무, 납땜과다, 납땜부족, 브릿지등이 있다.The inspection target parts are QFP, SOP, square chip, PLCC, SOJ, etc. The soldering inspection items are soldering presence, soldering excess, soldering shortage and bridge.

프린트 기판의 납땜검사는 그 검사대상인 납땜의 크기가 작으며, 표면의 반사가 크고, 3차원적인 영상 해석을 해야함에 따라 검사장치의 조명구조 및 조명원에 따라 크게 영향을 받게 된다.Soldering test of the printed board is largely affected by the lighting structure and the illumination source of the inspection apparatus as the size of the solder to be inspected is small, the reflection of the surface is large, and three-dimensional image analysis is required.

따라서, 제조분야에서 인간을 대신하며 빠른시간내에 처리할 수 있는 납땜시각 검사장치의 전체구성은 제1도에 도시된 바와같이 검사대상의 기판이 놓이는 테이블(6)과, 전체시스템의 관장 및 검사를 수행하는 호스트(5)와, 상기 테이블(6)위의 기판에 R.G.B 3색의 링형 조명을 다층으로 여러 각도에서 조사하여 하나의 영상을 얻을 수 있도록 하는 형광조명장치(3)와, 상기 호스트(5)의 제어출력에 따라 형광 조명장치(3) 3단의 조명을 동시에 온(ON) 또는 오프(OFF)하는 조명 제어부(4)와, 상기 조명 제어부(4)의 조명제어에 따른 기판의 영상을 읽어들이는 카메라(2)와, 상기 카메라(2)를 통해 기판의 납땜부분 영상을 취득하는 영상취득부(1)로 구성된다.Therefore, the overall configuration of the soldering time inspection apparatus that can be processed quickly on behalf of humans in the manufacturing field is as shown in FIG. 1, the table 6 on which the substrate to be inspected is placed, and the director and inspection of the entire system. A host (5) for performing a light, a fluorescent lighting device (3) for irradiating an RGB three-color ring-shaped illumination onto a substrate on the table (6) in multiple layers in multiple angles, and obtaining one image; According to the control output of (5), the lighting control unit 4 for simultaneously turning on or off the illumination of the three stages of the fluorescent lighting device 3, and the substrate according to the lighting control of the lighting control unit 4 It consists of a camera 2 for reading an image, and an image acquisition unit 1 for acquiring an image of a soldered part of the substrate through the camera 2.

이와같이 구성된 종래의 기술에 대하여 상세히 살펴보면 다음과 같다.Looking at the prior art configured as described above in detail.

테이블(6)위에 제2도에서와 같이 납땜(8)에 의해 부품(9)이 장착된 검사대상인 기판(7)이 놓여지게 되면, 그 기판(7)위에 부품(9)이 납땜되어지게 되는데 그 납땜(8) 부위를 검사하기 위하여 호스트(5)에서 조명제어부(4)로 조명을 온(ON)하기 위한 제어신호를 출력한다.When the inspection target substrate 7 on which the component 9 is mounted is placed on the table 6 as shown in FIG. 2, the component 9 is soldered onto the substrate 7. In order to inspect the soldering 8 part, a control signal for turning on the lighting from the host 5 to the lighting control unit 4 is output.

이에 상기 조명 제어부(4)가 형광 조명장치(3)를 제어하여 3단의 칼라형광조명(3a)(3b)(3c)을 동시에 온시킨다.The lighting control unit 4 controls the fluorescent lighting device 3 to turn on three color fluorescent lights 3a, 3b, 3c at the same time.

