JPWO2018070301A1 - 反射防止材 - Google Patents
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Abstract
Description
従来、樹脂層の表面に反射防止機能を付与する方法としては、樹脂にガラスビーズ、シリカ等の無機フィラーを分散させることによって入射光を散乱させる方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、本発明の他の目的は、光半導体封止用である、上記反射防止材を提供することである。
さらに、本発明の他の目的は、上記反射防止材により光半導体素子が封止された光半導体装置を提供することである。
また、本発明の他の目的は、上記反射防止材の製造に適した樹脂組成物、並びに当該樹脂組成物を用いた上記反射防止材の製造方法を提供することである。
本発明者は上記課題を解決するために鋭意検討した結果、反射防止材を構成する樹脂層中のフィラーとして多孔質フィラーを配合したところ、少量の添加でも十分な反射防止機能が付与されることを見出した。さらに、樹脂層として、特定構造のゴム粒子を分散させた脂環式エポキシ樹脂を採用したところ、耐熱衝撃性にも優れることを見出した。これにより、光源の全光束を大幅に低下させることなく十分な反射防止機能と優れた耐熱衝撃性を兼ね備えた反射防止材が提供され、光半導体装置における光半導体素子を封止するための材料として極めて適していることを見出し、本発明を完成するに至った。
当該樹脂組成物は、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
反射防止材全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%であることを特徴とする、反射防止材を提供する。
ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
樹脂組成物全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%である、樹脂組成物を提供する。
また、本発明の樹脂組成物は上記構成を有するため、上記反射防止材を製造するために、極めて適している。
本発明の反射防止材は、多孔質フィラー(A)が分散された樹脂組成物の硬化物から構成され、当該多孔質フィラー(A)が当該硬化物の表面に反射を抑える凹凸を形成し、当該樹脂組成物が、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、反射防止材全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%であることを特徴とするものである。
また、本発明の樹脂組成物は、多孔質無機フィラーが分散され、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、樹脂組成物全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%であることを特徴とし、上記反射防止材を製造するために使用されるものである。
なお、本明細書において、多孔質フィラー(A)の添加量(使用量)が少量(少ない)とは、重量換算で少ないことを意味し、容量(体積)換算で少ないことを意味するものではない。
以下、各構成要素について詳細に説明する。
本発明の反射防止材又は樹脂組成物における多孔質フィラー(A)は、樹脂組成物又は、その硬化物全体に行き渡って均一に分散しており、分散状態が安定した結果、硬化物の表面に存在する多孔質フィラー(A)が入射光を散乱させるための凹凸を形成する働きを有する。
樹脂組成物の成分との相溶性や分散性が向上すると共に、硬化物の耐熱性(例えば、耐熱水性)を向上させるという観点から、疎水性多孔質シリカが好ましく、疎水性表面処理剤としては、有機ケイ素化合物(例えば、トリメチルクロロシラン、ヘキサメチルジシロキサン、ジメチルジクロロシラン、オクタメチルシクロテトラシラン、ポリジメチルシロキサン、ヘキサデシルシラン、メタクリルシラン、シルコーンオイル等)が好ましく、ポリジメチルシロキサン等がより好ましい。
また、上記無機物と有機物のハイブリッド材料により構成された無機−有機多孔質フィラー等も使用することができる。
また、上記「比表面積」は、疎水性表面処理剤により表面処理された多孔質フィラー(A)の場合は、表面処理される前の多孔質フィラー(A)の比表面積を意味するものとする。
本発明の反射防止材における硬化物を構成する樹脂組成物は、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)(以下、本明細書において、「ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)」と称する場合がある)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であることを特徴とする。上記樹脂組成物は、光半導体装置における光半導体素子の封止材、即ち、光半導体封止用樹脂組成物として適しており、例えば、熱により硬化して、高い透明性を有し、耐久性(例えば、加熱や光によっても透明性が低下しにくい特性、高温の熱や熱衝撃が加えられてもクラックや被着体からの剥離が生じにくい特性等)にも優れ、特に耐熱衝撃性に優れる硬化物を与える。
本発明におけるゴム粒子分散エポキシ化合物(B)は、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成されており、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであるゴム粒子であって、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であるゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させてなるものである。
本発明におけるゴム粒子は、ゴム弾性を有するコア部分と、該コア部分を被覆する少なくとも1層のシェル層とから成る多層構造(コアシェル構造)を有する。また、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成されており、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有する。ヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基がゴム粒子表面に存在しない場合、冷熱サイクル等の熱衝撃により硬化物が白濁して透明性が低下するため好ましくない。
