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JPWO2021019712A1 - How to change the configuration of the temperature measurement system, temperature measurement sensor unit and temperature measurement system - Google Patents

How to change the configuration of the temperature measurement system, temperature measurement sensor unit and temperature measurement system Download PDF

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JPWO2021019712A1
JPWO2021019712A1 JP2019572697A JP2019572697A JPWO2021019712A1 JP WO2021019712 A1 JPWO2021019712 A1 JP WO2021019712A1 JP 2019572697 A JP2019572697 A JP 2019572697A JP 2019572697 A JP2019572697 A JP 2019572697A JP WO2021019712 A1 JPWO2021019712 A1 JP WO2021019712A1
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Abstract

測温システム10では、2つの端子22、24を有し、この間に通電して電気抵抗を計測する。2つの端子22、24には、それぞれ電線30、32の一端が接続されている。電線30、32の他端には、測温抵抗体44とバイパス電線42が並列接続されており、測温抵抗体44とバイパス電線42とはスイッチ46によって選択的に切り替えられる。測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度は、バイパス電線への通電がオンの場合に計測された電気抵抗と、オフの場合に計測された電気抵抗とに基づいて算出される。The temperature measuring system 10 has two terminals 22 and 24, and energizes between them to measure electrical resistance. One ends of electric wires 30 and 32 are connected to the two terminals 22 and 24, respectively. A resistance temperature detector 44 and a bypass electric wire 42 are connected in parallel to the other ends of the electric wires 30 and 32, and the resistance temperature detector 44 and the bypass electric wire 42 are selectively switched by a switch 46. The electrical resistance or corresponding temperature of the resistance temperature detector is calculated based on the electrical resistance measured when the bypass wire is energized and off.

Description

本発明は、測温システム、測温センサユニット及び測温システムの構成変更方法に関する。 The present invention relates to a temperature measuring system, a temperature measuring sensor unit, and a method for changing the configuration of the temperature measuring system.

測温抵抗体を用いて温度計測を行う技術が知られている。温度計測は、3線式で行われる場合と、2線式で行われる場合がある。 A technique for measuring temperature using a resistance temperature detector is known. The temperature measurement may be performed by a 3-wire system or a 2-wire system.

図6は、従来行われている3線式の測温システム110(例えば、下記特許文献1〜3を参照のこと)の概略を示す図である。ここでは、コントローラ112に、3本の電線114、116、118が接続されている。電線114、116、118は、長さ、太さ及び材質が等しく、いずれも同じ電気抵抗Rを有している。ただし、電気抵抗Rは、温度に応じて変化する。 FIG. 6 is a diagram showing an outline of a conventional three-wire temperature measuring system 110 (see, for example, Patent Documents 1 to 3 below). Here, three electric wires 114, 116, and 118 are connected to the controller 112. The electric wires 114, 116, and 118 have the same length, thickness, and material, and all have the same electric resistance R. However, the electric resistance R changes depending on the temperature.

測温抵抗体120は、温度に応じて変化する電気抵抗Rpt1を有しており二つの端部を電線114、116の先端に接続されている。測温抵抗体120としては、例えば、白金製で0℃における電気抵抗が100Ωに設定された規格品であるPt100が用いられる。規格品である測温抵抗体120では、電気抵抗と温度の関係が明らかであり、測温抵抗体120の電気抵抗から温度を求めることができる。 The resistance temperature detector 120 has an electric resistance Rpt1 that changes depending on the temperature, and its two ends are connected to the tips of the electric wires 114 and 116. As the resistance temperature detector 120, for example, Pt100, which is a standard product made of platinum and whose electrical resistance at 0 ° C. is set to 100Ω, is used. In the resistance temperature detector 120, which is a standard product, the relationship between the electrical resistance and the temperature is clear, and the temperature can be obtained from the electrical resistance of the resistance temperature detector 120.

電線116の先端には、電線118の先端も接続されている。コントローラ112は、内蔵されたスイッチを制御して、電線118を回路から切り離し、電線114、116を通る回路(矢印122で示した)に電流を流すことで、この回路の電圧、そして電気抵抗R1を計測する:
R1=R+Rpt1+R ・・・(式1)
電気抵抗R1は、計測した電圧を電流で割ることで得られる。
The tip of the electric wire 118 is also connected to the tip of the electric wire 116. The controller 112 controls a built-in switch to disconnect the electric wire 118 from the circuit and pass a current through the circuit (indicated by the arrow 122) passing through the electric wires 114 and 116, whereby the voltage of this circuit and the electric resistance R1 To measure:
R1 = R + Rpt1 + R ... (Equation 1)
The electrical resistance R1 is obtained by dividing the measured voltage by the current.

次に、コントローラは、スイッチを切り替えて、電線114を回路から切り離し、電線116、118を通る回路(矢印124で示した)に電流を流すことで、この回路の電圧、そして電気抵抗R2を計測する:
R2=R+R ・・・(式2)
式1と式2から測温抵抗体120の電気抵抗Rpt1が求められる。
Rpt1=R1−R2 ・・・(式3)
すなわち、電気抵抗Rpt1は、計測により求められる電気抵抗R1、R2の差に相当する。電気抵抗Rpt1を求めることで、測温抵抗体120の温度が得られる。
Next, the controller switches the switch to disconnect the electric wire 114 from the circuit and pass a current through the circuit (indicated by the arrow 124) passing through the electric wires 116 and 118 to measure the voltage of this circuit and the electric resistance R2. do:
R2 = R + R ... (Equation 2)
From Equations 1 and 2, the electrical resistance Rpt1 of the resistance temperature detector 120 can be obtained.
Rpt1 = R1-R2 ... (Equation 3)
That is, the electric resistance Rpt1 corresponds to the difference between the electric resistances R1 and R2 obtained by measurement. By obtaining the electric resistance Rpt1, the temperature of the resistance temperature detector 120 can be obtained.

図7は、従来行われている2線式の測温システム130の概略を示す図である。コントローラ132には、同じ電気抵抗Rをもつ2本の電線134、136が接続されている。電線134、136の先端には、電気抵抗Rpt2をもつ測温抵抗体138が接続されている。測温抵抗体138としては、電気抵抗Rpt2が電線の電気抵抗Rに比べて十分に大きく、次の関係を持たすものが用いられる。
Rpt2≫R ・・・(式4)
具体的には、白金製で0℃における電気抵抗が1000Ωあるいは3000Ωに設定された規格品であるPt1000あるいはPt3000が挙げられる。
FIG. 7 is a diagram showing an outline of a conventional two-wire temperature measuring system 130. Two electric wires 134 and 136 having the same electric resistance R are connected to the controller 132. A resistance temperature detector 138 having an electric resistance Rpt2 is connected to the tip of the electric wires 134 and 136. As the resistance temperature detector 138, one having an electric resistance Rpt2 sufficiently larger than the electric resistance R of the electric wire and having the following relationship is used.
Rpt2 >> R ・ ・ ・ (Equation 4)
Specific examples thereof include Pt1000 and Pt3000, which are made of platinum and have an electric resistance of 1000Ω or 3000Ω at 0 ° C., which is a standard product.