여기서, 상기 3단의 칼라형광조명(3a)(3b)(3c)은 환형의 형태를 가지고 있으며, 맨 아래단의 조명(3a)은 적색(Read), 중간단의 조명(3b)은 녹색(Green), 맨 위단의 조명(3c)은 파란색(Blue)의 성분들로 이루어져 있으며, R,G,B조명을 검사하려는 물체에 동시에 조사하여 얻은 영상은 물체 표면의 곡률에 따라 반사되는 색이 다르게 나타나게 되는데, 이 3단 칼라 형광조명방식은 이러한 원리를 이용한 것이다.Here, the three-stage color fluorescent light (3a) (3b) (3c) has an annular shape, the bottom light (3a) is red (Read), the middle light (3b) is green ( Green), the topmost light (3c) consists of components of blue, and the image obtained by irradiating R, G, and B lights simultaneously on the object to be examined has different colors reflected depending on the curvature of the object surface. This three-stage color fluorescence illumination method uses this principle.

그러면 카메라(2)는 호스트(5)의 제어하에 형광 조명장치(3)가 기판(7)의 납땜(8)부분에 동시에 조사할 때 반사되는 영상을 읽어들여 영상취득부(1)로 제공한다.Then, the camera 2 reads the image reflected when the fluorescent lighting device 3 simultaneously irradiates the soldering 8 portion of the substrate 7 under the control of the host 5 and provides the image to the image acquisition unit 1. .

즉, 제3도 (a)에서와 같은 납땜 부분에 동시에 조사하게 되면 반사되어 카메라(2)를 통하여 영상취득부(1)에 제3도 (b)에서와 같은 영상이 취득된다.That is, when simultaneously irradiating the soldered portion as shown in FIG. 3 (a), it is reflected and the image as shown in FIG. 3 (b) is acquired by the image acquisition unit 1 through the camera 2.

이때 취득된 영상은 R,G,B의 세영역으로 분리되는데 그 세영역을 분리하기 위하여 색(hue)의 값에 따라 각 영역을 추출하는데, 가령 적색(R)영역의 추출방법은 전체의 이미지에서 적색성분만 추출하여 미리 정해진 값 이상의 값만 선택한 후 이 영역의 어느정도 크기 이상이면 적색영역의 중심을 계산한다.At this time, the acquired image is divided into three areas of R, G, and B. In order to separate the three areas, each area is extracted according to the hue value. Extracts only the red component from, selects only the value above the predetermined value, and calculates the center of the red area if it is above a certain size.

영역의 중심에 대한 계산방법은 추출된 영역 외부에 접하는 외각 사각형을 그리면 그 접하는 부분과 꼭지점 사이가 반지름이 되고 그 접하는 부분을 이용하여 영역의 중심을 알 수 있다.In the calculation method for the center of the region, if you draw an outer rectangle contacting the outside of the extracted region, the radius between the contact portion and the vertex becomes a radius and the center of the region can be known using the contact portion.

이와같은 방법으로 납땜영역을 R,G,B의 세영역으로 나누게 되면, 제3도의 (c)내지 (d)에서와 같고 그 영역의 면적과 모양에 따라 납땜이 정상, 납부족, 납과다등으로 분류할 수 있게 된다.In this way, if the soldering area is divided into three areas of R, G, and B, as shown in (c) to (d) in FIG. 3, soldering is normal, insufficient lead, excessive lead, etc. according to the area and shape of the area. Can be classified as.

상기 과정에 대하여 제4도에 의거하여 다시한번 살펴보면, 먼저 3단 칼라조명(3a0(3b)(3c)을 동시에 온하게 되면 기판(7)의 납땜(8) 부분에 반사되어 카메라(2)를 통해 영상취득부(1)로 영상이 입력되면, 그 입력된 영상으로 부터 R,G,B의 영역을 분리하고 그 분리한 각 영역의 크기및 모양을 추출하여 납땜상태를 분류한다.Referring to the above process again based on FIG. 4, first, when the three-stage color lights 3a0 (3b) and 3c are turned on at the same time, the camera 2 is reflected by the soldering 8 portion of the substrate 7. When an image is input to the image acquisition unit 1 through the input image, the R, G, and B regions are separated from the input image, and the size and shape of each separated region are extracted to classify the soldering state.