本発明における脂環式エポキシ樹脂は、分子内に1個以上の脂環(脂肪族炭化水素環)と1個以上のエポキシ基とを有する化合物である。脂環式エポキシ化合物としては、例えば、(i)分子内に脂環エポキシ基(脂環を構成する隣接する2個の炭素原子と酸素原子とで構成されるエポキシ基)を少なくとも1個(好ましくは2個以上)有する化合物;(ii)脂環に直接単結合で結合したエポキシ基を有する化合物;(iii)脂環とグリシジル基とを有する化合物等が挙げられる。本発明における脂環式エポキシ樹脂としては、調合時、及び注型時の作業性の点から、常温(25℃)で液状を呈するものが好ましい。
酸無水物硬化剤(C)は、エポキシ基を有する化合物を硬化させる働きを有する。本発明における酸無水物硬化剤(C)としては、エポキシ樹脂用硬化剤として周知慣用の硬化剤を使用することができる。本発明における酸無水物硬化剤(C)としては、なかでも、25℃で液状の酸無水物であることが好ましく、例えば、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸などを挙げることができる。また、例えば、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物などの常温(25℃)で固体状の酸無水物は、常温(25℃)で液状の酸無水物に溶解させて液状の混合物とすることで、本発明における酸無水物硬化剤(C)として使用することができる。
硬化促進剤(D)は、エポキシ基を有する化合物が酸無水物硬化剤(C)により硬化する際に、硬化速度を促進する機能を有する化合物である。本発明における硬化促進剤(D)としては、周知慣用の硬化促進剤を使用することができ、例えば、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7(DBU)、及びその塩(例えば、フェノール塩、オクチル酸塩、p−トルエンスルホン酸塩、ギ酸塩、テトラフェニルボレート塩);1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]ノネン−5(DBN)、及びその塩(例えば、ホスホニウム塩、スルホニウム塩、4級アンモニウム塩、ヨードニウム塩);ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、N,N−ジメチルシクロヘキシルアミンなどの3級アミン;2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール;リン酸エステル、トリフェニルホスフィンなどのホスフィン類;テトラフェニルホスホニウムテトラ(p−トリル)ボレートなどのホスホニウム化合物;オクチル酸スズ、オクチル酸亜鉛などの有機金属塩;金属キレートなどが挙げられる。これらは、単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
本発明における硬化触媒(E)は、上記ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)中のエポキシ化合物の重合を開始させる働きを有する。本発明における硬化触媒(E)としては、紫外線照射又は加熱処理を施すことによりカチオン種を発生して、ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)の重合を開始させるカチオン重合開始剤が好ましい。
本発明の反射防止材を構成する樹脂組成物は、無孔質フィラー(F)を含んでいてもよい。本発明の反射防止材における樹脂組成物が無孔質フィラー(F)を含むことにより、硬化させた硬化物の耐熱衝撃性がさらに向上する。
中空体無機無孔質フィラーを用いる場合、その中空率(無機フィラー全体の体積に対する空隙の体積の割合)は、特に限定されないが、10〜90体積%が好ましく、30〜90体積%がより好ましい。
また、上記無機物と有機物のハイブリッド材料により構成された無機−有機無孔質フィラー等も使用することができる。
また、中空体無機無孔質フィラーとしては、公知乃至慣用の製造方法により製造することもできるし、例えば、商品名「Sphericel(商標)110P8」、「Sphericel(商標)25P45」、「Sphericel(商標)34P30」、「Sphericel(商標)60P18」、「Q−CEL(商標)5020」、「Q−CEL(商標)7014」、「Q−CEL(商標)7040S」(以上、ポッターズ・バロッティーニ(株)製)、商品名「ガラスマイクロバルーン」、「フジバルーン H−40」、「フジバルーン H−35」(以上、富士シリシア化学(株)製)、商品名「セルスターZ−20」、「セルスターZ−27」、「セルスターCZ−31T」、「セルスターZ−36」、「セルスターZ−39」、「セルスターZ−39」、「セルスターT−36」、「セルスターPZ−6000」(以上、東海工業(株)製)、商品名「サイラックス・ファインバルーン」((有)ファインバルーン製)、商品名「スーパーバルーンBA−15」、「スーパーバルーン732C」(以上、昭和化学工業(株)製)等の市販品を用いることができる。
本発明の樹脂組成物は、多価アルコールを含んでいてもよい。特に、本発明の樹脂組成物が酸無水物硬化剤(C)及び硬化促進剤(D)を含む場合には、硬化をより効率的に進行させることができる点で、さらに多価アルコールを含むことが好ましい。多価アルコールとしては、公知乃至慣用の多価アルコールを使用することができ、特に限定されないが、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、ブチレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、ネオペンチルグリコール、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリブチレングリコール、トリメチロールプロパン、グリセリン、ペンタエリスリトール、ジペンタエリスリトール等が挙げられる。