コントローラ132では、電線134、136を通る回路(矢印140で示した)に電流を流し、電圧を計測することで、この回路の電気抵抗R3を計測する:
R3=R+Rpt2+R ・・・(式5)
ここで、式4を用いれば、次の近似を行うことができる。
R3=Rpt2(1+2*R/Rpt2)
≒Rpt2 ・・・(式6)
したがって、電気抵抗Rpt2は、計測した電気抵抗R3と同じ値をもつ。電気抵抗Rpt2を求めることで、測温抵抗体138の温度が得られる。
In the controller 132, the electric resistance R3 of this circuit is measured by passing a current through a circuit (indicated by an arrow 140) passing through the electric wires 134 and 136 and measuring the voltage.
R3 = R + Rpt2 + R ... (Equation 5)
Here, using Equation 4, the following approximation can be performed.
R3 = Rpt2 (1 + 2 * R / Rpt2)
≒ Rpt2 ・ ・ ・ (Equation 6)
Therefore, the electric resistance Rpt2 has the same value as the measured electric resistance R3. By obtaining the electric resistance Rpt2, the temperature of the resistance temperature detector 138 can be obtained.

実開昭61−17634号公報Jitsukaisho 61-17634 実開昭62−53328号公報Jikkai Sho 62-53328 特開平4−52529号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 4-52529

図7に示した2線式の測温システム130は、築年数の長い建築物などで多く採用されている。測温システムのリプレース工事をする場合、測温抵抗体138を交換することになる。しかし、測温抵抗体138を、過去に多用されていたPt1000あるいはPt3000から、現在標準的に使われているPt100に交換したのでは、式4を満たさなくなり、測温システム130における温度計測誤差が増大してしまう。したがって、単純にPt100へ交換することはできない。このため、リプレース工事では、例えば、4〜20mA出力変換機を内蔵した高価なセンサを導入する対応、あるいは、電線を再配線して3線式に移行する対応などが必要となる。 The two-wire temperature measuring system 130 shown in FIG. 7 is often used in buildings with a long age. When replacing the temperature measurement system, the resistance temperature detector 138 will be replaced. However, if the resistance temperature detector 138 is replaced from Pt1000 or Pt3000, which has been widely used in the past, to Pt100, which is currently used as a standard, the equation 4 is not satisfied, and the temperature measurement error in the temperature measurement system 130 becomes large. It will increase. Therefore, it cannot be simply exchanged for Pt100. For this reason, in the replacement work, for example, it is necessary to introduce an expensive sensor having a built-in 4 to 20 mA output converter, or to rewire the electric wire and shift to the 3-wire system.

本発明の目的は、2線式の測温システムにおいて、電気抵抗が小さい測温抵抗体を利用可能とすることにある。 An object of the present invention is to make it possible to use a resistance temperature detector having a small electrical resistance in a two-wire temperature measuring system.

本発明にかかる測温システムは、2端子を有し、当該2端子の間に通電して、当該2端子間の電気抵抗を計測する計測手段と、前記2端子のそれぞれに、一端が接続された2本の電線と、前記2本の電線の他端に並列接続された測温抵抗体及びバイパス電線と、前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換えるスイッチと、前記バイパス電線への通電がオンの場合に前記計測手段が計測する前記電気抵抗と、オフの場合における前記計測手段が計測する前記電気抵抗とに基づいて、前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を算出する算出手段と、を備えることを特徴とする。 The temperature measuring system according to the present invention has two terminals, and one end is connected to each of the two terminals and a measuring means for measuring the electrical resistance between the two terminals by energizing between the two terminals. Two electric wires, a resistance temperature detector and a bypass electric wire connected in parallel to the other ends of the two electric wires, a switch for switching the energization of the bypass electric wire on and off, and energization of the bypass electric wire. Calculation to calculate the electrical resistance of the resistance temperature detector or the corresponding temperature based on the electrical resistance measured by the measuring means when is on and the electrical resistance measured by the measuring means when is off. It is characterized by providing means.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記スイッチは、自律的にオンとオフの切り換えを行う、ことを特徴とする。 One aspect of the temperature measuring system according to the present invention is characterized in that the switch autonomously switches on and off.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記算出手段は、前記計測手段が計測する前記電気抵抗の変動に基づいて、前記バイパス電線への通電がオンの場合の前記電気抵抗と、オフの場合の前記電気抵抗とを検出し、前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を算出する、ことを特徴とする。 In one aspect of the temperature measuring system according to the present invention, the calculation means is off from the electric resistance when the bypass wire is energized based on the fluctuation of the electric resistance measured by the measuring means. The electric resistance in the case of the above is detected, and the electric resistance of the resistance temperature detector or the corresponding temperature is calculated.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記算出手段が算出する前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を、対比データと対比して、当該測温システムの劣化または異常を検出する劣化異常検出手段を備える、ことを特徴とする。 In one aspect of the resistance temperature measuring system according to the present invention, the electrical resistance or the corresponding temperature of the resistance temperature detector calculated by the calculation means is compared with the comparison data to detect deterioration or abnormality of the resistance temperature measuring system. It is characterized in that it is provided with a deterioration abnormality detecting means.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記対比データは、過去に算出された前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度についてのデータである、ことを特徴とする。 In one aspect of the resistance temperature measuring system according to the present invention, the comparison data is data on the electrical resistance or the corresponding temperature of the resistance temperature detector calculated in the past.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記対比データは、共通または類似する空間に配置された別の測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度についてのデータである、ことを特徴とする。 In one aspect of the resistance temperature measuring system according to the present invention, the comparison data is data on the electrical resistance or the corresponding temperature of another resistance temperature detector arranged in a common or similar space. do.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記スイッチは、前記バイパス電線への通電をオンに切り換えた場合には、前記測温抵抗体への通電をオフに切り換え、前記バイパス電線への通電をオフに切り換えた場合には、前記測温抵抗体への通電をオンに切り換える、ことを特徴とする。 In one aspect of the resistance temperature measuring system according to the present invention, when the switch turns on the energization of the bypass electric wire, it switches the energization of the resistance temperature detector off and turns on the bypass electric wire. When the energization is switched off, the energization of the resistance temperature detector is switched on.

本発明にかかる測温システムの一態様においては、前記スイッチは、前記2本の電線と前記測温抵抗体とが接続された状態で、前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換える、ことを特徴とする。 In one aspect of the temperature measuring system according to the present invention, the switch switches the energization of the bypass electric wire on and off in a state where the two electric wires and the resistance temperature measuring resistor are connected. It is characterized by.

本発明にかかる測温センサユニットは、並列接続された測温抵抗体及びバイパス電線と、前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換えるスイッチと、 を備えることを特徴とする。 The temperature measuring sensor unit according to the present invention is characterized by including a temperature measuring resistor and a bypass electric wire connected in parallel, and a switch for switching on / off of energization of the bypass electric wire.