그러나, 상기에서와 같은 종래기술은 3단 칼라 형광조명방식은 R,G,B환형의 형광조명을 3단의 층을 두어 동시에 물체에 조사하여 영상을 얻은 방법이나 형광 조명원은 경제적인 링형 구조의 광원으로 적합하나 사용시간이 경과할수록 광원이 불균일한 조도를 나타내며 검사영역에 대한 광의 집중도가 떨어지기 때문에 취득된 영상에서 다른 칼라성분이 섞여 나오므로 R,G,B영역을 정확하게 나누기가 어려워 검사의 신뢰성을 떨어지게 하는 문제점이 있다.However, in the conventional technology as described above, the three-stage color fluorescence illumination method is a method of obtaining an image by irradiating an object with three layers of fluorescence illumination of R, G and B annular layers at the same time. Although it is suitable as a light source of the light source, the light source shows uneven illumination as the use time elapses and the concentration of light in the inspection area decreases, so it is difficult to accurately divide the R, G, and B areas because different color components are mixed in the acquired image. There is a problem that reduces the reliability of the.

따라서, 본 발명의 목적은 조명원을 엘이디(LED)조명을 사용함으로써 빛의 직진성이 뛰어나 납땜영역에 대한 집중도를 높일 수 있고 사용시간에 따라 균일한 세기를 유지할 수 있도록 한 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to use a LED light source for the illumination source is excellent in the straightness of the light to increase the concentration in the soldering area and the soldering state of the printed circuit board to maintain a uniform intensity according to the use time To provide a classification method.

본 발명의 다른 목적은 3단 영상에서 검사영역의 위치정보만 추출한후 1단과 2단, 1단과 3단의 특징추출에 이용하여 검사시간을 줄일 수 있도록 한 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a soldering state classification method of a printed circuit board to reduce inspection time by extracting only the location information of the inspection area from the three-stage image and extracting the features of the first and second stages. Is in.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 검사대상인 보드 입력시 3단 조명을 온(ON)할 경우 영상입력에 대하여 납땜영역을 추출하는 납땜영역 추출단계와; 상기 단계에서 납땜영역 추출완료시 1단과 3단의 평균밝기와 1단과 2단의 하이라이트 갯수를 이용하여 특징값을 추출하는 특징값 추출단계와; 상기 단계에서 얻은 특징값을 이용하여 납땜상태를 분류하는 납땜분류단계로 이루어진다.The present invention for achieving the above object is a soldering region extraction step of extracting the soldering region with respect to the image input when the three-stage lighting on (ON) when the board input subject to inspection; A feature value extraction step of extracting feature values by using the average brightness of the first stage and the third stage and the number of highlights of the first stage and the second stage when the extraction of the soldering region is completed; A solder classification step is used to classify the solder state using the feature values obtained in the above step.

상기 각 단계로 이루어진 방법을 수행하기 위한 장치는 제5도에 도시한 바와같이 검사대상의 보드가 놓여지는 테이블(22)과, 전체시스템의 관장 및 검사를 수행하는 호스트(21)와, 상기 테이블(22)위의 보드에 3단 환형의 엘이디(LED) 조명을 다층으로 여러각도에서 조사하여 하나의 영상을 얻을 수 있도록 하는 조명장치(19)와, 상기 조명장치(19)에 3단의 조명을 번갈아 가면서 온(ON) 또는 오프(OFF)하는 조명콘트롤러(20)와, 상기 조명 콘트롤러(20)의 조명제어에 따른 기판의 영상을 읽어들이는 카메라(18)와, 상기 카메라(18)를 통해 기판의 납땜부분 영상을 취득하는 영상 취득부(17)로 구성된다.The apparatus for performing the method consisting of the above steps includes a table 22 on which a board to be inspected is placed as shown in FIG. 5, a host 21 for administering and inspecting the entire system, and the table. (22) The lighting device 19 to obtain a single image by irradiating a three-stage annular LED (LED) light on multiple boards in multiple angles on the board, and the three-stage lighting on the lighting device (19) Lighting controller 20 alternately turning on or off, a camera 18 reading an image of a substrate according to the lighting control of the lighting controller 20, and the camera 18 It consists of an image acquisition part 17 which acquires the solder part image of a board | substrate through.