本発明の樹脂組成物は、蛍光体を含んでいてもよい。本発明の樹脂組成物が蛍光体を含む場合には、光半導体装置における光半導体素子の封止用途(封止材用途)、即ち、光半導体封止用樹脂組成物として特に好ましく使用できる。上記蛍光体としては、公知乃至慣用の蛍光体(特に、光半導体素子の封止用途において使用される蛍光体)を使用でき、特に限定されないが、例えば、一般式A3B5O12:M[式中、Aは、Y、Gd、Tb、La、Lu、Se、及びSmからなる群より選択された1種以上の元素を示し、Bは、Al、Ga、及びInからなる群より選択された1種以上の元素を示し、Mは、Ce、Pr、Eu、Cr、Nd、及びErからなる群より選択された1種以上の元素を示す]で表されるYAG系の蛍光体微粒子(例えば、Y3Al5O12:Ce蛍光体微粒子、(Y,Gd,Tb)3(Al,Ga)5O12:Ce蛍光体微粒子等)、シリケート系蛍光体微粒子(例えば、(Sr,Ca,Ba)2SiO4:Eu等)等が挙げられる。なお、蛍光体は、例えば、分散性向上のために、有機基(例えば、長鎖アルキル基、リン酸基等)等により表面が修飾されたものであってもよい。本発明の樹脂組成物において蛍光体は、1種を単独で使用することもできるし、2種以上を組み合わせて使用することもできる。また、蛍光体としては市販品を使用することができる。
本発明における芳香環を有しないグリシジルエーテル系エポキシ化合物には、脂肪族グリシジルエーテル系エポキシ化合物、及び、芳香族グリシジルエーテル系エポキシ化合物を核水添した化合物を含む。例えば、商品名「EPICLON703」、「EPICLON707」、「EPICLON720」、「EPICLON725」(DIC(株)製)、商品名「YH−300」、「YH−315」、「YH−324」、「PG−202」、「PG−207」、「サントートST−3000」(東都化成(株)製)、商品名「リカレジンDME−100」、「リカレジンHBE−100」(新日本理化(株)製)、商品名「デナコールEX−212」、「デナコールEX−321」(ナガセケムテックス(株)製)、商品名「YX8000」、「YX8034」(ジャパンエポキシレジン(株)製)等の市販品を好適に使用することができる。
本発明における25℃で液状を呈するポリオール化合物には、ポリエーテルポリオール以外のポリオール化合物が含まれ、例えば、ポリエステルポリオール、ポリカーボネートポリオールが含まれる。
本発明の樹脂組成物は、硬化性や透明性等に大きな悪影響が及ばない範囲で、上記以外のその他の成分を含んでいてもよい。上記その他の成分としては、例えば、直鎖又は分岐鎖を有するシリコーン系樹脂、脂環を有するシリコーン系樹脂、芳香環を有するシリコーン系樹脂、かご型/ラダー型/ランダム型のシルセスキオキサン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン等のシランカップリング剤、シリコーン系やフッ素系の消泡剤、レベリング剤、界面活性剤、充填剤、難燃剤、着色剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、イオン吸着体、顔料、離型剤等が挙げられる。上記その他の成分の含有量(配合量)は、特に限定されないが、樹脂組成物の全量(100重量%)に対して、5重量%以下(例えば、0〜3重量%)が好ましい。
本発明の反射防止材は、上記多孔質フィラー(A)が上記樹脂組成物又は、その硬化物全体に行き渡って均一に分散しており、分散状態が安定した結果、硬化物の表面に存在する多孔質フィラー(A)が凹凸形状を形成して、入射光を散乱させることにより反射防止機能を発揮する。また、多孔質フィラー(A)表面の多孔質構造も入射光を散乱させることができ、さらに反射防止機能が向上する。
また、上記樹脂組成物はゴム粒子分散エポキシ化合物(B)を含有するため、これを含む硬化物は優れた耐熱衝撃性を有する。
上記多孔質フィラー(A)を上記硬化物全体に均一に行き渡らせる方法は、特に限定させず、例えば、硬化物を構成する樹脂組成物に多孔質フィラー(A)を均一に分散させた後に硬化させる方法等が挙げられる。本発明の反射防止材を効率的に製造するためには、多孔質フィラー(A)を均一に分散させた後に硬化させる方法が好ましい。
以下に、本発明の反射防止材の製造方法の一態様を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
無孔質フィラー(F)を多孔質フィラー(A)と共に硬化物中に分散させた場合、硬化物の耐熱衝撃性をさらに向上させることができる。
多孔質フィラー(A)が均一に分散した樹脂組成物を硬化させて硬化物(以下、「本発明の硬化物」と称する場合がある)とすることにより、本発明の反射防止材を得ることができる。
硬化前の樹脂組成物の全量(100重量%)に対する、硬化中に揮発する成分の量は、特に限定されないが、好ましくは10重量%以下であり、より好ましくは8重量%以下であり、さらに好ましくは5重量%以下である。硬化中に揮発する成分の量が10重量%以下であることにより、硬化物の寸法安定性が高くなり、好ましい。本発明の硬化前の樹脂組成物は、多孔質フィラー(A)を用いることで少量の添加で反射防止機能を発現することができるため、溶剤(トルエン等)の揮発成分を使用しなくとも液状になりやすく、硬化中に揮発する成分の量を少なくすることができる。
また、光照射により硬化させる場合は、例えば、i−線(365nm)、h−線(405nm)、g−線(436nm)等を含む光(放射線)を、照度10〜1200mW/cm2、照射光量20〜2500mJ/cm2で照射することにより本発明の反射防止材を得ることができる。放射線による硬化物の劣化を抑える観点と、生産性の観点から、好ましくは放射線の照射光量20〜600mJ/cm2、より好ましくは照射光量20〜300mJ/cm2が望ましい。照射には、高圧水銀ランプ、キセノンランプ、カーボンアークランプ、メタルハライドランプ、レーザー光等を照射源として使用することができる。