本発明にかかる測温システムの構成変更方法においては、2端子を有し、当該2端子の間に通電して、当該2端子間の電気抵抗を計測する計測手段と、前記2端子のそれぞれに一端が接続された2本の電線と、前記2本の電線の他端に接続された測温抵抗体と、を備えた測温システムの構成変更方法であって、 前記測温抵抗体を取り外すステップと、前記2本の電線の他端に、前記測温センサユニットを取り付けるステップと、を含むことを特徴とする。 In the method for changing the configuration of the temperature measuring system according to the present invention, the measuring means having two terminals, energizing between the two terminals to measure the electrical resistance between the two terminals, and each of the two terminals This is a method of modifying the configuration of a resistance temperature measuring system including two electric wires to which one end is connected and a resistance temperature detector connected to the other end of the two electric wires, and the resistance temperature detector is removed. It is characterized by including a step and a step of attaching the temperature measuring sensor unit to the other ends of the two electric wires.

本発明によれば、従来に比べて電気抵抗が小さな測温抵抗体を利用して、2線式の測温を行うことができる。 According to the present invention, a two-wire type temperature measurement can be performed by using a resistance temperature detector having a smaller electrical resistance than the conventional one.

実施形態にかかる2線式の測温システムの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the two-wire temperature measuring system which concerns on embodiment. スイッチの概略的な構成例を示す図である。It is a figure which shows the schematic configuration example of a switch. 対比データの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the comparison data. 対比データの別の例を示す図である。It is a figure which shows another example of the contrast data. 別の実施形態にかかる2線式測温システムの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the two-wire temperature measuring system which concerns on another embodiment. 従来技術にかかる3線式の測温システムの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the three-wire type temperature measuring system which concerns on the prior art. 従来技術にかかる2線式の測温システムの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the two-wire temperature measurement system which concerns on the prior art.

以下に、図面を参照しながら、実施形態について説明する。説明においては、理解を容易にするため、具体的な態様について示すが、これらは実施形態を例示するものであり、他にも様々な実施形態をとることが可能である。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In the description, specific embodiments are shown for ease of understanding, but these are examples of embodiments, and various other embodiments can be taken.

図1は、実施形態にかかる測温システム10の概略的な構成を示す図である。測温システム10は、コントローラ20と、2本の電線30、32と、測温センサユニット40と、PC(Personal Computer)50とを含んでいる。 FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a temperature measuring system 10 according to an embodiment. The temperature measuring system 10 includes a controller 20, two electric wires 30 and 32, a temperature measuring sensor unit 40, and a PC (Personal Computer) 50.

実施形態では、測温システム10は、ビルに導入されていることを想定している。コントローラ20は、ビルの中央管理室に設置されて、ビル内の温度計測を制御する装置である。コントローラ20は、図示した2つの端子22、24の組をはじめとして、2端子の組を複数個備えている。また、コントローラ20は、計測対象となる2端子の組を切り替えるスイッチング回路、計測対象となる2端子の組に対して一定の電流を流す定電流回路、電流を流した2端子間の電圧を計測する電圧計、計測された電圧を電流で割って電気抵抗を求めるとともに電気抵抗から温度を算出するプロセッサなども備えている。電圧計及びプロセッサは、2つの端子間の電気抵抗を計測する計測手段の例である。また、プロセッサは、測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を算出する算出手段の例である。 In the embodiment, it is assumed that the temperature measuring system 10 is installed in the building. The controller 20 is a device installed in the central control room of the building to control the temperature measurement in the building. The controller 20 includes a plurality of sets of two terminals, including a set of the two terminals 22 and 24 shown in the figure. Further, the controller 20 measures a switching circuit for switching a set of two terminals to be measured, a constant current circuit for passing a constant current to the set of two terminals to be measured, and a voltage between the two terminals to which the current is passed. It is also equipped with a voltmeter to calculate the electrical resistance by dividing the measured voltage by the current and a processor to calculate the temperature from the electrical resistance. A voltmeter and a processor are examples of measuring means for measuring the electrical resistance between two terminals. The processor is also an example of a calculation means for calculating the electrical resistance of a resistance temperature detector or the corresponding temperature.

電線30、32は、それぞれ一端を端子22、24に接続され、他端の端子30a、32aを測温センサユニット40に接続されている。電線30、32は、中央管理室から測温センサユニット40の設置個所まで延ばされており、典型的には、数10メートルあるは100メートル以上の長さを有する。電線30、32は、それぞれ電気抵抗Rをもつ。 One ends of the electric wires 30 and 32 are connected to the terminals 22 and 24, respectively, and the other ends 30a and 32a are connected to the temperature measurement sensor unit 40. The electric wires 30 and 32 extend from the central control room to the installation location of the temperature measurement sensor unit 40, and typically have a length of several tens of meters or 100 meters or more. The electric wires 30 and 32 each have an electric resistance R.

測温センサユニット40は、それぞれの端部を電線30、32の先端の端子30a、32aに接続されている。測温センサユニット40は、電気抵抗Rbをもつバイパス電線42と、電気抵抗Rpt3をもつ測温抵抗体44と、スイッチ46を備えている。バイパス電線42と測温抵抗体44は並列接続されている。スイッチ46は、バイパス電線42と測温抵抗体44を選択的に接続する。すなわち、スイッチ46は、バイパス電線42をオン(すなわち通電可能な状態)かつ測温抵抗体44をオフ(すなわち通電されない状態)にするか、バイパス電線42をオフかつ測温抵抗体44をオンにするかの切り替えを行う。スイッチ46は、電気抵抗Rsをもつものとする。 The end of the temperature measurement sensor unit 40 is connected to the terminals 30a and 32a at the tips of the electric wires 30 and 32, respectively. The temperature measurement sensor unit 40 includes a bypass electric wire 42 having an electric resistance Rb, a resistance temperature detector 44 having an electric resistance Rpt3, and a switch 46. The bypass wire 42 and the resistance temperature detector 44 are connected in parallel. The switch 46 selectively connects the bypass wire 42 and the resistance temperature detector 44. That is, the switch 46 turns on the bypass wire 42 (that is, in a state where it can be energized) and turns off the resistance temperature detector 44 (that is, in a state where it is not energized), or turns off the bypass wire 42 and turns on the resistance temperature detector 44. Switch whether to do it. The switch 46 has an electrical resistance Rs.

PC50は、プロセッサ、メモリ、タッチパネルなどのコンピュータハードウエアを、OS(Operation System)、アプリケーションプログラム(アプリ)などで制御されたコンピュータである。PC50は、劣化異常検出手段の例であり、コントローラ20に接続され、コントローラ20が出力する温度データに基づいて、測温システム10の劣化あるいは異常を検出する。 The PC 50 is a computer in which computer hardware such as a processor, a memory, and a touch panel is controlled by an OS (Operation System), an application program (application), and the like. The PC 50 is an example of deterioration abnormality detecting means, and is connected to the controller 20 and detects deterioration or abnormality of the temperature measuring system 10 based on the temperature data output by the controller 20.