이와같이 구성된 본 발명의 동작 및 작용효과에 대하여 제5도 내지 제12도에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation and effect of the present invention configured as described above will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 12 as follows.

사용자가 테이블(22)위에 검사할 보드를 올려놓게 되면, 호스트(21)가 조명 콘트롤러(20)로 조명을 온(ON)하기 위한 신호를 출력함에 따라 상기 조명콘트롤러(20)는 조명장치(19)에 3단 엘이디(LED)조명(19a)을 온시키기 위한 구동신호를 출력한다.When the user puts the board to be examined on the table 22, the lighting controller 20 outputs a signal for turning on the lighting to the lighting controller 20. ) Outputs a driving signal for turning on the three-level LED lighting 19a.

상기에서 엘이디조명을 사용하는 이유는 빛의 직진성이 뛰어나 납땜영역에 대한 집중도를 높일 수 있고, 사용시간에 따라 세기를 유지할 수 있기 때문이다.The reason for using the LED lighting is because it is excellent in the straightness of the light can increase the concentration in the soldering area, it is possible to maintain the intensity according to the use time.

그리고, 납땜의 표면은 난반사 성질이 거의 없고 대부분 전반사 성질을 갖기 때문에 조명의 입사각을 변화시키면서 조사를 하면 표면 형태에 따라 반사강도가 달라진다.Since the surface of the solder has almost no diffuse reflection property and most of the total reflection property, the reflection intensity varies depending on the shape of the surface when irradiated with varying the incident angle of illumination.

이때 제8도에서 실선은 조명의 입사각(41)이고, 점선이 가리키는 방향은 카메라의 시선방향(42)이며, 굵은 선은 표면의 접선방향(40)을 나타내는 것으로, 전반사 특성을 갖는 물체의 경우 반사특성은 빛의 입사각과 반사각을 법선벡터가 양분하게 된다.In this case, in FIG. 8, the solid line is the angle of incidence 41 of the illumination, the direction indicated by the dotted line is the visual direction 42 of the camera, and the thick line represents the tangential direction 40 of the surface. In the reflection characteristic, the normal vector is divided into the incident angle and the reflected angle of light.

따라서, 리드(24a)부분에 가까운 a부분은 법선벡터가 45도 정도이므로 수평에 가까운 각도에서 빛을 조사하여야 밝게 반사되고, 패드(24b)에 가까운 c부분의 경우는 법선벡터가 수직에 가까우므로 수직에 가까운 각도에서 조사하였을 때가 가장 밝게 반사된다.Therefore, the portion a close to the lead 24a has a normal vector of about 45 degrees, so it is brightly reflected only when the light is irradiated at an angle close to the horizontal, and the portion c close to the pad 24b has a normal vector close to the vertical. The light is reflected most brightly when irradiated at an angle close to the vertical.

결국 제8도에서 3단, 2단, 1단의 엘이디조명의 각도는 25도, 45도, 75도로 구성한다.As a result, the angles of the LED lighting of the third, second, and first stages of FIG. 8 are 25 degrees, 45 degrees, and 75 degrees.

이에 상기 조명장치(19)의 3단 엘이디조명(19a)이 온됨에 따라 영상취득부(17)는 카메라(18)를 통해 영상을 입력받는다.As the three-stage LED lighting 19a of the lighting device 19 is turned on, the image acquisition unit 17 receives an image through the camera 18.

상기 카메라(18)를 통해 영상이 입력되면 그 영상에 대하여 호스트(21)는 이진화및 프로젝션(projection)을 거쳐서 납땜부위를 정확하게 찾아내는데, 이는 제10도에서와 같이 리드(24a)와 패드(24b) 사이의 부분을 찾아내는 것이다.When the image is input through the camera 18, the host 21 accurately finds the soldering part through binarization and projection, which is the lead 24a and the pad 24b as shown in FIG. To find the part in between.