本発明の反射防止材は、上述の通り、高い透明性と優れた反射防止機能に加え、高い耐熱衝撃性を兼ね備えるため、光学材料用の(光学材料を形成する用途に用いられる)樹脂として好適に使用することができる。光学材料とは、光拡散性、光透過性、光反射性等の各種の光学的機能を発現する材料である。本発明の反射防止材を使用することで、本発明の硬化物(光学材料)を少なくとも含む光学部材が得られる。なお、当該光学部材は、本発明の反射防止材のみから構成されたものであってもよいし、本発明の反射防止材が一部のみに使用されたものであってもよい。光学部材としては、光拡散性、光透過性、光反射性等の各種の光学的機能を発現する部材や、上記光学的機能を利用した装置や機器を構成する部材等が挙げられ、特に限定されず、例えば、光半導体装置、有機EL装置、接着剤、電気絶縁材、積層板、コーティング、インク、塗料、シーラント、レジスト、複合材料、透明基材、透明シート、透明フィルム、光学素子、光学レンズ、光造形、電子ペーパー、タッチパネル、太陽電池基板、光導波路、導光板、ホログラフィックメモリ、光ピックアップセンサー等の各種用途において使用される公知乃至慣用の光学部材が例示される。
なお、本発明において算術平均表面粗さRaは、JIS B 0601−2001により定義される数値であり、後述の実施例に記載の方法により測定、算出されたものを意味するものとする。
試料:
ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)1重量部をテトラヒドロフラン20重量部に分散させたものを試料とした。
還流冷却器付きの1L重合容器に、イオン交換水500g、及びジオクチルコハク酸ナトリウム0.68gを仕込み、窒素気流下に撹拌しながら、80℃に昇温した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の約5重量%分に該当するアクリル酸ブチル9.5g、スチレン2.57g、及びジビニルベンゼン0.39gからなる単量体混合物を、一括添加し、20分間撹拌して乳化させた後、ペルオキソ2硫酸カリウム9.5mgを添加し、1時間撹拌して最初のシード重合を行い、続いて、ペルオキソ2硫酸カリウム180.5mgを添加し、5分間撹拌した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の残り(約95重量%分)のアクリル酸ブチル180.5g、スチレン48.89g、ジビニルベンゼン7.33gにジオクチルコハク酸ナトリウム0.95gを溶解させてなる単量体混合物を2時間かけて連続的に添加し、2度目のシード重合を行い、その後、1時間熟成してコア部分を得た。
アクリル酸1.5gの代わりに2−ヒドロキシエチルメタクリレート2.7gを使用した以外は製造例1と同様にして、ゴム粒子(2)を得た。得られたゴム粒子(2)の平均粒子径は261nm、最大粒子径は578nm、屈折率は1.500であった。
さらに、製造例1と同様にしてゴム粒子分散エポキシ化合物(B−2)(25℃での粘度:512mPa・s)を得た。
還流冷却器付きの1L重合容器に、イオン交換水500g、及びジオクチルコハク酸ナトリウム1.3gを仕込み、窒素気流下に撹拌しながら、80℃に昇温した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の約5重量%分に該当するアクリル酸ブチル9.5g、スチレン2.57g、及びジビニルベンゼン0.39gからなる単量体混合物を、一括添加し、20分間撹拌して乳化させた後、ペルオキソ2硫酸カリウム12mgを添加し、1時間撹拌して最初のシード重合を行い、続いて、ペルオキソ2硫酸カリウム228mgを添加し、5分間撹拌した。ここに、コア部分を形成するために必要とする量の残り(約95重量%分)のアクリル酸ブチル180.5g、スチレン48.89g、ジビニルベンゼン7.33gにジオクチルコハク酸ナトリウム1.2gを溶解させてなる単量体混合物を2時間かけて連続的に添加し、2度目のシード重合を行い、その後、1時間熟成してコア部分を得た。
さらに、製造例1と同様にしてゴム粒子分散エポキシ化合物(B−3)(25℃での粘度:1036mPa・s)を得た。
硬化剤(商品名「リカシッドMH−700」、新日本理化(株)製)100重量部、硬化促進剤(商品名「U−CAT 18X」、サンアプロ(株)製)0.5重量部、及びエチレングリコール(和光純薬工業(株)製)1重量部を、自公転式撹拌装置(商品名「あわとり練太郎 AR−250」、(株)シンキー製、以下同じ)を用いて混合し、エポキシ硬化剤(K剤)を製造した。
製造例1で得られたゴム粒子分散エポキシ化合物(B−1)100重量部、製造例4で得られたエポキシ硬化剤101.5重量部を自公転式撹拌装置を用いて混合し、脱泡して、硬化性エポキシ樹脂組成物を製造した。
上記で得られた硬化性エポキシ樹脂組成物100重量部、及び多孔質フィラー(商品名「サイリシア430」、富士シリシア化学(株)製)20重量部を自公転式撹拌装置を用いて混合し、脱泡して得られた硬化性エポキシ樹脂組成物を図1に示す光半導体のリードフレーム(InGaN素子、3.5mm×2.8mm)に注型した後、150℃の樹脂硬化オーブンで5時間加熱することで、本発明の反射防止材により光半導体素子が封止された光半導体装置を製造した。なお、図1において、100はリフレクター、101は金属配線、102は光半導体素子、103はボンディングワイヤ、104は封止材(反射防止材)を示し、104の全体に渡り多孔質フィラーが均一に分散しており、そのうちの上部表面に存在する多孔質フィラーにより均一で微細な凹凸形状が形成されている(凹凸形状は図示略)。
硬化性エポキシ樹脂組成物、多孔質フィラー、無孔質フィラーの組成を表1、2に示すように変更したこと以外は実施例1と同様にして、光半導体装置を製造した。
上記で製造した光半導体装置について、下記の評価を行った。結果を表1、2のそれぞれに示す。
実施例、比較例で得られた光半導体装置の上面(図1の封止材104の上面)に点灯した蛍光灯を当てて反射を見た際に、反射防止材に映る蛍光灯の鮮明さを目視で3段階評価した。
蛍光灯の輪郭が認識できない場合を○、輪郭が不鮮明ながら認識できる場合を△、輪郭が鮮明に認識できる場合を×とした。
実施例、比較例で得られた光半導体装置の上面(図1の封止材104の上面)を、レーザー顕微鏡(商品名「形状測定レーザマイクロスコープ VK−8710」、キーエンス社製)を用いて測定した。
実施例、比較例で得られた各光半導体装置について、5V、20mAの条件で通電した際の全光束を、全光束測定機(商品名「マルチ分光放射測定システム OL771」、オプトロニックラボラトリーズ社製)を用いて測定した。