ここで、測温システム10における温度計測の流れを説明する。測温システム10では、スイッチ46を切り替えて、計測を行う。スイッチ46により、バイパス電線42をオンかつ測温抵抗体44をオフにした場合の電気抵抗R4は、次の通りとなる:
R4 = R + Rs + Rb + R ・・・(式7)
左辺の電気抵抗R4は、電圧計の計測値を電流で割ることにより求められる。
Here, the flow of temperature measurement in the temperature measuring system 10 will be described. In the temperature measuring system 10, the switch 46 is switched to perform measurement. The electrical resistance R4 when the bypass wire 42 is turned on and the resistance temperature detector 44 is turned off by the switch 46 is as follows:
R4 = R + Rs + Rb + R ... (Equation 7)
The electric resistance R4 on the left side is obtained by dividing the measured value of the voltmeter by the current.

スイッチの切り替えにより、バイパス電線42をオフかつ測温抵抗体44をオンにした場合の電気抵抗R5は、次の通りとなる:
R5 = R + Rs + Rpt3 + R ・・・(式8)
左辺の電気抵抗R5は、電圧計の計測値を電流で割ることにより求められる。
The electrical resistance R5 when the bypass wire 42 is turned off and the resistance temperature detector 44 is turned on by switching the switch is as follows:
R5 = R + Rs + Rpt3 + R ... (Equation 8)
The electric resistance R5 on the left side is obtained by dividing the measured value of the voltmeter by the current.

式7と式8から、測温抵抗体44の電気抵抗Rpt3について次式を得る:
Rpt3 = R5 − R4 + Rb ・・・(式9)
バイパス電線42は、非常に短い(例えば0.1m)導体であり、電気抵抗Rbの大きさは測温抵抗体44の電気抵抗Rpt3における誤差以下であるため、無視することができる。したがって、式9は次のように近似できる:
Rpt3 ≒ R5 − R4 ・・・(式10)
From equations 7 and 8, the following equation is obtained for the electrical resistance Rpt3 of the resistance temperature detector 44:
Rpt3 = R5-R4 + Rb ・ ・ ・ (Equation 9)
The bypass electric wire 42 is a very short (for example, 0.1 m) conductor, and the magnitude of the electric resistance Rb is equal to or less than the error in the electric resistance Rpt3 of the resistance temperature detector 44, and thus can be ignored. Therefore, Equation 9 can be approximated as:
Rpt3 ≒ R5 − R4 ・ ・ ・ (Equation 10)

式10によれば、測温抵抗体44の電気抵抗Rpt3は、スイッチ46の切り替えにより求められる二つの電気抵抗R5、R4の差に等しい。電気抵抗Rpt3には、上述の2線式の測温システム130における式4に相当する束縛条件がない。したがって、測温抵抗体44としては、Pt1000あるいはPt3000を使用できるのみならず、現在標準的に使われているPt100を使用することも可能である。 According to Equation 10, the electrical resistance Rpt3 of the resistance temperature detector 44 is equal to the difference between the two electrical resistances R5 and R4 obtained by switching the switch 46. The electric resistance Rpt3 does not have a binding condition corresponding to the equation 4 in the above-mentioned two-wire temperature measuring system 130. Therefore, as the resistance temperature detector 44, not only Pt1000 or Pt3000 can be used, but also Pt100, which is currently used as a standard, can be used.

コントローラ20では、例えばルックアップテーブルの形で、メモリに、電気抵抗Rpt3と温度の関係情報を記憶している。そして、プロセッサは、線形内挿などによって、電気抵抗Rpt3に対応する温度を算出する。測温システム10では、目標精度で温度の計測を行う必要がある。通常のビル管理では、目標精度はプラスマイナス0.5℃程度に設定される。測温抵抗体44としてPt100の測温抵抗体44を用いる場合であっても、式10を導いた際にバイパス電線42の電気抵抗Rbを無視した影響は非常に小さく、この目標精度を問題なく達成することができる。 In the controller 20, for example, in the form of a look-up table, information on the relationship between the electric resistance Rpt3 and the temperature is stored in the memory. Then, the processor calculates the temperature corresponding to the electric resistance Rpt3 by linear interpolation or the like. In the temperature measuring system 10, it is necessary to measure the temperature with the target accuracy. In normal building management, the target accuracy is set to about plus or minus 0.5 ° C. Even when the resistance temperature detector 44 of Pt100 is used as the resistance temperature detector 44, the effect of ignoring the electrical resistance Rb of the bypass wire 42 when deriving the equation 10 is very small, and there is no problem with this target accuracy. Can be achieved.

コントローラ20は、プログラムに従って、ビル内の多数のポイントにおける温度を計測している。具体的には、コントローラ20は、計測対象となるポイントについての回路を、内部スイッチによって順次切り替えて、上述の式10に基づく温度計測を実施する。計測結果は記憶装置に格納される。 The controller 20 measures the temperature at many points in the building according to the program. Specifically, the controller 20 sequentially switches the circuit for the point to be measured by the internal switch, and performs the temperature measurement based on the above equation 10. The measurement result is stored in the storage device.

ここで図2を参照してスイッチ46の例について説明する。図2は、スイッチ46のうち、端子30aとバイパス電線42との接続及び切断を行うスイッチ46aの一例を示す図である。 Here, an example of the switch 46 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a diagram showing an example of the switch 46a that connects and disconnects the terminal 30a and the bypass electric wire 42 among the switches 46.

スイッチ46aは、半導体素子であるNPN接合型のバイポーラトランジスタ64を用いて形成されている。バイポーラトランジスタ64のコレクタには端子30aが接続され、エミッタにはバイパス電線42が接続されている。ベースには、水晶発振回路62からベース電流が入力される。水晶発振回路62は、測温センサユニット40に内蔵されたで電池60からの直流電流によって駆動され、タイミング信号となるベース電流を出力する。タイミング信号としては、例えば、1秒間ベース電流を0(電圧を0V)とし、次の1秒間所定ベース電流を流す(所定の電圧を印加する)という状態を繰り返す信号が挙げられる。スイッチ46aでは、ベース電流が流されないときには、端子30aとバイパス電線42とを切断し、所定のベース電流が流されたときには端子30aとバイパス電線42とを接続する。 The switch 46a is formed by using an NPN junction type bipolar transistor 64 which is a semiconductor element. A terminal 30a is connected to the collector of the bipolar transistor 64, and a bypass electric wire 42 is connected to the emitter. The base current is input to the base from the crystal oscillator circuit 62. The crystal oscillator circuit 62 is built in the temperature measuring sensor unit 40 and is driven by a direct current from the battery 60 to output a base current that becomes a timing signal. Examples of the timing signal include a signal that repeats a state in which the base current is set to 0 (voltage is 0V) for 1 second and a predetermined base current is passed for the next 1 second (a predetermined voltage is applied). The switch 46a cuts the terminal 30a and the bypass wire 42 when the base current is not passed, and connects the terminal 30a and the bypass wire 42 when a predetermined base current is passed.