상기에서와 같이 3단 엘이디조명(19a)을 이용할 경우 제7도 (a)에서와 같이 정상적인 것과, (b)에서와 같이 납땜이 없는 것 즉, 리드(24a)와 패드(24b)가 모두 전반사에 가까운 특성을 보이기 때문에 어두운 부분이 나타나지 않아 영역분할을 할 수 없는 것으로 제12도의 (b)에서 최우측 리드와 같은 것이 있고, (c)에서와 같이 납땜부족인 것 즉, 제10도에서와 같이 리드(24a)와 패드(24b) 사이의 납땜(24c)이 되어있는 부분이 반사특성상 어둡게 나와 서로 분리가 됨을 알 수 있는 것으로 분리된다.When using the three-stage LED lighting (19a) as described above, as shown in Fig. 7 (a) is normal and without solder as shown in (b), that is, both the lead (24a) and the pad (24b) is total reflection Since the dark part does not appear due to the characteristics close to, it is impossible to divide the area, such as the rightmost lead in FIG. 12 (b), and the lack of soldering as in (c), that is, in FIG. Likewise, the soldered portions 24c between the leads 24a and the pads 24b are darkened due to their reflection characteristics and separated from each other.

상기에서 이진화및 프로젝션과정을 통해 얻은 영상으로 부터 분리가 가능하면 이는 정상 또는 납땜 부족상태인 것으로 제11도에서와 같은 납땜영역을 추출하고, 분리가 불가능하면 호스트(21)는 다시 조명 콘트롤러(20)를 제어하여 조명장치(19)의 2단 엘이디 조명(19b)을 온시키도록 한다.If it is possible to separate from the image obtained through the binarization and projection process, it is a normal or poor soldering state and extract the soldering region as shown in FIG. 11, and if it is impossible to separate, the host 21 again the lighting controller 20 ) To turn on the two-stage LED lighting (19b) of the lighting device (19).

따라서 2단 엘이디조명(19b)에 의한 영상을 입력받아 이진화및 프로젝션을 거쳐 제12도 (d)에서와 같은 납땜영역을 추출한다.Accordingly, the soldered region as shown in FIG. 12 (d) is extracted through binarization and projection by receiving the image by the two-level LED lighting 19b.

이상에서와 같이 납땜영역 추출이 끝나면 정상 및 납땜부족상태인 경우에는 특정값 추출을 위하여 호스트(21)의 제어에 의해 2단 엘이디조명(19)을 온하여 그때의 영상을 입력받고 다시 1단 엘이디조명(19c)을 온하여 그때의 영상을 입력받은 다음 1단 및 3단 엘이디 조명(19c)(19a)의 평균밝기값과 1,2단 엘이디조명(19c)(19b)의 하이라이트 갯수를 사용하여 특징값을 추출한다.As described above, in the case of normal and poor soldering state after the extraction of the soldering region, the second stage LED lighting 19 is turned on by the control of the host 21 to extract a specific value, and the image of the stage is input and the first stage LED is again. After the illumination 19c is turned on and the image is input, the average brightness value of the first and third stage LED lights 19c and 19a and the number of highlights of the first and second stage LED lights 19c and 19b are used. Extract feature values.

그리고, 납땜이 없는 경우에는 바로 1단 엘이디조명(19c)을 온하고 그때의 영상입력을 받아들인 뒤 상기에서와 같이 1단 및 3단 엘이디 조명(19c)(19a)의 평균밝기값과 1,2단 엘이디조명(19c)(19b)의 하이라이트 갯수등 4가지를 사용하여 특징값을 추출하는데 이를 아래와 같이 수식으로 표현할 수 있다.If there is no soldering, the first stage LED lighting 19c is immediately turned on and the image input at that time is accepted, and the average brightness values of the first and third stage LED lights 19c and 19a and 1, The feature values are extracted using four types of highlights of the two-stage LED lights 19c and 19b, which can be expressed by the following equation.

여기서 T는 하이라이트 밝기값의 드레쉬홀드(threshold)이다.Where T is the threshold of the highlight brightness value.