実施例及び比較例で得られた光半導体装置(各硬化性エポキシ樹脂組成物につき2個ずつ用いた)に対し、−40℃の雰囲気下に30分曝露し、続いて、100℃の雰囲気下に30分曝露することを1サイクルとした熱衝撃を、熱衝撃試験機を用いて200サイクル分与えた。その後、光半導体装置に10mAの電流を通電し、点灯しなかった光半導体装置(不灯の光半導体装置)の個数を計測した。なお、熱衝撃試験前には全ての光半導体装置が点灯するものであることを確認済みである。結果を表1、2の「熱衝撃試験[不灯数]」の欄に示した。
実施例1〜15、比較例3〜5で得られた硬化性エポキシ樹脂組成物を型に注型し、150℃で5時間加熱した。得られた硬化物から縦20mm×横6mm×厚さ1mmの試験片を切り出し、中間液としてモノブロモナフタレンを使用してプリズムと該試験片とを密着させ、多波長アッベ屈折計(商品名「DR−M2」、(株)アタゴ製)を使用し、20℃、ナトリウムD線での屈折率を測定することにより、硬化物の屈折率を測定し、下記式に従って、屈折率差を算出した。結果を表1、2の「ゴム粒子との屈折率の差」の欄に示した。
屈折率差=[ゴム粒子の屈折率]−[硬化物の屈折率]
実施例、比較例で得られた各光半導体装置について、下記(a)〜(d)を全て満足する場合を○(良好である)、下記(a)〜(d)のいずれかを満足しない場合を×(不良である)と判定した。
(a)上記(1)において測定された蛍光灯の映り込みが、○又は△である。
(b)上記(2)において測定された算術平均表面粗さRaが0.10〜1.0μmである。
(c)上記(3)において測定された全光束が0.60lm以上である。
(d)上記(4)において、不灯の光半導体装置の個数が0個である。
B−1:製造例1で製造されたゴム粒子分散エポキシ化合物(B−1)
B−2:製造例2で製造されたゴム粒子分散エポキシ化合物(B−2)
B−3:製造例3で製造されたゴム粒子分散エポキシ化合物(B−3)
セロキサイド2021P:商品名「セロキサイド2021P」[3,4−エポキシシクロヘキシルメチル(3,4−エポキシ)シクロヘキサンカルボキシレート]、(株)ダイセル製
YD−128:商品名「YD−128」[ビスフェノールA型エポキシ樹脂]、新日鐡住金化学(株)製
MH−700:商品名「リカシッドMH−700」[4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸/ヘキサヒドロ無水フタル酸=70/30]、新日本理化(株)製
U−CAT 18X:商品名「U−CAT 18X」[硬化促進剤]、サンアプロ(株)製
エチレングリコール:和光純薬工業(株)製
SI−100L:商品名「サンエイド SI−100L」、サンアプロ(株)製
サイリシア430:商品名「サイリシア430」、富士シリシア化学(株)製、体積平均粒子径:4.1μm;比表面積:350m2/g;平均細孔径:17nm;細孔容積:1.25mL/g;吸油量:230mL/100g
サイロスフェアC−1504:商品名「サイロスフェアC−1504」、富士シリシア化学(株)製、体積平均粒子径:4.5μm;比表面積:520m2/g;平均細孔径:12nm;細孔容積:1.5mL/g;吸油量:290mL/100g
サンスフェアH−52:商品名「サンスフェアH−52」、AGCエスアイテック(株)製、体積平均粒子径:5μm;比表面積:700m2/g;平均細孔径:10nm;細孔容積:2mL/g;吸油量:300mL/100g
サイロホービック702:商品名「サイロホービック702」、富士シリシア化学(株)製、ポリジメチルシロキサンで疎水性表面処理された多孔質シリカフィラー、体積平均粒子径:4.1μm;疎水性表面処理される前の多孔質シリカフィラーの比表面積:350m2/g;吸油量:170mL/100g
サイロホービック4004:商品名「サイロホービック4004」、富士シリシア化学(株)製、ポリジメチルシロキサンで疎水性表面処理された多孔質シリカフィラー、体積平均粒子径:8.0μm;疎水性表面処理される前の多孔質シリカフィラーの比表面積:350m2/g;吸油量:165mL/100g
サイロホービック505:商品名「サイロホービック505」、富士シリシア化学(株)製、ポリジメチルシロキサンで疎水性表面処理された多孔質シリカフィラー、体積平均粒子径:3.9μm;疎水性表面処理される前の多孔質シリカフィラーの比表面積:500m2/g;吸油量:110mL/100g
溶融球状シリカ:(株)龍森製、体積平均粒径:5μm
一方、表2に示されるように、ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)を使用しない比較例1と2の反射防止材を備える光半導体装置では、優れた反射防止機能と良好な照度を示したが、熱衝撃性試験で不灯の光半導体装置の個数がいずれも2個であり、耐熱衝撃性に劣ることが確認された。また、多孔質シリカフィラーが配合されずに無孔質シリカフィラーのみが配合された比較例3、多孔質シリカフィラーの配合量が本発明既定の範囲よりも少ない比較例4の反射防止材を備える光半導体装置では、反射防止機能に劣るものであった。比較例3では無孔質シリカフィラーが沈降し、比較例4では多孔質シリカフィラーの配合量が十分ではない結果、表面に均一で微細な凹凸形状が形成されていないと考えられた。さらに、多孔質シリカフィラーの配合量が本発明既定の範囲よりも多い比較例5の反射防止材を備える光半導体装置では、良好な反射防止機能を示す一方、全光束が0.48lm以上であり、照度が著しく低下した。多孔質シリカフィラーの配合量が多いため、光が吸収されたと考えられる。
[1]多孔質フィラー(A)が分散された樹脂組成物の硬化物からなる反射防止材であって、当該多孔質フィラー(A)は当該硬化物の表面に反射を抑える凹凸を形成し、
当該樹脂組成物は、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
反射防止材全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%であることを特徴とする、反射防止材。
[2]前記多孔質フィラー(A)が前記硬化物全体に渡って均一に分散しており、表面に反射を抑える凹凸を形成している、上記[1]に記載の反射防止材。
[3]前記多孔質フィラー(A)が、無機多孔質フィラー(A1)、及び有機多孔質フィラー(A2)からなる群から選ばれる少なくとも1種である、上記[1]又は[2]に記載の反射防止材。
[4]前記多孔質フィラー(A)が、無機多孔質フィラー(A1)である、上記[3]に記載の反射防止材。