同様にして、端子30aと測温抵抗体44との間に、別のバイポーラトランジスタを設け、タイミング信号を反転させた信号で制御を行う。これにより、スイッチ46を形成することができる。2つのバイポーラトランジスタの特性を共通化し、同程度の電気抵抗Rsをもたせることで、電気抵抗Rsの影響を無視することが可能となる(すなわち、式7と式8においてスイッチ46の電気抵抗Rsが同じ値となるため、式9が得られる)。 Similarly, another bipolar transistor is provided between the terminal 30a and the resistance temperature detector 44, and control is performed by a signal obtained by inverting the timing signal. As a result, the switch 46 can be formed. By sharing the characteristics of the two bipolar transistors and giving them the same level of electrical resistance Rs, the influence of the electrical resistance Rs can be ignored (that is, the electrical resistance Rs of the switch 46 in Equations 7 and 8 becomes Since the values are the same, Equation 9 is obtained).

図2に例示したスイッチ46は、測温センサユニット40において自律的にオンとオフを切り替える。ここで、自律的とは、コントローラ20あるいはPC50からの制御を受けずに、測温センサユニット40の中で独立に動作することをいう。このため、コントローラ20では、スイッチ46の切り替えを検出する必要がある。式7及び式8から明らかなように、バイパス電線42をオフかつ測温抵抗体44をオンにした場合の電気抵抗R5は、バイパス電線42をオンかつ測温抵抗体44をオフにした場合の電気抵抗R4に比べて、明らかに大きい。そこで、コントローラ20は、電気抵抗の大きさ(あるいは、電圧計で計測する電圧の大きさ)の変動を検出することで、スイッチ46の切り替え状態を検出する。 The switch 46 illustrated in FIG. 2 autonomously switches on and off in the temperature measurement sensor unit 40. Here, autonomous means that the temperature measuring sensor unit 40 operates independently without being controlled by the controller 20 or the PC 50. Therefore, the controller 20 needs to detect the changeover of the switch 46. As is clear from Equations 7 and 8, the electrical resistance R5 when the bypass wire 42 is turned off and the resistance temperature detector 44 is turned on is the case where the bypass wire 42 is turned on and the resistance temperature detector 44 is turned off. It is clearly larger than the electrical resistance R4. Therefore, the controller 20 detects the switching state of the switch 46 by detecting the fluctuation of the magnitude of the electric resistance (or the magnitude of the voltage measured by the voltmeter).

スイッチ46は、図2に例示したもの以外にも、半導体素子を用いて様々な態様で形成することが可能である。また、半導体素子に代えて、あるいは半導体素子と併用して、リレーを用いてスイッチ46を形成してもよい。リレーは、半導体素子に比べて劣化の度合いが激しいなどの欠点があるが、オンにした場合における電気抵抗を非常に小さくできる利点がある。 The switch 46 can be formed in various forms by using a semiconductor element other than those illustrated in FIG. Further, the switch 46 may be formed by using a relay instead of the semiconductor element or in combination with the semiconductor element. A relay has a drawback that the degree of deterioration is more severe than that of a semiconductor element, but it has an advantage that the electric resistance when it is turned on can be made very small.

スイッチ46としては、自律的なものに代えて、コントローラ20からの制御を受けて動作するものを用いることも可能である。そのようなスイッチ46としては、例えば、コントローラ20から、電線30を介して送られる電気信号に基づいて動作するものが挙げられる。 As the switch 46, a switch 46 that operates under the control of the controller 20 can be used instead of the autonomous switch 46. Examples of such a switch 46 include a switch that operates based on an electric signal transmitted from the controller 20 via the electric wire 30.

また、図2の例では、スイッチ46は、内蔵された電池60によって動作するものとした。電池60は、時間とともに消耗するが、ビルの保守管理のタイミングで交換することで、測温システム10を継続的に動作させることができる。ただし、電池60に代えて、例えば、コンデンサを設け、電線30からの電力に基づいて電気エネルギを貯蔵し、スイッチ46を駆動させるようにしてもよい。 Further, in the example of FIG. 2, the switch 46 is operated by the built-in battery 60. Although the battery 60 is consumed with time, the temperature measuring system 10 can be continuously operated by replacing the battery 60 at the timing of maintenance and management of the building. However, instead of the battery 60, for example, a capacitor may be provided, electric energy may be stored based on the electric power from the electric wire 30, and the switch 46 may be driven.

続いて、PC50の動作について説明する。PC50では、コントローラ20が計測した温度を入力し、比較対象となる対比データと比較することで、測温システム10が正しい温度を計測できなくなる劣化あるいは異常を検出している。 Subsequently, the operation of the PC 50 will be described. In the PC 50, by inputting the temperature measured by the controller 20 and comparing it with the comparison data to be compared, the temperature measuring system 10 detects deterioration or abnormality in which the correct temperature cannot be measured.

図3は、同じポイントにおける過去のログデータを対比データとする場合について説明する図である。図3には、測温システム10の測温抵抗体44が、Aビル18階4号室の第2ポイントに設けられていることを仮定して、温度計測のログデータを例示している。ログデータには、年月日、時刻、及び温度の項目が設けられており、過去数年分のログデータが時系列順に記録されている。図示した2018年8月1日のログデータによれば、10時00分には27.5℃、10時15分には27.8℃、10時30分には27.4℃であり、空調機によって温度管理がなされていた。 FIG. 3 is a diagram illustrating a case where past log data at the same point is used as comparison data. FIG. 3 illustrates log data of temperature measurement on the assumption that the resistance temperature detector 44 of the temperature measurement system 10 is provided at the second point of Room 4 on the 18th floor of Building A. The log data is provided with items of date, time, and temperature, and log data for the past several years is recorded in chronological order. According to the illustrated log data on August 1, 2018, the temperature was 27.5 ° C at 10:00, 27.8 ° C at 10:15, and 27.4 ° C at 10:30. The temperature was controlled by the air conditioner.

ここで、現時点が2019年8月1日であるとする。この日は、10時00分には27.9℃、10時15分には35.5℃、10時30分には35.2℃の値が計測されている。PC50では、計測された温度を、随時、過去の同時期における同じポイントでの温度と比較する。図3の例では、1年前である2018年8月1日の同時刻のデータと比較する。その結果、10時00分の時点では、1年前の10時00のデータに比べて+0.4℃の違いがあるだけであり、基準値(例えばプラスマイナス3度、あるいはプラスマイナス5度)の範囲内であり、特段の劣化、異常は見られないと判断する。しかし、10時15分の時点では、1年前の10時15分のログデータに比べて、+7.7℃となっており、基準値を超えていると判定する。さらに、10時30分の時点では、1年前の10時30分のログデータに比べて+7.8℃となっており、やはり基準値を超えていると判定する。2回続けて基準値を超えることを劣化または異常の検出条件とした場合には、PC50は10時30分の時点で劣化または異常が発生したと判定することになる。そこで、PC50は、Aビル18階4号室の第2ポイントに関して劣化または異常を検出した旨の画面表示を行うなどして、保守管理者に伝達する。 Here, it is assumed that the present time is August 1, 2019. On this day, the values of 27.9 ° C. at 10:00, 35.5 ° C. at 10:15, and 35.2 ° C. at 10:30 were measured. The PC50 compares the measured temperature with the temperature at the same point at the same time in the past from time to time. In the example of FIG. 3, it is compared with the data at the same time on August 1, 2018, which is one year ago. As a result, at 10:00, there is only a difference of + 0.4 ° C compared to the data at 10:00 a year ago, and the reference value (for example, plus or minus 3 degrees or plus or minus 5 degrees). It is judged that there is no particular deterioration or abnormality within the range of. However, at 10:15, the temperature is + 7.7 ° C., which is higher than the log data at 10:15 one year ago, and it is judged that the temperature exceeds the reference value. Further, at 10:30, the temperature is + 7.8 ° C. as compared with the log data at 10:30 one year ago, and it is also judged that the reference value is exceeded. If the condition for detecting deterioration or abnormality is that the reference value is exceeded twice in a row, the PC 50 determines that the deterioration or abnormality has occurred at 10:30. Therefore, the PC 50 notifies the maintenance manager by displaying a screen indicating that deterioration or abnormality has been detected at the second point of Room 4 on the 18th floor of Building A.