이상에서와 같이 특징값은 납땜의 형태를 정량적으로 표현한 것으로서 특징값의 조건이 계산시간이 빨라야하고 동일한 분류(class)에 속하는 개체들의 특징값은 서로 유사한 값을 가져야 하며 서로 다른 분류의 것들은 값의 차이가 많이 나야 한다.As described above, the feature value is a quantitative representation of the type of solder. The condition of the feature value should be quick to calculate, and the feature values of the objects belonging to the same class should have similar values. There should be a lot of difference.

또한 여러개의 특징값들을 이용하면 보다 신뢰성있는 분류가 가능하다.In addition, using multiple feature values enables more reliable classification.

상기 1단에서 평균 밝기값k1은 정상인 경우만 매우 밝게 나타나고 납땜없음과 납땜부족의 경우는 어둡게 나타난다.Average brightness value in the first stage k1 appears very bright only in normal and dark in case of no soldering and poor soldering.

3단의 평균 밝기값k2은 정상인 경우 어둡게 나타나는 반면 납땜부족이나 납땜없음은 상대적으로 높다.3 levels of average brightness k2 appears dark in normal, while lack of soldering and no soldering are relatively high.

전상의 경우 리드(24a)에 가까운 부분은 1단에서 비치는 것이 가장 밝고 3단에서 비치는 부분은 가장 어둡우며, 1단에서 하이라이트k3은 정상의 경우만 나타나고, 2단의 하이라이트k4는 정상인 것과 납땜부족인 경우만 나타나는데 부족인 것은 정상에 비해 상대적으로 작은 값을 갖는다.In case of electric phase, the part near the lead 24a is the brightest in the first stage, the part in the third stage is the darkest, and the highlight in the first stage. k3 appears only in the normal case, two-stage highlight k4 appears only when it is normal and when there is a lack of soldering.

결국 이러한 특성에 따라 납땜상태를 분류하게 된다.Eventually, the solder state is classified according to these characteristics.

이상에서와 같은 동작에 대하여 제9도의 흐름도에 의거하여 다시 한번 살펴보면, 먼저 테이블(22)위에 보드가 놓여지면 조명장치(19)의 3단 엘이디조명(19a)을 온하게 되면 보드를 통해 전반사되는 영상을 카메라(18)가 영상취득부(17)로 전송한다.Referring to the operation as described above based on the flow chart of FIG. 9, when the board is first placed on the table 22, the third stage LED lighting 19a of the lighting device 19 is turned on and totally reflected through the board. The camera 18 transmits the image to the image acquisition unit 17.

그러면 그 전송된 영상에 대하여 호스트(21)는 이진화및 프로젝션을 행하여 리드(24a)와 패드(24b)의 분리가능한가를 체크하여 분리가능하면 이는 정상인 경우와 납땜부족인 경우로 납땜영역을 추출한 후 2단 엘이디조명(19b)을 온한 뒤 그때의 영상을 입력받고 다시 1단 엘이디조명(19c)을 온한 후 그때의 영상을 입력받은 뒤 1,3단의 평균 밝기값과 1,2단의 하이라이트 갯수를 계산하여 특징값을 추출하고 추출한 특징값에 의하여 납땜상태를 분류한다.Then, the host 21 performs binarization and projection on the transmitted image to check whether the lead 24a and the pad 24b can be separated. However, after turning on the LED light (19b) and inputting the video at that time, and turning on the 1st LED lighting (19c) again and receiving the video at that time, the average brightness value of the 1st and 3rd stages and the number of highlights of the 1st and 2nd stages are displayed. Calculate the extracted feature value and classify the soldering state by the extracted feature value.

상기에서 리드(24a)와 패드(24b)의 분리가 불가능하면 이는 납땜없는 경우로 납땜영역을 추출하기 위하여 다시 2단 엘이디조명(19b)을 온한 뒤 그때 입력되는 영상에 대하여 이진화및 프로젝션을 행하여 납땜영역을 추출한다.If it is impossible to separate the lead 24a and the pad 24b from the above, this is a case where there is no soldering. Then, the second stage LED illumination 19b is turned on again to extract the soldering region, and then binarization and projection are performed on the input image. Extract the area.