[5]無機多孔質フィラー(A1)が、無機ガラス[例えば、硼珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、石英等]、シリカ、アルミナ、ジルコン、珪酸カルシウム、リン酸カルシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、炭化ケイ素、窒化ケイ素、窒化ホウ素、水酸化アルミニウム、酸化鉄、酸化亜鉛、酸化ジルコニウム、酸化マグネシウム、酸化チタン、酸化アルミニウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、フォステライト、ステアタイト、スピネル、クレー、カオリン、ドロマイト、ヒドロキシアパタイト、ネフェリンサイナイト、クリストバライト、ウォラストナイト、珪藻土、及びタルクからなる群から選ばれる少なくとも一種の粉体であって多孔質構造を有するもの、又はこれらの成型体(例えば、球形化したビーズ等)(好ましくは多孔質無機ガラス又は多孔質シリカ、より好ましくは多孔質シリカ)である、上記[3]又は[4]に記載の反射防止材。
[6]前記無機多孔質フィラー(A1)が、金属酸化物、シランカップリング剤、チタンカップリング剤、有機酸、ポリオール、及びシリコーンからなる群から選ばれる少なくとも1種の表面処理剤による表面処理が施されたものである、上記[3]〜[5]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[7]前記多孔質シリカが、溶融シリカ、結晶シリカ、高純度合成シリカ、及びコロイド状シリカからなる群から選ばれる少なくとも一種の多孔質シリカである、上記[5]又は[6]に記載の反射防止材。
[8]前記多孔質シリカが、金属酸化物、シランカップリング剤、チタンカップリング剤、有機酸、ポリオール、及び有機ケイ素化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種の疎水性表面処理剤(好ましくは有機ケイ素化合物)による表面処理が施されたもの(疎水性多孔質シリカ)である、上記[5]〜[7]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[9]前記疎水性表面処理剤が、トリメチルクロロシラン、ヘキサメチルジシロキサン、ジメチルジクロロシラン、オクタメチルシクロテトラシラン、ポリジメチルシロキサン、ヘキサデシルシラン、メタクリルシラン、及びシルコーンオイルからなる群から選ばれる少なくとも1種の有機ケイ素化合物(好ましくは、ポリジメチルシロキサン)である、上記[8]に記載の反射防止材。
[10]前記有機多孔質フィラー(A2)が、スチレン系樹脂、アクリル系樹脂、シリコーン系樹脂、アクリル−スチレン系樹脂、塩化ビニル系樹脂、塩化ビニリデン系樹脂、アミド系樹脂、ウレタン系樹脂、フェノール系樹脂、スチレン−共役ジエン系樹脂、アクリル−共役ジエン系樹脂、オレフィン系樹脂、及びセルロース樹脂(これらポリマーの架橋体も含む)からなる群から選ばれる少なくとも一種の有機物により構成された高分子多孔質焼結体、高分子発泡体、又はゲル多孔質体である、上記[3]〜[9]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[11]前記多孔質フィラー(A)の形状が、粉体、球状、破砕状、繊維状、針状、及び鱗片状からなる群から選ばれる少なくとも一種(好ましくは球状、又は破砕状)である、上記[1]〜[10]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[12]前記多孔質フィラー(A)の中心粒径が、0.1〜100μm(好ましくは1〜50μm)である、上記[1]〜[11]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[13]前記多孔質フィラー(A)の比表面積が、10〜2000m2/g(好ましくは100〜1000m2/g)である、上記[1]〜[12]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[14]前記多孔質フィラー(A)の細孔容積が、0.1〜10mL/g(好ましくは0.2〜5mL/g)である、上記[1]〜[13]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[15]前記多孔質フィラー(A)の吸油量が、10〜2000mL/100g(好ましくは100〜1000mL/100g)である、上記[1]〜[14]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[16]前記多孔質フィラー(A)の含有量(配合量)が、反射防止材又は樹脂組成物の全量(100重量%)に対して、4〜35重量%(好ましくは4〜30重量%)である、上記[1]〜[15]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[17]前記多孔質フィラー(A)の含有量(配合量)が、反射防止材を構成する樹脂組成物(100重量部)に対して、5〜80重量部(好ましくは5〜70重量部、より好ましくは5〜60重量部)である、上記[1]〜[16]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[19]前記コアシェル構造におけるコア部分が、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル、及び(メタ)アクリル酸エステル/共役ジエンからなる群から選ばれる二元共重合体;又は(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル/共役ジエンの三元共重合体から構成されている、上記[1]〜[18]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[20]前記コアシェル構造におけるコア部分が、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニルの二元共重合体(好ましくはアクリル酸ブチル/スチレン)から構成されている、上記[19]に記載の反射防止材。
[21]前記コアシェル構造におけるコア部分が、さらに、1モノマー中に2以上の反応性官能基を有する反応性架橋モノマー(好ましくはジビニルベンゼン)を含有する、上記[19]又は[20]に記載の反射防止材。