なお、図3に示した例では、1年前の同月日のログデータと比較をしたが、他の比較データを選ぶことも可能である。例えば、1年前付近の同じ曜日と比較するようにしてもよいし、1年前付近の複数日の平均値と比較するようにしてもよい。また、このような比較対象を、過去1年だけでなく、過去数年とすることも考えられる。 In the example shown in FIG. 3, the log data of the same month one year ago was compared, but other comparison data can be selected. For example, it may be compared with the same day of the week around one year ago, or it may be compared with the average value of a plurality of days around one year ago. Moreover, it is conceivable that such a comparison target is not limited to the past one year but also the past several years.

図4は、共通または類似する空間に配置された別の測温抵抗体による計測結果を対比データとする態様について説明する図である。図4には、Aビル18階4号室の第1ポイントに設けられた別の測温抵抗体による温度計測のログデータを例示している。すなわち、図4は、図3に示したものと同じビルの同じ部屋(空調等が共通する空間の例である)における別のポイントでの温度計測結果を示している。第1ポイントでは、現時点である2019年8月1日において、10時00分には28.0℃、10時15分には27.9℃、10時30分には27.7℃を計測している。 FIG. 4 is a diagram illustrating a mode in which measurement results by another resistance temperature detector arranged in a common or similar space are used as comparison data. FIG. 4 illustrates log data of temperature measurement by another resistance temperature detector provided at the first point of Room 4 on the 18th floor of Building A. That is, FIG. 4 shows the temperature measurement results at different points in the same room (an example of a space in which air conditioning and the like are common) in the same building as that shown in FIG. At the first point, on August 1, 2019, at the present time, 28.0 ° C was measured at 10:00 ° C, 27.9 ° C at 10:15, and 27.7 ° C at 10:30. doing.

PC50では、図3に示した第2ポイントの温度を、随時、第1ポイントの温度と比較する。その結果、10時00分の時点では、第2ポイントは第1ポイントに比べて+0.1℃であり、基準値(例えば、プラスマイナス1.5度、あるいはプラスマイナス2度)の範囲内であると判定する。しかし、10時15分の時点では、第2ポイントは第1ポイントに比べて+7.6℃であり基準値を超えていると判定する。そして、10時30分の時点は、第2ポイントは第1ポイントに比べて+7.5℃でありやはり基準値を超えたと判定する。2回続けて基準値を超えることを劣化または異常の検出条件とした場合には、PC50は10時30分の時点で劣化または異常が発生したと判定することになる。 In PC50, the temperature of the second point shown in FIG. 3 is compared with the temperature of the first point at any time. As a result, at 10:00, the second point is + 0.1 ° C. compared to the first point, and is within the range of the reference value (for example, plus or minus 1.5 degrees or plus or minus 2 degrees). Judge that there is. However, at 10:15, it is determined that the second point is + 7.6 ° C. compared to the first point and exceeds the reference value. Then, at 10:30, it is determined that the second point is + 7.5 ° C. as compared with the first point and also exceeds the reference value. If the condition for detecting deterioration or abnormality is that the reference value is exceeded twice in a row, the PC 50 determines that the deterioration or abnormality has occurred at 10:30.

ただし、Aビル18階4号室の第1ポイントと第2ポイントの2ポイント間のみを比較したのでは、第1ポイントと第2ポイントのいずれが正常かを判断できない。そこで、実際には、3ポイント以上の間の比較を行って、劣化または異常の可能性があるポイントを特定することになる。PC50は、劣化または異常を検出した時点で、Aビル18階4号室の第2ポイントに関して劣化または異常を検出した旨の画面表示を行うなどして、保守管理者に伝達する。 However, it is not possible to determine which of the first point and the second point is normal by comparing only the two points between the first point and the second point in Room 4 on the 18th floor of Building A. Therefore, in reality, a comparison between 3 points or more is performed to identify a point that may be deteriorated or abnormal. When the PC50 detects deterioration or abnormality, it notifies the maintenance manager by displaying a screen indicating that deterioration or abnormality has been detected for the second point of Room 4 on the 18th floor of Building A.

劣化または異常の検出においては、あるポイントのみにおいて温度が基準値を超えた場合には、当該ポイントに関する劣化または異常を検出する。図1の測温システム10の例では、電線30、32もしくは測温センサユニット40、またはこれらの接点に劣化または異常が生じたと判定される。他方、複数のポイントにおいて温度が基準値を超えたような場合には、これらのポイントに共通するコントローラ20内の装置に劣化または異常が生じたと判定することになる。 In the detection of deterioration or abnormality, when the temperature exceeds the reference value only at a certain point, the deterioration or abnormality related to the point is detected. In the example of the temperature measuring system 10 of FIG. 1, it is determined that deterioration or abnormality has occurred in the electric wires 30, 32 or the temperature measuring sensor unit 40, or the contacts thereof. On the other hand, when the temperature exceeds the reference value at a plurality of points, it is determined that the device in the controller 20 common to these points has deteriorated or has an abnormality.

図4に示した例では、同じ部屋の異なるポイントにおける別の測温抵抗体の計測結果と比較したが、用途等が同じである類似した空間における別の測温抵抗体の計測結果と比較することも可能である。例えば、測温抵抗体44がオフィススペースに設置されている場合、同じフロアまたは異なるフロアの別のオフィススペースにおける計測結果と比較することが考えられる。 In the example shown in FIG. 4, it is compared with the measurement result of another resistance temperature detector at different points in the same room, but it is compared with the measurement result of another resistance temperature detector in a similar space having the same purpose. It is also possible. For example, when the resistance temperature detector 44 is installed in an office space, it may be compared with the measurement result in another office space on the same floor or a different floor.

基準値の設定、劣化または異常の発生の検出条件などは、さまざまに変更可能である。例えば、基準値については、正常であると想定される過去のログデータを解析して、正常な場合における温度のバラつきを含まない値に設定することが考えられる。また、劣化または異常の検出条件として、2回連続して超えた場合ではなく、1回超えた場合に、ただちに劣化または異常の判定を行うように設定する例を挙げることができる。 The setting of reference values and the detection conditions for deterioration or abnormality can be changed in various ways. For example, it is conceivable to analyze the past log data that is assumed to be normal and set the reference value to a value that does not include the temperature variation in the normal case. Further, as a condition for detecting deterioration or abnormality, an example may be given in which the deterioration or abnormality is immediately determined when the deterioration or abnormality is exceeded once, not when the deterioration or abnormality is exceeded twice in succession.