이후에 1단 엘이디조명(19c)을 온한 후 그때의 영상을 받아들인 후 1,3단의 평균 밝기값과 1,2단의 하이라이트 갯수를 계산하여 특징값을 추출하고 추출한 특징값에 의하여 납땜상태를 분류한다.After the 1st stage LED lighting (19c) is turned on and the image is received, the average brightness value of 1st and 3rd stage and the number of highlights of 1st and 3rd stage are calculated, and the feature value is extracted. Classify

이상에서와 같이 납땜영역 추출및 특징값 추출이 완료되면 그 추출된 특징값으로 납땜상태를 분류한다.As described above, when the soldering region extraction and the feature value extraction are completed, the solder state is classified by the extracted feature values.

이상에서 상세히 설명한 바와같이 본 발명은 빛의 직진성이 뛰어나 납땜영역에 대한 집중도를 높일 수 있고 사용시간에 따라 균일한 세기를 유지할 수 있는 3단의 엘이디(LED)광원을 사용함에 있어 하나의 엘이디조명을 온했을때의 영상에서 검사영역의 위치정보를 추출하고 3단의 엘이디조명으로 특징추출을 수행한 후 그 특징추출에 따라 정확한 납땝상태를 분류가 가능하도록 한 효과가 있다.As described in detail above, the present invention is excellent in the straightness of the light can increase the concentration in the soldering area and using one LED light source of three stages (LED) light source that can maintain a uniform intensity according to the use time It is effective to extract the location information of the inspection area from the image when it is turned on, and to perform feature extraction with 3 levels of LED lighting, and to accurately classify the lead state according to the feature extraction.

Claims (5)

검사대상인 보드 입력시 3단조명을 온(ON)할 경우 영상입력에 대하여 납땜영역을 추출하는 납땜영역추출단계와; 상기 단계에서 납땜영역 추출완료시 1단 조명과 3단 조명의 평균밝기와 1단과 2단 조명의 하이라이트 갯수를 이용하여 특징값을 추출하는 특징값 추출단계와; 상기 단계에서 얻은 특징값을 이용하여 납땜상태를 분류하는 납땜분류단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.A soldering region extraction step of extracting a soldering region with respect to the image input when the 3-stage lighting is turned on when the board to be inspected is input; A feature value extraction step of extracting feature values by using the average brightness of the first stage lighting and the third stage lighting and the number of highlights of the first stage lighting and the second stage lighting when the extraction of the soldering region is completed; Soldering classification method of the printed circuit board, characterized in that consisting of a soldering classification step for classifying the soldering state by using the feature value obtained in the step. 제1항에 있어서, 납땜영역 추출단계는 3단 조명 온시 영상입력에 대하여 이진화및 프로젝션을 수행한 후 리드와 패드의 분리가 가능한가를 체크하는 제1과정과, 상기 제1과정에서 분리가 가능하면 정상및 납땜부족상태로 판단하여 그때의 납땜영역을 추출하는 제2과정과, 상기 제1과정에서 분리가 불가능하면 납땜없음 상태로 판단하여 2단 조명을 온한 후 그때의 영상을 입력받는 제3과정과, 상기 제3과정에서 받아들인 영상에 대하여 이진화및 프로젝션을 행하여 납땜영역을 추출하는 제4과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.The method of claim 1, wherein the step of extracting the soldering region comprises: a first step of checking whether the lead and the pad can be separated after performing binarization and projection on the image input when the three-stage lighting is on; and if the separation is possible in the first step, A second process of extracting a soldering region at that time by determining that it is normal and poor in soldering; and a third process of receiving an image after turning on two-stage lighting by determining that there is no soldering if separation in the first process is impossible And a fourth step of extracting a soldering area by performing binarization and projection on the image received in the third step. 제1항에 있어서, 특징값 추출단계는 납땜영역 추출단계에서 리드와 패드의 분리가 가능하면 바로 2단 조명을 온한 후 그때의 영상을 입력받고 다시 1단 조명을 온한 후 그때의 영상을 입력받는 제1과정과, 1단 조명과 3단 조명의 평균 밝기값을 계산하는 제2과정과, 1단 조명과 2단 조명의 하이라이트 갯수를 계산하는 제3과정과, 상기 제2과정과 제3과정에서 계산한 평균 밝기값과 하이라이트 갯수를 이용하여 특징값을 계산하는 제4과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.The method of claim 1, wherein the extracting of the feature value comprises inputting the image of the second stage light immediately after turning on the second stage light and receiving the image of the same stage after the first stage lighting is turned on if the lead and the pad can be separated in the soldering region extraction step. A first process, a second process of calculating an average brightness value of the first and third stage lights, a third process of calculating the number of highlights of the first and second stage lights, and the second and third processes And a fourth process of calculating a feature value using the average brightness value and the number of highlights calculated in the above. 제1항에 있어서, 조명은 3단의 환형 엘이디(LED)조명을 이용하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.The method of claim 1, wherein the illumination uses three stages of annular LED lighting. 제1항에 있어서, 3단, 2단, 1단의 조명은 각각 25도, 45도, 75도로 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법.The method of claim 1, wherein the three-stage, two-stage, and one-stage illuminations are composed of 25 degrees, 45 degrees, and 75 degrees, respectively.
KR1019950017517A 1995-06-26 1995-06-26 Classifying method of soldering for pcb KR0152885B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950017517A KR0152885B1 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Classifying method of soldering for pcb