[22]前記コアシェル構造におけるシェル層が、前記コアシェル構造におけるコア部分を構成する重合体とは異種の重合体から成る、上記[1]〜[21]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[23]前記コアシェル構造におけるシェル層が、(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル/ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、及び(メタ)アクリル酸エステル/芳香族ビニル/α,β−不飽和酸からなる群から選ばれる三元共重合体、又は(メタ)アクリル酸エステル/ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸エステル/α,β−不飽和酸からなる群から選ばれる二元共重合体(好ましくは二元共重合体)から構成されている、上記[1]〜[22]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[24]前記コアシェル構造におけるシェル層が、さらに、1モノマー中に2以上の反応性官能基を有する反応性架橋モノマー(好ましくはアリル(メタ)アクリレート)を含有する、上記[23]に記載の反射防止材。
[25]前記ゴム粒子の平均粒子径が、20〜400nmである、上記[1]〜[24]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[26]前記ゴム粒子の最大粒子径が、100〜800nmである、上記[1]〜[25]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[27]前記ゴム粒子の屈折率が、1.40〜1.60(好ましくは1.42〜1.58)である、上記[1]〜[26]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[28]前記ゴム粒子の屈折率と、前記樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が、±0.018以内である、上記[1]〜[27]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[30]前記(i)分子内に脂環エポキシ基を少なくとも1個有する化合物が有する脂環エポキシ基が、シクロヘキセンオキシド基である、上記[29]に記載の反射防止材。
[31]前記(i)分子内に脂環エポキシ基を少なくとも1個有する化合物が、下記式(1)で表される化合物である、上記[30]に記載の反射防止材。
[32]前記式(1)で表される化合物が、2,2−ビス(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−イル)プロパン、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)エーテル、1,2−ビス(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−イル)エタン、1,2−エポキシ−1,2−ビス(3,4−エポキシシクロヘキサン−1−イル)エタン、及び下記式(1−1)〜(1−10)で表される化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種を含む、上記[31]に記載の反射防止材。
[33]前記式(1)で表される化合物が、上記式(1−1)で表される化合である、上記[32]に記載の反射防止材。
[34]前記(ii)脂環に直接単結合で結合したエポキシ基を有する化合物が、下記式(2)で表される化合物である、上記[29]〜[33]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[35]前記ゴム粒子の配合量が、ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)全量(100重量%)に対して、0.5〜30重量%(好ましくは1〜20重量%程度)である、上記[1]〜[34]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[36]前記ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)の25℃における粘度が、400mPa・s〜50000mPa・s(好ましくは500mPa・s〜10000mPa・s)である、上記[1]〜[35]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[37]前記ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)の使用量が、樹脂組成物中に含有される全エポキシ基含有樹脂の20〜100重量%(好ましく50〜100重量%)である、上記[1]〜[36]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[38]前記酸無水物硬化剤(C)が、25℃で液状の酸無水物、又は25℃で固体状の酸無水物を、25℃で液状の酸無水物に溶解させた液状の混合物である、上記[1]〜[37]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[39]前記酸無水物硬化剤(C)の使用量が、樹脂組成物中に含有する全エポキシ基を有する化合物100重量部に対して、50〜150重量部(好ましくは52〜145重量部、より好ましくは、55〜140重量部)である、上記[1]〜[38]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[40]前記酸無水物硬化剤(C)の使用量が、樹脂組成物中に含有する全てのエポキシ基を有する化合物におけるエポキシ基1当量当たり、0.5〜1.5当量となる割合である、上記[1]〜[39]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[41]硬化促進剤(D)の使用量が、樹脂組成物中に含有する全エポキシ基を有する化合物100重量部に対して、0.05〜5重量部(好ましくは0.1〜3重量部、特に好ましくは0.2〜3重量部、最も好ましくは0.25〜2.5重量部)である、上記[1]〜[40]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[43]前記無孔質フィラー(F)が、無孔質シリカフィラーである、上記[42]に記載の反射防止材。