続いて、図5を参照して、実施形態の変形例について説明する。図5は、変形例にかかる測温システム70の概略的な構成を示す図である。図5は、図1に対応する図であり、図1に示した測温システム10と同一または対応する構成には、同一の符号を付して説明を省略または簡略化する。 Subsequently, a modified example of the embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of the temperature measuring system 70 according to the modified example. FIG. 5 is a diagram corresponding to FIG. 1, and the same or corresponding configurations as those of the temperature measuring system 10 shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

測温システム70では、測温システム10における測温センサユニット40に代えて、測温センサユニット80を取り付けている。測温センサユニット80は、電気抵抗Rpt4をもつ測温抵抗体84と、電気抵抗Rbをもつバイパス電線82が並列接続されている。また、測温センサユニット80には、電気抵抗Rsをもち、バイパス電線82の接続または切断を制御するスイッチ86が設けられている。 In the temperature measuring system 70, the temperature measuring sensor unit 80 is attached instead of the temperature measuring sensor unit 40 in the temperature measuring system 10. In the temperature measurement sensor unit 80, a resistance temperature detector 84 having an electric resistance Rpt4 and a bypass electric wire 82 having an electric resistance Rb are connected in parallel. Further, the temperature measuring sensor unit 80 is provided with a switch 86 having an electric resistance Rs and controlling the connection or disconnection of the bypass electric wire 82.

測温システム70では、測温システム10と同様に、スイッチ86を閉じた状態と、開いた状態で、コントローラ20が回路の電圧、そして電気抵抗を計測する。スイッチ86をオン(接続する)にした場合の電気抵抗R6は次の通りとなる:
R6=R + (Rb+Rs)Rpt4/(Rpt4+Rb+Rs)
+ R ・・・(式11)
電気抵抗R6は、電圧計の計測値を電流で割ることにより求められる。
In the temperature measuring system 70, similarly to the temperature measuring system 10, the controller 20 measures the voltage and the electrical resistance of the circuit in the closed state and the open state of the switch 86. The electrical resistance R6 when the switch 86 is turned on (connected) is as follows:
R6 = R + (Rb + Rs) Rpt4 / (Rpt4 + Rb + Rs)
+ R ・ ・ ・ (Equation 11)
The electrical resistance R6 is obtained by dividing the measured value of the voltmeter by the current.

スイッチ86をオフに切り替えた場合(バイパス電線82を切断する)の電気抵抗R7は、次の通りとなる:
R7 = R + Rpt4 + R ・・・(式12)
電気抵抗R7は電圧計の計測値を電流で割ることにより求められる。
The electrical resistance R7 when the switch 86 is switched off (cutting the bypass wire 82) is as follows:
R7 = R + Rpt4 + R ... (Equation 12)
The electrical resistance R7 is obtained by dividing the measured value of the voltmeter by the current.

式11と式12から次式を得る。
Rpt4/(1+(Rb+Rs)/Rpt4) = R7−R6
・・・(式13)
ここで、(Rb+Rs)/Rpt4≪1とみなせる場合には、式13は近似的に次のように変形できる。
Rpt4 ≒ R7−R6 ・・・(式14)
The following equations are obtained from Equations 11 and 12.
Rpt4 / (1+ (Rb + Rs) / Rpt4) = R7-R6
... (Equation 13)
Here, when it can be regarded as (Rb + Rs) / Rpt4 << 1, Equation 13 can be approximately transformed as follows.
Rpt4 ≒ R7-R6 ... (Equation 14)

式14は、測温システム10における式10と同様の形式となっている。一般に、バイパス電線82の電気抵抗Rbは小さい。このため、スイッチ86の電気抵抗Rsを小さくできれば、測温システム70における測温センサユニット80は、測温システム10における測温センサユニット40の代わりに用いることが可能となる。スイッチ86としては、例えば、図2に示したスイッチ46aと同様のもの、あるいは、リレーを用いたものを使用することができる。また、測温抵抗体84としては、Pt1000あるいはPt3000を使用できるのみならず、現在標準的に使われているPt100を使用することも可能である。 Equation 14 has the same format as Equation 10 in the temperature measuring system 10. Generally, the electrical resistance Rb of the bypass wire 82 is small. Therefore, if the electrical resistance Rs of the switch 86 can be reduced, the temperature measuring sensor unit 80 in the temperature measuring system 70 can be used instead of the temperature measuring sensor unit 40 in the temperature measuring system 10. As the switch 86, for example, a switch similar to the switch 46a shown in FIG. 2 or a switch using a relay can be used. Further, as the resistance temperature detector 84, not only Pt1000 or Pt3000 can be used, but also Pt100, which is currently used as a standard, can be used.

以上に示した測温システム10、70は、新築のビルなどに新規に導入することができる。測温システム10、70は2線式であるため、図6を参照して上述した3線式の測温システム110に比べて、電線を少なくすることができる。また、測温システム10、70は、図7に示した2線式の測温システム130をリプレースにあたって導入することができる。この場合、測温システム130の測温抵抗体138を測温センサユニット40または測温センサユニット80に交換するステップと、コントローラ132をコントローラ20に交換するステップとを含む構成変更方法を実施することで、測温システム10、70を利用することが可能となる。また、PC50による劣化または異常の検出を行うことで、測温システム10の保守管理を適切なタイミングで実施できるようになる。 The temperature measurement systems 10 and 70 shown above can be newly introduced into a newly built building or the like. Since the temperature measuring systems 10 and 70 are of the two-wire system, the number of electric wires can be reduced as compared with the three-wire temperature measuring system 110 described above with reference to FIG. Further, the temperature measuring systems 10 and 70 can be introduced by replacing the two-wire temperature measuring system 130 shown in FIG. 7. In this case, a configuration change method including a step of replacing the resistance temperature detector 138 of the temperature measuring system 130 with the temperature measuring sensor unit 40 or the temperature measuring sensor unit 80 and a step of replacing the controller 132 with the controller 20 is performed. Then, the temperature measuring systems 10 and 70 can be used. Further, by detecting deterioration or abnormality by the PC 50, maintenance management of the temperature measuring system 10 can be performed at an appropriate timing.

以上の説明では、測温システム10、70においては、コントローラ20が電圧そして電気抵抗の計測に基づいて温度を算出し、PC50が算出された温度に基づいて測温システム10、70の劣化または異常を検出するものとした。しかし、例えば、PC50の機能は、コントローラ20に持たせるようにしてもよい。また、PC50の機能は、遠隔地のコンピュータによって実施されてもよい。 In the above description, in the temperature measuring systems 10 and 70, the controller 20 calculates the temperature based on the measurement of the voltage and the electric resistance, and the PC 50 deteriorates or abnormalizes the temperature measuring systems 10 and 70 based on the calculated temperature. Was supposed to be detected. However, for example, the function of the PC 50 may be provided to the controller 20. Further, the function of the PC 50 may be performed by a computer at a remote location.