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950017517A KR0152885B1 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Classifying method of soldering for pcb

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970004990A KR970004990A (en) 1997-01-29
KR0152885B1 true KR0152885B1 (en) 1998-12-15

Family

ID=19418343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950017517A KR0152885B1 (en) 1995-06-26 1995-06-26 Classifying method of soldering for pcb

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0152885B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100332152B1 (en) * 2000-08-26 2002-04-12 정병창 a saw blade file sharpener

Also Published As

Publication number Publication date
KR970004990A (en) 1997-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950000331B1 (en) Method and apparatus for inspecting surface pattern of object
TW583389B (en) A surface conduction examination method and a substrate examination device
CN104819984B (en) The check device and inspection method of printed circuit board (PCB) outward appearance
KR960006968B1 (en) Semiconductor inspection apparatus and the method
CN104279456A (en) Illumination system for optical detection, detection system using illumination system and detection method
JPH055281B2 (en)
US10533952B2 (en) Method of inspecting a terminal of a component mounted on a substrate and substrate inspection apparatus
JP2009128303A (en) Visual examination device for substrate
JP2007292576A (en) Visual inspection device for electronic component
US7664311B2 (en) Component mounting board inspecting apparatus
JP4184511B2 (en) Method and apparatus for defect inspection of metal sample surface
JP4216485B2 (en) Pattern inspection method and apparatus
KR0152885B1 (en) Classifying method of soldering for pcb
JPH04294204A (en) Apparatus for extracting defect in object surface
JP3419118B2 (en) Appearance inspection device
JP3883663B2 (en) Metal specimen surface appearance inspection method and appearance inspection apparatus
JPH1123489A (en) Method and equipment for inspecting surface of metal sample
JPH1183455A (en) Appearance inspecting device
JP2005223006A (en) Inspection method of cream solder print
KR100240956B1 (en) Apparatus and method for visual inspecting of solder joint
JPH06243235A (en) Checking device for mounted board
JPH02278105A (en) Inspecting apparatus for soldering
JPS61293659A (en) Method for inspecting soldering appearance
KR200336984Y1 (en) A device for inspecting surface and shape of an object of examination
JPS6025405A (en) Input system for image of solder surface

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120327

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120711

Year of fee payment: 17

EXPY Expiration of term