[44]前記無孔質フィラー(F)の含有量(配合量)が、反射防止材を構成する樹脂組成物(100重量部)に対して、10〜200重量部(好ましくは20〜150重量部)である、上記[42]又は[43]に記載の反射防止材。
[45]前記多孔質フィラー(A)と前記無孔質フィラー(F)の合計含有量(合計配合量)が、反射防止材全量(100重量%)に対して、20〜60重量%である、上記[42]〜[44]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[47]前記多価アルコールの含有量(配合量)が、樹脂組成物に含まれるエポキシ化合物の全量100重量部に対して、0.05〜5重量部(好ましくは0.1〜3重量部、より好ましくは0.2〜3重量部、特に好ましくは0.25〜2.5重量部)である、上記[46]に記載の反射防止材。
[48]前記樹脂組成物が、蛍光体を含む、上記[1]〜[47]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[49]前記蛍光体の含有量(配合量)が、樹脂組成物の全量(100重量%)に対して、0.5〜20重量%である、上記[48]に記載の反射防止材。
[50]前記樹脂組成物が、ゴム粒子分散エポキシ化合物(B)以外に、ゴム粒子を含まない脂環式エポキシ樹脂(好ましくは上記式(1)で表される脂環式エポキシ樹脂)を含有する、上記[1]〜[49]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[51]前記ゴム粒子を含まない脂環式エポキシ樹脂の使用量が、樹脂組成物中に含有される全エポキシ基含有樹脂の70重量%未満(好ましくは60重量%未満)である、上記[50]に記載の反射防止材。
[52]前記樹脂組成物が、脂環式エポキシ樹脂以外のエポキシ樹脂(好ましくはビスフェノールA型、ビスフェノールF型などの芳香環を有するグリシジルエーテル系エポキシ化合物)を含有する、上記[1]〜[51]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[53]前記脂環式エポキシ樹脂以外のエポキシ樹脂の使用量が、樹脂組成物中に含有される全エポキシ基含有樹脂の70重量%未満(好ましくは60重量%未満)である、上記[52]に記載の反射防止材。
[55]光半導体封止用である、上記[1]〜[54]のいずれか1つに記載の反射防止材。
[56]上記[55]に記載の反射防止材により光半導体素子が封止された光半導体装置。
ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
樹脂組成物全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%である、樹脂組成物。
[58]液状である、上記[57]に記載の樹脂組成物。
[59]前記樹脂組成物の全量(100重量%)に対する硬化中に揮発する成分の量が、10重量%以下である、上記[57]又は[58]に記載の樹脂組成物。
[60]上記[57]〜[59]のいずれか1つに記載の樹脂組成物を硬化させることを特徴とする、表面に反射を抑える凹凸が形成されている反射防止材の製造方法。
101:金属配線(電極)
102:光半導体素子
103:ボンディングワイヤ
104:封止材(反射防止材)
Claims (11)
- 多孔質フィラー(A)が分散された樹脂組成物の硬化物からなる反射防止材であって、当該多孔質フィラー(A)は当該硬化物の表面に反射を抑える凹凸を形成し、
当該樹脂組成物は、ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
反射防止材全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%であることを特徴とする、反射防止材。 - 前記多孔質フィラー(A)が前記硬化物全体に渡って均一に分散しており、表面に反射を抑える凹凸を形成している、請求項1に記載の反射防止材。
- 前記樹脂組成物が、さらに、比表面積が10m2/g以下である無孔質フィラー(F)を含み、反射防止材全量(100重量%)に対する前記多孔質フィラー(A)と前記無孔質フィラー(F)の合計含有量が、20〜60重量%である、請求項1又は2に記載の反射防止材。
- 前記多孔質フィラー(A)は、無機多孔質フィラーである、請求項1〜3のいずれか1項に記載の反射防止材。
- 前記樹脂組成物は、透明な硬化性樹脂組成物からなる、請求項1〜4のいずれか1項に記載の反射防止材。
- 光半導体封止用である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の反射防止材。
- 請求項6に記載の反射防止材により光半導体素子が封止された光半導体装置。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の反射防止材の製造のために用いられることを特徴とする、多孔質フィラー(A)が分散された樹脂組成物であって、
ゴム粒子を脂環式エポキシ樹脂に分散させたゴム粒子分散エポキシ化合物(B)、酸無水物系硬化剤(C)、及び硬化促進剤(D)を含有し、
該ゴム粒子が、コアシェル構造を有し、(メタ)アクリル酸エステルを必須モノマー成分とするポリマーで構成され、表面に脂環式エポキシ樹脂と反応し得る官能基としてヒドロキシル基及び/又はカルボキシル基を有し、平均粒子径が10nm〜500nm、最大粒子径が50nm〜1000nmであり、該ゴム粒子の屈折率と当該樹脂組成物の硬化物の屈折率との差が±0.02以内であり、
樹脂組成物全量(100重量%)に対する多孔質フィラー(A)の含有量が4〜40重量%である、樹脂組成物。 - 液状である、請求項8に記載の樹脂組成物。
- 前記樹脂組成物の全量(100重量%)に対する硬化中に揮発する成分の量は、10重量%以下である、請求項8又は9に記載の樹脂組成物。
- 請求項8〜10のいずれか1項に記載の樹脂組成物を硬化させることを特徴とする、表面に反射を抑える凹凸が形成されている反射防止材の製造方法。
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