また、以上の説明においては、測温システム10、70では、長さ、太さ、材質そして電気抵抗がほぼ等しい2本の電線30、32を用いるものとした。しかし、2本の電線30、32の電気抵抗が異なっていても式10、式14は導くことが可能であり、長さ、太さ、材質を等しくする必要はない。 Further, in the above description, in the temperature measuring systems 10 and 70, it is assumed that two electric wires 30 and 32 having substantially the same length, thickness, material and electric resistance are used. However, even if the electric resistances of the two electric wires 30 and 32 are different, the equations 10 and 14 can be derived, and it is not necessary to make the length, the thickness, and the material the same.

10 測温システム、20 コントローラ、22 端子、24 端子、30、32 電線、30a、32a 端子、40 測温センサユニット、42 バイパス電線、44 測温抵抗体、46、46a スイッチ、60 電池、62 水晶発振回路、64 バイポーラトランジスタ、70 測温システム、80 測温センサユニット、82 バイパス電線、84 測温抵抗体、86 スイッチ、110 測温システム、112 コントローラ、114、116、118 電線、120 測温抵抗体、122、124 矢印、130 測温システム、132 コントローラ、134、136 電線、138 測温抵抗体、140 矢印。 10 resistance temperature system, 20 controller, 22 terminals, 24 terminals, 30, 32 wires, 30a, 32a terminals, 40 resistance temperature sensor unit, 42 bypass wires, 44 resistance temperature detectors, 46, 46a switches, 60 batteries, 62 crystals Oscillation circuit, 64 bipolar transistor, 70 resistance temperature system, 80 resistance temperature sensor unit, 82 bypass wire, 84 resistance temperature detector, 86 switch, 110 resistance temperature system, 112 controller, 114, 116, 118 resistance wire, 120 resistance temperature detector Body, 122, 124 arrows, 130 resistance temperature systems, 132 controllers, 134, 136 wires, 138 resistance temperature detectors, 140 arrows.

Claims (10)

2端子を有し、当該2端子の間に通電して、当該2端子間の電気抵抗を計測する計測手段と、
前記2端子のそれぞれに、一端が接続された2本の電線と、
前記2本の電線の他端に並列接続された測温抵抗体及びバイパス電線と、
前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換えるスイッチと、
前記バイパス電線への通電がオンの場合に前記計測手段が計測する前記電気抵抗と、オフの場合における前記計測手段が計測する前記電気抵抗とに基づいて、前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を算出する算出手段と、
を備えることを特徴とする測温システム。
A measuring means that has two terminals, energizes between the two terminals, and measures the electrical resistance between the two terminals.
Two electric wires with one end connected to each of the two terminals,
A resistance temperature detector and a bypass wire connected in parallel to the other ends of the two wires,
A switch that switches the energization of the bypass wire on and off,
Based on the electrical resistance measured by the measuring means when the bypass wire is energized on and the electrical resistance measured by the measuring means when the bypass wire is off, the electrical resistance or the corresponding of the resistance temperature detector. A calculation method for calculating the temperature to be used, and
A temperature measurement system characterized by being equipped with.
請求項1に記載の測温システムにおいて、
前記スイッチは、自律的にオンとオフの切り換えを行う、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 1,
The switch is a temperature measurement system characterized in that it autonomously switches on and off.
請求項2に記載の測温システムにおいて、
前記算出手段は、前記計測手段が計測する前記電気抵抗の変動に基づいて、前記バイパス電線への通電がオンの場合の前記電気抵抗と、オフの場合の前記電気抵抗とを検出し、前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を算出する、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 2,
Based on the fluctuation of the electric resistance measured by the measuring means, the calculating means detects the electric resistance when the bypass wire is energized on and the electric resistance when the bypass wire is off, and measures the electric resistance. A resistance temperature measuring system that calculates the electrical resistance of a resistance thermometer or the corresponding temperature.
請求項1に記載の測温システムにおいて、
前記算出手段が算出する前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度を、対比データと対比して、当該測温システムの劣化または異常を検出する劣化異常検出手段を備える、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 1,
It is characterized by comprising a deterioration abnormality detecting means for detecting the deterioration or abnormality of the temperature measuring system by comparing the electrical resistance or the corresponding temperature of the temperature measuring resistor calculated by the calculating means with the comparison data. Temperature measurement system.
請求項4に記載の測温システムにおいて、
前記対比データは、過去に算出された前記測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度についてのデータである、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 4,
The temperature measuring system, characterized in that the comparison data is data on the electrical resistance or the corresponding temperature of the resistance temperature detector calculated in the past.
請求項4に記載の測温システムにおいて、
前記対比データは、共通または類似する空間に配置された別の測温抵抗体の電気抵抗または対応する温度についてのデータである、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 4,
The temperature measurement system, characterized in that the comparison data is data about the electrical resistance or the corresponding temperature of another resistance temperature detector arranged in a common or similar space.
請求項1に記載の測温システムにおいて、
前記スイッチは、前記バイパス電線への通電をオンに切り換えた場合には、前記測温抵抗体への通電をオフに切り換え、前記バイパス電線への通電をオフに切り換えた場合には、前記測温抵抗体への通電をオンに切り換える、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 1,
The switch switches the energization of the resistance temperature detector to off when the energization of the bypass wire is switched on, and turns off the energization of the bypass wire when the energization of the bypass wire is switched off. A temperature measurement system characterized by switching the energization of the resistor on.
請求項1に記載の測温システムにおいて、
前記スイッチは、前記2本の電線と前記測温抵抗体とが接続された状態で、前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換える、ことを特徴とする測温システム。
In the temperature measuring system according to claim 1,
The switch is a temperature measuring system characterized in that, in a state where the two electric wires and the temperature measuring resistor are connected, the energization of the bypass electric wire is switched on and off.
並列接続された測温抵抗体及びバイパス電線と、
前記バイパス電線への通電のオンとオフを切り換えるスイッチと、
を備えることを特徴とする測温センサユニット。
With resistance temperature detectors and bypass wires connected in parallel,
A switch that switches the energization of the bypass wire on and off,
A temperature measurement sensor unit characterized by being equipped with.
2端子を有し、当該2端子の間に通電して、当該2端子間の電気抵抗を計測する計測手段と、
前記2端子のそれぞれに一端が接続された2本の電線と、
前記2本の電線の他端に接続された測温抵抗体と、
を備えた測温システムの構成変更方法であって、
前記測温抵抗体を取り外すステップと、
前記2本の電線の他端に、請求項9に記載の測温センサユニットを取り付けるステップと、
を含むことを特徴とする測温システムの構成変更方法。
A measuring means that has two terminals, energizes between the two terminals, and measures the electrical resistance between the two terminals.
Two electric wires with one end connected to each of the two terminals,
A resistance temperature detector connected to the other end of the two wires,
It is a method of changing the configuration of the temperature measurement system equipped with
The step of removing the resistance temperature detector and
The step of attaching the temperature measurement sensor unit according to claim 9 to the other ends of the two electric wires,
A method of modifying the configuration of a temperature measuring system, which comprises.
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